JP2008108374A - シフトレジスタ回路およびそれを備える画像表示装置 - Google Patents

シフトレジスタ回路およびそれを備える画像表示装置 Download PDF

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Abstract

【課題】シフトレジスタ回路の回路面積の増大を抑制しつつ、また特殊な駆動制御装置を用いることなく、誤動作を防止して動作信頼性を向上させる。
【解決手段】シフトレジスタは、第1クロック端子CK1に入力されるクロック信号CLKを出力端子OUTに供給するトランジスタQ1と、出力端子OUTを放電するトランジスタQ2を備えている。トランジスタQ1のゲートノードをノードN1、トランジスタQ2のゲートノードをノードN2とすると、シフトレジスタは、ノードN1を入力端とし容量素子C2を負荷とするインバータ回路と、当該インバータ回路の出力を受けノードN2に信号を出力するバッファ回路とを備える。
【選択図】図7

Description

本発明は、シフトレジスタ回路に関するものであり、特に、例えば画像表示装置の走査線駆動回路などに使用される、同一導電型の電界効果トランジスタのみにより構成されるシフトレジスタ回路に関するものである。
液晶表示装置等の画像表示装置(以下「表示装置」)では、複数の画素が行列状に配列された表示パネルの画素行(画素ライン)ごとにゲート線(走査線)が設けられ、表示信号の1水平期間の周期でそのゲート線を順次選択して駆動することにより表示画像の更新が行われる。そのように画素ラインすなわちゲート線を順次選択して駆動するためのゲート線駆動回路(走査線駆動回路)としては、表示信号の1フレーム期間で一巡するシフト動作を行うシフトレジスタを用いることができる。
ゲート線駆動回路に使用されるシフトレジスタは、表示装置の製造プロセスにおける工程数を少なくするために、同一導電型の電界効果トランジスタのみで構成されることが望ましい。このため、N型またはP型の電界効果トランジスタのみで構成されたシフトレジスタおよびそれを搭載する表示装置が種々提案されている(例えば特許文献1,2)。電界効果トランジスタとしては、MOS(Metal Oxide Semiconductor)トランジスタや薄膜トランジスタ(TFT:Thin Film Transistor)などが用いられる。
また、ゲート線駆動回路としてのシフトレジスタは、1つの画素ラインすなわち1つのゲート線ごとに設けられた複数のシフトレジスタ回路が縦続接続(カスケード接続)して構成される。本明細書では説明の便宜上、ゲート線駆動回路を構成する複数のシフトレジスタ回路の各々を「単位シフトレジスタ」と称する。
特開2004−246358号公報 特開2006−24350号公報
一般的なシフトレジスタ回路は、その出力段に、出力端子(特許文献1における第1ゲート電圧信号端子GOUT)とクロック端子(第1パワークロックCKV)との間に接続する出力プルアップトランジスタ(プルアップMOSトランジスタQ1)と、出力端子と基準電圧端子(ゲートオフ電圧端子VOFF)との間に接続する出力プルダウントランジスタ(プルダウンMOSトランジスタQ2)とを備えている。
そのようなシフトレジスタ回路では、所定の入力信号(前段の出力信号GOUT[N−1])に応じて出力プルアップトランジスタがオン、出力プルダウントランジスタがオフにされ、その状態でクロック端子に入力されるクロック信号が出力端子に伝達されることによって、出力信号が出力される。逆に、上記の入力信号が入力されない期間は、出力プルアップトランジスタがオフ、出力プルダウントランジスタがオンにされ、出力端子の電圧レベル(以下、単に「レベル」)はL(Low)レベルに保持される。
ゲート線駆動回路のシフトレジスタを非晶質シリコンTFT(a−Si TFT)で構成した表示装置は、大面積化が容易で且つ生産性が高く、例えばノート型PCの画面や、大画面ディスプレイ装置などに広く採用されている。
その反面、a−Si TFTはゲート電極が継続的(直流的)に正バイアスされた場合に、しきい値電圧が正方向にシフトして駆動能力(電流を流す能力)が小さくなる傾向がある。特にゲート線駆動回路のシフトレジスタでは、出力プルダウントランジスタのゲートが約1フレーム期間(約16ms)、直流的に正バイアスされる動作が行われるため、その間出力プルダウントランジスタの駆動能力が低下する。そうなると、ノイズ等に起因して出力端子に不要に電荷が供給されたときそれを出力プルダウントランジスタが放電することができず、ゲート線が誤って活性化されてしまうという誤動作が生じ、問題となる。またa−Si TFTのみならず、有機TFTにおいても同様の問題が生じることが分かっている。
特許文献1の単位シフトレジスタでは、出力プルダウントランジスタがオンになる期間に、そのゲート・ソース間電圧を一定周期でスイングさせている。それにより、出力プルダウントランジスタのゲートが直流的にバイアスされなくなるため、出力プルダウントランジスタのしきい値電圧のシフト(「Vthシフト」と称することもある)が軽減され、上記の誤動作が解消される。特許文献1ではその動作を実現するために、出力プルダウントランジスタのゲートを充電する電源の出力電圧を一定周期でスイングさせている。
しかし、従来から用いられている汎用的なゲート線駆動回路の制御装置(以下「駆動制御装置」)は、一定周期でスイングする電源出力を有するものではない。そのため、特許文献1の技術を実施するためには、特殊仕様の駆動制御装置が必要になり、それによるコストの上昇が懸念される。
一方、特許文献2の図7の単位シフトレジスタにおいては、出力プルダウントランジスタ(TdA)のVthシフトと、出力プルアップトランジスタ(Tu)のゲート電極をプルダウンするトランジスタ(T1A)のVthシフトとを軽減する技術が開示されている。即ち、それら2つのプルダウントランジスタ(TdA,T1A)のゲート電極ノード(Y)とクロック端子(CK1)との間に容量素子(C2)を接続させ、当該容量素子(C2)を介した結合により、シフトレジスタの非選択状態における上記ゲート電極ノード(Y)の電圧を、クロック信号のレベル遷移に応じてスイングさせている。この技術によれば、最終的に2つのプルダウントランジスタ(TdA,T1A)のしきい値電圧は、最終的にゲート電極ノード(Y)のHレベルとLレベルのほぼ中間の値になる(クロック信号のデューティ比が50%の場合)。
表示装置の表示品質を高くするには非選択時のゲート線の電圧が安定していることが好ましい。このため、ゲート線に接続されるシフトレジスタの出力ノードの抵抗(出力抵抗)は低い方が好ましい。出力プルダウントランジスタ(TdA)のオン抵抗は、そのしきい値電圧とゲート電極ノード(Y)のHレベルとの差によって決まる。すなわち、ゲート電極ノード(Y)のHレベルとしきい値電圧との差が大きい程、トランジスタの駆動能力(電流を流す能力)は向上し、出力抵抗を低減することができる。
特許文献2の図7においては、出力プルダウントランジスタ(TdA)のゲート電極ノード(Y)のHレベルの電位は、当該ノードの寄生容量と上記の容量素子(C2)による結合容量との関係で決まる。寄生容量が結合容量に対して小さいほど、そのHレベルの電位を高くすることができる。ところが、出力プルダウントランジスタ(TdA)は出力端子(OUT)を低抵抗でプルダウンするために一定以上のチャネル幅が必要であり、そのゲート電極ノードの寄生容量は大きい。よって当該ゲート電極ノード(Y)のHレベルの電位を高くするためには、上記の容量素子(C2)の容量値を大きくする必要があるが、そうすると回路面積が増大するという問題が生じる。
本発明は上記の課題を解決するためのものであり、シフトレジスタ回路の回路面積の増大を抑制しつつ、また特殊な駆動制御装置を用いることなく、誤動作を防止して動作信頼性を向上させることを目的とする。
本発明に係るシフトレジスタ回路は、入力端子、出力端子、リセット端子および第1クロック端子と、第1クロック端子に入力される第1クロック信号を出力端子に供給する第1トランジスタと、前記出力端子を放電する第2トランジスタと、前記入力端子に接続した制御電極を有し、前記第1トランジスタの制御電極が接続する第1ノードを充電する第3トランジスタと、前記リセット端子に接続した制御電極を有し、前記第1ノードを放電する第4トランジスタと、前記第2トランジスタの制御電極が接続する第2ノードに接続された制御電極を有し、前記第1ノードを放電する第5トランジスタと、前記第1ノードを入力端とする第1インバータ回路と、前記第1インバータ回路の出力を受け、前記第2トランジスタの制御電極が接続する第2ノードに信号を出力する第1バッファ回路とを備えるものである。
本発明によれば、第1インバータの出力が、第1バッファ回路を介して第2ノードに供給されるので、当該第2ノードに高い振幅の電圧を高速に供給することができ、シフトレジスタの出力抵抗を低減することができる。またバッファ回路は比較的小さい回路面積で大きな駆動能力を有することができるので、回路面積を増大も抑制することができる。さらに当該シフトレジスタ回路の駆動には、従来と異なる特殊な信号を用いる必要はない。
以下、本発明の実施の形態を図面を参照しながら説明する。なお、説明が重複して冗長になるのを避けるため、各図において同一または相当する機能を有する要素には同一符号を付してある。
<実施の形態1>
図1は、本発明の実施の形態1に係る表示装置の構成を示す概略ブロック図であり、表示装置の代表例として液晶表示装置10の全体構成を示している。
液晶表示装置10は、液晶アレイ部20と、ゲート線駆動回路(走査線駆動回路)30と、ソースドライバ40とを備える。後の説明により明らかになるが、本発明に係るシフトレジスタは、ゲート線駆動回路30に搭載される。
液晶アレイ部20は、行列状に配設された複数の画素25を含む。画素の行(以下「画素ライン」とも称する)の各々にはそれぞれゲート線GL1,GL2・・・(総称「ゲート線GL」)が配設され、また、画素の列(以下「画素列」とも称する)の各々にはそれぞれデータ線DL1,DL2・・・(総称「データ線DL」)がそれぞれ設けられる。図1には、第1行の第1列および第2列の画素25、並びにこれに対応するゲート線GL1およびデータ線DL1,DL2が代表的に示されている。
各画素25は、対応するデータ線DLと画素ノードNpとの間に設けられる画素スィッチ素子26と、画素ノードNpおよび共通電極ノードNCの間に並列に接続されるキャパシタ27および液晶表示素子28とを有している。画素ノードNpと共通電極ノードNCとの間の電圧差に応じて、液晶表示素子28中の液晶の配向性が変化し、これに応答して液晶表示素子28の表示輝度が変化する。これにより、データ線DLおよび画素スイッチ素子26を介して画素ノードNpへ伝達される表示電圧によって、各画素の輝度をコントロールすることが可能となる。即ち、最大輝度に対応する電圧差と最小輝度に対応する電圧差との間の中間的な電圧差を、画素ノードNpと共通電極ノードNCとの間に印加することによって、中間的な輝度を得ることができる。従って、上記表示電圧を段階的に設定することにより、階調的な輝度を得ることが可能となる。
ゲート線駆動回路30は、所定の走査周期に基づき、ゲート線GLを順に選択して駆動する。画素スイッチ素子26のゲート電極は、それぞれ対応するゲート線GLと接続される。特定のゲート線GLが選択されている間は、それに接続する各画素において、画素スイッチ素子26が導通状態になり画素ノードNpが対応するデータ線DLと接続される。そして、画素ノードNpへ伝達された表示電圧がキャパシタ27によって保持される。一般的に、画素スイッチ素子26は、液晶表示素子28と同一の絶縁体基板(ガラス基板、樹脂基板等)上に形成されるTFTで構成される。
ソースドライバ40は、Nビットのデジタル信号である表示信号SIGによって段階的に設定される表示電圧を、データ線DLへ出力するためのものである。ここでは一例として、表示信号SIGは6ビットの信号であり、表示信号ビットDB0〜DB5から構成されるものとする。6ビットの表示信号SIGに基づくと、各画素において、26=64段階の階調表示が可能となる。さらに、R(Red)、G(Green)およびB(Blue)の3つの画素により1つのカラー表示単位を形成すれば、約26万色のカラー表示が可能となる。
また、図1に示すように、ソースドライバ40は、シフトレジスタ50と、データラッチ回路52,54と、階調電圧生成回路60と、デコード回路70と、アナログアンプ80とから構成されている。
表示信号SIGにおいては、各々の画素25の表示輝度に対応する表示信号ビットDB0〜DB5がシリアルに生成される。すなわち、各タイミングにおける表示信号ビットDB0〜DB5は、液晶アレイ部20中のいずれか1つの画素25における表示輝度を示している。
シフトレジスタ50は、表示信号SIGの設定が切り換わる周期に同期したタイミングで、データラッチ回路52に対して、表示信号ビットDB0〜DB5の取り込みを指示する。データラッチ回路52は、シリアルに生成される表示信号SIGを順に取り込み、1つの画素ライン分の表示信号SIGを保持する。
データラッチ回路54に入力されるラッチ信号LTは、データラッチ回路52に1つの画素ライン分の表示信号SIGが取り込まれるタイミングで活性化する。データラッチ回路54はそれに応答して、そのときデータラッチ回路52に保持されている1つの画素ライン分の表示信号SIGを取り込む。
階調電圧生成回路60は、高電圧VDHおよび低電圧VDLの間に直列に接続された63個の分圧抵抗で構成され、64段階の階調電圧V1〜V64をそれぞれ生成する。
デコード回路70は、データラッチ回路54に保持されている表示信号SIGをデコードし、当該デコード結果に基づいて各デコード出力ノードNd1,Nd2・・・(総称「デコード出力ノードNd」)に出力する電圧を、階調電圧V1〜V64のうちから選択して出力する。
その結果、デコード出力ノードNdには、データラッチ回路54に保持された1つの画素ライン分の表示信号SIGに対応した表示電圧(階調電圧V1〜V64のうちの1つ)が同時に(パラレルに)出力される。なお、図1においては、第1列目および第2列目のデータ線DL1,DL2に対応するデコード出力ノードNd1,Nd2が代表的に示されている。
アナログアンプ80は、デコード回路70からデコード出力ノードNd1,Nd2・・・に出力された各表示電圧に対応したアナログ電圧を、それぞれデータ線DL1,DL2・・・に出力する。
ソースドライバ40が、所定の走査周期に基づいて、一連の表示信号SIGに対応する表示電圧を1画素ライン分ずつデータ線DLへ繰り返し出力し、ゲート線駆動回路30がその走査周期に同期してゲート線GL1,GL2・・・を順に駆動することにより、液晶アレイ部20に表示信号SIGに基づいた画像の表示が成される。
なお、図1には、ゲート線駆動回路30およびソースドライバ40が液晶アレイ部20と一体的に形成された液晶表示装置10の構成を例示したが、ゲート線駆動回路30およびソースドライバ40については、液晶アレイ部20の外部回路として設けることも可能である。
図2は、ゲート線駆動回路30の構成を示す図である。このゲート線駆動回路30は、縦続接続(カスケード接続)した複数の単位シフトレジスタSR1,SR2,SR3,SR4・・・で構成されるシフトレジスタから成っている。(以下、単位シフトレジスタSR1,SR2・・・を「単位シフトレジスタSR」と総称する)。単位シフトレジスタSRは、1つの画素ラインすなわち1つのゲート線GLごとに1つずつ設けられる。
また図2に示すクロック発生器31は、各々位相が異なる3相のクロック信号CLK1,CLK2,CLK3をゲート線駆動回路30の単位シフトレジスタSRに入力するものである。これらクロック信号CLK1,CLK2,CLK3は、表示装置の走査周期に同期したタイミングで順番に活性化するよう制御されている。
それぞれの単位シフトレジスタSRは、入力端子IN、出力端子OUT、第1クロック端子CK1およびリセット端子RSTを有している。図2のように、各単位シフトレジスタSRの第1クロック端子CK1およびリセット端子RSTには、クロック発生器31が出力するクロック信号CLK1,CLK2,CLK3のうちのいずれか供給される。単位シフトレジスタSRの出力端子OUTにはそれぞれゲート線GLが接続する。つまり、出力端子OUTからの出力信号は、ゲート線GLを活性化するための水平(又は垂直)走査パルスとなる。
第1段目(第1ステージ)の単位シフトレジスタSR1の入力端子INには、画像信号の各フレーム期間の先頭に対応するスタートパルスSPが入力される。第2段以降の単位シフトレジスタSRの入力端子INにはその前段の出力信号が入力される。即ち、第2段以降の単位シフトレジスタSRの入力端子INは、自身の前段の単位シフトレジスタSRの出力端子OUTに接続されている。
この構成のゲート線駆動回路30においては、各単位シフトレジスタSRは、クロック信号CLK1,CLK2,CLK3に同期して、前段から入力される入力信号(前段の出力信号)をシフトさせながら、対応するゲート線GL並びに自身の次段の単位シフトレジスタSRへと伝達する(単位シフトレジスタSRの動作の詳細は後述する)。その結果、一連の単位シフトレジスタSRは、所定の走査周期に基づいたタイミングでゲート線GLを順に活性化させる、いわゆるゲート線駆動ユニットとして機能する。
ここで、本発明の説明を容易にするために、従来の単位シフトレジスタについて説明する。図3は、従来の単位シフトレジスタSRの構成を示す回路図である。なおゲート線駆動回路30においては、縦続接続された各単位シフトレジスタSRの構成は実質的にどれも同じであるので、以下では1つの単位シフトレジスタSRの構成についてのみ代表的に説明する。また、この単位シフトレジスタSRを構成するトランジスタは、全て同一導電型の電界効果トランジスタであるが、ここでは全てN型TFTであるものとする。
図3の如く、従来の単位シフトレジスタSRは、既に図2で示した入力端子IN、出力端子OUT、第1クロック端子CK1およびリセット端子RSTの他に、低電位側電源電位VSSが供給される第1電源端子S1、高電位側電源電位VDDが供給される第2電源端子S2を有している。以下の説明では、低電位側電源電位VSSが回路の基準電位(=0V)とするが、実使用では画素に書き込まれるデータの電圧を基準にして基準電位が設定され、例えば高電位側電源電位VDDは17V、低電位側電源電位VSSは−12Vなどと設定される。
単位シフトレジスタSRの出力段は、出力端子OUTと第1クロック端子CK1との間に接続するトランジスタQ1と、出力端子OUTと第1電源端子S1との間に接続するトランジスタQ2とにより構成されている。以下、トランジスタQ1のゲート(制御電極)が接続するノードを「ノードN1」、トランジスタQ2のゲートノードを「ノードN2」と称する。
トランジスタQ1のゲート・ソース間(即ち出力端子OUTとノードN1との間)には容量素子C1が設けられている。またノードN1と入力端子INとの間には、ダイオード接続されたトランジスタQ3が接続している。ノードN1と第1電源端子S1との間には、トランジスタQ4並びにトランジスタQ5が接続する。トランジスタQ4のゲートはリセット端子RSTに接続し、トランジスタQ5のゲートはノードN2に接続する。
ノードN2と第2電源端子S2との間には、ダイオード接続されたトランジスタQ6が接続し、ノードN2と第1電源端子S1との間にはトランジスタQ7が接続する。トランジスタQ7のゲートはノードN1に接続する。トランジスタQ7は、トランジスタQ6よりも駆動能力(電流を流す能力)が十分大きく設定されている。即ち、トランジスタQ7のオン抵抗はトランジスタQ6のオン抵抗よりも小さい。よってトランジスタQ7のゲート電位が上昇するとノードN2の電位は下降し、反対にトランジスタQ7のゲート電位が下降するとノードN2の電位は上昇する。即ちトランジスタQ6,Q7は、ノードN1を入力端としノードN2を出力端とするインバータを構成している。当該インバータは、トランジスタQ6,Q7のオン抵抗値の比によってその動作が規定されるものであり、「レシオ型インバータ」と呼ばれる。また当該インバータは、出力端子OUTをプルダウンさせるためにトランジスタQ2を駆動する「プルダウン駆動回路」として機能している。
図3の単位シフトレジスタSRの具体的な動作を説明する。ゲート線駆動回路30を構成する各単位シフトレジスタSRの動作は実質的にどれも同じであるので、ここでは第n段目の単位シフトレジスタSRnの動作を代表的に説明する。
簡単のため、当該単位シフトレジスタSRnの第1クロック端子CK1にクロック信号CLK1が入力され、リセット端子RSTにクロック信号CLK3が入力されるものとして説明を行う(例えば図2における、単位シフトレジスタSR1,SR4などがこれに該当する)。さらにクロック信号CLK1,CLK2,CLK3のH(High)レベルの電位は高電位側電源電位VDDであり、L(Low)レベルの電位は低電位側電源電位VSSであるとする。また単位シフトレジスタSRを構成する各トランジスタのしきい値電圧は全て等しいものと仮定し、その値をVthとする。また、第i段目の単位シフトレジスタSRiの出力信号Gを符号Giで表すことにする。
まず初期状態として、ノードN1がLレベル(VSS)であるとする(以下、この状態を「リセット状態」と称す)。図3の単位シフトレジスタSRでは、ノードN1がLレベルのとき、ノードN2はHレベル(VDD−Vth)である。また、第1クロック端子CK1(クロック信号CLK1)、リセット端子RST(クロック信号CLK3)、入力端子IN(前段の出力信号Gn-1)は何れもLレベルであるとする。リセット状態では、トランジスタQ1がオフ(遮断状態)、トランジスタQ2がオン(導通状態)であるので、出力端子OUT(出力信号Gn)は、第1クロック端子CK1(クロック信号CLK1)のレベルに関係なくLレベルに保たれる。即ち、この単位シフトレジスタSRnが接続するゲート線GLnは非選択状態にある。
その状態から、単位シフトレジスタSRnの入力端子INに入力される前段の出力信号Gn-1(第1段目の場合はスタートパルスSP)がHレベルになると、トランジスタQ3がオンになる。このときノードN2はHレベルなのでトランジスタQ5もオンしているが、トランジスタQ3はトランジスタQ5よりも駆動能力が十分大きく設定されており、トランジスタQ3のオン抵抗はトランジスタQ5のオン抵抗に比べ十分低いため、ノードN1のレベルは上昇する。
それによりトランジスタQ7が導通し始めノードN2のレベルは下降する。そうなるとトランジスタQ5の抵抗が高くなり、ノードN1のレベルが急速に上昇してトランジスタQ7を充分にオンにする。その結果ノードN2はLレベル(VSS)になり、トランジスタQ5がオフになってノードN1がHレベル(VDD−Vth)になる。このようにノードN1がHレベルの状態(以下「セット状態」と称す)では、ノードN2はLレベルになるので、トランジスタQ1がオン、トランジスタQ2がオフの状態となる。その後、前段の出力信号Gn-1はLレベルに戻るが、トランジスタQ3がオフになるのでノードN1はフローティング状態(高インピーダンス状態)でHレベルに保たれ、セット状態が維持される。
セット状態では、トランジスタQ1がオン、トランジスタQ2がオフであるため、次いで第1クロック端子CK1のクロック信号CLK1がHレベルになると、出力端子OUTのレベルが上昇する。このとき容量素子C1およびトランジスタQ1のゲート・チャネル間容量を介した結合により、ノードN1のレベルは特定の電圧だけ昇圧される(このためノードN1は「昇圧ノード」と称されることもある)。
従って出力端子OUTのレベルが上昇してもトランジスタQ1のゲート・ソース間電圧はしきい値電圧(Vth)よりも大きく保たれ、当該トランジスタQ1は低インピーダンスに維持される。それにより、出力信号Gnのレベルはクロック信号CLK1のレベルに追随して素早く変化することができる。またトランジスタQ1のゲート・ソース間電圧が充分大きければ、トランジスタQ1は非飽和領域での動作(非飽和動作)を行うので、しきい値電圧分の損失は生じず、出力端子OUTはクロック信号CLK1と同レベルにまで上昇する。よって出力信号Gnは、クロック信号CLK1がHレベルの期間だけHレベルになり、ゲート線GLnを活性化して選択状態にする。そして、クロック信号CLK1がLレベルに戻ると、それに追随して出力信号Gnも素早くLレベルになり、ゲート線GLnは放電され非選択状態に戻る。
その後、リセット端子RSTのクロック信号CLK3がHレベルになると、トランジスタQ4がオンになるためノードN1がLレベルのリセット状態に戻る。応じて、トランジスタQ7がオフになり、ノードN2はHレベルになる。即ち単位シフトレジスタSRnは上記の初期状態に戻る。
以上の動作をまとめると、単位シフトレジスタSRnは、入力端子INに信号(スタートパルスSPまたは前段の出力信号Gn-1)が入力されない間はリセット状態にあり、トランジスタQ1がオフ、トランジスタQ2がオンを維持するため、出力端子OUT(ゲート線GLn)は低インピーダンスのLレベル(VSS)に維持される。そして入力端子INに信号が入力されると、単位シフトレジスタSRnはセット状態に切り替わる。セット状態ではトランジスタQ1がオン、トランジスタQ2がオフであるため、第1クロック端子CK1の信号(クロック信号CLK1)がHレベルになる期間、出力信号GnがHレベルになる。そしてその後、リセット端子RSTに信号(クロック信号CLK3)が入力されると、元のリセット状態に戻る。
このように動作する複数の単位シフトレジスタSRが、図2のように縦続接続した多段のシフトレジスタ(ゲート線駆動回路30)によれば、第1段目の単位シフトレジスタSR1にスタートパルスSPが入力されると、それを切っ掛けにして、出力信号Gが、クロック信号CLK1,CLK2,CLK3に同期してシフトされながら、単位シフトレジスタSR2,SR3・・・と順番に伝達される(図4のタイミング図参照)。それによって、ゲート線駆動回路30は、所定の走査周期でゲート線GL1,GL2,GL3・・・を順に駆動することができる。
上の例では、複数の単位シフトレジスタSRが3相クロックに基づいて動作する例を示したが、2相クロック信号を使用して動作させることも可能である。図5はその場合におけるゲート線駆動回路30の構成を示す図である。
この場合も、ゲート線駆動回路30は、縦続接続した複数の単位シフトレジスタSRにより構成される。即ち、各単位シフトレジスタSRの入力端子INには、その前段の単位シフトレジスタSRの出力端子OUTが接続する。但し、第1段目の単位シフトレジスタSR1の入力端子INには、スタートパルスSPが入力信号として入力される。
この場合におけるクロック発生器31は、互いに逆相の(活性期間が重ならない)2相クロックであるクロック信号CLK,/CLKを出力するものである。それぞれの単位シフトレジスタSRの第1クロック端子CK1には、前後に隣接する単位シフトレジスタSRに互いに逆相のクロック信号が入力されるよう、そのクロック信号CLK,/CLKの片方が入力される。また図5に示すように、各単位シフトレジスタSRのリセット端子RSTには、その後段(この例では次段)の単位シフトレジスタSRの出力端子OUTが接続される。
図5のように構成されたゲート線駆動回路30における単位シフトレジスタSRの動作を説明する。ここでも、第n段目の単位シフトレジスタSRnの動作を代表的に説明する。簡単のため、当該単位シフトレジスタSRnの第1クロック端子CK1にクロック信号CLKが入力されるものとして説明を行う(例えば、図5における単位シフトレジスタSR1,SR3などがこれに該当する)。クロック信号CLK,/CLKのHレベルの電位はVDDであり、L(Low)レベルの電位はVSSであるとする。
まず初期状態として、ノードN1がLレベル(VSS)のリセット状態を仮定する。このときノードN2はHレベル(VDD−Vth)である。また、第1クロック端子CK1(クロック信号CLK)、リセット端子RST(次段の出力信号Gn+1)、入力端子IN(前段の出力信号Gn-1)は何れもLレベルであるとする。
その状態から、前段の出力信号Gn-1(第1段目の場合はスタートパルスSP)がHレベルになると、それが当該単位シフトレジスタSRnの入力端子INに入力されトランジスタQ3がオンになり、ノードN1のレベルは上昇する。それによりトランジスタQ7が導通し始め、ノードN2のレベルは下降する。そうなるとトランジスタQ5の抵抗が高くなり、ノードN1のレベルが急速に上昇してトランジスタQ7を充分にオンにする。その結果ノードN2はLレベル(VSS)になり、トランジスタQ5がオフになってノードN1がHレベル(VDD−Vth)になる。その結果、トランジスタQ1がオン、トランジスタQ2がオフとなるセット状態になる。
そして、クロック信号CLKがHレベルになり出力端子OUTのレベルが上昇すると、容量素子C1およびトランジスタQ1のゲート・チャネル間容量による結合によりノードN1のレベルは特定の電圧だけ昇圧される。従って、出力信号Gnのレベルは第1クロック端子CK1のレベルに追随して変化し、クロック信号CLKがHレベルである間は出力信号GnもHレベルになってゲート線GLnが活性化される(選択状態になる)。その後、クロック信号CLKがLレベルに戻ると出力信号GnもLレベルに戻り、ゲート線GLnは非選択状態に戻る。
出力信号Gnが単位シフトレジスタSRn+1に伝達された後、次段の出力信号Gn+1がHレベルになると、それがリセット端子RSTに入力されてトランジスタQ4がオンになりノードN1がLレベルになる。それに伴ってトランジスタQ7がオフになるのでノードN2はHレベルになる。即ち、当該単位シフトレジスタSRnはリセット状態に戻り、トランジスタQ1がオフ、トランジスタQ2がオンになる。
このように、ゲート線駆動回路30が図5のように構成されている場合においても、それぞれの単位シフトレジスタSRの動作は、リセット端子RSTに入力される信号が前段の出力信号Gn-1であることを除けば図2のように構成した場合とほぼ同じである。
このように動作する複数の単位シフトレジスタSRが、図5のように縦続接続した多段のシフトレジスタ(ゲート線駆動回路30)によれば、第1段目の単位シフトレジスタSR1にスタートパルスSPが入力されると、それを切っ掛けにして、出力信号Gがクロック信号CLK,/CLKに同期したタイミングでシフトされながら、単位シフトレジスタSR2,SR3・・・と順番に伝達される。それによって、ゲート線駆動回路30は、所定の走査周期でゲート線GL1,GL2,GL3・・・を順に駆動することができる。
但し、図5の構成では、各単位シフトレジスタSRは、リセット端子RSTに次段の単位シフトレジスタSRの出力信号Gn+1が入力されるので、次段の単位シフトレジスタSRが少なくとも一度動作した後でなければリセット状態(すなわち上記の初期状態)にならない。各単位シフトレジスタSRは、リセット状態を経なければ図6に示したような通常動作を行うことができない。従って図5の構成の場合には、通常動作に先立って、ダミーの入力信号を単位シフトレジスタSRの第1段目から最終段まで伝達させるダミー動作を行わせる必要がある。あるいは、各単位シフトレジスタSRのノードN2と第2電源端子S2(高電位側電源)との間にリセット用のトランジスタを別途設け、通常動作の前に強制的にノードN2を充電するリセット動作を行ってもよい。但し、その場合はリセット用の信号ラインが別途必要になる。
ここで、先に述べた従来の単位シフトレジスタSRにおける誤動作の問題を詳細に説明する。以下では、単位シフトレジスタSRを構成する各トランジスタはa−Si TFTであるとする。
図6の最下段に、図5のゲート線駆動回路30における単位シフトレジスタSR1のノードN2の電圧波形を示す。上記のように、入力端子INの信号(スタートパルスSPあるいは前段の出力信号Gn-1)がHレベルに成ると、ノードN2はLレベルに遷移するが、すぐにリセット端子RSTの信号(次段の出力信号Gn+1)によってHレベルに戻され、その後約1フレーム期間(約16ms)Hレベルに維持される(図示は省略するが、この振る舞いは図2のケースでも同様である)。つまりトランジスタQ2およびトランジスタQ5のゲートは、約1フレーム期間継続的(直流的)に正バイアスされる。よって単位シフトレジスタSRがa−Si TFTにより構成されている場合には、トランジスタQ2,Q5はしきい値電圧が正方向にシフトして駆動能力が低下する問題が生じる。
リセット状態におけるトランジスタQ5の駆動能力が低下すると、例えばトランジスタQ1のゲートとソース/ドレイン間のオーバラップ容量に起因してノードN1に生じたノイズ等による電荷を素早く放電することができず、ノードN1のレベルが上昇する恐れがある。そうなるとオフ状態にあるトランジスタQ1の抵抗値が下がり、クロック信号CLKがHレベルになったときに不要に出力端子OUTに電荷が供給されるようになる。さらにこのときトランジスタQ2の駆動能力が低下していると、ノイズにより生じた出力端子OUTの電荷を素早く放電できず、出力端子OUTのレベルが上昇する。つまり、非選択状態にあるべきゲート線が選択状態になるという誤動作が生じ、液晶表示装置10の表示不具合が発生する。
先に述べたように、特許文献1の駆動方法を用いればこの問題を回避することが可能であるが、そのためには特殊仕様の駆動制御装置を用いる必要がある。またトランジスタQ2に対して特許文献2の手法を適用し、容量素子を用いてノードN2のレベルをクロック信号によりスイングさせれば特殊仕様の駆動制御装置は不要になる。しかし、トランジスタQ2はゲート幅が大きいため、ノードN2の電位を充分に高くするためには大容量の容量素子が必要になるので、回路面積の増大が懸念される。以下、これらの問題を解決可能である、本発明に係るシフトレジスタ回路について説明する。
図7は、実施の形態1に係る単位シフトレジスタSRの構成を示す回路図である。以下の各実施の形態において、単位シフトレジスタSRを構成するトランジスタは、全て同一導電型の電界効果トランジスタである。そして以下の説明では、それらは全てNチャネル型トランジスタ(N型TFT)であるものとする。N型TFTは、ゲートがHレベルになると活性(オン)状態となり、Lレベルで非活性(オフ)状態となる。但し本発明は、P型トランジスタで構成された単位シフトレジスタSRに対しても適用可能である。P型トランジスタの場合は、ゲートがLレベルになると活性(オン)状態となり、Hレベルで非活性(オフ)状態となる。
図7のように、当該単位シフトレジスタSRは、出力端子OUTと第1クロック端子CK1との間に接続するトランジスタQ1と、出力端子OUTと第1電源端子S1との間に接続するトランジスタQ2とを有している。即ちトランジスタQ1は、第1クロック端子CK1に入力されるクロック信号を出力端子OUTに供給するものであり、トランジスタQ2は、出力端子OUTに低電位側電源電位VSSを供給することで、出力端子OUTを放電するものである。以下においても、トランジスタQ1のゲート(制御電極)が接続するノードを「ノードN1」、トランジスタQ2のゲートノードを「ノードN2」と称する。
トランジスタQ1のゲートとソースとの間、すなわちノードN1と出力端子OUTとの間には容量素子C1が設けられている。この容量素子C1は、出力端子OUTのレベル上昇に伴うノードN1の昇圧効果を高めるためのものである。但し、容量素子C1は、トランジスタQ1のゲート・チャネル間容量が充分大きい場合にはそれで置き換えることができるので、そのような場合には省略してもよい。
ノードN1と入力端子INとの間には、ゲートが入力端子INに接続するトランジスタQ3が接続している(つまりトランジスタQ3はダイオード接続されている)。ノードN1と第1電源端子S1との間には、ゲートがリセット端子RSTに接続するトランジスタQ4と、ゲートがトランジスタQ2のゲート(ノードN2)に接続したトランジスタQ5とが互いに並列に接続している。以上の構成は図3に示した従来の単位シフトレジスタSRと同様である。
図3に示した従来の単位シフトレジスタSRでは、出力端子OUTをプルダウンさせるためにトランジスタQ2を駆動するプルダウン駆動回路として、ノードN1を入力端、ノードN2を出力端とするインバータ回路(トランジスタQ7,Q8)が用いられていたが、本実施の形態に係る単位シフトレジスタSRは、それとは異なる構成のプルダウン駆動回路を有している。
本実施の形態の単位シフトレジスタSRのプルダウン駆動回路は、ノードN1を入力端とするインバータ回路と、当該インバータ回路の出力を受け、その駆動能力を高めた信号をノードN2に出力するバッファ回路とを備えている。図7を参照し、当該インバータ回路は、第1クロック端子CK1と第1電源端子S1との間に直列接続された容量素子C2およびトランジスタQ8から成る。トランジスタQ8のゲートは当該インバータ回路の入力端であるノードN1に接続される。容量素子C2は容量性負荷として機能し、トランジスタQ8はドライバ素子として機能する。当該インバータ回路の出力端は、容量素子C2とトランジスタQ8との接続ノード(以下「ノードN3」)となる。但し、以上の構成から分かるように、このインバータ回路においては、第1クロック端子CK1に入力されるクロック信号が電源となる。そして容量素子C2はそのクロック信号をノードN3に結合させる結合容量として機能する。
一方、バッファ回路は、第1クロック端子CK1と第1電源端子S1との間に直列接続されたトランジスタQ9,Q10により構成される。トランジスタQ9は、第1クロック端子CK1とノードN2との間に接続し、そのゲートはノードN3に接続する。トランジスタQ10は、ノードN2と第1電源端子S1との間に接続し、そのゲートはノードN1に接続する。ノードN1はインバータ回路の入力端、ノードN3はその出力端であるので、トランジスタQ9,Q10はプッシュプル動作を行うトーテムポール型バッファ回路として機能する。但し、以上の構成から分かるように、このバッファ回路の電源も第1クロック端子CK1に入力されるクロック信号となる。
さらに本実施の形態のプルダウン駆動回路は、ノードN2と第1電源端子S1との間に接続し、ゲートが第2クロック端子CK2に接続したトランジスタQ11を備えている。このトランジスタQ11は、第2クロック端子CK2に入力されるクロック信号より制御され、ノードN2に低電位側電源電位VSSを供給することで、当該ノードN2を放電するものである。第2クロック端子CK2には、第1クロック端子CK1とは位相の異なる(活性期間が重ならない)クロック信号が入力される。例えば図5のように、単位シフトレジスタSRがクロック信号CLK,/CLKの2相クロックを用いて駆動される場合、第1クロック端子CK1にクロック信号CLKが入力される単位シフトレジスタSRでは、その第2クロック端子CK2にはクロック信号/CLKが入力される。逆に第1クロック端子CK1にクロック信号/CLKが入力される単位シフトレジスタSRでは、その第2クロック端子CK2にはクロック信号CLKが入力される。
以下、図7に示した本実施の形態に係る単位シフトレジスタSRの動作を説明する。図7の単位シフトレジスタSRも、上に示した図2および図5のどちらの構成のゲート線駆動回路30にも適用可能であるが、ここでは図5のように接続してゲート線駆動回路30を構成している場合の動作を示す。
ここでも第n段目の単位シフトレジスタSRnの動作を代表的に説明する。図8は、第n段目の単位シフトレジスタSRn、その前段(第n−1段)の単位シフトレジスタSRn-1およびその後段(第n+1段)の単位シフトレジスタSRn+1の接続関係を表した回路図である。また図9は、単位シフトレジスタSRnの動作を説明するためのタイミング図であり、第n段の単位シフトレジスタSRnが、ゲート線GLnの選択期間に出力信号GnをHレベルにし、非選択期間にLレベルに維持するメカニズムが示されている。以下、図8および図9を参照して、図7に示した本実施の形態に係る単位シフトレジスタSRの動作を説明する。
簡単のため、単位シフトレジスタSRnの第1クロック端子CK1にはクロック信号CLKが入力され、単位シフトレジスタSRn-1,SRn+1の第1クロック端子CK1にはクロック信号/CLKが入力されるものとして説明を行う。また第i段目の単位シフトレジスタSRiの出力端子OUTからの出力信号Gを符号Giで表す。またクロック信号CLK,/CLKのHレベルのレベルは互いに等しいと仮定し、そのHレベルの電位は高電位側電源電位VDDであり、Lレベルの電位は低電位側電源電位VSSであるとする。さらに、単位シフトレジスタSRを構成するトランジスタのしきい値電圧は全て等しいと仮定し、その値をVthとする。
まず単位シフトレジスタSRnの初期状態として、ノードN1がLレベル(VSS)のリセット状態を仮定する。また、単位シフトレジスタSRnの第1クロック端子CK1(クロック信号CLK)、第2クロック端子CK2(クロック信号/CLK)、リセット端子RST(次段の出力信号Gn+1)、入力端子IN(前段の出力信号Gn-1)および出力端子OUT(出力信号Gn)の何れもLレベルであるとする。
図9を参照し、時刻t1でクロック信号/CLKが立ち上がると共に、前段の単位シフトレジスタSRn-1の出力信号Gn-1がHレベルになったとする。するとトランジスタQ11がオンし、時刻t1の直前でHレベル(ほぼVDD−Vth)になっていたノードN2をプルダウン、即ちLレベル(VSS)にする。応じてトランジスタQ2,Q5はオフとなる。また前段の出力信号Gn-1がHレベルになったことにより、ノードN1はトランジスタQ3を介して充電され、Hレベル(VDD−Vth)になる。またそれに応じてトランジスタQ1,Q8,Q10はオンとなる。それによりノードN2,N3は低インピーダンスのLレベルになる。
次いで時刻t2でクロック信号/CLKが立ち下がると、それと共に前段の出力信号Gn-1がLレベルになる。するとトランジスタQ3はオフになり、ノードN1はフローティング状態でVDD−Vthのレベルに保持される。またクロック信号/CLKがLレベルになるのでトランジスタQ11もオフになるが、トランジスタQ10はオンのままであるのでノードN2のLレベルは変化しない。
そして時刻t3でクロック信号CLKが立ち上がると、このときトランジスタQ1はオン、トランジスタQ2はオフであるので、出力端子OUT(出力信号Gn)のレベルが上昇し始める。このとき、トランジスタQ1のゲート・チャネル間容量および容量素子C1を介する結合によって、ノードN1が昇圧される。従って、トランジスタQ1は非飽和領域で動作し、出力信号Gnのレベルは、トランジスタQ1のしきい値電圧Vth分の電圧損失を伴わずに、Hレベル(VDD)になる。この結果ノードN1のレベルは、ほぼ2×VDD−Vthにまで上昇する。
一方、単位シフトレジスタSRnのプルダウン駆動回路では、時刻t3でクロック信号CLKがHレベルになることで、容量素子C2およびトランジスタQ8から成るインバータ回路およびトランジスタQ9,Q10から成るバッファ回路に電源が供給される。但しこの時点では、インバータ回路の入力端であるノードN1はHレベルなのでトランジスタQ8はオンしており、その出力端であるノードN3はLレベルから変化しない。そのためバッファ回路においても、トランジスタQ9がオフ、トランジスタQ10がオンであるので、バッファ回路の出力端であるノードN2もLレベルから変化しない。よってトランジスタQ2,Q5のオフも維持される。
但し詳細には、クロック信号CLKが立ち上がったとき、容量素子C2を介する結合により、ノードN3のレベルは上昇しようとする。ノードN3の寄生容量は小さいため、そのレベルはVDD近くまで上昇する場合もあるが、トランジスタQ8がオンしているので、図9に示すようにその上昇はごく瞬時的である。よってノードN3のレベル上昇によりトランジスタQ9がオンしたとしても一瞬のことである。しかもトランジスタQ10がオンしているので、トランジスタQ9が一瞬の間オンしても、それによるノードN2のレベル上昇は僅かであり、ノードN2はLレベルに維持される。よってトランジスタQ2,Q5のオフも維持され、出力端子OUTおよびノードN1の電荷がそれぞれトランジスタQ2,Q5を介して放出されることも殆どない。
また出力信号Gnは、ゲート線GLnに出力されると共に、前段の単位シフトレジスタSRn-1のリセット端子RSTおよび単位シフトレジスタSRn+1の入力端子INにも入力される。よって出力信号GnがHレベルになると、単位シフトレジスタSRn-1では、トランジスタQ4がオンになりノードN1が放電されてLレベルになるので、そのトランジスタQ1,Q8,Q10はオフになる(即ち単位シフトレジスタSRn-1はリセット状態になる)。一方、単位シフトレジスタSRn+1では、トランジスタQ3がオンになり、ノードN1がVDD−Vthに充電され、そのトランジスタQ1,Q8,Q10がオンになる(即ち単位シフトレジスタSRn+1はセット状態になる)。
そして時刻t4でクロック信号CLKが立ち下がると、単位シフトレジスタSRnのトランジスタQ1はオンしているので、出力信号Gnも追随して立ち下がり、クロック信号CLKと同じLレベル(VSS)となる。このとき容量素子C1とトランジスタQ1のゲート・チャネル間容量を介する結合により、ノードN1の電圧も追随して低下し、ノードN1のレベルはVDD−Vthとなる。
一方、プルダウン駆動回路では、クロック信号CLKがLレベルになることで、インバータ回路およびバッファ回路へ電源が供給されなくなる。但しこの時点では、インバータ回路の出力(ノードN3)およびバッファ回路の出力(ノードN2)は共にLレベルであるので、クロック信号CLKがLレベルになっても、ノードN2,N3のレベルに変化は無い。
なお詳細には、クロック信号CLKが立ち下がったとき、容量素子C2を介する結合によりノードN3のレベルが下降しようとする。しかしトランジスタQ8がオンしているので、図9に示すようにノードN3のレベル降下は瞬時的である。またこのノードN3のレベル変化は、VSSからさらに低いレベルになるものなので、オフ状態のトランジスタQ9の動作には影響しない。また出力信号Gnが立ち下がったとき、ノードN2においても、主としてトランジスタQ2,Q5のゲート・ドレイン間容量を介する結合により、瞬時的に負側に下降する。このレベル変化も、VSSからさらに低いレベルになるものなので、オフ状態のトランジスタQ2,Q5の動作には影響せず、従ってシフトレジスタの動作には影響しない。
時刻t5で、クロック信号/CLKが立ち上がるのと共に、次段の出力信号Gn+1も立ち上がると、単位シフトレジスタSRnのトランジスタQ4,Q11がオンになる。するとノードN1はLレベルになり、単位シフトレジスタSRnはリセット状態に戻る。また、ノードN2は低インピーダンスでLレベル(VSS)になる。
続く時刻t6で、クロック信号/CLKが立ち下がるのと共に、次段の出力信号Gn+1も立ち下がると、トランジスタQ11,Q4がオフになるので、ノードN1,N2は共に高インピーダンスのLレベルとなる。
そして時刻t7でクロック信号CLKが立ち上がると、プルダウン駆動回路において、インバータ回路およびバッファ回路に電源が供給される。この時点では、インバータ回路の入力端であるノードN1はLレベルなのでトランジスタQ8はオフであり、インバータ回路の出力端であるノードN3はHレベルになる。応じてバッファ回路では、トランジスタQ9がオン、トランジスタQ10がオフとなるので、バッファ回路の出力端であるノードN2はHレベルになる。
より詳細に説明すると、クロック信号CLKが立ち上がったときに、容量素子C2を介する結合によりノードN3のレベルが上昇しようとする。このときトランジスタQ8はオフしているので、ノードN3は昇圧されてHレベルになる。容量素子C2の容量値をノードN3の寄生容量(主にトランジスタQ9のゲート容量)の容量値よりも十分大きく設定した場合、ノードN3のレベルはほぼVDDとなる。このノードN3のレベル上昇によりトランジスタQ9はオンする。このときトランジスタQ10はオフしているので、ノードN2のレベルはHレベル(ほぼVDD−Vth)となる。その結果、単位シフトレジスタSRnのトランジスタQ2,Q5はオンになる。
他方、トランジスタQ1のゲート・ドレイン間のオーバラップ容量と、トランジスタQ5のオン抵抗とは微分回路を構成するため、ノードN1のレベルはクロック信号CLKの立ち上がりに追随して上昇する。このときのノードN1のレベルは、クロック信号CLKをノードN1に結合させて当該ノードN1を昇圧しようとする容量成分(トランジスタQ1のゲート・ドレイン間のオーバラップ容量)と、ノードN1の寄生容量(トランジスタQ1のゲート・ソース間容量、トランジスタQ8,Q10のゲート容量など)および容量素子C1とによってクロック信号CLKのHレベル(VDD)を分割した一定のレベルにまで瞬時的に上昇し、その後一定の時定数で低下するスパイク状の波形となる。なお、トランジスタQ5のオン抵抗を充分小さく設定され、このスパイク状の電圧によりトランジスタQ1がオンすることは防止されており、出力端子OUTはLレベルに維持される。
そして時刻t8でクロック信号CLKが立ち下がると、プルダウン駆動回路において、インバータ回路およびバッファ回路に電源が供給されなくなる。インバータ回路では電源レベル(クロック信号CLK)が下降すると、容量素子C2を介して時刻t7のときとは正負が逆の結合が生じ、当該インバータ回路の出力端であるノードN3がLレベルに引き下げられる。またバッファ回路では、トランジスタQ9がオフになるがトランジスタQ10もオフであるので、当該バッファ回路の出力端であるノードN2はフローティング状態でHレベルに維持される。従って、トランジスタQ2,Q5はオンを維持する。
またノードN1には、時刻t7のときとは逆の負のスパイク電圧が生じるが、トランジスタQ5がオンしているので、ノードN1に生じた負のレベルはトランジスタQ5を通して速やかに放電され、ノードN1のレベルはVSSに戻る。
そして時刻t9でクロック信号/CLKが立ち上がると、トランジスタQ11がオンし、ノードN2が放電されてLレベル(VSS)になる。応じてトランジスタQ2,Q5はオフになる。それにより、出力端子OUTは高インピーダンス状態となるが、出力端子OUTに接続されるゲート線GLの容量(ゲート線容量)が大きいため、出力信号Gnは安定してLレベルを維持する。
以降、次のフレーム期間に前段の単位シフトレジスタSRn-1の出力信号Gn-1がHレベルになるまで、時刻t6〜t9の動作が繰り返される。従って、単位シフトレジスタSRnにおいては、ゲート線GLnの非選択期間の間、トランジスタQ2,Q5のゲート(ノードN2)のレベルが、クロック信号CLKの立ち上がりに同期してHレベル(VDD)になり、クロック信号/CLKの立ち上がりに同期してLレベル(VDD)になるようにスイングされる。
即ち、出力端子OUTを放電するトランジスタQ2、およびノードN1を放電するトランジスタQ5のゲートが継続的にバイアスされることが防止され、それらのしきい値電圧のシフト(Vthシフト)が軽減されて、駆動能力の低下が抑制される。従って、リセット状態において、ノードN1に生じたノイズ等による電荷をトランジスタQ5が素早く放電することができ、トランジスタQ1の抵抗値は高く保たれる。また、トランジスタQ2の駆動能力の低下が防止されることにより、非選択状態における出力端子OUTの抵抗(出力抵抗)を小さくすることができるので、非選択時のゲート線の電圧がより安定して表示装置の表示品質が向上する。
また以上の動作に用いられている制御信号(スタートパルスSP、クロック信号CLK,/CLK)は、汎用的な駆動制御装置から出力可能な信号であり特殊なものではない。つまり本実施の形態に単位シフトレジスタSRを動作させるのに、特殊な駆動制御装置を用いる必要は無いことが分かる。
本実施の形態に係る単位シフトレジスタSRのプルダウン駆動回路は、容量性負荷のインバータ回路と、その出力を受けて動作するバッファ回路を備えている。バッファ回路は、トランジスタQ9,Q10から成るプッシュプル動作のトーテムポール型であるので、比較的小さい回路面積で高い駆動能力を有している。従って、トランジスタQ2,Q5のゲート(ノードN2)に高い振幅の電圧を供給することができ、シフトレジスタの出力抵抗およびノードN1のプルダウン抵抗の低減を、回路面積を増大を抑制しつつ実現できる。
なお以上の説明においては、クロック信号CLKがHレベルになる期間と/CLKがHレベルになる期間との間に一定の間隔を設けているが、この期間は無くてもよい。即ち、クロック信号CLKが立ち上がるのと同時にクロック信号/CLKが立ち下がり、クロック信号CLKが立ち下がるのと同時にクロック信号/CLKが立ち上がるような2相クロックでよい。
<実施の形態2>
図10は本発明の実施の形態2に係る単位シフトレジスタSRの構成を示す回路図である。同図においては、図7に示したものと同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。当該単位シフトレジスタSRでは、トランジスタQ10のゲートを、ノードN1ではなく出力端子OUTに接続している。そのことを除いては図7の回路と同様である。
実施の形態2の単位シフトレジスタSRnの動作は、実施の形態1で説明したものとほぼ同じである。但し、実施の形態1ではトランジスタQ10がノードN1がHレベルの期間(図9における時刻t1〜時刻t5)にオンしてノードN2をLレベルにするのに対し、本実施の形態では出力信号GnがHレベルの期間(時刻t3〜時刻t4)にオンになる。即ち、本実施の形態におけるトランジスタQ10は、出力信号Gnが立ち上がったときに、トランジスタQ2のゲート・ドレイン間のオーバラップ容量によりノードN2のレベルが上昇してトランジスタQ2がオンするのを防止し、出力信号GnのHレベルの電位の低下を防止するよう動作する。
トランジスタQ10がオンする期間が実施の形態1の場合に比べて短いものとなるが、例えば図8のように2相クロック信号CLK,/CLKにより単位シフトレジスタSRを駆動する場合には、ノードN1がHレベルになるとき、それと同じタイミングでトランジスタQ10がオンしなくても、トランジスタQ11がオンしてノードN2をLレベルにするので、実質的な単位シフトレジスタSRの動作は実施の形態1と同じになる。
図10の単位シフトレジスタSRでは、トランジスタQ10のゲート容量がノードN1の寄生容量とならないので、その分だけノードN1の寄生容量を小さくすることができ、出力信号Gnの出力時におけるノードN1の昇圧レベルを高くすることができる。その結果、出力信号Gnの立ち上がり速度を速くすることができる。
<実施の形態3>
図11は、実施の形態3に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。同図においても図7に示したものと同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。トランジスタQ8のゲートノード、即ちインバータ回路の入力端を「ノードN1A」と定義すると、実施の形態1(図7)においてはトランジスタQ1のゲート(ノードN1)とノードN1Aとの間は直接接続されていたが、図11の単位シフトレジスタSRでは、ノードN1とノードN1Aとの間に、ゲートをノードN1Aに接続してダイオード接続させたトランジスタQ12を介在させている。さらに、ノードN1Aと入力端子INとの間に、ゲートを入力端子INに接続してダイオード接続させたトランジスタQ13を接続させている。
本実施の形態の単位シフトレジスタSRnでは、前段の出力信号Gn-1が入力されたとき、ノードN1がトランジスタQ3を介してHレベル(VDD−Vth)に充電される一方で、同じようにノードN1AもトランジスタQ13を介してHレベル(VDD−Vth)に充電される。
ダイオード接続したトランジスタQ12は、ノードN1A側がアノード、ノードN1側がカソードとなるので、ノードN1AからノードN1への方向を順方向とする一方向性のスイッチング素子として機能する。出力信号Gnの立ち上がりによりノードN1が昇圧されるときには、トランジスタQ12から成るダイオードは逆バイアス状態となるので、ノードN1からノードN1Aへは電流は流れない。つまりノードN1からノードN1Aへの充電は阻止される。よって出力信号GnノードN1が昇圧される過程では、トランジスタQ8,Q10のゲート容量はノードN1の寄生容量とはならない。従って、ノードN1の昇圧時におけるノードN1の寄生容量が小さくなるため、実施の形態1よりもノードN1の昇圧レベルをより高くすることができ、出力信号Gnの出力時におけるノードN1の昇圧レベルを高くすることができる。その結果、出力信号Gnの立ち上がり速度を速くすることができる。
なお本実施の形態においても、実施の形態2を適用し、トランジスタQ10のゲートを出力端子OUTに接続しても良い。
<実施の形態4>
図12は、実施の形態4に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。同図においても図7に示したものと同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。本実施の形態においては図7の回路に対し、トランジスタQ8に代えて、ノードN3と第1電源端子S1との間に直列接続したトランジスタQ8A,Q8Bを設ける。トランジスタQ8A,Q8Bのゲートはバッファ回路の入力端であり、共にノードN1に接続される。さらに、トランジスタQ8A,Q8B間の接続ノードを「ノードN4」と定義すると、当該ノードN4とクロック信号CLKとの間に、ゲートがノードN3に接続したトランジスタQ14が設けられる。
即ち、本実施の形態の単位シフトレジスタSRにおいては、プルダウン駆動回路のインバータ回路は、容量素子C2を負荷素子、トランジスタQ8A、Q8Bをドライバ素子、トランジスタQ14を当該インバータ回路のしきい値電圧の調整素子とする、いわゆる「シュミットトリガ回路」となっている。
実施の形態1の単位シフトレジスタSRでは、図9に示したように、出力信号GnがLレベルを維持する期間(ゲート線GLnの非選択期間;時刻t6以降)において、クロック信号CLKが立ち上がるときに、ノードN1に正方向のスパイク電圧が発生する。このスパイク電圧がトランジスタQ8のしきい値電圧すなわちインバータ回路のしきい値電圧を超えると、トランジスタQ8がオンしてノードN3のレベルが低下する。そうなると、トランジスタQ9が充分にオンにならず、ノードN2のHレベルが低下してトランジスタQ5を充分にオンできなくなる。この結果、スパイク電圧のレベルがさらに高くなるという悪循環になり、最終的にノードN1のレベルがトランジスタQ1をオンさせるレベルにまで達する場合がある。
それに対し本実施の形態では、インバータ回路としてシュミットトリガ型のインバータを用いることにより、当該インバータ回路のしきい値電圧を高くし、スパイク電圧によりノードN2のレベルが低下しないようにしている。それにより上記の問題が解決される。
本実施の形態では、インバータ回路をシュミットトリガ回路としたが、さらにバッファ回路にもシュミットトリガ回路を用いてもよい。そのようにした変形例を図13に示す。即ち、トランジスタQ10に代えて、ノードN2と第1電源端子S1との間に直列接続したトランジスタQ10A,Q10Bを設ける。トランジスタQ10A,Q10Bのゲートは共にノードN1に接続させる。そしてトランジスタQ10A,Q10B間の接続ノードを、ノードN4に接続する。それにより、バッファ回路のしきい値電圧も高くなり、ノードN1のスパイク電圧の影響をより小さくできる。
なお本実施の形態においても、実施の形態2を適用し、トランジスタQ10のゲートを出力端子OUTに接続してもよい。また実施の形態3を適用し、ノードN1とインバータの入力端(トランジスタQ8A,Q8Bのゲート)との間に、図11に示したトランジスタQ12,Q13から成る回路を接続してもよい。
<実施の形態5>
図14は、実施の形態5に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。同図においても図7に示したものと同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。本実施の形態においては図7の回路に対し、出力端子OUTと第1電源端子S1との間にトランジスタQ15をさらに設け、そのゲートを第2クロック端子CK2に接続させたものである。即ち、トランジスタQ15は、第2クロック端子CK2に入力されるクロック信号より制御され、出力端子OUTを放電(プルダウン)するものである。
図9に示したように図7の回路では、単位シフトレジスタSRnの非選択期間におけるノードN2のレベルは、クロック信号CLKの立ち上がりに同期してHレベルになり、クロック信号/CLKの立ち上がりに同期してLレベルになるようスイングする。つまり、クロック信号CLKの立ち上がりからクロック信号/CLKの立ち上がりまでの間はトランジスタQ2がオンして出力端子OUTを低インピーダンスのLレベルにするが、それ以外の期間はトランジスタQ2がオフになり出力端子OUTは高インピーダンス状態(フローティング状態)のLレベルになる。
それに対し、図14の単位シフトレジスタSRnによれば、第2クロック端子CK2に入力されるクロック信号/CLKがHレベルになる間も、トランジスタQ15がオンして出力端子OUTを低インピーダンスのLレベルにする。よって図7の回路よりも、非選択期間に出力端子OUTが高インピーダンス状態のLレベルになる期間を短くでき、出力信号GnのLレベルが安定化するという効果が得られる。
<実施の形態6>
上記のように実施の形態5によれば、非選択期間に出力端子OUTが高インピーダンス状態のLレベルになる期間を短くできる。しかし図9の例のように、クロック信号CLKがHレベルになる期間(活性期間)と、クロック信号/CLKがHレベルになる期間との間に一定の間隔がある場合、非選択期間に出力端子OUTが高インピーダンス状態のLレベルになる期間は全く無くなるわけではない。例えば、図14に示した単位シフトレジスタSRnにあっては、クロック信号/CLKの立ち下がりからクロック信号CLKの立ち上がりまでの間は、図17(a)に示すようにノードN2とクロック信号/CLKの両方がLレベルになる期間が存在し、その間はトランジスタQ2,Q15ともオフになるので、出力端子OUTが高インピーダンス状態になる。
図15は、実施の形態6に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。同図においては図7および図14に示したものと同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。本実施の形態においては図14の回路に対し、トランジスタQ15のゲートをトランジスタQ16,Q17から構成されるインバータ回路32に接続させたものである。
トランジスタQ15のゲートノードを「ノードN5」と定義すると、インバータ回路32において、トランジスタQ16はノードN5と第2クロック端子CK2との間にダイオード接続している。またトランジスタQ17は、ノードN5と第1電源端子S1との間に接続し、そのゲートは第1クロック端子CK1に接続している。この構成から分かるように、このインバータ回路32は、第1クロック端子CK1を入力端、ノードN5を出力端としており、また第2クロック端子CK2に入力されるクロック信号がその電源になっている。
インバータ32においては、第2クロック端子CK2に入力されるクロック信号に応じてトランジスタQ16がノードN5を充電し、第1クロック端子CK1に入力されるクロック信号に応じてトランジスタQ17がノードN5を放電する。その結果、ノードN5には、図17(b)に示すように第2クロック端子CK2に入力されるクロック信号の立ち上がりに同期してHレベル(VDD−Vth)になり、第1クロック端子CK1に入力されるクロック信号の立ち上がりに同期してLレベル(VSS)になる信号が現れる。つまりノードN5には、非選択状態におけるノードN2の電圧波形に相補な波形の信号が供給される。
このように、インバータ回路23は、単位シフトレジスタSRを駆動するためのクロック信号を用いて、非選択状態におけるノードN2の電圧波形に相補な波形のクロック信号を生成する。以下、当該インバータ回路32を「クロック変換回路」と称する。
従って本実施の形態に係る単位シフトレジスタSRのトランジスタQ15は、クロック変換回路32によって、第2クロック端子CK2に入力されるクロック信号の立ち上がり応じてオンにされ、第1クロック端子CK1に入力されるクロック信号の立ち上がりに応じてオフにされるように駆動される。よって非選択期間においては、トランジスタQ2,Q15は交互にオンし、その両方が共にオフになることはない。その結果、非選択期間において、ノードN2,N5の両方がLレベルになる期間が存在しなくなり、出力端子OUTを常に低インピーダンス状態のLレベルにすることができる。
なお、クロック変換回路32は、縦続接続された全ての単位シフトレジスタSRに個々に設ける必要は無く、1つのクロック変換回路32を複数の単位シフトレジスタSRで共有することができる。例えば2相クロック信号CLK,/CLKで駆動されるシフトレジスタの場合であれば、トランジスタQ16,Q17のゲートにそれぞれクロック信号/CLK,CLKが供給される第1のクロック変換回路32A(図16(a))と、トランジスタQ16,Q17のゲートにそれぞれクロック信号CLK,/CLKが供給される第2のクロック変換回路32B(図16(b))とが、各々少なくと1つずつ設けられていればよい。その場合、クロック変換回路32Aを、第1クロック端子CK1にクロック信号CLKが入力される複数の単位シフトレジスタSRで共有させ、クロック変換回路32Bを、第1クロック端子CK1にクロック信号/CLKが入力される複数の単位シフトレジスタSRに共有させる。そうすることにより、クロック変換回路32を設けることによる回路面積の増大が格段に少なくなる。
なお、クロック変換回路32の構成は図16に示したものに限られない。例えば図18(a),(b)に示すようにトランジスタQ17のソースをトランジスタQ16のドレインに接続させ、トランジスタQ17のソースにゲートとは逆相の(活性期間が重ならない)のクロック信号を入力させてもよい。この場合、トランジスタQ17がオフする間、そのゲートがソースに対して負にバイアスされるのと等価な状態になる。それにより、正方向へシフトしたトランジスタQ17のしきい値電圧が負方向へ戻って回復する。その結果、トランジスタQ17のVthシフトが緩和されて駆動能力の低下が抑制される。よってトランジスタQ17としてサイズの小さいトランジスタを使用することができ、回路面積の縮小化に寄与できる。
<実施の形態7>
例えば図7の単位シフトレジスタSRでは、縦続接続させたときに出力信号Gが次段のトランジスタQ3のゲートおよびドレインに入力される(図8参照)。言い換えれば、各単位シフトレジスタSRのノードN1は、自身の前段の出力信号Gを用いて充電される。ノードN1は、サイズの大きいトランジスタQ1のゲートが接続していることもあり、その寄生容量は比較的大きい。従って、当該寄生容量に基づく時定数のために出力信号Gの立ち上がり速度が遅くなりやすい。
図19は、実施の形態7に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。同図においても図7に示したものと同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。本実施の形態においては図7の回路に対し、トランジスタQ3のドレインを、高電位側電源電位VDDが供給される第2電源端子S2に接続させている。
図19の単位シフトレジスタSRでは、ノードN1は高電位側電源電位VDDを供給する電源により充電され、出力信号GはトランジスタQ3のゲートだけに供給される。それにより各単位シフトレジスタSRの出力信号Gの負荷が軽減され、出力信号Gの立ち上がり速度を高速化できる。さらに、ノードN1の充電速度も速くできるので、当該ノードN1を充分に高いレベルに充電することができるようになり、そのことによっても出力信号Gの立ち上がり速度が高速化される。
<実施の形態8>
図19の単位シフトレジスタSRnでは、ゲート線GLnの非選択期間おいて、クロック信号CLKがLレベルの間にトランジスタQ5がオフする期間(ノードN2がLレベルになる期間)がある。そのときノードN1は高インピーダンス状態のLレベルになる。図19のようにトランジスタQ3のドレインに電位VDDを供給する電源が接続されていると、表示装置に入射する外光あるいは表示パネルのバックライト光の影響により、トランジスタQ3を通して第2電源端子S2からノードN1へ光リーク電流が流れるので、ノードN1が高インピーダンス状態であればそのレベルが上昇する。
そのようにノードN1のレベルが上昇して、第1クロック端子CK1のクロック信号CLKが立ち上がると、トランジスタQ1のゲート・ドレイン間のオーバラップ容量を介する結合により、ノードN1のレベルはさらに上昇する。それによりトランジスタQ1がオンとなると、出力信号GnがHレベルになるという誤動作が生じる。本実施の形態ではこの問題を解決することができる単位シフトレジスタSRを提供する。
図20は、実施の形態8に係る単位シフトレジスタSRの構成を示す回路図である。同図において、図19に示したものと同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。本実施の形態においては図19の回路に対し、トランジスタQ18〜Q21から成る回路が設けられている。このトランジスタQ18〜Q21から成る回路は、ゲート線GLnの非選択期間おいて第1クロック端子CK1がHレベルになる間、ノードN1を低インピーダンスのLレベルにするように動作する。
図20に示すように、トランジスタQ18は、ノードN1と第1電源端子S1との間に接続している。トランジスタQ18のゲートノードを「ノードN6」と定義すると、トランジスタQ19は、ノードN6と第2電源端子S2との間に接続し、そのゲートは第2クロック端子CK2に接続される。トランジスタQ20は、ノードN6と第1電源端子S1との間に接続し、そのゲートは入力端子INに接続している。トランジスタQ21もノードN6と第1電源端子S1との間に接続しているが、そのゲートは第1クロック端子CK1に接続している。
トランジスタQ20は、トランジスタQ19に対してオン抵抗が充分小さく設定されている。即ち、トランジスタQ19,Q20は、トランジスタQ19を負荷素子、トランジスタQ20をドライバ素子とするレシオ型のインバータ回路を構成している。従って、例えば単位シフトレジスタSRnにおいて、前段の出力信号Gn-1がHレベルになったとき、第2クロック端子CK2のクロック信号/CLKもHレベルになるのでトランジスタQ19,Q20は共にオンするが、このインバータ回路の出力端であるノードN6はLレベルになる。
ゲート線GLnの非選択期間においては、出力信号Gn-1がLレベルでありトランジスタQ20はオフになっているので、単位シフトレジスタSRnのノードN6は、クロック信号CLKが立ち上がってからクロック信号/CLKが立ち上がるまでの間Lレベルになり、クロック信号/CLKが立ち上がってからクロック信号CLKが立ち上がるまでの間Hレベルになるように、レベルがスイングされる。つまり非選択期間においては、ノードN2とノードN6の信号波形は互いに相補な関係になり、ノードN5とトランジスタQ18とが交互にオンして、ノードN1を低インピーダンスのLレベルにする。よって、光リーク電流に起因したノードN1のレベル上昇が防止される。さらに、トランジスタQ18のゲートが継続的にバイアスされることが防止されているので、そのVthシフトが抑制されるという効果も得られる。
そして前段の出力信号Gn-1がHレベルになると、トランジスタQ20がオンになる。上記のようにトランジスタQ20はトランジスタQ19よりも充分にオン抵抗が小さいので、ノードN6はトランジスタQ19のオン/オフに関係なくLレベルにプルダウンされる。応じてトランジスタQ18はオフになり、ノードN1はトランジスタQ3を介して充電されてHレベルになる。
その後、前段の出力信号Gn-1がLレベルに戻っても、それと同時にクロック信号/CLKもLレベルになるのでノードN6はLレベルに維持される。さらに出力信号GnがHレベルになる期間でも、クロック信号CLKによりトランジスタQ21がオンになるのでノードN6はLレベルに維持され、トランジスタQ18はオフに維持される。つまりトランジスタQ18は、ノードN1の充電期間およびゲート線GLnの選択期間、継続してオフであるので、トランジスタQ18〜Q21から成る回路は単位シフトレジスタSRnが出力信号Gnを出力するための動作には影響しない。従って、本実施の形態に係る単位シフトレジスタSRnは、図19の回路と同様の動作を行うことができる。
このように本実施の形態においては、トランジスタQ18は、入力端子INに入力される信号がHレベルの期間(活性期間)はオフを維持し、それ以外の期間では、第2クロック端子CK2に入力されるクロック信号の立ち上がりに応じてオンになり、第1クロック端子CK1に入力されるクロック信号の立ち上がりに応じてオフになるように駆動される。
なお、図20においてはトランジスタQ19のドレインを、トランジスタQ3のドレインと同じく電位VDDを供給する電源に接続させたが、それぞれ異なる電源に接続させてもよい。また図21の如く、ゲートと同じく第2クロック端子CK2に接続させてもよい(即ちトランジスタQ19を、ノードN6と第2クロック端子CK2との間にダイオード接続させてもよい)。その場合、ノードN6が第2クロック端子CK2に入力されるクロック信号により充電されることとなるが、上記と同様の動作を行うことができ、同様の効果を得ることができる。
<実施の形態9>
図22は、実施の形態9に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。同図においても図20に示したものと同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。本実施の形態においては図20の回路において、トランジスタQ21に代えて、ノードN6と第2クロック端子CK2との間に接続したトランジスタQ21Aが設けられる。トランジスタQ21AのゲートはノードN6に接続されている(即ちトランジスタQ21Aはダイオード接続されている)。また図21に例示した変形例のようにトランジスタQ19は、ノードN6と第2クロック端子CK2との間にダイオード接続させている。
本実施の形態の単位シフトレジスタSRnにおいては、クロック信号/CLKがHレベルのときはトランジスタQ19がオンになりノードN6を充電してHレベルし、クロック信号/CLKがLレベルのときはトランジスタQ21AがオンになりノードN6を放電してLレベル(Vth)にする。また前段の出力信号Gn-1がHレベルになる期間(活性期間)は、トランジスタQ20がオンしてノードN6をLレベルに維持する。つまり、本実施の形態のトランジスタQ18は、入力端子INに入力される信号の活性期間はオフを維持し、それ以外の期間では、第2クロック端子CK2のクロック信号に対応してオン/オフが切り換わる(当該クロック信号の活性期間にオンする)ように駆動される。
第1クロック端子CK1と第2クロック端子CK2とには、互いに逆相のクロック信号が入力されるので、結果的にトランジスタQ21Aは、図20におけるトランジスタQ21とほぼ同様に動作することとなる。従って、実施の形態8とほぼ同様の効果が得られる。
<実施の形態10>
図23は、実施の形態10に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。同図においても図20に示したものと同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。本実施の形態においては図22の回路に対し、トランジスタQ19,Q21Aに代えて容量素子C3を設けている。即ち、容量素子C3およびトランジスタQ20は、容量性負荷のインバータ回路を構成している。
また容量素子C3は、第2クロック端子CK2とノードN6とを容量結合させる。従って、例えばシフトレジスタSRnの容量素子C2は、クロック信号/CLKの立ち上がり時にノードN6のレベルを上昇させ、立ち下がり時にはノードN6のレベルを引き下げる。結果として容量素子C3は、図22におけるトランジスタQ19,Q21Aと同様の働きをすることとなる。
つまり本実施の形態においても、トランジスタQ18は、入力端子INに入力される信号の活性期間はオフを維持し、それ以外の期間では第2クロック端子CK2のクロック信号に対応してオン/オフが切り換わる(当該クロック信号の活性期間にオンする)ように駆動される。従って、本実施の形態に係る単位シフトレジスタSRは、実施の形態8とほぼ同様に動作し、同様の効果を得ることができる。
<実施の形態11>
図24は、実施の形態11に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。同図においても図20に示したものと同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。本実施の形態においては図20の回路に対し、トランジスタQ18のソースを、入力端子INに接続させると共に、ゲート(ノードN6)を第2クロック端子CK2に接続させている。
本実施の形態に係る単位シフトレジスタSRnによれば、前段の出力信号Gn-1がHレベルになりノードN1がトランジスタQ3を介して充電される間、トランジスタQ18のゲート(クロック信号/CLK)がHレベルになるが、ソース(前段の出力信号Gn-1)もHレベルであるので、当該トランジスタQ18はオンせず、ノードN1はHレベルに充電される。また前段の出力信号Gn-1がLレベルになった後の非選択期間では、トランジスタQ18のソースがLレベルとなるので、クロック信号/CLKがHレベルになる度にトランジスタQ18がオンし、ノードN1を低インピーダンスのLレベルにする。
つまり本実施の形態においても、トランジスタQ18は、入力端子INに入力される信号の活性期間はオフを維持し、それ以外の期間では第2クロック端子CK2のクロック信号に対応してオン/オフが切り換わる(当該クロック信号の活性期間にオンする)ように駆動される。従って、本実施の形態に係る単位シフトレジスタSRは、実施の形態8とほぼ同様に動作し、同様の効果を得ることができる。よって、非選択期間における光リーク電流によるレベル上昇を防止することができる。
なお図24の回路では、クロック信号/CLKが立ち下がってから、クロック信号CLKが立ち上がるまでの間に、ノードN1が高インピーダンス状態になる期間がある。その期間におけるノードN1のレベル上昇を防止するためには、トランジスタQ18のゲート(ノードN6)に、図16または図18に示したクロック変換回路32の出力信号を入力すればよい(図25参照)。
そうすることによりトランジスタQ18は、実施の形態8と全く同じように、入力端子INに入力される信号がHレベルの期間(活性期間)はオフを維持し、それ以外の期間では、第2クロック端子CK2に入力されるクロック信号の立ち上がりに応じてオンになり、第1クロック端子CK1に入力されるクロック信号の立ち上がりに応じてオフになるように駆動される。つまり非選択期間において、トランジスタQ18がトランジスタQ5と相補的に動作するようになるので、ノードN1が高インピーダンス状態になる期間をなくすことができる。
<実施の形態12>
図26は、実施の形態12に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。同図においても図7に示したものと同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。本実施の形態においては図7の回路に対し、トランジスタQ11のソースを、第1電源端子S1に代えて、第1クロック端子CK1に接続させている。
図7の単位シフトレジスタSRnにおいては、トランジスタQ11のゲートがクロック信号/CLKによって繰り返し正バイアスされるので、Vthシフトが起こりやすい。それに対し本実施の形態に係る単位シフトレジスタSRnでは、トランジスタQ11のゲート・ソース間のバイアスが、クロック信号/CLKがHレベルのときには正バイアス、クロック信号CLKがHレベルのときには負バイアスに切り換わる。よってトランジスタQ11のVthシフトが緩和され、ノードN2の放電を低インピーダンスで行うことが可能になるという効果が得られる。
なお本実施の形態は、上記の各実施の形態においてトランジスタQ11のソースが第1電源端子S1に接続された単位シフトレジスタSRのいずれにも適用することが可能である。
<実施の形態13>
図27は、実施の形態13に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。同図においても図7に示したものと同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。本実施の形態においては図7の回路に対し、トランジスタQ2、Q5のソースを、第1電源端子S1に代えて、第2クロック端子CK2に接続させている。
図7の単位シフトレジスタSRnにおいては、図9に示したように、トランジスタQ2、Q5のゲート(ノードN2)がクロック信号CLKの立ち上がりに応じて、繰り返し正バイアスされるので、それらのVthシフトが起こりやすい。それに対し本実施の形態に係る単位シフトレジスタSRnでは、トランジスタQ2、Q5のゲート・ソース間のバイアスが、クロック信号CLKがHレベルのときには正バイアス、クロック信号/CLKがHレベルのときには負バイアスに切り換わる。よってトランジスタQ2、Q5のVthシフトが緩和され、出力端子OUTおよびノードN1の放電を低インピーダンスで行うことが可能になるという効果が得られる。
なお本実施の形態では、トランジスタQ2、Q5の両方のソースを、第2クロック端子CK2に接続させた例を示したが、そのうち片方のソースのみを第2クロック端子CK2に接続させてもよい。また本実施の形態は、上記の各実施の形態においてトランジスタQ2、Q5のソースが第1電源端子S1に接続された単位シフトレジスタSRのいずれにも適用することが可能である。
<実施の形態14>
図28は、実施の形態14に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。同図においても図20に示したものと同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。本実施の形態においては図20の回路に対し、トランジスタQ20のゲートを、入力端子INに代えて、ノードN1に接続させている。
本実施の形態の単位シフトレジスタSRnでは、前段の出力信号Gn-1がHレベルになると、ノードN1がトランジスタQ3により充電されてそのレベルが上昇して、それによりトランジスタQ20がオンになる。その後は図20と同様にノードN6がLレベルになり、トランジスタQ18がオフになってノードN1がHレベルになる。つまり、トランジスタQ20が、単位シフトレジスタSRn-1により直接制御されるのではなく、自身のノードN1の電圧により制御される。
従って図20の回路に比べ、出力信号Gの配線レイアウトが容易になり、回路面積の縮小化に寄与できる。また本実施の形態は、上記の各実施の形態において入力端子INがトランジスタQ20のゲートに接続された単位シフトレジスタSRのいずれにも適用することが可能である。
<実施の形態15>
図29は、実施の形態15に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。同図においても図20に示したものと同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。本実施の形態においては図20の回路に対し、トランジスタQ21のソースを、第1電源端子S1に代えて、第2クロック端子CK2に接続させている。
図20の単位シフトレジスタSRnにおいては、トランジスタQ21のゲートがクロック信号CLKによって繰り返し正バイアスされるので、それらのVthシフトが起こりやすい。それに対し本実施の形態に係る単位シフトレジスタSRnでは、トランジスタQ21のゲート・ソース間のバイアスが、クロック信号CLKがHレベルのときには正バイアス、クロック信号/CLKがHレベルのときには負バイアスに切り換わる。よってトランジスタQ21のVthシフトが緩和され、ノードN6の放電を低インピーダンスで行うことが可能になるという効果が得られる。
なお本実施の形態は、上記の各実施の形態においてトランジスタQ21のソースが第1電源端子S1に接続された単位シフトレジスタSRのいずれにも適用することが可能である。
<実施の形態16>
図30は、実施の形態16に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。同図においても図20に示したものと同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。本実施の形態においては図20の回路に対し、トランジスタQ18のソースを、第1電源端子S1に代えて、第1クロック端子CK1に接続させている。
図20の単位シフトレジスタSRnにおいては、トランジスタQ18のゲートがクロック信号/CLKの立ち上がりに応じて、繰り返しに正バイアスされるので、それらのVthシフトが起こりやすい。それに対し本実施の形態に係る単位シフトレジスタSRnでは、トランジスタQ18のゲート・ソース間のバイアスが、クロック信号/CLKがHレベルのときには正バイアス、クロック信号CLKがHレベルのときには負バイアスに切り換わる。よってトランジスタQ18のVthシフトが緩和され、ノードN1の放電を低インピーダンスで行うことが可能になるという効果が得られる。
なお本実施の形態は、上記の各実施の形態においてトランジスタQ18のソースが第1電源端子S1に接続された単位シフトレジスタSRのいずれにも適用することが可能である。
<実施の形態17>
例えば図7の回路において、出力信号Gの立ち上がりに応じてノードN1が昇圧されたとき、トランジスタQ5のドレイン(ノードN1)とソース(第1電源端子S1)との間に高い電圧が印加されるので、トランジスタQ5の耐電圧特性によってはドレイン・ソース間にリーク電流が流れ、昇圧されたノードN1のレベルが低下する可能性がある。その対策としては、図31の如くトランジスタQ5のソースと第1電源端子S1との間に、ノードN2に接続したトランジスタQ5Aを介在させ(即ち、ノードN1と第1電源端子S1との間にトランジスタQ5,Q5Aを直列に接続させる)、ノードN1の電圧をトランジスタQ5A,Q5Bで分圧することが考えられる。
しかし図31の回路では、実施の形態13を適用してトランジスタQ5Aのソースを第2クロック端子CK2に接続したとしても、トランジスタQ5,Q5A両方のVthシフトを緩和することはできない。なぜなら図31の回路では、単位シフトレジスタSRの非選択期間はトランジスタQ5,Q5Aが同時にオフするので、トランジスタQ5のソース(「ノードN7」と定義)に対し正にバイアスすることができず、ゲートがソースに対して負にバイアスされないためである。本実施の形態ではその対策を施したものを示す。
図32は、実施の形態17に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。同図においても図7および図31に示したものと同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。本実施の形態においては図31の回路に実施の形態13を適用し、トランジスタQ5Aのソースを、第2クロック端子CK2に接続させている。そしてトランジスタQ5,Q5A間の接続ノード(ノードN7)と、第2クロック端子CK2(トランジスタQ5Aのソース)との間に、トランジスタQ5Bを接続させ、そのゲートは第2クロック端子CK2に接続させる(即ちトランジスタQ5Bはダイオード接続している)。
本実施の形態によれば、単位シフトレジスタSRnの非選択状態において、クロック信号CLKがHレベルのときには、トランジスタQ5,Q5Aは共にオンするのでノードN7はLレベルになり、トランジスタQ5,Q5Aは共にゲート・ソース間が正バイアスされる。そしてクロック信号/CLKがHレベルのときには、トランジスタQ5,Q5Aが共にオフになるが、ノードN7はトランジスタQ5BによってHレベル(VDD−Vth)にされるので、トランジスタQ5,Q5Aは共にゲート・ソース間が負バイアスされる。従って、トランジスタQ5、Q5Aに対して、Vthシフトが緩和されノードN1の放電が低インピーダンスで可能になるという実施の形態13の効果が得られる。
なお、トランジスタQ5Bは、/CLKがHレベルのときは導通してノードN7をHレベルにバイアスするが、/CLKがLの時は非導通になるのでノードN7の電位には影響を与えない。従ってトランジスタQ5Bは、トランジスタQ5、Q5AにおけるノードN1を放電する動作、および昇圧されたノードN1の電圧を分圧して保持する動作には影響しない。
なお本実施の形態は、上記の各実施の形態においてトランジスタQ5のソースが第1電源端子S1に接続された単位シフトレジスタSRのいずれにも適用することが可能である。
<実施の形態18>
図33は、実施の形態18に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。同図においても図20および図23に示したものと同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。本実施の形態においては図23の回路に対し、容量素子C3およびトランジスタQ20から成るインバータ回路の出力を直接ノードN6に供給させるのではなく、その間にトランジスタQ22,Q23からなるバッファ回路を設けた構成となっている。
容量素子C3とトランジスタQ22とから構成される回路は、入力端子INを入力端とする容量性負荷のインバータ回路であり、トランジスタQ22,Q23から成る回路は、当該インバータ回路の出力(容量素子C3とトランジスタQ22との間の接続ノード(ノードN8)の電位)を受けるバッファ回路である。当該バッファ回路は、プッシュプル動作のトーテムポール型バッファ回路である。これはレシオレス型回路であり、低消費電力で大きな駆動能力を有している。従って本実施の形態は、ノードN1を高速に放電してリセット状態にする必要がある場合に有効である。
図33から分かるように、トランジスタQ8〜Q11および容量素子C2から成る回路と、トランジスタQ20〜Q23および容量素子C3から成る回路とは同じ構成であり、且つ、第1クロック端子CK1と第2クロック端子CK2との接続関係が互いに逆になっている。そのため非選択期間においては、ノードN6には、ノードN2に対して相補な信号が現れることとなる。但し、入力端子INに入力される信号がHレベルの期間(活性期間)には、トランジスタQ21がオンしてノードN6をLレベルにする。
つまり本実施の形態においては、実施の形態8と同様に、トランジスタQ18は、入力端子INに入力される信号がHレベルの期間(活性期間)はオフを維持し、それ以外の期間では、第2クロック端子CK2に入力されるクロック信号の立ち上がりに応じてオンになり、第1クロック端子CK1に入力されるクロック信号の立ち上がりに応じてオフになるように駆動される。よって非選択期間において、トランジスタQ18がトランジスタQ5と相補的に動作するようになるので、ノードN1が高インピーダンス状態になる期間をなくすことができる。
なお図33の回路に対しても、実施の形態14を適用し、トランジスタQ20,Q23のゲートをノードN1に接続させてもよい。
<実施の形態19>
図34は、実施の形態19に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。同図においても図7に示したものと同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。本実施の形態においては図7の回路に対し、トランジスタQ9のドレインを、第1クロック端子CK1に代えて、所定の高電位側電源電位VDD1が供給される第3電源端子S3に接続させる。
本実施の形態によれば、各単位シフトレジスタSRにおいて第1クロック端子CK1に入力されるクロック信号(クロック信号CLKまたはクロック信号/CLK)の負荷容量が減少するので、クロック信号の立ち上がりおよび立ち下がりの速度が高速化される。従って、シフトレジスタを高速で動作させるために、クロック信号を高速化(即ち高周波数化)することが容易となるという効果が得られる。
なお、電位VDD1は、ノードN3がHレベルになったときにトランジスタQ9が飽和領域で動作する電位であればよい。すなわち電位VDD1は、ノードN3の電圧をV(N3)とすると、
VDD1≧V(N3)−Vth
の条件を満たすものであればよい。
なお本実施の形態は、上記の各実施の形態の単位シフトレジスタSRに対しても適用することが可能である。また、第3電源端子S3に供給されるVDD1は、上記の各実施の形態において第2電源端子S2に供給される電位VDDと同じであってもよい。その場合には、第3電源端子S3と第2電源端子S2とを、同一の端子で構成することができ、回路を簡略化することができる。
<実施の形態20>
図35は、実施の形態20に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。本実施の形態においては実施の形態5の単位シフトレジスタSR(図14)に対し、トランジスタQ2を省略したものである。
図14の回路におけるトランジスタQ2,Q15は、オンになるタイミングが異なるものの、共に非選択期間において出力端子OUTを放電(プルダウン)するものである。よって図35のようにトランジスタQ2を省略しても、非選択期間における単位シフトレジスタSRnの出力端子OUTは、クロック信号/CLKがHレベルになるタイミングで繰り返し低インピーダンス状態のLレベルにされるので、当該単位シフトレジスタSRnの誤動作は防止される。
また、トランジスタQ5のゲートは、上記の各実施の形態と同様にトランジスタQ9,Q10から成るバッファ回路の出力端となっている。よって本実施の形態においても、トランジスタQ5のゲートには高い振幅の電圧を供給されるので、当該単位シフトレジスタSRnのノードN1のプルダウン抵抗の低減は実現される。
さらに、バッファ回路の出力端にトランジスタQ2のゲートが接続されない分、当該出力端にかかる負荷容量が小さくなる。従ってトランジスタQ9,Q10の駆動能力は、上記の各実施の形態の場合よりも小さくてもよく、トランジスタQ9,Q10のサイズを小さくすることができ、本発明の単位シフトレジスタSRの形成面積の縮小化に寄与できる。
別の言い方をすると本実施の形態は、出力端子OUTのプルダウントランジスタとして、ゲートがバッファ回路の出力端に接続したトランジスタQ2を、ゲートが第2クロック端子CK2に接続したトランジスタQ15に置き換えたものである。本実施の形態は、上記の各実施の形態に対しても適用可能である。
<実施の形態21>
図36は、実施の形態21に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。本実施の形態においては実施の形態20の回路(図35)に対し、トランジスタQ15のソースを、第1電源端子S1に代えて、第1クロック端子CK1に接続させている。
図7の単位シフトレジスタSRnにおいては、トランジスタQ15のゲートがクロック信号/CLKによって繰り返し正バイアスされるので、Vthシフトが起こりやすい。それに対し本実施の形態に係る単位シフトレジスタSRnでは、トランジスタQ15のゲート・ソース間のバイアスが、クロック信号/CLKがHレベルのときには正バイアス、クロック信号CLKがHレベルのときには負バイアスに切り換わる。よってトランジスタQ15のVthシフトが緩和され、ノードN2の放電を低インピーダンスで行うことが可能になるという効果が得られる。
本発明の実施の形態に係る表示装置の構成を示す概略ブロック図である。 単位シフトレジスタを用いたゲート線駆動回路の構成例を示すブロック図である。 従来の単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 ゲート線駆動回路の動作を示すタイミング図である。 単位シフトレジスタを用いたゲート線駆動回路の構成例を示すブロック図である。 ゲート線駆動回路の動作を示すタイミング図である。 実施の形態1に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態1に係る単位シフトレジスタが縦続接続されたときの接続関係を表した回路図である。 実施の形態1に係る単位シフトレジスタの動作を示すタイミング図である。 実施の形態2に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態3に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態4に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態4に係る単位シフトレジスタの変形例を示す回路図である。 実施の形態5に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態6に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態6におけるクロック変換回路の構成を示す回路図である。 実施の形態6におけるクロック変換回路の動作を示すタイミング図である。 実施の形態6におけるクロック変換回路の変形例を示す回路図である。 実施の形態7に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態8に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態8に係る単位シフトレジスタの変形例を示す回路図である。 実施の形態9に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態10に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態11に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態11に係る単位シフトレジスタの変形例を示す回路図である。 実施の形態12に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態13に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態14に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態15に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態16に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態17に係る単位シフトレジスタが解決する課題を説明するための図である。 実施の形態17に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態18に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態19に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態20に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。 実施の形態21に係る単位シフトレジスタの構成を示す回路図である。
符号の説明
10 液晶表示装置、30 ゲート線駆動回路、31 クロック発生器、32 クロック変換回路、C1〜C3 容量素子、G 出力信号、GL ゲート線、Q1〜Q24 トランジスタ、RST リセット端子、S1 第1電源端子、S2 第2電源端子、S3 第3電源端子、SP スタートパルス、SR 単位シフトレジスタ、IN 入力端子、OUT 出力端子。

Claims (35)

  1. 入力端子、出力端子、リセット端子および第1クロック端子と、
    第1クロック端子に入力される第1クロック信号を出力端子に供給する第1トランジスタと、
    前記出力端子を放電する第2トランジスタと、
    前記入力端子に接続した制御電極を有し、前記第1トランジスタの制御電極が接続する第1ノードを充電する第3トランジスタと、
    前記リセット端子に接続した制御電極を有し、前記第1ノードを放電する第4トランジスタと、
    所定の第2ノードに接続された制御電極を有し、前記第1ノードを放電する第5トランジスタと、
    前記第1ノードを入力端とする第1インバータ回路と、
    前記第1インバータ回路の出力を受け、前記第2ノードに信号を出力する第1バッファ回路とを備える
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  2. 請求項1記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第1クロック信号とは位相の異なる第2クロック信号が入力される第2クロック端子に接続した制御電極を有し、前記第2ノードを放電する第6トランジスタをさらに備える
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  3. 請求項2記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第6トランジスタは、
    前記第1クロック端子と前記第2ノードとの間に接続されている
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  4. 請求項2または請求項3記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第2および第5トランジスタの少なくとも片方は、
    前記第2クロック端子と前記第1ノードとの間に接続されている
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  5. 請求項2または請求項3記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第5トランジスタは、
    前記第1ノードと所定の第3ノードとの間に接続されており、
    当該シフトレジスタ回路は、
    前記第3ノードと前記第2クロック端子との間に接続し、前記第2ノードに接続した制御電極を有する第7トランジスタと、
    前記第3ノードと前記第2クロック端子との間に接続し、前記第2クロック端子に接続した制御電極を有する第8トランジスタとをさらに備える
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  6. 請求項1から請求項5のいずれか記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第1インバータ回路は、
    前記第1ノードに接続した制御電極を有し、当該第1インバータ回路の出力端を放電する第9トランジスタと、
    前記第1インバータ回路の出力端と前記第1クロック端子との間に接続した第1容量素子とを備える
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  7. 請求項1から請求項6のいずれか記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第1バッファ回路は、
    前記第1インバータ回路の出力端に接続した制御電極を有し、前記第2ノードを充電する第10トランジスタと、
    前記第1ノードまたは前記出力端子に接続した制御電極を有し、前記第2ノードを放電する第11トランジスタとをさらに備える
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  8. 請求項7記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第10トランジスタは、
    前記第1クロック端子と前記第2ノードとの間に接続されている
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  9. 請求項7記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第10トランジスタは、
    一定の電源電位が供給される電源端子と前記第2ノードとの間に接続されている
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  10. 請求項1から請求項7のいずれか記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第1ノードと前記第1インバータ回路の入力端との間に介在し、当該第1ノードから当該第1バッファ回路の入力端への充電を阻止する一方向性のスイッチング素子と、
    前記入力端子に接続した制御電極を有し、前記第1インバータ回路の入力端を充電する第12トランジスタとをさらに備える
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  11. 請求項1から請求項10のいずれか記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第1インバータ回路は、シュミットトリガ型のインバータである
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  12. 請求項1から請求項11のいずれか記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第2トランジスタの制御電極は、前記第2ノードに接続している
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  13. 請求項12記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第2トランジスタとは別に、前記出力端子を放電する第13トランジスタをさらに備え、
    前記第13トランジスタの制御電極は、
    前記第1クロック信号とは位相の異なる第3クロック信号が入力される第3クロック端子に接続されている
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  14. 請求項12記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第2トランジスタとは別に、前記出力端子を放電する第13トランジスタをさらに備え、
    前記第13トランジスタは、
    前記第1クロック信号とは位相の異なる第3クロック信号に応じてオンになり、前記第1クロック信号に応じてオフになるように駆動される
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  15. 請求項14記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第13トランジスタを駆動する回路は、
    前記第3クロック信号が入力される第3クロック端子に接続した制御電極を有し、前記第13トランジスタの制御電極を充電する第14トランジスタと、
    前記第1クロック端子に接続した制御電極を有し、前記第13トランジスタの制御電極を放電する第15トランジスタとを備える
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  16. 請求項15記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第15トランジスタは、
    前記第13トランジスタの制御電極と前記第3クロック端子との間に接続されている
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  17. 請求項12から請求項16のいずれか記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第13トランジスタは、
    前記出力端子と前記第1クロック端子との間に接続されている
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  18. 請求項1から請求項11のいずれか記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第2トランジスタの制御電極は、
    前記第1クロック信号とは位相の異なる第3クロック信号が入力される第3クロック端子に接続されている
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  19. 請求項18記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第2トランジスタは、
    前記出力端子と前記第1クロック端子との間に接続されている
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  20. 請求項1から請求項19のいずれか記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第3トランジスタは、
    前記第1ノードと前記入力端子との間にダイオード接続されている
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  21. 請求項1から請求項19のいずれか記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第3トランジスタは、
    一定の電源電位が供給される電源端子と前記第1ノードとの間に接続されている
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  22. 請求項1から請求項21のいずれか記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第4および第5トランジスタとは別に、前記第1ノードを放電する第16トランジスタをさらに備え、
    前記第16トランジスタは、
    前記入力端子に入力される信号の活性期間はオフを維持し、それ以外の期間では、前記第1クロック信号とは位相の異なる第4クロック信号に応じてオンになり、前記第1クロック信号に応じてオフになるように駆動される
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  23. 請求項22記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第16トランジスタは、
    前記第1ノードと前記第1クロック信号との間に接続されている
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  24. 請求項22または請求項23記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第16トランジスタを駆動する回路は、
    前記第4クロック信号が入力される第4クロック端子に接続した制御電極を有し、前記第16トランジスタの制御電極が接続する第4ノードを充電する第17トランジスタと、
    前記第1クロック端子に接続した制御電極を有し、前記第4ノードを放電する第18トランジスタと、
    前記入力端子または前記第1ノードに接続した制御電極を有し、前記第4ノードを放電する第19トランジスタとを備える
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  25. 請求項24記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第18トランジスタは、
    前記第4ノードと前記第4クロック端子との間に接続されている
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  26. 請求項22記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第16トランジスタは、
    前記第1ノードと前記入力端子との間に接続しており、
    前記第16トランジスタを駆動する回路は、
    前記第4クロック信号が入力される第4クロック端子に接続した制御電極を有し、前記第16トランジスタの制御電極が接続する第4ノードを充電する第17トランジスタと、
    前記第1クロック端子に接続した制御電極を有し、前記第4ノードを放電する第18トランジスタとを備える
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  27. 請求項26記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第18トランジスタは、
    前記第4クロック端子と前記第4ノードとの間に接続されている
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  28. 請求項22または請求項23記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第16トランジスタを駆動する回路は、
    前記入力端子を入力端とする第2インバータ回路と、
    前記第2インバータ回路の出力を受け、前記第16トランジスタの制御電極が接続する第4ノードに信号を出力する第2バッファ回路と、
    前記第1クロック端子に接続した制御電極を有し、前記第4ノードを放電する第17トランジスタを備えており、
    前記第2インバータ回路は、
    前記入力端子に接続した制御電極を有し、当該第2インバータ回路の出力端である第5ノードを放電する第18トランジスタと、
    前記第5ノードと前記第4クロック端子との間に接続した第3容量素子とを備え、
    前記第2バッファ回路は、
    前記第5ノードに接続した制御電極を有し、前記第4ノードを充電する第16トランジスタと、
    前記入力端子に接続した制御電極を有し、前記第4ノードを放電する第20トランジスタとをさらに備える
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  29. 請求項1から請求項21のいずれか記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第4および第5トランジスタとは別に、前記第1ノードを放電する第16トランジスタをさらに備え、
    前記第16トランジスタは、
    前記入力端子に入力される信号の活性期間はオフを維持し、それ以外の期間では、前記第1クロック信号とは位相の異なる第4クロック信号に対応してオン/オフが切り換わるように駆動される
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  30. 請求項29記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第16トランジスタは、
    前記第1ノードと前記第1クロック信号との間に接続されている
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  31. 請求項29または請求項30記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第16トランジスタを駆動する回路は、
    前記第4クロック信号が入力される第4クロック端子に接続した制御電極を有し、前記第16トランジスタの制御電極が接続する第4ノードと前記第4クロック端子との間に接続する第17トランジスタと、
    前記第4ノードに接続した制御電極を有し、当該第4ノードと前記第4クロック端子との間に接続する第18トランジスタと、
    前記入力端子または前記第1ノードに接続した制御電極を有し、前記第4ノードを放電する第19トランジスタとを備える
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  32. 請求項29または請求項30記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第16トランジスタを駆動する回路は、
    前記第4クロック信号が入力される第4クロック端子と前記第16トランジスタの制御電極が接続する第4ノードとの間に接続する第2容量素子と、
    前記入力端子または前記第1ノードに接続した制御電極を有し、前記第4ノードを放電する第16トランジスタとを備える
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  33. 請求項29記載のシフトレジスタ回路であって、
    前記第16トランジスタは、
    前記第4クロック信号が入力される制御電極を有し、前記記第1ノードと前記入力端子との間に接続している
    ことを特徴とするシフトレジスタ回路。
  34. 請求項1から請求項33のいずれか記載のシフトレジスタ回路が複数個縦続接続して成るシフトレジスタ回路。
  35. 請求項34記載のシフトレジスタ回路をゲート線駆動回路とする画像表示装置。
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US (1) US7664218B2 (ja)
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Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007179660A (ja) * 2005-12-28 2007-07-12 Mitsubishi Electric Corp シフトレジスタ回路およびそれを備える画像表示装置
JP2007207411A (ja) * 2006-01-05 2007-08-16 Mitsubishi Electric Corp シフトレジスタ回路およびそれを備える画像表示装置
WO2009084271A1 (ja) * 2007-12-27 2009-07-09 Sharp Kabushiki Kaisha シフトレジスタ
JP2010027194A (ja) * 2008-06-17 2010-02-04 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 駆動回路、表示装置、及び電子機器
JP2010238323A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Casio Computer Co Ltd シフトレジスタ及び電子機器
JPWO2010050262A1 (ja) * 2008-10-30 2012-03-29 シャープ株式会社 シフトレジスタ回路および表示装置ならびにシフトレジスタ回路の駆動方法
JP2013140665A (ja) * 2011-12-30 2013-07-18 Hydis Technologies Co Ltd ゲート駆動回路及びシフトレジスタ
CN103943057A (zh) * 2014-04-22 2014-07-23 深圳市华星光电技术有限公司 显示面板的驱动电路及其驱动方法
KR20140129731A (ko) * 2013-04-30 2014-11-07 엘지디스플레이 주식회사 게이트 쉬프트 레지스터와 이를 이용한 표시장치
JP2015025853A (ja) * 2013-07-24 2015-02-05 Nltテクノロジー株式会社 走査回路、及び表示装置
CN105185320A (zh) * 2015-10-23 2015-12-23 京东方科技集团股份有限公司 一种goa单元、goa电路、显示驱动电路和显示装置
JP2016105346A (ja) * 2009-09-10 2016-06-09 株式会社半導体エネルギー研究所 シフトレジスタ及び半導体装置
KR20180028553A (ko) * 2010-02-18 2018-03-16 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치 및 전자 장치
JP2019501414A (ja) * 2015-12-28 2019-01-17 深▲せん▼市華星光電技術有限公司Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. ゲート駆動回路及び表示装置
JP2021036680A (ja) * 2009-03-26 2021-03-04 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
WO2022185143A1 (ja) * 2021-03-05 2022-09-09 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置、表示装置、及び電子機器

Families Citing this family (130)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101437086B1 (ko) 2006-01-07 2014-09-03 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체장치와, 이 반도체장치를 구비한 표시장치 및 전자기기
US8330492B2 (en) 2006-06-02 2012-12-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device and electronic device
TWI340947B (en) * 2006-12-29 2011-04-21 Chimei Innolux Corp Shift register and liquid crystal display
CN101241247B (zh) * 2007-02-09 2010-05-26 群康科技(深圳)有限公司 移位寄存器及液晶显示装置
TWI385624B (zh) * 2007-04-11 2013-02-11 Wintek Corp 移位暫存器及其位準控制器
US20080252622A1 (en) * 2007-04-16 2008-10-16 Tpo Displays Corp. Systems for displaying images and driving method thereof
CN100592425C (zh) * 2007-04-27 2010-02-24 群康科技(深圳)有限公司 移位寄存器及液晶显示器
TWI338900B (en) * 2007-08-07 2011-03-11 Au Optronics Corp Shift register array
TWI383353B (zh) * 2007-12-27 2013-01-21 Chimei Innolux Corp 平面顯示器及其驅動方法
EP2224594B1 (en) * 2007-12-28 2015-02-25 Sharp Kabushiki Kaisha Semiconductor device and display device
WO2009084270A1 (ja) * 2007-12-28 2009-07-09 Sharp Kabushiki Kaisha 補助容量配線駆動回路および表示装置
BRPI0820225A2 (pt) 2007-12-28 2015-06-16 Sharp Kk Dispositivo semicondutor e dispositivo de monitor
CN101861617B (zh) * 2007-12-28 2012-11-28 夏普株式会社 显示驱动电路和显示装置
TWI334144B (en) * 2008-01-09 2010-12-01 Au Optronics Corp Shift register
TWI390540B (zh) * 2008-03-27 2013-03-21 Au Optronics Corp 移位暫存器及其控制方法
TWI379310B (en) * 2008-08-27 2012-12-11 Au Optronics Corp Shift register
JP5665299B2 (ja) 2008-10-31 2015-02-04 三菱電機株式会社 シフトレジスタ回路
US8605028B2 (en) * 2008-11-28 2013-12-10 Sharp Kabushiki Kaisha Scanning signal line drive circuit, shift register and display device
JP5318117B2 (ja) * 2008-12-10 2013-10-16 シャープ株式会社 走査信号線駆動回路、シフトレジスタ、およびシフトレジスタの駆動方法
KR101579082B1 (ko) 2008-12-23 2015-12-22 삼성디스플레이 주식회사 게이트 구동회로 및 이의 구동 방법
JP5188382B2 (ja) 2008-12-25 2013-04-24 三菱電機株式会社 シフトレジスタ回路
US8330702B2 (en) * 2009-02-12 2012-12-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Pulse output circuit, display device, and electronic device
TWI407443B (zh) * 2009-03-05 2013-09-01 Au Optronics Corp 移位暫存器
TWI410944B (zh) * 2009-06-10 2013-10-01 Au Optronics Corp 顯示裝置之移位暫存器
TWI426521B (zh) * 2009-07-31 2014-02-11 Wintek Corp 雙向移位暫存器
CN101989463B (zh) * 2009-08-07 2015-03-25 胜华科技股份有限公司 双向移位寄存器
CN102012591B (zh) * 2009-09-04 2012-05-30 北京京东方光电科技有限公司 移位寄存器单元及液晶显示器栅极驱动装置
US8054935B2 (en) * 2009-11-13 2011-11-08 Au Optronics Corporation Shift register with low power consumption
JP5528084B2 (ja) * 2009-12-11 2014-06-25 三菱電機株式会社 シフトレジスタ回路
JP5419762B2 (ja) * 2010-03-18 2014-02-19 三菱電機株式会社 シフトレジスタ回路
TWI427587B (zh) 2010-05-11 2014-02-21 Innolux Corp 顯示器
US8515001B2 (en) * 2010-12-24 2013-08-20 Lg Display Co., Ltd. Shift register
JP5584148B2 (ja) 2011-01-25 2014-09-03 株式会社ジャパンディスプレイ ゲート信号線駆動回路及び表示装置
CN102646387B (zh) * 2011-05-19 2014-09-17 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器及行扫描驱动电路
JP5774911B2 (ja) * 2011-06-01 2015-09-09 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
CN102629444B (zh) * 2011-08-22 2014-06-25 北京京东方光电科技有限公司 栅极集成驱动电路、移位寄存器及显示屏
KR101340197B1 (ko) * 2011-09-23 2013-12-10 하이디스 테크놀로지 주식회사 쉬프트 레지스터 및 이를 이용한 게이트 구동회로
CN102629459A (zh) * 2011-10-26 2012-08-08 北京京东方光电科技有限公司 栅线驱动方法、移位寄存器及栅线驱动装置
TWI527007B (zh) * 2011-11-25 2016-03-21 元太科技工業股份有限公司 驅動電路
CN102654969B (zh) * 2011-12-31 2013-07-24 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元、移位寄存器电路、阵列基板及显示器件
CN103208246A (zh) * 2012-01-11 2013-07-17 瀚宇彩晶股份有限公司 移位暂存器及其方法
CN102610206B (zh) * 2012-03-30 2013-09-18 深圳市华星光电技术有限公司 显示器的闸极驱动电路
CN102622983B (zh) * 2012-03-30 2013-11-06 深圳市华星光电技术有限公司 显示器的闸极驱动电路
CN102708818B (zh) 2012-04-24 2014-07-09 京东方科技集团股份有限公司 一种移位寄存器和显示器
CN102708926B (zh) * 2012-05-21 2015-09-16 京东方科技集团股份有限公司 一种移位寄存器单元、移位寄存器、显示装置和驱动方法
CN102819998B (zh) * 2012-07-30 2015-01-14 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器和显示装置
CN103578560B (zh) * 2012-08-10 2016-12-21 瀚宇彩晶股份有限公司 移位寄存器及其电压调整电路与电压调整方法
CN102915714B (zh) * 2012-10-11 2015-05-27 京东方科技集团股份有限公司 一种移位寄存器、液晶显示栅极驱动装置和液晶显示装置
CN102945650B (zh) * 2012-10-30 2015-04-22 合肥京东方光电科技有限公司 一种移位寄存器及阵列基板栅极驱动装置
TWI500265B (zh) * 2012-11-22 2015-09-11 Au Optronics Corp 移位暫存器
CN103165190A (zh) * 2013-02-01 2013-06-19 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元、移位寄存器、阵列基板和显示装置
CN104050935B (zh) * 2013-03-11 2016-12-28 瀚宇彩晶股份有限公司 移位寄存器、双向移位暂存装置及应用其的液晶显示面板
TWI490847B (zh) * 2013-04-26 2015-07-01 Chunghwa Picture Tubes Ltd 閘極驅動電路
CN103258495B (zh) * 2013-05-07 2015-08-05 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存单元、移位寄存器和显示装置
CN104167188B (zh) * 2013-05-16 2016-07-20 瀚宇彩晶股份有限公司 驱动单元与栅极驱动电路
TWI533606B (zh) * 2013-06-14 2016-05-11 友達光電股份有限公司 移位暫存器電路
US10176752B2 (en) * 2014-03-24 2019-01-08 Ignis Innovation Inc. Integrated gate driver
CN103971628B (zh) * 2014-04-21 2016-03-30 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元、栅极驱动电路和显示装置
WO2015182998A1 (ko) * 2014-05-28 2015-12-03 네오뷰코오롱 주식회사 시프트 회로, 시프트 레지스터 및 표시장치
CN104091572B (zh) * 2014-06-17 2016-04-06 京东方科技集团股份有限公司 双下拉控制模块、移位寄存单元、栅极驱动器和显示面板
CN104064160B (zh) * 2014-07-17 2016-06-15 深圳市华星光电技术有限公司 具有自我补偿功能的栅极驱动电路
CN104064158B (zh) * 2014-07-17 2016-05-04 深圳市华星光电技术有限公司 具有自我补偿功能的栅极驱动电路
JP6521794B2 (ja) * 2014-09-03 2019-05-29 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置、及び電子機器
CN104299590B (zh) * 2014-10-30 2016-08-24 京东方科技集团股份有限公司 一种移位寄存器、其驱动方法、栅极驱动电路及显示装置
CN104464658B (zh) * 2014-11-03 2016-11-16 深圳市华星光电技术有限公司 基于低温多晶硅半导体薄膜晶体管的goa电路
CN104318909B (zh) * 2014-11-12 2017-02-22 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元、栅极驱动电路及其驱动方法、显示面板
CN104464596A (zh) * 2014-12-22 2015-03-25 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种栅极集成驱动电路、显示面板及显示装置
TWI695383B (zh) * 2014-12-25 2020-06-01 日商半導體能源研究所股份有限公司 移位暫存器、半導體裝置及電子裝置
CN105895011B (zh) * 2015-01-26 2019-02-15 上海和辉光电有限公司 移位寄存器单元、栅极驱动电路及显示面板
KR20160092584A (ko) * 2015-01-27 2016-08-05 삼성디스플레이 주식회사 게이트 구동회로
JP2016143428A (ja) * 2015-01-29 2016-08-08 株式会社ジャパンディスプレイ シフトレジスタ回路
CN104575429A (zh) * 2015-01-30 2015-04-29 合肥京东方光电科技有限公司 移位寄存器单元及驱动方法、栅极驱动电路和显示装置
CN104575430B (zh) * 2015-02-02 2017-05-31 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元及其驱动方法、栅极驱动电路、显示装置
CN104715710B (zh) * 2015-04-10 2016-10-19 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元及其驱动方法、扫描驱动电路、显示装置
CN104766580B (zh) * 2015-04-23 2017-08-01 合肥京东方光电科技有限公司 移位寄存器单元及驱动方法、栅极驱动电路和显示装置
CN104810003A (zh) * 2015-05-21 2015-07-29 合肥京东方光电科技有限公司 移位寄存器及其驱动方法、栅极驱动电路、显示装置
CN104809979B (zh) * 2015-05-26 2017-07-18 京东方科技集团股份有限公司 一种反相器及驱动方法、goa单元、goa电路和显示装置
CN104851385B (zh) * 2015-06-08 2018-05-08 京东方科技集团股份有限公司 一种反相器、电压补偿电路和显示装置
CN106297624B (zh) 2015-06-11 2020-03-17 南京瀚宇彩欣科技有限责任公司 移位寄存器和显示装置
CN104900192B (zh) * 2015-07-01 2017-10-10 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元及其驱动方法、栅极驱动电路、显示装置
CN106340273B (zh) * 2015-07-16 2019-02-15 南京瀚宇彩欣科技有限责任公司 移位寄存器和显示装置
CN104934011B (zh) * 2015-07-20 2018-03-23 合肥京东方光电科技有限公司 移位寄存器单元、栅极驱动电路和显示装置
CN104966506B (zh) * 2015-08-06 2017-06-06 京东方科技集团股份有限公司 一种移位寄存器、显示面板的驱动方法及相关装置
CN105096889B (zh) * 2015-08-28 2018-03-06 京东方科技集团股份有限公司 一种移位寄存器、其驱动方法、栅极驱动电路及显示装置
CN105047168B (zh) * 2015-09-01 2018-01-09 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器、栅极驱动电路及显示装置
CN105047127B (zh) * 2015-09-21 2017-12-22 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元及驱动方法、行扫描驱动电路、显示装置
US9824658B2 (en) * 2015-09-22 2017-11-21 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd GOA circuit and liquid crystal display device
CN105096902B (zh) * 2015-09-28 2018-09-11 京东方科技集团股份有限公司 一种移位寄存器、其驱动方法、栅极驱动电路及显示装置
CN105390086B (zh) * 2015-12-17 2018-03-02 武汉华星光电技术有限公司 栅极驱动电路和使用栅极驱动电路的显示器
CN105629601B (zh) * 2015-12-31 2017-12-22 武汉华星光电技术有限公司 阵列基板行驱动电路及显示装置
CN105427799B (zh) * 2016-01-05 2018-03-06 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存单元、移位寄存器、栅极驱动电路及显示装置
CN105513524B (zh) * 2016-02-01 2018-05-04 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元及其驱动方法、栅极驱动电路和显示装置
CN105654905B (zh) * 2016-03-30 2018-01-26 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器及其驱动方法、驱动电路和显示装置
US11107388B2 (en) * 2016-04-29 2021-08-31 Lg Display Co., Ltd. Gate driving circuit and display device using the same
CN105788508B (zh) * 2016-05-24 2017-07-25 京东方科技集团股份有限公司 一种栅极驱动电路及显示面板
CN105810170B (zh) * 2016-05-30 2018-10-26 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元及其驱动方法、栅线驱动电路和阵列基板
CN106097996B (zh) * 2016-06-13 2018-02-16 武汉华星光电技术有限公司 一种goa电路及液晶显示器
CN106409207A (zh) * 2016-10-27 2017-02-15 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元、驱动方法、栅极驱动电路及显示装置
JP2018093483A (ja) * 2016-11-29 2018-06-14 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置、表示装置及び電子機器
US10424266B2 (en) * 2016-11-30 2019-09-24 Lg Display Co., Ltd. Gate driving circuit and display device using the same
CN106548740A (zh) * 2016-12-02 2017-03-29 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存电路及其驱动方法、栅极驱动电路及显示装置
CN106601206B (zh) * 2016-12-30 2019-01-11 深圳市华星光电技术有限公司 Goa栅极驱动电路以及液晶显示装置
CN206505709U (zh) 2017-02-28 2017-09-19 合肥鑫晟光电科技有限公司 反相控制电路、显示面板及显示装置
CN106652882B (zh) * 2017-03-17 2019-09-06 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元、阵列基板和显示装置
CN106683634B (zh) * 2017-03-30 2019-01-22 京东方科技集团股份有限公司 一种移位寄存器、goa电路及其驱动方法、显示装置
US10269318B2 (en) 2017-04-10 2019-04-23 Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd Liquid crystal display device and GOA circuit of the same
CN107086028B (zh) * 2017-04-10 2018-11-20 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 液晶显示装置及其goa电路
US10923064B2 (en) * 2017-04-17 2021-02-16 Sharp Kabushiki Kaisha Scanning signal line drive circuit and display device equipped with same
CN106898292B (zh) * 2017-05-05 2018-07-20 合肥鑫晟光电科技有限公司 扫描驱动电路及其驱动方法、阵列基板和显示装置
CN107316599B (zh) * 2017-07-07 2020-09-22 上海天马有机发光显示技术有限公司 移位寄存单元、其驱动方法及显示面板
CN107316658B (zh) * 2017-07-10 2020-06-23 上海天马有机发光显示技术有限公司 移位寄存单元、其驱动方法、显示面板及显示装置
CN107492361B (zh) * 2017-09-26 2022-01-11 惠科股份有限公司 移位暂存电路及其应用的显示面板
CN107633831B (zh) * 2017-10-18 2020-02-14 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器及其驱动方法、栅极驱动电路和显示装置
CN107657983B (zh) * 2017-11-09 2024-03-26 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元、驱动方法、栅极驱动电路及显示装置
US10453415B2 (en) * 2017-11-29 2019-10-22 Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. GOA circuit and embedded touch display panel
US11004416B2 (en) * 2017-12-26 2021-05-11 HKC Corporation Limited Shift register circuit and display panel using the same
CN108154835B (zh) * 2018-01-02 2020-12-25 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元、其驱动方法、栅极驱动电路及显示装置
CN107945765B (zh) * 2018-01-10 2021-03-26 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器电路及其控制方法、栅极驱动电路、显示装置
CN108257568B (zh) * 2018-02-01 2020-06-12 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器、栅极集成驱动电路、显示面板及显示装置
CN108053801B (zh) * 2018-02-12 2021-01-29 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元及其驱动方法、栅极驱动电路和显示装置
CN108364622B (zh) * 2018-04-24 2020-11-06 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元及其驱动方法、驱动装置和显示装置
KR102553677B1 (ko) * 2018-06-08 2023-07-07 엘지디스플레이 주식회사 게이트 구동회로 및 이를 포함하는 표시 장치
CN108806583B (zh) * 2018-07-05 2020-12-01 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元、驱动方法、移位寄存器和显示装置
CN108648686B (zh) * 2018-07-27 2021-01-26 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元及栅极驱动电路
CN108682398B (zh) * 2018-08-08 2020-05-29 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元、栅极驱动电路、显示装置及驱动方法
CN109166542B (zh) * 2018-09-26 2024-05-07 合肥鑫晟光电科技有限公司 移位寄存器单元及驱动方法、栅极驱动电路、显示装置
CN111937067B (zh) * 2018-11-14 2022-04-22 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器单元及驱动方法、栅极驱动电路、显示装置
CN110232887B (zh) * 2019-06-04 2021-11-26 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器及其驱动方法、栅极驱动电路和显示装置
KR102656688B1 (ko) 2019-07-16 2024-04-11 엘지디스플레이 주식회사 레벨 시프터부 및 이를 포함하는 표시장치
CN114026633B (zh) * 2020-04-07 2023-04-21 京东方科技集团股份有限公司 移位寄存器电路及其驱动方法、栅极驱动电路、显示装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004103226A (ja) * 2002-09-05 2004-04-02 Samsung Electronics Co Ltd シフトレジスタ及び該シフトレジスタを備えた液晶表示装置
JP2005222688A (ja) * 2004-02-06 2005-08-18 Samsung Electronics Co Ltd シフトレジスター及びこれを備えた表示装置
JP2005352455A (ja) * 2004-06-09 2005-12-22 Samsung Electronics Co Ltd 表示装置用駆動装置及び表示板
JP2006024350A (ja) * 2004-06-30 2006-01-26 Samsung Electronics Co Ltd シフトレジスタ、それを有する表示装置、及び、そのシフトレジスタの駆動方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3573490A (en) * 1968-12-30 1971-04-06 Texas Instruments Inc Capacitor pull-up reigister bit
US5859630A (en) * 1996-12-09 1999-01-12 Thomson Multimedia S.A. Bi-directional shift register
KR100917009B1 (ko) 2003-02-10 2009-09-10 삼성전자주식회사 트랜지스터의 구동 방법과 쉬프트 레지스터의 구동 방법및 이를 수행하기 위한 쉬프트 레지스터
KR101023726B1 (ko) * 2004-03-31 2011-03-25 엘지디스플레이 주식회사 쉬프트 레지스터
US6970530B1 (en) * 2004-08-24 2005-11-29 Wintek Corporation High-reliability shift register circuit
US7203264B2 (en) * 2005-06-28 2007-04-10 Wintek Corporation High-stability shift circuit using amorphous silicon thin film transistors
TW200735027A (en) * 2006-01-05 2007-09-16 Mitsubishi Electric Corp Shift register and image display apparatus containing the same
JP4912121B2 (ja) * 2006-02-23 2012-04-11 三菱電機株式会社 シフトレジスタ回路
JP5128102B2 (ja) * 2006-02-23 2013-01-23 三菱電機株式会社 シフトレジスタ回路およびそれを備える画像表示装置
JP4912000B2 (ja) * 2006-03-15 2012-04-04 三菱電機株式会社 シフトレジスタ回路およびそれを備える画像表示装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004103226A (ja) * 2002-09-05 2004-04-02 Samsung Electronics Co Ltd シフトレジスタ及び該シフトレジスタを備えた液晶表示装置
JP2005222688A (ja) * 2004-02-06 2005-08-18 Samsung Electronics Co Ltd シフトレジスター及びこれを備えた表示装置
JP2005352455A (ja) * 2004-06-09 2005-12-22 Samsung Electronics Co Ltd 表示装置用駆動装置及び表示板
JP2006024350A (ja) * 2004-06-30 2006-01-26 Samsung Electronics Co Ltd シフトレジスタ、それを有する表示装置、及び、そのシフトレジスタの駆動方法

Cited By (54)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007179660A (ja) * 2005-12-28 2007-07-12 Mitsubishi Electric Corp シフトレジスタ回路およびそれを備える画像表示装置
JP2007207411A (ja) * 2006-01-05 2007-08-16 Mitsubishi Electric Corp シフトレジスタ回路およびそれを備える画像表示装置
US8457272B2 (en) 2007-12-27 2013-06-04 Sharp Kabushiki Kaisha Shift register
WO2009084271A1 (ja) * 2007-12-27 2009-07-09 Sharp Kabushiki Kaisha シフトレジスタ
KR20220052877A (ko) * 2008-06-17 2022-04-28 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체장치
US11455968B2 (en) 2008-06-17 2022-09-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Driver circuit, display device, and electronic device
US11837189B2 (en) 2008-06-17 2023-12-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Driver circuit, display device, and electronic device
KR102603857B1 (ko) 2008-06-17 2023-11-21 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시장치
US8774347B2 (en) 2008-06-17 2014-07-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Driver circuit, display device, and electronic device
US11620962B2 (en) 2008-06-17 2023-04-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Driver circuit, display device, and electronic device
KR20230018500A (ko) * 2008-06-17 2023-02-07 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시장치
KR102492329B1 (ko) 2008-06-17 2023-01-27 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체장치
US9036767B2 (en) 2008-06-17 2015-05-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Driver circuit, display device, and electronic device
JP2018195371A (ja) * 2008-06-17 2018-12-06 株式会社半導体エネルギー研究所 駆動回路
US9311876B2 (en) 2008-06-17 2016-04-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Driver circuit, display device, and electronic device
US10121435B2 (en) 2008-06-17 2018-11-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Driver circuit, display device, and electronic device
JP2022003602A (ja) * 2008-06-17 2022-01-11 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
US10971103B2 (en) 2008-06-17 2021-04-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Driver circuit, display device, and electronic device
JP2010027194A (ja) * 2008-06-17 2010-02-04 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 駆動回路、表示装置、及び電子機器
US10665195B2 (en) 2008-06-17 2020-05-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Driver circuit, display device, and electronic device
JPWO2010050262A1 (ja) * 2008-10-30 2012-03-29 シャープ株式会社 シフトレジスタ回路および表示装置ならびにシフトレジスタ回路の駆動方法
JP2021036680A (ja) * 2009-03-26 2021-03-04 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP2010238323A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Casio Computer Co Ltd シフトレジスタ及び電子機器
US10622382B2 (en) 2009-09-10 2020-04-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and display device
JP2016105346A (ja) * 2009-09-10 2016-06-09 株式会社半導体エネルギー研究所 シフトレジスタ及び半導体装置
US9825059B2 (en) 2009-09-10 2017-11-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and display device
US9847352B2 (en) 2009-09-10 2017-12-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and display device
US10269833B2 (en) 2009-09-10 2019-04-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and display device
US10665612B2 (en) 2009-09-10 2020-05-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and display device
KR20210002114A (ko) * 2010-02-18 2021-01-06 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치 및 전자 장치
KR20180100731A (ko) * 2010-02-18 2018-09-11 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치 및 전자 장치
US10586505B2 (en) 2010-02-18 2020-03-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and electronic device
KR20200009141A (ko) * 2010-02-18 2020-01-29 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치 및 전자 장치
US11455969B2 (en) 2010-02-18 2022-09-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and electronic device
KR20180028553A (ko) * 2010-02-18 2018-03-16 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치 및 전자 장치
KR102139209B1 (ko) 2010-02-18 2020-07-29 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치 및 전자 장치
KR20200091949A (ko) * 2010-02-18 2020-07-31 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치 및 전자 장치
KR102197498B1 (ko) 2010-02-18 2021-01-04 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치 및 전자 장치
KR102070537B1 (ko) 2010-02-18 2020-01-29 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치 및 전자 장치
KR101897447B1 (ko) 2010-02-18 2018-09-10 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치 및 전자 장치
US10153303B2 (en) 2010-02-18 2018-12-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and electronic device
US11170728B2 (en) 2010-02-18 2021-11-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and electronic device
US11769462B2 (en) 2010-02-18 2023-09-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and electronic device
KR102376342B1 (ko) 2010-02-18 2022-03-18 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치 및 전자 장치
JP2013140665A (ja) * 2011-12-30 2013-07-18 Hydis Technologies Co Ltd ゲート駆動回路及びシフトレジスタ
KR20140129731A (ko) * 2013-04-30 2014-11-07 엘지디스플레이 주식회사 게이트 쉬프트 레지스터와 이를 이용한 표시장치
KR101992158B1 (ko) * 2013-04-30 2019-09-30 엘지디스플레이 주식회사 게이트 쉬프트 레지스터와 이를 이용한 표시장치
JP2015025853A (ja) * 2013-07-24 2015-02-05 Nltテクノロジー株式会社 走査回路、及び表示装置
CN103943057A (zh) * 2014-04-22 2014-07-23 深圳市华星光电技术有限公司 显示面板的驱动电路及其驱动方法
CN103943057B (zh) * 2014-04-22 2016-04-13 深圳市华星光电技术有限公司 显示面板的驱动电路及其驱动方法
CN105185320A (zh) * 2015-10-23 2015-12-23 京东方科技集团股份有限公司 一种goa单元、goa电路、显示驱动电路和显示装置
US10032416B2 (en) 2015-10-23 2018-07-24 Boe Technology Group Co., Ltd. GOA unit, Goa circuit, display driving circuit and display device
JP2019501414A (ja) * 2015-12-28 2019-01-17 深▲せん▼市華星光電技術有限公司Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. ゲート駆動回路及び表示装置
WO2022185143A1 (ja) * 2021-03-05 2022-09-09 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置、表示装置、及び電子機器

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