CN109862205B - 位置检测装置及方法、图像读取装置、图像形成装置 - Google Patents

位置检测装置及方法、图像读取装置、图像形成装置 Download PDF

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Abstract

本发明涉及一种位置检测装置、图像读取装置、图像形成装置及位置检测方法，用于降低因读取设备发热引起伸缩而产生的位置检测结果的误差。该位置检测装置包括控制读取设备(201)来将处理对象的外形形状和该处理对象上的图像图案的位置作为第一检测结果来检测的第一位置检测部(111)，和控制所述读取设备(201)来将配置在位置基准构件上对应于该读取设备(201)的规定的位置的标记作为第二检测结果来检测的第二位置检测部(112)，以及根据所述第一检测结果和所述第二检测结果来检测所述读取设备(201)的变化量并修正对于所述处理对象的处理位置的控制部(113)。

Description

位置检测装置及方法、图像读取装置、图像形成装置
技术领域
本发明涉及一种位置检测装置、图像读取装置、图像形成装置及位置检测方法。
背景技术
以往，为了修正被输送物的输送位置及对该被输送物的处理位置，公开了用接触式图像传感器(CIS:Contact Image Sensor)等的读取设备来读取被输送物的外形边缘位置和对该被输送物的处理位置的技术。
但是，CIS等的读取设备有时会因为自身发热或周围温度的上升而伸缩。根据以往的技术，因为这种读取设备的伸缩，会在读取设备的读取结果里产生误差。
【专利文献1】(日本)特开2010-173069号公报
发明内容
本发明鉴于上述问题，目的在于降低因读取设备发热引起伸缩而产生的位置检测结果的误差。
为了解决上述课题并实现目标，本发明的技术方案涉及一种位置检测装置，其特征在于包括：第一位置检测部，其控制读取设备，将处理对象的外形形状和该处理对象上的图像图案的位置作为第一检测结果来检测；第二位置检测部，其控制所述读取设备，将配置在位置基准构件上对应于该读取设备的规定的位置的标记作为第二检测结果来检测，和控制部，其根据所述第一检测结果和所述第二检测结果来检测所述读取设备的变化量，并修正对于所述处理对象的处理位置。
根据本发明获得的效果是，能够降低因读取设备发热引起伸缩而产生的位置检测结果的误差。
附图说明
图1所示是第1实施方式涉及的打印***的硬件构成的模式图例。
图2(a)、(b)所示是表示介质位置检测装置中的读取设备和位置基准部件的对应位置关系的模式图。
图3(a)-(c)所示是对读取设备的主扫描位置的延伸量的差异进行说明的图。
图4所示是表示位置基准部件和读取设备的深度方向位置关系的图。
图5所示是显示打印***的硬件的电连接的框图例。
图6所示是表示打印***的功能构成的功能性框图。
图7所示是记录介质的外形形状和记录介质上的图像图案的位置的图。
图8所示是表示修正参数的检测的图。
图9所示是概略显示图像写入位置通知处理的过程的流程图。
图10(a)-(c)所示是对第2实施方式所涉及的读取设备的主扫描位置的变化量的差异进行说明的图。
图11所示是表示修正参数的检测的图。
图12(a)、(b)所示是对第3实施方式所涉及的读取设备的设置例进行说明的图。
图13所示是对读取设备的主扫描位置的变化量的差异进行说明的图。
图14所示是表示修正参数的检测的图。
图15(a)、(b)所示是对第4实施方式所涉及读取设备的传感器芯片的实际安装位置的实际状态进行说明的图。
图16所示是显示读取设备的传感器芯片的实际安装例的图。
图17所示是表示介质位置检测装置中的读取设备和位置基准部件的对应位置关系的模式图。
图18(a)、(b)所示是使用修正参数的图像写入位置的检测方法例的说明图。
图19(a)、(b)所示是对第5实施方式所涉及的读取设备的发热引起的高度(深度)方向的翘曲进行说明的图。
图20所示是对与读取设备中的高度(深度)方向的翘曲相对应的位置基准部件上的标记的配置例进行说明的图。
图21所示是概略显示第6实施方式所涉及的图像写入位置通知处理的过程的流程图。
图22所示是表示第6实施方式所涉及的打印***的功能构成的功能性框图。
图23所示是概略显示图像写入位置通知处理的过程的流程图。
图24(a)、(b)所示是对第8实施方式所涉及的读取设备的温度变化进行说明的图。
图25所示是概略显示图像写入位置通知处理的过程的流程图。
图26所示是表示第9实施方式所涉及的打印***的功能构成的功能性框图。
图27所示是概略显示图像写入位置通知处理的过程的流程图。
具体实施方式
下面参照附图来详细说明位置检测装置、图像读取装置、图像形成装置、程序及位置检测方法的实施形式。以下虽然是对位置检测装置、图像读取装置、图像形成装置等适用于包括在短时间内连续打印大量张数的商业印刷机(Production Printing Machine)等打印装置的打印***的情况进行举例说明，但并不局限于此。
第1实施方式
[打印***的硬件构成的说明]
图1所示是第1实施方式涉及的打印***的硬件构成的模式图例。如图1所示地，作为图像形成装置的打印***1具有打印装置100、介质位置检测装置200(位置检测装置的一个例子)和堆垛机300。
打印装置100包括有操作面板101、串联式的电子照相方式的成像部103Y、103M、103C、103K、转印带105、二次转印辊107、供纸部109、输送辊对102、定影辊104、翻转路径106。
操作面板101是对打印装置100和介质位置检测装置200进行各种操作输入或显示各种画面的操作显示部。
成像部103Y、103M、103C、103K通过分别进行造像处理(充电工序、曝光工序、显影工序、转印工序及清洗工序)来形成调色剂像，并将形成的调色剂像转印到转印带105上。在本实施方式中，虽然是在成像部103Y上形成黄色调色剂像，在成像部103M上形成品红色调色剂像，在成像部103C上形成青色调色剂像，在成像部103K上形成黑色调色剂像，但不限于此。
转印带105将成像部103Y、103M、103C及103K重叠并转印的调色剂像(全彩色的调色剂图像)输送到二次转印辊107的二次转印位置。在本实施方式中的转印带105中，首先转印黄色调色剂像，接着依次重叠转印品红色调色剂像、青色调色剂像和黑色调色剂图像，但并不局限于此。
供纸部109重叠地收容有作为处理对象(被输送物)的多页的记录介质并对记录介质进行供纸。作为记录介质，虽然可以例举有记录纸(转印纸)，但不限于此，只要是如涂层纸、厚纸、OHP(Overhead Projector)片、塑料膜、半固化片以及铜箔等的可以记录图像的介质，就都可以。
输送辊对102将供纸部109供给的记录介质在输送路径a上沿箭头s方向输送。
二次转印辊107在二次转印位置处将通过转印带105输送来的全彩色的调剂图像一并转印到通过输送辊对102输送来的记录介质上。
定影辊104通过加热和加压转印有全彩色的调色剂图像的记录介质，来将全彩色的调色剂图像定影到记录介质上。
打印装置100在单面打印时，将定影有全彩色的调色剂图像的记录介质的印刷物朝着介质位置检测装置200输送。另一方面，打印装置100在双面打印的情况下，是将定影有全彩色的调色剂图像的记录介质朝着翻转路径106输送的。
翻转路径106通过对输送来的记录介质的转向来翻转记录介质的表面和背面，并在箭头t方向上输送。通过翻转路径106输送来的记录介质由输送辊对102再次输送，并通过二次转印辊107在与前次相反侧的面上转印全彩色的调色剂图像，由定影辊104定影后，作为印刷物朝着介质位置检测装置200及堆垛机300输送。
位于打印装置100下游的介质位置检测装置200包括有读取设备201和位置基准部件202。
读取设备201可以通过将多个的摄像元件(CMOS图像传感器)排列成线状的CIS(Contact Image Sensor:接触式图像传感器)等来实现。读取设备201接收来自于读取对象的反射光，并输出图像信号。具体来说就是，读取设备201是将从打印装置100输送来的记录介质的输送位置及对该记录介质的处理位置(打印位置)作为读取对象的。另外，读取设备201将位置基准部件202作为读取对象。
然后，介质位置检测装置200将读取完毕的记录介质排到堆垛机300中。
堆垛机300配备有托盘301。堆垛机300将介质位置检测装置200排出的记录介质堆叠到托盘301上。
接着，对介质位置检测装置200中的读取设备201和位置基准部件202进行说明。
图2所示是表示介质位置检测装置200中的读取设备201和位置基准部件202的对应位置关系的模式图。图2所示分别是(a)低温时、(b)高温时的各读取设备201的状态。如图2所示，位置基准部件202是将对应于低温时读取设备201的主扫描方向的一端部(前端部)的摄像元件的先头像素的位置作为基准位置(支持点)来设置的。
另外，读取设备201也将相当于对应于位置基准部件202的基准位置的先头像素的位置作为基准位置(支持点)来设置的。
但是，如图2所示，读取设备201在自身发热和周围温度上升引起的高温时，与低温时相比，读取设备201的底板长度会在主扫描方向上伸展。因此，在低温和高温时，记录介质的输送位置以及检测相对于该记录介质的打印位置时所使用的读取设备201的像素序号会不同，从而在读取设备201的读取结果里产生误差。
图3(a)、(b)所示是对读取设备201的主扫描位置的伸缩量的差异进行说明的图。另外，这里的前提是，读取设备201的像素的伸缩量(变化量)在主扫描方向上是一样的。在上述前提之下，如图3(c)所示，当发生某一温度变化(低温→高温)时的读取设备201的像素的伸缩量(以基准位置为基准)在像素序号X中的伸缩量＝A时，像素序号X/2中的伸缩量＝A/2。也就是说，越是朝向主扫描方向的另一端部(后端部)，因温度伸缩而导致的累积误差就越大，检测精度(误差)也会恶化。
因此，如图2所示，位置基准部件202是在对应于读取设备201的主扫描方向另一端部(后端部)的摄像元件的尾端像素的位置上配置有标记M。另外，在本实施方式中，位置基准部件202上的标记M虽然是纵向线，但只要是通过读取设备201能够确定位置的形状，也可以是纵向线以外的形状(圆形等)。另外，从位置基准部件202中的基准位置(支持点)到标记M为止的间隔是进行尺寸管理的，并被定义为已知的vline_gap[mm]。
配置在位置基准部件202上的标记M被配置在能够对读取设备201的主扫描方向进行修正的位置里。设想由读取设备201的温度变化引起的伸缩，并通过在位置基准部件202的适当位置里设置标记M，就可以不论读取设备201的伸缩状态如何，都能够实现高精度地检测记录介质的端部和图像图案的位置了。
当位置基准部件202因周边部件的发热影响等产生膨胀、伸缩时，就不能发挥绝对的位置基准的作用，从而导致位置检测精度的恶化。因此，位置基准部件202与读取设备201的底板相比线热膨胀系数要低，是由位置检测时周围温度的影响引起的伸缩量可以小到忽视程度的材料来构成的。在本实施方式中，考虑到设想的温度变化范围、线膨胀系数，位置基准部件202是由玻璃来形成的。另外，位置基准部件202的材料并不限于此，为了在读取设备201的温度变化范围较大的情况下实现高精度的介质位置检测，优选的是使用石英玻璃等。
图4所示是表示位置基准部件202和读取设备201的深度方向位置关系的图。通常，CIS等的读取设备201具有依存于高度(深度)方向，图像特性变化的特性。作为这种图像特性的代表性例子，一般可以列举的是
·MTF(焦点深度)
·照明深度。
另外，有的读取设备201在高度(深度)依存之外，也有根据主扫描方向位置的不同特性也不同的性质。
因此，在本实施方式中，是将位置基准部件202和读取设备201配置为使得读取设备201在读取记录介质时的深度(高度)方向位置和读取设备201读取位置基准部件202上的标记M时的深度(高度)方向位置为一致。由此，通过尽量降低依存于深度方向的读取设备201的图像特性差的影响，就能够提高位置检测的精度。
图5所示是显示打印***1的硬件的电连接的框图例。
如图5所示，打印***1是通过PCI总线来连接控制器10、引擎部(Engine)60和引擎部(Engine)70而构成的。控制器10是控制打印***1的整体控制、描绘、通信以及操作显示部的操作面板101的输入的控制器。引擎部60是能够和PCI总线连接的引擎，例如是读取设备201等的扫描仪引擎等。在引擎部60中，除了引擎部分以外，还包括有误差扩散和伽马变换等的图像处理部分。引擎部70是能够和PCI总线连接的引擎，例如是包括成像部103Y、103M、103C、103K的绘图机等的打印引擎。
控制器10包括CPU(Central Processing Unit)11、北桥(NB)13、***内存(MEM-P)12、南桥(SB)14、本地内存(MEM-C)17、专用集成电路(ASIC：Application SpecificIntegrated Circuit)16和硬盘驱动器(HDD)18，并在北桥(NB)13和ASIC16之间用图形加速端口(AGP：Accelerator Graphics Port)总线15连接而成。另外，MEM-P12还具有ROM12a和RAM12b。
CPU11用于进行打印***1的整体控制，包括由NB13、MEM-P12及SB14组成的芯片组，并通过该芯片组与其他机器连接。
NB13是用于连接CPU11和MEM-P12、SB14、AGP总线15的桥接器，具有控制对MEM-P12进行读写等的内存控制器和PCI主控和AGP目标。
MEM-P12是用作程序和数据的存储用内存、程序和数据的展开用内存、打印机的描绘用内存等使用的***内存，由ROM12a和RAM12b构成。ROM12a是作为程序和数据的存储用内存来使用的读出专用内存，RAM12b是作为程序和数据的展开用内存、打印机的描绘用内存等来使用的可写入和可读出的内存。
SB14是用于连接NB13和PCI设备、***设备的桥接器。该SB14通过PCI总线与NB13连接，该PCI总线上还连接有网络接口(I/F)部等。
ASIC16是面向具有图像处理用的硬件元素的图像处理用途的集成电路(IC：Integrated Circuit)，并具有分别连接AGP总线15、PCI总线、HDD18以及MEM-C17的桥接器的作用。该ASIC16由PCI目标和AGP主控、作为ASIC16内核的仲裁器(ARB)、控制MEM-C17的内存控制器、通过硬件逻辑等来进行图像数据的旋转等的多个的直接内存存取控制器(DMAC：Direct Memory Access Controller)和在引擎部60或引擎部70之间通过PCI总线来进行数据传输的PCI单元组成。在该ASIC16中，借助于PCI总线连接有USB40、IEEE1394(theInstituteofElectricalandElectronicsEngineers1394)接口(I/F)50。操作面板101直接与ASIC16连接。
MEM-C17是作为复印用图像缓冲、符号缓冲来使用的本地内存，HDD18是用于进行图像数据的存储、程序的存储、字体数据的存储、表单的存储的存储器。
AGP总线15是为了图形处理的高速化而提出的图形加速卡用的总线接口，通过高吞吐量来直接访问MEM-P12，使图形加速卡高速化。
由本实施方式的打印***1执行的程序也可以构成为以能够安装的形式或能够执行的形式的文件来记录到CD-ROM、软盘(FD)、CD-R、DVD(数字多功能光盘)等的计算机可读取的记录介质中来提供。
更进一步地，另外，也可以构成为将通过本实施方式的打印***1执行的程序存储到与互联网等的网络连接的计算机上，并经由网络下载来提供。此外，也可以经由互联网等的网络来提供或颁布由通过本实施方式的打印***1执行的程序。
[打印***1的功能构成说明]
接下来，说明打印***1的CPU11通过执行存储在HDD18和ROM12a中的程序来发挥的功能。另外，此处省略了以往已知功能的说明，详细阐述了本实施方式的打印***1所发挥的特征性功能。
图6所示是表示打印***1的功能构成的功能性框图。
如图6所示，打印***1的CPU11的功能是作为第1位置检测部111、第2位置检测部112、控制部113、打印控制部114。另外，毋庸赘言，CPU11除了第1位置检测部111、第2位置检测部112、控制部113、打印控制部114以外，还可以实现控制记录介质的输送的输送控制部等的功能。
另外，在本实施方式中，是通过CPU11执行程序来实现打印***1所发挥的特征性功能的，但不限于此，例如，上述各部分的功能中的一部分或全部也可以通过专用的硬件电路来实现。
第1位置检测部111从读取设备201读取的图像来检测记录介质的外形形状和记录介质上的图像图案的位置(第1检测结果)。
这里，图7所示是记录介质的外形形状和记录介质上的图像图案的位置的图。如图7所示，记录介质的外形形状是通过检测记录介质的4角O的位置来推定的。另外，记录介质上的图像图案的位置是通过检测形成在定义图像写入区域的记录介质的4角O附近的L字形状的图像图案P的位置来推定的。
如上所述，第1位置检测部111将记录介质的位置(记录介质的外形形状)和图像图案位置等2个检测结果作为第1检测结果。
第2位置检测部112从读取设备201读取的图像来检测配置在位置基准部件202上的标记M的位置(第2检测结果)。
然后，控制部113根据第2检测结果来把握读取设备201的状态，并作为修正参数来保持。另外，控制部113根据检测出第1检测结果和第2检测结果的读取设备201的摄像元件来检测读取设备201的伸缩量，并修正相对于处理对象的记录介质的处理位置(图像写入位置)。
图8所示是修正参数的检测示意图。
如图8所示，第2位置检测部112在标准环境下(例如低温时)从读取设备201读取的图像来检测与位置基准部件202上配置的标记M的位置相对应的像素序号X0(单位:dot)以作为修正参数(第2检测结果)。
接着，第1位置检测部111从读取设备201读取的图像来检测记录介质的外形形状和记录介质上的图像图案的位置(第1检测结果)。在此，将第1检测结果定义如下
·记录介质的前端位置:X1L(单位:dot)
·记录介质的后端位置:X1R(单位:dot)
·图像图案的前端位置:X2L(单位:dot)
·图像图案的后端位置:X2R(单位:dot)
控制部113使用修正参数来计算相当于读取设备201的1个像素(摄像元件)的物理长度pix_w。
pix_w＝vline_gap/X0(单位:mm/dot)
然后，控制部113通过下式来修正对于记录介质的图像写入位置(处理位置)。
以记录介质中的主扫描方向的前端为基准的图像位置
ΔXL＝(X2L-X1L)×pix_w(单位:mm)
以记录介质中的主扫描方向的后端为基准的图像位置
ΔXR＝(X1R-X2R)×pix_w(单元:mm)
控制部113对于第1位置检测部111以及第2位置检测部112来输出显示边缘检测开始时机的控制信号。第1位置检测部111以及第2位置检测部112以检测开始时机为起点来进行检测记录介质的外形形状和记录介质上的图像图案的位置的处理，以及检测配置在位置基准部件202上的标记M的位置的处理。
控制部113将使用修正参数(X0)修正后的记录介质的图像写入位置变换成图像写入位置信息，并通知给打印控制部114。
打印控制部114根据控制部113通知的图像写入位置信息来控制引擎部70，并进行对记录介质的图像写入控制。
下面，对打印***1执行的图像写入位置通知处理进行说明。
这里，图9所示是概略显示图像写入位置通知处理的过程的流程图。如图9所示，通过电源启动(ON)向打印***1供给电源时(步骤S1)，控制部113对于第2位置检测部112输出用于检测被配置在位置基准部件202上的标记M的位置X0的控制信号(步骤S2)。
第2位置检测部112接收到控制信号后，就控制读取设备201来进行被配置在位置基准部件202上的标记M的读取，以检测出标记M的位置X0(步骤S3)。标记M的位置X0被检测为与配置在位置基准部件202上的1个标记M相对应。
第2位置检测部112将标记M的位置X0作为检测结果发送到控制部113(步骤S4)。
控制部113将送来的标记M的位置X0存储到作为存储器的RAM12b等里(步骤S5)。
然后，控制部113就等待着从用户接受打印作业的作业开始命令(步骤S6的”否”)。
当接收到打印作业的作业开始命令时(步骤S6的”是”)，控制部113将打印有图像图案的记录介质输送到读取设备201的读取位置(步骤S7)。
接着，控制部113对于第1位置检测部111输出用于检测被输送来的记录介质的外形形状和记录介质上的图像图案的位置的控制信号(步骤S8)。
第1位置检测部111接收到控制信号后，就控制读取设备201来进行被输送来的记录介质的外形形状和记录介质上的图像图案的位置的读取，并检测记录介质的外形形状和记录介质上的图像图案的位置(步骤S9)。更为详细的是，检测出如下所示的各种位置。
·记录介质的前端位置:X1L(单位:dot)
·记录介质的后端位置:X1R(单位:dot)
·图像图案的前端位置:X2L(单位:dot)
·图像图案的后端位置:X2R(单位:dot)
第1位置检测部111将记录介质的外形形状和记录介质上的图像图案的位置作为检测结果发送到控制部113(步骤S10)。
接着，控制部113将X0作为修正参数来计算记录介质的端部位置～图像图案的端部位置的ΔXL、ΔXR(步骤S11)。
控制部113将相对于记录介质的图像写入位置的ΔXL、ΔXR变换成图像写入位置信息，并通知给打印控制部114(步骤S12)。
这样，根据本实施方式，通过设置位置基准部件202，并由读取设备201来检测位置基准部件202上的标记M的位置来修正写入位置，就能够提高下述的检测结果的精度。
·打印在记录介质上的图像图案的位置·记录介质的外形边缘位置的位置，由此，就能够降低因为读取设备201的发热引起的伸缩所产生的位置检测结果的误差。
另外，每次供电时，通过检测位置基准部件202上的标记M的位置，来定期性地把握读取设备201的伸缩状态，并更新修正参数。由此，就能够期待提高检测精度的稳定化。
另外，在本实施方式中，作为读取设备201使用的是所谓的等倍光学***的CIS，但并不限于此。例如，读取设备201也可以是由光源、多个反射部件(反射镜)、成像透镜、线性图像传感器等构成的所谓的缩小光学***的读取设备，只要是能够检测出读取对象物的位置的设备，就可以提高位置检测精度。
第2实施方式
接下来，对第2实施方式进行说明。
第2实施方式与以读取设备201的伸缩量在每个主扫描位置都是相同为前提的第1实施方式的不同点在于，读取设备201的伸缩在主扫描方向上并局限于必须是同样的。下面，在第2实施方式的说明中，省略了与第1实施方式为相同部分的说明，而对不同于第1实施方式的地方进行说明。
这里，图10(a)、(b)所示是对第2实施方式所涉及的读取设备201的主扫描位置的变化量的差异进行说明的图。在图10所示的例子中，读取设备201的像素的延伸量是越向主扫描的后端，就越是明显增大。在图10(c)中显示的是，像素序号X时为伸缩量A时，像素序号X/2为伸缩量A/10的例子。
于是，本实施方式的打印***1为了对应图10所示的例子，是通过将读取设备201的主扫描方向分割成多个区域来对应的。
图11所示是表示修正参数的检测的图。如图11所示，第2位置检测部112在标准环境下(例如低温时)从读取设备201读取的图像来检测与位置基准部件202上配置的标记M的位置相对应的像素序号X0(单位:dot)以作为修正参数(第2检测结果)。
接着，第1位置检测部111从读取设备201读取的图像来检测记录介质的外形形状和记录介质上的图像图案的位置(第1检测结果)。在此，将第1检测结果定义如下
·记录介质的前端位置:X1L(单位:dot)
·记录介质的后端位置:X1R(单位:dot)
·图像图案的前端位置:X2L(单位:dot)
·图像图案的后端位置:X2R(单位:dot)
控制部113在标准环境下(例如低温时)，将相当于基准位置～标记M的距离vline_gap的1/2的像素序号定义为Xc(固定值)。
控制部113使用修正参数来计算相当于读取设备201的1个像素(摄像元件)的物理长度pix_w(n)。控制部113在图11所示的例子中，将主扫描区域分割为2个，并计算各个区块的pix_w(n)。n表示区块的序号(1～N)。
控制部113定义相当于读取设备201的1个像素(摄像元件)的物理长度的标准值(代表值)pix_w0后，将0像素～Xc像素的温度变化引起的伸长量视为微小，并通过以下计算式子来计算pix_w(1)。
pix_w(1)＝pix_w0(传感器1个像素的物理长度没有变化)
另一方面，由于(Xc+1)像素～最终像素不能忽略温度变化引起的伸长量，所以控制部113是根据标记M的位置通过以下的计算式子来计算pix_w(2)。
pix_w(2)＝(vline_gap/2)/(X0-Xc)
然后，控制部113通过下式来修正相对于记录介质的图像写入位置。
以记录介质中的主扫描方向的前端为基准的图像位置
ΔXL＝(X2L-X1L)×pix_w(1)(单位:mm)
以记录介质中的主扫描方向的后端为基准的图像位置
ΔXR＝(X1R-X2R)×pix_w(2)(单元:mm)
控制部113将使用修正参数修正后的记录介质的图像写入位置变换成图像写入位置信息，并通知给打印控制部114。
如上所述，根据本实施方式，根据读取设备201的温度变化导致的伸缩，通过适当地改变计算方式，就能够确保高精度的位置检测精度。在本实施方式中，是将主扫描区域分割为2的方法，但也可以是增加分割数目等的进一步的应用。
第3实施方式
接下来，对第3实施方式进行说明。
第3实施方式与第1实施形态或第2实施形态的不同点在于，将低温时读取设备201的主扫描方向的大致中央作为基准位置(支撑点)来设置位置基准部件202的基准位置。下面，在第3实施方式的说明中，省略了与第1实施方式或第2实施方式为相同部分的说明，而对不同于第1实施方式或第2实施方式的地方进行说明。
图12所示是对第3实施方式所涉及的读取设备201的设置例进行说明的图。根据周边机械部件构成，可以考虑有这样的情况，即，不一定能够将第1实施方式或第2实施方式中所说明的位置作为基准位置。在图12所示的设置例中，是将低温时读取设备201的主扫描方向的大致中央作为基准位置(支撑点)来设置位置基准部件202的基准位置的。如图12所示，在读取设备201的大致中央为基准位置(支撑点)的情况下，以基准位置为中心分别朝向主扫描前端、后端侧会产生底板的伸缩。
图13所示是对读取设备201的主扫描位置的变化量的差异进行说明的图。图13所示是基准位置为主扫描方向的前端以及主扫描方向的中央时，因低温～高温的变化而产生的读取设备201在主扫描位置中的传感器底板长度的变化量的概念。图13所示的例子是相对于总像素数X，以相当于其1/2的像素序号X/2为基准时的一个例子。
如图13所示，在主扫描方向的大致中央X/2为基准时，伸长量是以X/2为中心朝向主扫描的前端、后端变大的。
图14所示是表示修正参数的检测的图。
本实施方式的打印***1为了对应图13所示的例子，在将读取设备201的主扫描位置分割成多个区域的同时，是通过采用在对应于读取设备201的主扫描方向一端部(前端部)的摄像元件的前端像素以及另一端部(后端部)的摄像元件的尾端像素的位置里分别配置了标记M(ML，MR)的位置基准部件202来对应的。
如图14所示，第2位置检测部112在标准环境下(例如低温时)从读取设备201读取的图像来检测与位置基准部件202上配置的标记M(ML，MR)的位置相对应的像素序号X0L，X0R(单位:dot)以作为修正参数(第2检测结果)。
接着，第1位置检测部111从读取设备201读取的图像来检测记录介质的外形形状和记录介质上的图像图案的位置(第1检测结果)。在此，将第1检测结果定义如下
·记录介质的前端位置:X1L(单位:dot)
·记录介质的后端位置:X1R(单位:dot)
·图像图案的前端位置:X2L(单位:dot)
·图像图案的后端位置:X2R(单位:dot)
接着，控制部113使用修正参数来计算相当于读取设备201的1个像素(摄像元件)的物理长度pix_w1、pix_w2。读取设备201的像素序号Xc相当于基准位置时，通过以下计算式子来计算pix_w1、pix_w2。
从基准位置到主扫描前端侧pix_w1＝vline_gap/Xc-X0L(单位:mm/dot)
从基准位置到主扫描后端侧pix_w2＝vline_gap/X0R-Xc(单位:mm/dot)
然后，控制部113通过下式来修正相对于记录介质的图像写入位置。
以记录介质中的主扫描方向的前端为基准的图像位置
ΔXL＝(X2L-X1L)×pix_w1(单位:mm)
以记录介质中的主扫描方向的后端为基准的图像位置
ΔXR＝(X1R-X2R)×pix_w2(单位:mm)
如此，根据本实施方式，即使读取设备201的安装的基准位置位于大致中央，设想由读取设备201的温度变化引起的伸缩，并通过在位置基准部件202的适当位置里设置多个标记M，就可以不论读取设备201的伸缩状态如何，都能够实现高精度地检测记录介质的端部和图像位置的检测了。
第4实施方式
接下来，对第4实施方式进行说明。
第4实施方式与第1实施方式乃至第3实施方式的不同点是，将位置基准部件202上的多个标记M等间隔地排列，从而对于读取设备201的基板上的各传感器芯片来分别读取一个标记M。下面，在第4实施方式的说明中，省略了与第1实施方式乃至第3实施方式为相同部分的说明，而对不同于第1实施方式乃至第3实施方式的地方进行说明。
这里，图15所示是对第4实施方式所涉及读取设备201的传感器芯片的实际安装位置的实际状态进行说明的图。如图15所示，适用于读取设备201的CIS，众所周知的构成一般是通过在主扫描方向上排列多个具有多个像素的传感器芯片，来确保必要的主扫描有效读取长度。
在此，对于将CIS应用于读取设备201时的课题进行说明。图16所示是显示读取设备201的传感器芯片的实际安装例的图。如图16所示，相邻传感器芯片之间的间隙通常是隔开规定的物理长度(例如1个像素)的间隔来安装的，但众所周知的是其带有公差。如图16所示，读取设备201的相邻的各传感器芯片之间的间隔不一定相等的。因此，如图16所示，在以横跨记录介质的前端位置和图像图案的前端位置为邻接的2个传感器芯片之间的形式来位置检测时，会存在着相邻的2个传感器芯片之间的间隔不明，而且该间隔值在相邻的每个传感器芯片里都不一样。
更进一步地，在装配传感器芯片的底板上，一般安装有驱动和控制传感器芯片的多个的半导体零件，根据各零件在基板上的配置(布局)和各零件的各自自身发热量的差异，底板整体的发热分布不一定是同样的。因此，读取设备201的底板的主扫描方向位置上的伸缩量也不一样，读取设备201的邻接的传感器芯片之间的间隙的伸缩量有可能是不相等的。
因此，考虑到上述课题(位置检测误差要因)，为了进一步提高位置检测精度，可以考虑以下的构成。
这里，图17所示是表示介质位置检测装置200中的读取设备201和位置基准部件202的对应位置关系的模式图。如图17所示，在本实施方式中，为了相对于读取设备201的底板上的各传感器芯片来分别读取标记M，是在位置基准部件202上等间隔地配置多个的标记M。
介质位置检测装置200在检测记录介质的端部位置和图像图案的端部位置之前，通过读取设备201来读取位置基准部件202上的标记M的位置，检测出与读取设备201的各个传感器芯片对应的标记M的位置，并作为修正参数。
这里，图18所示是使用修正参数的图像写入位置的检测方法例的说明图。如图18所示，读取设备201的传感器芯片的各自的长度(主扫描宽度)都比底板长度短。因此，在本实施方式中，与读取设备201的底板长度的伸缩量相比，读取设备201的传感器芯片内的各像素的伸缩量小到可以忽略的程度，读取设备201的邻接传感器芯片之间的间隙因温度变化而伸缩，在此前提下进行以下的说明。
首先，对图18(a)所示情况的图像写入位置的检测进行说明。
如图18(a)所示，第2位置检测部112在标准环境下(例如低温时)从读取设备201读取的图像，来对读取设备201的每个传感器芯片检测与位置基准部件202上的标记M的位置相对应的像素序号X0(n)(单位:dot)以作为修正参数(第2检测结果)。在此，n表示传感器芯片的序号1～N。
接着，第1位置检测部111从读取设备201读取的图像来检测主扫描方向前端的记录介质的外形形状和记录介质上的图像图案的位置(第1检测结果)。在此，将第1检测结果定义为
·记录介质的前端位置:X1L(单位:dot)
·图像图案的前端位置:X2L(单位:dot)。
然后，控制部113为了把握对记录介质上的图像写入位置，计算出与以记录介质的前端位置X1L为基准的图像图案的前端位置X2L之间的间隔ΔXL。作为已知的信息如下时，
·位置基准部件202上的标记M的间隔:vline_gap(单位:mm)
·读取设备201的传感器芯片的像素尺寸:pix_w(单位:mm/dot)，ΔXL的计算如下。
以记录介质上主扫描方向的前端为基准的图像位置
ΔXL＝vline_gap-(X1L-X0(n-1))×pix_w-(X0(n)-X2L)×pix_w(单位:mm)
在此，作为修正参数而适用的X0(n)，因为通过读取设备201的传感器芯片(n-1)来检测X1L所以是X0(n-1)，因为通过读取设备201的传感器芯片(n)来检测X2L所以是X0(n)。这样，通过将对应于X1L、X2L的X0(n)作为修正参数来适用，就能够高精度地检测以记录介质的端部为基准的图像图案的位置了。
接着，对图18(b)所示情况的图像写入位置的检测进行说明。
如图18(b)所示，第2位置检测部112在标准环境下(例如低温时)从读取设备201读取的图像，来对读取设备201的每个传感器芯片检测与位置基准部件202上的标记M的位置相对应的像素序号X0(n)(单位:dot)以作为修正参数(第2检测结果)。在此，n表示传感器芯片的序号1～N。
接着，第1位置检测部111从读取设备201读取的图像来检测主扫描方向前端的记录介质的外形形状和记录介质上的图像图案的位置(第1检测结果)。在此，将第1检测结果定义为
·记录介质的前端位置:X1L(单位:dot)
·图像图案的前端位置:X2L(单位:dot)。
然后，控制部113为了把握对记录介质上的图像写入位置，计算出与以记录介质的前端位置X1L为基准的图像图案的前端位置X2L之间的间隔ΔXL。作为已知的信息如下时，
·位置基准部件202上的标记M的间隔:vline_gap(单位:mm)
·读取设备201的传感器芯片的像素尺寸:pix_w(单位:mm/dot)，ΔXL的计算如下。
以记录介质上主扫描方向的前端为基准的图像位置
ΔXL＝vline_gap×2-(X1L-X0(n-1))×pix_w-(X0(n+1)-X2L)×pix_w(单位:mm)
对于上述图18(a)所示的情况，与图18(b)所示情况的计算公式的不同点在于将vline_gap为2倍。如此，与图18(a)所示的情况同样地，在将对应于X1L、X2L的X0(n)作为修正参数来适用的同时，根据X1L和X2L的读取设备201的传感器芯片间隔，只需在vline_gap里乘以合适的系数，就能够高精度地检测以记录介质的端部为基准的图像图案的位置了。
另外，通过与上述例子相同的方法，只要计算出以记录介质的后端位置X1R为基准的图像图案的后端位置X2R的间隔ΔXR即可。另外，关于副扫描方向的后端侧也与上述例子同样地，只要分别检测记录介质的前端位置、后端位置以及图像图案的前端位置、后端位置即可。
这样，根据本实施方式，不依存于读取设备201的传感器芯片的安装公差和读取设备201的发热影响所引起的伸缩量，可以期待位置检测精度的提高。
第5实施方式
接下来，对第5实施方式进行说明。
第5实施方式与第1实施方式乃至第4实施方式的不同之处在于，不仅考虑读取设备201的主扫描方向的伸缩，还考虑到高度(深度)方向的翘曲。下面，在第5实施方式的说明中，省略了与第1实施方式乃至第4实施方式为相同部分的说明，而对不同于第1实施方式乃至第4实施方式的地方进行说明。
这里，图19所示是对第5实施方式所涉及的读取设备201的发热引起的高度(深度)方向的翘曲进行说明的图。如图19所示，一般所知的是，读取设备201由于自身发热和周围温度上升，除了主扫描方向的伸缩外，还会产生高度(深度)方向的翘曲，从而产生主扫描方向的倍率误差。
例如，如图19(a)所示，在读取设备201中没有高度(深度)方向的翘曲时，
宽度:相当于L1(单位:mm)的像素宽度＝A(单位:dot)
宽度:相当于L2(单位:mm)的像素宽度＝B(单位:dot)。与此相对，如图19(b)所示，在读取设备201中有高度(深度)方向的翘曲时，
宽度:相当于L1(单位:mm)的像素宽度＝A'(单位:dot)
宽度:相当于L2(单位:mm)的像素宽度＝B'(单位:dot)。其中A≠A'、B≠B'。也就是说，对于相同的物理长度来说，读取设备201检测到的像素宽度是不同的。
图20所示是对与读取设备201中的高度(深度)方向的翘曲相对应的位置基准部件202上的标记M的配置例进行说明的图。如图20所示，本实施方式的介质位置检测装置200为了对应读取设备201的翘曲量，在位置基准部件202上是以规定间隔来配置标记M的。
更为详细的是，如图20所示，读取设备201中的高度(深度)方向的翘曲量是从主扫描方向的规定位置朝着两端部急剧增大的。因此，在本实施方式中，·弯曲量大的主扫描方向的两端区域:间隔比较狭窄，为已知的vline_gap1·翘曲量小的主扫描方向的中央区域:间隔比较大，为已知的vline_gap2，翘曲对检测精度误差的影响大的区域，间隔就越狭窄。
由此，对于使用位置基准部件202上的标记M的位置检测结果(修正参数)的图像写入位置的检测，可以适用与上述第4实施方式为相同的方法。
另外，关于位置基准部件202上的标记M的配置图形，不限于本实施方式中所记载的内容。在图20中，位置基准部件202上的标记M的间隔有2种，但也可以设置间隔的粗密，从主扫描方向的两端部朝向主扫描方向的大致中央部，逐渐使标记M的间隔变窄。
这样，根据本实施方式，不仅是读取设备201的主扫描方向的伸缩，还能够实现考虑到高度(深度)方向的翘曲的高精度的记录介质的端部、图像位置的检测。
第6实施方式
接下来，对第6实施方式进行说明。
第6实施方式与第1实施方式乃至第5实施方式的不同点在于，每次作业开始命令时都检测被配置在位置基准部件202上的标记M的位置。下面，在第6实施方式的说明中，省略了与第1实施方式乃至第5实施方式为相同部分的说明，而对不同于第1实施方式乃至第5实施方式的地方进行说明。
这里，图21所示是概略显示第6实施方式所涉及的图像写入位置通知处理的过程的流程图。如图21所示，当电源接通ON向打印***1供给电源时(步骤S21)，控制部113就等待着从用户接受打印作业开始命令(步骤S22的”否”)。
当接受打印作业开始命令时(步骤S22的)，控制部113对于第2位置检测部112输出用于检测被配置在位置基准部件202上的标记M的位置X0(n)的控制信号(步骤S23)。
第2位置检测部112接收到控制信号后，就控制读取设备201来进行被配置在位置基准部件202上的标记M的读取，以检测出标记M的位置X0(n)(步骤S24)。
第2位置检测部112将标记M的位置X0(n)作为检测结果发送到控制部113(步骤S25)。
控制部113将送来的标记M的位置X0(n)存储到作为存储器的RAM12b等里(步骤S26)。
接着，控制部113将打印有图像图案的记录介质输送到读取设备201的读取位置(步骤S27)。
另外，控制部113对于第1位置检测部111输出用于检测被输送来的记录介质的外形形状和记录介质上的图像图案的位置的控制信号(步骤S28)。
第1位置检测部111接收到控制信号后，就控制读取设备201来进行被输送来的记录介质的外形形状和记录介质上的图像图案的位置的读取，并检测记录介质的外形形状和记录介质上的图像图案的位置(步骤S29)。更为详细的是，检测出如下所示的各种位置。
·记录介质的前端位置:X1L(单位:dot)
·记录介质的后端位置:X1R(单位:dot)
·图像图案的前端位置:X2L(单位:dot)
·图像图案的后端位置:X2R(单位:dot)
第1位置检测部111将记录介质的外形形状和记录介质上的图像图案的位置作为检测结果发送到控制部113(步骤S30)。
接着，控制部113将与X1L、X1R、X2L、X2R分别对应的X0(n)作为修正参数来计算记录介质的端部位置～图像图案的端部位置的ΔXL、ΔXR(步骤S31)。
控制部113将相对于记录介质的图像写入位置的ΔXL、ΔXR变换成图像写入位置信息，并通知给打印控制部114(步骤S32)。
这样，根据本实施方式，因为考虑到从供电后到打印作业开始的经过时间导致读取设备201的伸缩状态发生变化，并在接受打印作业开始命令时，在开始记录介质的读取动作之前，通过检测位置基准部件202上的标记M的位置把握读取设备201的伸缩状态来更新修正参数，所以能够期待进一步的检测精度的稳定化。
第7实施方式
接下来，对第7实施方式进行说明。
第7实施方式与第1实施方式乃至第6实施方式的不同点在于，作业开始命令之后，每经过规定时间都检测被配置在位置基准部件202上的标记M的位置。下面，在第7实施方式的说明中，省略了与第1实施方式乃至第6实施方式为相同部分的说明，而对不同于第1实施方式乃至第6实施方式的地方进行说明。
这里，图22所示是表示第6实施方式所涉及的打印***的功能构成的功能性框图。
如图22所示，打印***1的CPU11在前述第1位置检测部111、第2位置检测部112、控制部113、打印控制部114以外，还具有时间测量部115的功能。
时间测量部115对任意时机开始的经过时间进行测量。当该经过时间超过规定量时，控制部113就向第2位置检测部112输出控制信号，并根据来自读取设备201的图像信号进行位置基准部件202上的标记M的位置检测。
这里，图23所示是概略显示图像写入位置通知处理的过程的流程图。另外，关于图23所示的步骤S21～S24，因为与第6实施方式的图21中说明的步骤S21～S24相同，因此省略其说明。
在接下来的步骤S41中，时间测量部115是以第2位置检测部112完成位置基准部件202上配置的标记M的读取动作的时机来开始经过时间Δt的测量(步骤S41)的。
关于接下来的图23所示的步骤S25～S32，因为与第6实施方式的图21所说明的步骤S25～S32相同，因此省略了其说明。
控制部113在图像写入位置信息对打印控制部114通知之后(步骤S32)，判断是否存在下一页的记录介质(步骤S42)。
当控制部113判定下一页的记录介质不存在时(步骤S42的”否”)，就结束该流程。
另一方面，当控制部113判定下一页的记录介质存在时(步骤S42的”是”)，就判断经过时间Δt是否在预先规定的阈值Δt_th以上(步骤S43)。
控制部113在Δt_th>Δt时(步骤S43的”否”)，就判断为不是位置基准部件202的读取时机，并返回到步骤S27，进行下一页的记录介质的读取动作。
另一方面，控制部113在Δt_th≤Δt时(步骤S43的”是”)，以Δt＝0来将测量值初始化(复位)(步骤S44)并返回到步骤S23，再次进行位置基准部件202的读取，在更新X0(n)的同时，开始经过时间Δt的测量。
这样，根据本实施方式，因为是考虑到从连续读取多个记录介质的作业的开始到结束的经过时间会导致作业中读取设备201的伸缩状态发生变化，并通过以规定的时间间隔来检测位置基准部件202上的标记M的位置，以实时地把握读取设备201的伸缩状态并更新修正参数，所以就能够期待进一步的检测精度的稳定化。
第8实施方式
接下来，对第8实施方式进行说明。
第8实施方式与第1实施方式乃至第7实施方式的不同点在于，作业开始命令后，每当温度变化量达到规定量时，都检测被配置在位置基准部件202上的标记M的位置。下面，在第8实施方式的说明中，省略了与第1实施方式乃至第7实施方式为相同部分的说明，而对不同于第1实施方式乃至第7实施方式的地方进行说明。
这里，图24所示是对第8实施方式所涉及的读取设备201的温度变化进行说明的图。如图24所示，读取设备201的温度变化并不一定与经过时间成比例。一般来说，以供电开始或供电后规定动作开始的时机为起点时，初期单位时间的温度变化量会较大，随着温度的上升，单位时间的温度变化量会缓慢地变小，最终会收敛到一定的温度里。
因此，如第7实施方式所述地以规定的时间间隔(频率)来进行位置基准部件202上的标记M的位置检测时，随着作业开始后经过时间的增大，进行位置基准部件202的读取动作的效果逐渐变小，即使对检测精度没有不良影响，也可能产生作业所需时间会超过必要的长期化的问题(参照图24(a))。
读取设备201的伸缩与读取设备201自身的温度变化量成比例关系。因此，在本实施方式中，是每当读取设备201的温度变化量达到规定量时，都通过进行位置基准部件202上的标记M的读取来将作业开始到结束为止的时间控制在最小限度。
更为详细的是，在描绘图24(b)所示的温度上升曲线时，是将时间间隔设定为在时间测量刚开始后是高频度，随着时间的经过变成低频度化。
另外，关于详细的时间间隔，只要根据开发阶段中的读取设备201的温度上升试验等结果，设定在规定的温度变化量可能产生的时间里即可。
这里，图25是概略显示图像写入位置通知处理的流程的流程图。另外，关于图25所示的步骤S21～S22，因为与第6实施方式的图21中说明的步骤S21～S22相同，因此省略其说明。
在接下来的步骤S51中，控制部113以接受到打印作业开始命令的时机，将用于计数位置基准部件202的读取动作次数的变量Scount初始化为0。
另外，关于图25所示的步骤S23～S24，因为与第6实施方式的图21中说明的步骤S23～S24相同，因此省略其说明。
在接下来的步骤S52中，控制部113以第2位置检测部112完成被配置在位置基准部件202上的标记M的读取动作的时机，来对位置基准部件202的读取动作完成进行计数，并将变量Scount进行+1的增量。
另外，在接下来的步骤S41中，时间测量部115是以第2位置检测部112完成位置基准部件202上配置的标记M的读取动作的时机来开始经过时间Δt的测量的。
关于接下来的图25所示的步骤S25～S32，因为与第6实施方式的图21所说明的步骤S25～S32相同，因此省略了其说明。
控制部113在图像写入位置信息对打印控制部114通知之后(步骤S32)，判断是否存在下一页的记录介质(步骤S42)。
当控制部113判定下一页的记录介质不存在时(步骤S42的”否”)，就结束该流程。
另一方面，控制部113在判定到存在下一页的记录介质时(步骤S42的”是”)，就从Scount的值来确认作业内是否进行了3次以上的位置基准部件202的读取动作(步骤S53)。
控制部113在3>Scount时(步骤S53的”否”)，如果是Δt_th1>Δt(步骤S54的”否”)，就判断为不是位置基准部件202的读取时机，并返回到步骤S27去进行下一页的记录介质的读取动作。
另一方面，控制部113在3>Scount时(步骤S53的”否”)，如果是Δt_th1≤Δt(步骤S54的”是”)，就以Δt＝0来将测量值初始化(复位)(步骤S44)并返回到步骤S23，再次进行位置基准部件202的读取，在更新X0(n)的同时，开始经过时间Δt的测量。
另外，控制部113在3≤Scount时(步骤S53的”否”)，如果是t_th2>Δt(步骤S55的”否”)，就判断为不是位置基准部件202的读取时机，并返回到步骤S27去进行下一页的记录介质的读取动作。
另一方面，控制部113在3≤Scount时(步骤S53的”是”)，如果是Δt_th2≤Δt(步骤S55的”是”)，就以Δt＝0来将测量值初始化(复位)(步骤S44)并返回到步骤S23，再次进行位置基准部件202的读取，在更新X0(n)的同时，开始经过时间Δt的测量。
另外，Δt_th1、Δt_th2的关系被设定为Δt_th1<Δt_th2。通过这样的设定，在Scount＝1、2时，因为Δt_th1是阈值，所以就以高频度来进行位置基准部件202的读取，当Scount＝3以上时，因为Δt_th2成为阈值，与Scount＝1、2的情况(从作业开始到规定时间)相比，就以低频度来进行位置基准部件202的读取。
另外，在本实施方式中，是以Scount＝3为界线来改变位置基准部件202的读取的频率的，但在实际使用读取设备201的应用(环境)中，由于其温度梯度是变化的，所以只要根据应用进行最佳的设定即可。
另外，在本实施方式中，虽然只设置了Δt_th1、Δt_th2等2种时间间隔，但通过将其进一步细分为3种、4种，就可能进一步降低位置基准部件202的读取动作的次数。
这样，根据本实施方式，测量作业开始后的经过时间，并通过以作业刚开始后为较高的频率(更新间隔小)、随着时间的经过为较低的频率(更新间隔大)的事先规定的时机来检测被配置在位置基准部件202上的标记M的位置，把握作业内的读取设备201的伸缩状态并更新修正参数。由此，就能够将作业内的修正参数的更新频率控制在最小限度，在尽可能地抑制作业所需时间的长期化(生产性降低)的同时，维持较高的检测精度。
第9实施方式
接下来，对第9实施方式进行说明。
第9实施方式与第1实施方式乃至第8实施方式的不同之处在于，是直接测量读取设备201的温度。下面，在第9实施方式的说明中，省略了与第1实施方式乃至第8实施方式为相同部分的说明，而对不同于第1实施方式乃至第8实施方式的地方进行说明。
在第8实施方式中，是用时间来管理读取位置基准部件202的时机的方式，在本实施方式中，是直接测量读取设备201的温度。
这里，图26所示是表示第9实施方式所涉及的打印***1的功能构成的功能性框图。
如图26所示，打印***1的CPU11在前述第1位置检测部111、第2位置检测部112、控制部113、打印控制部114以外，还具有温度测量部116的功能。
温度测量部116以任意的时机来从设在读取设备201上的温度计400取得温度测量值。当该温度测量值的温度变化量超过规定量时，控制部113就向第2位置检测部112输出控制信号，并根据来自读取设备201的图像信号进行位置基准部件202上的标记M的位置检测。
这里，图27是概略显示图像写入位置通知处理的流程的流程图。另外，关于图27所示的步骤S21～S24，因为与第6实施方式的图21中说明的步骤S21～S24相同，因此省略其说明。
在接下来的步骤S61中，温度测量部116是以第2位置检测部112完成位置基准部件202上配置的标记M的读取动作的时机，来将温度测量值T0作为温度测量开始时的值，并保存到存储部里。
关于接下来的图27所示的步骤S25～S32，因为与第6实施方式的图21所说明的步骤S25～S32相同，因此省略了其说明。
控制部113在图像写入位置信息对打印控制部114通知之后(步骤S32)，判断是否存在下一页的记录介质(步骤S42)。
当控制部113判定下一页的记录介质不存在时(步骤S42的”否”)，就结束该作业。
另一方面，当控制部113判定下一页的记录介质存在时(步骤S42的”是”)，就从温度测量部116取得现在的温度测量值T1(步骤S62)，并判断温度变化量T1-T0是否在预先规定的温度变化量阈值ΔT_th以上(步骤S63)。
控制部113在ΔT_th>T1-T0时(步骤S63的”否”)，就判断为不是位置基准部件202的读取时机，并返回到步骤S27，进行下一页的记录介质的读取动作。
另一方面，控制部113在ΔT_th≤T1-T0时(步骤S43的”是”)返回到步骤S23，再次进行位置基准部件202的读取，在更新X0(n)的同时，取得温度测量值T0并更新存储部中所保持的T0。
另外，温度变化量阈值ΔT_th，在确保适用环境中所需的位置检测精度的情况下，只要设定为容许范围内的值即可，并从开发阶段中的读取设备201的温度上升试验等结果来确定即可。
这样，根据本实施方式，通过测量从作业开始的读取设备201的温度变化，在产生预先确定的温度变化的时刻，通过检测规定图案位置来把握作业内的读取设备201的伸缩状态并更新修正参数。由此，就能够将作业内的修正参数的更新频率控制在最小限度，在尽可能地抑制作业所需时间的长期化(生产性降低)的同时，维持较高的检测精度。
另外，在上述各实施方式中，举例说明了将本发明的位置检测装置、图像读取装置、图像形成装置适用到包括电子照相方式的打印装置的打印***里的情况，但不限于此，也可以适用于包括喷墨方式的打印装置的打印***。
另外，在上述各实施方式中，举例说明了将本发明的位置检测装置、图像读取装置、图像形成装置适用到包括商业印刷机(Production Printing Machine)等的打印装置的打印***里的情况，但不限于此，只要是具有复印功能、打印机功能、扫描功能以及传真功能中的至少2个功能的多功能***设备、复印机、打印机、扫描装置、传真装置等的图像形成装置，就都能够适用。
更进一步地，在上述各实施方式中，举例说明了将本发明的位置检测装置适用到图像形成领域的位置检测的情况，但不局限于此，例如在FA领域的检查等各种领域的位置检测应用中也可以应用。

Claims (14)

1.一种位置检测装置，其特征在于包括：
第一位置检测部，其控制读取设备，将第N页的处理对象的外形形状和该处理对象上的图像图案的位置作为第一检测结果来检测，其中，所述处理对象是由图像形成装置在记录介质上写入的图像；
第二位置检测部，其控制所述读取设备，将配置在位置基准构件上对应于该读取设备的规定的位置的标记作为第二检测结果来检测，和
控制部，其根据所述第二检测结果来检测所述读取设备的变化量，并根据所述读取设备的变化量和所述第一检测结果来修正对于第N+1页的所述处理对象的处理位置。
2.根据权利要求1所述的位置检测装置，其特征在于：
所述标记被配置在所述位置基准构件中，并对应于所述读取设备的主扫描方向上能够修正的位置。
3.根据权利要求1所述的位置检测装置，其特征在于：
所述标记在将所述读取设备的主扫描方向分割的多个区域中，对应于该读取设备的主扫描方向上能够修正的位置来分别配置到所述位置基准构件里。
4.根据权利要求1所述的位置检测装置，其特征在于：
所述标记对应于所述读取设备的主扫描方向上能够修正的位置，以规定的间隔在所述位置基准构件中被多个地配置。
5.根据权利要求1至4中任何一项所述的位置检测装置，其特征在于：
所述第二位置检测部在每次对所述读取设备供电时，都对配置在所述位置基准构件中的所述标记进行检测。
6.根据权利要求1至4中任何一项所述的位置检测装置，其特征在于：
所述第二位置检测部在每次接受到检测所述处理对象的外形形状和该处理对象上的图像图案的位置的作业开始命令时，都对配置在所述位置基准构件中的所述标记进行检测。
7.根据权利要求1至4中任何一项所述的位置检测装置，其特征在于：
具有时间测量部来测量从检测所述处理对象的外形形状和该处理对象上的图像图案的位置的作业开始后的经过时间，并且，所述第二位置检测部在所述经过时间每次经过规定时间时，都对配置在所述位置基准构件中的所述标记进行检测。
8.根据权利要求7所述的位置检测装置，其特征在于：
所述第二位置检测部随着所述经过时间的经过来增大所述规定时间。
9.根据权利要求1至4中任何一项所述的位置检测装置，其特征在于：
具有测量所述读取设备的温度变化的温度测量部，所述第二位置检测部每当所述温度变化量到达规定量时，都对配置在所述位置基准构件中的所述标记进行检测。
10.根据权利要求1至4中任何一项所述的位置检测装置，其特征在于：
所述读取设备读取所述处理对象时的深度方向位置和所述读取设备读取所述位置基准构件的所述标记时的深度方向位置是一致的。
11.根据权利要求1至4中任何一项所述的位置检测装置，其特征在于：
所述位置基准构件由玻璃形成。
12.一种图像读取装置，其特征在于包括：
读取设备，和配置有对应于所述读取设备的规定的位置的标记的位置基准构件，以及权利要求1至11中任何一项所述的位置检测装置。
13.一种图像形成装置，其特征在于包括：
读取设备；
位置基准构件，其配置有对应于所述读取设备的规定的位置的标记；
位置检测装置，其根据权利要求1至11中任何一项所述；
打印引擎；
输送控制部，其控制记录介质对所述打印引擎的输送，和
打印控制部，其根据所述位置检测装置通知的图像写入位置信息，控制所述打印引擎并对所述记录介质进行图像写入。
14.一种通过位置检测装置来执行的位置检测方法，其特征在于包括：
第一位置检测步骤，其控制读取设备，将第N页的处理对象的外形形状和该处理对象上的图像图案的位置作为第一检测结果来检测，其中，所述处理对象是由图像形成装置在记录介质上写入的图像；
第二位置检测步骤，其控制所述读取设备，将配置在位置基准构件上对应于该读取设备的规定的位置的标记作为第二检测结果来检测，和
修正步骤，其根据所述第二检测结果来检测所述读取设备的变化量，并根据所述读取设备的变化量和所述第一检测结果来修正对于第N+1页的所述处理对象的处理位置。
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Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109862201A (zh) * 2017-11-30 2019-06-07 株式会社理光 读取装置、图像形成装置、基准图案读取方法
CN110830675B (zh) 2018-08-10 2022-05-03 株式会社理光 读取装置、图像形成装置及读取方法
CN110830670A (zh) 2018-08-10 2020-02-21 株式会社理光 读取装置、图像形成装置、真伪判定***及读取方法
JP7115206B2 (ja) 2018-10-11 2022-08-09 株式会社リコー 原稿サイズ検出装置、画像読取装置、画像形成装置、及び原稿サイズ検出方法
JP7183682B2 (ja) 2018-10-12 2022-12-06 株式会社リコー 読取装置、画像読取装置、画像形成装置、及び読取方法
JP7208027B2 (ja) * 2019-01-18 2023-01-18 キヤノン株式会社 画像読取装置
JP7247668B2 (ja) 2019-03-11 2023-03-29 株式会社リコー 画像検査装置、及び印刷システム
JP7335550B2 (ja) 2019-11-29 2023-08-30 株式会社リコー 画像読取装置、画像形成装置
JP7400480B2 (ja) 2020-01-14 2023-12-19 株式会社リコー 画像読取装置および画像読取方法
JP2021141467A (ja) 2020-03-05 2021-09-16 株式会社リコー 読取装置、画像処理装置および特徴量検出方法
JP7490176B2 (ja) 2020-03-17 2024-05-27 株式会社リコー 画像読取装置、媒体搬送装置及び画像形成装置
JP7452268B2 (ja) * 2020-06-08 2024-03-19 株式会社リコー 位置検出装置、画像形成装置および位置検出方法
JP7468176B2 (ja) 2020-06-17 2024-04-16 株式会社リコー 画像処理装置および画像読取方法
JP2022006850A (ja) 2020-06-25 2022-01-13 株式会社リコー 固体撮像素子、読取装置、画像処理装置および制御方法
JP2022044352A (ja) 2020-09-07 2022-03-17 株式会社リコー 画像形成装置、位置検出方法およびプログラム
JP2023056664A (ja) * 2021-10-08 2023-04-20 株式会社リコー 画像読取装置、及び、画像形成装置
JP2023121611A (ja) 2022-02-21 2023-08-31 株式会社リコー 画像形成装置、画像形成方法、およびプログラム
JP2023173165A (ja) 2022-05-25 2023-12-07 株式会社リコー 照明装置、及び画像読み取り装置
CN115320268B (zh) * 2022-08-31 2023-11-17 上海超级标贴***有限公司 一种高光立体3d视觉效果的不干胶标签同步印刷方法、***、存储介质及智能终端

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1093787A (ja) * 1996-09-13 1998-04-10 Ricoh Co Ltd 画像読み取り装置
CN1880098A (zh) * 2005-06-17 2006-12-20 株式会社理光 图像形成装置
JP2011151548A (ja) * 2010-01-20 2011-08-04 Nk Works Kk フラットベッドスキャナの較正方法

Family Cites Families (86)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3202776B2 (ja) * 1992-01-14 2001-08-27 キヤノン株式会社 画像形成装置
US5369426A (en) * 1993-03-31 1994-11-29 Eastman Kodak Company Method and apparatus for optimization of productivity through the synchronization of a scanner and printer using a pre-scan
EP0666685B1 (en) * 1994-02-03 2001-05-16 Canon Kabushiki Kaisha Image forming apparatus
JPH10304190A (ja) 1997-04-23 1998-11-13 Ricoh Co Ltd 画像形成装置
JP3653171B2 (ja) 1998-03-09 2005-05-25 株式会社リコー 可変ゲイン増幅装置
JPH11355513A (ja) * 1998-06-10 1999-12-24 Ricoh Co Ltd 画像読取装置及び複写機
JP2000105347A (ja) 1998-07-29 2000-04-11 Ricoh Co Ltd マルチビ―ム光源装置、マルチビ―ム走査装置および画像形成装置
JP3577427B2 (ja) 1999-04-22 2004-10-13 株式会社リコー 走査光学装置
JP2002189182A (ja) 1999-11-30 2002-07-05 Ricoh Co Ltd マルチビーム光源装置
JP3954258B2 (ja) 1999-12-14 2007-08-08 株式会社リコー 画像読取装置および複写機
JP2001281578A (ja) 2000-03-30 2001-10-10 Ricoh Co Ltd マルチビーム走査装置及び画像形成装置
JP3798629B2 (ja) 2001-01-12 2006-07-19 株式会社リコー 画像読取装置
US6412907B1 (en) * 2001-01-24 2002-07-02 Xerox Corporation Stitching and color registration control for multi-scan printing
JP3840153B2 (ja) 2002-07-10 2006-11-01 キヤノン株式会社 記録装置
JP2004126482A (ja) 2002-08-01 2004-04-22 Ricoh Co Ltd マルチビーム光源装置およびマルチビーム走査装置
US7265881B2 (en) * 2002-12-20 2007-09-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method and apparatus for measuring assembly and alignment errors in sensor assemblies
DE602004017375D1 (de) 2003-01-20 2008-12-11 Ricoh Kk Mehrstrahlabtastgerät und Bilderzeugungsgerät mit einem solchen Abtastgerät
JP3880544B2 (ja) * 2003-05-21 2007-02-14 シャープ株式会社 画像補正方法、画像補正用治具、及び、画像形成装置
US7502147B2 (en) * 2003-05-21 2009-03-10 Sharp Kabushiki Kaisha Image position correcting method, image position correcting jig, and image formation device
JP2007049673A (ja) 2005-07-13 2007-02-22 Ricoh Co Ltd 画像読み取り装置、画像形成装置、画像検査装置及び画像形成システム
JP4565567B2 (ja) 2006-02-07 2010-10-20 株式会社リコー アナログ信号バッファ、アナログ信号処理システム、画像読取装置、及び画像形成装置
JP4795063B2 (ja) 2006-03-17 2011-10-19 株式会社リコー 画像読取装置、画像処理装置およびプログラム
JP2008028737A (ja) 2006-07-21 2008-02-07 Seiko Epson Corp 媒体上のパターンの印刷位置の算出方法
JP2008034950A (ja) 2006-07-26 2008-02-14 Seiko Epson Corp 媒体上のパターンの印刷位置の算出方法
JP4699417B2 (ja) 2007-04-16 2011-06-08 株式会社リコー アナログ処理回路およびアナログ集積回路装置および画像読取装置および画像形成装置
JP2009130380A (ja) 2007-11-19 2009-06-11 Ricoh Co Ltd 画像読み取り装置及び画像形成装置
JP2009171171A (ja) * 2008-01-16 2009-07-30 Ricoh Co Ltd 画像読取装置及び画像形成装置
JP5444795B2 (ja) 2008-07-29 2014-03-19 株式会社リコー 画像読み取り装置、画像形成装置、振幅調整方法、及びコンピュータプログラム
JP5206423B2 (ja) 2009-01-07 2013-06-12 株式会社リコー 画像読み取り装置、画像形成装置、及びサンプル・ホールド制御方法
JP5361415B2 (ja) 2009-01-27 2013-12-04 理想科学工業株式会社 画像記録装置、及び画像記録装置の制御方法
JP5326911B2 (ja) 2009-07-30 2013-10-30 株式会社リコー スペクトラム拡散クロックジェネレータ、回路装置、画像読取装置、画像形成装置、及びスペクトラム拡散クロック生成方法
JP5609288B2 (ja) 2009-07-30 2014-10-22 株式会社リコー 画像読取装置
JP5454019B2 (ja) 2009-09-02 2014-03-26 株式会社リコー 光電変換素子、センサ制御回路、画像読取装置、及び画像形成装置
JP5476876B2 (ja) 2009-09-11 2014-04-23 株式会社リコー センサ駆動回路、ドライバ装置、画像読取装置、及び画像形成装置
JP5874953B2 (ja) 2010-09-15 2016-03-02 株式会社リコー 駆動伝達装置および画像形成装置
JP2012088914A (ja) 2010-10-19 2012-05-10 Seiko Epson Corp 印刷装置の製造方法、印刷装置の調整方法、及び、印刷装置
US8891113B2 (en) * 2010-10-21 2014-11-18 Konica Minolta Business Technologies, Inc. Image forming apparatus, data processing program, data processing method, and electronic pen
JP5895451B2 (ja) 2010-12-01 2016-03-30 株式会社リコー 光走査装置及び画像形成装置
JP5724463B2 (ja) 2011-03-03 2015-05-27 株式会社リコー 信号処理回路と画像読取装置および画像形成装置
JP2013042377A (ja) 2011-08-16 2013-02-28 Ricoh Co Ltd 画像読取装置および画像形成装置
JP6226508B2 (ja) 2011-09-13 2017-11-08 株式会社リコー 画像読取装置、画像形成装置及び画像読取方法
JP6102321B2 (ja) 2012-03-01 2017-03-29 株式会社リコー 撮像ユニット、測色装置、画像形成装置、測色システムおよび測色方法
JP2013225839A (ja) 2012-03-22 2013-10-31 Ricoh Co Ltd 画像読取装置及び画像読取装置の制御方法
JP2013198055A (ja) 2012-03-22 2013-09-30 Ricoh Co Ltd 画像読取装置及び画像読取装置の制御方法
JP5942534B2 (ja) 2012-03-28 2016-06-29 株式会社リコー 撮像装置、測色装置、測色システムおよび画像形成装置
JP6111730B2 (ja) 2012-03-28 2017-04-12 株式会社リコー 測色装置、画像形成装置、測色システムおよび測色方法
JP6051654B2 (ja) 2012-07-25 2016-12-27 株式会社リコー 画像読取装置、及び画像形成装置
JP2014060550A (ja) 2012-09-14 2014-04-03 Ricoh Co Ltd 原稿読取装置、画像形成装置、原稿読取方法、並びにプログラム
JP6307794B2 (ja) 2012-12-27 2018-04-11 株式会社リコー 画像形成装置
JP6146015B2 (ja) 2013-01-18 2017-06-14 株式会社リコー 光電変換素子、画像読取装置及び画像形成装置
JP6127536B2 (ja) 2013-01-24 2017-05-17 株式会社リコー 画像読取装置、画像形成装置及び画像読取方法
JP6149408B2 (ja) 2013-01-29 2017-06-21 株式会社リコー 固体撮像素子、画像読取装置及び画像形成装置
JP6205885B2 (ja) 2013-06-18 2017-10-04 株式会社リコー 光電変換素子、画像読取装置、画像形成装置及び画像読取方法
JP6500370B2 (ja) 2013-09-12 2019-04-17 株式会社リコー 光沢度判定装置、測色装置、画像形成装置、および光沢度判定方法
JP6383143B2 (ja) 2013-10-08 2018-08-29 株式会社リコー 撮像素子、画像読取装置、画像形成装置及び撮像方法
JP6287058B2 (ja) 2013-10-24 2018-03-07 株式会社リコー 縮小光学系用の光電変換素子、画像読取装置、画像形成装置及び画像読取方法
JP6225682B2 (ja) 2013-12-11 2017-11-08 株式会社リコー 撮像素子、画像読取装置及び画像形成装置
JP6143668B2 (ja) * 2013-12-28 2017-06-07 Ｔｏｗａ株式会社 電子部品製造用の切断装置及び切断方法
JP6281304B2 (ja) 2014-02-04 2018-02-21 株式会社リコー 撮像素子、画像読取装置及び画像形成装置
JP6519997B2 (ja) 2014-07-04 2019-05-29 株式会社リコー 光電変換素子、画像読取装置及び画像形成装置
JP6451104B2 (ja) 2014-07-04 2019-01-16 株式会社リコー 光電変換素子、画像読取装置、画像形成装置及び信号制御方法
JP2016021601A (ja) * 2014-07-11 2016-02-04 船井電機株式会社 画像読取装置
JP6549366B2 (ja) 2014-09-19 2019-07-24 株式会社リコー 光電変換素子、画像読取装置及び画像形成装置
JP6425120B2 (ja) 2014-09-30 2018-11-21 株式会社リコー 画像形成装置
JP6612492B2 (ja) 2014-10-16 2019-11-27 株式会社リコー 光電変換素子、画像読取装置及び画像形成装置
JP6519142B2 (ja) 2014-10-28 2019-05-29 株式会社リコー 処理装置、画像読取装置及び画像形成装置
JP6432332B2 (ja) 2014-12-15 2018-12-05 株式会社リコー 光電変換素子、画像読取装置及び画像形成装置
US9906668B2 (en) 2014-12-17 2018-02-27 Ricoh Company, Ltd. Image forming apparatus, front-back magnification correction method, and computer program product
US10136010B2 (en) 2015-03-20 2018-11-20 Ricoh Company, Ltd. Position measurement reference sheet, image forming apparatus, and image position measurement method
JP6544070B2 (ja) 2015-06-16 2019-07-17 株式会社リコー 光電変換素子、画像読取装置及び画像形成装置
US9973659B2 (en) 2015-07-13 2018-05-15 Ricoh Company, Ltd. Imaging element, image reading device, image forming apparatus, and imaging method
US10015361B2 (en) 2015-07-29 2018-07-03 Ricoh Company, Ltd. Image measurement sheet, image forming apparatus, and method
JP6682832B2 (ja) 2015-12-03 2020-04-15 株式会社リコー 光電変換素子、画像読取装置、画像形成装置及び画像読取方法
JP6613861B2 (ja) * 2015-12-10 2019-12-04 コニカミノルタ株式会社 画像形成装置、画像形成システムおよび画像形成方法
JP6668728B2 (ja) 2015-12-14 2020-03-18 株式会社リコー 光電変換素子、画像読取装置及び画像形成装置
JP2017126833A (ja) 2016-01-12 2017-07-20 株式会社リコー 光電変換素子、画像読取装置、画像形成装置及び画像読取方法
JP6699305B2 (ja) 2016-04-07 2020-05-27 株式会社リコー 信号処理装置、光電変換素子、画像読取装置、画像形成装置及び信号処理方法
US10182177B2 (en) 2016-04-15 2019-01-15 Ricoh Company, Ltd. Signal processing device, image scanning device, image forming apparatus, and method of controlling the same
JP6706434B2 (ja) 2016-07-12 2020-06-10 株式会社リコー 画像読取装置及び画像形成装置
US10286699B2 (en) 2016-11-22 2019-05-14 Ricoh Company, Ltd. Imaging device, image forming apparatus, and method for detecting deviation of landing position
US10207495B2 (en) 2016-11-22 2019-02-19 Ricoh Company, Ltd. Image forming apparatus, method for calculating actual distance of deviation, and computer program product storing same
JP6822096B2 (ja) 2016-11-24 2021-01-27 株式会社リコー 光電変換装置、光電変換方法及び画像形成装置
JP6911335B2 (ja) 2016-11-25 2021-07-28 株式会社リコー 画像形成装置、およびプログラム
JP6750489B2 (ja) 2016-12-06 2020-09-02 株式会社リコー 電子機器、画像形成装置、制御方法、およびプログラム
JP6880709B2 (ja) 2016-12-20 2021-06-02 株式会社リコー 光電変換装置、光電変換方法及び画像形成装置
US10542184B2 (en) 2017-01-25 2020-01-21 Ricoh Company, Ltd. Photoelectric conversion device, defective pixel determining method, image forming apparatus, and recording medium

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1093787A (ja) * 1996-09-13 1998-04-10 Ricoh Co Ltd 画像読み取り装置
CN1880098A (zh) * 2005-06-17 2006-12-20 株式会社理光 图像形成装置
JP2011151548A (ja) * 2010-01-20 2011-08-04 Nk Works Kk フラットベッドスキャナの較正方法

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Publication number Publication date
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