KR100471512B1 - 전기 광학 장치의 검사 방법, 전기 광학 장치의 검사용회로, 전기 광학 장치 및 전자기기 - Google Patents
전기 광학 장치의 검사 방법, 전기 광학 장치의 검사용회로, 전기 광학 장치 및 전자기기 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100471512B1 KR100471512B1 KR10-2001-0077288A KR20010077288A KR100471512B1 KR 100471512 B1 KR100471512 B1 KR 100471512B1 KR 20010077288 A KR20010077288 A KR 20010077288A KR 100471512 B1 KR100471512 B1 KR 100471512B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- electro
- inspection
- pixel electrode
- signal
- switching element
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Shift Register Type Memory (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
Description
Claims (16)
- 주사선과 데이터선의 교차에 대응해서 마련되어 용량의 일단을 이루는 화소 전극과, 상기 화소 전극과 상기 데이터선 사이에 연결된 화소 스위칭 소자를 구비하는 전기 광학 장치를, 레벨 변화를 반복하는 동작 지시 신호에 근거해서 동작하는 검사용 회로를 이용하여 검사하는 방법으로서,상기 화소 스위칭 소자를 온 상태로 되게 함으로써 상기 화소 전극에 데이터 신호를 인가하는 제 1 과정과,상기 화소 전극에 인가된 전압을, 상기 검사용 회로를 이용하여 판독 신호선으로 출력시키는 과정으로서, 상기 동작 지시 신호의 레벨 변화 타이밍보다도 지연된 타이밍으로, 상기 데이터선과 상기 판독 신호선 사이에 연결된 검사 스위칭 소자를 온 상태로 되게 하는 제 2 과정과,상기 판독 신호선에 출력된 전압이 해당 화소 전극에 인가된 데이터 신호에 따른 전압에 대응하는 것인지 여부를 판정하는 제 3 과정을 갖는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 검사 방법.
- 주사선과 데이터선의 교차에 대응해서 마련되어 용량의 일단을 이루는 화소 전극과, 상기 화소 전극과 상기 데이터선 사이에 연결된 화소 스위칭 소자를 구비하는 전기 광학 장치에 대하여, 상기 화소 스위칭 소자를 온 상태로 되게 함으로써, 상기 화소 전극에 데이터 신호를 인가한 후, 해당 화소 전극에 인가된 전압이 해당 데이터 신호에 따른 전압에 대응하는지 여부를 판정하기 위해서, 상기 화소 전극에 인가된 전압을 판독 신호선에 출력시키는 회로로서,상기 데이터선과 상기 판독 신호선 사이에 연결된 검사 스위칭 소자와, 레벨 변화를 반복하는 동작 지시 신호에 근거해서 동작하는 제어 회로로서, 해당 동작 지시 신호의 레벨 변화 타이밍보다도 지연된 타이밍으로, 상기 검사 스위칭 소자를 온 상태로 되게 하는 제어 회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 검사용 회로.
- 제 2 항에 있어서,상기 제어 회로는 상기 동작 지시 신호의 레벨 변화 타이밍보다도, 해당 동작 지시 신호의 주기의 8분의 1 내지 4분의 1에 상당하는 시간만큼 지연된 타이밍으로, 상기 검사 스위칭 소자를 온 상태로 되게 하는 것을 특징으로 하는전기 광학 장치의 검사용 회로.
- 제 2 항 또는 제 3 항에 있어서,상기 제어 회로에 대하여 상기 동작 지시 신호를 입력하기 위한 입력 단자와, 상기 판독 신호선의 출력 단자는 해당 제어 회로를 사이에 두고 서로 반대의 위치에 마련되어 있는 것을 특징으로 하는전기 광학 장치의 검사용 회로.
- 제 2 항 또는 제 3 항에 있어서,상기 제어 회로는상기 동작 지시 신호에 근거하여 레벨 변화되는 제어 신호를 출력하는 출력 수단과, 상기 제어 신호의 레벨 변화 타이밍을, 상기 동작 지시 신호의 레벨 변화 타이밍보다도 지연시키는 타이밍 변경 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 검사용 회로.
- 제 2 항 또는 제 3 항에 있어서,상기 타이밍 변경 수단은 지연 수단인 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 검사용 회로.
- 주사선과 데이터선의 교차에 대응해서 마련되어 용량의 일단을 이루는 화소 전극과, 상기 화소 전극과 상기 데이터선 사이에 연결된 화소 스위칭 소자를 구비하는 전기 광학 장치에 대하여, 상기 화소 스위칭 소자를 온 상태로 되게 함으로써 상기 화소 전극에 데이터 신호를 인가한 후, 해당 화소 전극에 인가된 전압이 해당 데이터 신호에 대응하는지 여부를 판정하기 위해서, 상기 화소 전극에 인가된 전압을 판독 신호선으로 출력시키는 회로로서,상기 데이터선과 상기 판독 신호선 사이에 연결된 검사 스위칭 소자와, 레벨 변화를 반복하는 동작 지시 신호에 근거하여, 상기 검사 스위칭 소자를 온 상태로 되게 하는 제어 회로와,상기 제어 회로에 대하여 상기 동작 지시 신호를 입력하기 위한 입력 단자와,상기 판독 신호선의 전압을 출력하기 위한 출력 단자로서, 상기 제어 회로에 대하여 상기 입력 단자와는 반대측에 마련된 출력 단자를 구비하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 검사용 회로.
- 주사선과 데이터선의 교차에 대응해서 마련되어 용량의 일단을 이루는 화소 전극과,상기 화소 전극과 상기 데이터선 사이에 연결된 화소 스위칭 소자와,상기 화소 스위칭 소자를 온 상태로 되게 함으로써 상기 화소 전극에 데이터 신호를 인가한 후, 해당 화소 전극에 인가된 전압이 해당 데이터 신호에 따른 전압에 대응하는지 여부를 판정하기 위해서, 상기 화소 전극에 인가된 전압을 판독 신호선에 출력시키는 검사용 회로를 구비하되,상기 검사용 회로는상기 데이터선과 상기 판독 신호선 사이에 연결된 검사 스위칭 소자와, 레벨 변화를 반복하는 동작 지시 신호에 근거해서 동작하는 제어 회로로서, 해당 동작 지시 신호의 레벨 변화 타이밍보다도 지연된 타이밍으로, 상기 검사 스위칭 소자를 온 상태로 되게 하는 제어 회로를 구비하는 것을 특징으로 하는전기 광학 장치.
- 제 8 항에 있어서,상기 제어 회로는 상기 동작 지시 신호의 레벨 변화 타이밍보다도, 해당 동작 지시 신호의 주기의 8분의 1 내지 4분의 1에 상당하는 시간만큼 지연된 타이밍으로, 상기 검사 스위칭 소자를 온 상태로 되게 하는 것을 특징으로 하는전기 광학 장치.
- 제 8 항 또는 제 9 항에 있어서,상기 제어 회로에 대하여 상기 동작 지시 신호를 입력하기 위한 입력 단자와,상기 판독 신호선의 전압을 출력하기 위한 출력 단자로서, 상기 제어 회로에 대하여 상기 입력 단자와는 반대측에 마련된 출력 단자를 구비하는 것을 특징으로 하는전기 광학 장치.
- 제 8 항 또는 제 9 항에 있어서,상기 용량은 상기 화소 전극을 일단으로 하고, 대향 전극을 타단으로 하여, 전기 광학 물질을 사이에 유지한 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
- 제 8 항 또는 제 9 항에 있어서,일단이 상기 화소 전극에 접속되고, 타단이 용량선에 접속된 축적 용량을 구비하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
- 제 8 항 또는 제 9 항에 있어서,상기 제어 회로는상기 동작 지시 신호에 근거하여 레벨 변화되는 제어 신호를 출력하는 출력 수단과, 상기 제어 신호의 레벨 변화 타이밍을, 상기 동작 지시 신호의 레벨 변화 타이밍보다도 지연시키는 타이밍 변경 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는전기 광학 장치.
- 제 8 항 또는 제 9 항에 있어서,상기 타이밍 변경 수단은 지연 수단인 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
- 주사선과 데이터선의 교차에 대응해서 마련되어 용량의 일단을 이루는 화소 전극과,상기 화소 전극과 상기 데이터선 사이에 연결된 화소 스위칭 소자와,상기 화소 스위칭 소자를 온 상태로 되게 함으로써, 상기 화소 전극에 데이터 신호를 인가한 후, 해당 화소 전극에 인가된 전압이 해당 데이터 신호에 따른 전압에 대응하는지 여부를 판정하기 위해서, 상기 화소 전극에 인가된 전압을 판독 신호선으로 출력시키는 검사용 회로를 구비하되,상기 검사용 회로는상기 데이터선과 상기 판독 신호선 사이에 연결된 검사 스위칭 소자와,레벨 변화를 반복하는 동작 지시 신호에 근거해서 상기 검사 스위칭 소자를 온 상태로 되게 하는 제어 회로와,상기 제어 회로에 대하여 상기 동작 지시 신호를 입력하기 위한 입력 단자와,상기 판독 신호선의 전압을 출력하기 위한 출력 단자로서, 상기 제어 회로에 대하여 상기 입력 단자와는 반대측에 마련된 출력 단자를 구비하는 것을 특징으로 하는전기 광학 장치.
- 청구항 8, 9, 14 또는 청구항 15 중 어느 한 항에 기재된 전기 광학 장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 전자기기.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000372839A JP4276373B2 (ja) | 2000-12-07 | 2000-12-07 | 電気光学装置の検査用回路、電気光学装置および電子機器 |
JPJP-P-2000-00372839 | 2000-12-07 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20020045578A KR20020045578A (ko) | 2002-06-19 |
KR100471512B1 true KR100471512B1 (ko) | 2005-03-08 |
Family
ID=18842317
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2001-0077288A KR100471512B1 (ko) | 2000-12-07 | 2001-12-07 | 전기 광학 장치의 검사 방법, 전기 광학 장치의 검사용회로, 전기 광학 장치 및 전자기기 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6703856B2 (ko) |
JP (1) | JP4276373B2 (ko) |
KR (1) | KR100471512B1 (ko) |
CN (1) | CN1177309C (ko) |
SG (1) | SG96662A1 (ko) |
TW (1) | TW543025B (ko) |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6762735B2 (en) * | 2000-05-12 | 2004-07-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro luminescence display device and method of testing the same |
JP3989756B2 (ja) * | 2002-03-18 | 2007-10-10 | シャープ株式会社 | 表示装置およびその走査回路検査方法 |
JP2003308051A (ja) * | 2002-04-16 | 2003-10-31 | Seiko Epson Corp | 画像信号供給回路および電気光学パネル |
JP4653775B2 (ja) * | 2002-04-26 | 2011-03-16 | 東芝モバイルディスプレイ株式会社 | El表示装置の検査方法 |
JP4357413B2 (ja) | 2002-04-26 | 2009-11-04 | 東芝モバイルディスプレイ株式会社 | El表示装置 |
KR100956463B1 (ko) | 2002-04-26 | 2010-05-10 | 도시바 모바일 디스플레이 가부시키가이샤 | El 표시 장치 |
DE10241045B4 (de) * | 2002-08-30 | 2006-07-20 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zum Durchführen von Testmessungen an lichtemittierenden Bauelementen |
JP4610886B2 (ja) * | 2002-12-06 | 2011-01-12 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 画像表示装置、電子機器 |
US7205986B2 (en) | 2002-12-18 | 2007-04-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Image display device and testing method of the same |
JP4494001B2 (ja) * | 2002-12-18 | 2010-06-30 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置の検査方法 |
TWI220694B (en) * | 2003-04-23 | 2004-09-01 | Toppoly Optoelectronics Corp | Pixel measuring method |
JP4572316B2 (ja) * | 2003-05-30 | 2010-11-04 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学パネルの駆動回路及び方法、電気光学装置並びに電子機器 |
KR20060020651A (ko) * | 2003-06-04 | 2006-03-06 | 도시바 마쯔시따 디스플레이 테크놀로지 컴퍼니, 리미티드 | 어레이 기판의 검사 방법 |
GB2403581A (en) * | 2003-07-01 | 2005-01-05 | Sharp Kk | A substrate and a display device incorporating the same |
CN100387997C (zh) * | 2003-10-31 | 2008-05-14 | 华昀科技股份有限公司 | 薄膜晶体管显示器数组的测试电路及方法 |
JP4529582B2 (ja) * | 2004-08-12 | 2010-08-25 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置及び電子機器、並びに電気光学装置用駆動方法及び検査方法 |
KR100670136B1 (ko) * | 2004-10-08 | 2007-01-16 | 삼성에스디아이 주식회사 | 데이터 구동장치 및 이를 이용한 발광 표시 장치 |
US8188958B2 (en) * | 2004-10-12 | 2012-05-29 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method, device and system of response time compensation |
JP4761773B2 (ja) * | 2005-01-06 | 2011-08-31 | シャープ株式会社 | 表示装置およびその検査方法、ならびにその表示装置の検査システム |
TW200630951A (en) * | 2005-02-21 | 2006-09-01 | Au Optronics Corp | Display panels and display device using same |
KR101142784B1 (ko) * | 2005-03-03 | 2012-05-08 | 엘지디스플레이 주식회사 | 테스트패드가 마련된 액정패널 및 이의 제조방법 |
JP2007072162A (ja) * | 2005-09-07 | 2007-03-22 | Mitsubishi Electric Corp | 表示装置 |
WO2007058650A1 (en) | 2005-11-16 | 2007-05-24 | Thomson Licensing | Equalizer interface for electronic apparatus |
EP1804229B1 (en) * | 2005-12-28 | 2016-08-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and method for inspecting the same |
US7312625B1 (en) * | 2006-06-08 | 2007-12-25 | Xilinx, Inc. | Test circuit and method of use thereof for the manufacture of integrated circuits |
US7825680B2 (en) * | 2006-06-28 | 2010-11-02 | Nokia Corporation | Componet supplied with an analog value |
KR20080010551A (ko) * | 2006-07-27 | 2008-01-31 | 삼성전자주식회사 | 표시 장치의 구동 장치 및 이를 포함하는 표시 장치 |
CN101320542B (zh) * | 2007-06-04 | 2010-09-29 | 昆山维信诺显示技术有限公司 | 一种有机电致发光器件的检测装置 |
JP5286818B2 (ja) * | 2008-02-21 | 2013-09-11 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置及び電子機器 |
JP4780159B2 (ja) * | 2008-08-27 | 2011-09-28 | ソニー株式会社 | 表示装置とその駆動方法 |
CN102654658B (zh) * | 2011-08-03 | 2015-07-29 | 北京京东方光电科技有限公司 | 一种tft阵列基板检测方法及检测装置 |
KR20150042914A (ko) * | 2013-10-14 | 2015-04-22 | 삼성디스플레이 주식회사 | 화소 및 이를 포함하는 유기 전계 발광 표시 장치 |
CN104280914A (zh) | 2014-10-16 | 2015-01-14 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种显示面板的布线结构及显示面板 |
CN106526923B (zh) * | 2017-01-12 | 2019-04-23 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板、其测试方法及显示装置 |
JP7423990B2 (ja) * | 2019-11-11 | 2024-01-30 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置および電子機器 |
CN112331117B (zh) * | 2020-11-05 | 2022-06-03 | 北海惠科光电技术有限公司 | 液晶面板和液晶面板数据线电压检测方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0850796A (ja) * | 1993-11-29 | 1996-02-20 | Sanyo Electric Co Ltd | シフトレジスタおよび表示装置 |
US5506516A (en) * | 1991-06-28 | 1996-04-09 | Sharp Kabushiki Kaisha | Method of inspecting an active matrix substrate |
JPH10333649A (ja) * | 1997-06-04 | 1998-12-18 | Toshiba Microelectron Corp | 電圧選択回路、液晶駆動回路および半導体装置 |
KR19990030341A (ko) * | 1997-09-30 | 1999-04-26 | 니시무로 타이죠 | 반도체 검사회로 및 반도체 회로의 검사방법 |
JP2000089191A (ja) * | 1998-09-10 | 2000-03-31 | Toshiba Corp | 液晶表示装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5113134A (en) * | 1991-02-28 | 1992-05-12 | Thomson, S.A. | Integrated test circuit for display devices such as LCD's |
JP2758103B2 (ja) * | 1992-04-08 | 1998-05-28 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板及びその製造方法 |
JP3496431B2 (ja) * | 1997-02-03 | 2004-02-09 | カシオ計算機株式会社 | 表示装置及びその駆動方法 |
DE69820226T2 (de) * | 1997-10-31 | 2004-10-21 | Seiko Epson Corp | Elektrooptische vorrichtung und elektronisches gerät |
JP3648976B2 (ja) * | 1998-03-24 | 2005-05-18 | セイコーエプソン株式会社 | アクティブマトリクス基板、液晶装置及び電子機器並びに該アクティブマトリクス基板の検査方法 |
-
2000
- 2000-12-07 JP JP2000372839A patent/JP4276373B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-11-13 SG SG200107043A patent/SG96662A1/en unknown
- 2001-11-28 US US09/994,675 patent/US6703856B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-11-30 TW TW090129713A patent/TW543025B/zh not_active IP Right Cessation
- 2001-12-06 CN CNB011427523A patent/CN1177309C/zh not_active Expired - Lifetime
- 2001-12-07 KR KR10-2001-0077288A patent/KR100471512B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5506516A (en) * | 1991-06-28 | 1996-04-09 | Sharp Kabushiki Kaisha | Method of inspecting an active matrix substrate |
JPH0850796A (ja) * | 1993-11-29 | 1996-02-20 | Sanyo Electric Co Ltd | シフトレジスタおよび表示装置 |
JPH10333649A (ja) * | 1997-06-04 | 1998-12-18 | Toshiba Microelectron Corp | 電圧選択回路、液晶駆動回路および半導体装置 |
KR19990030341A (ko) * | 1997-09-30 | 1999-04-26 | 니시무로 타이죠 | 반도체 검사회로 및 반도체 회로의 검사방법 |
JP2000089191A (ja) * | 1998-09-10 | 2000-03-31 | Toshiba Corp | 液晶表示装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2002174655A (ja) | 2002-06-21 |
US6703856B2 (en) | 2004-03-09 |
SG96662A1 (en) | 2003-06-16 |
CN1177309C (zh) | 2004-11-24 |
JP4276373B2 (ja) | 2009-06-10 |
CN1357871A (zh) | 2002-07-10 |
US20020070750A1 (en) | 2002-06-13 |
TW543025B (en) | 2003-07-21 |
KR20020045578A (ko) | 2002-06-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100471512B1 (ko) | 전기 광학 장치의 검사 방법, 전기 광학 장치의 검사용회로, 전기 광학 장치 및 전자기기 | |
US6853364B2 (en) | Liquid crystal display device | |
KR101093229B1 (ko) | 어레이 기판 및 이를 갖는 표시장치 | |
KR100638534B1 (ko) | 액티브매트릭스기판의검사방법,액티브매트릭스기판,액정장치및전자기기 | |
US20070236244A1 (en) | Test method, semiconductor device, and display | |
KR100845159B1 (ko) | 전기광학 장치 기판 및 그 기판의 검사 방법, 그 기판을포함한 전기광학 장치 및 그 장치를 포함한 전자 기기 | |
KR20070118977A (ko) | 액정 표시 장치 및 액정 표시 장치의 검사 방법 | |
US20060156111A1 (en) | Test circuit and display device having the same | |
US7973784B2 (en) | Electro-optical device, drive circuit, and electronic apparatus | |
JP4945930B2 (ja) | マザー基板、電気光学装置用基板及びその製造方法、並びに電気光学装置及び電子機器 | |
KR101025350B1 (ko) | 구동 장치, 전기 광학 장치 및 전자기기 | |
JP3791526B2 (ja) | アクティブマトリクス基板、液晶装置および電子機器 | |
JP3966326B2 (ja) | アクティブマトリクス基板の検査方法 | |
JP7375439B2 (ja) | 電気光学装置、および電子機器 | |
JP2007219354A (ja) | 電気光学装置及びその駆動方法並びに電子機器 | |
JP2014085367A (ja) | 電気光学装置の検査方法 | |
JP3062552B2 (ja) | 液晶表示装置及びその検査方法 | |
JP2007072249A (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP2007065540A (ja) | 電気光学装置及びその検査方法、並びに電子機器 | |
JP3230393B2 (ja) | 液晶パネルの検査方法 | |
JP2006343617A (ja) | 電気光学装置及び電子機器 | |
JP2008310338A (ja) | 電気光学装置用基板及びその検査方法、並びに電気光学装置及び電子機器 | |
JP2004045601A (ja) | 表示装置およびその検査方法 | |
JP2007240667A (ja) | 電気光学装置及びその検査方法、並びに電子機器 | |
KR20060070196A (ko) | 어레이 기판 및 이를 갖는 표시장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130118 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140117 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150120 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160105 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170120 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180126 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20200128 Year of fee payment: 16 |