JP4610886B2

JP4610886B2 - 画像表示装置、電子機器

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Publication number: JP4610886B2
Application number: JP2003409668A
Authority: JP
Inventors: 剛長多
Original assignee: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Current assignee: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
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Filing date: 2003-12-08
Publication date: 2011-01-12
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Also published as: JP2004199054A

Description

本発明は、画素がマトリクス状に配置された画像表示装置及び画像表示装置の検査方法に関する。

液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）や、エレクトロルミネッセンス（ＥＬ）ディスプレイ等の画像表示装置においては、近年高精細化が進み、素子の集積度も大きく向上してきている。

画像表示装置の製造ラインにおいては、完成品としてのパネル出荷に際し、基板上に実装した回路が正常動作しているかの検査が不可欠であるが、前述した高精細化に伴い、検査工程自体も複雑化してきている。

図３は、従来の画像表示装置における、検査回路を実装した基板の構成を示している（例えば、特許文献１参照）。この画像表示装置は、基板３０１、ソース駆動回路３０２、ゲート駆動回路３０３、画素３０４、データ信号線３０５、走査線３０６、検査回路３１１、スイッチ駆動回路３１２、アナログスイッチ３１３、検査線３１４、検査端子３１５ａ、３１５ｂを有する。基板３０１は検査回路３１１を実装し、マトリクス状に配置された画素３０４を有し、データ信号線（ソースバスライン）３０５と走査線（ゲートバスライン）３０６がお互いに直交するよう配置され、各走査線３０６はゲート駆動回路３０３に接続、各データ信号線３０５はソース駆動回路３０２に接続されている。

画素部は、表示領域に設けられ、表示に寄与する第一の画素と、表示領域の外縁部（以後、非表示領域と記載する）に設けられ、表示には寄与しない第二の画素を有する。図７（Ａ）に概略を示す。ただし、ここでは簡単のため、非表示領域は７０４ｂで示す領域に設けられているが、通常、表示領域の外縁を囲うように非表示領域が設けられることが多い。

上記表示装置は、各走査線３０６によって、これらの走査線３０６に接続されている各画素を制御し、映像信号はソース駆動回路３０２に順次取り込まれ、ラッチ信号が入力されると同時に各データ信号線３０５に出力され、各画素に入力される。

上記表示装置の有する画素は、図７（Ｂ）により詳しく説明する。それぞれの画素は、データ信号線７１１、走査線７１２、電流供給線７１７、スイッチング用薄膜トランジスタ（以下、薄膜トランジスタをＴＦＴと省略する）７１３、駆動用ＴＦＴ７１４、容量手段７１５、発光素子７１６、電源線７１８を有している。

駆動用ＴＦＴ７１４のゲート電極とデータ信号線７１１の間にスイッチング用ＴＦＴ７１３が接続され、スイッチング用ＴＦＴ７１３のゲート電極に走査線７１２が接続されている。このため、スイッチング用ＴＦＴ７１３ＯＮ状態の時は、データ信号線７１１に出力されている信号により駆動用ＴＦＴ７１４を制御することができる。また、容量手段７１５は、駆動用ＴＦＴ７１４のゲート電極と電流供給線７１７の間にあり、駆動用ＴＦＴ７１４のゲート・ソース間電圧を保持する。

第一及び第二の画素の違いを以下に述べる。第一の画素において発光素子７１６は駆動用ＴＦＴ７１４と電源線７１８に接続されており、駆動用ＴＦＴ７１４が電流供給線７１７から発光素子７１６に電流を供給することで発光する。発光は、ソース信号線から映像信号を駆動用ＴＦＴのゲート電極に送り、入力された映像信号の電位に従って行われる。第二の画素は発光素子と駆動用ＴＦＴは接続されないため非発光であり、ダミー画素となっている。

このようにダミー画素を有する非表示領域を表示領域の周辺に設置する理由の一つは、ＬＣＤや発光素子を用いたディスプレイ等のフラットパネルディスプレイにおいては、液晶素子や発光素子を画素部に形成する工程があるが、その際、画素部の中心部に比べて周辺部が不均質になり易いことがあげられる（例えば、特許文献２参照）。

上記表示装置の配線間の短絡や配線の断線の検出は、走査線３０６の端に設けられた検査端子３１５ａにプローブピンを接触させて出力を調べる方法、検査回路３１１を使用する方法がある。検査回路３１１は、スイッチ制御回路３１２を順次駆動しながら、各データ信号線の電位レベルを順次検査線３１４に送り、検査端子３１５ｂにプローブピンを接触させ調べる。

検査端子３１５ａにプローブピンを接触させる方法を用いると、各検査線と同数の検査端子に対して検査するため、膨大な時間がかかる。あるいは、時間を短縮させるためプローブピンの数を増やすと、高価な検査機が必要となる。そこで検査回路３１１を基板上に形成することが考えられるが、スイッチ駆動回路３１２を必要とするため画像表示とは無関係な回路であるにもかかわらず、膨大な面積を占有する。

これに対して、スイッチ駆動回路を設置しない検査回路を有する画像表示装置が提案されている（例えば、特許文献３参照）。図４は、上記画像表示装置の構成図であり、基板４０１、ソース駆動回路４０２、ゲート駆動回路４０３、画素４０４、データ信号線４０５、走査線４０６、映像信号線４０７、アナログスイッチ４０８および４１２、検査回路４１１、検査線４１３、検査端子４１４ａ、４１４ｂを有する。各データ信号線４０５はアナログスイッチ４１２のゲートに接続されている。

データ信号線４０５を検査する場合には、映像信号線４０７に検査用パルスを入力し、アナログスイッチ４１２からの出力波形を検査端子４１４ｂの出力により観察し、断線等の不良を発見することができる。

特開平１４−１１６４２３号公報特開平５−２４１１５３号公報特許第２６１８０４２号公報

ところが、上記検査法では、ゲート駆動回路４０３やソース駆動回路４０２の動作及び走査線４０６やデータ信号線４０５の良否を検査するだけである。しかし、画素４０４内部の薄膜トランジスタが十分制御されているかが検査できないと、十分な検査であるとはいえない。

本発明の目的は、検査機が多くのプローブピンを用いずに、検査回路の面積を最小に抑えたままで、簡単かつ短時間で検査が可能であり、さらに、駆動回路や走査線、データ信号線のみならず画素内部のＴＦＴの特性も含めて検査可能な画像表示装置と、画像表示装置の検査方法を提供することである。

本発明は、検査回路によって占められる部分を最小限に抑えつつ、画素中の回路や画素制御の検査を簡単且つ確実に行うことができるようにするために、画素回路の一部を検査回路またはダミー回路とする表示装置である。

本発明の画像表示装置は、
表示領域と検査領域とが設けられた画素部を有し、
前記表示領域および前記検査領域はそれぞれ、第１の画素回路と、第２の画素回路とを有し、
前記第１の画素回路および前記第２の画素回路はそれぞれ、データ信号線と、走査線と、スイッチング用トランジスタと、駆動用トランジスタとを有し、
前記スイッチング用トランジスタは、ゲート電極が前記走査線と電気的に接続されて前記データ信号線と前記駆動用トランジスタのゲート電極との間に設けられ、
前記第１の画素回路において、前記駆動用トランジスタは、電流供給線と発光素子との間に設けられ、
前記第２の画素回路において、前記駆動用トランジスタは、前記電流供給線と検査出力端子との間に設けられたことを特徴とする。

本発明の画像表示装置は、
表示領域と検査領域とが設けられた画素部を有し、
前記表示領域および前記検査領域はそれぞれ、第１の画素回路と、第２の画素回路とを有し、
前記第１の画素回路は、データ信号線と、走査線と、スイッチング用トランジスタと、駆動用トランジスタとを有し、
前記第２の画素回路は、前記データ信号線と、前記走査線と、前記スイッチング用トランジスタとを有し、
前記第１の画素回路において、前記スイッチング用トランジスタは、ゲート電極が前記走査線と電気的に接続されて前記データ信号線と前記駆動用トランジスタのゲート電極との間に設けられ、前記駆動用トランジスタは、電流供給線と発光素子との間に設けられ、
前記第２の画素回路において、前記スイッチング用トランジスタは、前記データ信号線と検査出力端子との間に設けられたことを特徴とする。

本発明の画像表示装置において、
前記検査領域は、前記表示領域部の外縁部に設けられたダミー画素領域に設けられたことを特徴とする。

本発明の画像表示装置の検査方法は、
表示領域と検査領域とが設けられた画素部を有し、
前記表示領域および前記検査領域はそれぞれ、第１の画素回路と、第２の画素回路とを有し、
前記第１の画素回路および前記第２の画素回路はそれぞれ、データ信号線と、走査線と、スイッチング用トランジスタと、駆動用トランジスタとを有し、
前記スイッチング用トランジスタは、ゲート電極が前記走査線と電気的に接続されて前記データ信号線と前記駆動用トランジスタのゲート電極との間に設けられ、
前記第１の画素回路において、前記駆動用トランジスタは、電流供給線と発光素子との間に設けられ、
前記第２の画素回路において、前記駆動用トランジスタは、前記電流供給線と検査端子との間に設けられ、
前記走査線を選択状態として前記第２の画素回路における前記スイッチング用トランジスタを導通し、前記データ信号線に出力された信号にしたがって、前記駆動用トランジスタのドレイン電流を前記検査端子に出力することを特徴とする。

本発明の画像表示装置の検査方法において、
前記データ信号線に出力された信号は、映像信号であることを特徴とする。

本発明の画像表示装置の検査方法において、
前記データ信号線に出力された信号は、検査用パルスであることを特徴とする。

本発明の画像表示装置の検査方法は、
表示領域と検査領域とが設けられた画素部を有し、
前記表示領域および前記検査領域はそれぞれ、第１の画素回路と、第２の画素回路とを有し、
前記第１の画素回路は、データ信号線と、走査線と、スイッチング用トランジスタと、駆動用トランジスタとを有し、
前記第２の画素回路は、前記データ信号線と、前記走査線と、前記スイッチング用トランジスタとを有し、
前記第１の画素回路において、前記スイッチング用トランジスタは、ゲート電極が前記走査線と電気的に接続されて前記データ信号線と前記駆動用トランジスタのゲート電極との間に設けられ、前記駆動用トランジスタは、電流供給線と発光素子との間に設けられ、
前記第２の画素回路において、前記スイッチング用トランジスタは、前記データ信号線と検査出力端子との間に設けられ、
前記走査線を選択状態として第２の画素回路における前記スイッチング用トランジスタを導通し、前記データ信号線に出力された信号を前記検査出力端子に出力することを特徴とする。

本発明の画像表示装置及びその検査方法は、画素回路の一部を変更し検査回路にすることあるいはダミー画素を使用することによって、検査回路による占有面積を最小に抑えつつ、データ信号線および走査線の断線等の検査や画素制御の検査を簡単かつ確実に行い、もし異常があればその位置まで知ることができるものである。

本発明を以下の実施の形態により詳細に説明する。

[実施の形態１]
図１（Ａ）は、本発明の第１の実施形態による検査回路を示す。この検査回路はデータ信号線１０１、走査線１０２、スイッチング用ＴＦＴ１０３、駆動用ＴＦＴ１０４、容量手段１０５、電流供給線１０６、検査セル１０７、検査線１０８を有する。この回路はデータ信号線の検査を目的に作成したものである。上記検査回路は、画素回路（図１（Ｂ））をもとに作成され、図１（Ａ）における検査セル１０７が画素回路に相当する。なお、画素回路図１（Ｂ）は、データ信号線１１１、走査線１１２、スイッチング用ＴＦＴ１０３、駆動用ＴＦＴ１０４、容量手段１０５、ＥＬ素子１１６、電流供給線１１７、電源線１１８を有する。

画素回路は、駆動用ＴＦＴ１０４がＥＬ素子１１６に電流を供給することで発光する。駆動用ＴＦＴ１０４のゲートに対してスイッチング用ＴＦＴ１０３によりソース信号線１１１から映像信号が送られ、入力された映像信号の電位に従って発光が行われる。

検査セル１０７の構成を画素回路（図１（Ｂ））と比較して説明する。まず、駆動用ＴＦＴ１０４が電流を供給するＥＬ素子１１６を画素回路から取り除く。さらに、ＥＬ素子に繋がる電源線１１８と切り離し、その代わりに駆動用ＴＦＴ１０４を検査線１０８に接続する。検査線１０８は検査端子に繋がっている。画素回路が共有する走査線１１２をゲート駆動回路から切り離し、検査回路スイッチ信号線１０２として独立させる。このようにして検査セル１０７が構成される。駆動用ＴＦＴ１０４は、スイッチ信号線１０２が入力され、スイッチング用ＴＦＴ１０３がＯＮの状態の時、映像信号により制御されるアナログスイッチとしての役割を担う。

データ信号線の検査について述べる。図１（Ａ）に示すような検査回路を基板上に形成する。検査回路は、画素部と接続しているｎ本のデータ信号線とＳ１，Ｓ２, ・・・, Ｓｎを一対一で接続する。映像信号が有する電位が各データ信号線へ出力され、この時スイッチ信号が入力される。スイッチング用ＴＦＴ１０３がＯＮの時、駆動用ＴＦＴ１０４のスイッチ制御は映像信号によって行われ、映像信号と測定した出力値ＯＵＴとを比較することで検査することができる。映像信号に検査用パルスを入力することで、異常のある場所の特定が簡易となる。

図５（Ｂ）に、検査時のタイミングチャートを示す。図５（Ａ）に示された基板５０１は、シフトレジスタにより順次映像信号を第１のラッチ回路に取り込み、ラッチ信号がｈｉｇｈの時に各データ信号線に同時に第２のラッチ回路より出力される構造である。このため、図５（Ｃ）にあるようにｎ本のデータ信号線Ｓ１、Ｓ２、・・・、Ｓｎを一本ずつ選択して、映像信号入力期間Ｖをｎ回設けている。この時の出力信号は、ラッチ信号が選択されるとある一つの検査セル中の駆動用ＴＦＴがＯＮ状態であるため、同時にＨｉｇｈ出力となる。

[実施の形態２]
図２は、本発明の第２の実施形態による検査回路を示す。この回路は走査線の検査を目的に作成したものである。実施形態１同様、図１（Ｂ）の画素回路をもとに作成され、図２（Ａ）における検査セル２０５が画素回路に相当する。

図２（Ａ）の検査回路は、走査線２０１、スイッチング用ＴＦＴ２０２、容量手段２０３、電流供給線２０４、検査セル２０５、検査線２０６を有する。

検査セル２０５の構成を画素回路と比較して説明する。画素回路からＥＬ素子及び駆動用ＴＦＴを除く。さらに、ＥＬ素子に繋がる電源線１１８と画素内のＴＦＴ１０４とを切り離し、検査線２０６に繋げる。また、画素回路が共有するデータ信号線１１１をソース駆動回路から切り離し、電源電圧に接続したのが検査セル２０５である。スイッチング用ＴＦＴは、ゲート駆動回路により制御されるアナログスイッチとしての役割を担う。

ダミー画素を表示領域周辺部に有し、ＥＬの膜厚を表示領域で均質にするため画素が同じ構造である必要があり、駆動用ＴＦＴを削除できない場合は、削除しなくてもよい。接続はスイッチング用ＴＦＴ、駆動用ＴＦＴと容量手段との接点を検査線に共通接続し、検査端子に繋げる。

走査線の検査について述べる。図２（Ａ）に示すような検査回路を基板上に形成し、画素部と接続しているｎ本の走査線とＧ１, Ｇ２, ・・・, Ｇｎを一対一で接続する。信号がゲート駆動回路より順次各走査線２０１へ出力され、このためスイッチング用ＴＦＴ２０２は順次ＯＮ状態となり、この時の出力値ＯＵＴを測定することで検査することができる。

走査線はデータ信号線と異なり、検査用パルスの入力ができないため、出力部に工夫が必要である。図２（Ａ）は出力をＯＵＴ１及びＯＵＴ２と２つ有し、走査線を交互にＯＵＴ１とＯＵＴ２に接続することで、シフトレジスタが順次にスイッチング用ＴＦＴ２０２を選択すると方形波が検出でき、検査での判別が明確となる。図６（Ｂ）にタイミングチャートを示す。各走査線Ｇ１, Ｇ２, ・・・, Ｇnが順次ＯＮ状態になり、出力は交互にＨｉｇｈ出力となっている。こうした方形波を出力させる利点は、その個数を数えることで異常のある場所を特定できることにある。

検査用パルスの入力不可に対する対策として、あるいは、図２（Ｂ）のように、遅延用Ｂｕｆｆｅｒ２１１及びＮＡＮＤ２１２を追加することで、Ｂｕｆｆｅｒが遅延を作り、その出力とＮＡＮＤ演算をすることで方形波を検出させる方法がある。

本発明の実施例について以下に述べる。

図５（Ａ）は、本発明の第１の実施例を示す。ここで示す表示装置は、基板５０１、ソース駆動回路５０２、ゲート駆動回路５０３、画素５０４、データ信号線５０５、走査線５０６を有する。マトリクス状に配置された画素５０４のうち、データ信号線に垂直方向にある一行の画素として、ソース駆動回路５０２の対向の最終段を選ぶ。もし、ダミー画素が周辺に配置されているなら、ダミー画素を選択してもよい。選択した画素に以下の変更を行う。画素からＥＬ素子を除き、さらにＥＬ素子に繋がる電源線と画素内のＴＦＴとを切り離し、替わりに検査端子に繋げる。もちろん、検査上の理由より検査端子を複数にしても良いが、図５（Ａ）の実施例では共通接続することで、検査端子数を１つにしている。次に、画素が共有する走査線５０６をゲート駆動回路５０３から切り離し、スイッチ信号線として独立させる。本実施例では、検査を単純にするためスイッチ信号線を独立させたが、ゲート駆動回路によりスイッチ信号線を制御するのであれば独立させず、接続したままでも良い。データ信号線の検査方法は、図５（Ｂ）に示すように、スイッチ信号線を入力した状態で検査用パルスＳ１, Ｓ２, ・・・, Ｓｎを入力し、ラッチ信号を入力時の出力信号を観察することで判定する。

本実施例では、画素内のＴＦＴをそのまま使用したが、画素内部ＴＦＴの駆動確認のために、感度を上げる目的で、相似的にＴＦＴサイズを変更しても良い。

図６（Ａ）は、本発明の第２の実施例を示す。ここで示す表示装置は、基板６０１、ソース駆動回路６０２、ゲート駆動回路６０３、画素６０４、データ信号線６０５、走査線６０６を有する。マトリクス状に配置された画素６０４のうち走査線に垂直方向にある一列の画素として、ゲート駆動回路６０３の対向の最終段を選ぶ。もし、ダミー画素が周辺に配置されているなら、ダミー画素を選択してもよい。選択した画素に以下の変更を行う。画素からＥＬ素子及び駆動用ＴＦＴを除き、さらにＥＬ素子に繋がる電源線と画素内のＴＦＴとを切り離し、替わりに検査線に繋げる。図６（Ａ）の実施例では２出力で、走査線６０６を交互に接続している。次に、画素が共有するデータ信号線６０５をソース駆動回路６０２から切り離し電源電圧に接続する。本実施例では、検査を単純にするため電源電圧に接続したが、ソース駆動回路６０２により検出可能な電位レベルを与えることができるならば、接続したままでも良い。走査線の検査方法は、図６（Ｂ）に示すように、ゲート駆動回路を動かし出力信号を観察することで判定する。

本実施例では、画素内のＴＦＴをそのまま使用したが、画素内部ＴＦＴの駆動確認のために、感度を上げる目的で、相似的にＴＦＴサイズを変更してもよい。

本実施例では、本発明の表示装置を有する様々な電気機器について説明する。本発明の表示装置は、画素と配線が形成された段階で、簡単かつ短時間に、駆動回路、走査線、データ信号線及び画素内部のＴＦＴ特性の検査を行うことができる。このため、製品の組み立て前に不良品を取り除くことが可能となり、結果的に製品を効率よく安価に製造することが可能になる。

本発明の表示装置を用いて作成された電気機器として、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ゴーグル型ディスプレイ（ヘッドマウントディスプレイ）、ナビゲーションシステム、ノート型パーソナルコンピュータ、ゲーム機器、情報端末形態（モバイルコンピュータ、携帯電話、携帯型ゲーム機または電子書籍）、記憶媒体を備えた画像再生装置（具体的にはデジタルビデオディスク（DVD）を表示することができる表示装置を備えた装置）等が挙げられる。これらの電気機器の具体例を図８に示す。

図８（Ａ）は表示装置であり、筐体８０１、支持台８０２、表示部８０３、スピーカー部８０４、ビデオ入力端子８０５等を含む。本発明の表示装置はその表示部８０３に用いることができる。なお、表示装置は、パーソナルコンピュータ用、テレビ放送受信用、広告表示用などの全ての情報表示用装置が含まれる。

図８（Ｂ）はノート型パーソナルコンピュータであり、本体８１１、筐体８１２、表示部８１３、キーボード８１４、外部接続ポート８１５、ポインティングマウス８１６などを含む。本発明の表示装置をその表示部８１３に用いることができる。

図８（Ｃ）はモバイルコンピュータであり、本体８２１、表示部８２２、スイッチ８２３、操作キー８２４、赤外線ポート８２５、スタイラス８２６などを含む。本発明の表示装置は、その表示部８２２に用いることができる。

図８（Ｄ）は記録媒体を備えた携帯型の画像再生装置（具体的にはＤＶＤ再生装置）であり、本体８３１、筐体８３２、表示部Ａ８３３、表示部Ｂ８３４、記録媒体（ＤＶＤなど）読み込み部８３５、操作キー８３６、スピーカー部８３７などを含む。表示部Ａ８３３は主に画像情報を表示し、表示部Ｂ８３４は主に文字情報や操作のための情報を表示する。本発明の表示装置を表示部Ａ、Ｂの８３３、８３４に用いることができる。なお、記録媒体を備えた画像再生装置には、家庭用ゲーム機器なども含まれる。

図８（Ｅ）はゴーグル型ディスプレイ（ヘッドマウント型ディスプレイ）であり、本体８４１、表示部８４２、アーム部８４３などを含む。本発明の表示装置をその表示部８４２に用いることができる。

図８（Ｅ）はビデオカメラであり、本体８５１、表示部８５２、筐体８５３、外部接続ポート８５４、リモコン受信部８５５、受像部８５６、バッテリー８５７、音声入力部８５８、操作キー８５９、接眼部８６０等を含む。本発明の表示装置をその表示部８５２に用いることにより作成される。

図８（Ｆ）は携帯電話であり、本体８６１、筐体８６２、表示部８６３、音声入力部８６４、音声出力部８６５、操作キー８６６、外部接続ポート８６７、アンテナ８６８などを含む。本発明の表示装置をその表示部８６３に用いることができる。

本発明の実施形態を示す図。本発明の実施形態を示す図。従来の画像表示装置における検査回路を実装した基板の構成を示す図。従来の検査回路を有する画像表示装置の構成を示す図。本発明の実施例を示す図。本発明の実施例を示す図。従来の画像表示装置の構成の例を示す図。本発明の画像表示装置を利用した電子機器の例を示す図。

Claims

表示領域と検査領域を有し、
前記表示領域は、第１の画素回路を有し、
前記検査領域は、第２の画素回路を有し、
前記第１の画素回路は、第１のスイッチング用トランジスタ、第１の駆動用トランジスタ及び発光素子を有し、
前記第２の画素回路は、第２のスイッチング用トランジスタ、第２の駆動用トランジスタを有し、
前記第１のスイッチング用トランジスタのゲートは、第１の走査線に電気的に接続され、
前記第１のスイッチング用トランジスタのソース又はドレインの一方は、データ信号線に電気的に接続され、
前記第１のスイッチング用トランジスタのソース又はドレインの他方は、前記第１の駆動用トランジスタのゲートに電気的に接続され、
前記第２のスイッチング用トランジスタのゲートは、第２の走査線に電気的に接続され、
前記第２のスイッチング用トランジスタのソース又はドレインの一方は、前記データ信号線に電気的に接続され、
前記第２のスイッチング用トランジスタのソース又はドレインの他方は、前記第２の駆動用トランジスタのゲートに電気的に接続され、
前記第１の駆動用トランジスタのソース又はドレインの一方は、電流供給線に電気的に接続され、
前記第１の駆動用トランジスタのソース又はドレインの他方は、前記発光素子に電気的に接続され、
前記第２の駆動用トランジスタのソース又はドレインの一方は、前記電流供給線に電気的に接続され、
前記第２の駆動用トランジスタのソース又はドレインの他方は、検査出力端子に電気的に接続され、
前記データ信号線に映像信号が供給され、前記第２の走査線にスイッチ信号が入力され、前記映像信号と前記検査出力端子から出力される信号を比較することにより、前記データ信号線を検査することを特徴とする画像表示装置。
表示領域、検査領域及びソース駆動回路を有し、
前記表示領域は、第１の画素回路を有し、
前記検査領域は、第２の画素回路を有し、
前記第１の画素回路は、第１のスイッチング用トランジスタ、第１の駆動用トランジスタ及び発光素子を有し、
前記第２の画素回路は、第２のスイッチング用トランジスタ、第２の駆動用トランジスタを有し、
前記第１のスイッチング用トランジスタのゲートは、第１の走査線に電気的に接続され、
前記第１のスイッチング用トランジスタのソース又はドレインの一方は、データ信号線に電気的に接続され、
前記第１のスイッチング用トランジスタのソース又はドレインの他方は、前記第１の駆動用トランジスタのゲートに電気的に接続され、
前記第２のスイッチング用トランジスタのゲートは、第２の走査線に電気的に接続され、
前記第２のスイッチング用トランジスタのソース又はドレインの一方は、前記データ信号線に電気的に接続され、
前記第２のスイッチング用トランジスタのソース又はドレインの他方は、前記第２の駆動用トランジスタのゲートに電気的に接続され、
前記第１の駆動用トランジスタのソース又はドレインの一方は、電流供給線に電気的に接続され、
前記第１の駆動用トランジスタのソース又はドレインの他方は、前記発光素子に電気的に接続され、
前記第２の駆動用トランジスタのソース又はドレインの一方は、前記電流供給線に電気的に接続され、
前記第２の駆動用トランジスタのソース又はドレインの他方は、検査出力端子に電気的に接続され、
前記ソース駆動回路は、前記データ信号線に電気的に接続され、
前記ソース駆動回路から前記データ信号線に映像信号が供給され、前記第２の走査線にスイッチ信号が入力され、前記映像信号と前記検査出力端子から出力される信号を比較することにより、前記データ信号線を検査することを特徴とする画像表示装置。
請求項１または請求項２において、
前記第１のスイッチング用トランジスタ、前記第１の駆動用トランジスタ、前記第２のスイッチング用トランジスタ及び前記第２の駆動用トランジスタは、それぞれ、薄膜トランジスタであることを特徴とする画像表示装置。
請求項１乃至請求項３のいずれか一項において、
前記第１の画素回路は、第１の容量素子を有し、
前記第２の画素回路は、第２の容量素子を有し、
前記第１の容量素子の第１の電極は、前記第１の駆動用トランジスタのゲートに電気的に接続され、
前記第１の容量素子の第２の電極は、前記第１の駆動用トランジスタのソース又はドレインの一方に電気的に接続され、
前記第２の容量素子の第１の電極は、前記第２の駆動用トランジスタのゲートに電気的に接続され、
前記第２の容量素子の第２の電極は、前記第２の駆動用トランジスタのソース又はドレインの一方に電気的に接続されていることを特徴とする画像表示装置。
請求項１乃至請求項４のいずれか一項において、
前記検査領域は、前記表示領域の外縁部に設けられていることを特徴とする画像表示装置。
請求項１乃至請求項５のいずれか一項に記載の前記画像表示装置を用いた電子機器。