JP2002174655A5 - - Google Patents

Description

【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本発明は、複数の走査線と複数のデータ線との交差の各々に対応して設けられて容量の一端をなす画素電極と、前記画素電極と前記データ線との間に介挿された画素スイッチング素子とを具備する電気光学装置を、論理レベルの変化を伴う周期的な動作指示信号に基づいて動作する検査用回路を用いて検査する方法であって、前記画素スイッチング素子をオンさせることにより前記画素電極にデータ信号を与える第１過程と、前記画素電極に印加された電圧を前記検査用回路によって読出信号線に出力させる過程であって、前記動作指示信号のレベル変化のタイミングよりも遅れたタイミングで、前記検査スイッチング素子をオンさせる第２過程と、前記読出信号線に出力された電圧が、当該画素電極に与えられたデータ信号に応じた電圧に対応するものであるか否かを判定する第３過程とを有することを特徴としている。この検査方法においては、前記読出信号線に出力された電圧と前記画素電極に与えられたデータ信号に応じた電圧を比較し、その比較結果に基づき、前記複数の走査線または複数のデータ線の断線あるいは短絡、および前記画素スイッチング素子の欠陥を判定することが望ましい。

【０００８】
また、上記課題を解決するため、本発明は、複数の走査線と複数のデータ線との交差の各々に対応して設けられて容量の一端をなす画素電極と、前記画素電極と前記データ線との間に介挿された画素スイッチング素子とを具備する電気光学装置について、前記画素スイッチング素子をオンさせることにより前記画素電極にデータ信号を与えた後、当該画素電極に印加された電圧が当該データ信号に応じた電圧に対応するか否かを判定するために、前記画素電極に印加された電圧を読出信号線に出力させる回路において、前記データ線と前記読出信号線との間に介挿された検査スイッチング素子と、論理レベルの変化を伴う周期的な動作指示信号に基づいて動作する制御回路であって、当該動作指示信号のレベル変化のタイミングよりも遅れたタイミングで、前記検査スイッチング素子をオンさせる制御回路とを設けたことを特徴としている。

【００１３】
また、上記課題を解決するため、本発明は、複数の走査線と複数のデータ線との交差の各々に対応して設けられて容量の一端をなす画素電極と、前記画素電極と前記データ線との間に介挿された画素スイッチング素子とを具備する電気光学装置について、前記画素スイッチング素子をオンさせることにより前記画素電極にデータ信号を与えた後、当該画素電極に印加された電圧が当該データ信号に対応するか否かを判定するために、前記画素電極に印加された電圧を読出信号線に出力させる回路において、前記データ線と前記読出信号線との間に介挿された検査スイッチング素子と、論理レベルの変化を伴う周期的な動作指示信号に基づいて、前記検査スイッチング素子をオンさせる制御回路と、前記制御回路に対して前記動作指示信号を入力するための入力端子と、前記読出信号線の電圧を出力するための出力端子であって、前記制御回路に対して前記入力端子とは反対側に設けられた出力端子とを設けたことを特徴としている。このように、入力端子と出力端子とを制御回路を挟んで反対側に位置させる構成によれば、上記と同様に、容量結合に起因したノイズの発生を低減することができる。

【００１４】
なお、上記検査用回路は、当該検査用回路を備えた電気光学装置としても実施可能である。すなわち、この電気光学装置においては、複数の走査線と複数のデータ線との交差の各々に対応して設けられて容量の一端をなす画素電極と、前記画素電極と前記データ線との間に介挿された画素スイッチング素子と、前記画素スイッチング素子をオンさせることにより前記画素電極にデータ信号を与えた後、当該画素電極に印加された電圧が当該データ信号に応じた電圧に対応するか否かを判定するために、前記画素電極に印加された電圧を読出信号線に出力させる検査用回路とを具備し、前記検査用回路は、前記データ線と前記読出信号線との間に介挿された検査スイッチング素子と、論理レベルの変化を伴う周期的な動作指示信号に基づいて動作する制御回路であって、当該動作指示信号のレベル変化のタイミングよりも遅れたタイミングで、前記検査スイッチング素子をオンさせる制御回路とを備えることを特徴とする。この電気光学装置においては、前記読出信号線に出力された電圧と前記画素電極に与えられたデータ信号に応じた電圧を比較し、その比較結果に基づき、前記複数の走査線または複数のデータ線の断線あるいは短絡、および前記画素スイッチング素子の欠陥を判定することが望ましい。

Claims (18)

1. 複数の走査線と複数のデータ線との交差の各々に対応して設けられて容量の一端をなす画素電極と、前記画素電極と前記データ線との間に介挿された画素スイッチング素子とを具備する電気光学装置を、論理レベルの変化を伴う周期的な動作指示信号に基づいて動作する検査用回路を用いて検査する方法であって、
   前記画素スイッチング素子をオンさせることにより前記画素電極にデータ信号を与える第１過程と、
   前記画素電極に印加された電圧を、前記検査用回路を用いて読出信号線に出力させる過程であって、前記動作指示信号のレベル変化のタイミングよりも遅れたタイミングで、前記画素電極と前記読出信号線との間に介挿された検査スイッチング素子をオンさせる第２過程と、
   前記読出信号線に出力された電圧が、当該画素電極に与えられたデータ信号に応じた電圧に対応するものであるか否かを判定する第３過程と
   を有することを特徴とする電気光学装置の検査方法。
2. 前記読出信号線に出力された電圧と前記画素電極に与えられたデータ信号に応じた電圧を比較し、その比較結果に基づき、前記複数の走査線または複数のデータ線の断線あるいは短絡、および前記画素スイッチング素子の欠陥を判定する
   ことを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置の検査方法。
3. 複数の走査線と複数のデータ線との交差の各々に対応して設けられて容量の一端をなす画素電極と、前記画素電極と前記データ線との間に介挿された画素スイッチング素子とを具備する電気光学装置について、前記画素スイッチング素子をオンさせることにより前記画素電極にデータ信号を与えた後、当該画素電極に印加された電圧が当該データ信号に応じた電圧に対応するか否かを判定するために、前記画素電極に印加された電圧を読出信号線に出力させる回路であって、
   前記データ線と前記読出信号線との間に介挿された検査スイッチング素子と、
   論理レベルの変化を伴う周期的な動作指示信号に基づいて動作する制御回路であって、当該動作指示信号のレベル変化のタイミングよりも遅れたタイミングで、前記検査スイッチング素子をオンさせる制御回路と
   を具備することを特徴とする電気光学装置の検査用回路。
4. 前記制御回路は、
   前記動作指示信号のレベル変化のタイミングよりも、当該動作指示信号の周期の８分の１ないし４分の１に相当する時間だけ遅れたタイミングで、前記検査スイッチング素子をオンさせる
   ことを特徴とする請求項３に記載の電気光学装置の検査用回路。
5. 前記制御回路に対して前記動作指示信号を入力するための入力端子と、前記読出信号線の出力端子とは、当該制御回路を挟んで反対の位置に設けられている
   ことを特徴とする請求項３または４に記載の電気光学装置の検査用回路。
6. 前記制御回路は、
   前記動作指示信号に基づいてレベル変化する制御信号を出力する出力手段と、
   前記制御信号のレベル変化のタイミングを、前記動作指示信号のレベル変化のタイミングよりも遅らせるタイミング変更手段と
   を具備することを特徴とする請求項３ないし５のいずれかに記載の電気光学装置の検査用回路。
7. 前記タイミング変更手段は、遅延手段である
   ことを特徴とする請求項６に記載の電気光学装置の検査用回路。
8. 複数の走査線と複数のデータ線との交差の各々に対応して設けられて容量の一端をなす画素電極と、前記画素電極と前記データ線との間に介挿された画素スイッチング素子とを具備する電気光学装置について、前記画素スイッチング素子をオンさせることにより前記画素電極にデータ信号を与えた後、当該画素電極に印加された電圧が当該データ信号に応じた電圧に対応するか否かを判定するために、前記画素電極に印加された電圧を読出信号線に出力させる回路であって、
   前記データ線と前記読出信号線との間に介挿された検査スイッチング素子と、
   論理レベルの変化を伴う周期的な動作指示信号に基づいて、前記検査スイッチング素子をオンさせる制御回路と、
   前記制御回路に対して前記動作指示信号を入力するための入力端子と、
   前記読出信号線の電圧を出力するための出力端子であって、前記制御回路に対して前記入力端子とは反対側に設けられた出力端子と
   を具備することを特徴とする電気光学装置の検査用回路。
9. 複数の走査線と複数のデータ線との交差の各々に対応して設けられて容量の一端をなす画素電極と、
   前記画素電極と前記データ線との間に介挿された画素スイッチング素子と、
   前記画素スイッチング素子をオンさせることにより前記画素電極にデータ信号を与えた後、当該画素電極に印加された電圧が当該データ信号に応じた電圧に対応するか否かを判定するために、前記画素電極に印加された電圧を読出信号線に出力させる検査用回路と
   を具備し、
   前記検査用回路は、
   前記データ線と前記読出信号線との間に介挿された検査スイッチング素子と、
   論理レベルの変化を伴う周期的な動作指示信号に基づいて動作する制御回路であって、当該動作指示信号のレベル変化のタイミングよりも遅れたタイミングで、前記検査スイッチング素子をオンさせる制御回路と
   を備えることを特徴とする電気光学装置。
10. 前記検査用回路は、
    前記読出信号線に出力された電圧と前記画素電極に与えられたデータ信号に応じた電圧を比較し、その比較結果に基づき、前記複数の走査線または複数のデータ線の断線あるいは短絡、および前記画素スイッチング素子の欠陥を判定する
    ことを特徴とする請求項９に記載の電気光学装置。
11. 前記制御回路は、
    前記動作指示信号のレベル変化のタイミングよりも、当該動作指示信号の周期の８分の１ないし４分の１に相当する時間だけ遅れたタイミングで、前記検査スイッチング素子をオンさせる
    ことを特徴とする請求項９または１０に記載の電気光学装置。
12. 前記制御回路に対して前記動作指示信号を入力するための入力端子と、
    前記読出信号線の電圧を出力するための出力端子であって、前記制御回路に対して前記入力端子とは反対側に設けられた出力端子と
    を具備することを特徴とする請求項９ないし１１のいずれかに記載の電気光学装置。
13. 前記容量は、前記画素電極を一端とし、対向電極を他端とし、電気光学物質を挟持したものである
    ことを特徴とする請求項９ないし１２のいずれかに記載の電気光学装置。
14. 一端が前記画素電極に接続され、他端が容量線に接続された蓄積容量を具備することを特徴とする請求項９ないし１３のいずれかに記載の電気光学装置。
15. 前記制御回路は、
    前記動作指示信号に基づいてレベル変化する制御信号を出力する出力手段と、
    前記制御信号のレベル変化のタイミングを、前記動作指示信号のレベル変化のタイミングよりも遅らせるタイミング変更手段と
    を具備することを特徴とする請求項９ないし１４のいずれかに記載の電気光学装置。
16. 前記タイミング変更手段は、遅延手段である
    ことを特徴とする請求項１５に記載の電気光学装置。
17. 複数の走査線と複数のデータ線との交差の各々に対応して設けられて容量の一端をなす画素電極と、
    前記画素電極と前記データ線との間に介挿された画素スイッチング素子と、
    前記画素スイッチング素子をオンさせることにより前記画素電極にデータ信号を与えた後、当該画素電極に印加された電圧が当該データ信号に応じた電圧に対応するか否かを判定するために、前記画素電極に印加された電圧を読出信号線に出力させる検査用回路と
    を具備し、
    前記検査用回路は、
    前記データ線と前記読出信号線との間に介挿された検査スイッチング素子と、
    論理レベルの変化を伴う周期的な動作指示信号に基づいて、前記検査スイッチング素子をオンさせる制御回路と、
    前記制御回路に対して前記動作指示信号を入力するための入力端子と、
    前記読出信号線の電圧を出力するための出力端子であって、前記制御回路に対して前記入力端子とは反対側に設けられた出力端子と
    を備えることを特徴とする電気光学装置。
18. 請求項９ないし１７のいずれかに記載の電気光学装置を備えることを特徴とする電子機器。