JP4036142B2 - 電気光学装置、電気光学装置の駆動方法および電子機器 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電気光学装置、電気光学装置の駆動方法および電子機器に係り、特に、画素の階調を規定する表示データの補正処理に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、外乱要素に起因した表示品質の低下を抑制すべく、補正機能を備えた電気光学装置が知られている。例えば、特許文献１には、表示パネル内に設けられた複数の温度センサによって、有機ＥＬ素子の発熱に伴う温度変動を検出し、これに応じて、表示パネルの駆動補正を行う技術が開示されている。
【０００３】
【特許文献１】
特開２００２−１７５０４６号公報。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、表示品質に影響を及ぼす外乱要素としては、上述した温度要素以外にも様々なものがある。例えば、電気光学装置の使用時における周囲照度、画素中に含まれる電気光学素子の経時劣化、或いは、表示パネルの製造ばらつき等に起因した表示ムラといった如くである。
【０００５】
そこで、本発明の目的は、複数の外乱要素に対応した補正処理を行うことによって、表示品質の安定化を図ることである。
【０００６】
また、本発明の別の目的は、かかる補正処理の高速化を図ることである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
かかる課題を解決するために、第１の発明は、入力される表示データと出力される変換データとの対応関係が記述され、少なくとも一つの第１の補正要素が記述内容に反映された変換テーブルを参照することによって、画素の階調を規定する前記表示データから、前記表示データの階調特性を変形させた階調特性を有する前記変換データを生成する階調特性生成部と、前記階調特性生成部とは異なる種類の処理を用いて、前記第１の補正要素とは異なる少なくとも一つの第２の補正要素によって、前記変換データの階調特性を補正した上で、前記画素を駆動する画素駆動部とを有し、前記第２の補正要素は、前記電気光学装置の周囲温度変動、前記画素中に含まれる電気光学素子の劣化変動、および、前記画素がマトリクス状に並んだ表示部の表示ムラのうちの少なくとも一つを含み、前記第２の補正要素が複数存在する場合において、前記画素駆動部は、前記複数の第２の補正要素に基づいて補正値を算出する補正値生成部を含むとともに、当該補正値生成部によって算出された前記補正値に基づいて、前記画素の駆動を行う電気光学装置を提供する。
【０００８】
ここで、第１の発明において、画素駆動部は、階調特性生成部における表示データの階調特性の変形よりも微細なレベルで、変換データの階調特性を補正することが好ましい。
【０００９】
第２の発明は、入力される表示データと出力される変換データとの対応関係が記述され、少なくとも一つの第１の補正要素が記述内容に反映された変換テーブルを参照することによって、画素の階調を規定する前記表示データの階調特性を疎調整した前記変換データを生成する階調特性生成部と、前記第１の補正要素とは異なる少なくとも一つの第２の補正要素に基づいて、前記疎調整よりも微細なレベルで前記変換データの階調特性を微調整した上で、前記画素を駆動する画素駆動部とを有し、前記第２の補正要素は、前記電気光学装置の周囲温度変動、前記画素中に含まれる電気光学素子の劣化変動、および、前記画素がマトリクス状に並んだ表示部の表示ムラのうちの少なくとも一つを含み、前記第２の補正要素が複数存在する場合において、前記画素駆動部は、前記複数の第２の補正要素に基づいて補正値を算出する補正値生成部を含むとともに、当該補正値生成部によって算出された前記補正値に基づいて、前記画素の駆動を行う電気光学装置を提供する。
【００１０】
ここで、第１または第２の発明において、階調特性生成部は、記述内容が互いに異なる複数の変換テーブルを有し、第１の補正要素に応じて、複数の変換テーブルのいずれかを参照対象として選択することが好ましい。
【００１１】
第１または第２の発明において、画素駆動部は、第２の補正要素に基づいて、変換データを補正することによって、補正データを生成する階調補正部と、補正データに基づいて、画素に供給するデータ信号を生成するデータ信号生成部とを含んでいてもよい。この場合、階調補正部は、変換データと第２の補正要素との論理演算によって、補正データを生成することが好ましい。また、別の構成として、画素駆動部は、変換データに基づいて、画素に供給するデータ信号を生成するデータ信号生成部を含み、データ信号生成部は、第２の補正要素に基づいて、データ信号をアナログ補正してもよい。さらに、別の構成として、画素駆動部は、変換データに基づいて、画素に供給するデータ信号を生成するデータ信号生成部と、第２の補正要素に基づいて、画素中に含まれる電気光学素子の輝度の設定が行われる駆動期間を可変に制御する駆動期間制御部とを含んでいてもよい。これらの構成において、画素が自己を流れる電流によって輝度が設定される電気光学素子を含む場合、データ信号生成部は、データ信号を電流ベースで生成することが好ましい。
【００１２】
第１または第２の発明において、第１の補正要素は、電気光学装置の周囲照度変動、および、画素中に含まれる電気光学素子の自己発熱温度変動のうちの少なくとも一つを含むことが好ましい。この場合、電気光学装置の周囲照度を検出する照度検出部をさらに設けて、照度検出部によって検出された周囲照度に基づいて、周囲照度変動を算出してもよい。
【００１３】
第１または第２の発明において、第２の補正要素は、電気光学装置の周囲温度変動、画素中に含まれる電気光学素子の劣化変動、および、画素がマトリクス状に並んだ表示部の表示ムラのうちの少なくとも一つを含むことが好ましい。この場合、電気光学装置の周囲温度を検出する温度検出部をさらに設けて、温度検出部によって検出された周囲温度に基づいて、周囲温度変動を算出してもよい。また、画素中に含まれる電気光学素子の劣化度合を検出する劣化度合検出部をさらに設けて、劣化度合検出部によって検出された劣化度合に基づいて、劣化変動を算出してもよい。また、第２の補正要素が複数存在する場合において、画素駆動部は、複数の第２の補正要素に基づいて補正値を算出する補正値生成部を含むとともに、補正値生成部によって算出された補正値に基づいて、画素の駆動を行うことが好ましい。この補正値生成部は、複数の第２の補正要素の論理演算によって、補正値を算出することが望ましい。
【００１４】
第３の発明は、入力される表示データと出力される変換データとの対応関係が記述され、画素中に含まれる電気光学素子の自己発熱温度変動が記述内容に反映された変換テーブルを参照することによって、画素の階調を規定する表示データから、表示データの階調特性を変形させた階調特性を有する変換データを生成する階調特性生成部と、変換データに基づいて、画素を駆動する画素駆動部とを有する電気光学装置を提供する。
【００１５】
第４の発明は、上述した第１から第３の発明のいずれかにかかる電気光学装置を実装した電子機器を提供する。
【００１６】
第５の発明は、入力される表示データと出力される変換データとの対応関係が記述され、少なくとも一つの第１の補正要素が記述内容に反映された変換テーブルを参照することによって、画素の階調を規定する前記表示データから、前記表示データの階調特性を変形させた階調特性を有する前記変換データを生成する第１のステップと、前記第１のステップとは異なる種類の処理を用いて、前記第１の補正要素とは異なる少なくとも一つの第２の補正要素によって、前記変換データの階調特性を補正した上で、前記画素を駆動する第２のステップとを有し、前記第２の補正要素は、前記電気光学装置の周囲温度変動、前記画素中に含まれる電気光学素子の劣化変動、および、前記画素がマトリクス状に並んだ表示部の表示ムラのうちの少なくとも一つを含み、前記第２の補正要素が複数存在する場合において、前記第２のステップは、前記複数の第２の補正要素に基づいて補正値を算出するステップと、前記補正値に基づいて、前記画素の駆動を行うステップとを含む電気光学装置の駆動方法を提供する。
【００１７】
ここで、第５の発明において、第２のステップは、第１のステップにおける表示データの階調特性の変形よりも微細なレベルで、変換データの階調特性を補正するステップを含むことが好ましい。
【００１８】
第６の発明は、入力される表示データと出力される変換データとの対応関係が記述され、少なくとも一つの第１の補正要素が記述内容に反映された変換テーブルを参照することによって、画素の階調を規定する前記表示データの階調特性を疎調整した前記変換データを生成する第１のステップと、前記第１の補正要素とは異なる少なくとも一つの第２の補正要素に基づいて、前記疎調整よりも微細なレベルで前記変換データの階調特性を微調整した上で、前記画素を駆動する第２のステップとを有し、前記第２の補正要素は、前記電気光学装置の周囲温度変動、前記画素中に含まれる電気光学素子の劣化変動、および、前記画素がマトリクス状に並んだ表示部の表示ムラのうちの少なくとも一つを含み、前記第２の補正要素が複数存在する場合において、前記第２のステップは、前記複数の第２の補正要素に基づいて補正値を算出するステップと、前記補正値に基づいて、前記画素の駆動を行うステップとを含む電気光学装置の駆動方法を提供する。
【００１９】
ここで、第５または第６の発明において、第１のステップは、記述内容が互いに異なる複数の変換テーブルのうち、第１の補正要素に応じて、いずれかを参照対象として選択するステップを含むことが好ましい。
【００２０】
第５または第６の発明において、第２のステップは、第２の補正要素に基づいて、変換データを補正することによって、補正データを生成するステップと、補正データに基づいて、画素に供給するデータ信号を生成するステップとを含むことが好ましい。ここで、補正データを生成するステップは、変換データと第２の補正要素との論理演算によって、補正データを生成するステップであってもよい。また、これに代えて、変換データに基づいて、画素に供給するデータ信号を生成するとともに、第２の補正要素に基づいて、データ信号をアナログ補正するステップであってもよい。さらに、これらに代えて、変換データに基づいて、画素に供給するデータ信号を生成するステップと、第２の補正要素に基づいて、画素中に含まれる電気光学素子の輝度の設定が行われる駆動期間を可変に制御するステップとを含むステップであってもよい。また、画素が自己を流れる電流によって輝度が設定される電気光学素子を含む場合、データ信号を生成するステップは、データ信号を電流ベースで生成するステップであることが好ましい。
【００２１】
第５または第６の発明において、第１の補正要素は、電気光学装置の周囲照度変動、および、画素中に含まれる電気光学素子の自己発熱温度変動のうちの少なくとも一つを含むことが好ましい。この場合、周囲照度変動は、照度検出部によって検出された電気光学装置の周囲照度に基づいて算出されることが好ましい。
【００２２】
第５または第６の発明において、第２の補正要素は、電気光学装置の周囲温度変動、画素中に含まれる電気光学素子の劣化変動、および、画素がマトリクス状に並んだ表示部の表示ムラのうちの少なくとも一つを含むことが好ましい。この場合、周囲温度変動は、温度検出部によって検出された電気光学装置の周囲温度に基づいて算出してもよい。また、劣化変動は、劣化度合検出部によって検出された画素中に含まれる電気光学素子の劣化度合に基づいて算出してもよい。さらに、第２の補正要素が複数存在する場合において、第２のステップは、複数の第２の補正要素に基づいて補正値を算出するステップと、補正値に基づいて、画素の駆動を行うステップとを含むことが好ましい。この場合、補正値を算出するステップは、複数の第２の補正要素の論理演算によって、補正値を算出するステップであってもよい。
【００２３】
第７の発明は、入力される表示データと出力される変換データとの対応関係が記述され、画素中に含まれる電気光学素子の自己発熱温度変動が記述内容に反映された変換テーブルを参照することによって、画素の階調を規定する表示データから、表示データの階調特性を変形させた階調特性を有する変換データを生成する第１のステップと、変換データに基づいて、画素を駆動する第２のステップとを有する電気光学装置の駆動方法を提供する。
【００２４】
【発明の実施の形態】
（第１の実施形態）
図１は、本実施形態にかかる電気光学装置のブロック構成図である。表示部１は、例えば、ＴＦＴ等の駆動素子によって電気光学素子を駆動するアクティブマトリクス型の表示パネルである。この表示部１には、ｍドット×ｎライン分の画素２がマトリクス状（二次元平面的）に並んでいる。また、表示部１には、それぞれが水平方向に延在している走査線群Ｙ1〜Ｙnと、それぞれが垂直方向に延在しているデータ線群Ｘ1〜Ｘmとが設けられており、これらの交差に対応して画素２が配置されている。本実施形態では、１つの画素２を画像の最小表示単位としているが、カラーパネルのように、１つの画素２をＲＧＢの３つのサブ画素で構成してもよい。なお、図１には、それぞれの画素２に対して所定の電圧Ｖdd，Ｖssを供給する電源線等が省略されている。
【００２５】
図２は、一例としての画素２の回路図である。１つの画素２は、有機ＥＬ素子OLED、４つのトランジスタＴ1〜Ｔ4、および、データを保持するキャパシタＣで構成されている。ダイオードとして表記された有機ＥＬ素子OLEDは、自己を流れる駆動電流Ｉoledによって輝度が設定される典型的な電流駆動型素子である。この画素回路では、ｎチャネル型のトランジスタＴ1，Ｔ2，Ｔ4とｐチャネル型のトランジスタＴ3とが用いられているが、これは一例にすぎず、これとは異なる組み合わせでチャネル型を設定してもよい。
【００２６】
トランジスタＴ1のゲートは、走査信号ＳＥＬが供給される１本の走査線Ｙに接続され、そのソースは、データ電流Ｉdataが供給される１本のデータ線Ｘに接続されている。このトランジスタＴ1のドレインは、トランジスタＴ2のソース、トランジスタＴ3のドレインおよびトランジスタＴ4のドレインに共通接続されている。トランジスタＴ2のゲートは、トランジスタＴ1と同様に、走査信号ＳＥＬが供給される走査線Ｙに接続されている。トランジスタＴ2のドレインは、キャパシタＣの一方の電極と、トランジスタＴ3のゲートとに共通接続されている。キャパシタＣの他方の電極とトランジスタＴ3のソースとには、電源電圧Ｖddが印加されている。この電源電圧Ｖddは、カラーパネルの場合には、ＲＧＢ毎に異なる値に設定されることが多い。その理由は、有機ＥＬ素子OLEDの材料がＲＧＢによって異なるため、これに起因した電気的特性の相違に対応するためである。駆動信号ＧＰがゲートに供給されたトランジスタＴ4は、トランジスタＴ3のドレインと有機ＥＬ素子OLEDのアノード（陽極）との間に設けられている。この有機ＥＬ素子OLEDのカソード（陰極）には、電源電圧Ｖddよりも低い基準電圧Ｖssが印加されている。なお、データを保持する回路要素としては、キャパシタＣ以外にも、多ビットのデータを記憶可能なメモリ（ＳＲＡＭ等）を用いることもできる。
【００２７】
図３は、図２に示した画素２の駆動タイミングチャートである。走査線Ｙ1〜Ｙnの線順次走査によって、ある画素２の選択が開始されるタイミングをｔ0とし、この画素２の選択が次に開始されるタイミングをｔ2とする。この期間ｔ0〜ｔ2は、前半のプログラミング期間ｔ0〜ｔ1と、後半の駆動期間ｔ1〜ｔ2とに分けられる。
【００２８】
プログラミング期間ｔ0〜ｔ1では、キャパシタＣに対するデータの書き込みが行われる。まず、タイミングｔ0において、走査信号ＳＥＬが高レベル（以下「Ｈレベル」という）に立ち上がり、スイッチング素子として機能するトランジスタＴ1，Ｔ2が共にオン（導通）する。これにより、データ線ＸとトランジスタＴ3のドレインとが電気的に接続されるとともに、トランジスタＴ3は、自己のゲートと自己のドレインとが電気的に接続されたダイオード接続となる。トランジスタＴ3は、データ線Ｘより供給されたデータ電流Ｉdataを自己のチャネルに流し、このデータ電流Ｉdataに応じた電圧がゲート電圧Ｖgとして発生する。トランジスタＴ3のゲートに接続されたキャパシタＣには、発生したゲート電圧Ｖgに応じた電荷が蓄積され、蓄積された電荷量に相当するデータが書き込まれる。
【００２９】
プログラミング期間ｔ0〜ｔ1において、トランジスタＴ3は、自己のチャネルを流れるデータ信号に基づいて、キャパシタＣに対するデータの書き込みを行うプログラミングトランジスタとして機能する。また、駆動信号ＧＰが低レベル（以下「Ｌレベル」という）に維持されているため、トランジスタＴ4はオフ（非導通）のままである。したがって、有機ＥＬ素子OLEDに対する駆動電流Ｉoledの経路はトランジスタＴ4によって遮断され、有機ＥＬ素子OLEDは発光しない。
【００３０】
続く駆動期間ｔ1〜ｔ2では、駆動電流Ｉoledが有機ＥＬ素子OLEDを流れて、有機ＥＬ素子OLEDの輝度の設定が行われる。まず、タイミングｔ1において、走査信号ＳＥＬがＬレベルに立ち下がり、トランジスタＴ1，Ｔ2が共にオフする。これにより、データ電流Ｉdataが供給されるデータ線ＸとトランジスタＴ3のドレインとが電気的に分離され、トランジスタＴ3のゲートとドレインとの間も電気的に分離される。トランジスタＴ3のゲートには、キャパシタＣの蓄積電荷に応じたゲート電圧Ｖgが印加され続ける。タイミングｔ1における走査信号ＳＥＬの立ち下がりと同期（同一タイミングであるとは限らない）して、それ以前はＬレベルだった駆動信号ＧＰがＨレベルに立ち上がる。これにより、電源電圧Ｖddから基準電圧Ｖssに向かって、トランジスタＴ3，Ｔ4と有機ＥＬ素子OLEDとを介した駆動電流Ｉoledの経路が形成される。有機ＥＬ素子OLEDを流れる駆動電流Ｉoledは、トランジスタＴ3のチャネル電流に相当し、その電流レベルは、キャパシタＣの蓄積電荷に起因したゲート電圧Ｖgによって制御される。
【００３１】
駆動期間ｔ1〜ｔ2において、トランジスタＴ3は、有機ＥＬ素子OLEDに駆動電流Ｉoledを供給する駆動トランジスタとして機能し、有機ＥＬ素子OLEDは、この駆動電流Ｉoledに応じた輝度で発光する。
【００３２】
走査線駆動回路３およびデータ線駆動回路４は、図示しない制御回路による制御下において、互いに協働して表示部１の表示制御を行う。走査線駆動回路３は、シフトレジスタ、出力回路等を主体に構成されており、走査線Ｙ1〜Ｙnに走査信号ＳＥＬを出力することによって、走査線Ｙ1〜Ｙnを所定の選択順序で順番に選択する線順次走査を行う。走査信号ＳＥＬは、ＨレベルまたはＬレベルの２値的な信号レベルをとり、データの書込対象となる画素行（１水平ライン分の画素群）に対応する走査線ＹはＨレベル、これ以外の走査線ＹはＬレベルにそれぞれ設定される。そして、１垂直走査期間（１Ｆ）において、所定の選択順序で、それぞれの画素行が順番に選択されていく。なお、走査線駆動回路３は、走査信号ＳＥＬ以外に、図２に示したトランジスタＴ4を導通制御する駆動信号ＧＰ（またはそのベース信号）も出力する。この駆動信号ＧＰによって、駆動期間、すなわち、画素２中に含まれる有機ＥＬ素子OLEDの輝度の設定が行われる期間が設定される。
【００３３】
データ線駆動回路４は、走査線駆動回路３による線順次走査と同期して、それぞれのデータ線Ｘ1〜Ｘmに対する信号の供給を電流ベースで行う。図４は、データ線駆動回路４の構成図である。このデータ線駆動回路４は、ｍビットのＸシフトレジスタ４０およびデータ線単位で設けられたｍ個の回路ユニット４１で構成されている。Ｘシフトレジスタ４０は、１水平走査期間（１Ｈ）の最初に供給されるスタートパルスＳＴをクロック信号ＣＬＸにしたがって転送し、ラッチ信号Ｓ1，Ｓ2，Ｓ3，・・・，Ｓmのレベルを順次排他的にＨレベルに設定する。
【００３４】
ｍ個の回路ユニット４１は、ある１Ｈでデータを書き込む画素行に対する電流ベースの信号の一斉出力と、次の１Ｈで書き込みを行う画素行に関するデータの点順次的なラッチとを同時に行う。単一の回路ユニット４１は、データＤcvt（Ｄ0〜Ｄ5）のビット単位で設けられた６つのスイッチの集合であるスイッチ群４２，４４、第１のラッチ回路４３、第２のラッチ回路４５および電流ＤＡＣ４６で構成されている。データ線Ｘ1〜Ｘmに対応する個々の回路ユニット４１の動作は、ラッチ信号Ｓ1，Ｓ2，Ｓ3，・・・，ＳmによるデータＤ0〜Ｄ5の取り込みタイミングが異なる点を除けば同様である。すなわち、最前段のスイッチ群４２は、対応するラッチ信号ＳがＨレベルになることによってオンする。これにより、ラッチ信号Ｓが規定する取り込みタイミングで、６ビットデータＤ0〜Ｄ5が第１のラッチ回路４３に取り込まれる。第１のラッチ回路４３にラッチされたデータＤ0〜Ｄ5は、ラッチパルスＬＰがＨレベルになってスイッチ群４４がオンした時点で、第２のラッチ回路４５に転送される。それとともに、第１のラッチ回路４３には、スイッチ群４２を介して、次の１ＨにおけるデータＤ0〜Ｄ5が新たにラッチされる。
【００３５】
電流ＤＡＣ４６は、第２のラッチ回路４５にラッチされた６ビットのデジタルデータＤ0〜Ｄ5をＤ／Ａ変換し、アナログ信号であるデータ電流Ｉdataを生成し、これを対応するデータ線Ｘに供給する。電流ＤＡＣ４６は、次に述べる補正系回路の一部である画素駆動部として機能し、これを実現する上で必要な回路が付加されているが、その具体的な回路構成については後述する。
【００３６】
なお、データ線駆動回路４に対してフレームメモリ等（図示せず）から直接データを線順次的に入力する構成でも本発明を適用できるが、その場合においても本発明の主眼とする部分の動作は同様である。このような構成にした場合には、データ線駆動回路４にシフトレジスタを設ける必要がなくなる。
【００３７】
本実施形態では、回路要素５〜１０と、電流ＤＡＣ４６の付加回路とで構成される補正系回路が設けられており、この回路によって、複数の外乱要素に対応した補正が統合的に行われる。補正項目となる外乱要素は５つあり、それぞれの外乱要素を補正する補正要素がΔＤta，ΔＤtl，ΔＤlx，ΔＤd，ΔＤmuraとなる。
【００３８】
周囲温度変動ΔＤtaは、電気光学装置の使用環境の温度、すなわち、周囲温度Ｔaの変動を補正する補正要素である。一般に、周囲温度Ｔaが変動すると、有機ＥＬ素子OLEDの駆動電圧や発光効率等も変動する。したがって、この温度領域全体で表示品質の安定化を図るためには、外乱要素である周囲温度Ｔaの影響を考慮した補正を行うことが好ましい。図５は、一例としての周囲温度Ｔaと周囲温度変動ΔＤtaとの関係を示す特性図である。有機ＥＬ素子OLEDの温度−輝度特性がＲＧＢ毎に異なる点に鑑み、周囲温度変動ΔＤtaは、ＲＧＢ毎に個別に設定されている。Ｂ（青）については、周囲温度Ｔaの増加にともない周囲温度変動ΔＤtaが線形的に増加しており、Ｒ（赤）およびＧ（緑）については、周囲温度Ｔaの増加にともない周囲温度変動ΔＤtaが線形的に減少している。
【００３９】
周囲温度変動ΔＤtaに応じた補正は、電気光学装置の内蔵センサとして設けられた温度検出部６で表示部１近傍の周囲温度Ｔaを検出することにより、リアルタイムで行われる。演算部８は、温度検出部６によって検出された周囲温度Ｔaを入力とした演算処理を行って、画素２の階調設定の際に加味すべき補正値を算出し、これを周囲温度変動ΔＤtaとしてデータ線駆動回路４に出力する。この演算処理は、例えば、図５のような特性が記述された変換テーブルを参照して、入力値Ｔaから出力値ΔＤtaを求めるテーブル参照処理（Look Up Table処理）が想定されるが、これ以外の処理方法であってもよい。なお、この補正単位は、周囲温度Ｔaの影響が表示部１全体に作用する点に鑑み、表示部１全体である。
【００４０】
温度検出部６としては、特開２００２−９８５９４号公報に開示されているように、温度センサが搭載された半導体チップを用いてもよく、特開２００２−１２２８３８号公報に開示されているように、表示部１の基板上に形成された温度検出素子（ＰＮ接合の温度に対する電圧変化を検出する素子）を用いることも可能である。
【００４１】
なお、周囲温度Ｔaの検出精度を確保するという観点でいえば、表示部１の周囲温度が偏在していない方がよい。そこで、冷却ファン、或いは、特開平１１−９５８７２号公報や特開平１１−２５１７７７号公報に開示されているような高熱伝導材等を用いて、電気光学装置より発生する熱を有効に放熱し、周囲の温度を均一化させることが好ましい。
【００４２】
自己発熱温度変動ΔＤtlは、有機ＥＬ素子OLEDの発光に伴う発熱温度Ｔlの変動を補正する補正要素である。一般に、有機ＥＬ素子OLEDの発光輝度が高くなるほど、有機ＥＬ素子OLEDの発熱温度も高くなる。したがって、この発熱温度領域全体で表示品質の安定化を図るためには、外乱要素である発熱温度Ｔlの影響を考慮した補正を行うことが好ましい。図６は、一例としての発熱温度Ｔlと自己発熱温度変動ΔＤtlとの関係を示す特性図である。自己発熱温度変動ΔＤtlは、ＲＧＢ毎に個別に設定されているが、いずれも発熱温度Ｔlの増加にともない非線形的に増加している。
【００４３】
画素２の階調と発熱温度Ｔlとの関係は、実験やシミュレーション等を通じて予め知得されている。この知得を前提として、自己発熱温度変動ΔＤtlは、階調特性生成部９が備える変換テーブルの設定値として折り込み済みである。つまり、変換テーブルの記述内容自体が、例えば、図６のような特性を反映したものになっている。この場合、自己発熱温度変動ΔＤtlに応じた補正を行うために、センサ類を用いる必要はない。なお、この補正単位は、基本的には画素毎であるが、ある画素２の発熱量が周辺画素へも拡散するケースを想定する場合には、周辺画素を含めたブロック単位にしてもよい。
【００４４】
周囲照度変動ΔＤlxは、電気光学装置の使用環境における明るさ、すなわち、周囲照度Ｌxの変動を補正する補正要素である。一般に、外光の程度に応じて、見映えのよい表示を行う上で最適な有機ＥＬ素子OLEDの発光輝度が変わってくる。例えば、明るい外光下での使用時には、通常の表示状態よりも発光輝度を明るくし、高コントラスト化した方が視認性が向上する。これに対して、暗い屋内での使用時には、通常の表示状態では明るすぎるため、発光輝度を多少暗くした方が視認性が向上する。したがって、この照度領域全体において安定した視認性を得るためには、外乱要素である周囲照度Ｌxの影響を考慮した補正を行うことが好ましい。図７は、一例としての周囲照度Ｌxと周囲照度変動ΔＤlxとの関係を示す特性図である。周囲照度変動ΔＤlxについては、他の補正要素とは異なりＲＧＢ共通に設定され、周囲照度Ｌxの増加にともない非線形的に増加している。
【００４５】
周囲照度変動ΔＤlxに応じた補正は、電気光学装置の内蔵センサとして設けられた照度検出部５で表示部１近傍の周囲照度Ｌxを検出することにより、リアルタイムで行われる。演算部８は、照度検出部５によって検出された周囲照度Ｌxを入力とした演算処理を行って、画素２の階調設定の際に加味すべき補正値を算出し、これを周囲照度変動ΔＤlxとして階調特性生成部９に出力する。この演算処理は、例えば、図７のような特性が記述された変換テーブルを参照して、入力値Ｌxから出力値ΔＤlxを求めるＬＵＴ処理が想定されるが、これ以外の処理方法であってもよい。なお、この補正単位は、周囲照度Ｌxの影響が表示部１全体に作用する点に鑑み、表示部１全体である。
【００４６】
照度検出部５としては、例えば、特開２０００−６６６２４号公報に開示されているように、外光の強度を検出する照度センサを用いることができる。なお、周囲照度Ｌxの検出精度を確保するという観点でいえば、表示部１の自己発光の影響を受けないように、自己発光を遮蔽する構造的な工夫を表示部１に設けることが好ましい。
【００４７】
劣化変動ΔＤdは、有機ＥＬ素子OLEDの劣化度合ｄによる変動を補正する補正要素である。一般に、有機ＥＬ素子OLEDの劣化が進むにしたがい、有機ＥＬ素子OLEDの駆動電圧や発光効率等が低下していく。したがって、時間軸領域全体で表示品質の安定化を図るためには、外乱要素である劣化度合ｄの影響を考慮した補正を行うことが好ましい。図８は、一例としての劣化度合ｄと劣化変動ΔＤdとの関係を示す特性図である。劣化度合ｄがＲＧＢ毎に異なる点に鑑み、劣化変動ΔＤdもＲＧＢ毎に個別に設定されているが、いずれも劣化度合ｄの増加にともない線形的に増加している。
【００４８】
劣化変動ΔＤdに応じた補正は、電気光学装置の内蔵センサとして設けられた劣化度合検出部７で劣化度合ｄを検出することにより、リアルタイムで行われる。演算部８は、劣化度合検出部７によって検出された劣化度合ｄを入力とした演算処理を行って、画素２の階調設定の際に加味すべき補正値を算出し、これを劣化変動ΔＤdとしてデータ線駆動回路４に出力する。この演算処理は、例えば、図８のような特性が記述された変換テーブルを参照して、入力値ｄから出力値ΔＤdを求めるＬＵＴ処理が想定されるが、これ以外の処理方法を用いてもよい。
【００４９】
劣化度合検出部７としては、例えば、電気光学装置が今まで動作した累積時間を計測するタイマ、或いは、フレームメモリに今まで蓄積された表示データの累積数を計測するカウンタ等を用いることができる。この場合、補正単位は表示部１全体となる。また、このような時間軸ベースで劣化度合ｄを推定する手法に代えて、有機ＥＬ素子OLEDの発光状態ベースで劣化度合ｄを推定してもよい。例えば、ＣＣＤセンサやＣＭＯＳセンサ等の輝度センサを用いて、有機ＥＬ素子OLEDの発光輝度を画素単位で検出し、本来の輝度に対する実際の輝度の低下分から劣化度合ｄを推定するといった如くである。この場合の補正単位は、画素毎となる。
【００５０】
このような輝度センサの具体的な構成については、特開平９−２３７８８７号公報や特開平１１−３４５９５７号公報に開示されている他、電気光学装置に開閉可能なフタを設け、表示部１と対向するフタの内面（対向面）にＣＣＤセンサ等を設けてもよい。
【００５１】
表示ムラΔＤmuraは、有機ＥＬ素子OLEDの駆動電圧、発光効率、色度等の相違に起因した表示部１のムラ度合muraを補正する補正要素である。図９は、一例としてのムラ度合muraと表示ムラΔＤmuraとの関係を示す特性図である。ＲＧＢ毎の特性の違いを考慮して、表示ムラΔＤmuraもＲＧＢ毎に個別に設定されているが、いずれもムラ度合muraの進行にともない線形的に増加している。
【００５２】
表示ムラΔＤmuraに応じた補正は、電気光学装置に外付けされる検査装置（図示せず）によってムラ度合muraを検出することで、製品出荷前に行われる。演算部８は、検査装置によって検出されたムラ度合muraを入力とした演算処理を行って、画素２の階調設定の際に加味すべき補正値を算出し、これを表示ムラΔＤmuraとしてデータ線駆動回路４に出力する。この演算処理は、例えば、図９のような特性が記述された変換テーブルを参照して、入力値muraから出力値ΔＤmuraを求めるＬＵＴ処理が想定されるが、これ以外の処理方法であってもよい。ムラ度合muraの検出を画素単位に行う場合、補正単位も画素毎になる。
【００５３】
なお、表示ムラΔＤmuraに応じた補正は、製品出荷前に行えば足り、その後の補正は必ずしも必要ではない。しかしながら、上述した輝度センサを用いてムラ度合muraをリアルタイムで検出し、表示ムラΔＤmuraに応じた補正をリアルタイムで行うことも可能である。
【００５４】
図１０は、階調特性生成部９の構成図である。階調特性生成部９は、入力された表示データＤの階調特性を疎調整することによって、変換データＤcvtを生成・出力する。ここでは、表示データＤの階調特性の形そのものを別の形に変形させるようなデータ変換が行われ、論理演算等での対応が容易ではない比較的大きな変形を伴うデータ変換（疎調整）を想定している。そのため、このような疎調整への対応が容易なＬＵＴ処理を採用している。表示データＤは、画素２の階調を規定するデジタル信号であり、一般的には、図示しない上位のフレームメモリからのデータである。この表示データＤは、階調に対して線形な値であることが多いが、階調特性生成部９は、表示データＤを非線形な値に加工する機能を有する。そのため、表示データＤが有するビット領域よりも大きなビット領域を準備しておく必要があり、本実施形態では、４ビットの表示データＤ（Ｄ0〜Ｄ3）に対して、６ビットの変換データＤcvt（Ｄ0〜Ｄ5）が生成される。
【００５５】
階調特性生成部９は、記述内容が互いに異なる複数の変換テーブルＬＵＴ1〜ＬＵＴ4を有する。図１１は、変換テーブルＬＵＴ1〜ＬＵＴ4の説明図である。また、図１２は、表示データＤのデータ変換によって生成される変換データＤcvtの階調特性図であり、横軸が表示データＤ、縦軸が変換データＤcvtをそれぞれ表している。それぞれの変換テーブルＬＵＴ1〜ＬＵＴ4は、４ビットの表示データＤ（入力値）と６ビットの変換データＤcvt（出力値）との対応関係が記述されている。変換データＤcvtは、表示データＤの階調特性とは異なり、表示データＤの線形性を非線形に変形させた階調特性になっており、表示データＤが高階調側に向かうに従い、変換データＤcvtが非線形に増加するように設定されている。
【００５６】
周囲照度変動ΔＤlxに応じた補正は、変換テーブルＬＵＴ1〜ＬＵＴ4の中から、いずれかを選択することによって実現される。ここで、変換テーブルＬＵＴ1〜ＬＵＴ4の特性を比較すると、ＬＵＴ1，ＬＵＴ2，ＬＵＴ3，ＬＵＴ4の順に、変換データＤcvtの増加率が大きくなっている。また、同一の表示データＤに対する変換データＤcvtは、この順序で高階調側にシフトする傾向があり、この傾向は、表示データＤが高階調になるほど顕著になる。これらの変換テーブルＬＵＴ1〜ＬＵＴ4の記述内容には、周囲照度変動ΔＤlxの影響が反映されている。
【００５７】
一例として、暗い屋内といった第１の使用状況には、演算部８よりΔＤlx＝０が指示されて、変換テーブルＬＵＴ1が選択される。そして、この変換テーブルＬＵＴ1の記述内容に応じて、表示データＤに対応する変換データＤcvtが出力される。例えば、表示データＤが”1000”（階調８）の場合には、”000010”（階調２）の変換データＤcvtが出力される。このデータ変換は、表示データＤに対して、本来の階調を大きく低下させる暗補正を施すことと等価である。また、第１の使用状況よりも若干明るい第２の使用状況（例えば、明るめの屋内使用時）には、ΔＤlx＝１が指示されて、変換テーブルＬＵＴ2が選択される。そして、この変換テーブルＬＵＴ2の記述内容に応じた変換データＤcvtが出力される。例えば、”1000”（階調８）の表示データＤに対して、”000110”（階調６）の変換データＤcvtが出力される。このデータ変換は、表示データＤに対して、階調を若干低下させる暗補正を施すことと等価である。また、第２の使用状況よりも明るい第３の使用状況（例えば、曇天での屋外使用時）には、ΔＤlx＝２となり、変換テーブルＬＵＴ3が参照対象として選択される。例えば、”1000”（階調８）の表示データＤに対して、”001110”（階調１４）の変換データＤcvtが出力される。このデータ変換は、表示データＤに対して、階調を若干高める明補正を施すことと等価である。さらに、第３の使用状況よりも明るい第４の使用状況（例えば、明るい外光下での屋外使用時）には、ΔＤlx＝３となり、変換テーブルＬＵＴ4が参照対象として選択される。例えば、”1000”（階調８）の表示データＤに対して、”011000”（階調２４）の変換データＤcvtが出力される。このデータ変換は、表示データＤに対して、階調を大きく高める明補正を施すことと等価である。
【００５８】
一方、それぞれの変換テーブルＬＵＴ1〜ＬＵＴ4の記述内容には、周囲照度変動ΔＤlxのみならず、自己発熱温度変動ΔＤtlも反映されている。一般に、発光に伴い有機ＥＬ素子OLED自体が発熱し、発光効率が低下することが知られている。そのため、図１３に示すように、実線で示した実際の階調（見かけ上の階調特性）は、点線で示した本来の階調よりも低下する。そこで、このような階調ズレを予め見越した上で、変換テーブルＬＵＴ1〜ＬＵＴ4の記述内容を設定しておく。これにより、有機ＥＬ素子OLEDの発熱に伴う階調ズレが補正されたデータが、変換データＤcvtとして出力される。
【００５９】
図１４は、本実施形態にかかる電流ＤＡＣ４６の構成図である。この電流ＤＡＣ４６は、画素２に供給するデータ信号を電流ベースで生成するデータ信号生成部４６ａを主体とし、これに補正値生成部４６ｂと階調補正部４６ｃとを追加した構成を有する。補正値生成部４６ｂは、比較的単純な加減乗除の演算を行う演算回路で構成されており、演算部８からの３つの補正要素ΔＤta，ΔＤd，ΔＤmuraに基づいて、これらを統合した代表値として補正値Ｋ（補正係数ａ，ｂのセット）を生成する。同図の構成では、周囲温度変動ΔＤtaの値がそのまま補正係数ａとなり、劣化変動ΔＤdと表示ムラΔＤmuraとを加算した値が補正係数ｂとなる。なお、補正値Ｋ（ａ，ｂ）の算出は、加減乗除の組み合わせ程度の比較的単純な論理演算を想定しているが、より複雑な論理演算によって行うことも可能である。
【００６０】
階調補正部４６ｃは、補正値Ｋ（ａ，ｂ）に基づいて、階調特性生成部９より出力された変換データＤcvtに所定の演算を施して、補正データＤamdを出力する。ここでは、変換データＤcvtの階調特性を大きく変形させるのではなく、全階調に対して一括に所定の補正処理を施す。この補正処理は、加減乗除の組み合わせ程度の比較的単純な論理演算を想定しているが、より複雑な論理演算であってもよい。これにより、変換データＤcvtの基本的な階調特性を維持しながら、階調特性生成部９における階調特性の変形よりも微細なレベルで、階調特性の補正を行う微調整が行われる。本実施形態では、Ｄamd＝ａ・Ｄcvt＋ｂの線形的な演算によって、６ビットの変換データＤcvtを拡張して、８ビットの補正データＤamdを算出している。図１５は、一例として、ａ＝010，ｂ＝110の場合における変換データＤcvt（入力値）と補正データＤamd（出力値）との関係を示す図である。また、図１６は、階調補正部４６ｃにおけるデータ補正の特性図である。
【００６１】
データ信号生成部４６ａは、データ線Ｘと基準電圧Ｖssとの間に設けられており、互いに直列接続されたスイッチングトランジスタＳＷと駆動トランジスタＤＲとのペアを補正データＤamdのビット数分（すなわち８つ）有する。それぞれの駆動トランジスタＤＲは、自己の利得係数βに応じた電流をチャネルに流す定電流源として機能し、そのゲートには所定の駆動電圧Ｖbaseが共通に印加されている。これらの駆動トランジスタＤＲの利得係数βの比は、補正データＤamdを構成する８ビットの重みに対応して、１：２：４：８：１６：３２：６４：１２８に設定されている。また、８つのスイッチングトランジスタＳＷの導通状態は、８ビットの補正データＤamd（Ｄ0〜Ｄ7）の内容に応じて設定され、導通したものに対応する駆動トランジスタＤＲにおいて、利得係数βに応じたチャネル電流が生じる。データ線Ｘに供給されるデータ電流Ｉdataは、それぞれの駆動トランジスタＤＲを流れるチャネル電流の合計値となる。
【００６２】
このように、本実施形態によれば、複数の外乱要素に対応した補正を統合的に行うことができる。図１７に示すように、本実施形態では、表示データＤからデータ電流Ｉdataを生成する過程において、種類の異なる２つの補正処理が行われる。まず、階調特性生成部９では、ＬＵＴ処理によって、２つの補正要素ΔＤlx，ΔＤtlを加味した補正が行われ、表示データＤより変換データＤcvtが生成される。このＬＵＴ処理ベースでの補正によって、周囲照度Ｌxおよび発熱温度Ｔlという２つの外乱要素の影響が有効に低減され、表示データＤの階調特性を変形させた階調特性を有する変換データＤcvtが出力される。また、画素駆動部の一部を構成する階調補正部４６ｃでは、論理演算によって、３つの補正要素ΔＤd，ΔＤmura，ΔＤtaを加味した補正が行われ、変換データＤcvtより補正データＤamdが生成される。この論理演算ベースでの補正によって、劣化度合ｄ、ムラ度合muraおよび周囲温度Ｔaという３つの外乱要素の影響が有効に低減され、変換データの階調特性を補正した補正データＤamdが出力される。そして、画素駆動部の一部を構成するデータ信号生成部４６ａにおいて、補正データＤamdよりデータ電流Ｉdataが生成され、これに基づいて画素２の駆動が行われる。このように、５つの補正要素ΔＤlx，ΔＤtl，ΔＤd，ΔＤmura，ΔＤtaを統合的に加味した上で、データ電流Ｉdataを生成することにり、複数の外乱要素の影響を有効に低減できるので、表示品質の安定化を図ることが可能になる。
【００６３】
また、本実施形態によれば、ＬＵＴ処理による疎調整と論理演算による微調整とを併用することで、表示データＤに関する一連の補正処理を高速に行うことができる。一般に、ＬＵＴ処理は、階調特性を大きく変形させるような疎調整に適している反面、入力数の増大にともない変換テーブルＬＵＴの記述内容が膨大になり、処理速度の低下を招き易いという不都合がある。これとは逆に、論理演算は、このような疎調整には向かない反面、入力数に関わりなく、高速処理が可能であるという利点がある。そこで、本実施形態では、対応すべき補正要素を、階調特性自体を変形させる疎調整にて対応する疎調整要素ΔＤlx，ΔＤtlと、疎調整よりも微細なレベルの変形にて対応する微調整要素ΔＤd，ΔＤmura，ΔＤtaとに分類している。そして、前者については、ＬＵＴ処理を用いた疎調整にて対応し、後者については、論理演算を用いて、疎調整よりも微細なレベルの微調整にて対応する。これにより、すべての補正要素をＬＵＴ処理にて対応する場合と比較して、変換テーブルＬＵＴの記述内容を著しく低減できる。その結果、表示データＤの一連の補正処理の高速化を図ることができ、リアルタイムでの対応が可能になる。
【００６４】
さらに、本実施形態では、自己発熱温度変動ΔＤtlの特性を実験やシミュレーション等を通じて予め取得しておき、記述内容にこれを反映した変換テーブルＬＵＴを作成する。そして、この変換テーブルＬＵＴを参照することによって、表示データＤから変換データＤcvtを生成している。これにより、有機ＥＬ素子OLEDの発光時における発熱温度を温度センサ等で直接検出する必要がなくなる。その結果、表示部１の回路規模の増大を抑制でき、かつ、センサの検出精度の問題等も解消できるという効果がある。
【００６５】
なお、本実施形態では、周囲照度変動ΔＤlxおよび自己発熱温度変動ΔＤtlの双方を微調整要素とした例について説明したが、これらの少なくとも一つを微調整要素にしてもよい。同様に、周囲温度変動ΔＤta、劣化変動ΔＤdおよび表示ムラΔＤmuraのすべてを疎調整要素として例について説明したが、これらの少なくとも一つを疎調整要素にしてもよい。また、本発明は、例示した５つの補正要素以外のものを考慮した補正処理に対しても広く適用可能である。
【００６６】
また、本実施形態では、複数の微調整要素ΔＤd，ΔＤmura，ΔＤtaを統合すべく、これらの代表値としての補正値Ｋを算出する補正値生成部４６ｂを設けている。したがって、微調整要素が１つの場合には、補正値生成部４６ｂを設けなくてもよい。
【００６７】
さらに、本発明が適用可能な画素回路の構成は、上述した実施形態に限定されるものではなく、例えば、特表２００２−５１４３０号公報に開示されている画素回路も含めて広く適用可能である。また、本発明の適用範囲は、電流プログラム方式の画素回路に限定されるものではなく、データ線Ｘに対するデータの出力を電圧ベースで行う「電圧プログラム方式」を用いた画素回路に対して同様に適用可能である。
【００６８】
以上の３つの変形例は、以下に述べる第２の実施形態および第３の実施形態についても同様に該当する。
【００６９】
（第２の実施形態）
図１８は、第２の実施形態にかかる電流ＤＡＣ４６の構成図である。この電流ＤＡＣ４６は、画素２に供給するデータ信号を電流ベースで生成するデータ信号生成部４６ａを主体とし、これに補正値生成部４６ｂと駆動電圧補正部４６ｄとを追加した構成を有する。図１４の構成例との相違点は、データ信号生成部４６ａの構成が若干異なる点、および、階調補正部４６ｃの代わりに駆動電圧補正部４６ｄを設けた点である。それ以外に関しては、図１４の回路要素と同一であるから、同一の符号を付してここでの説明を省略する。
【００７０】
データ信号生成部４６ａは、データ線Ｘと基準電圧Ｖssとの間に設けられており、互いに直列接続されたスイッチングトランジスタＳＷと駆動トランジスタＤＲとのペアを変換データＤcvtのビット数分（すなわち６つ）有する。６つの駆動トランジスタＤＲは、変換データＤcvtを構成する６ビットの重みに対応して、１：２：４：８：１６：３２に利得係数βの比が設定されており、これらのゲートには第１の駆動電圧Ｖbase1が共通に印加されている。また、６つのスイッチングトランジスタＳＷの導通状態は、階調特性生成部９からの変換データＤcvt（Ｄ0〜Ｄ5）の内容に応じて設定され、導通したものに対応する駆動トランジスタＤＲにおいて、利得係数βに応じたチャネル電流が生じる。さらに、データ線Ｘと基準電圧Ｖssとの間には、ｋ・β（ｋは自然数）の利得係数を有する駆動トランジスタＤＲ2が追加されており、このゲートには第２の駆動電圧Ｖbase2が印加されている。
【００７１】
駆動電圧補正部４６ｄは、補正値生成部４６ｂからの補正値Ｋ（ａ，ｂ）に基づいて、第１の駆動電圧Ｖbase1と第２の駆動電圧Ｖbase2とを可変に設定する。第１の駆動電圧Ｖbase1は、補正係数ａに応じて設定され、その電圧は補正係数ａの増大にともない大きくなる。第２の駆動電圧Ｖbase2は、補正係数ｂに応じて設定され、その電圧値は補正係数ｂの増大にともない大きくなる。駆動トランジスタＤＲ，ＤＲ2のチャネル電流は、駆動電圧Ｖbase1，Ｖbase2によって微調整され、これによって、データ電流Ｉdataがアナログ的に補正される。
【００７２】
図１９は、本実施形態の概略的な特徴の説明図である。本実施形態では、表示データＤからデータ電流Ｉdataを生成する過程において、種類の異なる２つの補正処理が行われる。まず、階調特性生成部９では、ＬＵＴ処理によって、２つの補正要素ΔＤlx，ΔＤtlを加味した補正が行われ、表示データＤより変換データＤcvtが生成される。また、画素駆動部に相当するデータ信号生成部４６ａでは、変換データＤcvtよりデータ電流Ｉdataが生成される。駆動トランジスタＤＲ，ＤＲ2のチャネル電流は、３つの補正要素ΔＤd，ΔＤmura，ΔＤtaに応じて変化するため、データ電流Ｉdataがアナログ的に微調整される。画素２は、このようにしてアナログ補正されたデータ電流Ｉdataによって駆動する。
【００７３】
このように、５つの補正要素ΔＤlx，ΔＤtl，ΔＤd，ΔＤmura，ΔＤtaを統合的に加味した上で、データ電流Ｉdataを生成することによって、複数の外乱要素の影響を低減でき、表示品質の安定化を図ることが可能になる。それとともに、ＬＵＴ処理による疎調整とアナログ処理による微調整とを併用することで、表示データＤに関する一連の補正処理を高速に行うことができる。
【００７４】
（第３の実施形態）
図２０は、第３の実施形態の概略的な特徴の説明図である。本実施形態では、階調特性生成部９のＬＵＴ処理によって、２つの補正要素ΔＤlx，ΔＤtlを加味した補正が行われ、表示データＤより変換データＤcvtが生成される。画素駆動部の一部を構成するデータ信号生成部４６ａは、３つの補正要素ΔＤd，ΔＤmura，ΔＤtaを考慮することなく、変換データＤcvtからデータ電流Ｉdataを直接生成し、これをデータ線Ｘを介して画素２に供給する。
【００７５】
一方、画素駆動部の一部を構成する駆動期間制御部１０は、３つの補正要素ΔＤd，ΔＤmura，ΔＤtaを考慮した上で、図２に示した画素２の駆動期間を制御する。図２１は、一例としての画素２の駆動タイミングチャートである。走査信号ＳＥＬの立ち下がりタイミングｔ1と駆動信号ＧＰの立ち上がりタイミングとの間に、遅延時間Δｔを設定し、この遅延時間Δｔを補正値Ｋ（ａ，ｂ）によって可変に制御する。これにより、有機ＥＬ素子OLEDが発光するオン時間ｔonが特定され、有機ＥＬ素子OLEDの輝度が決定される。図２２は、別の一例としての画素２の駆動タイミングチャートである。期間ｔ1〜ｔ2において、駆動信号ＧＰをインパルス状に設定し、画素２中に含まれる有機ＥＬ素子OLEDを発光させるオン期間ｔonと発光させないオフ期間ｔoffとを交互に設定する。有機ＥＬ素子OLEDの発光輝度は、期間ｔ2〜ｔ3に占めるオン期間ｔonのデューティ比によって決定される。また、時間軸変調方式の一種であるサブフィールド駆動によって、駆動期間を制御してもよい。周知のように、サブフィールド駆動では、所定の期間（例えば１フレーム）を分割することにより規定される複数のサブフィールドを用いて、画素の階調表示が行われる。
【００７６】
このように、本実施形態では、２つの補正要素ΔＤlx，ΔＤtlを加味した上でデータ電流Ｉdataを生成するとともに、３つの補正要素ΔＤd，ΔＤmura，ΔＤtaを加味した上で画素２の駆動時間を可変に制御する。これにより、上述した各実施形態と同様に、複数の外乱要素の影響を低減でき、表示品質の安定化を図ることが可能になる。それとともに、ＬＵＴ処理による疎調整と駆動時間ベースでの微調整とを併用することで、表示データＤに関する一連の補正処理を高速に行うことができる。
【００７７】
なお、上述した各実施形態では、電気光学素子として有機ＥＬ素子OLEDを用いた構成について説明した。しかしながら、本発明はこれに限定されるものではなく、液晶（ＬＣ）、無機ＬＥＤ、デジタルマイクロミラーデバイス（ＤＭＤ）、或いは、プラズマ発光や電子放出による蛍光等を用いた様々な電気光学素子に対しても広く適用可能である。
【００７８】
さらに、上述した各実施形態に係る電気光学装置は、例えば、テレビ受像機、プロジェクタ、ビューワ、携帯電話、携帯端末、携帯ゲーム機、電子書籍、ビデオカメラ、デジタルスチルカメラ、カーナビゲーション、カーステレオ、モバイルコンピュータ、パーソナルコンピュータ、プリンタ、スキャナ、ＰＯＳ、ビデオプレーヤ表示機能付ファックス装置、電子案内板、工作機械や輸送車両等の運転操作パネル等を含む様々な電子機器に広く実装可能である。これらの電子機器に上述した電気光学装置を実装すれば、電子機器の商品価値を一層高めることができ、市場における電子機器の商品訴求力の向上を図ることができる。
【００７９】
【発明の効果】
本発明によれば、複数の外乱要素に対応した補正を統合的に行うことにより、電気光学装置の表示品質を安定化できる。それとともに、ＬＵＴ処理による疎調整と、ＬＵＴ処理とは異なる種類の処理による微調整とを併用することによって、補正処理の高速化を図ることが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 電気光学装置のブロック構成図
【図２】 画素の回路図
【図３】 画素の駆動タイミングチャート
【図４】 データ線駆動回路の構成図
【図５】 周囲温度Ｔaと周囲温度変動ΔＤtaとの関係を示す特性図
【図６】 発熱温度Ｔlと自己発熱温度変動ΔＤtlとの関係を示す特性図
【図７】 周囲照度Ｌxと周囲照度変動ΔＤlxとの関係を示す特性図
【図８】 劣化度合ｄと劣化変動ΔＤdとの関係を示す特性図
【図９】 ムラ度合muraと表示ムラΔＤmuraとの関係を示す特性図
【図１０】 階調特性生成部の構成図
【図１１】 変換テーブルの説明図
【図１２】 変換データの階調特性図
【図１３】 有機ＥＬ素子の発熱に伴う階調低下の説明図
【図１４】 第１の実施形態にかかる電流ＤＡＣの構成図
【図１５】 変換データと補正データとの関係を示す図
【図１６】 階調補正部におけるデータ補正の特性図
【図１７】 第１の実施形態の概略的な特徴の説明図
【図１８】 第２の実施形態にかかる電流ＤＡＣの構成図
【図１９】 第２の実施形態の概略的な特徴の説明図
【図２０】 第３の実施形態の概略的な特徴の説明図
【図２１】 第３の実施形態にかかる画素の駆動タイミングチャート
【図２２】 第３の実施形態にかかる画素の駆動タイミングチャート
【符号の説明】
１ 表示部
２ 画素
３ 走査線駆動回路
４ データ線駆動回路
５ 照度検出部
６ 温度検出部
７ 劣化度合検出部
８ 演算部
９ 階調特性生成部
１０ 駆動期間制御部
４０ Ｘシフトレジスタ
４１ 回路ユニット
４２，４４ スイッチ群
４３ 第１のラッチ回路
４５ 第２のラッチ回路
４６ 電流ＤＡＣ
４６ａ データ信号生成部
４６ｂ 補正値生成部
４６ｃ 階調補正部
４６ｄ 駆動電圧補正部
OLED 有機ＥＬ素子
Ｔ1〜Ｔ4 トランジスタ
ＳＷ スイッチングトランジスタ
ＤＲ，ＤＲ2 駆動トランジスタ
Ｃ キャパシタ
【発明の属する技術分野】
本発明は、電気光学装置、電気光学装置の駆動方法および電子機器に係り、特に、画素の階調を規定する表示データの補正処理に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、外乱要素に起因した表示品質の低下を抑制すべく、補正機能を備えた電気光学装置が知られている。例えば、特許文献１には、表示パネル内に設けられた複数の温度センサによって、有機ＥＬ素子の発熱に伴う温度変動を検出し、これに応じて、表示パネルの駆動補正を行う技術が開示されている。
【０００３】
【特許文献１】
特開２００２−１７５０４６号公報。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、表示品質に影響を及ぼす外乱要素としては、上述した温度要素以外にも様々なものがある。例えば、電気光学装置の使用時における周囲照度、画素中に含まれる電気光学素子の経時劣化、或いは、表示パネルの製造ばらつき等に起因した表示ムラといった如くである。
【０００５】
そこで、本発明の目的は、複数の外乱要素に対応した補正処理を行うことによって、表示品質の安定化を図ることである。
【０００６】
また、本発明の別の目的は、かかる補正処理の高速化を図ることである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
かかる課題を解決するために、第１の発明は、入力される表示データと出力される変換データとの対応関係が記述され、少なくとも一つの第１の補正要素が記述内容に反映された変換テーブルを参照することによって、画素の階調を規定する前記表示データから、前記表示データの階調特性を変形させた階調特性を有する前記変換データを生成する階調特性生成部と、前記階調特性生成部とは異なる種類の処理を用いて、前記第１の補正要素とは異なる少なくとも一つの第２の補正要素によって、前記変換データの階調特性を補正した上で、前記画素を駆動する画素駆動部とを有し、前記第２の補正要素は、前記電気光学装置の周囲温度変動、前記画素中に含まれる電気光学素子の劣化変動、および、前記画素がマトリクス状に並んだ表示部の表示ムラのうちの少なくとも一つを含み、前記第２の補正要素が複数存在する場合において、前記画素駆動部は、前記複数の第２の補正要素に基づいて補正値を算出する補正値生成部を含むとともに、当該補正値生成部によって算出された前記補正値に基づいて、前記画素の駆動を行う電気光学装置を提供する。
【０００８】
ここで、第１の発明において、画素駆動部は、階調特性生成部における表示データの階調特性の変形よりも微細なレベルで、変換データの階調特性を補正することが好ましい。
【０００９】
第２の発明は、入力される表示データと出力される変換データとの対応関係が記述され、少なくとも一つの第１の補正要素が記述内容に反映された変換テーブルを参照することによって、画素の階調を規定する前記表示データの階調特性を疎調整した前記変換データを生成する階調特性生成部と、前記第１の補正要素とは異なる少なくとも一つの第２の補正要素に基づいて、前記疎調整よりも微細なレベルで前記変換データの階調特性を微調整した上で、前記画素を駆動する画素駆動部とを有し、前記第２の補正要素は、前記電気光学装置の周囲温度変動、前記画素中に含まれる電気光学素子の劣化変動、および、前記画素がマトリクス状に並んだ表示部の表示ムラのうちの少なくとも一つを含み、前記第２の補正要素が複数存在する場合において、前記画素駆動部は、前記複数の第２の補正要素に基づいて補正値を算出する補正値生成部を含むとともに、当該補正値生成部によって算出された前記補正値に基づいて、前記画素の駆動を行う電気光学装置を提供する。
【００１０】
ここで、第１または第２の発明において、階調特性生成部は、記述内容が互いに異なる複数の変換テーブルを有し、第１の補正要素に応じて、複数の変換テーブルのいずれかを参照対象として選択することが好ましい。
【００１１】
第１または第２の発明において、画素駆動部は、第２の補正要素に基づいて、変換データを補正することによって、補正データを生成する階調補正部と、補正データに基づいて、画素に供給するデータ信号を生成するデータ信号生成部とを含んでいてもよい。この場合、階調補正部は、変換データと第２の補正要素との論理演算によって、補正データを生成することが好ましい。また、別の構成として、画素駆動部は、変換データに基づいて、画素に供給するデータ信号を生成するデータ信号生成部を含み、データ信号生成部は、第２の補正要素に基づいて、データ信号をアナログ補正してもよい。さらに、別の構成として、画素駆動部は、変換データに基づいて、画素に供給するデータ信号を生成するデータ信号生成部と、第２の補正要素に基づいて、画素中に含まれる電気光学素子の輝度の設定が行われる駆動期間を可変に制御する駆動期間制御部とを含んでいてもよい。これらの構成において、画素が自己を流れる電流によって輝度が設定される電気光学素子を含む場合、データ信号生成部は、データ信号を電流ベースで生成することが好ましい。
【００１２】
第１または第２の発明において、第１の補正要素は、電気光学装置の周囲照度変動、および、画素中に含まれる電気光学素子の自己発熱温度変動のうちの少なくとも一つを含むことが好ましい。この場合、電気光学装置の周囲照度を検出する照度検出部をさらに設けて、照度検出部によって検出された周囲照度に基づいて、周囲照度変動を算出してもよい。
【００１３】
第１または第２の発明において、第２の補正要素は、電気光学装置の周囲温度変動、画素中に含まれる電気光学素子の劣化変動、および、画素がマトリクス状に並んだ表示部の表示ムラのうちの少なくとも一つを含むことが好ましい。この場合、電気光学装置の周囲温度を検出する温度検出部をさらに設けて、温度検出部によって検出された周囲温度に基づいて、周囲温度変動を算出してもよい。また、画素中に含まれる電気光学素子の劣化度合を検出する劣化度合検出部をさらに設けて、劣化度合検出部によって検出された劣化度合に基づいて、劣化変動を算出してもよい。また、第２の補正要素が複数存在する場合において、画素駆動部は、複数の第２の補正要素に基づいて補正値を算出する補正値生成部を含むとともに、補正値生成部によって算出された補正値に基づいて、画素の駆動を行うことが好ましい。この補正値生成部は、複数の第２の補正要素の論理演算によって、補正値を算出することが望ましい。
【００１４】
第３の発明は、入力される表示データと出力される変換データとの対応関係が記述され、画素中に含まれる電気光学素子の自己発熱温度変動が記述内容に反映された変換テーブルを参照することによって、画素の階調を規定する表示データから、表示データの階調特性を変形させた階調特性を有する変換データを生成する階調特性生成部と、変換データに基づいて、画素を駆動する画素駆動部とを有する電気光学装置を提供する。
【００１５】
第４の発明は、上述した第１から第３の発明のいずれかにかかる電気光学装置を実装した電子機器を提供する。
【００１６】
第５の発明は、入力される表示データと出力される変換データとの対応関係が記述され、少なくとも一つの第１の補正要素が記述内容に反映された変換テーブルを参照することによって、画素の階調を規定する前記表示データから、前記表示データの階調特性を変形させた階調特性を有する前記変換データを生成する第１のステップと、前記第１のステップとは異なる種類の処理を用いて、前記第１の補正要素とは異なる少なくとも一つの第２の補正要素によって、前記変換データの階調特性を補正した上で、前記画素を駆動する第２のステップとを有し、前記第２の補正要素は、前記電気光学装置の周囲温度変動、前記画素中に含まれる電気光学素子の劣化変動、および、前記画素がマトリクス状に並んだ表示部の表示ムラのうちの少なくとも一つを含み、前記第２の補正要素が複数存在する場合において、前記第２のステップは、前記複数の第２の補正要素に基づいて補正値を算出するステップと、前記補正値に基づいて、前記画素の駆動を行うステップとを含む電気光学装置の駆動方法を提供する。
【００１７】
ここで、第５の発明において、第２のステップは、第１のステップにおける表示データの階調特性の変形よりも微細なレベルで、変換データの階調特性を補正するステップを含むことが好ましい。
【００１８】
第６の発明は、入力される表示データと出力される変換データとの対応関係が記述され、少なくとも一つの第１の補正要素が記述内容に反映された変換テーブルを参照することによって、画素の階調を規定する前記表示データの階調特性を疎調整した前記変換データを生成する第１のステップと、前記第１の補正要素とは異なる少なくとも一つの第２の補正要素に基づいて、前記疎調整よりも微細なレベルで前記変換データの階調特性を微調整した上で、前記画素を駆動する第２のステップとを有し、前記第２の補正要素は、前記電気光学装置の周囲温度変動、前記画素中に含まれる電気光学素子の劣化変動、および、前記画素がマトリクス状に並んだ表示部の表示ムラのうちの少なくとも一つを含み、前記第２の補正要素が複数存在する場合において、前記第２のステップは、前記複数の第２の補正要素に基づいて補正値を算出するステップと、前記補正値に基づいて、前記画素の駆動を行うステップとを含む電気光学装置の駆動方法を提供する。
【００１９】
ここで、第５または第６の発明において、第１のステップは、記述内容が互いに異なる複数の変換テーブルのうち、第１の補正要素に応じて、いずれかを参照対象として選択するステップを含むことが好ましい。
【００２０】
第５または第６の発明において、第２のステップは、第２の補正要素に基づいて、変換データを補正することによって、補正データを生成するステップと、補正データに基づいて、画素に供給するデータ信号を生成するステップとを含むことが好ましい。ここで、補正データを生成するステップは、変換データと第２の補正要素との論理演算によって、補正データを生成するステップであってもよい。また、これに代えて、変換データに基づいて、画素に供給するデータ信号を生成するとともに、第２の補正要素に基づいて、データ信号をアナログ補正するステップであってもよい。さらに、これらに代えて、変換データに基づいて、画素に供給するデータ信号を生成するステップと、第２の補正要素に基づいて、画素中に含まれる電気光学素子の輝度の設定が行われる駆動期間を可変に制御するステップとを含むステップであってもよい。また、画素が自己を流れる電流によって輝度が設定される電気光学素子を含む場合、データ信号を生成するステップは、データ信号を電流ベースで生成するステップであることが好ましい。
【００２１】
第５または第６の発明において、第１の補正要素は、電気光学装置の周囲照度変動、および、画素中に含まれる電気光学素子の自己発熱温度変動のうちの少なくとも一つを含むことが好ましい。この場合、周囲照度変動は、照度検出部によって検出された電気光学装置の周囲照度に基づいて算出されることが好ましい。
【００２２】
第５または第６の発明において、第２の補正要素は、電気光学装置の周囲温度変動、画素中に含まれる電気光学素子の劣化変動、および、画素がマトリクス状に並んだ表示部の表示ムラのうちの少なくとも一つを含むことが好ましい。この場合、周囲温度変動は、温度検出部によって検出された電気光学装置の周囲温度に基づいて算出してもよい。また、劣化変動は、劣化度合検出部によって検出された画素中に含まれる電気光学素子の劣化度合に基づいて算出してもよい。さらに、第２の補正要素が複数存在する場合において、第２のステップは、複数の第２の補正要素に基づいて補正値を算出するステップと、補正値に基づいて、画素の駆動を行うステップとを含むことが好ましい。この場合、補正値を算出するステップは、複数の第２の補正要素の論理演算によって、補正値を算出するステップであってもよい。
【００２３】
第７の発明は、入力される表示データと出力される変換データとの対応関係が記述され、画素中に含まれる電気光学素子の自己発熱温度変動が記述内容に反映された変換テーブルを参照することによって、画素の階調を規定する表示データから、表示データの階調特性を変形させた階調特性を有する変換データを生成する第１のステップと、変換データに基づいて、画素を駆動する第２のステップとを有する電気光学装置の駆動方法を提供する。
【００２４】
【発明の実施の形態】
（第１の実施形態）
図１は、本実施形態にかかる電気光学装置のブロック構成図である。表示部１は、例えば、ＴＦＴ等の駆動素子によって電気光学素子を駆動するアクティブマトリクス型の表示パネルである。この表示部１には、ｍドット×ｎライン分の画素２がマトリクス状（二次元平面的）に並んでいる。また、表示部１には、それぞれが水平方向に延在している走査線群Ｙ1〜Ｙnと、それぞれが垂直方向に延在しているデータ線群Ｘ1〜Ｘmとが設けられており、これらの交差に対応して画素２が配置されている。本実施形態では、１つの画素２を画像の最小表示単位としているが、カラーパネルのように、１つの画素２をＲＧＢの３つのサブ画素で構成してもよい。なお、図１には、それぞれの画素２に対して所定の電圧Ｖdd，Ｖssを供給する電源線等が省略されている。
【００２５】
図２は、一例としての画素２の回路図である。１つの画素２は、有機ＥＬ素子OLED、４つのトランジスタＴ1〜Ｔ4、および、データを保持するキャパシタＣで構成されている。ダイオードとして表記された有機ＥＬ素子OLEDは、自己を流れる駆動電流Ｉoledによって輝度が設定される典型的な電流駆動型素子である。この画素回路では、ｎチャネル型のトランジスタＴ1，Ｔ2，Ｔ4とｐチャネル型のトランジスタＴ3とが用いられているが、これは一例にすぎず、これとは異なる組み合わせでチャネル型を設定してもよい。
【００２６】
トランジスタＴ1のゲートは、走査信号ＳＥＬが供給される１本の走査線Ｙに接続され、そのソースは、データ電流Ｉdataが供給される１本のデータ線Ｘに接続されている。このトランジスタＴ1のドレインは、トランジスタＴ2のソース、トランジスタＴ3のドレインおよびトランジスタＴ4のドレインに共通接続されている。トランジスタＴ2のゲートは、トランジスタＴ1と同様に、走査信号ＳＥＬが供給される走査線Ｙに接続されている。トランジスタＴ2のドレインは、キャパシタＣの一方の電極と、トランジスタＴ3のゲートとに共通接続されている。キャパシタＣの他方の電極とトランジスタＴ3のソースとには、電源電圧Ｖddが印加されている。この電源電圧Ｖddは、カラーパネルの場合には、ＲＧＢ毎に異なる値に設定されることが多い。その理由は、有機ＥＬ素子OLEDの材料がＲＧＢによって異なるため、これに起因した電気的特性の相違に対応するためである。駆動信号ＧＰがゲートに供給されたトランジスタＴ4は、トランジスタＴ3のドレインと有機ＥＬ素子OLEDのアノード（陽極）との間に設けられている。この有機ＥＬ素子OLEDのカソード（陰極）には、電源電圧Ｖddよりも低い基準電圧Ｖssが印加されている。なお、データを保持する回路要素としては、キャパシタＣ以外にも、多ビットのデータを記憶可能なメモリ（ＳＲＡＭ等）を用いることもできる。
【００２７】
図３は、図２に示した画素２の駆動タイミングチャートである。走査線Ｙ1〜Ｙnの線順次走査によって、ある画素２の選択が開始されるタイミングをｔ0とし、この画素２の選択が次に開始されるタイミングをｔ2とする。この期間ｔ0〜ｔ2は、前半のプログラミング期間ｔ0〜ｔ1と、後半の駆動期間ｔ1〜ｔ2とに分けられる。
【００２８】
プログラミング期間ｔ0〜ｔ1では、キャパシタＣに対するデータの書き込みが行われる。まず、タイミングｔ0において、走査信号ＳＥＬが高レベル（以下「Ｈレベル」という）に立ち上がり、スイッチング素子として機能するトランジスタＴ1，Ｔ2が共にオン（導通）する。これにより、データ線ＸとトランジスタＴ3のドレインとが電気的に接続されるとともに、トランジスタＴ3は、自己のゲートと自己のドレインとが電気的に接続されたダイオード接続となる。トランジスタＴ3は、データ線Ｘより供給されたデータ電流Ｉdataを自己のチャネルに流し、このデータ電流Ｉdataに応じた電圧がゲート電圧Ｖgとして発生する。トランジスタＴ3のゲートに接続されたキャパシタＣには、発生したゲート電圧Ｖgに応じた電荷が蓄積され、蓄積された電荷量に相当するデータが書き込まれる。
【００２９】
プログラミング期間ｔ0〜ｔ1において、トランジスタＴ3は、自己のチャネルを流れるデータ信号に基づいて、キャパシタＣに対するデータの書き込みを行うプログラミングトランジスタとして機能する。また、駆動信号ＧＰが低レベル（以下「Ｌレベル」という）に維持されているため、トランジスタＴ4はオフ（非導通）のままである。したがって、有機ＥＬ素子OLEDに対する駆動電流Ｉoledの経路はトランジスタＴ4によって遮断され、有機ＥＬ素子OLEDは発光しない。
【００３０】
続く駆動期間ｔ1〜ｔ2では、駆動電流Ｉoledが有機ＥＬ素子OLEDを流れて、有機ＥＬ素子OLEDの輝度の設定が行われる。まず、タイミングｔ1において、走査信号ＳＥＬがＬレベルに立ち下がり、トランジスタＴ1，Ｔ2が共にオフする。これにより、データ電流Ｉdataが供給されるデータ線ＸとトランジスタＴ3のドレインとが電気的に分離され、トランジスタＴ3のゲートとドレインとの間も電気的に分離される。トランジスタＴ3のゲートには、キャパシタＣの蓄積電荷に応じたゲート電圧Ｖgが印加され続ける。タイミングｔ1における走査信号ＳＥＬの立ち下がりと同期（同一タイミングであるとは限らない）して、それ以前はＬレベルだった駆動信号ＧＰがＨレベルに立ち上がる。これにより、電源電圧Ｖddから基準電圧Ｖssに向かって、トランジスタＴ3，Ｔ4と有機ＥＬ素子OLEDとを介した駆動電流Ｉoledの経路が形成される。有機ＥＬ素子OLEDを流れる駆動電流Ｉoledは、トランジスタＴ3のチャネル電流に相当し、その電流レベルは、キャパシタＣの蓄積電荷に起因したゲート電圧Ｖgによって制御される。
【００３１】
駆動期間ｔ1〜ｔ2において、トランジスタＴ3は、有機ＥＬ素子OLEDに駆動電流Ｉoledを供給する駆動トランジスタとして機能し、有機ＥＬ素子OLEDは、この駆動電流Ｉoledに応じた輝度で発光する。
【００３２】
走査線駆動回路３およびデータ線駆動回路４は、図示しない制御回路による制御下において、互いに協働して表示部１の表示制御を行う。走査線駆動回路３は、シフトレジスタ、出力回路等を主体に構成されており、走査線Ｙ1〜Ｙnに走査信号ＳＥＬを出力することによって、走査線Ｙ1〜Ｙnを所定の選択順序で順番に選択する線順次走査を行う。走査信号ＳＥＬは、ＨレベルまたはＬレベルの２値的な信号レベルをとり、データの書込対象となる画素行（１水平ライン分の画素群）に対応する走査線ＹはＨレベル、これ以外の走査線ＹはＬレベルにそれぞれ設定される。そして、１垂直走査期間（１Ｆ）において、所定の選択順序で、それぞれの画素行が順番に選択されていく。なお、走査線駆動回路３は、走査信号ＳＥＬ以外に、図２に示したトランジスタＴ4を導通制御する駆動信号ＧＰ（またはそのベース信号）も出力する。この駆動信号ＧＰによって、駆動期間、すなわち、画素２中に含まれる有機ＥＬ素子OLEDの輝度の設定が行われる期間が設定される。
【００３３】
データ線駆動回路４は、走査線駆動回路３による線順次走査と同期して、それぞれのデータ線Ｘ1〜Ｘmに対する信号の供給を電流ベースで行う。図４は、データ線駆動回路４の構成図である。このデータ線駆動回路４は、ｍビットのＸシフトレジスタ４０およびデータ線単位で設けられたｍ個の回路ユニット４１で構成されている。Ｘシフトレジスタ４０は、１水平走査期間（１Ｈ）の最初に供給されるスタートパルスＳＴをクロック信号ＣＬＸにしたがって転送し、ラッチ信号Ｓ1，Ｓ2，Ｓ3，・・・，Ｓmのレベルを順次排他的にＨレベルに設定する。
【００３４】
ｍ個の回路ユニット４１は、ある１Ｈでデータを書き込む画素行に対する電流ベースの信号の一斉出力と、次の１Ｈで書き込みを行う画素行に関するデータの点順次的なラッチとを同時に行う。単一の回路ユニット４１は、データＤcvt（Ｄ0〜Ｄ5）のビット単位で設けられた６つのスイッチの集合であるスイッチ群４２，４４、第１のラッチ回路４３、第２のラッチ回路４５および電流ＤＡＣ４６で構成されている。データ線Ｘ1〜Ｘmに対応する個々の回路ユニット４１の動作は、ラッチ信号Ｓ1，Ｓ2，Ｓ3，・・・，ＳmによるデータＤ0〜Ｄ5の取り込みタイミングが異なる点を除けば同様である。すなわち、最前段のスイッチ群４２は、対応するラッチ信号ＳがＨレベルになることによってオンする。これにより、ラッチ信号Ｓが規定する取り込みタイミングで、６ビットデータＤ0〜Ｄ5が第１のラッチ回路４３に取り込まれる。第１のラッチ回路４３にラッチされたデータＤ0〜Ｄ5は、ラッチパルスＬＰがＨレベルになってスイッチ群４４がオンした時点で、第２のラッチ回路４５に転送される。それとともに、第１のラッチ回路４３には、スイッチ群４２を介して、次の１ＨにおけるデータＤ0〜Ｄ5が新たにラッチされる。
【００３５】
電流ＤＡＣ４６は、第２のラッチ回路４５にラッチされた６ビットのデジタルデータＤ0〜Ｄ5をＤ／Ａ変換し、アナログ信号であるデータ電流Ｉdataを生成し、これを対応するデータ線Ｘに供給する。電流ＤＡＣ４６は、次に述べる補正系回路の一部である画素駆動部として機能し、これを実現する上で必要な回路が付加されているが、その具体的な回路構成については後述する。
【００３６】
なお、データ線駆動回路４に対してフレームメモリ等（図示せず）から直接データを線順次的に入力する構成でも本発明を適用できるが、その場合においても本発明の主眼とする部分の動作は同様である。このような構成にした場合には、データ線駆動回路４にシフトレジスタを設ける必要がなくなる。
【００３７】
本実施形態では、回路要素５〜１０と、電流ＤＡＣ４６の付加回路とで構成される補正系回路が設けられており、この回路によって、複数の外乱要素に対応した補正が統合的に行われる。補正項目となる外乱要素は５つあり、それぞれの外乱要素を補正する補正要素がΔＤta，ΔＤtl，ΔＤlx，ΔＤd，ΔＤmuraとなる。
【００３８】
周囲温度変動ΔＤtaは、電気光学装置の使用環境の温度、すなわち、周囲温度Ｔaの変動を補正する補正要素である。一般に、周囲温度Ｔaが変動すると、有機ＥＬ素子OLEDの駆動電圧や発光効率等も変動する。したがって、この温度領域全体で表示品質の安定化を図るためには、外乱要素である周囲温度Ｔaの影響を考慮した補正を行うことが好ましい。図５は、一例としての周囲温度Ｔaと周囲温度変動ΔＤtaとの関係を示す特性図である。有機ＥＬ素子OLEDの温度−輝度特性がＲＧＢ毎に異なる点に鑑み、周囲温度変動ΔＤtaは、ＲＧＢ毎に個別に設定されている。Ｂ（青）については、周囲温度Ｔaの増加にともない周囲温度変動ΔＤtaが線形的に増加しており、Ｒ（赤）およびＧ（緑）については、周囲温度Ｔaの増加にともない周囲温度変動ΔＤtaが線形的に減少している。
【００３９】
周囲温度変動ΔＤtaに応じた補正は、電気光学装置の内蔵センサとして設けられた温度検出部６で表示部１近傍の周囲温度Ｔaを検出することにより、リアルタイムで行われる。演算部８は、温度検出部６によって検出された周囲温度Ｔaを入力とした演算処理を行って、画素２の階調設定の際に加味すべき補正値を算出し、これを周囲温度変動ΔＤtaとしてデータ線駆動回路４に出力する。この演算処理は、例えば、図５のような特性が記述された変換テーブルを参照して、入力値Ｔaから出力値ΔＤtaを求めるテーブル参照処理（Look Up Table処理）が想定されるが、これ以外の処理方法であってもよい。なお、この補正単位は、周囲温度Ｔaの影響が表示部１全体に作用する点に鑑み、表示部１全体である。
【００４０】
温度検出部６としては、特開２００２−９８５９４号公報に開示されているように、温度センサが搭載された半導体チップを用いてもよく、特開２００２−１２２８３８号公報に開示されているように、表示部１の基板上に形成された温度検出素子（ＰＮ接合の温度に対する電圧変化を検出する素子）を用いることも可能である。
【００４１】
なお、周囲温度Ｔaの検出精度を確保するという観点でいえば、表示部１の周囲温度が偏在していない方がよい。そこで、冷却ファン、或いは、特開平１１−９５８７２号公報や特開平１１−２５１７７７号公報に開示されているような高熱伝導材等を用いて、電気光学装置より発生する熱を有効に放熱し、周囲の温度を均一化させることが好ましい。
【００４２】
自己発熱温度変動ΔＤtlは、有機ＥＬ素子OLEDの発光に伴う発熱温度Ｔlの変動を補正する補正要素である。一般に、有機ＥＬ素子OLEDの発光輝度が高くなるほど、有機ＥＬ素子OLEDの発熱温度も高くなる。したがって、この発熱温度領域全体で表示品質の安定化を図るためには、外乱要素である発熱温度Ｔlの影響を考慮した補正を行うことが好ましい。図６は、一例としての発熱温度Ｔlと自己発熱温度変動ΔＤtlとの関係を示す特性図である。自己発熱温度変動ΔＤtlは、ＲＧＢ毎に個別に設定されているが、いずれも発熱温度Ｔlの増加にともない非線形的に増加している。
【００４３】
画素２の階調と発熱温度Ｔlとの関係は、実験やシミュレーション等を通じて予め知得されている。この知得を前提として、自己発熱温度変動ΔＤtlは、階調特性生成部９が備える変換テーブルの設定値として折り込み済みである。つまり、変換テーブルの記述内容自体が、例えば、図６のような特性を反映したものになっている。この場合、自己発熱温度変動ΔＤtlに応じた補正を行うために、センサ類を用いる必要はない。なお、この補正単位は、基本的には画素毎であるが、ある画素２の発熱量が周辺画素へも拡散するケースを想定する場合には、周辺画素を含めたブロック単位にしてもよい。
【００４４】
周囲照度変動ΔＤlxは、電気光学装置の使用環境における明るさ、すなわち、周囲照度Ｌxの変動を補正する補正要素である。一般に、外光の程度に応じて、見映えのよい表示を行う上で最適な有機ＥＬ素子OLEDの発光輝度が変わってくる。例えば、明るい外光下での使用時には、通常の表示状態よりも発光輝度を明るくし、高コントラスト化した方が視認性が向上する。これに対して、暗い屋内での使用時には、通常の表示状態では明るすぎるため、発光輝度を多少暗くした方が視認性が向上する。したがって、この照度領域全体において安定した視認性を得るためには、外乱要素である周囲照度Ｌxの影響を考慮した補正を行うことが好ましい。図７は、一例としての周囲照度Ｌxと周囲照度変動ΔＤlxとの関係を示す特性図である。周囲照度変動ΔＤlxについては、他の補正要素とは異なりＲＧＢ共通に設定され、周囲照度Ｌxの増加にともない非線形的に増加している。
【００４５】
周囲照度変動ΔＤlxに応じた補正は、電気光学装置の内蔵センサとして設けられた照度検出部５で表示部１近傍の周囲照度Ｌxを検出することにより、リアルタイムで行われる。演算部８は、照度検出部５によって検出された周囲照度Ｌxを入力とした演算処理を行って、画素２の階調設定の際に加味すべき補正値を算出し、これを周囲照度変動ΔＤlxとして階調特性生成部９に出力する。この演算処理は、例えば、図７のような特性が記述された変換テーブルを参照して、入力値Ｌxから出力値ΔＤlxを求めるＬＵＴ処理が想定されるが、これ以外の処理方法であってもよい。なお、この補正単位は、周囲照度Ｌxの影響が表示部１全体に作用する点に鑑み、表示部１全体である。
【００４６】
照度検出部５としては、例えば、特開２０００−６６６２４号公報に開示されているように、外光の強度を検出する照度センサを用いることができる。なお、周囲照度Ｌxの検出精度を確保するという観点でいえば、表示部１の自己発光の影響を受けないように、自己発光を遮蔽する構造的な工夫を表示部１に設けることが好ましい。
【００４７】
劣化変動ΔＤdは、有機ＥＬ素子OLEDの劣化度合ｄによる変動を補正する補正要素である。一般に、有機ＥＬ素子OLEDの劣化が進むにしたがい、有機ＥＬ素子OLEDの駆動電圧や発光効率等が低下していく。したがって、時間軸領域全体で表示品質の安定化を図るためには、外乱要素である劣化度合ｄの影響を考慮した補正を行うことが好ましい。図８は、一例としての劣化度合ｄと劣化変動ΔＤdとの関係を示す特性図である。劣化度合ｄがＲＧＢ毎に異なる点に鑑み、劣化変動ΔＤdもＲＧＢ毎に個別に設定されているが、いずれも劣化度合ｄの増加にともない線形的に増加している。
【００４８】
劣化変動ΔＤdに応じた補正は、電気光学装置の内蔵センサとして設けられた劣化度合検出部７で劣化度合ｄを検出することにより、リアルタイムで行われる。演算部８は、劣化度合検出部７によって検出された劣化度合ｄを入力とした演算処理を行って、画素２の階調設定の際に加味すべき補正値を算出し、これを劣化変動ΔＤdとしてデータ線駆動回路４に出力する。この演算処理は、例えば、図８のような特性が記述された変換テーブルを参照して、入力値ｄから出力値ΔＤdを求めるＬＵＴ処理が想定されるが、これ以外の処理方法を用いてもよい。
【００４９】
劣化度合検出部７としては、例えば、電気光学装置が今まで動作した累積時間を計測するタイマ、或いは、フレームメモリに今まで蓄積された表示データの累積数を計測するカウンタ等を用いることができる。この場合、補正単位は表示部１全体となる。また、このような時間軸ベースで劣化度合ｄを推定する手法に代えて、有機ＥＬ素子OLEDの発光状態ベースで劣化度合ｄを推定してもよい。例えば、ＣＣＤセンサやＣＭＯＳセンサ等の輝度センサを用いて、有機ＥＬ素子OLEDの発光輝度を画素単位で検出し、本来の輝度に対する実際の輝度の低下分から劣化度合ｄを推定するといった如くである。この場合の補正単位は、画素毎となる。
【００５０】
このような輝度センサの具体的な構成については、特開平９−２３７８８７号公報や特開平１１−３４５９５７号公報に開示されている他、電気光学装置に開閉可能なフタを設け、表示部１と対向するフタの内面（対向面）にＣＣＤセンサ等を設けてもよい。
【００５１】
表示ムラΔＤmuraは、有機ＥＬ素子OLEDの駆動電圧、発光効率、色度等の相違に起因した表示部１のムラ度合muraを補正する補正要素である。図９は、一例としてのムラ度合muraと表示ムラΔＤmuraとの関係を示す特性図である。ＲＧＢ毎の特性の違いを考慮して、表示ムラΔＤmuraもＲＧＢ毎に個別に設定されているが、いずれもムラ度合muraの進行にともない線形的に増加している。
【００５２】
表示ムラΔＤmuraに応じた補正は、電気光学装置に外付けされる検査装置（図示せず）によってムラ度合muraを検出することで、製品出荷前に行われる。演算部８は、検査装置によって検出されたムラ度合muraを入力とした演算処理を行って、画素２の階調設定の際に加味すべき補正値を算出し、これを表示ムラΔＤmuraとしてデータ線駆動回路４に出力する。この演算処理は、例えば、図９のような特性が記述された変換テーブルを参照して、入力値muraから出力値ΔＤmuraを求めるＬＵＴ処理が想定されるが、これ以外の処理方法であってもよい。ムラ度合muraの検出を画素単位に行う場合、補正単位も画素毎になる。
【００５３】
なお、表示ムラΔＤmuraに応じた補正は、製品出荷前に行えば足り、その後の補正は必ずしも必要ではない。しかしながら、上述した輝度センサを用いてムラ度合muraをリアルタイムで検出し、表示ムラΔＤmuraに応じた補正をリアルタイムで行うことも可能である。
【００５４】
図１０は、階調特性生成部９の構成図である。階調特性生成部９は、入力された表示データＤの階調特性を疎調整することによって、変換データＤcvtを生成・出力する。ここでは、表示データＤの階調特性の形そのものを別の形に変形させるようなデータ変換が行われ、論理演算等での対応が容易ではない比較的大きな変形を伴うデータ変換（疎調整）を想定している。そのため、このような疎調整への対応が容易なＬＵＴ処理を採用している。表示データＤは、画素２の階調を規定するデジタル信号であり、一般的には、図示しない上位のフレームメモリからのデータである。この表示データＤは、階調に対して線形な値であることが多いが、階調特性生成部９は、表示データＤを非線形な値に加工する機能を有する。そのため、表示データＤが有するビット領域よりも大きなビット領域を準備しておく必要があり、本実施形態では、４ビットの表示データＤ（Ｄ0〜Ｄ3）に対して、６ビットの変換データＤcvt（Ｄ0〜Ｄ5）が生成される。
【００５５】
階調特性生成部９は、記述内容が互いに異なる複数の変換テーブルＬＵＴ1〜ＬＵＴ4を有する。図１１は、変換テーブルＬＵＴ1〜ＬＵＴ4の説明図である。また、図１２は、表示データＤのデータ変換によって生成される変換データＤcvtの階調特性図であり、横軸が表示データＤ、縦軸が変換データＤcvtをそれぞれ表している。それぞれの変換テーブルＬＵＴ1〜ＬＵＴ4は、４ビットの表示データＤ（入力値）と６ビットの変換データＤcvt（出力値）との対応関係が記述されている。変換データＤcvtは、表示データＤの階調特性とは異なり、表示データＤの線形性を非線形に変形させた階調特性になっており、表示データＤが高階調側に向かうに従い、変換データＤcvtが非線形に増加するように設定されている。
【００５６】
周囲照度変動ΔＤlxに応じた補正は、変換テーブルＬＵＴ1〜ＬＵＴ4の中から、いずれかを選択することによって実現される。ここで、変換テーブルＬＵＴ1〜ＬＵＴ4の特性を比較すると、ＬＵＴ1，ＬＵＴ2，ＬＵＴ3，ＬＵＴ4の順に、変換データＤcvtの増加率が大きくなっている。また、同一の表示データＤに対する変換データＤcvtは、この順序で高階調側にシフトする傾向があり、この傾向は、表示データＤが高階調になるほど顕著になる。これらの変換テーブルＬＵＴ1〜ＬＵＴ4の記述内容には、周囲照度変動ΔＤlxの影響が反映されている。
【００５７】
一例として、暗い屋内といった第１の使用状況には、演算部８よりΔＤlx＝０が指示されて、変換テーブルＬＵＴ1が選択される。そして、この変換テーブルＬＵＴ1の記述内容に応じて、表示データＤに対応する変換データＤcvtが出力される。例えば、表示データＤが”1000”（階調８）の場合には、”000010”（階調２）の変換データＤcvtが出力される。このデータ変換は、表示データＤに対して、本来の階調を大きく低下させる暗補正を施すことと等価である。また、第１の使用状況よりも若干明るい第２の使用状況（例えば、明るめの屋内使用時）には、ΔＤlx＝１が指示されて、変換テーブルＬＵＴ2が選択される。そして、この変換テーブルＬＵＴ2の記述内容に応じた変換データＤcvtが出力される。例えば、”1000”（階調８）の表示データＤに対して、”000110”（階調６）の変換データＤcvtが出力される。このデータ変換は、表示データＤに対して、階調を若干低下させる暗補正を施すことと等価である。また、第２の使用状況よりも明るい第３の使用状況（例えば、曇天での屋外使用時）には、ΔＤlx＝２となり、変換テーブルＬＵＴ3が参照対象として選択される。例えば、”1000”（階調８）の表示データＤに対して、”001110”（階調１４）の変換データＤcvtが出力される。このデータ変換は、表示データＤに対して、階調を若干高める明補正を施すことと等価である。さらに、第３の使用状況よりも明るい第４の使用状況（例えば、明るい外光下での屋外使用時）には、ΔＤlx＝３となり、変換テーブルＬＵＴ4が参照対象として選択される。例えば、”1000”（階調８）の表示データＤに対して、”011000”（階調２４）の変換データＤcvtが出力される。このデータ変換は、表示データＤに対して、階調を大きく高める明補正を施すことと等価である。
【００５８】
一方、それぞれの変換テーブルＬＵＴ1〜ＬＵＴ4の記述内容には、周囲照度変動ΔＤlxのみならず、自己発熱温度変動ΔＤtlも反映されている。一般に、発光に伴い有機ＥＬ素子OLED自体が発熱し、発光効率が低下することが知られている。そのため、図１３に示すように、実線で示した実際の階調（見かけ上の階調特性）は、点線で示した本来の階調よりも低下する。そこで、このような階調ズレを予め見越した上で、変換テーブルＬＵＴ1〜ＬＵＴ4の記述内容を設定しておく。これにより、有機ＥＬ素子OLEDの発熱に伴う階調ズレが補正されたデータが、変換データＤcvtとして出力される。
【００５９】
図１４は、本実施形態にかかる電流ＤＡＣ４６の構成図である。この電流ＤＡＣ４６は、画素２に供給するデータ信号を電流ベースで生成するデータ信号生成部４６ａを主体とし、これに補正値生成部４６ｂと階調補正部４６ｃとを追加した構成を有する。補正値生成部４６ｂは、比較的単純な加減乗除の演算を行う演算回路で構成されており、演算部８からの３つの補正要素ΔＤta，ΔＤd，ΔＤmuraに基づいて、これらを統合した代表値として補正値Ｋ（補正係数ａ，ｂのセット）を生成する。同図の構成では、周囲温度変動ΔＤtaの値がそのまま補正係数ａとなり、劣化変動ΔＤdと表示ムラΔＤmuraとを加算した値が補正係数ｂとなる。なお、補正値Ｋ（ａ，ｂ）の算出は、加減乗除の組み合わせ程度の比較的単純な論理演算を想定しているが、より複雑な論理演算によって行うことも可能である。
【００６０】
階調補正部４６ｃは、補正値Ｋ（ａ，ｂ）に基づいて、階調特性生成部９より出力された変換データＤcvtに所定の演算を施して、補正データＤamdを出力する。ここでは、変換データＤcvtの階調特性を大きく変形させるのではなく、全階調に対して一括に所定の補正処理を施す。この補正処理は、加減乗除の組み合わせ程度の比較的単純な論理演算を想定しているが、より複雑な論理演算であってもよい。これにより、変換データＤcvtの基本的な階調特性を維持しながら、階調特性生成部９における階調特性の変形よりも微細なレベルで、階調特性の補正を行う微調整が行われる。本実施形態では、Ｄamd＝ａ・Ｄcvt＋ｂの線形的な演算によって、６ビットの変換データＤcvtを拡張して、８ビットの補正データＤamdを算出している。図１５は、一例として、ａ＝010，ｂ＝110の場合における変換データＤcvt（入力値）と補正データＤamd（出力値）との関係を示す図である。また、図１６は、階調補正部４６ｃにおけるデータ補正の特性図である。
【００６１】
データ信号生成部４６ａは、データ線Ｘと基準電圧Ｖssとの間に設けられており、互いに直列接続されたスイッチングトランジスタＳＷと駆動トランジスタＤＲとのペアを補正データＤamdのビット数分（すなわち８つ）有する。それぞれの駆動トランジスタＤＲは、自己の利得係数βに応じた電流をチャネルに流す定電流源として機能し、そのゲートには所定の駆動電圧Ｖbaseが共通に印加されている。これらの駆動トランジスタＤＲの利得係数βの比は、補正データＤamdを構成する８ビットの重みに対応して、１：２：４：８：１６：３２：６４：１２８に設定されている。また、８つのスイッチングトランジスタＳＷの導通状態は、８ビットの補正データＤamd（Ｄ0〜Ｄ7）の内容に応じて設定され、導通したものに対応する駆動トランジスタＤＲにおいて、利得係数βに応じたチャネル電流が生じる。データ線Ｘに供給されるデータ電流Ｉdataは、それぞれの駆動トランジスタＤＲを流れるチャネル電流の合計値となる。
【００６２】
このように、本実施形態によれば、複数の外乱要素に対応した補正を統合的に行うことができる。図１７に示すように、本実施形態では、表示データＤからデータ電流Ｉdataを生成する過程において、種類の異なる２つの補正処理が行われる。まず、階調特性生成部９では、ＬＵＴ処理によって、２つの補正要素ΔＤlx，ΔＤtlを加味した補正が行われ、表示データＤより変換データＤcvtが生成される。このＬＵＴ処理ベースでの補正によって、周囲照度Ｌxおよび発熱温度Ｔlという２つの外乱要素の影響が有効に低減され、表示データＤの階調特性を変形させた階調特性を有する変換データＤcvtが出力される。また、画素駆動部の一部を構成する階調補正部４６ｃでは、論理演算によって、３つの補正要素ΔＤd，ΔＤmura，ΔＤtaを加味した補正が行われ、変換データＤcvtより補正データＤamdが生成される。この論理演算ベースでの補正によって、劣化度合ｄ、ムラ度合muraおよび周囲温度Ｔaという３つの外乱要素の影響が有効に低減され、変換データの階調特性を補正した補正データＤamdが出力される。そして、画素駆動部の一部を構成するデータ信号生成部４６ａにおいて、補正データＤamdよりデータ電流Ｉdataが生成され、これに基づいて画素２の駆動が行われる。このように、５つの補正要素ΔＤlx，ΔＤtl，ΔＤd，ΔＤmura，ΔＤtaを統合的に加味した上で、データ電流Ｉdataを生成することにり、複数の外乱要素の影響を有効に低減できるので、表示品質の安定化を図ることが可能になる。
【００６３】
また、本実施形態によれば、ＬＵＴ処理による疎調整と論理演算による微調整とを併用することで、表示データＤに関する一連の補正処理を高速に行うことができる。一般に、ＬＵＴ処理は、階調特性を大きく変形させるような疎調整に適している反面、入力数の増大にともない変換テーブルＬＵＴの記述内容が膨大になり、処理速度の低下を招き易いという不都合がある。これとは逆に、論理演算は、このような疎調整には向かない反面、入力数に関わりなく、高速処理が可能であるという利点がある。そこで、本実施形態では、対応すべき補正要素を、階調特性自体を変形させる疎調整にて対応する疎調整要素ΔＤlx，ΔＤtlと、疎調整よりも微細なレベルの変形にて対応する微調整要素ΔＤd，ΔＤmura，ΔＤtaとに分類している。そして、前者については、ＬＵＴ処理を用いた疎調整にて対応し、後者については、論理演算を用いて、疎調整よりも微細なレベルの微調整にて対応する。これにより、すべての補正要素をＬＵＴ処理にて対応する場合と比較して、変換テーブルＬＵＴの記述内容を著しく低減できる。その結果、表示データＤの一連の補正処理の高速化を図ることができ、リアルタイムでの対応が可能になる。
【００６４】
さらに、本実施形態では、自己発熱温度変動ΔＤtlの特性を実験やシミュレーション等を通じて予め取得しておき、記述内容にこれを反映した変換テーブルＬＵＴを作成する。そして、この変換テーブルＬＵＴを参照することによって、表示データＤから変換データＤcvtを生成している。これにより、有機ＥＬ素子OLEDの発光時における発熱温度を温度センサ等で直接検出する必要がなくなる。その結果、表示部１の回路規模の増大を抑制でき、かつ、センサの検出精度の問題等も解消できるという効果がある。
【００６５】
なお、本実施形態では、周囲照度変動ΔＤlxおよび自己発熱温度変動ΔＤtlの双方を微調整要素とした例について説明したが、これらの少なくとも一つを微調整要素にしてもよい。同様に、周囲温度変動ΔＤta、劣化変動ΔＤdおよび表示ムラΔＤmuraのすべてを疎調整要素として例について説明したが、これらの少なくとも一つを疎調整要素にしてもよい。また、本発明は、例示した５つの補正要素以外のものを考慮した補正処理に対しても広く適用可能である。
【００６６】
また、本実施形態では、複数の微調整要素ΔＤd，ΔＤmura，ΔＤtaを統合すべく、これらの代表値としての補正値Ｋを算出する補正値生成部４６ｂを設けている。したがって、微調整要素が１つの場合には、補正値生成部４６ｂを設けなくてもよい。
【００６７】
さらに、本発明が適用可能な画素回路の構成は、上述した実施形態に限定されるものではなく、例えば、特表２００２−５１４３０号公報に開示されている画素回路も含めて広く適用可能である。また、本発明の適用範囲は、電流プログラム方式の画素回路に限定されるものではなく、データ線Ｘに対するデータの出力を電圧ベースで行う「電圧プログラム方式」を用いた画素回路に対して同様に適用可能である。
【００６８】
以上の３つの変形例は、以下に述べる第２の実施形態および第３の実施形態についても同様に該当する。
【００６９】
（第２の実施形態）
図１８は、第２の実施形態にかかる電流ＤＡＣ４６の構成図である。この電流ＤＡＣ４６は、画素２に供給するデータ信号を電流ベースで生成するデータ信号生成部４６ａを主体とし、これに補正値生成部４６ｂと駆動電圧補正部４６ｄとを追加した構成を有する。図１４の構成例との相違点は、データ信号生成部４６ａの構成が若干異なる点、および、階調補正部４６ｃの代わりに駆動電圧補正部４６ｄを設けた点である。それ以外に関しては、図１４の回路要素と同一であるから、同一の符号を付してここでの説明を省略する。
【００７０】
データ信号生成部４６ａは、データ線Ｘと基準電圧Ｖssとの間に設けられており、互いに直列接続されたスイッチングトランジスタＳＷと駆動トランジスタＤＲとのペアを変換データＤcvtのビット数分（すなわち６つ）有する。６つの駆動トランジスタＤＲは、変換データＤcvtを構成する６ビットの重みに対応して、１：２：４：８：１６：３２に利得係数βの比が設定されており、これらのゲートには第１の駆動電圧Ｖbase1が共通に印加されている。また、６つのスイッチングトランジスタＳＷの導通状態は、階調特性生成部９からの変換データＤcvt（Ｄ0〜Ｄ5）の内容に応じて設定され、導通したものに対応する駆動トランジスタＤＲにおいて、利得係数βに応じたチャネル電流が生じる。さらに、データ線Ｘと基準電圧Ｖssとの間には、ｋ・β（ｋは自然数）の利得係数を有する駆動トランジスタＤＲ2が追加されており、このゲートには第２の駆動電圧Ｖbase2が印加されている。
【００７１】
駆動電圧補正部４６ｄは、補正値生成部４６ｂからの補正値Ｋ（ａ，ｂ）に基づいて、第１の駆動電圧Ｖbase1と第２の駆動電圧Ｖbase2とを可変に設定する。第１の駆動電圧Ｖbase1は、補正係数ａに応じて設定され、その電圧は補正係数ａの増大にともない大きくなる。第２の駆動電圧Ｖbase2は、補正係数ｂに応じて設定され、その電圧値は補正係数ｂの増大にともない大きくなる。駆動トランジスタＤＲ，ＤＲ2のチャネル電流は、駆動電圧Ｖbase1，Ｖbase2によって微調整され、これによって、データ電流Ｉdataがアナログ的に補正される。
【００７２】
図１９は、本実施形態の概略的な特徴の説明図である。本実施形態では、表示データＤからデータ電流Ｉdataを生成する過程において、種類の異なる２つの補正処理が行われる。まず、階調特性生成部９では、ＬＵＴ処理によって、２つの補正要素ΔＤlx，ΔＤtlを加味した補正が行われ、表示データＤより変換データＤcvtが生成される。また、画素駆動部に相当するデータ信号生成部４６ａでは、変換データＤcvtよりデータ電流Ｉdataが生成される。駆動トランジスタＤＲ，ＤＲ2のチャネル電流は、３つの補正要素ΔＤd，ΔＤmura，ΔＤtaに応じて変化するため、データ電流Ｉdataがアナログ的に微調整される。画素２は、このようにしてアナログ補正されたデータ電流Ｉdataによって駆動する。
【００７３】
このように、５つの補正要素ΔＤlx，ΔＤtl，ΔＤd，ΔＤmura，ΔＤtaを統合的に加味した上で、データ電流Ｉdataを生成することによって、複数の外乱要素の影響を低減でき、表示品質の安定化を図ることが可能になる。それとともに、ＬＵＴ処理による疎調整とアナログ処理による微調整とを併用することで、表示データＤに関する一連の補正処理を高速に行うことができる。
【００７４】
（第３の実施形態）
図２０は、第３の実施形態の概略的な特徴の説明図である。本実施形態では、階調特性生成部９のＬＵＴ処理によって、２つの補正要素ΔＤlx，ΔＤtlを加味した補正が行われ、表示データＤより変換データＤcvtが生成される。画素駆動部の一部を構成するデータ信号生成部４６ａは、３つの補正要素ΔＤd，ΔＤmura，ΔＤtaを考慮することなく、変換データＤcvtからデータ電流Ｉdataを直接生成し、これをデータ線Ｘを介して画素２に供給する。
【００７５】
一方、画素駆動部の一部を構成する駆動期間制御部１０は、３つの補正要素ΔＤd，ΔＤmura，ΔＤtaを考慮した上で、図２に示した画素２の駆動期間を制御する。図２１は、一例としての画素２の駆動タイミングチャートである。走査信号ＳＥＬの立ち下がりタイミングｔ1と駆動信号ＧＰの立ち上がりタイミングとの間に、遅延時間Δｔを設定し、この遅延時間Δｔを補正値Ｋ（ａ，ｂ）によって可変に制御する。これにより、有機ＥＬ素子OLEDが発光するオン時間ｔonが特定され、有機ＥＬ素子OLEDの輝度が決定される。図２２は、別の一例としての画素２の駆動タイミングチャートである。期間ｔ1〜ｔ2において、駆動信号ＧＰをインパルス状に設定し、画素２中に含まれる有機ＥＬ素子OLEDを発光させるオン期間ｔonと発光させないオフ期間ｔoffとを交互に設定する。有機ＥＬ素子OLEDの発光輝度は、期間ｔ2〜ｔ3に占めるオン期間ｔonのデューティ比によって決定される。また、時間軸変調方式の一種であるサブフィールド駆動によって、駆動期間を制御してもよい。周知のように、サブフィールド駆動では、所定の期間（例えば１フレーム）を分割することにより規定される複数のサブフィールドを用いて、画素の階調表示が行われる。
【００７６】
このように、本実施形態では、２つの補正要素ΔＤlx，ΔＤtlを加味した上でデータ電流Ｉdataを生成するとともに、３つの補正要素ΔＤd，ΔＤmura，ΔＤtaを加味した上で画素２の駆動時間を可変に制御する。これにより、上述した各実施形態と同様に、複数の外乱要素の影響を低減でき、表示品質の安定化を図ることが可能になる。それとともに、ＬＵＴ処理による疎調整と駆動時間ベースでの微調整とを併用することで、表示データＤに関する一連の補正処理を高速に行うことができる。
【００７７】
なお、上述した各実施形態では、電気光学素子として有機ＥＬ素子OLEDを用いた構成について説明した。しかしながら、本発明はこれに限定されるものではなく、液晶（ＬＣ）、無機ＬＥＤ、デジタルマイクロミラーデバイス（ＤＭＤ）、或いは、プラズマ発光や電子放出による蛍光等を用いた様々な電気光学素子に対しても広く適用可能である。
【００７８】
さらに、上述した各実施形態に係る電気光学装置は、例えば、テレビ受像機、プロジェクタ、ビューワ、携帯電話、携帯端末、携帯ゲーム機、電子書籍、ビデオカメラ、デジタルスチルカメラ、カーナビゲーション、カーステレオ、モバイルコンピュータ、パーソナルコンピュータ、プリンタ、スキャナ、ＰＯＳ、ビデオプレーヤ表示機能付ファックス装置、電子案内板、工作機械や輸送車両等の運転操作パネル等を含む様々な電子機器に広く実装可能である。これらの電子機器に上述した電気光学装置を実装すれば、電子機器の商品価値を一層高めることができ、市場における電子機器の商品訴求力の向上を図ることができる。
【００７９】
【発明の効果】
本発明によれば、複数の外乱要素に対応した補正を統合的に行うことにより、電気光学装置の表示品質を安定化できる。それとともに、ＬＵＴ処理による疎調整と、ＬＵＴ処理とは異なる種類の処理による微調整とを併用することによって、補正処理の高速化を図ることが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 電気光学装置のブロック構成図
【図２】 画素の回路図
【図３】 画素の駆動タイミングチャート
【図４】 データ線駆動回路の構成図
【図５】 周囲温度Ｔaと周囲温度変動ΔＤtaとの関係を示す特性図
【図６】 発熱温度Ｔlと自己発熱温度変動ΔＤtlとの関係を示す特性図
【図７】 周囲照度Ｌxと周囲照度変動ΔＤlxとの関係を示す特性図
【図８】 劣化度合ｄと劣化変動ΔＤdとの関係を示す特性図
【図９】 ムラ度合muraと表示ムラΔＤmuraとの関係を示す特性図
【図１０】 階調特性生成部の構成図
【図１１】 変換テーブルの説明図
【図１２】 変換データの階調特性図
【図１３】 有機ＥＬ素子の発熱に伴う階調低下の説明図
【図１４】 第１の実施形態にかかる電流ＤＡＣの構成図
【図１５】 変換データと補正データとの関係を示す図
【図１６】 階調補正部におけるデータ補正の特性図
【図１７】 第１の実施形態の概略的な特徴の説明図
【図１８】 第２の実施形態にかかる電流ＤＡＣの構成図
【図１９】 第２の実施形態の概略的な特徴の説明図
【図２０】 第３の実施形態の概略的な特徴の説明図
【図２１】 第３の実施形態にかかる画素の駆動タイミングチャート
【図２２】 第３の実施形態にかかる画素の駆動タイミングチャート
【符号の説明】
１ 表示部
２ 画素
３ 走査線駆動回路
４ データ線駆動回路
５ 照度検出部
６ 温度検出部
７ 劣化度合検出部
８ 演算部
９ 階調特性生成部
１０ 駆動期間制御部
４０ Ｘシフトレジスタ
４１ 回路ユニット
４２，４４ スイッチ群
４３ 第１のラッチ回路
４５ 第２のラッチ回路
４６ 電流ＤＡＣ
４６ａ データ信号生成部
４６ｂ 補正値生成部
４６ｃ 階調補正部
４６ｄ 駆動電圧補正部
OLED 有機ＥＬ素子
Ｔ1〜Ｔ4 トランジスタ
ＳＷ スイッチングトランジスタ
ＤＲ，ＤＲ2 駆動トランジスタ
Ｃ キャパシタ
Claims (29)
- 電気光学装置において、
入力される表示データと出力される変換データとの対応関係が記述され、少なくとも一つの第１の補正要素が記述内容に反映された変換テーブルを参照することによって、画素の階調を規定する前記表示データから、前記表示データの階調特性を変形させた階調特性を有する前記変換データを生成する階調特性生成部と、
前記階調特性生成部とは異なる種類の処理を用いて、前記第１の補正要素とは異なる少なくとも一つの第２の補正要素によって、前記変換データの階調特性を補正した上で、前記画素を駆動する画素駆動部と
を有し、
前記第２の補正要素は、前記電気光学装置の周囲温度変動、前記画素中に含まれる電気光学素子の劣化変動、および、前記画素がマトリクス状に並んだ表示部の表示ムラのうちの少なくとも一つを含み、
前記第２の補正要素が複数存在する場合において、
前記画素駆動部は、前記複数の第２の補正要素に基づいて補正値を算出する補正値生成部を含むとともに、当該補正値生成部によって算出された前記補正値に基づいて、前記画素の駆動を行うことを特徴とする電気光学装置。 - 前記画素駆動部は、前記階調特性生成部における前記表示データの階調特性の変形よりも微細なレベルで、前記変換データの階調特性を補正することを特徴とする請求項１に記載された電気光学装置。
- 電気光学装置において、
入力される表示データと出力される変換データとの対応関係が記述され、少なくとも一つの第１の補正要素が記述内容に反映された変換テーブルを参照することによって、画素の階調を規定する前記表示データの階調特性を疎調整した前記変換データを生成する階調特性生成部と、
前記第１の補正要素とは異なる少なくとも一つの第２の補正要素に基づいて、前記疎調整よりも微細なレベルで前記変換データの階調特性を微調整した上で、前記画素を駆動する画素駆動部と
を有し、
前記第２の補正要素は、前記電気光学装置の周囲温度変動、前記画素中に含まれる電気光学素子の劣化変動、および、前記画素がマトリクス状に並んだ表示部の表示ムラのうちの少なくとも一つを含み、
前記第２の補正要素が複数存在する場合において、
前記画素駆動部は、前記複数の第２の補正要素に基づいて補正値を算出する補正値生成部を含むとともに、当該補正値生成部によって算出された前記補正値に基づいて、前記画素の駆動を行うことを特徴とする電気光学装置。 - 前記階調特性生成部は、記述内容が互いに異なる複数の前記変換テーブルを有し、前記第１の補正要素に応じて、前記複数の変換テーブルのいずれかを参照対象として選択することを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載された電気光学装置。
- 前記画素駆動部は、
前記第２の補正要素に基づいて、前記変換データを補正することによって、補正データを生成する階調補正部と、
前記補正データに基づいて、前記画素に供給するデータ信号を生成するデータ信号生成部と
を含むことを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載された電気光学装置。 - 前記階調補正部は、前記変換データと前記第２の補正要素との論理演算によって、前記補正データを生成することを特徴とする請求項５に記載された電気光学装置。
- 前記画素駆動部は、
前記変換データに基づいて、前記画素に供給するデータ信号を生成するデータ信号生成部を含み、
当該データ信号生成部は、前記第２の補正要素に基づいて、前記データ信号をアナログ補正することを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載された電気光学装置。 - 前記画素駆動部は、
前記変換データに基づいて、前記画素に供給するデータ信号を生成するデータ信号生成部と、
前記第２の補正要素に基づいて、前記画素中に含まれる電気光学素子の輝度の設定が行われる駆動期間を可変に制御する駆動期間制御部と
を含むことを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載された電気光学装置。 - 前記画素は、自己を流れる電流によって輝度が設定される電気光学素子を含み、前記データ信号生成部は、前記データ信号を電流ベースで生成することを特徴とする請求項５から８のいずれかに記載された電気光学装置。
- 前記第１の補正要素は、前記電気光学装置の周囲照度変動、および、前記画素中に含まれる電気光学素子の自己発熱温度変動のうちの少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項１から９のいずれかに記載された電気光学装置。
- 前記電気光学装置の周囲照度を検出する照度検出部をさら に有し、
前記周囲照度変動は、前記照度検出部によって検出された前記周囲照度に基づいて算出されることを特徴とする請求項１０に記載された電気光学装置。 - 前記電気光学装置の周囲温度を検出する温度検出部をさらに有し、
前記周囲温度変動は、前記温度検出部によって検出された前記周囲温度に基づいて算出されることを特徴とする請求項１又は３に記載された電気光学装置。 - 前記画素中に含まれる電気光学素子の劣化度合を検出する劣化度合検出部をさらに有し、
前記劣化変動は、前記劣化度合検出部によって検出された前記劣化度合に基づいて算出されることを特徴とする請求項１又は３に記載された電気光学装置。 - 前記補正値生成部は、前記複数の第２の補正要素の論理演算によって、前記補正値を算出することを特徴とする請求項１又は３に記載された電気光学装置。
- 請求項１から１４のいずれかに記載された電気光学装置を実装したことを特徴とする電子機器。
- 電気光学装置の駆動方法において、
入力される表示データと出力される変換データとの対応関係が記述され、少なくとも一つの第１の補正要素が記述内容に反映された変換テーブルを参照することによって、画素の階調を規定する前記表示データから、前記表示データの階調特性を変形させた階調特性を有する前記変換データを生成する第１のステップと、
前記第１のステップとは異なる種類の処理を用いて、前記第１の補正要素とは異なる少なくとも一つの第２の補正要素によって、前記変換データの階調特性を補正した上で、前記画素を駆動する第２のステップと
を有し、
前記第２の補正要素は、前記電気光学装置の周囲温度変動、前記画素中に含まれる電気光学素子の劣化変動、および、前記画素がマトリクス状に並んだ表示部の表示ムラのうちの少なくとも一つを含み、
前記第２の補正要素が複数存在する場合において、
前記第２のステップは、前記複数の第２の補正要素に基づいて補正値を算出するステップと、前記補正値に基づいて、前記画素の駆動を行うステップとを含むことを特徴とする電気光学装置の駆動方法。 - 前記第２のステップは、前記第１のステップにおける前記表示データの階調特性の変形よりも微細なレベルで、前記変換データの階調特性を補正するステップを含むことを特徴とする請求項１６に記載された電気光学装置の駆動方法。
- 電気光学装置の駆動方法において、
入力される表示データと出力される変換データとの対応関係が記述され、少なくとも一つの第１の補正要素が記述内容に反映された変換テーブルを参照することによって、画素の階調を規定する前記表示データの階調特性を疎調整した前記変換データを生成する第１のステップと、
前記第１の補正要素とは異なる少なくとも一つの第２の補正要素に基づいて、前記疎調整よりも微細なレベルで前記変換データの階調特性を微調整した上で、前記画素を駆動する第２のステップと
を有し、
前記第２の補正要素は、前記電気光学装置の周囲温度変動、前記画素中に含まれる電気光学素子の劣化変動、および、前記画素がマトリクス状に並んだ表示部の表示ムラのうちの少なくとも一つを含み、
前記第２の補正要素が複数存在する場合において、
前記第２のステップは、前記複数の第２の補正要素に基づいて補正値を算出するステップと、前記補正値に基づいて、前記画素の駆動を行うステップとを含むことを特徴とする電気光学装置の駆動方法。 - 前記第１のステップは、記述内容が互いに異なる複数の前記変換テーブルのうち、前記第１の補正要素に応じて、いずれかを参照対象とし て選択するステップを含むことを特徴とする請求項１６から１８のいずれかに記載された電気光学装置の駆動方法。
- 前記第２のステップは、
前記第２の補正要素に基づいて、前記変換データを補正することによって、補正データを生成するステップと、
前記補正データに基づいて、前記画素に供給するデータ信号を生成するステップと
を含むことを特徴とする請求項１６から１８のいずれかに記載された電気光学装置の駆動方法。 - 前記補正データを生成するステップは、前記変換データと前記第２の補正要素との論理演算によって、前記補正データを生成するステップであることを特徴とする請求項２０に記載された電気光学装置の駆動方法。
- 前記第２のステップは、
前記変換データに基づいて、前記画素に供給するデータ信号を生成するステップを含み、
当該ステップにおいて、前記第２の補正要素に基づいて、前記データ信号をアナログ補正することを特徴とする請求項１６から１８のいずれかに記載された電気光学装置の駆動方法。 - 前記第２のステップは、
前記変換データに基づいて、前記画素に供給するデータ信号を生成するステップと、
前記第２の補正要素に基づいて、前記画素中に含まれる電気光学素子の輝度の設定が行われる駆動期間を可変に制御するステップと
を含むことを特徴とする請求項１６から１８のいずれかに記載された電気光学装置の駆動方法。 - 前記画素は、自己を流れる電流によって輝度が設定される電気光学素子を含み、前記データ信号を生成するステップは、前記データ信号を電流ベースで生成するステップであることを特徴とする請求項２０から２３のいずれかに記載された電気光学装置の駆動方法。
- 前記第１の補正要素は、前記電気光学装置の周囲照度変動、および、前記画素中に含まれる電気光学素子の自己発熱温度変動のうちの少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項１６から２４のいずれかに記載された電気光学装置の駆動方法。
- 前記周囲照度変動は、照度検出部によって検出された前記電気光学装置の周囲照度に基づいて算出されることを特徴とする請求項２５に記載された電気光学装置の駆動方法。
- 前記周囲温度変動は、温度検出部によって検出された前記電気光学装置の周囲温度に基づいて算出されることを特徴とする請求項１６又は１８に記載された電気光学装置の駆動方法。
- 前記劣化変動は、劣化度合検出部によって検出された前記画素中に含まれる電気光学素子の劣化度合に基づいて算出されることを特徴とする請求項１６又は１８に記載された電気光学装置の駆動方法。
- 前記補正値を算出するステップは、前記複数の第２の補正要素の論理演算によって、前記補正値を算出するステップであることを特徴とする請求項１６又は１８に記載された電気光学装置の駆動方法。
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