DE112014002086T5 - Prüfsystem für OLED-Anzeigebildschirme - Google Patents

Prüfsystem für OLED-Anzeigebildschirme Download PDF

Info

Publication number
DE112014002086T5
DE112014002086T5 DE112014002086.9T DE112014002086T DE112014002086T5 DE 112014002086 T5 DE112014002086 T5 DE 112014002086T5 DE 112014002086 T DE112014002086 T DE 112014002086T DE 112014002086 T5 DE112014002086 T5 DE 112014002086T5
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
display screen
pads
probe
display
signal lines
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE112014002086.9T
Other languages
English (en)
Inventor
Gholamreza Chaji
Stefan Alexander
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ignis Innovation Inc
Original Assignee
Ignis Innovation Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ignis Innovation Inc filed Critical Ignis Innovation Inc
Publication of DE112014002086T5 publication Critical patent/DE112014002086T5/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10—OLED displays
    • H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/70—Testing, e.g. accelerated lifetime tests

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

System zum Prüfen zumindest eines Abschnittes eines Anzeigebildschirms mit Dünnfilmtransistoren (TFTs) und organischen, Licht emittierenden Vorrichtungen (OLEDs) während oder unmittelbar nach der Fertigung, sodass Einstellungen an den Fertigungsprozessen vorgenommen werden können, um Defekte und Ungleichmäßigkeiten in den Bildpunktschaltkreisen zu verhindern. Das System stellt Bondkontaktstellen, die mit Signalleitungen zumindest auf Abschnitten des Anzeigebildschirms verbunden sind, sowie Sondenkontaktstellen entlang ausgewählten Kanten des Anzeigebildschirms bereit. Die Sondenkontaktstellen sind mit den Bondkontaktstellen mittels einer Vielzahl von Multiplexer gekoppelt, sodass die Anzahl von Sondenkontaktstellen kleiner als die Anzahl der Bondkontaktstellen ist.

Description

  • GEBIET DER ERFINDUNG
  • Die vorliegende Erfindung betrifft im Allgemeinen OLED-Anzeigen und insbesondere Prüfsysteme zum Detektieren von Defekten und Ungleichmäßigkeiten bei Anzeigen wie z. B. organischen Leuchtdiodenanzeigen mit Aktivmatrix.
  • HINTERGRUND
  • Anzeigebildschirme können mittels einer Anordnung von Licht emittierenden Vorrichtungen hergestellt werden, die jeweils von einzelnen Schaltkreisen (d. h. Bildpunktschaltkreisen) gesteuert werden, die Transistoren aufweisen, um die mit Anzeigeinformationen zu programmierenden Schaltkreise zu steuern und um zu bewirken, dass die Licht emittierenden Vorrichtungen gemäß der Anzeigeinformation Licht emittieren. Dünnfilmtransistoren (TFTs), die auf einem Substrat gefertigt werden, können in solche Anzeigebildschirme integriert werden. Sowohl OLEDs als auch TFTs können aufgrund von Herstellungsproblemen ein ungleichmäßiges Verhalten in Anzeigebildschirmen zeigen. Solche Probleme können korrigiert werden, wenn die Defekte und Ungleichmäßigkeiten zu dem Zeitpunkt erkannt werden, wenn die Bildschirme hergestellt werden, z. B. während oder unmittelbar nach der Fertigung.
  • ZUSAMMENFASSUNG
  • Es wird ein System zur Prüfung zumindest eines Abschnittes eines Anzeigebildschirms mit Dünnfilmtransistoren (TFTs) und Licht emittierenden Vorrichtungen (OLEDs) während oder unmittelbar nach der Fertigung bereitgestellt, sodass die Fertigungsprozesse angepasst werden können, um Defekte und Ungleichmäßigkeiten zu vermeiden. Das System stellt Bondkontaktstellen, die zumindest auf Abschnitten des Anzeigebildschirms mit Signalleitungen verbunden sind, sowie Sondenkontaktstellen entlang ausgewählten Kanten des Anzeigebildschirms bereit. Die Sondenkontaktstellen sind mit den Bondkontaktstellen durch eine Vielzahl von Mulitplexern gekoppelt, sodass die Anzahl der Sondenkontaktstellen geringer als die Anzahl der Bondkontaktstellen ist.
  • Die vorangehenden und zusätzliche Aspekte und Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung werden für Durchschnittsfachleute bei Betrachtung der Detailbeschreibung verschiedener Ausführungsformen und/oder Aspekte, die unter Bezugnahme auf die Zeichnungen erfolgt und wovon als nächstes eine Kurzbeschreibung bereitgestellt wird, offensichtlich sein.
  • KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Die vorangehenden und andere Vorteile der Erfindung werden beim Lesen der folgenden Detailbeschreibung und unter Bezugnahme auf die Zeichnungen erkennbar werden.
  • 1 ist eine schematische, perspektivische Darstellung eines Anzeigebildschirms, der dazu geeignet ist, eine Sondenkarte aufzunehmen.
  • 2 ist eine schematische Vorderansicht des in 1 gezeigten Anzeigebildschirms, welche die Positionen von Sondenkontaktstellen zum Aufnehmen von Sondenkarten zeigt.
  • 3 ist ein Diagramm eines Paares von Sondenkontaktstellen, die mit einem Multiplexer verbunden sind, welcher dazu verwendet wird, um den Sondenkontaktstellen Sondensignale zuzuführen.
  • 4 ist ein schematisches Schaltkreisdiagramm einer der in 3 dargestellten Sondenkontaktstellen, welche verbunden ist, um die Anzeigesignale aufzunehmen.
  • 5 ist eine schematische Darstellung eines Prüfsystems zum Durchführen von Messungen an einem AMOLED-Bildschirm sowie verschiedener Korrekturvorgänge, die durchgeführt werden können, um Defekte zu beheben, die bei einer Analyse der Messungen erkannt wurden.
  • 6 ist ein schematisches Schaltkreisdiagramm eines Bildpunktschaltkreises, welcher ein Signal WR aufweist.
  • Obwohl die Erfindung für verschiedene Modifikationen und alternative Formen offen ist, wurden spezielle Ausführungsformen beispielhaft in den Zeichnungen gezeigt und werden hier detailliert beschrieben. Es sollte jedoch verstanden werden, dass die Erfindung nicht auf die offenbarten, konkreten Formen beschränkt sein soll. Vielmehr soll die Erfindung alle Modifikationen, Äquivalente und Alternativen erfassen, die unter den Sinn und Schutzumfang der Erfindung fallen, welche durch die beiliegenden Patentansprüche definiert wird.
  • DETAILBESCHREIBUNG
  • 1 stellt ein System zur Prüfung eines OLED-Anzeigebildschirms 10 in einer oder mehreren Herstellungsstufen des Bildschirms 10 (z. B. einer TFT-Rückwand, eines vollständig gefertigten Bildschirms oder eines vollständig fertiggestellten und versiegelten Bildschirms) dar. Der Anzeigebildschirm 10 ist über Messelektronik 11 und eine Sondenkarte 12 mit einem Computer 14 gekoppelt, um die Fähigkeit bereitzustellen, den Bildschirm in jedem Verarbeitungsschritt zu prüfen und abzugleichen. Zum Beispiel kann das Sondenkartensystem nach Fertigstellung der TFT-Rückwand dazu verwendet werden, um das Leistungsverhalten der TFT-Rückwand allein zu messen. Wenn die TFT-Rückwand akzeptabel ist, wird der Bildschirm 10 zum nächsten Schritt übergeführt, der die OLED-Abscheidungsstufe sein kann. Nach Fertigstellung der OLED-Abscheidung kann der Bildschirm 10 hinsichtlich der korrekten OLED-Abscheidung gemessen werden, bevor er versiegelt wird. Nach dem Versiegeln kann der Bildschirm 10 wieder gemessen werden, bevor er zu einem Montageprozess weitergeleitet wird.
  • Wie in 2 ersichtlich, weist der dargestellte Anzeigebildschirm 10 Sondenkontaktstellen 20 auf, die entlang drei der vier Kanten des Bildschirms ausgebildet sind. Sondenkontaktstellen können auch innerhalb des Bildschirms ausgebildet sein, vorzugsweise vor der OLED-Abscheidungsstufe. Die Sondenkontaktstellen 20 werden dazu verwendet, um den zahlreichen Bildpunktschaltkreisen auf dem Anzeigebildschirm 10 über Bondkontaktstellen 30, die an den äußeren Enden der verschiedenen, zu den Bildpunktschaltkreisen führenden Signalleitungen ausgebildet sind, Testsignale zuzuführen.
  • 3 stellt die Verbindung der Sondenkontaktstellen 20 mit den Bondkontaktstellen 30 mittels eines Multiplexers (MUX) 40 dar, um die erforderliche Anzahl von Sondenkontaktstellen zu verringern, was wiederum erlaubt, den Kontaktstellenteilungsabstand zu erhöhen. Um sicherzustellen, dass die anderen Signale, die mit den Sondenkontaktstellen 20 verbunden sind, die richtige Vorspannung haben, muss der MUX 40 dazu in der Lage sein, jede Sondenkontaktstelle 20 mit einem gemeinsamen Signal (Vcom) für jede Signalgruppe (z. B. Quellsignale, Gate-Signale etc.) zu verbinden.
  • 4 stellt einen MUX 40 mit einer gemeinsamen Signalsteuerung und zwei oder mehreren Bildschirmsignalen für jede Sondenkontaktstelle 20 dar. 4 stellt h Bildschirmsignale dar, die mit einer Sondenkontaktstelle 20 verbunden sind, wodurch 2h Steuersignale zur Verbindung mit den Sondenkontaktstellen 20 oder Verbindung mit den gemeinsamen Signalen erforderlich sind. Die Verbindungen der Bildschirmsignale mit der Sondenkontaktstelle 20 werden von ersten Schaltern 41 und 42 gesteuert, und die Verbindungen der gemeinsamen Signale Vcom mit den Bildschirmsignalleitungen werden von zweiten Schaltern 43 und 44 gesteuert.
  • Der richtige Kontaktstellenteilungsabstand für eine Sondierung des gesamten Bildschirms ist üblicherweise etwa 150 μm. Wie durch die Daten in Tabelle 1 dargestellt, erfüllt der Kontaktstellenteilungsabstand die Mindestkontaktstellenabstandanforderungen für die meisten herkömmlichen Konfigurationen. Die Verwendung von Mulitplex-Verhältnissen von 2:1 oder größer erlaubt es jedoch, den Kontaktstellenteilungsabstand zu erhöhen, was zu viel einfacheren Sondenkarten führt, was ebenfalls durch die Daten in Tabelle 1 dargestellt wird:
    Bildschirm MUX Gate-Kontaktstellenabstand (μm) Source-Kontaktstellenabstand (μm) EIC-Kontaktstellenabstand (μm)
    55'' HD 1:1 295 330 330
    55'' HD 2:1 592 661 661
    55'' HD 8:1 2370 2645 2645
    55'' UD 1:1 148 165 165
    55'' UD 2:1 295 330 330
    55'' UD 8:1 1185 1132 1132
    78'' UD 1:1 222 222 222
    78'' UD 2:1 444 445 445
    78'' UD 8:1 1777 1781 1781
    Tabelle 1: Kontaktstellenteilungsabstand für unterschiedliche Anzeigegrößen und Auflösungen.
  • Wie in 5 dargestellt, kann ein elektronisches Messsystem 13, das auf der Sondenkarte 12 montiert ist, die elektrischen Eigenschaften jedes TFTs und jeder OLED-Vorrichtung in einem Anzeigebildschirm 10 messen sowie Defekte und Ungleichmäßigkeiten erkennen. Diese Daten werden einer GUI 14 zugeführt, wo die Daten dazu verwendet werden können, um jeden Prozessschritt feinabzustimmen, höhere Ausbeuten, einen schnelleren Prozessanlauf sowie geringere Leitungsüberwachungskosten zu erzielen. Beispiele der verschiedenen Prozessschritte, die feinabgestimmt werden können, werden in 5 dargestellt, nämlich ein Sputter- und PECVD-Modul 50, ein Prozessglühmodul 51, ein Strukturierungsmodul 52, ein Laser-Reparaturmodul 53, ein Tintenstrahldruckermodul 54 und ein Verdampfungsmodul 55. Das Endergebnis ist ein fertiggestellter Anzeigebildschirm 56.
  • Die in 5 dargestellte Schaltung nimmt Daten von der Messelektronik 13, analysiert die Daten und zeigt sie in einer breiten Palette von Berichten, Tabellen und Bildern an. Einige der Ansichten werden in der folgenden Tabelle dargestellt:
    Ansicht Beschreibung
    TFT Absolute LUT Zeigt die absoluten Messersatzwerte für jeden Bildpunkt auf dem Bildschirm.
    TFT Filtered LUT Zeigt die gefilterten Ersatzwerte, welche zur Berechnung der Delta-Werte verwendet werden.
    TFT Base LUT Zeigt die Werksversandwerte des Bildschirms, um zu bestimmen, wie stark die Bildpunkte gealtert sind (Messbasis).
    TFT Delta LUT Zeigt die Differenz zwischen dem gemessenen Strommittelwert und den Messbasiswerten (die zur Bestimmung der Kompensation verwendet wird).
    TFT Histogram LUT Zeigt an, wie oft ein Bildpunkt seit dem letzten Zeitpunkt, zu dem das Histogramm zurückgesetzt wurde, gemessen wurde. Diese Wertetabelle wird primär für den Prioritätsüberwachungsalgorithmus verwendet.
    TFT Pixel State LUT Zeigt entweder den aktuellen Zustand der Messzustandsmaschine oder die letzten Vergleichswerte für jeden Bildpunkt.
    TFT Region Priority Zeigt die Priorität jeder Region im Prioritätsüberwachungsalgorithmus.
    OLED Absolute LUT Zeigt die absoluten Messersatzwerte für jeden Bildpunkt auf der OLED-Schicht des Bildschirms.
    OLED Filtered LUT Zeigt die gefilterten Ersatzwerte, welche zur Berechnung der Delta-Werte verwendet werden.
    OLED Base LUT Zeigt die Werksversandwerte des Bildschirms, um zu bestimmen, wie stark die Bildpunkte gealtert sind (Messbasis).
    OLED Histogram Zeigt an, wie oft ein Bildpunkt seit dem letzten Zeitpunkt, zu dem das Histogramm zurückgesetzt wurde, gemessen wurde.
    OLED Pixel State Zeigt entweder den derzeitigen Zustand der Messzustandsmaschine oder die letzten Vergleichswerte für jeden Bildpunkt.
    OLED Region Priority Zeigt die Priorität jeder Region im Prioritätsüberwachungsalgorithmus.
    Dead Pixels LUT Zeigt, welche Bildpunkte entweder zum Herstellungszeitpunkt tot waren oder dass bestimmt wurde, dass sie seitdem nicht reagieren. Es ist zu beachten, dass tote Bildunkte nicht kompensiert werden.
    Combine Delta LUT Die kombinierten TFT- und OLED-Datenwerte, die zur Bestimmung der endgültigen Kompensation verwendet werden.
    Scratch LUT Eine vorübergehende LUT-Ansicht, um es Benutzern zu erlauben, die Daten zu manipulieren, ohne die Systemtabellen zu modifizieren, oder einfach eine „Sicherungskopie” einer Tabelle zu machen.
    Statistics Gibt die Leistungsstatistik und die aktuelle Bildrate an. Verwenden Sie diese Statistik, um die Zeit, die zum Verarbeiten und Anzeigen der aktuellen Daten im MaxLife Viewer erforderlich ist, mit der Zeit zu vergleichen, die tatsächlich nötig wäre, wenn die Anzeige nicht erforderlich wäre.
    Pixel Trends Zeigt den Bildpunktstatus, um zu bestimmen, ob es unbestimmte Bildpunkte gibt und zeigt Vergleichspegel. Ermöglicht Ihnen, eine visuelle Darstellung von Unsicherheitszonen zu erhalten und bestimmte defekte Bildpunkte anzusehen. Verwenden Sie diese Option, um aktive Messungen im Zeitverlauf zu erhalten; bestimmen Sie, wie oft ein Bildpunkt gemessen wurde, bevor er festgelegt wurde.
    Uniformity Report Wählen Sie eine LUT-Tabelle aus und analysieren Sie dann die Gleichmäßigkeit.
    Offset
    Characterization Erzeugt eine Grafik des V-zu-I-DAC-Codes in Bezug auf die Wahrscheinlichkeit einer Ergebnisabweichung des Vergleichers.
    Hardware Configuration Zeigt die aktuellen Hardware-Konfigurationsparameter an.
    Display Controls Fügt die Displaysteuerung zum unteren Rand der aktuellen Registrierkarte hinzu. Diese Optionen ermöglichen es Ihnen, die Bildaktualisierungsrate in Bildern pro Sekunde festzulegen. Ziehen Sie den Schieber nach links oder rechts, um die Aktualisierungsrate zu beschleunigen oder zu verlangsamen. Geringere Geschwindigkeiten sind für das freie Auge stärker sichtbar.
    CLI View Zeigt Befehle vom MaxLife Viewer an das System.
  • Eine breite Palette unterschiedlicher Schaltungen und Algorithmen kann verwendet werden, um Messungen unterschiedlicher Parameter des Anzeigebildschirms in unterschiedlichen Fertigungsstufen zu extrahieren, wie z. B. Extraktionssysteme, die im U.S.-Patent 8.599.191 mit dem Titel „Systems and Methods for Extraction of Threshold and Mobility Parameters in AMOLED Displays” beschrieben werden, das am 3. Dezember 2013 ausgestellt wurde.
  • Das Prüfsystem kann viele potentielle Defekte und Probleme erkennen (z. B. bei den Sputter- und PECVD-Schritten, die dazu verwendet werden können, um die wahrscheinliche Ursache des Defekts oder Problems zu erkennen, sodass der Fertigungsprozess unmittelbar feinabgestimmt werden kann, um das Problem zu korrigieren).
  • Beispiele derartiger Probleme und ihre wahrscheinlichen Ursachen sind folgende:
    Vom Prüfsystem MaxLifeTM erkanntes Problem Wahrscheinliche Ursache
    Leitungsdefekt (Kurzschluss auf Metallleitungen) Partikeldefekt während der Abscheidung, schlechte Haftung, verunreinigtes Substrat und schlechte Stufenabdeckung.
    Hoher Widerstand oder ungleichmäßiger Widerstand auf Metallleitungen Ungleichmäßiger Sputterprozess, verunreinigte/s Sputtergas oder Prozesskammer.
    Ungleichmäßiger TFT-Kontaktwiderstand Problem mit n+-Schicht-PECVD-Schritt, unvollständiger Durchkontaktierungsätz- oder Fotolackentfernungsprozess.
    Vt oder Beweglichkeit der TFTs nicht innerhalb der Spezifikationen Problem mit a-Si-Schicht-PECVD-Schritt (Verunreinigung während der Abscheidung, Abweichung der Prozessparameter oder Filmspannung).
    Unterbrochener TFT-Kanal Problem mit a-Si oder n+-Schichtabscheidung (Partikelverunreinigung während der Abscheidung/verunreinigtes Substrat).
    Gate auf eine konstante Spannung kurzgeschlossen Unvollständige Metallstrukturierung und/oder beschädigte dielektrische Schichten durch Partikel oder ESD.
    Source oder Gate mit dem Drain kurzgeschlossen Beschädigte dielektrische Schichten (feine Löcher) aufgrund von Partikeln oder ESD.
    Unterbrochene oder mit hohem Widerstand behaftete Kontakte Unvollständige Durchkontaktierungsätzung
    Kapazität außerhalb der Spezifikationen Ungleichmäßige Abscheidung der dielektrischen Schicht oder Abweichung der Abscheidungsprozessparameter.
    Leitungsdefekt (Crossover – Kurzschluss) Feine Löcher in den dielektrischen Schichten aufgrund von Partikeln oder ESD.
  • Bei Defekten, die nicht direkt aus einer Einzelmessung des Prüfsystems erkannt werden können, kann die erste Messung zeigen, dass ein Problem besteht, und zusätzliche Tests spezifizieren, welche den genauen Defekt eindeutig erkennen. Ein Beispiel ist die Erkennung von Leitungsdefekten, die mittels einer beliebigen der folgenden Prozesse detektiert werden können:
    • 1. Das Messen des Stroms unterschiedlicher Leitungen: Wenn der Strom höher als eine Schwelle ist, ist der Bildpunkt kurzgeschlossen.
    • 2. Das Anlegen eines Impulses, um den Ladungstransport zu messen: Wenn der Ladungstransport geringer als eine Schwelle ist, ist die Leitung unterbrochen.
    • 3. Bei einem Signal mit Verbindung zu einem Gleichstrom (z. B. Vdd und Vmonitor), kann der Strom gemessen werden, um den Unterbrechungsdefekt zu detektieren.
  • Defekte der Dünnfilmtransistoren (TFTs) können ebenfalls detektiert werden. Zum Beispiel in dem Fall, dass der Bildpunktschaltkreis in 6 ein Signal WR aufweist, welches als hoch gemessen wird (während Vdata = hoch, und auch während Vdata = niedrig, und Vdd = hoch), muss ein zusätzlicher Test durchgeführt werden. Tabelle 1 zeigt die unterschiedlichen Bedingungen und was die Ergebnisse bedeuten.
  • Um Probleme beim Prozessglühen zu detektieren, können die genaue Vt und Beweglichkeit jedes TFTs wie folgt verwendet werden, um die Prozessglühparameter einzustellen:
    Vom Prüfsystem MaxLifeTM erkanntes Problem Wahrscheinliche Ursache
    Vt und/or Beweglichkeit von TFTs ist höher als die Spezifikationen Laserleistungsabweichung
    Geringe Ungleichmäßigkeit von Vt und/oder der Beweglichkeit von TFTs gepulste Laserleistungsausgabe
    Große Ungleichmäßigkeit von Vt und/oder der Beweglichkeit von TFTs Laser-Wiederholbarkeit
  • Die Anzahl und Arten von Defekten kann dazu verwendet werden, um Probleme bei der Strukturierung (Partikel, Unter-/Überbelichtung etc.) wie folgt zu erkennen:
    Vom Prüfsystem MaxLifeTM erkanntes Problem Wahrscheinliche Ursache
    Metallleitungen mit hohem Widerstand Strukturdefinition oder Metallätzprozess. Schlechte Steuerung der Linienbreite
    Unterbrochene Kontakte oder Kontakte mit hohem Widerstand Schlechte Definition des Durchkontaktierungsmusters/Fotolackrest
    Gate auf eine konstante Spannung kurzgeschlossen Feine Löcher in den dielektrischen Schichten
    Anormale/r Kapazität oder Widerstand in Ecken des Bildschirms Maskierungsausrichtungsfehler (Drehung), ungleichmäßige Fotolackdicke.
    Große/r Kapazität oder Widerstand, Ungleichmäßigkeit Strukturausrichtungsfehler oder Schwankung der Belichtungsleistung
    Aneinandergrenzende Metallleitungen kurzgeschlossen Partikel in Fotolack/Musterdefinition
    Strukturdefekt Fehlgeschlagene Stepper-Ausrichtung
    Wiederholter Defekt Beschädigte oder verunreinigte Belichtungsmaske
  • Die Defektposition und der Defekttyp können dazu verwendet werden, um Bereiche für die Laserreparatur (Entfernen von Material) oder Ionenstrahlabscheidung (Zufügen von Material) wie folgt zu bestimmen:
    Vom Prüfsystem MaxLifeTM erkanntes Problem Reparaturschritt
    Gate auf eine konstante Spannung kurzgeschlossen Exakte Bildpunktposition an das Laserreparatursystem weitergeben
    Kurzschluss auf Metallleitungen Die kurzgeschlossenen Metallleitungen erkennen
    Unterbrechung auf Metallleitungen Die unterbrochenen Metallleitungen erkennen
    Unterbrochene oder mit hohem Widerstand behaftete TFT-Kontakte Die Anzahl und Position der defekten Bildpunkte schnell erkennen
  • Die Gleichmäßigkeitsdaten können auch dazu verwendet werden, um jeden Druckkopf, der zum Tintenstrahldrucken verwendet wird, kontinuierlich in Echtzeit zu kalibrieren. Das System weiß, welcher Druckkopf zum Drucken jedes Bildpunktes verwendet wurde, und daher können Probleme mit einzelnen Druckköpfen detektiert werden. Der Druckkopf, der verwendet wurde, um diese Bildpunkte zu drucken, kann dann wie folgt sofort eingestellt werden:
    Vom Prüfsystem MaxLifeTM erkanntes Problem Wahrscheinliche Ursache
    Tote Bildpunkte Druckkopf gibt fallweise zu wenig Material ab, was zu Kurzschlüssen führt
    Ständig leuchtender Bildpunkt Druckkopf gibt fallweise zu wenig Material ab
    Mit hohem Widerstand behaftete Bildpunkte Der Druckkopf, der diese Bildpunkte druckt, gibt möglicherweise zu viel Material ab
    Schlechte Spannungsgleichmäßigkeit der OLED Fehlfunktion der Strömungssteuerung des Druckkopfes
  • Der exakte Fehlermodus jeder OLED-Vorrichtung kann dazu verwendet werden, um den Verdampfungsprozess wie folgt abzustimmen:
    Vom Prüfsystem MaxLifeTM erkanntes Problem Wahrscheinliche Ursache
    Alle Bildpunkte eines Druckkopfes weisen einen zu hohen (oder zu niedrigen) Widerstand auf Problem mit der Kalibrierung des Druckkopfes
    OLED kurzgeschlossen Es wird zu wenig organisches Material abgeschieden, was zu Kurzschlüssen führt.
    Mit hohem Widerstand behaftete Bildpunkte Es wird zu viel organisches Material abgeschieden.
    OLED-Spannung zu hoch Es wird zu wenig organisches Material abgeschieden.
    Langreichweitige Spannungsgleichmäßigkeit der OLED ist schlecht Problem mit Substratdrehung oder Verdampfer zu nahe am Substrat
    Kurzreichweitige Spannungsgleichmäßigkeit der OLED ist schlecht Problem mit Temperatursteuerung der thermischen Verdampfung
    Unterbrochene OLED Partikel während der Verdampfung
    Kurzschluss mit Kathode oder Anode Partikel während der Verdampfung
    Teilweiser Kurzschluss (niedriger Widerstand) Es wird zu wenig organisches Material abgeschieden.
  • Die elektrischen Eigenschaften (die während der TFT- und OLED-Prüfung erfasst werden) können in eine Wertetabelle geladen und dazu verwendet werden, um alle TFT- und OLED-Ungleichmäßigkeiten zu korrigieren.
  • Zusätzliche Defekte können erkannt werden, sobald sowohl die OLEDs als auch die TFTs abgeschieden worden sind. Die erste Messung kann erkennen, dass ein Problem besteht, und zusätzliche Tests spezifizieren, die den exakten Defekt eindeutig erkennt.
  • Wenn Testexemplare rund um den Rand des Bildschirms erzeugt werden, können mehr Details über die globalen Prozessparameter extrahiert werden. Üblicherweise wird dies erreicht, indem die Testexemplare von einem kleinen Prozentsatz der Anzeigen abgeschnitten und in ein separates Kennzeichnungssystem aufgenommen werden. Beim vorliegenden Prüfsystem kann dies jedoch als Teil der Bildschirmkennzeichnung für jeden Bildschirm wie folgt erreicht werden:
    • • Metallleitungen können erzeugt und der Widertand gemessen werden. Dadurch können sowohl die Metallabscheidungsschritte als auch das Ätzen getestet werden.
    • • Man kann Halbleiterschichten, die wärmebehandelt werden sollen, auf ihre Eigenschaften und Gleichmäßigkeit testen.
    • • Um die Ausrichtung zu prüfen, können Strukturen an unterschiedlichen Positionen am Bildschirm verwendet werden.
    • • OLED-Strukturen können verwendet werden, um Verdampfungs- und Tintenstrahldruckschritte zu testen.
  • Während konkrete Ausführungsformen und Anwendungen der vorliegenden Erfindung dargestellt und beschrieben wurden, ist zu verstehen, dass die Erfindung nicht auf die hier offenbarte, genaue Auslegung und Zusammenstellung beschränkt und dass verschiedene Modifikationen, Änderungen und Varianten aus den vorangehenden Beschreibungen erkennbar sind, ohne vom Sinn und Schutzumfang der Erfindung, die in den beiliegenden Ansprüchen definiert wird, abzuweichen.

Claims (16)

  1. Verfahren zum Prüfen zumindest eines Abschnittes eines Anzeigebildschirms, welcher Bildpunktschaltkreise aufweist, die Dünnfilmtransistoren (TFTs) und organische, Licht emittierende Vorrichtungen (OLEDs) umfassen, während oder unmittelbar nach der Fertigung, sodass Einstellungen an den Fertigungsprozessen vorgenommen werden können, um Defekte und Ungleichmäßigkeiten in den Bildpunktschaltkreisen zu verhindern, wobei dieses Verfahren Folgendes umfasst: das Bereitstellen von Bondkontaktstellen, die mit Signalleitungen zumindest auf Abschnitten des Anzeigebildschirms verbunden sind, das Bereitstellen von Sondenkontaktstellen entlang ausgewählten Kanten der Abschnitte des Anzeigebildschirms, sowie das Koppeln der Sondenkontaktstellen mit den Bondkontaktstellen mittels einer Vielzahl von Multiplexer, sodass die Anzahl von Sondenkontaktstellen kleiner als die Anzahl der Bondkontaktstellen sein kann.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, welches Messelektronik, die mit den Sondenkontaktstellen gekoppelt ist, und einen Computer umfasst, der mit der Messelektronik gekoppelt ist.
  3. Verfahren nach Anspruch 1, in dem die Sondenkontaktstellen entlang einer Vielzahl von Kanten des Anzeigebildschirms ausgebildet sind.
  4. Verfahren nach Anspruch 1, welches umfasst, dass den Bildpunktschaltkreisen auf dem Anzeigebildschirm über die Sondenkontaktstellen Testsignale zugeführt werden.
  5. Verfahren nach Anspruch 1, in dem der Anzeigebildschirm ein AMOLED-Anzeigebildschirm ist.
  6. Verfahren nach Anspruch 1, in dem jeder der Multiplexer dazu in der Lage ist, jede Sondenkontaktstelle mit gemeinsamen Signalen (Vcom) für mehrere Signalgruppen zu verbinden.
  7. Verfahren nach Anspruch 1, in dem jeder Multiplexer erste Schalter, die Verbindungen von mehreren Bildschirmsignalleitungen mit einer Sondenkontaktstelle bereitstellen, sowie zweite Multiplexer umfasst, die Verbindungen von gemeinsamen Signalen mit Bildschirmsignalleitungen bereitstellen.
  8. Verfahren nach Anspruch 1, welches das Messen der elektrischen Eigenschaften jedes TFTs und jeder OLED-Vorrichtung im Anzeigebildschirm sowie das Erkennen von Defekten und Ungleichmäßigkeiten im Bildschirm aufgrund der gemessenen elektrischen Eigenschaften umfasst.
  9. Anzeigebildschirm mit einer Vielzahl von Bildpunktschaltkreisen, welche Dünnfilmtransistoren und organische, Licht emittierende Vorrichtungen (OLEDs) umfassen, wobei der Anzeigebildschirm Folgendes umfasst: mehrere Signalleitungen auf Abschnitten des Anzeigebildschirms, mehrere Bondkontaktstellen, die mit den Signalleitungen verbunden sind, mehrere Sondenkontaktstellen, die entlang ausgewählten Kanten der Abschnitte des Anzeigebildschirms, welche die Signalleitungen aufweisen, positioniert sind, und mehrere Multiplexer, welche die Sondenkontaktstellen mit den Bondkontaktstellen koppeln.
  10. Anzeigebildschirm nach Anspruch 9, welcher Messelektronik, die mit den Sondenkontaktstellen gekoppelt ist, und einen Computer umfasst, der mit der Messelektronik gekoppelt ist.
  11. Anzeigebildschirm nach Anspruch 9, in dem die Sondenkontaktstellen entlang einer Vielzahl von Kanten des Anzeigebildschirms ausgebildet sind.
  12. Anzeigebildschirm nach Anspruch 9, in dem die Sondenkontaktstellen den Bildpunktschaltkreisen auf dem Anzeigebildschirm Testsignale zuführen.
  13. Anzeigebildschirm nach Anspruch 9, in dem der Anzeigebildschirm ein AMOLED-Anzeigebildschirm ist.
  14. Anzeigebildschirm nach Anspruch 9, in dem jeder der Multiplexer dazu in der Lage ist, jede Sondenkontaktstelle mit gemeinsamen Signalen (Vcom) für mehrere Signalgruppen zu verbinden.
  15. Anzeigebildschirm nach Anspruch 9, in dem jeder Multiplexer erste Schalter, die Verbindungen von mehreren Bildschirmsignalleitungen mit einer Sondenkontaktstelle bereitstellen, sowie zweite Multiplexer umfasst, die Verbindungen gemeinsamer Signale mit Bildschirmsignalleitungen bereitstellen.
  16. Anzeigebildschirm nach Anspruch 9, welcher einen Prozessor umfasst, der so konfiguriert ist, dass er die elektrischen Eigenschaften jedes TFTs und jeder OLED-Vorrichtung im Anzeigebildschirm misst und Defekte und Ungleichmäßigkeiten im Bildschirm auf Grundlage der gemessenen elektrischen Eigenschaften erkennt.
DE112014002086.9T 2013-04-22 2014-04-21 Prüfsystem für OLED-Anzeigebildschirme Withdrawn DE112014002086T5 (de)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201361814580P 2013-04-22 2013-04-22
US61/814,580 2013-04-22
US201361861614P 2013-08-02 2013-08-02
US61/861,614 2013-08-02
PCT/IB2014/060879 WO2014174427A1 (en) 2013-04-22 2014-04-21 Inspection system for oled display panels

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE112014002086T5 true DE112014002086T5 (de) 2016-01-14

Family

ID=51728347

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE112014002086.9T Withdrawn DE112014002086T5 (de) 2013-04-22 2014-04-21 Prüfsystem für OLED-Anzeigebildschirme

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10867536B2 (de)
CN (2) CN105144361B (de)
DE (1) DE112014002086T5 (de)
WO (1) WO2014174427A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11631869B2 (en) 2016-09-23 2023-04-18 Reinz-Dichtungs-Gmbh Flow plate for a humidifier

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6999434B2 (ja) * 2018-01-29 2022-01-18 シャープ株式会社 表示装置、表示システム、および表示装置の製造方法
CN109342020A (zh) * 2018-11-20 2019-02-15 武汉精毅通电子技术有限公司 一种显示面板测试用承载装置
US11217649B2 (en) * 2020-04-03 2022-01-04 Star Technologies, Inc. Method of testing and analyzing display panel
CN113409714B (zh) * 2021-06-16 2023-01-10 合肥鑫晟光电科技有限公司 显示面板及显示装置

Family Cites Families (493)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3506851A (en) 1966-12-14 1970-04-14 North American Rockwell Field effect transistor driver using capacitor feedback
US3774055A (en) 1972-01-24 1973-11-20 Nat Semiconductor Corp Clocked bootstrap inverter circuit
JPS52119160A (en) 1976-03-31 1977-10-06 Nec Corp Semiconductor circuit with insulating gate type field dffect transisto r
US4160934A (en) 1977-08-11 1979-07-10 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Current control circuit for light emitting diode
US4354162A (en) 1981-02-09 1982-10-12 National Semiconductor Corporation Wide dynamic range control amplifier with offset correction
JPS60218626A (ja) 1984-04-13 1985-11-01 Sharp Corp カラ−液晶表示装置
JPS61161093A (ja) 1985-01-09 1986-07-21 Sony Corp ダイナミツクユニフオミテイ補正装置
US4943956A (en) 1988-04-25 1990-07-24 Yamaha Corporation Driving apparatus
JPH01272298A (ja) 1988-04-25 1989-10-31 Yamaha Corp 駆動装置
US4996523A (en) 1988-10-20 1991-02-26 Eastman Kodak Company Electroluminescent storage display with improved intensity driver circuits
US5198803A (en) 1990-06-06 1993-03-30 Opto Tech Corporation Large scale movie display system with multiple gray levels
JP3039791B2 (ja) 1990-06-08 2000-05-08 富士通株式会社 Ｄａコンバータ
EP0462333B1 (de) 1990-06-11 1994-08-31 International Business Machines Corporation Anzeigeeinrichtung
JPH04132755A (ja) 1990-09-25 1992-05-07 Sumitomo Chem Co Ltd 粉末成形用塩化ビニル系樹脂組成物
JPH04158570A (ja) 1990-10-22 1992-06-01 Seiko Epson Corp 半導体装置の構造及びその製造方法
US5153420A (en) 1990-11-28 1992-10-06 Xerox Corporation Timing independent pixel-scale light sensing apparatus
US5204661A (en) 1990-12-13 1993-04-20 Xerox Corporation Input/output pixel circuit and array of such circuits
US5280280A (en) 1991-05-24 1994-01-18 Robert Hotto DC integrating display driver employing pixel status memories
US5489918A (en) 1991-06-14 1996-02-06 Rockwell International Corporation Method and apparatus for dynamically and adjustably generating active matrix liquid crystal display gray level voltages
US5589847A (en) 1991-09-23 1996-12-31 Xerox Corporation Switched capacitor analog circuits using polysilicon thin film technology
US5266515A (en) 1992-03-02 1993-11-30 Motorola, Inc. Fabricating dual gate thin film transistors
JP2793427B2 (ja) * 1992-04-08 1998-09-03 株式会社東芝 半導体装置
US5572444A (en) 1992-08-19 1996-11-05 Mtl Systems, Inc. Method and apparatus for automatic performance evaluation of electronic display devices
AU6497794A (en) 1993-04-05 1994-10-24 Cirrus Logic, Inc. System for compensating crosstalk in lcds
JPH06314977A (ja) 1993-04-28 1994-11-08 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 電流出力型デジタル／アナログ変換回路
JPH0799321A (ja) 1993-05-27 1995-04-11 Sony Corp 薄膜半導体素子の製造方法および製造装置
JPH07120722A (ja) 1993-06-30 1995-05-12 Sharp Corp 液晶表示素子およびその駆動方法
US5557342A (en) 1993-07-06 1996-09-17 Hitachi, Ltd. Video display apparatus for displaying a plurality of video signals having different scanning frequencies and a multi-screen display system using the video display apparatus
JP3067949B2 (ja) 1994-06-15 2000-07-24 シャープ株式会社 電子装置および液晶表示装置
JPH0830231A (ja) 1994-07-18 1996-02-02 Toshiba Corp Ｌｅｄドットマトリクス表示器及びその調光方法
US5714968A (en) 1994-08-09 1998-02-03 Nec Corporation Current-dependent light-emitting element drive circuit for use in active matrix display device
US6476798B1 (en) 1994-08-22 2002-11-05 International Game Technology Reduced noise touch screen apparatus and method
US5498880A (en) 1995-01-12 1996-03-12 E. I. Du Pont De Nemours And Company Image capture panel using a solid state device
US5745660A (en) 1995-04-26 1998-04-28 Polaroid Corporation Image rendering system and method for generating stochastic threshold arrays for use therewith
US5506499A (en) * 1995-06-05 1996-04-09 Neomagic Corp. Multiple probing of an auxilary test pad which allows for reliable bonding to a primary bonding pad
US5619033A (en) 1995-06-07 1997-04-08 Xerox Corporation Layered solid state photodiode sensor array
JPH08340243A (ja) 1995-06-14 1996-12-24 Canon Inc バイアス回路
US5748160A (en) 1995-08-21 1998-05-05 Mororola, Inc. Active driven LED matrices
JP3272209B2 (ja) 1995-09-07 2002-04-08 アルプス電気株式会社 Ｌｃｄ駆動回路
JPH0990405A (ja) 1995-09-21 1997-04-04 Sharp Corp 薄膜トランジスタ
US5945972A (en) 1995-11-30 1999-08-31 Kabushiki Kaisha Toshiba Display device
JPH09179525A (ja) 1995-12-26 1997-07-11 Pioneer Electron Corp 容量性発光素子の駆動方法及び駆動装置
US5923794A (en) 1996-02-06 1999-07-13 Polaroid Corporation Current-mediated active-pixel image sensing device with current reset
US5949398A (en) 1996-04-12 1999-09-07 Thomson Multimedia S.A. Select line driver for a display matrix with toggling backplane
US6271825B1 (en) 1996-04-23 2001-08-07 Rainbow Displays, Inc. Correction methods for brightness in electronic display
US5723950A (en) 1996-06-10 1998-03-03 Motorola Pre-charge driver for light emitting devices and method
JP3266177B2 (ja) 1996-09-04 2002-03-18 住友電気工業株式会社 電流ミラー回路とそれを用いた基準電圧発生回路及び発光素子駆動回路
US5952991A (en) 1996-11-14 1999-09-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Liquid crystal display
US6261009B1 (en) 1996-11-27 2001-07-17 Zih Corporation Thermal printer
US5874803A (en) 1997-09-09 1999-02-23 The Trustees Of Princeton University Light emitting device with stack of OLEDS and phosphor downconverter
US5990629A (en) 1997-01-28 1999-11-23 Casio Computer Co., Ltd. Electroluminescent display device and a driving method thereof
US5917280A (en) 1997-02-03 1999-06-29 The Trustees Of Princeton University Stacked organic light emitting devices
CN100538790C (zh) 1997-02-17 2009-09-09 精工爱普生株式会社 显示装置
JPH10254410A (ja) 1997-03-12 1998-09-25 Pioneer Electron Corp 有機エレクトロルミネッセンス表示装置及びその駆動方法
US6518962B2 (en) 1997-03-12 2003-02-11 Seiko Epson Corporation Pixel circuit display apparatus and electronic apparatus equipped with current driving type light-emitting device
US5903248A (en) 1997-04-11 1999-05-11 Spatialight, Inc. Active matrix display having pixel driving circuits with integrated charge pumps
US5952789A (en) 1997-04-14 1999-09-14 Sarnoff Corporation Active matrix organic light emitting diode (amoled) display pixel structure and data load/illuminate circuit therefor
US6229506B1 (en) 1997-04-23 2001-05-08 Sarnoff Corporation Active matrix light emitting diode pixel structure and concomitant method
KR100559078B1 (ko) 1997-04-23 2006-03-13 트랜스퍼시픽 아이피 리미티드 능동 매트릭스 발광 다이오드 화소 구조물 및 이를 동작시키는 방법
US5815303A (en) 1997-06-26 1998-09-29 Xerox Corporation Fault tolerant projective display having redundant light modulators
US6023259A (en) 1997-07-11 2000-02-08 Fed Corporation OLED active matrix using a single transistor current mode pixel design
KR100323441B1 (ko) 1997-08-20 2002-06-20 윤종용 엠펙2동화상부호화/복호화시스템
US20010043173A1 (en) 1997-09-04 2001-11-22 Ronald Roy Troutman Field sequential gray in active matrix led display using complementary transistor pixel circuits
JPH1187720A (ja) 1997-09-08 1999-03-30 Sanyo Electric Co Ltd 半導体装置及び液晶表示装置
JPH1196333A (ja) 1997-09-16 1999-04-09 Olympus Optical Co Ltd カラー画像処理装置
US6738035B1 (en) 1997-09-22 2004-05-18 Nongqiang Fan Active matrix LCD based on diode switches and methods of improving display uniformity of same
JP3767877B2 (ja) 1997-09-29 2006-04-19 三菱化学株式会社 アクティブマトリックス発光ダイオード画素構造およびその方法
US6909419B2 (en) 1997-10-31 2005-06-21 Kopin Corporation Portable microdisplay system
US6069365A (en) 1997-11-25 2000-05-30 Alan Y. Chow Optical processor based imaging system
JP3755277B2 (ja) 1998-01-09 2006-03-15 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置の駆動回路、電気光学装置、及び電子機器
JPH11231805A (ja) 1998-02-10 1999-08-27 Sanyo Electric Co Ltd 表示装置
US6445369B1 (en) 1998-02-20 2002-09-03 The University Of Hong Kong Light emitting diode dot matrix display system with audio output
US6259424B1 (en) 1998-03-04 2001-07-10 Victor Company Of Japan, Ltd. Display matrix substrate, production method of the same and display matrix circuit
FR2775821B1 (fr) 1998-03-05 2000-05-26 Jean Claude Decaux Panneau d'affichage lumineux
US6097360A (en) 1998-03-19 2000-08-01 Holloman; Charles J Analog driver for LED or similar display element
JP3252897B2 (ja) 1998-03-31 2002-02-04 日本電気株式会社 素子駆動装置および方法、画像表示装置
JP2931975B1 (ja) 1998-05-25 1999-08-09 アジアエレクトロニクス株式会社 Ｔｆｔアレイ検査方法および装置
JP3702096B2 (ja) 1998-06-08 2005-10-05 三洋電機株式会社 薄膜トランジスタ及び表示装置
GB9812742D0 (en) 1998-06-12 1998-08-12 Philips Electronics Nv Active matrix electroluminescent display devices
JP2000075854A (ja) 1998-06-18 2000-03-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 画像処理装置、およびこれを用いたディスプレイ装置
CA2242720C (en) 1998-07-09 2000-05-16 Ibm Canada Limited-Ibm Canada Limitee Programmable led driver
JP2953465B1 (ja) 1998-08-14 1999-09-27 日本電気株式会社 定電流駆動回路
EP0984492A3 (de) 1998-08-31 2000-05-17 Sel Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Halbleiterbauelement mit organischem Harz und Prozess zur Herstellung des Bauelementes
JP2000081607A (ja) 1998-09-04 2000-03-21 Denso Corp マトリクス型液晶表示装置
US6940300B1 (en) * 1998-09-23 2005-09-06 International Business Machines Corporation Integrated circuits for testing an active matrix display array
US6417825B1 (en) 1998-09-29 2002-07-09 Sarnoff Corporation Analog active matrix emissive display
US6501098B2 (en) 1998-11-25 2002-12-31 Semiconductor Energy Laboratory Co, Ltd. Semiconductor device
JP3423232B2 (ja) 1998-11-30 2003-07-07 三洋電機株式会社 アクティブ型ｅｌ表示装置
JP3031367B1 (ja) 1998-12-02 2000-04-10 日本電気株式会社 イメージセンサ
JP2000174282A (ja) 1998-12-03 2000-06-23 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
JP2002532762A (ja) 1998-12-14 2002-10-02 コピン・コーポレーシヨン 携帯型マイクロデイスプレーシステム
US6639244B1 (en) 1999-01-11 2003-10-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of fabricating the same
JP3686769B2 (ja) 1999-01-29 2005-08-24 日本電気株式会社 有機ｅｌ素子駆動装置と駆動方法
JP2000231346A (ja) 1999-02-09 2000-08-22 Sanyo Electric Co Ltd エレクトロルミネッセンス表示装置
US7122835B1 (en) 1999-04-07 2006-10-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electrooptical device and a method of manufacturing the same
US7012600B2 (en) 1999-04-30 2006-03-14 E Ink Corporation Methods for driving bistable electro-optic displays, and apparatus for use therein
JP4565700B2 (ja) 1999-05-12 2010-10-20 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
US6690344B1 (en) 1999-05-14 2004-02-10 Ngk Insulators, Ltd. Method and apparatus for driving device and display
KR100296113B1 (ko) 1999-06-03 2001-07-12 구본준, 론 위라하디락사 전기발광소자
JP4092857B2 (ja) 1999-06-17 2008-05-28 ソニー株式会社 画像表示装置
US6437106B1 (en) 1999-06-24 2002-08-20 Abbott Laboratories Process for preparing 6-o-substituted erythromycin derivatives
WO2001006484A1 (fr) 1999-07-14 2001-01-25 Sony Corporation Circuit d'attaque et affichage le comprenant, circuit de pixels et procede d'attaque
US7379039B2 (en) 1999-07-14 2008-05-27 Sony Corporation Current drive circuit and display device using same pixel circuit, and drive method
JP2003509728A (ja) 1999-09-11 2003-03-11 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ アクティブマトリックスｅｌディスプレイ装置
GB9923261D0 (en) 1999-10-02 1999-12-08 Koninkl Philips Electronics Nv Active matrix electroluminescent display device
EP1225557A1 (de) 1999-10-04 2002-07-24 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Verfahren zur ansteuerung,helligkeitskorrektur und vorrichtung zur ansteuerung eines anzeigegeräts
KR20010080746A (ko) 1999-10-12 2001-08-22 요트.게.아. 롤페즈 Ｌｅｄ 디스플레이 디바이스
US6392617B1 (en) 1999-10-27 2002-05-21 Agilent Technologies, Inc. Active matrix light emitting diode display
JP2001134217A (ja) 1999-11-09 2001-05-18 Tdk Corp 有機ｅｌ素子の駆動装置
JP2001147659A (ja) 1999-11-18 2001-05-29 Sony Corp 表示装置
TW587239B (en) 1999-11-30 2004-05-11 Semiconductor Energy Lab Electric device
GB9929501D0 (en) 1999-12-14 2000-02-09 Koninkl Philips Electronics Nv Image sensor
TW573165B (en) 1999-12-24 2004-01-21 Sanyo Electric Co Display device
US6307322B1 (en) 1999-12-28 2001-10-23 Sarnoff Corporation Thin-film transistor circuitry with reduced sensitivity to variance in transistor threshold voltage
JP2001195014A (ja) 2000-01-14 2001-07-19 Tdk Corp 有機ｅｌ素子の駆動装置
JP4907753B2 (ja) 2000-01-17 2012-04-04 エーユー オプトロニクス コーポレイション 液晶表示装置
US6809710B2 (en) 2000-01-21 2004-10-26 Emagin Corporation Gray scale pixel driver for electronic display and method of operation therefor
US6639265B2 (en) 2000-01-26 2003-10-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing the semiconductor device
US7030921B2 (en) 2000-02-01 2006-04-18 Minolta Co., Ltd. Solid-state image-sensing device
US6414661B1 (en) 2000-02-22 2002-07-02 Sarnoff Corporation Method and apparatus for calibrating display devices and automatically compensating for loss in their efficiency over time
TW521226B (en) 2000-03-27 2003-02-21 Semiconductor Energy Lab Electro-optical device
JP2001284592A (ja) 2000-03-29 2001-10-12 Sony Corp 薄膜半導体装置及びその駆動方法
US6528950B2 (en) 2000-04-06 2003-03-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electronic device and driving method
US6611108B2 (en) 2000-04-26 2003-08-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electronic device and driving method thereof
US6583576B2 (en) 2000-05-08 2003-06-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device, and electric device using the same
TW493153B (en) 2000-05-22 2002-07-01 Koninkl Philips Electronics Nv Display device
EP1158483A3 (de) 2000-05-24 2003-02-05 Eastman Kodak Company Festkörperanzeige mit Referenzpixel
JP4703815B2 (ja) 2000-05-26 2011-06-15 株式会社半導体エネルギー研究所 Ｍｏｓ型センサの駆動方法、及び撮像方法
TW461002B (en) 2000-06-05 2001-10-21 Ind Tech Res Inst Testing apparatus and testing method for organic light emitting diode array
JP4831889B2 (ja) 2000-06-22 2011-12-07 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
JP3877049B2 (ja) 2000-06-27 2007-02-07 株式会社日立製作所 画像表示装置及びその駆動方法
US6738034B2 (en) 2000-06-27 2004-05-18 Hitachi, Ltd. Picture image display device and method of driving the same
JP2002032058A (ja) 2000-07-18 2002-01-31 Nec Corp 表示装置
JP3437152B2 (ja) 2000-07-28 2003-08-18 ウインテスト株式会社 有機ｅｌディスプレイの評価装置および評価方法
JP2002049325A (ja) 2000-07-31 2002-02-15 Seiko Instruments Inc 表示色温度補正照明装置及び平面表示装置
US6304039B1 (en) 2000-08-08 2001-10-16 E-Lite Technologies, Inc. Power supply for illuminating an electro-luminescent panel
US6828950B2 (en) 2000-08-10 2004-12-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and method of driving the same
JP3485175B2 (ja) 2000-08-10 2004-01-13 日本電気株式会社 エレクトロルミネセンスディスプレイ
TW507192B (en) 2000-09-18 2002-10-21 Sanyo Electric Co Display device
US6781567B2 (en) 2000-09-29 2004-08-24 Seiko Epson Corporation Driving method for electro-optical device, electro-optical device, and electronic apparatus
US7315295B2 (en) 2000-09-29 2008-01-01 Seiko Epson Corporation Driving method for electro-optical device, electro-optical device, and electronic apparatus
JP4925528B2 (ja) 2000-09-29 2012-04-25 三洋電機株式会社 表示装置
JP2002162934A (ja) 2000-09-29 2002-06-07 Eastman Kodak Co 発光フィードバックのフラットパネルディスプレイ
JP3838063B2 (ja) 2000-09-29 2006-10-25 セイコーエプソン株式会社 有機エレクトロルミネッセンス装置の駆動方法
TW550530B (en) 2000-10-27 2003-09-01 Semiconductor Energy Lab Display device and method of driving the same
JP2002141420A (ja) 2000-10-31 2002-05-17 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置及びその製造方法
US6320325B1 (en) 2000-11-06 2001-11-20 Eastman Kodak Company Emissive display with luminance feedback from a representative pixel
US7127380B1 (en) 2000-11-07 2006-10-24 Alliant Techsystems Inc. System for performing coupled finite analysis
KR100405026B1 (ko) 2000-12-22 2003-11-07 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치
TW561445B (en) 2001-01-02 2003-11-11 Chi Mei Optoelectronics Corp OLED active driving system with current feedback
US6580657B2 (en) 2001-01-04 2003-06-17 International Business Machines Corporation Low-power organic light emitting diode pixel circuit
JP3593982B2 (ja) 2001-01-15 2004-11-24 ソニー株式会社 アクティブマトリクス型表示装置およびアクティブマトリクス型有機エレクトロルミネッセンス表示装置、並びにそれらの駆動方法
US6323631B1 (en) 2001-01-18 2001-11-27 Sunplus Technology Co., Ltd. Constant current driver with auto-clamped pre-charge function
JP2002215063A (ja) 2001-01-19 2002-07-31 Sony Corp アクティブマトリクス型表示装置
TW569016B (en) 2001-01-29 2004-01-01 Semiconductor Energy Lab Light emitting device
CN1302313C (zh) 2001-02-05 2007-02-28 国际商业机器公司 液晶显示装置
TWI248319B (en) 2001-02-08 2006-01-21 Semiconductor Energy Lab Light emitting device and electronic equipment using the same
JP2002244617A (ja) 2001-02-15 2002-08-30 Sanyo Electric Co Ltd 有機ｅｌ画素回路
CA2438577C (en) 2001-02-16 2006-08-22 Ignis Innovation Inc. Pixel current driver for organic light emitting diode displays
US7569849B2 (en) 2001-02-16 2009-08-04 Ignis Innovation Inc. Pixel driver circuit and pixel circuit having the pixel driver circuit
CA2438581C (en) 2001-02-16 2005-11-29 Ignis Innovation Inc. Organic light emitting diode display having shield electrodes
US20040129933A1 (en) 2001-02-16 2004-07-08 Arokia Nathan Pixel current driver for organic light emitting diode displays
JP4212815B2 (ja) 2001-02-21 2009-01-21 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
US7061451B2 (en) 2001-02-21 2006-06-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd, Light emitting device and electronic device
US6753654B2 (en) 2001-02-21 2004-06-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and electronic appliance
US7352786B2 (en) 2001-03-05 2008-04-01 Fuji Xerox Co., Ltd. Apparatus for driving light emitting element and system for driving light emitting element
JP2002278513A (ja) 2001-03-19 2002-09-27 Sharp Corp 電気光学装置
JPWO2002075709A1 (ja) 2001-03-21 2004-07-08 キヤノン株式会社 アクティブマトリクス型発光素子の駆動回路
US7164417B2 (en) 2001-03-26 2007-01-16 Eastman Kodak Company Dynamic controller for active-matrix displays
JP3819723B2 (ja) 2001-03-30 2006-09-13 株式会社日立製作所 表示装置及びその駆動方法
US7136058B2 (en) 2001-04-27 2006-11-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Display apparatus, digital-to-analog conversion circuit and digital-to-analog conversion method
JP4785271B2 (ja) 2001-04-27 2011-10-05 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置、電子機器
US6594606B2 (en) 2001-05-09 2003-07-15 Clare Micronix Integrated Systems, Inc. Matrix element voltage sensing for precharge
US6963321B2 (en) 2001-05-09 2005-11-08 Clare Micronix Integrated Systems, Inc. Method of providing pulse amplitude modulation for OLED display drivers
JP2002351409A (ja) 2001-05-23 2002-12-06 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 液晶表示装置、液晶ディスプレイ駆動回路、液晶ディスプレイの駆動方法、およびプログラム
US6777249B2 (en) 2001-06-01 2004-08-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of repairing a light-emitting device, and method of manufacturing a light-emitting device
US7012588B2 (en) 2001-06-05 2006-03-14 Eastman Kodak Company Method for saving power in an organic electroluminescent display using white light emitting elements
CN100380433C (zh) 2001-06-22 2008-04-09 统宝光电股份有限公司 Oled电流驱动像素电路
KR100743103B1 (ko) 2001-06-22 2007-07-27 엘지.필립스 엘시디 주식회사 일렉트로 루미네센스 패널
US6956547B2 (en) 2001-06-30 2005-10-18 Lg.Philips Lcd Co., Ltd. Driving circuit and method of driving an organic electroluminescence device
JP2003043994A (ja) 2001-07-27 2003-02-14 Canon Inc アクティブマトリックス型ディスプレイ
JP3800050B2 (ja) 2001-08-09 2006-07-19 日本電気株式会社 表示装置の駆動回路
CN101257743B (zh) 2001-08-29 2011-05-25 株式会社半导体能源研究所 发光器件及这种发光器件的驱动方法
US7027015B2 (en) 2001-08-31 2006-04-11 Intel Corporation Compensating organic light emitting device displays for color variations
JP2003076331A (ja) 2001-08-31 2003-03-14 Seiko Epson Corp 表示装置および電子機器
JP4452076B2 (ja) 2001-09-07 2010-04-21 パナソニック株式会社 Ｅｌ表示装置。
TWI221268B (en) 2001-09-07 2004-09-21 Semiconductor Energy Lab Light emitting device and method of driving the same
US6525683B1 (en) 2001-09-19 2003-02-25 Intel Corporation Nonlinearly converting a signal to compensate for non-uniformities and degradations in a display
CN102290005B (zh) 2001-09-21 2017-06-20 株式会社半导体能源研究所 有机发光二极管显示装置的驱动方法
JP3725458B2 (ja) 2001-09-25 2005-12-14 シャープ株式会社 アクティブマトリクス表示パネル、およびそれを備えた画像表示装置
JPWO2003027998A1 (ja) 2001-09-25 2005-01-13 松下電器産業株式会社 Ｅｌ表示装置
SG120889A1 (en) 2001-09-28 2006-04-26 Semiconductor Energy Lab A light emitting device and electronic apparatus using the same
US20030071821A1 (en) 2001-10-11 2003-04-17 Sundahl Robert C. Luminance compensation for emissive displays
JP4067803B2 (ja) 2001-10-11 2008-03-26 シャープ株式会社 発光ダイオード駆動回路、および、それを用いた光伝送装置
WO2003034383A2 (en) 2001-10-19 2003-04-24 Clare Micronix Integrated Systems, Inc. Drive circuit for adaptive control of precharge current and method therefor
AU2002348472A1 (en) 2001-10-19 2003-04-28 Clare Micronix Integrated Systems, Inc. System and method for providing pulse amplitude modulation for oled display drivers
US6861810B2 (en) 2001-10-23 2005-03-01 Fpd Systems Organic electroluminescent display device driving method and apparatus
KR100433216B1 (ko) 2001-11-06 2004-05-27 엘지.필립스 엘시디 주식회사 일렉트로 루미네센스 패널의 구동장치 및 방법
KR100940342B1 (ko) 2001-11-13 2010-02-04 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시장치 및 그 구동방법
US7061263B1 (en) * 2001-11-15 2006-06-13 Inapac Technology, Inc. Layout and use of bond pads and probe pads for testing of integrated circuits devices
US7071932B2 (en) 2001-11-20 2006-07-04 Toppoly Optoelectronics Corporation Data voltage current drive amoled pixel circuit
US20040070565A1 (en) 2001-12-05 2004-04-15 Nayar Shree K Method and apparatus for displaying images
JP4009097B2 (ja) 2001-12-07 2007-11-14 日立電線株式会社 発光装置及びその製造方法、ならびに発光装置の製造に用いるリードフレーム
JP2003177709A (ja) 2001-12-13 2003-06-27 Seiko Epson Corp 発光素子用の画素回路
JP3800404B2 (ja) 2001-12-19 2006-07-26 株式会社日立製作所 画像表示装置
GB0130411D0 (en) 2001-12-20 2002-02-06 Koninkl Philips Electronics Nv Active matrix electroluminescent display device
CN1293421C (zh) 2001-12-27 2007-01-03 Lg.菲利浦Lcd株式会社 电致发光显示面板及用于操作它的方法
JP2003255901A (ja) 2001-12-28 2003-09-10 Sanyo Electric Co Ltd 有機ｅｌディスプレイの輝度制御方法および輝度制御回路
US7274363B2 (en) 2001-12-28 2007-09-25 Pioneer Corporation Panel display driving device and driving method
JP4029840B2 (ja) 2002-01-17 2008-01-09 日本電気株式会社 マトリックス型電流負荷駆動回路を備えた半導体装置とその駆動方法
JP2003295825A (ja) 2002-02-04 2003-10-15 Sanyo Electric Co Ltd 表示装置
US6947022B2 (en) 2002-02-11 2005-09-20 National Semiconductor Corporation Display line drivers and method for signal propagation delay compensation
US6720942B2 (en) 2002-02-12 2004-04-13 Eastman Kodak Company Flat-panel light emitting pixel with luminance feedback
JP2003308046A (ja) 2002-02-18 2003-10-31 Sanyo Electric Co Ltd 表示装置
JP3613253B2 (ja) 2002-03-14 2005-01-26 日本電気株式会社 電流制御素子の駆動回路及び画像表示装置
US7876294B2 (en) 2002-03-05 2011-01-25 Nec Corporation Image display and its control method
EP1485901A2 (de) 2002-03-13 2004-12-15 Koninklijke Philips Electronics N.V. Zweiseitige anzeigevorrichtung
GB2386462A (en) 2002-03-14 2003-09-17 Cambridge Display Tech Ltd Display driver circuits
JP4274734B2 (ja) 2002-03-15 2009-06-10 三洋電機株式会社 トランジスタ回路
JP3995505B2 (ja) 2002-03-25 2007-10-24 三洋電機株式会社 表示方法および表示装置
JP4266682B2 (ja) 2002-03-29 2009-05-20 セイコーエプソン株式会社 電子装置、電子装置の駆動方法、電気光学装置及び電子機器
US6806497B2 (en) 2002-03-29 2004-10-19 Seiko Epson Corporation Electronic device, method for driving the electronic device, electro-optical device, and electronic equipment
KR100488835B1 (ko) 2002-04-04 2005-05-11 산요덴키가부시키가이샤 반도체 장치 및 표시 장치
US20050174045A1 (en) * 2002-04-04 2005-08-11 Dielectric Systems, Inc. Organic light-emitting device display having a plurality of passive polymer layers
US6911781B2 (en) 2002-04-23 2005-06-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and production system of the same
JP3637911B2 (ja) 2002-04-24 2005-04-13 セイコーエプソン株式会社 電子装置、電子機器、および電子装置の駆動方法
JP2003317944A (ja) 2002-04-26 2003-11-07 Seiko Epson Corp 電気光学装置及び電子機器
US6909243B2 (en) 2002-05-17 2005-06-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device and method of driving the same
US7474285B2 (en) 2002-05-17 2009-01-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display apparatus and driving method thereof
JP3527726B2 (ja) 2002-05-21 2004-05-17 ウインテスト株式会社 アクティブマトリクス基板の検査方法及び検査装置
JP3972359B2 (ja) 2002-06-07 2007-09-05 カシオ計算機株式会社 表示装置
JP2004070293A (ja) 2002-06-12 2004-03-04 Seiko Epson Corp 電子装置、電子装置の駆動方法及び電子機器
TW582006B (en) 2002-06-14 2004-04-01 Chunghwa Picture Tubes Ltd Brightness correction apparatus and method for plasma display
GB2389952A (en) 2002-06-18 2003-12-24 Cambridge Display Tech Ltd Driver circuits for electroluminescent displays with reduced power consumption
US20030230980A1 (en) 2002-06-18 2003-12-18 Forrest Stephen R Very low voltage, high efficiency phosphorescent oled in a p-i-n structure
GB2389951A (en) 2002-06-18 2003-12-24 Cambridge Display Tech Ltd Display driver circuits for active matrix OLED displays
US6668645B1 (en) 2002-06-18 2003-12-30 Ti Group Automotive Systems, L.L.C. Optical fuel level sensor
JP3970110B2 (ja) 2002-06-27 2007-09-05 カシオ計算機株式会社 電流駆動装置及びその駆動方法並びに電流駆動装置を用いた表示装置
JP2004045488A (ja) 2002-07-09 2004-02-12 Casio Comput Co Ltd 表示駆動装置及びその駆動制御方法
JP4115763B2 (ja) 2002-07-10 2008-07-09 パイオニア株式会社 表示装置及び表示方法
TW594628B (en) 2002-07-12 2004-06-21 Au Optronics Corp Cell pixel driving circuit of OLED
US20040150594A1 (en) 2002-07-25 2004-08-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and drive method therefor
JP3829778B2 (ja) 2002-08-07 2006-10-04 セイコーエプソン株式会社 電子回路、電気光学装置、及び電子機器
GB0219771D0 (en) 2002-08-24 2002-10-02 Koninkl Philips Electronics Nv Manufacture of electronic devices comprising thin-film circuit elements
TW558699B (en) 2002-08-28 2003-10-21 Au Optronics Corp Driving circuit and method for light emitting device
JP4194451B2 (ja) 2002-09-02 2008-12-10 キヤノン株式会社 駆動回路及び表示装置及び情報表示装置
US7385572B2 (en) 2002-09-09 2008-06-10 E.I Du Pont De Nemours And Company Organic electronic device having improved homogeneity
TW564390B (en) 2002-09-16 2003-12-01 Au Optronics Corp Driving circuit and method for light emitting device
KR20050043960A (ko) 2002-09-16 2005-05-11 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. 디스플레이 디바이스
TW588468B (en) 2002-09-19 2004-05-21 Ind Tech Res Inst Pixel structure of active matrix organic light-emitting diode
JP4230746B2 (ja) 2002-09-30 2009-02-25 パイオニア株式会社 表示装置及び表示パネルの駆動方法
GB0223304D0 (en) 2002-10-08 2002-11-13 Koninkl Philips Electronics Nv Electroluminescent display devices
JP3832415B2 (ja) 2002-10-11 2006-10-11 ソニー株式会社 アクティブマトリクス型表示装置
JP4032922B2 (ja) 2002-10-28 2008-01-16 三菱電機株式会社 表示装置および表示パネル
DE10250827B3 (de) 2002-10-31 2004-07-15 OCé PRINTING SYSTEMS GMBH Verfahren, Steuerungsschaltung, Computerprogrammprodukt und Druckgerät für einen elektrografischen Prozess mit temperaturkompensierter Entladetiefenregelung
KR100476368B1 (ko) 2002-11-05 2005-03-17 엘지.필립스 엘시디 주식회사 유기 전계발광 표시패널의 데이터 구동 장치 및 방법
US7423617B2 (en) 2002-11-06 2008-09-09 Tpo Displays Corp. Light emissive element having pixel sensing circuit
US6911964B2 (en) 2002-11-07 2005-06-28 Duke University Frame buffer pixel circuit for liquid crystal display
JP2004157467A (ja) 2002-11-08 2004-06-03 Tohoku Pioneer Corp アクティブ型発光表示パネルの駆動方法および駆動装置
US6687266B1 (en) 2002-11-08 2004-02-03 Universal Display Corporation Organic light emitting materials and devices
US20040095297A1 (en) 2002-11-20 2004-05-20 International Business Machines Corporation Nonlinear voltage controlled current source with feedback circuit
KR20050085039A (ko) 2002-11-21 2005-08-29 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. 디스플레이 디바이스의 출력 균일성을 개선하는 방법
JP3707484B2 (ja) 2002-11-27 2005-10-19 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置、電気光学装置の駆動方法および電子機器
JP2004191627A (ja) 2002-12-11 2004-07-08 Hitachi Ltd 有機発光表示装置
JP2004191752A (ja) 2002-12-12 2004-07-08 Seiko Epson Corp 電気光学装置、電気光学装置の駆動方法および電子機器
US7075242B2 (en) 2002-12-16 2006-07-11 Eastman Kodak Company Color OLED display system having improved performance
TWI228941B (en) 2002-12-27 2005-03-01 Au Optronics Corp Active matrix organic light emitting diode display and fabricating method thereof
JP4865986B2 (ja) 2003-01-10 2012-02-01 グローバル・オーエルイーディー・テクノロジー・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 有機ｅｌ表示装置
US7079091B2 (en) 2003-01-14 2006-07-18 Eastman Kodak Company Compensating for aging in OLED devices
KR100490622B1 (ko) 2003-01-21 2005-05-17 삼성에스디아이 주식회사 유기 전계발광 표시장치 및 그 구동방법과 픽셀회로
US7184054B2 (en) 2003-01-21 2007-02-27 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Correction of a projected image based on a reflected image
JP4048969B2 (ja) 2003-02-12 2008-02-20 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置の駆動方法及び電子機器
WO2004073356A1 (ja) 2003-02-13 2004-08-26 Fujitsu Limited 表示装置及びその製造方法
JP4378087B2 (ja) 2003-02-19 2009-12-02 奇美電子股▲ふん▼有限公司 画像表示装置
JP4734529B2 (ja) 2003-02-24 2011-07-27 奇美電子股▲ふん▼有限公司 表示装置
TWI224300B (en) 2003-03-07 2004-11-21 Au Optronics Corp Data driver and related method used in a display device for saving space
TWI228696B (en) 2003-03-21 2005-03-01 Ind Tech Res Inst Pixel circuit for active matrix OLED and driving method
JP4158570B2 (ja) 2003-03-25 2008-10-01 カシオ計算機株式会社 表示駆動装置及び表示装置並びにその駆動制御方法
KR100502912B1 (ko) 2003-04-01 2005-07-21 삼성에스디아이 주식회사 발광 표시 장치 및 그 표시 패널과 구동 방법
KR100903099B1 (ko) 2003-04-15 2009-06-16 삼성모바일디스플레이주식회사 효율적으로 부팅이 수행되는 전계발광 디스플레이 패널의구동 방법 및 장치
US20060227085A1 (en) 2003-04-25 2006-10-12 Boldt Norton K Jr Led illumination source/display with individual led brightness monitoring capability and calibration method
KR100955735B1 (ko) 2003-04-30 2010-04-30 크로스텍 캐피탈, 엘엘씨 씨모스 이미지 센서의 단위화소
US6771028B1 (en) 2003-04-30 2004-08-03 Eastman Kodak Company Drive circuitry for four-color organic light-emitting device
WO2004097782A1 (en) 2003-05-02 2004-11-11 Koninklijke Philips Electronics N.V. Active matrix oled display device with threshold voltage drift compensation
KR100832612B1 (ko) 2003-05-07 2008-05-27 도시바 마쯔시따 디스플레이 테크놀로지 컴퍼니, 리미티드 Ｅｌ 표시 장치
JP4012168B2 (ja) 2003-05-14 2007-11-21 キヤノン株式会社 信号処理装置、信号処理方法、補正値生成装置、補正値生成方法及び表示装置の製造方法
US20050185200A1 (en) 2003-05-15 2005-08-25 Zih Corp Systems, methods, and computer program products for converting between color gamuts associated with different image processing devices
JP4484451B2 (ja) 2003-05-16 2010-06-16 奇美電子股▲ふん▼有限公司 画像表示装置
JP3772889B2 (ja) 2003-05-19 2006-05-10 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置およびその駆動装置
JP4049018B2 (ja) 2003-05-19 2008-02-20 ソニー株式会社 画素回路、表示装置、および画素回路の駆動方法
JP3760411B2 (ja) 2003-05-21 2006-03-29 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション アクティブマトリックスパネルの検査装置、検査方法、およびアクティブマトリックスｏｌｅｄパネルの製造方法
JP4360121B2 (ja) 2003-05-23 2009-11-11 ソニー株式会社 画素回路、表示装置、および画素回路の駆動方法
JP2004348044A (ja) 2003-05-26 2004-12-09 Seiko Epson Corp 表示装置、表示方法及び表示装置の製造方法
JP4036142B2 (ja) 2003-05-28 2008-01-23 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置、電気光学装置の駆動方法および電子機器
US20040257352A1 (en) 2003-06-18 2004-12-23 Nuelight Corporation Method and apparatus for controlling
TWI227031B (en) 2003-06-20 2005-01-21 Au Optronics Corp A capacitor structure
JP2005024690A (ja) 2003-06-30 2005-01-27 Fujitsu Hitachi Plasma Display Ltd ディスプレイ装置およびディスプレイの駆動方法
FR2857146A1 (fr) 2003-07-03 2005-01-07 Thomson Licensing Sa Dispositif d'affichage d'images a matrice active
US6846876B1 (en) 2003-07-16 2005-01-25 Adherent Laboratories, Inc. Low odor, light color, disposable article construction adhesive
GB2404274B (en) 2003-07-24 2007-07-04 Pelikon Ltd Control of electroluminescent displays
JP4579528B2 (ja) 2003-07-28 2010-11-10 キヤノン株式会社 画像形成装置
TWI223092B (en) 2003-07-29 2004-11-01 Primtest System Technologies Testing apparatus and method for thin film transistor display array
US7262753B2 (en) 2003-08-07 2007-08-28 Barco N.V. Method and system for measuring and controlling an OLED display element for improved lifetime and light output
JP2005057217A (ja) 2003-08-07 2005-03-03 Renesas Technology Corp 半導体集積回路装置
GB0320212D0 (en) 2003-08-29 2003-10-01 Koninkl Philips Electronics Nv Light emitting display devices
GB0320503D0 (en) 2003-09-02 2003-10-01 Koninkl Philips Electronics Nv Active maxtrix display devices
JP2005084260A (ja) 2003-09-05 2005-03-31 Agilent Technol Inc 表示パネルの変換データ決定方法および測定装置
US20050057484A1 (en) 2003-09-15 2005-03-17 Diefenbaugh Paul S. Automatic image luminance control with backlight adjustment
US8537081B2 (en) 2003-09-17 2013-09-17 Hitachi Displays, Ltd. Display apparatus and display control method
WO2005029456A1 (en) 2003-09-23 2005-03-31 Ignis Innovation Inc. Circuit and method for driving an array of light emitting pixels
CA2443206A1 (en) 2003-09-23 2005-03-23 Ignis Innovation Inc. Amoled display backplanes - pixel driver circuits, array architecture, and external compensation
US7038392B2 (en) 2003-09-26 2006-05-02 International Business Machines Corporation Active-matrix light emitting display and method for obtaining threshold voltage compensation for same
US7633470B2 (en) 2003-09-29 2009-12-15 Michael Gillis Kane Driver circuit, as for an OLED display
JP4443179B2 (ja) 2003-09-29 2010-03-31 三洋電機株式会社 有機ｅｌパネル
US7310077B2 (en) 2003-09-29 2007-12-18 Michael Gillis Kane Pixel circuit for an active matrix organic light-emitting diode display
JP4338131B2 (ja) * 2003-09-30 2009-10-07 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション Ｔｆｔアレイ、表示パネル、およびｔｆｔアレイの検査方法
TWI254898B (en) 2003-10-02 2006-05-11 Pioneer Corp Display apparatus with active matrix display panel and method for driving same
US7075316B2 (en) 2003-10-02 2006-07-11 Alps Electric Co., Ltd. Capacitance detector circuit, capacitance detection method, and fingerprint sensor using the same
US7095028B2 (en) * 2003-10-15 2006-08-22 Varian Medical Systems Multi-slice flat panel computed tomography
JP2005128089A (ja) 2003-10-21 2005-05-19 Tohoku Pioneer Corp 発光表示装置
US8264431B2 (en) 2003-10-23 2012-09-11 Massachusetts Institute Of Technology LED array with photodetector
US7057359B2 (en) 2003-10-28 2006-06-06 Au Optronics Corporation Method and apparatus for controlling driving current of illumination source in a display system
JP4589614B2 (ja) 2003-10-28 2010-12-01 株式会社 日立ディスプレイズ 画像表示装置
US6937215B2 (en) 2003-11-03 2005-08-30 Wintek Corporation Pixel driving circuit of an organic light emitting diode display panel
WO2005043887A1 (en) 2003-11-04 2005-05-12 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Smart clipper for mobile displays
DE10353036B4 (de) 2003-11-13 2021-11-25 Pictiva Displays International Limited Vollfarbige organische Anzeige mit Farbfiltertechnologie und angepasstem weißen Emittermaterial sowie Verwendungen dazu
US7379042B2 (en) 2003-11-21 2008-05-27 Au Optronics Corporation Method for displaying images on electroluminescence devices with stressed pixels
US6995519B2 (en) 2003-11-25 2006-02-07 Eastman Kodak Company OLED display with aging compensation
US7224332B2 (en) 2003-11-25 2007-05-29 Eastman Kodak Company Method of aging compensation in an OLED display
JP4036184B2 (ja) 2003-11-28 2008-01-23 セイコーエプソン株式会社 表示装置および表示装置の駆動方法
KR100580554B1 (ko) 2003-12-30 2006-05-16 엘지.필립스 엘시디 주식회사 일렉트로-루미네센스 표시장치 및 그 구동방법
JP4263153B2 (ja) 2004-01-30 2009-05-13 Ｎｅｃエレクトロニクス株式会社 表示装置、表示装置の駆動回路およびその駆動回路用半導体デバイス
US7502000B2 (en) 2004-02-12 2009-03-10 Canon Kabushiki Kaisha Drive circuit and image forming apparatus using the same
US7339560B2 (en) 2004-02-12 2008-03-04 Au Optronics Corporation OLED pixel
US6975332B2 (en) 2004-03-08 2005-12-13 Adobe Systems Incorporated Selecting a transfer function for a display device
KR100560479B1 (ko) 2004-03-10 2006-03-13 삼성에스디아이 주식회사 발광 표시 장치 및 그 표시 패널과 구동 방법
US20050212787A1 (en) 2004-03-24 2005-09-29 Sanyo Electric Co., Ltd. Display apparatus that controls luminance irregularity and gradation irregularity, and method for controlling said display apparatus
EP1587049A1 (de) 2004-04-15 2005-10-19 Barco N.V. Verfahren und Vorrichtung zur Verbesserung der Übereinstimmung einer Anzeigetafel mit einem Anzeigestandard vollflächig und für verschiedene Blickwinkel
EP1591992A1 (de) 2004-04-27 2005-11-02 Thomson Licensing, S.A. Graustufenwiedergabeverfahren für eine Aktiv-Matrix OLED-Anzeige
US20050248515A1 (en) 2004-04-28 2005-11-10 Naugler W E Jr Stabilized active matrix emissive display
KR20050115346A (ko) 2004-06-02 2005-12-07 삼성전자주식회사 표시 장치 및 그 구동 방법
US7173590B2 (en) 2004-06-02 2007-02-06 Sony Corporation Pixel circuit, active matrix apparatus and display apparatus
JP2005345992A (ja) 2004-06-07 2005-12-15 Chi Mei Electronics Corp 表示装置
US6989636B2 (en) 2004-06-16 2006-01-24 Eastman Kodak Company Method and apparatus for uniformity and brightness correction in an OLED display
CA2567076C (en) 2004-06-29 2008-10-21 Ignis Innovation Inc. Voltage-programming scheme for current-driven amoled displays
CA2472671A1 (en) 2004-06-29 2005-12-29 Ignis Innovation Inc. Voltage-programming scheme for current-driven amoled displays
US20060007204A1 (en) 2004-06-29 2006-01-12 Damoder Reddy System and method for a long-life luminance feedback stabilized display panel
KR100578813B1 (ko) 2004-06-29 2006-05-11 삼성에스디아이 주식회사 발광 표시 장치 및 그 구동 방법
JP2006030317A (ja) 2004-07-12 2006-02-02 Sanyo Electric Co Ltd 有機ｅｌ表示装置
US7317433B2 (en) 2004-07-16 2008-01-08 E.I. Du Pont De Nemours And Company Circuit for driving an electronic component and method of operating an electronic device having the circuit
JP2006309104A (ja) 2004-07-30 2006-11-09 Sanyo Electric Co Ltd アクティブマトリクス駆動型表示装置
JP2006047510A (ja) 2004-08-02 2006-02-16 Oki Electric Ind Co Ltd 表示パネル駆動回路と駆動方法
KR101087417B1 (ko) 2004-08-13 2011-11-25 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광표시장치의 구동회로
US7868856B2 (en) 2004-08-20 2011-01-11 Koninklijke Philips Electronics N.V. Data signal driver for light emitting display
US7053875B2 (en) 2004-08-21 2006-05-30 Chen-Jean Chou Light emitting device display circuit and drive method thereof
DE102004045871B4 (de) 2004-09-20 2006-11-23 Novaled Gmbh Verfahren und Schaltungsanordnung zur Alterungskompensation von organischen Lichtemitterdioden
US7589707B2 (en) 2004-09-24 2009-09-15 Chen-Jean Chou Active matrix light emitting device display pixel circuit and drive method
JP2006091681A (ja) 2004-09-27 2006-04-06 Hitachi Displays Ltd 表示装置及び表示方法
KR100670137B1 (ko) 2004-10-08 2007-01-16 삼성에스디아이 주식회사 디지털/아날로그 컨버터와 이를 이용한 표시 장치 및 그표시 패널과 구동 방법
KR100583138B1 (ko) * 2004-10-08 2006-05-23 삼성에스디아이 주식회사 발광 표시장치
US20060077135A1 (en) 2004-10-08 2006-04-13 Eastman Kodak Company Method for compensating an OLED device for aging
TWI248321B (en) 2004-10-18 2006-01-21 Chi Mei Optoelectronics Corp Active organic electroluminescence display panel module and driving module thereof
JP4111185B2 (ja) 2004-10-19 2008-07-02 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置、その駆動方法及び電子機器
KR100741967B1 (ko) 2004-11-08 2007-07-23 삼성에스디아이 주식회사 평판표시장치
KR100700004B1 (ko) 2004-11-10 2007-03-26 삼성에스디아이 주식회사 양면 발광 유기전계발광소자 및 그의 제조 방법
EP1825455A4 (de) 2004-11-16 2009-05-06 Ignis Innovation Inc System und ansteuerverfahren für ein aktivmatrix-leucht-display
KR100688798B1 (ko) 2004-11-17 2007-03-02 삼성에스디아이 주식회사 발광 표시장치 및 그의 구동방법
KR100602352B1 (ko) 2004-11-22 2006-07-18 삼성에스디아이 주식회사 화소 및 이를 이용한 발광 표시장치
US7116058B2 (en) 2004-11-30 2006-10-03 Wintek Corporation Method of improving the stability of active matrix OLED displays driven by amorphous silicon thin-film transistors
CA2490861A1 (en) 2004-12-01 2006-06-01 Ignis Innovation Inc. Fuzzy control for stable amoled displays
CA2490858A1 (en) 2004-12-07 2006-06-07 Ignis Innovation Inc. Driving method for compensated voltage-programming of amoled displays
CA2504571A1 (en) 2005-04-12 2006-10-12 Ignis Innovation Inc. A fast method for compensation of non-uniformities in oled displays
JP5128287B2 (ja) 2004-12-15 2013-01-23 イグニス・イノベイション・インコーポレーテッド 表示アレイのためのリアルタイム校正を行う方法及びシステム
WO2006066250A1 (en) 2004-12-15 2006-06-22 Nuelight Corporation A system for controlling emissive pixels with feedback signals
CA2526782C (en) 2004-12-15 2007-08-21 Ignis Innovation Inc. Method and system for programming, calibrating and driving a light emitting device display
CA2496642A1 (en) 2005-02-10 2006-08-10 Ignis Innovation Inc. Fast settling time driving method for organic light-emitting diode (oled) displays based on current programming
US7936325B2 (en) 2005-03-15 2011-05-03 Sharp Kabushiki Kaisha Display device, liquid crystal monitor, liquid crystal television receiver, and display method
CN101151649A (zh) 2005-04-04 2008-03-26 皇家飞利浦电子股份有限公司 Led显示***
US7088051B1 (en) 2005-04-08 2006-08-08 Eastman Kodak Company OLED display with control
CA2541531C (en) 2005-04-12 2008-02-19 Ignis Innovation Inc. Method and system for compensation of non-uniformities in light emitting device displays
FR2884639A1 (fr) 2005-04-14 2006-10-20 Thomson Licensing Sa Panneau d'affichage d'images a matrice active, dont les emetteurs sont alimentes par des generateurs de courant pilotables en tension
US20070008297A1 (en) 2005-04-20 2007-01-11 Bassetti Chester F Method and apparatus for image based power control of drive circuitry of a display pixel
WO2006111895A1 (en) 2005-04-21 2006-10-26 Koninklijke Philips Electronics N.V. Sub-pixel mapping
KR100707640B1 (ko) 2005-04-28 2007-04-12 삼성에스디아이 주식회사 발광 표시장치 및 그 구동 방법
TWI302281B (en) 2005-05-23 2008-10-21 Au Optronics Corp Display unit, display array, display panel and display unit control method
JP4996065B2 (ja) 2005-06-15 2012-08-08 グローバル・オーエルイーディー・テクノロジー・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 有機ｅｌ表示装置の製造方法および有機ｅｌ表示装置
US20060284895A1 (en) 2005-06-15 2006-12-21 Marcu Gabriel G Dynamic gamma correction
KR101157979B1 (ko) 2005-06-20 2012-06-25 엘지디스플레이 주식회사 유기발광다이오드 구동회로와 이를 이용한유기발광다이오드 표시장치
US7649513B2 (en) 2005-06-25 2010-01-19 Lg Display Co., Ltd Organic light emitting diode display
KR101169053B1 (ko) 2005-06-30 2012-07-26 엘지디스플레이 주식회사 유기발광다이오드 표시장치
GB0513384D0 (en) 2005-06-30 2005-08-03 Dry Ice Ltd Cooling receptacle
CA2510855A1 (en) 2005-07-06 2007-01-06 Ignis Innovation Inc. Fast driving method for amoled displays
CA2550102C (en) 2005-07-06 2008-04-29 Ignis Innovation Inc. Method and system for driving a pixel circuit in an active matrix display
JP5010814B2 (ja) 2005-07-07 2012-08-29 グローバル・オーエルイーディー・テクノロジー・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 有機ｅｌ表示装置の製造方法
GB2430069A (en) 2005-09-12 2007-03-14 Cambridge Display Tech Ltd Active matrix display drive control systems
KR101322195B1 (ko) 2005-09-15 2013-11-04 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치 및 이의 구동 방법
KR101333025B1 (ko) 2005-09-29 2013-11-26 코닌클리케 필립스 엔.브이. 조명 디바이스의 노화 프로세스를 보상하는 방법 및 그조명 디바이스
JP4923505B2 (ja) 2005-10-07 2012-04-25 ソニー株式会社 画素回路及び表示装置
EP1784055A3 (de) 2005-10-17 2009-08-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Beleuchtungssystem
US20070097041A1 (en) 2005-10-28 2007-05-03 Samsung Electronics Co., Ltd Display device and driving method thereof
US20080055209A1 (en) 2006-08-30 2008-03-06 Eastman Kodak Company Method and apparatus for uniformity and brightness correction in an amoled display
US20070123133A1 (en) * 2005-11-30 2007-05-31 Eastman Kodak Company OLED devices with color filter array units
TWI317926B (en) * 2005-12-20 2009-12-01 Au Optronics Corp Electroluminescent display panel testing apparatus and method thereof
JP5164857B2 (ja) 2006-01-09 2013-03-21 イグニス・イノベイション・インコーポレーテッド アクティブマトリクスディスプレイ回路の駆動方法および表示システム
JP2009526248A (ja) 2006-02-10 2009-07-16 イグニス・イノベイション・インコーポレーテッド 発光デバイス表示器のための方法及びシステム
US7690837B2 (en) 2006-03-07 2010-04-06 The Boeing Company Method of analysis of effects of cargo fire on primary aircraft structure temperatures
TWI323864B (en) 2006-03-16 2010-04-21 Princeton Technology Corp Display control system of a display device and control method thereof
US20070236440A1 (en) 2006-04-06 2007-10-11 Emagin Corporation OLED active matrix cell designed for optimal uniformity
US20080048951A1 (en) 2006-04-13 2008-02-28 Naugler Walter E Jr Method and apparatus for managing and uniformly maintaining pixel circuitry in a flat panel display
US7652646B2 (en) 2006-04-14 2010-01-26 Tpo Displays Corp. Systems for displaying images involving reduced mura
JP4211800B2 (ja) 2006-04-19 2009-01-21 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置、電気光学装置の駆動方法および電子機器
JP5037858B2 (ja) 2006-05-16 2012-10-03 グローバル・オーエルイーディー・テクノロジー・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 表示装置
JP2007309682A (ja) * 2006-05-16 2007-11-29 Renesas Technology Corp 伝送回路、接続用シート、プローブシート、プローブカード、半導体検査装置、および半導体装置の製造方法
US8836615B2 (en) 2006-05-18 2014-09-16 Thomson Licensing Llc Driver for controlling a light emitting element, in particular an organic light emitting diode
JP2007317384A (ja) 2006-05-23 2007-12-06 Canon Inc 有機ｅｌ表示装置、その製造方法、リペア方法及びリペア装置
US7696965B2 (en) 2006-06-16 2010-04-13 Global Oled Technology Llc Method and apparatus for compensating aging of OLED display
US20070290958A1 (en) 2006-06-16 2007-12-20 Eastman Kodak Company Method and apparatus for averaged luminance and uniformity correction in an amoled display
KR101245218B1 (ko) 2006-06-22 2013-03-19 엘지디스플레이 주식회사 유기발광다이오드 표시소자
US20080001525A1 (en) 2006-06-30 2008-01-03 Au Optronics Corporation Arrangements of color pixels for full color OLED
EP1879169A1 (de) 2006-07-14 2008-01-16 Barco N.V. Alterungskompensation für Anzeigetafeln mit lichtemittierenden Elementen
EP1879172A1 (de) 2006-07-14 2008-01-16 Barco NV Alterungskompensation für Anzeigetafeln mit lichtemittierenden Elementen
JP4935979B2 (ja) 2006-08-10 2012-05-23 カシオ計算機株式会社 表示装置及びその駆動方法、並びに、表示駆動装置及びその駆動方法
CA2556961A1 (en) 2006-08-15 2008-02-15 Ignis Innovation Inc. Oled compensation technique based on oled capacitance
JP2008046377A (ja) 2006-08-17 2008-02-28 Sony Corp 表示装置
JP4222426B2 (ja) 2006-09-26 2009-02-12 カシオ計算機株式会社 表示駆動装置及びその駆動方法、並びに、表示装置及びその駆動方法
US8021615B2 (en) 2006-10-06 2011-09-20 Ric Investments, Llc Sensor that compensates for deterioration of a luminescable medium
JP4415983B2 (ja) 2006-11-13 2010-02-17 ソニー株式会社 表示装置及びその駆動方法
TWI364839B (en) 2006-11-17 2012-05-21 Au Optronics Corp Pixel structure of active matrix organic light emitting display and fabrication method thereof
KR100824854B1 (ko) 2006-12-21 2008-04-23 삼성에스디아이 주식회사 유기 전계 발광 표시 장치
US20080158648A1 (en) * 2006-12-29 2008-07-03 Cummings William J Peripheral switches for MEMS display test
US7355574B1 (en) 2007-01-24 2008-04-08 Eastman Kodak Company OLED display with aging and efficiency compensation
JP2008203478A (ja) 2007-02-20 2008-09-04 Sony Corp 表示装置とその駆動方法
US7847764B2 (en) 2007-03-15 2010-12-07 Global Oled Technology Llc LED device compensation method
US8077123B2 (en) 2007-03-20 2011-12-13 Leadis Technology, Inc. Emission control in aged active matrix OLED display using voltage ratio or current ratio with temperature compensation
JP4306753B2 (ja) 2007-03-22 2009-08-05 ソニー株式会社 表示装置及びその駆動方法と電子機器
KR100858615B1 (ko) 2007-03-22 2008-09-17 삼성에스디아이 주식회사 유기전계발광 표시장치 및 그의 구동방법
JP2008299019A (ja) 2007-05-30 2008-12-11 Sony Corp カソード電位制御装置、自発光表示装置、電子機器及びカソード電位制御方法
KR101453970B1 (ko) 2007-09-04 2014-10-21 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 디스플레이 장치 및 그것의 구동 방법
US8531202B2 (en) * 2007-10-11 2013-09-10 Veraconnex, Llc Probe card test apparatus and method
CA2610148A1 (en) 2007-10-29 2009-04-29 Ignis Innovation Inc. High aperture ratio pixel layout for amoled display
JP4433035B2 (ja) * 2007-11-05 2010-03-17 エプソンイメージングデバイス株式会社 表示装置および電子機器
KR20090058694A (ko) 2007-12-05 2009-06-10 삼성전자주식회사 유기 발광 표시 장치의 구동 장치 및 구동 방법
JP5115180B2 (ja) 2007-12-21 2013-01-09 ソニー株式会社 自発光型表示装置およびその駆動方法
US8405585B2 (en) 2008-01-04 2013-03-26 Chimei Innolux Corporation OLED display, information device, and method for displaying an image in OLED display
KR100902245B1 (ko) 2008-01-18 2009-06-11 삼성모바일디스플레이주식회사 유기전계발광 표시장치 및 그의 구동방법
US20090195483A1 (en) 2008-02-06 2009-08-06 Leadis Technology, Inc. Using standard current curves to correct non-uniformity in active matrix emissive displays
KR100939211B1 (ko) 2008-02-22 2010-01-28 엘지디스플레이 주식회사 유기발광다이오드 표시장치와 그 구동방법
JP5063433B2 (ja) 2008-03-26 2012-10-31 富士フイルム株式会社 表示装置
CN102057418B (zh) 2008-04-18 2014-11-12 伊格尼斯创新公司 用于发光器件显示器的***和驱动方法
KR101448004B1 (ko) 2008-04-22 2014-10-07 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
JP2010008521A (ja) * 2008-06-25 2010-01-14 Sony Corp 表示装置
TWI370310B (en) * 2008-07-16 2012-08-11 Au Optronics Corp Array substrate and display panel thereof
JP5107824B2 (ja) 2008-08-18 2012-12-26 富士フイルム株式会社 表示装置およびその駆動制御方法
EP2159783A1 (de) 2008-09-01 2010-03-03 Barco N.V. Verfahren und System zum Kompensieren von Alterungseffekten bei LED-Anzeigevorrichtungen
US8289344B2 (en) 2008-09-11 2012-10-16 Apple Inc. Methods and apparatus for color uniformity
JP2010085695A (ja) 2008-09-30 2010-04-15 Toshiba Mobile Display Co Ltd アクティブマトリクス型表示装置
KR101542398B1 (ko) 2008-12-19 2015-08-13 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 장치 및 그 제조 방법
KR101289653B1 (ko) 2008-12-26 2013-07-25 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치
US9280943B2 (en) 2009-02-13 2016-03-08 Barco, N.V. Devices and methods for reducing artefacts in display devices by the use of overdrive
US8217928B2 (en) 2009-03-03 2012-07-10 Global Oled Technology Llc Electroluminescent subpixel compensated drive signal
US9361727B2 (en) 2009-03-06 2016-06-07 The University Of North Carolina At Chapel Hill Methods, systems, and computer readable media for generating autostereo three-dimensional views of a scene for a plurality of viewpoints using a pseudo-random hole barrier
US8769589B2 (en) 2009-03-31 2014-07-01 At&T Intellectual Property I, L.P. System and method to create a media content summary based on viewer annotations
US20100277400A1 (en) 2009-05-01 2010-11-04 Leadis Technology, Inc. Correction of aging in amoled display
KR101575750B1 (ko) * 2009-06-03 2015-12-09 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법
US8896505B2 (en) 2009-06-12 2014-11-25 Global Oled Technology Llc Display with pixel arrangement
CA2688870A1 (en) 2009-11-30 2011-05-30 Ignis Innovation Inc. Methode and techniques for improving display uniformity
KR101058108B1 (ko) 2009-09-14 2011-08-24 삼성모바일디스플레이주식회사 화소 회로 및 이를 이용한 유기 발광 표시장치
JP5493634B2 (ja) 2009-09-18 2014-05-14 ソニー株式会社 表示装置
US20110069089A1 (en) 2009-09-23 2011-03-24 Microsoft Corporation Power management for organic light-emitting diode (oled) displays
US8339386B2 (en) 2009-09-29 2012-12-25 Global Oled Technology Llc Electroluminescent device aging compensation with reference subpixels
US8283967B2 (en) 2009-11-12 2012-10-09 Ignis Innovation Inc. Stable current source for system integration to display substrate
KR101144725B1 (ko) * 2009-11-30 2012-05-24 이성호 터치패널의 터치셀 구조
CA2686174A1 (en) 2009-12-01 2011-06-01 Ignis Innovation Inc High reslution pixel architecture
US8803417B2 (en) 2009-12-01 2014-08-12 Ignis Innovation Inc. High resolution pixel architecture
US9049410B2 (en) 2009-12-23 2015-06-02 Samsung Display Co., Ltd. Color correction to compensate for displays' luminance and chrominance transfer characteristics
CA2696778A1 (en) 2010-03-17 2011-09-17 Ignis Innovation Inc. Lifetime, uniformity, parameter extraction methods
KR101697342B1 (ko) 2010-05-04 2017-01-17 삼성전자 주식회사 터치 감지 시스템의 캘리브레이션 방법 및 장치와 이를 적용한 터치 감지 시스템
JP5189147B2 (ja) 2010-09-02 2013-04-24 奇美電子股▲ふん▼有限公司 ディスプレイ装置及びこれを有する電子機器
US8970512B2 (en) * 2010-12-22 2015-03-03 Creator Technology B.V. Touch screen display and method of driving the touch screen display with signal adjustment
TWI480655B (zh) * 2011-04-14 2015-04-11 Au Optronics Corp 顯示面板及其測試方法
US9466240B2 (en) 2011-05-26 2016-10-11 Ignis Innovation Inc. Adaptive feedback system for compensating for aging pixel areas with enhanced estimation speed
JP2014517940A (ja) 2011-05-27 2014-07-24 イグニス・イノベイション・インコーポレーテッド Ａｍｏｌｅｄディスプレイにおけるエージング補償ためのシステムおよび方法
JP2014522506A (ja) 2011-05-28 2014-09-04 イグニス・イノベイション・インコーポレーテッド ディスプレイのピクセルの速い補償プログラミングためのシステムと方法
KR20130007003A (ko) 2011-06-28 2013-01-18 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 표시 장치의 제조 방법
KR101272367B1 (ko) 2011-11-25 2013-06-07 박재열 전달 함수를 이용한 영상표시장치의 보정 시스템 및 그의 보정 방법
KR101493226B1 (ko) 2011-12-26 2015-02-17 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 다이오드 표시 장치의 화소 구동 회로의 특성 파라미터 측정 방법 및 장치
CA2773699A1 (en) 2012-04-10 2013-10-10 Ignis Innovation Inc External calibration system for amoled displays
US11089247B2 (en) 2012-05-31 2021-08-10 Apple Inc. Systems and method for reducing fixed pattern noise in image data
KR101528148B1 (ko) * 2012-07-19 2015-06-12 엘지디스플레이 주식회사 화소 전류 측정을 위한 유기 발광 다이오드 표시 장치 및 그의 화소 전류 측정 방법
KR20140014694A (ko) 2012-07-25 2014-02-06 삼성디스플레이 주식회사 표시기기의 영상 보상 장치 및 방법
US8933433B2 (en) * 2012-07-30 2015-01-13 LuxVue Technology Corporation Method and structure for receiving a micro device
CN103280847B (zh) 2013-04-22 2015-04-08 京东方科技集团股份有限公司 供电电路和显示装置
TWM485337U (zh) 2014-05-29 2014-09-01 Jin-Yu Guo 集風箱管路之聯結裝置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11631869B2 (en) 2016-09-23 2023-04-18 Reinz-Dichtungs-Gmbh Flow plate for a humidifier

Also Published As

Publication number Publication date
CN110634431B (zh) 2023-04-18
US20140312330A1 (en) 2014-10-23
CN105144361B (zh) 2019-09-27
WO2014174427A1 (en) 2014-10-30
CN110634431A (zh) 2019-12-31
CN105144361A (zh) 2015-12-09
US10867536B2 (en) 2020-12-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10996258B2 (en) Defect detection and correction of pixel circuits for AMOLED displays
DE112014002086T5 (de) Prüfsystem für OLED-Anzeigebildschirme
DE69636240T2 (de) Gerät zur Detektierung von Verdrahtungsfehlern auf einer Schaltplatine
DE102012107620B4 (de) Anzeigetafel für eine Anzeigevorrichtung und Verfahren zum Erfassen von Defekten von Signalleitungen der Anzeigevorrichtung
DE102015210048A1 (de) Fehlererkennung und Korrektur von Pixelschaltungen für AMOLED-Anzeigen
DE60308748T2 (de) Inspektionsverfahren und Einrichtung für aktive Matrix
DE102012112130B4 (de) Organische lichtemittierende Anzeigevorrichtung mit Signalleitungen zum Übertragen sowohl von Datensignalen als auch Erfassungssignalen
KR101074832B1 (ko) 전기회로에 있어서의 결함들을 분류하고 전기회로에 대한공정문제들을 인식하는 시스템 및 방법
DE102014207420B4 (de) Flüssigkristallanzeige und Verfahren zum Testen einer Flüssigkristallanzeige
DE112016003607T5 (de) Systeme und Verfahren zur Pixelkalibrierung auf der Basis von verbesserten Referenzwerten
DE112013005918T5 (de) Pixelschaltung für Amoled-Displays
DE112014002117T5 (de) Anzeigesystem mit Kompensationstechniken und/oder gemeinsam genutzten Ebenenressourcen
DE112005002988T5 (de) Leitungskurzschlussermittlung in LCD-Pixelanordnungen
DE102017127797A1 (de) Anzeigevorrichtung
DE69932783T2 (de) TFT Matrix Paneel
DE102015210399A1 (de) Pixelschaltungen für Amoled-Displays
DE102019210555A1 (de) Systeme und Verfahren zum Kompensieren einer Degradation eines OLED-Displays
DE102016209219A1 (de) Kompensierungssysteme und -verfahren mit reduzierter Speicherbandbreite
DE102015216682B4 (de) Inspektionsverfahren für ausblendvorrichtung für das ausblenden von mehreren geladenen partikelstrahlen
DE112020003985T5 (de) Aufnahme und Verarbeitung von Bildern zur Kalibrierung von Bildpunktorten
DE112020005544T5 (de) Anzeigefeld und Anzeigegerät
DE102022103578A1 (de) Testgerät, testverfahren und programm
US9035673B2 (en) Method of in-process intralayer yield detection, interlayer shunt detection and correction
EP1521973B1 (de) Ansteuervorrichtung eines optoelektronischen gerätes mit verbesserten testeigenschaften
DE112021000819T5 (de) System und verfahren zum identifizieren latenter zuverlässigkeitsdefekte in halbleiterbauelementen

Legal Events

Date Code Title Description
R005 Application deemed withdrawn due to failure to request examination