JP2014521221A5 - - Google Patents

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Claims (30)

  1. 超小型電子パッケージにおいて、
    反対側に面する第1の表面および第2の表面と、該第1の表面において露出する複数の端子と、を有する基板であって、前記端子は、前記超小型電子パッケージを該パッケージの外部にある少なくとも1つの構成要素に接続するように構成される、基板と、
    前記基板の第2の表面に面する面をそれぞれ有する第1の超小型電子素子及び第2の超小型電子素子と、
    前記パッケージの端子と前記第1の超小型電子素子及び前記第2の超小型電子素子とを電気的に結合する接続と、を備え、該接続はそれぞれの信号を搬送する接続群を含み、各接続群は、前記パッケージのそれぞれの端子から前記第1の超小型電子素子上の対応するコンタクトまで延在する第1の接続と、前記それぞれの端子から前記第2の超小型電子素子上の対応するコンタクトまで延在する第2の接続と、を含み、前記第1の接続及び前記第2の接続は、各接続群内の前記第1の接続及び前記第2の接続によって搬送されるそれぞれの信号が、前記それぞれの端子と該端子に結合される前記対応するコンタクトのそれぞれとの間で同じ持続時間の伝搬遅延を受けるように構成され、
    前記信号は、複数のアドレス信号と、該アドレス信号をサンプリングするのに使用可能なサンプリング信号と、を含む、超小型電子パッケージ。
  2. それぞれの接続群内の前記接続の全電気長間の差は、そのような接続群によって結合される前記端子とそれぞれのコンタクトとの間の直線に沿った距離が10%より大きく異なる場合であっても、10パーセント以下である、請求項1に記載の超小型電子パッケージ。
  3. 整合した遅延は、前記基板上のトレースに対する導体の間隔の差から少なくとも部分的に生じる、請求項1に記載の超小型電子パッケージ。
  4. 前記端子に隣接しかつ電気的に接続されるパネルコンタクトを有する回路パネルを更に備える請求項1に記載の超小型電子パッケージを含む超小型電子アセンブリであって、前記回路パネルは、前記超小型電子素子への各接続群によって搬送される信号が、前記基板及び前記回路パネルを通して同じ持続時間の遅延を受けるように、遅延整合を提供するよう構成された導電性素子を有する、超小型電子アセンブリ。
  5. 前記信号のうちの少なくとも1つは、クロック信号、コマンド信号、またはコマンドストローブ信号である、請求項1に記載の超小型電子パッケージ。
  6. 各接続群内の前記第1の接続及び前記第2の接続上の前記それぞれの信号の伝搬遅延の同じ持続時間は、当該信号のサイクル時間の10パーセントの許容範囲内にある、請求項1に記載の超小型電子パッケージ。
  7. 前記基板を用いて固定される第3の超小型電子素子を更に備え、前記接続群のうちの少なくとも1つは、前記それぞれの信号を前記第3の超小型電子素子に搬送するように、前記それぞれの端子を前記第3の超小型電子素子の対応するコンタクトに電気的に結合する第3の接続を含み、前記第1の接続、前記第2の接続、及び前記第3の接続によって搬送される信号は、前記それぞれの端子と、該端子に結合される前記対応するコンタクトのそれぞれとの間で同じ持続時間の伝搬遅延を受ける、請求項1に記載の超小型電子パッケージ。
  8. 前記基板を用いて固定される第4の超小型電子素子を更に備え、前記接続群のうちの少なくとも1つは、前記それぞれの信号を前記第4の超小型電子素子に搬送するように、前記それぞれの端子を前記第4の超小型電子素子の対応するコンタクトに電気的に結合する第4の接続を含み、前記第1の接続、前記第2の接続、前記第3の接続、及び前記第4の接続によって搬送される信号は、前記それぞれの端子と、該端子に結合される前記対応するコンタクトのそれぞれとの間で同じ持続時間の伝搬遅延を受ける、請求項7に記載の超小型電子パッケージ。
  9. 前記基板は前記第1の表面を画定する縁部を有し、該第1の表面はその中央部分を占有する中央領域と、前記中央部分と前記縁部の少なくとも1つとの間の前記第1の表面の一部を占有する第2の領域とを有し、前記端子は、前記中央領域において露出する第1の端子と、前記第2の領域において露出する第2の端子とを含み、前記接続群は前記第1の端子と前記対応するコンタクトとを結合し、
    前記超小型電子パッケージは、前記第2の端子と前記超小型電子素子のコンタクトとを電気的に結合する更なる接続を含む、請求項1に記載の超小型電子パッケージ。
  10. 前記基板は、前記第1の表面と前記第2の表面との間に延在する少なくとも第1の開口部及び第2の開口部を有し、該開口部は、互いに対して平行な軸に沿って延在する長さを有する長寸法を有し、
    前記中央領域は前記第1の開口部及び前記第2の開口部によって少なくとも部分的に画定され、前記接続は、前記第1の開口部又は前記第2の開口部のうちの少なくとも1つと位置合わせされる部分を有するリードを含む、請求項9に記載の超小型電子パッケージ。
  11. 前記基板を用いてそれぞれ固定される第3の超小型電子素子及び第4の超小型電子素子を更に備え、前記接続群のうちの少なくとも1つは、前記第3の超小型電子素子及び前記第4の超小型電子素子に前記それぞれの信号を搬送するように、前記それぞれの端子を前記第3の超小型電子素子及び前記第4の超小型電子素子の対応するコンタクトに電気的に結合する第3の接続及び第4の接続を含み、前記第1の接続、前記第2の接続、前記第3の接続、及び前記第4の接続によって搬送される信号は、前記それぞれの端子と、該端子に結合される前記対応するコンタクトのそれぞれとの間で同じ持続時間の伝搬遅延を受け、
    前記平行な軸は第1の平行な軸であり、
    前記基板は、前記第1の表面と前記第2の表面との間に延在する第3の開口部及び第4の開口部を更に含み、前記第3の開口部及び前記第4の開口部は、互いに平行な第2の軸に沿って延在する長さを有する長寸法を有し、前記第2の平行な軸は前記第1の平行な軸を横切り、
    前記中央領域は、前記第3の開口部及び前記第4の開口部によって少なくとも部分的に画定され、前記接続は、前記第3の開口部又は前記第4の開口部のうちの少なくとも1つと位置合わせされる部分を有するリードを含む、請求項10に記載の超小型電子パッケージ。
  12. 前記開口部のうちの少なくとも1つと位置合わせされる部分を有する前記リードは、ワイヤボンドを含む、請求項11に記載の超小型電子パッケージ。
  13. 前記第1の超小型電子素子、前記第2の超小型電子素子、前記第3の超小型電子素子、及び前記第4の超小型電子素子は、それぞれ主にメモリ記憶機能を提供するように構成される、請求項12に記載の超小型電子パッケージ。
  14. 前記基板を用いてそれぞれ固定される第3の超小型電子素子及び第4の超小型電子素子を更に備え、前記接続群のうちの少なくとも1つは、前記第3の超小型電子素子及び前記第4の超小型電子素子に前記それぞれの信号を搬送するように、前記それぞれの端子を前記第3の超小型電子素子及び前記第4の超小型電子素子の対応するコンタクトに電気的に結合する第3の接続及び第4の接続を含み、前記第1の接続、前記第2の接続、前記第3の接続、及び前記第4の接続によって搬送される信号は、前記それぞれの端子と、該端子に結合される前記対応するコンタクトのそれぞれとの間で同じ持続時間の伝搬遅延を受け、
    前記第1の表面の中央領域は第1の平行な軸と、該第1の平行な軸を横切る第2の平行な軸とによって画定され、各第1の平行な軸は前記第1の超小型電子素子及び前記第2の超小型電子素子のうちの一方の超小型電子素子の面積をそれぞれ二等分し、前記第1の超小型電子素子及び前記第2の超小型電子素子のそれぞれの超小型電子素子の対向する第1の縁部及び第2の縁部に対して平行な方向に延在し、各第2の平行な軸は前記第3の超小型電子素子及び前記第4の超小型電子素子のうちの一方の超小型電子素子の面積をそれぞれ二等分し、前記第3の超小型電子素子及び前記第4の超小型電子素子のそれぞれの超小型電子素子の対向する第1の縁部及び第2の縁部に対して平行な方向に延在する、請求項9に記載の超小型電子パッケージ。
  15. 前記基板は、前記超小型電子素子に面する前記第2の表面において露出するコンタクトを有し、前記超小型電子素子のコンタクトは基板コンタクトに面し、該基板コンタクトに接合される、請求項14に記載の超小型電子パッケージ。
  16. 前記第1の平行な軸は、それぞれ前記第3の超小型電子素子又は前記第4の超小型電子素子のうちの厳密に一方を横切り、前記第2の平行な軸は、それぞれ前記第1の超小型電子素子又は前記第2の超小型電子素子のうちの厳密に一方を横切る、請求項14に記載の超小型電子パッケージ。
  17. 前記第1の端子の少なくとも幾つかは、前記第1の超小型電子素子または前記第2の超小型電子素子の前記面のうちの少なくとも1つの上に重なる、請求項9に記載の超小型電子パッケージ。
  18. 前記第1の超小型電子素子及び前記第2の超小型電子素子は、前記基板の表面に対して平行な方向において互いに離間して配置される、請求項1に記載の超小型電子パッケージ。
  19. 前記基板は、前記第1の表面と前記第2の表面との間の前記基板を貫通して延在する少なくとも1つの開口部を有し、前記第2の超小型電子素子は、該第2の超小型電子素子のコンタクトが該第2の超小型電子素子の前記面において露出され且つ前記第1の超小型電子素子の縁部を越えて配置されるように、前記第1の超小型電子素子の上に部分的に重なり、前記第2の超小型電子素子の前記対応するコンタクトへの接続は、前記少なくとも1つの開口部と位置合わせされる部分を有するリードを含む、請求項1に記載の超小型電子パッケージ。
  20. 前記少なくとも1つの開口部は、第1のボンド窓及び第2のボンド窓を含み、前記接続は、前記第1の超小型電子素子の前記面において露出するコンタクトに結合される第1のリードであって、前記第1のボンド窓と位置合わせされる部分を有する第1のリードと、前記第2のボンド窓と位置合わせされる部分を有する、前記第2の超小型電子素子に結合される第2のリードと、を含む、請求項19に記載の超小型電子パッケージ。
  21. 前記第1のリード及び前記第2のリードが結合される前記端子のうちの少なくとも幾つかは、前記第1のボンド窓と前記第2のボンド窓との間の前記第1の表面において露出される、請求項20に記載の超小型電子パッケージ。
  22. 前記第1の超小型電子素子は、その前面において、かつ該前面とは反対側の背面においてコンタクトを有し、前記第1の超小型電子素子の前記面は、その背面であり、かつ前記基板の前記第2の表面に装着され、リードは、前記コンタクトと前記基板の第2の表面において露出するコンタクトとの間に接続されるワイヤボンドを含む、請求項1に記載の超小型電子パッケージ。
  23. 前記第1の超小型電子素子又は前記第2の超小型電子素子の少なくとも一方はメモリ記憶アレイを含み、前記第1の超小型電子素子又は前記第2の超小型電子素子の少なくとも一方はマイクロコントローラを含む、請求項1に記載の超小型電子パッケージ。
  24. 前記第2の超小型電子素子の前記面は前記第1の超小型電子素子及び前記基板に面し、前記第2の超小型電子素子の前記面は、前記第2の超小型電子素子の対向する第1の周縁部及び第2の周縁部にそれぞれ隣接する第1の周辺領域及び第2の周辺領域を有し、前記第2の超小型電子素子のコンタクトは、前記第1の周辺領域と前記第2の周辺領域との間の前記第2の超小型電子素子の前記面の中央領域に配置され、該中央領域、前記第1の周辺領域、及び前記第2の周辺領域は、前記中央領域が前記第1の周縁部と前記第2の周縁部との間の最短距離における3分の1の中央部を占有するように、前記第1周縁部と前記第2の周縁部との間の方向において等しい幅を有する、請求項19に記載の超小型電子パッケージ。
  25. 前記基板に面する前記第1の超小型電子素子の前記面は、前記第1の超小型電子素子の対向する第1の周縁部及び第2の周縁部にそれぞれ隣接する第1の周辺領域及び第2の周辺領域を有し、前記第1の超小型電子素子のコンタクトは、前記第1の超小型電子素子の前記第1の周辺領域と前記第2の周辺領域との間の前記第1の超小型電子素子の前記面の中央領域に配置され、前記第1の超小型電子素子の前記中央領域、前記第1の周辺領域、および前記第2の周辺領域は、前記第1の超小型電子素子の中央領域が、該第1の超小型電子素子の前記第1の周縁部と前記第2の周縁部との間の最短距離における3分の1の中央部を占有するように、前記第1の超小型電子素子の前記第1の周縁部と前記第2の周縁部との間の方向において等しい幅を有する、請求項24に記載の超小型電子パッケージ。
  26. 前記第1のリードは、前記第2のボンド窓と位置合わせされた部分を有せず、前記第2のリードは、前記第1のボンド窓と位置合わせされた部分を有さない、請求項21に記載の超小型電子パッケージ。
  27. 前記端子の少なくとも幾つかは、前記超小型電子素子うちの少なくとも1つの下に重なる、請求項26に記載の超小型電子パッケージ。
  28. 前記端子の少なくとも幾つかは、前記第1の超小型電子素子の縁部と前記第2の超小型電子素子の隣接する縁部との間の間隔と位置合わせされた前記基板の前記第1の表面の一部において露出される、請求項26に記載の超小型電子パッケージ。
  29. 超小型電子パッケージを作製する方法であって、
    反対側に面する第1の表面及び第2の表面を有する基板の該第1の表面において露出する複数の端子と、第1の超小型電子素子及び第2の超小型電子素子と、を結合する電気的接続を形成するステップであって、前記第1の超小型電子素子及び前記第2の超小型電子素子は、前記基板の前記第2の表面に面する面を有し、前記端子は、前記超小型電子パッケージを該パッケージの外部にある少なくとも1つの構成要素に接続するように構成される、ステップ、
    を含み、
    前記接続はそれぞれの信号を搬送する接続群を含み、各接続群は、前記パッケージのそれぞれの端子から前記第1の超小型電子素子上の対応するコンタクトまで延在する第1の接続と、前記それぞれの端子から前記第2の超小型電子素子上の対応するコンタクトまで延在する第2の接続と、を含み、前記第1の接続及び前記第2の接続は、各接続群内の前記第1の接続及び前記第2の接続によって搬送されるそれぞれの信号が、前記それぞれの端子と、該端子に結合される前記対応するコンタクトのそれぞれとの間で同じ持続時間の伝搬遅延を受けるように構成され、
    前記基板は前記第1の表面を画定する縁部を有し、該第1の表面はその中央部分を占有する中央領域と、前記中央部分と前記縁部の少なくとも1つとの間の前記第1の表面の一部を占有する第2の領域と、を有し、前記端子は、前記中央領域において露出する第1の端子と、前記第2の領域において露出する第2の端子と、を含み、
    前記接続群は、前記第1の端子と前記対応するコンタクトとを結合し、
    前記超小型電子パッケージは、前記第2の端子と前記超小型電子素子のコンタクトとを電気的に結合する更なる接続を含む、方法。
  30. 超小型電子パッケージを作製する方法であって、
    反対側に面する第1の表面及び第2の表面を有する基板の該第1の表面に配置された複数の端子と、第1の超小型電子素子及び第2の超小型電子素子と、を結合する電気的接続を形成するステップであって、前記第1の超小型電子素子及び前記第2の超小型電子素子は、前記基板の前記第2の表面に面する面を有し、前記端子は、前記超小型電子パッケージを該パッケージの外部にある少なくとも1つの構成要素に接続するように構成される、ステップ、
    を含み、
    前記接続はそれぞれの信号を搬送する接続群を含み、各接続群は、前記パッケージのそれぞれの端子から前記第1の超小型電子素子上の対応するコンタクトまで延在する第1の接続と、前記それぞれの端子から前記第2の超小型電子素子上の対応するコンタクトまで延在する第2の接続と、を含み、前記第1の接続及び前記第2の接続は、各接続群内の前記第1の接続及び前記第2の接続によって搬送されるそれぞれの信号が、前記それぞれの端子と、該端子に結合される前記対応するコンタクトのそれぞれとの間で同じ持続時間の伝搬遅延を受けるように構成され、
    前記基板は、前記第1の表面と前記第2の表面との間の前記基板を貫通して延在する少なくとも1つの開口部を有し、前記第2の超小型電子素子は、該第2の超小型電子素子の前記面において露出する該第2の超小型電子素子のコンタクトが前記第1の超小型電子素子の縁部を越えて配置されるように、前記第1の超小型電子素子の上に部分的に重なり、前記第2の超小型電子素子の前記対応するコンタクトへの接続は、前記少なくとも1つの開口部と位置合わせされる部分を有するリードを含む、方法。
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Families Citing this family (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8553420B2 (en) 2010-10-19 2013-10-08 Tessera, Inc. Enhanced stacked microelectronic assemblies with central contacts and improved thermal characteristics
US8970028B2 (en) 2011-12-29 2015-03-03 Invensas Corporation Embedded heat spreader for package with multiple microelectronic elements and face-down connection
US8928153B2 (en) 2011-04-21 2015-01-06 Tessera, Inc. Flip-chip, face-up and face-down centerbond memory wirebond assemblies
US8952516B2 (en) 2011-04-21 2015-02-10 Tessera, Inc. Multiple die stacking for two or more die
US8633576B2 (en) * 2011-04-21 2014-01-21 Tessera, Inc. Stacked chip-on-board module with edge connector
US9013033B2 (en) 2011-04-21 2015-04-21 Tessera, Inc. Multiple die face-down stacking for two or more die
US8502390B2 (en) * 2011-07-12 2013-08-06 Tessera, Inc. De-skewed multi-die packages
US8823165B2 (en) 2011-07-12 2014-09-02 Invensas Corporation Memory module in a package
US8659141B2 (en) 2011-10-03 2014-02-25 Invensas Corporation Stub minimization using duplicate sets of terminals for wirebond assemblies without windows
US8610260B2 (en) 2011-10-03 2013-12-17 Invensas Corporation Stub minimization for assemblies without wirebonds to package substrate
US8659143B2 (en) 2011-10-03 2014-02-25 Invensas Corporation Stub minimization for wirebond assemblies without windows
JP5887414B2 (ja) 2011-10-03 2016-03-16 インヴェンサス・コーポレイション 平行な窓を有するマルチダイのワイヤボンドアセンブリのスタブ最小化
US8659139B2 (en) 2011-10-03 2014-02-25 Invensas Corporation Stub minimization using duplicate sets of signal terminals in assemblies without wirebonds to package substrate
KR20140069343A (ko) 2011-10-03 2014-06-09 인벤사스 코포레이션 패키지의 중심으로부터 옵셋된 단자 그리드를 구비하는 스터드 최소화
TWI501254B (zh) 2011-10-03 2015-09-21 Invensas Corp 用於具有正交窗之多晶粒導線結合總成之短線最小化
US10136516B2 (en) * 2012-03-13 2018-11-20 Intel Corporation Microelectronic device attachment on a reverse microelectronic package
US8787034B2 (en) 2012-08-27 2014-07-22 Invensas Corporation Co-support system and microelectronic assembly
US9368477B2 (en) 2012-08-27 2016-06-14 Invensas Corporation Co-support circuit panel and microelectronic packages
US8848392B2 (en) 2012-08-27 2014-09-30 Invensas Corporation Co-support module and microelectronic assembly
US8848391B2 (en) 2012-08-27 2014-09-30 Invensas Corporation Co-support component and microelectronic assembly
US9070423B2 (en) 2013-06-11 2015-06-30 Invensas Corporation Single package dual channel memory with co-support
US9034696B2 (en) 2013-07-15 2015-05-19 Invensas Corporation Microelectronic assemblies having reinforcing collars on connectors extending through encapsulation
US8883563B1 (en) 2013-07-15 2014-11-11 Invensas Corporation Fabrication of microelectronic assemblies having stack terminals coupled by connectors extending through encapsulation
US9023691B2 (en) 2013-07-15 2015-05-05 Invensas Corporation Microelectronic assemblies with stack terminals coupled by connectors extending through encapsulation
US9123555B2 (en) 2013-10-25 2015-09-01 Invensas Corporation Co-support for XFD packaging
US9214454B2 (en) 2014-03-31 2015-12-15 Invensas Corporation Batch process fabrication of package-on-package microelectronic assemblies
JP2015216263A (ja) * 2014-05-12 2015-12-03 マイクロン テクノロジー, インク. 半導体装置
US9281296B2 (en) 2014-07-31 2016-03-08 Invensas Corporation Die stacking techniques in BGA memory package for small footprint CPU and memory motherboard design
RU2655678C1 (ru) * 2014-09-18 2018-05-29 Интел Корпорейшн Способ встраивания компонентов wlcsp в e-wlb и в e-plb
US9691437B2 (en) 2014-09-25 2017-06-27 Invensas Corporation Compact microelectronic assembly having reduced spacing between controller and memory packages
US9245870B1 (en) 2014-10-17 2016-01-26 Qualcomm Incorporated Systems and methods for providing data channels at a die-to-die interface
US9799628B2 (en) 2015-03-31 2017-10-24 Qualcomm Incorporated Stacked package configurations and methods of making the same
US9484080B1 (en) 2015-11-09 2016-11-01 Invensas Corporation High-bandwidth memory application with controlled impedance loading
US9679613B1 (en) 2016-05-06 2017-06-13 Invensas Corporation TFD I/O partition for high-speed, high-density applications
US10297575B2 (en) * 2016-05-06 2019-05-21 Amkor Technology, Inc. Semiconductor device utilizing an adhesive to attach an upper package to a lower die
US9991233B2 (en) 2016-07-22 2018-06-05 Invensas Corporation Package-on-package devices with same level WLP components and methods therefor
KR102509049B1 (ko) * 2016-08-22 2023-03-13 에스케이하이닉스 주식회사 수직 적층된 칩들을 포함하는 팬 아웃 패키지
US10424921B2 (en) 2017-02-16 2019-09-24 Qualcomm Incorporated Die-to-die interface configuration and methods of use thereof
WO2018220846A1 (ja) * 2017-06-02 2018-12-06 ウルトラメモリ株式会社 半導体モジュール
CN108364878B (zh) * 2018-02-01 2019-09-17 深圳市华讯方舟微电子科技有限公司 微组装方法及芯片装置

Family Cites Families (152)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3670208A (en) 1970-07-13 1972-06-13 Logic Dynamics Inc Microelectronic package, buss strip and printed circuit base assembly
JPS56107845A (en) * 1980-01-30 1981-08-27 Tokai Rubber Ind Ltd Method of press fitting aluminum pipe into aluminum piece
US5148265A (en) 1990-09-24 1992-09-15 Ist Associates, Inc. Semiconductor chip assemblies with fan-in leads
US5148266A (en) 1990-09-24 1992-09-15 Ist Associates, Inc. Semiconductor chip assemblies having interposer and flexible lead
US5679977A (en) 1990-09-24 1997-10-21 Tessera, Inc. Semiconductor chip assemblies, methods of making same and components for same
US5369552A (en) 1992-07-14 1994-11-29 Ncr Corporation Multi-chip module with multiple compartments
JPH0823149A (ja) 1994-05-06 1996-01-23 Seiko Epson Corp 半導体装置及びその製造方法
SE509201C2 (sv) 1994-07-20 1998-12-14 Sandvik Ab Aluminiumoxidbelagt verktyg
JP3487524B2 (ja) 1994-12-20 2004-01-19 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置及びその製造方法
US5929517A (en) 1994-12-29 1999-07-27 Tessera, Inc. Compliant integrated circuit package and method of fabricating the same
KR19990022014A (ko) 1995-05-26 1999-03-25 테이트 지오프 반도체 칩용 칩 파일 조립체 및 칩 소켓 조립체
JP3869045B2 (ja) 1995-11-09 2007-01-17 株式会社日立製作所 半導体記憶装置
US5696031A (en) 1996-11-20 1997-12-09 Micron Technology, Inc. Device and method for stacking wire-bonded integrated circuit dice on flip-chip bonded integrated circuit dice
TW312044B (en) * 1996-02-23 1997-08-01 Mitsubishi Electric Corp The semiconductor package
US6460245B1 (en) 1996-03-07 2002-10-08 Tessera, Inc. Method of fabricating semiconductor chip assemblies
JP2000512065A (ja) 1996-05-24 2000-09-12 テセラ,インコーポレイテッド 超小型電子素子のコネクタ
US6130116A (en) 1996-12-13 2000-10-10 Tessera, Inc. Method of encapsulating a microelectronic assembly utilizing a barrier
US6323436B1 (en) 1997-04-08 2001-11-27 International Business Machines Corporation High density printed wiring board possessing controlled coefficient of thermal expansion with thin film redistribution layer
JPH1143503A (ja) 1997-07-25 1999-02-16 Nippon Mektron Ltd 変性アクリル系ゴムの製造法
US6525414B2 (en) 1997-09-16 2003-02-25 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Semiconductor device including a wiring board and semiconductor elements mounted thereon
US5899705A (en) 1997-11-20 1999-05-04 Akram; Salman Stacked leads-over chip multi-chip module
US6343019B1 (en) 1997-12-22 2002-01-29 Micron Technology, Inc. Apparatus and method of stacking die on a substrate
US6742098B1 (en) 2000-10-03 2004-05-25 Intel Corporation Dual-port buffer-to-memory interface
US6261867B1 (en) 1998-03-13 2001-07-17 Stratedge Corporation Method of making a package for microelectronic devices using iron oxide as a bonding agent
US6197665B1 (en) 1998-04-15 2001-03-06 Tessera, Inc. Lamination machine and method to laminate a coverlay to a microelectronic package
US6297960B1 (en) 1998-06-30 2001-10-02 Micron Technology, Inc. Heat sink with alignment and retaining features
US6815251B1 (en) 1999-02-01 2004-11-09 Micron Technology, Inc. High density modularity for IC's
JP3914651B2 (ja) 1999-02-26 2007-05-16 エルピーダメモリ株式会社 メモリモジュールおよびその製造方法
JP2000315776A (ja) 1999-05-06 2000-11-14 Hitachi Ltd 半導体装置
US6376769B1 (en) 1999-05-18 2002-04-23 Amerasia International Technology, Inc. High-density electronic package, and method for making same
JP2000340737A (ja) 1999-05-31 2000-12-08 Mitsubishi Electric Corp 半導体パッケージとその実装体
KR100393095B1 (ko) 1999-06-12 2003-07-31 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 반도체패키지와 그 제조방법
US6252264B1 (en) 1999-07-30 2001-06-26 International Business Machines Corporation Integrated circuit chip with features that facilitate a multi-chip module having a number of the chips
JP2001053243A (ja) 1999-08-06 2001-02-23 Hitachi Ltd 半導体記憶装置とメモリモジュール
SG83742A1 (en) 1999-08-17 2001-10-16 Micron Technology Inc Multi-chip module with extension
US6255899B1 (en) * 1999-09-01 2001-07-03 International Business Machines Corporation Method and apparatus for increasing interchip communications rates
US6307769B1 (en) 1999-09-02 2001-10-23 Micron Technology, Inc. Semiconductor devices having mirrored terminal arrangements, devices including same, and methods of testing such semiconductor devices
JP2001203318A (ja) 1999-12-17 2001-07-27 Texas Instr Inc <Ti> 複数のフリップチップを備えた半導体アセンブリ
JP3768761B2 (ja) 2000-01-31 2006-04-19 株式会社日立製作所 半導体装置およびその製造方法
JP2001223324A (ja) * 2000-02-10 2001-08-17 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
US6713854B1 (en) 2000-10-16 2004-03-30 Legacy Electronics, Inc Electronic circuit module with a carrier having a mounting pad array
JP3967133B2 (ja) 2000-03-21 2007-08-29 三菱電機株式会社 半導体装置及び電子機器の製造方法
US6384473B1 (en) 2000-05-16 2002-05-07 Sandia Corporation Microelectronic device package with an integral window
TW445608B (en) 2000-05-19 2001-07-11 Siliconware Precision Industries Co Ltd Semiconductor package and manufacturing method thereof of lead frame without flashing
JP2001339043A (ja) 2000-05-30 2001-12-07 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置及びそれを用いた半導体モジュール
JP2002076252A (ja) 2000-08-31 2002-03-15 Nec Kyushu Ltd 半導体装置
US6462423B1 (en) * 2000-08-31 2002-10-08 Micron Technology, Inc. Flip-chip with matched lines and ground plane
US6577004B1 (en) 2000-08-31 2003-06-10 Micron Technology, Inc. Solder ball landpad design to improve laminate performance
JP3874062B2 (ja) 2000-09-05 2007-01-31 セイコーエプソン株式会社 半導体装置
US6980184B1 (en) 2000-09-27 2005-12-27 Alien Technology Corporation Display devices and integrated circuits
DE10055001A1 (de) 2000-11-07 2002-05-16 Infineon Technologies Ag Speicheranordnung mit einem zentralen Anschlussfeld
US20020122902A1 (en) 2000-11-30 2002-09-05 Tetsuji Ueda Blank for an optical member as well as vessel and method of producing the same
US6628528B2 (en) * 2000-11-30 2003-09-30 Theodore Zale Schoenborn Current sharing in memory packages
US6798044B2 (en) 2000-12-04 2004-09-28 Fairchild Semiconductor Corporation Flip chip in leaded molded package with two dies
US6528408B2 (en) 2001-05-21 2003-03-04 Micron Technology, Inc. Method for bumped die and wire bonded board-on-chip package
DE10126310B4 (de) 2001-05-30 2006-05-18 Infineon Technologies Ag Leiterplattenvorrichtung, deren Verwendung und Halbleiterspeichervorrichtung
KR100415281B1 (ko) 2001-06-29 2004-01-16 삼성전자주식회사 양면 실장형 회로 기판 및 이를 포함하는 멀티 칩 패키지
DE10139085A1 (de) 2001-08-16 2003-05-22 Infineon Technologies Ag Leiterplattensystem, Verfahren zum Betreiben eines Leiterplattensystems, Leiterplatteneinrichtung und deren Verwendung, und Halbleitervorrichtung und deren Verwendung
KR100454123B1 (ko) 2001-12-06 2004-10-26 삼성전자주식회사 반도체 집적 회로 장치 및 그것을 구비한 모듈
US6692987B2 (en) 2001-12-12 2004-02-17 Micron Technology, Inc. BOC BGA package for die with I-shaped bond pad layout
SG118103A1 (en) 2001-12-12 2006-01-27 Micron Technology Inc BOC BGA package for die with I-shaped bond pad layout
US6686819B2 (en) 2002-02-01 2004-02-03 Intel Corporation Dual referenced microstrip
US6982485B1 (en) 2002-02-13 2006-01-03 Amkor Technology, Inc. Stacking structure for semiconductor chips and a semiconductor package using it
US7109588B2 (en) 2002-04-04 2006-09-19 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for attaching microelectronic substrates and support members
KR100460063B1 (ko) 2002-05-03 2004-12-04 주식회사 하이닉스반도체 센터 패드 칩 적층 볼 그리드 어레이 패키지 및 그 제조방법
US6906415B2 (en) 2002-06-27 2005-06-14 Micron Technology, Inc. Semiconductor device assemblies and packages including multiple semiconductor devices and methods
JP2004063767A (ja) 2002-07-29 2004-02-26 Renesas Technology Corp 半導体装置
DE10234951B4 (de) * 2002-07-31 2009-01-02 Qimonda Ag Verfahren zur Herstellung von Halbleiterschaltungsmodulen
US6765288B2 (en) 2002-08-05 2004-07-20 Tessera, Inc. Microelectronic adaptors, assemblies and methods
JP4221238B2 (ja) 2002-09-26 2009-02-12 エルピーダメモリ株式会社 メモリモジュール
JP2004128155A (ja) 2002-10-01 2004-04-22 Renesas Technology Corp 半導体パッケージ
TWI221664B (en) 2002-11-07 2004-10-01 Via Tech Inc Structure of chip package and process thereof
US7550842B2 (en) 2002-12-12 2009-06-23 Formfactor, Inc. Integrated circuit assembly
DE10259221B4 (de) 2002-12-17 2007-01-25 Infineon Technologies Ag Elektronisches Bauteil mit einem Stapel aus Halbleiterchips und Verfahren zur Herstellung desselben
JP2004221215A (ja) 2003-01-14 2004-08-05 Renesas Technology Corp 半導体装置
US6876088B2 (en) 2003-01-16 2005-04-05 International Business Machines Corporation Flex-based IC package construction employing a balanced lamination
US6879028B2 (en) 2003-02-21 2005-04-12 Freescale Semiconductor, Inc. Multi-die semiconductor package
JP4072505B2 (ja) 2003-02-28 2008-04-09 エルピーダメモリ株式会社 積層型半導体パッケージ
TW200419752A (en) 2003-03-18 2004-10-01 United Test Ct Inc Semiconductor package with heat sink
JP4046026B2 (ja) 2003-06-27 2008-02-13 株式会社日立製作所 半導体装置
US7145226B2 (en) 2003-06-30 2006-12-05 Intel Corporation Scalable microelectronic package using conductive risers
US7183643B2 (en) 2003-11-04 2007-02-27 Tessera, Inc. Stacked packages and systems incorporating the same
US7061121B2 (en) 2003-11-12 2006-06-13 Tessera, Inc. Stacked microelectronic assemblies with central contacts
US7989940B2 (en) 2003-12-19 2011-08-02 Tessera, Inc. System and method for increasing the number of IO-s on a ball grid package by wire bond stacking of same size packages through apertures
CN1638120A (zh) 2003-12-26 2005-07-13 恩益禧电子股份有限公司 半导体组装体及其制造方法
US7181584B2 (en) 2004-02-05 2007-02-20 Micron Technology, Inc. Dynamic command and/or address mirroring system and method for memory modules
JP4647243B2 (ja) 2004-05-24 2011-03-09 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JP4543755B2 (ja) * 2004-05-31 2010-09-15 パナソニック株式会社 半導体集積回路
KR20050119414A (ko) 2004-06-16 2005-12-21 삼성전자주식회사 에지 패드형 반도체 칩의 스택 패키지 및 그 제조방법
JP4865197B2 (ja) 2004-06-30 2012-02-01 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置およびその製造方法
US7260691B2 (en) 2004-06-30 2007-08-21 Intel Corporation Apparatus and method for initialization of a double-sided DIMM having at least one pair of mirrored pins
JP4058642B2 (ja) 2004-08-23 2008-03-12 セイコーエプソン株式会社 半導体装置
US6943057B1 (en) 2004-08-31 2005-09-13 Stats Chippac Ltd. Multichip module package and fabrication method
US7324352B2 (en) 2004-09-03 2008-01-29 Staktek Group L.P. High capacity thin module system and method
US20060081983A1 (en) 2004-10-14 2006-04-20 Giles Humpston Wafer level microelectronic packaging with double isolation
TWI256092B (en) 2004-12-02 2006-06-01 Siliconware Precision Industries Co Ltd Semiconductor package and fabrication method thereof
JP2006172122A (ja) 2004-12-15 2006-06-29 Toshiba Corp カード状記憶装置
KR100615606B1 (ko) 2005-03-15 2006-08-25 삼성전자주식회사 메모리 모듈 및 이 모듈의 신호 라인 배치 방법
JP4707446B2 (ja) * 2005-04-26 2011-06-22 富士通セミコンダクター株式会社 半導体装置
KR101070913B1 (ko) 2005-05-19 2011-10-06 삼성테크윈 주식회사 반도체 칩 적층 패키지
US7414312B2 (en) 2005-05-24 2008-08-19 Kingston Technology Corp. Memory-module board layout for use with memory chips of different data widths
US7402911B2 (en) 2005-06-28 2008-07-22 Infineon Technologies Ag Multi-chip device and method for producing a multi-chip device
US7414917B2 (en) 2005-07-29 2008-08-19 Infineon Technologies Re-driving CAwD and rD signal lines
US7372169B2 (en) 2005-10-11 2008-05-13 Via Technologies, Inc. Arrangement of conductive pads on grid array package and on circuit board
JP4906047B2 (ja) 2005-11-28 2012-03-28 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
TWI279897B (en) 2005-12-23 2007-04-21 Phoenix Prec Technology Corp Embedded semiconductor chip structure and method for fabricating the same
US20080185705A1 (en) 2005-12-23 2008-08-07 Tessera, Inc. Microelectronic packages and methods therefor
US20070187836A1 (en) 2006-02-15 2007-08-16 Texas Instruments Incorporated Package on package design a combination of laminate and tape substrate, with back-to-back die combination
KR20070088177A (ko) 2006-02-24 2007-08-29 삼성테크윈 주식회사 반도체 패키지 및 그 제조 방법
US7368319B2 (en) 2006-03-17 2008-05-06 Stats Chippac Ltd. Stacked integrated circuit package-in-package system
US20070241441A1 (en) 2006-04-17 2007-10-18 Stats Chippac Ltd. Multichip package system
JP5026736B2 (ja) 2006-05-15 2012-09-19 パナソニックヘルスケア株式会社 冷凍装置
US7535110B2 (en) 2006-06-15 2009-05-19 Marvell World Trade Ltd. Stack die packages
SG139573A1 (en) 2006-07-17 2008-02-29 Micron Technology Inc Microelectronic packages with leadframes, including leadframes configured for stacked die packages, and associated systems and methods
DE102006042775B3 (de) 2006-09-12 2008-03-27 Qimonda Ag Schaltungsmodul und Verfahren zur Herstellung eines Schaltungsmoduls
US7472477B2 (en) 2006-10-12 2009-01-06 International Business Machines Corporation Method for manufacturing a socket that compensates for differing coefficients of thermal expansion
US20080088030A1 (en) * 2006-10-16 2008-04-17 Formfactor, Inc. Attaching and interconnecting dies to a substrate
US7719121B2 (en) 2006-10-17 2010-05-18 Tessera, Inc. Microelectronic packages and methods therefor
US7870459B2 (en) 2006-10-23 2011-01-11 International Business Machines Corporation High density high reliability memory module with power gating and a fault tolerant address and command bus
US7692278B2 (en) 2006-12-20 2010-04-06 Intel Corporation Stacked-die packages with silicon vias and surface activated bonding
US7518226B2 (en) 2007-02-06 2009-04-14 Stats Chippac Ltd. Integrated circuit packaging system with interposer
JP2008198841A (ja) 2007-02-14 2008-08-28 Elpida Memory Inc 半導体装置
CN101617371B (zh) * 2007-02-16 2014-03-26 莫塞德技术公司 具有多个外部电源的非易失性半导体存储器
JP4751351B2 (ja) 2007-02-20 2011-08-17 株式会社東芝 半導体装置とそれを用いた半導体モジュール
JP4913640B2 (ja) 2007-03-19 2012-04-11 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
US7696629B2 (en) 2007-04-30 2010-04-13 Chipmos Technology Inc. Chip-stacked package structure
US7906853B2 (en) 2007-09-06 2011-03-15 Micron Technology, Inc. Package structure for multiple die stack
KR20090043898A (ko) 2007-10-30 2009-05-07 삼성전자주식회사 스택 패키지 및 그 제조 방법, 및 스택 패키지를 포함하는카드 및 시스템
US9460951B2 (en) 2007-12-03 2016-10-04 STATS ChipPAC Pte. Ltd. Semiconductor device and method of wafer level package integration
JP5207868B2 (ja) 2008-02-08 2013-06-12 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
TWM338433U (en) 2008-02-14 2008-08-11 Orient Semiconductor Elect Ltd Multi-chip package structure
JP2009200101A (ja) 2008-02-19 2009-09-03 Liquid Design Systems:Kk 半導体チップ及び半導体装置
US8228679B2 (en) 2008-04-02 2012-07-24 Spansion Llc Connections for electronic devices on double-sided circuit board
TWI362732B (en) 2008-04-07 2012-04-21 Nanya Technology Corp Multi-chip stack package
US7838975B2 (en) 2008-05-27 2010-11-23 Mediatek Inc. Flip-chip package with fan-out WLCSP
US7745920B2 (en) 2008-06-10 2010-06-29 Micron Technology, Inc. Packaged microelectronic devices and methods for manufacturing packaged microelectronic devices
US8276269B2 (en) 2008-06-20 2012-10-02 Intel Corporation Dual epoxy dielectric and photosensitive solder mask coatings, and processes of making same
JP2010056139A (ja) 2008-08-26 2010-03-11 Toshiba Corp 積層型半導体装置
JP5056718B2 (ja) 2008-10-16 2012-10-24 株式会社デンソー 電子装置の製造方法
KR20100046760A (ko) 2008-10-28 2010-05-07 삼성전자주식회사 반도체 패키지
US7839163B2 (en) 2009-01-22 2010-11-23 International Business Machines Corporation Programmable through silicon via
TWI401785B (zh) 2009-03-27 2013-07-11 Chipmos Technologies Inc 多晶片堆疊封裝
WO2010120310A1 (en) 2009-04-17 2010-10-21 Hewlett-Packard Company Method and system for reducing trace length and capacitance in a large memory footprint background
KR101601847B1 (ko) 2009-05-21 2016-03-09 삼성전자주식회사 반도체 패키지
JP2010278318A (ja) 2009-05-29 2010-12-09 Renesas Electronics Corp 半導体装置
JP5635247B2 (ja) 2009-08-20 2014-12-03 富士通株式会社 マルチチップモジュール
US8907457B2 (en) 2010-02-08 2014-12-09 Micron Technology, Inc. Microelectronic devices with through-substrate interconnects and associated methods of manufacturing
US8395195B2 (en) 2010-02-09 2013-03-12 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Bottom-notched SiGe FinFET formation using condensation
US8796135B2 (en) 2010-07-23 2014-08-05 Tessera, Inc. Microelectronic elements with rear contacts connected with via first or via middle structures
US8847376B2 (en) 2010-07-23 2014-09-30 Tessera, Inc. Microelectronic elements with post-assembly planarization
JP4979097B2 (ja) * 2010-12-06 2012-07-18 ルネサスエレクトロニクス株式会社 マルチチップモジュール
US8502390B2 (en) * 2011-07-12 2013-08-06 Tessera, Inc. De-skewed multi-die packages

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