WO2015008435A1 - 分光装置 - Google Patents

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達男 伊藤
弘一 楠亀
亜旗 米田
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パナソニックIpマネジメント株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to a spectroscope for acquiring a simple absorption spectrum.
  • a lamp or a ceramic heater is used as a light source, and light emitted from a light source and transmitted through a sample or light reflected from a sample is dispersed by a diffraction grating or dispersed using interference. there were.
  • a spectroscopic device for detecting the presence or absence of a sample there has been one that sweeps the wavelength of a laser beam and scans the surface to be inspected to visualize a two-dimensional distribution of the sample (patent documents and non-patent documents) See etc.).
  • JP 2012-154854 A JP, 2010-25622, A
  • the present invention solves the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to provide a compact and inexpensive spectroscope.
  • the spectroscopy device concerning one mode of the present invention has the light of the 1st wavelength which has a predetermined absorptivity by a specific object, and the absorptivity by a specific object is more than the 1st wavelength
  • a light irradiation unit for irradiating the target with a small second wavelength light a first scattered light obtained by transmitting or reflecting the first wavelength light transmitted through the target; and a second transmitted light or the second wavelength light transmitted or reflected from the target
  • the light receiving unit that receives the two scattered lights, and the difference between the first scattered light and the second scattered light received by the light receiving unit generate information used to detect a specific object in the target And a measuring unit.
  • the spectroscope of the present invention can realize compact and inexpensive spectrometric measurement.
  • FIG. 1 is a block diagram of a spectroscopic device 10 in the first embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram showing a driving method of the spectroscopic device 10.
  • FIG. 3 is a flow chart for explaining the operation of the spectroscopic device 10.
  • FIG. 4 is a diagram showing an absorption spectrum of water.
  • FIG. 5 is a block diagram of the spectral device 20 in the second embodiment.
  • FIG. 6 is a block diagram of the spectral device 30 in the third embodiment.
  • FIG. 7 is a block diagram of the spectral device 40 in the fourth embodiment.
  • FIG. 8 is a block diagram of the spectral device 50 in the fifth embodiment.
  • FIG. 9 is a flowchart for explaining the operation of the spectroscopic device 50.
  • FIG. 9 is a flowchart for explaining the operation of the spectroscopic device 50.
  • FIG. 10 is a flowchart illustrating another operation of the spectroscopy device 50.
  • FIG. 11 is a flowchart illustrating another operation of the spectroscopy device 50.
  • FIG. 12 is a block diagram of the spectral device 60 in the sixth embodiment.
  • FIG. 13 is a block diagram of the spectral device 70 in the seventh embodiment.
  • FIG. 14 is a view for explaining an application example 1 of the spectroscopic device 70.
  • FIG. 15 is a view for explaining an application example 2 of the spectroscopic device 70.
  • FIG. 16 is a view for explaining an application example 3 of the spectroscopic device 70.
  • FIG. 17 is a view for explaining an application example 4 of the spectroscopic device 70.
  • FIG. FIG. 15 is a view for explaining an application example 1 of the spectroscopic device 70.
  • FIG. 15 is a view for explaining an application example 2 of the spectroscopic device 70.
  • FIG. 16 is a view for explaining an application example 3 of the
  • FIG. 18 is a view showing how irradiation light is scattered and reflected by an object and received.
  • FIG. 19 is a view showing the relationship between the water temperature and the light receiving intensity.
  • FIG. 20 is a view for explaining an application example 5 of the spectroscopy device 70.
  • FIG. 21 is a block diagram of the spectral device 80 in the eighth embodiment.
  • FIG. 22 is a block diagram of the spectral device 90 in the ninth embodiment.
  • FIG. 23 is a block diagram of the spectral device 100 in the tenth embodiment.
  • FIG. 24 is a diagram for explaining the prior art.
  • FIG. 24 is a view for explaining a measurement method using the conventional liquid leak detection device 301 described in Patent Document 1.
  • the liquid leak detection device 301 irradiates mid-infrared light 304 having a wavelength of 2 ⁇ m to 25 ⁇ m on the surface of the oil sealing equipment 302 while scanning.
  • the wavelength of the mid-infrared light 304 further irradiated is swept including the wavelength of 3.6 ⁇ m, which is the absorption wavelength of the oil component 303.
  • the irradiated mid-infrared light 304 is absorbed by the leaked oil 303a, and the intensity of the reflected scattered light is around 3.6 ⁇ m. descend. Therefore, in the conventional liquid leak detection device 301, it is detected that there is a leaked oil portion 303a by measuring the intensity of the reflected and scattered light (calculating the absorption spectrum).
  • Patent Document 2 and Non-Patent Document 1 disclose a discrimination device and a method of water content distribution of skin.
  • the light in the near infrared wavelength region is irradiated to the skin and the reflected light is imaged by the infrared camera, and the reflection intensity of the wavelength band that is easily absorbed by water and the wavelength band with little influence of the absorption of water.
  • a method is disclosed for visualizing the distribution of water content by arithmetically processing the reflection intensity.
  • Patent Document 1 has a problem that it takes time for measurement because it is necessary to sweep the wavelength. Also, although the reflected light is weak, there is no disclosure as to how to detect the weak light.
  • the present inventors focus on a specific wavelength at which the light absorptivity of the object to be detected is increased, and set the wavelength of the irradiation light used for the spectral processing based on the specific wavelength, thereby achieving a compact size.
  • a spectroscopy apparatus includes light of a first wavelength having a predetermined absorptivity by a specific object, and light of a second wavelength that the absorptivity of the specific object is smaller than the first wavelength.
  • the first wavelength can be set to 1.4 ⁇ m or more
  • the second wavelength can be set to 1.3 ⁇ m or less.
  • the present disclosure it is possible to generate information (for example, to calculate an absorption spectrum) to be used for detection of a specific object by an inexpensive solid-state light source without using an expensive configuration such as a diffraction grating.
  • information for example, to calculate an absorption spectrum
  • measurement time can be shortened.
  • the absorption wavelength (first wavelength) the presence or absence of a specific object with high accuracy can be detected by comparing detection results using a wavelength (second wavelength) other than the absorption wavelength.
  • the light irradiator comprises a first solid light source for emitting light of a first wavelength, a second solid light source for emitting light of a second wavelength, light of the first wavelength for the light receiver, and the first light source.
  • a light source controller for driving the first and second solid light sources can be configured to discriminate and receive light of two wavelengths. As described above, the use of a solid-state light source can realize the spectroscopy apparatus at low cost.
  • the light source control unit may drive the first solid light source and the second solid light source at different emission timings, or the first solid light source and the second solid light source may have different frequencies. And may be driven by modulation. Thereby, the light of the first wavelength and the light of the second wavelength can be easily distinguished.
  • the light receiving unit can receive the reflected light from the same position of the target, so the detection accuracy of the specific object Improve.
  • the measuring unit can also determine the presence or absence of a specific object in the target based on the ratio of the intensity of the first scattered light received by the light receiving unit to the intensity of the second scattered light. For example, if the intensity of the second scattered light is larger than the intensity of the first scattered light, the measuring unit may determine that the specific object is present in the target.
  • the first and second wavelengths are set such that the ratio of the intensity of the first scattered light received by the light receiving unit to the intensity of the second scattered light when the specific object is present is 10 or more. If set, the accuracy of judgment will be improved.
  • the temperature change amount of the absorptivity of the light of the first wavelength by the specific object is higher than the temperature change amount of the absorptivity of the light of the second wavelength by the specific object. If the first wavelength and the second wavelength are set to be 10 times or more, the temperature change can be grasped from the ratio of the intensity of the first scattered light to the intensity of the second scattered light.
  • the light irradiator may include a scanning processor that scans the light of the first wavelength and the light of the second wavelength in a two-dimensional direction to irradiate the target.
  • an output unit may be provided which outputs the presence or absence of a specific object in the target as information of a two-dimensional area based on the information generated by the scan by the scan processing unit and the measurement unit. According to this one aspect, the presence or absence of a specific object in the target can be detected as information of a two-dimensional area.
  • the scanning processor scans the entire target spatially roughly first and determines that a specific object is present, then the region in which the specific object is present may be scanned spatially densely next Alternatively, first, the entire target may be roughly scanned in time, and if it is determined that a specific object is present, then an area in which the specific object is present may be densely scanned in time. Such scanning enables efficient detection of an object on the target.
  • the camera further includes, for example, a camera for photographing the target, and the output unit displays information on a two-dimensional area regarding presence or absence of a specific object in the target, the two-dimensional information of the target photographed by the camera It may be superimposed on an image and output.
  • the second wavelength is set to the wavelength of invisible light in the wavelength range in which the camera has sensitivity, it will not affect people near the camera.
  • the distance measuring unit is further provided to measure the distance to the target, and the distance measuring unit is used as the information of the two-dimensional area on the presence or absence of the specific object in the target.
  • the measured distance information may be added and output as three-dimensional area information. According to this one aspect, it is possible to easily grasp the place on the target where the specific object is present in a three-dimensional shape.
  • the temperature measuring unit further includes, for example, a temperature measuring unit that measures the temperature of the target, and the output unit measures information of a two-dimensional area regarding the presence or absence of a specific object in the target It may be corrected and output according to the received temperature information. According to this aspect, the determination of the presence or absence of the specific object on the target can be appropriately corrected by the temperature.
  • FIG. 1 is a block diagram of a spectroscopic device 10 in the first embodiment.
  • the present spectroscope 10 irradiates a predetermined light to an object to be inspected or a surface to be detected (hereinafter referred to as a target), and detects the light based on scattered light (reflected light or transmitted light) received from the target. Information is generated to help determine whether or not the object 16 is to be present at the target.
  • the spectroscopic apparatus 10 shown in FIG. 1 includes solid light sources 11a and 11b, a light source control unit 12, lenses 13a and 13b, a wavelength selective light branching element 14, a front light monitor 15, a light receiving unit 17, and a measurement unit. And 18).
  • the solid state light source 11a is a light source that emits light of wavelength ⁇ 1 as linearly polarized light.
  • the solid-state light source 11 b is a light source that emits light of wavelength ⁇ 2 as linearly polarized light.
  • the solid light sources 11a and 11b are disposed such that the polarization plane of the light emitted from the solid light source 11a and the polarization plane of the light emitted from the solid light source 11b are parallel to each other.
  • the wavelength ⁇ 1 and the wavelength ⁇ 2 are different values, and for example, the object 16 is difficult to absorb at a wavelength ⁇ 1 where the object 16 easily absorbs (the absorptivity is large) is “ ⁇ 1”
  • the wavelength is set to “ ⁇ 2”.
  • the solid state light sources 11a and 11b light emitting diodes, semiconductor lasers, super luminescent diodes or the like can be used. In the case of using a light emitting diode or a super luminescent diode, the wavelength may be narrowed by using a filter because the emission wavelength width is wide.
  • the number of solid state light sources is described as two in the present embodiment, the present invention is not limited to this. In the spectrometer 10 in the present embodiment, at least two solid light sources may be used, and three or more solid light sources may be used. In that case, a wavelength selective light branching element 14 and lenses 13a and 13b to be described later may be added similarly.
  • the light source control unit 12 drives (controls) the solid-state light sources 11 a and 11 b so that the light receiving unit 17 can separate and receive the light of the wavelength ⁇ 1 and the light of the wavelength ⁇ 2.
  • the light source control unit 12 may alternately drive the solid state light sources 11a and 11b with the same frequency and shift the phase (phase (a) in FIG. 2), and the solid state light sources 11a and 11b may be different. It may be modulated in frequency and driven in phase (FIG. 2b).
  • the degree of isolation of the lock-in amplifier can be made higher than shifting the phase at the same modulation frequency as shown in (a) of FIG. It will be easier.
  • the light source control unit 12 may modulate the solid-state light sources 11a and 11b at different frequencies and alternately drive them with different phases, or may not necessarily perform modulation when the phases are shifted.
  • the light receiving unit 17 can discriminate and receive the light of the wavelength ⁇ 1 and the light of the wavelength ⁇ 2
  • the detailed driving method of the solid-state light sources 11a and 11b is not particularly limited.
  • the lens 13a receives the light of wavelength ⁇ 1 emitted from the solid state light source 11a, converts the light into substantially parallel light, and outputs the light to one surface of the wavelength selective light branching element 14.
  • the lens 13 b receives the light of the wavelength ⁇ 2 emitted from the solid state light source 11 b, converts the light into substantially parallel light, and outputs the parallel light to the other surface of the wavelength selective light branching element 14.
  • the wavelength selective light branching element 14 has a function of transmitting light of wavelength ⁇ 1 and reflecting light of wavelength ⁇ 2. Therefore, the wavelength selective light branching element 14 transmits substantially parallel light of wavelength ⁇ 1 input from the lens 13a to one surface, and outputs it from the other surface. Further, the wavelength selective light branching element 14 reflects the substantially parallel light of the wavelength ⁇ 2 input from the lens 13b to the other surface, changes the angle, and outputs the light from the other surface.
  • a dichroic mirror, a dichroic prism, or the like can be used for the wavelength selective light branching element 14.
  • the solid-state light sources 11a and 11b, the lenses 13a and 13b, and the wavelength selective light branching element 14 described above are reflected by the optical path of the light of wavelength ⁇ 1 transmitted through the wavelength selective light branching element 14 and the wavelength selective light branching element 14.
  • the light paths of the light of the wavelength ⁇ 2 are arranged to substantially coincide with each other.
  • the light of the wavelength ⁇ 1 and the light of the wavelength ⁇ 2 whose optical paths substantially coincide with each other become the output light of the light separating apparatus 10 and are irradiated to the target.
  • the front light monitor 15 monitors the intensities of the light of the wavelength ⁇ 1 slightly reflected by the wavelength selective light branching element 14 and the light of the wavelength ⁇ 2 slightly transmitted, and feeds back the result of the monitoring to the light source control unit 12.
  • the feedback light intensity is used to control the outputs of the solid state light sources 11a and 11b in the light source control unit 12 to be constant.
  • the light receiving unit 17 is a target obtained by irradiating the target with the light of the wavelength ⁇ 1 and the light of the wavelength ⁇ 2 (the output light of the spectroscopic device 10) of which the optical paths output from the wavelength selective light branching element 14 substantially coincide. Receives scattered light from the Then, the light receiving unit 17 outputs the received light to the measuring unit 18.
  • the measuring unit 18 sequentially receives the light received by the light receiving unit 17 and a drive signal indicating the timing at which the solid-state light sources 11 a and 11 b are driven from the light source control unit 12. Then, the measuring unit 18 irradiates the target with the light of wavelength ⁇ 1, the intensity of the light received by the light receiving unit 17 with the scattered light, and the light of the wavelength ⁇ 2 with the light receiving unit 17.
  • the intensity of the light received at step S1 is determined, and information useful for determining whether the object 16 is present at the target is generated based on the intensity of light.
  • the irradiated light is a target based on the method of alternately driving the solid light source 11a and the solid light source 11b illustrated in FIG.
  • the operation of the spectrometer 10 for measuring the reflected light will be described.
  • light of wavelength ⁇ 1 is emitted from the solid-state light source 11a by the light source control unit 12 and is irradiated to the target (step S301).
  • the light receiving unit 17 detects the reflected light from the target irradiated with the light of the wavelength ⁇ 1 (step S302).
  • the measuring unit 18 stores the detected intensity of the reflected light as a first amount of reflected light (step S303).
  • the light of wavelength ⁇ 1 from the solid state light source 11a is emitted for a predetermined period.
  • step S 304 light of wavelength ⁇ 2 is emitted from the solid-state light source 11 b by the light source control unit 12, and the target is irradiated.
  • the light receiving unit 17 detects the reflected light from the target irradiated with the light of the wavelength ⁇ 2 (step S305).
  • the measuring unit 18 stores the detected intensity of the reflected light as a second amount of reflected light (step S306).
  • the light of wavelength ⁇ 2 from the solid state light source 11b is emitted for a predetermined period.
  • the measuring unit 18 discretely calculates the absorption spectrum of the target based on the stored first and second reflected light amounts and the drive signals of the solid light sources 11 a and 11 b obtained from the light source control unit 12. (Step S307).
  • the measuring unit 18 is based on the assumption that the wavelength of the irradiated light is a value close to the wavelength of the light absorbed by the target.
  • An absorption spectrum can be calculated. That is, the absorption spectrum discretely obtained for the light of the wavelength ⁇ 1 and the light of the wavelength ⁇ 2 is information useful for determining whether or not the object 16 to be detected is present in the target.
  • each of the light of wavelength ⁇ 1 and the light of wavelength ⁇ 2 is irradiated to the target plural times to measure plural light intensities, and the measured plural light intensities
  • the first reflected light quantity and the second reflected light quantity may be determined from the sum, average, distribution or the like, or the light intensity measured by one target irradiation may be determined as the first reflected light quantity and the second reflected light quantity.
  • required this discretely, if the absorption wavelength of the object 16 is known in advance, and the wavelength which is easy to absorb is set to the one which is easy to absorb to the other by wavelength ⁇ 1 or wavelength ⁇ 2. It is also possible to further determine whether the object 16 is present at the target from the absorption spectrum (step S308).
  • FIG. 4 is a diagram for explaining the absorption wavelength of water.
  • the target for example, the surface to be detected such as a floor or a wall
  • the light of wavelength ⁇ 1 and the light of wavelength ⁇ 2 are both hardly absorbed by the target and scattered and reflected.
  • the ratio to the amount of reflected light is “a value close to 1”.
  • the light of wavelength ⁇ 1 when water is present in the target, the light of wavelength ⁇ 1 is largely absorbed by water, but the light of wavelength ⁇ 2 is scattered and reflected without much absorption even by water, so the light of wavelength ⁇ 1 is irradiated to the target
  • the product of the light intensity and the light receiving sensitivity of the light of the wavelength ⁇ 1 in the light receiving unit 17 is the product of the light intensity with which the light of the wavelength ⁇ 2 is irradiated to the target and the light receiving sensitivity of the light of the wavelength ⁇ 2 in the light receiving unit 17
  • the ratio of the first reflected light amount to the second reflected light amount becomes “a value of 10 or more”.
  • the presence or absence of water can be determined from the ratio of the first reflected light amount to the second reflected light amount.
  • the case of determining whether or not the object 16 exists in the target based on the scattered light reflected by the target has been described.
  • the light transmitted through the target also has a difference due to the difference in light absorption depending on the wavelength, it is also possible to determine whether the object 16 is present in the target based on the scattered light transmitted through the target. In this case, it can be realized by replacing “reflection” in the flowchart shown in FIG. 3 with “transmission” and processing.
  • the spectroscopic device 10 in the first embodiment light having different wavelengths is emitted from the two solid state light sources 11a and 11b to the target, and scattered light from the target is received for each wavelength.
  • the absorption spectrum of the target can be discretely obtained.
  • the calculation of the absorption spectrum can be realized inexpensively with only the solid-state light source without using a high-priced device such as a diffraction grating, and since it is not necessary to sweep the wavelength, the measurement time can be shortened.
  • the spectroscopic device 10 in addition to the light of the wavelength that the object 16 easily absorbs (the amount of absorption is large), the light of the wavelength other than the absorption wavelength that is difficult to absorb (the amount of absorption is small) is used.
  • the shape of the surface, the surface roughness, and the change in light quantity (variation) due to dirt can be corrected by the detection result based on the wavelength that is difficult to absorb (the amount of absorption is small). Therefore, according to the present method using a plurality of wavelengths, the presence or absence of the object 16 can be detected more accurately than in the case where only the wavelength that the object 16 easily absorbs is used.
  • the spectroscopic device 10 by performing control to drive the solid-state light sources 11a and 11b alternately, it is possible to obtain an absorption spectrum using a single light receiving unit 17, and the device can be miniaturized. it can.
  • the spectroscope device 10 by using the solid state light sources 11a and 11b, high-speed modulation becomes possible unlike the lamp light source and the like.
  • the modulation signal used for driving is input to the measurement unit 18 as a reference signal to amplify weak scattered light from the target by a known lock-in amplifier method and perform measurement. It is possible to increase the signal to noise ratio. Thereby, stable measurement can be realized even in an environment with disturbance light.
  • the reference signal for the lock-in amplifier can also be acquired from the forelight monitor 15 and input to the measurement unit 18.
  • the optical paths of the plurality of lights emitted from the solid state light sources 11a and 11b can be made substantially coincident (coaxialized) by the wavelength selective light branching element 14, and therefore different in the same position in the target It can emit light of a wavelength.
  • the plurality of lights emitted from the plurality of solid state light sources can be made to substantially coincide with each other while the number of solid state light sources is increased in a scalable manner, the scalability of the wavelength can be ensured.
  • the plurality of solid light sources 11a and 11b have been described as separated separate light sources.
  • the plurality of solid state light sources 11a and 11b can be mounted on one semiconductor chip (by providing a plurality of emitters, etc.) and can be configured, and the wavelength can be changed by external control. It may be composed of a semiconductor laser.
  • the optical monitor 15 may be omitted.
  • the lenses 13a and 13b may be omitted from the configuration of the above-described spectroscope 10.
  • the wavelength selective light branching element 14 may be omitted.
  • the solid state light sources 11a and 11b can respectively irradiate the light receiving unit 17 so that the light of the wavelength ⁇ 1 and the light of the wavelength ⁇ 2 can be received separately, the light source control unit 12 can be omitted. In this sense, it can be said that the solid light sources 11a and 11b are the minimum configuration of the claimed "light emitting unit".
  • FIG. 5 is a block diagram of the spectral device 20 in the second embodiment.
  • the spectroscopy apparatus 20 includes solid light sources 11a and 11b, a light source control unit 12, lenses 13a and 13b, a wavelength selective light branching element 14, a forelight monitor 15, a light receiving unit 17, and a measuring unit 18. And a polarization beam splitter 21.
  • the present spectrometer 20 differs from the above-described spectrometer 10 in the configuration of the polarization beam splitter 21.
  • this different configuration will be described, and the description of the other same configuration will be omitted using the same reference numerals.
  • the polarization beam splitter 21 is one configuration of the claimed “light emitting unit”, and is provided at the output destination of the wavelength selective light branching element 14.
  • the polarization beam splitter 21 transmits the light input from the solid-state light sources 11a and 11b via the wavelength selective light branching element 14 and outputs the light as a P-polarization component light to the target, and also the scattered light input from the target Are arranged so as to reflect the s-polarized light component of s.
  • the light which enters the inside of the target and is absorbed and scattered and reflected becomes random light including both the P-polarization component and the S-polarization component.
  • the light reflected by the surface of the target is reflected as it is the light of the P polarization component. Therefore, among the light input from the target to the polarization beam splitter 21 again as the scattered light, the S-polarized light component generated by being absorbed and scattered and reflected inside the target is reflected by the polarization beam splitter 21 and the light receiving portion The light is received at 17.
  • the light of P-polarization component reflected on the surface of the target is not reflected by the polarization beam splitter 21 but transmitted, so it is not received by the light receiving unit 17.
  • the spectroscopic device 20 in the second embodiment only the light of the S polarization component reflected by the polarization beam splitter 21 among the scattered light from the target is received by the light receiving unit 17. Thereby, light of a component reflected on the surface without being absorbed by the target can be removed, so measurement with a high signal-to-noise ratio can be realized.
  • the spectroscopic device 20 is configured to input light (scattered reflected light) reflected from the target, not light transmitted through the target, to the polarization beam splitter 21 so that the light receiving unit 17 is the same as the solid light sources 11a and 11b. As it can be placed on the side, the device can be miniaturized.
  • FIG. 6 is a block diagram of the spectral device 30 in the third embodiment.
  • the spectroscopic device 30 includes solid light sources 11 a and 11 b, a light source control unit 12, lenses 13 a and 13 b, a wavelength selective light branching element 14, a front light monitor 15, a light receiving unit 17, and a measuring unit 18.
  • a perforated lens 31 and a half mirror 32 are provided.
  • the present spectroscope 30 differs from the above-described spectroscope 10 in the configurations of the perforated lens 31 and the half mirror 32.
  • this different configuration will be described, and the description of the other same configuration will be omitted using the same reference numerals.
  • the half mirror 32 and the perforated lens 31 are one configuration of the claimed “light emitting unit”, and are provided in that order at the output destination of the wavelength selective light branching element 14.
  • the half mirror 32 transmits the light input from the solid-state light sources 11 a and 11 b through the wavelength selective light branching element 14 and outputs the light to the perforated lens 31, and outputs the light input from the perforated lens 31 to the light receiving unit 17 To be arranged.
  • the perforated lens 31 is a condenser lens in which a hole is formed, and light transmitted through the half mirror 32 is allowed to pass through the hole and is output to the target, and scattered light input from the target is condensed by the lens to be half It is arranged to be returned to the mirror 32.
  • the light emitted from the solid state light sources 11a and 11b passes through the hole portion of the perforated lens 31 through the wavelength selective light branching element 14 and the half mirror 32, and is irradiated to the target.
  • the scattered light reflected from the target is condensed in a wide range by the perforated lens 31, and a part is output to the light receiving unit 17 by the half mirror 32.
  • the spectral device 30 in the third embodiment scattered light from the target can be received over a wide range by using the perforated lens 31, and the amount of received light is increased. It becomes possible to accurately calculate the target absorption spectrum and detect the presence or absence of the object 16.
  • the half mirror 32 it is also possible to use the polarization beam splitter 21 described in the second embodiment.
  • FIG. 7 is a block diagram of the spectral device 40 in the fourth embodiment.
  • the spectroscopy apparatus 40 includes solid light sources 11a and 11b, a light source control unit 12, lenses 13a and 13b, a wavelength selective light branching element 14, a front light monitor 15, a light receiving unit 17, and a measuring unit 18. And a parabolic mirror 41.
  • the spectroscopy apparatus 40 differs from the spectroscopy apparatus 10 in the configuration of the parabolic mirror 41.
  • this different configuration will be described, and the description of the other same configuration will be omitted using the same reference numerals.
  • the parabolic mirror 41 is a configuration of the claimed “light emitting unit”, and is a concave mirror whose reflecting surface is a paraboloid formed by rotating a parabola around an axis.
  • the parabolic mirror 41 is disposed such that the scattered light reflected from the target is collected in a wide range, and the light is focused by the light receiving unit 17.
  • the parabolic mirror 41 illustrated in FIG. 7 is an off-axis parabolic mirror.
  • the spectral device 40 in the fourth embodiment scattered light from the target can be received over a wide range by using the parabolic mirror 41, and the amount of light received is increased. It becomes possible to accurately calculate the discrete absorption spectrum and detect the presence or absence of the object 16.
  • the parabolic mirror 41 is a reflective optical element, it is not necessary to consider the influence of the chromatic aberration due to the wavelength difference of the solid-state light source as compared with the case of using a lens.
  • the spectroscopy apparatus has been described which calculates the discrete absorption spectrum and detects the presence or absence of the object 16 at one point with respect to the target.
  • the fifth embodiment and thereafter there will be described a spectroscope which performs calculation of discrete absorption spectrum in a target and detection of the presence or absence of an object 16 in a two-dimensional manner in a wide region.
  • FIG. 8 is a block diagram of the spectral device 50 in the fifth embodiment.
  • the spectroscopy apparatus 50 includes solid light sources 11a and 11b, a light source control unit 12, lenses 13a and 13b, a wavelength selective light branching element 14, a front light monitor 15, a light receiving unit 17, and a measuring unit 18.
  • a scanning unit 51, a scan driving unit 52, and an output unit 53 are provided.
  • the spectroscopy apparatus 50 differs from the spectroscopy apparatus 10 in the configurations of the scanning unit 51, the scan driving unit 52, and the output unit 53. These different configurations are part of the claimed "light emitting part". Hereinafter, this different configuration will be described, and the description of the other same configuration will be omitted using the same reference numerals.
  • the scanning unit 51 is an optical component for inputting light emitted from the solid-state light sources 11a and 11b, scanning the reflected light in a two-dimensional direction, and irradiating the target with the light.
  • the scanning unit 51 is disposed on the optical path of the light of the wavelength ⁇ 1 and the light of the wavelength ⁇ 2.
  • a well-known galvano mirror, a polygon mirror, a MEMS mirror driven by an electromagnetic force or an electrostatic force, an acousto-optic deflector or the like can be used.
  • the scan drive unit 52 controls the scan angle of the scan unit 51 so that the light irradiated to the target is scanned in a two-dimensional direction, and outputs the scan angle to the measurement unit 18.
  • the measuring unit 18 having acquired the scanning angle from the scanning drive unit 52 has a desired resolution or sampling of the scanning angle (scanning point) of the scanning unit 51 and the intensity (reflected light amount) of the reflected light detected by the light receiving unit 17.
  • the two-dimensional correspondence is stored based on the rate and the like.
  • the two-dimensional information stored in the measurement unit 18 is output to the output unit 53.
  • the scan unit 51 and the scan drive unit 52 constitute the claimed "scan processing unit".
  • the output unit 53 is an interface (for example, a display, a printer, a speaker, or the like) that presents the two-dimensional information given from the measurement unit 18 as an image, a sound, or the like.
  • the output unit 53 may be omitted if it is not necessary to visually or aurally present the two-dimensional information given from the measurement unit 18 to the user of the spectral device 50 or the like.
  • FIG. 9 is a diagram showing an operation flowchart of the spectral device 50 provided with the scan unit 51, the scan drive unit 52, and the output unit 53.
  • the operation of the spectroscope 50 for measuring the light reflected by the target based on the method of alternately driving the solid light source 11a and the solid light source 11b will be described. Do.
  • light of wavelength ⁇ 1 is emitted from the solid-state light source 11a by the light source control unit 12 and is input to the scanning unit 51 via the lens 13a and the wavelength selective light branching element 14, and the light is irradiated from the scanning unit 51 to the target.
  • the scan drive unit 52 controls the scan angle of the scan unit 51 to irradiate light of wavelength ⁇ 1 to one scan point of the target (step S901).
  • the light receiving unit 17 detects the reflected light from one scanning point of the target irradiated with the light of the wavelength ⁇ 1 (step S902).
  • the measuring unit 18 stores the intensity of the reflected light (first reflected light amount) detected by the light receiving unit 17 in association with the scanning angle of the scanning unit 51 (step S903).
  • the processes in steps S901 to S903 are repeated until the scanning of the entire target (all scanning points) is completed (step S904).
  • step S905 When scanning with light of wavelength ⁇ 1 is completed, light of wavelength ⁇ 2 is then emitted from the solid-state light source 11b by the light source controller 12 and input to the scanning unit 51 via the lens 13b and the wavelength selective light branching element 14 Light is emitted from the unit 51 to the target.
  • the scan drive unit 52 controls the scan angle of the scan unit 51 to irradiate light of wavelength ⁇ 2 to one scan point of the target (step S905).
  • the reflected light from one scanning point of the target irradiated with the light of wavelength ⁇ 2 is detected in the light receiving unit 17 (step S 906).
  • the measuring unit 18 stores the intensity of the reflected light (second reflected light amount) detected by the light receiving unit 17 in association with the scanning angle of the scanning unit 51 (step S 907).
  • the processes in steps S905 to S907 are repeated until the scanning of the entire target (all scanning points) is completed (step S908).
  • the scanning procedure of the light of the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2 is not particularly limited here.
  • the ratio of the first reflected light quantity to the second reflected light quantity is calculated for each scanning angle (step S909). Then, the ratio calculated for each scanning angle is, for example, processed into two-dimensional image data or the like in which the display mode is changed according to the ratio and then given to the output unit 53 and displayed on the screen (step S910).
  • two solid-state light sources 11a and 11b scan light of different wavelengths using the scanning unit 51 and scan the target to emit light from the target Is received by the light receiving unit 17 for each wavelength. Therefore, the spatial distribution of the target can be imaged by comparing the amounts of light received by the measuring unit 18. That is, the presence position of the object 16 on the target can be detected.
  • the scanning interval of the scanning unit 51 can be set arbitrarily.
  • the entire target may be roughly scanned first at a wide scan interval or a long time interval, and then a narrow scan interval or a short time interval may be used to scan in detail the area where the presence of the object 16 is found.
  • scanning of the entire target may be started first at a wide scanning interval or a long time interval, and switching to a scanning at a narrow scanning interval or a short time interval from when the presence of the object 16 is found. Thereby, the detection of the existing position of the object 16 in the entire target can be efficiently performed.
  • the scanning unit 51 preferably performs two-dimensional scanning, but may perform only one-dimensional scanning.
  • the scanning unit 51 performs only one-dimensional scanning, it is possible to obtain a two-dimensional distribution as a result by moving the target or the spectroscopic device 50 in the direction orthogonal to the one-dimensional scanning direction.
  • the wavelength selective light branching element 14 is used. Solid-state light sources 11a and 11b, lenses 13a and 13b, and wavelength selectivity so that the optical path of the transmitted light of wavelength ⁇ 1 and the optical path of the light of wavelength ⁇ 2 reflected by the wavelength selective light branching element 14 substantially coincide with each other. It is necessary that the light branching elements 14 be disposed respectively.
  • the scan control or the acquired data may be shifted by the time (timing) of the positional deviation to correct this positional deviation by calculating
  • the two light paths can be approximately coincident on the target. Therefore, in the spectroscopic apparatus provided with the configuration of the scanning unit 51 and the scanning driving unit 52 in the following embodiments, the two optical paths may be deviated within the range in which the positional deviation can be absorbed by scanning control or calculation.
  • the processing unit may be a plurality of scanning points (one scanning line). By reducing the processing unit in this manner, the amount of image data to be temporarily stored for image display (ratio calculation) may be only for one or a plurality of scanning points, so the memory capacity is small. You can get the effect of
  • Step S1101 when the ratio between the first reflected light amount and the second reflected light amount is calculated (step S609), the calculated ratio is compared with a predetermined threshold X.
  • Step S1101 a ratio which is equal to or greater than the threshold X is displayed as it is in the output unit 53, and a ratio less than the threshold X is replaced with a predetermined value Y and displayed in the output unit 53 (step S1102).
  • the area in the target in which the ratio is replaced by the predetermined value Y may be stored in the measuring unit 18, the output unit 53, or the like.
  • the threshold value X is set between the ratio by the object 16 and the ratio by the other substance having characteristics close to the object 16 or between the ratio by the object 16 and the ratio in the non-process area If so, it is possible to display an image of the other substance which is erroneously detected or the non-processing target area in a display form based on the predetermined value Y.
  • the threshold value X may be set in advance before execution of the spectral processing, or may be set while confirming the initial image displayed after the execution of the spectral processing.
  • the ratio in the non-processing target area may be acquired by performing spectral processing on the target in which the object 16 is not present in advance.
  • the predetermined value Y may be a value other than the range in which the ratio of the first reflected light quantity to the second reflected light quantity with respect to the object 16 can be taken.
  • the maximum value or the minimum value that can be displayed on the output unit 53 can be selected as the predetermined value Y.
  • the threshold X is set between the first amount of reflected light by the object 16 and the first amount of reflected light by another material having characteristics close to the object 16, or the first amount of reflected light by the object 16 is not to be processed.
  • step S1101 The procedure shown in FIG. 11 in which the ratio is compared with the threshold X (step S1101) and the procedure in which only the ratio less than the threshold X is replaced with the predetermined value Y (step S1102) are the operation flowchart of FIG. The process is equally applicable.
  • FIG. 12 is a block diagram of the spectral device 60 in the sixth embodiment.
  • the spectroscopic device 60 includes solid light sources 11a and 11b, a light source control unit 12, lenses 13a and 13b, a wavelength selective light branching element 14, a front light monitor 15, a light receiving unit 17, and a measuring unit 18.
  • a scanning unit 51, a scanning drive unit 52, an output unit 53, and a half mirror 61 are provided.
  • the spectroscopic apparatus 60 is different from the spectroscopic apparatus 50 in that the configuration of the half mirror 61 is provided, and the light receiving unit 17 is disposed on the same side as the solid light sources 11a and 11b.
  • this different configuration will be described, and the description of the other same configuration will be omitted using the same reference numerals.
  • the half mirror 61 transmits light input from the solid-state light sources 11 a and 11 b through the wavelength selective light branching element 14 and outputs the light to the scanning unit 51, and outputs light input from the scanning unit 51 to the light receiving unit 17. Is arranged.
  • the light emitted from the solid state light sources 11a and 11b is input to the scanning unit 51 via the wavelength selective light branching element 14 and the half mirror 61, and is irradiated to the target while being scanned.
  • the scattered light returning from the target to the scanning unit 51 is reflected by the scanning unit 51 and the half mirror 61 and detected by the light receiving unit 17.
  • the field of view of the light receiving unit 17 follows the direction in which light is scanned by the scanning unit 51, so light reception due to the influence of the scanning angle It becomes possible to reduce the amount change. Further, since the light receiving unit 17 can be disposed on the same side as the solid light sources 11a and 11b, the spectroscopic device 60 can be miniaturized.
  • a perforated lens and a parabolic mirror may be used. If a perforated lens or a parabolic mirror is used, scattered light from the target reflected by the scanning unit 51 can be received over a wide range, and the effect of increasing the amount of received light can also be obtained.
  • FIG. 13 is a block diagram of the spectral device 70 in the seventh embodiment.
  • the spectroscopy apparatus 70 includes solid light sources 11a and 11b, a light source control unit 12, lenses 13a and 13b, a wavelength selective light branching element 14, a front light monitor 15, a light receiving unit 17, and a measuring unit 18.
  • a scanning unit 51, a scanning driving unit 52, an output unit 53, and a camera 71 are provided.
  • the spectroscopic device 70 differs from the spectroscopic device 60 in the configuration of the camera 71.
  • this different configuration will be described, and the description of the other same configuration will be omitted using the same reference numerals.
  • the camera 71 is an imaging element having sensitivity in a band of 0.3 ⁇ m to 1.0 ⁇ m, and is arranged so as to be able to capture the whole or a part of the target.
  • an imaging element used for this camera 71 an imaging element such as a CCD using silicon or a CMOS can be used.
  • a wavelength near 1.45 ⁇ m preferably a wavelength of 1.2 ⁇ m or more, which is the absorption peak of water
  • the wavelength ⁇ 1 of light emitted from the solid-state light source 11a is used as the wavelength ⁇ 1 of light emitted from the solid-state light source 11a.
  • the wavelength ⁇ 2 of the light emitted from the solid state light source 11b a wavelength of 0.3 ⁇ m to 1.0 ⁇ m having sensitivity to the camera 71 is used.
  • the presence position of water can be detected using the light of the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2, and further, the actual image of the target can be photographed using the light of the wavelength ⁇ 2.
  • the absorption coefficient between light of wavelength ⁇ 1 and light of wavelength ⁇ 2 for water Ratio can be approximately doubled or more.
  • the distribution image of the object 16 (for example, water) is superimposed on the visible light image of the target surface captured by the camera 71 and displayed by the output unit 53 It becomes possible. As a result, it is possible to easily display to the observer where the object 16 is located on the target.
  • the wavelength ⁇ 2 an effect of facilitating alignment when superimposing the distribution image of the object 16 on the visible light image of the target surface captured by the camera 71 can be obtained.
  • the wavelength of invisible light for example, 0.7 ⁇ m or more
  • the wavelength ⁇ 2 even if there is a person at the target, the person's attention may be drawn. It is possible to know the distribution of the object 16 without exerting an influence such as surprising the subject.
  • the spectral device 70 of the seventh embodiment can be used in various situations and can be applied. For example, assuming a floor surface on which a person walks as a target, it is conceivable to detect water spilled on the floor surface. In such a scene, the location of the floor surface where the water spills is specified, and the detected image of water is superimposed on the image of the floor surface and displayed on the output unit 53 so that the observer of the output unit 53 receives water. Indicate the presence and location of As a result, the observer can take measures to prevent the person from slipping at the place where the water spills.
  • the communication of the cleaning position may be the entire monitoring area (target) of the spectroscopic device 70 or a part including the leakage position of water.
  • the spectroscope 70 will be described.
  • FIG. 14 is a view for explaining an application example 1 of the spectroscopic device 70.
  • the spectral device 70 is provided on the top of the display 141.
  • the display 141 is a display device having a function capable of displaying the information acquired by the spectroscopic device 70 as an image.
  • the spectroscope 70 two-dimensionally scans the face of the user 142 standing in front of the display 141 as shown in (a) of FIG.
  • the face of the subject is photographed with a camera 71.
  • FIG. 14B is a view schematically showing a state in which the face of the user 142 is two-dimensionally scanned by the scanning line 143. Then, the spectral device 70 superimposes the detected part having moisture on the captured face image and displays the superimposed image on the display 141.
  • the display 141 may simply display only portions with and without water, or the ratio difference between the scattered light of wavelength ⁇ 1 and the scattered light of wavelength ⁇ 2 appearing due to the difference in the water content is a gray-scale image By showing as, it may be possible to display a place with a lot of moisture or a little place.
  • the water content distribution of the face of the user 142 since the water content distribution of the face of the user 142 is known, it can be used for confirmation of the effect of the cosmetic product, confirmation of the health condition, and the like. Not only the face of the user 142 but also the water content distribution of each part of the body can be measured.
  • the spectroscope 70 and the display 141 may be separated.
  • the spectroscope 70 may be installed near a door or in a bathroom, and the display 141 may be installed in a living room.
  • the water distribution measured by the spectroscopic device 70 is stored by a storage device (not shown), it is possible to display a change over time on the display 141. In that case, it is possible to display two-dimensional images side by side in time series, or to display a time-dependent change of the amount of water at any one point of the skin, for example, only the middle of the forehead. .
  • a storage device not shown
  • FIG. 15 is a view for explaining an application example 2 of the spectroscopic device 70.
  • the spectroscopic device 70 is provided on the top of the wall surface 157.
  • a non-liquid container 152 and a liquid container 153 are arranged in a display shelf 154 placed on the floor surface 155.
  • the object 16 is a liquid present on the floor surface 155, such as spilled water.
  • the spectroscope 70 two-dimensionally scans the space formed by the wall surface 157 and the floor surface 155 including the display shelf 154 (showing the scanning line 151 schematically), and the location where the object 16 such as water exists is The space is photographed by the camera 71 while being detected.
  • the output unit 53 of the spectroscopic device 70 has a mask function, and changes the color of a part of the displayed image, encloses it with a frame, lowers the luminance, or does not display it by the operation of the observer or the like. Etc. can be masked.
  • FIG. 16 is a view for explaining an application example 3 of the spectroscopic device 70.
  • the spectral device 70 is provided at the top of a pillar 161 provided at the periphery of the road 164.
  • the object 16 is a substance present on the road 164, such as water generated by rainfall, flooding, spilled oil, or the like.
  • the spectroscope 70 two-dimensionally scans the road 164 (showing the scanning line 162 schematically), detects a place where the object 16 such as water or oil is present, and photographs the road 164 with the camera 71.
  • the object 16 such as water or oil on the road 164 around the pillar 161 can be detected by the spectroscopic device 70 provided in the pillar 161, so that the object 16 obstructs normal traffic. Presence can be detected promptly.
  • a wavelength near 3.6 ⁇ m may be used as the wavelength ⁇ 1 of the light emitted from the solid-state light source 11a.
  • FIG. 17 is a view for explaining an application example 4 of the spectroscopic device 70.
  • a spectroscope 70 is attached to the front of a vehicle 171.
  • the object 16 is a substance present on the road 174, such as water pumped out, oil spilled, frozen ice, etc.
  • the spectroscope 70 two-dimensionally scans the road 174 (showing the scanning line 172 schematically), detects a place where the object 16 such as water or oil is present, and photographs the road 174 with the camera 71.
  • the spectral device 70 may scan in a direction orthogonal to the traveling direction of the vehicle one-dimensionally.
  • the object 16 such as water, ice, oil and the like on the road 174 can be constantly detected by the spectroscopic device 70 provided in the vehicle 171, the presence of the object 16 obstructing normal traffic Can be detected promptly. Further, since the spectroscopic device 70 is attached to the vehicle 171 itself, the object 16 present in front of the vehicle can be detected promptly even at various places other than the road 174.
  • the absorption peak of light shifts to the long wavelength side.
  • ice absorbs light at a wavelength of 1.3 ⁇ m compared to water.
  • the amount decreases (the amount of scattered light increases), and the amount of absorption of light with a wavelength of 1.5 ⁇ m increases (the amount of scattered light decreases).
  • the object 16 is water or ice depending on whether the ratio of the light reception amount of the light of wavelength 1.3 ⁇ m to the light reception amount of the light of wavelength 1.5 ⁇ m is equal to or less than a predetermined threshold. It becomes possible.
  • the temperature change of the amount of absorption of light with a wavelength of 1.3 ⁇ m or less in water is smaller by one digit or more than the temperature change of the amount of absorption of light with a wavelength of 1.5 ⁇ m.
  • the object 16 is water depending on whether the ratio of the light reception amount of light of wavelength 1.3 ⁇ m or less (0.98 ⁇ m, 0.78 ⁇ m, etc.) to the light reception amount of light of wavelength 1.5 ⁇ m becomes equal to or less than a predetermined threshold It is also possible to determine whether it is ice or not. In addition, it is also possible to correct the light reception amount by using measurement with wavelength light with little absorption by water in combination with a change in the light reception amount (scattered light amount) by substances other than water and ice on the road 174.
  • the fluctuation of the light absorption amount of the object 16 with the temperature change is considered.
  • the wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2 are selected such that the temperature change of the absorptivity of the light of the wavelength ⁇ 1 with respect to the object 16 is about 10 times or more the temperature change of the absorptivity of the light of the wavelength ⁇ 2 with respect to the object 16 think of.
  • the object 16 is water
  • 1.55 ⁇ m can be used as the wavelength ⁇ 1
  • 0.98 ⁇ m can be used as the wavelength ⁇ 2.
  • the absorbance of water with a film thickness of 1 mm decreases by 0.15 at a wavelength of 1.55 ⁇ m when the temperature changes from 49 ° C. to 63 ° C., whereas it decreases by 0.1 at a wavelength of 0.98 ⁇ m. 01 does not change either.
  • the temperature change of the absorptivity with respect to the object 16 differs by, for example, 10 times or more between the wavelength ⁇ 1 and the wavelength ⁇ 2, the temperature change of the object 16 can be sufficiently understood from the light reception intensity ratio as described above. It will be.
  • the ratio of the temperature change of each absorptivity is 10 times by appropriately selecting the wavelength ⁇ 1 in the region of 1.4 ⁇ m or more and the wavelength ⁇ 2 in the region of 1.3 ⁇ m or less, not limited to the wavelength described above. It can be more than.
  • the light receiving intensity of the light having a wavelength of 1.55 ⁇ m is approximately linearly affected by the temperature of water, and is exponentially affected by the amount of water.
  • the light reception intensity of light with a wavelength of 0.98 ⁇ m is not significantly affected by the temperature of water, it is exponentially affected by the amount of water and decreases as the amount of water increases. Therefore, it is possible to judge the increase or decrease of water from the change of the light reception intensity of the light of wavelength 0.98 ⁇ m. Furthermore, if it combines with the distribution data of water by scanning of light with a wavelength of 0.98 ⁇ m, the distribution of increase and decrease of water can also be found.
  • the change in the amount of water from the change in the light receiving intensity of the light of wavelength 0.98 ⁇ m, and calculate the change amount based on the change in the amount of water of the light receiving intensity of 1.55 ⁇ m from the estimated change in water amount.
  • the absorption coefficient at a wavelength of 0.98 ⁇ m is ⁇
  • the absorption coefficient at a wavelength of 1.55 ⁇ m is ⁇
  • the thickness change of water through which light passes is ⁇ t
  • the received light intensity before and after the absorption change at a wavelength of 0.98 ⁇ m is exp ( Since the difference is by ( ⁇ t) times, ⁇ t can be calculated from the light reception intensity ratio.
  • the change in received light intensity due to the change in thickness of water with a wavelength of 1.55 ⁇ m is exp (- ⁇ t) times
  • the change in received light intensity affected by both the change in water thickness and the change in temperature causes a change in water thickness Only the temperature change of water can be found by dividing the light reception intensity change that is affected only by the above. Therefore, the thickness change of water, that is, the change of the amount of water, and the temperature change of water can be respectively recognized from the two light reception intensity changes of the wavelength which is not so influenced by the temperature change and the wavelength which is influenced by the temperature change.
  • FIG. 19 shows an experimental example in which the relationship between the water temperature and the light receiving intensity of the light having a wavelength of 1.55 ⁇ m is confirmed.
  • the light receiving intensity of the light having a wavelength of 1.55 ⁇ m decreases as the water temperature decreases, and the light receiving intensity decreases.
  • the surface of the water becomes rough and scattering increases, so the light receiving intensity is increased. Therefore, it is possible to detect that the water is frozen if it is detected that the light receiving intensity at the wavelength of 1.55 ⁇ m decreases and then rises rapidly.
  • FIG. 20 is a view for explaining an application example 5 of the spectroscopy device 70.
  • the spectral device 70 is provided on the top of the pillar 201 provided on the periphery of the road 204.
  • the display 203 is a display device having a function capable of displaying the information acquired by the spectroscopic device 70 as an image, text, or the like.
  • the object 16 is a substance present on the road 204, such as water or spilled oil generated due to rainfall or flooding.
  • the spectroscope 70 two-dimensionally scans the road 204 (showing the scanning line 202 schematically), detects a portion where the object 16 such as water or oil is present, and photographs the road 204 with the camera 71. Then, the spectral device 70 causes the display 203 to display information regarding the detected object 16 and the photographed road 204. In addition, the spectroscope 70 can transmit such information to surrounding vehicles, pedestrians, road administrators, and the like via a communication unit (not shown).
  • the distribution, temperature, and freezing of water on the road 204 around the pillar 201 are detected by the spectroscopic device 70 provided on the pillar 201, and the information is displayed on the surrounding vehicle or the like by the display 203. As it can be displayed to pedestrians, the risk of a slip accident can be reduced. Further, since information can be transmitted to pedestrians, vehicles, and road administrators who are in places where the display can not be directly seen via the communication means, more effective security can be secured.
  • the method of this application example 5 is not only water on the road 204 but also water spilled on the floor of the room, condensation on the room, water distribution in the cleaning process or drying process in the factory, detection and display of water temperature It can be used for various applications such as detection and display of freezing in cooling equipment.
  • FIG. 21 is a block diagram of the spectral device 80 in the eighth embodiment.
  • the spectroscopic apparatus 80 includes a solid light source 11 a, a light source control unit 12, a lens 13 a, a wavelength selective light branching element 14, a front light monitor 15, a light receiving unit 17, a measuring unit 18, a scanning unit 51 and , A scan driver 52, an output unit 53, and a beam sampler 81.
  • the present spectroscope 80 differs from the above-described spectroscope 50 in that the solid-state light source 11 b and the lens 13 b are omitted, and the beam sampler 81 is provided.
  • this different configuration will be described, and the description of the other same configuration will be omitted using the same reference numerals.
  • the beam sampler 81 reflects a part of the light emitted from the solid-state light source 11 a and causes it to be incident on the front light monitor 15.
  • the output of the forelight monitor 15 is input to the light source control unit 12, and is fed back so that the output of the solid state light source 11a becomes a constant value.
  • the configuration of the present spectroscope 80 differs from the constructions of the spectroscopes 10 to 70 described above, in which there is one solid light source. For this reason, the configuration of the spectroscope device 80 performs scanning of the solid-state light source 11a for at least two cycles or more. Thereby, the temporal change of the target is detected, and the presence or absence of the object 16 is detected.
  • the first scan cycle is described as a "first scan cycle”
  • the next (or subsequent) scan cycle is described as a "second scan cycle”.
  • the intensity of light scanned by the scanning unit 51 and scattered and reflected from the target and received by the light receiving unit 17 is stored in the measuring unit 18 as the amount of light received for each scanning position. Specifically, when the object 16 is not present on the target, the first scanning cycle is executed to hold the light reception amount on the target surface as initial data.
  • the intensity of the light scanned by the scanning unit 51 and scattered and reflected from the target and received by the light receiving unit 17 is the same scanning position stored in the measuring unit 18 during the first scanning cycle
  • the amount of light received by The comparison result is displayed on the output unit 53 as, for example, the ratio of the amount of received light as two-dimensional shading.
  • the spectral device 80 of the eighth embodiment it is possible to detect the presence / absence of the object 16 and to know its two-dimensional distribution by repeating the second scanning cycle.
  • the beam sampler 81 is adopted to keep the output of the solid state light source 11a constant, temporal changes in the target can be confirmed in a plurality of scanning cycles, and even with one solid state light source 11a. Detection of the presence or absence of the object 16 is possible.
  • the first scanning cycle is performed periodically, such as once an hour or once a day, to appropriately correct the influence of a change factor other than the object 16.
  • a storage unit connected to a network can be used as a storage destination of the light reception amount for each scanning position.
  • FIG. 22 is a block diagram of the spectral device 90 in the ninth embodiment.
  • the spectroscopy apparatus 90 includes solid light sources 11a and 11b, a light source control unit 12, lenses 13a and 13b, a wavelength selective light branching element 14, a front light monitor 15, a light receiving unit 17, and a measuring unit 18.
  • a scanning unit 51, a scanning driving unit 52, an output unit 53, and a distance measuring unit 91 are provided.
  • the spectroscopy apparatus 90 differs from the spectroscopy apparatus 50 in that it has the configuration of the distance measurement unit 91.
  • this different configuration will be described, and the description of the other same configuration will be omitted using the same reference numerals.
  • the distance measurement unit 91 measures the distance between the spectroscopic device 90 and the target by a method called a well-known light time-of-flight measurement method or time-of-flight method.
  • the light time-of-flight measurement method is a method of calculating a distance by measuring a time from emission of light to reflection from the object to be measured back. Specifically, the distance measuring unit 91 measures the time until the light emitted from the solid state light source 11a (or the solid state light source 11b) is reflected by the target and reaches the light receiving unit 17, and the distance between the spectroscopic device 90 and the target Calculate
  • the distance measurement unit 91 is described separately from the measurement unit 18 for easy understanding in FIG. 22, the distance measurement unit 91 may be included in the measurement unit 18.
  • the three-dimensional shape of the target can be measured using the distance measuring unit 91.
  • the spectroscope 90 may be provided with a level for this, or when the spectroscope 90 is installed. Posture data may be stored in the measuring unit 18.
  • FIG. 23 is a block diagram of the spectral device 100 in the tenth embodiment.
  • the present spectroscopic apparatus 100 includes solid light sources 11a and 11b, a light source control unit 12, lenses 13a and 13b, a wavelength selective light branching element 14, a front light monitor 15, a light receiving unit 17, and a measuring unit 18.
  • a scanning unit 51, a scanning driving unit 52, an output unit 53, a noncontact temperature measuring unit 101, and a wavelength selective mirror 102 are provided.
  • the spectroscopy apparatus 100 differs from the spectroscopy apparatus 50 in that it includes the configurations of the non-contact temperature measurement unit 101 and the wavelength selective mirror 102.
  • this different configuration will be described, and the description of the other same configuration will be omitted using the same reference numerals.
  • the non-contact temperature measurement unit 101 detects the infrared radiation emitted from the target or the object 16 and measures the temperature.
  • a radiation thermometer using middle infrared rays or far infrared rays can be used as the non-contact temperature measurement unit 101.
  • the wavelength selective mirror 102 reflects the light of the wavelength used by the non-contact temperature measurement unit 101, and transmits the light of the wavelength emitted from the solid state light sources 11a and 11b.
  • the scanning unit 51 reflects not only light of wavelengths emitted from the solid state light sources 11 a and 11 b but also light of wavelengths used by the non-contact temperature measurement unit 101. Further, temperature characteristic data of light absorption of the object 16 is stored in the measurement unit 18.
  • the non-contact temperature measurement unit 101 detects this. Thereby, the temperature of the scanning location can be measured.
  • the spectroscopic device 100 in the tenth embodiment since the temperature T (K) of the scanning portion is known, the temperature characteristic of light absorption of the object 16 stored in advance in the measuring unit 18 When the presence or absence of the object 16 is determined using the ratio of the light absorptivity of the solid state light source 11a to the light absorptivity of the solid state light source 11b at the obtained temperature T (K), higher precision with less influence of temperature Spectral processing is possible. That is, spectral processing can be appropriately performed based on the amount of received light whose temperature has been corrected for fluctuation.
  • the present embodiment is particularly effective for improving the accuracy of the spectroscopic device 70 attached to the vehicle 171, such as an application in which the target changes momentarily, such as application 4 of the spectroscopic device 70 in the seventh embodiment. is there. Alternatively, it is effective to improve the accuracy of the spectroscopy apparatus in a place where temperature unevenness is large even if the target is stationary.
  • the non-contact temperature measurement unit 101 detects the light returning from the target via the scanning unit 51 for each scanning point, but the light directly returning from the target It may be configured to detect the In this case, using an area sensor type radiation thermometer, the temperature for each minute area of the target can be determined. Alternatively, even with a line sensor type or spot type radiation thermometer, the average temperature of the target can be used as a correction value, so that the accuracy of spectral processing is improved.
  • each component may be configured by dedicated hardware or implemented by executing a software program suitable for each component.
  • Each component may be realized by a program execution unit such as a CPU or a processor reading out and executing a software program recorded on a recording medium such as a hard disk or a semiconductor memory.
  • the spectroscope according to the present invention is useful as a component analyzer or the like which has a light source with a specified wavelength and does not use a spectroscope. In addition, it can be applied to applications such as detection of the presence of a specific substance such as water and visualization of distribution.

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Abstract

 物体(16)による所定の吸収率を持つ波長λ1の光と、物体(16)による吸収率が波長λ1よりも小さい波長λ2の光とを、二次元方向に走査してターゲットに照射する光照射部(11a,11b,12,51,52)と、波長λ1の光及び波長λ2の光がターゲットで反射した散乱光をそれぞれ受光する受光部(17)と、受光部(17)が受光した波長λ1及び波長λ2による2つの散乱光の差に基づいて、ターゲットにおける物体(16)の検出に利用される情報を生成する計測部(18)と、光照射部(11a,11b,12,51,52)による走査及び計測部(18)で生成された情報に基づいて、ターゲットにおける物体の存在有無を二次元領域の情報で出力する出力部(53)とを備える。

Description

分光装置
 本発明は、簡易的な吸収スペクトルを取得する分光装置に関するものである。
 従来の分光装置としては、ランプやセラミックヒータを光源とし、光源から出射されて試料を透過した光又は試料から反射した光を、回折格子で分光したり、干渉を用いて分光したりするものがあった。また、試料の有無を検知するための分光装置としては、レーザ光の波長を掃引すると共に被検面を走査して、試料の2次元分布を可視化するものがあった(特許文献及び非特許文献等を参照)。
特開2012-154854号公報 特開2010-25622号公報
中村睦子、中内茂樹著「近赤外分光画像で見る化粧品の保湿効果」 光学、2010年 39巻 11号 P529-P533
 しかしながら、上記従来の分光装置の構成では、回折格子や干渉分光素子が必要であり、装置が大型化や高価格化してしまうという課題を有していた。
 本発明は、上記従来の課題を解決するもので、小型で安価な分光装置を提供することを目的とする。
 上記従来の課題を解決するために、本発明の一態様に係る分光装置は、特定の物体による所定の吸収率を持つ第1波長の光と、特定の物体による吸収率が第1波長よりも小さい第2波長の光とを、ターゲットに照射する光照射部と、第1波長の光がターゲットを透過又は反射した第1の散乱光、及び第2波長の光がターゲットを透過又は反射した第2の散乱光を、それぞれ受光する受光部と、受光部が受光した第1の散乱光と第2の散乱光との差異に基づいて、ターゲットにおける特定の物体の検出に利用される情報を生成する計測部とを備える。
 なお、これらの全般的又は具体的な態様は、システム、方法、集積回路、コンピュータプログラム又はコンピュータで読み取り可能なCD-ROM等の記録媒体で実現されてもよく、システム、方法、集積回路、コンピュータプログラム及び記録媒体の任意な組み合わせで実現されてもよい。
 本発明の分光装置は、小型で安価な分光測定を実現できる。
図1は、第1の実施形態における分光装置10の構成図である。 図2は、分光装置10の駆動方法を示す図である。 図3は、分光装置10の動作を説明するフローチャートである。 図4は、水の吸収スペクトルを示す図である。 図5は、第2の実施形態における分光装置20の構成図である。 図6は、第3の実施形態における分光装置30の構成図である。 図7は、第4の実施形態における分光装置40の構成図である。 図8は、第5の実施形態における分光装置50の構成図である。 図9は、分光装置50の動作を説明するフローチャートである。 図10は、分光装置50の別の動作を説明するフローチャートである。 図11は、分光装置50の別の動作を説明するフローチャートである。 図12は、第6の実施形態における分光装置60の構成図である。 図13は、第7の実施形態における分光装置70の構成図である。 図14は、分光装置70の応用例1を説明する図である。 図15は、分光装置70の応用例2を説明する図である。 図16は、分光装置70の応用例3を説明する図である。 図17は、分光装置70の応用例4を説明する図である。 図18は、照射光が物体で散乱反射して受光される様子を示す図である。 図19は、水温と受光強度との関係を示す図である。 図20は、分光装置70の応用例5を説明する図である。 図21は、第8の実施形態における分光装置80の構成図である。 図22は、第9の実施形態における分光装置90の構成図である。 図23は、第10の実施形態における分光装置100の構成図である。 図24は、従来の技術を説明する図である。
 <本発明の基礎となった知見>
 図24は、特許文献1に記載された従来の液体漏洩検出装置301を用いた測定手法を説明する図である。図24において、液体漏洩検出装置301は、波長2μmから25μmの中間赤外光304を、油分封入設備302の表面に走査しながら照射する。さらに照射される中間赤外光304の波長は、油分303の吸収波長である3.6μmの波長を含んで掃引されている。油分封入設備302から油分303の一部が漏れ油分303aのように漏れ出していると、照射された中間赤外光304が漏れ油分303aで吸収されて反射散乱光の強度が3.6μm近傍で低下する。よって、従来の液体漏洩検出装置301では、反射散乱光の強度を測定する(吸収スペクトルを算出する)ことで、漏れ油分303aが有ることを検知していた。
 また、特許文献2や非特許文献1には、皮膚の水分量分布の鑑別装置や方法が開示されている。これらの文献には、近赤外波長域の光を皮膚に照射して反射光を赤外線カメラで撮像し、水分に吸収され易い波長帯の反射強度と、水分の吸収の影響が少ない波長帯の反射強度を演算処理することにより、水分量の分布を可視化する方法が記載されている。
 しかしながら、上記従来文献に記載された分光装置の構成では、回折格子や干渉分光素子が必要であり、装置が大型化や高価格化してしまうという課題を有していた。
 また、特許文献1に記載の従来装置では、波長を掃引する必要があるために計測に時間がかかるという課題を有していた。また、反射光は微弱になるが、どのようにして微弱光を検出するのかということについては開示がない。
 また、特許文献2や非特許文献1に記載の従来装置では、近赤外光を皮膚全面に同時照射するので近赤外光源がハロゲンランプ等の強度の高いものに限られ、かつ高価な赤外線カメラを用いるので、装置が高価になるという課題があった。
 <本発明者らが着目した手法> 
 そこで、本発明者らは、検出対象である物体における光吸収率が大きくなる特定の波長に着目し、この特定の波長に基づいて分光処理に用いる照射光の波長を設定することで、小型で安価な分光装置を新たに創案した。
 この新たな創案に基づいた本発明の様々な態様は、次の通りである。
 <発明の各態様の概要>
 発明に基づいた本開示の一態様に係る分光装置は、特定の物体による所定の吸収率を持つ第1波長の光と、特定の物体による吸収率が第1波長よりも小さい第2波長の光とを、ターゲットに照射する光照射部と、第1波長の光がターゲットを透過又は反射した第1の散乱光、及び第2波長の光がターゲットを透過又は反射した第2の散乱光を、それぞれ受光する受光部と、受光部が受光した第1の散乱光と第2の散乱光との差異に基づいて、ターゲットにおける特定の物体の検出に利用される情報を生成する計測部とを備える。
 例えば、特定の物体が水である場合、第1波長を1.4μm以上に、かつ、第2波長を1.3μm以下に設定することができる。
 この一態様によれば、回折格子等の高価格な構成を用いることなく、安価な固体光源によって特定の物体の検出に利用される情報を生成する(例えば吸収スペクトルを算出する)ことができる。また、波長を掃引する必要がないので計測時間も短縮することができる。また、吸収波長(第1波長)に加え、吸収波長以外の波長(第2波長)を用いて検出結果を比較することで、精度の高い特定の物体の存在有無の検出を行うことができる。
 この一態様において、光照射部を、第1波長の光を出射する第1の固体光源と、第2波長の光を出射する第2の固体光源と、受光部に第1波長の光と第2波長の光とを弁別して受光させるように、第1及び第2の固体光源を駆動する光源制御部とで構成することができる。このように、固体光源を用いれば、分光装置を安価に実現できる。
 ここで、例えば、光源制御部は、第1の固体光源と第2の固体光源とを出射タイミングをずらして駆動してもよいし、第1の固体光源と第2の固体光源とを異なる周波数で変調して駆動してもよい。これにより、第1波長の光と第2波長の光とを弁別し易くできる。
 また、光照射部は、第1波長の光及び第2波長の光をターゲットの同じ位置に照射すれば、受光部においてターゲットの同じ位置からの反射光を受光できるので、特定の物体の検出精度が向上する。
 また、計測部は、受光部が受光した第1の散乱光の強度と第2の散乱光の強度との比率に基づいて、ターゲットにおける特定の物体の存在有無を判断することもできる。例えば、計測部は、第1の散乱光の強度に対して第2の散乱光の強度が大きければターゲットに特定の物体が存在すると判断してもよい。
 ここで、特定の物体が存在する場合に受光部が受光した第1の散乱光の強度と第2の散乱光の強度との比率が、10以上となるように第1波長及び第2波長を設定しておけば、判断の精度が向上する。また、第1波長及び第2波長に設定に関しては、特定の物体による第1波長の光の吸収率の温度変化量は、特定の物体による第2波長の光の吸収率の温度変化量よりも10倍以上大きくなるように第1波長及び第2波長を設定しておくと、第1の散乱光の強度と第2の散乱光の強度との比率から温度変化を把握することができる。
 また、他の一態様としては、例えば、光照射部が、第1波長の光及び第2波長の光を、二次元方向に走査してターゲットに照射する走査処理部を含んでいてもよい。さらに、走査処理部による走査及び計測部で生成された情報に基づいて、ターゲットにおける特定の物体の存在有無を二次元領域の情報で出力する出力部を備えてもよい。
 この一態様によれば、ターゲットにおける特定の物体の存在有無を二次元領域の情報として検出することができる。
 ここで、例えば、走査処理部は、まずターゲットの全体を空間的に粗く走査し、特定の物体が存在すると判断すると、次に特定の物体が存在する領域を空間的に密に走査してもよいし、まずターゲットの全体を時間的に粗く走査し、特定の物体が存在すると判断すると、次に特定の物体が存在する領域を時間的に密に走査してもよい。このように走査すれば、ターゲットにおける物体の検出を効率的に行うことができる。
 また、他の一態様としては、例えば、ターゲットを撮影するカメラをさらに備えて、出力部に、ターゲットにおける特定の物体の存在有無に関する二次元領域の情報を、カメラで撮影されたターゲットの二次元画像に重畳させて出力してもよい。
 この一態様によれば、特定の物体が存在するターゲット上の場所を二次元画像で視覚的に容易に把握することができる。
 この場合、第2波長を、カメラが感度を有する波長範囲の不可視光の波長に設定しておくと、カメラの近くに居る人に影響を与えることがなくなる。
 また、他の一態様としては、例えば、ターゲットまでの距離を測定する距離計測部をさらに備えて、出力部に、ターゲットにおける特定の物体の存在有無に関する二次元領域の情報に、距離計測部で測定された距離情報を加えて、三次元領域の情報として出力してもよい。
 この一態様によれば、特定の物体が存在するターゲット上の場所を三次元形状で容易に把握することができる。
 また、他の一態様としては、例えば、ターゲットの温度を測定する温度計測部をさらに備えて、出力部に、ターゲットにおける特定の物体の存在有無に関する二次元領域の情報を、温度計測部で測定された温度情報に従って補正して出力してもよい。
 この一態様によれば、ターゲット上における特定の物体の存在有無の判断を温度によって適切に補正することができる。
 なお、これらの全般的又は具体的な態様は、システム、方法、集積回路、コンピュータプログラム又はコンピュータで読み取り可能なCD-ROM等の記録媒体で実現されてもよく、システム、方法、集積回路、コンピュータプログラム又は記録媒体の任意な組み合わせで実現されてもよい。
 以下、本発明の一態様について、図面を参照しながら具体的に説明する。
 なお、以下で説明する実施形態は、いずれも本発明の一具体例を示すものである。以下の実施形態で示される数値、形状、構成要素、ステップ、ステップの順序等は一例であり、本発明を限定する主旨ではない。また、以下の実施形態における構成要素のうち、最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。また、全ての実施形態において、各々の内容を組み合わせることもできる。
 <発明の各態様の詳細な説明>
 (第1の実施形態)
 図1は、第1の実施形態における分光装置10の構成図である。本分光装置10は、検査箇所である被検体又は被検面(以下、ターゲットと称する)に所定の光を照射し、このターゲットから受ける散乱光(反射光又は透過光)に基づいて、検出すべき物体16がターゲットに存在するか否かの判断に役立つ情報を生成するものである。図1に示す分光装置10は、固体光源11a及び11bと、光源制御部12と、レンズ13a及び13bと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18とを備える。
 まず、分光装置10の各構成を説明する。
 固体光源11aは、波長λ1の光を直線偏光として出射する光源である。固体光源11bは、波長λ2の光を直線偏光として出射する光源である。この固体光源11a及び11bは、固体光源11aの出射光の偏光面と固体光源11bの出射光の偏光面とが平行になるように、配置されている。また、波長λ1と波長λ2とは異なる値であり、例えば物体16が吸収し易い(吸収率が大きい)波長を「λ1」に、波長λ1よりも物体16が吸収し難い(吸収率が小さい)波長を「λ2」に、それぞれ設定される。固体光源11a及び11bとしては、発光ダイオード、半導体レーザ、スーパールミネッセントダイオード等を用いることが可能である。発光ダイオードやスーパールミネッセントダイオードを用いる場合には、発光波長幅が広いのでフィルタを用いて波長を狭帯域化しても構わない。
 なお、本実施形態では固体光源の数を2個として説明するが、これに限られない。本実施形態における分光装置10では、少なくとも2個の固体光源を用いればよく、3個以上の固体光源を用いてもよい。その場合は、後述する波長選択性光分岐素子14やレンズ13a及び13bを同様に追加すればよい。
 光源制御部12は、受光部17において波長λ1の光と波長λ2の光とを弁別して受光できるように、固体光源11a及び11bを駆動(制御)する。例えば、光源制御部12は、固体光源11a及び11bを、同じ周波数で変調しかつ位相をずらして交互に駆動させてもよいし(図2の(a))、固体光源11a及び11bを、異なる周波数で変調しかつ同じ位相で駆動させてもよい(図2の(b))。図2の(b)のように変調周波数を異ならせることで、図2の(a)のように同一の変調周波数で位相をずらすよりも、ロックインアンプの分離度を高くでき、波長弁別が容易になる。なお、光源制御部12は、固体光源11a及び11bを異なる周波数で変調しかつ位相をずらして交互に駆動させてもよいし、位相をずらす場合には変調を必ず行わなくても構わない。要するに、受光部17において波長λ1の光と波長λ2の光とを弁別して受光できるのであれば、固体光源11a及び11bの詳細な駆動方法は特に限定されない。
 レンズ13aは、固体光源11aから出射された波長λ1の光を入力し、略平行光にして波長選択性光分岐素子14の一方面へ出力する。レンズ13bは、固体光源11bから出射された波長λ2の光を入力し、略平行光にして波長選択性光分岐素子14の他方面へ出力する。
 波長選択性光分岐素子14は、波長λ1の光を透過し、波長λ2の光を反射する機能を持つ。よって、波長選択性光分岐素子14は、レンズ13aから一方面に入力される波長λ1の略平行光を、透過して他方面から出力する。また、波長選択性光分岐素子14は、レンズ13bから他方面に入力される波長λ2の略平行光を、反射して角度を変えて他方面から出力する。波長選択性光分岐素子14には、ダイクロイックミラーやダイクロイックプリズム等を用いることができる。
 上述した固体光源11a及び11b、レンズ13a及び13b、及び波長選択性光分岐素子14は、波長選択性光分岐素子14を透過した波長λ1の光の光路と、波長選択性光分岐素子14で反射した波長λ2の光の光路とが、略一致するようにそれぞれ配置されている。この光路が略一致した波長λ1の光及び波長λ2の光が分光装置10の出力光となり、ターゲットに照射されることとなる。
 前光モニタ15は、波長選択性光分岐素子14で僅かに反射する波長λ1の光及び僅かに透過する波長λ2の光の強度をモニタして、モニタの結果を光源制御部12にフィードバックする。このフィードバックされた光強度は、光源制御部12において固体光源11a及び11bの出力をそれぞれ一定に制御するために用いられる。
 受光部17は、波長選択性光分岐素子14から出力される光路が略一致した波長λ1の光及び波長λ2の光(分光装置10の出力光)がターゲットに照射されることによって得られる、ターゲットからの散乱光を受光する。そして、受光部17は、この受光した光を計測部18に出力する。
 計測部18は、受光部17が受光した光、及び光源制御部12から固体光源11a及び11bを駆動したタイミングを示す駆動信号を、逐次入力する。そして、計測部18は、波長λ1の光がターゲットに照射され、その散乱光が受光部17で受光された光の強度、及び波長λ2の光がターゲットに照射され、その散乱光が受光部17で受光された光の強度をそれぞれ求め、これらの光強度に基づいてターゲットに物体16が存在しているか否かの判断に役立つ情報を生成する。
 次に、図3を用いて本第1の実施形態における分光装置10が行う動作(分光処理)を説明する。
 図3では、上述した光源制御部12による駆動方法のうち、図2の(a)に例示した固体光源11aと固体光源11bとを交互に駆動する方法に基づいて、照射された光がターゲットで反射する光を測定する分光装置10の動作を説明する。
 まず、光源制御部12によって固体光源11aから波長λ1の光が出射され、ターゲットに照射される(ステップS301)。これに応じて、受光部17には、波長λ1の光が照射されたターゲットからの反射光が検出される(ステップS302)。計測部18は、検出された反射光の強度を第1反射光量として記憶する(ステップS303)。固体光源11aからの波長λ1の光は、所定の期間だけ出射される。
 続いて、光源制御部12によって固体光源11bから波長λ2の光が出射され、ターゲットに照射される(ステップS304)。これに応じて、受光部17には、波長λ2の光が照射されたターゲットからの反射光が検出される(ステップS305)。計測部18は、検出された反射光の強度を第2反射光量として記憶する(ステップS306)。固体光源11bからの波長λ2の光は、所定の期間だけ出射される。
 続いて、計測部18は、記憶した第1反射光量及び第2反射光量と、光源制御部12から取得した固体光源11a及び11bの駆動信号とに基づいて、ターゲットの吸収スペクトルを離散的に算出する(ステップS307)。ここで、計測部18は、ターゲットに光を照射した結果得られた反射光量が小さければ、照射した光の波長がそのターゲットが吸収する光の波長に近い値であるとの仮定に基づいて、吸収スペクトルを算出することができる。つまり、波長λ1の光及び波長λ2の光に関して離散的に求められた吸収スペクトルは、検出すべき物体16がターゲットに存在するか否かの判断に役立つ情報となる。
 吸収スペクトルの算出においては、図2に示したように、波長λ1の光及び波長λ2の光のそれぞれについて、複数回ターゲットに照射して複数の光強度を測定し、測定した複数の光強度の合計、平均、分布等から第1反射光量及び第2反射光量を求めてもよいし、1回のターゲット照射によって測定された光強度を第1反射光量及び第2反射光量として求めてもよい。
 なお、計測部18は、物体16の吸収波長が予め判っていて、波長λ1又は波長λ2の一方に吸収し易い波長が他方に吸収し難い波長が設定されていれば、この離散的に求めた吸収スペクトルから物体16がターゲットに存在するか否かをさらに判断することも可能である(ステップS308)。
 例えば、受光部17で検出される反射光の強度(反射光量)Dは、ターゲットに照射される光強度をIと、ターゲットでの散乱反射係数をSと、ターゲットの吸光度をAと、ターゲットから受光部17までの距離をLとすると、次式[1]で表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
 よって、波長λ1の光に関する反射光の強度Dλ1及び波長λ2の光に関する反射光の強度Dλ2をそれぞれ求め、求めた2つの強度の比率(=Dλ1/Dλ2)を算出し、その比率が予め定めた閾値を超えるか否かで、物体16がターゲットに存在するか否かを判断することができる。なお、閾値は、物体16の光吸収特性や照射光の波長等に基づいて、任意に設定可能である。また、閾値として、物体16がターゲットに存在しないことがわかっているときの強度比率(=Dλ1/Dλ2)を利用することもできる。
 具体例として、物体16が「水」である場合を説明する。
 図4は、水の吸収波長を説明する図である。図4のように、水の光吸収ピークは1.94μm、1.45μm、0.98μm、及び0.74μmにある。そこで、例えば、固体光源11aに波長λ1=1.45μm近傍の光を用い、固体光源11bに吸収係数が一桁以上小さな波長λ2=1.2μm以下の光を用いる。
 上記条件において、ターゲット(例えば、床や壁等の被検面)に水が無い場合、波長λ1の光も波長λ2の光もターゲットではほとんど吸収されず散乱反射するので、第1反射光量と第2反射光量との比率は「1に近い値」となる。一方、ターゲットに水が有る場合、波長λ1の光は水によって大幅に吸収されるが、波長λ2の光は水でもあまり吸収されずに散乱反射するので、波長λ1の光がターゲットに照射される光強度と受光部17での波長λ1の光の受光感度との積が、波長λ2の光がターゲットに照射される光強度と受光部17での波長λ2の光の受光感度との積に、等しくなるように各々の照射光強度を設定しておけば、第1反射光量と第2反射光量との比率は「10以上の値」となる。このように、第1反射光量と第2反射光量との比率から水の有無が判断できる。
 なお、上記実施例では、ターゲットで反射する散乱光に基づいて物体16がターゲットに存在するか否かを判断する場合を説明した。しかし、波長による光の吸収の違いからターゲットを透過する光にも差が生じるので、ターゲットを透過する散乱光に基づいて物体16がターゲットに存在するか否かを判断することも可能である。この場合、図3に示すフローチャートの「反射」を「透過」に置き換えて処理することで実現できる。
 以上のように、本第1の実施形態における分光装置10によれば、2つの固体光源11a及び11bから波長の異なる光をターゲットに照射し、ターゲットからの散乱光を波長毎に受光する。これにより、ターゲットの吸収スペクトルを離散的に得ることができる。吸収スペクトルの算出は、回折格子等の高価格な装置を用いることなく、固体光源だけで安価に実現でき、また波長を掃引する必要がないので計測時間も短縮することができる。
 また、分光装置10によれば、物体16が吸収し易い(吸収量が多い)波長の光に加え、吸収波長以外の吸収し難い(吸収量が少ない)波長の光を用いているので、ターゲット表面の形状、面粗さ、汚れによる光量変化分(ばらつき)を、吸収し難い(吸収量の少ない)波長による検出結果で補正することができる。よって、複数の波長を用いる本手法によれば、物体16が吸収し易い波長のみを用いる場合に比べ、より精度の高い物体16の存在有無の検出が可能となる。
 また、分光装置10によれば、固体光源11a及び11bを交互に駆動する制御を行うことで、単一の受光部17を用いて吸収スペクトルを得ることが可能となり、装置を小型化することができる。なお、固体光源11a及び11bを変調せずに同時に照射する場合には、波長λ1の光を通過させるフィルタを設けた受光部及び波長λ2の光を通過させるフィルタを設けた受光部の2つを、構成に含めればよい。
 また、分光装置10によれば、固体光源11a及び11bを用いることで、ランプ光源等とは異なり高速変調が可能となる。固体光源11a及び11bを変調駆動する場合、駆動に使用した変調信号を参照信号として計測部18に入力することにより、周知のロックインアンプの手法によってターゲットからの微弱な散乱光を増幅して計測し、信号対ノイズ比を高くすることが可能となる。これにより、外乱光が有る環境下であっても安定した計測が実現できる。なお、ロックインアンプのための参照信号は、前光モニタ15から取得して計測部18に入力することも可能である。
 また、分光装置10によれば、波長選択性光分岐素子14によって固体光源11a及び11bから出射された複数の光の光路を略一致(同軸化)させることができるので、ターゲットにおける同じ位置に異なる波長の光を照射することができる。特に、固体光源をスケーラブルに増やしながら、複数の固体光源から出射された複数の光を略一致させることができるので、波長のスケーラビリティが確保できる。
 さらに、分光装置10では、複数の固体光源11a及び11bは分離された別々の光源として説明した。しかし、複数の固体光源11a及び11bは、1つの半導体チップ上に実装して(複数のエミッタを設けること等で)構成することも可能であるし、外部からの制御によって波長を変化できる波長可変半導体レーザで構成しても構わない。
 なお、上記分光装置10の構成において、固体光源11aからの出射光の強度と固体光源11bからの出射光の強度とを一定に制御する必要がなければ、上述した分光装置10の構成のうち前光モニタ15を省略しても構わない。また、固体光源11a及び11bからの出射光がすでに略平行光であれば、上述した分光装置10の構成のうちレンズ13a及び13bを省略しても構わない。また、固体光源11a及び11bからの出射光がすでに同一光路にあれば、波長選択性光分岐素子14を省略しても構わない。さらに、固体光源11a及び11bが、受光部17において波長λ1の光と波長λ2の光とを弁別して受光できるようにそれぞれ照射できるのであれば、光源制御部12も省略可能である。この意味で、固体光源11a及び11bがクレームされた「光照射部」の最小構成と言える。
 (第2の実施形態)
 図5は、第2の実施形態における分光装置20の構成図である。本分光装置20は、固体光源11a及び11bと、光源制御部12と、レンズ13a及び13bと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18と、偏光ビームスプリッタ21とを備える。
 本分光装置20は、上記分光装置10と比べて、偏光ビームスプリッタ21の構成が異なる。以下、この異なる構成を説明し、他の同じ構成については同じ符号を用い説明を省略する。
 偏光ビームスプリッタ21は、クレームされた「光照射部」の一構成であり、波長選択性光分岐素子14の出力先に設けられる。この偏光ビームスプリッタ21は、波長選択性光分岐素子14を介して固体光源11a及び11bから入力する光を透過して、P偏光成分の光としてターゲットへ出力し、また、ターゲットから入力する散乱光のS偏光成分を反射して受光部17へ出力するように、配置されている。
 ここで、ターゲットに照射される光のうち、ターゲットの内部に入って吸収及び散乱反射される光は、P偏光成分もS偏光成分も含むランダムな光になる。一方で、ターゲットの表面で反射される光は、P偏光成分の光のまま反射される。
 よって、ターゲットから散乱光として再び偏光ビームスプリッタ21に入力される光のうち、ターゲットの内部に入って吸収及び散乱反射されて生成されたS偏光成分は、偏光ビームスプリッタ21で反射されて受光部17で受光される。一方、ターゲットの表面で反射されたP偏光成分の光は、偏光ビームスプリッタ21で反射せず透過するため、受光部17で受光されない。
 以上のように、本第2の実施形態における分光装置20によれば、ターゲットからの散乱光のうち、偏光ビームスプリッタ21で反射されるS偏光成分の光だけを受光部17で受光する。これにより、ターゲットで吸収されずに表面で反射する成分の光を除去できるので、信号対ノイズ比の高い計測が実現できる。
 また、分光装置20は、ターゲットを透過する光ではなく、ターゲットから反射する光(散乱反射光)を偏光ビームスプリッタ21に入力する構成とすることで、受光部17を固体光源11a及び11bと同じ側に配置することができるので、装置を小型化することが可能となる。
 (第3の実施形態)
 図6は、第3の実施形態における分光装置30の構成図である。本分光装置30は、固体光源11a及び11bと、光源制御部12と、レンズ13a及び13bと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18と、穴あきレンズ31と、ハーフミラー32とを備える。
 本分光装置30は、上記分光装置10と比べて、穴あきレンズ31及びハーフミラー32の構成が異なる。以下、この異なる構成を説明し、他の同じ構成については同じ符号を用い説明を省略する。
 ハーフミラー32及び穴あきレンズ31は、クレームされた「光照射部」の一構成であり、波長選択性光分岐素子14の出力先にその順序で設けられる。ハーフミラー32は、波長選択性光分岐素子14を介して固体光源11a及び11bから入力する光を透過して穴あきレンズ31へ出力し、穴あきレンズ31から入力する光を受光部17へ出力するように、配置されている。穴あきレンズ31は、穴が開けられた集光レンズであり、ハーフミラー32を透過する光は穴を通過させて、ターゲットへ出力し、ターゲットから入力する散乱光をレンズで集光してハーフミラー32へ戻すように、配置されている。
 固体光源11a及び11bから出射された光は、波長選択性光分岐素子14及びハーフミラー32を介して、穴あきレンズ31の穴の部分を通過し、ターゲットに照射される。ターゲットから反射される散乱光は、穴あきレンズ31によって広範囲で集光された後、ハーフミラー32によって一部が受光部17に出力される。
 以上のように、本第3の実施形態における分光装置30によれば、穴あきレンズ31を用いることによってターゲットからの散乱光を広範囲で受光することができ受光量が多くなるので、ターゲットの離散的吸収スペクトルの算出や物体16の存在有無の検出を、精度よく行うことが可能となる。
 なお、ハーフミラー32の代わりに、第2の実施形態で説明した偏光ビームスプリッタ21を用いることも可能である。
 (第4の実施形態)
 図7は、第4の実施形態における分光装置40の構成図である。本分光装置40は、固体光源11a及び11bと、光源制御部12と、レンズ13a及び13bと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18と、放物面鏡41とを備える。
 本分光装置40は、上記分光装置10と比べて、放物面鏡41の構成が異なる。以下、この異なる構成を説明し、他の同じ構成については同じ符号を用い説明を省略する。
 放物面鏡41は、クレームされた「光照射部」の一構成であり、放物線を軸のまわりに回転して形成される回転放物面を反射面とした凹面鏡である。この放物面鏡41は、ターゲットから反射される散乱光を広範囲で集光し、受光部17で光の焦点が結ばれるように、配置されている。図7に例示した放物面鏡41は、オフアクシス放物面鏡である。
 以上のように、本第4の実施形態における分光装置40によれば、放物面鏡41を用いることでターゲットからの散乱光を広範囲で受光することができ受光量が多くなるので、ターゲットの離散的吸収スペクトルの算出や物体16の存在有無の検出を、精度よく行うことが可能となる。また、放物面鏡41は反射型の光学素子なので、レンズを使う場合に比べて、固体光源の波長差による色収差の影響を考慮しなくても良くなる。
 (第5の実施形態)
 上述した第1~第4の実施形態では、ターゲットについてワンポイントで離散的吸収スペクトルの算出や物体16の存在有無の検出を行う分光装置を説明した。
 この第5の実施形態以降では、ターゲットにおける離散的吸収スペクトルの算出や物体16の存在有無の検出を、広い領域で二次元的に行う分光装置を説明する。
 図8は、第5の実施形態における分光装置50の構成図である。本分光装置50は、固体光源11a及び11bと、光源制御部12と、レンズ13a及び13bと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18と、走査部51と、走査駆動部52と、出力部53とを備える。
 本分光装置50は、上記分光装置10と比べて、走査部51、走査駆動部52、及び出力部53の構成が異なる。これらの異なる構成は、クレームされた「光照射部」の一部となる。以下、この異なる構成を説明し、他の同じ構成については同じ符号を用い説明を省略する。
 走査部51は、固体光源11a及び11bから出射された光を入力し、反射する光を二次元方向に走査させてターゲットに照射するための光学部品である。この走査部51は、波長λ1の光及び波長λ2の光の光路上に配置される。この走査部51としては、周知のガルバノミラー、ポリゴンミラー、電磁力駆動や静電力駆動のMEMSミラー、又は音響光学偏向素子等を用いることができる。
 走査駆動部52は、ターゲットに照射される光が二次元方向に走査されるように走査部51の走査角度を制御すると共に、この走査角度を計測部18に出力する。走査駆動部52から走査角度を取得した計測部18は、走査部51の走査角度(走査点)と、受光部17で検出された反射光の強度(反射光量)とを、所望の解像度やサンプリングレート等に基づいて二次元的に対応付けて記憶する。計測部18が記憶した二次元情報は、出力部53に出力される。走査部51及び走査駆動部52は、クレームされた「走査処理部」を構成する。
 出力部53は、計測部18から与えられる二次元情報を画像や音声等で提示するインタフェース(例えば、ディスプレイ、プリンタ、スピーカ等)である。なお、計測部18から与えられる二次元情報を分光装置50の使用者等に視覚的や聴覚的に提示する必要がなければ、出力部53を省いても構わない。
 以下、図9を用いて、第5の実施形態における分光装置50の動作(分光処理)を説明する。
 図9は、走査部51、走査駆動部52、及び出力部53を備えた分光装置50の動作フローチャートを示す図である。なお、図9も上記図3と同様に、固体光源11aと固体光源11bとを交互に駆動する方法に基づいて、照射された光がターゲットで反射する光を測定する分光装置50の動作を説明する。
 まず、光源制御部12によって固体光源11aから波長λ1の光が出射され、レンズ13a及び波長選択性光分岐素子14を介して走査部51に入力され、走査部51からターゲットに光が照射される。ここで、走査駆動部52は、走査部51の走査角度を制御してターゲットの1走査点に波長λ1の光を照射させる(ステップS901)。これに応じて、受光部17には、波長λ1の光が照射されたターゲットの1走査点からの反射光が検出される(ステップS902)。計測部18は、受光部17で検出された反射光の強度(第1反射光量)を、走査部51の走査角度と対応付けて記憶する(ステップS903)。このステップS901~S903の処理は、ターゲット全体(全走査点)の走査が完了するまで繰り返し行われる(ステップS904)。
 波長λ1の光による走査が完了すると、次に光源制御部12によって固体光源11bから波長λ2の光が出射され、レンズ13b及び波長選択性光分岐素子14を介して走査部51に入力され、走査部51からターゲットに光が照射される。走査駆動部52は、上記と同様に、走査部51の走査角度を制御して、ターゲットの1走査点に波長λ2の光を照射させる(ステップS905)。これに応じて、受光部17には、波長λ2の光が照射されたターゲットの1走査点からの反射光が検出される(ステップS906)。計測部18は、受光部17で検出された反射光の強度(第2反射光量)を、走査部51の走査角度と対応付けて記憶する(ステップS907)。このステップS905~S907の処理は、ターゲット全体(全走査点)の走査が完了するまで繰り返し行われる(ステップS908)。なお、波長λ1及びλ2の光の走査手順に関しては、ここでは特に限定しない。
 波長λ2の光による走査が完了すると、第1反射光量と第2反射光量との比率が走査角度毎に計算される(ステップS909)。そして、走査角度毎に計算された比率は、例えば、比率の大小に応じて表示態様を変えた二次元的画像データ等に加工された後、出力部53に与えられて画面表示される(ステップS910)。
 以上のように、本第5の実施形態における分光装置50によれば、2つの固体光源11a及び11bから波長の異なる光を、走査部51を用いてターゲット上で走査して照射し、ターゲットからの散乱光を受光部17で波長毎に受光する。よって、計測部18で受光した光量を比較することによって、ターゲットの空間分布を画像化できることとなる。すなわち、ターゲット上における物体16の存在位置を検出することができる。
 なお、走査部51の走査間隔は、任意に設定可能である。例えば、まず広い走査間隔又は長い時間間隔でターゲット全体を粗く走査し、次に狭い走査間隔又は短い時間間隔で物体16の存在が判明した領域を詳細に(密に)走査してもよい。また、例えば、まず広い走査間隔又は長い時間間隔でターゲット全体の走査を始め、物体16の存在が判明した時点から狭い走査間隔又は短い時間間隔での走査に切り替えてもよい。これにより、ターゲット全体における物体16の存在位置の検出を効率的に行うことができる。このように、物体16の有無によって走査の空間的や時間的な粗密を単独又は組み合わせて切り替えることにより、物体16が無い場合には走査サイクルの高速化や光源の電力削減が行え、物体16が有る場合には物体16の詳細な計測を行える、といった適応的な計測が可能となる。
 なお、走査部51は、二次元走査を行うことが好ましいが、一次元走査を行うだけでも構わない。走査部51が一次元走査しか行わない場合には、ターゲット又は分光装置50を一次元走査方向と直交する方向に移動させれば、結果として二次元分布を取得することが可能である。
 また、光を二次元的にターゲットに照射させる走査部51及び走査駆動部52の構成を備えない上記第1~第4の実施形態の分光装置10~40では、波長選択性光分岐素子14を透過した波長λ1の光の光路と、波長選択性光分岐素子14で反射した波長λ2の光の光路とが、略一致するように、固体光源11a及び11b、レンズ13a及び13b、及び波長選択性光分岐素子14がそれぞれ配置されている必要があった。
 しかしながら、2つの光路の位置ズレ(量や方向)が前もってわかるのであれば、走査制御或いは取得したデータを位置ズレの時間(タイミング)だけずらして演算することによってこの位置ズレを補正することで、2つの光路をターゲット上で略一致させることができる。よって、以降の実施形態における走査部51及び走査駆動部52の構成を備える分光装置では、走査制御もしくは演算によって位置ズレを吸収できる範囲内で2つの光路がズレていても構わない。
 また、図9に示した動作フローチャートの処理では、まず波長λ1の光による走査をまとめて行い、次に波長λ2の光による走査をまとめて行った後、ターゲット全体の画像表示を行う例を説明した。しかし、この方法以外にも、図10に示すように、ターゲットの1走査点単位で、波長λ1の光による照射、測定、記憶(ステップS901、S902、S1003)と、波長λ2の光による照射、測定、記憶(ステップS905、S906、S1007)とを続けて行い、1走査点単位で光量の比率が得られる毎に(ステップS1009)、ターゲットの部分的な画像表示を行ってもよい(ステップS1010)。処理単位は複数の走査点(1本の走査線)であってもよい。
 このように処理単位を小さくすることで、画像表示(比率算出)のために一時的に保持しておく画像データの量が、1つ又は複数の走査点分だけでよいので、メモリ容量が少なくて済むという効果が得られる。
 また、図9の動作フローチャートに示す処理では、波長λ1と波長λ2とを物体16に対して光吸収量が多い波長と少ない波長にしておくことによって、第1反射光量と第2反射光量との比率から物体16の有無を画像化することが可能となる。しかしながら、波長λ1及び波長λ2の光に関して物体16に近い特性を有した他の物質を誤検出する可能性がある。また、分光処理を行う範囲から除外すべき領域(処理対象外領域)も存在する。そこで、図11に示した動作フローチャートのように処理することも考えられる。
 図11に示した動作フローチャートの処理では、第1反射光量と第2反射光量との比率が算出されると(ステップS609)、この算出された比率が予め与えられた閾値Xとが比較される(ステップS1101)。比較の結果、閾値X以上である比率はそのまま出力部53において画像表示され、閾値X未満の比率は所定値Yに置換されて出力部53において画像表示される(ステップS1102)。比率が所定値Yに置換されたターゲット内の領域は、計測部18や出力部53等に記憶しておいてもよい。
 ここで、閾値Xを、物体16による比率と物体16に近い特性を有した他の物質による比率との間に設定したり、物体16による比率と処理対象外領域における比率との間に設定したりすれば、誤検出された他の物質や処理対象外領域を所定値Yに基づいた表示形態で画像表示することができる。閾値Xは、分光処理の実行前に予め設定されてもよいし、分光処理の実行後に表示された初期画像を確認しながら設定されてもよい。処理対象外領域における比率は、物体16が存在しないターゲットを事前に分光処理して取得すればよい。また、所定値Yは、物体16に対する第1反射光量と第2反射光量との比率が取り得る範囲以外の値であればよい。例えば、出力部53において表示できる最大値あるいは最小値を、所定値Yに選ぶことができる。
 このようにすれば、物体16に近い特性を有した他の物質や処理対象外領域を、常に所定値Yで画像表示することができるので、他の物質の誤表示や処理対象外領域での誤表示が少なくなる。
 なお、第1反射光量と第2反射光量との比率を閾値Xと比較する手法以外にも、物体16が吸収し易い波長λ1に関する第1反射光量を閾値Xと比較する手法も考えられる。この場合、閾値Xを、物体16による第1反射光量と物体16に近い特性を有した他の物質による第1反射光量との間に設定したり、物体16による第1反射光量と処理対象外領域における第1反射光量との間に設定したりすればよい。
 また、図11に示した比率が閾値Xと比較される手順(ステップS1101)及び閾値X未満の比率だけが所定値Yに置換される手順(ステップS1102)は、図10に示した動作フローチャートの処理にも同様に適用可能である。
 (第6の実施形態)
 図12は、第6の実施形態における分光装置60の構成図である。本分光装置60は、固体光源11a及び11bと、光源制御部12と、レンズ13a及び13bと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18と、走査部51と、走査駆動部52と、出力部53と、ハーフミラー61とを備える。
 本分光装置60は、上記分光装置50と比べて、ハーフミラー61の構成を備え、受光部17を固体光源11a及び11bと同じ側に配置したことが異なる。以下、この異なる構成を説明し、他の同じ構成については同じ符号を用い説明を省略する。
 ハーフミラー61は、波長選択性光分岐素子14を介して固体光源11a及び11bから入力する光を透過して走査部51へ出力し、走査部51から入力する光を受光部17へ出力するように、配置されている。固体光源11a及び11bから出射された光は、波長選択性光分岐素子14及びハーフミラー61を介して走査部51に入力され、走査されながらターゲットに照射される。ターゲットから走査部51に戻ってくる散乱光は、走査部51及びハーフミラー61でそれぞれ反射して受光部17で検出される。
 以上のように、本第6の実施形態における分光装置60によれば、受光部17の視野が走査部51で光が走査されている方向に追従することとなるので、走査角の影響による受光量変化を少なくすることが可能となる。
 また、受光部17を固体光源11a及び11bと同じ側に配置することができるので、分光装置60を小型化することが可能となる。
 なお、受光部17を固体光源11a及び11bと同じ側に配置する構成として、ハーフミラー61を用いる以外にも、上記第2、第3、第4の実施形態で説明した偏光ビームスプリッタ、ハーフミラー&穴あきレンズ、放物面鏡を用いてもよい。穴あきレンズや放物面鏡を用いれば、走査部51で反射するターゲットからの散乱光を広範囲で受光することができ受光量が大きくなるという効果も得られる。
 (第7の実施形態)
 図13は、第7の実施形態における分光装置70の構成図である。本分光装置70は、固体光源11a及び11bと、光源制御部12と、レンズ13a及び13bと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18と、走査部51と、走査駆動部52と、出力部53と、カメラ71とを備える。
 本分光装置70は、上記分光装置60と比べて、カメラ71の構成が異なる。以下、この異なる構成を説明し、他の同じ構成については同じ符号を用い説明を省略する。
 カメラ71は、波長0.3μmから波長1.0μmの帯域で感度を有する撮像素子であり、ターゲットの全体又は一部を撮影できるように配置されている。このカメラ71に用いられる撮像素子としては、シリコンを用いたCCDやCMOS等の撮像素子を用いることができる。
 物体16が「水」である場合には、固体光源11aから出射する光の波長λ1としては、水の吸収ピークである1.45μm近傍の波長、好ましくは1.2μm以上の波長を用いる。一方、固体光源11bから出射する光の波長λ2としては、カメラ71に感度の有る0.3μm~1.0μmの波長を用いる。これにより、波長λ1及びλ2の光を用いて水の存在位置を検出でき、さらに波長λ2の光を用いてターゲットの実画像を撮影できる。例えば、波長1.3μm又は1.55μmの半導体レーザを固体光源11aとして用い、波長0.78μmの半導体レーザを固体光源11bとして用いれば、水に対する波長λ1の光と波長λ2の光との吸収係数の比を約2倍以上にできる。
 以上のように、本第7の実施形態における分光装置70によれば、カメラ71で撮像したターゲット面の可視光画像に物体16(例えば水)の分布画像を重畳して出力部53で表示することが可能となる。その結果、観察者に対してターゲットのどこに物体16が有るのかを判りやすく表示できることとなる。
 また、波長λ2としてカメラ71に感度の有る波長を用いることによって、カメラ71で撮像したターゲット面の可視光画像に物体16の分布画像を重畳するときの位置合わせが容易になるという効果も得られる。さらに、人の目に感度のない光である不可視光の波長(例えば0.7μm以上)を波長λ2として選択することで、ターゲットに人がいる場合であっても、人の注意をひいたり人を驚かせたりといった影響を与えることなく、物体16の分布を知ることが可能となる。
 なお、物体16を「水」とした場合には、本第7の実施形態の分光装置70を様々な場面で利用でき、また応用できると考えられる。例えば、ターゲットとして人が歩く床面を想定し、床面にこぼれた水を検知する場面が考えられる。このような場面では、水がこぼれた床面の場所を特定し、検出された水の画像を床面の画像に重畳させて出力部53に表示することで、出力部53の観察者に水の有無及び位置を知らせる。これにより、観察者によって、水がこぼれた場所で人がスリップしないための対策を図ること等ができるようになる。また例えば、水を検知した場合に警報を出して観察者に知らせたり、あるいは掃除用ロボットに水の漏出位置を連絡して自動的に床掃除をさせたり、すること等も可能である。その場合、掃除位置の連絡は、分光装置70の監視領域(ターゲット)の全体であっても水の漏出位置を含んだ一部であってもよい。
 以下、分光装置70の応用例をさらに幾つか説明する。
 [応用例1]
 図14は、分光装置70の応用例1を説明する図である。図14の応用例1では、分光装置70がディスプレイ141の上部に設けられている。ディスプレイ141は、分光装置70が取得した情報を画像で表示できる機能を備えた表示装置である。
 分光装置70は、図14の(a)に示すように、ディスプレイ141の前に立つ利用者142の顔を二次元的に走査し、皮膚表面の水分が有る箇所を検出すると共に、利用者142の顔をカメラ71で撮影する。図14の(b)は、利用者142の顔を走査線143で二次元的に走査する状態を模式的に示した図である。そして、分光装置70は、検出された水分が有る箇所を撮影した顔画像に重畳してディスプレイ141に表示する。なお、ディスプレイ141には、単純に水分の有る箇所と無い箇所とだけを表示してもよいし、水分量に違いによって現れる波長λ1の散乱光と波長λ2の散乱光との比率差を濃淡画像として示すことによって水分の多い箇所や少ない箇所も表示してもよい。
 応用例1の構成によれば、利用者142の顔の水分量分布が判るので、化粧品の効果の確認や健康状態の確認等に用いることができる。なお、利用者142の顔だけでなく、体の各部位の水分量分布を計測対象とすることも可能である。
 なお、分光装置70とディスプレイ141とは分離してもよく、例えば、分光装置70をドアの近くや浴室等に設置し、ディスプレイ141をリビングに設置することもできる。また、分光装置70で計測した水分分布を記憶装置(図示せず)で蓄積しておけば、ディスプレイ141に経時変化を表示することもできる。その場合には、二次元画像を時系列に並べて表示することも可能であるし、皮膚のどこか一点だけ、例えば額の真ん中だけの水分量の経時変化をグラフ表示すること等も可能である。このように、ディスプレイ141と分光装置70とを分離することで、計測場所の制約を少なくすることができ、また皮膚状態の経時変化を容易に知ることができるようになる。
 [応用例2]
 図15は、分光装置70の応用例2を説明する図である。図15の応用例2では、分光装置70が壁面157の上部に設けられている。床面155に置かれた陳列棚154には、非液体容器152と液体容器153とが並べられている。物体16は、床面155に存在する液体、例えばこぼれた水である。
 分光装置70は、陳列棚154を含んだ壁面157や床面155で形成された空間を二次元的に走査し(走査線151を模式的に示す)、水等の物体16が存在する箇所を検出すると共に、空間をカメラ71で撮影する。ここで、分光装置70の出力部53には、マスク機能が付いており、観察者等の操作によって表示する画像の一部の色を変えたり、枠で囲んだり、輝度を下げたり、表示しない等の、マスク処理ができるようになっている。
 応用例2の構成によれば、液体容器153が陳列されている領域をマスク処理によって分光処理を行う範囲から除外すべき領域(処理対象外領域)とすることで、液体容器153に水が入っていても検出されることなく本来検知したい物体16、つまりこぼれた水だけに観察者の注意を向けることが容易になる。また、マスク処理されていない処理対象外領域で物体16が検出されれば自動的に分光装置70が警報を出すようにすれば、観察者の労力を削減することも可能となる。
 [応用例3]
 図16は、分光装置70の応用例3を説明する図である。図16の応用例3では、分光装置70が道路164の周縁に設けられた柱161の上部に設けられている。物体16は、道路164の上に存在する物質、例えば降雨や湧出等により発生した水やこぼれた油等である。
 分光装置70は、道路164を二次元的に走査し(走査線162を模式的に示す)、水や油等の物体16が有る箇所を検出すると共に、道路164をカメラ71で撮影する。
 応用例3の構成によれば、柱161に備えられた分光装置70によって、柱161の周囲における道路164上の水や油等の物体16を検知できるので、正常な交通を阻害する物体16の存在を速やかに検知することができる。なお、油を検出するためには、例えば固体光源11aが出射する光の波長λ1として3.6μm近傍の波長を用いればよい。
 [応用例4]
 図17は、分光装置70の応用例4を説明する図である。図17の応用例4では、分光装置70が車両171の前方に取り付けられている。物体16は、道路174の上に存在する物質、例えば湧出した水、こぼれた油、凍結してできた氷等である。
 分光装置70は、道路174を二次元的に走査し(走査線172を模式的に示す)、水や油等の物体16が有る箇所を検出すると共に、道路174をカメラ71で撮影する。なお、車両171は通常前方に進行するため、車両171の進行に伴って進行方向の走査ができる。よって、分光装置70は、車両進行方向に対して直交する方向を一次元的に走査するようにしても構わない。
 応用例4の構成によれば、車両171に設けられた分光装置70によって走行する道路174上の水、氷、油等の物体16を常時検知できるので、正常な交通を阻害する物体16の存在を速やかに検知することができる。また、車両171自体に分光装置70が取り付けられているので、道路174以外の様々な場所においても、車両前方に存在する物体16を速やかに検知することができる。
 水は、温度が下がって氷になると光の吸収ピークが長波長側にシフトする。よって、例えば吸収ピークの1.45μmに対して、短波長側の波長1.3μmの光及び長波長側の波長1.5μmの光では、氷は水に比べて波長1.3μmの光の吸収量が減少(散乱光量は増加)し、波長1.5μmの光の吸収量が増加(散乱光量は減少)する。これにより、波長1.5μmの光の受光量に対する波長1.3μmの光の受光量の比率が所定の閾値以下になるか否かによって、物体16が水なのか氷なのかを判別することが可能となる。また、水における波長1.3μm以下の光の吸収量の温度変化は、波長1.5μmの光の吸収量の温度変化に比べて一桁以上小さい。よって、波長1.5μmの光の受光量に対する波長1.3μm以下(0.98μmや0.78μm等)の光の受光量の比率が所定の閾値以下になるか否かによって、物体16が水なのか氷なのかを判別することも可能である。なお、道路174上の水や氷以外の物質による受光量(散乱光量)の変化に対しては、水による吸収の少ない波長光による計測を併用して受光量を補正することも可能である。
 ここで、温度変化に伴った物体16の光吸収量の変動について考察する。
 波長λ1の光の物体16に対する吸収率の温度変化量が、波長λ2の光の物体16に対する吸収率の温度変化量の約10倍以上となるように、波長λ1及びλ2を選択している場合を考える。例えば、物体16が水の場合には、波長λ1として1.55μmを、波長λ2として0.98μmを用いることができる。膜厚1mmの水の吸光度は、14℃から63℃へ49度の温度変化をした場合、波長1.55μmの波長では0.15減少するのに対して、波長0.98μmの波長では0.01も変化しない。
 図18に示すように、光源部180から波長λの光を物体183に対して照射し、物体183から散乱反射した光を受光部181で受光するモデルを考える。波長λの光が物体183に照射される光強度をIλと、物体183での散乱反射係数をSと、波長λの光が物体183で吸収される吸光度をAλと、物体183から受光部181までの距離をLとすると、受光部181で検出される波長1.55μmの反射光の強度(反射光量)D1.55及び波長0.98μmの反射光の強度D0.98は、次式[2]及び[3]でそれぞれ表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
 従って、受光強度比D1.55/D0.98は、次式[4]で表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
 上記式[4]において、吸光度の温度変化量をそれぞれの波長毎にΔA1.55及びΔA0.98と書くと、温度変化したときの受光強度比は、次式[5]で表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000005
 式[5]において、ΔA0.98は前述したようにΔA1.55に比べて十分小さいので無視した。また、定数部をCとした。式[5]から、ΔA1.55が0.1程度であれば式[5]右辺の第3項以降は無視できるので、受光強度比とΔA1.55すなわち水温がほぼリニアに変化する。従って、受光強度比の変化を知ることによって、物体183である水の温度変化を知ることが可能となる。
 この水の例のごとく、波長λ1と波長λ2とで物体16に対する吸収率の温度変化量が例えば10倍以上異なっていれば、上述したように受光強度比から物体16の温度変化が十分に判ることとなる。水の場合には、上述した波長に限らず、波長λ1を1.4μm以上、波長λ2を1.3μm以下の領域で適宜選択することで、それぞれの吸収率の温度変化量の比を10倍以上にすることができる。
 なお、波長1.55μmの光の受光強度は、水の温度には近似的に線形に影響され、水の量には指数関数的に影響される。一方、波長0.98μmの光の受光強度は、水の温度にはあまり影響されないが、水の量には指数関数的に影響されて水の量が増えると減少する。従って、波長0.98μmの光の受光強度の変化から水の増減が判断できることとなる。さらに、波長0.98μmの光の走査による水の分布データと組み合わせれば、水の増減の分布も判ることとなる。また、波長0.98μmの光の受光強度の変化から水の量の変化を推定し、推定した水量変化から波長1.55μmの光の受光強度の水量変化に基づく変化量が計算できる。波長0.98μmでの吸収係数をα、波長1.55μmでの吸収係数をβ、光が通る水の厚み変化をΔtとすれば、波長0.98μmの吸収の変化前後の受光強度はexp(-αΔt)倍だけ異なるので、受光強度比からΔtが算出できる。波長1.55μmの吸収の水の厚み変化による受光強度変化はexp(-βΔt)倍になるので、水の厚み変化と温度変化との両方の影響を受けた受光強度変化から、水の厚み変化の影響だけを受けた受光強度変化を除算すれば水の温度変化だけが判ることとなる。従って、温度変化にあまり影響されない波長と、温度変化に影響される波長の2つの受光強度変化から、水の厚み変化すなわち水の量の変化と、水の温度変化とがそれぞれ判ることとなる。
 図19に、水温と波長1.55μmの光の受光強度との関係を確認した実験例を示す。図19に示すように、波長1.55μmの光の受光強度は、水の温度が下がると吸収が大きくなるので受光強度は下がる。しかし、水温が0℃以下になり凍結すると水表面が粗面となって散乱が増えるので、受光強度が上がる。従って、波長1.55μmの受光強度が下がった後に急激に上昇することを検知すれば、水が凍結したことを検知できる。波長1.55μmの光だけでは水の量の変化の影響と温度の変化の影響とを分離できないが、前述したように波長0.98μmの光の受光強度も測定することにより温度の影響だけが判るので、2つの波長を利用することでより誤検出の少ない凍結検知が可能となる。
 [応用例5]
 図20は、分光装置70の応用例5を説明する図である。図20の応用例5では、分光装置70が道路204の周縁に設けられた柱201の上部に設けられている。ディスプレイ203は、分光装置70が取得した情報を画像やテキスト等で表示できる機能を備えた表示装置である。物体16は、道路204の上に存在する物質、例えば降雨や湧出等により発生した水やこぼれた油である。
 分光装置70は、道路204を二次元的に走査し(走査線202を模式的に示す)、水や油等の物体16が有る箇所を検出すると共に、道路204をカメラ71で撮影する。そして、分光装置70は、検出した物体16や撮影した道路204に関する情報をディスプレイ203に表示させる。また、分光装置70は、通信手段(図示せず)を介して、周囲の車両や歩行者あるいは道路管理者等に、これらの情報を送出することができるようになっている。
 応用例5の構成によれば、柱201に備えられた分光装置70によって、柱201の周囲における道路204上の水の分布、温度、凍結を検知し、その情報をディスプレイ203によって周囲の車両や歩行者に表示できるので、スリップ事故等の危険を少なくすることができる。また、表示が直接見えない場所にいる歩行者や車両、道路管理者にも、通信手段を介して情報を伝達できるので、より効果的な安全確保が可能となる。
 なお、この応用例5の手法は、道路204上の水以外にも、室内の床にこぼれた水や、室内の結露、工場内の洗浄工程あるいは乾燥工程での水分布、水温の検知・表示、冷却設備での凍結の検知や表示等、種々の応用に用いることが可能である。
 (第8の実施形態)
 図21は、第8の実施形態における分光装置80の構成図である。本分光装置80は、固体光源11aと、光源制御部12と、レンズ13aと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18と、走査部51と、走査駆動部52と、出力部53と、ビームサンプラー81とを備える。
 本分光装置80は、上記分光装置50と比べて、固体光源11b及びレンズ13bを省き、ビームサンプラー81を備えた構成が異なる。以下、この異なる構成を説明し、他の同じ構成については同じ符号を用い説明を省略する。
 ビームサンプラー81は、固体光源11aから出射した光の一部を反射させて前光モニタ15に入射させる。前光モニタ15の出力は、光源制御部12に入力されて、固体光源11aの出力が一定値になるようにフィードバックされる。
 本分光装置80の構成は、これまで説明した分光装置10~70の構成と異なり、固体光源が1つである。このため、分光装置80の構成は、固体光源11aの走査を少なくとも2サイクル以上行う。これにより、ターゲットの時間的な変化を検出し、物体16の存在有無を検出する。以下、最初の走査サイクルを「第一の走査サイクル」、次(又は以降)の走査サイクルを「第二の走査サイクル」として説明する。
 まず、第一の走査サイクルにて、走査部51によって走査されターゲットから散乱反射して受光部17で受光された光の強度は、計測部18において走査位置毎に受光量として記憶される。具体的には、ターゲットに物体16が存在しないときに、第一の走査サイクルを実行して、ターゲット面における受光量を初期データとして保持しておく。
 次に、第二の走査サイクルでは、走査部51によって走査されターゲットから散乱反射して受光部17で受光された光の強度が、計測部18において第一の走査サイクル時に記憶された同一走査位置の受光量と比較される。比較結果は、例えば受光量の比率が二次元の濃淡として出力部53に表示される。
 以上のように、本第8の実施形態における分光装置80によれば、第二の走査サイクルを繰り返すことで物体16の有無検知とその二次元分布を知ることが可能となる。また、ビームサンプラー81を採用して固体光源11aの出力を一定に保つようにするので、複数回の走査サイクルにてターゲットの時間的な変化を確認することができ、1つの固体光源11aによっても物体16の有無の検出が可能となる。
 なお、第一の走査サイクルは、1時間に一度や1日に一度等定期的に行い、物体16以外の変化因子による影響を適宜補正することが好ましい。
 また、走査位置毎の受光量の記憶先としては、計測部18以外に、ネットワークに接続された記憶部を利用することも可能である。記憶部と計測部とを分離することで、複数の分光装置をネットワークに接続して1つの記憶部を共有し、システムのメンテナンスを容易にしたりコストを下げたりすることが可能となる。
 (第9の実施形態)
 図22は、第9の実施形態における分光装置90の構成図である。本分光装置90は、固体光源11a及び11bと、光源制御部12と、レンズ13a及び13bと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18と、走査部51と、走査駆動部52と、出力部53と、距離計測部91とを備える。
 本分光装置90は、上記分光装置50と比べて、距離計測部91の構成を備えることが異なる。以下、この異なる構成を説明し、他の同じ構成については同じ符号を用い説明を省略する。
 距離計測部91は、周知の光飛行時間測定法又はタイムオブフライト法と称される方式によって、分光装置90とターゲットとの距離を計測する。光飛行時間測定法は、簡単に説明すると、光を発射してから測定対象物で反射して戻ってくるまでの時間を計測して距離を算出する方法である。具体的には、距離計測部91は、固体光源11a(又は固体光源11b)から出射した光がターゲットで反射され受光部17に到達するまでの時間を計測し、分光装置90とターゲットとの距離を算出する。なお、図22では判り易いように、距離計測部91を計測部18とは分離して記載したが、距離計測部91が計測部18に含まれていても構わない。
 以上のように、本第9の実施形態における分光装置90によれば、距離計測部91を用いてターゲットの三次元形状を計測できる。これにより、ターゲットの三次元形状から地面に対して水平面や垂直面を抽出できるので、例えば水平面のうち、最も下部にある水平面を床と見なして、床にある水だけを抽出したり、垂直面を壁面と見なして壁面の結露だけを抽出したりすることが可能となる。
 なお、三次元形状から水平面や垂直面を抽出するには分光装置90自体の姿勢を知る必要があるが、これに関しては分光装置90に水準器を備えてもよいし、分光装置90の設置時に姿勢データを計測部18に記憶させてもよい。
 (第10の実施形態)
 図23は、第10の実施形態における分光装置100の構成図である。本分光装置100は、固体光源11a及び11bと、光源制御部12と、レンズ13a及び13bと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18と、走査部51と、走査駆動部52と、出力部53と、非接触温度計測部101と、波長選択性ミラー102とを備える。
 本分光装置100は、上記分光装置50と比べて、非接触温度計測部101及び波長選択性ミラー102の構成を備えることが異なる。以下、この異なる構成を説明し、他の同じ構成については同じ符号を用い説明を省略する。
 非接触温度計測部101は、ターゲット又は物体16から放射される赤外線を検知して温度を計測する。非接触温度計測部101としては、例えば中赤外線や遠赤外線を利用する放射温度計が使用できる。波長選択性ミラー102は、非接触温度計測部101が利用する波長の光は反射し、固体光源11a及び11bから出射する波長の光は透過する。また、走査部51は、固体光源11a及び11bから出射する波長の光だけでなく、非接触温度計測部101が利用する波長の光も反射する。また、計測部18には物体16の光吸収の温度特性データが記憶されている。ターゲットから走査部51に戻ってくる散乱光のうち、非接触温度計測部101が利用する波長の光(赤外線、中赤外線、遠赤外線)は、走査部51及び波長選択性ミラー102でそれぞれ反射して非接触温度計測部101で検知される。これにより、走査箇所の温度を計測することができる。
 以上のように、本第10の実施形態における分光装置100によれば、走査箇所の温度T(K)が判るので、予め計測部18に記憶させておいた物体16の光吸収の温度特性から得られる温度T(K)における固体光源11aの光の吸収率と固体光源11bの光の吸収率の比率とを用いて、物体16の有無判断を行えば、温度の影響の少ないより高精度な分光処理が可能となる。つまり、温度に変動分を補正した受光量に基づいて、適切に分光処理が可能となる。本実施形態は、ターゲットが時々刻々変化するような応用例、例えば第7の実施形態における分光装置70の応用例4のような、車両171に取り付けた分光装置70の精度向上に特に効果的である。あるいはターゲットが静止していても、温度ムラが大きいような場所での分光装置の精度向上に効果的である。
 なお、第10の実施形態においては、非接触温度計測部101が、走査部51を介してターゲットから戻ってくる光を走査点毎に検知する構成を記載したが、ターゲットから直接戻ってくる光を検知する構成にしても構わない。この場合、エリアセンサ型の放射温度計を使えば、ターゲットの微小領域毎の温度が判る。あるいは、ラインセンサ型やスポット型の放射温度計であっても、ターゲットの平均的な温度を補正値として使えるので分光処理の精度が向上する。
 以上、本発明の1つ又は複数の態様に係る分光装置について、実施形態に基づいて説明したが、本発明はこの実施形態に限定されるものではない。本発明の趣旨を逸脱しない限り、当業者が思いつく各種変形を本実施形態に施したものや、異なる実施形態における構成要素を組み合わせて構築される形態も、本発明の1つ又は複数の態様の範囲内に含まれてもよい。
 例えば、上記各実施形態において、各構成要素は、専用のハードウェアで構成されるか、各構成要素に適したソフトウェアプログラムを実行することによって実現されてもよい。各構成要素は、CPU又はプロセッサ等のプログラム実行部が、ハードディスク又は半導体メモリ等の記録媒体に記録されたソフトウェアプログラムを読み出して実行することによって実現されてもよい。
 本発明にかかる分光装置は、波長の特定された光源を有し、分光素子を用いない成分分析装置等として有用である。また、水等特定の物質の存在検知や、分布の可視化等の用途にも応用できる。
10、20、30、40、50、60、70、80、90、100 分光装置
11a、11b、180 固体光源(光源部)
12 光源制御部
13a、13b レンズ
14 波長選択性光分岐素子
15 前光モニタ
16、183 物体
17、181 受光部
18 計測部
21 偏光ビームスプリッタ
31 穴あきレンズ
32、61 ハーフミラー
41 放物面鏡
51 走査部
52 走査駆動部
53 出力部
71 カメラ
81 ビームサンプラー
91 距離計測部
101 非接触温度計測部
102 波長選択性ミラー
141、203 ディスプレイ
142 利用者
143、151、162、172、202 走査線
152、153 容器
154 陳列棚
155 床面
157 壁面
161、201 柱
164、174、204 道路
171 車両
301 液体漏洩検出装置
302 油分封入設備
303、303a 油分
304 中間赤外光

Claims (18)

  1.  分光装置であって、
     特定の物体による所定の吸収率を持つ第1波長の光と、当該特定の物体による吸収率が当該第1波長よりも小さい第2波長の光とを、ターゲットに照射する光照射部と、
     前記第1波長の光が前記ターゲットを透過又は反射した第1の散乱光、及び前記第2波長の光が前記ターゲットを透過又は反射した第2の散乱光を、それぞれ受光する受光部と、
     前記受光部が受光した前記第1の散乱光と前記第2の散乱光との差異に基づいて、前記ターゲットにおける前記特定の物体の検出に利用される情報を生成する計測部とを備える、分光装置。
  2.  前記光照射部は、
      前記第1波長の光を出射する第1の固体光源と、
      前記第2波長の光を出射する第2の固体光源と、
      前記受光部に前記第1波長の光と前記第2波長の光とを弁別して受光させるように、前記第1及び第2の固体光源を駆動する光源制御部とを含む、請求項1に記載の分光装置。
  3.  前記光源制御部は、前記第1の固体光源と前記第2の固体光源とを、出射タイミングをずらして駆動する、請求項2に記載の分光装置。
  4.  前記光源制御部は、前記第1の固体光源と前記第2の固体光源とを、異なる周波数で変調して駆動する、請求項2に記載の分光装置。
  5.  前記光照射部は、前記第1波長の光及び前記第2波長の光を前記ターゲットの同じ位置に照射する、請求項1に記載の分光装置。
  6.  前記計測部は、前記受光部が受光した前記第1の散乱光の強度と前記第2の散乱光の強度との比率に基づいて、前記ターゲットにおける前記特定の物体の存在有無を判断する、請求項1に記載の分光装置。
  7.  前記計測部は、前記第1の散乱光の強度に対して前記第2の散乱光の強度が大きければ前記ターゲットに前記特定の物体が存在すると判断する、請求項6に記載の分光装置。
  8.  前記特定の物体が存在する場合に前記受光部が受光した前記第1の散乱光の強度と前記第2の散乱光の強度との比率が、10以上となるように前記第1波長及び前記第2波長が設定される、請求項7に記載の分光装置。
  9.  前記特定の物体による前記第1波長の光の吸収率の温度変化量は、前記特定の物体による前記第2波長の光の吸収率の温度変化量よりも、10倍以上大きくなるように前記第1波長及び前記第2波長が設定される、請求項1に記載の分光装置。
  10.  前記光照射部は、前記第1波長の光及び前記第2波長の光を、二次元方向に走査して前記ターゲットに照射する走査処理部を含む、請求項1に記載の分光装置。
  11.  前記走査処理部は、まず前記ターゲットの全体を空間的に粗く走査し、前記特定の物体が存在すると判断すると、次に前記特定の物体が存在する領域を空間的に密に走査する、請求項10に記載の分光装置。
  12.  前記走査処理部は、まず前記ターゲットの全体を時間的に粗く走査し、前記特定の物体が存在すると判断すると、次に前記特定の物体が存在する領域を時間的に密に走査する、請求項10に記載の分光装置。
  13.  前記走査処理部による走査及び前記計測部で生成された情報に基づいて、前記ターゲットにおける前記特定の物体の存在有無を二次元領域の情報で出力する出力部をさらに備える、請求項10に記載の分光装置。
  14.  前記ターゲットを撮影するカメラをさらに備え、
     前記出力部は、前記ターゲットにおける前記特定の物体の存在有無に関する二次元領域の情報を、前記カメラで撮影された前記ターゲットの二次元画像に重畳させて出力する、請求項10に記載の分光装置。
  15.  前記第2波長は、前記カメラが感度を有する波長範囲の不可視光の波長に設定される、請求項14に記載の分光装置。
  16.  前記ターゲットまでの距離を測定する距離計測部をさらに備え、
     前記出力部は、前記ターゲットにおける前記特定の物体の存在有無に関する二次元領域の情報に、前記距離計測部で測定された距離情報を加えて、三次元領域の情報として出力する、請求項10に記載の分光装置。
  17.  前記ターゲットの温度を測定する温度計測部をさらに備え、
     前記出力部は、前記ターゲットにおける前記特定の物体の存在有無に関する二次元領域の情報を、前記温度計測部で測定された温度情報に従って補正して出力する、請求項10に記載の分光装置。
  18.  前記特定の物体は水であり、前記第1波長は1.4μm以上、かつ、前記第2波長は1.3μm以下に設定される、請求項1に記載の分光装置。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3035217A1 (ja) * 2015-04-15 2016-10-21 Halliburton Energy Services Inc
JP2017083352A (ja) * 2015-10-29 2017-05-18 Smk株式会社 車載センサ、車両用灯具、車両及び路面状態センサ
JP2017085414A (ja) * 2015-10-29 2017-05-18 Smk株式会社 撮像システム、車両用灯具及び車両
JPWO2017170825A1 (ja) * 2016-03-31 2019-01-31 国立研究開発法人産業技術総合研究所 観察装置、観察システム、データ処理装置及びプログラム
WO2019044252A1 (ja) * 2017-08-29 2019-03-07 パナソニックIpマネジメント株式会社 水分量センサ及び路面状態検出装置
JP2019148450A (ja) * 2018-02-26 2019-09-05 パナソニックIpマネジメント株式会社 成分検知センサ
WO2021166403A1 (ja) * 2020-02-18 2021-08-26 パナソニックIpマネジメント株式会社 水分検知装置
WO2022138464A1 (ja) * 2020-12-23 2022-06-30 パナソニックIpマネジメント株式会社 漏水センサ
WO2023084666A1 (ja) * 2021-11-11 2023-05-19 日本電信電話株式会社 紫外光照射システム

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11106110B2 (en) * 2014-10-20 2021-08-31 Sony Corporation Optical shaping apparatus and method of manufacturing shaped object
JP6751398B2 (ja) * 2015-09-03 2020-09-02 株式会社小糸製作所 水加熱装置、及び、それを用いた灯具
DE102016221383A1 (de) * 2016-10-31 2018-05-03 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Steuergerät zum Betreiben eines Mikrospektrometers und Mikrospektrometersystem
CN106769882B (zh) * 2016-11-01 2021-12-03 深圳先进技术研究院 溢油监测仪及其监测方法
EP3330685A1 (de) * 2016-12-05 2018-06-06 Sick Ag Messvorrichtung für absorptionsspektroskopie
US10372996B2 (en) 2016-12-15 2019-08-06 Ford Global Technologies, Llc Automatic vehicle leak detection
US10296816B2 (en) 2017-01-11 2019-05-21 Ford Global Technologies, Llc Generating training data for automatic vehicle leak detection
FR3062210A1 (fr) * 2017-01-20 2018-07-27 Valeo Comfort And Driving Assistance Procede d'evaluation de l'homogeneite optique apparente de deux surfaces d'affichage
JP6712792B2 (ja) * 2017-02-24 2020-06-24 パナソニックIpマネジメント株式会社 乾燥度センサ
EP3480571B1 (de) * 2017-10-10 2023-04-05 PÖTTINGER Landtechnik GmbH Vorrichtung zum optischen erkennen von objekten
KR20190046112A (ko) * 2017-10-25 2019-05-07 한국전자통신연구원 다면체 회전 거울과 텔레센트릭 f-세타 렌즈를 이용한 테라헤르츠 반사 영상 시스템
JP7077651B2 (ja) * 2018-02-16 2022-05-31 横河電機株式会社 分光分析装置
EP3598105A1 (en) * 2018-07-20 2020-01-22 Omya International AG Method for detecting phosphate and/or sulphate salts on the surface of a substrate or within a substrate, use of a lwir detecting device and a lwir imaging system
WO2020202887A1 (ja) * 2019-03-29 2020-10-08 パナソニックIpマネジメント株式会社 エアロゾル計測装置及びエアロゾル計測方法
DE102019207387A1 (de) * 2019-05-21 2020-11-26 Robert Bosch Gmbh Optische Beleuchtungseinrichtung zum Beleuchten einer Probe, optische Analyseeinrichtung zum Beleuchten und Analysieren einer Probe und Verfahren zum Betreiben einer optischen Analyseeinrichtung
FI128495B (en) 2019-05-21 2020-06-15 Vaisala Oyj Method for calibrating optical surface monitoring system, arrangement, device and computer readable memory
EP3855162A1 (en) * 2020-01-21 2021-07-28 Omya International AG Lwir imaging system for detecting an amorphous and/or crystalline structure of phosphate and/or sulphate salts on the surface of a substrate or within a substrate and use of the lwir imaging system
CN111239170B (zh) * 2020-02-11 2023-06-13 常州广为仪器科技有限公司 一种测量微量元素的x射线检测装置及检测方法
DE102022213580A1 (de) * 2022-12-13 2024-06-13 It Inventor Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung einer Anlage der Luft- und Klimatechnik

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08128916A (ja) * 1994-10-31 1996-05-21 Mitsubishi Electric Corp 油漏れ検出装置
JPH11194089A (ja) * 1997-08-20 1999-07-21 Daimler Benz Ag 車道表面の状態を求める方法
JP2000009440A (ja) * 1998-06-18 2000-01-14 Kao Corp 三次元物体の計測方法及び装置
JP2003215032A (ja) * 2002-01-17 2003-07-30 Hitachi Medical Corp 生体光計測装置
JP2008026036A (ja) * 2006-07-18 2008-02-07 Aloka Co Ltd 含有物測定装置
JP2008275477A (ja) * 2007-04-27 2008-11-13 Tokyo Institute Of Technology 領域抽出装置及び領域抽出方法
JP2009257919A (ja) * 2008-04-16 2009-11-05 Panasonic Corp 固体撮像装置、撮像システム及び検知装置
JP2010025622A (ja) 2008-07-16 2010-02-04 Pola Chem Ind Inc 皮膚水分量分布の鑑別法、その鑑別装置及びプログラム
JP2011062301A (ja) * 2009-09-16 2011-03-31 Fujifilm Corp 光構造像観察装置、その構造情報処理方法及び光構造像観察装置を備えた内視鏡装置
JP2011523065A (ja) * 2008-06-10 2011-08-04 エックストラリス・テクノロジーズ・リミテッド 粒子の検出
JP2012154854A (ja) 2011-01-27 2012-08-16 Nippon Signal Co Ltd:The 液体漏洩検出方法及び液体漏洩検出装置

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6288932A (ja) 1985-10-16 1987-04-23 Japan Sensor Corp:Kk 容器の液体漏れ検出装置
JP2870965B2 (ja) 1989-04-14 1999-03-17 三菱重工業株式会社 食品の成分測定装置
JPH04328449A (ja) 1991-04-26 1992-11-17 Kao Corp 水分測定方法および測定装置
DE4133359C2 (de) 1991-10-09 1997-01-02 Porsche Ag Verfahren zur Messung der Dicke einer auf einer Fahrbahn vorhandenen Wasserschicht und Verwendung einer Vorrichtung hierfür
JP2796906B2 (ja) * 1992-02-03 1998-09-10 日立電子エンジニアリング株式会社 異物検査装置
US6281801B1 (en) * 1997-06-04 2001-08-28 Bechtel Bwxt Idaho, Llc System and method for monitoring water content or other dielectric influences in a medium
US6263725B1 (en) * 1998-09-18 2001-07-24 Alberta Research Council Inc. On-line sensor for colloidal substances
US7158294B2 (en) * 2001-12-18 2007-01-02 Olympus Optical Co., Ltd. Laser scanning confocal microscope apparatus, image recording method, and recording medium
US7344082B2 (en) * 2002-01-02 2008-03-18 Metrologic Instruments, Inc. Automated method of and system for dimensioning objects over a conveyor belt structure by applying contouring tracing, vertice detection, corner point detection, and corner point reduction methods to two-dimensional range data maps of the space above the conveyor belt captured by an amplitude modulated laser scanning beam
JP3997183B2 (ja) * 2003-06-20 2007-10-24 住友重機械工業株式会社 溶着状態検査方法
DE10356826B4 (de) * 2003-12-05 2021-12-02 Leica Microsystems Cms Gmbh Rastermikroskop
JP4679962B2 (ja) * 2005-05-13 2011-05-11 株式会社フジクラ 光センシングシステム
JP2007010584A (ja) 2005-07-01 2007-01-18 Shiseido Co Ltd 対象における尿素の量を評価する方法及び装置、対象における尿素及び水分の量を評価する方法及び装置、プログラム、並びにコンピュータ読み取り可能な記録媒体
CA2566933C (en) * 2006-10-17 2013-09-24 Athena Industrial Technologies Inc. Inspection apparatus and method
CN101194828B (zh) * 2007-12-24 2011-02-02 清华大学深圳研究生院 人眼房水葡萄糖浓度的无损光学检测装置
JP2009153654A (ja) * 2007-12-26 2009-07-16 Olympus Corp 生体観察装置および生体観察方法
JP5072688B2 (ja) * 2008-04-02 2012-11-14 キヤノン株式会社 走査型撮像装置
GB0821050D0 (en) * 2008-11-18 2008-12-24 Durham Scient Crystals Ltd Detector apparatus and method
US8085301B2 (en) 2009-03-16 2011-12-27 Southwest Research Institute Compact handheld detector for greenhouse gasses
US8477304B2 (en) * 2009-07-08 2013-07-02 Battelle Memorial Institute System and method for high precision isotope ratio destructive analysis
JP5508808B2 (ja) * 2009-10-15 2014-06-04 オリンパス株式会社 画像解析方法および画像解析装置
JP4973751B2 (ja) 2009-11-26 2012-07-11 横河電機株式会社 生体成分測定装置
US20130292571A1 (en) * 2011-06-02 2013-11-07 Infrasign, Inc. Optically multiplexed mid-infrared laser systems and uses thereof

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08128916A (ja) * 1994-10-31 1996-05-21 Mitsubishi Electric Corp 油漏れ検出装置
JPH11194089A (ja) * 1997-08-20 1999-07-21 Daimler Benz Ag 車道表面の状態を求める方法
JP2000009440A (ja) * 1998-06-18 2000-01-14 Kao Corp 三次元物体の計測方法及び装置
JP2003215032A (ja) * 2002-01-17 2003-07-30 Hitachi Medical Corp 生体光計測装置
JP2008026036A (ja) * 2006-07-18 2008-02-07 Aloka Co Ltd 含有物測定装置
JP2008275477A (ja) * 2007-04-27 2008-11-13 Tokyo Institute Of Technology 領域抽出装置及び領域抽出方法
JP2009257919A (ja) * 2008-04-16 2009-11-05 Panasonic Corp 固体撮像装置、撮像システム及び検知装置
JP2011523065A (ja) * 2008-06-10 2011-08-04 エックストラリス・テクノロジーズ・リミテッド 粒子の検出
JP2010025622A (ja) 2008-07-16 2010-02-04 Pola Chem Ind Inc 皮膚水分量分布の鑑別法、その鑑別装置及びプログラム
JP2011062301A (ja) * 2009-09-16 2011-03-31 Fujifilm Corp 光構造像観察装置、その構造情報処理方法及び光構造像観察装置を備えた内視鏡装置
JP2012154854A (ja) 2011-01-27 2012-08-16 Nippon Signal Co Ltd:The 液体漏洩検出方法及び液体漏洩検出装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
MUTSUKO NAKAMURA; SHIGEKI NAKAUCHI: "Moisturizing effect of skin care using NIR imaging", OPTICS, vol. 39, no. 11, 2010, pages 529,533

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3035217A1 (ja) * 2015-04-15 2016-10-21 Halliburton Energy Services Inc
JP2017083352A (ja) * 2015-10-29 2017-05-18 Smk株式会社 車載センサ、車両用灯具、車両及び路面状態センサ
JP2017085414A (ja) * 2015-10-29 2017-05-18 Smk株式会社 撮像システム、車両用灯具及び車両
JPWO2017170825A1 (ja) * 2016-03-31 2019-01-31 国立研究開発法人産業技術総合研究所 観察装置、観察システム、データ処理装置及びプログラム
US10551300B2 (en) 2016-03-31 2020-02-04 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Observation apparatus, observation system, data processing apparatus, and program
WO2019044252A1 (ja) * 2017-08-29 2019-03-07 パナソニックIpマネジメント株式会社 水分量センサ及び路面状態検出装置
JPWO2019044252A1 (ja) * 2017-08-29 2020-03-26 パナソニックIpマネジメント株式会社 水分量センサ及び路面状態検出装置
US11480520B2 (en) 2017-08-29 2022-10-25 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Water content sensor and road surface state detection device
JP2019148450A (ja) * 2018-02-26 2019-09-05 パナソニックIpマネジメント株式会社 成分検知センサ
WO2021166403A1 (ja) * 2020-02-18 2021-08-26 パナソニックIpマネジメント株式会社 水分検知装置
WO2022138464A1 (ja) * 2020-12-23 2022-06-30 パナソニックIpマネジメント株式会社 漏水センサ
WO2023084666A1 (ja) * 2021-11-11 2023-05-19 日本電信電話株式会社 紫外光照射システム

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