JPH06314977A - 電流出力型デジタル/アナログ変換回路 - Google Patents
電流出力型デジタル/アナログ変換回路Info
- Publication number
- JPH06314977A JPH06314977A JP10255193A JP10255193A JPH06314977A JP H06314977 A JPH06314977 A JP H06314977A JP 10255193 A JP10255193 A JP 10255193A JP 10255193 A JP10255193 A JP 10255193A JP H06314977 A JPH06314977 A JP H06314977A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- current
- resistor
- circuit
- mirror circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】基準電流源から入力する電流値に関係なく出力
端子から出力する電流の可変範囲を任意に設定でき、微
少な範囲の可変にも対応できる。 【構成】基準電流源の電流をカレントミラー回路を介し
て、電流−電圧変換回路に入力し基準電位供給点を作
り、n個のビットで構成するデジタル入力信号により基
準電流源をもとに作られた電流をR−2R抵抗ラダー回
路のn個の重み付け端子に入力し、出力電圧を制御す
る。この出力電圧は、電圧−電流変換回路により電流と
して出力端子より出力する電流出力型デジタル/アナロ
グ変換回路。
端子から出力する電流の可変範囲を任意に設定でき、微
少な範囲の可変にも対応できる。 【構成】基準電流源の電流をカレントミラー回路を介し
て、電流−電圧変換回路に入力し基準電位供給点を作
り、n個のビットで構成するデジタル入力信号により基
準電流源をもとに作られた電流をR−2R抵抗ラダー回
路のn個の重み付け端子に入力し、出力電圧を制御す
る。この出力電圧は、電圧−電流変換回路により電流と
して出力端子より出力する電流出力型デジタル/アナロ
グ変換回路。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はデジタル/アナログ変換
回路に関し、特に電流出力型デジタル/アナログ変換回
路に関する。
回路に関し、特に電流出力型デジタル/アナログ変換回
路に関する。
【0002】一般に、電流出力型デジタル/アナログ変
換回路として入力された基準電流をもとにし、デジタル
入力信号で出力電流を制御する回路がある。
換回路として入力された基準電流をもとにし、デジタル
入力信号で出力電流を制御する回路がある。
【0003】従来の電流出力型デジタル/アナログ変換
回路の一例を図2に示す。
回路の一例を図2に示す。
【0004】図において同一形状のトランジスタ36と
トランジスタ37,同一抵抗値の抵抗38と抵抗39で
構成し、抵抗38と抵抗39の一方の端子は電源端子に
接続した第1のカレントミラー回路で、前記カレントミ
ラー回路の入力は基準電流源1に接続し、出力は第2の
カレントミラー回路の入力に接続する。
トランジスタ37,同一抵抗値の抵抗38と抵抗39で
構成し、抵抗38と抵抗39の一方の端子は電源端子に
接続した第1のカレントミラー回路で、前記カレントミ
ラー回路の入力は基準電流源1に接続し、出力は第2の
カレントミラー回路の入力に接続する。
【0005】第2のカレントミラー回路は、カレントミ
ラー回路の入力となるトランジスタ40と抵抗45を通
し接地し、第1の出力はトランジスタ40と同一のトラ
ンジスタ41と抵抗45と同一抵抗値の抵抗46とデジ
タル入力信号の第1のビットで制御するスイッチ20で
接地した回路で構成する基準電流源と同じ電流を出力
し、第2の出力はトランジスタ40の2倍の面積のトラ
ンジスタ42と抵抗45の1/2の値の抵抗47とデジ
タル入力信号の第2のビットで制御するスイッチ21で
接地した回路で構成し、基準電流源の2倍の電流を出力
し、第3の出力はトランジスタ40の4倍の面積を持つ
トランジスタ43と抵抗45の1/4の抵抗値の抵抗4
8とデジタル入力信号の第3のビットで制御するスイッ
チ22で接地した回路で構成し基準電流源の4倍の電流
を出力し、同様に第nの出力はトランジスタ40の2
n-1 倍の面積を持つトランジスタ44と抵抗45の2
n-1 分の1の抵抗値の抵抗49とデジタル入力信号の第
nのビットで制御するスイッチ23で接地した回路で構
成し基準電流源の2n-1 倍の電流を出力する回路で構成
し、第2のカレントミラー回路の第1の出力から第nの
出力までを全てに接続する出力端子を有している。
ラー回路の入力となるトランジスタ40と抵抗45を通
し接地し、第1の出力はトランジスタ40と同一のトラ
ンジスタ41と抵抗45と同一抵抗値の抵抗46とデジ
タル入力信号の第1のビットで制御するスイッチ20で
接地した回路で構成する基準電流源と同じ電流を出力
し、第2の出力はトランジスタ40の2倍の面積のトラ
ンジスタ42と抵抗45の1/2の値の抵抗47とデジ
タル入力信号の第2のビットで制御するスイッチ21で
接地した回路で構成し、基準電流源の2倍の電流を出力
し、第3の出力はトランジスタ40の4倍の面積を持つ
トランジスタ43と抵抗45の1/4の抵抗値の抵抗4
8とデジタル入力信号の第3のビットで制御するスイッ
チ22で接地した回路で構成し基準電流源の4倍の電流
を出力し、同様に第nの出力はトランジスタ40の2
n-1 倍の面積を持つトランジスタ44と抵抗45の2
n-1 分の1の抵抗値の抵抗49とデジタル入力信号の第
nのビットで制御するスイッチ23で接地した回路で構
成し基準電流源の2n-1 倍の電流を出力する回路で構成
し、第2のカレントミラー回路の第1の出力から第nの
出力までを全てに接続する出力端子を有している。
【0006】次に、従来例の動作について説明する。
【0007】n個のビットで構成するデジタル入力信号
を各々のスイッチに入力し、第1のビットの信号のみが
Hになるとスイッチ20がONして出力端子に基準電流
源と同じ電流が流れ、第2のビットの信号のみがHにな
るとスイッチ21がONして出力端子に基準電流源の2
倍の電流が流れ、第1のビットと第2のビットが同時に
ONすれば出力端子に基準電流源の3倍の電流が流れ
る。同様にn個のビットの全てがONすれば2n −1倍
の電流が出力端子に流れるデジタル/アナログ変換回路
である。
を各々のスイッチに入力し、第1のビットの信号のみが
Hになるとスイッチ20がONして出力端子に基準電流
源と同じ電流が流れ、第2のビットの信号のみがHにな
るとスイッチ21がONして出力端子に基準電流源の2
倍の電流が流れ、第1のビットと第2のビットが同時に
ONすれば出力端子に基準電流源の3倍の電流が流れ
る。同様にn個のビットの全てがONすれば2n −1倍
の電流が出力端子に流れるデジタル/アナログ変換回路
である。
【0008】したがって出力端子に流れる電流をIOUT
とし、基準電流源の電流値をIrefとすると次式で表
わすことができる。
とし、基準電流源の電流値をIrefとすると次式で表
わすことができる。
【0009】IOUT =Iref (Z1 +2Z2 +4Z3 +
…+2n-1 Zn ) Zn は第nのビットがON時1、OFF時0を代入す
る。
…+2n-1 Zn ) Zn は第nのビットがON時1、OFF時0を代入す
る。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】この従来の電流出力型
デジタル/アナログ変換回路では、基準電流源の電流値
を元に整数倍の電流値の制御しかできず、可変範囲を任
意に選べず、また可変する電流値は基準電流源の電流値
により限定される問題がある。
デジタル/アナログ変換回路では、基準電流源の電流値
を元に整数倍の電流値の制御しかできず、可変範囲を任
意に選べず、また可変する電流値は基準電流源の電流値
により限定される問題がある。
【0011】又、出力電流のリニアリティを得る為に
は、カレントミラー回路を構成するトランジスタの面積
比が重要となり、デジタル入力信号のビットが多くなる
とカレントミラー回路を構成するトランジスタが指数的
に増加し、又微少な範囲を可変する為には、基準電流源
の電流値が少なくする必要があり、カレントミラー回路
を構成する抵抗値が大きくなると言う問題がある。
は、カレントミラー回路を構成するトランジスタの面積
比が重要となり、デジタル入力信号のビットが多くなる
とカレントミラー回路を構成するトランジスタが指数的
に増加し、又微少な範囲を可変する為には、基準電流源
の電流値が少なくする必要があり、カレントミラー回路
を構成する抵抗値が大きくなると言う問題がある。
【0012】次に実際の値を入れて詳細に説明すると、
4個のビットのデジタル入力信号により出力電流値を1
5μAから30μAの間で可変する電流入力−電流出力
型デジタル/アナログ変換回路を考える。
4個のビットのデジタル入力信号により出力電流値を1
5μAから30μAの間で可変する電流入力−電流出力
型デジタル/アナログ変換回路を考える。
【0013】4個のビットのデジタル入力信号は16ス
テップの設定となる為、可変する電流値を可変ステップ
で割ると1ステップ当り1μAの変化が必要となり、こ
れを基準電流源の電流値とするが、このままだと0μA
から15μAまでの可変しかできない為、基準電流源以
外に15μAの電流源を出力端子に接続する必要があ
り、この2個目の電流源を使用することにより15μA
から30μAまでの可変が可能となる。
テップの設定となる為、可変する電流値を可変ステップ
で割ると1ステップ当り1μAの変化が必要となり、こ
れを基準電流源の電流値とするが、このままだと0μA
から15μAまでの可変しかできない為、基準電流源以
外に15μAの電流源を出力端子に接続する必要があ
り、この2個目の電流源を使用することにより15μA
から30μAまでの可変が可能となる。
【0014】次にカレントミラー回路を構成する抵抗値
について考えると、ICの内部で使用する場合、トラン
ジスタや抵抗のバラツキを考えると抵抗の両端に発生す
る電圧を0.3V程度に設定する必要があり、基準電流
源の電流値が1μAとすると第1のカレントミラー回路
では300KΩの抵抗が2本必要となる。
について考えると、ICの内部で使用する場合、トラン
ジスタや抵抗のバラツキを考えると抵抗の両端に発生す
る電圧を0.3V程度に設定する必要があり、基準電流
源の電流値が1μAとすると第1のカレントミラー回路
では300KΩの抵抗が2本必要となる。
【0015】又、第2のカレントミラー回路でも300
KΩの抵抗が2本、150KΩの抵抗が1本、など高抵
抗値の抵抗が数多く必要となり、ICでの使用には無理
がある。
KΩの抵抗が2本、150KΩの抵抗が1本、など高抵
抗値の抵抗が数多く必要となり、ICでの使用には無理
がある。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明の電流出力型デジ
タル/アナログ変換回路は基準電流源を、2つの出力を
持つ第1のカレントミラー回路の入力となる第1のトラ
ンジスタのコレクタに接続し、前記第1のカレントミラ
ー回路を構成する3個のトランジスタのエミッタは抵抗
を介して電源端子に接続され、第1の出力は第1の増幅
器と第1の抵抗とで構成される電流−電圧変換回路の入
力に接続され、前記第1の抵抗は接地され基準電流と抵
抗値を乗算した電圧を発生し、増幅率1倍の第1の増幅
器を通してR−2R抵抗ラダー回路の等電位端子として
入力される。
タル/アナログ変換回路は基準電流源を、2つの出力を
持つ第1のカレントミラー回路の入力となる第1のトラ
ンジスタのコレクタに接続し、前記第1のカレントミラ
ー回路を構成する3個のトランジスタのエミッタは抵抗
を介して電源端子に接続され、第1の出力は第1の増幅
器と第1の抵抗とで構成される電流−電圧変換回路の入
力に接続され、前記第1の抵抗は接地され基準電流と抵
抗値を乗算した電圧を発生し、増幅率1倍の第1の増幅
器を通してR−2R抵抗ラダー回路の等電位端子として
入力される。
【0017】前記第1のカレントミラー回路の第2の出
力はn個の出力を持つ第2のカレントミラー回路の入力
となる第2のトランジスタのコレクタに接続され、前記
第2のカレントミラー回路の入力を構成する前記第2の
トランジスタのエミッタは第2の抵抗を介して接地さ
れ、第1の出力を構成する第3のトランジスタは第3の
抵抗とデジタル入力信号の第1のビットで制御する第1
のスイッチで接地し、第2の出力を構成する第4のトラ
ンジスタは第4の抵抗と前記デジタル入力信号の第2の
ビットで制御する第2のスイッチで接地し、同様に第n
の出力を構成する第5のトランジスタは第5の抵抗と前
記デジタル入力信号の第nのビットで制御する第nのス
イッチで接地され前記第2のカレントミラー回路の第1
の出力から第nの出力までは前記R−2R抵抗ラダー回
路のn個の重み付け端子に入力される。
力はn個の出力を持つ第2のカレントミラー回路の入力
となる第2のトランジスタのコレクタに接続され、前記
第2のカレントミラー回路の入力を構成する前記第2の
トランジスタのエミッタは第2の抵抗を介して接地さ
れ、第1の出力を構成する第3のトランジスタは第3の
抵抗とデジタル入力信号の第1のビットで制御する第1
のスイッチで接地し、第2の出力を構成する第4のトラ
ンジスタは第4の抵抗と前記デジタル入力信号の第2の
ビットで制御する第2のスイッチで接地し、同様に第n
の出力を構成する第5のトランジスタは第5の抵抗と前
記デジタル入力信号の第nのビットで制御する第nのス
イッチで接地され前記第2のカレントミラー回路の第1
の出力から第nの出力までは前記R−2R抵抗ラダー回
路のn個の重み付け端子に入力される。
【0018】前記R−2R抵抗ラダー回路の出力は第2
の増幅器の非反転入力に接続し、前記第2の増幅器は、
出力を第6のトランジスタのベースに入力し、前記第6
のトランジスタのエミッタは、前記第2の増幅器の反転
入力に接続するのと第6の抵抗を介して接地し、電圧−
電流変換回路を構成し、前記トランジスタのコレクタは
出力端子に接続する電圧−電流変換回路を備えている。
の増幅器の非反転入力に接続し、前記第2の増幅器は、
出力を第6のトランジスタのベースに入力し、前記第6
のトランジスタのエミッタは、前記第2の増幅器の反転
入力に接続するのと第6の抵抗を介して接地し、電圧−
電流変換回路を構成し、前記トランジスタのコレクタは
出力端子に接続する電圧−電流変換回路を備えている。
【0019】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【0020】図1は本発明の一実施例を示す回路図であ
る。
る。
【0021】基準電流源1の電流をトランジスタ2,
3,4と抵抗5,6,7で構成する2個の出力を持つ第
1のカレントミラー回路の入力に接続し、前記第1のカ
レントミラー回路の第1の出力より抵抗9と増幅器8で
構成する電流−電圧回路に入力して電圧に変換し、抵抗
24から抵抗29で構成するR−2R抵抗ラダー回路の
基準電圧とする。
3,4と抵抗5,6,7で構成する2個の出力を持つ第
1のカレントミラー回路の入力に接続し、前記第1のカ
レントミラー回路の第1の出力より抵抗9と増幅器8で
構成する電流−電圧回路に入力して電圧に変換し、抵抗
24から抵抗29で構成するR−2R抵抗ラダー回路の
基準電圧とする。
【0022】基準電流源1の電流値をIref とし、電流
−電圧回路の出力の電圧をVref とすると Vref =R9×Iref となる。
−電圧回路の出力の電圧をVref とすると Vref =R9×Iref となる。
【0023】次に、前記第1のカレントミラー回路の第
2の出力はトランジスタ10からトランジスタ14と抵
抗15から抵抗19で構成するn個の出力を持つ第2の
カレントミラー回路の入力に接続し、そのn個の出力は
デジタル入力信号で制御されるスイッチ20からスイッ
チ23によって前記R−2R抵抗ラダー回路へのn個の
コントロール電流端子に入力し、R−2R抵抗ラダー回
路の出力電圧を決める。
2の出力はトランジスタ10からトランジスタ14と抵
抗15から抵抗19で構成するn個の出力を持つ第2の
カレントミラー回路の入力に接続し、そのn個の出力は
デジタル入力信号で制御されるスイッチ20からスイッ
チ23によって前記R−2R抵抗ラダー回路へのn個の
コントロール電流端子に入力し、R−2R抵抗ラダー回
路の出力電圧を決める。
【0024】R−2R抵抗ラダー回路の基準抵抗値をR
とするとR−2R抵抗ラダー回路の出力電圧VR-2Rは VR-2R=Vref −R×Iref ×(Zn +…+Z2 /2
n-1 +Z1 /2n ) Zn は第nのビットがON時1、OFF時0を代入す
る。となる。
とするとR−2R抵抗ラダー回路の出力電圧VR-2Rは VR-2R=Vref −R×Iref ×(Zn +…+Z2 /2
n-1 +Z1 /2n ) Zn は第nのビットがON時1、OFF時0を代入す
る。となる。
【0025】R−2R抵抗ラダー回路の出力は増幅器3
0,トランジスタ31と抵抗32で構成する電圧−電流
回路の入力に接続され、トランジスタ31のコレクタは
出力端子に接続し電流出力型デジタル/アナログ変換回
路を構成する。
0,トランジスタ31と抵抗32で構成する電圧−電流
回路の入力に接続され、トランジスタ31のコレクタは
出力端子に接続し電流出力型デジタル/アナログ変換回
路を構成する。
【0026】この回路の出力電流Iout は次の式で求ま
る。
る。
【0027】IOUT =VR-2R/R32 =(R9/R32)Iref −(R/R32)Iref (Z
n +…+Z2/2n-1 +Z1 /2n ) 従来例で説明した、4個のビットのデジタル入力信号に
より、出力電流値を15μAから30μAの間で可変す
る電流出力型デジタル/アナログ変換回路を考える。
n +…+Z2/2n-1 +Z1 /2n ) 従来例で説明した、4個のビットのデジタル入力信号に
より、出力電流値を15μAから30μAの間で可変す
る電流出力型デジタル/アナログ変換回路を考える。
【0028】まず出力電流の最大電流値30μAは、次
の式で求まる。
の式で求まる。
【0029】Iout =(R9/R32)Iref ここで基準電流源の電流値を60μAとし、電流−電圧
変換回路の出力電圧を3.6Vとすると R9=60KΩ,R32=120KΩ となる。
変換回路の出力電圧を3.6Vとすると R9=60KΩ,R32=120KΩ となる。
【0030】次に出力電流の最小電流値15μAは、次
の式で求まる。
の式で求まる。
【0031】Iout =(R9/R32)Iref −(R/
R32)Iref (8/15) R=16KΩ となる。又カレントミラー回路を構成する抵抗は、5K
Ωとなり、ICでの使用でも問題ない値である。
R32)Iref (8/15) R=16KΩ となる。又カレントミラー回路を構成する抵抗は、5K
Ωとなり、ICでの使用でも問題ない値である。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、基準電流
源の電流値に関係なく、出力端子の電流値を決めること
ができる様にしたので、出力電流の可変範囲を任意に設
定することができ、又、デジタル入力信号のビット数が
増えても、微少な範囲の可変に対しても、トランジスタ
の個数や抵抗の値を小さくすることができ、IC化にお
いてチップの縮小に対して効果があるという結果を有す
る。
源の電流値に関係なく、出力端子の電流値を決めること
ができる様にしたので、出力電流の可変範囲を任意に設
定することができ、又、デジタル入力信号のビット数が
増えても、微少な範囲の可変に対しても、トランジスタ
の個数や抵抗の値を小さくすることができ、IC化にお
いてチップの縮小に対して効果があるという結果を有す
る。
【図1】本発明の実施例の回路図
【図2】従来の例の回路図
1 基準電流源 2〜4,10〜14,31,36〜37,40〜44
トランジスタ 5〜7,9,15〜19,24〜29,32,38,3
9,45〜49 抵抗 8,30 増幅器 20〜23 スイッチ 33 入力端子 34 電源端子 35 出力端子
トランジスタ 5〜7,9,15〜19,24〜29,32,38,3
9,45〜49 抵抗 8,30 増幅器 20〜23 スイッチ 33 入力端子 34 電源端子 35 出力端子
Claims (1)
- 【請求項1】 基準電流源を、2つの出力を持つ第1の
カレントミラー回路の入力に接続し、前記第1のカレン
トミラー回路の第1の出力は他端が接地された第1の抵
抗の一端と第1の増幅器の入力に接続し、該第1の増幅
器の出力を基準電位供給点となし、R−2R抵抗ラダー
回路の等電位端子を前記、基準電位供給点に接続し、前
記第1のカレントミラー回路の第2の出力は、n個の出
力を持つ第2のカレントミラー回路の入力に接続し、該
入力はエミッタが第2の抵抗を介して接地された第2の
トランジスタで構成され、前記第2のカレントミラー回
路の第1の出力を構成する第3のトランジスタは第3の
抵抗とデジタル入力信号の第1のビットで制御する第1
のスイッチを介して接地し、第2の出力を構成する第4
のトランジスタは第4の抵抗と前記デジタル入力信号の
第2のビットで制御する第2のスイッチを介して接地
し、同様に第nの出力を構成する第5のトランジスタは
第5の抵抗と前記デジタル入力信号の第nのビットで制
御する第nのスイッチを介して接地され、前記第2のカ
レントミラー回路の第1の出力から第nの出力までは前
記R−2R抵抗ラダー回路のn個の重み付け端子に入力
され、前記R−2R抵抗ラダー回路の出力は、第6のト
ランジスタのベースが出力に接続され、エミッタが他端
が接地された第6の抵抗の1端とともに反転入力に接続
された第2の増幅器の非反転入力に接続し、前記第6の
トランジスタのコレクタを電流出力端となすことを特徴
とした電流出力型デジタル/アナログ変換回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10255193A JPH06314977A (ja) | 1993-04-28 | 1993-04-28 | 電流出力型デジタル/アナログ変換回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10255193A JPH06314977A (ja) | 1993-04-28 | 1993-04-28 | 電流出力型デジタル/アナログ変換回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06314977A true JPH06314977A (ja) | 1994-11-08 |
Family
ID=14330386
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10255193A Withdrawn JPH06314977A (ja) | 1993-04-28 | 1993-04-28 | 電流出力型デジタル/アナログ変換回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06314977A (ja) |
Cited By (74)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000276108A (ja) * | 1999-03-24 | 2000-10-06 | Sanyo Electric Co Ltd | アクティブ型el表示装置 |
JP2002244618A (ja) * | 2000-12-15 | 2002-08-30 | Lg Philips Lcd Co Ltd | アクティブマトリックス電界発光素子の駆動回路 |
WO2003027998A1 (fr) * | 2001-09-25 | 2003-04-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Ecran electroluminescent et dispositif d'affichage electroluminescent comprenant celui-ci |
JP2003233347A (ja) * | 2001-08-02 | 2003-08-22 | Seiko Epson Corp | 画素へのプログラミング電流の供給 |
JP2003248459A (ja) * | 2002-01-09 | 2003-09-05 | Lg Electronics Inc | 電流書き込み型amoelディスプレイパネル用データ駆動回路 |
JP2003308044A (ja) * | 2002-02-14 | 2003-10-31 | Rohm Co Ltd | 有機el駆動回路および有機el表示装置 |
JP2004088158A (ja) * | 2002-08-22 | 2004-03-18 | Seiko Epson Corp | 電子回路、電気光学装置及び電子機器 |
WO2004100119A1 (ja) * | 2003-05-07 | 2004-11-18 | Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. | 電流出力型半導体回路、表示駆動用ソースドライバ、表示装置、電流出力方法 |
JP2004348026A (ja) * | 2003-05-26 | 2004-12-09 | Casio Comput Co Ltd | 電流生成供給回路及びその制御方法並びに電流生成供給回路を備えた表示装置 |
JP2005037915A (ja) * | 2003-06-25 | 2005-02-10 | Rohm Co Ltd | 有機el駆動回路およびこれを用いる有機el表示装置 |
JPWO2003091977A1 (ja) * | 2002-04-26 | 2005-09-02 | 東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社 | El表示パネルのドライバ回路 |
JP2007226258A (ja) * | 2002-04-26 | 2007-09-06 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | El表示パネルのドライバ回路 |
JP2007233398A (ja) * | 2002-04-26 | 2007-09-13 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | El表示パネルの駆動方法 |
JP2007256958A (ja) * | 2002-04-26 | 2007-10-04 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | El表示パネルの駆動方法 |
CN100353400C (zh) * | 2003-05-12 | 2007-12-05 | 松下电器产业株式会社 | 电流驱动装置及显示装置 |
JP2008257258A (ja) * | 2001-08-02 | 2008-10-23 | Seiko Epson Corp | 画素へのプログラミング電流の供給 |
US7446738B2 (en) | 2002-07-31 | 2008-11-04 | Seiko Epson Corporation | Electronic circuit, electro-optical device, and electronic apparatus |
WO2009128745A1 (ru) * | 2008-04-18 | 2009-10-22 | Korkin Vyacheslav Vasil Evich | Биполярное токовое зеркало с регулируемым коэффициентом передачи |
US7742019B2 (en) | 2002-04-26 | 2010-06-22 | Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. | Drive method of el display apparatus |
US7817149B2 (en) | 2002-04-26 | 2010-10-19 | Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. | Semiconductor circuits for driving current-driven display and display |
US8907991B2 (en) | 2010-12-02 | 2014-12-09 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for thermal compensation in AMOLED displays |
USRE45291E1 (en) | 2004-06-29 | 2014-12-16 | Ignis Innovation Inc. | Voltage-programming scheme for current-driven AMOLED displays |
US8922544B2 (en) | 2012-05-23 | 2014-12-30 | Ignis Innovation Inc. | Display systems with compensation for line propagation delay |
US8941697B2 (en) | 2003-09-23 | 2015-01-27 | Ignis Innovation Inc. | Circuit and method for driving an array of light emitting pixels |
US8994625B2 (en) | 2004-12-15 | 2015-03-31 | Ignis Innovation Inc. | Method and system for programming, calibrating and driving a light emitting device display |
US9059117B2 (en) | 2009-12-01 | 2015-06-16 | Ignis Innovation Inc. | High resolution pixel architecture |
US9093029B2 (en) | 2011-05-20 | 2015-07-28 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays |
US9093028B2 (en) | 2009-12-06 | 2015-07-28 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for power conservation for AMOLED pixel drivers |
US9111485B2 (en) | 2009-06-16 | 2015-08-18 | Ignis Innovation Inc. | Compensation technique for color shift in displays |
US9125278B2 (en) | 2006-08-15 | 2015-09-01 | Ignis Innovation Inc. | OLED luminance degradation compensation |
US9171500B2 (en) | 2011-05-20 | 2015-10-27 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extraction of parasitic parameters in AMOLED displays |
US9171504B2 (en) | 2013-01-14 | 2015-10-27 | Ignis Innovation Inc. | Driving scheme for emissive displays providing compensation for driving transistor variations |
US9275579B2 (en) | 2004-12-15 | 2016-03-01 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays |
US9280933B2 (en) | 2004-12-15 | 2016-03-08 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays |
US9305488B2 (en) | 2013-03-14 | 2016-04-05 | Ignis Innovation Inc. | Re-interpolation with edge detection for extracting an aging pattern for AMOLED displays |
US9311859B2 (en) | 2009-11-30 | 2016-04-12 | Ignis Innovation Inc. | Resetting cycle for aging compensation in AMOLED displays |
US9324268B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-04-26 | Ignis Innovation Inc. | Amoled displays with multiple readout circuits |
US9336717B2 (en) | 2012-12-11 | 2016-05-10 | Ignis Innovation Inc. | Pixel circuits for AMOLED displays |
US9343006B2 (en) | 2012-02-03 | 2016-05-17 | Ignis Innovation Inc. | Driving system for active-matrix displays |
US9384698B2 (en) | 2009-11-30 | 2016-07-05 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for aging compensation in AMOLED displays |
US9430958B2 (en) | 2010-02-04 | 2016-08-30 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device |
US9437137B2 (en) | 2013-08-12 | 2016-09-06 | Ignis Innovation Inc. | Compensation accuracy |
US9466240B2 (en) | 2011-05-26 | 2016-10-11 | Ignis Innovation Inc. | Adaptive feedback system for compensating for aging pixel areas with enhanced estimation speed |
US9530349B2 (en) | 2011-05-20 | 2016-12-27 | Ignis Innovations Inc. | Charged-based compensation and parameter extraction in AMOLED displays |
US9633597B2 (en) | 2006-04-19 | 2017-04-25 | Ignis Innovation Inc. | Stable driving scheme for active matrix displays |
US9741282B2 (en) | 2013-12-06 | 2017-08-22 | Ignis Innovation Inc. | OLED display system and method |
US9747834B2 (en) | 2012-05-11 | 2017-08-29 | Ignis Innovation Inc. | Pixel circuits including feedback capacitors and reset capacitors, and display systems therefore |
US9761170B2 (en) | 2013-12-06 | 2017-09-12 | Ignis Innovation Inc. | Correction for localized phenomena in an image array |
US9773439B2 (en) | 2011-05-27 | 2017-09-26 | Ignis Innovation Inc. | Systems and methods for aging compensation in AMOLED displays |
US9786209B2 (en) | 2009-11-30 | 2017-10-10 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for aging compensation in AMOLED displays |
US9786223B2 (en) | 2012-12-11 | 2017-10-10 | Ignis Innovation Inc. | Pixel circuits for AMOLED displays |
US9799246B2 (en) | 2011-05-20 | 2017-10-24 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays |
US9830857B2 (en) | 2013-01-14 | 2017-11-28 | Ignis Innovation Inc. | Cleaning common unwanted signals from pixel measurements in emissive displays |
US9881532B2 (en) | 2010-02-04 | 2018-01-30 | Ignis Innovation Inc. | System and method for extracting correlation curves for an organic light emitting device |
US9947293B2 (en) | 2015-05-27 | 2018-04-17 | Ignis Innovation Inc. | Systems and methods of reduced memory bandwidth compensation |
US10012678B2 (en) | 2004-12-15 | 2018-07-03 | Ignis Innovation Inc. | Method and system for programming, calibrating and/or compensating, and driving an LED display |
US10013907B2 (en) | 2004-12-15 | 2018-07-03 | Ignis Innovation Inc. | Method and system for programming, calibrating and/or compensating, and driving an LED display |
US10019941B2 (en) | 2005-09-13 | 2018-07-10 | Ignis Innovation Inc. | Compensation technique for luminance degradation in electro-luminance devices |
US10078984B2 (en) | 2005-02-10 | 2018-09-18 | Ignis Innovation Inc. | Driving circuit for current programmed organic light-emitting diode displays |
US10089924B2 (en) | 2011-11-29 | 2018-10-02 | Ignis Innovation Inc. | Structural and low-frequency non-uniformity compensation |
US10089921B2 (en) | 2010-02-04 | 2018-10-02 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device |
US10163401B2 (en) | 2010-02-04 | 2018-12-25 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device |
US10176736B2 (en) | 2010-02-04 | 2019-01-08 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device |
US10181282B2 (en) | 2015-01-23 | 2019-01-15 | Ignis Innovation Inc. | Compensation for color variations in emissive devices |
US10192479B2 (en) | 2014-04-08 | 2019-01-29 | Ignis Innovation Inc. | Display system using system level resources to calculate compensation parameters for a display module in a portable device |
US10235933B2 (en) | 2005-04-12 | 2019-03-19 | Ignis Innovation Inc. | System and method for compensation of non-uniformities in light emitting device displays |
US10311780B2 (en) | 2015-05-04 | 2019-06-04 | Ignis Innovation Inc. | Systems and methods of optical feedback |
US10319307B2 (en) | 2009-06-16 | 2019-06-11 | Ignis Innovation Inc. | Display system with compensation techniques and/or shared level resources |
US10339860B2 (en) | 2015-08-07 | 2019-07-02 | Ignis Innovation, Inc. | Systems and methods of pixel calibration based on improved reference values |
US10388221B2 (en) | 2005-06-08 | 2019-08-20 | Ignis Innovation Inc. | Method and system for driving a light emitting device display |
US10439159B2 (en) | 2013-12-25 | 2019-10-08 | Ignis Innovation Inc. | Electrode contacts |
US10573231B2 (en) | 2010-02-04 | 2020-02-25 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device |
US10867536B2 (en) | 2013-04-22 | 2020-12-15 | Ignis Innovation Inc. | Inspection system for OLED display panels |
US10996258B2 (en) | 2009-11-30 | 2021-05-04 | Ignis Innovation Inc. | Defect detection and correction of pixel circuits for AMOLED displays |
-
1993
- 1993-04-28 JP JP10255193A patent/JPH06314977A/ja not_active Withdrawn
Cited By (149)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000276108A (ja) * | 1999-03-24 | 2000-10-06 | Sanyo Electric Co Ltd | アクティブ型el表示装置 |
JP2002244618A (ja) * | 2000-12-15 | 2002-08-30 | Lg Philips Lcd Co Ltd | アクティブマトリックス電界発光素子の駆動回路 |
JP2008257258A (ja) * | 2001-08-02 | 2008-10-23 | Seiko Epson Corp | 画素へのプログラミング電流の供給 |
JP2003233347A (ja) * | 2001-08-02 | 2003-08-22 | Seiko Epson Corp | 画素へのプログラミング電流の供給 |
US7489310B2 (en) | 2001-08-02 | 2009-02-10 | Seiko Epson Corporation | Supply of a programming current to a pixel |
WO2003027998A1 (fr) * | 2001-09-25 | 2003-04-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Ecran electroluminescent et dispositif d'affichage electroluminescent comprenant celui-ci |
EP1450341A1 (en) * | 2001-09-25 | 2004-08-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | El display panel and el display apparatus comprising it |
EP1450341A4 (en) * | 2001-09-25 | 2009-04-01 | Panasonic Corp | EL DISPLAY BOARD AND EL DISPLAY DEVICE THEREFOR |
JPWO2003027998A1 (ja) * | 2001-09-25 | 2005-01-13 | 松下電器産業株式会社 | El表示装置 |
JP2003248459A (ja) * | 2002-01-09 | 2003-09-05 | Lg Electronics Inc | 電流書き込み型amoelディスプレイパネル用データ駆動回路 |
US7561125B2 (en) | 2002-01-09 | 2009-07-14 | Lg Display Co., Ltd. | Data drive circuit for current writing type AMOEL display panel |
JP2003308044A (ja) * | 2002-02-14 | 2003-10-31 | Rohm Co Ltd | 有機el駆動回路および有機el表示装置 |
US8063855B2 (en) | 2002-04-26 | 2011-11-22 | Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. | Drive method of EL display panel |
US7742019B2 (en) | 2002-04-26 | 2010-06-22 | Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. | Drive method of el display apparatus |
JP2007226258A (ja) * | 2002-04-26 | 2007-09-06 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | El表示パネルのドライバ回路 |
JP2007233398A (ja) * | 2002-04-26 | 2007-09-13 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | El表示パネルの駆動方法 |
JP2007256958A (ja) * | 2002-04-26 | 2007-10-04 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | El表示パネルの駆動方法 |
JPWO2003091978A1 (ja) * | 2002-04-26 | 2005-09-02 | 東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社 | El表示パネルの駆動方法 |
JPWO2003091977A1 (ja) * | 2002-04-26 | 2005-09-02 | 東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社 | El表示パネルのドライバ回路 |
US7817149B2 (en) | 2002-04-26 | 2010-10-19 | Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. | Semiconductor circuits for driving current-driven display and display |
US7932880B2 (en) | 2002-04-26 | 2011-04-26 | Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. | EL display panel driving method |
US7924248B2 (en) | 2002-04-26 | 2011-04-12 | Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. | Drive method of EL display apparatus |
US7777698B2 (en) | 2002-04-26 | 2010-08-17 | Toshiba Matsushita Display Technology, Co., Ltd. | Drive method of EL display panel |
US7446738B2 (en) | 2002-07-31 | 2008-11-04 | Seiko Epson Corporation | Electronic circuit, electro-optical device, and electronic apparatus |
JP2004088158A (ja) * | 2002-08-22 | 2004-03-18 | Seiko Epson Corp | 電子回路、電気光学装置及び電子機器 |
WO2004100119A1 (ja) * | 2003-05-07 | 2004-11-18 | Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. | 電流出力型半導体回路、表示駆動用ソースドライバ、表示装置、電流出力方法 |
US7561147B2 (en) | 2003-05-07 | 2009-07-14 | Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. | Current output type of semiconductor circuit, source driver for display drive, display device, and current output method |
CN100353400C (zh) * | 2003-05-12 | 2007-12-05 | 松下电器产业株式会社 | 电流驱动装置及显示装置 |
JP2004348026A (ja) * | 2003-05-26 | 2004-12-09 | Casio Comput Co Ltd | 電流生成供給回路及びその制御方法並びに電流生成供給回路を備えた表示装置 |
JP2005037915A (ja) * | 2003-06-25 | 2005-02-10 | Rohm Co Ltd | 有機el駆動回路およびこれを用いる有機el表示装置 |
US9852689B2 (en) | 2003-09-23 | 2017-12-26 | Ignis Innovation Inc. | Circuit and method for driving an array of light emitting pixels |
US9472138B2 (en) | 2003-09-23 | 2016-10-18 | Ignis Innovation Inc. | Pixel driver circuit with load-balance in current mirror circuit |
US9472139B2 (en) | 2003-09-23 | 2016-10-18 | Ignis Innovation Inc. | Circuit and method for driving an array of light emitting pixels |
US8941697B2 (en) | 2003-09-23 | 2015-01-27 | Ignis Innovation Inc. | Circuit and method for driving an array of light emitting pixels |
US10089929B2 (en) | 2003-09-23 | 2018-10-02 | Ignis Innovation Inc. | Pixel driver circuit with load-balance in current mirror circuit |
USRE45291E1 (en) | 2004-06-29 | 2014-12-16 | Ignis Innovation Inc. | Voltage-programming scheme for current-driven AMOLED displays |
USRE47257E1 (en) | 2004-06-29 | 2019-02-26 | Ignis Innovation Inc. | Voltage-programming scheme for current-driven AMOLED displays |
US9280933B2 (en) | 2004-12-15 | 2016-03-08 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays |
US9970964B2 (en) | 2004-12-15 | 2018-05-15 | Ignis Innovation Inc. | Method and system for programming, calibrating and driving a light emitting device display |
US8994625B2 (en) | 2004-12-15 | 2015-03-31 | Ignis Innovation Inc. | Method and system for programming, calibrating and driving a light emitting device display |
US9275579B2 (en) | 2004-12-15 | 2016-03-01 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays |
US10699624B2 (en) | 2004-12-15 | 2020-06-30 | Ignis Innovation Inc. | Method and system for programming, calibrating and/or compensating, and driving an LED display |
US10013907B2 (en) | 2004-12-15 | 2018-07-03 | Ignis Innovation Inc. | Method and system for programming, calibrating and/or compensating, and driving an LED display |
US10012678B2 (en) | 2004-12-15 | 2018-07-03 | Ignis Innovation Inc. | Method and system for programming, calibrating and/or compensating, and driving an LED display |
US10078984B2 (en) | 2005-02-10 | 2018-09-18 | Ignis Innovation Inc. | Driving circuit for current programmed organic light-emitting diode displays |
US10235933B2 (en) | 2005-04-12 | 2019-03-19 | Ignis Innovation Inc. | System and method for compensation of non-uniformities in light emitting device displays |
US10388221B2 (en) | 2005-06-08 | 2019-08-20 | Ignis Innovation Inc. | Method and system for driving a light emitting device display |
US10019941B2 (en) | 2005-09-13 | 2018-07-10 | Ignis Innovation Inc. | Compensation technique for luminance degradation in electro-luminance devices |
US10453397B2 (en) | 2006-04-19 | 2019-10-22 | Ignis Innovation Inc. | Stable driving scheme for active matrix displays |
US10127860B2 (en) | 2006-04-19 | 2018-11-13 | Ignis Innovation Inc. | Stable driving scheme for active matrix displays |
US9633597B2 (en) | 2006-04-19 | 2017-04-25 | Ignis Innovation Inc. | Stable driving scheme for active matrix displays |
US9842544B2 (en) | 2006-04-19 | 2017-12-12 | Ignis Innovation Inc. | Stable driving scheme for active matrix displays |
US9125278B2 (en) | 2006-08-15 | 2015-09-01 | Ignis Innovation Inc. | OLED luminance degradation compensation |
US10325554B2 (en) | 2006-08-15 | 2019-06-18 | Ignis Innovation Inc. | OLED luminance degradation compensation |
US9530352B2 (en) | 2006-08-15 | 2016-12-27 | Ignis Innovations Inc. | OLED luminance degradation compensation |
WO2009128745A1 (ru) * | 2008-04-18 | 2009-10-22 | Korkin Vyacheslav Vasil Evich | Биполярное токовое зеркало с регулируемым коэффициентом передачи |
US9111485B2 (en) | 2009-06-16 | 2015-08-18 | Ignis Innovation Inc. | Compensation technique for color shift in displays |
US9418587B2 (en) | 2009-06-16 | 2016-08-16 | Ignis Innovation Inc. | Compensation technique for color shift in displays |
US9117400B2 (en) | 2009-06-16 | 2015-08-25 | Ignis Innovation Inc. | Compensation technique for color shift in displays |
US10553141B2 (en) | 2009-06-16 | 2020-02-04 | Ignis Innovation Inc. | Compensation technique for color shift in displays |
US10319307B2 (en) | 2009-06-16 | 2019-06-11 | Ignis Innovation Inc. | Display system with compensation techniques and/or shared level resources |
US10699613B2 (en) | 2009-11-30 | 2020-06-30 | Ignis Innovation Inc. | Resetting cycle for aging compensation in AMOLED displays |
US9384698B2 (en) | 2009-11-30 | 2016-07-05 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for aging compensation in AMOLED displays |
US9311859B2 (en) | 2009-11-30 | 2016-04-12 | Ignis Innovation Inc. | Resetting cycle for aging compensation in AMOLED displays |
US10996258B2 (en) | 2009-11-30 | 2021-05-04 | Ignis Innovation Inc. | Defect detection and correction of pixel circuits for AMOLED displays |
US10304390B2 (en) | 2009-11-30 | 2019-05-28 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for aging compensation in AMOLED displays |
US9786209B2 (en) | 2009-11-30 | 2017-10-10 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for aging compensation in AMOLED displays |
US10679533B2 (en) | 2009-11-30 | 2020-06-09 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for aging compensation in AMOLED displays |
US9059117B2 (en) | 2009-12-01 | 2015-06-16 | Ignis Innovation Inc. | High resolution pixel architecture |
US9262965B2 (en) | 2009-12-06 | 2016-02-16 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for power conservation for AMOLED pixel drivers |
US9093028B2 (en) | 2009-12-06 | 2015-07-28 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for power conservation for AMOLED pixel drivers |
US11200839B2 (en) | 2010-02-04 | 2021-12-14 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device |
US10395574B2 (en) | 2010-02-04 | 2019-08-27 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device |
US10176736B2 (en) | 2010-02-04 | 2019-01-08 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device |
US10089921B2 (en) | 2010-02-04 | 2018-10-02 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device |
US9430958B2 (en) | 2010-02-04 | 2016-08-30 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device |
US9773441B2 (en) | 2010-02-04 | 2017-09-26 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device |
US9881532B2 (en) | 2010-02-04 | 2018-01-30 | Ignis Innovation Inc. | System and method for extracting correlation curves for an organic light emitting device |
US10032399B2 (en) | 2010-02-04 | 2018-07-24 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device |
US10163401B2 (en) | 2010-02-04 | 2018-12-25 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device |
US10573231B2 (en) | 2010-02-04 | 2020-02-25 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extracting correlation curves for an organic light emitting device |
US10971043B2 (en) | 2010-02-04 | 2021-04-06 | Ignis Innovation Inc. | System and method for extracting correlation curves for an organic light emitting device |
US9489897B2 (en) | 2010-12-02 | 2016-11-08 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for thermal compensation in AMOLED displays |
US9997110B2 (en) | 2010-12-02 | 2018-06-12 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for thermal compensation in AMOLED displays |
US8907991B2 (en) | 2010-12-02 | 2014-12-09 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for thermal compensation in AMOLED displays |
US10460669B2 (en) | 2010-12-02 | 2019-10-29 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for thermal compensation in AMOLED displays |
US10032400B2 (en) | 2011-05-20 | 2018-07-24 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays |
US10580337B2 (en) | 2011-05-20 | 2020-03-03 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays |
US10325537B2 (en) | 2011-05-20 | 2019-06-18 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays |
US9093029B2 (en) | 2011-05-20 | 2015-07-28 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays |
US10127846B2 (en) | 2011-05-20 | 2018-11-13 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays |
US9530349B2 (en) | 2011-05-20 | 2016-12-27 | Ignis Innovations Inc. | Charged-based compensation and parameter extraction in AMOLED displays |
US9355584B2 (en) | 2011-05-20 | 2016-05-31 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays |
US9799246B2 (en) | 2011-05-20 | 2017-10-24 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays |
US9799248B2 (en) | 2011-05-20 | 2017-10-24 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays |
US9171500B2 (en) | 2011-05-20 | 2015-10-27 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extraction of parasitic parameters in AMOLED displays |
US10475379B2 (en) | 2011-05-20 | 2019-11-12 | Ignis Innovation Inc. | Charged-based compensation and parameter extraction in AMOLED displays |
US9589490B2 (en) | 2011-05-20 | 2017-03-07 | Ignis Innovation Inc. | System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays |
US9466240B2 (en) | 2011-05-26 | 2016-10-11 | Ignis Innovation Inc. | Adaptive feedback system for compensating for aging pixel areas with enhanced estimation speed |
US9978297B2 (en) | 2011-05-26 | 2018-05-22 | Ignis Innovation Inc. | Adaptive feedback system for compensating for aging pixel areas with enhanced estimation speed |
US10706754B2 (en) | 2011-05-26 | 2020-07-07 | Ignis Innovation Inc. | Adaptive feedback system for compensating for aging pixel areas with enhanced estimation speed |
US9640112B2 (en) | 2011-05-26 | 2017-05-02 | Ignis Innovation Inc. | Adaptive feedback system for compensating for aging pixel areas with enhanced estimation speed |
US10417945B2 (en) | 2011-05-27 | 2019-09-17 | Ignis Innovation Inc. | Systems and methods for aging compensation in AMOLED displays |
US9773439B2 (en) | 2011-05-27 | 2017-09-26 | Ignis Innovation Inc. | Systems and methods for aging compensation in AMOLED displays |
US10089924B2 (en) | 2011-11-29 | 2018-10-02 | Ignis Innovation Inc. | Structural and low-frequency non-uniformity compensation |
US10380944B2 (en) | 2011-11-29 | 2019-08-13 | Ignis Innovation Inc. | Structural and low-frequency non-uniformity compensation |
US10453394B2 (en) | 2012-02-03 | 2019-10-22 | Ignis Innovation Inc. | Driving system for active-matrix displays |
US10043448B2 (en) | 2012-02-03 | 2018-08-07 | Ignis Innovation Inc. | Driving system for active-matrix displays |
US9792857B2 (en) | 2012-02-03 | 2017-10-17 | Ignis Innovation Inc. | Driving system for active-matrix displays |
US9343006B2 (en) | 2012-02-03 | 2016-05-17 | Ignis Innovation Inc. | Driving system for active-matrix displays |
US9747834B2 (en) | 2012-05-11 | 2017-08-29 | Ignis Innovation Inc. | Pixel circuits including feedback capacitors and reset capacitors, and display systems therefore |
US9368063B2 (en) | 2012-05-23 | 2016-06-14 | Ignis Innovation Inc. | Display systems with compensation for line propagation delay |
US9741279B2 (en) | 2012-05-23 | 2017-08-22 | Ignis Innovation Inc. | Display systems with compensation for line propagation delay |
US9536460B2 (en) | 2012-05-23 | 2017-01-03 | Ignis Innovation Inc. | Display systems with compensation for line propagation delay |
US8922544B2 (en) | 2012-05-23 | 2014-12-30 | Ignis Innovation Inc. | Display systems with compensation for line propagation delay |
US10176738B2 (en) | 2012-05-23 | 2019-01-08 | Ignis Innovation Inc. | Display systems with compensation for line propagation delay |
US9940861B2 (en) | 2012-05-23 | 2018-04-10 | Ignis Innovation Inc. | Display systems with compensation for line propagation delay |
US10311790B2 (en) | 2012-12-11 | 2019-06-04 | Ignis Innovation Inc. | Pixel circuits for amoled displays |
US9336717B2 (en) | 2012-12-11 | 2016-05-10 | Ignis Innovation Inc. | Pixel circuits for AMOLED displays |
US9685114B2 (en) | 2012-12-11 | 2017-06-20 | Ignis Innovation Inc. | Pixel circuits for AMOLED displays |
US9786223B2 (en) | 2012-12-11 | 2017-10-10 | Ignis Innovation Inc. | Pixel circuits for AMOLED displays |
US10140925B2 (en) | 2012-12-11 | 2018-11-27 | Ignis Innovation Inc. | Pixel circuits for AMOLED displays |
US10847087B2 (en) | 2013-01-14 | 2020-11-24 | Ignis Innovation Inc. | Cleaning common unwanted signals from pixel measurements in emissive displays |
US9171504B2 (en) | 2013-01-14 | 2015-10-27 | Ignis Innovation Inc. | Driving scheme for emissive displays providing compensation for driving transistor variations |
US11875744B2 (en) | 2013-01-14 | 2024-01-16 | Ignis Innovation Inc. | Cleaning common unwanted signals from pixel measurements in emissive displays |
US9830857B2 (en) | 2013-01-14 | 2017-11-28 | Ignis Innovation Inc. | Cleaning common unwanted signals from pixel measurements in emissive displays |
US9536465B2 (en) | 2013-03-14 | 2017-01-03 | Ignis Innovation Inc. | Re-interpolation with edge detection for extracting an aging pattern for AMOLED displays |
US9818323B2 (en) | 2013-03-14 | 2017-11-14 | Ignis Innovation Inc. | Re-interpolation with edge detection for extracting an aging pattern for AMOLED displays |
US9305488B2 (en) | 2013-03-14 | 2016-04-05 | Ignis Innovation Inc. | Re-interpolation with edge detection for extracting an aging pattern for AMOLED displays |
US10198979B2 (en) | 2013-03-14 | 2019-02-05 | Ignis Innovation Inc. | Re-interpolation with edge detection for extracting an aging pattern for AMOLED displays |
US9324268B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-04-26 | Ignis Innovation Inc. | Amoled displays with multiple readout circuits |
US9721512B2 (en) | 2013-03-15 | 2017-08-01 | Ignis Innovation Inc. | AMOLED displays with multiple readout circuits |
US9997107B2 (en) | 2013-03-15 | 2018-06-12 | Ignis Innovation Inc. | AMOLED displays with multiple readout circuits |
US10460660B2 (en) | 2013-03-15 | 2019-10-29 | Ingis Innovation Inc. | AMOLED displays with multiple readout circuits |
US10867536B2 (en) | 2013-04-22 | 2020-12-15 | Ignis Innovation Inc. | Inspection system for OLED display panels |
US10600362B2 (en) | 2013-08-12 | 2020-03-24 | Ignis Innovation Inc. | Compensation accuracy |
US9990882B2 (en) | 2013-08-12 | 2018-06-05 | Ignis Innovation Inc. | Compensation accuracy |
US9437137B2 (en) | 2013-08-12 | 2016-09-06 | Ignis Innovation Inc. | Compensation accuracy |
US10186190B2 (en) | 2013-12-06 | 2019-01-22 | Ignis Innovation Inc. | Correction for localized phenomena in an image array |
US9761170B2 (en) | 2013-12-06 | 2017-09-12 | Ignis Innovation Inc. | Correction for localized phenomena in an image array |
US10395585B2 (en) | 2013-12-06 | 2019-08-27 | Ignis Innovation Inc. | OLED display system and method |
US9741282B2 (en) | 2013-12-06 | 2017-08-22 | Ignis Innovation Inc. | OLED display system and method |
US10439159B2 (en) | 2013-12-25 | 2019-10-08 | Ignis Innovation Inc. | Electrode contacts |
US10192479B2 (en) | 2014-04-08 | 2019-01-29 | Ignis Innovation Inc. | Display system using system level resources to calculate compensation parameters for a display module in a portable device |
US10181282B2 (en) | 2015-01-23 | 2019-01-15 | Ignis Innovation Inc. | Compensation for color variations in emissive devices |
US10311780B2 (en) | 2015-05-04 | 2019-06-04 | Ignis Innovation Inc. | Systems and methods of optical feedback |
US10403230B2 (en) | 2015-05-27 | 2019-09-03 | Ignis Innovation Inc. | Systems and methods of reduced memory bandwidth compensation |
US9947293B2 (en) | 2015-05-27 | 2018-04-17 | Ignis Innovation Inc. | Systems and methods of reduced memory bandwidth compensation |
US10339860B2 (en) | 2015-08-07 | 2019-07-02 | Ignis Innovation, Inc. | Systems and methods of pixel calibration based on improved reference values |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH06314977A (ja) | 電流出力型デジタル/アナログ変換回路 | |
US5585795A (en) | D/A converter including output buffer having a controllable offset voltage | |
US5940020A (en) | Digital to analog converter with a reduced resistor count | |
JP2556710B2 (ja) | 可変電流源 | |
US6617989B2 (en) | Resistor string DAC with current source LSBs | |
JPS61210723A (ja) | デジタル‐アナログ変換器 | |
JPH0810832B2 (ja) | デイジタル―アナログ変換器 | |
JPH1127068A (ja) | 利得制御増幅器及びその制御方法 | |
JPH0734542B2 (ja) | D−a変換回路 | |
KR20000014400A (ko) | 디지털/아날로그 변환기 | |
US4567463A (en) | Circuit for improving the performance of digital to analog converters | |
JP2001156639A (ja) | ディジタル/アナログ変換器 | |
JPH02104025A (ja) | ダイオード制御デイジタル・アナログ・コンバータ | |
JP2737907B2 (ja) | Da変換器 | |
JP3292070B2 (ja) | D/a変換器 | |
JPH08307273A (ja) | D/aコンバータ回路 | |
JP2001237705A (ja) | 重みづけ定電流源およびd−a変換器 | |
JP2859015B2 (ja) | D/a変換回路 | |
JPH08125538A (ja) | ディジタル・アナログ変換器 | |
JP2680940B2 (ja) | D/a変換器 | |
JP3043044B2 (ja) | D/a変換回路 | |
JP2985185B2 (ja) | Da変換回路 | |
JP3772938B2 (ja) | 利得制御回路 | |
JP2003309469A (ja) | 半導体集積回路 | |
JP2906280B2 (ja) | D/a変換器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000704 |