JPH03293756A - 半導体装置用リードフレーム及びその製造方法 - Google Patents

半導体装置用リードフレーム及びその製造方法

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JPH03293756A
JPH03293756A JP2094952A JP9495290A JPH03293756A JP H03293756 A JPH03293756 A JP H03293756A JP 2094952 A JP2094952 A JP 2094952A JP 9495290 A JP9495290 A JP 9495290A JP H03293756 A JPH03293756 A JP H03293756A
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Kazuhisa Okada
和久 岡田
Akihiro Okamoto
昭宏 岡本
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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ この発明は、半導体装置用リードフレーム及びその製造
方法、特に、モールドパッケージICにおけるモールド
樹脂の内部クラックの発生を防止するリードフレーム及
びその製造方法に関するものである。
[従来の技術] 第8図は従来のモールドパッケージICのリードフレー
ムを示す平面図であり、図において、リードフレーム(
1)は、電極端子となる外側リード部(2)と、モール
ド樹脂で覆われる内側リート部(3)とを含む。内側リ
ード部(3)の中央には、半導体素子すなわちICチッ
プ(4)が上部に載置されるダイスパッド(5)が設け
られている。なお、(6)及び(7)はそれぞれ1本の
内側リード及び外側リードである。
従来のリードフレーム(1)は上述したように構成され
、ダイスパッド(5)の端部及び外側リード(7)を拡
大して示すとそれぞれ第9図及び第10図のようになる
。さらに、第9図に示したダイスパッド(5)の端部を
A−A線に沿って切断した断面は第11図のようになり
、第10図に示した外側リード(7)をB−B線に沿っ
て切断した断面は第12図に示すようになる。これらの
図に示すように、外側リードく7)の断面は、上底が下
底より長い台形形状である。これは、ICチップ(4)
をモールド樹脂で封止した後に流れ出た樹脂を除去する
際に、上面から打ち抜き等により除去し易い形状とした
ものである。なお、ダイスパッド(5)の断面も同様な
台形形状である。
[発明が解決しようとする課題] 上述したようなリードフレーム(1)では、第13図に
示すように半導体素子く4)及びリードフレーム(1)
全体をモールド樹脂(8)で封止し、その後第14図に
示すように、外側リード(7)間に流れ出たモールド樹
脂(8)を第15図のように圧力(9)をかけて取り除
き易くするために、外側リード(7)の断面を上底が下
底より長い台形形状としていた。このようなリードフレ
ーム(1)は、リードフレーム(1)の上面より下面の
方がやや小さt)マスクをその全体に用い、リードフレ
ーム(1)を全面エツチングすることにより製造されて
いた。
従って、ダイスパッド(5)を含む内側リード(6)も
全てその断面は上底が下底より長い台形形状であった。
その結果、モールド樹脂(8)の収縮による応力と、製
品ICとして使用中における内的、外的温度ストレスと
により、第16図に示すようにモールド樹脂(8)内に
クラック(10)が入り易いという問題点があった。
この発明は、このような問題点を解決するためになされ
たもので、外側リード(7)間に流れ出た不用なモール
ド樹脂(8)を取り除き易く、かつ、ダイスパッド(5
)の端面に応力の集中がなく、従って、モールド樹脂(
8)にクラックが発生することのないリードフレームを
得ることを目的とする。
口課題を解決するための手段] この発明に係るリードフレームは、ダイスバット及び内
側リードの端部をエツジのない滑らかな形状とし、外側
リードの断面を上底が下底より長い台形形状としたもの
である。
また、この発明の別の発明に係るリードフレームの製造
方法は、ダイスパッドの上面及び下面並びに内側リード
の上面及び下面にそれぞれ所定の同じ大きさのマスクを
配置すると共に、外側リードの上面に所定の大きさのマ
スクを配置しその下面には上面に配置したマスクよりや
や小さいマスクを配置し、次いで上記ダイスパッド、内
側リード及び外側リードをエツチングするものである。
[作 用] この発明においては、ダイスパッド及び内側リードの端
部はエツジのない滑らかな形状であるため、内的、外的
温度ストレスによっても応力集中がなく、モールド樹脂
にクラックが発生せず、信頼性の高いIC製品が得られ
る。
[実施例] 第1図はこの発明の一実施例による半導体装置用リード
フレームを示す平面図であり、リードフレーム(11〉
は、電極端子となる外側リード部(12)と モールド
樹脂4脂で躍り引A内百II+−ド(13)部とを含む
。内側リード部(13)の中央には、半導体素子すなわ
ちICチップ(14)が載置されるダイスパッド(15
)が設けられている。なお、(16)及び(17)はそ
れぞれ1本の内側リード及び外側リードである。
上述したように構成されたリードフレーム(11)にお
いて、ダイスパッド(15)の端部及び外側リード(1
7)を拡大して示すとそれぞれ第2図及び第3図のよう
になる。さらに、第2図に示したタイスパント(15)
の端部をA−A線に沿って切断した断面は第4図のよう
になり、第3図に示した外側リード(17)をB−B線
に沿って切断した断面を第5図に示す。
ダイスパッド(15)の端部(15a)は、第4図に示
すように鋭利な突起部がなく滑らかなエツジのない形状
である。従って、ICチップ(14)をダイスバ・ソド
(15)上に載置してモールド樹脂で覆った後に製品I
Cとして使用した場合にも、ダイスパッド(15)の端
部に応力が集中せずモールド樹脂C団子I、ない)にク
ラ・ツクが発子i、たいまた、内側リード(13)の端
部も同様に端部はエツジのない滑らかな形状であり、モ
ールド樹脂にクラックが発生するのを防止する。さらに
、外側リード(12)の断面は、上底が下底より長い台
形状である。これは、ICチップ(14)をモールド樹
脂で封止した後に流れ出た樹脂を除去する際に、上面か
ら打ち抜き等により除去し易い形状としたものである。
上述したようなリードフレーム(11)は、次のように
して製造される。すなわち、ダイスパッド(15)の上
面及び下面並びに内側リード部(13)の上面及び下面
にそれぞれ所定の同じ大きさのマスクを配置する。また
、外側リード部(12)の上面に所定の大きさのマスク
を配置しその下面には上面に配置したマスクよりやや小
さいマスクを配置する1次いで、ダイスパッド(15)
、内側リード部(13)及び外側リード部(12)を全
面エツチングすることによりリードフレーム(11)を
製造する。
なお、上述した実施例では、ダイスパッド(15)及び
内側リード(16)の端部を共に工・ンジのない滑らか
な形状としたが、ダイスノ<・ンド(15)の端部のみ
をエツジのない形状としてもよく、モールド樹脂にクラ
・ンクが発缶するのを十分に防止することができる。
また、ダイスパッドの端部のエツチング条件によっては
、第6図及び第7図に示すように、端部(15b)のよ
うにダイスパッド(15)の断面中央部に突起(15e
)を生ずる場合もあるが、モールド樹脂のクラックは十
分に防止することができる。
[発明の効果] この発明は、以上説明したとおり、半導体素子を上部に
載置し端部はエツジのない滑らかな形状であるダイスパ
ッドと、このダイスパッドの周囲に配置され端部はエツ
ジのない滑らかな形状である内側リードと、この内側リ
ードに接続され断面は上底が下底より長い台形形状であ
る外側リードとを備えたので、外側リード間に流れ出た
不用なモールド樹脂を取り除き易く、かつ、モールド樹
脂にクラックの発生がなく、製造された製品ICの品質
の向上が図られるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による半導体装置用リード
フレームを示す平面図、第2図は第1図に示したリード
フレームのダイスパッドの端部拡大図、第3図は第1図
に示したリードフレームの外側リードの拡大斜視図、第
4図は第2図に示したダイスパッドのA−A線に沿った
断面図、第5図は第3図に示した外側リードのB−B線
に沿った断面図、第6図はこの発明の他の実施例による
リードフレームのダイスパッド端部の断面図、第7図は
この発明の他の実施例による外側リードの断面図、第8
図は従来の半導体装置用リードフレームを示す平面図、
第9図は第8図に示したリードフレームのダイスパッド
の端部拡大図、第10図は第8図に示したリードフレー
ムの外側リードの拡大斜視図、第11図は第9図に示し
たダイスパッドのA−A線に沿った断面図、第12図は
第10図に示した外側リードのB−B線に沿った断面図
、第13図は半導体素子及びリードフレームをモールド
樹脂で封止した状態を示す側面断面図、第14図は外側
リードにモールド樹脂が詰まっている状態を示す側面断
面図、第15図は側面リードに詰まったモールド樹脂を
除去する状態を示す側面断面図、第16図はモールド樹
脂にクラ・7りが発生している状態を示す側面断面図で
ある。 図において、(11)はリードフレーム、(12)は外
側リード部、(13)は内側リード部、(14)はIC
チップ、(15)はダイスパッド、(15a)(15b
)は端部、(15c)は突起、(16)は内側リード、
(17)は外側リートである。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 代  理  人   曾  我  道  照兜1図 昂8図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体素子を上部に載置し端部はエッジのない滑
    らかな形状であるダイスパッドと、このダイスパッドの
    周囲に配置され端部はエッジのない滑らかな形状である
    内側リードと、この内側リードに接続され断面は上底が
    下底より長い台形形状である外側リードとを備えたこと
    を特徴とする半導体装置用リードフレーム。
  2. (2)ダイスパッドの上面及び下面並びに内側リードの
    上面及び下面にそれぞれ所定の同じ大きさのマスクを配
    置し、外側リードの上面に所定の大きさのマスクを配置
    し下面には上面に配置したマスクよりやや小さいマスク
    を配置し、次いで、上記ダイスパッド、内側リード及び
    外側リードをエッチングすることを特徴とする半導体装
    置用リードフレームの製造方法。
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US07/535,070 US5083186A (en) 1990-04-12 1990-06-08 Semiconductor device lead frame with rounded edges
KR1019910005673A KR910019192A (ko) 1990-04-12 1991-04-09 반도체장치용 리드프레임 및 그 제조방법

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013024561A1 (ja) * 2011-08-12 2013-02-21 シャープ株式会社 発光装置
JP2016105506A (ja) * 2016-02-24 2016-06-09 シャープ株式会社 発光装置

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0503072B1 (en) * 1990-09-10 1997-12-17 Fujitsu Limited Semiconductor device and its manufacturing process
KR100552353B1 (ko) * 1992-03-27 2006-06-20 가부시키가이샤 히타치초엘에스아이시스템즈 리이드프레임및그것을사용한반도체집적회로장치와그제조방법
JPH06196603A (ja) * 1992-12-23 1994-07-15 Shinko Electric Ind Co Ltd リードフレームの製造方法
JPH06275764A (ja) * 1993-03-19 1994-09-30 Fujitsu Miyagi Electron:Kk リードフレーム及びそのリードフレームを用いた半導体装置の製造方法
JPH06318589A (ja) * 1993-05-10 1994-11-15 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
JP4279207B2 (ja) * 2004-06-18 2009-06-17 アルプス電気株式会社 入力装置およびこの入力装置を用いた表示入力装置
DE102018128109A1 (de) 2018-11-09 2020-05-14 Infineon Technologies Ag Ein clip mit einem diebefestigungsabschnitt, der konfiguriert ist, um das entfernen von hohlräumen beim löten zu fördern

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60123047A (ja) * 1983-12-07 1985-07-01 Toshiba Corp 半導体装置
JPS61156845A (ja) * 1984-12-28 1986-07-16 Mitsubishi Electric Corp 樹脂封止型半導体装置用リ−ドフレ−ム
JPS61241957A (ja) * 1985-04-19 1986-10-28 Hitachi Yonezawa Denshi Kk リードフレームの製造方法およびリードフレームを用いた半導体装置の製造方法
JPH01251747A (ja) * 1988-03-31 1989-10-06 Toshiba Corp 半導体装置およびその製造方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53132975A (en) * 1977-04-26 1978-11-20 Toshiba Corp Semiconductor device
JPS61259556A (ja) * 1985-05-13 1986-11-17 Sumitomo Electric Ind Ltd Ic用リ−ドフレ−ム
US4707418A (en) * 1985-06-26 1987-11-17 National Semiconductor Corporation Nickel plated copper tape
JPS6337954A (ja) * 1986-08-01 1988-02-18 Canon Inc 液体噴射記録装置
US4942452A (en) * 1987-02-25 1990-07-17 Hitachi, Ltd. Lead frame and semiconductor device
JPH01186662A (ja) * 1988-01-14 1989-07-26 Mitsui High Tec Inc 半導体装置用リードフレーム
JPH02105559A (ja) * 1988-10-14 1990-04-18 Toppan Printing Co Ltd リードフレームおよびその製造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60123047A (ja) * 1983-12-07 1985-07-01 Toshiba Corp 半導体装置
JPS61156845A (ja) * 1984-12-28 1986-07-16 Mitsubishi Electric Corp 樹脂封止型半導体装置用リ−ドフレ−ム
JPS61241957A (ja) * 1985-04-19 1986-10-28 Hitachi Yonezawa Denshi Kk リードフレームの製造方法およびリードフレームを用いた半導体装置の製造方法
JPH01251747A (ja) * 1988-03-31 1989-10-06 Toshiba Corp 半導体装置およびその製造方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013024561A1 (ja) * 2011-08-12 2013-02-21 シャープ株式会社 発光装置
JP2013041951A (ja) * 2011-08-12 2013-02-28 Sharp Corp 発光装置
CN103636013A (zh) * 2011-08-12 2014-03-12 夏普株式会社 发光装置
US9331254B2 (en) 2011-08-12 2016-05-03 Sharp Kabushiki Kaisha Light emitting device
US9537072B2 (en) 2011-08-12 2017-01-03 Sharp Kabushiki Kaisha Light emitting device, lead frame and resin cavity molding package
CN109786536A (zh) * 2011-08-12 2019-05-21 日亚化学工业株式会社 发光装置
CN109786536B (zh) * 2011-08-12 2021-09-28 日亚化学工业株式会社 发光装置
JP2016105506A (ja) * 2016-02-24 2016-06-09 シャープ株式会社 発光装置

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Publication number Publication date
KR910019192A (ko) 1991-11-30
US5083186A (en) 1992-01-21

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