JPH0954318A - 反射型液晶表示装置及びその製造方法 - Google Patents

反射型液晶表示装置及びその製造方法

Info

Publication number
JPH0954318A
JPH0954318A JP7208817A JP20881795A JPH0954318A JP H0954318 A JPH0954318 A JP H0954318A JP 7208817 A JP7208817 A JP 7208817A JP 20881795 A JP20881795 A JP 20881795A JP H0954318 A JPH0954318 A JP H0954318A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
unevenness
crystal display
display device
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP7208817A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2990046B2 (ja
Inventor
Hiroshi Kano
博司 加納
Eiji Mizobata
英司 溝端
Setsuo Kaneko
節夫 金子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP7208817A priority Critical patent/JP2990046B2/ja
Priority to KR1019960033921A priority patent/KR100241489B1/ko
Priority to US08/689,718 priority patent/US6208395B1/en
Priority to TW085110125A priority patent/TW326085B/zh
Publication of JPH0954318A publication Critical patent/JPH0954318A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2990046B2 publication Critical patent/JP2990046B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1335Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
    • G02F1/133553Reflecting elements
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1335Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1343Electrodes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 アクティブマトリクス駆動による反射型液晶
表示装置の製造プロセス数を低減する。 【構成】 絶縁性基板5上に形成された薄膜トランジス
タ6の上部に絶縁膜30を形成し、さらに、その上部に
TFTと電気的に接続された反射板10が形成されてい
る。反射板表面に存在する凹凸は、薄膜トランジスタの
製造工程におけるゲート電極15、ゲート絶縁膜16、
半導体層17のエッチングによるアイランド化のとき
に、同時に凹凸21を形成することにより形成する。 【効果】 TFTの製造工程時に、同一工程で反射板の
凹凸形成ができかつ、高輝度反射板を製造できることか
ら、低コストで、良好な画質を有するアクティブマトリ
クス駆動反射型液晶表示素子を提供できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、特に反射板に特徴を有
する反射型液晶表示装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】反射型液晶表示装置は、外部から入射し
た光を液晶表示装置内部に位置する反射板により反射し
た光を表示光源として利用することから、光源にバック
ライトが不要となる。これは、透過型液晶表示装置より
も、低消費電力化、薄型化、軽量化が達成できる有効な
手法として考えられている。現在の反射型液晶表示装置
の基本構造は、TN(ツイステッドネマテッィク)方
式、STN(スーパーツイステッドネマテッィク)方
式、GH(ゲストホスト)方式、PDLC(高分子分
散)方式等を用いた液晶、これをスイッチングするため
の素子(薄膜トランジスタ、ダイオード)、さらに、こ
れらの内部あるいは外部に設けた反射板からなる。
【0003】反射型液晶表示装置の表示性能には、液晶
透過状態の場合、明るく、かつ白い表示を呈することが
要求される。この表示性能の実現には、反射板の反射性
能制御、すなわち反射板表面凹凸形状、特に凹凸傾斜角
度、凹凸不規則性の制御が重要となる。
【0004】従来の反射型液晶表示装置には、高精細・
高画質を実現できる薄膜トランジスタ(TFT)あるい
は、金属/絶縁膜/金属(MIM)構造ダイオードをス
イッチング素子として用いたアクティブマトリクス駆動
方式が採用され、これに反射板が付随した構造となって
いる。
【0005】反射型液晶表示装置の具体的構造例を図3
5に示す。対向側基板1は、対向側ガラス基板2、透明
電極3より構成されている。下部側基板4は、ガラス基
板5上に製造された逆スタガー構造薄膜トランジスタ6
とその上部に形成された層間絶縁膜であるポリイミド膜
7、兼画素電極としての機能を兼ねる反射板10から構
成されている。
【0006】この例では、アクティブマトリクスス駆動
素子として、逆スタガー構造薄膜トランジスタ6が用い
られており、反射板10は、コンタクトホール49を介
して薄膜トランジスタ6のドレイン電極9に電気的に接
続されている。
【0007】前記対向側基板1と下部側基板4との間
に、液晶層11として、GH液晶が位置する。
【0008】液晶表示装置の光源は、外部からの入射光
12が、対向側ガラス基板2、透明電極3、液晶層11
を通過し、反射板10で反射される反射光13を利用す
る。明るい液晶表示装置を得るために、様々な方位から
の入射光を効率的に液晶表示装置前方13に出射させる
必要がある。それゆえ、ポリイミド膜7の表面に凹凸1
8を形成することで、反射板表面に凹凸形状14を設け
ている。
【0009】図36に従来の反射型液晶表示装置の製造
工程図を示す。この液晶表示装置のトランジスタ製造工
程は、ガラス基板5上部に、ゲート電極15を形成し
(a)、絶縁膜16、半導体層およびドーピング層17
を成膜し(b)、半導体層をパターニングしてアイラン
ドを形成する(c)。次に、ソース電極8、ドレイン電
極9を形成し(d)、その後、絶縁膜としてポリイミド
膜7を形成し、反射板形成領域へ凹凸18を形成する
(e)。ポリイミド膜7にコンタクトホール49を形成
し(f)、反射板10を形成し、凹凸14を形成する
(g)。凹凸14形成には、ポリイミド膜7をパターニ
ングする方法が既知である。
【0010】以上の工程より、従来反射型液晶表示装置
のTFT基板製造工程に必要なフォトリソ(PR)数は
6となる。
【0011】これらの方法は、特公昭61−6390号
公報、または、プロシーディングス・オブ・エスアイデ
ィー(Tohru Koizumi and Tats
uoUchida, Proceedings of
the SID, Vol.29, 157, 198
8)に開示されている。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】従来の反射型液晶表示
素子の製造には、従来の技術で、記述したように、多数
のPR工程と複雑な製造工程が用いられている。特にP
R工程数は、スイッチング素子製造は3PR数、反射板
製造は3PR数となり、全PR数は6となる。
【0013】これは、高性能スイッチング素子と高性能
反射板を同一絶縁性基板上に作り込むことが要求され、
これを満たす為に前記スイッチング素子と反射板が別々
の製造工程で形成されていることに起因する。その結
果、製造コストの上昇を引き起こし、反射型液晶表示素
子の単価を高くする要因となっている。
【0014】そのため、前記PR数の減少と簡略工程に
よる製造コストの低下は、反射型液晶表示素子に課せら
れた重要な課題である。
【0015】本発明では、高性能アクティブマトリクス
駆動素子と高輝度反射板を有する反射型液晶表示素子を
低コストで提供することを目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明は、絶縁性基板上
にアクティブマトリクス駆動素子を形成する際に、将来
反射板を形成すべき位置にあらかじめ凹凸を形成してお
くもので、この凹凸を前記アクティブマトリクス駆動素
子の製造工程で成膜された金属膜、絶縁膜、半導体膜の
少なくともいずれかを用いて形成することを特徴として
いる。
【0017】すなわち、本発明は、アクティブマトリク
ス駆動素子と表面に凹凸のある反射板とを有する絶縁性
基板と、透明電極を有する絶縁性基板とで液晶層を挟み
込んだ構造よりなる反射型液晶表示装置において、前記
アクティブマトリクス駆動素子の製造工程で成膜された
金属膜、絶縁膜、半導体膜のうちの少なくとも1つをパ
ターニングして形成した凹凸が、前記反射板下に形成さ
れていることを特徴とする反射型液晶表示装置である。
【0018】また、本発明は、アクティブマトリクス駆
動素子と表面に凹凸のある反射板とを有する絶縁性基板
と、透明電極を有する絶縁性基板とで液晶層を挟み込ん
だ構造よりなる反射型液晶表示装置において、前記アク
ティブマトリクス駆動素子の製造工程で成膜された金属
膜、絶縁膜、半導体膜のうちの少なくとも1つをパター
ニングして形成した凹凸と、この凹凸上に成膜された絶
縁膜とが、前記反射板下に形成されていることを特徴と
する反射型液晶表示装置である。
【0019】また、本発明は、アクティブマトリクス駆
動素子と表面に凹凸のある反射板とを有する絶縁性基板
と、透明電極を有する絶縁性基板とで液晶層を挟み込ん
だ構造よりなる反射型液晶表示装置において、前記反射
板下には、前記絶縁性基板をパターニングして形成した
凹凸と、この凹凸上にこの凹凸の周期と合わせて形成し
た、前記アクティブマトリクス駆動素子の製造工程で成
膜された金属膜、絶縁膜、半導体膜のうちの少なくとも
1つをパターニングして形成した凹凸が形成されている
ことを特徴とする反射型液晶表示装置である。
【0020】また、本発明は、アクティブマトリクス駆
動素子と表面に凹凸のある反射板とを有する絶縁性基板
と、透明電極を有する絶縁性基板とで液晶層を挟み込ん
だ構造よりなる反射型液晶表示装置において、前記反射
板下には、前記絶縁性基板をパターニングして形成した
凹凸と、この凹凸上にこの凹凸の周期と合わせて形成し
た、前記アクティブマトリクス駆動素子の製造工程で成
膜された金属膜、絶縁膜、半導体膜のうちの少なくとも
1つをパターニングして形成した凹凸と、この凹凸上に
成膜された絶縁膜とが形成されていることを特徴とする
反射型液晶表示装置である。
【0021】前記反射板下に形成された凹凸の凹凸高
さ、周期、傾斜角度の、少なくとも一つが不規則である
ことが望ましい。
【0022】前記凹凸上に成膜された絶縁膜が、前記ア
クティブマトリクス駆動素子及び配線上にも形成され、
前記絶縁膜の上部に反射板が前記アクティブマトリクス
駆動素子を覆うように形成され、かつ前記反射板は画素
電極の機能を有し、コンタクトホールにより前記アクテ
ィブマトリクス駆動素子と電気的に接続されている反射
型液晶表示装置とすることもできる。
【0023】前記コンタクトホールの位置は、前記各画
素電極ごとに前記各画素電極内で異なる位置に形成する
ことができる。
【0024】前記凹凸上に成膜された絶縁膜には、感光
性絶縁膜を用いることができる。
【0025】前記アクティブマトリクス駆動素子は、従
来知られているトランジスタ、ダイオード等を用いるこ
とができるが、特に順スタガー構造TFTを用いること
が望ましい。
【0026】本発明は、絶縁性基板上にアクティブマト
リクス駆動素子を形成するのと同時に、このアクティブ
マトリクス駆動素子の製造工程で成膜された金属膜、絶
縁膜、半導体膜のうちの少なくとも1つをパターニング
し、反射板を形成すべき位置にあらかじめ凹凸を形成す
る工程と、この凹凸の上に反射板を形成する工程と、こ
のアクティブマトリクス駆動素子と反射板とを形成した
絶縁性基板と、透明電極を有する絶縁性基板とを張り合
わせ、液晶を注入する工程とを含むことを特徴とする反
射型液晶表示装置の製造方法である。
【0027】
【作用】本発明では、絶縁性基板上にアクティブマトリ
クス駆動素子を形成する際に同時に、将来反射板を形成
すべき位置にあらかじめ凹凸を形成しておくもので、こ
の凹凸を前記アクティブマトリクス駆動素子の製造工程
で成膜された金属膜、絶縁膜、半導体膜の少なくともい
ずれかを用いて形成しているために、製造工程を省略す
ることができる。
【0028】本発明の作用を以下に図面を用いて詳細に
説明する。
【0029】図36に示す従来の反射型液晶表示装置の
製造工程では、薄膜トランジスタの製造工程で3PR
数、画素電極の製造工程で3PR数、合計で6PR数必
要となる。
【0030】一方、本発明に従えば、薄膜トランジスタ
の製造工程で3PR数、画素電極の製造工程で1PR
数、合計で4PR数となり、プロセスを省略できる。
【0031】図1を参照して本発明の反射型液晶表示装
置の製造工程を詳しく説明する。図1において、図3
5、図36と同じものは同じ符号で示した。
【0032】薄膜トランジスタの製造工程は次の通りで
ある。ゲート電極用金属をガラス基板5上に形成した
後、ゲート電極15および反射板の凹凸の下地となるべ
き凹凸パターン20をPR工程により形成する(a)。
この上にゲート絶縁膜16、半導体層17、ソース・ド
レイン電極用金属膜を成膜し(b)、薄膜トランジスタ
部アイランド22および反射板の下地となる凹凸パター
ン21を残してエッチングをする(c)。つまり、この
工程で薄膜トランジスタの形成と同時に凹凸の形成がで
きるため、プロセスの簡略化ができることになる。その
後、ソース電極8、ドレイン電極9を形成し(d)、薄
膜トランジスタを完成する。
【0033】この上を反射効率の高い金属により覆い、
パターン形成を行うことで、反射板10を形成して、反
射型液晶表示装置を完成する。
【0034】次に図2を用いて、2番目の発明の作用を
説明する。
【0035】図2は、反射板下に有機系絶縁膜、または
無機系絶縁膜を設けた反射型液晶表示装置の断面図であ
る。図2において、図1と同じものは同じ符号で示し
た。図1と異なる点は、反射板10と、薄膜トランジス
タ6あるいは凹凸パターン21との間に有機系絶縁膜ま
たは無機系絶縁膜30が形成されており、反射板10と
ドレイン電極9はコンタクトホール49を介して接続さ
れている点である。
【0036】本発明に従えば、(1)反射板10を薄膜
トランジスタ6およびソース電極8、ドレイン電極9と
は異なる層に形成できるため、反射板面積を最大にでき
る、(2)凹凸30の傾斜部を滑らかにできるために、
より良好な反射性能を有する反射板凹凸を形成できる、
(3)薄膜トランジスタ6をパッシベートできるため、
液晶剤による薄膜トランジスタの劣化を防ぐことができ
る。
【0037】さらに、絶縁膜を前記アクティブマトリク
ス駆動素子及び配線上にも形成し、前記有機系絶縁膜あ
るいは前記無機系絶縁膜の上部にアクティブマトリクス
駆動素子を覆うように反射板を形成し、反射板に画素電
極の機能をも持たせることで、(1)反射板を薄膜トラ
ンジスタ及び配線とは異なる層に形成することから、反
射板面積を最大にでき、液晶表示装置内部への入射光の
殆どを反射光として利用できる、(2)反射板を画素電
極として利用できるため、新たに画素電極を設ける必要
がないことから、プロセス数を減らすことができる。
【0038】図3を用いて、絶縁性基板をパターニング
した場合の作用を説明する。
【0039】図3は、絶縁性基板をパターニングして凹
凸を形成した場合の反射型液晶表示装置の断面図を示
す。図3において、図1と同じものは同じ符号で示し
た。図1と異なる点は、絶縁性基板5を、先の凹凸パタ
ーン21と同周期でパターニングし、凹凸40を設けた
点である。
【0040】これにより、絶縁性基板5のエッチングよ
り得られた凹凸40(凹凸高さy)と、その上部に、薄
膜トランジスタ製造と同時に形成された凹凸21(凹凸
高さx)とを合わせて、反射板10の凹凸41として用
いることにより、該凹凸高さは、薄膜トランジスタ製造
時に成膜された膜の膜厚xで制約されることがなくな
り、絶縁性基板の凹凸高さyを変えることで、自由な高
さx+yに凹凸が製造できる。そのため、前記凹凸を有
する反射板の散乱性能が向上する。
【0041】反射板表面の凹凸構造の凹凸高さ、凹凸周
期、凹凸形状が周期構造を有する場合、反射光の干渉が
発生し、反射板には色付きが起こるが、凹凸高さ、凹凸
周期、凹凸形状の少なくとも一つを不規則とすること
で、反射板の色付きが消失し、該液晶表示装置の表示性
能が改善される。
【0042】図4に反射板の凹凸が周期構造の場合の反
射性能と、図5に反射板の凹凸が本発明の条件を満たす
不規則構造の場合の反射性能を示す。なお、図6に反射
性能の評価システムの構成図を示す。図において、61
は反射板、62は光源、63は光検出器である。光源6
2からの入射角θを変えて、反射板61の反射率を測定
した。
【0043】図4の凹凸が周期構造の反射板の性能は、
干渉が起こるため、反射性能は、多くの干渉ピークで構
成されている。そして、白色ランプのもとでは、反射板
の色付きが起こる。これに対して、本発明の凹凸が不規
則な反射板を利用することで、図5に示す反射性能は、
干渉現象を示すピークが消失し、性能は入射光角度に対
して連続的な反射強度を示し、反射板の色付きも観察さ
れない、良好な反射板を提供することができる。
【0044】反射板と薄膜トランジスタとを電気的に接
続するためのコンタクトホール位置を、画素ごとに不規
則に配置することの作用を説明する。
【0045】図7(a)にコンタクトホール位置が周期
的である場合、図7(b)にコンタクトホール位置が不
規則である場合の平面図を示す。図7において、図2と
同様のものは同じ符号を示した。71はソース信号線、
72はゲート信号線である。
【0046】(a)では、コンタクトホール49が表示
画素サイズで周期的に配置されるため、パネル表示時
に、ホール部の平坦部が観察される。
【0047】これに対して、本発明を示す(b)はコン
タクトホール49位置を、各画素内部領域で変化させる
ことで、コンタクトホール部の凹部も反射板表面の不規
則な凹凸構造の一部となり、該ホール部が認識されない
ことにより、良好な反射板性能を得る。
【0048】アクティブマトリクス駆動素子として順ス
タガー構造薄膜トランジスタを採用した例を図8に示
す。図8において、ガラス基板上に、1PR目でソース
電極8、ドレイン電極9および凹凸パターン20を形成
し(a)、ドーピング層及び半導体層17、ゲート絶縁
膜16、金属電極層を連続成膜した後(b)、2PR目
で、ゲート電極15、TFT素子部のアイランド化、凹
凸21形成が同時に行われる(c)。その後、3PR目
で反射板10が形成される(d)。
【0049】これに対して、逆スタガー構造薄膜トラン
ジスタを利用した場合、図1に示したように、4PR目
で、反射板10が形成される。よって、順スタガー構造
薄膜トランジスタを採用することで、逆スタガー構造薄
膜トランジスタを利用した場合に比べて、PR工程数を
さらに1省略できることがわかる。
【0050】
【実施例】本発明の実施例について以下に説明する。
【0051】(実施例1)本発明の実施例に用いた反射
型液晶表示装置の製造工程を図1に示す。本反射型液晶
表示装置におけるスイッチング素子には逆スタガー構造
薄膜トランジスタを採用した。製造プロセスとして、ガ
ラス基板上に (a)Cr金属をスパッタリング法により50nm形成
し、ゲート電極15及び凹凸パターン20をフォトリソ
グラフィにより形成する。(1PR目) (b)ゲート絶縁膜16、半導体層17及び、ドーピン
グ層をプラズマCVDにより連続成膜を行った。このと
き、ゲート絶縁膜16には、シリコン酸化膜を300n
m、シリコン窒化膜を100nm、そして半導体層17に
は、アモルファスシシコン層を100nm、ドーピング層
には、リン原子を混入しn型化されたアモルファスシシ
コン(n+a−Si)層を100nm成膜する。その後、
Cr金属をスパッタリング法により50nm形成する。 (c)TFT素子部アイランド22及び、凹凸パターン
21を形成する。(2PR目) (d)ソース電極8、ドレイン電極9を形成する。(3
PR目) (e)アルミニウムをスパッタリング法により300nm
形成し、反射板10を形成する。(4PR目) 本実施例では、反射板表面に形成される凹凸パターン2
1は、上記(c)のTFT素子部22のアイランド化と
同時に形成することで、プロセスの簡略化を図ることが
できる。
【0052】なお、本実施例で使用したシリコン酸化
膜、シリコン窒化膜、アモルファスシリコン膜、n型化
アモルファスシリコン膜のプラズマCVD条件は、以下
のように設定した。シリコン酸化膜の場合、反応ガスに
シランと酸素ガスを用い、ガス流量比(シラン/酸素)
は、0.1〜0.5程度に設定し、成膜温度200〜3
00℃、圧力1Torr、プラズマパワー200Wとし
た。シリコン窒化膜の場合、反応ガスにシランとアンモ
ニアガスを用い、ガス流量比(シラン/アンモニア)
は、0.1〜0.8に設定し、成膜温度250℃、圧力
1Torr、プラズマパワー200Wとした。アモルフ
ァスシリコン膜の場合、反応ガスにシランと水素ガスを
用い、ガス流量比(シラン/水素)は、0.5〜2に設
定し、成膜温度200〜250℃、圧力1Torr、プ
ラズマパワー50Wとした。n型化アモルファスシリコ
ン膜の場合、反応ガスにシランとホスフィンを用い、ガ
ス流量比(シラン/ホスフィン)は、1〜2に設定し、
成膜温度200〜250℃、圧力1Torr、プラズマ
パワー50Wとした。
【0053】TFT素子部アイランド22及び、凹凸パ
ターン21形成には、Crの場合は、ウェットエッチン
グを採用し、シリコン酸化膜及び、シリコン窒化膜、そ
して、アモルファスシリコン層には、ドライエッチング
を採用した。Crのエッチングには、過塩素酸と硝酸第
2セリウムアンモニウムの混合水溶液を用いた。また、
シリコン窒化膜、シリコン酸化膜のエッチングには、エ
ッチングガスに四炭化フッ素と酸素ガスを用い、反応圧
力5〜300mTorr、パワー100〜300Wとし
た。また、アモルファスシリコン層のエッチングには、
塩素と水素ガスを用い、反応圧力5〜300mTor
r、パワー50〜200Wとした。
【0054】本実施例の全PR数は4となり、従来の6
PRに比べて少ない。このときの凹凸には、下部より、
クロム/シリコン酸化膜/シリコン窒化膜/アモルファ
スシリコン膜/n型アモルファスシリコン膜/クロムの
積層膜が利用されている。そのため、該凹凸の高さは、
前記膜の膜厚で決まってくることから、本実施例では、
700nm程度となっている。なお、本実施例の凹凸の高
さは、700nm程度となっているが、これに限定される
ものではない。凹凸高さは、電極金属、絶縁層、半導体
層の膜厚を変えることで、自由に設定できる。
【0055】また、上記(c)で形成された凹凸パター
ン21の平面形状とその位置は、ランダムとなってい
る。
【0056】さらに、凹凸形成では、その形状をマスク
するためのレジスト形成条件及び、露光条件を変化させ
ることで、凹凸側壁部のテーパ化ができる。図9に凹凸
側壁部の傾斜角度が(a)垂直の場合と(b)テーパを
有する場合の反射型液晶表示装置の下部側基板断面図を
示す。図9において、図1と同じものは同じ符号で示し
た。図9(a)では、凹凸側壁部は垂直であるが、
(b)では、テーパ部92となっているため、反射板1
0の形成が容易となる。
【0057】本実施例の凹凸の傾斜角度93は、5〜1
5度の範囲で設定した。反射画素電極板の開口率は、7
0〜80%と設定した。
【0058】本実施例で作製した反射型液晶表示装置の
断面構造図を図10に示す。図10において、図35と
同じものは同じ符号で示した。上記のとおり作成した下
部側基板4と、ITOで形成された透明電極3を有する
対向側基板1を、各々の膜面が対向するようにして重ね
合わせた。なお、下部側基板4の反射板10と、対向側
基板1の透明電極3の表面には、配向処理が施され、両
基板はプラスチック粒子等のスペーサを介して、パネル
周辺部にエポキシ系の接着剤101を塗ることにより、
張り合わされた。その後GH型の液晶を注入し液晶層1
1とすることで、液晶表示装置を製造した。
【0059】実用上十分明るく、新聞紙に匹敵する白表
示を有するモノクロ反射型パネルを低コストで、実現し
た。また、対向側基板側に、RGBカラーフィルタを設
置することで、明るいカラー反射型パネルを低コストで
実現できる。
【0060】(実施例2)実施例2に用いた反射型液晶
表示装置の製造工程を図11に示す。本実施例は、実施
例1の反射型液晶表示素子における反射板と凹凸との間
に絶縁層を新たに設けたものである。この実施例でも実
施例1と同様アクティブマトリクス駆動素子として、逆
スタガー構造薄膜トランジスタを採用した。
【0061】実施例1の(d)の工程までは、同様の工
程なので記載を省略する。(e)以降の工程について、
次に説明する。 (e)絶縁膜30を成膜し、コンタクトホール49を形
成する(4PR目)。 (f)アルミニウムをスパッタリング法により300nm
形成し、反射板10を形成する(5PR目)。
【0062】本実施例では、凹凸21及びTFT素子部
22と反射板10との間に層間絶縁膜である有機系絶縁
膜30が形成されている。この有機系絶縁膜には、日産
化学RN−901の感光性ポリイミド膜を用いた。形成
条件としては、RN−901を300rpmで5秒、2
800rpmで20秒スピンコートし、80℃、10分
間でプリベークした。その後、超高圧水銀ランプを用い
て露光し、現像液NMD−3(2.38%TMA水溶
液:東京応化製)を用いて、パターン形成を行った。最
後に、250℃、100分でポストベークを行った。
【0063】本実施例における総PR数は5となり、従
来の6PRより少なくできる。
【0064】上記下部側基板4の上部を有機系絶縁膜3
0を1μmの膜厚で覆うことにより、凹凸傾斜角度を滑
らかにしている。反射板と凹凸との間に有機系絶縁膜を
挿入した場合の反射板の反射特性を図12に、有機系絶
縁膜が挿入されていない場合の反射板の反射特性を図1
3に示す。なお、反射性能の評価には、図6と同一のシ
ステムを用いた。有機系絶縁膜30が存在しない場合の
反射性能は、正反射方向の反射強度は大きく、反射強度
の光入射角度依存性が大きい。これに対して、本実施例
で得られた反射板の性能は、広い視野角度の範囲で、よ
り強い反射強度を有した。この反射板を反射型液晶表示
装置に応用した場合、明るい表示性能を得ることができ
る。
【0065】また、本実施例で用いた反射板表面に有す
る凹凸の平均傾斜角度は10度とした。そして、有機系
絶縁膜30の塗布条件、例えば、塗布膜厚、焼成温度、
凹凸位置、大きさを制御することで、凹凸の平均傾斜角
度を変化させることができ、目的に応じた反射性能を有
する反射板を提供できることがわかった。
【0066】なお、上記(c)で形成された凹凸の平面
形状及び位置は、ランダムとなっている。
【0067】さらに、反射板10は、下部側基板側の最
上層に位置することから、反射板面積を最大限に大きく
でき、その結果、開口率は、80〜90%を占めること
から、光輝度反射板を実現できた。
【0068】その後、前記記載の実施例1と同様に、下
部側基板と、対向側基板を、各々の膜面が対向するよう
にして張り合わせた後、GH型の液晶を注入し液晶層と
することで、液晶表示装置を製造した。
【0069】その結果、実用上十分明るく、新聞紙に匹
敵する白表示を有するモノクロ反射型パネルを低コスト
で、実現した。また、対向側基板側に、RGBカラーフ
ィルタを設置することで、明るいカラー反射型パネルを
低コストで実現できる。
【0070】なお、本実施例では、TFT素子部及び凹
凸部と反射板との間の層間絶縁膜として、ポジ型感光型
有機系絶縁膜を使用したが、これに限定されるものでは
ない。例えば、ネガ型感光性有機膜として、東レ製フォ
トニースUR3800、感光性無機膜として、日産化学
製HM−5001を用いても同様の効果が期待できる。
また、感光性を有さない有機膜(例えば、日産化学製R
N−812)あるいは、無機膜(例えば日産化学製NT
−L6008)を用いても、レジスト塗布、現像、剥離
プロセスが増えるが、本実施例と同様の反射型液晶表示
装置が得られる。
【0071】(実施例3)本発明の実施例に用いた反射
型液晶表示装置の製造工程を図14に示す。本実施例
は、前記記載の実施例1における反射型液晶表示素子に
おける凹凸下部に、新たに、絶縁性基板を削ることで凹
凸を設け、凹凸高さを自由に設定しようとするものであ
る。
【0072】この実施例では、(d)の工程以外は実施
例1と同様の工程であるので、記載を省略する。(c)
の工程まで実施例1と同様に行う。(d)(c)におい
て、TFT素子のアイランド化及び、凹凸形成のため
に、Cr/シリコン酸化膜/シリコン窒化膜/アモルフ
ァスシリコン膜/n型化アモルファスシリコン膜/Cr
をエッチングした後、連続的に下地のガラス基板5のエ
ッチングを行う。50%ふっ化水素酸水溶液を用いて、
ガラス基板を1μm エッチングした。その結果、下部の
ガラス基板凹凸と上部の凹凸を合わせて、最大1.7μ
m の高さを有する凹凸141が形成された。
【0073】その後、実施例1の(d)(e)の工程と
同様にソース電極8、ドレイン電極9、反射板10を形
成する。
【0074】本実施例では、ガラス基板5をもエッチン
グすることにより、凹凸141の高さをTFT素子の膜
厚に依存せず高くすることができる。したがって、高性
能TFTを得るための最適膜厚に設定でき、かつ、良好
な反射性能を得るために必要な凹凸の高さも得ることが
できる。
【0075】その結果、実用上十分明るく、新聞紙に匹
敵する白表示を有するモノクロ反射型パネルを低コスト
で、実現した。また、対向側基板側に、RGBカラーフ
ィルタを設置することで、明るいカラー反射型パネルを
低コストで実現できた。
【0076】(実施例4)実施例4で製造した反射型液
晶表示装置のTFT基板断面図を図15に示す。本実施
例は、実施例3でガラス基板5をエッチングしていると
ころを、予め凹凸形成するための絶縁層をガラス基板上
部に設け、該絶縁層を削ることで、下部凹凸を設けたも
のである。
【0077】製造工程としては、ガラス基板5の上に、
予め凹凸を形成するための膜、酸化シリコン膜151を
CVD法により2μm の膜厚で形成する。この時のプラ
ズマCVD条件は、原料ガスとして、シラン10scc
m、酸素80sccm供給し、成膜温度350℃、反応
圧力1Torrとした。その後、上記実施例3と同様の
(a)〜(e)プロセスを行う。ただし、プロセス
(d)では、ガラス基板をエッチングするのではなく、
該凹凸形成層である酸化シリコン膜を1μm エッチング
する。本実施例では、ドライエッチング法を用いた。条
件は、エッチングガスには、4ふっ化炭素100scc
m、酸素20sccm、パワー200W、圧力100m
Torrとした。
【0078】本実施例では、凹凸形成プロセスが増える
が、ガラス基板のエッチングによる凹凸形成よりも、エ
ッチング時間が短縮でき、且つ凹凸端部152の傾斜角
度を自由に制御できることから、目的の反射特性を得る
ことが容易にできる。その結果、高性能反射型液晶表示
装置が提供される。
【0079】なお、凹凸形成層151として、酸化シリ
コン膜を用いたが、これに限定されるものではない。窒
化シリコン膜、ポリイミド膜などを用いても同様の効果
が期待できる。さらに、該凹凸形成層に実施例1に記載
の感光性有機膜あるいは無機膜を使用すれば、さらにエ
ッチングプロセスが容易にできる。
【0080】(実施例5)実施例5に用いた反射型液晶
表示装置の断面図を図16に示す。本実施例は、実施例
3にさらに、反射板と凹凸の間に絶縁層を設けたもので
ある。
【0081】凹凸153及びTFT素子部6と反射板1
0との間に層間絶縁膜である有機系絶縁膜30が形成さ
れている。該絶縁膜は、日産化学RN−901の感光性
ポリイミド膜を用いた。形成条件としては、実施例2と
同一条件とした。
【0082】その結果、凹凸の最大高さは、下地ガラス
基板に形製された凹凸とその上部に成膜されたCr、ゲ
ート絶縁膜、半導体層及び、ドーピング層、Crの積層
膜で形成された凹凸の高さの融合で決まり、反射板凹凸
の高さをTFT素子の膜厚に依存せず高くすることがで
きる。さらに、その上部を有機系絶縁膜30で1μmの
膜厚で覆うことにより、凹凸傾斜角度を滑らかにでき
る。
【0083】その結果、本実施例で得られた反射板の性
能は、広い視野角度の範囲で、より強い反射強度を有し
た。この反射板を反射型液晶表示装置に応用した場合、
実用上十分明るく、新聞紙に匹敵する白表示を有するモ
ノクロ反射型パネルを低コストで、実現した。また、対
向側基板側に、RGBカラーフィルタを設置すること
で、明るいカラー反射型パネルを低コストで実現でき
る。
【0084】なお、本実施例においても、TFT素子部
及び凹凸部と反射画素電極板との間の層間絶縁膜とし
て、ポジ型感光型有機系絶縁膜を使用したが、これに限
定されるものではない。例えば、ネガ型感光性有機膜と
して、東レ製フォトニースUR3800、感光性無機膜
として、日産化学製HM−5001を用いても同様の効
果が期待できる。また、感光性を有さない有機膜(例え
ば、日産化学製RN−812)あるいは、無機膜(例え
ば日産化学製NT−L6008)を用いても、レジスト
塗布、現像、剥離プロセスが増えるが、本実施例と同様
の反射型液晶表示装置が得られる。
【0085】また、本実施例では、ガラス基板を削るこ
とで、下部凹凸を形成したが、実施例4に記載するよう
に、ガラス基板上部に有機あるいは無機系絶縁膜の凹凸
形成層を設けて、これを削ることで、下部凹凸を形成し
た場合にも同様の効果が得られる。
【0086】(実施例6)実施例6に用いた反射型液晶
表示装置の製造工程を図8に示す。本実施例は、上記記
載の実施例1における反射型液晶表示素子のアクティブ
マトリクスス駆動素子である逆スタガー構造薄膜トラン
ジスタの代わりに、順スタガー構造薄膜トランジスタを
採用することで、実施例1のプロセスよりもさらに少な
いプロセス数で、明るい反射型液晶表示装置を提供する
ものである。
【0087】本実施例における反射型液晶表示装置の製
造プロセスを説明する。 (a)ガラス基板上5にCr金属をスパッタリング法に
より50nm形成し、ソース電極8、ドレイン電極9及び
信号線をCr金属により形成する(1PR目)。 (b)ドーピング層、半導体層17、ゲート絶縁膜16
をプラズマCVDにより連続成膜を行った。このとき、
ドーピング層には、リン原子を混入しn型化されたアモ
ルファスシリコン(n+a−Si)層を100nm、そし
て半導体層には、アモルファスシリコン層を100nm、
ゲート絶縁膜には、シリコン酸化膜を300nm、シリコ
ン窒化膜を100nm、成膜した。 (c)Cr金属をスパッタリング法により50nm形成
し、ゲート電極15とTFT素子部6のアイランド及
び、凹凸21を形成する(2PR目)。 (d)アルミニウムをスパッタリング法により300nm
形成し、反射板10を形成する(3PR目)。
【0088】本実施例で、プラズマCVD法により成膜
した、シリコン酸化膜、シリコン窒化膜、アモルファス
シリコン膜、n型アモルファスシリコン膜の成膜条件
は、全て、実施例1と同一とした。また、TFT素子ア
イランド6形成及び、凹凸21形成のための、クロム、
シリコン酸化膜、シリコン窒化膜、アモルファスシリコ
ン膜、n型アモルファスシリコン膜のエッチング法、及
びその条件も実施例1と同一とした。
【0089】本実施例においても、反射板表面に形成さ
れる凹凸は、上記(c)のTFT素子部形成と同時に形
成することで、プロセスの簡略化を図ることができる。
特に、アクティブマトリクス駆動素子に順スタガー構造
TFT6を用いたため、前記記載の逆スタガー構造TF
Tに比べて、さらにPR工程数を減少することができ
る。本実施例の全PR数は3となり、従来の6PRに比
べて、半減する。このときの凹凸には、下部より、クロ
ム/シリコン酸化膜/シリコン窒化膜/アモルファスシ
リコン膜/n型アモルファスシリコン膜/クロムの積層
膜が利用されている。そのため、本実施例の場合も、該
凹凸の高さは、前記膜の膜厚で決まり、700nm程度と
なっている。
【0090】なお、上記(c)で形成された凹凸の平面
形状及び配置はランダムとなっている。
【0091】また、凹凸形成では、その形状をマスクす
るためのレジスト層及び露光条件を変化させることで、
凹凸側壁のテーパ化ができる。本実施例で得られた凹凸
の傾斜角度は、5〜15度の範囲で設定した。反射板の
開口率は、70〜80%と設定した。
【0092】上記のとおり作成した下部側基板と、IT
Oで形成された透明電極を有する対向側基板1を、各々
の膜面が対向するようにして重ね合わせた。なお、下部
側基板の反射板と対向側基板の透明電極の表面には、配
向処理が施され、両基板はプラスチック粒子等のスペー
サを介して、パネル周辺部にエポキシ系の接着剤を塗る
ことにより、張り合わされた。その後GH型の液晶を注
入し液晶層とすることで、液晶表示装置を製造した。実
用上十分明るく、新聞紙に匹敵する白表示を有するモノ
クロ反射型パネルを低コストで、実現した。また、対向
側基板側に、RGBカラーフィルタを設置することで、
明るいカラー反射型パネルを低コストで実現できる。
【0093】なお、本実施例の凹凸の高さは、700nm
程度となっているが、これに限定されるものではない。
凹凸高さは、電極金属、絶縁層、半導体層の膜厚を変え
ることで、自由に設定できる。
【0094】(実施例7)本発明の実施例に用いた反射
型液晶表示装置の製造工程を図17に示す。本発明は、
上記記載の実施例2における反射型液晶表示素子のアク
ティブマトリクス駆動用スイッチング素子である逆スタ
ガー構造薄膜トランジスタの代わりに、順スタガー構造
薄膜トランジスタを採用したものである。すなわち、実
施例6の反射型液晶表示素子における反射板と凹凸の間
に絶縁層を新たに設けたものである。
【0095】本実施例における反射型液晶表示装置の製
造プロセスは、(d)の工程以外は実施例6と同様であ
る。
【0096】(c)までを実施例6と同様に行う。 (d)絶縁膜30を成膜し、コンタクトホール49を形
成する(3PR目)。 (e)アルミニウムをスパッタリング法により300nm
形成し、反射板10を形成する(4PR目)。
【0097】本実施例で、プラズマCVD法により成膜
した、シリコン酸化膜、シリコン窒化膜、アモルファス
シリコン膜、n型アモルファスシリコン膜の成膜条件
は、全て、実施例1と同一とした。また、TFT素子ア
イランド5007―8形成及び、凹凸21形成のため
の、クロム、シリコン酸化膜、シリコン窒化膜、アモル
ファスシリコン膜、n型アモルファスシリコン膜のエッ
チング法、及びその条件も実施例1と同一とした。
【0098】本実施例においても、前記実施例6と同様
に、反射板表面に形成される凹凸は、上記(c)のTF
T素子部形成と同時に形成し、アクティブマトリクス駆
動素子に順スタガー構造TFTを用いたため、実施例2
に記載の逆スタガー構造TFTに比べて、さらにPR工
程数を減少することができる。
【0099】凹凸21上に形成した有機系絶縁膜には、
日産化学RN−901の感光性ポリイミド膜を用いた。
形成条件は、実施例2と同一とした。上記凹凸21の上
部を有機系絶縁膜30で1μm の膜厚で覆うことによ
り、凹凸傾斜角度を滑らかにしている。その結果、実施
例2で得られた反射板と同様に、本実施例の場合も、広
い視野角度の範囲で、より強い反射強度を有する反射板
が得られた。
【0100】なお、本実施例の場合、PR数は、前記記
載の実施例6の全PR数3に比べて、+1増加して、4
PR数となる。しかし、従来の6PRより少ない工程数
で反射型液晶表示装置を提供できる。
【0101】また、本実施例で用いた反射板表面に有す
る凹凸の平均傾斜角度は10度とした。
【0102】なお、上記(c)で形成された凹凸の平面
形状及び位置は、ランダムとなっている。
【0103】さらに、反射板10は、下部側基板側の最
上層に位置することから、該反射板面積を最大限に大き
くでき、その結果、開口率は、80〜90%を占めるこ
とから、光輝度反射板を実現できた。
【0104】その後、前記記載の実施例6と同様に、液
晶表示装置を製造し、同様の効果を得た。
【0105】なお、本実施例では、TFT素子部及び凹
凸部と反射画素電極板との間の層間絶縁膜として、ポジ
型感光型有機系絶縁膜を使用した。層間絶縁膜に感光性
を有さない有機系絶縁膜を用いた場合に於いても、同様
の効果が期待できる。ただし、感光性を有する場合と有
さない場合とでは、プロセス工程数が大きく異なる。図
18に、感光性膜を用いた場合と、感光性を有さないポ
リイミド膜を用いた場合のプロセス工程図を示す。感光
性絶縁膜を用いた場合、(a)成膜、(b)露光、
(c)エッチング工程と、僅か3工程で済むが、感光性
を有さない絶縁膜の場合、通常のレジストプロセス処理
を行うために、(a)絶縁膜成膜、(e)レジスト塗
布、(f)露光、(g)現像、(h)エッチング、
(i)レジスト剥離と6工程も必要となる。そのため、
プロセスの簡略化の為には、感光性絶縁膜の使用が有効
である。
【0106】その他の感光性膜として、実施例2でも既
に示した、ネガ型感光性有機膜として、東レ製フォトニ
ースUR3800、感光性無機膜として、日産化学製H
M−5001を用いても同様の効果が期待できる。
【0107】(実施例8)本発明の実施例に用いた反射
型液晶表示装置の製造工程を図19に示す。本実施例
は、上記記載の実施例3における反射型液晶表示素子の
アクティブマトリクスス駆動用スイッチング素子である
逆スタガー構造薄膜トランジスタの代わりに、順スタガ
ー構造薄膜トランジスタを採用した。
【0108】順スタガー構造薄膜トランジスタの製造プ
ロセスは実施例6と同様に行った。 (a)ガラス基板上5にCr金属をスパッタリング法に
より50nm形成し、ソース電極8、ドレイン電極9及び
信号線をCr金属により形成する(1PR目)。 (b)ドーピング層、半導体層17、ゲート絶縁膜16
をプラズマCVDにより連続成膜を行った。このとき、
ドーピング層には、リン原子を混入しn型化されたアモ
ルファスシリコン(n+a−Si)層を100nm、そし
て半導体層には、アモルファスシリコン層を100nm、
ゲート絶縁膜には、シリコン酸化膜を300nm、シリコ
ン窒化膜を100nm、成膜した。 (c)Cr金属をスパッタリング法により50nm形成
し、ゲート電極15とTFT素子部6のアイランド及
び、凹凸21を形成する(2PR目)。
【0109】ガラス基板5のエッチング工程以降は実施
例3と同様に行った。 (d)(c)において、TFT素子のアイランド化及
び、凹凸形成のために、Cr/シリコン酸化膜/シリコ
ン窒化膜/アモルファスシリコン膜/n型化アモルファ
スシリコン膜/Crをエッチングした後、連続的に下地
のガラス基板のエッチングを行う。50%ふっ化水素酸
水溶液を用いて、ガラス基板を1μm エッチングした。
その結果、下部のガラス基板凹凸と上部の凹凸を合わせ
て、最大1.7μm の高さを有する凹凸が形成された。 (e)アルミニウムをスパッタリング法により300nm
形成し、反射板10を形成した(3PR目)。
【0110】その後、前記の実施例6に記載の製造プロ
セスを用いて、反射型液晶表示装置の製造を行った。
【0111】本実施例では、ガラス基板5をもエッチン
グすることにより、凹凸153の高さをTFT素子の膜
厚に依存せず高くすることができる。したがって、PR
数を増やすことなく、高性能TFTを得るための最適膜
厚に設定でき、かつ、良好な反射性能を得るために必要
な凹凸の高さも得ることができる。
【0112】その結果、実用上十分明るく、新聞紙に匹
敵する白表示を有するモノクロ反射型パネルを低コスト
で、実現した。また、対向側基板側に、RGBカラーフ
ィルタを設置することで、明るいカラー反射型パネルを
低コストで実現できた。
【0113】なお、本実施例では、第一の凹凸構造は、
ガラス基板のエッチングにより得られたが、ガラス基板
上に酸化シリコン膜、窒化シリコン膜等の無機膜、ある
いはポリイミド膜等の有機膜を形成し、これをエッチン
グすることで、第一の凹凸構造を形成しても、同様の効
果が期待できる。
【0114】(実施例9)本発明の実施例に用いた反射
型液晶表示装置の製造工程を図20に示す。本発明は、
上記記載の実施例5における反射型液晶表示素子のアク
ティブマトリクスス駆動用スイッチング素子である逆ス
タガー構造薄膜トランジスタの代わりに、順スタガー構
造薄膜トランジスタを採用した。
【0115】順スタガー構造薄膜トランジスタの製造工
程は実施例6と同様に行い、反射板と凹凸の間の絶縁膜
の形成は実施例5と同様に行った。
【0116】なお、本実施例では、第一の凹凸構造は、
ガラス基板のエッチングにより得られたが、ガラス基板
上に酸化シリコン膜、窒化シリコン膜等の無機膜、ある
いはポリイミド膜等の有機膜を形成し、これをエッチン
グすることで、第一の凹凸構造を形成して、本実施例と
同一プロセスにより製造しても、同様の効果が期待でき
る。
【0117】(実施例10)本実施例では、実施例2〜
5、7〜10に記載の製造工程と同様に製造された反射
型液晶表示装置のコンタクトホールを各々の画素内部で
異なる位置に配置して、該コンタクトホール部の凹部も
反射板表面の不規則な凹凸構造の一部とすることで、明
るい反射型液晶表示装置を提供するものである。
【0118】本実施例では、凹凸の上部に感光性ポリイ
ミド膜(日産化学RN−902)をアクティブマトリク
ス駆動素子及び配線上に形成し、反射板がアクティブマ
トリクス駆動素子を覆うように形成し、且つ前記反射板
は画素電極の機能を有し、コンタクトホールにより前記
アクティブマトリクス駆動素子と電気的に接続した。
【0119】このコンタクトホール形成に使用されるマ
スクパターンは、各々の画素内部で異なる位置に配置し
た。このマスクを使用して、感光性ポリイミド膜に露
光、現像することで、コンタクトホール部の形成を行っ
た。これにより、ポリイミド膜を介して、反射板とアク
ティブマトリクス駆動素子を電気的に接続するための反
射板下部に位置するコンタクトホール位置が、画素ごと
に不規則に配置された。なお、本実施例では、一辺10
μm の正方形パターンをコンタクト形状として採用した
が、これに限定されるものではない。
【0120】図7(a)にコンタクトホール位置が周期
的である場合、図7(b)にコンタクトホール位置が不
規則である場合の平面図を示す。(a)では、ホール部
49が表示画素サイズで周期的に配置されるため、パネ
ル表示は、該ホール部の平坦部が観察される。これに対
して、本実施例(b)はコンタクトホール位置49を、
各画素内部領域で変化させることで、コンタクトホール
部の凹部も反射板表面の不規則な凹凸構造の一部とな
り、ホール部が認識されないことにより、良好な反射板
性能が提供された。
【0121】(実施例11)本実施例では、実施例2で
示したアクティブマトリクス駆動素子に逆スタガー構造
薄膜トランジスタを用いる反射型液晶表示装置のデータ
線からの書き込み印加電圧を次の書き込みまで保持する
ための液晶との並列容量の作製を示す。本実施例で作製
した反射型液晶表示装置の蓄積容量線及びゲートストレ
ージ線を有する場合断面構造図を図21に示す。
【0122】本実施例では、実施例2の製造工程(a)
の工程において、ゲート電極15と凹凸21用のCrパ
ターンを形成すると同時に、蓄積容量線用あるいは、ゲ
ートストレージ線用のCrパターン211を形成するこ
と以外は実施例2と同様に作製した。それゆえ、絶縁膜
30を介して反射板10と蓄積容量線またはゲートスト
レージ線211の間で蓄積容量Cを設けることができ
る。
【0123】上記、並列容量の作製は、実施例2の製造
工程(a)の工程で使用するマスクを変更するだけで、
アクティブマトリクス駆動素子と凹凸の製造プロセス
で、上記蓄積容量及びゲートストレージ用パターンも同
時に形成できる。
【0124】さらに、並列容量形状による反射板表面の
最適凹凸構造を乱さないために、蓄積容量線及び、ゲー
トストレージ線の平面形状は、パターニングに用いたマ
スクパターンを不規則形状とすることで、不規則形状と
した。ただし、個々の画素内の容量値が同一となるよう
に不規則形状を決定した。
【0125】本実施例においても、アクティブマトリク
ス駆動素子と凹凸の製造プロセスで同時に形成でき、並
列容量の平面形状は、不規則形状とすることにより、反
射板性能を劣化させずかつ、製造工程数を増加させるこ
となく、並列容量が形成でき、これにより、実用上、明
るく、みやすい、優れた表示性能を有する反射型液晶表
示装置を提供できた。
【0126】(実施例12)本実施例では、実施例2で
示したアクティブマトリクス駆動素子に逆スタガー構造
薄膜トランジスタを用いる反射型液晶表示装置のデータ
線からの書き込み印加電圧を次の書き込みまで保持する
ための液晶との並列容量の作製を示す。本実施例で作製
した反射型液晶表示装置の蓄積容量線を有する場合の断
面構造図を図22に示す。
【0127】本実施例では、実施例2の製造工程(d)
の工程において、ソース電極8、ドレイン電極9と凹凸
用のCrパターン21を形成すると同時に、蓄積容量線
用のCrパターン221を形成すること以外は実施例2
と同様に作製した。それゆえ、絶縁膜30を介して反射
板10と蓄積容量線221の間で蓄積容量Cを設けるこ
とができる。
【0128】上記、並列容量の作製は、実施例2の製造
工程(d)の工程で使用するマスクを変更するだけで、
アクティブマトリクス駆動素子と凹凸の製造プロセス
で、上記蓄積容量用パターンも同時に形成できる。
【0129】さらに、該並列容量形状による反射板表面
の最適凹凸構造を乱さないために、蓄積容量線の平面形
状は、パターニングに用いたマスクパターンを不規則形
状とすることで、不規則形状とした。ただし、個々の画
素内の蓄積容量値が同一となるように不規則形状を決定
する。
【0130】本実施例に於いても、アクティブマトリク
ス駆動素子と凹凸の製造プロセスで同時に形成でき、並
列容量の平面形状は、不規則形状とすることにより、反
射板性能を劣化させずかつ、製造工程数を増加させるこ
となく、並列容量が形成でき、これにより、実用上、明
るく、みやすい、優れた表示性能を有する反射型液晶表
示装置を提供できた。
【0131】(実施例13)本実施例では、実施例2で
示したアクティブマトリクス駆動素子に逆スタガー構造
薄膜トランジスタを用いる反射型液晶表示装置のデータ
線からの書き込み印加電圧を次の書き込みまで保持する
ための液晶との並列容量の作製を示す。本実施例で作製
した反射型液晶表示装置の蓄積容量線を有する場合の断
面構造図を図23に示す。
【0132】本実施例では、実施例2の製造工程(d)
の工程において、ソース電極8、ドレイン電極9と凹凸
用のCrパターン21を形成すると同時に、蓄積容量線
用のCrパターン231を形成する。そして、製造工程
(e)のコンタクトホール49形成時において、ソース
・ドレイン電極と同層に形成された蓄積容量線用のCr
パターン231と反射板10のコンタクト部232を形
成し、これを電気的に接続する以外は、実施例2と同様
に作製した。これにより、ゲート絶縁膜16を介して反
射板10と蓄積容量線用Crパターン233の間で蓄積
容量Cを設けることができる。
【0133】上記、並列容量の作製は、実施例2の製造
工程(d)と(e)の工程で使用するマスクを変更する
だけで、アクティブマトリクス駆動素子と凹凸の製造プ
ロセスで、上記蓄積容量用パターンも同時に形成でき
る。
【0134】さらに、並列容量形状による反射板表面の
最適凹凸構造を乱さないために、蓄積容量線の平面形状
は、パターニングに用いたマスクパターンを不規則形状
とすることで、不規則形状とした。ただし、個々の画素
内の蓄積容量値が同一となるように不規則形状を決定す
る。
【0135】本実施例に於いても、アクティブマトリク
ス駆動素子と凹凸の製造プロセスで同時に形成でき、該
並列容量の平面形状は、不規則形状とすることにより、
反射板性能を劣化させずかつ、製造工程数を増加させる
ことなく、並列容量が形成でき、これにより、実用上、
明るく、みやすい、優れた表示性能を有する反射型液晶
表示装置を提供できた。
【0136】(実施例14)図24に、本実施例の反射
型液晶表示装置の断面図を示す。この実施例では、実施
例13で、蓄積容量線用Crパターンのうち、ゲート電
極と同窓のCrパターン233と反射板10とをコンタ
クト部232で接続している。
【0137】これにより、TFT素子時に形成されたゲ
ート絶縁膜16を介して反射板10と蓄積容量線231
の間で蓄積容量Cを設けることができる。
【0138】上記、並列容量の作製は、実施例2の製造
工程(d)と(e)の工程で使用するマスクを変更する
だけで、アクティブマトリクス駆動素子と凹凸の製造プ
ロセスで、上記蓄積容量用パターンも同時に形成でき
る。
【0139】さらに、並列容量形状による反射板表面の
最適凹凸構造を乱さないために、蓄積容量線の平面形状
は、パターニングに用いたマスクパターンを不規則形状
とすることで、不規則形状とした。ただし、個々の画素
内の蓄積容量値が同一となるように不規則形状を決定す
る。
【0140】本実施例に於いても、アクティブマトリク
ス駆動素子と凹凸の製造プロセスで同時に形成でき、並
列容量の平面形状は、不規則形状とすることにより、反
射板性能を劣化させずかつ、製造工程数を増加させるこ
となく、並列容量が形成でき、これにより、実用上、明
るく、みやすい、優れた表示性能を有する反射型液晶表
示装置を提供できた。
【0141】(実施例15)本実施例では、実施例6で
示したアクティブマトリクス駆動素子に順スタガー構造
薄膜トランジスタを用いる反射型液晶表示装置のデータ
線からの書き込み印加電圧を次の書き込みまで保持する
ための液晶との並列容量の作製を示す。本実施例で作製
した反射型液晶表示装置の蓄積容量線、あるいは、ゲー
トストレージ線を有する場合の断面構造図を図25に示
す。
【0142】本実施例では、実施例6の製造工程(c)
の工程において、ゲート電極15と凹凸用のCrパター
ン21を形成すると同時に、蓄積容量線用あるいは、ゲ
ートストレージ線用のCrパターン251を形成するこ
と以外は実施例6と同様に試作した。それゆえ、絶縁膜
30を介して反射板10と蓄積容量線またはゲートスト
レージ線251の間で蓄積容量Cを設けることができ
る。
【0143】上記、並列容量の作製は、実施例2の製造
工程(c)の工程で使用するマスクを変更するだけで、
アクティブマトリクス駆動素子と凹凸の製造プロセス
で、上記蓄積容量及びゲートストレージ用パターンも同
時に形成できる。
【0144】さらに、並列容量形状による反射板表面の
最適凹凸構造を乱さないために、蓄積容量線及び、ゲー
トストレージ線の平面形状は、パターニングに用いたマ
スクパターンを不規則形状とすることで、不規則形状と
した。ただし、個々の画素内の容量値が同一となるよう
に不規則形状を決定した。
【0145】本実施例に於いても、アクティブマトリク
ス駆動素子と凹凸の製造プロセスで同時に形成でき、該
並列容量の平面形状は、不規則形状とすることにより、
反射板性能を劣化させず且つ、製造工程数を増加させる
ことなく、並列容量が形成でき、これにより、実用上、
明るく、みやすい、優れた表示性能を有する反射型液晶
表示装置を提供できた。
【0146】(実施例16、17、18)順スタガー構
造薄膜トランジスタを用いた場合にも、逆スタガー構造
薄膜トランジスタを用いた例で示した蓄積容量線のいく
つかのバリエーションが、考えられる。
【0147】図26、図27、図28に、実施例16、
17、18の反射型液晶表示装置の断面図を示す。
【0148】実施例16では、ソース、ドレイン電極と
同層に設けたCrパターン211と反射板10とで、蓄
積容量Cを形成している。
【0149】実施例17では、ゲート電極と同層に形成
されたCrパターン231と反射板10とをコンタクト
部232で接続し、これとソース、ドレイン電極と同層
に設けたCrパターン233とで蓄積容量Cを形成して
いる。
【0150】実施例18では、ソース、ドレイン電極と
同層に形成されたCrパターン233と反射板10とを
コンタクト部232で接続し、これとゲート電極と同層
に設けたCrパターン231とで蓄積容量Cを形成して
いる。
【0151】実施例11〜18では、TFT素子作成時
に成膜された膜と、その上に形成された絶縁膜により凹
凸が形成されているが、ガラス基板またはガラス基板上
に形成された絶縁膜をもエッチングすることにより凹凸
を形成した場合にも、上記並列容量の提供ができる。
【0152】(実施例19)本発明の実施例に用いた反
射型液晶表示装置の製造工程を図29に示す。既に実施
例1〜実施例10に記載の本発明の反射型液晶表示装置
におけるアクティブマトリクス駆動素子には、薄膜トラ
ンジスタが使用されてきたがこれに限定されるものでは
ない。本実施例では、アクティブマトリクス駆動素子に
MIMダイオードを採用した場合について示す。
【0153】本実施例における反射型液晶表示装置の製
造プロセスの場合、下部基板としては、ガラス基板を用
いた。ガラス基板の上に、Crを50nmスパッタ法によ
り成膜し、通常のフォトレジスト法によりパターニング
しリード電極291および凹凸パターン292を作成し
た(a)。その後、プラズマCVD法を用いて絶縁層と
してSiNx膜を500nm成膜し、通常のフォトレジス
ト法によりパターニングし、MIM素子部の絶縁層部2
93及び反射板の凹凸294を形成した(b)。さら
に、アルミニウムをスパッタリング法により300nm成
膜し、反射板10の形成を行う。
【0154】その後、上記MIM素子を作製したガラス
基板5と、透明導電膜のITO295が、リード電極2
91と直交する方向に短冊状に形成した対向側基板29
6を、各々の膜面が対向するようにして重ね合わせた。
なお、MIM素子を形成したガラス基板5と対向側基板
296には、配向処理が施され、両基板はプラスチック
粒子等のスペーサを介して、パネル周辺部にエポキシ系
の接着剤を塗ることにより、張り合わされた。その後G
H型液晶11を注入し液晶層とすることで、液晶表示装
置を製造した。実用上十分明るく、新聞紙に匹敵する白
表示を有するモノクロ反射型パネルを低コストで、実現
した。また、対向側基板側に、RGBカラーフィルタを
設置することで、明るいカラー反射型パネルを低コスト
で実現できる。
【0155】(実施例20)本発明の実施例に用いた反
射型液晶表示装置の製造工程を図30に示す。本実施例
は、実施例19にさらにガラス基板をエッチングし、凹
凸高さを高くしたものである。
【0156】本実施例における反射型液晶表示装置の製
造工程は、(c)の工程以外は実施例19と同様である
ので記載を省略する。(b)の工程で通常のフォトレジ
スト法によりパターニングし、窒化シリコン膜をエッチ
ングの後、連続的に下地のガラス基板を1μm エッチン
グする(c)。
【0157】その後、前記に記載の実施例19と同様
に、対向側基板296と上記で作製したMIM素子を形
成したガラス基板5を用いて、液晶表示装置を製造し
た。
【0158】本実施例では、ガラス基板をもエッチング
することにより、凹凸の高さをMIM素子の膜厚に依存
せず高くすることができる。したがって、MIM素子の
膜厚を最適化するとともに、凹凸の高さも最適化するこ
とができ、高性能MIM素子と高性能反射板が実現でき
る。本実施例の場合においても、実用上十分明るく、新
聞紙に匹敵する白表示を有するモノクロ反射型パネルを
低コストで、実現した。また、対向側基板側に、RGB
カラーフィルタを設置することで、明るいカラー反射型
パネルを低コストで実現できる。
【0159】(実施例21)図31に本実施例で製造し
た反射型液晶表示装置のMIM素子を形成したガラス基
板断面図を示す。
【0160】本実施例では、前記に記載の実施例20の
図30(c)のMIM素子部の絶縁層部及び反射板の凹
凸を形成した後、感光性ポリイミド(RN−901)3
11を塗布、90℃で仮焼成、露光・現像により、パタ
ーン形成し、250℃で30分間の本焼成を行う。凹
凸、MIM素子、リード線上部を該ポリイミド膜で0.
5〜2μm の膜厚で覆う。MIM素子と反射板10とは
コンタクトホール312により接続される。
【0161】前記実施例に比べて、PR数は1増加する
が、凹凸傾斜角度を滑らかにでき、反射板の反射性能を
最適にする事ができる。ただし、従来MIMダイオード
を用いた反射型液晶表示装置よりも低コストで実現でき
る。
【0162】その後、前記に記載の実施例19と同様
に、対向側基板と上記で作製したMIM素子を形成した
ガラス基板を用いて、液晶表示装置を製造した。本実施
例の場合においても、実用上十分明るく、新聞紙に匹敵
する白表示を有するモノクロ反射型パネルを低コスト
で、実現した。また、対向側基板側に、RGBカラーフ
ィルタを設置することで、明るいカラー反射型パネルを
低コストで実現できる。
【0163】(実施例22)本発明の実施例に用いた反
射型液晶表示装置の製造工程を図32に示す。この実施
例では、アクティブマトリクス駆動素子として、MIM
ダイオードを採用し、そのリード電極にTaを用いた。
以下に製造工程を詳しく説明する。
【0164】ガラス基板5の上に、リード電極291と
してTaを500nmスパッタ法により作成し、リード電
極291と凹凸パターン292とを同時に形成した
(a)。その後、リード線291を、0.1wt%のク
エン酸水溶液に浸し、2Vの定電圧を印加することで、
陽極酸化を行った。これにより、リード電極の表面部分
が陽極酸化絶縁薄膜321で覆われる。なお、この陽極
酸化層膜厚は200nmとした(b)。その後、絶縁膜と
してSiO2 膜322を600nm蒸着した。酸化シリコ
ン層をエッチングすることで、MIMダイオード領域の
アイランド化322と凹凸323の形成を同時に行う
(c)。その後、アルミニウムをスパッタリング法によ
り300nm成膜し、反射板10の形成を行う(d)。
【0165】その後、前記に記載の実施例19と同様
に、対向側基板と上記で作製したMIM基板を用いて、
液晶表示装置を製造した。本実施例の場合においても、
実用上十分明るく、新聞紙に匹敵する白表示を有するモ
ノクロ反射型パネルを低コストで、実現した。また、対
向側基板側に、RGBカラーフィルタを設置すること
で、明るいカラー反射型パネルを低コストで実現でき
る。
【0166】(実施例23)本発明の実施例に用いた反
射型液晶表示装置の製造工程を図33に示す。
【0167】本実施例では、実施例22でリード電極を
形成した後、連続的に下地のガラス基板を1μm エッチ
ングする。その後、実施例22と同様の方法で、Taを
陽極酸化し、リード電極の表面部分を陽極酸化絶縁膜3
21で覆う。その後、アルミニウムをスパッタリング法
により300nm成膜し、反射板10の形成を行う。
【0168】その後、前記に記載の実施例19と同様
に、対向側基板と上記で作製したMIM基板を用いて、
液晶表示装置を製造した。本実施例の場合においても、
実用上十分明るく、新聞紙に匹敵する白表示を有するモ
ノクロ反射型パネルを低コストで、実現した。また、対
向側基板側に、RGBカラーフィルタを設置すること
で、明るいカラー反射型パネルを低コストで実現でき
る。
【0169】(実施例24)本発明の実施例に用いた反
射型液晶表示装置の製造工程を図34に示す。
【0170】本実施例では、実施例23で陽極酸化を行
う工程まで、同様に行い、その後、有機系あるいは無機
系絶縁膜311を形成して、コンタクトホール312を
形成した後、アルミニウムをスパッタリング法により3
00nm成膜し、反射板10の形成を行う。有機系あるい
は無機系絶縁膜としては、感光性ポリイミドを用いた。
【0171】感光性ポリイミド(RN−901)は塗布
後、90℃で仮焼成、露光・現像により、パターン形成
し、250℃で30分間の本焼成を行う。凹凸、MIM
素子、リード線上部をポリイミド膜で0.5〜2μm の
膜厚で覆う。
【0172】前記実施例に比べて、PR数は1増加する
が、凹凸傾斜角度を滑らかにでき、反射板の反射性能を
最適にする事ができる。ただし、従来MIMダイオード
を用いた反射型液晶表示装置よりも低コストで実現でき
る。
【0173】その後、前記に記載の実施例19と同様
に、対向側基板と上記で作製したMIM素子を形成した
ガラス基板を用いて、液晶表示装置を製造した。本実施
例の場合においても、実用上十分明るく、新聞紙に匹敵
する白表示を有するモノクロ反射型パネルを低コスト
で、実現した。また、対向側基板側に、RGBカラーフ
ィルタを設置することで、明るいカラー反射型パネルを
低コストで実現できる。
【0174】
【発明の効果】本発明に従えば、反射型液晶表示装置の
反射性能を決める反射板表面凹凸は、アクティブマトリ
クス駆動素子製造において、成膜された絶縁膜、半導体
膜、電極金属の単層及び積層膜をアクティブマトリクス
駆動素子のパターン形成と同時に凹凸の元となるパター
ン形成を行うことで、低コストで、且つ良好な表示性能
を有する反射型液晶示装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の逆スタガー構造TFTを用いた反射型
液晶表示装置の下部側基板の製造工程図。
【図2】本発明の逆スタガー構造TFTを用いた反射型
液晶表示装置の断面構造図。
【図3】本発明の絶縁性基板をエッチングして凹凸形成
した逆スタガーTFTを用いた反射型液晶表示装置の断
面構造図。
【図4】反射板凹凸が周期構造の反射特性を示す図。
【図5】反射板凹凸が不規則構造の反射特性を示す図。
【図6】反射性能評価システムの概略図。
【図7】従来技術と本発明のコンタクトホール位置の説
明図。
【図8】本発明の順スタガー構造TFTを用いた反射型
液晶表示装置の下部側基板の製造工程図。
【図9】本発明の実施例の反射板凹凸表面の断面図。
【図10】本発明の実施例の液晶表示装置の断面図。
【図11】本発明の実施例2の下部側基板の製造工程
図。
【図12】絶縁膜を有さない反射板の反射性能を示す
図。
【図13】本発明の実施例2の絶縁膜を有する反射板の
反射性能を示す図。
【図14】本発明の実施例3の下部側基板の製造工程
図。
【図15】本発明の実施例4の下部側基板の断面図。
【図16】本発明の実施例5の断面図。
【図17】本発明の実施例7の下部側基板の製造工程
図。
【図18】感光性絶縁膜と通常の絶縁膜の場合の製造工
程の違いを示す説明図。
【図19】本発明の実施例8の下部側基板の製造工程
図。
【図20】本発明の実施例9の下部側基板の製造工程
図。
【図21】本発明の実施例9の凹凸形成層を設けた場合
の下部側基板の断面図。
【図22】本発明の実施例12の下部側基板の断面図。
【図23】本発明の実施例13の下部側基板の断面図。
【図24】本発明の実施例14の下部側基板の断面図。
【図25】本発明の実施例15の下部側基板の断面図。
【図26】本発明の実施例16の下部側基板の断面図。
【図27】本発明の実施例17の下部側基板の断面図。
【図28】本発明の実施例18の下部側基板の断面図。
【図29】本発明の実施例19の下部側基板の製造工程
図。
【図30】本発明の実施例20の下部側基板の製造工程
図。
【図31】本発明の実施例21の下部側基板の断面図。
【図32】本発明の実施例22の下部側基板の製造工程
図。
【図33】本発明の実施例23の下部側基板の製造工程
図。
【図34】本発明の実施例24の下部側基板の製造工程
図。
【図35】従来の反射型液晶表示装置の断面図。
【図36】従来の反射型液晶表示装置の下部側基板の製
造工程図。
【符号の説明】
1 対向側基板 2 対向側ガラス基板 3 透明電極 4 下部側基板 5 ガラス基板 6 TFT 7 ポリイミド膜 8 ソース電極 9 ドレイン電極 10 反射板 11 液晶層 12 入射光 13 反射光 14 凹凸形状 15 ゲート電極 16 ゲート絶縁膜 17 半導体層 18 ポリイミド表面凹凸 49 コンタクトホール 20 凹凸パターン 21 凹凸パターン 22 アイランド 30 絶縁膜 40 凹凸 41 凹凸最大高さ 71 ソース信号線 72 ゲート信号線 91 側壁部 92 テーパ部 93 凹凸傾斜角度 101 接着剤 141 凹凸パターン 151 絶縁層 152 絶縁層凹凸部 153 全凹凸部 211 蓄積容量線またはゲートストレージ線用Crパ
ターン 221 蓄積容量線 231 蓄積容量線 232 蓄積容量用コンタクトホール 233 蓄積容量線下部電極 251 蓄積容量線あるいはゲートストレージ線 291 リード電極 292 凹凸用Cr 293 絶縁層 284 凹凸 296 対向側基板 301 ガラス凹凸部 311 絶縁層 312 コンタクトホール 322 酸化シリコン膜

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】アクティブマトリクス駆動素子と表面に凹
    凸のある反射板とを有する絶縁性基板と、透明電極を有
    する絶縁性基板とで液晶層を挟み込んだ構造よりなる反
    射型液晶表示装置において、前記アクティブマトリクス
    駆動素子の製造工程で成膜された金属膜、絶縁膜、半導
    体膜のうちの少なくとも1つをパターニングして形成し
    た凹凸が、前記反射板下に形成されていることを特徴と
    する反射型液晶表示装置。
  2. 【請求項2】アクティブマトリクス駆動素子と表面に凹
    凸のある反射板とを有する絶縁性基板と、透明電極を有
    する絶縁性基板とで液晶層を挟み込んだ構造よりなる反
    射型液晶表示装置において、前記アクティブマトリクス
    駆動素子の製造工程で成膜された金属膜、絶縁膜、半導
    体膜のうちの少なくとも1つをパターニングして形成し
    た凹凸と、この凹凸上に成膜された絶縁膜とが、前記反
    射板下に形成されていることを特徴とする反射型液晶表
    示装置。
  3. 【請求項3】アクティブマトリクス駆動素子と表面に凹
    凸のある反射板とを有する絶縁性基板と、透明電極を有
    する絶縁性基板とで液晶層を挟み込んだ構造よりなる反
    射型液晶表示装置において、前記反射板下には、前記絶
    縁性基板をパターニングして形成した凹凸と、この凹凸
    上にこの凹凸の周期と合わせて形成した、前記アクティ
    ブマトリクス駆動素子の製造工程で成膜された金属膜、
    絶縁膜、半導体膜のうちの少なくとも1つをパターニン
    グして形成した凹凸とが形成されていることを特徴とす
    る反射型液晶表示装置。
  4. 【請求項4】アクティブマトリクス駆動素子と表面に凹
    凸のある反射板とを有する絶縁性基板と、透明電極を有
    する絶縁性基板とで液晶層を挟み込んだ構造よりなる反
    射型液晶表示装置において、前記反射板下には、前記絶
    縁性基板をパターニングして形成した凹凸と、この凹凸
    上にこの凹凸の周期と合わせて形成した、前記アクティ
    ブマトリクス駆動素子の製造工程で成膜された金属膜、
    絶縁膜、半導体膜のうちの少なくとも1つをパターニン
    グして形成した凹凸と、この凹凸上に成膜された絶縁膜
    とが形成されていることを特徴とする反射型液晶表示装
    置。
  5. 【請求項5】前記反射板下に形成された凹凸の凹凸高
    さ、周期、傾斜角度の、少なくとも一つが不規則である
    ことを特徴とする請求項1または請求項2または請求項
    3または請求項4のいずれか一に記載の反射型液晶表示
    装置。
  6. 【請求項6】前記凹凸上に形成された絶縁膜が、前記ア
    クティブマトリクス駆動素子及び配線上にも形成され、
    前記有機系絶縁膜あるいは前記無機系絶縁膜の上部に反
    射板が前記アクティブマトリクス駆動素子を覆うように
    形成され、かつ前記反射板は画素電極の機能を有し、コ
    ンタクトホールにより前記アクティブマトリクス駆動素
    子と電気的に接続されていることを特徴とする請求項2
    または4記載の反射型液晶表示装置。
  7. 【請求項7】前記コンタクトホールの位置は、前記各画
    素電極ごとに前記各画素電極内で異なる位置に形成され
    ていることを特徴とする請求項6に記載の反射型液晶表
    示装置。
  8. 【請求項8】前記アクティブマトリクス駆動素子が、順
    スタガー構造のトランジスタであることを特徴とする請
    求項1乃至7のいずれか一に記載の反射型液晶表示装
    置。
  9. 【請求項9】絶縁性基板上にアクティブマトリクス駆動
    素子を形成するのと同時に、このアクティブマトリクス
    駆動素子の製造工程で成膜された金属膜、絶縁膜、半導
    体膜のうちの少なくとも1つをパターニングし、反射板
    を形成すべき位置にあらかじめ凹凸を形成する工程と、
    この凹凸の上に反射板を形成する工程と、このアクティ
    ブマトリクス駆動素子と反射板とを形成した絶縁性基板
    と、透明電極を有する絶縁性基板とを張り合わせ、液晶
    を注入する工程とを含むことを特徴とする反射型液晶表
    示装置の製造方法。
JP7208817A 1995-08-16 1995-08-16 反射型液晶表示装置及びその製造方法 Expired - Lifetime JP2990046B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7208817A JP2990046B2 (ja) 1995-08-16 1995-08-16 反射型液晶表示装置及びその製造方法
KR1019960033921A KR100241489B1 (ko) 1995-08-16 1996-08-16 반사형 액정 표시 장치 및 그 제조 방법
US08/689,718 US6208395B1 (en) 1995-08-16 1996-08-16 Reflective liquid crystal display and method for fabricating the same
TW085110125A TW326085B (en) 1995-08-16 1996-08-19 Reflective liquid crystal display and method for fabricating the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7208817A JP2990046B2 (ja) 1995-08-16 1995-08-16 反射型液晶表示装置及びその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0954318A true JPH0954318A (ja) 1997-02-25
JP2990046B2 JP2990046B2 (ja) 1999-12-13

Family

ID=16562621

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7208817A Expired - Lifetime JP2990046B2 (ja) 1995-08-16 1995-08-16 反射型液晶表示装置及びその製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6208395B1 (ja)
JP (1) JP2990046B2 (ja)
KR (1) KR100241489B1 (ja)
TW (1) TW326085B (ja)

Cited By (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001061403A1 (fr) * 2000-02-16 2001-08-23 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Corps moule, panneau reflechissant, afficheur reflectif et procede pour produire un panneau reflechissant
JP2001318626A (ja) * 2000-05-09 2001-11-16 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置およびその作製方法
JP2002014337A (ja) * 2000-04-27 2002-01-18 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置およびその作製方法
US6387737B1 (en) 2000-03-08 2002-05-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP2002169171A (ja) * 2000-11-30 2002-06-14 Nec Corp 反射型液晶表示装置及びその製造方法
US6407784B1 (en) * 1998-03-11 2002-06-18 Nec Corporation Reflection type liquid crystal display and method of fabricating the same
JP2002182243A (ja) * 2000-12-15 2002-06-26 Nec Corp 液晶表示装置用トランジスタ基板及びその製造方法
JP2003029253A (ja) * 2001-07-09 2003-01-29 Koninkl Philips Electronics Nv 反射電極を形成する方法及び液晶表示装置
US6709901B1 (en) 2000-03-13 2004-03-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having stick drivers and a method of manufacturing the same
US6747289B2 (en) 2000-04-27 2004-06-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of fabricating thereof
US6762082B2 (en) 2000-03-06 2004-07-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of fabricating the same
US6839107B2 (en) 2001-04-25 2005-01-04 Seiko Epson Corporation Electro-optical device having irregularity-forming thin film and electronic apparatus
US6855957B1 (en) 2000-03-13 2005-02-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP2005173037A (ja) * 2003-12-09 2005-06-30 Fujitsu Display Technologies Corp 液晶表示装置及びその製造方法
KR100567504B1 (ko) * 2001-08-31 2006-04-03 엔이씨 엘씨디 테크놀로지스, 엘티디. 반사막 제조 방법
JP2006106780A (ja) * 2002-09-30 2006-04-20 Seiko Epson Corp 電気光学装置および電子機器
US7071037B2 (en) 2001-03-06 2006-07-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
KR100612993B1 (ko) * 1999-12-27 2006-08-14 삼성전자주식회사 광시야각 액정 표시 장치 및 그에 사용되는 기판
KR100687491B1 (ko) * 1999-12-28 2007-02-27 엘지.필립스 엘시디 주식회사 반사형 액정 표시장치의 어레이 기판 제조방법
KR100631308B1 (ko) * 1998-11-06 2007-03-02 삼성전자주식회사 반사형 액정표시장치 및 그의 제조방법
JP2007101843A (ja) * 2005-10-04 2007-04-19 Mitsubishi Electric Corp 液晶表示装置
KR100743351B1 (ko) * 2002-12-17 2007-07-26 샤프 가부시키가이샤 액정 표시 장치 및 그 제조 방법
JP2007232818A (ja) * 2006-02-28 2007-09-13 Mitsubishi Electric Corp 画像表示装置
JP2007272256A (ja) * 2007-07-26 2007-10-18 Advanced Display Inc 液晶表示装置およびその製造方法
WO2008001595A1 (fr) * 2006-06-30 2008-01-03 Sharp Kabushiki Kaisha Dispositif d'affichage à cristaux liquides et procédé de fabrication du dispositif d'affichage à cristaux liquides
WO2008047517A1 (fr) 2006-10-18 2008-04-24 Sharp Kabushiki Kaisha Dispositif d'affichage à cristaux liquides et procédé de fabrication de celui-ci
WO2008047788A1 (fr) * 2006-10-18 2008-04-24 Sharp Kabushiki Kaisha Écran à cristaux liquides et procédé de fabrication associé
WO2008072423A1 (ja) 2006-12-14 2008-06-19 Sharp Kabushiki Kaisha 液晶表示装置および液晶表示装置の製造方法
CN100405189C (zh) * 2000-02-02 2008-07-23 三洋电机株式会社 反射型液晶显示装置
WO2008090682A1 (ja) 2007-01-24 2008-07-31 Sharp Kabushiki Kaisha 液晶表示装置
WO2008093467A1 (ja) 2007-01-31 2008-08-07 Sharp Kabushiki Kaisha 液晶表示装置
WO2009001508A1 (ja) 2007-06-26 2008-12-31 Sharp Kabushiki Kaisha 液晶表示装置、及び液晶表示装置の製造方法
JP2011118422A (ja) * 2011-03-01 2011-06-16 Nec Lcd Technologies Ltd 液晶表示装置、液晶表示装置用薄膜トランジスタアレイ基板及びその製造方法
JP2012078847A (ja) * 2000-07-31 2012-04-19 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置の作製方法及び液晶表示装置の作製方法
JPWO2010134236A1 (ja) * 2009-05-18 2012-11-08 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板及びそれを用いた液晶表示装置
US8659726B2 (en) 2007-04-13 2014-02-25 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display and method of manufacturing liquid crystal display
JP2014041372A (ja) * 2013-10-02 2014-03-06 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
US8873011B2 (en) 2000-03-16 2014-10-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device and method of manufacturing the same

Families Citing this family (46)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3126661B2 (ja) * 1996-06-25 2001-01-22 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置
US6181397B1 (en) * 1997-04-01 2001-01-30 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Reflection-type liquid crystal display panel and method of fabricating the same
US6281952B1 (en) * 1997-12-26 2001-08-28 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display
KR100582600B1 (ko) * 1999-03-12 2006-05-23 엘지.필립스 엘시디 주식회사 반사형 액정표시소자
US6825488B2 (en) 2000-01-26 2004-11-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US6646692B2 (en) 2000-01-26 2003-11-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid-crystal display device and method of fabricating the same
US7023021B2 (en) 2000-02-22 2006-04-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing the same
TW507258B (en) * 2000-02-29 2002-10-21 Semiconductor Systems Corp Display device and method for fabricating the same
JP4393662B2 (ja) * 2000-03-17 2010-01-06 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置の作製方法
US6789910B2 (en) 2000-04-12 2004-09-14 Semiconductor Energy Laboratory, Co., Ltd. Illumination apparatus
US6580475B2 (en) 2000-04-27 2003-06-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of fabricating the same
US7804552B2 (en) * 2000-05-12 2010-09-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electro-optical device with light shielding portion comprising laminated colored layers, electrical equipment having the same, portable telephone having the same
TWI224806B (en) 2000-05-12 2004-12-01 Semiconductor Energy Lab Semiconductor device and manufacturing method thereof
US7633471B2 (en) * 2000-05-12 2009-12-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device and electric appliance
JP2002162646A (ja) * 2000-09-14 2002-06-07 Sony Corp 反射型液晶表示装置
US6509616B2 (en) 2000-09-29 2003-01-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and its manufacturing method
TW525216B (en) 2000-12-11 2003-03-21 Semiconductor Energy Lab Semiconductor device, and manufacturing method thereof
SG111923A1 (en) 2000-12-21 2005-06-29 Semiconductor Energy Lab Light emitting device and method of manufacturing the same
JP3941481B2 (ja) * 2000-12-22 2007-07-04 セイコーエプソン株式会社 液晶表示装置および電子機器
US7480019B2 (en) * 2001-01-25 2009-01-20 Sharp Kabushiki Kaisha Method of manufacturing a substrate for an lcd device
TW548689B (en) * 2001-01-25 2003-08-21 Fujitsu Display Tech Reflection type liquid crystal display device and manufacturing method thereof
KR100768271B1 (ko) * 2001-03-22 2007-10-17 삼성전자주식회사 모아레 현상을 제거하기 위한 반사형 액정표시어셈블리에서의 조명방법, 이를 적용한 반사형 액정표시어셈블리, 이들에 적용된 광 공급 유닛, 이에 적용된 광분포 변경 유닛의 제조방법
JP3644442B2 (ja) * 2001-08-07 2005-04-27 セイコーエプソン株式会社 カラーフィルタ基板及びその製造方法、液晶表示装置及びその製造方法並びに電子機器
KR100806166B1 (ko) * 2001-10-08 2008-02-22 삼성전자주식회사 반사율 향상을 위한 액정표시장치 및 그 제조방법
KR100857498B1 (ko) * 2002-04-30 2008-09-08 삼성전자주식회사 액정표시장치 및 이의 제조방법
JP2003330388A (ja) * 2002-05-15 2003-11-19 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置及びその作製方法
JP2004061775A (ja) * 2002-07-26 2004-02-26 Alps Electric Co Ltd アクティブマトリクス型表示装置
JP3730958B2 (ja) * 2002-12-25 2006-01-05 鹿児島日本電気株式会社 積層膜のパターン形成方法及び積層配線電極
KR100934710B1 (ko) * 2002-12-30 2009-12-29 엘지디스플레이 주식회사 반사형 액정표시장치용 어레이기판 및 그 제조방법
KR20040062074A (ko) * 2002-12-31 2004-07-07 엘지전자 주식회사 광기록재생기용 스윙 암 조립체의 에프피시비 고정구조
KR100531410B1 (ko) * 2003-04-15 2005-11-28 엘지.필립스 엘시디 주식회사 반사투과형 액정표시장치의 어레이 기판 및 그의 제조 방법
KR100752214B1 (ko) 2003-10-16 2007-08-28 엘지.필립스 엘시디 주식회사 반투과형 액정표시소자의 제조방법
TWI300501B (en) * 2004-04-27 2008-09-01 Toppoly Optoelectronics Corp Reflective light valve structure
JP4499481B2 (ja) 2004-06-03 2010-07-07 富士通株式会社 液晶表示装置及びその製造方法
JP4578958B2 (ja) 2004-12-16 2010-11-10 シャープ株式会社 液晶表示装置
WO2007015458A1 (ja) * 2005-08-03 2007-02-08 Sharp Kabushiki Kaisha 液晶表示装置およびそれを備えた電子機器
WO2007108268A1 (ja) 2006-03-23 2007-09-27 Sharp Kabushiki Kaisha 液晶表示装置
JP5010586B2 (ja) * 2006-05-01 2012-08-29 シャープ株式会社 液晶表示装置および液晶表示装置の製造方法
JP5010585B2 (ja) * 2006-05-01 2012-08-29 シャープ株式会社 液晶表示装置および液晶表示装置の製造方法
WO2008032490A1 (fr) 2006-09-12 2008-03-20 Sharp Kabushiki Kaisha Panneau d'affichage à cristaux liquides muni d'une matrice de microlentilles, procédé de fabrication du panneau d'affichage à cristaux liquides, et dispositif d'affichage à cristaux liquides
TWI326129B (en) * 2007-03-21 2010-06-11 Au Optronics Corp Pixel structure and manufacturing method thereof
CN101807550B (zh) * 2009-02-18 2013-05-22 北京京东方光电科技有限公司 阵列基板及其制造方法和液晶显示器
KR101300035B1 (ko) 2010-05-05 2013-08-29 엘지디스플레이 주식회사 반사형 및 반사투과형 액정표시장치용 어레이 기판 및 그 제조방법
KR20150022560A (ko) * 2013-08-23 2015-03-04 삼성전기주식회사 인쇄회로기판 및 인쇄회로기판 제조 방법
CN107065328A (zh) * 2017-05-23 2017-08-18 京东方科技集团股份有限公司 一种像素结构、显示面板、显示装置及像素结构制作方法
WO2022134029A1 (zh) * 2020-12-25 2022-06-30 京东方科技集团股份有限公司 显示面板、显示面板的制造方法以及显示装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5781288A (en) * 1980-11-07 1982-05-21 Suwa Seikosha Kk Liquid crystal display device
JPS5893031A (ja) * 1981-11-30 1983-06-02 Hitachi Ltd 液晶表示装置
JPH05232465A (ja) * 1992-02-19 1993-09-10 Sharp Corp 反射型液晶表示装置及びその製造方法
JPH0675238A (ja) * 1991-09-10 1994-03-18 Sharp Corp 反射型液晶表示装置およびその製造方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH589306A5 (ja) * 1975-06-27 1977-06-30 Bbc Brown Boveri & Cie
DE3751311T2 (de) * 1986-02-17 1995-09-28 Semiconductor Energy Lab Flüssigkristallvorrichtung mit einer Ladungs-Speicherstruktur.
DE69223002T2 (de) * 1991-08-30 1998-03-05 Technology Co Ag Flüssigkristall-Anzeigeelement und dieses verwendende Flüssigkristall-Anzeigevorrichtung
EP0536898B1 (en) * 1991-09-10 1997-07-02 Sharp Kabushiki Kaisha Reflection type liquid crystal display device and method of manufacturing the same
JPH05173158A (ja) 1991-12-26 1993-07-13 Sharp Corp 反射型液晶表示装置およびその製造方法
JP3066192B2 (ja) 1992-07-10 2000-07-17 シャープ株式会社 反射型アクティブマトリクス基板の製造方法
JP2672055B2 (ja) * 1992-05-08 1997-11-05 信幸 山村 液晶表示素子とその製造方法及びこれを使用する表示装置
JPH0675237A (ja) * 1992-08-28 1994-03-18 Sharp Corp 反射型液晶表示装置
KR940015565A (ko) * 1992-12-28 1994-07-21 김광호 액정표시소자
JP2812851B2 (ja) * 1993-03-24 1998-10-22 シャープ株式会社 反射型液晶表示装置
US5691791A (en) * 1993-07-30 1997-11-25 Sharp Kabushiki Kaisha Reflective liquid crystal display device and reflector
JPH0784252A (ja) * 1993-09-16 1995-03-31 Sharp Corp 液晶表示装置
US5379136A (en) * 1993-10-04 1995-01-03 Hu; Shouxiang Electron beam addressed electro-optical light valve having input openings
MY114271A (en) * 1994-05-12 2002-09-30 Casio Computer Co Ltd Reflection type color liquid crystal display device
DE19521254A1 (de) * 1994-06-24 1996-01-04 Minnesota Mining & Mfg Anzeigesystem mit Helligkeitsverstärkungsfilm

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5781288A (en) * 1980-11-07 1982-05-21 Suwa Seikosha Kk Liquid crystal display device
JPS5893031A (ja) * 1981-11-30 1983-06-02 Hitachi Ltd 液晶表示装置
JPH0675238A (ja) * 1991-09-10 1994-03-18 Sharp Corp 反射型液晶表示装置およびその製造方法
JPH05232465A (ja) * 1992-02-19 1993-09-10 Sharp Corp 反射型液晶表示装置及びその製造方法

Cited By (70)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6407784B1 (en) * 1998-03-11 2002-06-18 Nec Corporation Reflection type liquid crystal display and method of fabricating the same
KR100631308B1 (ko) * 1998-11-06 2007-03-02 삼성전자주식회사 반사형 액정표시장치 및 그의 제조방법
KR100612993B1 (ko) * 1999-12-27 2006-08-14 삼성전자주식회사 광시야각 액정 표시 장치 및 그에 사용되는 기판
KR100687491B1 (ko) * 1999-12-28 2007-02-27 엘지.필립스 엘시디 주식회사 반사형 액정 표시장치의 어레이 기판 제조방법
CN100405189C (zh) * 2000-02-02 2008-07-23 三洋电机株式会社 反射型液晶显示装置
WO2001061403A1 (fr) * 2000-02-16 2001-08-23 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Corps moule, panneau reflechissant, afficheur reflectif et procede pour produire un panneau reflechissant
US6762082B2 (en) 2000-03-06 2004-07-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of fabricating the same
US9099355B2 (en) 2000-03-06 2015-08-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of fabricating the same
US6806495B1 (en) 2000-03-06 2004-10-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of fabricating the same
US7019329B2 (en) 2000-03-08 2006-03-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US9368514B2 (en) 2000-03-08 2016-06-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US6747288B2 (en) 2000-03-08 2004-06-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US7414266B2 (en) 2000-03-08 2008-08-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US9786687B2 (en) 2000-03-08 2017-10-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US9059045B2 (en) 2000-03-08 2015-06-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US6387737B1 (en) 2000-03-08 2002-05-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US8934066B2 (en) 2000-03-13 2015-01-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having stick drivers and a method of manufacturing the same
US6855957B1 (en) 2000-03-13 2005-02-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US7995183B2 (en) 2000-03-13 2011-08-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and a method of manufacturing the same
US6806499B2 (en) 2000-03-13 2004-10-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and a method of manufacturing the same
US6709901B1 (en) 2000-03-13 2004-03-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having stick drivers and a method of manufacturing the same
US9298056B2 (en) 2000-03-16 2016-03-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device and method of manufacturing the same
US8873011B2 (en) 2000-03-16 2014-10-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device and method of manufacturing the same
US6747289B2 (en) 2000-04-27 2004-06-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of fabricating thereof
JP2012159863A (ja) * 2000-04-27 2012-08-23 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
JP2011191788A (ja) * 2000-04-27 2011-09-29 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
JP2002014337A (ja) * 2000-04-27 2002-01-18 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置およびその作製方法
US6900084B1 (en) 2000-05-09 2005-05-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having a display device
US7102165B2 (en) 2000-05-09 2006-09-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP2001318626A (ja) * 2000-05-09 2001-11-16 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置およびその作製方法
US9429807B2 (en) 2000-05-09 2016-08-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US7323715B2 (en) 2000-05-09 2008-01-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US9048146B2 (en) 2000-05-09 2015-06-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US8659025B2 (en) 2000-07-31 2014-02-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing same
JP2012078847A (ja) * 2000-07-31 2012-04-19 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置の作製方法及び液晶表示装置の作製方法
JP2013250568A (ja) * 2000-07-31 2013-12-12 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置の作製方法
JP2002169171A (ja) * 2000-11-30 2002-06-14 Nec Corp 反射型液晶表示装置及びその製造方法
JP4632522B2 (ja) * 2000-11-30 2011-02-16 Nec液晶テクノロジー株式会社 反射型液晶表示装置の製造方法
JP2002182243A (ja) * 2000-12-15 2002-06-26 Nec Corp 液晶表示装置用トランジスタ基板及びその製造方法
US7071037B2 (en) 2001-03-06 2006-07-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US7420209B2 (en) 2001-03-06 2008-09-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US6839107B2 (en) 2001-04-25 2005-01-04 Seiko Epson Corporation Electro-optical device having irregularity-forming thin film and electronic apparatus
JP2003029253A (ja) * 2001-07-09 2003-01-29 Koninkl Philips Electronics Nv 反射電極を形成する方法及び液晶表示装置
KR100567504B1 (ko) * 2001-08-31 2006-04-03 엔이씨 엘씨디 테크놀로지스, 엘티디. 반사막 제조 방법
JP2006106780A (ja) * 2002-09-30 2006-04-20 Seiko Epson Corp 電気光学装置および電子機器
KR100743351B1 (ko) * 2002-12-17 2007-07-26 샤프 가부시키가이샤 액정 표시 장치 및 그 제조 방법
US7751003B2 (en) 2003-12-09 2010-07-06 Fujitsu Limited Liquid crystal display and method of manufacturing the same
JP2005173037A (ja) * 2003-12-09 2005-06-30 Fujitsu Display Technologies Corp 液晶表示装置及びその製造方法
JP2007101843A (ja) * 2005-10-04 2007-04-19 Mitsubishi Electric Corp 液晶表示装置
JP2007232818A (ja) * 2006-02-28 2007-09-13 Mitsubishi Electric Corp 画像表示装置
WO2008001595A1 (fr) * 2006-06-30 2008-01-03 Sharp Kabushiki Kaisha Dispositif d'affichage à cristaux liquides et procédé de fabrication du dispositif d'affichage à cristaux liquides
JPWO2008001595A1 (ja) * 2006-06-30 2009-11-26 シャープ株式会社 液晶表示装置および液晶表示装置の製造方法
WO2008047788A1 (fr) * 2006-10-18 2008-04-24 Sharp Kabushiki Kaisha Écran à cristaux liquides et procédé de fabrication associé
WO2008047517A1 (fr) 2006-10-18 2008-04-24 Sharp Kabushiki Kaisha Dispositif d'affichage à cristaux liquides et procédé de fabrication de celui-ci
JPWO2008047788A1 (ja) * 2006-10-18 2010-02-25 シャープ株式会社 液晶表示装置および液晶表示装置の製造方法
US8421967B2 (en) 2006-12-14 2013-04-16 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display device and process for producing liquid crystal display device
WO2008072423A1 (ja) 2006-12-14 2008-06-19 Sharp Kabushiki Kaisha 液晶表示装置および液晶表示装置の製造方法
US8289461B2 (en) 2007-01-24 2012-10-16 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display device
JPWO2008090682A1 (ja) * 2007-01-24 2010-05-13 シャープ株式会社 液晶表示装置
WO2008090682A1 (ja) 2007-01-24 2008-07-31 Sharp Kabushiki Kaisha 液晶表示装置
JPWO2008093467A1 (ja) * 2007-01-31 2010-05-20 シャープ株式会社 液晶表示装置
WO2008093467A1 (ja) 2007-01-31 2008-08-07 Sharp Kabushiki Kaisha 液晶表示装置
US8659726B2 (en) 2007-04-13 2014-02-25 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display and method of manufacturing liquid crystal display
WO2009001508A1 (ja) 2007-06-26 2008-12-31 Sharp Kabushiki Kaisha 液晶表示装置、及び液晶表示装置の製造方法
US8384860B2 (en) 2007-06-26 2013-02-26 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display device and method of manufacturing liquid crystal display device
JP4668247B2 (ja) * 2007-07-26 2011-04-13 三菱電機株式会社 液晶表示装置の製造方法
JP2007272256A (ja) * 2007-07-26 2007-10-18 Advanced Display Inc 液晶表示装置およびその製造方法
JPWO2010134236A1 (ja) * 2009-05-18 2012-11-08 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板及びそれを用いた液晶表示装置
JP2011118422A (ja) * 2011-03-01 2011-06-16 Nec Lcd Technologies Ltd 液晶表示装置、液晶表示装置用薄膜トランジスタアレイ基板及びその製造方法
JP2014041372A (ja) * 2013-10-02 2014-03-06 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR100241489B1 (ko) 2000-02-01
TW326085B (en) 1998-02-01
KR970011974A (ko) 1997-03-29
US6208395B1 (en) 2001-03-27
JP2990046B2 (ja) 1999-12-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2990046B2 (ja) 反射型液晶表示装置及びその製造方法
JP3019831B2 (ja) 反射型液晶表示装置及びその製造方法
US6747718B2 (en) Reflection-type liquid crystal display and method for manufacturing the same
US6424399B1 (en) Active matrix substrate and liquid crystal display apparatus having electrical continuity across contact holes, and method for producing the same
KR100780980B1 (ko) 반사형 액정 표시 장치 및 그 제조 방법
JP3974141B2 (ja) 半透過型液晶表示装置
US5500750A (en) Manufacturing method of reflection type liquid crystal display devices having light shield elements and reflective electrodes formed of same material
KR100455557B1 (ko) 액티브매트릭스형 액정표시장치 및 그 제조방법
KR100633946B1 (ko) 반투과형 액정 표시 장치 및 그 제조 방법
JPH0675237A (ja) 反射型液晶表示装置
US8717530B2 (en) Array substrate for transreflective liquid crystal display, manufacturing method thereof and liquid crystal display
JP2004334205A (ja) 上部基板、これを有する液晶表示装置及びこの製造方法
JP2000284272A (ja) 液晶表示装置及びその製造方法
JPH06175126A (ja) 反射型液晶表示装置およびその製造方法
JPH11295750A (ja) 反射型液晶表示装置
KR20020012794A (ko) 투과반사형 액정 표시장치와 그 제조방법
KR100367281B1 (ko) 반투과형 액정표시장치 및 그의 제조방법
KR101127816B1 (ko) 반투과형 액정표시소자 및 그 제조방법
JPH08313890A (ja) 液晶表示素子及びその製造方法
JP2002357849A (ja) 反射型液晶表示パネルおよびその製造方法
JP3107069B2 (ja) 反射型液晶表示装置及びその製造方法
JP2762946B2 (ja) 反射型液晶表示装置
JP2003156766A (ja) 反射型液晶表示装置及びその製造方法
JP3654281B2 (ja) 反射型液晶表示装置
JP2005049901A (ja) 反射型液晶表示装置及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071008

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081008

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091008

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091008

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101008

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101008

Year of fee payment: 11

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101008

Year of fee payment: 11

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111008

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111008

Year of fee payment: 12

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111008

Year of fee payment: 12

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121008

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131008

Year of fee payment: 14

EXPY Cancellation because of completion of term