JP2003029253A - 反射電極を形成する方法及び液晶表示装置 - Google Patents
反射電極を形成する方法及び液晶表示装置Info
- Publication number
- JP2003029253A JP2003029253A JP2001208502A JP2001208502A JP2003029253A JP 2003029253 A JP2003029253 A JP 2003029253A JP 2001208502 A JP2001208502 A JP 2001208502A JP 2001208502 A JP2001208502 A JP 2001208502A JP 2003029253 A JP2003029253 A JP 2003029253A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- reflective electrode
- photosensitive film
- forming
- electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1335—Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
- G02F1/133553—Reflecting elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136227—Through-hole connection of the pixel electrode to the active element through an insulation layer
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136286—Wiring, e.g. gate line, drain line
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S438/00—Semiconductor device manufacturing: process
- Y10S438/942—Masking
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S438/00—Semiconductor device manufacturing: process
- Y10S438/942—Masking
- Y10S438/948—Radiation resist
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S438/00—Semiconductor device manufacturing: process
- Y10S438/942—Masking
- Y10S438/948—Radiation resist
- Y10S438/949—Energy beam treating radiation resist on semiconductor
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S438/00—Semiconductor device manufacturing: process
- Y10S438/942—Masking
- Y10S438/948—Radiation resist
- Y10S438/95—Multilayer mask including nonradiation sensitive layer
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
Abstract
成する方法であって、製造工程数及び製造コストの削減
が図られた方法、及びこの方法が適用された液晶表示装
置を提供する。 【解決手段】 金属膜7の上に感光性膜8を形成し、こ
の感光性膜8から残部81、82及び83を形成し、こ
の残部81、82及び83をマスクとして金属膜7をエ
ッチングし、この残部81、82及び83を剥離せずに
感光性膜9及び反射電極膜10を形成する。
Description
と凹部又は凸部を有する反射電極とを形成する方法及び
液晶表示装置に関する。
速に普及している。この液晶表示装置を反射型や半透過
型の構成にする場合、各画素領域には、TFTに加え
て、外光を反射するための反射電極が設けられる。反射
電極が設けられた液晶表示装置では、表示される画像の
品質を向上させる目的で、反射電極に凹部又は凸部を持
たせることがしばしば行われる。
るTFTが例えばトップゲート構造を有する場合、反射
電極を形成する前に、リソグラフィ工程によるゲート電
極の形成が行われる。その後、このゲート電極の上に感
光性膜を形成し、この感光性膜を多数の凹部又は凸部を
有する形状にパターニングした後、反射電極が形成され
る。リソグラフィ工程は、露光工程や現像工程を含む多
数の工程を有するため、リソグラフィ工程によるゲート
電極の形成を行った後に、更に感光性膜を形成し、この
感光性膜を多数の凹部又は凸部を有する形状にパターニ
ングする場合、製造工程数及び製造コストがかかるとい
う問題がある。
部又は凸部を有する反射電極とを形成する方法であっ
て、製造工程数及び製造コストの削減が図られた方法、
及びこの方法が適用された液晶表示装置を提供すること
を目的とする。
明の方法は、所定領域にTFTと凹部又は凸部を有する
反射電極とを形成する方法であって、前記方法が、第1
の膜を加工することにより少なくともゲート電極とゲー
トバスとを形成する方法であって、前記第1の膜を形成
する工程、前記第1の膜の上に感光性膜を形成する工
程、前記感光性膜を所定の形状にパターニングする工程
であって、前記感光性膜のうちの前記ゲート電極に対応
する第1の部分と、前記ゲートバスに対応する第2の部
分と、前記第1及び第2の部分とは異なる第3の部分と
が残るように、前記感光性膜をパターニングする工程、
前記第1、第2及び第3の部分をマスクとして、前記第
1の膜をエッチングする工程、及び前記反射電極の少な
くとも一部が、前記第1、第2及び第3の部分のうちの
少なくとも前記第3の部分の上に存在するように前記反
射電極を形成する工程を備えたことを特徴とする。
程で、前記感光性膜のうち、前記ゲート電極に対応する
第1の部分と、前記ゲートバスに対応する第2の部分
と、前記第1及び第2の部分とは異なる第3の部分とが
残るように、この感光性膜をパターニングする。更に、
エッチングする工程では、感光性膜の第1、第2及び第
3の部分をマスクとして前記第1の膜をエッチングして
いるため、ゲート電極及びゲートバスが形成される。そ
の後、反射電極を形成する工程で、これら第1、第2及
び第3の部分を除去せずに反射電極が形成される。従っ
て、第1、第2及び第3の部分の形状に応じて反射電極
の形状を調整することができ、反射電極に凹部又は凸部
を持たせることが可能となる。
ート電極及びゲートバスを形成するためのマスクとして
の役割を果たすだけでなく、反射電極に凹部又は凸部を
持たせる役割をも果たしている。つまり、ゲート電極及
びゲートバスを形成するためのマスクとして用いられる
部材と、反射電極に凹部又は凸部を持たせるための部材
は、同一の感光性膜から形成される、従って、ゲート電
極及びゲートバスを形成するためのマスクとして用いら
れる部材と、反射電極に凸部を持たせるための部材とを
別個の膜から形成する必要はなく、製造工程数及び製造
コストの削減が図られる。
が前記所定領域内に散在してもよいし、前記第3の部分
が前記所定領域内に複数の孔を有してもよい。
り、反射電極に凹部又は凸部を持たせることができる。
エッジが、曲線状に延在することが好ましい。
ことにより、反射電極の反射特性を更に良好な特性にす
ることができる。
にTFTと凹部又は凸部を有する反射電極とが形成され
た基板を有する液晶表示装置であって、前記反射電極が
請求項1乃至4のいずれか1項に記載の方法を用いて形
成されたことを特徴とする。
3の部分が前記反射電極の下に存在し、前記第3の部分
の下に、前記第1の膜の材料が存在することを特徴とす
る。
トバスのうちの、前記反射電極の下に形成された部分の
エッジが、曲線状に延在することが好ましい。
説明する。
用いてTFT及び反射電極が形成されたTFT基板を示
す平面図、図2は、図1をI−I方向から見た断面図で
ある。
1及び図2に示すTFT基板の製造方法について説明す
る。
の基板の平面図、図4は、図3のII−II方向から見た断
面図である。
極2、ドレイン電極3、ソースバス4、例えばa−Si
等の半導体層5及びゲート絶縁膜6を形成する。このゲ
ート絶縁膜6には、ドレイン電極3の一部を露出するた
めの矩形状の窓6a(図3参照)が形成されている。ゲ
ート絶縁膜6を形成した後、ゲート電極及びゲートバス
を形成するための金属膜を形成する(図5参照)。
である。
ることができる。金属膜7を形成した後、この金属膜7
をパターニングせずに、感光性膜を形成する(図6参
照)。
図である。
後、この感光性膜8を露光、現像することによりこの感
光性膜8をパターニングする(図7及び図8参照)。
尚、本実施形態では、感光性膜8は金属膜7に接触して
いるが、この感光性膜8と金属膜7との間に、別の膜を
介在させてもよい。
後の基板の平面図、図8は、図7のIII−III方向から見
た断面図である。
光性膜8の一部は除去され、残部81、82及び83が
残る。残部81は、金属膜7のうちの後述するゲート電
極71(図10参照)に対応する部分に残っている(図
7参照)。この残部81はy方向に延在するように残っ
ている。また、残部82は、金属膜7のうちの後述する
ゲートバス72(図10参照)に対応する部分に残って
いる。この残部82は、x方向に延在するように残存し
ている(図7参照)。この残部82のエッジ82aは、
平面図(図7参照)で見ると曲線状に形成されている。
このエッジ82aを曲線状にする理由については後述す
る。この残部81及び82は、互いに分離されずに連続
的に繋がった状態に残っている。また、残部83は略半
球形状を有しており、基板上に散在するように残ってい
る。この残部83は、後述する反射電極100(図2参
照)に凸部10cを持たせるための役割を有するもので
ある。この残部83は残部81及び82とは分離された
状態に残っている。次に、これら残部81、82及び8
3をマスクとして金属膜7をエッチングする(図9及び
図10参照)。
基板の平面図、図10は、図9のIV−IV方向から見
た断面図である。
すように、残部81の下にゲート電極71が形成され、
残部82の下にゲートバス72が形成される。残部82
のエッジ82aが曲線状に形成されているため、ゲート
バス72のエッジも曲線状に形成される。また、残部8
3の下には、金属膜7の材料からなる金属片73が残
る。残部83は残部81及び82とは分離されているた
め、この残部83の下に残る金属片73は、ゲート電極
71及びゲートバス72とは分離される。このようにし
て、残部81、82及び83の下に、ゲート電極71、
ゲートバス72及び金属片73がそれぞれ形成される。
尚、本実施形態では、後述する反射電極100(図2参
照)に凸部10cを持たせるために、残部83を残して
いる。従って、この金属膜7をエッチングすることによ
り、残部83がマスクとして作用し、多数の金属片73
が形成される。しかしながら、本実施形態では、この金
属片73を形成する目的で残部83を残しているのでは
なく、この金属片73は、残部83を残したことにより
形成される単なる副産物であり、TFTの動作には寄与
しないものである。また、本実施形態では、金属膜7か
ら、ゲート電極71、ゲートバス72及び金属片73を
形成しているが、この他に、例えば、各画素領域に蓄積
容量を持たせるための電極を形成してもよい。
後、感光性膜を形成する(図11参照)。
す断面図である。
を露出させるための窓9dを有する。感光性膜9の下に
は、残部81、82及び83が形成されているため、こ
の感光性膜9の表面には、これら残部81、82及び8
3の形状を反映して、凸部9a、9b及び9cが形成さ
れる。これら凸部9a、9b及び9cによって、感光性
膜9の表面全体に渡って緩やかな起伏が形成される。感
光性膜9を形成した後、この感光性膜9を覆うように反
射電極膜を形成する(図12参照)。
板を示す断面図である。
成されているため、反射電極膜10はドレイン電極3と
接続される。また、反射電極膜10の下には感光性膜9
が形成されているため、この反射電極膜10には、感光
性膜9の凸部9a、9b及び9c(図11参照)の形状
を反映して、凸部10a、10b及び10cが形成され
る。これら凸部10a、10b及び10cによって反射
電極膜10の表面全体に渡って緩やかな起伏が形成され
る。このように反射電極膜10を形成した後、この反射
電極膜10をリソグラフィ工程によって各画素領域毎に
分離することにより、図1及び図2に示すように、各画
素領域毎に、凸部10a、10b及び10cを有する反
射電極(斜線で示されている)100が形成される。こ
のように反射電極100に凸部を持たせることにより、
反射電極100の反射特性を所望の特性にすることがで
きる。尚、本実施形態では、各反射電極100は、残部
83が形成された領域の上だけでなく残部81及び82
が形成された領域の上にまで広がるように形成されてい
るが(図2参照)、反射電極100は、例えば残部83
が形成された領域の上にのみに広がるように形成されて
もよい。
グすることにより、残部81、82及び83を残し、こ
れら残部81、82及び83をマスクとして金属膜7を
エッチングしている。残部81及び82がマスクとして
作用することにより、ゲート電極71及びゲートバス7
2が形成され、更に、残部83がマスクとして作用する
ことにより、金属片73が形成される。残部83は残部
81及び82とは分離された状態に形成されるため、金
属片73はゲート電極71及びゲートバスとは電気的に
分離された状態に形成される。これら残部81、82及
び83は除去されず、これら残部81、82及び83を
覆うように感光性膜9が形成され、この感光性膜9の上
に反射電極膜10が形成される。反射電極膜10には感
光性膜9の形状に倣って凸部10a、10b及び10c
が形成される。このように、本実施形態では、感光性膜
8をエッチングすることにより、ゲート電極71及びゲ
ートバス72を形成するためのマスクとしての役割を果
たす残部81及び82だけでなく、反射電極100に凸
部を持たせる役割を果たす残部83も形成される。従っ
て、ゲート電極71及びゲートバスを形成するためのマ
スクとして用いられる部材と、反射電極100に凸部を
持たせるための部材とを別々の感光性膜から形成する必
要はなく、製造工程数及び製造コストの削減が図られ
る。以下に、製造工程数及び製造コストの削減が図られ
る様子について、従来例と比較しながら簡単に説明す
る。
た従来の基板を示す断面図である。
成するための金属膜を形成した後、この金属膜をリソグ
ラフィ工程によりパターニングしてゲート電極71及び
ゲートバス(図示せず)を形成し、次いで、感光性膜を
形成した後、この感光性膜を露光、現像することによ
り、多数の残部800を形成する必要がある。従って、
金属膜をパターニングするためのマスクと、反射電極1
00に凸部を持たせるための残部800とを別々の感光
性膜から形成する必要がある。これに対し、本実施形態
では、上記のように、ゲート電極71及びゲートバス7
2を形成するためのマスクとしての役割を果たす残部8
1及び82と、反射電極100に凸部を持たせる役割を
果たす残部83とを、同一の感光性膜8から形成してい
る。従って、本発明を用いることにより、製造工程数及
び製造コストの削減が図られることがわかる。
82aは曲線状に形成されている。残部82のエッジ8
2aを曲線状にしておくことにより、エッジ82aの曲
線形状が反射電極100の凸部10bの形状に反映さ
れ、反射電極100の反射特性を更に向上させることが
できる。尚、所望の反射特性が得られるのであれば、第
2の残部82のエッジ82aを曲線形状にする必要はな
く、単なる直線形状であってもよい。
であるが、例えばAl/Mo膜等の複数層からなる積層
構造としてもよい。金属膜7を積層構造とすることによ
り、ゲート電極71及びゲートバス72それぞれを二層
以上の積層構造とすることができる。
状に形成しているが、この残部83は半球形状以外の形
状であってもよい。以下に、残部が半球形状以外の形状
である場合の一例について図14を参照しながら簡単に
説明する。
を有する例を示す平面図である。
には、感光性膜8を形成した後(図6参照)、この感光
性膜8に多数の孔830aを形成すればよい。これによ
り、残部81及び82の他に、斜線で示された網目状の
残部830が形成される。半球状の多数の残部83を散
在させる代わりに、多数の孔830aを有する残部83
0を形成した場合、反射電極100は、多数の孔830
aの形状を反映して凸部10c(図12参照)ではなく
凹部を有する。このように、反射電極100に凹部を持
たせても、反射電極100の反射特性を所望の特性にす
ることができる。尚、図14では、残部830は残部8
1及び82と分離した状態に形成されているが、この残
部830を、例えば残部82と繋がった状態に形成する
ことも可能である。
TFTと凹部又は凸部を有する反射電極とを形成する方
法であって、製造工程数及び製造コストの削減が図られ
た方法、及びこの方法が適用された液晶表示装置が提供
される。
及び反射電極が形成されたTFT基板を示す平面図であ
る。
図である。
図である。
である。
る。
る。
図である。
を示す断面図である。
す平面図である。
Claims (7)
- 【請求項1】 所定領域にTFTと凹部又は凸部を有す
る反射電極とを形成する方法であって、前記方法が、第
1の膜を加工することにより少なくともゲート電極とゲ
ートバスとを形成する方法であって、 前記第1の膜を形成する工程、 前記第1の膜の上に感光性膜を形成する工程、 前記感光性膜を所定の形状にパターニングする工程であ
って、前記感光性膜のうちの前記ゲート電極に対応する
第1の部分と、前記ゲートバスに対応する第2の部分
と、前記第1及び第2の部分とは異なる第3の部分とが
残るように、前記感光性膜をパターニングする工程、 前記第1、第2及び第3の部分をマスクとして、前記第
1の膜をエッチングする工程、及び前記反射電極の少な
くとも一部が、前記第1、第2及び第3の部分のうちの
少なくとも前記第3の部分の上に存在するように前記反
射電極を形成する工程を備えたことを特徴とする方法。 - 【請求項2】 前記第3の部分が前記所定領域内に散在
することを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 【請求項3】 前記第3の部分が前記所定領域内に複数
の孔を有することを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 【請求項4】 前記第2の部分のエッジが、曲線状に延
在することを特徴とする請求項1乃至3のうちのいずれ
か1項に記載の方法。 - 【請求項5】 所定領域にTFTと凹部又は凸部を有す
る反射電極とが形成された基板を有する液晶表示装置で
あって、前記反射電極が請求項1乃至4のいずれか1項
に記載の方法を用いて形成されたことを特徴とする液晶
表示装置。 - 【請求項6】 前記第3の部分が前記反射電極の下に存
在し、前記第3の部分の下に、前記第1の膜の材料が存
在することを特徴とする請求項5に記載の液晶表示装
置。 - 【請求項7】 前記ゲートバスのうちの、少なくとも前
記反射電極の下に形成された部分のエッジが、曲線状に
延在することを特徴とする請求項5又は6に記載の液晶
表示装置。
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001208502A JP4790937B2 (ja) | 2001-07-09 | 2001-07-09 | 反射電極を形成する方法及び液晶表示装置 |
CNB028137779A CN1333291C (zh) | 2001-07-09 | 2002-06-25 | 制作反射电极和液晶显示器件的方法 |
PCT/IB2002/002556 WO2003007061A2 (en) | 2001-07-09 | 2002-06-25 | A method of forming a reflective electrode and a liquid crystal display device |
EP02741028A EP1407317A2 (en) | 2001-07-09 | 2002-06-25 | A method of forming a reflective electrode and a liquid crystal display device |
KR10-2003-7003286A KR20030029922A (ko) | 2001-07-09 | 2002-06-25 | 반사 전극을 형성하는 방법 및 액정 디스플레이 디바이스 |
US10/188,762 US6815347B2 (en) | 2001-07-09 | 2002-07-03 | Method of forming a reflective electrode |
TW091117023A TW577117B (en) | 2001-07-09 | 2002-07-30 | A method of forming a reflective electrode and a liquid crystal display device |
US10/928,867 US7122831B2 (en) | 2001-07-09 | 2004-08-27 | Method of forming a reflective electrode and a liquid crystal display device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001208502A JP4790937B2 (ja) | 2001-07-09 | 2001-07-09 | 反射電極を形成する方法及び液晶表示装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003029253A true JP2003029253A (ja) | 2003-01-29 |
JP4790937B2 JP4790937B2 (ja) | 2011-10-12 |
Family
ID=19044308
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001208502A Expired - Fee Related JP4790937B2 (ja) | 2001-07-09 | 2001-07-09 | 反射電極を形成する方法及び液晶表示装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6815347B2 (ja) |
EP (1) | EP1407317A2 (ja) |
JP (1) | JP4790937B2 (ja) |
KR (1) | KR20030029922A (ja) |
CN (1) | CN1333291C (ja) |
TW (1) | TW577117B (ja) |
WO (1) | WO2003007061A2 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4237442B2 (ja) | 2002-03-01 | 2009-03-11 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半透過型液晶表示装置 |
JP4087620B2 (ja) * | 2002-03-01 | 2008-05-21 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶表示装置の作製方法 |
JP4101533B2 (ja) * | 2002-03-01 | 2008-06-18 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半透過型の液晶表示装置の作製方法 |
US7511781B2 (en) * | 2003-06-04 | 2009-03-31 | Tpo Hong Kong Holding Limited | Method for manufacturing liquid crystal display device |
WO2005028509A1 (en) | 2003-09-23 | 2005-03-31 | Technische Universitaet Muenchen | Tlr2 antagonistic antibody and use thereof |
KR100752214B1 (ko) * | 2003-10-16 | 2007-08-28 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 반투과형 액정표시소자의 제조방법 |
US7064048B2 (en) * | 2003-10-17 | 2006-06-20 | United Microelectronics Corp. | Method of forming a semi-insulating region |
KR100692685B1 (ko) * | 2003-12-29 | 2007-03-14 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 반사투과형 액정표시장치용 어레이 기판 및 그의 제조 방법 |
JP5037808B2 (ja) * | 2005-10-20 | 2012-10-03 | キヤノン株式会社 | アモルファス酸化物を用いた電界効果型トランジスタ、及び該トランジスタを用いた表示装置 |
JP2007184467A (ja) * | 2006-01-10 | 2007-07-19 | Fujifilm Corp | 固体撮像素子 |
KR101418527B1 (ko) * | 2007-02-05 | 2014-07-14 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시기판 제조방법, 무기막 패턴방법 및 이를 이용한표시장치 제조방법 |
JP5516319B2 (ja) * | 2010-10-20 | 2014-06-11 | ソニー株式会社 | 照明装置および表示装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0954318A (ja) * | 1995-08-16 | 1997-02-25 | Nec Corp | 反射型液晶表示装置及びその製造方法 |
JPH10221704A (ja) * | 1997-02-07 | 1998-08-21 | Sharp Corp | 反射型液晶表示装置およびその製造方法 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0675237A (ja) * | 1992-08-28 | 1994-03-18 | Sharp Corp | 反射型液晶表示装置 |
US5691791A (en) * | 1993-07-30 | 1997-11-25 | Sharp Kabushiki Kaisha | Reflective liquid crystal display device and reflector |
US5610741A (en) * | 1994-06-24 | 1997-03-11 | Sharp Kabushiki Kaisha | Reflection type liquid crystal display device with bumps on the reflector |
JPH08166605A (ja) * | 1994-10-14 | 1996-06-25 | Sharp Corp | 液晶表示装置 |
JP3112393B2 (ja) * | 1995-05-25 | 2000-11-27 | シャープ株式会社 | カラー表示装置 |
TW409194B (en) * | 1995-11-28 | 2000-10-21 | Sharp Kk | Active matrix substrate and liquid crystal display apparatus and method for producing the same |
JPH1031231A (ja) * | 1996-07-15 | 1998-02-03 | Sony Corp | 反射型ゲストホスト液晶表示装置及びその製造方法 |
JP3270821B2 (ja) * | 1997-03-12 | 2002-04-02 | シャープ株式会社 | 反射型液晶表示装置およびその製造方法 |
JPH10268300A (ja) * | 1997-03-21 | 1998-10-09 | Sony Corp | 反射型ゲストホスト液晶表示装置 |
US6181397B1 (en) * | 1997-04-01 | 2001-01-30 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Reflection-type liquid crystal display panel and method of fabricating the same |
JP3297372B2 (ja) * | 1997-06-17 | 2002-07-02 | シャープ株式会社 | 反射型液晶表示装置の製造方法 |
US6330047B1 (en) * | 1997-07-28 | 2001-12-11 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display device and method for fabricating the same |
US6218219B1 (en) * | 1997-09-29 | 2001-04-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and fabrication method thereof |
JP3522517B2 (ja) * | 1997-12-22 | 2004-04-26 | シャープ株式会社 | 反射板の製造方法 |
JP3019831B2 (ja) * | 1998-03-11 | 2000-03-13 | 日本電気株式会社 | 反射型液晶表示装置及びその製造方法 |
JP3406242B2 (ja) * | 1998-10-15 | 2003-05-12 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置 |
KR100421901B1 (ko) * | 1998-12-10 | 2004-04-17 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 반사형액정표시장치의반사판 |
KR100312327B1 (ko) * | 1999-07-31 | 2001-11-03 | 구본준, 론 위라하디락사 | 반사투과형 액정 표시장치 |
JP2001194662A (ja) * | 2000-01-14 | 2001-07-19 | Nec Corp | 反射型液晶表示装置及びその製造方法 |
KR100603841B1 (ko) * | 2000-02-18 | 2006-07-24 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 반사형 액정표시장치 제조방법 |
-
2001
- 2001-07-09 JP JP2001208502A patent/JP4790937B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-06-25 KR KR10-2003-7003286A patent/KR20030029922A/ko not_active Application Discontinuation
- 2002-06-25 EP EP02741028A patent/EP1407317A2/en not_active Withdrawn
- 2002-06-25 CN CNB028137779A patent/CN1333291C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2002-06-25 WO PCT/IB2002/002556 patent/WO2003007061A2/en active Application Filing
- 2002-07-03 US US10/188,762 patent/US6815347B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-07-30 TW TW091117023A patent/TW577117B/zh not_active IP Right Cessation
-
2004
- 2004-08-27 US US10/928,867 patent/US7122831B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0954318A (ja) * | 1995-08-16 | 1997-02-25 | Nec Corp | 反射型液晶表示装置及びその製造方法 |
JPH10221704A (ja) * | 1997-02-07 | 1998-08-21 | Sharp Corp | 反射型液晶表示装置およびその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20030025847A1 (en) | 2003-02-06 |
US7122831B2 (en) | 2006-10-17 |
CN1333291C (zh) | 2007-08-22 |
WO2003007061A3 (en) | 2003-10-02 |
TW577117B (en) | 2004-02-21 |
JP4790937B2 (ja) | 2011-10-12 |
KR20030029922A (ko) | 2003-04-16 |
CN1526084A (zh) | 2004-09-01 |
US20050029517A1 (en) | 2005-02-10 |
EP1407317A2 (en) | 2004-04-14 |
WO2003007061A2 (en) | 2003-01-23 |
US6815347B2 (en) | 2004-11-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3507771B2 (ja) | パターン形成方法及び薄膜トランジスタの製造方法 | |
US7049215B2 (en) | Thin film transistor array panel and fabricating method thereof | |
JP2003029253A (ja) | 反射電極を形成する方法及び液晶表示装置 | |
GB2314209A (en) | Method of forming a thin film transistor electrode with a tapered edge | |
JP2000150828A (ja) | 電子デバイス並びに半導体装置、及び電極形成方法 | |
JP3164779B2 (ja) | ホトマスク | |
TWI364575B (en) | Method of manufacturing liquid crystal display device | |
JP4746832B2 (ja) | パターン形成方法 | |
KR0171919B1 (ko) | 노광마스크 | |
JP2003015145A (ja) | 電極形成方法及び液晶表示装置 | |
JPH0829809A (ja) | 薄膜トランジスタおよびその製造方法 | |
JPS62245251A (ja) | レジストパタ−ン形成方法 | |
JP2979731B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPH11184066A (ja) | フォトマスク及びコンタクトホール形成方法 | |
JP2000040661A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2008047932A (ja) | 薄膜トランジスタの製造方法 | |
JP2008022028A (ja) | 薄膜トランジスタの製造方法 | |
JPH01108528A (ja) | 薄膜トランジスタマトリクスの製造方法 | |
US20050179838A1 (en) | Reflecting electrode forming method and liquid crystal display | |
JPH05347244A (ja) | レジストパターン形成方法 | |
JP2003332212A (ja) | マスクパターン形成方法および半導体装置の製造方法 | |
JPH02226724A (ja) | 集積回路装置の製造方法 | |
JPH08139073A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS62279660A (ja) | 配線層の形成方法 | |
JPS5984443A (ja) | 半導体装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20070223 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080418 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101228 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110324 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110705 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110721 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140729 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |