WO2022138464A1 - 漏水センサ - Google Patents

漏水センサ Download PDF

Info

Publication number
WO2022138464A1
WO2022138464A1 PCT/JP2021/046622 JP2021046622W WO2022138464A1 WO 2022138464 A1 WO2022138464 A1 WO 2022138464A1 JP 2021046622 W JP2021046622 W JP 2021046622W WO 2022138464 A1 WO2022138464 A1 WO 2022138464A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
light
water leakage
electric signal
detection target
water
Prior art date
Application number
PCT/JP2021/046622
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
徹 馬場
弘貴 松浪
Original Assignee
パナソニックＩｐマネジメント株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by パナソニックＩｐマネジメント株式会社 filed Critical パナソニックＩｐマネジメント株式会社
Priority to JP2022571387A priority Critical patent/JPWO2022138464A1/ja
Publication of WO2022138464A1 publication Critical patent/WO2022138464A1/ja

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M3/00—Investigating fluid-tightness of structures
    • G01M3/38—Investigating fluid-tightness of structures by using light
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3554—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content

Definitions

  • the present invention relates to a leak sensor.
  • Patent Document 1 a water landing type leak sensor that detects a leak by permeating the sensor itself with water is known (see, for example, Patent Document 1).
  • an object of the present invention is to provide a leak sensor capable of improving the accuracy of leak detection.
  • the water leakage sensor is a water leakage sensor that emits light to the detection target area and determines water leakage in the detection target area based on the reflected light from the detection target area. Therefore, the detection light including the first wavelength band whose absorption by water is larger than the predetermined value and the reference light including the second wavelength band whose absorption by water is equal to or less than the predetermined value are directed to the detection target region as light.
  • the light emitting unit that emits light, the first light receiving unit that receives the detection light reflected by the detection target area and converts it into the first electric signal, and the reference light reflected by the detection target area are received and converted into the second electric signal. It includes a second light receiving unit for conversion, and an arithmetic processing unit for determining water leakage in the detection target region based on the first electric signal and the second electric signal.
  • the accuracy of leak detection can be improved.
  • each figure is a schematic diagram and is not necessarily exactly illustrated. Therefore, for example, the scales and the like do not always match in each figure. Further, in each figure, substantially the same configuration is designated by the same reference numeral, and duplicate description will be omitted or simplified.
  • FIG. 1 is an image diagram showing an installation status of the water leakage sensor 100 according to the embodiment.
  • the water leakage sensor 100 is installed in the facility where the pipe 200 is arranged.
  • the water leakage sensor 100 is a non-contact optical sensor that determines water leakage in the pipe 200 at a position away from the pipe 200.
  • FIG. 2 is a perspective view showing a schematic configuration of the water leakage sensor 100 according to the embodiment.
  • FIG. 3 is a control block diagram of the water leakage sensor 100 according to the embodiment. As shown in FIGS. 2 and 3, the water leakage sensor 100 includes a sensor unit 1, a notification unit 2, a scanning unit 3, and a control unit 4.
  • the sensor unit 1 irradiates the object while scanning light from a fixed position, and detects water leakage at each irradiation position. Specifically, the sensor unit 1 irradiates the pipe 200, which is an object, while scanning light from a fixed position, and detects water leakage at each irradiation position.
  • the sensor unit 1 is installed in the scanning unit 3 so that the posture is changed by the scanning unit 3. Since the posture of the sensor unit 1 is changed by the scanning unit 3, the sensor unit 1 irradiates light while scanning the scanning range A (see FIG. 4) including the pipe 200, and detects water leakage in each portion of the scanning range A. do. The details of the sensor unit 1 will be described later.
  • FIG. 4 is a plan view schematically showing the scanning range A of the sensor unit 1 according to the embodiment.
  • the scanning range A is a detection target area where water leakage is detected by the water leakage sensor 100.
  • the scanning unit 3 temporarily stops scanning the light a plurality of times while the light from the sensor unit 1 scans the scanning range A.
  • the irradiation range R is a range in which the sensor unit 1 irradiates light when it is stopped once.
  • the notification unit 2 is a notification unit that notifies information based on the detection result of the sensor unit 1.
  • the notification unit 2 is, for example, a display monitor or the like.
  • the scanning unit 3 changes the posture of the sensor unit 1 to scan the irradiation range R.
  • the scanning unit 3 includes a rotary table 31, a first rotation unit 32, and a second rotation unit 33.
  • the rotary table 31 is fixed at an appropriate position in the facility and holds the first rotating portion 32 and the second rotating portion 33.
  • the first rotary unit 32 is provided on the rotary table 31 so that a part thereof rotates with respect to the rotary table 31.
  • the first rotating portion 32 includes a first base 321 and a wall portion 322 erected with respect to the first base 321 and a first motor 323 for rotating the first base 321. ing.
  • the rotation axis of the first motor 323 is in the vertical direction.
  • the second rotating portion 33 is provided in the first rotating portion 32 so that a part of the second rotating portion 33 rotates with respect to the first rotating portion 32.
  • the second rotating unit 33 includes a second base 331 and a second motor 332 that rotates the second base 331.
  • the second base 331 is attached to the wall portion 322 via the second motor 332.
  • the sensor unit 1 is fixed to the second base 331.
  • the rotation axis of the second motor 332 is orthogonal to the rotation axis of the first motor 323.
  • the rotation direction of the second base 331 is indicated by an arrow Y2 in FIG.
  • the posture of the sensor unit 1 fluctuates.
  • the irradiation range R scans within the scanning range A.
  • the first motor 323 adjusts the pitch of the irradiation range R in the main scanning direction by controlling the rotation angle.
  • the second motor 332 adjusts the pitch of the irradiation range R in the sub-scanning direction by controlling the rotation angle.
  • Each of the first rotating unit 32 and the second rotating unit 33 is an example of a rotating unit that rotates the sensor unit 1 (housing 10).
  • control unit 4 is composed of, for example, a microcontroller, and controls the sensor unit 1 and the scanning unit 3.
  • the control unit 4 includes a non-volatile memory in which a processing program for controlling the sensor unit 1 and the scanning unit 3 is stored, a volatile memory as a temporary storage area for executing the program, an input / output port, and the like. It has a processor that executes programs.
  • control unit 4 scans while the position of the irradiation range R temporarily stops in the scanning range A a plurality of times by controlling the first motor 323 and the second motor 332 of the scanning unit 3.
  • the posture of the sensor unit 1 is controlled so as to do so.
  • the control unit 4 controls the sensor unit 1 to detect water leakage in the irradiation range R at the position.
  • the control unit 4 controls the notification unit 2 to notify information based on the detection result.
  • FIG. 5 is a schematic diagram showing the configuration of the sensor unit 1 and the detection target (pipe 200, etc.) according to the embodiment.
  • FIG. 6 is a block diagram showing a control configuration of the sensor unit 1 according to the embodiment.
  • the sensor unit 1 includes a housing 10, a light emitting unit 20, a first light receiving module 70, a second light receiving module 40, and a signal processing circuit 50.
  • a housing 10 a light emitting unit 20
  • a first light receiving module 70 a first light receiving module 70
  • a second light receiving module 40 a second light receiving module 40
  • a signal processing circuit 50 a signal processing circuit 50
  • the housing 10 houses a light emitting unit 20, a first light receiving module 70, a second light receiving module 40, and a signal processing circuit 50.
  • the housing 10 is made of a light-shielding material. As a result, it is possible to suppress the external light from entering the housing 10.
  • the housing 10 is made of a resin material or a metal material having a light-shielding property with respect to the light received by the first light receiving module 70 and the second light receiving module 40.
  • a plurality of openings are provided on the outer wall of the housing 10, and the lens 21 of the light emitting unit 20 and the lens 71 of the first light receiving module 70 are attached to these openings.
  • the light emitting unit 20 emits light emission to the detection target, the detection light including the first wavelength band whose absorption by water is larger than the predetermined value, and the reference light including the second wavelength band whose absorption by water is equal to or less than the predetermined value. It is a department. Specifically, the light emitting unit 20 includes a lens 21 and a light source 22.
  • the lens 21 is a condensing lens that collects the light emitted by the light source 22 with respect to the detection target.
  • the lens 21 is a convex lens made of resin, but the lens 21 is not limited to this.
  • the light source 22 is an LED (Light Emitting Diode) light source that includes a first wavelength band that forms a detection light and a second wavelength band that forms a reference light, and emits continuous light having a peak wavelength on the second wavelength band side.
  • the light source 22 is an LED light source made of a compound semiconductor.
  • FIG. 7 is a diagram showing absorption spectra of water and water vapor. As shown in FIG. 7, water has absorption peaks at wavelengths of about 1450 nm and about 1940 nm. Water vapor has an absorption peak at a wavelength slightly lower than the absorption peak of water, specifically at wavelengths of about 1350 nm to 1400 nm and about 1800 nm to 1900 nm.
  • the first wavelength band that forms the detection light a wavelength band having a high absorbance of water is selected, and as the second wavelength band that forms the reference light, a wavelength band having a smaller absorbance of water than the first wavelength band is selected. select. Then, as an example, the average wavelength of the second wavelength band is made longer than the average wavelength of the first wavelength body. Further, regarding the center wavelength defined by the center value of the wavelength which is the half value of the maximum transmittance of the optical bandpass filter, for example, the center wavelength of the first wavelength band is 1450 nm and the center wavelength of the second wavelength band is 1700 nm. do.
  • the detection target includes the detection light including the first wavelength band that is largely absorbed by water and water.
  • the reference light including the second wavelength band whose absorption by the light source is smaller than that of the first wavelength band is irradiated.
  • the first light receiving module 70 includes a lens 71, a first bandpass filter 72, and a first light receiving unit 73.
  • the lens 71 is a condensing lens for condensing the reflected light reflected by the detection target on the first light receiving unit 73.
  • the lens 71 is fixed to the housing 10 so that the focal point is located on the light receiving surface of the first light receiving portion 73, for example.
  • the lens 71 is, for example, a convex lens made of resin, but is not limited to this.
  • the first bandpass filter 72 is a bandpass filter that extracts light in the first wavelength band from reflected light. Specifically, the first bandpass filter 72 is arranged between the lens 71 and the first light receiving unit 73, and is on the optical path of the reflected light transmitted through the lens 71 and incident on the first light receiving unit 73. It is provided in. Further, the first bandpass filter 72 is arranged so as to be inclined with respect to the optical axis of the lens 71. As a result, the first bandpass filter 72 transmits light in the first wavelength band and reflects light in other wavelength bands.
  • the first light receiving unit 73 is a light receiving element that receives light in the first wavelength band that is reflected by the detection target and has passed through the first bandpass filter 72 and converts it into a first electric signal.
  • the first light receiving unit 73 photoelectrically converts the received light in the first wavelength band to generate a first electric signal according to the amount of received light (that is, the intensity) of the light.
  • the generated first electric signal is output to the signal processing circuit 50.
  • the first light receiving unit 73 is, for example, a photodiode, but is not limited thereto.
  • the first light receiving unit 73 may be a phototransistor or an image sensor.
  • the second light receiving module 40 includes a second bandpass filter 42 and a second light receiving unit 43.
  • the second bandpass filter 42 is a bandpass filter that extracts light in the second wavelength band from the light reflected by the first bandpass filter 72. Specifically, the second bandpass filter 42 is arranged between the first bandpass filter 72 and the second light receiving unit 43, passes through the first bandpass filter 72, and passes through the second light receiving unit 43. It is provided on the optical path of the light incident on the. The second bandpass filter 42 transmits light in the second wavelength band and absorbs light in other wavelength bands.
  • the second light receiving unit 43 is a light receiving element that receives light in the second wavelength band that is reflected by the detection target and has passed through the second bandpass filter 42 and converts it into a second electric signal.
  • the second light receiving unit 43 photoelectrically converts the received light in the second wavelength band to generate a second electric signal according to the light receiving amount (that is, the intensity) of the light.
  • the generated second electric signal is output to the signal processing circuit 50.
  • the second light receiving unit 43 is a light receiving element having the same shape as the first light receiving unit 73. That is, when the first light receiving unit 73 is a photodiode, the second light receiving unit 43 is also a photodiode.
  • the signal processing circuit 50 controls the lighting of the light source 22 of the light emitting unit 20 and processes the first electric signal and the second electric signal output from the first light receiving unit 73 and the second light receiving unit 43 to prevent water leakage. It is a circuit to detect.
  • the signal processing circuit 50 may be housed in the housing 10 or may be mounted on the outer surface of the housing 10. Alternatively, the signal processing circuit 50 has a communication function such as wireless communication, and may receive the first electric signal from the first light receiving unit 73 and the second electric signal from the second light receiving unit 43.
  • a communication function such as wireless communication
  • the signal processing circuit 50 includes a light source control unit 51, a first amplification unit 52, a second amplification unit 53, a first signal processing unit 54, a second signal processing unit 55, and an operation.
  • a processing unit 56 is provided.
  • the light source control unit 51 is composed of a drive circuit and a microcontroller.
  • the light source control unit 51 includes a non-volatile memory in which the control program of the light source 22 is stored, a volatile memory which is a temporary storage area for executing the program, an input / output port, a processor for executing the program, and the like.
  • the light source control unit 51 controls the light source 22 so that the light source 22 is turned on and off repeatedly in a predetermined light emission cycle. Specifically, the light source control unit 51 outputs a pulse signal of a predetermined frequency (for example, 1 kHz) to the light source 22, thereby turning the light source 22 on and off at a predetermined light emission cycle.
  • a predetermined frequency for example, 1 kHz
  • the first amplification unit 52 amplifies the first electric signal output by the first light receiving unit 73 and outputs it to the first signal processing unit 54.
  • the first amplification unit 52 is an operational amplifier that amplifies the first electric signal.
  • the first signal processing unit 54 is composed of a microcontroller.
  • the first signal processing unit 54 includes a non-volatile memory in which a processing program for the first electric signal is stored, a volatile memory which is a temporary storage area for executing the program, an input / output port, a processor for executing the program, and the like.
  • the first signal processing unit 54 limits the pass band of the first electric signal, corrects the phase delay due to the pass band limitation, and then performs multiplication processing with the light emission period of the light source 22.
  • the processing for this first electric signal is so-called lock-in amplifier processing. This makes it possible to suppress noise based on ambient light from the first electric signal.
  • the second amplification unit 53 amplifies the second electric signal output by the second light receiving unit 43 and outputs it to the second signal processing unit 55.
  • the second amplification unit 53 is an operational amplifier that amplifies the second electric signal.
  • the second signal processing unit 55 is composed of a microcontroller.
  • the second signal processing unit 55 includes a non-volatile memory in which a processing program for the second electric signal is stored, a volatile memory which is a temporary storage area for executing the program, an input / output port, a processor for executing the program, and the like.
  • the second signal processing unit 55 limits the pass band of the second electric signal, corrects the phase delay due to the pass band limitation, and then performs multiplication processing with the light emission period of the light source 22.
  • the processing for this second electric signal is a so-called lock-in amplifier processing. This makes it possible to suppress noise based on ambient light from the second electrical signal.
  • the arithmetic processing unit 56 detects water leakage to be detected based on the first electric signal output from the first light receiving unit 73 and the second electric signal output from the second light receiving unit 43. Specifically, the arithmetic processing unit 56 determines the amount of water on the object based on the voltage level of the first electric signal (first signal value) and the voltage level of the second electric signal (second signal value). To detect. In the present embodiment, the arithmetic processing unit 56 is on the object based on the first electric signal processed by the first signal processing unit 54 and the second electric signal processed by the second signal processing unit 55. Detects the amount of water in. The arithmetic processing unit 56 outputs the detected water content to the control unit 4. The specific water content detection process will be described later.
  • the arithmetic processing unit 56 is, for example, a microcontroller.
  • the arithmetic processing unit 56 includes a non-volatile memory in which a signal processing program is stored, a volatile memory which is a temporary storage area for executing the program, an input / output port, a processor for executing the program, and the like.
  • the calculation processing unit 56 calculates the degree of water leakage and the water leakage rate by the water leakage detection process.
  • the degree of water leakage is an index that quantifies the degree of water leakage.
  • the water leakage rate is an index that quantifies the ratio of water pools due to water leakage. As for the degree of water leakage and the water leakage rate, the larger the numerical value, the larger the level of water leakage.
  • the degree of water leakage is calculated by the following (Equation 1).
  • the leak rate is calculated by the following (Equation 2).
  • the second reference value is the signal value of the second electric signal when there is no water leakage in the detection target area. That is, the signal value of the second electric signal when there is no water leakage is acquired in advance and used as the second reference value, and this second reference value is compared with the second signal value of the second electric signal at the time of detecting water leakage. The water leakage rate is calculated in.
  • the signal value (second reference value) of the second electric signal when there is no water leakage includes the influence of humidity, dew condensation, etc. at that time. By comparing this second reference value with the second signal value of the second electric signal at the time of detecting water leakage, the water leakage rate excluding the influences of humidity, dew condensation, etc. can be calculated.
  • the second reference value may be updated regularly.
  • the arithmetic processing unit 56 acquires the signal value of the second electric signal at predetermined intervals when there is no water leakage in the detection target area, and updates it as the second reference value.
  • the humidity changes even during the day, and the amount of dew condensation changes with the change.
  • the arithmetic processing unit 56 acquires the signal value of the second electric signal at predetermined intervals and updates it as the second reference value.
  • the predetermined cycle include hourly units, daily units, weekly units, monthly units, seasonal units, yearly units, and the like. In the case of a yearly unit, for example, it is possible to determine water leakage in consideration of changes in reflectance due to aging deterioration of the object, dirt, and the like.
  • the signal processing circuit 50 may be provided with a correction unit for correcting the first electric signal and the second electric signal so as to cancel the absorption by the water vapor.
  • the control unit 4 of the water leakage sensor 100 controls the posture of the sensor unit 1 so that the position of the irradiation range R scans in the scanning range A while temporarily stopping a plurality of times. ..
  • the control unit 4 controls the sensor unit 1 to calculate the degree of water leakage and the water leakage rate within the irradiation range R at the position.
  • the control unit 4 stores the position of each irradiation range R, the degree of water leakage, and the water leakage rate in association with each other, and creates a quantitative detection result for each irradiation range R.
  • the control unit 4 controls the notification unit 2 to notify information (water leakage degree and water leakage rate for each irradiation range R) based on the detection result. That is, the notification unit 2 is notified of the degree of water leakage and the water leakage rate, so that the presence or absence of water leakage is also indirectly notified.
  • the water leakage sensor 100 emits light to the detection target area (scanning range A), and determines water leakage in the detection target area based on the reflected light from the detection target area. It is a water leakage sensor.
  • the water leakage sensor 100 sets the detection light including the first wavelength band whose absorption by water is larger than the predetermined value and the reference light including the second wavelength band whose absorption by water is equal to or less than the predetermined value as light in the detection target region.
  • the light emitting unit 20 emitted toward the light emitting unit 20, the first light receiving unit 73 that receives the detection light reflected by the detection target area and converts it into a first electric signal, and the reference light reflected by the detection target area are received and second. It includes a second light receiving unit 43 that converts into an electric signal, and an arithmetic processing unit 56 that determines water leakage in the detection target region based on the first electric signal and the second electric signal.
  • the detection light emitted by the light emitting unit 20 is converted into a first electric signal by the first light receiving unit 73, the reference light emitted by the light emitting unit 20 is converted by the second light receiving unit 43, and these electric signals are obtained. Since the arithmetic processing unit 56 determines the water leakage in the detection target area based on the above, the determination can be made non-contactly. This eliminates the need for wiping and drying of water after landing, unlike the conventional water landing type leak sensor. Therefore, the accuracy of leak detection can be improved. In addition, since it is a non-contact type, it is possible to determine water leakage without touching hot water, and it is not subject to temperature restrictions.
  • the arithmetic processing unit 56 has at least one of a first reference value which is a signal value of the first electric signal and a second reference value which is a signal value of the second electric signal when there is no water leakage in the detection target area, and a first.
  • a first reference value which is a signal value of the first electric signal
  • a second reference value which is a signal value of the second electric signal when there is no water leakage in the detection target area
  • At least one of the signal ratio of the first electric signal and the second electric signal and the first signal value of the first electric signal and the second signal value of the second electric signal is used for determining water leakage. Therefore, it is possible to quantitatively indicate the water leakage like the above-mentioned water leakage degree and water leakage rate.
  • At least one of the first reference value which is the signal value of the first electric signal and the second reference value which is the signal value of the second electric signal when there is no water leakage in the detection target area is used for determining the water leakage. ..
  • the first reference value and the second reference value include the effects of humidity, dew condensation, etc. at the time of acquiring these signals. Since at least one of the first reference value and the second reference value is used for determining water leakage, it is possible to determine water leakage by excluding the influence of humidity and dew condensation, and the cause is humidity and dew condensation. It is possible to suppress erroneous determination.
  • the arithmetic processing unit 56 since the arithmetic processing unit 56 periodically updates the second reference value, even if the humidity and the amount of dew condensation change with the passage of time, the water leakage can be determined in consideration of the changes. Therefore, more accurate water leakage determination is possible.
  • the water leakage sensor 100 includes a housing 10 that houses a light emitting unit 20, a first light receiving unit 73, a second light receiving unit 43, and an arithmetic processing unit 56, and a rotating unit (first rotating unit 32 and) that rotates the housing 10. It is provided with a second rotating portion 33).
  • the housing 10 is rotated by the first rotating portion 32 and the second rotating portion 33 and the posture is changed, it is possible to irradiate light over a wide range. For example, within the scanning range A, it is possible to determine water leakage for each irradiation range R.
  • the arithmetic processing unit 56 determines the change in water leakage in the detection target region based on the temporal change rate of the signal ratio and at least one of the first signal value and the second signal value. do.
  • the temporal change rate is the amount of change per unit time.
  • the arithmetic processing unit 56 can determine the change in the degree of water leakage based on the temporal change rate of the signal ratio. That is, the arithmetic processing unit 56 determines that if the rate of change in the signal ratio over time is steep, the degree of water leakage also changes abruptly, and if the rate of change over time in the signal ratio is gradual, water leakage. It is judged that the degree is also changing slowly.
  • the arithmetic processing unit 56 can determine the change in the water leakage rate based on the time change rate of the second signal value. That is, the arithmetic processing unit 56 determines that if the rate of change in the second signal value over time is steep, the rate of water leakage also changes abruptly, and if the rate of change over time in the second signal value is gradual. , It is judged that the water leakage rate is also changing slowly.
  • the control unit 4 controls the notification unit 2 based on the input error notification to notify the error.
  • the arithmetic processing unit 56 detects the amount of components contained in the irradiation range R by comparing the light energy Pd of the detection light contained in the reflected light with the light energy Pr of the reference light.
  • the light energy Pd corresponds to the intensity of the first electric signal output from the first light receiving unit 73
  • the light energy Pr corresponds to the intensity of the second electric signal output from the second light receiving unit 43.
  • the light energy Pd is expressed by the following (Equation 3).
  • Pd0 is the light energy of the light in the first wavelength band that forms the detection light among the light emitted by the light source 22.
  • Gd is the coupling efficiency (condensing rate) of light in the first wavelength band with respect to the first light receiving unit 73.
  • Gd is the ratio of the portion of the light emitted by the light source 22 that becomes a part of the component diffusely reflected by the object (such as the pipe 200) (that is, the detected light contained in the reflected light). Equivalent to.
  • Rd is the reflectance of the detected light by the object.
  • Td is the transmittance of the light detected by the first bandpass filter 72.
  • Ivd is the light receiving sensitivity to the detected light contained in the reflected light in the first light receiving unit 73.
  • Aad has the absorption rate of the detected light by the component (moisture) on the object, and is represented by the following (Equation 4).
  • ⁇ a is a predetermined absorption coefficient, and specifically, is the absorption coefficient of the detection light by the component (moisture).
  • Ca is the volume concentration of the component (moisture) on the object.
  • D is a contribution thickness that is twice the thickness of the component that contributes to the absorption of the detection light.
  • Ca is the concentration of water contained in the liquid phase covering the object.
  • D is a contribution thickness converted as an average thickness of the liquid phase covering the object.
  • ⁇ a ⁇ Ca ⁇ D corresponds to the amount of components (water content) on the object. From the above, it can be seen that the light energy Pd corresponding to the intensity of the first electric signal changes according to the amount of water on the object. Since the absorbance of moisture is extremely small compared to that of moisture, it can be ignored.
  • the light energy Pr of the reference light incident on the second light receiving unit 43 is represented by the following (Equation 5).
  • the reference light is not substantially absorbed by the component (moisture) on the object. Therefore, as can be seen in comparison with (Equation 3), the absorption rate by moisture is Aad. The corresponding term is not included in (Equation 5).
  • Pr0 is the light energy of the light in the second wavelength band forming the reference light among the light emitted by the light source 22.
  • Gr is the coupling efficiency (condensing rate) of the reference light emitted by the light source 22 with respect to the second light receiving unit 43.
  • Gr corresponds to the proportion of the portion of the reference light that becomes a part of the component (moisture) diffusely reflected on the object (that is, the reference light contained in the reflected light).
  • Rr is the reflectance of the reference light by the object.
  • Tr is the transmittance of the reference light by the second bandpass filter 42.
  • Ivr is the light receiving sensitivity to the reflected light of the second light receiving unit 43.
  • the coupling efficiency Gd of the detection light and the coupling efficiency Gr of the reference light are substantially equal to each other. .. Further, since the peak wavelengths of the detection light and the reference light are relatively close to each other, the reflectance Rd of the detection light and the reflectance Rr of the reference light are substantially equal to each other.
  • Equation 6 is derived by taking the ratio (signal ratio) between (Equation 3) and (Equation 5).
  • the light energies Pd0 and Pr0 are each predetermined as the initial output of the light source 22. Further, the transmittance Td and the transmittance Tr are predetermined by the transmission characteristics of the first bandpass filter 72 and the second bandpass filter 42, respectively. The light receiving sensitivity Ivd and the light receiving sensitivity Ivr are predetermined by the light receiving characteristics of the first light receiving unit 73 and the second light receiving unit 43, respectively. Therefore, Z represented by (Equation 7) can be regarded as a constant.
  • the arithmetic processing unit 56 calculates the light energy Pd of the detection light based on the first electric signal, and calculates the light energy Pr of the reference light based on the second electric signal. Specifically, the signal level (voltage level) of the first electric signal corresponds to the optical energy Pd, and the signal level (voltage level) of the second electric signal corresponds to the optical energy Pr.
  • the arithmetic processing unit 56 can calculate the absorption rate Aad of the water contained in the object based on (Equation 6). As a result, the arithmetic processing unit 56 can calculate the water content based on (Equation 4).
  • the water content may be calculated in advance when there is no water leakage within the scanning range A.
  • the signal value of the first electric signal at the time of this calculation is the first reference value
  • the signal value of the second electric signal is the second reference value.
  • the water content when there is no water leakage includes the humidity and dew condensation at that time, and can be used as the reference water content.
  • the presence or absence of water leakage can be determined by excluding the effects of humidity and dew condensation. That is, it is possible to suppress erroneous determination due to humidity, dew condensation, and the like. Further, by subtracting the reference water content from the water content obtained by the subsequent detection, it is possible to obtain the water content of the leaked water more accurately.
  • the arithmetic processing unit 56 may periodically update each of the first reference value and the second reference value. In this case, even if the humidity and the amount of dew condensation change with the passage of time, the water content of the leaked water can be determined in consideration of the changes.
  • the leak sensor 100 determines the leak.
  • the leak sensor may detect other liquid leaks (leaks).
  • the water leakage sensor can be paraphrased as a liquid leakage sensor. Examples of other liquids include oils, detergents and chemicals.
  • the leak sensor can detect the fatty acid component (for example, oleic acid), which is one of the oil components.
  • FIG. 8 is a diagram showing an absorption spectrum of oleic acid. As shown in FIG. 8, oleic acid has absorption peaks at wavelengths of about 1750 nm and about 2350 nm. Therefore, as the first wavelength band that forms the detection light, a wavelength band in which the absorbance of oleic acid is higher than a predetermined value is selected. That is, it can be said that the first wavelength band is a wavelength band that is easily absorbed by oleic acid. For example, the absorbance used as a predetermined value is 0.25.
  • the first wavelength band is a wavelength band including at least one of 1750 nm and 2350 nm.
  • the second wavelength band that forms the reference light select a wavelength band in which absorption by oleic acid is equal to or less than a predetermined value. That is, it can be said that the second wavelength band is a wavelength band that is difficult to be absorbed by the carbon compound component.
  • the second wavelength band is a wavelength band including at least one of 1100 nm and 1300 nm.
  • the liquid leakage sensor can detect the surfactant component (for example, lauric acid) which is one of the detergent liquid components.
  • FIG. 9 is a diagram showing an absorption spectrum of lauric acid. As shown in FIG. 9, lauric acid has absorption peaks at wavelengths of about 1200 nm and about 1750 nm. Therefore, as the first wavelength band that forms the detection light, a wavelength band in which the absorbance of lauric acid is higher than a predetermined value is selected. That is, it can be said that the first wavelength band is a wavelength band that is easily absorbed by lauric acid.
  • the absorbance used as the predetermined value is, for example, 0.25.
  • the first wavelength band is a wavelength band including at least one of 1200 nm and 1750 nm.
  • the second wavelength band that forms the reference light select a wavelength band in which absorption by lauric acid is equal to or less than a predetermined value. That is, it can be said that the second wavelength band is a wavelength band that is difficult to be absorbed by the surfactant component.
  • the second wavelength band is a wavelength band including at least one of 1100 nm and 1300 nm.
  • the first wavelength band and the second wavelength band are determined based on the component to be the target of the leak, it is possible to determine the leakage of various liquids with the leak sensor.
  • the light source 22 is an LED light source
  • the light source may be a semiconductor laser element, an organic EL element, or the like.
  • one light source 22 emits continuous light including the first wavelength band forming the detection light and the second wavelength band forming the reference light has been illustrated and described.
  • a plurality of light sources may be provided so that one light source emits the detection light and the other light source emits the reference light.
  • the case where the light source control unit 51, the first signal processing unit 54, the second signal processing unit 55, and the arithmetic processing unit 56 provided in the signal processing circuit 50 are each composed of a dedicated microcontroller is exemplified.
  • the signal processing circuit may be realized by one microcontroller as a whole.
  • the sensor unit 1 may detect the amount of water at each irradiation position by continuous scanning.
  • the arithmetic processing unit 56 calculates the water leakage degree and the water leakage rate is illustrated, but the arithmetic processing unit 56 may calculate only one of the water leakage degree and the water leakage rate.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Examining Or Testing Airtightness (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

漏水センサ（１００）は、検出対象領域（走査範囲（Ａ））に対して光を発し、当該検出対象領域からの反射光に基づいて前記検出対象領域の漏水を判定する漏水センサである。漏水センサ（１００）は、水による吸収が所定値よりも大きな第一波長帯を含む検知光と、水による吸収が所定値以下である第二波長帯を含む参照光とを、光として検出対象領域に向けて発する発光部（２０）と、検出対象領域によって反射された検知光を受光し、第一電気信号に変換する第一受光部（７３）と、検出対象領域によって反射された参照光を受光し、第二電気信号に変換する第二受光部（４３）と、第一電気信号及び第二電気信号に基づいて、当該検出対象領域での漏水を判定する演算処理部（５６）と、を備える。

Description

漏水センサ
　本発明は、漏水センサに関する。
　従来、センサ自身に水が浸透することで、漏水を検出する着水式の漏水センサが知られている（例えば特許文献１参照）。
特開２００９－２８８１７１号公報
　ところで、上述した着水式の漏水センサであると、着水後には水を拭き取ったり乾燥させなければ、漏水を正確に検出できないのが実状である。
　そこで、本発明の目的は、漏水検出の正確性を高めることができる漏水センサを提供することである。
　上記目的を達成するため、本発明の一態様に係る漏水センサは、検出対象領域に対して光を発し、当該検出対象領域からの反射光に基づいて検出対象領域の漏水を判定する漏水センサであって、水による吸収が所定値よりも大きな第一波長帯を含む検知光と、水による吸収が前記所定値以下である第二波長帯を含む参照光とを、光として検出対象領域に向けて発する発光部と、検出対象領域によって反射された検知光を受光し、第一電気信号に変換する第一受光部と、検出対象領域によって反射された参照光を受光し、第二電気信号に変換する第二受光部と、第一電気信号及び第二電気信号に基づいて、当該検出対象領域での漏水を判定する演算処理部と、を備える。
　本発明に係る漏水センサによれば、漏水検出の正確性を高めることができる。
実施の形態に係る漏水センサの設置状況を示すイメージ図である。 実施の形態に係る漏水センサの概略構成を示す斜視図である。 実施の形態に係る漏水センサの制御ブロック図である。 実施の形態に係るセンサ部の走査範囲を模式的に示す平面図である。 実施の形態に係るセンサ部の構成と検出対象とを示す模式図である。 実施の形態に係るセンサ部の制御構成を示すブロック図である。 水分と水蒸気との吸光スペクトルを示す図である。 オレイン酸の吸光スペクトルを示す図である。 ラウリン酸の吸光スペクトルを示す図である。
　以下では、本発明の実施の形態に係る漏水センサについて、図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、いずれも本発明の好ましい一具体例を示すものである。したがって、以下の実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置及び接続形態などは、一例であり、本発明を限定する趣旨ではない。よって、以下の実施の形態における構成要素のうち、本発明の最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。
　また、各図は、模式図であり、必ずしも厳密に図示されたものではない。したがって、例えば、各図において縮尺などは必ずしも一致しない。また、各図において、実質的に同一の構成については同一の符号を付しており、重複する説明は省略又は簡略化する。
　（実施の形態）
　［漏水センサ］
　まず、実施の形態に係る漏水センサ１００について説明する。図１は実施の形態に係る漏水センサ１００の設置状況を示すイメージ図である。
　図１に示すように、漏水センサ１００は、配管２００が配設された施設内に設置されている。漏水センサ１００は、配管２００から離れた位置で当該配管２００の漏水を判定する非接触式の光学センサである。
　図２は、実施の形態に係る漏水センサ１００の概略構成を示す斜視図である。図３は、実施の形態に係る漏水センサ１００の制御ブロック図である。図２及び図３に示すように、漏水センサ１００は、センサ部１と、報知部２と、走査部３と、制御部４とを備えている。
　センサ部１は、定位置から対象物に対して光を走査させながら照射して、各照射位置における漏水を検出する。具体的には、センサ部１は、対象物である配管２００に定位置から光を走査させながら照射して、各照射位置の漏水を検出する。センサ部１は、走査部３によって姿勢が変動されるように走査部３に設置されている。センサ部１は、走査部３によって姿勢が変動されることで、配管２００を含む走査範囲Ａ（図４参照）を走査しながら光を照射して、当該走査範囲Ａの部分毎の漏水を検出する。センサ部１の詳細については、後述する。
　図４は、実施の形態に係るセンサ部１の走査範囲Ａを模式的に示す平面図である。走査範囲Ａは、漏水センサ１００によって漏水が検出される検出対象領域である。図４に示すように、走査部３は、センサ部１からの光が走査範囲Ａを走査する間に、当該光の走査を一時的に複数回停止する。図４では、一行あたり等間隔で６箇所停止され、一列あたり等間隔で６箇所停止される場合を照射範囲Ｒとして図示している。照射範囲Ｒは、センサ部１が一回の停止時に光を照射する範囲である。
　図３に示すように、報知部２は、センサ部１の検出結果に基づく情報を報知する報知部である。報知部２は、例えば、表示モニタなどである。
　走査部３は、センサ部１の姿勢を変動させて照射範囲Ｒを走査させる。具体的には、図２に示すように走査部３は、回転台３１と、第一回転部３２と、第二回転部３３とを備えている。回転台３１は、施設内の適切な位置に固定されており、第一回転部３２及び第二回転部３３を保持している。
　第一回転部３２は、一部が回転台３１に対して回転するように回転台３１に設けられている。具体的には、第一回転部３２は、第一基台３２１と、第一基台３２１に対して立設した壁部３２２と、第一基台３２１を回転させる第一モータ３２３とを備えている。第一モータ３２３の回転軸は上下方向に沿う方向となっている。第一モータ３２３が駆動することで、第一基台３２１及び壁部３２２が回転台３１に対して回転する。第一基台３２１及び壁部３２２の回転方向は、図２中、矢印Ｙ１で示している。
　第二回転部３３は、一部が第一回転部３２に対して回転するように第一回転部３２に設けられている。具体的には、第二回転部３３は、第二基台３３１と、第二基台３３１を回転させる第二モータ３３２とを備えている。第二基台３３１は、第二モータ３３２を介して、壁部３２２に取り付けられている。第二基台３３１には、センサ部１が固定されている。第二モータ３３２の回転軸は、第一モータ３２３の回転軸に対して直交している。第二モータ３３２が駆動することで、第二基台３３１が第一回転部３２に対して回転する。第二基台３３１の回転方向は、図２中、矢印Ｙ２で示している。
　第一モータ３２３及び第二モータ３３２のそれぞれの回転角を制御することにより、センサ部１の姿勢が変動する。これにより、図４に示すように、照射範囲Ｒが走査範囲Ａ内を走査することとなる。例えば、第一モータ３２３は、回転角が制御されることによって、主走査方向の照射範囲Ｒのピッチを調整する。また、第二モータ３３２は、回転角が制御されることによって、副走査方向の照射範囲Ｒのピッチを調整する。第一回転部３２及び第二回転部３３のそれぞれは、センサ部１（筐体１０）を回転させる回転部の一例である。
　図３に示すように、制御部４は、例えばマイクロコントローラで構成されており、センサ部１と、走査部３とを制御する。制御部４は、センサ部１と、走査部３とを制御するための処理プログラムが格納された不揮発性メモリ、プログラムを実行するための一時的な記憶領域である揮発性メモリ、入出力ポート、プログラムを実行するプロセッサなどを有する。
　具体的には、制御部４は、走査部３の第一モータ３２３と第二モータ３３２とを制御することにより、照射範囲Ｒの位置が走査範囲Ａ内を一時的に複数回停止しながら走査するように、センサ部１の姿勢を制御する。一時停止時においては、制御部４は、センサ部１を制御して、その位置にある照射範囲Ｒ内の漏水を検出する。制御部４は、報知部２を制御して、検出結果に基づく情報を報知する。
　［センサ部］
　次に、実施の形態に係るセンサ部１の概要について説明する。
　図５は、実施の形態に係るセンサ部１の構成と検出対象（配管２００など）とを示す模式図である。図６は、実施の形態に係るセンサ部１の制御構成を示すブロック図である。
　センサ部１は、筐体１０と、発光部２０と、第一受光モジュール７０と、第二受光モジュール４０と、信号処理回路５０とを備えている。以下では、センサ部１の各構成要素について詳細に説明する。
　［筐体］
　筐体１０は、発光部２０と、第一受光モジュール７０と、第二受光モジュール４０と、信号処理回路５０とを収容している。筐体１０は、遮光性の材料から形成されている。これにより、外光が筐体１０内に入射するのを抑制することができる。具体的には、筐体１０は、第一受光モジュール７０と第二受光モジュール４０とが受光する光に対して遮光性を有する樹脂材料又は金属材料から形成されている。
　筐体１０の外壁には、複数の開口が設けられており、これらの開口に、発光部２０のレンズ２１と、第一受光モジュール７０のレンズ７１とが取り付けられている。
　［発光部］
　発光部２０は、水による吸収が所定値よりも大きな第一波長帯を含む検知光と、水による吸収が所定値以下である第二波長帯を含む参照光とを検出対象に向けて発する発光部である。具体的には、発光部２０は、レンズ２１と、光源２２とを備えている。
　レンズ２１は、光源２２が発した光を、検出対象に対して集光する集光レンズである。レンズ２１は、樹脂製の凸レンズであるが、これに限らない。
　光源２２は、検知光をなす第一波長帯と参照光をなす第二波長帯とを含み、ピーク波長が第二波長帯側にある連続した光を発するＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ　Ｅｍｉｔｔｉｎｇ　Ｄｉｏｄｅ）光源である。具体的には、光源２２は、化合半導体からなるＬＥＤ光源である。
　図７は、水分と水蒸気との吸光スペクトルを示す図である。図７に示すように、水分は、約１４５０ｎｍ及び約１９４０ｎｍの波長に吸収ピークを有する。水蒸気は、水分の吸収ピークよりやや低い波長、具体的には約１３５０ｎｍ～１４００ｎｍ及び約１８００ｎｍ～１９００ｎｍの波長に吸収ピークを有する。
　このため、検知光をなす第一波長帯としては、水の吸光度が高い波長帯を選択し、参照光をなす第二波長帯としては、第一波長帯よりも水の吸光度が小さい波長帯を選択する。そして、一例としては、第二波長帯の平均波長は、第一波長体の平均波長よりも長くする。また、光学的なバンドパスフィルタの最大透過率の半値である波長の中心値で定義される中心波長に関して、例えば第一波長帯の中心波長は１４５０ｎｍとし、第二波長帯の中心波長は１７００ｎｍとする。
　このように、光源２２が、第一波長帯と第二波長帯とを連続して含む光を照射するので、検出対象には、水による吸収が大きな第一波長帯を含む検知光と、水による吸収が第一波長帯よりも小さい第二波長帯を含む参照光が照射される。
　［第一受光モジュール］
　図５に示すように第一受光モジュール７０は、レンズ７１と、第一バンドパスフィルタ７２と、第一受光部７３とを備えている。
　レンズ７１は、検出対象によって反射された反射光を第一受光部７３に集光するための集光レンズである。レンズ７１は、例えば、焦点が第一受光部７３の受光面に位置するように筐体１０に固定されている。レンズ７１は、例えば、樹脂製の凸レンズであるが、これに限らない。
　第一バンドパスフィルタ７２は、反射光から第一波長帯の光を抽出するバンドパスフィルタである。具体的には、第一バンドパスフィルタ７２は、レンズ７１と、第一受光部７３との間に配置されており、レンズ７１を透過して第一受光部７３に入射する反射光の光路上に設けられている。また、第一バンドパスフィルタ７２は、レンズ７１の光軸に対して傾いて配置されている。これにより、第一バンドパスフィルタ７２は、第一波長帯の光を透過するとともに、それ以外の波長帯の光を反射する。
　第一受光部７３は、検出対象によって反射され、第一バンドパスフィルタ７２を透過した第一波長帯の光を受光し、第一電気信号に変換する受光素子である。第一受光部７３は、受光した第一波長帯の光を光電変換することで、当該光の受光量（すなわち、強度）に応じた第一電気信号を生成する。生成された第一電気信号は、信号処理回路５０に出力される。第一受光部７３は、例えば、フォトダイオードであるが、これに限定されない。例えば、第一受光部７３は、フォトトランジスタ、又は、イメージセンサでもよい。
　［第二受光モジュール］
　第二受光モジュール４０は、第二バンドパスフィルタ４２と、第二受光部４３とを備えている。
　第二バンドパスフィルタ４２は、第一バンドパスフィルタ７２で反射された光から第二波長帯の光を抽出するバンドパスフィルタである。具体的には、第二バンドパスフィルタ４２は、第一バンドパスフィルタ７２と、第二受光部４３との間に配置されており、第一バンドパスフィルタ７２を透過して第二受光部４３に入射する光の光路上に設けられている。そして、第二バンドパスフィルタ４２は、第二波長帯の光を透過し、かつ、それ以外の波長帯の光を吸収する。
　第二受光部４３は、検出対象によって反射され、第二バンドパスフィルタ４２を透過した第二波長帯の光を受光し、第二電気信号に変換する受光素子である。第二受光部４３は、受光した第二波長帯の光を光電変換することで、当該光の受光量（すなわち、強度）に応じた第二電気信号を生成する。生成された第二電気信号は、信号処理回路５０に出力される。第二受光部４３は、第一受光部７３と同形の受光素子である。つまり、第一受光部７３がフォトダイオードである場合には、第二受光部４３もフォトダイオードである。
　［信号処理回路］
　信号処理回路５０は、発光部２０の光源２２を点灯制御するとともに、第一受光部７３及び第二受光部４３から出力された第一電気信号及び第二電気信号を処理することで、漏水を検出る回路である。
　信号処理回路５０は、筐体１０に収容されていてもよく、又は、筐体１０の外側面に取り付けられていてもよい。あるいは、信号処理回路５０は、無線通信などの通信機能を有し、第一受光部７３からの第一電気信号及び第二受光部４３からの第二電気信号を受信してもよい。
　具体的には、図６に示すように、信号処理回路５０は、光源制御部５１、第一増幅部５２、第二増幅部５３、第一信号処理部５４、第二信号処理部５５及び演算処理部５６を備えている。
　光源制御部５１は、駆動回路及びマイクロコントローラで構成される。光源制御部５１は、光源２２の制御プログラムが格納された不揮発性メモリ、プログラムを実行するための一時的な記憶領域である揮発性メモリ、入出力ポート、プログラムを実行するプロセッサなどを有する。光源制御部５１は、光源２２の点灯及び消灯が所定の発光周期で繰り返されるように、光源２２を制御する。具体的には、光源制御部５１は、所定の周波数（例えば、１ｋＨｚ）のパルス信号を光源２２に出力することで、光源２２を所定の発光周期で点灯及び消灯させる。
　第一増幅部５２は、第一受光部７３が出力した第一電気信号を増幅して第一信号処理部５４に出力する。具体的には、第一増幅部５２は、第一電気信号を増幅するオペアンプである。
　第一信号処理部５４は、マイクロコントローラで構成される。第一信号処理部５４は、第一電気信号に対する処理プログラムが格納された不揮発性メモリ、プログラムを実行するための一時的な記憶領域である揮発性メモリ、入出力ポート、プログラムを実行するプロセッサなどを有する。第一信号処理部５４は、第一電気信号に対して、通過帯域制限を行うとともに当該通過帯域制限による位相遅延を補正してから、光源２２の発光周期との乗算処理を施す。この第一電気信号に対する処理は、いわゆるロックインアンプ処理である。これにより、外乱光に基づくノイズを第一電気信号から抑制することが可能である。
　第二増幅部５３は、第二受光部４３が出力した第二電気信号を増幅して第二信号処理部５５に出力する。具体的には、第二増幅部５３は、第二電気信号を増幅するオペアンプである。
　第二信号処理部５５は、マイクロコントローラで構成される。第二信号処理部５５は、第二電気信号に対する処理プログラムが格納された不揮発性メモリ、プログラムを実行するための一時的な記憶領域である揮発性メモリ、入出力ポート、プログラムを実行するプロセッサなどを有する。第二信号処理部５５は、第二電気信号に対して、通過帯域制限を行うとともに当該通過帯域制限による位相遅延を補正してから、光源２２の発光周期との乗算処理を施す。この第二電気信号に対する処理は、いわゆるロックインアンプ処理である。これにより、外乱光に基づくノイズを第二電気信号から抑制することが可能である。
　演算処理部５６は、第一受光部７３から出力された第一電気信号と、第二受光部４３から出力された第二電気信号とに基づいて、検出対象の漏水を検出する。具体的には、演算処理部５６は、第一電気信号の電圧レベル（第一信号値）と第二電気信号の電圧レベル（第二信号値）とに基づいて、対象物上の水分量を検出する。本実施の形態では、演算処理部５６は、第一信号処理部５４によって処理された第一電気信号と、第二信号処理部５５によって処理された第二電気信号とに基づいて、対象物上の水分量を検出する。演算処理部５６は、検出した水分量を制御部４に出力する。具体的な水分量の検出処理については後で説明する。
　演算処理部５６は、例えば、マイクロコントローラである。演算処理部５６は、信号処理プログラムが格納された不揮発性メモリ、プログラムを実行するための一時的な記憶領域である揮発性メモリ、入出力ポート、プログラムを実行するプロセッサなどを有する。
　［水分量の検出処理］
　続いて、演算処理部５６による漏水の検出処理について説明する。
　演算処理部５６は、漏水の検出処理により漏水度と漏水率とを算出する。漏水度とは、漏水の滲み出しの度合いを数値化した指標である。また、漏水率は、漏水による水溜りの割合を数値化した指標である。漏水度及び漏水率は、いずれも数値が大きくなるほど、漏水のレベルが大きいことを示す。
　漏水度は以下の（式１）により算出される。
　（式１）漏水度＝１－信号比＝１－（第一電気信号の第一信号値／第二電気信号の第二信号値）
　漏水率は以下の（式２）により算出される。
　（式２）漏水率＝１－（第二電気信号の第二信号値／第二基準値）
　ここで、第二基準値は、検出対象領域に漏水がない場合の第二電気信号の信号値である。つまり、漏水がない場合の第二電気信号の信号値を予め取得して第二基準値とし、この第二基準値と、漏水検出時における第二電気信号の第二信号値とを比較することで漏水率が算出されている。漏水がない場合の第二電気信号の信号値（第二基準値）は、その時点での湿度及び結露等の影響を含んだものである。この第二基準値と、漏水検出時における第二電気信号の第二信号値とを比較することで、湿度及び結露等の影響を除外した漏水率を算出することができる。
　また、第二基準値は、定期的に更新されてもよい。具体的には、演算処理部５６は、検出対象領域に漏水がない場合において所定の周期毎に第二電気信号の信号値を取得し、第二基準値として更新する。例えば、一日の間でも湿度は変化し、その変化に伴い結露量も変化する。この湿度及び結露量の変化を考慮するために、演算処理部５６は第二電気信号の信号値を所定の周期毎に取得し、第二基準値として更新している。所定の周期としては、時間単位、日単位、週単位、月単位、季節単位、年単位などが挙げられる。年単位の場合、例えば、対象物の経年劣化、汚れなどを起因とした反射率の変化を考慮して、漏水を判定することが可能である。
　なお、漏水センサ１００と走査範囲Ａとの間には湿気（水蒸気）も存在しているが、水蒸気によって検知光及び参照光が吸収される場合も想定される。この水蒸気による吸収分をキャンセルするように第一電気信号及び第二電気信号を補正する補正部を信号処理回路５０に設けてもよい。
　［漏水センサの動作］
　次いで、漏水センサ１００の動作について説明する。漏水センサ１００の制御部４は、走査部３を制御することにより、照射範囲Ｒの位置が走査範囲Ａ内を一時的に複数回停止しながら走査するように、センサ部１の姿勢を制御する。
　一時停止時においては、制御部４は、センサ部１を制御して、その位置にある照射範囲Ｒ内の漏水度及び漏水率を算出する。制御部４は各照射範囲Ｒの位置、漏水度及び漏水率を紐付けて記憶し、照射範囲Ｒ毎に定量的な検出結果を作成する。制御部４は、報知部２を制御して、検出結果に基づく情報（照射範囲Ｒ毎の漏水度及び漏水率）を報知する。つまり、報知部２では、漏水度及び漏水率が報知されることで、漏水の有無も間接的に報知されることになる。
　［効果など］
　以上のように、本実施の形態に係る漏水センサ１００は、検出対象領域（走査範囲Ａ）に対して光を発し、当該検出対象領域からの反射光に基づいて前記検出対象領域の漏水を判定する漏水センサである。漏水センサ１００は、水による吸収が所定値よりも大きな第一波長帯を含む検知光と、水による吸収が所定値以下である第二波長帯を含む参照光とを、光として検出対象領域に向けて発する発光部２０と、検出対象領域によって反射された検知光を受光し、第一電気信号に変換する第一受光部７３と、検出対象領域によって反射された参照光を受光し、第二電気信号に変換する第二受光部４３と、第一電気信号及び第二電気信号に基づいて、当該検出対象領域での漏水を判定する演算処理部５６と、を備える。
　これによれば、発光部２０が発した検知光を第一受光部７３で第一電気信号に変換し、発光部２０が発した参照光を第二受光部４３で変換し、これらの電気信号に基づいて演算処理部５６が検知対象領域での漏水を判定するので、当該判定を非接触で行うことができる。これにより、従来の着水式の漏水センサのような着水後の水の拭き取りや乾燥が不要となる。したがって、漏水検出の正確性を高めることができる。また、非接触式であるので、高温な水に触れなくとも漏水が判定でき、温度上の制約も受けにくい。
　また、演算処理部５６は、検出対象領域に漏水がない場合の第一電気信号の信号値である第一基準値及び第二電気信号の信号値である第二基準値の少なくとも一方と、第一電気信号及び前記第二電気信号の信号比と、第一電気信号の第一信号値及び第二電気信号の第二信号値の少なくとも一方と、に基づいて検出対象領域での漏水を判定する。
　これによれば、第一電気信号及び前記第二電気信号の信号比と、第一電気信号の第一信号値及び第二電気信号の第二信号値の少なくとも一方とが漏水の判定に用いられているので、上述した漏水度及び漏水率のように、漏水を定量的に示すことができる。
　また、検出対象領域に漏水がない場合の第一電気信号の信号値である第一基準値及び第２電気信号の信号値である第二基準値の少なくとも一方も漏水の判定に用いられている。第一基準値及び第二基準値は、これらの信号取得時の湿度及び結露等の影響を含んだものである。第一基準値及び第二基準値の少なくとも一方が、漏水の判定に用いられているので、湿度及び結露等の影響を除外して漏水を判定することができ、湿度及び結露等を起因とした誤判定を抑制することができる。
　また、演算処理部５６が、第二基準値を定期的に更新しているので、湿度及び結露量が時間経過によって変化したとしてもその変化を考慮して漏水を判定することができる。したがって、より正確な漏水判定が可能である。
　また、漏水センサ１００は、発光部２０、第一受光部７３、第二受光部４３及び演算処理部５６を収容する筐体１０と、筐体１０を回転させる回転部（第一回転部３２及び第二回転部３３）とを備えている。
　これによれば、筐体１０が第一回転部３２及び第二回転部３３により回転し、姿勢が変動するので、広範囲にわたって光を照射することができる。例えば、走査範囲Ａ内においては、照射範囲Ｒ毎に漏水を判定することも可能である。
　（変形例）
　以下に、実施の形態に係る漏水センサの変形例について説明する。なお、以降の説明において上記実施の形態と同一の部分については同一の符号を付してその説明を省略する倍がある。
　［変形例１］
　変形例１では、演算処理部５６は、前記信号比と、第一信号値及び第二信号値の少なくとも一方とのそれぞれの時間的変化率に基づいて、検出対象領域での漏水の変化を判定する。ここで時間的変化率とは、単位時間あたりの変化量である。例えば、演算処理部５６は、前記信号比の時間的変化率に基づいて、漏水度の変化を判定することができる。つまり、演算処理部５６は、前記信号比の時間的変化率が急峻であれば、漏水度も急峻に変化していると判定し、前記信号比の時間的変化率が緩やかであれば、漏水度も緩やかに変化していると判定する。
　また、演算処理部５６は、第二信号値の時間的変化率に基づいて、漏水率の変化を判定することができる。つまり、演算処理部５６は、第二信号値の時間的変化率が急峻であれば、漏水率も急峻に変化していると判定し、第二信号値の時間的変化率が緩やかであれば、漏水率も緩やかに変化していると判定する。
　これらの判定結果は、制御部４の制御に基づいて報知部２により報知されるので、作業者は漏水の変化を把握することができる。つまり、作業者は、漏水の変化に対して適切な対応を取ることが可能である。
　［変形例２］
　ここで、発光部２０から光を発している際に、その光が人または障害物に遮られ反射された場合（第一ケース）には、対象物で反射される場合よりも強度な反射光が第一受光部７３及び第二受光部４３に進入する。一方、正規な漏水判定が行われている場合（第二ケース）には、発光部２０から発せられ対象物で反射した反射光は漏水で吸収されることで強度が減少している。つまり、第一ケースと第二ケースとでは反射光の強度変化が逆となる。第一ケースは、漏水判定に異常が発生しているとも言えるので、この変形例２では、演算処理部５６が、第一信号値が第一基準値から増大した場合、または第二信号値が第二基準値から増大した場合には漏水以外の判定結果、つまり、エラー通知を制御部４に出力する。制御部４は、入力されたエラー通知に基づいて報知部２を制御することで、エラーを報知させる。
　このように、第一信号値が第一基準値から増大した場合、または第二信号値が第二基準値から増大した場合には漏水以外の判定結果が演算処理部５６から出力されるので、漏水判定にエラーがあったことを作業者に知らせることが可能である。
　［変形例３］
　上記実施の形態では、演算処理部５６が漏水度と漏水率とを算出することで漏水を判定する場合を例示した。しかしながら、照射範囲Ｒ内の水分量を検出することで漏水を判定することも可能である。以下に水分量の検出処理について説明する。
　演算処理部５６は、反射光に含まれる検知光の光エネルギーＰｄと、参照光の光エネルギーＰｒとを比較することで、照射範囲Ｒ内に含まれる成分量を検出する。なお、光エネルギーＰｄは、第一受光部７３から出力される第一電気信号の強度に対応し、光エネルギーＰｒは、第二受光部４３から出力される第二電気信号の強度に対応する。
　光エネルギーＰｄは、次の（式３）で表される。
　（式３）　Ｐｄ＝Ｐｄ０×Ｇｄ×Ｒｄ×Ｔｄ×Ａａｄ×Ｉｖｄ
　ここで、Ｐｄ０は、光源２２が発した光のうち、検知光をなす第一波長帯の光の光エネルギーである。Ｇｄは、第一波長帯の光の第一受光部７３に対する結合効率（集光率）である。具体的には、Ｇｄは、光源２２が発した光のうち、対象物（配管２００など）で拡散反射される成分の一部（すなわち、反射光に含まれる検知光）になる部分の割合に相当する。
　Ｒｄは、対象物による検知光の反射率である。Ｔｄは、第一バンドパスフィルタ７２により検知光の透過率である。Ｉｖｄは、第一受光部７３における反射光に含まれる検知光に対する受光感度である。
　Ａａｄは、対象物上の成分（水分）による検知光の吸収率あり、次の（式４）で表される。
　（式４）　Ａａｄ＝１０－αａ×Ｃａ×Ｄ
　ここで、αａは、予め定められた吸光係数であり、具体的には、成分（水分）による検知光の吸光係数である。Ｃａは、対象物上の成分（水分）の体積濃度である。Ｄは、検知光の吸収に寄与する成分の厚みの２倍である寄与厚みである。例えば、Ｃａは、対象物を覆っている液相に含まれる水分の濃度である。また、Ｄは、対象物を覆っている液相の平均的な厚みとして換算される寄与厚みである。
　したがって、αａ×Ｃａ×Ｄは、対象物上の成分量（水分量）に相当する。以上のことから、対象物上の水分量に応じて、第一電気信号の強度に相当する光エネルギーＰｄが変化することが分かる。なお、水分と比べて湿気の吸光度は極端に小さいので、無視することができる。
　同様に、第二受光部４３に入射する参照光の光エネルギーＰｒは、次の（式５）で表される。
　（式５）　Ｐｒ＝Ｐｒ０×Ｇｒ×Ｒｒ×Ｔｒ×Ｉｖｒ
　本実施の形態では、参照光は、対象物上の成分（水分）によって実質的には吸収されないとみなすことができるので、（式３）と比較して分かるように、水分による吸収率Ａａｄに相当する項は（式５）には含まれていない。
　（式５）において、Ｐｒ０は、光源２２が発した光のうち、参照光をなす第二波長帯の光の光エネルギーである。Ｇｒは、光源２２が発した参照光の第二受光部４３に対する結合効率（集光率）である。具体的には、Ｇｒは、参照光のうち、対象物上で拡散反射される成分（水分）の一部（すなわち、反射光に含まれる参照光）になる部分の割合に相当する。Ｒｒは、対象物による参照光の反射率である。Ｔｒは、第二バンドパスフィルタ４２による参照光の透過率である。Ｉｖｒは、第二受光部４３の反射光に対する受光感度である。
　ここで、光源２２から照射される光、つまり、検知光と参照光とは、同軸かつ同スポットサイズで照射されるため、検知光の結合効率Ｇｄと参照光の結合効率Ｇｒとは略等しくなる。また、検知光と参照光とはピーク波長が比較的近いので、検知光の反射率Ｒｄと参照光の反射率Ｒｒとが略等しくなる。
　したがって、（式３）と（式５）との比（信号比）を取ることにより、次の（式６）が導き出される。
　（式６）　Ｐｄ／Ｐｒ＝Ｚ×Ａａｄ
　ここで、Ｚは、定数項であり、（式７）で示される。
　（式７）　Ｚ＝（Ｐｄ０／Ｐｒ０）×（Ｔｄ／Ｔｒ）×（Ｉｖｄ／Ｉｖｒ）
　光エネルギーＰｄ０及びＰｒ０はそれぞれ、光源２２の初期出力として予め定められている。また、透過率Ｔｄ及び透過率Ｔｒはそれぞれ、第一バンドパスフィルタ７２及び第二バンドパスフィルタ４２の透過特性により予め定められている。受光感度Ｉｖｄ及び受光感度Ｉｖｒはそれぞれ、第一受光部７３及び第二受光部４３の受光特性により予め定められている。したがって、（式７）で示されるＺは、定数とみなすことができる。
　演算処理部５６は、第一電気信号に基づいて検知光の光エネルギーＰｄを算出し、第二電気信号に基づいて参照光の光エネルギーＰｒを算出する。具体的には、第一電気信号の信号レベル（電圧レベル）が光エネルギーＰｄに相当し、第二電気信号の信号レベル（電圧レベル）が光エネルギーＰｒに相当する。
　したがって、演算処理部５６は、（式６）に基づいて、対象物に含まれる水分の吸収率Ａａｄを算出することができる。これにより、演算処理部５６は、（式４）に基づいて水分量を算出することができる。
　なお、予め、走査範囲Ａ内に漏水がない場合の水分量を算出していてもよい。この算出時における第一電気信号の信号値は第一基準値であり、第二電気信号の信号値は第二基準値である。漏水がない場合の水分量は、その時点での湿度及び結露等を含んだものであり、基準水分量とすることができる。この基準水分量と、その後の検出により得られた水分量とを比較することで、湿度及び結露等の影響を除外して、漏水の有無を判定することができる。つまり、湿度及び結露等を起因とした誤判定を抑制することができる。また、その後の検出により得られた水分量から基準水分量を差し引けば、漏水の水分量をより正確に求めることも可能である。
　なお、演算処理部５６は、第一基準値及び第二基準値のそれぞれを定期的に更新してもよい。この場合、湿度及び結露量が時間経過によって変化したとしてもその変化を考慮して漏水の水分量を判定することができる。
　［変形例４］
　また、上記実施の形態では、漏水センサ１００が漏水を判定する場合を例示した。しかし、漏水センサは、その他の液体の漏れ（漏液）を検出してもよい。この場合、漏水センサは漏液センサと言い換えることができる。その他の液体としては、油、洗剤液、薬剤液などが挙げられる。
　油を検出する場合、漏液センサは、油成分の一つである脂肪酸成分（例えばオレイン酸）を検出できるようになっている。図８は、オレイン酸の吸光スペクトルを示す図である。図８に示すように、オレイン酸は、約１７５０ｎｍ及び約２３５０ｎｍの波長に吸収ピークを有する。このため、検知光をなす第一波長帯としては、オレイン酸の吸光度が所定値よりも高い波長帯を選択する。つまり、第一波長帯は、オレイン酸によって吸収されやすい波長帯と言える。例えば、所定値として用いられる吸光度は、０．２５である。第一波長帯は、１７５０ｎｍ及び２３５０ｎｍの少なくとも１つを含む波長帯とする。
　参照光をなす第二波長帯としては、オレイン酸による吸収が所定値以下である波長帯を選択する。つまり、第二波長帯は、炭素化合物成分によって吸収されにくい波長帯と言える。例えば、第二波長帯は、１１００ｎｍ及び１３００ｎｍの少なくとも一つを含む波長帯とする。
　洗剤液を検出する場合には、漏液センサは、洗剤液成分の１つである界面活性剤成分（例えばラウリン酸）を検出できるようになっている。図９は、ラウリン酸の吸光スペクトルを示す図である。図９に示すように、ラウリン酸は、約１２００ｎｍ及び約１７５０ｎｍの波長に吸収ピークを有する。このため、検知光をなす第一波長帯としては、ラウリン酸の吸光度が所定値よりも高い波長帯を選択する。つまり、第一波長帯は、ラウリン酸によって吸収されやすい波長帯と言える。所定値として用いられる吸光度は、例えば０．２５である。例えば、第一波長帯は、１２００ｎｍ及び１７５０ｎｍの少なくとも１つを含む波長帯とする。
　参照光をなす第二波長帯としては、ラウリン酸による吸収が所定値以下である波長帯を選択する。つまり、第二波長帯は、界面活性剤成分によって吸収されにくい波長帯と言える。例えば、第二波長帯は、１１００ｎｍ及び１３００ｎｍの少なくとも一つを含む波長帯とする。
　このように、漏液の対象となる成分に基づいて第一波長帯及び第二波長帯が決定されていれば、漏液センサで多様な液体の漏れを判定することが可能である。
　（その他）
　以上、本発明に係るセンサ部１について、上記の実施の形態に基づいて説明したが、本発明は、上記の実施の形態に限定されるものではない。
　例えば、上記実施の形態では、光源２２がＬＥＤ光源である場合を例示したが、光源は半導体レーザ素子又は有機ＥＬ素子などでもよい。
　また、上記実施の形態では、検知光をなす第一波長帯と参照光をなす第二波長帯とを含む連続した光を１つの光源２２が発する場合を例示して説明した。しかしながら、複数の光源を設け、１つの光源が検知光を発し、他の光源が参照光を発するようにしてもよい。
　また、上記実施の形態では、信号処理回路５０に備わる光源制御部５１、第一信号処理部５４、第二信号処理部５５及び演算処理部５６がそれぞれ専用のマイクロコントローラからなる場合を例示して説明したが、信号処理回路は、全体として１つのマイクロコントローラで実現されてもよい。
　また、上記実施の形態では、センサ部１が走査範囲Ａ内を一時的に複数回停止しながら走査する場合を例示した。しかしながら、センサ部１は、連続的な走査で各照射位置における水分量を検出してもよい。
　また、上記実施の形態では、演算処理部５６が漏水度及び漏水率を算出する場合を例示したが、演算処理部５６は漏水度及び漏水率の一方のみを算出してもよい。
　その他、各実施の形態に対して当業者が思いつく各種変形を施して得られる形態や、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で各実施の形態における構成要素及び機能を任意に組み合わせることで実現される形態も本発明に含まれる。
１０　筐体
２０　発光部
３２　第一回転部（回転部）
３３　第二回転部（回転部）
４３　第二受光部
５６　演算処理部
７３　第一受光部
１００　漏水センサ
Ａ　走査範囲（検出対象領域）

Claims (10)

  1. 　検出対象領域に対して光を発し、当該検出対象領域からの反射光に基づいて前記検出対象領域の漏水を判定する漏水センサであって、
    　水による吸収が所定値よりも大きな第一波長帯を含む検知光と、水による吸収が前記所定値以下である第二波長帯を含む参照光とを、前記光として前記検出対象領域に向けて発する発光部と、
    　前記検出対象領域によって反射された前記検知光を受光し、第一電気信号に変換する第一受光部と、
    　前記検出対象領域によって反射された前記参照光を受光し、第二電気信号に変換する第二受光部と、
    　前記第一電気信号及び前記第二電気信号に基づいて、当該検出対象領域での漏水を判定する演算処理部と、を備える
    　漏水センサ。
  2. 　前記演算処理部は、
    　前記検出対象領域に漏水がない場合の前記第一電気信号の信号値である第一基準値及び前記第二電気信号の信号値である第二基準値の少なくとも一方と、
    　前記第一電気信号及び前記第二電気信号の信号比と、
    　前記第一電気信号の第一信号値及び前記第二電気信号の第二信号値の少なくとも一方と、に基づいて前記検出対象領域での漏水を判定する
    　請求項１に記載の漏水センサ。
  3. 　前記演算処理部は、前記信号比と、前記第一信号値及び前記第二信号値の少なくとも一方とのそれぞれの時間的変化率に基づいて、前記検出対象領域での漏水の変化を判定する
    　請求項２に記載の漏水センサ。
  4. 　前記演算処理部は、前記第一基準値及び前記第二基準値の少なくとも一方を定期的に更新する
    　請求項２または３に記載の漏水センサ。
  5. 　前記演算処理部は、前記第一信号値が前記第一基準値から増大した場合、または前記第二信号値が前記第二基準値から増大した場合には、前記漏水以外の判定結果を出力する
    　請求項２～４のいずれか一項に記載の漏水センサ。
  6. 　前記演算処理部は、前記漏水の染み出し度合いを数値化した指標である漏水度を、
    　漏水度＝１－前記信号比
    　に基づいて算出する
    　請求項２～５のいずれか一項に記載の漏水センサ。
  7. 　前記演算処理部は、前記漏水による水溜りの割合を数値化した指標である漏水率を、
    　漏水率＝１－（前記第二電気信号の前記第二信号値／前記第二基準値）
    　に基づいて算出する
    　請求項２～５のいずれか一項に記載の漏水センサ。
  8. 　前記演算処理部は、前記検知光の光エネルギーと、前記参照光の光エネルギーとを比較することで前記検出対象領域の水分量を検出し、当該水分量に基づいて漏水を判定する
    　請求項２～５のいずれか一項に記載の漏水センサ。
  9. 　前記発光部、前記第一受光部、前記第二受光部及び前記演算処理部を収容する筐体と、
    　前記筐体を回転させる回転部とを備える
    　請求項１～８のいずれか一項に記載の漏水センサ。
  10. 　前記漏水センサと前記検出対象領域との間に存在する水蒸気によって前記検知光及び前記参照光が吸収された吸収分をキャンセルするように前記第一電気信号及び前記第二電気信号を補正する補正部を有する
    　請求項１～９のいずれか一項に記載の漏水センサ。
PCT/JP2021/046622 2020-12-23 2021-12-16 漏水センサ WO2022138464A1 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022571387A JPWO2022138464A1 (ja) 2020-12-23 2021-12-16

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020214151 2020-12-23
JP2020-214151 2020-12-23

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2022138464A1 true WO2022138464A1 (ja) 2022-06-30

Family

ID=82157779

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2021/046622 WO2022138464A1 (ja) 2020-12-23 2021-12-16 漏水センサ

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JPWO2022138464A1 (ja)
TW (1) TW202229840A (ja)
WO (1) WO2022138464A1 (ja)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020092989A1 (en) * 1999-06-23 2002-07-18 Toomey Patrick J. Methods of detecting presence of water soluble substance based on principle of radiation absorption
JP2008049250A (ja) * 2006-08-24 2008-03-06 Hitachi Ltd ろ過膜破損検出システム及び膜式ろ過装置
JP2010238034A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Nohmi Bosai Ltd 煙検出装置
WO2015008435A1 (ja) * 2013-07-17 2015-01-22 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 分光装置
JP2015148600A (ja) * 2014-01-07 2015-08-20 パナソニック インテレクチュアル プロパティ コーポレーション オブアメリカＰａｎａｓｏｎｉｃ Ｉｎｔｅｌｌｅｃｔｕａｌ Ｐｒｏｐｅｒｔｙ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ ｏｆ Ａｍｅｒｉｃａ 成分計測装置および移動体
WO2018155291A1 (ja) * 2017-02-24 2018-08-30 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 水分量センサ及び衣類乾燥装置
JP2019148450A (ja) * 2018-02-26 2019-09-05 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 成分検知センサ

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020092989A1 (en) * 1999-06-23 2002-07-18 Toomey Patrick J. Methods of detecting presence of water soluble substance based on principle of radiation absorption
JP2008049250A (ja) * 2006-08-24 2008-03-06 Hitachi Ltd ろ過膜破損検出システム及び膜式ろ過装置
JP2010238034A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Nohmi Bosai Ltd 煙検出装置
WO2015008435A1 (ja) * 2013-07-17 2015-01-22 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 分光装置
JP2015148600A (ja) * 2014-01-07 2015-08-20 パナソニック インテレクチュアル プロパティ コーポレーション オブアメリカＰａｎａｓｏｎｉｃ Ｉｎｔｅｌｌｅｃｔｕａｌ Ｐｒｏｐｅｒｔｙ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ ｏｆ Ａｍｅｒｉｃａ 成分計測装置および移動体
WO2018155291A1 (ja) * 2017-02-24 2018-08-30 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 水分量センサ及び衣類乾燥装置
JP2019148450A (ja) * 2018-02-26 2019-09-05 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 成分検知センサ

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2022138464A1 (ja) 2022-06-30
TW202229840A (zh) 2022-08-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6735478B2 (ja) 水分量センサ及び衣類乾燥装置
US7948617B2 (en) Optical multiwavelength window contamination monitor for optical control sensors and systems
EP1730495B1 (en) Ozone concentration sensor
US5812270A (en) Window contamination detector
US8742370B2 (en) Gas sensor
JPH08122061A (ja) 障害物検知装置
CN111051855B (zh) 含水量传感器以及路面状态检测装置
KR101237514B1 (ko) 차등흡수분광법을 이용한 대기오염물질 원격 측정장치 및 측정방법
WO2022138464A1 (ja) 漏水センサ
JP7054854B2 (ja) 成分検知センサ
US10690591B2 (en) Measurement time distribution in referencing schemes
JP6975901B2 (ja) 成分検知センサ
JP2017161424A (ja) 光学式成分センサ
US20160266032A1 (en) Photometer with led light source
JP6712792B2 (ja) 乾燥度センサ
JP6975936B2 (ja) 散布装置
JP2000187786A (ja) 火災検出装置及び火災検出装置における汚れ補償方法
CN113841040B (zh) 灵敏度调整板以及传感器装置的制造方法
US11852804B2 (en) Scan mirror reflectivity calibration method and apparatus
JP2013127385A (ja) レーザ式ガス分析計
WO2024116593A1 (ja) 濃度測定装置
US20230395408A1 (en) Optical sensor for remote temperature measurements
JP2017161411A (ja) 光学式成分センサ
CN114062314A (zh) 一种光电式定型机湿度检测装置及方法
JP2008311302A (ja) ウェハ方向検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 21910612

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2022571387

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 21910612

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1