TW543025B - Test method and test circuit of electro-optical device, electro-optical device, and electronic equipment - Google Patents

Description

542025 A7 B7 五、發明説明（1 ) 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於光電裝置之檢驗方法，光電裝置之檢驗 用電路光電裝置及電子機器。 【先行技術】 近年來作爲各種之電子機器之顯示裝置，以液晶裝置 爲代表之光電裝置普遍廣泛被使用。該種光電裝置係例如 具有形成多數掃描線及資料線之元件基板，和與此相向而 挾持光電物質之對向基板，和對應於掃描線及資料線之各 交叉而所配設之像素的構成爲一般。 在如此之光電裝置之製造工程中，要完全排除像上述 掃描線或資料線等之配線的斷線或短路，或是含有像素之 開關元件等之缺陷（以下通稱爲缺陷）之發生係極爲·困難，無 法避免某程度確率所發生之缺陷。因此，針對所製造之光 電裝置需要檢驗有無上述之缺陷。在以往，作爲如此之檢 驗方法係所知道的有例如將規定之測試圖案顯示於爲檢驗 對象之光電裝置上，同時藉由目視或CCD照相機觀察所顯 示之測試圖案，來判定各像素是否正常點燈的方法。 【發明所欲解決之課題】 但是，例如隨著顯示之高精細化，各像素之面積變的 更小之時，依據目視或CCD照相機而正確辨識該些各像素 爲困難。再者，因像素之缺陷的原因，引起實際上給予像 素之電壓和所期待之電壓不同之時，就連辨識該結果所發 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) Α4規格（210X297公釐） -4 - I--------II (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 5m A7 B7 五、發明説明（2 ) 生之顯示濃度的差也極難，故發現像素之缺陷爲困難。如 此一來，使用以往之檢驗方法之時，以現狀而言對於可以 充分確保該檢驗之正確性則有界限。 本發明係鑒於以上所說明之事情所創作出者，其目的 係提供可以針對有無配線或電極之缺陷進行正確檢驗之光 電裝置之檢驗方法、檢驗用電路、光電裝置及電子機器。 【用以解決課題之手段】 爲了解決上述課題，本發明之光電裝置之檢驗方法， 係屬於使用將具備有被設置在對應著掃描線和資料線之交 叉，而構成容量之一端的像素電極，和被介插於上述像素 電極和上述資料線之間之像素關關元件的光電裝置，根據 反覆位埠變化之動作指示訊號而動作之檢驗用電路予以檢 驗的方法，其特徵爲：具有依據令上述像素開關元件成爲 〇N而使上述像素電極得到資料訊號的第1過程；一種屬於 使用上述檢驗用電路，令施加於上述像素電極中之電壓輸 出至讀出訊號線之過程，在比上述動作指示訊號之位埠變 化之時機還晚的時機，使被介插於上述像素電極和上述資 料線之間的檢驗開關元件成爲Ο N之第2過程；和判定被輸 出至上述讀出訊號線之電壓係否爲對應於響應該像素電極 所得到之資料訊號之電壓者的第3過程。 若依據該檢驗方法，使施加於像素電極之電壓供給於 讀出訊號線’因判斷該被供給之電壓是否爲因應被給予至 該像素電極之資料訊號的電壓，故針對光電裝置中之像素 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) Α4規格（210X297公釐） -5 - I---------衣—— (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)

、1T 線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 543025 92· 1 18修不 卑月日卜〜〜 确无 五、發明説明（3 ) 電極或像素開關元件、掃描線、資料線等可以正確地檢驗 出有無缺陷。再者，對於被供給至讀出訊號線之電壓，即 使在因隨著動作指示訊號之位埠變化而發生之雜波重疊時 ’因使該動作指示訊號之位埠變化之時機，和該動作指示 訊號之位埠變化之時機不相同，故可以正確地檢測實際被 施加至像素電極上之電壓。因此，可以不受到雜波之影響 正確地進行檢驗。 再者，爲了解決上述課題，本發明之光電裝置之檢驗 用電路，係針對具備有被設置在對應著掃描線和資料線之 交叉，而構成容量之一端的像素電極，和被介插於上述像 素電極和上述資料線之間之像素關關元件的光電裝置，而 屬於在依據令上述開關元件成爲ON而使上述像素電極得到 資料訊號後，爲了判定被施加於該像素電極之電壓係否爲 對應於響應該資料訊號之電壓，而將被施加於上述像素電 極之電壓輸出至讀出訊號線的電路，其特徵爲：具備有被 介插於上述資料線和上述讀出訊號線之間的檢驗開關元件 ;和一種屬於根據反覆位埠變化之動作指示訊號而動作之 控制電路’在比該動作指示訊號之位埠變化之時機還晚的 時機，使上述檢驗開關元件成爲ON的控制電路。 若使用該檢驗用電路，則與上述檢驗方法所示相同， 依據判斷被供給於讀出訊號線之電壓是否爲因應被給予至 該像素電極之資料訊號的電壓，可以針對光電裝置之有無 缺陷進行正確的檢驗。而且，若依據該檢驗用電路，因使 被施加於像素電極之電壓輸出於讀出訊號線的時機，和動 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -6 - I--------衣-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 543025 年月曰 修正補充 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明（4 ) 作指示訊號之位埠變化的時機不同，故即使在動作指示訊 號之位埠變化的時機發生雜波之時，亦可以正確地檢測被 施加於像素電極之電壓。因此，若使用該檢驗用電路，貝〖J 可以不受雜波發生之影響而進行正確之檢驗。而且，該檢 驗用電路即使是在構成光電裝置之基板上作爲該光電裝置 之一部分而所形成者亦可，或是作爲與光電裝置另外的檢 驗裝置而所使用者亦可。 在該檢驗用電路中，上述控制電路係在比上述動作指 示訊號之位埠變化之時機僅晚相當於該動作指示訊號之週 期的8分之1到4分之1之時間的時機，使上述檢驗開關成爲 〇N之構成爲最佳。即是，將使上述檢驗開關元件呈ON之 時機僅遲緩相當於動作指示訊號之週期的1/2的時間之時， 被供給於讀出訊號線之電壓和雜波重複，無法正確地檢測 被施加於像素電極之電壓。再者，上述雜波係在時間軸上 持有規定之寬而所發生。當考慮到該些事情時，爲了排除 雜波的影響，正確地檢測被施加於像素電極之電壓，將使 檢驗開關元件呈ON之時機當作上述之範圍內爲最佳。 而且，在上述檢驗用電路中，用以對上述控制電路輸 入上述動作指示訊號之輸入端子和上述讀出訊號線之輸出 端子’係夾著該控制電路而被設置在相反的位置上爲最佳 。若如此的話，因可以縮短讀出訊號線中之被拉引至上述 輸入端側上的部分，故有可以減少因產生於該讀出訊號線 和用以供給動作指示訊號之配線間的容量結合而所發生之 雜波的優點。 本纸張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐）-7 - (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)

543025 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（5 ) 再者，上述控制電路具有：根據上述動作指示訊號而 輸出位埠變化之控制訊號的輸出手段；和使上述動作控制 訊號之位埠變化的時機形成比上述動作指示訊號之位埠變 化之時機速晚的時機變更手段之構成也爲最佳。此時，作 爲輸出手段係可以使用例如根據爲動作指示訊號之時鐘訊 號而動作之移動暫存器，或根據爲動作指示訊號之位址訊 號而動作之位址解碼器等。另一方面，作爲時機變更手段 係可以使用例如使控制訓號延遲之延遲手段等。 再者，爲了解決上述課題，本發明之檢驗用電路，係 針對具備有被設置在對應著掃描線和資料線之交叉，而構 成容量之一端的像素電極，和被介插於上述像素電極和上 述資料線之間之像素關關元件的光電裝置，而屬於在依據 令上述開關元件成爲ON而使上述像素電極得到資料訊號後 ，爲了判定被施加於該像素電極之電壓係否爲對應於響應 該資料訊號之電壓，而將被施加於上述像素電極之電壓輸 出至讀出訊號線的電路，其特徵爲：具備有被介插於上述 資料線和上述讀出訊號線之間的檢驗開關元件；根據反覆 位埠位埠變化之動作指示訊號，而使上述檢驗開關元件成 爲ON的控制電路；用以對上述控制電路輸入上述動作指示 訊號的輸入端子；和一種屬於用以輸出上述讀出訊號線之 電壓的輸出端子，相對於上述控制電路係被設置在與上述 輸入端子相反側上的輸出端子。如此一來，若依據夾著控 制電路使輸入端子和輸出端子位置於相反側上之構成，則 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） -8 - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)

543025 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（6 ) 可以與上述相同，減少因容量結合而發生之雜波。 而且，上述檢驗用電路係亦可當作爲具有該檢驗用電 路之光電裝置而予以實施。即是，該光電裝置之特徵爲·· 具備有被設置在對應著掃描線和資料線之交叉，而構成容 量之一端的像素電極；被介插於上述像素電極和上述資料 線之間之像素關關元件；依據令上述開關元件成爲ON而使 上述像素電極得到資料訊號後，爲了判定被施加於該像素 電極之電壓係否爲對應於響應該資料訊號之電壓，而將被 施加於上述像素電極之電壓輸出至讀出訊號線的檢驗用電 路，上述檢驗用電路係具有··被介插於上述資料線和上述 讀出訊號線之檢驗開關元件；和一種屬於根據反覆位埠變 化之動作指示訊號而動作的控制電路，在比該動作指示訊 號之位埠變化之時機還晚的時機，使上述檢驗開關元件成 爲ON的控制電路。 即使該光電裝置，亦與針對上述檢驗用電路所示相同 ，上述控制電路係在比上述動作指示訊號之位埠變化之時 機僅晚相當於該動作指示訊號之週期的1/8到1/4之時間的時 機，依據採用使上述檢驗開關元件呈ON之構成，或用以對 上述控制電路輸入上述動作指示訊號之輸入端子，和用以 輸出上述讀出訊號線，相對於上述控制電路被設置在與上 述輸入端子相反側上的輸出端子之構成等，可以實現更正 確之檢驗。 再者，上述光電裝置中之容量可以想成將上述像素電 極當作一端，將對向電極當作另一端，挾持光電物質者。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -9 - (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)

543025 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（7 ) 此時，針對於像素電極和對向電極之間挾持光電物質而形 成光電容量階段的光電裝置予以檢驗。再者’作爲用以存 儲響應被施加於像素電極之電壓的電荷之容量’即使是具 有一端係被連接於上述像素電極，另一端被連接於容量線 的存儲容量的構成亦可。如此一來，形成光電容量之前’ 即是即使針對於像素電極和對向電極之間挾持光電物質之 前階段的光電裝置，亦可以進行檢驗。即使無形成上述之 光電容量及存儲容量，因應資料訊號之電壓對像素電極施 加之結果，若將應應該電壓之電荷存儲於將該像素電極當 作一端之容量，則即使該容量之態樣係如何亦可。 而且，上述之光電裝置係可依據像具有此之電子機器 的態樣而實施。如上所述，因可以對光電裝置進行正確地 檢驗，故即使具有該光電裝置之電子機器亦可以確保高信 賴性。 【發明之實施形態】 U下，參照圖面，針對與本發明之實施形態有關之光 «裝®予以說明。所涉及的實施形態係表示本發明之一態 Μ不限定該發明者，在本發明之範圍內可任意變更。 mI ’以下所示之光電裝置係使用液晶當作光電物質，依 1電性變化而進行顯示之液晶裝置。 (a:實施形態之構成） 胃先’第1圖係表示與本實施形態有關之光電裝置之構 ^縣（CNS) A4規格（21QX 297公酱)Γί〇 . (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)

543025 A7 B7 五、發明説明（8 ) 成的斜視圖，第2圖係第1圖中之A-A\線之剖面圖。如該些 圖所示，光電裝置100係藉由含有間隔物1 03之密封材料貼 合元件基板10 1和對向基板1 02，於兩基板之間封入作爲光 電物質之液晶1 05而構成之。而且，在本實施形態中，元件 基板102及對向基板102係藉由具有玻璃或石英、半導體等 之光透過性材料而構成者。此時，依據將來自背面側之光 射出至觀察側，而成爲所謂之透過型顯示。即使使用不透 明基板作爲該些基板，而使來自觀察側之入射光予以反射 進行反射型顯示亦可。 如第2圖所示，元件基板101中之內側（液晶105側）之表 面中，相當於密封材料104之內側的領域上，形成有各種元 件或像素電極106等。而且，在自元件基板101中之對向基 板102突出之部分表面上，形成有後述之掃描線驅動電路1 、資料線動電路2及檢驗用電路3，和用以對該些各電路自 外部裝置輸入各種訊號之端子（省略圖示）。檢驗用電路3係 在檢驗該光電裝置100中之像素等有無缺陷之時所使用之電 路。 另一方面，在對向基板102之內側表面上，全表面設置 有對向電極107。再者，雖然在對向基板102中之內側表面 上因應所需設置有與像素電極106相向之著色層（彩色濾光片 )，或與各像素.電極106之間隙部分相向之遮光膜，但是因與 本媽營無直接關係，故省略該圖示。再者，元件基板10 1及 對向基板102之內側表面係藉由可以在兩基板間連續性扭轉 液晶分子105之分子長軸方向的拋光處理過之配向膜覆蓋， 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） -11 - m Hu nn ml ι_ϋ m I (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 543025 經濟部智慧財產局資工消費合作社印製 Α7 Β7 五、發明説明（9 ) 另外，在兩基板之外側表面上各設置有因應拋光處理之偏 光子（任一者皆省略圖示）。而且，在第2圖中，爲了方便， 像素電極106或對向電極107等雖然持有厚度，但是實際上 該些各部對於基板係幾乎到了可以無視之十分薄。 接著，參照第3圖，說明與本實施形態有關之光電裝置 100之電器性構成。 如同圖所示，光電裝置100係具有沿著X(行）方向之m 條掃描線4-1、4-2.....4-m，和沿著Y(列）方向之η條資料 線5-1、5-2.....5-η。各掃描線4-i(l S m)之一端係連接 於掃描線驅動電路2，另一端則連接於檢驗用電路3。而且 ，對應於該些掃描線4-i和資料線5-j之各交叉設置有像素6 。即是，本實施形態中之像素6係配列成m行η列之矩陣狀 〇 掃描線驅動電路1係被稱作所謂的Υ移動暫存器。即是 ，掃描線驅動電路1係隨著規定之時中訊號而移動脈衝訊號 ，輸出在每各水平掃描期間選擇m條掃描線4-1、4-2..... 4-m之各個的掃描訊號Gl、G2、…Gm。 資料線驅動電路2係因應自外部裝置所供給之時鐘訊號 CLK、反轉實中訊號CLKB、啓動脈衝SP、畫像資料VID、 閂鎖脈衝LP，而用以供給資料訊號DT至資料線5-1、5-2、 …、5-n的電路，具有移動暫存器21、第1閂鎖電路22及第2 閂鎖電路23。本實施形態中之資料線驅動電路2係對並列於 X方向之η個之像素6( 1行份之像素），進行一起將因應於晝 像資料VID之資料訊號DT給予至1水平掃描期間內的線順 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) Α4規格(210Χ 297公釐) ΓΪ2 - (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)

543025 ^ ? 18 Α7 Β7 五、發明説明（1〇 ) 序驅動。 接者’各畫素6係具有畫素開關元件61和容量62。而且 ’在本實施形態中，例示著使用TFT(Thin Film Transistor) 作爲像素開關元件6丨之情形。各像素元件6丨係被介插於資 料線5-j和像素電極1〇6之間，選擇連接該閘極之掃描線4-i 之時’即是被供給於掃描線4-i之掃描訊號Gi爲主動位埠 (H位埠）之時，呈〇N狀態。 各像素6之容量62係由液晶容量621和存儲容量622所組 成。液晶容量621係依據晝素電極106和對向電極107而成爲 挾持液晶105之構成。存儲容量622係在像素電極106連接一 端’在施加一定電壓之容量線108(例如連接於電源之低位側 電位）連接另一端的容量，擔當防止藉由液晶容量6 2 1所保持 之電荷洩漏的任務。 在這樣之構成下，像素開關元件61成爲ON狀態之期間 ，當自資料線驅動電路2對資料線5-j輸出資料訊號DT時， 該資料訊號DT之電壓被施加於像素電極106，因應該電壓 之電荷則被存儲於液晶容量621及存儲容量622。另一方面 ，以在容量62存儲因應資料訊號DT之電荷之狀態，使像素 開關元件61成爲ON狀態，輸出因應被存儲於該像素容量6 之液晶容量321及存儲容量622之電荷的電壓至資料線5-j。 接著，檢驗用電路3係用以將存儲於各容量62之電荷的 電壓對外部裝置輸出之電路，具有對應於資料線5-1、5-2、 …、5-n之條數的η段移動暫存器32，和對應於資料線5_i、 5-2.....5-η而所設置之η個延遲電路33-j，及η個檢驗開 本紙悵尺度適用中國國家標準（CNS ) Α4規格（210x297公釐） -13 - 裝-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 、11 線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 54302592. 3. la 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 Α7 Β7 五、發明説明（11 ) 關元件34-j(l€ η)，和讀出訊號線35。 移動暫存器3 2係將自無圖示之外部裝置經由輸入端子 31所供給之檢驗用啓動脈衝TSP，隨著檢驗用時鐘訊號TCK 及反轉此之檢驗用反轉時鐘訊號TCKB而移動，將互相主 動位埠不重複之訊號Tal、Ta2、…TaN各對延遲電路33-1 、33-2 ..... 33-n輸出。該移動暫存器32係作爲供給各個檢 驗用時鐘訊號TCK及檢驗用反轉時鐘訊號TCKB的配線， 具有自輸入端子31沿著X方向之2條時鐘供給線321。 各延遲電路33-j係使自移動暫存器32所輸出之訊號Taj 開始之時機與檢驗用時鐘訊號TCK或是檢驗用反轉時鐘時 鐘訊號TCKB之位埠變化之時機（即是開始或結束之時機）不 同地，延遲該訊號Taj，作爲訊號Tbj輸出至檢驗開關元件 3 4-j。而且，在本實施形態中，自移動暫存器32所輸出之訊 號Taj係作爲依據延遲電路33-j僅延遲相當於檢驗用時鐘訊 號TCK(或是檢驗用反轉時鐘TCKB)之1/8週期的時間D者。 各檢驗開關元件34-j係一端連接於資料線5-j，另一端 連接於讀出訊號線35，因應自延遲電路33-j所輸出之訊號 TbJ而成爲〇N狀態或OFF狀態。具體而言，各檢驗開關元 件34-j係在來自延遲電路3 3-j之訊號Tbj爲主動位埠之期間 成爲ON狀態。然後，當檢驗開關元件34-j成爲ON狀態之 時’資料線5-j之電壓經由該檢驗開關元件34-j而輸出至讀 出訊號線3 5。 讀出訊號線35係沿著X方向之配線，連接著上述所有 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -14 - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)

543025 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（12 ) 之檢驗開關元件34-1、34-2 ..... 34-n之一端。再者，茹第 3圖所示，在該顧出訊號線35之一端形成有輸出端子351。 輸出端子3 5 1係用以將因應讀出訊號線35之電壓的讀出訊號 RS對外部裝置輸出的端子。在此，輸出端子351係相對於該 檢驗用電路3成爲位置於與輸入端子相反側上。即是，若採 用第3圖作爲例，輸出端子351係位至於檢驗用電路3之左側 ，另外，輸入端子31係位置於檢驗用電路3之右側的狀況。 採用如此之構成，其結果變成不需要將與讀出訊號線35中 之輸出端子35 1相反側（第3圖中之右側）之端部拉出至輸入端 子31之附近。 (B:實施形態之動作） 接著，針對光電裝置100進行檢驗時之動作予以說明。 該檢驗方法之中，首先，將因應晝像資料VID之資料 訊號DT之電壓施加至像素電極106，使因應該電壓之電荷 存儲至液晶容量621及存儲容量622之雙方。而且，在本實 施形態中，爲了便於說明，對所有之像素6當作給予相同之 資料訊號DT(即是，在所有之容量62存儲相同之電荷）者。 之後，在每個像素6上，將因應存儲於容量62之電荷的電壓 輸出至讀出訊號線3 5，將因應該電壓之讀出訊號RS自輸出 端子3 5 1輸出至.外部裝置。然後，根據該讀出訊號r s，判定 掃描線4 -1、4-2、…、4-n或是資料線5 -1、5-2、··· 5-ri有無 缺陷。以下，針對該些處理詳細敘述。 第4圖係表示用以將因應晝像資料VID之資料訊號〇丁 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) Μ規格（210X297公釐）~~- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)

五、發明説明（13 ) 543025 之電壓施加於各像素6之像素電極106之動作的時序圖。如 同圖所示，在某水平掃描期間HaO之開始時機中，給予啓動 脈衝SP至資料線驅動電路2內之移動暫存器21。移動暫存 器21係將該啓動脈衝SP隨著時鐘訊號CLK及反轉時鐘訊號 CLKB而移動，在該水平掃描期間HaO內，輸出互相主動位 埠不重複之訊號Sal、Sa2.....San。另一方面，第1閂鎖 電路22係在自移動暫存器21所供給之訊號Sal、Sa2.....

San之各個結束時，順序閂鎖自外部裝置所供給之晝像資料 VID。依此，在該水平掃描期間HaO結束時，應給予至1行 份之各像素6的畫像資料VID係作爲訊號Sbl、Sb2.....

Sbn而被輸出至第2閂鎖電路23。 然後，在接著的水平掃描期間Hal中，當對自第3圖中 之上方起的第1條掃描線4-1所供給之掃描訊號G1成爲主動 位璋之時，被連接於該掃描線4-1之1行份的像素開關61全部 成爲ON狀態。另一方面，在該水平掃描期間Ha 1之開始時 機，對資料線驅動電路2內之第2閂鎖電路給予閂鎖脈衝LP 。在該閂鎖脈衝LP下降，第2閂鎖電路23係將依據第1閂鎖 電路22而被點順序閂鎖之訊號Sbl、Sb2.....Sbn作爲資 料訊號DT —起輸出至所有資料線5-1、5-2.....5-n。再者 ，與該資料訊號DT之輸出並行，應給予至第3圖中之對應 於自上方起第2條掃描線4-2之1行份之像素的畫像資料VID ，係藉由第1閂鎖電路22點順序地被閂鎖。 在此，如上所述，在因應於畫像資料VID之資料訊號 DT —起被輸出期間，自上方起第1行之像素6之像素開關元 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） -16 - 裝— (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 543025 年片“曰 修正補充 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明（14 ) 件61成爲ON狀態。其結果，該些η個像素6之像素電極106 在該時點上被施加自資料線驅動電路2所輸出之資料訊號 DT之電壓。依此，在各像素6之容量62存儲著因應被輸出 於所對應之資料線5-j之資料訊號DT電壓的電荷。 以後以同樣之動作，至輸出對應於第m條掃描線4-m 之掃描訊號Gm爲止爲重複動作。其結果，成爲於mx η個 所有之像素6之容量62上存儲因應資料訊號DT之電壓的電 之後，實行用以將因應存儲於各容量62之電荷的電壓 在每像素6輸出至讀出訊號線35的處理。以下，參照第5圖 針對該處理詳細敘述。 首先，如上所述般，在因應資料訊號DT之電荷被存儲 於全像素6之容量62之後的水平掃描期間Hbl中，被輸出至 掃描線4-1之掃描訊號變成主動位埠，其結果，連接於該掃 描線4-1之1行份的像素6之像素開關元件61全部成爲ON狀 態。 另外，如第5圖所示在該水平掃描期間Hb 1之開始時機 ，給予檢驗用啓動脈衝TSP於檢驗用電路3內之移動暫存器 32。移動暫存器32係依據將該檢驗用啓動脈衝TSP隨著檢 驗用時鐘訊號TCK及檢驗用反轉時鐘訊號TCKB而移動， 將在該水平掃描期間Hbl內互相主動位埠不重複之訊號Tal 、Ta2.....Tan各對延遲電路33-1、33-2、…33-n輸出。 各延遲電路33-1、33-2、…33-11係如第5圖所示，將自 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐) -17 - " (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)

543025 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（15 ) 移動暫存器32所輸出之訊號Tal、Ta2.....Tan各僅延遲 相當於檢驗用時鐘訊號TCK或檢驗用反轉時鐘訊號TCKB 之1/8週期的時間D，將其結果所得到之訊號Tbl、Tb2、… 、Tbn各輸出至檢驗開關元件34-1、34-2、…34·η。該結果 ’如第5圖所示，在1水平掃描期間Hbl內，各檢驗開關元件 34-1、34-2、…34-n以僅比檢驗用時鐘訊號TCK或檢驗用 反轉時鐘訊號TCKB之位瑋變化之時機晚時間D之時機擇 一性地成爲順序ON狀態。 在此，如上所述，在水平掃描期間Hbl內，自上方第1 行之像素6之像素開關元件61成爲ON狀態。因此，依據訊 號Tbj成爲主動位埠，當檢驗開關元件34-j成爲ON狀態之 時，針對對應於連接於該檢驗開關元件34-j之資料線5-j和 自上方的第1條掃描線4-1之交叉的像素6，因應被存儲於該 液晶容量621及存儲容量622之電荷的電壓，係經由該資料 線5-j及檢驗開關元件34-j而被輸出至讀出訊號線35。如此 之動作係每次在水平掃描期間Hbl內各檢驗開關元件34-1、 34-2.....34-n成爲ON狀態時所進行的。其結果在每次各 開關元件34-j成爲ON狀態之時，讀出訊號RS之電壓，係 成爲因應存儲於對應著掃描線4-1和資料線5-j之交叉的像素 6之容量62之電荷的電壓。即是，較理想係第5圖所示之讀 出訊號RS’自輸出端子被輸出至外部裝置。但是，第5圖所 示之讀出訊號RS’之波形終究爲理想之波形，實際上自輸出 端子351所輸出之讀出訊號RS之波形係含有如第5圖所示之 雜波N。即是，因供給各檢驗用時鐘訊號TCK及檢驗用反 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)

本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -18 - 543025 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（16 ) 轉時鐘訊號TCKB之移動暫存器內之各時鐘供給線321和讀 出訊號線35之間產生的容量結合，導致自輸出端子351所輸 出之讀出訊號RS含有在該檢驗用時鐘訊號TCK及檢驗用

反轉時鐘訊號TCKB之位埠變化之時機附近所發生之雜波N 〇 另外，當上述水平掃描期間Hbl結束時，接著在水平掃 描期間Hb2、Hb3.....Hbm也做相同之動作。即是，在某 掃描訊號Gi成爲主動位埠之水平掃描期間Hbi中，因應被 存儲於對應於掃描線4i之第1行的各容量62之電荷的電壓（ 即是，被施加於像素電極10之電壓），係以僅比檢驗用時鐘 訊號TCK之位璋變化之時機晚時間D的時機，順序輸出至 讀出訊號線3 5。 其結果讀出訊號RS係反映針對各像素6所出之電壓， 而且，作爲含有雜波N之訊號而自輸出端子351所輸出者。 當針對所有之容量62完成如此之處理時，根據該結果 所得到之讀出訊號RS而判定該光電裝置有無缺陷。即是， 首先，檢測出各檢驗開關元件34-1、34-2.....34-n成爲 〇N狀態之各期間中的讀出訊號RS之電壓。如此一來所檢 測出之各電壓係因應被存儲於mx η個像素6之各容量62之 電荷的電壓。然後，在每個像素6依據比較因應於被存儲於 該像素6之容量62之電荷的電壓’和對該像素所給予之資料 訊號DT之電壓，而判定像素6或各掃描線4-1、4-2、…4-m 、各資料線5-1、5-2、…5-n中是否有無缺陷。例如，因應 被存儲於某像素6之容量62之電荷的電壓，顯著地比因應資 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） -19 - ' I II ^—^1 - - - 1=1 flu n^i ϋϋ · (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂-----•線 543025兄3,： 經濟部智慧財產局員工消費合作杜印製 A7 B7 五、發明説明（17 ) 料訊號DT之電壓小之時，可以針對該像素6判定有何種之 缺陷。再者，因應被存儲於1行份之像素6所有容量62之電 荷的電壓，顯著地比對該些各像素給予的資料訊號DT之電 壓小之時，可以判定連接該些像素6之掃描線4-i發生斷線 等之缺陷。同樣地，若比較因應存儲於1列份之畫素6所有 之容量62之電荷的電壓，和被給予至該些像素6之資料訊號 DT之電壓之時，也可特定具有缺陷之資料線5-j。然後，針 對被判定爲有產生任何缺陷之光電裝置100，則判斷爲不良 品，另外，判定無產生任何缺陷之光電裝置，則判斷爲良 品。 如此，若依據本實施形態，因根據因應於存儲於各像 素6之容量62之電荷的電壓，而判定有無缺陷，故針對光電 裝置100之像素6，各掃描線4-1、4-2.....4-m及資料線5-1 、5-2、…5-n，可以正確地檢驗有無缺陷。而且，若依據本 實施形態因成爲在每個像素6輸出因應存儲於像素6之容量 62之電荷的電壓至讀出訊號線35，故可以自多數像素6中特 定具有缺陷之像素6。同樣地，可以自多數掃描線4-1、4-2 .....4-n或資料線5-1、5-2、…5-n中特定具有缺陷之掃描 線4-i或是資料線5-j。 再者，如上所述，雖然於讀出訊號RS含有與檢驗用時 鐘訊號TCK及檢驗用反轉時鐘訊號TCKB之位埠變化的雜 波N，但是若依據本實施形態，則有可以抑制雜波之影響 執行正確檢驗的優點。以下，針對該效果，詳細敘述。 裝----Ί (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂---- 線 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） -20 - A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 543025 92 3. 18 五、發明説明（18 ) 在此，爲了與上述進行相同之檢驗，也暫且考慮使用 第6圖所示之構成的檢驗用電路3’。即是，該檢驗用電路3’ 無具有第3圖所示之延遲電路33-j，針對來自移動暫存器32 之輸出訊號Tal、Ta2.....Tan被直接輸出至檢驗用·元件 34-1、34-2、…34-ri之點，及輸出端子351和移動暫存器32 之輸入端子31配置在與檢驗電路3’相同側之點，係與本實施 形態之檢驗裝置3不同（參照第3圖）。 使用如此之檢驗用電路:T將因應存儲於各容量62之電荷 的電壓輸出至讀出訊號線35之時，各訊號之波形則如第7圖 所示。即是，在該檢驗用電路3’中，因依據自移動暫存器32 直接所供給之訊號Taj而控制檢驗開關元件34-j之開關，故 檢驗關元件34-j自OFF狀態切換成ON狀態之時機（即是訊 號Ta-j變化成主動位埠），和檢驗用時鐘訊號TCK之位埠變 化之時機大致相同。即是，自各容量62對讀出訊號線35輸 出電壓之時機，和檢驗用時鐘TCK之位埠變化之時機成爲 極接近，其結果，在被輸出至輸出端子之訊號RS’中，自各 容量62所輸出之電壓和雜波N重複。因此，正確地檢測出 因應存儲於各容量62之電荷的電壓則爲困難，妨礙正確檢 驗。 對此，若依據與本實施形態有關之檢驗用電路3，依據 被介插於移動暫存器32和各檢驗開關34-j之間的延遲電路 3 3-j，使檢驗開關元件34-j成爲〇N狀態之時機，和檢驗用 時鐘訊號TCK之位埠變化之時積變成不同。因此，如第5圖 所示，在讀出訊號RS中，迴避自各容量62所輸出之電壓與 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） =21 - (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)

543025 A7 B7 五、發明説明（19 ) 雜波重複的事態。因此，可以正確檢測出因應被存儲於各 容量62之電荷的電壓，比第6圖所示之檢驗用電路3’可以實 現正確的檢驗。 而且，在第6圖所示之檢驗用電路3’中，因輸出端子351 被配射在與移動暫存器32之輸出端子相同側，故需要使讀 出訊號線35可以延伸至輸入端子之附近而形成。即是，不 得不將讀出訊號線35和各時鐘供給線321並行的部份變成較 長，因該部份之容量結合而產生增大雜波N的結果。 對此，在本實施形態中，輸出端子351相對檢驗電路3 被配置於輸入端子之相反側。因此，如第3圖所示，可以將 拉出至讀出訊號線35中之輸入端子3 1側之部份縮短。換言 之，因可以減少發生容量結合之部份，故比起第6圖所示之 構成，可以降低顯現於讀出訊號RS之雜波，進而可以實現 正確之檢驗。 (C :變形例） 針對以上該發明之一實施形態已說明，但是上述實施 形態終究僅是例示，對於上述實施形態，只要在不脫離本 發明主旨之範圍內可以加以多種變形。已變形例而言，可 想像到的例如有下述之例示。 (1 )在上述實施形態中，雖然以經由密封材料104貼 合元件基板101及對向基板102而封入液晶105之後的光電裝 置100爲檢驗對象，但是即使對貼合兩基板前之階段的光電 裝置100(元件基板101)進行檢驗亦可。但是，此時，因液晶 I---------- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -22 - 543025 月 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明（2〇 ) 容量62 1係在尙未形成之狀態（即是，僅有形成像素電極106 之狀態），檢驗則使用各像素6之存儲容量622。具體而言， 首先，自資料線驅動電路2對各像素6輸出資料訊號DT，對 該各像素電極106施加因應該資料訊號DT之電壓，將因應 該電壓之電荷存儲至存儲容量622。然後，在每各像素將因 應6存儲於存儲容量622之電荷的電壓（即是，被施加於像素 電極106之電壓）輸出至讀出訊號線35,作爲讀出訊號RS自 輸出端子輸出。即使在本變形例亦可以得到與上述實施形 態相同之效果。而且，若依據本實施形態，因可以在進行 貼合基板及封入液晶105之前的階段，判別像素6等有無缺 陷’故可以得到可以降低製造成本的優點。 如此，在本發明，至少不需要對液晶容量621及存儲容 量622雙方所組成之容量62隨著資料訊號DT而存儲電荷。 即是在對像素電極106施加因應資料DT的電壓之後，若爲 可以將該電壓輸出輸出訊號線35之構成。 (2 )上述實施形態中，雖然例示著僅各資料線5-j之 一端配設資料線驅動電路2的光電裝置1 〇〇，但是例如第8圖 ’在各資料5-j之一端配設第1資料線驅動電路2a，在另端配 設第2資料線驅動電路2b的光電裝置1〇〇也可適用本發明。 此時’如同圖所示，若爲在第2資料線驅動電路2b，和最接 近該第2資料線驅動電路2b之1行份之像素6之間，設置與上 述實施形態有關之檢驗用電路3之構成亦可。或是，即使在 第1資料線驅動電路2a和最接近該第1資料線驅動電路2a之1 仃份之像素6之間設置檢驗用電路3亦可。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝· 訂 線 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -23 - 543025

經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（21 ) 在此’如第8圖所不跨過多數資料線5-1、5-2、…、5-n 而設置檢驗用電路之時，檢用驗電路3之移動暫存器32內之 時鐘供給線321，和各資料線5-j成爲交叉。因此，不僅在 時鐘供給線321和讀出訊號線之間，在時鐘供給線321和各 資料線5-j之間也產生容量結合。隨之，採用第8圖所示之 構成時，比起採用第3圖所示之構成之時，含在讀出訊號RS 之雜波變大。即使在這樣的雜波較大之時，若依據本發明 ’因可以使自各像素6之容量62對讀出訊號線35輸出電壓之 時機，和檢驗用時機訊號TCK或檢驗用反轉時鐘訊號 TCKB之位埠變化之時機不同，故可以執行正確檢驗。而且 ’除了上述之外，當然將一對掃描線驅動電路各配設於掃 描線4-i之兩側的光電裝置，或使用點順序驅動方式之資料 線驅動電路之光電裝置亦可適用本發明。 (3 )在上述實施形態中，雖然例示著檢驗用電路3形 成於元件基板上101上之情形，但是也可考慮將檢驗用電路 3當作與光電裝置100不同主體而設置。即是，如第9圖所示 ，檢驗用電路3不設置在光電裝置100上，使用具備上述實 施形態所示之檢驗用電路3之檢裝置7而進行檢驗。同圖所 示之檢驗裝置7係具備有用以收容檢驗用電路3之框體71， 和電氣性連接於具有檢驗用電路3之各檢驗開關元件34-j之 一端的探針72。使用如此之檢驗裝置7進行檢驗之時，在將 各探針72各連接於屬於各資料線5-j之一部分的檢驗對象部 73之狀態下，令各檢驗開關元件34-j呈順序ON狀態，依此 將因應存儲於各像素6之容量62之電荷的電壓輸出至讀出訊 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（2丨0X 297公釐） -24 - ' (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)

543025 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（22 ) 號線35，而可以實行與上述實施形態相同之檢驗，得到與 上述實施形態相同之效果。而且，若成爲如此之構成，因 不需要將檢驗用電路3組入各個爲製造對象之光電裝置7， 使用共同之檢驗裝置7可以執行多數之光電裝置1 00之檢驗 ，故可以達到降低製造成本。再者，在上述實施形態中， 僅形成檢驗用電路3之空間的部份，即可以將光電裝置100 予以小型化。 (4 )在上述實施形態中，雖然例示檢驗用電路3僅具 備1條讀出訊號線35之情形，但是，讀出訊號線35之條數及 輸出端子351之個數並非僅限於此，例如如第10圖所示，也 可考慮用設置2條之讀出訊號線3 5a及35b，和用以自讀出訊 號線35a出屋讀出訊號RS1之輸出端子351a，和用以自讀出 訊號線35b輸出讀出訊號線RS2的輸出端子35 lb的構成。採 用該構成之時，如同圖所示，將自左數起第奇數號的檢驗 開關元件之檢驗開關元件34-j之一端連接至讀出訊號35a， 另外即使作爲將自左屬起第偶數號之檢驗開關元件34-j + l之 異端連接於讀出訊號線35b之構成亦可。 (5)在上述實施形態中，雖然將讀出訊號線35之輸出 端子351設置於與移動暫存器32之輸入端子31相反側上，而 且使自各容量62對讀出訊號線35之電壓的輸出時機與檢驗 用時鐘訊號TCK之位埠變化之時機不同，但是即使僅採用 該些中之任一方亦可。即是，例如僅使對讀出訊號線35之 電壓的輸出時機與檢驗用時鐘訊號TCK之位埠變化的時機 不同，若可以抑制雜波之影響而實現充分地正確檢驗的話 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐1 「25 - " 一~' (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)

543025 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明（23 ) ，即不需要將輸出端子設置在與輸出端子3 1相反側上。相 反的情形也同樣。 (6 )在上述實施形態中，爲了點順序地使檢驗用電路 3之檢驗開關元件34-j成爲ON狀態，雖然使用移動暫存器 32，但是可以使用例如位址解碼器代替該移動暫存器32。 即是即使對因應多數資料線5-1、5-2.....5·η中所給予的 位址訊號中之任一者的檢驗開關元件34-j，使用可輸出主動 位璋之訊號的位址解碼器，使得可以任意地選擇任一開關 元件34-j亦可。此時，若使對應指定任一開關元件34-j的讀 出位址而重複位埠變化之位址訊號之位璋變化的時機，和 來自各容量62之電壓之輸出時機（即是，使檢驗開關元件34-j變成〇N狀態之時機）不同即可。如此，本發明中之「動作 .指示訊號」並不係限於經常在一定週期重複位埠變化的時 鐘訊號者，係也含有如上述之位址訊號般的訊號之槪念。 即是，本發明中之「動作指示訊號」若係重複位埠變化之 訊號，規定檢驗用電路內之動作之訊號亦可。 再者，在上述實施形態，作爲用以使檢驗開關元件34-j 呈ON狀態之時機和檢驗用時鐘訊號TCK之位埠變化的時 機不同的手段雖然使用延遲電路33-j，但是用以實現如此之 機能的手段並不限於延遲電路33-j。 如此’檢驗用電路3之構成並不限於上述實施形態或各 變形例所例示的構成。即是，本發明中之「檢驗用電路」 係根據上述動作指示訊號而動作，而且若爲在與該動作指 i紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) M規格（210X297公董)1—26 - ' ~ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝· 訂 線 543025 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 Α7 Β7 五、發明説明（24 ) 示訊號之位埠變化的時機不同的時機，可將因應存儲於各 像素6之容量62之電荷的電壓輸出至讀出訊號線35的電路的 話，即使像這樣之構成亦可。 (7 )在上述實施形態中，雖然將依據延遲電路33-j所 產生之延遲時間D設定成相當於檢驗用時鐘訊號TCK之1/8 週期的時間，但是即使設定成除此以外之時間當然亦可。 即是，若依據使來自各容量62之電壓的輸出時機，與檢驗 用時鐘TCK之位埠變化的時機不同，而可以自含有雜波之 讀出訊號RS檢測出因應被存儲於各像素6之容量62之電荷 的電壓的話，即使雙方之時機不同程度爲如何亦可。 不過將時間D設定成相當於檢驗用時鐘訊號TCK之1/2 週期的時間之時，則與第7圖所示之情形相同，來自各容量 62之電壓的輸出時機成爲與檢驗用時鐘訊號TCK之位埠變 化之時機（即是。雜波之發生時機）一致之結果。再者，如第 5圖或第7圖所示，雜波N持有規定之寬發生在時間軸上。 當考慮到該些事情時，爲了有效迴避雜波之影響而確保檢 驗之正確性，將上述之時間D設定成檢驗用時鐘訊號TCK 之1/8週期至1/4週期爲最佳。 再者，在上述實施形態，雖然令在mx η個所有像素6 之容量62存儲著因應資料訊號DT之相同之電荷，但是即使 僅對一部分像素6存儲所涉及的電荷亦可，或是即使將不同 之電壓之資料訊號DT給予至每個像素6,使不同之電荷存 儲於各個容量62亦可。 (8 )在上述實施形態中，雖然例示著液晶裝置作爲光 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS ) Α4規格（210X297公釐) :27 - ' -- (· ϋϋ ιϋ« »ϋι — —^ϋ I- -1 —ί ·ϋι SI- · (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂--- 線 543025 A7 B7 五、發明説明（25 ) 電裝置1 00，但是，可以適用本發明的並非僅限於此。例如 作爲可適用本發明的光電裝置除了液晶裝置之外，亦可考 慮使用電致發光（EL)，或依據電漿射出或電子放出的螢光等 ’依據該光電效果進行顯示之各種光電裝置。此時，作爲 光電物質有EL、鏡裝置、氣體、螢光體等。而且，使用EL 作爲光電物質之時，因EL介於元件基板101中之像素電極 106和對向電極107之間，故不需要液晶裝置所需要之對向 基板102。 (D:電子機器） 接著，針對幾個使用與上述之實施形態有關之光電裝 置的電子機器予以說明。 (1:攜帶型電腦） 首先，參照第11圖，針對上述之光電裝置100適用於攜 帶型之個人電腦的例予以說明。如同圖所示，電腦400係具 備有鍵盤401之主體部402，和作爲顯示部所使用之光電裝 置100。而且，在該光電裝置之背面設置有用以提高視認性 的背光元件（省略圖示）。 (2:行動電話） 接著，參照第12圖，針對上述之光電裝置100適用於行 動電話機之顯示部的例予以說明。如同圖所示，行動電話 4 10係除了具有多數的操作按鈕411之外，還具備有受話口 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS ) A4規格（2丨0X297公釐） -28 - ---- I m n^i I -1 I (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} 、11 線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 修正、 補充 Α7 Β7 543025 k i. 18 \ η 五、發明説明（26 ) 412、送話口 413，同時也具有上述之光電裝置。 若依據與本發明有關之光電裝置的話，因可以針對各 晝素或掃描線、資料線有無缺陷進行正確檢驗，故即使在 ’下且入此之電子機器’亦可以擔保相當商之信賴性。而且， 除了上述攜帶型電腦及行動電話機之外，可舉例的還有液 晶電視、取景型、螢幕直視型的磁帶錄像機、汽車導航裝 置、傳呼機、電子記事本、計算機、打字機、操作台、影 像電話、POS終端、具有觸控面板之機器，具有將光電裝 置作爲光閥的投影機。 【發明效果】 如以上之說明，若依據本發明則可以得到針對光電裝 置之配線或電極等的有無缺陷進行正確檢驗的效果。 【圖面之簡單說明】 第1圖係表示與本發明實施形態有關之光電裝置之構成 的平面圖。 第2圖係表示第1圖中之A-A’線剖面圖。 第3圖係表示同光電裝置之電氣性構成的方塊圖。 第4圖係表示同光電裝置中，存儲電荷於各像素之容量 時之動作的時序圖。 第5圖係同光電裝置中，檢測因應被存儲於各像素之容 量之電荷的電壓時之動作的時序圖。 第6圖係表示採用與同光電裝置不同之構成的另外液晶 本紙張尺度適用中.國國家標準（CNS ) Α4規格（210X297公釐） -29 - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁} -裝 線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 543025 年月曰 修正補充 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作杜印製 五、發明説明（27 ) 裝置之構成的方塊圖。 第7圖係用以說明在上述其他光電裝置中所檢測出因應 被存儲於各像素之容量之電荷的電壓波形的時序圖。 第8圖係表示與本發明之變形例有關之光電裝置的電氣 性構成的方塊圖。 桌9圖係表不與本發明之變形例有關之光電裝置之檢驗 用電路之構成的方塊圖。 第10圖係表示與本發明之變形例有關之光電裝置之電 氣性構成的方塊圖。 第11圖係表示適用與本發明有關之光電裝置的電子機 器之一例的個人電腦之構成的斜視圖。 第12圖係表示適用同光電裝置之電子機器之一例的行 動電話機之構成的斜視圖。 【圖號說明】 1 2 21 22 23 3 31 32 321 掃描線驅動電路 資料線驅動電路 移動暫存器 第1閂鎖電路 第2閂鎖電路 檢驗用電路 輸入端子 移動暫存器（輸入手段） 時鐘供給線 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -30 - (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) .裝_ 、11 543025 Α7 Β7 五、發明説明（28 ) 33- j(l ^ π) 34- j(l ^ η) 延遲電路（時機變更手段） 檢驗開關元件 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 35 讀出訊號線 351 輸出端子 4-i(l ^ m) 掃描線 5-j(l^ η) 資料線 6 像素 61 像素開關元件 62 容量 621 液晶容量 622 存儲容量 7 檢驗裝置 71 框體 72 探針 100 光電裝置 101 元件基板 102 對向基板 103 間隔物 104 密封材料 105 液晶（光電物質） 106 像素電極 107 對向電極 108 容量線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝---- --訂-----線 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) Α4規格（210X297公釐） -31 -

Claims (1)

1. 543025 ' .二 j A8 B8 C8 D8 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 1 1. 一種光電裝置之檢驗方法，係屬於使用將具備有被設 置在對應著掃描線和資料線之交叉，而構成容量之一端的 像素電極，和被介插於上述像素電極和上述資料線之間之 像素關關兀件的光電裝置，根據反覆位璋變化之動作指示 訊號而動作之檢驗用電路予以檢驗的方法，其特徵爲：具 有 依據令上述像素開關元件成爲ON而使上述像素電極得 到資料訊號的第1過程； 一種屬於使用上述檢驗用電路，令施加於上述像素電 極中之電壓輸出至讀出訊號線之過程，在比上述動作指示 訊號之位璋變化之時機還晚的時機，使被介插於上述像素 電極和上述資料線之間的檢驗開關元件成爲ON之第2過程 ;和 判定被輸出至上述讀出訊號線之電壓係否爲對應於響· 應該像素電極所得到之資料訊號之電壓者的第3過程。 2. —種光電裝置之檢驗用電路，係針對具備有被設置在 對應著掃描線和資料線之交叉，而構成容量之一端的像素 電極，和被介插於上述像素電極和上述資料線之間之像素 關關元件的光電裝置，而屬於在依據令上述開關元件成爲 〇N而使上述像素電極得到資料訊號後，爲了判定被施加於 該像素電極之電壓係否爲對應於響應該資料訊號之電壓， 而將被施加於上述像素電極之電壓輸出至讀出訊號線的電 路，其特徵爲：具備有 被介插於上述資料線和上述讀出訊號線之間的檢驗開 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝- 訂 絲 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -32 - 543025 A8 B8 C8 D8 々、申請專利範圍 2 關元件；和 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 一種屬於根據反覆位埠變化之動作指示訊號而動作之 控制電路，在比該動作指示訊號之位埠變化之時機還晚的 時機，使上述檢驗開關元件成爲ON的控制電路。 3·如申請專利範圍第2項所記載之光電裝置之檢驗用電 路，其中，上述控制電路係在比上述動作指示訊號之位瑋 變化之時機僅晚相當於該動作指示訊號之週期的8分之1到4 分之1之時間的時機，使上述檢驗開關成爲〇N。 4 ·如申請專利範圍第2項或第3項所記載之光電裝置之檢 驗用電路，其中，用以對上述控制電路輸入上述動作指示 訊號之輸入端子和上述讀出P號線/之輸出端子，係夾著’該 控制電路而被設置在相反的位置上。 5. 如申請專利範圍第2項或第：p頁所記載之光電裝置之檢 驗用電路，其中，上述控制電路係具有：根據上屬動作指. 示訊號而輸出位埠變化之控制訊號'的輸出手段；和 使上述動作控制訊號之位埠變化的時機形成比上述動 作指示訊號之位埠變化之時機還晚的時機變更手段。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 6. 如申請專利第5項所記載之光電裝置之檢驗用電路， 其中，上述時機變更手段係延遲手段。 7. —種光電裝置之檢驗用電路，係針對具備有被設置在 對應著掃描線和資料線之交叉，而構成容量之一端的像素 電極，和被介插於上述像素電極和上述資料線之間之像素 關關元件的光電裝置，而屬於在依據令上述開關元件成爲 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -33 - 543025 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 3 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ON而使上述像素電極得到資料訊號後，爲了判定被施加於 該像素電極之電壓係否爲對應於響應該資料訊號之電壓， 而將被施加於上述像素電極之電壓輸出至讀出訊號線的電 路，其特徵爲：具備有 被介插於上述資料線和上述讀出訊號線之間的檢驗開 關元件； 根據反覆位埠位璋變化之動作指示訊號，而使上述檢 驗開關元件成爲ON的控制電路； 用以對上述控制電路輸入上述動作指示訊號的輸入端 子；和 一種屬於用以輸出上述讀出訊號線之電壓的輸出端子 ’相對於上述控制電路係被設置在與上述輸入端子相反側 上的輸出端子。 8.—種光電裝置，其特徵爲：具備有 被設置在對應著掃描線和資料線之交叉，而構成容量 之一端的像素電極； 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 被介插於上述像素電極和上述資料線之間之像素關關 元件； 依據令上述開關元件成爲ON而使上述像素電極得到資 料訊號後，爲了判定被施加於該像素電極之電壓係否爲對 應於響應該資料訊號之電壓，而將被施加於上述像素電極 之電壓輸出至讀出訊號線的檢驗用電路， 上述檢驗用電路係具有： 被介插於上述資料線和上述讀出訊號線之檢驗開關元 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） -34 - I 補允丨 _a_______ 六、申請專利範圍 4 件；和 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 一種屬於根據反覆位埠變化之動作指示訊號而動作的 控制電路，在比該動作指示訊號之位埠變化之時機還晚的 時機，使上述檢驗開關元件成爲Ο N的控制電路。 9·如申請專利範圍第8項所記載之光電裝置，其中，上 述控制電路係在比上述動作指示訊號之位埠變化之時機僅 晚相當於該動作指示訊號之週期的8分之1到4分之1之時間 的時機，使上述檢驗開關成爲ON。 10·如申請專利範圍第8項或第9項所記載之光電裝置， 其中，具有用以對上述控制電路輸入上述動作指示訊號之 輸入端子，和一種用以輸出上述讀出訊號線之電壓的輸出 端子，相對於上述控制電路係被設置在與上述輸入端子相 反側上的輸出端子。 11. 如申請專利範圍第8項或第9項所記載之光電裝置， 其中，上述容量係將上述像素電極當作一端，將對向電極 當作另一端，挾持光電物質者。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 12. 如申請專利範圍第8項或第9項所記載之光電裝置， 其中，具有一端係被連接於上述像素電極，另一端被連接 於容量線的存儲容量。 13. 如申請專利範圍第8項或第9項所記載之光電裝置， 其中，上述控制電路係具有根據上述動作指示訊號而輸出 位埠變化之控制訊號的輸出手段；和使上述動作控制訊號 之位埠變化的時機形成比上述動作指示訊號之位埠變化之 時機還晚的時機變更手段。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） .35- 543 Α8 Β8 C8 D8 六、申請專利範圍 5 14.如申請專利範圍第13項所記載之光電裝置，其中， 上述時機變更手段係延遲手段。 15·—種光電裝置，其特徵爲··具備有 被設置在對應著掃描線和資料線之交叉，而構成容量 之一端的像素電極； 被介插於上述像素電極和上述資料線之間之像素關關 元件； 依據令上述開關元件成爲ON而使上述像素電極得到資 料訊號後，爲了判定被施加於該像素電極之電壓係否爲對 應於響應該資料訊號之電壓，而將被施加於上述像素電極 之電壓輸出至讀出訊號線的檢驗用電路， 上述檢驗用電路係具有： 被介插於上述資料線和上述讀出訊號線之檢驗開關元 件； 和根據反覆位埠變化之動作指示訊號，使上述檢驗開 關元件成爲ON的控制電路； 用以對上述控制電路輸入上述動作指示訊號之輸入端 子；和 一種用以輸出上述讀出訊號線之電壓的輸出端子，相 對於上述控制電路係被設置在與上述輸入端子相反側上的 輸出端子。 16.—種電子機器，其特徵爲：具有申請專利範圍第8項 至第15項中之任一項所記載之光電裝置。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) Α4規格（210X297公釐） -36 - ^-- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 、1Τ 絲 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製