DE19741352C2 - Testsockel zum Testen von Anschlußbeinchen aufweisenden IC-Bauelementen - Google Patents
Testsockel zum Testen von Anschlußbeinchen aufweisenden IC-BauelementenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft einen Testsockel zum Testen von
Anschlußbeinchen aufweisenden IC-Bauelementen nach dem
Oberbegriff des Anspruchs 1. Solche Testsockel werden
im Rahmen der Endmontage von IC-Bauelementen
eingesetzt.
Zur Überprüfung von integrierten Schaltungen auf ihre
Funktion werden die Halbleiter-Chips nach elektrischer
Verbindung mit den Anschlußbeinchen und nach dem Um
spritzen mit Kunststoff in Testsockel eingeführt, die
pro Anschlußbeinchen des IC-Bauelements mit einem Kon
taktstift oder dergleichen Kontaktelement ausgestattet
sind, welche mit einer Testelektronik verbunden sind.
Der Testsockel weist ein Gehäuse mit einer Aufnahmeaus
nehmung für ein zu testendes IC-Bauelement auf. Je nach
der Ausgestaltung der Anschlußbeinchen sind die Kontak
telemente unterschiedlich ausgeführt. Sofern IC-Bauele
mente verwendet werden, bei denen die Anschlußbeinchen
von dem Gehäuse seitlich abstehen, wie dies beispiels
weise bei TSOP-IC-Bauelementen der Fall ist, sind die
Kontaktelemente federnd ausgebildet, wobei sie beim
Andrücken der Anschlußbeinchen gegen ihre Kontaktenden
elastisch nachgeben. Die Federkontaktelemente sind am
Gehäuse des Testsockels gehalten und weisen neben den
Kontaktierungsenden auch Anschlußenden auf, an denen
die zur Testelektronik führenden Zuleitungen ange
schlossen sind. Die Federkontaktelemente weichen beim
Hineinbewegen eines IC-Bauelements in eine Aufnahmever
tiefung in Richtung zu deren Bodenwand zurück.
Ein Testsockel der vorstehend beschriebenen Art ist
ausschnittsweise in Fig. 3 der DE 195 10 276 A1 ge
zeigt. Die Federkontaktelemente dieses bekannten Test
sockels sind mit einem federelastisch ausgebildeten U-
förmigen Mittelabschnitt versehen, der zwei zueinander
parallele Schenkelabschnitte aufweist, von denen die
Kontaktierungs- und Anschlußenden in entgegengesetzten
Richtungen abstehen.
Die bekannten Testsockel der vorstehend beschriebenen
Art haben sich in der Praxis grundsätzlich bewährt. Ein
gewisser Nachteil ist durch die U-Form ihrer Federkon
taktelemente gegeben, da hierdurch eine (parasitäre)
Induktivität entsteht, die sich unter Umständen nach
teilig auf die Testsignale sowie die Geschwindigkeit,
mit der die Testsignale an die Anschlußbeinchen der IC-
Bauelemente angelegt werden können, auswirkt. Ähnliche
Testsockel sind ferner aus DE 196 38 402 A1,
EP 0 616 223 A1, US 5,631,573 und US 5,574,383 bekannt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Test
sockel zum Testen von mit Anschlußbeinchen versehenen
Bauelementen zu schaffen, bei dem das Entstehen parasi
tärer Induktivitäten unterdrückt bzw. zumindest stark
eingeschränkt ist.
Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt bei einem Testsockel
zum Testen von Anschlußbeinchen aufweisenden IC-Bau
elementen, der versehen ist mit
- 1. einem Halteelement und
- 2. mehreren von dem Halteelement gehaltenen gebogenen
Federkontaktelementen, von denen jedes ein Kontak
tierungsende zum Kontaktieren mit einem Anschluß
beinchen des zu testenden IC-Bauelements und ein
Anschlußende zum Anschließen einer Zuleitung und
zum Halten des Federkontaktelements an dem Halte
element aufweist,
- 1. wobei sich an das Kontaktierungsende ein erster Schenkelabschnitt sowie an das Anschlußende jedes Federkontaktelements ein zweiter Schen kelabschnitt anschließt und von diesen beiden Schenkelabschnitten mindestens einer feder elastisch ist, und
- 2. wobei das Kontaktierungsende Andrückkräften, die beim Bewegen des mit seinen Anschlußbein chen an den Kontaktierungsenden anliegenden IC- Bauelement in Richtung auf das Halteelement auftreten, elastisch zurückweicht, dadurch, daß
- 3. sich die beiden Schenkelabschnitte in einem Kreu zungspunkt kreuzen,
- 4. sich der Kreuzungspunkt entlang mindestens eines der beiden Schenkelabschnitte verschiebt, wenn auf das Kontaktierungsende eine Andrückkraft wirkt, und
- 5. die beiden Schenkelabschnitte in jedem ihrer Kreu zungspunkte zur elektrischen Verbindung unterein ander aneinanderliegen.
Der Testsockel weist ein Halteelement auf, an dem eine
Vielzahl von Federkontaktelementen gehalten ist.
Insbesondere kann das Halteelement als Gehäuse mit
einer Aufnahmeausnehmung für ein zu testendes IC-Bau
element ausgebildet sein. An das zum Kontaktieren mit
einem Anschlußbeinchen versehene Kontaktierungsende
eines jeden Federkontaktelements schließt sich ein
erster Schenkelabschnitt an, während sich an das zum
Anschließen einer Zuleitung vorgesehene Anschlußende
eines jeden Federkontaktelements ein zweiter Schenkel
abschnitt anschließt. Zumindest einer dieser beiden
Schenkelabschnitte ist federelastisch ausgebildet, so
daß das Kontaktierungsende in die Aufnahmeausnehmung
hinein zurückweicht, wenn ein IC-Bauelement mit seinen
Anschlußbeinchen an den Kontaktierungsenden der Feder
kontaktelemente anliegend in Richtung auf die Aufnahme
ausnehmung bewegt wird.
Bei dem Testsockel ist vorgesehen, daß sich die beiden
Schenkelabschnitte in einem Kreuzungspunkt kreuzen,
wobei dieser Kreuzungspunkt entlang mindestens eines
der beiden Schenkelabschnitte wandert, wenn auf das
Kontaktierungsende des Federkontaktelements eine
Andrückkraft wirkt. Die beiden Schenkelabschnitte
berühren einander in ihrem jeweiligen Kreuzungspunkt,
wodurch es zwischen beiden Schenkelabschnitten zu einer
elektrischen Verbindung kommt. Durch diese elektrische
Verbindung beider Schenkelabschnitte ist der Strompfad
durch das Federkontaktelement verkürzt, wobei weiterhin
sichergestellt ist, daß das Federkontaktelement in die
Aufnahmeausnehmung des Gehäuses hinein ausweicht, wenn
das IC-Bauelement mit seinen Anschlußbeinchen an den
Kontaktierungsenden der Federkontaktelemente des Test
sockels anliegt und in Richtung auf die Aufnahme
ausnehmung bewegt wird. Der durch die Federkontakt
elemente fließende Strom fließt dabei vom Anschlußende
aus durch den sich an dieses anschließen
den Schenkelabschnitt, und zwar nicht über dessen ge
samte Länge, sondern lediglich bis zu dessen Kreuzungs
punkt mit dem anderen Schenkelabschnitt, durch den der
Strom dann weiter bis zum Kontaktierungsende fließt.
Die effektive "elektrische" Länge des Federkontaktele
ments ist also infolge der beiden sich unter Berührung
kreuzenden Schenkelabschnitte verringert. Insbesondere
durchfließt der Strom keine parasitäre Induktivitäten
erzeugenden Abschnitte des Federkontaktelements.
In vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung ist vor
gesehen, daß sich der erste Schenkelabschnitt ausgehend
vom Kontaktierungsende des Federkontaktelements mit vom
Boden der Aufnahmeausnehmung weg in Richtung auf eine
seitliche Begrenzungswand der Aufnahmeausnehmung hin
krümmt, während der zweite Schenkelabschnitt symme
trisch dazu gebogen ist, wobei die Symmetrieachse durch
den Kreuzungspunkt der beiden Schenkelabschnitte und
parallel zur Bodenfläche der Aufnahmeausnehmung ver
läuft. Vorzugsweise sind die beiden Schenkelabschnitte
parabelförmig gebogen. Durch die Krümmung der beiden
Schenkelabschnitte ausgehend von den Kontaktierungs-
bzw. Anschlußenden aus in Richtung auf eine Seitenwand
der Aufnahmeausnehmung hin ergibt sich der Vorteil, daß
der Kreuzungspunkt beim Andrücken des IC-Bauelements
mit dessen Anschlußbeinchen gegen die Federkontaktele
mente in Richtung auf die Kontaktierungs- und Anschluß
enden der Federkontaktelemente hin sich verschiebt.
Dies wiederum hat den Vorteil, daß sich die effektive
"elektrische" Länge der Federkontaktelemente bei Kon
taktierung mit dem IC-Bauelement verringert.
Um den elektrischen Kontakt der beiden Schenkelab
schnitte sicherzustellen, ist es von Vorteil wenn die
beiden Schenkelabschnitte aufeinanderzu vorgespannt
sind, so daß sie stets aneinander anliegen, und zwar
unabhängig davon, wo sich der Kreuzungspunkt gerade
befindet. Aus montagetechnischen und fertigungstechni
schen Gründen ist es von Vortei, wenn jedes Federkon
taktelement als ein Teil ausgebildet ist. Dies wird bei
einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung dadurch
realisiert, daß die beiden Schenkelabschnitte durch
einen Verbindungsabschnitt einstückig miteinander ver
bunden sind, wobei der Verbindungsabschnitt nach Art
einer Wendel oder Schlaufe mit mindestens einer Windung
ausgebildet ist. Bei dieser Ausgestaltung der Erfindung
gleicht jedes Federkontaktelement einer Schenkelfeder
mit einem wenigstens eine Windung aufweisenden Schrau
benfederabschnitt und mit den beiden von dieser abste
henden Schenkelabschnitten, die einander berühren und
sich kreuzen. Die dem Schraubenfederabschnitt abgewand
ten Enden der Schenkelabschnitte tragen die Kontaktie
rungsenden bzw. die Anschlußenden der Federkontaktele
mente.
Die Federkraft der Federkontaktelemente wird durch die
Wahl des Materials (elektrisch leitendes Material mit
federelastischen Eigenschaften) und durch die Formge
bung der Federkontaktelemente bestimmt. Bei der Ausbil
dung der Federkontaktelemente als Schenkelfedern ist es
zusätzlich möglich, durch die Anzahl der Windungen die
Federkraft vorzugeben. In der Praxis hat sich herausge
stellt, daß ein als Schenkelfeder mit einer Windung
ausgebildetes Metall-Federkontaktelement optimale me
chanische, elastische und elektrische Eigenschaften
aufweist.
Für einen zuverlässigen elektrischen Kontakt der Feder
kontaktelemente mit den Anschlußbeinchen des IC-Bauele
ments ist es von Vorteil, wenn sich die Federkontakt
elemente beim Ausweichen infolge einer wirkenden An
drückkraft nicht relativ zu den Anschlußbeinchen und
insbesondere nicht entlang der Anschlußbeinchen bewe
gen. Mit anderen Worten sollte die Ausrichtung der Kon
taktierungsenden in jeder Stellung der Federkontaktele
mente, die diese beim Bewegen der IC-Bauelemente in
Richtung auf die Aufnahmeausnehmung einnehmen, unver
ändert bleiben. Dies wird insbesondere bei Ausbildung
der Federkontaktelemente als Schenkelfeder der oben
beschriebenen Art erreicht. Hierbei kann zusätzlich
vorgesehen sein, daß das Kontaktierungsende geradlinig
und insbesondere mit dem ebenfalls geradlinig ausgebil
deten Anschlußende bzw. einem an diesem ausgebildeten
geradlinigen Abschnitt fluchtend, d. h. auf einer ge
meinsamen Geraden liegend angeordnet ist.
Sofern mehrteilige Federkontaktelemente eingesetzt wer
den, ist es zweckmäßig, das dem Kontaktierungsende ab
gewandte Ende des ersten Schenkelabschnitts fest einge
spannt am Gehäuse des Testsockels zu halten. Der zweite
Schenkelabschnitt kann an seinem dem Anschlußende abge
wandten Ende frei beweglich oder fest angeordnet sein,
während das Anschlußende selbst am Gehäuse festgelegt
ist. Bei Wahl der oben angegebenen, im wesentlichen
zueinander symmetrischen Krümmungen der beiden Schen
kelabschnitte ergibt sich auch bei dieser Ausgestaltung
der Erfindung der Vorteil, daß der Kreuzungspunkt in
Richtung auf die Kontaktierungs- und Anschlußenden der
Federkontaktelemente wandert, wenn das IC-Bauelement in
Richtung auf die Aufnahmeausnehmung bewegt wird, wenn
die Anschlußbeinchen mit den Kontaktierungsenden in
Verbindung stehen.
Nachfolgend werden anhand der Figuren Ausführungsbei
spiele der Erfindung näher erläutert. Im einzelnen zei
gen:
Fig. 1 eine Schnittansicht eines Testsockels gemäß
einem ersten Ausführungsbeispiel mit einem
oberhalb der Federkontaktelemente angeordneten
IC-Bauelement,
Fig. 2 die Darstellung gemäß Fig. 1 in dem Zustand, in
dem das IC-Bauelement unter federelastischer
Verformung der Federkontaktelemente zur elek
trischen Kontaktierung in Richtung auf den
Testsockel bewegt ist,
Fig. 3 einen Längsschnitt durch ein zweites Ausfüh
rungsbeispiel eines Testsockels mit einer al
ternativen Anordnung der Federkontaktelemente,
Fig. 4 einen Längsschnitt durch ein weiteres Ausfüh
rungsbeispiel eines Testsockels mit alternativ
ausgestalteten Federkontaktelementen und einem
IC-Bauelement, dessen Anschlußbeinchen noch
nicht in Kontakt mit den Federkontaktelementen
ist.
Fig. 1 zeigt eine Schnittansicht durch einen Testsockel
10, der auf einer Platine 12 angeordnet ist. Auf dieser
Platine 12 können mehrere Testsockel zum gleichzeitigen
Testen mehrere IC-Bauelemente angeordnet sein. Der
Testsockel 10 ist mit einem Gehäuse 14 versehen, das
auf seiner der Platine 12 abgewandten Seite offen ist
und Seitenwände 16 sowie eine Bodenwand 18 aufweist,
von der die Seitenwände 16 aufragen. Die Seitenwände 16
und die Bodenwand 18 des Gehäuses 14 definieren eine
Aufnahmeausnehmung 20, in der eine Vielzahl von Feder
kontaktelementen 22 angeordnet sind. Die Federkontakt
elemente 22 sind entsprechend den aus einem Gehäuse 24
eines IC-Bauelements 26 herausragenden Anschlußbeinchen
28 angeordnet. Die Anschlußbeinchen 28 ragen seitlich
aus dem Gehäuse 24 heraus und stehen von diesem insbe
sondere geradlinig ab.
Die Federkontaktelemente 22 ragen aus der Bodenwand 18
des Gehäuses 14 des Testsockels 10 in die Aufnahmeaus
nehmung 20 hinein. Jedes Federkontaktelement 22 ist mit
einem Kontaktierungsende 30 und einem diesem gegenüber
liegenden Anschlußende 32 versehen. Während die Kontak
tierungsenden 30 der Federkontaktelemente 22 zur Kon
taktierung mit den Anschlußbeinchen 28 des zu testenden
IC-Bauelements 26 dienen, sind an den Anschlußenden 32
der Federkontaktelemente 22 (nicht dargestellte) Zulei
tungen angeschlossen, die zur Verbindung der Federkon
taktelemente 22 mit einer Testelektronik dienen, welche
ebenfalls aus Vereinfachungsgründen nicht dargestellt
ist.
Im Bereich der Kontaktierungsenden 30 und der Anschluß
enden 32 verlaufen die Federkontaktelemente 22, die aus
Metall bestehen, geradlinig, wobei die Enden 30 und 32
eines jeden Federkontaktelements 22 jeweils entlang
einer gemeinsamen gedachten Geraden verlaufen. Zwischen
ihren Enden 30, 32 ist jedes Federkontaktelement 22 nach
Art einer Schenkelfeder 34 ausgebildet mit einem sich
an das Kontaktierungsende 30 anschließenden ersten
Schenkel 36 und einen sich an das Anschlußende 32 an
schließenden zweiten Schenkelabschnitt 38. Beide Schen
kelabschnitte 36, 38 sind zueinander gegensinnig ge
krümmt und kreuzen sich im Kreuzungspunkt 40. In diesem
Kreuzungspunkt 40 berühren sich die beiden Schenkelab
schnitte 36, 38. Im übrigen sind die beiden Schenkelab
schnitte 36, 38 über einen ebenfalls gebogenen Mittel
abschnitt 42 miteinander verbunden. Ausgehend vom Kreu
zungspunkt 40 verläuft also das Federkontaktelement 22
nach Art einer Wendel mit einer einzigen Windung, wobei
die beiden Schenkelabschnitte 36, 38 in einander entge
gengesetzte Richtungen weisend von der Wendel abstehen.
Auf diese Weise ergibt sich die Form der Schenkelfeder
34.
Beim Bewegen des zu testenden IC-Bauelementes 26 in
Richtung auf die offene Seite des Gehäuses 14 gelangen
seine Anschlußbeinchen 28 in Berührungskontakt mit den
Kontaktierungsenden 30 der Federkontaktelemente 22. Bei
der weiteren Bewegung des IC-Bauelements weichen die
Federkontaktelemente 22 in die Aufnahmeausnehmung 20
zurück, wobei sich die beiden Schenkelabschnitte 36, 38
gegeneinander bewegen. Während dieser Bewegung der bei
den Schenkelabschnitte 36, 38 berühren diese sich in
ihrem jeweiligen Kreuzungspunkt 40, der entlang der
Schenkelabschnitte 36, 38 wandert. Dies ist anhand eines
Vergleichs der Fig. 1 und 2 zu erkennen. Letztere
zeigt die Situation, in der das IC-Bauelement 26 soweit
in Richtung auf den Testsockel 10 bewegt ist, daß sein
Gehäuse 24 an einem als Anschlag dienenden Vorsprung 44
anliegt. Der Kreuzungspunkt 40 der beiden Schenkelab
schnitte 36, 38 hat sich im Vergleich zur Fig. 1 in
Richtung auf die Enden 30, 32 bewegt. Dadurch wird die
effektive Länge eines jeden Federkontaktelements 22
verringert, so daß sich der Strompfad durch die Feder
kontaktelemente 22 verkürzt hat. Insbesondere gelangt
der elektrische Strom nicht in den Wendelabschnitt der
Federkontaktelemente 22, da er von dem einen Schenkel
abschnitt 36 über den Kreuzungspunkt 40 in den anderen
Schenkelabschnitt 38 und umgekehrt fließen kann. Hier
für sorgt die Tatsache, daß sich die Schenkelabschnitte
36,38 in ihren Kreuzungspunkten 40 berühren und damit
einen elektrischen Kontakt bilden. Auf diese Weise ist
ein Federkontaktelement 22 geschaffen, das aus einem
einzigen speziell gebogenen Metalldraht oder derglei
chen besteht und in den Testsockel 10 hinein zurück
weicht, wenn auf sein Kontaktierungsende 30 eine in
Richtung auf die Platine 12 gerichtete Andrückkraft
einwirkt, wobei das Federkontaktelement 22 einen denk
bar kurzen Leitungspfad für die Testsignale darstellt
und insbesondere keine parasitären Induktivitäten bil
det.
In Fig. 3 ist ein alternativer Testsockel 10' darge
stellt, der dem Testsockel 10 der Fig. 1 und 2 wei
testgehend ähnelt. Von daher sind in Fig. 3 diejenigen
Bestandteile des Testsockels 10', die denen des Test
sockels 10 der Fig. 1 und 2 entsprechen, mit den glei
chen Bezugszeichen versehen.
Der Unterschied der beiden Testsockel 10 und 10' be
steht darin, daß die schlaufenförmigen Mittelabschnitte
42 der Federkontaktelemente 22 in unterschiedliche
Richtungen weisen. Während bei dem Testsockel 10 die
wendelförmigen Abschnitte der Federkontaktelemente 22
in Richtung zu den Seitenwänden 16 weisen, erstrecken
sich beim Testsockel 10' diese Teile der Federkontakt
elemente 22 zur Mitte der Aufnahmeausnehmung 20, also
unterhalb des Gehäuses 24 des zu testenden IC-Bauele
ments 26. Auf diese Weise ergibt sich eine platzsparen
dere Anordnung des Testsockels 10', da dessen Breiten
erstreckung geringer ist, wie sich aus einem Vergleich
der Fig. 1 und 3 ergibt.
In der Fig. 4 ist ein letztes Ausführungsbeispiel eines
Testsockels 10" gezeigt. Soweit die Teile des Testsoc
kels 10" denjenigen des Testsockels 10 bzw. 10'
entsprechen, sind sie mit den gleichen Bezugszeichen
versehen.
Der Unterschied des Testsockels 10" im Vergleich zu den
Testsockeln 10 und 10' besteht in der Ausbildung seiner
Federkontaktelemente 22, die jeweils lediglich aus den
beiden sich kreuzenden Schenkelabschnitten 36,28 be
stehen, von denen der erste Schenkelabschnitt 36 das
Kontaktierungsende 30 trägt und der zweite Schenkelab
schnitt 38 das Anschlußende 32 der Federkontaktelemente
22 trägt. Im Kreuzungspunkt 40 berühren sich die beiden
Schenkelabschnitte 36, 38, die wie bei den Federkontakt
elementen 22 der Testsockel 10, 10' in einander entge
gengesetzten Richtungen gekrümmt sind. Der erste Schen
kelabschnitt 36 ist an seinem dem Kontaktierungsende 30
abgewandten Ende 46 in der Seitenwand 16 des Gehäuses
14 eingespannt gehalten und ragt ausgehend von dieser
Seitenwand 16 nach oben aus der Aufnahmeausnehmung 20
heraus. Der zweite Schenkelabschnitt 38 weist ein nahe
dieser bzw. in dieser Seitenwand 16 angeordnetes, dem
Anschlußende 32 abgewandtes Ende 48 auf. Beim Andrücken
des zu testenden IC-Bauelements 26 bei Kontaktierung
von dessen Anschlußbeinchen 28 mit den Kontaktierungs
enden 30 der Federkontaktelemente 22 verbiegen sich die
ersten Schenkelabschnitte 36 elastisch, wobei die Kreu
zungspunkte 40 in Richtung auf die jeweiligen Enden
30, 32 der Federkontaktelemente 22 wandern. So ist auch
bei diesem Testsockel 10" gewährleistet, daß der Lei
tungspfad innerhalb der Federkontaktelemente 22 für die
Testsignale beim Testen des IC-Bauelements 26 verkürzt
sind.
Claims (6)
1. Testsockel zum Testen von Anschlußbeinchen auf
weisenden IC-Bauelementen, mit
- 1. einem Halteelement (12) und
- 2. mehreren von dem Halteelement (12) gehaltenen
gebogenen Federkontaktelementen (22), von denen
jedes ein Kontaktierungsende (30) zum Kontak
tieren mit einem Anschlußbeinchen (28) des zu
testenden IC-Bauelements (26) und ein Anschluß
ende (32) zum Anschließen einer Zuleitung und
zum Halten des Federkontaktelements (22) an dem
Halteelement (12) aufweist,
- 1. wobei sich an das Kontaktierungsende (30) ein erster Schenkelabschnitt (36) sowie an das Anschlußende (32) jedes Federkontakt elements (22) ein zweiter Schenkelabschnitt (38) anschließt und von diesen beiden Schen kelabschnitten (36, 38) mindestens einer federelastisch ist, und
- 2. wobei das Kontaktierungsende Andrückkräften, die beim Bewegen des mit bei seinen An schlußbeinchen (28) an den Kontaktierungs enden (30) anliegenden IC-Bauelement (26) in Richtung auf das Halteelement (12) auftre ten, elastisch zurückweicht,
- 1. sich die beiden Schenkelabschnitte (36, 38) in einem Kreuzungspunkt (40) kreuzen,
- 2. sich der Kreuzungspunkt (40) entlang mindestens eines der beiden Schenkelabschnitte (36, 38) verschiebt, wenn auf das Kontaktierungsende (30) eine Andrückkraft wirkt, und
- 3. die beiden Schenkelabschnitte (36, 38) in jedem ihrer Kreuzungspunkte (40) zur elektrischen Verbindung untereinander aneinanderliegen.
2. Testsockel nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die beiden Schenkelabschnitte (36, 38) in
entgegengesetzten, jeweils quer zu ihren Erstrec
kungen verlaufenden Richtungen aufeinander zu vor
gespannt sind.
3. Testsockel nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß die beiden Schenkelabschnitte (36,
38) durch einen Verbindungsabschnitt (42) einstüc
kig miteinander verbunden sind und daß der Verbin
dungsabschnitt (42) nach Art einer Wendel oder
Schlaufe mit mindestens einer Windung ausgebildet
ist.
4. Testsockel nach einem der Ansprüche 1 bis 3, da
durch gekennzeichnet, daß das Kontaktierungsende
(30) geradlinig ausgebildet ist und daß das An
schlußende (32) zumindest in seinem sich an den
zweiten Schenkelabschnitt (38) anschließenden
Übergangsbereich geradlinig und parallel zum Kon
taktierungsende (30) verläuft.
5. Testsockel nach Anspruch 4, dadurch gekennzeich
net, daß das Kontaktierungsende (30) und der Über
gangsbereich bzw. das Anschlußende (32) in linea
rer Verlängerung zueinander angeordnet sind.
6. Testsockel nach einem der Ansprüche 1, 2, 4 oder
5, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Schenkel
abschnitt (36) an seinem dem Kontaktierungsende
(30) abgewandten Ende (46) fest eingespannt am
Halteelement (12) gehalten ist.
Priority Applications (1)
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DE1997141352 DE19741352C2 (de) | 1997-09-19 | 1997-09-19 | Testsockel zum Testen von Anschlußbeinchen aufweisenden IC-Bauelementen |
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ID=7842930
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DE1997141352 Expired - Fee Related DE19741352C2 (de) | 1997-09-19 | 1997-09-19 | Testsockel zum Testen von Anschlußbeinchen aufweisenden IC-Bauelementen |
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