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Die Erfindung betrifft allgemein
eine Testschaltung für
eine Halbleiterspeichervorrichtung, um ein frühzeitiges Aussortieren von
qualitativ minderwertigen Halbleiterchips zu ermöglichen, und insbesondere eine
Einbrenntestschaltung, um den Einbrenntest für einen Halbleiterchip in der
Weise zu ermöglichen,
daß das
Testbetriebsart-Zeitgabesignal und der Pegel der äußeren Leistungsversorgungsspannung
miteinander kombiniert werden, um eine Kompatibilität mit üblichen
Testbetriebsartzeitgabesignalen beizubehalten und um zu verhindern,
daß die Testschaltung
in ihrer sogenannten "standby"-Betriebsart für den Einbrenntest eine Leistungsaufnahme
zeigt.
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Es ist allgemein bekannt, daß das Einbrenntesten
einer Halbleiterspeichervorrichtung, wie beispielsweise eines dynamischen
RAM, ein Testverfahren ist, bei dem die Halbleitervorrichtung bei
einer höheren
Spannung und höheren
Temperatur als denjenigen während
eines normalen Betriebszustandes. betrieben wird, um qualitativ
schwache Halbleitervorrichtungen nach ihrer Gehäusung zu entfernen.
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Eine übliche Einbrenntestschaltung
eines auf einem Chip ausgeführten
Leistungsversorgungsregelsystemes für die Speichervorrichtung ist
beispielsweise in dem US-Patent
US 5,063,304 A offenbart. Bei dieser bekannten
Schaltung besteht, wie dies aus der beigefügten
1 ersichtlich ist, eine Testschaltung
aus einem Spannungssensor
20 zum Erfassen des Eingangspegels
einer äußeren Leistungsversorgungsspannung
(Vcc), einem Be zugsspannungsgenerator
10 zum Erzeugen der
Bezugsspannung, auf der die Erfassung der äußeren Versorgungsspannung Vcc
und die Erzeugung der geregelten inneren Versorgungsspannung basieren,
einem inneren Spannungsgenerator
30 zum Erzeugen einer beschleunigten
Spannung (Vint), welche von der angelegten Leistungsversorgungsspannung
abhängt und
die einem Speicherarray
50 und seiner peripheren Schaltung
zugeführt
wird.
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Wenn das Speicherarray 50 in
den normalen Betriebszustand im Gegensatz zu dem Betriebszustand
für das
Einbrenntesten eingestellt wird, erzeugt der innere Spannungsgenerator 30 eine
konstante innere Spannung (Vint), die unabhängig von dem Eingangspegel
der äußeren Leistungsversorgungsspannung
(Vcc) ist, indem die Bezugsspannung (Vref) von dem Bezugsspannungsgenerator 10 angepaßt wird.
Daher wird das Speicherarray 50 mit einer konstanten inneren
Versorgungsspannung betrieben.
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Wenn die Spannung der äußeren Leistungsversorgung
(Vcc) auf einen vorbestimmten Pegel erhöht wird, welcher höher als
die Spannung des Einbrenntests ist, erfaßt der Spannungssensor 20 den Pegel
der äußeren Versorgungsspannung
und erzeugt ein Signal, welches den Beginn des Einbrenntests für die Speichervorrichtung
darstellt. Dieses Einbrennsignal wird an den inneren Spannungsgenerator 30 angelegt,
woraufhin der innere Spannungsgenerator 30 seine Betriebsart
von der Erzeugung des oben erwähnten
konstanten inneren Spannungssignales auf die Erzeugung einer inneren
Spannung umstellt, welche von der angelegten Leistungsversorgungsspannung
abhängt
und welche ausreichend ist, um den Einbrenntest durchzuführen.
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Daher ist das Halbleiterspeicherarray 50 nunmehr
in die Einbrenntestbetriebsart umgeschaltet.
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Da die obige bekannte Einbrenntestschaltung
ermittelt, ob die Speichervorrichtung in einem normalen Betriebszustand oder
in dem Einbrenntestbetriebszustand betrieben wird, indem der Pegel
der äußeren Versorgungsspannung
erfaßt
wird, sollte der Spannungssensor 20 zum Erfassen des Eingangspegels
der äußeren Spannungsversorgung stets
aktiviert sein, wodurch sich eine Stromaufnahme selbst im Falle
des "stand-by"-Betriebszustandes ergibt.
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Wenn die äußere Leistungsversorgung mit einem
impuls-artigen Rauschen behaftet ist, erkennt der Spannungssensor 20 dies
als ein Spannungssignal mit hohem Pegel und ermöglicht in nicht gewünschter
Weise, daß der
innere Spannungsgenerator 30 wie in der Einbrenntestbetriebsart
arbeitet. Hierdurch wird die Zuverlässigkeit der gesamten Einbrenntestschaltung
vermindert.
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Ausgehend von diesem Stand der Technik liegt
der vorliegenden Erfindung daher die Aufgabe zugrunde, eine Testschaltung
der eingangs genannten Art so weiterzubilden, daß deren Zuverlässigkeit weiter
erhöht
wird.
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Diese Aufgabe wird durch eine Einbrenntestschaltung
gemäß Patentanspruch
1 gelöst.
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Die Erfindung schafft eine Einbrenntestschaltung
für eine
Halbleiterspeichervorrichtung mit einem Bezugsspannungsgenerator
zum Erzeugen einer Bezugsspannung; einem Zeitgabegenerator zum Erzeugen
von Zeitgabesignalen, wie beispielsweise WCBR-, CBR- und ROR-Signalen,
welcher auf den Eingangszustand von äußeren Eingangssignalen anspricht,
wie beispielsweise den Signalen /RAS, /CAS und /WE; einer Erfassungssteuerschaltung zum
Erzeugen eines Pulses von kurzer Zeitdauer in Reaktion auf den eingangsseitigen
Zustand der Signale WCBR, CBR oder ROR; einem Spannungssensor zum
Erfassen des Eingangspegels der äußeren Leistungsversorgungsspannung
und zum Erzeugen eines Ausgangssignales HVCC, welches darstellt,
ob der Eingangspegel der äußeren Leistungsversorgungsspannung
höher als
die vorgegebene Spannung für
den Einbrenntest ist, wobei dieses Signal HVCC erzeugt wird, während der
kurzen Pulsdauer des Pulses, welche von der Erfassungssteuerschaltung
festgelegt wird; einem Einbrennsensor zum Erzeugen eines Ausgangssignales,
welches den Beginn oder das Ende der Einbrenntestbetriebsart auf der
Grundlage des eingangsseitigen Zustandes der Zeitgabesignale WCBR,
CBR und ROR und des Ausgangssignalpegels des Spannungssensors bestimmt;
und einem inneren Spannungsgenerator zum Zuführen einer konstanten inneren
Spannung oder einer sich erhöhenden
inneren Spannung, welche von der angelegten äußeren Leistungsversorgung abhängt, zu
dem Speicherarray in Reaktion auf den Zustand des ausgangsseitigen
Signales des Einbrennsensors.
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Vorzugsweise erzeugt der Einbrennsensor das
Ausgangssignal, welches den inneren Spannungsgenerator in die Einbrenntestbetriebsart
umschaltet, wenn sowohl das Signal /CAS wie auch das Signal /WE
ihren logischen niedrigen Pegel haben, wenn das Signal /RAS seinen
Zustand von "hoch" nach "niedrig" ändert und wenn der Spannungspegel der äußeren Leistungsversorgung,
welcher durch den Spannungssensor erfaßt wird, höher ist als die voreingestellte
Einbrennspannung.
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Ferner erzeugt der Einbrennsensor
das Ausgangssignal, welches den inneren Spannungsgenerator in die
Einbrenntestbetriebsart rücksetzt,
wenn das Signal /CAS seinen "niedrigen" logischen Zustand
hat und das Signal /WE seinen "hohen" logischen Zustand
hat, wenn sich das Signal /RAS von seinem "hohen" zu seinem "niedrigen" logischen Pegel ändert und wenn das Signal /CAS
seinen "hohen" logischen Zustand
beibehält,
während
sich das Signal /RAS von seinem "hohen" logischen Zustand
zu seinem "niedrigen" logischen Zustand
und erneut zu seinem "hohen" logischen Zustand ändert, sowie wenn
der erfaßte
Spannungspegel der äußeren Spannungsversorgung
niedriger ist als derjenige der voreingestellten Einbrennspannung.
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Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden
Erfindung werden nachfolgend unter Bezugnahme auf die beiliegenden
Zeichnungen näher
erläutert.
Es zeigen:,
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1 ein
Blockdiagramm einer bekannten Einbrenntestschaltung in einer Halbleiterspeichervorrichtung;
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2 ein
Blockdiagramm einer Einbrenntestschaltung, die gemäß der vorliegenden
Erfindung konfiguriert ist;
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3 eine
zeitliche Darstellung zum Erläutern
der Betriebsweise der Einbrenntestschaltung der Erfindung;
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4 ein
detailliertes Schaltungsdiagramm einer Erfassungssteuerschaltung 70 gemäß 2;
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5 ein
detailliertes Schaltungsdiagramm des Einbrennsensors 80 gemäß 2;
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6 Signalverläufe, die
von den jeweiligen Teilen der Schaltung gemäß 5 abgeleitet sind; und
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7 eine
Kurvendarstellung einer typischen Änderung der inneren Versorgungsspannung in
Abhängigkeit
von der äußeren Leistungsversorgungsspannung.
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Wie in 2 gezeigt
ist, umfaßt
ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel
der Einbrenntestschaltung für
die Halbleiterspeichervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung
einen Zeitgabegenerator 60, welcher die Signale WCBR, CBR
und ROR auf der Grundlage des Zustandes äußerer Eingangssignale /RAS,
/CAS und /WE erzeugt. Die Ausgangsleitungen, welche die Signale
WCBR, CBR und ROR des Zeitgabegenerators 60 führen, sind
mit einer Erfassungssteuerschaltung 70 sowie mit einem
Einbrennsensor 80 verbunden. Der Ausgang des Einbrennsensors 80 wird
dem Generator 30 für
die innere Spannung zugeführt.
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Ferner ist der Ausgang der Erfassungssteuerschaltung 70 mit
dem Aktivierungseingang des Spannungssensors 20 verbunden.
Der Ausgang des Spannungssensors 20 ist mit dem Einbrennsensor 80 verbunden.
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Der Zeitgabegenerator 60 ist
ein Teil der peripheren Schaltung einer Halbleiterspeichervorrichtung,
wie beispielsweise eines dynamischen RAM, welche das zeitliche Verhalten
des Reihenadressabtastsignales (/RAS), des Spaltenadressabtastsignales
(/CAS) und des Schreibaktivierungssignales (/WE) erzeugt, und welche
das CBR-Signal (/CAS before /RAS refresh = CBR), das ROR-Signal
(/RAS only refresh = ROR) und das Schreib-Aktivierungs-CBR-Signal
bzw. WCBR-Signal (Write Enable CBR = WCBR) erzeugt, wodurch die
Betriebsweise der Speichervorrichtung in eine Testbetriebsart geschaltet
wird.
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Die genannten WCBR-, CBR- und ROR-Signale
sind gegenseitig exclusiv, d.h., daß lediglich eines dieser drei
Signale zu einem bestimmten Zeitpunkt einen "hohen" logischen Pegel hat.
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Wie dies in 4 gezeigt ist, umfaßt die Erfassungssteuerschaltung 70 ein
NOR-Gatter G1 zum Empfangen der WCBR-, CBR- und ROR-Signale von dem Zeitgabegenerator 60,
einen Inverter INV0, der mit dem Ausgang des Gatters G1 verbunden
ist, eine Inverterkette INV1 bis INV2n, wobei diese Inverter geradzahlig
sind und parallel zu dem Inverter INV0 geschaltet sind, ein NAND-Gatter
G2, das mit den Ausgängen
der jeweiligen Inverter INV0 und INV2n verbunden ist, sowie einen
Inverter INV, welcher mit dem Ausgang des Gatters G2 verbunden ist.
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Wenn die logisch "hohen" Signale WCBR, CBR oder ROR an den Eingang
des NOR-Gatters G1 angelegt werden, ändert das Ausgangssignal des Gatters
G1 seinen Pegelzustand nach "niedrig". Dieses logische "niedrige" Signal wird den
Invertern INV0 und INV1 bis INV2n zugeführt, um einen Puls von kurzer
Zeitdauer mit "niedrigem" Pegel am Ausgang
des NAND-Gatters G2 aufgrund der Differenz der Zeitverzögerung zwischen
dem Inverter INV0 und den Invertern INV1 bis INV2n zu erzeugen.
Dieser kurze Puls von niedrigem logischen Pegel erscheint am Ausgang
des Inverters INV als ein Puls (EN) mit "hohem" logischen Pegel, welcher an den Spannungssensor 20 gemäß 2 angelegt wird.
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Die detaillierte Schaltungskonfiguration
des Einbrennsensors 80 gemäß 2 ist in 5 gezeigt,
wobei die Zeitgabesignale WCBR, CBR und ROR von dem Zeitgabegenerator 60 sowie
das Ausgangssignal HVCC des Spannungssensors 20 kombiniert
werden, um das Einbrenntestbetriebsartsignal zu erzeugen. Daher
werden die Eingangssignale des NAND-Gatters G10 mit den WCBR- und
HVCC-Signalen angelegt, wobei die Eingangssignale des NOR-Gatters
G12 mit den CBR- und ROR-Signalen angelegt werden. Der Ausgang des
Gatters G10 ist mit einem Eingang des NOR-Gatters G11 verbunden, dessen
weiterer Eingang mit dem /RESET-Eingangsanschluß durch einen Inverter INV20
verbunden ist, um das Ausgangssignal des Einbrennsensors 80 in einen "hohen" logischen Pegel
zu bringen, wenn die Speichervorrichtung leistungsmäßig hochgefahren wird,
d.h. wenn sie anfänglich
mit der Leistungsversorgungsspannung betrieben wird.
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Ferner wird der Ausgang des NOR-Gatters G11
dem "Setz"-Eingang eines Flip-Flop 90 zugeführt, während der
Ausgang des Gatters G12 mit einem Eingang des NAND-Gatters G13 durch
einen Inverter INV30 verbunden ist und der andere Eingang desselben
mit dem Eingang des HVCC-Signales durch einen Inverter INV10 verbunden
ist. Wiederum ist der Ausgang des Gatters G13 mit einem Eingang des
NAND-Gatters G14 verbunden, um eine Kombination mit dem /RESET-Signal
herbeizuführen,
wobei dessen Ausgang mit dem "RESET"-Eingang des Flip-Flop 90 verbunden
ist. Der Ausgang Q des Flip-Flop 90 liefert
das Einbrenntestbetriebsartsignal (/BITM).
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In ähnlicher Weise wie bei der
bekannten Schaltung ist der Generator 30 für die innere
Spannung derart konfiguriert, daß eine Bezugsspannung VREF
von dem Bezugsspannungsgenera tor 10 und der Einbrenntestbetriebsartsignalausgang
von dem Einbrennsensor 80 angelegt werden, um die innere Spannung
Vint zu erzeugen, die dem Speicherarray 50 zugeführt wird.
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Die Betriebsweise sowie die Wirkung
der Einbrenntestschaltung gemäß der vorliegenden
Erfindung werden aufgrund der nachfolgenden Beschreibung unter Bezugnahme
auf das Zeitdiagramm gemäß 3 verdeutlicht.
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Das Testbetriebsartzeitgabesignal
WCBR wird innerhalb des Zeitgabegenerators 60 erzeugt, wenn
das /CAS-Signal und das /WE-Signal ihren "niedrigen" logischen Zustand haben und wenn sich das
/RAS-Signal bezüglich
seines Pegelzustandes von "hoch" nach "niedrig" ändert. Gemäß 3 (e) hat der Signalverlauf des WCBR-Signales
einen "hohen" logischen Zustand
bei dem oben beschriebenen äußeren Eingangssignalzustand
(d.h. der sogenannten "WCBR-Bedingung"). Wenn das WCBR-Signal mit "hohem" logischen Kegel
an die Erfassungssteuerschaltung 70 angelegt wird, wird
ein Aktivierungspuls (EN) mit einem "hohen" Pegelzustand und kürzer Zeitdauer (vergleiche 3h) erzeugt. Dieser Aktivierungspuls
aktiviert den Spannungssensor 20, so daß dieser während des Zeitintervalles des
Aktivierungspulses wirksam ist. Dadurch erfaßt der Spannungssensor 20 den
Eingangspegel der äußeren Leistungsversorgung
Vcc während
der Aktivierungspuls (EN) einen "hohen" Pegelzustand hat.
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Wenn die durch den Spannungssensor 20 erfaßte Spannung
der äußeren Leistungsversorgung Vcc
höher als
die Spannung ist, welche für
die Einstellung des Einbrenntestes Vbin verwendet wird, wird das
Ausgangssignal HVCC mit "hohem" Pegel erzeugt und
durch den Spannungssensor 20 gehalten. Zu diesem Zeitpunkt
bestimmt der Einbrennsensor 80 die Betriebsart der Speichervorrichtung
auf der Grundlage des Pegelzustandes des empfangenen WCBR-Signales
sowie des gehaltenen Ausgangssignales HVCC.
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Wenn das Ausgangssignal HVCC des
Spannungssensors 20 einen "hohen" Pegelzustand hat (Vcc > Vbin) und das WCBR-Signal
einen "hohen" Pegel hat, erzeugt
der Einbrennsensor 80 das Einbrenntestbetriebsartsignal
mit "niedrigem" Pegel (/BITM; vergleiche 3j), wodurch die Speichervorrichtung
in die Einbrenntestbetriebsart eintreten kann.
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Wenn der Einbrennsensor 80 in
die Einbrenntestbetriebsart gesetzt wird, wird das gehaltene /BITM-Signal
durch den Einbrennsensor 80 an den Generator 30 für die innere
Spannung angelegt. Zu diesem Zeitpunkt ändert der Generator 30 für die innere
Spannung seinen Betriebszustand, wie dies in 7 gezeigt ist, von der Erzeugung einer
konstanten inneren Spannung Vint1 unabhängig von dem Anstieg der äußeren Versorgungsspannung
zu der Erzeugung einer ansteigenden inneren Spannung Vint2 proportional
zu dem Anstieg der äußeren Leistungsversorgungsspannung.
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Wenn jetzt der Zustand der Eingangssignale /RAS,
/CAS und /WE der WCBR-Bedingung entspricht und wenn die Spannung
der äußeren Leistungsversorgung
Vcc, die durch den Spannungssensor 20 erfaßt wird,
niedriger als die Spannung Vbin ist, die für den Einbrenntest festgesetzt
ist, behält
das Ausgangssignal HVCC des Spannungssensors 20 seinen
anfänglichen "niedrigen" Zustand bei, wobei das
Ausgangssignal /BITM des Einbrennsensors 80 gleichfalls
seinen "hohen" Pegelzustand beibehält. Dies
ermöglicht
es, daß die
Einbrenntestschaltung in einer normalen parallelen Testbetriebsart
arbeitet und der Generator 30 für die innere Spannung eine konstante
innere Spannung beibehält
und erzeugt, wie dies nicht bei der Einbrenntestbetriebsart der
Fall ist.
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Obwohl die Spannung der äußeren Leistungsversorgung
Vcc zu diesem Zeitpunkt über
die voreingestellte Spannung Vbin für den Einbrenntest ansteigt,
wird der Spannungssensor 20 nicht mit dem Aktivierungspuls
EN beaufschlagt, so daß dessen Ausgangssignal
HVCC seinen "niedrigen" Pegelzustand beibehält, falls
der Zustand der äußeren Eingangssignale
nicht der WCBR-Bedingung entspricht. Da ferner der Einbrennsensor 80 sein
Ausgangssignal /BITM in einem "hohen" Pegelzustand beibehält, behält der Generator 30 für die innere
Spannung eine konstante innere Spannung an seinem Ausgang bei.
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Hierdurch wird die Speichervorrichtung
davon abgehalten, in die Einbrenntestbetriebsart aufgrund des Rauschens
der äußeren Leistungsversorgungsspannung
einzutreten.
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Wenn die Betriebsweise der Einbrenntestschaltung
gemäß der Erfindung
in die Einbrenntestbetriebsart eingestellt wird, wodurch die WCBR-Bedingung
erfüllt
wird, und wenn die erforderliche äußere Leistungsversorgungsspannung
höher ist
als die voreingestellte Einbrennspannung, wird der darauffolgende
Speicherzugriff auf die Speichervorrichtung in der Einbrenntestbetriebsart
durchgeführt,
wobei anderenfalls die spezielle Bedingung, die nachfolgend erläutert wird,
erfüllt
ist.
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Das bedeutet, daß die Änderung der Betriebsweise von
der Einbrenntestbetriebsweise in die normale Betriebsweise zu dem
CBR-Auffrischzeitpunkt oder dem ROR-Auffrischzeitpunkt sowie bei
einer niedrigen äußeren Leistungsversorgungsspannung,
die unterhalb der voreingestellten Einbrennspannung Vbin liegt,
durchgeführt
wird. Zu diesem Zeitpunkt erzeugt der Zeitgabegenerator 60 das CBR-Ausgangssignal
(vergleiche 3f), wenn
das /CAS-Eingangssignal seinen "niedrigen" Pegelzustand aufweist
und das /WE-Signal seinen "hohen" Pegelzustand hat,
wenn das /RAS-Signal seinen Pegelzustand von "hoch" nach "niedrig" ändert (die sogenannte "CBR-Bedingung") .
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Gleichfalls das ROR-Ausgangssignal
erzeugt (vergleiche 3g),
wenn das /CAS-Signal seinen "hohen" Pegelzustand beibehält, wenn
das /RAS-Signal seinen Pegelzustand von "hoch" nach "niedrig" und erneut nach "hoch" ändert (die sogenannte "ROR-Bedingung").
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Wenn das CBR-Signal oder das ROR-Signal von
der Erfassungs steuerschaltung 70 empfangen werden, erzeugt
diese einen Aktivierungspuls EN von kurzer Zeitdauer in der gleichen
Art, als ob das WCBR-Signal an die Erfassungssteuerschaltung 70 angelegt
wird. Daraufhin wird der Spannungssensor 20 durch den Aktivierungspuls
aktiviert und erfaßt den
Spannungspegel der äußeren Versorgungsspannung
Vcc während
des kurzen Zeitintervalles.
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Falls die Spannung Vcc größer als
Vbin ist, behält
das Ausgangssignal HVCC des Spannungssensors 20 seinen "hohen" Pegelzustand bei.
Gleichfalls wird der gehaltene "niedrige" Pegel des Ausgangssignales
/BITM des Einbrennsensors 80 beibehalten. Daher arbeitet
die Speichervorrichtung ständig
in der Einbrenntestbetriebsart, wobei während dieser Betriebsart das
CBR-Auffrischen oder das ROR-Auffrischen durchgeführt wird.
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Wenn jedoch der erfaßte Spannungspegel der äußeren Spannungsversorgung
niedriger als die voreingestellte Einbrennspannung (Vcc < Vbin) bei Vorliegen
der CBR-Bedingung oder der ROR-Bedingung ist, ändert sich das Ausgangssignal
/BITM des Einbrennsensors 80 von seinem "niedrigen" in seinen "hohen" logischen Pegel,
woraufhin der Generator 30 für die innere Spannung, der
das /BITM-Signal mit "hohem" Pegel empfängt, eine
Rücksetzung
der Speichervorrichtung in die normale Betriebsart ermöglicht,
wobei eine konstante innere Spannung unabhängig von dem Anstieg der äußeren Leistungsversorgungsspannung
erzeugt wird.
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Daher wird die Einbrenntestbetriebsweise des
Generators 30 für
die innere Spannung, der die erhöhte
innere Spannung proportional zu dem Anstieg der äußeren Versorgungsspannung erzeugte, angehalten.
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Das Signalerzeugungsverfahren für das /BITM-Signal
innerhalb des Einbrennsensors 80, welches das Setzen und
Rücksetzen
der Einbrenntestbetriebsart bestimmt, wird detailliert unter Bezugnahme
auf das Zeitdiagramm der 6 beschrieben.
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Es ist vorgesehen, daß die Zeitgabesignale WCBR,
CBR, ROR sowie das Ausgangssignal HVCC an die Gatter G10 und G12
gemäß. 5 mit dem in 3 gezeigten Signalstatus
angelegt werden.
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Im Verlauf der Einstellung der Einbrenntestbetriebsart
hat das WCBR-Eingangssignal einen "hohen" Pegelzustand. Gleichfalls hat das HVCC-Eingangssignal
einen "hohen" Pegel. Daher wird
der Ausgang (L) des NAND-Gatters G10 "niedrig". Da zu diesem Zeitpunkt das CBR-Signal
und das ROR-Signal, welche an die beiden Eingänge des NOR-Gatters G12 angelegt
werden, einen "niedrigen" Pegelzustand haben,
wird der Ausgang des Gatters G12 nach "hoch" gesetzt
und durch einen Inverter INV30 erneut auf "niedrig" gesetzt. Dieses Signal mit "niedrigem" Pegel wird an die
Eingänge
des NAND-Gatters G13 zusammen mit dem HVCC-Ausgangssignal angelegt,
welches sich durch einen Inverter INV10 in den "niedrigen" Pegelzustand ändert, um an dem Ausgang (M)
desselben ein Signal mit "hohem" Pegel zu erzeugen.
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Dieses Signal mit "hohem" Pegel wird an die Eingänge des
NAND-Gatters G14 zusammen mit dem /RESET-Signal von "hohem" Pegel angelegt, wodurch
das Rücksetzsignal
an dem Ausgang (R) des Gatters G14 auf einen "niedrigen" Pegel gesetzt wird.
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Das Rücksetzsignal R wird an den
Rücksetzeingang
des Flip-Flop 90 angelegt.
Am Ausgang Q sowie an dem Ausgang Q des
Flip-Flop 90 werden daher Signale mit "hohem" bzw. "niedrigem" Pegelzustand erzeugt. Das Ausgangssignal Q mit "niedrigem" Pegel bildet das Einbrenntestbetriebsartsignal /BITM
und wird an dem Generator 30 für die innere Spannung angelegt.
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Das Signal /BITM mit "niedrigem" Pegelzustand ändert seinen
Pegelzustand nach "hoch" im Verlaufe des
Rücksetzens
der Einbrenntestbetriebsart in Reaktion auf "hohe" Pegel
der CBR- oder ROR-Zeitgabesignale. Zu dem CBR-Zeitpunkt haben das
CBR-Signal und ROR-Signal, die von dem Gatter G12 empfangen werden,
einen "hohen" bzw. "niedrigen" Pegelzustand. Zu
dem ROR-Zeitpunkt haben das CBR-Signal und das ROR-Signal einen "niedrigen" bzw. "hohen" Pegelzustand.
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Daher stellen die Signalverläufe M und
R gemäß 6 die Signalantworten zu
dem CBR-Zeitpunkt an den Ausgängen
der Gatter G13 bzw. G14 in 5 dar.
Die Signalverläufe
M- und R- gemäß 6 sprechen auf das ROR-Zeitgabesignal
an.
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7 zeigt
eine funktionale Kurvendarstellung einer typischen Änderung
der Innenspannung, wenn der Generator 30 für die innere
Spannung in eine normale Betriebsart und in eine Einbrenntestbetriebsart
eingestellt wird. Erneut ist eine ansteigende innere Spannung Vint2
dargestellt, die proportional zu der äußeren Versorgungsspannung Vcc
ist, wenn der Status der äußeren Eingangssignale
die WCBR-Bedingung erfüllt
und die äußere Leistungsversorgungsspannung
Vcc höher
wird als die voreingestellte Einbrennspannung Vbin, sowie eine konstante innere
Spannung Vint1, die unabhängig
von dem Anstieg der äußeren Leistungsversorgungsspannung ist,
wenn der Status der äußeren Eingangssignale der
CBR-Bedingung oder der ROR-Bedingung entspricht und die äußere Spannung
Vcc niedriger als die voreingestellte Einbrennspannung Vbin ist.
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Aus der obigen Beschreibung ist es
offenkundig, daß die
Spannungserfassungssteuerung gemäß der Erfindung
bewirkt, daß der
Spannungssensor lediglich dann wirksam ist, wenn ein Puls von kurzer
Zeitdauer zugeführt
wird, wodurch die Leistungsaufnahme des Spannungssensors auch bei
der Erfassungsoperation für
die äußere Leistungsversorgungsspannung
vernachlässigbar
ist.
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Da ferner die Einbrenntestbetriebsart
bei der Speichervorrichtung aktiviert wird, wenn äußere Eingangssignale
die spezielle Bedingung erfüllen
und die Spannung der äußeren Leistungsversorgung
höher als
die voreingestellte Spannung für
den Einbrenntest wird, wird es verhindert, daß die Speichervorrichtung in
die Einbrenntestbetriebsart aufgrund des Rauschens der äußeren Leistungsversorgungsspannung
eintritt.