TWI345060B - Noncontact type single side probe device and apparatus and method for testing open or short circuits of pattern electrodes using the same - Google Patents

Noncontact type single side probe device and apparatus and method for testing open or short circuits of pattern electrodes using the same Download PDF

Info

Publication number
TWI345060B
TWI345060B TW096125197A TW96125197A TWI345060B TW I345060 B TWI345060 B TW I345060B TW 096125197 A TW096125197 A TW 096125197A TW 96125197 A TW96125197 A TW 96125197A TW I345060 B TWI345060 B TW I345060B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
electrode
contact
sensor
patterned
electrodes
Prior art date
Application number
TW096125197A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200806994A (en
Inventor
Eun Tak
Jin Kim Seong
Dok Choi Hee
Jun Lee Dong
In Park Jong
Chul Cho Woo
Original Assignee
Microinspection Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Microinspection Inc filed Critical Microinspection Inc
Publication of TW200806994A publication Critical patent/TW200806994A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI345060B publication Critical patent/TWI345060B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/281Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
    • G01R31/2812Checking for open circuits or shorts, e.g. solder bridges; Testing conductivity, resistivity or impedance
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/302Contactless testing
    • G01R31/312Contactless testing by capacitive methods
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/52Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254Checking; Testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

1345060 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於一種非接觸式單面探 其之用以測試圖案化電極開路或短路之儀器:以及使用 特別地係有關於一種非接觸式單面探針裝 法,且更 送AC電力至各圖案化電極的-端並且使用包==饋 :::的非接觸探針電極的激發器電極及感測器 ^式單面探針裝置感測電性變化值以測試圖案化電= =方以及使用其之用以測試圖案化電極開路或短路之 儀益和方法。 【先前技術】 通常,在諸如資料傳輸線的多線路電Μ的開路及短 路係經由在各線路與其他線路分開之後測量在電鐵的兩端 之間的電阻而被檢測。因此,必需兩個以上的操作者。在 #包括大量線路的電纜的情況中,有時,線路數目遺失且檢 測須被重複’從而降低檢測可靠度並增加操作時間。 再者,如圖1所示,在平板顯示裝χ 1〇(例如LCD及 )中’開路及短路可經由施加電流至各圖案化電極^的 ―端並且測量在對應的圖案化電極15的另一端上的電壓 而被檢測。又,開路及短路可經由以顯微鏡等檢查導線而 被檢測。在圖丨_,參考數字2〇標示探針方塊,且參考數 字30標示針式探針。 因此,為了檢測在單一圖案化電極中的開路及短路, 6 5151-8989~PF;Ahddub
i JH-JUOU 南要至少兩個探針。如 去.而要淬夕探針且成本增加。再 者’長的圖案化探針為了在 ± 6, ^ . 同位置上的測量需要二個以 的麵作者,從而耗費大量的時間及人力。 圖荦在接觸式探針的情況中,因為探針係按麼接觸 圖案化電極,可能發生接 的圖宏… 1生接觸錯誤。再者’在做為測量對象 圖案化電極上可能產生刮傷’從而導致另-錯誤。 【發明内容】 因此’本發明係有鑑於上述問題而被製造,且本發明 之目的係在於提供一種非# 按觸式早面探針裝置,其可經由 饋送AC電力至各圖案化雷 ’、電極的一鈿並且使用包括做為單 一模組的非接觸探針電極 干 極的激發益電極及感測器電極之非 接觸式早面探針裝置感測雷榀_儿& # > α利電性變化值以測試圖案化電極開 路或短路,以及補用复夕 用八之用以測試圖案化電極開路或短路 之儀器和方法。 本發明之另一目的係在於提供一種非接觸式單面探針 裝置其可經由包括非接觸探針電極的-對激發器電極 ㈣此仏办㈣及一對感測器電極,施加具有相反的 相位之電壓至該對激發器電極,及使用該對感測器電極的 差動電壓’而改善空間解析度及訊雜比’以及使用其之用 以測試圖案化電極開路或短路之儀器和方法。 根據本發明之一特徵’上述及其他目的可經由提供一 種非接觸式單面探針震置而實現’其包括:一非接觸探針 電極’其以非接觸狀態饋送電力至一待測試的圖案化電極 5151-8989-PF;Ahddub 7 ου 、、感測電性變化值;一電力饋送區段,其施加AC電力至 非接觸探針電極;& —感測器’其測量非接觸探針電極的 電性變化值。 的 士最好,電力饋送區段可包括用以施加AC電流的Ac電 机源,且感測器測量電壓的變化。 最好,非接觸探針電極可包括:一激發器電極,其被 連接至電力饋送區段,用以施加AC t流;及-感測器電 極’其被連接至感測器,用以感測電壓的變化。 最好,非接觸探針的激發器電極及感測器電極可為彼 此被整體地形成。 最好,電力饋送區域可包括用以施加AC電壓的AC電 壓源’且感測器測量電壓的變化。 最好,非接觸探針電極可包括:一激發器電極,其被 連接至電力饋送區段,用以施加AC t壓;及—感測器電 極,其被連接至感測器,用以感測電壓的變化。 最好,電力饋送區段可包括用以施加AC電壓的—Μ
電壓源,且感測器測量在AC電壓源及非接觸探針電極之門 流動的電流的變化。 B 最好,非接觸探針電極可包括:第一及第二激發器電 極,其饋送AC電壓;及第一及第二感測器電極,其測量電 壓的變化。 最好,第一激發器電極及第一感測器電極可被排列在 一線性軸上,第二激發器電極及第二感測器電極可被排列 在一線性軸上,第一及第二激發器電極可被平行排列,且 5151-8 98 9-PF;Ahddub 8 1345060 第一及第二感測器電極可被平行排列。 最好,第一激發器電極及第一感測器 一 』命电極可被排列在 線性軸上,第二激發器電極第二 a判态電極可被排列 在一線性軸上,且第一及Μ — $ & 、„。 第一激發器電極與第一及第二感 測器電極可被分別排列以對角地彼此對稱。 最好’電力饋送區域可分別饋送具有相同的振幅與⑽ -相反的相位之AC電壓至第一及第二激發器電極。 最好’感測器可測量在由第一及第-戍 ^ 汉罘一感測器電極測量 的電壓間的差動電壓。 根據本發明之另一特徵,提供有一種用以在使用非接 觸式早面探針裝置料圖案化電極相試形成在面板上的 複數圖案化電極的開路及短路的儀器,該儀器包括:非接 觸式單面探針裝置,其通過-祕觸探針電極料AC電力 至各圖案化電極的—端並且測量非接觸探針電極的電性變 化值,訊號處理區&,其經由由非接觸式單面探針裝置測 量的電性變化值決定開路或短路。 最好,非接觸式單面探針裝置可包括:非接觸探針電 極’其以非接觸狀態饋送電力至—圖案化電極並感測電性 變化值;-電力饋送區段,其施加AC電力至非接觸探針電 極,及一感測器,其測量非接觸探針電極的電性變化值。 最好,電力饋送區段可包括用以施加AC電流的Ac電 流源’且感測器測量電壓的變化。 最好,非接觸探針電極可包括:一激發器電極,其被 連接至電力饋送區段,用以施加AC f流;及-感測器電 9 5151-8989-PF;Ahddub :、被連接至感測器’用以感測電壓的變化。 、最好,非接觸探針的激發器電極及感測器電極可為彼 此被整體地形成。 最好電力饋送區域可包括用以施加AC電壓的電 壓源,且感測器測量電壓的變化。
最好,非接觸探針電極可包括:一激發器電極,其被 連接至電力饋送區段,用以施加AC電壓;及一感測器電 極,其被連接至感測器,用以感測電壓的變化。
最好’電力饋送區段可包括用以施加AC電壓的一 AC 電壓源,且感測器測量在AC電壓源及非接觸探針電極之間 流動的電流的變化。 最好’非接觸探針電極可包括:第一及第二激發器電 極,其饋送AC電壓;及第一及第二感測器電極,其測量電 壓的變化。 最好’第一激發器電極及第一感測器電極可被排列在 • 一線性軸上’第二激發器電極及第二感測器電極可被排列 在一線性軸上,第一及第二激發器電極可被平行排列,且 第一及第二感測器電極可被平行排列。 最好’第一激發器電極及第一感測器電極可被排列在 一線性轴上’第二激發器電極及第二感測器電極可被排列 在一線性軸上,且第一及第二激發器電極與第一及第二感 測器電極可被分別排列以對角地彼此對稱。 最好,電力饋送區域可分別饋送具有相同的振幅與180 度相反的相位之AC電壓至第一及第二激發器電極。 5151-8989-PF;Ahddub 10 1345060 ' ⑼,感測器可測量在由第-及第二感測器電極測量 的電壓間的差動電壓。 …根據本發明之再-特徵’提供有-種用以使用包括做 為單模組的非接觸探針電極的激發器電極及感測器電極 之非接觸式單面探針裝置測試圖案化電極的開路及短路之 方法’該方法包括:通過非接觸單面探針裝置的非接觸探 2電極她加AC電力至被形成在面板上的各圖案化電極的 •:端,使用非接觸探針電極測量一電性變化值,並測試圖 案化電極的開路及短路。 做為:據广發明之再一特徵,提供有一種用以使用各包括 為早一模組的非接觸探針電極的激發器電極及感測器電 ^非接觸式單面探針裝置測試圖案化電極的開路及短路 形成於面板上的圖宰化電極的:探針震置排列在被 热木 八電極的兩%,通過非接觸探針電極 施加不同的頻率至圖 電㈣u 案化電極’使用非接觸探針電極測量 電性變化值,並測試圖案化電極的開路及短路。 根據本發明之再一特徵,提供有一 做為單一耝紐沾非杜如, 1ώ枯 極之非接觸式單面探針的激發器電極及感測器電 之H ' 5式圖案化電極的開路及短路 形成於面板上的圖&觸式早面探針裝置排列在被 案化電極,使得相同」 端’施加相同的頻率至圖 極,使用非接觸° S _被施加至彼此分開的圖案化電 ‘使用非接觸探針電極 電極的開路及短路。 電11 生變化值’並測試圖案化 5l51-8989*PF;Ahddub 11 1345060 根據本發明,因為AC電力被施加至圖案化電極的— 端,其係使用包括做為單-模組的非接觸探針電極的1 :器電極及鄰接於激發器電極的一感測器電極之非接觸式 單面探針裝置而被測試,且電性變化值係通過非接觸探針 電極被測量以決定圖案化電極的開路或短路,_案化電極 的開路及短路均可經由僅掃猫圖案化電極的_端而㈣ 試。因為包括一對激發器電極及一對感測器電極,具有相 反相位的電壓被施加至該對激發器電極且在該對感測号電 極的電虔間的差_被使用,而形成一明顯的邊界二區 別鄰接的圖案化電極以增加空間解析度且由於共模雜訊而 可改善訊雜比》 本發明之上述及其他目的、特點及其他優點由前面詳 細說明配合附圖將更加清楚。 【實施方式】 • 象然本發明已關於較佳實施例加以顯示及說明,孰知 此技藝者理解各種變化及修正 …、 、 不脫離本發明之範疇及精 神被完成。從而,水發明夕玆於土 丰知明之範疇未被限定於本發明之實施 例。與先前技街相同的部分係由 一 屯々日u的參考唬碼及名稱標 示。 圖2係顯示根據本發明笫_ 弟貫施例的非接觸式單面 探針裝置的構成之圖式。 如圖所示,根據本實施例的非接觸式單面探針裝置4〇 包括:一非接觸探針電極44, ,、己枯用以以非接觸狀態饋 12 5151-8989-PF;Ahddub 丄州060 送^電流至待測試的圖案化電極15之激發器電極441與 、感測圖案化電極j 5的電壓的變化之感測器電極4仏; 一 AC電流源421,用辟·、主λρ % α 用以饋送AC電流至非接觸探針電極44 的激發器電極441 · , 感測益4 β ,用以測量由非接觸探 針電極44的感測器電極“2感測的電塵的變化。 。。此時’如圖3所示,非接觸探針電極44可包括一激發 器電極44】及-感測器電極他,二者係彼此被整體地^ 成。 電力饋送區段42包括用以施加AC電流的AC電流源 421。AC電流源421施加AC電流至非接觸探針電極以以 經由由非接觸探針電# 44測量的電遷的變化檢查圖案化 電極15的開路或短路。 圓4係顯示根據本發明之第三實施例的非接觸式單面 探針裝置的構成之圖式。
圖所示,根據本實施例的非接觸式單面探針裝置4 〇 包括:-非接觸探針電極44,其包括用以以非接觸狀態饋 达AC電壓至待測試的圖案化電極i 5之激發器電極44ι與 用以感測圖案化電極15的電壓的變化之感測器電極“2 ; AC電壓源422,用以饋送AC電壓至非接觸探針電極44 的激發器電極441 ;及一感測器46,用以測量由非接觸探 針電極44的感測器電極442感測的電壓的變化。 電力饋送區段42包括用以施加AC電壓的Ac電壓源 杜2。AC電壓源422施加Ac電壓至非接觸探針電極軻以 經由由非接觸探針電極44測量的電壓的變化檢查圖案化 5151-8989-pF;Ahddub 13 U45〇6〇 電極邝的開路或短路。 圖5係顯示根據本發明 探針裝置的構成之圖心第四貫施例的非接觸式單面 如圖::’根據本實施例的非接觸式單面
n -非接觸探針電極44 直4U 至待硎試的圖宰化電桮& 接觸狀態饋送電力 的變化測圖案化電極15的電壓 變化,-AC電麼源422,用以饋 針電極44;及一感4β Β 电登至非接觸探 非接觸^ 46’用以測量在AC電壓源422及 未十電極44之間流動的電流的變化。 似電力饋送區段42包括用以施加AC電壓的Μ電壓源 “ 測益46測量在AC電壓源422及非接觸探針電極 短路之間流動的電流的變化以檢查圖案化電㈣的開路或 圖6係顯示根據本發明之第五實施例的非接觸式 探針裝置的構成之圖式。 如圖所不,根據本實施例的非接觸式單面探針裝置 包括:一非接觸探針電極44,其包括用以以非接觸狀態饋 送AC電力至待測試的圖案化電極15之第一及第二激發器 電極443及444與用以感測圖案化電極15的電性變化值之 第一及第二感測器電極445及446 ; — AC電壓源422,用 以分別饋送具有相同的振幅與180度相反的相位之AC電壓 至第一及第一激發器電極443及444 ;及一感測器46,用 以測量由第一及第二感測器電極445及446測量的電壓間 的差動電壓。 5151-8989-PF;Ahddub 14 1345060 *' 此時’第一激發器電極443及第一感測器電極445被 排列在一線性軸上,且第二激發器電極444及第二感測器 電極446被排列在一線性軸上。第一及第二激發器電極443 及444被平行排列’且第一及第二感測器電極445及446 被平行排列。 如圖7所示’第一激發器電極443及第一感測器電極 445可被排列在一線性軸上’且第二激發器電極444及第 ^ 二感測器電極446可被排列在一線性軸上。第一及第二激 發器電極443及444與第一及第二感測器電極445及446 可被分別排列以對角地彼此對稱。 具有相反相位的AC電壓通過第一及第二激發器電極 443及444被施加以在第一及第二激發器電極443及444 間形成相位邊界’且在第一及第二感測器電極445及446 的電壓間的差動電壓被測量使得在第一及第二激發器電極 443及444之間與在第一及第二感測器電極445及446之 φ 間形成明顯的邊界。因此,由於移除共模雜訊.,其可改善 空間解析度並改善訊雜比。如此,經由區別鄰接的圖案化 電極15的電壓的變化’其可通過細微的圖案化電極15之 準確的探針效果以較高的空間解析度檢查圖案化電極工5 的開路或短路。 圖8係顯示用以使用根據本發明的非接觸式單面探針 裝置測試圖案化電極的開路及短路之儀器的方塊圖。 如圖所示’儀器包括:一非接觸式單面探針裝置4〇, 用以在由被排列鄰接於激發器電極4 41的感測器電極4 4 2 5151-8989-PF;Ahddub 15 1345060 掃瞄圖案化電極1 5及測量電性變 過激發器電極—c電力至各:^ 端;一訊號處理區段50,用以通過由非接觸式單面探針參 置40測里的電性變化值檢查開路或短路;一顯示區段 用以顯示由非接觸式單面探針裝4 4Q測量的電性變化值 及说號處理區段5〇的操作狀態:及―鍵輸人區段Μ,用 以選擇訊號處理區段50的操作狀態。
圖9係㈣使隸據本發明㈣接觸式單面探針裝置 測試圖案化電極的開路及短路之儀器的例子之圖式。 非接觸式單面探針裝置40包括第—及第/激發器電 極443及444與第一及第二感測器電極祕及描,並且 在掃晦圖案化電極15時以非接觸狀態在各圖案化電極的 一端測試圖案化電極的開路及短路。 此時,第-及第二激發器電極443及4“被平行排列 且第一及第二感測器電極445及446被平行排列。第一激 發器電極443及第一感測器電極445被排列在一線性轴 上,且第二激發器電極444及第二感測器電極446被排列 在一線性軸上。 用以施加AC電壓至非接觸式單面探針裝置4〇的第一 及第二激發器電極443及444之AC電壓源422使用具有範 圍從ΙΚΗζ至小於數十KHz的頻率之200V至300V的電壓。 右由AC電壓源422施加的電壓的頻率小於ikhz,探 針裝置4 0的行進速度被限制,從而其不可能實現。相反 地’若由AC電壓源422施加的電壓的頻率大於數十〖Hz, 5151-8989-PF;Ahddub 16 1345060 ·· 在圖案化電極15間的阻抗減小且檢查解析度變差。 因為用以施加具有範圍從1 KHz至小於數十KHz的頻率 之AC電壓的AC電壓源422被使用,屏蔽同軸電纜或三軸 向電纜被使用在用以連接第一及第二激發器電極443及 444與第—及第二感測器電極445及446的線路中,以防 止訊號洩漏。 因此’當在圖案化電極15上傳播的AC電壓被施加至 φ 非接觸式單面探針裝置40的第一激發器電極443時,對應 於AC電壓的位準之電荷被儲存在圖案化電極15中且電性 變化值係由第一感測器電極445測量,從而檢查圖案化電 極15的開路及短路。 在本發明中,在由第一及第二感測器電極445及 測量的電壓間的差動電壓被讀取且圖案化電極15的開路 或短路係基於電壓的變化被檢查。因此,在電力被饋送圖 案化電極15與電力未被饋送的圖案化電極15間的邊界確 •實地被第一及第二感測器電極445及446間的差動電壓區 別,使得感受度可被改善。因為當開路或短路發生時電壓 的變化增加,故障可被有效地檢測。 經由通過第一及第二激發器電極443及444施加具有 不同相位的電壓至鄰接的圖案化電極15,其可區別圖案化 電極15以改善感受度。 在掃瞒圖案化電極15時於饋送Ac電壓之後被測量的 電壓係被顯示於圖1〇中。 此時,如圖10A所示,由非接觸式單面探針裝置仙在 5151-8989-PF;Ahddub 17 C電壓至正*的圖案化電極15之後測量的電麗值係 :"若圖案化電極15係如圖1〇β所示為開路,圖案化電 的整個面積減小且在圖案化電極】5附近由周圍地面 五成的寄生電容器45的電容減小。因此,在此情況中,因 ‘"、同數量的電荷被形成於小面積中以增加電壓,被測量 :圖案化電極15的電壓值係W其係大於正常的圖案化 電極15的電壓值Vpp_N。 同時,若圖案化電極15係如圖1〇c所 圖案化電们5,圖案化電極15的整個面積增加且在圖案 匕電極15附近由周圍地面形成的寄生電容器^的電容增 因此’在此情況中,因為相同數量的電荷被形成於大 面積中以減小電壓’被測量的圖案化電極15㈣壓值係 V”'S,其係小於正常的圖案化電極15的電壓值Vp"。 當圖案化電極15的電壓值係通過在使用非接觸式單 面探針裝置40㈣各圖案化電極15的—面時施加ac電壓 ㈣量的Μ的變化而高於正常的圖案化電極15的電壓 值時,圖案化電極15 #歧為開路且被決定的結果被顯 不,且若圖案化電们5的電壓值低於正常的圖案化電極 15'的電塵值,圖案化電極15被決定為短路且被決定的結 果被顯示。 一控制命令係通過鍵輸入區段6〇被輸入以控制訊號 處理區段5 〇的處理狀態。 當僅在各圖案化電極】5的一端上掃瞄圖案化電極】5 時電壓的變㈣使时接職單面料裝置4g被測量且 5151-8989»PF;Ahddub 18 1345060 開路發生在靠近圖案化電 η本…u ^的力一竭的位置時, 縮減減小’電壓上升的效果低’ &而開路無法被檢洌。為 了解決此問題’如圖】!所示’圖案化電極15的兩端係使 用非接觸式單面探針裝^ 4G被同時㈣以改善測試的準 確性。
此時,圖案化電極15可使用不同的頻率被測試或者不 同的圖案化電極15可使用相同的頻率被㈣地測試,使得 相同的頻率被施加至彼此分開的非接觸探針電極。 如上所述,根據本發明,圖案化電極的開路及短路可 經由饋送電力至各圖案化電極的一端並且使用包括做為單 -模組的激發器電極及感測器電極之非接觸式單面探針裝 置感測電性變化值而由一個掃晦程序加以測試。 、 因為圆案化電極的開路及短路係使用非接觸式單面探 針裳置被測試,可防止圖案化電極由於接觸故障或加壓接 觸被損壞,且與接觸式探針裝置相比,可增加探針裝置的 焉"命0 因為開路及短路係在掃瞒圖案化電極的一端時被測 试,裝置的構成簡單且測試可經由與相同的圖案化電極比 較而被容易地執行’即使在具有線性形狀以外的形狀之圖 案化電極中也可。 測試敏感度可使用在具有相反相位的一對激發器電極 之間的差動電壓由一對感測器電極改善。 雖然本發明的較佳實施例為了說明已被揭露,熟知此 技藝者理解可不脫離如在伴隨的中請專利範圍中被揭露之 5151-8 98 9-PF;Ahddub 19 本發明的範疇及精神 而進行各種修正、增加及替代。 【圖式簡單說明】 圖1係顯示測試圖案化電極的開路及短路的一般方法 的圖式; 圖2係顯不根據本發明之第一實施例的非接觸式單面 探針裝置的構成之圖式; 圖3係顯不根據本發明之第二實施例的非接觸式單面 探針裝置的構成之圖式; 圖4係顯示根據本發明之第三實施例的非接觸式單面 探針裝置的構成之圖式; 圖5係顯示根據本發明之第四實施例的非接觸式單面 探針裝'置的構成之圖式; 圖6係顯示根據本發明之第五實施例的非接觸式單面 探針裝置的構成之圖式; 圖7係顯示根據本發明之第六實施例的非接觸式單面 探針裝置的構成之圖式; 係顯示用以使用根據本發明的非接觸式單面探金 裝置測試圖案化電極的開路及短路之儀器的方塊圖; 圖9係顯不使用根據本發明的非接觸式單面探針裝遷 測試圖案化電極的開路及短路之儀器的例子之圖式;、 圖10A至圖i〇c係顯示由用以使用根據本發明的非接 觸式單面探針裝置測試圖案化電極的開路及短路之儀器測 量的波型之圖式;及 ° “ 5151-8989-PF;Ahddub 20
圖11 置測試圖索 式。 係顯示使用根據本發明的非接觸式單面探針裝 化電極的開路及短路 儀盗的另一例子之圖
【主要元件符號說明】 10〜平板顯示裝置; 2 0〜探針方塊; 40~非接觸式單面探針裝 44~非接觸探針電極; 46*•感測器; 60〜鍵輸入區段; 421〜AC電流源; 44卜激發器電極; 443〜第一激發器電極; 445~第一感測器電極; 1 5〜圖案化電極; 3 0〜針式探針; 置’ 42〜電力饋送區段; 45~寄生電容器; 50〜訊號處理區段; 7 〇〜顯示區段; 422~AC電壓源; 442〜感測器電極; 444〜第二激發器電極; 446〜第二感測器電極。
5151-8989-PF;Ahddut? 21

Claims (1)

1345060 . · 第090125197號中文申請專利範圍修正本 修正日期:100.1.10 十、申請專利範圍: 1·-種用以在使用非接觸式單面探針裝置掃晦圖案化 電極時測試形成在面板上的複數圖案化電極的開路及短路 的儀器’該儀器包括: 、,非接觸式單面探針裝置’其通過—非接觸探針電極饋 送AC電力至各圖案化電極的—端並且根據圖案^_ 近由周圍地面形成的寄生電容器的電容變化測量非接觸探 針電極的電性變化值; 訊號處理區段,其經由由非接觸式單面探針裝置測量 的電性變化值決定開路或短路。 2.如申μ專利圍第】項的—種用以在使用非接觸式 單面探針裝置掃晦圖案化電極時測試形成在面板上的複數 圖案化電極的開路及短路的儀器,其中,非接觸式單面探 針裝置包括: 非接觸探針電極,其以非接觸狀態饋送電力至一圖案 化電極並感測電性變化值; 一電力饋送區段,其施加AC電力至非接觸探針電極; 及 感測器’其測量非接觸探針電極的電性變化值。 單二:=利範圍第2項的一種用以在使用非接觸式 ^ 晦圖案化電極時測試形成在面板上的複數 =化電極的開路及短路的儀器,其中,電力饋送區段包 括用以施加A C雷、士 认A广 化。 机的AC電流源,且感测器測量電壓的變 5151-8989-PF2 22 LfUU β專利範圍第3項的—種用以在使用非接觸式 1裝置掃瞄圖案化電極時測試形成在面板上的複數 =化電極的開路及短路的儀器,其中,非接觸探針電極 一激發器電極 AC電流,·及 其被連接至電力饋送區段,用以施加 ,用以感測電壓的 感測器電極,其被連接至感測器 變化。 m 如中⑼專利範圍第3項的—種用以在使用非接觸式 單面探針裝置掃晦圓案化電極時測試形成在面板上的複數 _化電極的開路及短路的儀器,其中,非接觸探針的激 發器電極及感測器電極係彼此被整體地形成。 〇 6.如申请專利範圍第2項的一種用以在使用非接觸式 單面探針裝置掃_案化電極時測試Μ在面板上的複數 圖案化電極的開路及短路的儀器,其中,電力讀送區域包 括用以施加AC電壓的AC電壓源,且感測器測量電壓的變 化。 〇 7.如申請專利範圍第6項的一種用以在使用非接觸式 單面探針裝置掃瞄圖案化電極時測試形成在面板上的複數 圖案化電極的開路及短路的儀器,其中,非接觸探針電極 包括: 一激發器電極,其被連接至電力饋送區段,用以施加 AC電壓;及 一感測器電極,其被連接至感測器,用以感測電壓的 5151-8989-PF2 23 1345060 變化。 8.如申請專利範圍第2項的— 單面探針裝置掃_化電極時測試形成 :案化電極的開路及短路的儀器,其中,電力饋送= 用心加AC電屋的一 Ac電壓源,且感測器測量在 麼源及非接觸探針電極之間流動的電流的變化。 9.如申請專利範圍第 早面探針裝置掃猫圖案化 圖案化電極的開路及短路 包括:
2項的一種用以在使用非接觸式 電極時測試形成在面板上的複數 的儀器,其中,非接觸探針電極 第一及第二激發器電極,其饋送AC電壓;及 第一及第二感測器電極,其測量電壓的變化, 、10·如巾請專利範圍第9項的_種用以在使用非接觸 式單面探針裝置掃猫圖案化電極時測試形成在面板上的複
數圖案化電極的開路及短路的儀器,纟中,第一激發器電 極及第-感測器電極被排列在一線性軸上,第二激發器電 極及第二感測器電極被排列在一線性軸上,第一及第二激 發器電極被平行排列,且第—及第二感測器電極被平行排 列。 11.如申明專利範圍第9項的一種用以在使用非接觸 式單面探針裝置掃關案化f極時職形成在面板上的複 數圖案化電極的開路及短路的儀器H第—激發器電 極及第一感測器電極被排列在一線性軸上,第二激發器電 極及第二感測器電極被排列在一線性軸上,卫第一及第二 5151-8989-PF2 24 uou :=:極與第—及第二感測器電極被分別排列以對角地 /佶田申明專利範圍第9 i 11項中任-項的-種用以 在面姑非接觸式單面探針裝置掃睡圖案化電極時測試形成 上的複數圖案化電極的開路及短路的儀器,其令, 電力饋送區域分則θ 1 θ i 八 』饋送具有相同的振幅與180度相反的相 電塵至第一及第二激發器電極。 式單©ΤΙ專利範圍第9項的—種用以在使用非接觸 數圖宰^裝置掃聪圖案化電極時測試形成在面板上的複 J 電極的開路及短路的儀器,其中,感測器測量在 及第一感測器電極測量的電壓間的差動電壓。 ㈣I4·—種使用非接觸式單面探針裝置測試圖案化電極 一:卩紐路的方法,該非接觸式單面探針裝置,包括: ¥接觸探針電極’其以非接觸狀態饋送電力至一圖案化 ^並感測—電性變化值;—電力饋送區段,其施加AC電 搞至非接觸探針電極’·及-感測器,其測量非接觸探針電 極的電性變化值;該方法包括: ^ 將非接觸式單面探針裝置排列在被形成於面板上的圖 案化電極的兩端,通過非接觸探針電極施加不同的頻率至 圖案化電極’使用非接觸探針電極測量電性變化值,並測 试圖案化電極的開路及短路。 、 15. -種使用非接觸式單面探針裝置測試圖案化電極 二開路及短路的方法,該非接觸式單面探針裝置,包括· 一非接觸探針電極’其以非接觸狀態饋送電力至一圓案化 5151-8989-PF2 25 1345060 電極並感測一電性變化值;一電力饋送區段,其施加Ac電 力至非接觸探針電極;及—感測器’其測量非接觸探 極的電性變化值;該方法包括: =緣式單面探針裝置㈣在被形成於面板上 案化電極的兩端,施加相 同的頻率被施加至彼此分開化電極,使得相 針電極測量電性變化值,並非接觸探 闺茶化電極的開路及短路。
5151-8989-PF2 26 I345Q60 第090125197號中文圖式修正頁修正日期MOO.UO
圖3 I345Q60 li 096125197號中文圖式修正頁 修正日期:100.1.10
圖6
TW096125197A 2006-07-20 2007-07-11 Noncontact type single side probe device and apparatus and method for testing open or short circuits of pattern electrodes using the same TWI345060B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060068231A KR100799161B1 (ko) 2006-07-20 2006-07-20 비접촉 싱글사이드 프로브와 이를 이용한 패턴전극의 단선및 단락 검사장치 및 그 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200806994A TW200806994A (en) 2008-02-01
TWI345060B true TWI345060B (en) 2011-07-11

Family

ID=38970836

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW096125197A TWI345060B (en) 2006-07-20 2007-07-11 Noncontact type single side probe device and apparatus and method for testing open or short circuits of pattern electrodes using the same

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7746086B2 (zh)
JP (1) JP5131962B2 (zh)
KR (1) KR100799161B1 (zh)
CN (1) CN101109782B (zh)
TW (1) TWI345060B (zh)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010023632A1 (en) * 2008-08-27 2010-03-04 Sabic Innovative Plastics Ip B.V. Tribocharge test fixture
JP5387818B2 (ja) * 2008-12-11 2014-01-15 オー・エイチ・ティー株式会社 回路パターン検査装置
JP5391819B2 (ja) * 2009-05-14 2014-01-15 日本電産リード株式会社 タッチパネル検査装置
JP4644745B2 (ja) * 2009-08-04 2011-03-02 オー・エイチ・ティー株式会社 回路パターン検査装置
KR101039049B1 (ko) * 2009-08-10 2011-06-13 주식회사 심텍 비접촉 검사방식을 적용한 단선 및 단락 검출용 칩 스케일 패키지 기판 및 그 검사장치
KR101184489B1 (ko) 2009-11-16 2012-09-19 삼성전기주식회사 기판의 회로패턴 결함 검사방법
KR101271439B1 (ko) * 2010-10-06 2013-06-05 마이크로 인스펙션 주식회사 정전용량형 차동센서모듈 및 이를 이용한 디스플레이 패널의 검사장치
KR101233070B1 (ko) * 2011-09-30 2013-02-25 마이크로 인스펙션 주식회사 비접촉 프로브
KR101223930B1 (ko) * 2012-02-06 2013-02-05 로체 시스템즈(주) 접촉식 전극패턴 검사장치
WO2013119014A1 (ko) * 2012-02-06 2013-08-15 로체 시스템즈(주) 전극패턴 검사장치
US20130320994A1 (en) * 2012-05-30 2013-12-05 3M Innovative Properties Company Electrode testing apparatus
CN103308817B (zh) * 2013-06-20 2015-11-25 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板线路检测装置及检测方法
KR101519556B1 (ko) * 2013-11-12 2015-05-14 마이크로 인스펙션 주식회사 패널의 사선부 검사장치
JP6014950B1 (ja) * 2015-12-22 2016-10-26 オー・エイチ・ティー株式会社 導電体パターン検査装置
JP6014951B1 (ja) * 2015-12-22 2016-10-26 オー・エイチ・ティー株式会社 導電体パターン検査装置
US20170262587A1 (en) * 2016-03-09 2017-09-14 Xerox Corporation Method and system for generating patient profiles via social media services
CN105589231B (zh) * 2016-03-09 2019-04-30 京东方科技集团股份有限公司 非接触式探针信号加载装置
JP6947041B2 (ja) * 2018-01-09 2021-10-13 日立金属株式会社 多心ケーブルの検査方法、多心ケーブルアセンブリの製造方法、及び多心ケーブルの検査装置
JP6947042B2 (ja) * 2018-01-09 2021-10-13 日立金属株式会社 多心ケーブルの検査方法、多心ケーブルアセンブリの製造方法、及び多心ケーブルの検査装置
JP2019124671A (ja) * 2018-01-19 2019-07-25 浜松ホトニクス株式会社 検査装置及び検査方法
JP6947072B2 (ja) * 2018-02-15 2021-10-13 日立金属株式会社 多心ケーブルの検査方法、多心ケーブルアセンブリの製造方法、及び多心ケーブルの検査装置
CN108491116B (zh) * 2018-03-22 2021-01-26 武汉华星光电技术有限公司 内嵌式触控显示面板的触控单元检测方法及其检测***
JP6721667B2 (ja) * 2018-12-19 2020-07-15 Nissha株式会社 タッチパネル、タッチパネルモジュールおよびタッチパネルの検査方法
CN110133430A (zh) * 2019-05-18 2019-08-16 叶勇 一种基于静电传感器的非接触式ict方法
JP7173925B2 (ja) * 2019-05-22 2022-11-16 花王株式会社 センサー付き吸収性物品の検査方法及び製造方法
JP7173924B2 (ja) * 2019-05-22 2022-11-16 花王株式会社 センサー付き吸収性物品の検査方法及び製造方法
WO2021079945A1 (ja) * 2019-10-25 2021-04-29 日本電産リード株式会社 基板検査方法、基板検査プログラム、及び基板検査装置
KR20220033655A (ko) 2020-09-09 2022-03-17 삼성전자주식회사 반도체 패키지

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62187258A (ja) * 1986-02-14 1987-08-15 Sumitomo Bakelite Co Ltd 回路板の検査方法
CA2049616C (en) * 1991-01-22 2000-04-04 Jacob Soiferman Contactless test method and system for testing printed circuit boards
JPH0627494A (ja) * 1992-02-14 1994-02-04 Inter Tec:Kk 薄膜トランジスタアクティブマトリクス基板の 検査方法及び装置
JPH06102295A (ja) 1992-07-28 1994-04-15 Hewlett Packard Co <Hp> 非接触型プローブおよび非接触電圧測定装置
JPH08146046A (ja) 1994-11-22 1996-06-07 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 非接触型電圧プローブ装置
JPH08160080A (ja) 1994-12-07 1996-06-21 Nec Corp 非接触型信号測定プローブ
US5517110A (en) * 1995-04-06 1996-05-14 Yentec Inc. Contactless test method and system for testing printed circuit boards
IL124961A (en) * 1998-06-16 2006-10-05 Orbotech Ltd Contactless test method and system
JP2995716B1 (ja) * 1999-01-19 1999-12-27 日本電産リード株式会社 基板の導通検査装置及びその導通検査方法
US6316949B1 (en) * 1999-01-19 2001-11-13 Nidec-Read Corporation Apparatus and method for testing electric conductivity of circuit path ways on circuit board
JP2000221227A (ja) * 1999-01-30 2000-08-11 Koperu Denshi Kk 導電パターン検査装置及び方法
US6900442B2 (en) * 1999-07-26 2005-05-31 Edge Medical Devices Ltd. Hybrid detector for X-ray imaging
JP2001221824A (ja) * 2000-02-10 2001-08-17 Oht Inc 検査装置及び検査方法、検査ユニット
KR20010106963A (ko) * 2000-05-24 2001-12-07 은탁 타이머ic에 의한 비접촉식 프로브를 이용한 비접촉스캔방식의 pdp전극패턴 검사장치 및 방법
US20030083537A1 (en) * 2001-02-28 2003-05-01 Vincent Ardizzone Bi-axial rotating magnetic therapeutic device
JP2002340989A (ja) * 2001-05-15 2002-11-27 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 測定方法、検査方法及び検査装置
JP4450143B2 (ja) * 2001-05-24 2010-04-14 オー・エイチ・ティー株式会社 回路パターン検査装置並びに回路パターン検査方法及び記録媒体
JP2002365325A (ja) * 2001-06-11 2002-12-18 Oht Inc 回路パターン検査装置並びに回路パターン検査方法及び記録媒体
JP2003035738A (ja) * 2001-07-19 2003-02-07 Omron Corp 部品実装基板の検査方法および部品実装基板用の検査装置
JP2003185695A (ja) * 2001-12-20 2003-07-03 Seiko Epson Corp 配線パターン検査方法および配線パターン検査装置
KR100491987B1 (ko) * 2002-09-25 2005-05-30 마이크로 인스펙션 주식회사 Pdp 패널의 유전체 검사장치
JP4246987B2 (ja) * 2002-11-27 2009-04-02 日本電産リード株式会社 基板検査装置および基板検査方法
JP3978178B2 (ja) * 2002-11-30 2007-09-19 オー・エイチ・ティー株式会社 回路パターン検査装置及び回路パターン検査方法
JP2004184385A (ja) * 2002-11-30 2004-07-02 Oht Inc 回路パターン検査装置及びパターン検査方法
JP4007597B2 (ja) * 2003-03-13 2007-11-14 キヤノン株式会社 静電容量センサ式計測装置
JP4562358B2 (ja) * 2003-07-04 2010-10-13 株式会社ユニオンアロー・テクノロジー 導電パターン検査装置
JP4586124B2 (ja) * 2003-07-10 2010-11-24 奇美電子股▲ふん▼有限公司 電気的接続部の非接触検査方法及び非接触検査装置
US7003412B2 (en) * 2003-09-17 2006-02-21 Rockwell Automation Technologies, Inc. Method and system for verifying voltage in an electrical system
JP2005208058A (ja) * 2003-12-26 2005-08-04 Oht Inc 回路パターン検査装置及び回路パターン検査方法
JP4394980B2 (ja) * 2004-01-30 2010-01-06 日本電産リード株式会社 基板検査装置及び基板検査方法
US7129719B2 (en) * 2004-06-01 2006-10-31 Samsung Techwin Co., Ltd. Apparatus for detecting defect in circuit pattern and defect detecting system having the same
JP2006200993A (ja) * 2005-01-19 2006-08-03 Oht Inc 回路パターン検査装置およびその方法
KR100796171B1 (ko) * 2006-07-20 2008-01-21 마이크로 인스펙션 주식회사 접촉식 싱글사이드 프로브와 이를 이용한 도선의 단선 및단락 검사장치 및 그 방법

Also Published As

Publication number Publication date
TW200806994A (en) 2008-02-01
KR20080008689A (ko) 2008-01-24
US7746086B2 (en) 2010-06-29
JP5131962B2 (ja) 2013-01-30
CN101109782A (zh) 2008-01-23
US20080018339A1 (en) 2008-01-24
KR100799161B1 (ko) 2008-01-29
CN101109782B (zh) 2011-08-17
JP2008026320A (ja) 2008-02-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI345060B (en) Noncontact type single side probe device and apparatus and method for testing open or short circuits of pattern electrodes using the same
US7710131B1 (en) Non-contact circuit analyzer
KR100796171B1 (ko) 접촉식 싱글사이드 프로브와 이를 이용한 도선의 단선 및단락 검사장치 및 그 방법
JP4889833B2 (ja) 静電容量式タッチパネルの検査装置、及び検査方法
KR100599499B1 (ko) 기판검사 장치 및 기판검사 방법
TWI289674B (en) Device for inspecting a conductive pattern
CN107430148B (zh) 利用扫描探针显微镜对特征成像的方法
EP3908808B1 (en) Probe systems and methods for calibrating capacitive height sensing measurements
CN103487955B (zh) 一种短路测量方法
KR20100067618A (ko) 회로 패턴 검사 장치 및 그 회로 패턴 검사 방법
KR100630005B1 (ko) 비파괴 검사 장치 및 검사 방법
JP2011060021A (ja) 静電容量式タッチパネルの検査装置、検査方法、及び検査シート
JP4738244B2 (ja) 電力量計検査装置
KR20080098088A (ko) 비접촉 싱글사이드 프로브와 이를 이용한 패턴전극의 단선및 단락 검사장치 및 그 방법
JP2012149914A (ja) プリント基板劣化検査装置および劣化検査方法
CN103033719A (zh) 非接触型探测器
CN100368762C (zh) 导电体检查装置及导电体检查方法
CN106124832A (zh) 一种元器件饱和电流的量测方法和量测***
JP5122512B2 (ja) 回路パターン検査装置
CN104237720A (zh) 用于半导体封装的电容测试方法、装置和***
Preda et al. Low-cost impedance analyzer and IDC sensors: an imperfect tool for dielectric condition monitoring
CN110133430A (zh) 一种基于静电传感器的非接触式ict方法
KR100948062B1 (ko) 비접촉 싱글사이드 프로브
KR20040024250A (ko) 평면 표시 장치의 전계 검사 장치 및 그 방법
KR101271439B1 (ko) 정전용량형 차동센서모듈 및 이를 이용한 디스플레이 패널의 검사장치

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees