TW280938B - - Google Patents

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TW280938B TW083112436A TW83112436A TW280938B TW 280938 B TW280938 B TW 280938B TW 083112436 A TW083112436 A TW 083112436A TW 83112436 A TW83112436 A TW 83112436A TW 280938 B TW280938 B TW 280938B
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Description

經濟部中央標準局員工消費合作社印製 280ί38 Α7 __Β7_~ 3 ~_ 五、發明説明(t ) [產業上之利用領域] 本發明是鼷於測頭式檢測處理裝置,用來對半導體積體 霣路裝置(IC>進行最後之檢査,藏Μ進行是否良好和性能 之類別選別。 [習知之技術] 檢測處理裝置是一種裝置分別將電信號供給到1C之引線 藉Κ進行動作試驗,用Κ檢査1C之最後之電特性,賴Μ進 行其是否良好和性能之類別選別。 圈11是斜視_,用來表示習知之檢澜處理裝置之構造, 圖12是斜視函和剖面圏,分別表示用Μ放置1C之插座和將 1C放置在插座之狀態。 在圈11中,符1是输入器,2是檢査部,用來對從輪入器 1搬入之1C進行放置和測定,3是輪出器,用來將檢査部2 測定遇之1C搬出,輸入器1,檢査部2和輪出器3依照下述 方式來構成。 輸入器1之構成包含有:裝置托板5,用來收納IC4;吸 著具6,用來吸著裝置托板5之IC4和將其取出;輸入器繪 圖器7,用來使IC4和吸著具6—起移動;旋轉台8,用來接 受利用_入器繪圖器7移來之IC4;吸著具9,用來吸著和 取出旋轉台8之IC4;輸入器繪圓器10,用來將吸著具9所 取出之IC4移動到檢査部2;和吸著具11,用來吸著和取出 檢査部2之間之IC4。 檢査部部2之構成包含有:加熱板13,用來收納從_入 器1移來之IC4,在使其旋轉一圈之期間,將IC4之溫度升
本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) ~I ---;-------批衣|-----ΐτ------0 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 28G033 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明 ( 2 ) 1 1 溫 到 檢 査 溫 度 ; 測 定插座1 4 ,具備有接觸棒用來將電 信號 1 1 I 供 給 到 被 升 溫 後 之 IC4之引線25;轉接器插座 15 ,可Μ將 I 測 定 插 座 1 4插 入 藉 Μ進行電 連接;性能板16, 可以依 照電 請 先 1 閱 連 接 在 轉 接 器 插 座 15之IC4之種類來更換;和 測 定部1 9 , 讀 背 1 面 I 包 含 有 電 埋 接 性 能 板16之檢 測頭17和電連接該檢測頭 17之 冬 1 I 意 1 I 檢 測 器 本 體 18 0 事 項 1 I 再 | 另 外 輪 出 器 3之構成包含有:載物台20, 用 來暫時的 填 1 1,用來吸著和取 出 寫 本 裝 放 置 測 定 後 之 IC4 吸著具2 載物台20 頁 1 上 之 IC4 幢出器鑰圖器22, 用來使吸著具21和 IC4依 X和Υ 1 1 方 向 移 動 裝 置 托 板23,用 來收納測定结果被判定為 良品 1 1 之 IC4 和不良品收納托板24,用來收納被判 定 為不良品 1 訂 1 I 之 IC4 ) 下 面 將 說 明 具 有 上述構造 之習知之檢測處理裝置之 有Μ 1 1 I 動 作 〇 1 1 首 先 利 用 吸 著 具6取出被收納在裝置托板 5 之 IC4 使 線 輸 入 器 繪 器 7進行動作,用來將吸著具6和1C- -起放 置在 1 I 旋 轉 台 8上 1 1 I 其 次 ) 使 旋 轉 台 8進行旋轉,利用_入器繪 器10使吸 1 1 著 具 9在IC4之 上 移 動,用來 取出IC4,和使吸 著 具9和 IC4 1 J 一 起 移 動 到 加 热 板 13上,將 IC4放置在加熱板 13上。 1 I 其 次 使 加 熱 板 13旋轉一 圈,在瑄期間使IC4之溫度升 I 溫 到 試 驗 溫 度 利 用吸著具 11將升溫後之IC4取 出,使輸 1 1 1 入 器 繪 _ 器 1 0 進 行 動作,將 1C 4***到測定插 座 1 4,利用 1 1 引 線 壓 接 器 12用 來 壓接IC4之引線25。 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ^8GC38 A7 B7 五、發明説明(3 ) Η 壓 線 引 示 表 來 用 別 分圏 面 剖 和 圈 視 斜 是 \—/ b /IV 和 器 接 之 示前 所之 ί 6 圖 2 如棒 。 觸 態接 狀之 置14 設座 及插 部定 细測 之於 14設 座在 -1m 1/¾ 插載 定裝 測被 和25 C4線 器到 接給 壓供 線26 I bp 弓 ㈣ 用觸 利接 ’ 從 部號 端信 棒 觸 接 到 接 壓 其 將 2 電 後 然 後 之TC 驗使 試10 作器 動 在繪 器 利 到 動 移 器 園 繪 器 線吸 Μ 特品 引用1«定良 驗 試 作 動 之 4 C ί 行 fcE isΜ 賴 入 輪 用 利 出 取 4 C η 將 11 具 著 台 出 轉 和 1Α 2 具 著 吸 用 利 板 托 置 裝 在 納 收 品 良 之 性 特 定 指 有 具 將 習 之 不ij成^ ^ « 問 ¾之m tt ^ ^0 ^ ^ 同«述 π所i 豸明罾 將 — 板 托 納 收 品 良 不 在 納 收 線 引 為 因 置 裝 i: 理 處 測 檢 之 知 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 装. 訂
線接 引銲 用之 利25 是線 ?J n. 部 弓 端 Μ 前所 之 ’ 5 h 2 J 會 a 妾 5 ( S 2 13銲線 圔 為引 與因 Μ , > 所 著中 , 附式27 常 正 之 之 生會 發間 接附 W 鬚生 壓舍r{IA鬍發 來觸 用接 12在 器著 的 對 相 態 難 剌 之 狀 棒 觸 接 在 接 壓 其 將 接 銲 之 謂 所 生 發 6 2 棒 方鬚 之接 示銲 所之 2 謂 3(所 1 即 画 在夯 發 會 積 堆 之 0 踢 銲 為 因 路 短 線 經濟部中央標準局員工消費合作杜印製 導性 之特 26之 棒確 觸正 接行 和進 25能 線不 引 ’ 於 品 由良 Μ不 所為 ’ 定 28判 屑 品 踢良 銲將 積能 堆可 之有 謂良 所 不 生通 腳題 接問 多此 到Μ 步所 進 ’ 已mn 前5 目ο 於 β 由3gl 題ο 問有 棰 只 此為 ’ 變 且距 而間 〇 之 題間 問25 其線 為引 別 , 選化 座 cm 捶 定 測 在 置 放 的 斜 傾 ο 之 題 4 問1C 之於 大由 極 , 為外 成另 變 線 引 使 堆 會 履 , 碎時 之25 鬚線 接引 銲接 或壓 著12 附器 接接 銲壓 於線 由 引 是M 或當 曲上 彎之 成26 變棒 部觸 端接 前在 之積 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) 6 28GC38 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明( 4 ) 1 1 1 使 引 線25之 前 端 部 彎 曲 發 生 所 謂 之 引 媒 變 形 因 而 變 成 1 1 | 不 良 品 為 其 問 題 0 卜 I 另 外 因 為 需 要 設 置 用 Μ 取 出 IC4和使其移動之吸著具9 請 £ 1 閱 » _ 入 器 繪 圖 器 1 0和 測 定 用 之 引 線 壓 接 器 1 2等 所 Μ 變 成 讀 背 | 面 I 複 雜 之 構 造 〇 1 I 意 1 I 另 外 鼸 著 引線25之 數 巨 之 變 多 進 步 到 所 諝 之 多 接 腳 事 1 1 再 化 因 為 引 線25之 間 隔 變 狭 所 引 線25和 接觸棒26要 正 填 1 寫 本 裝 確 的 接 觸 藉 進 行 導 通 會 有 困 難 為 其 問 題 0 頁 1 本 發 明 用 來 解 決 上 述 方 式 之 習 知 之 檢 测 處 理 裝 置 之 問 題 1 1 » 其 巨 的 是 提 供 * 種 測 頭 式 檢 测 處 理 裝 置 及 使 用 該 裝 置 之 1 1 1C之檢測方 法 可 Μ 抑 制 銲 接 附 著 或 銲 接 鬚 之 發 生 不 會 1 1 丁 有 引 線 和 接 觸 棒 之 間 之 導 通 不 良 或 引 線 間 之 短 路 〇 1 I 另 外 本 發 明 亦 提 供 — 種 澜 頭 式 檢 測 處 理 裝 置 及 使 用 該 1 1 I 裝 置 之 I C之檢測方法 可 Μ 使 引 線 不 會 發 生 引 線 變 形 0 1 1 另 外 本 發 明 之 0 的 是 使 1C之 取 出 移 動 和 測 定 機 構 之 線 構 造 簡 化 和 改 菩 裝 置 之 效 率 0 1 I 另 外 本 發 明 提 供 — 種 测 頭 式 檢 测 處 理 裝 置 及 使 用 該 裝 1 1 I 置 之 I C之檢測方法 可 Μ 因 應 嫌 著 多 接 腳 化 之 進 行 而 產 生 1 1 之 引 線 間 隔 之 狹 小 化 〇 1 [發明之解決手段] 1 I 依 照 申 請 專 利 範 圍 第 1項之本發明是- -種測頭式檢測處 f I 理 裝 置 具 備 有 澜 定 部 具 有 霣 路 用 來 測 定 1C之電特性 1 1 I 9 性 能 板 對 於 上 述 電 路 上 之 上 述 1C之每 一 品 種 可 Μ 變 1 1 換 電 連 接 测 頭 卡 被 設 在 該 性 能 板 具 有 接 觸 針 由 針 狀 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) 經濟部中央標準局員工消費合作杜印製 A7 B7 五、發明説明(5 ) 直線部和彎曲部及連鑛該彎曲部之梁所構成;和加壓機構 ,用來對從上述1C之封裝突出之引線之上述封裝之近傍加 壓,使其接觸在上述接觸針之上述針狀直線部之前端。 依照申請專利範園第2項之本發明是使申請專利範園第1 項之測頭式檢測處理裝置成為:該加壓機構具有保持櫬構 用來保持1C,和具有XYZ載物台,用來使加壓機構依X、Y 和Z方向移動。 依照申講專利範園第3項之本發明是使申請専利範園第2 項之測頭式檢測處理裝置成為:該加壓櫬構具有旋轉控制 裝置,MX、Y和Z軸之3個軸為中心,用來控制保持機構之 旋轉。 依照申請專利範園第4項之本發明是使申請專利範園第3 項之測頭式檢測處理裝置成為:該旋轉控制裝置具有旋轉 控制部,依照用K檢測接觸針和引線之位置之位置檢測器 之信號,用來進行旋轉控制。 依照申請專利範圍第5項之本發明是使申請專利範圃第1 項之測頭式檢測處理裝置成為:該針狀直線之長度為2b«i 〜3nn,彎曲部之角度為92°〜95° ,梁之長度為5.5mm〜 8 η η 0 依照申請專利範第6項之本發明是使申謫專利範圃第1 項之測頭式檢測處理裝置成為:具備有引離懺構,當使引 線被加壓接觸在接觸針之測定终了時,用來對上述之接觸 針加工,藉Μ將上述之接觸針引離上述之引線。 依照申請專利範園第7項之本發明是使申請專利範園第6 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ 297公釐) 8~~ —--------^------ir------^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明( 6 ) 1 I 項 之 測 頭 式 檢 測 處 理 裝 置成 為 在 用 以 對 接 觸 針 加 壓 之 引 1 1 | 離 機 構 之 加 壓 部 形 成 有 满, 上 述 之 接 觸 針 插 入 該 溝 〇 I 依 照 申 請 専 利 範 園第8項之本發明是使申謫専利範園第6 請 閱 背 1 I 項 之 測 頭 式 檢 測 處 理 裝 置成 為 : 設 有 微 小 加 振 裝 置 用 來 I 面 I 使 引 離 機 構 進 行 微 小 振 動。 之 注 1 1 依 照 申 請 專 利 範 園第9項之本發明是使申請專利範園第 意 事 項 再 填 寫 本 頁 1 1 I 6項之測頭式檢測處理裝置成為 行驅動之小型馬達和引線嫘旋。 該引離櫬構具有對其進 1 裝 1 依 昭 /、、、 申 講 專 利 範 園 第 10項之本發明 是 使 申 講 専 利 範 圍 第 1 1 1項之測頭式檢測處理裝置成為 對於1個 之 性 能 板 具 備 1 1 有 多 個 澜 頭 卡 和 與 該 測頭 卡 相 同 個 數 之 加 壓 機 構 〇 1 訂 1 I 依 照 申 請 專 利 範 圃 第 11項 之 本 發 明 是 一 種 1C之檢測方法 > 將 電 信 號 供 給 到 從 1C之封 装 突 出 之 引 線 藉 以 測 定 上 述 1 1 I 1C之電特性 其 中 澜 定部 具 有 霣 路 用 來 測 定 上 述 1C之 電 1 1 特 性 性 能 板 與 該 測 定 部電 連 接 而 且 對 於 上 述 1C之 每 一 品 線 種 可 Μ 交 替 電 連 接 設 在該 性 能 板 之 測 頭 卡 具 有 針 狀 直 線 1 I 部 和 彎 曲 部 及 連 續 該 鼙 曲部 之 梁 用 來 構 成 接 觸 針 從 測 定 1 I I 部 經 由 性 能 板 利 用 加 壓機 構 對 接 觸 針 之 上 述 針 狀 直 線 部 1 1 之 ,* 4. 刖 端 加 壓 使 其 接 觴 在 上述 引 線 之 上 述 封 裝 近 傍 用 來 將 1 1 電 信 號 供 給 到 上 述 之 引 線。 1 I 依 照 申 請 專 利 範 圍 第 12項 之 本 發 明 是 使 申 謫 專 利 範 圍 第 ί I 11項 之 1C之 檢 測 方 法 成 為: 該 加 壓 機 構 具 有 保 持 m 構 用 來 1 1 I 保 持 1C 上 述 之 1C被 保 持在 上 述 之 保 持 機 構 和 利 用 XYZ 1 1 載 物 台 使 上 述 之 加 壓 機 構依 X 、¥和Ζ方向移動 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明 ( 7 ) 1 1 I 依 照 申 謫 專 利 範 _ 第 1 3項 之 本 發 明 是 使 申 諝 専 利 範 園 第 1 1 | 1 2項 之 1C 之 檢 測 方 法 成 為 : 該 加 壓 櫬 構 具 有 旋 轉 控 制 裝 置 I 9 X、 Υ和 Ζ袖為中心, 用來對該保持懺構造行3 軸 旋 轉 控 請 先 1 1 閱 1 制 〇 背 1 1 面 I 依 照 申 請 專 利 範 園 第 1 4項 之 本 發 明 是 使 申 請 専 利 範 園 第 1 I 意 1 I 13 之 1C 之 檢 測 方 法 成 為 依 照 用 Μ 檢 測 接 觸 針 和 引 線 之 位 事 項 1 I 再 1 置 之 位 置 檢 測 器 之 信 號 用 來 控 制 該 旋 轉 控 制 裝 置 之 旋 轉。 填 1 範 第 寫 裝 依 照 申 請 専 利 範 園 第 15項 之 本 發 明 是 使 申 請 專 利 園 頁 S_· 1 11 項 之 1C 之 法 成 為 該 針 狀 直 線 部 之 長 度 為 2 Β 遢〜3 m霣 彎 1 1 曲 部 之 角 度 為 92 〇 95 〇 梁 之 長 度 為 5 . 5 η η 一 -8 n s 〇 1 1 依 照 甲 謫 專 利 範 園 第 16項 之 本 發 明 是 使 申 請 専 利 範 園 第 1 訂 1 I 11 項 之 1C 之 檢 測 方 法 成 為 具 有 引 離 機 構 用 來 對 接 觸 針 加 壓 藉 Μ 使 上 述 之 接 觸 針 被 引 m 該 引 線 在 測 定 終 了 時 上 述 1 1 1 之 接 觸 針 就 被 引 鐮 上 逑 之 引 媒 〇 1 1 依 照 甲 請 專 利 範 園 第 17項 之 本 發 明 是 使 甲 請 專 利 範 圍 第 線 16項 之 1C 之 檢 測 方 法 成 為 : 在 引 離 機 櫞 之 加 壓 部 形 成 有 溝 1 I , 接 觴 針 插 入 到 該 满 0 1 I 依 照 甲 請 專 利 範 圍 第 1 8 項 之 本 發 明 是 使 甲 請 專 利 範 las 圍 第 1 1 16項 之 1C 之 測 方 法 成 為 在 引 離 櫬 構 設 有 微 小 振 動 之 微 1 1 小 加 振 裝 置 t 用 來 使 上 述 之 引 離 櫬 構 產 生 微 小 之 振 動 〇 1 1 依 照 申 請 專 利 範 圍 第 1 9 項 之 本 發 明 是 使 甲 請 專 利 範 園 第 r I 16項 之 1C 之 檢 測 方 法 成 為 該 引 離 機 構 被 小 型 馬 達 和 引 線 1 1 螺 旋 驅 動 〇 1 1 依 照 申 請 專 利 範 園 第 20項 之 本 發 明 是 使 申 請 專 利 範 園 第 1 1 -10- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS〉A4規格(210X297公釐) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 __B7 五、發明説明(8 ) 16項之1C之檢測方法成為:對於1個之性能板’具備有多 個測頭卡,和與該测頭卡相同個數之加壓機構。 [作用] 依照申請專利範圍第1和U項之本發明時,因為使用測 頭卡,使接觸针之針狀直線部之前端接觸在引線強度較高 之封裝近傍,所以可以抑制銲接附著和择接鬚之發生’接 觸針和引線之間不會有導通不良,引線之間不會短路’而 且不會因為引線之變形而發生不良。 依照申請專利範園第2和12項之本發明時,使1C移動* 將引線加壓的接觸在接觸針,和使1C再移動之一連貫之作 業,利用XYZ載物台和具有保持櫬構之加壓機構可Μ連鑛 的實施,所以作業時間可Μ縮短,而且可Μ使測頭式檢测 處理装置之構造簡化。 依照申請專利範園第3和13項之本發明時,因為在加壓 機構設有旋轉挖制裝置,保持機構可ΜΜΧ袖,Υ袖和Ζ軸 之3軸為中心進行旋轉,所Κ能夠使引線確實的接觸在接 觸針,賴以因應由於多接腳而產生之引線間隔之變狹。 依照申請專利範圍第4和14項之本發明時,因為旋轉控 制裝置具備有旋轉控制部,用來接收用Μ檢測接觸針之位 置和引線之位置之位置檢測器之檢測信號,藉以控制保持 機構之旋轉,所以能夠使引線和接觴針之接觸更加確實。 依照申誧專利範園第5和15項之本發明時,經由形成接 觸針之針狀直線部之長度為2〜3mm,彎曲部之角度0為 92°〜95° ,梁之長度為5.5mm〜8mm,可以獲得良好之接 觸狀慇,銲接附著可Μ變為極少。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) --1-------批衣------1Τ------^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 280^38 B7 五、發明説明(9 ) 依照申請専利範園第6和16項之本發明時,因為設有引 離機構,在測定終了時,將接觸針引離引線,所Μ可Μ確 實的使銲接鬚不會發生。 依照申請專利範園第7和17項之本發明時,因為在引離 懺構形成有满,接觸針***到該溝,所以凿接觸針與引線 接觸時,可Μ防止接觸針滑向鄰接之引線。 依照申請專利範園第8和18項之本發明時,因為在引離 機構設有微小振動機構,所Μ當接觸針接觴在引線時,可 Κ破埭形成在引線之銲接表面之氧化皮膜,因此接觴針和 引線可Μ確霣的進行電連接。 依照申請專利範圓第9和19項之本發明時,因為引離櫬 構利用小型馬達和引線嫘旋來加Μ驅動,所Μ可Μ更精確 的將接觸針引離引線。 依照申請專利範圃第10和20項之本發明時,因為對於1 個之性能板,設置多個之測頭卡和與該測頭卡相同個數之 加壓襪構,所以可Μ同時测定多個1C·因此可以使處理能 力提高。 [«施例] 實施例1 圖1是斜視圖·用來表示本發明之一實腌例,圖中顧示 有測頭式檢測處理裝置之全體之構造。 在圖1中,符號1是输入器,2是檢査部,用來放置從輸 入器1搬入之1C和對該1C進行測定* 3是輸出器,用來將被 檢査部2檢査過之1C搬出,該輸入器1,檢査部2和輪出器3 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ 297公釐) ----------t------IT------^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製
經濟部中央標準局員工消費合作社印I A7 B7 五、發明説明(t 0) 依照下述方式來構成。 输入器1之構成包含有:裝置托板5,用來收納IC4;吸 著具6,用來吸著裝置托板5中之IC4和將其取出;輪入器 繪圖器7,用來使IC4和吸著具6—起移動;和旋轉台8,用 來接受利用輸入器繪圖器7移來之IC4和使其旋轉180° 。 檢査部2之構成包含有:XYZ載物台30,用來將旋轉台8 上之IC4取出使其移動到檢査部2,在測定終了後將其搬出 到輸出器3;加熱板13,用來收納IC4,在使其旋轉1圈之 期間,將IC4之溫度升溫到試驗溫度;加壓櫬構33,具備 有用Μ保持IC4之保持櫬構32和用來對IC4進行加壓;測頭 卡35,具有接觸針34,在對IC4加壓時接觸在引線25之1C 封装40之近傍,用來將電信號供給到引線25;性能板37, 對於每一種類之IC4,可Μ使測頭卡35經由中繼板36交換 電連接;測定部19,其構成包含有與性能板37電連接之檢 測頭17和與該檢測頭17電連接之檢測器本體18; CCD攝影 機等之位置檢測器29,用來檢測引線25之位置;和CCD攝 影機等之位置檢測器31,用來檢測接觸針34之位置。 另外,輸出器3之構成包含有:載物台20,用來暫時的 放置測定後之IC4;吸著具21,用來取出載物台20上之IC4 ;輸出器繪圖器22,用來使吸著具21和IC4依X和Υ方向移 動;裝置托板23,用來收納檢測之结果被判定為良品之 IC4;和不良品收納托板25,用來收納被判定為不良品之 IC4 ° 圖2表示潮頭卡35,中繼板36和性能板37之電連接之狀 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(2丨ΟΧ297公缓) :~7Ζ~~ ^ 裝 訂 線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作杜印製 28GC38 A7 B7 五、發明説明(11) 態。如圈所示,設在中繼板36之導通接期138之前端***到 設在接觸針34之一端之貫穿孔洞39形成電連接。另外*導 通接腳38之另外一鳙連接到性能板37之配線因而形成一體 。該等測頭卡35和性能板37可以因應每一種類之IC4的進 行交換。 下面將說明具有上述構造之本霣施例之測頭式檢測處理 裝置之動作。 首先,利用吸著具6取出被收納在裝置托板5之IC4,使 _入器繪圖器7進行動作,用來將吸著具6和IC4 一起放置 在旋轉台8上。 其次,使旋轉台8旋轉180° ,驅動XYZ載物台30使加壓 機構移動到IC4之上,利用保持櫬構32取出和保持IC4,再 度的使XYZ載物台30進行動作,使IC4移動到加热板13上, 將IC4放置在加熱板13上。 其次,使加熱板13旋_1圈,在瑄期間將IC4升溫到試驗 溫度。使加壓機構33進行動作,利用保持櫬構32將升溫後 之IC4保持和取出,使XYZ載物台30進行動作用來將IC4移 動到测頭卡35之上,然後,使加壓機構33進行動作,用來 將引線25壓接在接觸針34之前端,從測定部19經由接觸針 34將電信號供給到引線25,用來進行IC4之動作試驗。 圖3是剖面圖,用來表示具有測頭卡35之接觸針34之形 狀和接觸針34與引線25之接觸狀態。如圖所示,接觸針34 之構成包含有針狀直線部41和與其連讀之彎曲部42 Μ及與 該鼙曲部42連績之梁43,針狀直線部41之前端被構建成從 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) I~ι 4 - I 批衣 訂 線 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作杜印製 五、發明説明 (12) 1 1 I 下 側 接 觴 在 引 線 25之 1C封 裝 40 之 近 傍 〇 1 1 | 為 著 使 接 觸 針 34和 引 線 25具 有 良 好 之 接 觸 狀 態 和 使 銲 f I 接 附 著 減 少 9 所 Μ 接 觴 針 34之 針 狀 直 線 路 41 之 長 度 為 2〜3 請 1 閱 mm 彎 曲 部 42 之 角 度 Θ 為 92 〇 95 〇 y 梁 43之 長 度 L為5 .5 讀 背 I I n m 8 ID m ( > 冬 1 I 意 I 在 動 作 試 驗 之 後 使 加 壓 櫬 構 33進 行 動 作 用 來 將 1C 4引 事 if 1 I 再 1 上 使 XYZ載物台30進行動作* 用來將IC4移 動 到 載 物 台 20 填 1 良 品 寫 裝 利 用 吸 著 具 1 4和 輸 出 器 繪 幽 器 22將 具 有 —· 定 特 性 之 頁 N<· 1 收 納 在 良 品 裝 置 托 板 23 f 將 不 同 特 性 或 不 良 品 收 納 在 不 良 1 1 品 收 納 托 板 24 〇 1 1 依 照 本 實 施 例 時 因 為 使 用 澜 頭 卡 35 使 接 觸 針 34之 針 1 訂 1 I 狀 直 線 部 41 之 前 端 局 部 的 接 觸 在 引 線 25之 強 度 較 高 之 封 裝 近 傍 所 以 可 以 抑 制 銲 接 附 著 和 銲 接 鬚 之 發 生 不 會 有 導 1 1 通 不 良 和 引 線 25 間 之 短 時 而 且 不 會 有 引 線 變 形 之 不 良 發 1 1 生 〇 線 因 為 接 觴 針 34之 針 狀 直 線 部 41 之 長 度 為 2〜3 m m 彎 曲 部 1 I 42 之 角 度 Θ 為 92 〇 95 〇 梁 43之 長 度 L為5 .5 mm 8 m m 1 1 I 所 Μ 可 Μ 獲 得 良 好 之 接 觸 狀 態 使 銲 接 附 著 變 為 極 少 〇 1 1 另 外 使 輪 入 器 1之旋轉台8上 之 1C 4移動到檢査部2 將 1 1 引 線 25加 壓 的 接 aw 簡 在 接 觸 針 34 在 試 驗 終 了 後 移 動 到 輸 出 1 I 器 3之— -連貫之作業 因為可以利用XYZ 載 物 台 30和 加 壓 機 I 構 33來 埋 續 的 實 施 所 作 業 時 間 可 縮 短 而 且 可 Μ 使 1 1 1 测 頭 式 檢 測 處 理 裝 置 之 構 造 變 成 很 簡 單 〇 1 1 實 施 例 2 1 1 -15- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(21()Χ 297公釐) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(1 3) 圖4是斜視圖,用來表示本發明之另一實施例。在該圖 中,符號30是XYZ載物台,44是X軸方向之驅動馬達* 45是 Y袖方向之驅動馬達,46是Z軸方向之驅動馬達,加壓櫬構 33連结在XYZ載物台30,依X、Y和Z軸方向被驅動。 加壓機構33具有如同角度調整馬達等之旋轉控制裝置47 ,該旋轉控制装置47利用馬達48和齒輪49使保持櫬構32 Μ X袖、Υ軸和Ζ軸之3個軸為中心進行旋轉。 另外,加壓機構33具有CCD攝影機等之位置檢測器31用 來檢測接觸針34之位置。旋轉控制裝置47具備有旋_控制 部,用來接受位置檢测器31和圖1所示之用Μ檢澜引線25 之位置之CCD攝影櫬等之位置檢測器29之檢査信號,藉以 控制保持櫬構32之旋轉。 另外,加壓機構33具有引離機構50。該引離機構50具有 氣缸51,壓接器53,和臂54形成與氣缸51之朝向下方之移 動連動,以接腳52為中心進行旋轉藉以將壓接器53壓下, 另外,如圖5之正面圖所示,還具備有由柱56和絕緣框57 所構成之引離具58。符號55為袖承,用來使臂54_滑的上 下移動,另外,如_7之剖面圈所示,在懕接器53和保持 機構32之間具有壓縮彈簧59,當氣缸51移動到上方時,壓 接器53就被壓上到上方。另外,柱56和絕緣框57,如園6 之斜視圖所示,被裝載在設於測頭卡35之接觸針34之梁43。 在測定終了時,如圖7所示,依箭頭方向將引離具58壓 下,使接觸針34離開引線25,然後,使保持機構32和IC4 一起移動到上方。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ 297公釐) -~ϊ~6~- 裝 訂 線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 ^8GC38 A7 B7 五、發明説明(14 ) 圖8用來說明上述之引離櫬構50之動作。在沒有引離櫬 構50之情況時,如圖8(a)所示,接觸針34接觸在引線25, 當更進一步的壓下時,接觸針34之前端就滑動,直至最大 壓下程度,以此方式進行測定。然後,當將IC4引上時, 接觸針34之前端拉引引線25之表面藉Μ回到原來位置,這 時會發生銲接鬚。另外一方面,在具有引離機構50之情況 時|如圖8(b)所示,在測定終了後,利用引離櫬構50將接 _針34壓下,然後,將IC4引上,所以接觸針34之前端不 會拉引引線25之表面就可Κ回到原來之位置,因此不會有 銲接鬚發生。 另外,圖9是引離具58之部份圖•如圖所示,在絕緣框 57形成有满60,接觸針34之梁43***到溝60。另外,在柱 56設有壓電元件等之微小振動機構61。微小振動機械61可 Μ用來使引離懺構50產生微小之振動,亦可Μ設置壓接器 5 3或絕緣框5 7等,另外,微小振動機構6 1並不只限於壓電 元件,亦可Μ利用電磁元件。 依照本實施例時,因為在加壓機構33設置旋轉控制裝置 47,使保持櫬構32ΚΧ軸、Υ軸和Ζ軸之3個袖為中心進行旋 轉,所Μ引線25可Μ確實的接觸在接觸針34,藉Μ因應由 於多接腳化所產生之引線25之間隔之變狹。 另外,因為旋轉控制裝置47具備有旋轉控制部用來接收 用Κ檢測接觸針34之位置之CCD攝影櫬等之位置檢測器31 和用Μ檢測引線25之位置之CCD攝影機等之位置檢測器29 之檢測信號,藉以控制保持櫬構之旋轉,所以引線25和接
本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X 297公釐) I~~I --^-------批衣------,1Τ------^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作杜印製 五、發明説明U 5 ) 1 1 觸34之接觸可以更加確實 〇 1 1 1 另 外 t 因 為 設 有 引 離 機 構 50 在 測定終 了 時,將接觸 針 | 34引 離 引 線 2 5 9 然 後 使 保 持 慵構32和IC4移動到上方 請 1 閱 所 Μ 可 Μ 確 實 的 使 銲 接 鬚 不 會 發 生 〇 讀 背 | 面 | 另 外 因 為 在 引 離 機構50之 引 離 具58之 絕緣框5 7形成 有 冬 1 I 意 1 I 溝 60 接觸針34之 梁43插 入 到 溝 60 ,所以 當接觸針34接觸 事 項 再 1 | 1 引 線25時 可 Μ 防 止 接觸針3 4之滑 向鄰接 之 引線25。 填 1 振 動機構,所 寫 本 裝 另 外 因 為 在 引 雕具58之 柱56設有微小 頁 s, 1 當 接 觸 針 34接觸在 引 線25時 可 以 破壞形 成 在引線25之銲 1 1 接 表 面 之 氧 化 皮 膜 因 此 接 觸 針 34和引線25可Μ確實的 進 1 1 行 電 連 接 〇 1 訂 另 外 在 本 實 施 例 中 因 為 將 引 離櫬構50換成氣缸51 9 1 I 利 用 小 型 馬 達 和 引 媒 鏍 旋 來 驅 動 所以能 夠 Μ更良好之 精 1 1 確 度 將 接 鼸針34引 離 引 線 25 〇 1 1 另 外 在 上 述 之 實 施 例 和 2中 對於1個 之 性能板37, 可 線 Μ 設 置 多 個 之 測 頭 卡 35和 中 繼板3 6之組合 所Μ能夠同 時 1 I 測 定 多 個 1C 〇 各個測頭卡35經 由 各 個中繼板36電連接在性 1 1 能 板 37 0 另 外 這 時 如 圖 10所 示 多個保持機構32和加 壓 1 1 機構33被設 置 成 所 具 有 之 間 距 與 多 個測頭 卡 之排列間距 相 1 1 同 因 為 同 時 進 行 同 一 種 類 之 1C之電性動 作 試驗,所Κ 可 1 I 獲 得 處 理 能 力 很 高 之 測 頭 式 檢 測 處理裝 置 〇 1 I [發明之效果] 1 1 I 依 照 申 請 專 利 範 園 第 1和1 1項之本發明時 •因為使用測 1 1 頭 卡 使 接 觸 針 之 針 狀 直 線 部 之 前 斕接觸 在 引線強度較 高 1 1 -1 8 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) 28GC38 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明( 16) 1 1 之 封 裝 近 傍 所 Μ 可 Κ 抑制銲接 附著和 銲 接 鬚之 發生,接 1 1 I 觸 針 和 引 線 之 間 不 會 有 導通不良 ,引線 之 間 不會 短路,而 1 1 且 不 會 因 為 引 線 之 變 形 而發生不 良。 請 先 1 閱 依 照 甲 請 專 利 範 園 第 2和12項之本發明時 使1C移動, 讀 | 面 I 將 引 線 加 壓 的 接 觸 在 接 觸針,和 使1C再移動 之一 連貫之作 之 1 I 意 1 1 業 利 用 ΧΥΖ載物台和具有保持櫬構之加壓櫬構可Κ連鑛 事 項 1 I 的 實 施 所 Μ 作 業 時 間 可以縮短 ,而且 可 Μ 使測 頭式檢測 再 填 1 簡 寫 本 處 理 裝 置 之 構 造 化 〇 頁 1 依 照 申 講專利範園第3和13項之本發明時 因為在加壓 1 1 櫬 構 設 有 旋 轉 控 制 裝 置 ,保持櫬 梅可Μ 以 X軸、Υ軸和Ζ軸 1 1 之 3袖為中心進行旋轉 所以能夠使引線確實的接觸在接 1 訂 觸 針 藉 Μ 因 應 由 於 多 接腳而產 生之引 線 間 隔之 變狭。 1 I 依 眧 申 請 專 利 範 園第4和14項之本發明時 •因為旋轉控 1 1 制 裝 置 具 備 有 旋 轉 控 制 部,用來 接收用 Μ 檢 測接 觸針之位 1 1 置 和 引 線 之 位 置 之 位 置 檢测器之 檢測信 號 藉Μ 控制保持 線 機 構 之 旋 轉 所 能 夠 使引線和 接觴針 之 接 觸更 加確實。 1 I 依 照 甲 請 專 利 範 圍 第 5和15項之本發明時 >經由形成接 1 1 觭 針 之 針 狀 直 線 部 之 長 度為2〜3 mm* IS 曲 部 之角 度0為 1 1 92 〇 95 〇 梁 之 長 度 為 5.5mm〜8mm , 可 Μ 獾得 良好之接 1 1 觸 狀 態 銲 接 附 著 可 Μ 變為極少 ο 1 | 依 照 串 請 專 利 範 圍 第6和16項之本發明時 •因為設有引 1 I 離 櫬 樽 在 測 定 終 了 時 *將接觸 針引離 引 線 -所 Κ可Κ確 1 1 1 實 的 使 銲 接 鬚 不 會 發 生 〇 1 1 依 照 申 請 專 利 範 園第7和17項之本發明時 因為在引離 1 1 -19- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) 28GC38 A7 B7 五、發明説明(1 7) 線 引 與 針 觸 接 當。 K線 所引 ’ 之 满接 該鄰 到向 入滑 插針 針觸 觸接 接止 ’ 防 满 K 有可 成 ’ 形時 構觸 機接 和 8 , 第構 園櫬 範動 利振 專小 請微 申有 照設 依構 機 離 引 在 為 因 時 明 發 本 之 項 破M 可 線 引 在 觸 接 針 觸 接Μ 所 線 引 和 件 觸 接 此 因 膜 皮 化 氧 之 面 。 表接 接連 銲電 之行 線進 引的 在簧 成確 形以 壊可 和 9 動 驅Μ 加 來 旋 螺 第線 園 引 範和 利達 專馬 請型 申小 照用 依利 構 櫬 離 引 為 因 時 明 發 本 之 項 確 精 更 以 可% 所 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) .裝· 〇 第 線画 - OMU 弓 S 離利 引專 針請 觸申 接照 將依 的 於 對 為 因 時 明 發 本 之 項 之能 數理 個處 同 使 相 Μ 卡可 頭此 澜因 該, 與1C 和個 卡多 頭定 拥測 之時 涸 同 多 Μ 置可 設 Μ ’ 所 板’ 能構 性櫬 之壓 個加 高 提 力 構 之 板 能 〇 性 例和 施卡 實頭 一 測 之之 明 明 發發 本本 示示 表表 來來 3J 1ΤΠ -—·. SM 明,, 說圖圖 單視視 簡斜斜 之 _ 附 *S 1 2 圖 圖 -a 線 造 經濟部中央標準局員工消費合作杜印製 觸 接 和 造 構 之 針 觸 接 之 明 發 本 -' 亓 表 來 用 圖 面 剖 是 3 圖 態 狀 觸 接 之 線 引 與圖 針 圖 視 斜 是 4 例 施 實 1 另 之 明 發 本 示 表 來 用
Boo RD 園圈· 6 8 造。。作 構造造動 之構構之 構之之構 機具具機 離離離離 引 引引引 之 之之之 明明明明 發發發發 本本本本 示 示 示 明 表表表說 來 來來來 用 用用用 artH_ MHU RUH 圖圖圈 面視面面 正斜剖正 是 是是是 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X29·/公釐) 20 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(1 8) 圓9是部份圖,用來表示本發明之引離具。 圖10是斜視圖,用來表示本發明之另一實腌例。 圖11是斜視圖•用來表示習知之檢測處理裝置。 圖12是斜視圖和剖面圖,用來表示習知之檢測處理裝置 之接觸棒之構造。 圖13是正面圖,用來說明習知之檢测處理裝置之接觸不 良之產生機構。 [符號之說明] 1....輸人器,2...,檢査部,3... 出器,4. ...1C, 5和23....裝置托板,6、9、11和21...吸著具,7和10... 輸入器繪圖器,8....旋轉台,12....引線壓接器,13... 加熱板,14....測定插座,15...轉接器插座,16和37... 性能板,17....檢測頭,18——檢測器本體,19——測定 部,20....載物台,22....輪出器繪圈器,24....不良品 收納托板,25....IC引線,26....接觸棒,29和31....位 置檢測器,3 0... .XYZ載物台,32....保持機構,33.... 加壓機構,34____接觸針,35....測頭卡,36——中繼板 ,38....導通接腳,39....接觸孔洞,40.... 1C封裝, 41.. ..針狀直線部,42....彎曲部,43....梁,44、45、 46和48......禹達,47....旋轉控制装置,49....齒輪, 50.. ..引離櫬構,51....氣缸,52....接腳* 53....壓接 器,54....臂,55....轴承,56....柱,57....絕緣框, 58.. ..引離具,59.....壓縮强簧,60....溝,61....微 小加振機構。
本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) I~~7]~I ---J-------批衣------1T------^ 厂 ί (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)

Claims (1)

  1. ABCD 28GC38 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 1 1 I 1 . 一 種 測 頭 式 檢 測 處 理裝 置 ,其特徴是具備 有: 測定部 I 1 1 t 具 有 電 路 用 來 測 定 積 體電 路 (1C )之電特性; 性能 板,對 1 I 於 上 述 電 路 上 之 上 述 1C之每 品種,可Μ交換 電連 接;澜 請 先 1 1 閣 頭 卡 被 設 在 該 性 能 板 ,具 有 接觸針由針狀直 線部 和彎曲 讀 背 I 面 I 部 及 連 續 該 彎 曲 部 之 梁 所構 成 ;和加壓機構* 用來 對從上 之 注 1 I 意 1 I 述 1C之封裝突 出 之 引 線 之上 述 封裝近傍加壓, 使其 接觸在 事 項 1 I 1 上 述 接 觸 針 之 上 述 針 狀 直線 部 之前端。 填 寫 本 裝 2 . 如 甲 請 專 利 範 園 第 1項之測頭式檢測處理裝置 其特 頁 1 | 微 是 該 加 壓 櫬 構 具 有 保持 機 構用來保持IC, 和具 有ΧΥΖ 1 1 載 物 台 用 來 使 加 壓 構 機依 X Υ和Ζ方向移動 1 1 3 . 如 甲 請 專 利 範 圍第2項測頭式檢測處理裝置,其特黴 1 訂 是 該 加 壓 機 構 具 有 旋 轉控 制 裝置,Μ X、Υ和 Z軸之3個袖 1 I 為 中 心 用 來 控 制 保 持 機構 之 旋轉。 1 1 4 . 如 申 請 專 利 範 園 第 3項之測頭式檢測處理裝置 其特 1 1 激 是 該 旋 轉 控 制 裝 置 具有 旋 轉控制部,依照 用Μ 檢測接 1 (tm πβ 針 和 引 線 之 位 置 之 位 置檢 測 器之信號,用來 進行 旋轉控 I | 制 0 1 I 5 . 如 申 請 專 利 範 圃 第 1項之測頭式檢測處理裝置 其特 1 1 激 是 該 針 狀 直 線 部 之 長度 為 2ιηιπ〜3mm,腎曲 部之 角度為 1 1 92 □ 95 〇 梁 之 長 度 為5 . 5 m in 〜8 la m 0 1 1 6 . 如 申 請 專 利 範 園 第 1項之測頭式檢測處理装置 其特 I 激 是 具 備 有 引 離 機 構 ,當 使 引線被加懕接觸 在接 觸針之 1 I 1 測 定 之 终 了 時 用 來 對 上述 之 接觸針加壓,藉 以將 上述之 1 1 接 觸 針 引 離 上 述 之 引 線 〇 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 1 A8 B8 C8 D8 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 1 1 1 7 . 如 甲 請 專 利 範 圍 第 6 J3 喔之澜頭式檢測處理裝置 其特 1 1 1 徴 是 在 用 對 接 觭 針 加 壓 之 引離 機 構之 加 壓部形 成 有满 1 1 9 上 述 之 接 觭 針 插 入 該 m 〇 請 先 1 1 閲 8 . 如 串 請 專 利 範 園 第 6項之測頭式檢測處理裝置 其特 讀 背 1 面 1 激 是 ; 設 有 微 小 加 振 裝 置 用 來使 引 離機 構 進行微 小 振動。 之 注 1 1 意 1 1 9 . 如 甲 請 專 利 範 圍 第 6項之測頭式檢測處理裝置 其特 事 項 1 1 再 激 是 該 引 m 櫬 構 具 有 對 其 進 行驅 動 之小 型 馬達和 引 線螺 填 寫 本 裝 旋 〇 頁 1 I 10 .如申請1 事利範圍第] 項 所 述之 測 頭式 檢 測處理 裝 置, 1 1 其 特 徴 是 對 於 1個之性能板 具備有多個測頭卡 和與 1 1 該 測 頭 卡 相 同 個 數 之 加 壓 機 構 〇 1 訂 1 I 11 -種積體電路( 1C )之檢测方法 將電信號供給到從 1C 之 封 裝 突 出 之 引 線 藉 測 定上 述 1C之 電 特性, 其 特激 1 1 1 是 測 定 部 具 有 電 路 用 來 測 定 上述 1C 之電 特 性,性 能 板與 1 1 該 測 定 部 電 連 接 而 且 對 於 上 述 1C之 每 一品 棰 可以交 換 電連 .....1 ,成 接 設 在 該 性 能 板 之 測 頭 卡 具 有針 狀 直線 部 和彎曲 部 及連 1 I 讀 該 彎 曲 部 之 梁 用 來 構 成 接 觸 針, 從 測定 部 經由性 能 板, 1 | 利 用 加 壓 tin m 構 對 接 觴 針 之 上 逑 針狀 直 線部 之 前端加 壓 使其 1 1 接 觸 在 上 述 引 線 之 上 述 封 裝 近 傍, 用 來將 電 信號供 給 到上 1 1 述 之 引 線 〇 1 I 12 .如申請專利範画第1 1項之1C之檢測方法,其特徴是 I : 該 加 壓 機 構 具 有 保 持 機 構 用 來保 持 1C * 上 述之1C被 保持 1 1 I 在 上 逑 之 保 持 機 構 和 利 用 X Y Z載物台使上述之加壓機構 1 1 依 X、 Y和 Z方向移動 ) 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 28^238 A8 B8 C8 D8 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 13. 如申請專利範園第12項之1C之檢測方法,其特徴是 :該加懕機構具有旋轉控制裝置,MX、Y和Z袖為中心, 用來對該保持機構進行3軸旋轉控制。 14. 如申請專利範園第13項之1C之檢測方法,其特激是 :依照用以檢測接觸針和引線之位置之位置檢測器之信號 ,用來控制該旋轉控制裝置之旋轉。 15. 如申請專利範圍第11項之1C之檢測方法,其特徵是 :該針狀直線部之長度為2mm〜3mm,彎曲部之角度為92° 〜95° ,梁之長度為5.5mm〜8mm。 16. 如申請專利範圍第11項之1C之檢測方法,其特擻是 :具備有引離機構用來對接觸針加壓賴以使上述之接觸針 被引離該引線,在測定终了時上述之接觸針就被引離上述 之引線。 17. 如申請專利範圍第16項之1C之檢測方法,其特擻是 :在引離櫬構之加壓部形成有溝,接觸針***到該溝。 18. 如申請専利範園第16項之1C之檢測方法,其特激是 :在引離櫬檐設有產生撖小振動之微小加振裝置,用來使 上述之引離機構產生微小之振動。 19. 如申請專利範園第16項之1C之檢測方法,其特激是 :該引離機構被小型馬達和引線螺旋驅動。 20. 如申請專利範圍第11項之1C之檢測方法,其特徴是 :對於1個之性能板,具備有多個測頭卡,和與該測頭卡 相同個數之加壓機構。 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝. 、1T •Τ球 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210+Χ297公釐) 3
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Families Citing this family (54)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6181149B1 (en) 1996-09-26 2001-01-30 Delaware Capital Formation, Inc. Grid array package test contactor
JP3494828B2 (ja) * 1996-11-18 2004-02-09 株式会社アドバンテスト 水平搬送テストハンドラ
US6064218A (en) * 1997-03-11 2000-05-16 Primeyield Systems, Inc. Peripherally leaded package test contactor
DE19741352C2 (de) * 1997-09-19 1999-09-30 Mci Computer Gmbh Testsockel zum Testen von Anschlußbeinchen aufweisenden IC-Bauelementen
US6270357B1 (en) * 1999-05-06 2001-08-07 Wayne K. Pfaff Mounting for high frequency device packages
JP2001349925A (ja) 2000-06-09 2001-12-21 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路の検査装置および検査方法
JP4327335B2 (ja) * 2000-06-23 2009-09-09 株式会社アドバンテスト コンタクトアームおよびこれを用いた電子部品試験装置
US6462568B1 (en) * 2000-08-31 2002-10-08 Micron Technology, Inc. Conductive polymer contact system and test method for semiconductor components
CN1191747C (zh) * 2001-09-06 2005-03-02 株式会社理光 电子元件组装检查方法
KR100436656B1 (ko) * 2001-12-17 2004-06-22 미래산업 주식회사 반도체 소자 테스트 핸들러의 소자 이송장치의 작업위치 인식방법
NL1019775C2 (nl) * 2002-01-18 2003-07-21 Integrated Production And Test Inrichting voor het testen van elektronische schakelingen, alsmede een naaldenbed voor toepassing in een dergelijke inrichting.
KR100451586B1 (ko) * 2002-03-13 2004-10-08 미래산업 주식회사 반도체 소자 테스트 핸들러의 소자 이송장치의 작업 높이인식장치 및 이를 이용한 작업 높이 인식방법
KR100573089B1 (ko) * 2003-03-17 2006-04-24 주식회사 파이컴 프로브 및 그 제조방법
WO2005096368A1 (ja) * 2004-03-31 2005-10-13 Jsr Corporation プローブ装置およびこのプローブ装置を具えたウエハ検査装置並びにウエハ検査方法
WO2005121739A1 (ja) * 2004-06-08 2005-12-22 Advantest Corporation イメージセンサ用試験装置
CN100350585C (zh) * 2004-09-29 2007-11-21 立积电子股份有限公司 晶圆测量***
JP2006284384A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Fujitsu Ltd 半導体装置の試験装置及び試験方法
US20070132471A1 (en) * 2005-12-13 2007-06-14 Carlson Gregory F Method and apparatus for testing integrated circuits over a range of temperatures
CN101188205B (zh) * 2006-11-15 2010-05-12 上海华虹Nec电子有限公司 测试铝膨胀缺陷的方法
TW200846688A (en) * 2007-05-25 2008-12-01 King Yuan Electronics Co Ltd A testboard with ZIF connectors, method of assembling, integrated circuit testing system and testing method introduced by the same
JP4539685B2 (ja) * 2007-06-22 2010-09-08 セイコーエプソン株式会社 部品搬送装置及びicハンドラ
US20100026330A1 (en) * 2007-08-13 2010-02-04 Yuan-Chi Lin Testboard with zif connectors, method of assembling, integrated circuit test system and test method introduced by the same
KR100900162B1 (ko) * 2009-01-13 2009-06-02 에버테크노 주식회사 마이크로폰 테스트시스템의 테스트장치
TWI394949B (zh) * 2009-02-20 2013-05-01 King Yuan Electronics Co Ltd 動態測試裝置及方法
TWI451100B (zh) * 2009-02-20 2014-09-01 King Yuan Electronics Co Ltd 翻轉測試模組及其測試系統
TWI403721B (zh) * 2009-02-20 2013-08-01 King Yuan Electronics Co Ltd 旋轉測試模組及其測試系統
TWI395950B (zh) * 2009-02-20 2013-05-11 King Yuan Electronics Co Ltd 直線往復測試模組及其測試系統
DE102009045291A1 (de) * 2009-10-02 2011-04-07 Ers Electronic Gmbh Vorrichtung zur Konditionierung von Halbleiterchips und Testverfahren unter Verwendung der Vorrichtung
JP5024356B2 (ja) 2009-11-09 2012-09-12 株式会社村田製作所 電気特性測定基板
JP5835722B2 (ja) 2009-12-10 2015-12-24 オルボテック エルティ ソラー,エルエルシー 自動順位付け多方向直列型処理装置
US8872532B2 (en) * 2009-12-31 2014-10-28 Formfactor, Inc. Wafer test cassette system
KR101049310B1 (ko) * 2010-02-05 2011-07-13 (주)티에스이 Led 소자 테스트 방법 및 led 소자 테스트 시스템
US8564304B2 (en) * 2010-04-23 2013-10-22 AFA Micro Co. Integrated circuit device test apparatus
KR101136534B1 (ko) * 2010-09-07 2012-04-17 한국기계연구원 프로브 카드 및 이의 제조 방법
US8844398B2 (en) 2010-12-18 2014-09-30 Accel Biotech, Inc. Three-axis robotic system with linear bearing supports
US8459276B2 (en) * 2011-05-24 2013-06-11 Orbotech LT Solar, LLC. Broken wafer recovery system
CN102826364B (zh) * 2011-06-13 2014-12-24 Ykk株式会社 拉头供给装置
CN102360048A (zh) * 2011-09-05 2012-02-22 江苏天鹏电源有限公司 锂离子电池保护板的检测装置
CN102565469A (zh) * 2012-01-09 2012-07-11 昆山弗尔赛能源有限公司 燃料电池电堆用单体电压巡检连接器及其连接方法
JP2013230017A (ja) * 2012-04-26 2013-11-07 Seiko Epson Corp 搬送装置、電子部品搬送装置および電子部品検査装置
TW201408567A (zh) * 2012-08-31 2014-03-01 Mpi Corp 元件分料方法及使用該方法之分料裝置
TWI472465B (zh) * 2013-01-25 2015-02-11 Hon Tech Inc Material handling equipment
CN103823147B (zh) * 2013-11-04 2016-06-01 中国人民解放军国防科学技术大学 基于脉冲捕获的键合丝触碰短路检测方法
JP6562896B2 (ja) * 2016-12-22 2019-08-21 三菱電機株式会社 半導体装置の評価装置およびそれを用いた半導体装置の評価方法
US10429283B2 (en) * 2017-01-20 2019-10-01 Creative Viewpoint Machinery Fruit testing device
CN107757962A (zh) * 2017-11-01 2018-03-06 江苏凯尔生物识别科技有限公司 Smt检测封装机构
CN107758008A (zh) * 2017-11-01 2018-03-06 江苏凯尔生物识别科技有限公司 测试封装一体机
KR102115179B1 (ko) * 2018-11-20 2020-06-08 주식회사 탑 엔지니어링 프로브장치 및 프로브 자세 보정 방법
JP6719784B2 (ja) * 2018-12-21 2020-07-08 株式会社 Synax ハンドラ
CN109741697A (zh) * 2018-12-28 2019-05-10 深圳市华星光电技术有限公司 短路检测装置及短路检测方法
TWI779822B (zh) * 2021-09-10 2022-10-01 鴻勁精密股份有限公司 轉位裝置及作業機
CN114019201A (zh) * 2021-09-29 2022-02-08 杭州长川科技股份有限公司 模组测试装置
CN113671358B (zh) * 2021-10-25 2021-12-21 江苏卓远半导体有限公司 一种半导体测试设备
CN116953487B (zh) * 2023-09-18 2024-01-16 成都汉芯国科集成技术有限公司 一种封装成品缺陷批量测试工装及其测试方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61108983A (ja) * 1984-11-02 1986-05-27 Mitsubishi Electric Corp レ−ダ目標検出装置
DE3777164D1 (de) * 1986-09-26 1992-04-09 Gen Electric Verfahren und anordnung zum pruefen elektronischer schaltungen und integrierter schaltungschips mit einer loesbaren bedeckungsschicht.
JPS63142826A (ja) * 1986-12-05 1988-06-15 Tokyo Electron Ltd プロ−ブカ−ド
JPH0498167A (ja) * 1990-08-16 1992-03-30 Tokyo Electron Ltd Ic検査装置
JP2544015Y2 (ja) * 1990-10-15 1997-08-13 株式会社アドバンテスト Ic試験装置

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