JPH08340243A - バイアス回路 - Google Patents
バイアス回路Info
- Publication number
- JPH08340243A JPH08340243A JP7147133A JP14713395A JPH08340243A JP H08340243 A JPH08340243 A JP H08340243A JP 7147133 A JP7147133 A JP 7147133A JP 14713395 A JP14713395 A JP 14713395A JP H08340243 A JPH08340243 A JP H08340243A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- current
- circuit
- current mirror
- supplied
- circuit block
- Prior art date
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- Pending
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Landscapes
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 複数の回路ブロックのカレントミラーの値の
相対精度を高くする。 【構成】 第1のカレントミラー回路を有する一の回路
ブロック1と、該第1のカレントミラー回路の出力電流
が供給される第2のカレントミラー回路をそれぞれ有す
る複数の他の回路ブロック2,3,4とを備えた。
相対精度を高くする。 【構成】 第1のカレントミラー回路を有する一の回路
ブロック1と、該第1のカレントミラー回路の出力電流
が供給される第2のカレントミラー回路をそれぞれ有す
る複数の他の回路ブロック2,3,4とを備えた。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はバイアス回路に係わり、
特にIC内の複数の回路ブロックにおいて相対精度の良
いカレントミラーを実現するバイアス回路に関するもの
である。
特にIC内の複数の回路ブロックにおいて相対精度の良
いカレントミラーを実現するバイアス回路に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】従来、複数の回路ブロックにおいて同一
の電流値のバイアスを供給するバイアス回路としては図
2に示す構成がとられている。すなわち、図2に示すよ
うに、回路ブロック1の内に形成したバイアス回路のバ
イアス電圧を、他の回路ブロック2,3,4…に供給
し、回路ブロック1と同様な構成のカレントミラーによ
り、各回路ブロック内でバイアス電流を発生させてい
る。
の電流値のバイアスを供給するバイアス回路としては図
2に示す構成がとられている。すなわち、図2に示すよ
うに、回路ブロック1の内に形成したバイアス回路のバ
イアス電圧を、他の回路ブロック2,3,4…に供給
し、回路ブロック1と同様な構成のカレントミラーによ
り、各回路ブロック内でバイアス電流を発生させてい
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のバイアス回路ではバイアス電圧を供給する配線16
や電源配線6の配線抵抗と、配線を流れる電流とにより
電圧降下が生じるため、IC上の各回路ブロックの配置
や回路ブロック間の配線抵抗というレイアウト的要素で
各回路ブロックのバイアス電流の相対精度が悪化すると
いう問題があった。
来のバイアス回路ではバイアス電圧を供給する配線16
や電源配線6の配線抵抗と、配線を流れる電流とにより
電圧降下が生じるため、IC上の各回路ブロックの配置
や回路ブロック間の配線抵抗というレイアウト的要素で
各回路ブロックのバイアス電流の相対精度が悪化すると
いう問題があった。
【0004】本発明の目的は、回路ブロック間の配線抵
抗と、回路ブロック内でミラーする電流値に影響されな
い、相対精度の高いバイアス回路を実現することにあ
る。
抗と、回路ブロック内でミラーする電流値に影響されな
い、相対精度の高いバイアス回路を実現することにあ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明のバイアス回路
は、第1のカレントミラー回路を有する一の回路ブロッ
クと、該第1のカレントミラー回路の出力電流が供給さ
れる第2のカレントミラー回路をそれぞれ有する複数の
他の回路ブロックとを備えたものである。
は、第1のカレントミラー回路を有する一の回路ブロッ
クと、該第1のカレントミラー回路の出力電流が供給さ
れる第2のカレントミラー回路をそれぞれ有する複数の
他の回路ブロックとを備えたものである。
【0006】
【作用】本発明では一の回路ブロック内のカレントミラ
ー回路の出力を他の回路ブロックに供給するため、回路
ブロック間の配線抵抗の値に依存しない電流を供給出来
る。
ー回路の出力を他の回路ブロックに供給するため、回路
ブロック間の配線抵抗の値に依存しない電流を供給出来
る。
【0007】また、カレントミラー回路を他の複数の回
路ブロック内のそれぞれに構成することにより、カレン
トミラーを構成する素子をバイアスするバイアスライン
の配線抵抗の影響を極力小さくすることが可能となり、
相対精度の良いカレントミラーを実現出来る。
路ブロック内のそれぞれに構成することにより、カレン
トミラーを構成する素子をバイアスするバイアスライン
の配線抵抗の影響を極力小さくすることが可能となり、
相対精度の良いカレントミラーを実現出来る。
【0008】なお、本発明において、他の回路ブロック
のカレントミラー回路にバイポーラトランジスタを使用
すれば、絶縁ゲート型トランジスタを使用した場合に比
べ、出力インピーダンスの高いカレントミラー回路を構
成することができる。また、カレントミラーを構成する
バイポーラトランジスタのベース電流を絶縁ゲート型ト
ランジスタで供給すれば、各回路ブロックでのミラーす
る電流値に影響されない相対精度の高いバイアスを実現
出来る。
のカレントミラー回路にバイポーラトランジスタを使用
すれば、絶縁ゲート型トランジスタを使用した場合に比
べ、出力インピーダンスの高いカレントミラー回路を構
成することができる。また、カレントミラーを構成する
バイポーラトランジスタのベース電流を絶縁ゲート型ト
ランジスタで供給すれば、各回路ブロックでのミラーす
る電流値に影響されない相対精度の高いバイアスを実現
出来る。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を用いて
詳細に説明する。
詳細に説明する。
【0010】図1は本発明のバイアス回路の一実施例を
示す回路構成図であり、1は他の回路ブロックに電流を
供給するカレントミラー回路を内蔵する回路ブロック、
2,3,4は回路ブロック1により電流が供給される他
の回路ブロック、5は第1の電源ライン、6は第2の電
源ライン、7はミラーする電流の元となる電流源、8,
9,10は他の回路ブロック2,3,4へ電流を供給す
るカレントミラーを構成するバイポーラトランジスタ、
11は回路ブロックに供給された電流をミラーするため
のバイアスを発生させるためのバイポーラトランジス
タ、13,14,15は回路ブロック内の回路にミラー
した電流を供給するためのバイポーラトランジスタ、1
2はカレントミラーを構成するバイポーラトランジスタ
のベース電流を供給する絶縁ゲート型トランジスタたる
MOSトランジスタである。
示す回路構成図であり、1は他の回路ブロックに電流を
供給するカレントミラー回路を内蔵する回路ブロック、
2,3,4は回路ブロック1により電流が供給される他
の回路ブロック、5は第1の電源ライン、6は第2の電
源ライン、7はミラーする電流の元となる電流源、8,
9,10は他の回路ブロック2,3,4へ電流を供給す
るカレントミラーを構成するバイポーラトランジスタ、
11は回路ブロックに供給された電流をミラーするため
のバイアスを発生させるためのバイポーラトランジス
タ、13,14,15は回路ブロック内の回路にミラー
した電流を供給するためのバイポーラトランジスタ、1
2はカレントミラーを構成するバイポーラトランジスタ
のベース電流を供給する絶縁ゲート型トランジスタたる
MOSトランジスタである。
【0011】電流源7より供給された電流は回路ブロッ
ク1内のカレントミラー回路により、他の回路ブロック
2,3,4に供給される。ここでは、カレントミラーを
構成するバイポーラトランジスタ8,9,10のベース
電流をバイポーラトランジスタ17により供給している
がこのベース電流供給トランジスタにMOSトランジス
タを使用しても良い。その場合、回路ブロック1のカレ
ントミラー回路の出力電流はベース電流を供給するトラ
ンジスタのベース電流の影響を受けなくなる。また、電
流源7は、ある電圧との間に抵抗を挿入しただけの簡単
なものから、外部での調整を可能とする可変電流源な
ど、複雑な形式のものまで使用可能であり、その構成を
答わない。
ク1内のカレントミラー回路により、他の回路ブロック
2,3,4に供給される。ここでは、カレントミラーを
構成するバイポーラトランジスタ8,9,10のベース
電流をバイポーラトランジスタ17により供給している
がこのベース電流供給トランジスタにMOSトランジス
タを使用しても良い。その場合、回路ブロック1のカレ
ントミラー回路の出力電流はベース電流を供給するトラ
ンジスタのベース電流の影響を受けなくなる。また、電
流源7は、ある電圧との間に抵抗を挿入しただけの簡単
なものから、外部での調整を可能とする可変電流源な
ど、複雑な形式のものまで使用可能であり、その構成を
答わない。
【0012】回路ブロック1でミラーされた電流は他の
回路ブロック2,3,4…へ供給される。各回路ブロッ
ク2,3,4…へ供給された電流は、それぞれの回路ブ
ロックでミラーされ、各回路ブロック内の回路に使用さ
れる。例えば、トランジスタ8のコレクタから回路ブロ
ック2へ供給された電流はトランジスタ11によりカレ
ントミラーのバイアス電圧へと変換され、カレントミラ
ーを構成する他のバイポーラトランジスタ13,14,
15…のベースに電圧供給される。また、このカレント
ミラーを構成するバイポーラトランジスタのベース電流
はMOSトランジスタ12により供給される。回路ブロ
ック1及び2に示したカレントミラーを構成するトラン
ジスタをバイポーラトランジスタで構成しているのはM
OSトランジスタを使用するのに比べ、出力インピーダ
ンスを大きくすることが出来るここと、一般的に同一面
積を占めるMOSトランジスタより相対精度を良くする
ことが出来るためである。また、カレントミラーを構成
するバイポーラトランジスタのエミッタと電源との間に
抵抗を挿入しているのは、カレントミラーの出力インピ
ーダンスをさらに高め、また相対精度をさらに良くする
ためであるが、抵抗を挿入するかどうか、また、抵抗の
値をいくらにするかは、電流の精度やミラーを構成する
バイポーラトランジスタのコレクタ電位の取りうる範囲
や、電流のノイズスペックなどにより決定される。カレ
ントミラーを構成するトランジスタ11,13,14,
15…のベース電流はMOSトランジスタ12により供
給される。このため、複数の回路ブロック2,3,4…
のそれぞれでカレントミラーされる電流値はそれぞれの
回路ブロックのカレントミラー回路のミラーするトラン
ジスタの数の影響を受けない。たとえば、回路ブロック
2,3,4が、gm アンプを用いたフィルターであり、
カレントミラーの出力電流が、gm アンプのgmを決定
する電流源に使われている場合を考えてみる。この場
合、各フィルターに求められる特性が異なれば、当然、
カレントミラーでミラーされる電流値も異なる場合が多
い。この時カレントミラーを構成するバイポーラトラン
ジスタのベース電流をバイポーラトランジスタで供給し
ようとすると、そのトランジスタのベース電流により、
ミラーされる電流に誤差が発生する。したがって、電流
源7の値を調整してフィルターのfc を調整しようとし
た時、回路ブロック2,3,4…の特性がまったく同調
しては調整されなくなってしまう。
回路ブロック2,3,4…へ供給される。各回路ブロッ
ク2,3,4…へ供給された電流は、それぞれの回路ブ
ロックでミラーされ、各回路ブロック内の回路に使用さ
れる。例えば、トランジスタ8のコレクタから回路ブロ
ック2へ供給された電流はトランジスタ11によりカレ
ントミラーのバイアス電圧へと変換され、カレントミラ
ーを構成する他のバイポーラトランジスタ13,14,
15…のベースに電圧供給される。また、このカレント
ミラーを構成するバイポーラトランジスタのベース電流
はMOSトランジスタ12により供給される。回路ブロ
ック1及び2に示したカレントミラーを構成するトラン
ジスタをバイポーラトランジスタで構成しているのはM
OSトランジスタを使用するのに比べ、出力インピーダ
ンスを大きくすることが出来るここと、一般的に同一面
積を占めるMOSトランジスタより相対精度を良くする
ことが出来るためである。また、カレントミラーを構成
するバイポーラトランジスタのエミッタと電源との間に
抵抗を挿入しているのは、カレントミラーの出力インピ
ーダンスをさらに高め、また相対精度をさらに良くする
ためであるが、抵抗を挿入するかどうか、また、抵抗の
値をいくらにするかは、電流の精度やミラーを構成する
バイポーラトランジスタのコレクタ電位の取りうる範囲
や、電流のノイズスペックなどにより決定される。カレ
ントミラーを構成するトランジスタ11,13,14,
15…のベース電流はMOSトランジスタ12により供
給される。このため、複数の回路ブロック2,3,4…
のそれぞれでカレントミラーされる電流値はそれぞれの
回路ブロックのカレントミラー回路のミラーするトラン
ジスタの数の影響を受けない。たとえば、回路ブロック
2,3,4が、gm アンプを用いたフィルターであり、
カレントミラーの出力電流が、gm アンプのgmを決定
する電流源に使われている場合を考えてみる。この場
合、各フィルターに求められる特性が異なれば、当然、
カレントミラーでミラーされる電流値も異なる場合が多
い。この時カレントミラーを構成するバイポーラトラン
ジスタのベース電流をバイポーラトランジスタで供給し
ようとすると、そのトランジスタのベース電流により、
ミラーされる電流に誤差が発生する。したがって、電流
源7の値を調整してフィルターのfc を調整しようとし
た時、回路ブロック2,3,4…の特性がまったく同調
しては調整されなくなってしまう。
【0013】本発明によれば、カレントミラーを構成す
るバイポーラトランジスタのベース電流をMOSトラン
ジスタにより供給しているため、各回路ブロック2,
3,4…でのカレントミラーのミラー数によらず、各回
路ブロックのカレントミラーの電流値の相対精度を高く
することが可能となっている。
るバイポーラトランジスタのベース電流をMOSトラン
ジスタにより供給しているため、各回路ブロック2,
3,4…でのカレントミラーのミラー数によらず、各回
路ブロックのカレントミラーの電流値の相対精度を高く
することが可能となっている。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
複数の回路ブロックのカレントミラーの値の相対精度を
高くすることが可能となる。これにより、たとえばgm
アンプを用いたフィルターに使用した場合、各フィルタ
ーの特性の相対精度を高くすることが可能となり、フィ
ルターのfc をgm アンプのバイアス電流により調整し
ようとした場合、各フィルターの特性を精度よく調整す
ることが可能となる。また、この回路を用いたICをレ
イアウトする場合、回路ブロック間の配線抵抗の影響を
受けないことから、レイアウト時の自由度が増し、レイ
アウト時間の短縮、及び性能の向上が可能となる。
複数の回路ブロックのカレントミラーの値の相対精度を
高くすることが可能となる。これにより、たとえばgm
アンプを用いたフィルターに使用した場合、各フィルタ
ーの特性の相対精度を高くすることが可能となり、フィ
ルターのfc をgm アンプのバイアス電流により調整し
ようとした場合、各フィルターの特性を精度よく調整す
ることが可能となる。また、この回路を用いたICをレ
イアウトする場合、回路ブロック間の配線抵抗の影響を
受けないことから、レイアウト時の自由度が増し、レイ
アウト時間の短縮、及び性能の向上が可能となる。
【図1】本発明のバイアス回路の一実施例を示す回路構
成図である。
成図である。
【図2】従来のバイアス回路の回路構成図である。
1 第1の回路ブロック 2〜4 第2〜第4の回路ブロック 5 第1の電源ライン 6 第2の電源ライン 7 電流源 8〜10 第1のカレントミラーを構成するトランジス
タ 11,13〜15 第2のカレントミラーを構成するバ
イポーラトランジスタ 12 第2のカレントミラーを構成するMOSトランジ
スタ 16 バイアス電圧配線
タ 11,13〜15 第2のカレントミラーを構成するバ
イポーラトランジスタ 12 第2のカレントミラーを構成するMOSトランジ
スタ 16 バイアス電圧配線
フロントページの続き (72)発明者 松野 靖司 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内
Claims (2)
- 【請求項1】 第1のカレントミラー回路を有する一の
回路ブロックと、該第1のカレントミラー回路の出力電
流が供給される第2のカレントミラー回路をそれぞれ有
する複数の他の回路ブロックとを備えたバイアス回路。 - 【請求項2】 請求項1記載のバイアス回路において、
前記第2のカレントミラー回路は、電流をミラーするバ
イポーラトランジスタと、該バイポーラトランジスタの
ベース電流を供給する絶縁ゲート型トランジスタとを備
えてなるバイアス回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7147133A JPH08340243A (ja) | 1995-06-14 | 1995-06-14 | バイアス回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7147133A JPH08340243A (ja) | 1995-06-14 | 1995-06-14 | バイアス回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08340243A true JPH08340243A (ja) | 1996-12-24 |
Family
ID=15423317
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7147133A Pending JPH08340243A (ja) | 1995-06-14 | 1995-06-14 | バイアス回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08340243A (ja) |
Cited By (67)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003066903A (ja) * | 2001-08-22 | 2003-03-05 | Asahi Kasei Microsystems Kk | ディスプレイパネル駆動回路 |
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JP2003066906A (ja) * | 2001-08-24 | 2003-03-05 | Asahi Kasei Microsystems Kk | ディスプレイパネル駆動回路 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040330 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040917 |