NL1019775C2 - Inrichting voor het testen van elektronische schakelingen, alsmede een naaldenbed voor toepassing in een dergelijke inrichting. - Google Patents

Inrichting voor het testen van elektronische schakelingen, alsmede een naaldenbed voor toepassing in een dergelijke inrichting. Download PDF

Info

Publication number
NL1019775C2
NL1019775C2 NL1019775A NL1019775A NL1019775C2 NL 1019775 C2 NL1019775 C2 NL 1019775C2 NL 1019775 A NL1019775 A NL 1019775A NL 1019775 A NL1019775 A NL 1019775A NL 1019775 C2 NL1019775 C2 NL 1019775C2
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
needle bed
test
circuit
control module
testing
Prior art date
Application number
NL1019775A
Other languages
English (en)
Inventor
Patrick Geybels
Original Assignee
Integrated Production And Test
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Integrated Production And Test filed Critical Integrated Production And Test
Priority to NL1019775A priority Critical patent/NL1019775C2/nl
Application granted granted Critical
Publication of NL1019775C2 publication Critical patent/NL1019775C2/nl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

Korte aanduiding: Inrichting voor het testen van elektronische schakelingen, alsmede een naaldenbed voor toepassing in een dergelijke inrichting.
5 BESCHRIJVING
De uitvinding heeft betrekking op een inrichting voor het testen van elektronische schakelingen, tenminste omvattende transportmiddelen voor het in bedrijf naar en van een testpositie transporteren van een te testen schakeling, positioneringsmiddelen voor het in de test-10 positie positioneren en centreren van de schakeling ten opzichte van een, uit centreer- en/of steunstiften en testnaalden opgebouwd, naaldenbed, alsmede verplaatsingsmiddelen, welke in bedrijf de schakeling en/of het naaldenbed een naar elkaar toe gerichte verplaatsing opdringen, teneinde de schakeling in contact te brengen met de stiften en de testnaalden van 15 het naaldenbed, waarbij het naaldenbed via een in de inrichting opneembare aanstuurmodule elektrisch aanstuurbaar is.
De uitvinding heeft tevens betrekking op een naaldenbed voor toepassing in een dergelijke inrichting.
Een dergelijke inrichting is bijvoorbeeld bekend uit het 20 Europese octrooi schrift nr. EP-A2-0 477 821 en is veelal opgenomen in een produktielijn voor het fabriceren van elektronische schakelingen. Deze gefabriceerde schakelingen, welke zijn opgebouwd uit elektronische componenten, aangebracht op een van geleidende sporen voorziene drager, dienen op een juiste werking te worden getest alvorens zij uitgeleverd 25 kunnen worden. Daartoe wordt elke schakeling met behulp van de transporten positioneringsmiddelen in een testpositie in de inrichting geplaatst. Vervolgens worden met behulp van de verplaatsingsmiddelen de schakeling en het naaldenbed met elkaar in contact gebracht. Doordat de testnaalden van het naaldenbed in elektrisch contact met de elektronische componenten 30 en/of de geleidende sporen van de drager van de schakeling komen te staan, is het mogelijk om met behulp van elektrische stuursignalen via ^ n i p '·.
f 2 deze testnaalden de werking van de schakeling te testen. Zodoende is het mogelijk om met behulp van een dergelijke inrichting snel grote aantallen schakelingen te testen en defecte schakelingen te traceren.
Hiertoe is het naaldenbed mechanisch geplaatst op een 5 aanstuurmodule, welke module via elektrische verbindingen het naaldenbed (en de met het naaldenbed in contact gebrachte te testen schakeling) aanstuurt met de verschillende stuursignalen, waarmee de werking van de schakeling wordt getest. De aanstuurmodule en het bijbehorende naaldenbed zijn bij de huidige toepassingen specifiek ("dedicated") ontworpen voor 10 de in de inrichting te testen schakeling, zodat bij omschakeling van de inrichting naar een ander type te testen schakeling het samenstel aanstuurmodule/naaldenbed uit de inrichting wordt genomen en vervangen wordt door een ander, specifiek op het andere type schakeling toegerust samenstel aanstuurmodule/naaldenbed.
15 Een specifiek op een bepaalde elektronische schakeling ontworpen aanstuurmodule/naaldenbed-samenstel wordt geopenbaard in het Amerikaanse octrooi schrift nr. 6,265,887, welke samenstel plaatsbaar is een inrichting voor het testen van elektronische schakelingen volgens bijvoorbeeld EP-A2-0 477 821. Hierbij is het naaldenbed plaatsbaar op de 20 aanstuurmodule, teneinde het naaldenbed niet alleen in elektrisch contact te brengen met de module (ten behoeve van de testprocedure), als ook om het naaldenbed tegen verschuiving te fixeren, daar met het in contact brengen van het naaldenbed met de testen schakeling krachten op kunnen treden, welke kunnen leiden door beschadiging.
25 Voorts bezit in US-6,265,887 het naaldenbed relatief geringe afmetingen, waardoor niet alleen compact geconstrueerd dient te worden, doch ook enkel schakelingen van soortgelijke, geringe afmetingen getest kunnen worden.
Bovengenoemde bezwaren maken de inrichting voor het testen 30 van verschillende elektronische schakelingen duur, daar de gebruiker voor elk type schakeling over een specifiek aanstuurmodule/naaldenbed- 3 samenstel dient te beschikken.
De onderhavige uitvinding beoogt bovengenoemde bezwaren te ondervangen en een goedkopere en breder inzetbare inrichting voor het testen van schakelingen te verschaffen, welke voor meerdere verschillende 5 schakelingen kan worden benut.
De inrichting wordt overeenkomstig de uitvinding daartoe gekenmerkt, doordat het naaldenbed in en uit de inrichting neembaar is. Door deze mechanische ontkoppeling van de aanstuurmodule en het naaldenbed wordt niet alleen een sterkere vereenvoudiging qua constructie als 10 ook een verdere kostenreductie verkregen, daar nu enkel het naaldenbed in en uit de inrichting neembaar te maken en te vervangen door een ander, specifiek voor een bepaalde te testen schakeling ontworpen naaldenbed.
Meer in het bijzonder is het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding in een richting dwars op de transportrichting van de te testen 15 schakelingen in en uit de inrichting neembaar, waardoor een eenvoudig en snel omstellen van de inrichting door het bedienend personeel mogelijk wordt.
Een verdergaande vereenvoudiging van de inrichting en meer in het bijzonder van het bekende aanstuurmodule/naaldenbed-samenstel 20 wordt bereikt, doordat naast een mechanische ontkoppeling van de aanstuurmodule en het naaldenbed, het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding ook elektrisch losneembaar is van de aanstuurmodule.
Bij een specifieke uitvoeringsvorm bezit het naaldenbed dezelfde dimensionele afmetingen bezit als de aanstuurmodule en meer in 25 het bijzonder bezit het naaldenbed dezelfde dimensionele afmetingen als de testpositie. Door deze ïnbouwruimte-winst zijn de afmetingen van het naaldenbed niet langer beperkend voor de afmetingen (oppervlak) van de te testen schakelingen, maar wordt de beperking nu bepaald door de oppervlakte-afmetingen van de testpositie van de inrichting zelf.
30 Een ander voordeel van een naaldenbed met een oppervlak nagenoeg gelijk de afmetingen van de testpositie is het feit, dat een te 4 testen schakeling niet langer enkel aan de onderzijde en/of de bovenzijde benaderbaar is door de testnaalden, maar dat de te testen schakeling eveneens via het naaldenbed aan de zijkanten voor testdoeleinden benaderbaar is. Dit maakt het naaldenbed veelzijdiger en breder inzetbaar.
5 Bij een specifieke voorkeursuitvoeringsvorm is het naalden bed overeenkomstig de uitvinding gevormd als een vlakke plaat, welke verschuifbaar en borgbaar opneembaar is in aan weerszijden van de test-positie aangebrachte sleuven. Naast een significante winst in de inbouw-ruimte en de bredere testmogelijkheiden van een dergelijk naaldenbed, 10 wordt bovendien een voor het bedienend personeel gemakkelijk bereikbaar en verwisselbaar naaldenbed gerealiseerd.
Het verwisselen van het naaldenbed wordt nog eens vereenvoudigd, doordat volgens de uitvinding de in de sleuven reikende zijden van het naaldenbed elk zijn voorzien van tenminste één uitsparing, 15 welke uitsparingen samen kunnen vallen met op de sleuven aangebrachte nokken. Dit maakt bijvoorbeeld het halverwege in de testpositie plaatsen en vervolgens inschuiven van het naaldenbed mogelijk, bijvoorbeeld indien op het naaldenbed aangebrachte uitstekende onderdelen een direct inschuiven van het naaldenbed niet mogelijk maken.
20 Naast de mechanische ontkoppeling wordt de elektrische ontkoppeling met de aanstuurmodule bereikt, doordat het naaldenbed is voorzien van tenminste één connector, welke connector bij het in de inrichting plaatsen van het naaldenbed in elektrisch contact brengbaar is met een in de inrichting geplaatste contraconnector.
25 Ten behoeve van een juiste, correcte oriëntering van het naaldenbed in de inrichting zijn het uitneembare naaldenbed en de inrichting voorzien van richtmiddelen, welke richtmiddelen in bijzonder kunnen bestaan uit tenminste één borgpin, welke in een overeenkomstige centreeropening opneembaar is.
30 De uitvinding zal nu aan de hand van een tekening nader worden toegelicht, welke tekening achtereenvolgens toont in: 1 Ü 1 'li i i 3 5
Figuren la en lb aanzichten in perspectief van een uitvoeringsvorm van een inrichting voor het testen van elektronische schakelingen;
Figuren 2a en 2b tonen opengewerkte aanzichten van de 5 inrichting uit de figuren la en lb;
Figuren 3a en 3b tonen een uitvoeringsvorm van een naaldenbed overeenkomstig de uitvinding;
Figuren 4a en 4b tonen het naaldenbed uit de figuren 3a en 3b voor plaatsing in de inrichting volgens de figuren la-lb, 2a-2b.
10 De figuren la en lb tonen opengewerkte aanzichten van een inrichting voor het testen van elektronische schakelingen, welke inrichting 1 gevormd wordt door een onderstel la met een daarop geplaatste testmodule lb, bestaande uit een afscherming geplaatst rond een testpositie 4 voor de te testen elektronische schakelingen. De door 15 de testmodule lb afgeschermde testpositie 4 is via een deur 3 aan de voorzijde van de testinrichting toegankelijk voor het bedienend personeel.
De hierin beschreven testinrichting is algemeen bekend en bijvoorbeeld beschreven in de opname van de aanvraagster inmiddels 20 verleend Nederlands octrooi nr. 1007474.
De testinrichting zoals getoond in de figuren la en lb is bij voorkeur in een niet getoonde productie- of testlijn van elektronische schakeling opgesteld, waarbij de testinrichting 1 in de transportstroom van de te testen elektronische schakelingen is opgesteld. 25 Een voorbeeld van een dergelijk transportsysteem is bijvoorbeeld beschreven in de eveneens op naam van aanvraagster ingediende Europese octrooiaanvrage nr. 1 157780. Hiertoe sluit de testinrichting veelal aan op een transportband (niet getoond) waarop via de invoerzijde 2a een te testen elektronische schakeling de testinrichting wordt ingevoerd naar de 30 testpositie 4. Evenzo wordt via de uitvoerzijde 2b de geteste elektronische schakeling de testinrichting uitgevoerd over een daarop 6 aansluitende transportmodule, welke deel uitmaakt van de productie- of testlijn.
De in de testmodule lb opgestelde transportmiddelen 5 omvatten twee evenwijdig aan elkaar en op enige afstand van elkaar 5 gelegen samenstellen 5A en 5B. Elk samenstel 5A (5B) is mede opgebouwd uit, op enige afstand van elkaar gelegen assen 52, 53 (zie figuur lb), waarover een eindloze transportdrager 51 is aangebracht. Voor het aandrijven van de eindloze drager 51 is de as 53 verbonden met een aandrijfmotor 54. De eindloze dragers 51 van beide transportmiddelen 5A 10 en 5B worden door de overeenkomstige aandrijfmotoren 54, bijvoorbeeld elektromotoren, aangedreven.
Veelal is één van de transportsamenstellen 5A of 5B, veelal 5A, verschuifbaar opgenomen in de testmodule lb, zulks om de afstand tussen de beide transportsamenstel!en 5A en 5B aan te passen aan de 15 afmetingen van de printplaat van de te testen elektronische schakeling.
Op de beide eindloze dragers 51 van de beide transportsamenstellen 5A en 5B rusten de eindranden van een te testen elektronische schakeling, welke via de invoerzijde 2a de testinrichting lb wordt ingevoerd in de richting van de testpositie 4. De te testen op 20 de eindloze dragers 51 rustende elektronische schakeling wordt met behulp van geschikte middelen, bijvoorbeeld een stopper, of door het uitschakelen van de aandrijving 54 van de eindloze dragers 51 in de testpositie tot stilstand gebracht. Om nu de betreffende schakeling te onderwerpen aan een testprocedure is onder de beide transportsamenstellen 25 5A, 5B een op zich bekend naaldenbed 6 geplaatst, welke voorzien is van een groot aantal, uit het vlak van het naaldenbed uitstekende testnaalden, alsmede een aantal centreer- en/of steunstiften. Daar de testnaalden, centreer- en/of steunstiften van het naaldenbed niet bijdragen aan het begrip van de uitvinding, zijn zij voor alle 30 duidelijkheid niet in de tekening weergegeven.
De testinrichting 1 omvat mede boven de testpositie 4 101777 o 7 geplaatste (niet weergegeven) verplaatsingsmiddelen, welke verplaatsingsmiddelen met name een viertal naar de testpositie 4 gerichte contactelementen omvat, welke contactelementen door middel van geschikte, eveneens niet weergegeven, aandrijfmiddelen van en naar de 5 transportsamenstellen 5A, 5B worden verplaatst. In het geval van de neergaande verplaatsing van de contactelementen in de richting van de testpositie 4 zullen de contactelementen in contact komen met contactvlakken 55A-55D van de beide transportsamenstellen 5A en 5B, waardoor de beide samenstellen 5A en 5B tegen de veerkracht van veren 56 10 in in de richting van het naaldenbed 6 worden verplaatst.
De in de testpositie 4 op de eindloze dragers 51 rustende schakeling wordt, al dan niet met behulp van eveneens van de verplaatsingsmiddelen deel uitmakende drukstiften, met de testnaalden en de centreer- en/of steunstiften van het naaldenbed 6 in contact gebracht. 15 De centreerstiften dienen daarbij voor de juiste oriëntatie en fixering van de schakeling ten opzichte van het naaldenbed, terwijl de steunstiften een doordrukken van de schakeling door de verplaatsingsmiddelen voorkomen, waardoor een beschadiging aan de elektronische schakeling en/of de veelal dunne testnaalden wordt voorkomen. De veelal 20 in een matrix gerangschikte testnaalden zijn veelal verend uitgevoerd en vervaardigd van een elektrisch zeer goed geleidend materiaal, veelal goud dan wel voorzien van bladgoud. De verschillende testnaalden worden in contact gebracht met de geleidende sporen van de schakeling, zodat de schakeling onderworpen kan worden aan een testprocedure voor het 25 controleren van een juist functioneren van de schakeling dan wel voor het detecteren van defecten.
Na de testprocedure zullen de verplaatsingsmiddelen weer teruggaan naar hun uitgangspositie in de testmodule lb, waarbij de transportsamenstellen 5A en 5B onder invloed van de veerkracht van de 30 ingedrukte veren 56 terug verplaatsen omhoog en daarbij de geteste schakeling meenemen zodat deze vrij komt te liggen van de testnaalden en -t.
i.' ' 8 centreer- en/of steunstiften van het naaldenbed 6. In de uitgangspositie worden de eindloze dragers 51 wederom bekrachtigd door de aandrijfmotoren 54 en de geteste schakeling via de zijde 2b uit de testinrichting gevoerd voor verdere bewerking c.q. behandeling.
5 Bij de huidige toepassingen wordt elk naaldenbed 6 specifiek ontworpen voor de te testen elektronische schakeling, waarbij het specifieke naaldenbed 6 door een daarbij behorende aandrijfmodule 10 wordt aangestuurd. De aanstuurmodule 10 is daarbij onder het naaldenbed 6 in de inrichting opgenomen, waarbij de verschillende testnaalden 5 aan de 10 onderzijde, dat wil zeggen aan de van de testpositie 4 afgekeerde zijde van het naaldenbed 6, elektrisch verbonden zijn met de aanstuur-elektronica welke opgenomen is in de aanstuurmodule 10. Deze directe elektrische en mechanische koppeling tussen het naaldenbed 6 en de bijbehorende aanstuurmodule 10 impliceert, dat voor het omstellen van de 15 testinrichting 1 naar een andere te testen elektronische schakeling het naaldenbed 6 en de bijbehorende aanstuurmodule 10 omgewisseld dienen te worden voor een ander, specifiek op de andere schakeling ontworpen naaldenbed/aanstuurmodulesamenstel 6, 10. Voor een eenvoudige uitwisseling van het naaldenbed en de aanstuurmodule 10 is de inrichting 20 aan de voorzijde voorzien van een tweetal handgrepen 10A en 10B waarmee het naaldenbed/aanstuurmodule 6, 10 in één keer ontgrendeld kan worden en uit de inrichting worden genomen.
Deze voorziening wordt getoond in de figuren 2a en 2b, waarbij overeenkomende onderdelen met dezelfde referentiecijfers zijn 25 aangeduid.
Daar het volledig schakelingspecifiek maken van een naaldenbed 6 en de bijbehorende aanstuurmodule 10 in veel gevallen de inrichting gecompliceerd en onnodig duur maakt, zijn overeenkomstig de uitvinding het naaldenbed 6 en de aanstuurmodule 10 zowel mechanisch als 30 elektrisch van elkaar ontkoppeld c.q. gescheiden. De hierdoor eenvoudigere en minder dure testinrichting bezit overeenkomstig de
10 1 -if i ( O
» I
9 uitvinding over een naaldenbed 6, welke separaat van de aanstuurmodule 10 in en uit de testinrichting neembaar is. Een en ander wordt verduidelijkt aan de hand van de figuren 2a en 2b welke de voorzijde van de testinrichting lb tonen met de klep 7 in open stand, zodat de 5 invoermodule 8 getoond wordt. De invoermodule 8 bezit een compartiment 11 waarin een standaard aanstuurmodule 10 voor meerdere naaldenbedden 6 (nu niet weergegeven) is opgenomen alsmede een compartiment 4, zijnde de testpositie waarin het specifieke naaldenbed plaatsbaar is. De invoermodule 8 is overeenkomstig de uitvinding in en uit de testmodule lb 10 brengbaar, zoals getoond in de figuur 2b. Hiertoe kan de invoermodule 8 door middel van klemmiddelen 10A en 10B ontgrendeld worden en met behulp van geleidingen 12a en 12b welke samenwerken met in de testmodule lb aangebrachte overeenkomende sleuven 12C resp. 12D over een zekere afstand uit de testmodule lb geschoven kan worden.
15 De invoermodule 8 beschikt over geleidingsmiddelen 13a en 13b, welke hier zijn uitgevoerd als geleidingssleuven waarin het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding geschoven kan worden. Als ondersteuning van de geleiding van het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding in de invoermodule overeenkomstig de uitvinding zijn 20 additionele geleidingsmiddelen in de vorm van steunwielen 14 aanwezig.
Zoals verderop met behulp van de figuren 3a-3b en 4a-4b zal worden beschreven, is de invoermodule 8 voorzien van een tweetal connectorwanden 15 resp. 17, welke connectorwanden bij het in de inrichting lb schuiven van de invoermodule 8 tot helemaal achterin de 25 inrichting bevinden. De beide connectorwanden 15 en 17 zijn voorzien van één of meerdere connectoren 16 resp. 18. De connectoren kunnen een willekeurige configuratie bezitten, voor zover deze noodzakelijk en geschikt zijn voor het uitvoeren van de noodzakelijke testprocedures op elke op het naaldenbed geplaatste elektronische schakeling.
30 Het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding is eveneens voorzien van een connectorwand, dat besproken en toegelicht zal worden j 10 aan de hand van de figuren 3a-3b en 4a-4b. De connectorwand 24 voorzien is van een aantal contra-connectoren 25, welke bij het in de invoermodule 8 schuiven van het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding in elektrisch contact worden gebracht met de connectoren 16 van de connectorwand 15 van 5 de invoermodule 8. De connectoren 16 van de invoermodule 8 zijn voorts elektrisch verbonden met de noodzakelijke aanstuurelektronica van de aanstuurmodule 10 alsook met de meet- en regel elektronica van de testinrichting 1.
Een en ander zal nog worden verduidelijkt aan de hand van 10 de figuren 3a-3b alsmede figuren 4a-4b welke een uitvoeringsvorm van een naaldenbed 6 overeenkomstig de uitvinding tonen. Het in de figuur 3b getoonde onderaanzicht in perspectief van een uitvoeringsvorm van een naaldenbed 6 overeenkomstig de uitvinding toont een plaat 21, welke aan zijn oppervlak 21a voorzien is van niet weergegeven testnaalden, 15 centreer- en/of steunstiften. Voorts is de plaat 21 voorzien van zijranden 22a en 22b, welke in de sleuven 13a en 13b van de invoermodule 8 reiken. De van de testpositie 4 afgekeerde zijde van de plaat 21 toont een onderbouw 23, waarin de bedrading bevat, welke de onderzijde van de testnaalden elektrisch verbinden met een rij van connectoren 25, welke 20 aan de achterzijde van het naaldenbed 6 zijn opgenomen in een van de onderbouw 23 deel uitmakende connectorwand 24. Bij het inschuiven van het naaldenbed 6 overeenkomstig de uitvinding in de sleuven 13a en 13b van de invoermodule 8 worden de connectoren 25 in elektrisch contact gebracht met de contra-connectoren 16 van de connectorwand 15 van de invoermodule 25 8. Een goede elektrische verbinding tussen de beide connectorrijen wordt bewerkstelligd door middel van centreeropeningen 28a en 28b, welke aangebracht zijn in de connectorwand 24 en in welke centreeropeningen 28a en 28b geschikte richtstiften 29a en 29b aangebracht op de connectorwand 15 reiken. Het zal duidelijk zijn, dat eventueel de connectorwand 24 30 voorzien kan zijn van uitstekende stiften, welke bij het inschuiven van het naaldenbed in de invoermodule vallen in overeenkomende openingen 11 aangebracht in de connectorwand 15.
Hoewel niet getoond in de figuren, kan op een overeenkomende wijze de aanstuurmodule 10 eveneens met behulp van overeenkomende elektrische koppeling, verbonden worden met connectoren 18 5 van de connectorwand 17 van de invoerzijde 8. Echter, de vereenvoudiging van de uitvinding is met name gelegen in het universeel maken van de aanstuurmodule 10, welke derhalve continu in de testinrichting lb geplaatst kan zijn, terwijl enkel het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding uitwisselbaar is afhankelijk van de te testen elektronische 10 schakeling. In tegenstelling tot de bekende testinrichtingen, wordt zodoende niet alleen een mechanische maar bovenal elektrische ontkoppeling tussen het naaldenbed 6 en de aanstuurmodule 10 verkregen, waardoor de testinrichting veel sneller om te stellen is, maar bovendien breder, dat wil zeggen voor meerdere schakelingen inzetbaar is. Bovendien 15 wordt zodoende de algehele inrichting goedkoper, daar enkel het naaldenbed dient te worden vervangen.
Na het inschuiven van het naaldenbed 6 en het in contact brengen van de connectoren 25 met de connectoren 16 kan het naaldenbed 6 in de invoermodule 8 gezekerd worden door middel van de klemmen 9a en 9b. 20 Dit verschaft een volledige fixering en opsluiting van de plaat 21 in de sleuven 13a en 13b en de klemmen 9a en 9b welke opsluiting niet alleen een goede fixering van het naaldenbed in de testpositie bewerkstelligt, maar bovenal de elektrische verbindingen tussen de connectoren 16 en 25 handhaaft.
25 Op een soortgelijke wijze kan ook de aanstuurmodule in de invoermodule 8 gezekerd worden. Indien een volledig inschuiven van het naaldenbed 6 via de voorzijde van de invoermodule 8 niet mogelijk is, bijvoorbeeld omdat uitstekende onderdelen, bijvoorbeeld elektronische componenten, ter plaatse van de onderbouw 23 dit onmogelijk maken, zijn 30 bij een uitvoeringsvorm van het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding de zijranden 22a en 22b voorzien van één of meerdere uitsparingen 26, 10 ir 12 welke samen kunnen vallen met op de sleuven 13a en 13b aangebrachte overeenkomende nokken 27. Hierdoor is het mogelijk om het naaldenbed 6 in de invoermodule 8 te tillen of te plaatsten (door het bedienend personeel), zodat de nokken 27 in de uitsparingen 26 vallen, waarbij de 5 zijranden 22a en 22b op de steunwielen 14 komen te rusten. Een vervolgens inschuiven van het naaldenbed 6 over een nu kleinere afstand in de sleuven 13a en 13b en het vervolgens elektrisch verbinden van de connectoren 25 met de contra-connectoren 16. Het vervolgens zekeren van het naaldenbed 6 met behulp van de klemmen 9a en 9b zorgt voor een 10 volledige opsluiting en fixering van het naaldenbed 6 in de testpositie 4 van de testinrichting.
Een ander bijkomstig voordeel van de constructie c.q. het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding is dat het naaldenbed nu dezelfde afmetingen bezit als de testpositie, waardoor met name grotere 15 elektronische schakelingen in de inrichting kunnen worden getest. Door de directe ontkoppeling tussen het naaldenbed en de aanstuurmodule zowel in mechanisch als elektrisch opzicht, kan het oppervlak van de plaat 21 veel effectiever worden benut. Niet alleen kan door het vergrote plaatoppervlak van de plaat 21 grotere schakelingen worden getest, maar 20 bovenal kan door de verkregen inbouwruimtewinst meer elektronica aan de onderzijde van het naaldenbed 6 worden geplaatst, waardoor de testprocedure aanzienlijk kan worden uitgebreid. Met name kunnen door het vergrote oppervlak van het naaldenbed allerlei testcomponenten en andere testelektronica boven of onder de plaat 21 en buiten de beide 25 transportsamenstellen 5A en 5B geplaatst worden.
Optioneel kan de elektronische aansturing van het naaldenbed 6 door de aanstuurmodule 10 plaatsvinden via de connector-koppeling tussen de aanstuurmodule en de connectorwand 17 (zie figuur 2a-2b), waarbij de connectoren 18 verbonden zijn met de connectoren 16 van 30 de connectorwand 15, welke, zoals hierboven reeds geschetst in elektrische verbinding kunnen worden gebracht met de connectoren 25 van 13 de connectorwand 24 van de onderbouw 23 van het naaldenbed 6 overeenkomstig de uitvinding.
Het zal duidelijk zijn dat het op deze wijze een aanzienlijke vereenvoudiging zowel qua constructie als kosten van een 5 testinrichting wordt verkregen, daar nu enkel het naaldenbed 6 specifiek voor de te testen schakeling dient te worden ontworpen. Bovenal is het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding met behulp van de constructie overeenkomstig de uitvinding zeer snel uitwisselbaar.

Claims (11)

1. Inrichting voor het testen van elektronische schakelingen, tenminste omvattende transportmiddelen voor het in bedrijf naar en van 5 een testpositie transporteren van een te testen schakeling, positioneringsmiddelen voor het in de testpositie positioneren en centreren van de schakeling ten opzichte van een, uit centreer- en/of steunstiften en testnaalden opgebouwd, naaldenbed, alsmede verplaatsings-middelen, welke in bedrijf de schakeling en/of het naaldenbed een naar 10 elkaar toe gerichte verplaatsing opdringen, teneinde de schakeling in contact te brengen met de stiften en de testnaalden van het naaldenbed, waarbij het naaldenbed via een in de inrichting opneembare aanstuurmodule elektrisch aanstuurbaar is, met het kenmerk, dat het naaldenbed in en uit de inrichting neembaar is.
2. Inrichting volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat het naaldenbed in een richting dwars op de transportrichting van de te testen schakelingen in en uit de inrichting neembaar is.
3. Inrichting volgens conclusie 1 of 2, met het kenmerk, dat het naaldenbed elektrisch losneembaar is van de aanstuurmodule.
4. Inrichting volgens één of meer van de voorgaande de conclusies, met het kenmerk, dat het naaldenbed dezelfde dimensionele afmetingen bezit als de aanstuurmodule.
5. Inrichting volgens één of meer van de voorgaande de conclusies, met het kenmerk, dat het naaldenbed dezelfde dimensionele 25 afmetingen bezit als de testpositie.
6. Inrichting volgens één of meer van de voorgaande de conclusies, met het kenmerk, dat het naaldenbed gevormd is als een vlakke plaat, welke verschuifbaar en borghaar opneembaar is in aan weerszijden van de testpositie aangebrachte sleuven.
7. Inrichting volgens conclusie 6, met het kenmerk, dat de in de sleuven reikende zijden van het naaldenbed elk zijn voorzien van 101Q ?7 H 'Λ*1 4 *. tenminste één uitsparing, welke uitsparingen samen kunnen vallen met op de sleuven aangebrachte nok.
8. Inrichting volgens één of meer van de voorgaande de conclusies, met het kenmerk, dat het naaldenbed is voorzien van tenminste 5 één connector, welke connector bij het in de inrichting plaatsen van het naaldenbed in elektrisch contact brengbaar is met een in de inrichting geplaatste contraconnector.
9. Inrichting volgens één of meer van de voorgaande de conclusies, met het kenmerk, dat het uitneembare naaldenbed en de 10 inrichting zijn voorzien van richtmiddelen.
10. Inrichting volgens één of meer van de voorgaande de conclusies, met het kenmerk, dat de richtmiddelen bestaan uit tenminste één borgpin, welke in een overeenkomstige centreeropening opneembaar is.
11. Uitneembaar naaldenbed volgens één of meer van de 15 voorgaande conclusies.
NL1019775A 2002-01-18 2002-01-18 Inrichting voor het testen van elektronische schakelingen, alsmede een naaldenbed voor toepassing in een dergelijke inrichting. NL1019775C2 (nl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL1019775A NL1019775C2 (nl) 2002-01-18 2002-01-18 Inrichting voor het testen van elektronische schakelingen, alsmede een naaldenbed voor toepassing in een dergelijke inrichting.

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL1019775A NL1019775C2 (nl) 2002-01-18 2002-01-18 Inrichting voor het testen van elektronische schakelingen, alsmede een naaldenbed voor toepassing in een dergelijke inrichting.
NL1019775 2002-01-18

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL1019775C2 true NL1019775C2 (nl) 2003-07-21

Family

ID=27752063

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL1019775A NL1019775C2 (nl) 2002-01-18 2002-01-18 Inrichting voor het testen van elektronische schakelingen, alsmede een naaldenbed voor toepassing in een dergelijke inrichting.

Country Status (1)

Country Link
NL (1) NL1019775C2 (nl)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102411122A (zh) * 2010-09-21 2012-04-11 株式会社泰塞克 Tcp测试装置
CN104459220A (zh) * 2014-11-05 2015-03-25 东晶锐康晶体(成都)有限公司 一种测试压头定位机构
CN103792481B (zh) * 2012-11-02 2016-08-03 纬创资通股份有限公司 电路板自动测试装置及电路板自动测试方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4105289A1 (de) * 1991-02-20 1992-08-27 Siemens Ag Pruefadapter zum pruefen von flachen elektrischen baugruppen
US5631573A (en) * 1994-09-20 1997-05-20 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Probe-type test handler

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4105289A1 (de) * 1991-02-20 1992-08-27 Siemens Ag Pruefadapter zum pruefen von flachen elektrischen baugruppen
US5631573A (en) * 1994-09-20 1997-05-20 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Probe-type test handler

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102411122A (zh) * 2010-09-21 2012-04-11 株式会社泰塞克 Tcp测试装置
CN102411122B (zh) * 2010-09-21 2015-07-22 株式会社泰塞克 Tcp测试装置
CN103792481B (zh) * 2012-11-02 2016-08-03 纬创资通股份有限公司 电路板自动测试装置及电路板自动测试方法
CN104459220A (zh) * 2014-11-05 2015-03-25 东晶锐康晶体(成都)有限公司 一种测试压头定位机构

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6846115B1 (en) Methods, apparatus, and systems of fiber optic modules, elastomeric connections, and retention mechanisms therefor
US8203354B2 (en) System for testing electronic components
EP2169773B1 (en) Assembly for interconnecting circuit boards
US7909650B2 (en) Card connector provided with function for detecting an integrated circuit card
US8659311B2 (en) Test apparatus and test method
EP0398506A2 (en) Electrical socket for tab IC's
US20050220425A1 (en) Optoelectronic arrangement
WO1997022886A1 (en) Generic interface test adapter
KR101039857B1 (ko) 테스트 핸들러용 소자 접속장치 및 이를 이용한 테스트 핸들러
KR20080082997A (ko) 착탈장치, 테스트 헤드 및 전자부품 시험장치
US20070270014A1 (en) Socket for electrical parts
US20100156420A1 (en) Local coil arrangement for magnetic resonance applications and patient bed for a magnetic resonance system, with integrated electrical interfaces
CN112213523A (zh) 用于测试产品的插座
NL1019775C2 (nl) Inrichting voor het testen van elektronische schakelingen, alsmede een naaldenbed voor toepassing in een dergelijke inrichting.
TW201125215A (en) Electrical connector having a sequential mating interface
KR101776797B1 (ko) 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓
AU2018326795A1 (en) USB-C plug with surface mount contact points
TWI409204B (zh) Electronic component processing device and electronic component testing device
EP1521512A2 (en) Circuit card
EP2345916B1 (en) Connectors and assemblies having a plurality of moveable mating arrays
US4967147A (en) Circuit tester having mechanical fingers and pogo probes for causing electrical contact with test fixture assemblies
KR101668270B1 (ko) 전자부품 실장 테스트를 위한 접속장치 및 이를 이용한 테스트 장치
US20030032320A1 (en) Socket for semiconductor device
US7407401B2 (en) Socket for electrical parts
JP5495164B2 (ja) ウエハ検査装置及びテストヘッド

Legal Events

Date Code Title Description
PD2B A search report has been drawn up
VD1 Lapsed due to non-payment of the annual fee

Effective date: 20070801