KR20210027245A - 변형 시험기 - Google Patents

Abstract

변형 시험에 제공되는 시험체에 파괴 등이 생길 징조를 파괴 등의 전에 검출할 수가 있는 변형 시험기를 제공한다. 변형 사이클을 복수회 실시하는 변형 시험기로서, 시험체를 촬상하는 촬상 수단과, 변형 사이클의 기준 횟수에 있어서 촬상 수단이 촬상한 기준 촬상 데이터 또는 거기에 기초하여 산출되는 변형 상태를 나타내는 기준 데이터를 기억하는 기준 데이터 기억 수단과, 기준 데이터를 산출하는 기준 횟수 변형 데이터 산출 수단과, 기준 횟수보다 많은 검출 횟수에 있어서 촬상한 검출 촬상 데이터에 기초하여 변형 상태를 나타내는 검출 횟수 변형 데이터를 산출하는 검출 횟수 변형 데이터 산출 수단과, 기준 횟수 변형 데이터 및 검출 횟수 변형 데이터에 기초하여, 시험체에 생기는 변형이 변화하는 것을 검출하는 변화 검출 수단을 구비하여 이루어지는 변형 시험기이다.

Description

변형 시험기

본 발명은, 변형 시험기에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 휴대전화 등의 기판이나 유기 EL(Electro Luminescence) 등의 플렉서블(flexible) 디스플레이에 이용되는 얇은 유리판이나 수지판 등의 시험체를 변형시켜 그 내구도(耐久度)를 시험하는 변형 시험기에 관한 것이다.

이전부터 휴대전화 등의 기판이나 유기 EL 등의 플렉서블 디스플레이에 이용되는 얇은 유리판이나 수지판 등의 면 형상의 시험체를 변형시켜 그 내구도를 시험하는 변형 시험기가 알려져 있다(예를 들면, 특허 문헌 1~특허 문헌 6 참조).

일본국 특허공개 2016-80694호 공보 일본국 특허공개 2016-42048호 공보 일본국 특허공개 2013-125002호 공보 일본국 특허공개 2013-64658호 공보 일본국 특허공개 2013-57538호 공보 일본국 특허공개 2019-39743호 공보

검출기를 구비하는 시험기에 의하면, 검출기에 의해, 대상으로 하는 시험체의 부분 상태를 안정적으로 또한 정확하게 검출할 수가 있다. 그렇지만, 시험체의 부분을 변형시키는 변형 시험에 있어서, 시험체가 파괴하거나 큰 소성변형을 일으키는 과정을 관찰하고 싶다는 요망이 있고(이하, 파괴 및 큰 소성변형을 합쳐서 「파괴 등」이라고 함), 이것을 실현하기 위해서는, 이들 파괴 등이 생길 징조를 파괴 등의 전에 검출하고, 그 검출 후에, 변형 시험에 제공되는 시험체를 관찰하는 것이 바람직하다.

그래서, 본 개시에 있어서, 변형 시험에 제공되는 시험체에 파괴 등이 생길 징조를 파괴 등의 전에 검출할 수가 있는 변형 시험기를 제공한다.

본 출원인의 특허출원 2018-203662호(The entire contents of Japanese patent application No.2018-203662 are incorporated herein by reference)에 있어서, 제1 부착면의 제1 가장자리부와 제2 부착면의 제2 가장자리부와의 사이에 걸쳐 건네진 시험체가 휘거나 늘리거나 하게 되는 동안의 이 시험체 상태를 잘 검출할 수가 있는 변형 시험기가 제공된다. 예를 들면, 시험체가 부착되는 제1 부착면과, 제1 선분 상에 존재하는 제1 부착면의 가장자리부인 제1 가장자리부를 가지는 제1 부착판과, 시험체가 부착되는 제2 부착면과, 제2 선분 상에 존재하는 제2 부착면의 가장자리부인 제2 가장자리부를 가지는 제2 부착판과, 시험체가 걸쳐 건네지는 간극이 제1 가장자리부와 제2 가장자리부와의 사이에 형성되도록, 제1 선분과 제2 선분이 서로 평행하게 상대적 위치를 보유하면서, 제1 부착판을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동 가능하고, 및/또는, 제2 부착판을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동 가능하도록, 제1 부착판과 제2 부착판을 지지하는 지지 수단과, 제1 부착판을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동시키고, 및/또는 제2 부착판을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동시키는 회동 수단과, 제1 가장자리부와 제2 가장자리부와의 사이에 존재하는 시험체의 부분 상태를 검출하는 검출기를 지지하는 검출기 지지 수단을 구비하여 이루어지는 변형 시험기이다. 또, 제1 부착판을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동시키고, 및/또는 제2 부착판을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동시킨다. 이렇게 하면, 제1 가장자리부와 제2 가장자리부와의 사이에 존재하는 시험체의 부분을 변형시키는 변형 시험에 있어서, 제1 선분과 제2 선분을 2변으로 하는 가상 상의 사각형인 대상 영역의 절대 위치가 변화하는 것이다. 그리고, 대상 영역의 이 절대 위치의 변화에 상관없이, 검출기 지지 수단에 지지되는 검출기에 대한 대상 영역의 상대적 위치가 대략 같은 변형 시험기가 개시되어 있다. 이와 같이 제1 부착면과 제2 부착면에 시험체가 부착되고, 제1 부착면의 제1 가장자리부와 제2 부착면의 제2 가장자리부와의 사이에 시험체가 걸쳐 건네진 상태에 있어서, 제1 가장자리부를 규정하는 제1 선분과, 제2 가장자리부를 규정하는 제2 선분이 서로 평행하게 상대적 위치를 보유한 채로, 제1 부착판을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동시키고, 및/또는 제2 부착판을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동시킴으로써, 의도한 휨을 대시험체가 일으키는 이외의 힘이 시험체에 가해지는 것을 방지 또는 감소시킬 수가 있다. 이 힘은, 예를 들면, 시험체가 갑자기 불균일하게 휘는 힘, 시험체를 잡아당기는 힘이나 압축하는 힘을 포함해도 좋다. 예를 들면, 특허 문헌 1 중의 판스프링(12)를 이용하는 일이 없이, 의도한 휨을 시험체가 일으키는 이외의 힘이 시험체에 가해지는 것을 방지 또는 감소시킬 수가 있다. 또한, 제1 가장자리부와 제2 가장자리부와의 거리가 극소로 될 때까지 양쪽 가장자리부를 용이하게 근접시킬 수가 있다. 그 거리는, 이론적으로는 0에 아주 접근할 수가 있다. 그리고, 시험체를 어떠한 작은 휨 반경이라도 휘거나 늘리거나를 반복하여 시험할 수가 있다. 또, 검출기 지지 수단에 지지되는 검출기로부터 보아, 대상 영역의 상대적 위치가 대략 같게 유지되어도 좋다. 제1 가장자리부와 제2 가장자리부와의 사이에 존재하는 시험체의 부분이 대상 영역의 근처에 존재한다. 또, 상대적 위치는, 거리 및/또는 방향에 의해 규정되어도 좋다. 그와 같이 하면, 변형 시험에 있어서의 대상 영역의 절대 위치가 변화해도, 제1 가장자리부와 제2 가장자리부와의 사이에 존재하는 시험체의 부분에 대한 검출기의 상대적인 위치(거리, 방향)가 거의 같게 유지되어도 좋다. 그리고, 검출기에 의해 대상으로 하는 당해 부분 상태를 안정적으로 또한 정확하게 검출할 수가 있다.

본 개시에 있어서, 변형 시험기(이하 「본 시험기」라고 함)는, 각 회에서 시험체에 같은 변형을 일으키게 하는 것으로 상정되는 변형 사이클을 복수회 실시하는 변형 시험을 행함과 아울러, 시험체에 생기는 변형이 변형 사이클의 실시 횟수의 증가에 수반하여 변화하는 것을 검출하는 변형 시험기로서, 시험체를 촬상한 촬상 데이터를 생성하는 촬상 수단(또는, 촬상 장치, 카메라 등)과, 시험체에 생기는 변형의 기준으로 하는 변형 사이클의 실시 횟수인 기준 횟수에 있어서 촬상 수단이 시험체를 촬상한 기준 촬상 데이터 또는 기준 촬상 데이터에 기초하여 산출되는 기준 횟수에 있어서의 시험체의 변형 상태를 나타내는 기준 횟수 변형 데이터인 기준 데이터를 기억하는 기준 데이터 기억 수단(또는, 기준 데이터 기억 유닛)과, 기준 촬상 데이터에 기초한 기준 횟수 변형 데이터를 산출하는 기준 횟수 변형 데이터 산출 수단(또는, 기준 횟수 변형 데이터 산출 유닛)과, 기준 횟수보다 많은 실시 횟수인 검출 횟수에 있어서 시험체를 촬상한 검출 촬상 데이터에 기초하여 검출 횟수에 있어서의 시험체의 변형 상태를 나타내는 검출 횟수 변형 데이터를 산출하는 검출 횟수 변형 데이터 산출 수단(또는, 검출 횟수 변형 데이터 산출 유닛)과, 기준 횟수 변형 데이터 및 검출 횟수 변형 데이터에 기초하여, 시험체에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출하는 변화 검출 수단(또는, 변화 검출 유닛)을 포함하여 이루어지는 변형 시험기라도 좋다.

본 시험기는, 특허 문헌 6의 변형 시험기에 있어서 시험체가 절곡된 후에 늘리거나 하는 변형 사이클을 복수회 실시하는 것과 마찬가지로, 변형 사이클을 복수회 실시하는 변형 시험을 행한다. 본 시험기에 있어서의 변형 사이클은, 각 회에서 시험체에 같은 변형을 일으키게 하는 것으로 상정되는 것이고, 통상, 탄성변형 영역에 있어서의 시험체를, 이 변형 사이클 각각에 있어서 똑같이 변형시킨다고 생각되는 것이라도 좋다. 예를 들면, 시험체에 있어서의 2개의 부분의 일방과 타방과의 상대적 위치 관계를 변화시키는 것이고, 상대적 위치 관계 1로부터 상대적 위치 관계 2(상대적 위치 관계 1과는 다름)를 거쳐 상대적 위치 관계 1로 되돌아오는 사이클 내에서 상대적 위치 관계의 변화가 각 사이클에서 같은 것을 예시할 수 있다. 그리고, 본 시험기는, 변형 사이클을 복수회 실시하는 변형 시험에 있어서, 시험체에 생기는 변형이 변형 사이클의 실시 횟수의 증가에 수반하여 변화하는 것을 검출한다. 상술과 같이 변형 사이클은, 시험체에 각 회(回)에서 같은 변형을 일으키게 하는 것으로 상정되는 것이라도 좋다. 변형 사이클의 실시 횟수의 증가에 수반하여 시험체에 생기는 변형의 변화는, 시험체의 조직 등에 변화를 일으키는 파괴 등의 징조라고 생각될지도 모른다. 그리고, 파괴 등의 징조를 파괴 등의 전에 검출할 수가 있다고 생각될 수 있다.

본 시험기는, 촬상 수단과, 기준 데이터 기억 수단과, 기준 횟수 변형 데이터 산출 수단과, 검출 횟수 변형 데이터 산출 수단과, 변화 검출 수단을 포함해도 좋다. 그리고, 시험체에 생기는 변형의 기준으로 하는 변형 사이클의 실시 횟수인 기준 횟수에 있어서 시험체를 촬상한 기준 촬상 데이터와, 기준 횟수보다 많은 실시 횟수인 검출 횟수에 있어서 시험체를 촬상한 검출 촬상 데이터를 이용하여, 본 시험기는, 시험체에 생기는 기준 횟수에 있어서의 변형에 비해, 시험체에 생기는 검출 횟수(변형 사이클의 실시 횟수가 기준 횟수보다 많음)에 있어서의 변형이 변화하는 것을 검출할 수가 있다.

촬상 수단은, 시험체를 촬상한 촬상 데이터를 생성한다.

기준 횟수 변형 데이터 산출 수단은, 기준 촬상 데이터에 기초하여, 기준 횟수에 있어서의 시험체의 변형 상태를 나타내는 기준 횟수 변형 데이터를 산출한다.

기준 데이터 기억 수단은, 기준 데이터를 기억한다. 기준 데이터는, 기준 촬상 데이터 또는 기준 횟수 변형 데이터이다. 즉, 기준 데이터 기억 수단은, 기준 촬상 데이터 그 자체를 기억해도 좋다. 또, 기준 횟수 변형 데이터 산출 수단에 의해 산출된 기준 횟수 변형 데이터를 기억하도록 해도 좋다. 또한, 기준 데이터로서 기준 촬상 데이터를 기준 데이터 기억 수단이 기억하는 경우는, 후에 기준 데이터 기억 수단으로부터 기준 촬상 데이터를 독출하고, 이 독출된 기준 촬상 데이터에 기초한 기준 횟수 변형 데이터 산출 수단은, 기준 횟수 변형 데이터를 산출한다. 또, 기준 데이터로서 기준 횟수 변형 데이터를 기준 데이터 기억 수단이 기억하는 경우는, 기준 횟수 변형 데이터 산출 수단은, 미리 기준 촬상 데이터에 기초한 기준 횟수 변형 데이터를 산출하고, 이 산출된 기준 횟수 변형 데이터를 기준 데이터로서 기준 데이터 기억 수단은 기억한다.

검출 횟수 변형 데이터 산출 수단은, 검출 촬상 데이터에 기초하여, 검출 횟수에 있어서의 시험체의 변형 상태를 나타내는 검출 횟수 변형 데이터를 산출한다.

변화 검출 수단은, 기준 횟수 변형 데이터 및 검출 횟수 변형 데이터에 기초하여, 시험체에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출한다.

이상과 같이 하여, 본 시험기는, 시험체에 생기는 기준 횟수에 있어서의 변형에 비해, 시험체에 생기는 검출 횟수에 있어서의 변형이 변화하는 것을 검출해도 좋다. 그리고, 변형 시험에 제공되는 시험체에 파괴 등이 생길 징조를 파괴 등의 전에 검출할 수가 있다.

본 시험기에 있어서는, 기준 횟수 변형 데이터 산출 수단이, 기준 촬상 데이터에 기초하여 시험체의 형상을 나타내는 수식인 기준 수식을 도출하는 기준 수식 도출 수단(또는, 기준 수식 도출 유닛)과, 기준 수식 도출 수단에 의해 도출된 기준 수식에 기초하여 시험체의 적어도 2 이상의 부분에 있어서의 변형정도를 나타내는 기준 변형정도를 산출하는 기준 변형정도 산출 수단(또는, 기준 변형정도 산출 유닛)과, 기준 변형정도 산출 수단에 의해 산출되는 적어도 2 이상의 기준 변형정도로부터 변형정도가 가장 크다고 판단되는 것을 기준 횟수 변형 데이터로서 선택하는 기준 변형정도 선택 수단(또는, 기준 변형정도 선택 유닛)을 가지고 이루어지는 것이라도 좋다.

기준 수식 도출 수단이, 기준 촬상 데이터에 기초하여 시험체의 형상을 나타내는 수식인 기준 수식을 도출한다. 기준 수식은, 여러 가지의 것을 채용할 수 있지만, 예를 들면, 기준 촬상 데이터에 직교 좌표를 취하고, 양쪽 좌표의 일방의 값을 타방의 값의 n차식(n은 1이상의 정수)으로 나타내는 것 같은 것을 들 수가 있다. 기준 변형정도 산출 수단은, 기준 수식에 기초하여 시험체의 적어도 2 이상의 부분에 있어서의 변형정도를 나타내는 기준 변형정도를 산출한다. 그리고, 기준 변형정도 선택 수단은, 기준 변형정도 산출 수단에 의해 산출되는 이 적어도 2 이상의 기준 변형정도로부터 변형정도가 가장 크다고 판단되는 것을 기준 횟수 변형 데이터로서 선택한다. 이와 같이 함으로써, 기준 촬상 데이터에 기초하여 작성된 기준 수식을 이용하여, 시험체의 다른 부분의 기준 변형정도를 산출할 수가 있다. 그리고, 그 중에서 변형정도가 가장 크다고 판단되는 것을 기준 횟수 변형 데이터로 할 수가 있다. 따라서, 기준 횟수에 있어서의 변형 중에서 큰 변형을 일으키고 있는 시험체의 부분의 변형 상태를 나타내는 기준 횟수 변형 데이터로 할 수가 있다. 그리고, 파괴 등이 생기기 쉬운 큰 변형을 일으키고 있는 시험체의 부분 상태에 기초하여 파괴 등이 생길 징조를 잘 검출할 수가 있다.

본 시험기에 있어서는, 검출 횟수 변형 데이터 산출 수단이, 검출 촬상 데이터에 기초하여 시험체의 형상을 나타내는 수식인 검출 수식을 도출하는 검출 수식 도출 수단(또는, 검출 수식 도출 유닛)과, 검출 수식 도출 수단에 의해 도출된 검출 수식에 기초하여 시험체의 적어도 2 이상의 부분에 있어서의 변형정도를 나타내는 검출 변형정도를 산출하는 검출 변형정도 산출 수단(또는, 검출 변형정도 산출 유닛)과, 검출 변형정도 산출 수단에 의해 산출되는 적어도 2 이상의 검출 변형정도로부터 변형정도가 가장 크다고 판단되는 것을 검출 횟수 변형 데이터로서 선택하는 검출 변형정도 선택 수단(또는, 검출 변형정도 선택 유닛)을 가지고 이루어지는 것이라도 좋다.

검출 수식 도출 수단이, 검출 촬상 데이터에 기초하여 시험체의 형상을 나타내는 수식인 검출 수식을 도출한다. 검출 수식은, 기준 수식과 같이, 여러 가지의 것을 채용할 수 있지만, 예를 들면, 검출 촬상 데이터에 직교 좌표를 취하고, 양쪽 좌표의 일방의 값을 타방의 값의 n차식(n은 1이상의 정수)으로 나타내는 것 같은 것을 들 수가 있다. 검출 변형정도 산출 수단은, 검출 수식에 기초하여 시험체의 적어도 2 이상의 부분에 있어서의 변형정도를 나타내는 검출 변형정도를 산출한다. 그리고, 검출 변형정도 선택 수단은, 검출 변형정도 산출 수단에 의해 산출되는 이 적어도 2 이상의 검출 변형정도로부터 변형정도가 가장 크다고 판단되는 것을 검출 횟수 변형 데이터로서 선택한다. 이와 같이 함으로써, 검출 촬상 데이터에 기초하여 작성된 검출 수식을 이용하여, 시험체가 다른 부분의 검출 변형정도를 산출해, 그 중에서 변형정도가 가장 크다고 판단되는 것을 검출 횟수 변형 데이터로 할 수가 있다. 따라서, 검출 횟수에 있어서의 변형 중에서 큰 변형을 일으키고 있는 시험체의 부분의 변형 상태를 나타내는 검출 횟수 변형 데이터로 할 수가 있다. 그리고, 파괴 등이 생기기 쉬운 큰 변형을 일으키고 있는 시험체의 부분 상태에 기초하여 파괴 등이 생길 징조를 잘 검출할 수가 있다.

본 시험기에 있어서는, 검출 횟수 변형 데이터 및 기준 횟수 변형 데이터가, 시험체의 형상을 나타내는 곡률 또는 곡률반경이라도 좋다.

곡률(곡률반경의 역수) 또는 곡률반경은, 시험체의 변형 상태를 잘 나타낼 수가 있다. 그리고, 이것을 검출 횟수 변형 데이터 및 기준 횟수 변형 데이터로 하면, 시험체에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 잘 검출할 수가 있다. 그리고, 변형 시험에 제공되는 시험체에 파괴 등이 생길 징조를 효율적으로 검출할 수가 있다.

본 시험기에 있어서는, 변화 검출 수단은, 검출 횟수 변형 데이터와 기준 횟수 변형 데이터의 일방에 대한 타방의 비율인 변화 비율에 의해, 시험체에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출하는 것(이하 「변화 비율 본 시험기」라고 함)이라도 좋다.

이와 같이 검출 횟수 변형 데이터 A와 기준 횟수 변형 데이터 B와의 일방에 대한 타방의 비율((A/B) 또는 (B/A))인 변화 비율에 의해, 변형의 변화를 검출할 수가 있다. 그리고, 어느 정도의 크기의 변화가 생기고 있는지를 적확하게 검출할 수 있다. 변형 시험에 제공되는 시험체에 파괴 등이 생길 징조를 잘 검출할 수가 있다.

변화 비율 본 시험기에 있어서는, 상기 일방에 소정의 값을 곱한 값 또는 상기 일방으로부터 소정의 값을 나눈 값과, 상기 타방과의 대소에 의해, 시험체에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출하는 것이라도 좋다.

검출 횟수 변형 데이터와 기준 횟수 변형 데이터와의 일방에 소정의 값 C를 곱한 값 또는 일방으로부터 소정의 값 C를 나눈 값(예를 들면, 이 일방이 A이면 (CxA) 또는 (A/C))과, 상기 타방(예를 들면, 이 일방이 A이면, B)과의 대소를 판단함으로써, 시험체에 파괴 등이 생길 징조를 검출할 때의 변화 비율의 문턱값(C나 (1/C))을 이용하여 판단할 수 있다.

본 시험기에 있어서는, 변화 검출 수단이, 시험체에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출하는 경우, 변형 시험을 중지하는 것이라도 좋다.

이와 같이 함으로써, 시험체에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출하면 변형 시험이 중지될 수 있다. 파괴 등이 생길 징조를 파괴 등의 전에 검출하고(변형 시험 중지), 그 검출 후에, 변형 시험에 제공되는 시험체를 관찰할 수가 있다. 예를 들면, 시험체가 파괴하거나 큰 소성변형을 일으키는 과정을 관찰할 수가 있다.

본 시험기에 있어서는, 촬상 수단은, 1개의 변형 사이클 내에 있어서의 경과 정도인 사이클 진도가, 동일 또는 다른 사이클에 있어서 다른 촬상 타이밍으로 촬상하는 것이라도 좋다. 기준 데이터 기억 수단은, 기준 데이터를 이 기준 데이터와 관련되는 촬상 때의 사이클 진도인 기준 촬상 사이클 진도와 관련지어 기억해도 좋다. 검출 촬상 데이터와 관련되는 촬상의 사이클 진도인 검출 촬상 사이클 진도와 같든지 또는 가장 가까운 기준 촬상 사이클 진도와 관련지어진 기준 데이터를 기준 데이터 기억 수단으로부터 독출하는 대상 기준 데이터 독출 수단(또는, 대상 기준 데이터 독출 유닛)을 구비하여도 좋다. 변화 검출 수단은, 대상 기준 데이터 독출 수단에 의해 독출되는 기준 데이터에 기초하는 기준 횟수 변형 데이터에 기초하여 검출하는 것(이하 「사이클 진도 본 시험기」라고 함)이라도 좋다.

촬상 수단은 사이클 진도가 동일 또는 다른 사이클에 있어서 다른 촬상 타이밍으로 촬상하는 경우, 사이클 진도가 크게 다른 촬상 타이밍으로 촬상된 기준 촬상 데이터 및 검출 촬상 데이터에 기초하여 변형의 변화를 검출하는 것은 곤란한 일도 있다. 예를 들면, 1개의 변형 사이클 중에 사이클 진도에 의해 시험체에 생기는 변형이 크게 변화하는 것 같은 경우에서는, 거의 같은 사이클 진도에 있어서의 기준 촬상 데이터 및 검출 촬상 데이터에 기초하여 변형의 변화를 검출해도 좋다. 또한, 사이클 진도란, 1개의 변형 사이클 내에 있어서 동작이 어느 정도 진행되고 있는지를 나타내는 경과 정도를 말해도 좋다. 예를 들면, 변형 사이클 개시를 0%로 하고, 변형 사이클 완료를 100%로 하면, 사이클 진도는 예를 들면 46%나 73% 등과 같이 나타낼 수도 있다. 또, 이 46%나 73% 등의 산출은, 변형 사이클에 있어서의 시험체의 변형량을 기준으로 해도 좋다. 예를 들면, 시험체가 다른 2개의 위치를 상대적으로 변위시키는 변형 사이클이면, 1개의 변형 사이클 전체에서의 이 2개의 위치의 상대적 변위량의 합계 Q1에 대한, 변형 사이클 개시부터 그때까지의 이 2개의 위치의 상대적 변위량의 합계 q1의 비율 ((q1/Q1)x100)%로 할 수도 있다. 또, 변형 사이클의 경과 시간을 기준으로 할 수도 있다. 1개의 변형 사이클의 필요 시간을 Qt로 하면, 변형 사이클 개시부터 그때까지 경과한 시간 qt가 Qt에 대해 이루는 비율 ((qt/Qt)x100)%로 할 수도 있다. 또, 촬상 수단의 촬상 타이밍이 다른 사이클 진도인 것은, 동일한 변형 사이클 내에 있어서 사이클 진도가 다른 타이밍으로 촬상하는 경우나, 다른 변형 사이클 내에 있어서 사이클 진도가 다른 타이밍으로 촬상하는 경우의 모두를 포함한다. 예를 들면, 503번째의 변형 사이클에 있어서 40%와 50%의 2개의 사이클 진도에 있어서 촬상한다. 그리고, 예를 들면, 503번째의 변형 사이클에 있어서 40%의 사이클 진도에 있어서 촬상함과 아울러, 506번째의 변형 사이클에 있어서 50%의 사이클 진도에 있어서 촬상한다.

이와 같이 촬상 수단은 사이클 진도가 동일 또는 다른 사이클에 있어서 다른 촬상 타이밍으로 촬상하는 경우, 사이클 진도가 가까운 촬상 타이밍으로 촬상된 기준 촬상 데이터 및 검출 촬상 데이터에 기초하여 변형의 변화를 잘 검출할 수가 있다. 즉, 기준 데이터 기억 수단은, 기준 데이터를 이 기준 데이터와 관련되는 촬상 때의 사이클 진도인 기준 촬상 사이클 진도와 관련지어 기억한다. 대상 기준 데이터 독출 수단은, 검출 촬상 데이터와 관련되는 촬상의 사이클 진도인 검출 촬상 사이클 진도와 같든지 또는 가장 가까운 기준 촬상 사이클 진도와 관련지어진 기준 데이터를 기준 데이터 기억 수단으로부터 독출한다. 그리고, 변화 검출 수단이, 대상 기준 데이터 독출 수단에 의해 독출되는 기준 데이터(검출 촬상 사이클 진도에 가까운 기준 촬상 사이클 진도와 관련되는 기준 데이터)에 기초하는 기준 횟수 변형 데이터에 기초하여 검출한다.

사이클 진도 본 시험기에 있어서는, 촬상 수단이 촬상하는 촬상 데이터와 변형 시험에 있어서의 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도를 포함하는 이 촬상 때와 관련되는 변형 동작 정보를 관련지은 관련지음 데이터를 생성하는 관련지음 데이터 생성 수단(또는, 관련지음 데이터 생성 유닛)을 가지고, 기준 데이터 기억 수단은, 관련지음 데이터 생성 수단이 생성한 관련지음 데이터에 포함되는 사이클 진도를 기준 촬상 사이클 진도로 하여 이 관련지음 데이터를 기억하는 것(이하 「관련지음 본 시험기」라고 함)이라도 좋다.

이와 같이 함으로써, 관련지음 데이터 생성 수단이 관련지음 데이터를 생성한다. 관련지음 데이터는, 촬상 수단이 촬상하는 촬상 데이터와, 이 촬상 데이터의 촬상 때와 관련되는 변형 동작 정보가 관련지어진 데이터이며, 또한 변형 동작 정보는, 변형 시험에 있어서의 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도에 관한 정보를 포함한다. 그리고, 기준 데이터 기억 수단은, 관련지음 데이터 생성 수단이 생성한 관련지음 데이터에 포함되는 사이클 진도를 기준 촬상 사이클 진도로 하여 이 관련지음 데이터를 기억하므로, 기준 데이터 기억 수단은, 기준 데이터를 이 기준 데이터와 관련되는 촬상 때의 기준 촬상 사이클 진도와 확실하게 관련지어 기억할 수가 있다.

관련지음 본 시험기에 있어서는, 기준 데이터 기억 수단은, 관련지음 데이터 생성 수단이 생성한 관련지음 데이터 중에서, 이 관련지음 데이터가 포함하는 변형 사이클 횟수가 기준 횟수와 같은 경우에는, 관련지음 데이터를 기준 데이터로 하여 기억하는 것(이하 「기준 본 시험기」라고 함)이라도 좋다.

이와 같이 함으로써, 관련지음 데이터가 포함하는 변형 사이클 횟수가 기준 횟수와 같은 경우에는, 관련지음 데이터를 기준 데이터로서 기준 데이터 기억 수단이 확실하게 기억할 수가 있다.

기준 본 시험기에 있어서는, 기준 데이터 기억 수단은, 관련지음 데이터 생성 수단이 생성한 관련지음 데이터 중에서, 이 관련지음 데이터가 포함하는 변형 사이클 횟수가 기준 횟수와 다른 경우에는, 관련지음 데이터를 통상 데이터로 하여 기억하는 것(이하 「통상 데이터 기억 본 시험기」라고 함)이라도 좋다.

이와 같이 함으로써, 관련지음 데이터가 포함하는 변형 사이클 횟수가 기준 횟수와 다른 경우에는 이 관련지음 데이터를, 기준 데이터와 다른 통상 데이터로 하여 기억하므로, 기준 데이터 이외가 관련지음 데이터도 기억되어 변형 시험에 있어서의 시험체의 상황을 기억할 수가 있고, 후에 이 상황을 확인할 수도 있다(통상 데이터는, 필요에 따라서 독출되도록 해도 좋다.).

통상 데이터 기억 본 시험기에 있어서는, 통상 데이터 및 기준 데이터로서 기억하는 관련지음 데이터의 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도를 나타내는 데이터 특정 정보를 접수하는 데이터 특정 정보접수 수단(또는, 데이터 특정 정보접수 유닛)을 구비하고, 기준 데이터 기억 수단은, 데이터 특정 정보접수 수단에 의해 접수된 데이터 특정 정보에 합치하는 관련지음 데이터를 기억하는 것(이하 「데이터 특정 본 시험기」라고 함)이라도 좋다.

이와 같이 함으로써, 데이터 특정 정보접수 수단이 데이터 특정 정보를 접수한다. 데이터 특정 정보는, 통상 데이터 및 기준 데이터로서 기억하는 관련지음 데이터의 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도를 나타내는 것이고, 이 데이터 특정 정보에 합치하는 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도와 관련되는 관련지음 데이터를 기준 데이터 기억 수단은 통상 데이터 또는 기준 데이터로서 기억한다. 이에 의해 기억하는 관련지음 데이터를 그 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도에 의해 지정할 수 있으므로, 필요한 관련지음 데이터만을 기준 데이터 기억 수단에 효율적으로 기억시킬 수가 있다.

데이터 특정 본 시험기에 있어서는, 변형 시험에 있어서의 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도가 데이터 특정 정보에 합치하는지 아닌지 판단하는 촬상 판단 수단(또는, 촬상 판단 유닛)과, 촬상 판단 수단에 의해 변형 시험에 있어서의 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도가 데이터 특정 정보에 합치한다고 판단되는 경우에는, 촬상 수단에 촬상을 명령하는 촬상 명령 수단(또는, 촬상 명령 유닛)을 구비하고, 촬상 명령 수단에 의한 명령에 의해 촬상 수단이 촬상한 촬상 데이터를 포함하는 관련지음 데이터를 기준 데이터 기억 수단은 기억하는 것이라도 좋다.

촬상 판단 수단은, 변형 시험에 있어서의 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도가 데이터 특정 정보에 합치하는지 아닌지 판단한다. 촬상 명령 수단은, 촬상 판단 수단에 의해 변형 시험에 있어서의 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도가 데이터 특정 정보에 합치한다고 판단되는 경우에는, 촬상 수단에 촬상을 명령한다(이 명령을 받은 촬상 수단은 촬상한다.). 그리고, 기준 데이터 기억 수단은, 촬상 명령 수단에 의한 명령에 의해 촬상 수단이 촬상한 촬상 데이터를 포함하는 관련지음 데이터를 기억한다. 이에 의해 기준 데이터 기억 수단에 기억되는 촬상 데이터만을 촬상 수단이 촬상하므로, 촬상 수단의 부하를 감소하고, 기준 데이터 기억 수단이, 데이터 특정 정보접수 수단에 의해 접수된 데이터 특정 정보에 합치하는 관련지음 데이터를 통상 데이터 또는 기준 데이터로서 기억할 수가 있다.

데이터 특정 본 시험기에 있어서는, 관련지음 데이터가 포함하는 변형 동작 정보가 데이터 특정 정보에 합치하는지 아닌지 판단하는 기억 요부(要否 : 필요와 불필요) 판단 수단(또는, 기억 요부(要否 : 필요와 불필요) 판단 유닛)과, 기억 요부 판단 수단에 의해 변형 동작 정보가 데이터 특정 정보에 합치한다고 판단되는 경우, 기준 데이터 기억 수단은 이 관련지음 데이터를 기억하는 것이라도 좋다.

기억 요부 판단 수단이, 관련지음 데이터가 포함하는 변형 동작 정보가 데이터 특정 정보에 합치하는지 아닌지 판단한다. 그리고, 기준 데이터 기억 수단은, 기억 요부 판단 수단에 의해 변형 동작 정보가 데이터 특정 정보에 합치한다고 판단되는 경우, 이 관련지음 데이터를 기억한다. 이에 의해 촬상 수단에의 촬상 명령 등을 필요로 하는 일이 없고(촬상 수단과의 신호의 교환을 간이화 할 수 있고), 기준 데이터 기억 수단이, 데이터 특정 정보접수 수단에 의해 접수된 데이터 특정 정보에 합치하는 관련지음 데이터를 통상 데이터 또는 기준 데이터로서 기억할 수가 있다.

관련지음 본 시험기에 있어서는, 시험체에 생기는 변형이 변화하는지 어떤지 판단하는 변형 사이클 횟수 및/또는 사이클 진도를 특정하는 판단 대상 조건을 접수하는 판단 대상 조건 접수 수단(또는, 판단 대상 조건 접수 유닛)을 구비하여 이루어지고, 판단 대상 조건 접수 수단이 접수한 판단 대상 조건에 합치하는 변형 동작 정보를 포함하는 관련지음 데이터가 생성될 때는, 시험체에 생기는 변형이 변화하는지 어떤지 판단하지만, 판단 대상 조건에 합치하지 않는 변형 동작 정보를 포함하는 관련지음 데이터가 생성될 때는 판단하지 않는 것(이하 「판단 대상 조건 본 시험기」라고 함)이라도 좋다.

판단 대상 조건 접수 수단은, 판단 대상 조건을 접수한다. 판단 대상 조건은, 시험체에 생기는 변형이 변화하는지 어떤지 판단하는 변형 사이클 횟수 및/또는 사이클 진도를 특정하는 것이고, 변형의 변화를 판단해야 할 검출 촬상 데이터를 지정하는 것이다. 예를 들면, 판단 대상 조건은, 촬상 수단이 동일한 사이클 진도에서 촬상하는 경우는 변형 사이클 횟수만으로 충분하고, 변형 사이클 횟수를 불문하고 매회 변형의 변화를 판단한다면 사이클 진도만으로 충분하지만, 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도의 양방을 특정하도록 해도 좋다. 그리고, 판단 대상 조건 접수 수단이 접수한 판단 대상 조건에 합치하는 변형 동작 정보를 포함하는 관련지음 데이터가 생성될 때는, 시험체에 생기는 변형이 변화하는지 어떤지 판단하지만, 판단 대상 조건에 합치하지 않는 변형 동작 정보를 포함하는 관련지음 데이터가 생성될 때는 판단하지 않기 때문에, 불필요한 판단 동작을 생략할 수가 있다.

판단 대상 조건 본 시험기에 있어서는, 관련지음 데이터에 포함되는 변형 동작 정보가, 판단 대상 조건 접수 수단이 접수한 판단 대상 조건에 합치하는지 판단하고, 합치하는지 아닌지를 나타내는 요부(要否 : 필요와 불필요) 신호를 발생하는 요부 신호 발생 수단(또는, 요부 신호 발생 유닛)을 구비하고, 요부 신호 발생 수단이 발생하는 요부 신호에 따라, 시험체에 생기는 변형이 변화할지 어떤지를 판단하는지 아닌지가 결정되는 것(이하 「요부 신호 본 시험기」라고 함)이라도 좋다.

요부 신호 발생 수단이 요부 신호를 발한다. 요부 신호는, 관련지음 데이터에 포함되는 변형 동작 정보가, 판단 대상 조건 접수 수단이 접수한 판단 대상 조건에 합치하는지 아닌지를 나타내는 신호이다. 그리고, 요부 신호 발생 수단이 발생하는 요부 신호에 따라, 시험체에 생기는 변형이 변화할지 어떤지를 판단하는지 아닌지가 결정되므로, 요부 신호 발생 수단이 변형 동작 정보가 판단 대상 조건에 합치하는지 아닌지를 판단하고 발하는 요부 신호에 기초하여 판단의 유무를 확실하게 결정할 수 있다.

요부 신호 본 시험기에 있어서는, 요부 신호 발생 수단은, 요부 신호를 변화 검출 수단에 송신하고, 변화 검출 수단은, 요부 신호에 따라, 시험체에 생기는 변형이 변화하는 것을 검출하는지 아닌지가 결정되는 것이라도 좋다.

이와 같이 함으로써, 요부 신호 발생 수단이, 요부 신호를 변화 검출 수단에 송신함으로써, 시험체에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출하는 변화 검출 수단이, 이 송신된 요부 신호를 확실하게 수신해, 시험체에 생기는 변형이 변화하는 것을 검출하는지 아닌지를 확실하게 결정될 수가 있다.

판단 대상 조건 본 시험기에 있어서는, 관련지음 데이터에 포함되는 변형 동작 정보가, 판단 대상 조건 접수 수단이 접수한 판단 대상 조건에 합치하지 않는 경우에는, 검출 횟수 변형 데이터 산출 수단이 검출 횟수 변형 데이터를 산출하지 않는 것이라도 좋다.

이와 같이 관련지음 데이터에 포함되는 변형 동작 정보가 판단 대상 조건에 합치하지 않는 경우에는, 검출 횟수 변형 데이터 산출 수단이 검출 횟수 변형 데이터를 산출하지 않기 때문에, 검출 횟수 변형 데이터의 불필요한 산출 동작을 생략할 수가 있다.

판단 대상 조건 본 시험기에 있어서는, 관련지음 데이터에 포함되는 변형 동작 정보가, 판단 대상 조건 접수 수단이 접수한 판단 대상 조건에 합치하지 않는 경우에는, 대상 기준 데이터 독출 수단이 기준 데이터 기억 수단으로부터 기준 데이터를 독출하지 않는 것이라도 좋다.

이와 같이 관련지음 데이터에 포함되는 변형 동작 정보가 판단 대상 조건에 합치하지 않는 경우에는, 대상 기준 데이터 독출 수단이 기준 데이터 기억 수단으로부터 기준 데이터를 독출하지 않고, 대상 기준 데이터 독출 수단의 불요의 독출 동작을 생략할 수가 있다.

본 시험기에 있어서는, 변형 사이클은, 시험체를 통과하는 가상의 직선인 절곡선의 둘레에 시험체를 절곡하는 것을 반복하는 것이고, 촬상 수단의 촬상 방향이 절곡선과 대략 평행이라도 좋다(이하 「촬상 방향 평행 본 시험기」라고 한다.).

시험체를 통과하는 가상의 직선인 절곡선의 둘레에 시험체를 절곡하는 변형 사이클을 반복하는 변형 시험의 경우, 절곡선과 대략 평행하게부터 시험체를 관찰함으로써 시험체에 생기는 변형의 상황을 적확하게 파악하기 쉽게 할 수가 있다. 이 때문에 촬상 수단의 촬상 방향이 절곡선과 대략 평행하게 되도록 함으로써, 시험체에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 확실하게 검출할 수가 있다. 또한, 촬상 수단의 촬상 방향이 절곡선과 대략 평행이란, 촬상 수단의 촬상의 광축이 절곡선과 동일 직선 상에 존재하는 경우도 포함하고, 그와 같이 함으로써 변형의 변화를 적확하게 검출할 수가 있다.

촬상 방향 평행 본 시험기에 있어서는, 시험체가, 절곡선을 포함하는 주표면을 가지는 필름 형상 또는 시트 형상을 이루는 것이라도 좋다.

필름 형상 또는 시트 형상을 이루는 시험체에 있어서, 필름 형상 또는 시트 형상의 주표면에 절곡선이 존재하도록 변형 시험을 행하는 경우, 촬상 수단의 촬상 방향이 절곡선과 대략 평행하게 되도록 함으로써, 시험체에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 잘 검출할 수가 있다. 또, 이러한 경우에 촬상 수단의 촬상의 광축이 절곡선과 동일 직선 상에 존재하도록 하면, 필름 형상 또는 시트 형상을 이루는 시험체의 변형의 변화를 확실하게 검출할 수가 있다.

촬상 방향 평행 본 시험기에 있어서는, 촬상 수단은 시험체를 사이에 두고 반대 방향으로부터 절곡선에 평행하게 시험체를 비추는 조명 수단(광원, 조명, 조명 장치 등을 포함)을 더 구비하여 이루어지는 것이라도 좋다.

이와 같이 조명 수단이, 촬상 수단은 시험체를 사이에 두고 반대 방향으로부터 절곡선에 평행하게 시험체를 비춤으로써, 절곡선과 대략 평행한 촬상 방향에 의한 촬상에 있어서 시험체에 생기는 변형이 변화하는 것을 잘 검출할 수가 있다. 또한, 절곡선에 평행하게 시험체를 비춘다는 것은, 조명 수단의 조명 방향이 절곡선과 동일 직선 상에 존재하는 경우도 포함하고, 그와 같이 함으로써 변형의 변화를 적확하게 검출할 수가 있다. 또, 시험체가, 절곡선을 포함하는 주표면을 가지는 필름 형상 또는 시트 형상을 이루는 경우에도, 조명 수단의 조명 방향이 절곡선과 동일 직선 상에 존재하도록 함으로써, 필름 형상 또는 시트 형상을 이루는 시험체의 변형의 변화를 잘 검출할 수가 있다.

본 시험기에 있어서는, 시험체가 부착되는 제1 부착면과, 제1 선분 상에 존재하는 제1 부착면의 가장자리부인 제1 가장자리부를 가지는 제1 부착판과, 시험체가 부착되는 제2 부착면과, 제2 선분 상에 존재하는 제2 부착면의 가장자리부인 제2 가장자리부를 가지는 제2 부착판과, 시험체가 걸쳐 건네지는 간극이 제1 가장자리부와 제2 가장자리부와의 사이에 형성되도록, 제1 선분과 제2 선분이 서로 평행하게 상대적 위치를 보유하면서, 제1 부착판을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동 가능하고, 및/또는, 제2 부착판을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동 가능하도록, 제1 부착판과 제2 부착판을 지지하는 지지 수단(또는, 지지 유닛)과, 제1 부착판을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동시키고, 및/또는 제2 부착판을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동시키는 회동 수단(또는, 회동 유닛)을 구비하여 이루어지고, 제1 부착판을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동시키고, 및/또는 제2 부착판을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동시킴으로써, 제1 가장자리부와 제2 가장자리부와의 사이에 존재하는 시험체의 부분을 변형시키는 변형 시험에 있어서, 제1 선분과 제2 선분을 2변으로 하는 가상 상의 사각형인 대상 영역의 절대 위치가 변화하는 것이고, 대상 영역의 이 절대 위치의 변화에 상관없이, 촬상 수단에 대한 대상 영역의 상대적 위치가 대략 같은 것(이하 「부착판 본 시험기」라고 함)이라도 좋다.

이러한 부착판 본 시험기는, 대략적으로는, 제1 부착판과, 제2 부착판과, 지지 수단과, 회동 수단을 구비하여 이루어진다.

제1 부착판은, 제1 부착면과, 제1 부착면의 가장자리부인 제1 가장자리부를 가진다. 제1 부착면은, 시험체가 부착되는 면이며, 예를 들면, 시트 형상, 필름 형상, 막상(膜狀), 판상(板狀) 등과 같이 주표면을 가지는 시험체가, 이 주표면의 일부가 제1 부착면에 접착 등에 의해 부착된다. 제1 가장자리부는, 제1 부착면의 가장자리부이며 제1 선분 상에 존재하는 곧은 가장자리이다.

제2 부착판은, 제2 부착면과, 제2 부착면의 가장자리부인 제2 가장자리부를 가진다. 제2 부착면은, 시험체가 부착되는 면이며, 예를 들면, 시트 형상, 필름 형상, 막상, 판상 등과 같이 주표면을 가지는 시험체가, 이 주표면의 일부가 제2 부착면에 접착 등에 의해 부착된다. 제2 가장자리부는, 제2 부착면의 가장자리부이며 제2 선분 상에 존재하는 곧은 가장자리이다.

이러한 제1 부착판의 제1 부착면과 제2 부착판의 제2 부착면에 시험체가 부착되고, 제1 가장자리부와 제2 가장자리부와의 사이에 시험체가 걸쳐 건네진다.

지지 수단은, (a) 제1 부착판을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동 가능한 것, (b) 제2 부착판을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동 가능한 것 중에서 일방 또는 양쪽 모두가 채워지도록 제1 부착판과 제2 부착판을 지지한다. 이 (a), (b)의 일방 또는 양방의 회동을 일으켜도, 시험체가 걸쳐 건네지는 간극이 제1 가장자리부와 제2 가장자리부와의 사이에 형성됨과 아울러, 제1 선분과 제2 선분이 서로 평행하게 양쪽 선분의 상대적 위치가 보유된다. 또한, 제1 선분과 제2 선분과의 양쪽 선분의 상대적 위치는, 양쪽 선분 사이의 거리나, 양쪽 선분의 일방에 대한 타방의, 양쪽 선분의 평행 방향에 관한 위치(이 일방을 포함하는 직선에 이 타방이 포함되도록 평행 이동시켰을 때, 이 일방에 대한 당해 평행 이동시킨 타방의 위치)를 포함한다.

회동 수단은, (c) 제1 부착판을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동시키는 것, (d) 제2 부착판을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동시키는 것 중에서 일방 또는 양방을 행한다.

그리고, 제1 부착판을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동시키고, 및/또는 제2 부착판을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동시킴으로써, 제1 가장자리부와 제2 가장자리부와의 사이에 존재하는 시험체의 부분을 변형시킴으로써 변형 시험이 행해진다.

이러한 변형 시험에 있어서, 제1 선분과 제2 선분을 2변으로 하는 가상 상의 사각형인 대상 영역의 절대 위치가 변화한다. 그렇지만, 이 변형 시험에 있어서의 대상 영역의 절대 위치의 변화에 상관없이, 촬상 수단에 대한 대상 영역의 상대적 위치가 대략 같게 된다.

부착판 본 시험기에서는, 제1 부착면과 제2 부착면에 시험체가 부착되고, 제1 부착면의 제1 가장자리부와 제2 부착면의 제2 가장자리부와의 사이에 시험체가 걸쳐 건네진 상태에 있어서, 제1 가장자리부를 규정하는 제1 선분과, 제2 가장자리부를 규정하는 제2 선분이 서로 평행하게 상대적 위치를 보유한 채로, 제1 부착판을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동시키고, 및/또는 제2 부착판을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동시킴으로써, 의도한 휨을 시험체가 일으키는 이외의 힘(예를 들면, 시험체가 갑자기 불균일하게 휘는 힘, 시험체를 잡아당기는 힘이나 압축하는 힘)이 시험체에 가해지는 것을 방지 또는 감소시킬 수가 있음과 아울러, 제1 가장자리부와 제2 가장자리부와의 거리가 극소(이론적으로는 0에 아주 접근할 수가 있음)로 될 때까지 양쪽 가장자리부를 용이하게 근접시킬 수가 있으므로, 시험체를 어떠한 작은 휨 반경이라도 휘거나 늘리거나를 반복하여 시험할 수가 있다.

그리고, 촬상 수단으로부터 보아, 대상 영역(제1 가장자리부와 제2 가장자리부와의 사이에 존재하는 시험체의 부분(변형을 일으키는 부분)이 대상 영역의 근처에 존재함)의 상대적 위치(거리, 방향)가 대략 같게 유지되므로, 변형 시험에 있어서의 대상 영역의 절대 위치가 변화해도, 제1 가장자리부와 제2 가장자리부와의 사이에 존재하는 시험체의 부분에 대한 촬상 수단의 상대적인 위치(거리, 방향)가 거의 같게 유지되기 때문에, 촬상 수단에 의해 시험체에 생기는 변형의 상황을 잘 촬영할 수가 있고, 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에 변형이 변화하는 것을 잘 검출할 수가 있다.

부착판 본 시험기에 있어서는, 촬상 수단이, 절대 위치가 변화하는 제1 가장자리부 및/또는 제2 가장자리부에 부착되는 것(이하 「가장자리부 부착 본 시험기」라고 함)이라도 좋다.

이와 같이 촬상 수단을, 절대 위치가 변화하는 제1 가장자리부 및/또는 제2 가장자리부에 부착한다고 하는 간단한 구성에 의해, 제1 선분과 제2 선분을 2변으로 하는 대상 영역의 절대 위치 변화에 맞추어 촬상 수단의 절대 위치를 변화시키고, 촬상 수단에 대한 대상 영역의 상대적 위치를 대략 같게 유지할 수가 있다. 또한, 절대 위치가 변화하는 제1 가장자리부 및/또는 제2 가장자리부에의 촬상 수단의 부착은, 직접적(다른 물건을 개재(介在)하는 일이 없이 부착함) 및 간접적(다른 물건을 개재(介在)하여 부착함)의 어느 것이라도 좋다.

가장자리부 부착 본 시험기에 있어서는, 지지 수단은, 제1 선분이 포함되는 제1 직선의 둘레에 회동 가능하게 제1 부착판이 직접적 또는 간접적으로 부착됨과 아울러, 제2 선분이 포함되는 제2 직선의 둘레에 회동 가능하게 제2 부착판이 직접적 또는 간접적으로 부착되고, 제1 직선과 제2 직선과의 사이의 거리를 일정하게 유지하는 양쪽 가장자리부 위치 관계 보유 부재를 가지고, 촬상 수단이, 양쪽 가장자리부 위치 관계 보유 부재에 부착되는 것이라도 좋다.

지지 수단은, 시험체가 걸쳐 건네지는 간극이 제1 가장자리부와 제2 가장자리부와의 사이에 형성되도록, 제1 선분과 제2 선분이 서로 평행하게 상대적 위치를 보유하면서, 제1 부착판을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동 가능하고, 및/또는, 제2 부착판을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동 가능하도록, 제1 부착판과 제2 부착판을 지지하는 것이지만, 지지 수단은 양쪽 가장자리부 위치 관계 보유 부재를 가지도록 해도 좋다. 즉, 양쪽 가장자리부 위치 관계 보유 부재는, 제1 부착판 및 제2 부착판이 직접적 또는 간접적으로 부착되지만, 제1 부착판에 대해 제 1 직선(제1 선분을 포함)의 둘레에 회동 가능하게 제1 부착판이 직접적 또는 간접적으로 부착됨과 아울러, 제2 부착판에 대해 제 2 직선(제2 선분을 포함)의 둘레에 회동 가능하게 제2 부착판이 직접적 또는 간접적으로 부착된다. 그리고, 양쪽 가장자리부 위치 관계 보유 부재는, 제1 부착판에 대한 회동 가능한 축인 제1 직선과, 제2 부착판에 대한 회동 가능한 축인 제2 직선과의 사이의 거리를 일정하게 유지한다. 이러한 양쪽 가장자리부 위치 관계 보유 부재를 지지 수단이 가지는 것으로, 지지 수단을 간단하게 구성할 수가 있다.

그리고, 촬상 수단이, 제1 선분 및 제2 선분과 함께 움직이는 양쪽 가장자리부 위치 관계 보유 부재에 부착됨으로써, 제1 선분과 제2 선분을 2변으로 하는 대상 영역의 절대 위치 변화에 맞추어 촬상 수단의 절대 위치를 잘 변화시켜, 촬상 수단에 대한 대상 영역의 상대적 위치를 대략 같게 유지할 수가 있다. 또한, 촬상 수단의 양쪽 가장자리부 위치 관계 보유 부재에의 부착은, 직접적(다른 물건을 개재(介在)하는 일이 없이 부착함) 및 간접적(다른 물건을 개재(介在)하여 부착함)의 어느 것이라도 좋다.

도 1은 본 발명과 관련되는 변형 시험기(본 시험기)를 나타내는 사시도이다.
도 2는 본 시험기를 나타내는 다른 사시도이다.
도 3은 본 시험기의 좌측면도이다.
도 4는 본 시험기의 평면도이다.
도 5는 본 시험기의 배면도이다.
도 6은 본 시험기로부터 촬영부를 떼어낸 제1 부분의 사시도이다.
도 7은 본 시험기로부터 촬영부를 떼어낸 제1 부분의 다른 사시도이다.
도 8은 본 시험기로부터 촬영부를 떼어낸 제1 부분의 좌측면도이다.
도 9는 본 시험기로부터 촬영부를 떼어낸 제1 부분의 평면도이다.
도 10은 본 시험기로부터 촬영부를 떼어낸 제1 부분의 배면도이다.
도 11은 구동부, 가이드 레일, 일방 지지축부, 일방 시험편 부착부, 구동축, 타방 시험편 부착부 및 링크부의 확대 사시도이다.
도 12는 도 11의 상태로부터 구동축이 시계회전 방향으로 회동(回動)한 것을 나타내는 도이다.
도 13은 도 12의 상태로부터 구동축이 시계회전 방향으로 회동한 것을 나타내는 도이다.
도 14는 도 13에 나타낸 상태의 시험기 본체를 나타내는 사시도이다.
도 15는 도 11에 나타낸 것에 촬영부를 부착한 것을 나타내는 도이다.
도 16은 도 12에 나타낸 것에 촬영부를 부착한 것을 나타내는 도이다.
도 17은 도 13에 나타낸 것에 촬영부를 부착한 것을 나타내는 도이다.
도 18은 도 14에 나타낸 것에 촬영부를 부착한 것을 나타내는 도이다.
도 19는 카메라가 촬상한 화상의 일례를 모식적으로 나타내는 도이다.
도 20은 제어부의 하드웨어 구성을 나타내는 개략 블록도이다.
도 21은 제1 실시 형태의 제어부의 기능 블록도이다.
도 22는 제1 실시 형태의 제어부의 동작을 나타내는 흐름도(flow chart)이다.
도 23은 제1 실시 형태의 제어부의 동작을 나타내는 흐름도이다.
도 24는 제1 실시 형태의 제어부의 동작을 나타내는 흐름도이다.
도 25는 제1 실시 형태 및 제2 실시 형태의 제어부의 동작을 나타내는 흐름도이다.
도 26a는 도 19(c)의 시험편의 상세를 나타내는 도이고, 도 26b는 도 26a의 시험편의 바깥 가장자리를 나타내는 방정식을 도출하는 방법을 설명하는 도이다.
도 27은 제1 실시 형태의 제어부의 동작을 나타내는 흐름도(flow chart)이다.
도 28은 제1 실시 형태 및 제2 실시 형태의 제어부의 동작을 나타내는 흐름도이다.
도 29는 제2 실시 형태의 제어부의 기능 블록도이다.
도 30은 제2 실시 형태의 제어부의 동작을 나타내는 흐름도(flow chart)이다.
도 31은 제2 실시 형태의 제어부의 동작을 나타내는 흐름도이다.
도 32는 제2 실시 형태의 제어부의 동작을 나타내는 흐름도이다.
도 33은 본 시험기에 의해 시험을 행한 경우의 결과의 예를 나타내는 그래프이다.

이하, 본 발명의 실시의 형태를 도면을 참조하여 설명한다. 그렇지만 이들에 의해 본 발명은 어떠하게 제한되는 것은 아니다.

도 1은 본 발명과 관련되는 변형 시험기(본 시험기)(1)을 나타내는 사시도이며, 도 2는 본 시험기(1)를 나타내는 다른 사시도(도 1 중의 화살표 A방향으로부터 본 것을 나타내고 있음)이고, 도 3은 본 시험기(1)의 좌측면도(도 1 중의 화살표 B방향으로부터 본 것을 나타내고 있음)이고, 도 4는 본 시험기(1)의 평면도(도 1 중의 화살표 C방향으로부터 본 것을 나타내고 있음)이고, 도 5는 본 시험기(1)의 배면도(도 3 중의 화살표 D방향으로부터 본 것을 나타내고 있음)이다. 도 1 내지 도 5를 참조하여 본 시험기(1)에 대해 설명한다. 본 시험기(1)는, 시험기 본체(11)와 시험기 본체(11)를 제어하기 위한 제어부(201)와 시험기 본체(11)에서 시험되는 시험편(미도시)을 촬영하는 촬영부(301)를 포함하여 이루어지고, 대략적으로는, 시험기 본체(11)는, 시험편(미도시)을 반복하여 절곡함으로써 내구성을 시험하기 위한 장치이며, 촬영부(301)는, 시험기 본체(11)에서 시험되는 시험편(미도시)의 반복하여 절곡되는 부분을 촬영하기 위한 것이고, 그리고 제어부(201)는, 소정의 조건에 의해 시험편(미도시)을 반복하여 절곡하여 내구성을 시험하도록 시험기 본체(11)를 제어함과 아울러, 촬영부(301)에 의해 촬상된 촬상 데이터를 해석하는 것이다.

우선, 시험기 본체(11)에 대해 설명한다. 시험기 본체(11)의 이해를 용이하게 하기 위해, 본 시험기(1)로부터 촬영부(301)를 떼어낸 것(이하 「 제1 부분」이라고 함)(3)의 사시도를 도 6(도 1과 같은 방향으로부터 본 것을 나타내고 있음)에 나타내고, 도 7은 제1 부분(3)을 나타내는 다른 사시도(도 2와 같은 방향으로부터 본 것을 나타내고 있음)이고, 도 8은 제1 부분(3)의 좌측면도(도 3과 같은 방향으로부터 본 것을 나타내고 있음)이고, 도 9는 제1 부분(3)의 평면도(도 4와 같은 방향으로부터 본 것을 나타내고 있음)이고, 도 10은 제1 부분(3)의 배면도(도 5와 같은 방향으로부터 본 것을 나타내고 있음)이다. 그리고, 도 11은 후술하는 구동부(61), 가이드 레일(31b), 일방 지지축부(41), 일방 시험편 부착부(51), 구동축(73), 타방 시험편 부착부(81) 및 링크부(91)를 확대하여 나타내는 확대 사시도이다. 도 6 내지 도 11을 참조하여 시험기 본체(11)에 대해 설명한다.

설명 및 이해를 용이하게 하기 위해, 서로 직교하는 3축인 X축, Y축 및 Z축을 이용하고(이들 3축의 방향을 도 중에 X, Y 및 Z로서 나타내고), Z축에 수직인 평면을 XY면이라고 하고, X축에 수직인 평면을 YZ면이라고 하고, Y축에 수직인 평면을 XZ면이라고 한다.

시험기 본체(11)는, 일본국 특허공개 2019-39743호 공보(특허 문헌 6)에 있어서 개시된 「제1 본 시험기(11)」와 마찬가지의 구성을 가지고 있다.

시험기 본체(11)는, 대략적으로는, 중공의 직방체 형상을 이루는 프레임부(21)와, 프레임부(21)의 상면에 부착된 가이드 레일(31a, 31b)(Y축 방향으로 뻗음)과, Y축 방향으로 슬라이드 자유롭게 가이드 레일(31a, 31b)에 부착된 일방 지지축부(41)과, 일방 지지축부(41)가 가지는 일방 지지축(43)에 부착된 일방 시험편 부착부(51)와, 프레임부(21)의 우측면에 고정된 구동부(61)와, 프레임부(21)에 대해 회동(回動) 자유롭게 지지되는 구동축(73)과, 구동축(73)에 회동 불가능하게 부착된 타방 시험편 부착부(81)와, 일방 시험편 부착부(51)를 회동시키는 링크부(91)를 포함하여 이루어진다.

프레임부(21)는, 직방체의 일면을 따른 천판부(23)(양쪽 주표면(主表面)이 직사각형을 대략 이루는 평판 부재(일부에 노치(notch)가 형성되어 있음)에 의해 형성되어 있음)와, 이 직방체의 변을 따른 봉상 부재에 의해 형성된 봉상부(25)를 가지고, 천판부(天板部)(23)가 프레임부(21)의 상면을 형성하고 있다. 프레임부(21)이 형성하는 이 직방체의 변의 각각은, X축, Y축 및 Z축의 어느 쪽인가에 평행하게 배치되고, 프레임부(21)는 충분한 강도를 가지도록 여기에서는 금속에 의해 형성되어 있다.

가이드 레일(31a, 31b)은, 모두 Y축에 평행하게 되도록 또한 동일한 XY면에 속하도록 프레임부(21)의 천판부(23)의 상면(23a)에 고정되어 있다.

일방 지지축부(41)는, Y축 방향으로 슬라이드 자유롭게 가이드 레일(31a)에 부착된 슬라이드부(45a)와, Y축 방향으로 슬라이드 자유롭게 가이드 레일(31b)에 부착된 슬라이드부(45b)와, 슬라이드부(45a)와 슬라이드부(45b)에 회전 자유롭게 지지된 일방 지지축(43)(X축에 길이 방향이 평행한 환봉(丸棒)에 의해 형성되어 있음)을 가지고 이루어진다. 이에 의해 일방 지지축(43)은, 길이 방향이 X축에 평행한 상태를 유지하면서, XY면을 따라 Y축 방향으로 자유롭게 이동할 수가 있다.

일방 시험편 부착부(51)는, 일방 지지축(43)에 회동 불가능하게 부착된 부착부(53a)와, 부착부(53a)와는 떨어져 일방 지지축(43)에 회동 불가능하게 부착된 부착부(53b)와, 부착부(53a)와 부착부(53b)에 양측이 부착된 일방 부착판(55)을 가지고 이루어진다.

일방 부착판(55)은, 양쪽 주표면이 같은 직사각형 형상을 이루고 있고, 이 양쪽 주표면의 일방인 상면(55a)의 4개의 가장자리부 중에서 1개의 가장자리부(55ae)(이 4개의 가장자리부의 X축에 평행한 2개의 가장자리부의 것의 중에서, 후술의 시험편의 절곡 부분에 가까운 쪽의 가장자리부)는, 일방 시험편 부착부(51)가 일방 지지축(43)의 회동에 수반하여 회동해도 X축에 항상 평행한 상태가 유지된다.

구동부(61)는, 프레임부(21)의 우측면에 고정되고, 구동축(73)의 기단이 부착되어 있다. 구동부(61)는, 모터 및 변속기를 내부에 포함하고 있고, 후술과 같이 제어부(201)의 지시에 따라, 소정의 회동 각도, 회동 속도 및 회동 횟수에 의해 구동축(73)을 그 중심축의 둘레에 정반대로 회동시킨다. 이에 의해 소망한 절곡 각도, 절곡 속도 및 절곡 횟수에 의해 후술의 시험편이 절곡 시험을 행할 수가 있다.

구동축(73)은, 환봉에 의해 형성되어 있고, 그 환봉의 중심축이 X축에 평행한 상태로 프레임부(21)에 대해 회동 자유롭게 지지되어 있다. 구동축(73)을 구성하는 이 환봉은 곧은 원기둥 형상을 이루고, 이 곧은 원기둥의 중심축의 둘레에 이 환봉은 회동된다.

그리고, 전술과 마찬가지로 구동축(73)의 기단이 구동부(61)에 부착됨으로써, 구동축(73)은, 소정의 회동 각도, 회동 속도 및 회동 횟수에 의해 그 중심축의 둘레에 정반대로 회동한다.

타방 시험편 부착부(81)는, 구동축(73)에 회동 불가능하게 부착된 부착부(83a)와, 부착부(83a)와는 떨어져 구동축(73)에 회동 불가능하게 부착된 부착부(83b)와, 부착부(83a)와 부착부(83b)에 양측이 부착된 타방 부착판(85)을 가지고 이루어진다.

타방 부착판(85)은, 양쪽 주표면이 같은 직사각형 형상을 이루고 있고, 이 양쪽 주표면의 일방인 상면(85a)의 4개의 가장자리부 중에서 1개의 가장자리부(85ae)(이 4개의 가장자리부의 X축에 평행한 2개의 가장자리부의 것의 중에서, 시험편의 절곡 부분에 가까운 쪽의 가장자리부)는, 타방 시험편 부착부(81)가 구동축(73)의 회동에 수반하여 회동해도 X축에 항상 평행한 상태가 유지된다.

또한, 타방 시험편 부착부(81)의 구동축(73)의 둘레의 소정의 회동 위치(도 1~도 11)에 있어서의 상면(85a)과, 일방 시험편 부착부(51)의 일방 지지축(43)의 둘레의 소정의 회동 위치(도 1~도 11)에 있어서의 상면(55a)은, XY면에 평행(z축에 수직)인 하나의 평면에 속하도록 위치하고 있다.

또, 상면(85a) 및 상면(55a)에는, 시트 형상 또는 필름 형상의 시험편이, 시험편의 주표면이 접착됨으로써 부착된다.

링크부(91)는, 프레임부(21)에 대해 회동 자유롭게 지지된 링크축(92)(곧은 환봉에 의해 형성되고, 그 중심축이 X축에 평행하게 지지되어 있음)과, 링크축(92)에 일단이 회동 불가능하게 부착된 앵글 부재(93)와, 구동축(73)에 회동 불가능하게 부착된 블록(97a)과, 일방 지지축(43)에 회동 불가능하게 부착된 블록(98a)과, 앵글 부재(93)의 타단에 일단이 회동 가능(x축의 둘레에 회동 가능)하게 부착됨과 아울러 타단이 블록(97a, 98a)에 회동 가능(블록(97a)의 회동 중심과 가장자리부(85ae)는, x축에 평행한 동일한 직선 상에 존재한다. 블록(98a)의 회동 중심과 가장자리부(55ae)란, x축에 평행한 동일한 직선 상에 존재한다.)하게 부착된 연결 부재(94)와, 링크축(92)에 일단이 회동 불가능하게 부착된 앵글 부재(95)와, 구동축(73)에 회동 불가능하게 부착된 블록(97b)과, 일방 지지축(43)에 회동 불가능하게 부착된 블록(98b)과, 앵글 부재(95)의 타단에 일단이 회동 가능(x축의 둘레에 회동 가능)하게 부착됨과 아울러 타단이 블록(97b, 98b)에 회동 가능(블록(97b)의 회동 중심과 가장자리부(85ae)와 블록(97a)의 회동 중심은, x축에 평행한 동일한 직선 상에 존재한다. 블록(98b)의 회동 중심과 가장자리부(55ae)와 블록(98a)의 회동 중심은, x축에 평행한 동일한 직선 상에 존재한다.)하게 부착된 연결 부재(96)를 가지고 이루어진다. 특허 문헌 6(The entire contents of Japanese patent application unexamined publication No.2019-39743 are incorporated herein by reference)에도 링크 기구에 관한 기술이 있다.

이와 같이 연결 부재(94) 및 연결 부재(96)는 모두, 가장자리부(85ae)가 포함되는 직선에 포함되는 회동축의 둘레에 회동 자유롭게 블록(97a, 97b)에 부착됨과 아울러, 가장자리부(55ae)가 포함되는 직선에 포함되는 회동축의 둘레에 회동 자유롭게 블록(98a, 98b)에 부착되어 있고, 구동축(73)의 회동에 수반하여 블록(97a, 97b)이 회동하면, 가장자리부(85ae)와 가장자리부(55ae)의 사이의 거리는 일정인 채 또한 가장자리부(85ae)와 가장자리부(55ae)의 사이는 평행인 채, 일방 부착판(55)도 회동한다. 구동축(73)의 회동에 수반하여 타방 부착판(85)가 회동해도, 연결 부재(94, 96)의 길이 방향은 Z축에 평행하게 유지되고, 가장자리부(55ae)와 가장자리부(85ae)를 포함하는 평면은 항상 Z축에 대해 수직으로 유지된다(가장자리부(55ae)와 가장자리부(85ae)를 포함하는 평면은, 타방 부착판(85)의 회동에 의해 평행 이동한다. 또한, 가장자리부(55ae)와 가장자리부(85ae)는, 같은 XY면에 항상 존재한다.).

또한, 이 일방 부착판(55)의 회동에 따라, 일방 지지축부(41)는 가이드 레일(31a, 31b)을 따라 슬라이드(slide) 이동한다.

시험기 본체(11)의 동작에 대해, 주로 도 11, 도 12, 도 13 및 도 14를 이용하여 설명한다. 도 12 및 도 13은 이미 설명한 도 11과 같은 구성 요소를 도 11과 같은 방향으로부터 본 것을 나타내고 있고, 도 11의 상태로부터 구동축(73)이 도 중에서 시계회전 방향으로 회동한 것을 나타내고 있다. 또, 도 14는 도 13에 나타낸 상태의 시험기 본체(11)를 도 6과 같은 방향으로부터 본 것을 나타내고 있다.

우선, 도 11의 상태에 있어서는, 타방 부착판(85)의 상면(85a)과 일방 부착판(55)의 상면(55a)은, Z축에 수직인 동일 평면에 거의 속하고 있고, 상면(85a)과 상면(55a)에 접착되어 부착되는 시험편(필름 형상. 도시를 생략하고 있음)은 평면을 따른 곧은 상태로 되어 있다.

도 11의 상태로부터, 구동부(61)에 의해 구동축(73)을 그 중심축의 둘레에 정방향(도 11, 도 12 및 도 13에 있어서 시계회전 방향을 말함)으로 회동시키면, 구동축(73)에 회동 불가능하게 부착된 부착부(83a, 83b)와 함께 타방 부착판(85)도 구동축(73)의 둘레에 정방향으로 회동한다. 이와 함께 블록(97a, 97b)도 정방향으로 회동하고, 이에 의해 연결 부재(94, 96)는 그 길이 방향이 Z축에 평행한 상태를 유지하면서 도 12와 같이 눌러 내려진다(링크축(92)도 정방향으로 회동한다.). 그리고, 이 연결 부재(94, 96)의 눌러 내림에 의해, 블록(98a, 98b)이 역방향으로 회동하고, 일방 지지축(43)이 역방향으로 회동함으로써, 일방 시험편 부착부(51)가 일방 지지축(43)의 둘레에 역방향으로 회동하고, 일방 지지축부(41)(슬라이드부(45a, 45b), 일방 지지축(43))는 가이드 레일(31a, 31b)을 따라 Y축과 평행하게 타방 시험편 부착부(81)에 가까워지도록 이동한다(연결 부재(94, 96)에 의해, 가장자리부(85ae)와 가장자리부(55ae)의 사이의 거리는 일정하게 또한 가장자리부(85ae)와 가장자리부(55ae)의 사이는 평행하게 유지된다.).

이러한 구동부(61)에 의한 구동축(73)의 정방향으로의 회동에 의해, 타방 시험편 부착부(81)(부착부(83a, 83b), 타방 부착판(85))의 구동축(73) 둘레의 정방향으로의 회동과, 일방 시험편 부착부(51)(부착부(53a, 53b), 일방 부착판(55))의 일방 지지축(43) 둘레의 역방향으로의 회동을 일으킨다. 이 3개의 회동에 있어서, 가장자리부(85ae)와 가장자리부(55ae)의 사이의 거리는 일정하게 유지됨과 아울러 가장자리부(85ae)와 가장자리부(55ae)는 평행하게 유지되고, 또한 일방 시험편 부착부(51)는 구동축(73)에 가까워지는 방향으로 Y축과 평행하게 이동한다.

구동축(73)의 정방향으로의 회동은, 도 11의 상태로부터 도 12의 상태를 경유하여 도 13의 상태(도 13의 상태에서는, 타방 부착판(85)의 상면(85a)과 일방 부착판(55)의 상면(55a)이 서로 면(面)한 상태로 대략 평행하게 되어 있음)에 이를 때까지 회동한다(도 13의 상태에서 이 회동은 정지한다.). 도 13의 상태에 있어서는, 타방 부착판(85)의 상면(85a)과 일방 부착판(55)의 상면(55a)에 접착되어 부착된 시험편(도시를 생략하고 있다)이 절첩(折疊)한 상태로 된다.

시험편을 절첩(折疊)한 도 13의 상태로부터, 구동부(61)에 의해 구동축(73)을 역방향(도 13에 있어서 반시계 회전 방향)으로 회동시킨다. 이에 의해 도 12의 상태를 경유하여 도 11의 상태로 되돌아온다. 이와 같이 도 11의 상태(시험편은 평평한 상태)로부터 구동축(73)을 정방향으로 회동시켜 도 13의 상태(시험편은 접어 작게한 상태)로 하고, 그 후, 도 13의 상태로부터 구동축(73)을 역방향으로 회동시켜 도 11의 상태로 되돌림(1개의 변형 사이클)으로써, 시험편은 평평한 상태로부터 절첩되어 다시 평평한 상태로 되돌아오기 때문에, 시험편을 1회 절첩하는 시험을 행할 수가 있다. 이러한 구동축(73)의 정역의 회동을 교대로 행함으로써, 시험편을 복수 절첩하는 절첩(折疊) 시험을 행할 수가 있다.

이러한 시험편의 절첩 시험에 있어서는, 일본국 특허공개 2019-39743호 공보에 있어서의 도 8과 같이, 가장자리부(85ae, 55ae)는, 항상 평행이며, 그 사이의 거리 K가 일정하게 유지됨과 아울러, Z축에 수직인 하나의 평면에 속한다. 또, 시험편의 절첩 시험에 있어서, 가장자리부(85ae, 55ae)로부터의 거리가 동일하고 Y축에 수직인 평면 P에 대해서, 상면(85a)과 상면(55a)은 항상 면대칭으로 되어 있다. 그리고, 시험기 본체(11)는, 일본국 특허공개 2019-39743호 공보에 있어서의 단락 번호 0038~0039 및 도 8에 기재와 같은 특징을 가진다.

이상과 같이, 시험기 본체(11)는, 일본국 특허공개 2019-39743호 공보에 있어서 개시된 「제1 본 시험기(11)」와 마찬가지의 구성을 가지고 있지만, 일본국 특허공개 2019-39743호 공보에 있어서 개시된 「제2 실시 형태와 관련되는 변형 시험기(제2 본 시험기)(211)」와 같은 구성으로 할 수도 있다.

이어서, 본 시험기(1) 중에서 촬영부(301)에 대해 전술의 도 1~5, 15~18을 참조하여 자세하게 설명한다. 도 15는 도 11에 나타낸 것에 촬영부(301)를 부착한 것을 나타내고(도 11과 같은 방향으로부터 본 것을 나타내고 있음), 도 16은 도 12에 나타낸 것에 촬영부(301)를 부착한 것을 나타내고(도 12와 같은 방향으로부터 본 것을 나타내고 있음), 도 17은 도 13에 나타낸 것에 촬영부(301)를 부착한 것을 나타내고(도 13과 같은 방향으로부터 본 것을 나타내고 있음), 그리고 도 18은 도 14에 나타낸 것에 촬영부(301)를 부착한 것을 나타내고 있다(도 14와 같은 방향으로부터 본 것을 나타내고 있다.). 이들 도 1~5, 15~18에 있어서는, 이미 이용한 참조 번호가 나타내는 요소와 같은 요소에는 같은 참조 번호를 붙임으로써 중복된 설명을 생략한다.

촬영부(301)는, 대략적으로는, 연결 부재(94, 96)에 부착된 지지부(311)와, 지지부(311)에 부착된 조명 지지부(341)와, 조명 지지부(341)에 부착된 조명부(351)와, 지지부(311)에 부착된 카메라 지지부(361)와, 카메라 지지부(361)에 부착된 카메라(381)를 포함하여 이루어진다.

지지부(311)는, Z축 방향에 길이 방향이 대략 평행하게 되도록 기단이 연결 부재(94)에 부착된 제1 지주(支柱)(321)(봉상 부재로 이루어짐)와, Z축 방향에 길이 방향이 대략 평행하게 되도록 기단이 연결 부재(96)에 부착된 제2 지주(322)(봉상 부재로 이루어짐)와, 길이 방향이 X축 방향에 대략 평행하게 되도록 제1 지주(321)와 제2 지주(322)의 사이에 부착된 봉상 부재로 이루어지는 부착 부재(323)(판상 부재를 X축에 평행한 직선을 따라 절곡하여 형성되어 있음)를 가지고 이루어진다.

이러한 지지부(311)는, 연결 부재(94, 96)에 부착되어 있으므로, 상술의 시험편의 절첩 시험에 있어서 연결 부재(94, 96)가 Z축 방향으로 왕복 운동하면, 연결 부재(94, 96)의 왕복 운동과 함께 Z축 방향으로 왕복 운동한다.

조명 지지부(341)는, 지지부(311)의 부착 부재(323) 중에서 일단측(여기에서는 제2 지주(322)에 부착되어 있는 단(端)에 가까운 측(側))에 부착되어 있고(x축 방향으로 가늘고 길게 형성된 부착 슬릿(323h)에 부착되어 있고), 상세하게는, 상단이 부착 부재(323)에 X축 방향으로 이동 가능하게 부착된 제1 부분(342)과 제1 부분(342)에 대해 Z축 방향으로 이동 가능하게 부착된 제2 부분(343)을 포함하여 이루어지고, 제2 부분(343)에 후술의 조명부(351)가 부착된다. 제1 부분(342) 상단은, X축 방향을 따라 가늘고 긴 부착 부재(323)에 형성된 부착 슬릿(323h)(특히 도 2 및 도 4 참조)을 따라 이동 가능함과 아울러, 제1 부분(342)에 대한 제2 부분(343)의 Z축 방향의 위치를 조절함으로써, 조명부(351)의 X축 방향 및 Z축 방향의 위치를 조절할 수가 있다(매우 적합한 위치로 조절 후, 제1 부분(342) 상단의 X축 방향 위치 및 제2 부분(343)의 Z축 방향 위치를 고정한다.).

조명부(351)는, 여기에서는 오프텍스 에프에이 주식회사제의 「OPF-S27X27B-PS」(청색(470㎚), 협지향각(狹指向角) 타입, 3㎝角)을 이용하고 있고, 후술의 카메라(381)의 방향을 향해(주로 X축 방향을 따라) 가시광선을 조사하고, 타방 부착판(85)의 상면(85a)과 일방 부착판(55)의 상면(55a)에 부착된 시험편(미도시)을 비춘다. 또한, 조명부(351)로서는, 시험편(미도시)의 변형 시험에 있어서 시험편(미도시) 상태를 소망 정도로 파악할 수가 있도록 카메라(381)의 촬상을 가능하게 하는 조명이면 좋고, 시험편(미도시)의 치수나 형상 등, 변형 시험의 내용 등에 따라 이 이외의 것을 여러 가지 이용할 수가 있는 것은 말할 필요도 없다. 예를 들면, (암실 안 등의 어두운 곳에서) 스트로브(strobe)와 같은 것으로 단시간에 조사함으로써, 샤프(sharp)한 정지 화상을 (단속적으로) 얻을 수도 있다.

카메라 지지부(361)는, 지지부(311)의 부착 부재(323) 중에서 타단측(여기에서는 제1 지주(321)에 부착되어 있는 단(端)에 가까운 측(側))에 부착되어 있고(부착 슬릿(323h)에 부착되어 있고), 상세하게는, 부착 부재(323)의 부착 슬릿(323h)을 따라 X축 방향으로 이동 가능하게 부착 부재(323)에 부착된 제1부(362)와, 제1부(362)에 대해 Z축 방향으로 이동 가능하게 부착된 제2부(363)와, 제2부(363)에 대해 Y축 방향으로 이동 가능하게 부착된 제3부(364)와, 제3부(364)에 대해 Z축과 평행한 축의 둘레에 회동 가능하게 부착된 제4부(365)를 포함하여 이루어지고, 제4부(365)에 카메라(381)가 부착되어 있다.

이러한 카메라 지지부(361)에 부착된 카메라(381)는, X축 방향(부착 슬릿(323h)을 따른 제1부(362)의 위치 조정), Y축 방향(제2부(363)에 대한 제3부(364)의 위치 조정), Z축 방향(제1부(362)에 대한 제2부(363)의 위치 조정) 및 Z축과 평행한 축의 둘레의 회동 위치(제3부(364)에 대한 제4부(365)의 회동 위치 조정)를 자유롭게 조정할 수 있다(이들을 매우 적합한 위치로 조절 후, 고정한다.).

카메라(381)는, 카메라 지지부(361)의 제4부(365)에 부착되어 있고, 절첩 시험에 제공되고 있는 시험편(미도시)을 X축에 평행한 방향으로부터 촬영하고, 그 촬영 화상 데이터를 제어부(201)에 송신한다. 또한, 여기에서는 카메라(381)로서는, IDS(Imaging Development Systems) GmbH사제의 「UI-3480ML-M-GL」(4.92 메가픽셀(mega pixel) CMOS 센서 탑재 USB 카메라)에, 주식회사 뮤트론사제의 「FV-2020」(저왜곡을 특징으로 하는 렌즈)를 장착한 것을 이용하고 있다. 그리고, 카메라(381)로서는, 시험편(미도시)의 변형 시험에 있어서 시험편(미도시) 상태를 소망 정도로 파악할 수가 있도록 촬상이 가능한 것이면 좋고, 시험편(미도시)의 치수나 형상 등, 변형 시험의 내용 등에 따라 이 이외의 것을 여러 가지 이용할 수가 있는 것은 말할 필요도 없다. 예를 들면, 카메라(381)의 선택 기준으로서는, 화각(카메라의 촬상 이미지의 종횡의 실제의 사이즈(size)), 촬상 거리(워킹 디스텐스(working distance)) 및 해상도 등을 포함해도 좋다. 이 화각은, 시험편(미도시) 어떤 범위를 촬상할지 등에 따라 적당하게 결정될 수가 있지만, 시험편(미도시)의 휨의 선단 부분(가장자리부(85ae, 55ae)의 중간 부분)만을 촬상하는 경우이면, 종횡 10~20㎜ 정도의 화각으로 해도 좋다. 이 촬상 거리는, 카메라에 장착한 렌즈의 선단으로부터, 피사체(시험편)까지의 거리를 말하고, 렌즈의 경통(길이)을 충분히 길게 할 수 있으면, 왜곡이 적고, 화상 처리에 형편이 좋은 촬상을 할 수 있는 반면, 렌즈가 고액이나 대형(배치 스페이스(space)가 커짐)으로 되는 문제가 있으므로, 이들을 양립하도록 해도 좋다. 이 해상도는, 카메라로 촬상되는 화상의 해상도이며, 촬상 화상의 화상 처리에 따른 해상도를 선택할 수가 있고, 통상, 시험편(미도시)의 윤곽을 추출하는 것 같은 화상 처리를 이용하는 경우이면 높은 해상도로 해도 좋고, 시험편(미도시)의 개형(槪形)을 이용하는 경우이면 그만큼 높은 해상도를 필요로 하지 않다.

도 19(a) 내지 도 19(c)에, 카메라(381)가 촬상한 화상의 예를 모식적(촬상한 화상 중에서, 일방 부착판(55)과, 타방 부착판(85)과, 상면(85a) 및 상면(55a)에 부착된 시험편(101)을 나타내고, 그 이외의 것의 도시를 생략하고 있음)으로 나타낸다. 상세하게는, 도 19(a)는 도 15의 상태에 있어서 카메라(381)가 촬영한 화상을 나타내고, 도 19(b)는 도 16의 상태에 있어서 카메라(381)가 촬영한 화상을 나타내고, 그리고 도 19(c)는 도 17의 상태에 있어서 카메라(381)가 촬영한 화상을 나타내고 있다. 필름 형상의 시험편(101)이, 그 하나의 주표면이 평면을 따르고 있을 때에, 이 하나의 주표면에 존재하는 서로 평행한 양쪽 직선에 평행하게 가장자리부(55ae, 85ae)가 존재하도록 시험편(101)은 상면(85a) 및 상면(55a)에 접착되고 부착되어 있다. 그리고, 상면(85a)과 상면(55a)에 부착된 시험편(101)은, 서로 평행하고 또한 거리가 일정한 가장자리부(85ae, 55ae)를 중심으로 평면 P(가장자리부(85ae, 55ae)로부터의 거리가 동일하고 Y축에 수직인 평면. 도 19(a) 참조)에 면대칭으로 회동하는 2개의 상면(85a, 55a)의 사이에서 절곡된다. 이 도 19의 (a)→(b)→(c)→(b)→(a)의 동작에 의해, 시험편(101)이 절곡 시험의 1사이클(1개의 변형 사이클)이 실행된다. 또한, 이 도로부터 알 수 있듯이, 절곡됨으로써 가장자리부(55ae)와 가장자리부(85ae)의 사이에 걸쳐 건네진 시험편(101)의 부분이 변형하고, 측면시에 있어서 후술하는 곡률(또는, 곡률반경)을 구성한다. 이 변형에 의해, 평면 P근방에 있어서, 최대의 곡률(또는, 곡률반경)이 생기기 쉽다고 생각된다.

여기에 시험편(101)의 반복하여 절곡되는 부분(가장자리부(55ae)와 가장자리부(85ae)의 사이에 걸쳐 건네진 부분)의 위치는, 가장자리부(55ae, 85ae)의 이동에 맞추어 이동한다. 그리고, 가장자리부(55ae, 85ae)는, 연결 부재(94, 96)의 이동과 마찬가지로 이동하는 것이므로, 연결 부재(94, 96)에 부착된 촬영부(301)는, 시험편(101)의 절첩 시험의 어느 상태(예를 들면, 도 15, 도 16 및 도 17의 어느 상태)에 있어서도, 가장자리부(55ae, 85ae)에 대한 상대적 위치가 같게 유지된다. 이에 의해, 촬영부(301)에 포함되는 카메라(381)로부터, 가장자리부(55ae)와 가장자리부(85ae)의 사이에 걸쳐 건네진 시험편(101)의 부분의 상대적인 위치는 거의 같게 유지되기 때문에, 가장자리부(55ae)와 가장자리부(85ae)의 사이에 걸쳐 건네져 반복하여 절곡되는 시험편(101)의 부분 상태를 절첩 시험의 어느 상태에 있어서도 카메라(381)에 의해 안정적으로 화질 좋게 촬영할 수 있다. 또한, 카메라(381)의 촬영의 방향(광축)은, 가장자리부(85ae, 55ae)로부터의 거리가 동일하고 또한 이 거리가 최단으로 되는 X축에 평행한 직선 상에 존재한다. 또한, 시험편(101)의 절곡되는 부분이, 가장자리부(55ae, 85ae)를 넘는 곳에서, 시험편(101)이 부착되는 상면(55a) 및 상면(85a)을 넘어 비어져 나오지 않도록 부착할 수가 있다. 비어져 나오는 경우에는, 시험편(101)의 일부가 가장자리부(55ae, 85ae)의 각각의 각부(角部)에 맞닿을 우려가 있다.

그 다음에, 제어부(201)에 대해 설명하지만, 제어부(201)는 제1 실시 형태(제1 실시 형태의 제어부(201))와 제2 실시 형태(제2 실시 형태의 제어부(201a))를 따로 따로 설명한다.

(제1 실시 형태)

우선, 제1 실시 형태의 제어부(201)에 대해 설명한다. 제어부(201)는, 시험편(101)이 절곡 시험을 행할 수 있도록 상술의 시험기 본체(11)를 제어함과 아울러, 촬영부(301)의 카메라(381)에 의해 촬상된 촬상 데이터를 해석한다.

도 20은 제어부(201)의 하드웨어 구성을 나타내는 개략 블록도이다. 도 20을 참조하여 제어부(201)의 하드웨어 구성에 대해 설명한다. 제1 실시 형태의 제어부(201)는, 프로그램을 내장시킨 컴퓨터와 거기에 접속된 입출력 사용자 인터페이스(IF : interface)(213)(예를 들면, 터치 패드(touch pad)) 및 대용량의 기억 장치인 SSD(Solid State Drive)(219)를 포함하여 이루어진다. 이 컴퓨터는 연산 처리를 행하는 CPU(Central Processing Unit)(210a), CPU(210a)의 작업 영역 등으로 되는 RAM(Random Access Memory)(210b), 제어 프로그램 등을 기록하는 ROM(Read Only Memory)(210c) 및 정보의 교환을 행하기 위한 인터페이스(210d)를 포함하여 이루어지고, 정보의 교환을 행하기 위한 인터페이스(210d)를 통해, 정보를 입출력하기 위한 터치 패드(touch pad) 등의 입출력 사용자 인터페이스(213)와, 정보 등을 기억하기 위한 대용량의 SSD(219)가 접속되어 있다. 그리고, 제어부(201)는, 카메라(381) 및 구동부(61)와 자유롭게 데이터를 송수신 할 수 있다.

도 21에 도 20의 하드웨어와 주로 ROM(210c)에 기록되는 프로그램에 의해 실현되는 제어부(201)의 기능 블록도를 나타낸다. 제어부(201)는, 기능적으로는, 지시 입력부(251), 시험조건 접수부(253), 기록조건 접수부(255), 비교조건 접수부(257), 시험기 제어부(259), 화상 접수부(261), 현화상 형상 인식부(263), 현화상 곡률반경 산출부(265), 현화상 최소 곡률반경 특정부(267), 양쪽 형상 비교부(269), 화상 기억부(271)(RAM(210b) 및 SSD(Solid State Drive)(219)를 포함하여 이루어짐), 기준화상 형상 인식부(275), 기준화상 곡률반경 산출부(277), 기준화상 최소 곡률반경 특정부(279)를 포함하여 이루어진다. 또, 입출력 사용자 인터페이스(213)를 포함해도 좋다.

도 22에 나타내듯이, 본 시험기(1)가 기동되면(스타트(start)), 지시 입력부(251)는 입출력 사용자 인터페이스(213)에 시험조건을 입력하는 화면을 표시한다(s501). 시험조건을 입력하는 화면에는, 상한 절곡 횟수, 최소 절곡 각도, 최대 절곡 각도, 절곡 속도, 촬상 실시 유무, 촬상용 절곡 각도, 및 시험편 두께의 각 항목이 입력 가능하게 되어 있다. 상한 절곡 횟수는, 상면(55a)과 상면(85a)의 사이에 걸쳐 건네진 시험편(101)이 절곡 시험되는 최대 횟수이다(상술한 예에서는, 도 19의 (a)→(b)→(c)→(b)→(a)의 1개의 변형 사이클을 실행하는 최대의 횟수에 상당한다.). 최소 절곡 각도 및 최대 절곡 각도는, 1회의 절곡 사이클에 있어서의 상면(55a)이 속하는 평면과 상면(85a)이 속하는 평면이 이루는 각도의 최소치와 최대치를 말하고, 예를 들면, 상술한 도 19의 (a)→(b)→(c)→(b)→(a)의 1회의 절곡 사이클에서는, 최소 절곡 각도는 0°이며, 최대 절곡 각도는 180°이다. 절곡 속도는, 1분 동안에 행하는 절곡 사이클 수이다(또한, 카메라(381)의 촬상과 절곡 동작이 동기할 수 있도록, 카메라(381)의 촬상 간격(주파수)과 절곡 속도는 설정될 수 있다.). 촬상 실시 유무는, 절곡 시험을 행하는 중에 촬상을 행하는지 아닌지를 나타내고, 촬상 실시 유무를 「무(無)」라고 선택한 경우는, 그 외의 시험조건의 지정에 따라, 단지 절곡 시험을 행한다. 촬상용 절곡 각도는, 시험기의 휨 각도(상면(55a)이 속하는 평면과 상면(85a)이 속하는 평면이 이루는 각도)를 몇 도의 변경을 할 때마다 화상을 촬영하는지를 나타낸다. 시험편 두께는, 절곡 시험을 행하는 시험편(101)의 두께(단위 : 마이크로 미터(㎛))를 나타낸다. 본 시험기(1)의 사용자(미도시)는, 입출력 사용자 인터페이스(213)를 조작함으로써, 이러한 시험조건을 입력할 수가 있다.

s501의 후, 지시 입력부(251)는 시험조건(상술의 전체 항목)이 입력되었는지 아닌지 판단하고(s503), s503에서 입력되었다고 판단하지 않는 경우(아니오(NO))에는 다시 s503으로 되돌아온다. 입력되었다고 판단한 경우(예(YES)), 지시 입력부(251)는, 이 입력된 시험조건을 기억함과 아울러, 이 입력된 시험조건에 포함되는 「촬상 실시 유무」를 판단하고(s505), 촬상 실시가 「유(有)」라고 판단한 경우(YES)는, 지시 입력부(251)는 입출력 사용자 인터페이스(213)에 기록조건을 입력하는 화면을 표시한다(s507). s505에서 촬상 실시가 「유」라고 판단하지 않는 경우(NO)는, s515로 나아간다(시험조건을 시험조건 접수부(253)에 송신하고, 시험조건 접수부(253)에 기억시킨다.).

제어부(201)는, 절곡 시험이 행해지고 있는 시험편(101)의 카메라(381)에 의해 촬영되는 화상 데이터(현화상)를, 그 이전에 카메라(381)에 의해 촬영된 소정의 화상 데이터(기준화상)와 비교하고, 그들의 사이에 생기는 차이를 검출하고, 구동부(61)를 정지(시험기 본체(11)를 제어)시키는 것이다. 제어부(201)는, 이 현화상과 비교하는데 이용하는 화상의 후보(이하 「기록화상」이라고 함)를 화상 기억부(271)에 기억한다. 이 기록화상을 촬상하는 조건이, 기록조건이며, 구체적으로는, 절곡 사이클에 있어서 촬상하는 시험기의 휨 각도(상면(55a)이 속하는 평면과 상면(85a)이 속하는 평면이 이루는 각도)의 범위(구체적으로는, 이 범위의 최소 각도와 최대 각도를 지정함), 촬상을 개시하는 절곡 사이클 횟수(절곡 시험 개시부터 세어서, 촬상 개시 때의 절곡 사이클 횟수), 그리고 촬상을 행하는 절곡 사이클의 간격(촬상 개시·종료로부터 세어서, 다음의 촬상 개시 때의 절곡 사이클 횟수)을 지정하는 것이다. 따라서, s507에서 표시되는 입출력 사용자 인터페이스(213)의 화면에는, 절곡 사이클에 있어서 촬상하는 시험기의 휨 각도 범위의 최소 각도 및 최대 각도와, 촬상 개시가 절곡 사이클 횟수와, 촬상을 행하는 절곡 사이클 수의 간격(예를 들면, 주기)이 입력 가능하게 되어 있다. 예를 들면, 절곡 사이클에 있어서 촬상하는 시험기의 휨 각도 범위의 최소 각도를 30°로 함과 아울러 최대 각도를 120°로 하고, 촬상 개시가 절곡 사이클 횟수를 50회로 하고, 촬상을 행하는 절곡 사이클 수의 간격을 10회로 하면, 절곡 시험을 개시하여 절곡 사이클이 제50회째의 절곡 사이클 중의 시험기의 휨 각도 30~120°의 범위에 있어서 촬상되고, 그 다음은 절곡 시험 개시부터 세어서 절곡 사이클이 제60회째의 절곡 사이클 중의 시험기의 휨 각도 30~120°의 범위에 있어서 촬상된다.

s507의 후, 지시 입력부(251)는 기록조건이 입력되었는지 아닌지 판단하고(s509), 입력되었다고 판단한 경우(YES), 지시 입력부(251)는 입출력 사용자 인터페이스(213)에 비교조건을 입력하는 화면을 표시한다(s511). s509에서 입력되었다고 판단하지 않는 경우(NO)에는, s509로 되돌아온다. 비교조건은, 절곡 시험이 행해지고 있는 시험편(101)의 카메라(381)에 의해 촬영되는 화상 데이터(현화상)와 비교하고, 그 이전에 카메라(381)에 의해 촬영된 화상 데이터(기준화상)를 특정하는 조건과 이 기준화상과 현화상을 비교하는 타이밍을 특정하는 조건을 포함한다. 따라서, s511에서 표시되는 입출력 사용자 인터페이스(213)의 화면에는, (a) 몇 번째의 절곡 사이클 횟수(절곡 사이클을 개시하여 몇 번째의 절곡 사이클인지를 나타냄)의 동작 중에 촬영된 화상을 기준화상으로 하는지를 나타내는 절곡 사이클 횟수와, (b) 기준화상과 현화상의 비교 타이밍을 나타내는 시험기의 최소 절곡 각도와 최대 절곡 각도와, (c) 비교 주기가 입력 가능하게 되어 있다. 이 (a) 기준화상으로 하는 절곡 사이클 횟수는, 촬상을 하는 절곡 사이클 횟수로부터 선택할 필요가 있으므로, 기록조건으로서 입력된 「촬상을 개시하는 절곡 사이클 횟수」 및 「촬상을 행하는 절곡 사이클의 간격」에 기초하여 결정되는 촬상을 하는 절곡 사이클 횟수 중에서 선택된다. 예를 들면, 「촬상 개시 때의 절곡 사이클 횟수」가 제50회째이고, 「촬상을 재실시할 때까지의 절곡 사이클의 간격」이 10회이면, 촬상을 하는 절곡 사이클 횟수는 제50회째, 제60회째, 제70회째, 제80회째, ....이므로, 이들의 어느 것(예를 들면, 제60회째)을 지정할 수가 있다. 또, (b) 기준화상과 현화상의 비교 타이밍을 나타내는 시험기의 최소 절곡 각도와 최대 절곡 각도는, 기록조건으로서 입력된 시험기의 휨 각도의 범위 내에 있어서 범위를 지정하는 것이고, 구체적으로는, 이 지정하는 범위의 최소 각도 및 최대 각도를 지정한다(예를 들면, 기록조건으로서 입력된 시험기의 휨 각도가 최소 각도 10°및 최대 각도 170°이면, 비교조건의 최소 각도 및 최대 각도로서 20°160°로 지정하는 것이 가능하지만, 5°나 175°로 할 수 없다.). (c) 비교 주기는, 비교를 행하는 절곡 사이클의 간격이며, 기록조건으로서 입력된 촬상을 행하는 절곡 사이클 수의 간격의 정수배인 것을 지정할 수가 있다(예를 들면, 기록조건으로 절곡 사이클 수의 간격이 10회로 지정되어 있으면, 비교조건으로서 절곡 사이클 수의 간격을 20회로 하는 것은 가능하지만, 15회로 할 수 없다.). 이 때문에, 비교조건을 입력하는 화면에는, s509에서 입력되었다고 판단된 기록조건인 촬상의 개시 때의 절곡 사이클 횟수, 촬상하는 시험기의 휨 각도 범위의 최소 각도, 최대 각도 및 촬상을 행하는 절곡 사이클의 간격이 비교조건 설정 가능 범위의 기준으로서 표시된다.

s511의 후, 지시 입력부(251)는 비교조건이 입력되었는지 아닌지 판단하고(s513), 입력되었다고 판단한 경우(YES), 지시 입력부(251)는, 지금까지 입력된 각 조건을 송신한다(s515). 구체적으로는, 지시 입력부(251)는, 시험조건을 시험조건 접수부(253)에 송신하여 기억시키고, 기록조건을 기록조건 접수부(255)에 송신하여 기억시키고, 그리고 비교조건을 비교조건 접수부(257)에 송신하여 기억시킨다. s513에서 입력되었다고 판단하지 않는 경우(NO)에는, s513으로 되돌아온다.

도 23에 나타내듯이, 지시 입력부(251)로부터 시험조건을 수신한 시험조건 접수부(253)는, 이 수신한 시험조건을 기억함(s521)과 아울러, 시험기 제어부(259)에 시험조건을 송신한다(s523).

또, 지시 입력부(251)로부터 기록조건을 수신한 기록조건 접수부(255)는, 이 수신한 기록조건을 기억함(s525)과 아울러, 시험기 제어부(259)에 기록조건을 송신한다(s527).

시험기 제어부(259)는, 시험기가 기록조건(촬상하는 시험기의 휨 각도의 범위, 촬상의 개시 때의 절곡 사이클 횟수, 촬상의 재실시 때의 절곡 사이클의 간격)으로 지정된 동작 상태에 있는지 아닌지를 판단하고(s529), 지정의 동작 상태에 있다고 판단한 경우(YES)는, 카메라(381)에 대해 촬상을 개시하는 신호를 송신하고(s531), s531에서 신호를 송신하고 나서 소정의 시간(통상, s531에서 신호를 송신하고 나서 카메라(381)가 촬상을 완료할 때까지의 시간으로 한다. 예를 들면, s531에서 신호를 송신하고 나서 카메라(381)가 촬상을 완료할 때까지의 시간이 0.1초이면, 0.1초 전후를 여기의 소정의 시간으로 하면 좋음)이 경과하였는지 아닌지를 판단하고(s533), s531의 신호 송신으로부터 소정의 시간이 경과하였다고 판단한 경우(예(YES))에는 후술의 s535로 나아간다. s533에서 s531의 신호 송신으로부터 소정의 시간이 경과하였다고 판단하지 않는 경우(NO)에는, s533으로 되돌아온다. s529에서 지정의 동작 상태에 있다고 판단하지 않는 경우(아니오(NO))에는 s535로 나아간다. 또한, s533은, 상술의 「s531의 신호 송신으로부터 소정의 시간이 경과하였는지 아닌지」로 바꾸어 「카메라(381)에 의한 촬상이 완료하였는지」(예를 들면, 시험기 제어부(259)가, 카메라(381)의 촬상을 완료한 것을 전기적으로 검지할 수 있도록, 카메라(381)로 시험기 제어부(259)와의 사이에 신호를 송수신 할 수 있도록 해도 좋음)의 판단으로 해도 좋다.

s535에서는, 시험기 제어부(259)는, 양쪽 형상 비교부(269)로부터의 정지 신호(후술함)를 수신하였는지 아닌지 판단하고(s535), 정지 신호를 수신하였다고 판단하지 않는 경우(NO)는, 시험기 제어부(259)는, 시험기가 절곡 사이클의 합계 횟수(절곡 시험이 개시되고 나서 실시된 절곡 사이클의 횟수)가, 시험조건으로 지정된 상한 절곡 횟수에 이르고 있는지 아닌지를 판단한다(s537). s537에서, 시험기 제어부(259)가, 절곡 횟수가 상한 절곡 횟수에 이르지 않았다고 판단한 경우(NO)에는, 시험조건 접수부(253)로부터 s523에서 송신된 시험조건에 따라 구동부(61)를 동작시킴(시험기 제어부(259)는, 시험조건의 촬상용 절곡 각도만 변화하도록 구동부(61)를 동작시킨다. 시험기 제어부(259)는 모터 드라이버를 포함한다.)과 아울러, 시험기 제어부(259)는, 구동부(61)의 동작 정보를 화상 접수부(261)에 송신한다(s545. 상술한 바와 같이, 여기에서는 시험기 제어부(259)는, 시험조건의 촬상용 절곡 각도만 변화하도록 구동부(61)를 동작시키므로, 시험기가 절곡 각도가 시험조건의 촬상용 절곡 각도만큼 변화할 때마다 동작 정보가 화상 접수부(261)에 송신된다.). 이 동작 정보에는, 시험기의 절곡 사이클 횟수(시험편(101)이 절곡 시험을 개시하고 나서 몇 회째의 절곡 사이클 동작 중인지(예를 들면, 제1624회째))와 시험기의 휨 각도가 포함된다.

시험기 제어부(259)가, s537에서 시험기의 절곡 횟수가 상한 절곡 횟수에 이르고 있다고 판단한 경우(YES)는, 시험기를 정지시킨다(s547).

시험기 제어부(259)가, s535에서 양쪽 형상 비교부(269)로부터의 정지 신호를 수신하였다고 판단한 경우(YES), 정지 신호와 관련지어져 양쪽 형상 비교부(269)로부터 송신되는 현화상에 있어서의 최소 곡률반경 rm1, 기준화상에 있어서의 최소 곡률반경 rm2와, 시험편의 두께 h로부터, 아래와 같은 식 1 및 식 2에 의해, 현화상에 있어서의 표면의 최대 왜곡량 em1, 기준화상에 있어서의 표면의 최대 왜곡량 em2를 산출한다(s539)(이들 rm1 및 rm2에 대해서는 후술한다.).

(식 1) em1 = h/(2 x rm1)

(식 2) em2 = h/(2 x rm2)

시험기 제어부(259)는, 여기서 구한 em1 및 em2와, 「정지 신호 수신」의 문언과, 그 시점까지가 절곡 횟수를 입출력 사용자 인터페이스(213)에 표시시키는 지시를 지시 입력부(251)에 행하고(s541), 이 s541의 지시를 받아 입출력 사용자 인터페이스(213)는 이들을 표시한다(s543). 그 후, 시험기 제어부(259)는 구동부(61)의 동작을 정지시킨다(s547).

한편, 카메라(381)는, 시험기 제어부(259)로부터의 s531에 있어서 발하여진 촬상 개시 지시에 따라, 절곡 시험 중의 시험편(101)을 촬영하고, 그 촬영 화상 데이터를 화상 접수부(261)에 송신한다. 화상 접수부(261)는, 도 24에 나타내듯이, 카메라(381)로부터의 화상 데이터를 수신하였는지 아닌지 판단하고(s551), 화상 데이터를 수신하였다고 판단한 경우(YES), s545에서 시험기 제어부(259)로부터 송신된 동작 정보(시험기의 절곡 사이클 횟수, 시험기의 휨 각도)를 수신하였는지 아닌지 판단한다(s553). 화상 접수부(261)는, s553에서 동작 정보를 수신하였다고 판단한 경우(YES), 카메라(381)로부터의 화상 데이터와, 시험기 제어부(259)로부터 수신한 동작 정보(사이클 횟수, 절곡 각도)를 관련지은 정보 부기(附記) 화상 데이터를 생성하고(s555), 이 생성한 정보 부기 화상 데이터를 현화상 형상 인식부(263) 및 화상 기억부(271)에 병렬적으로 송신한다(s557). s557의 후, s551로 되돌아온다. s551에서 화상 데이터를 수신하였다고 판단하지 않는 경우(NO), s551로 되돌아온다. s553에서 동작 정보를 수신하였다고 판단하지 않는 경우(NO), s553으로 되돌아온다.

현화상 형상 인식부(263)는, 도 25에 나타내듯이, 화상 접수부(261)로부터 정보 부기 화상 데이터를 수신하였는지 아닌지 판단하고(s561), 정보 부기 화상 데이터를 수신하였다고 판단한 경우(YES)는, 후술하는 화상 기억부(271)로부터 송신되는 비교 유효성 신호가 「유효」인지 아닌지를 판단하고(s563), 「유효」라고 판단한 경우(YES)는, 정보 부기 화상 데이터에 포함되는 촬영 화상에 있어서의 시험편(101)의 바깥 가장자리를 나타내는 방정식(또는, 근사식(예를 들면, n차 다항식(n은 정의 정수를 포함하는 실수)))을 도출한다(s565).

도 26a 및 도 26b는 이 방정식을 도출하는 방법을 간단하게 나타내는 도이며, 도 26a는 전술의 도 19의 것(c)을 예로서 상세하게 나타내고 있다. 촬영 화상에 있어서의 소정 방향으로 y축 및 z축(양축은 서로 직교함)을 취하고, 화상 처리를 이용하여, 도 26b에 있어서의 실선으로 나타낸 것처럼 시험편(101)의 바깥 가장자리(101c)(시험편(101)이 가장자리(101c) 외측의 가장자리부)를 나타내는 곡선(101d)에 존재하는 y좌표 및 z좌표의 쌍을 추출한다. 또한, 촬영 화상의 선예도(鮮銳度), 배경과의 신호 레벨의 차이, S/N 등에 따라, 시험편(101)의 안쪽 가장자리(101f)(시험편(101)이 휘어져 있는 안쪽 가장자리부)를 나타내는 곡선(101g)(도 26b 중의 점선)에 존재하는 y좌표 및 z좌표의 쌍을 추출하도록 해도 좋고, 시험편(101)의 두께 방향으로서의 중심부(즉, 곡선(101d)와 곡선(101g)의 중간)에 존재하는 y좌표 및 z좌표의 쌍을 추출하도록 해도 좋다. 그리고, 시험편(101)의 바깥 가장자리(101c)를 나타내는 곡선(101d)에 존재하는 y좌표 및 z좌표의 쌍으로 나타나는 점군(點群)으로부터 곡선(101d)을 근사하는 곡선(y의 다항식)을 도출하지만, 이러한 처리는, 이른바 커브핏팅(curve fitting)으로 불리고, 예를 들면 최소 2승법이 사용된다. 이 처리는 공지의 기술이므로 여기에서는 설명을 생략한다. s561에서 정보 부기 화상 데이터를 수신하였다고 판단하지 않는 경우(NO)는, s561로 되돌아온다. s563에서 비교 유효성 신호가 「유효」라고 판단하지 않는 경우(NO)는, s561로 되돌아온다.

s565에서 방정식을 도출한 현화상 형상 인식부(263)는, 이 방정식을 현화상 곡률반경 산출부(265)에 송신한다(s567).

s567에서 현화상 형상 인식부(263)로부터 송신된 상기 방정식을 수신한 현화상 곡률반경 산출부(265)는, 도 25에 나타내듯이, 이 방정식 상에 존재하는 위치에 있어서의 곡률반경을 구한다(s569). 구체적으로는, 이 방정식의 일단(y좌표가 작은 쪽)과 타단(y좌표가 큰 쪽)의 사이를 y좌표로 소정의 분해능으로 등분으로 분할하는 이 방정식 상에 존재하는 점에 있어서의 곡률반경을 산출하지만, 이러한 곡률반경의 산출 방법은, 예를 들면 미분법을 이용해 실시한다. 이 방정식을 f로 할 때, 좌표 y에서의 곡률반경 r는, 다음의 식 3에 의해 산출할 수 있다.

(식 3) r = (1+f′(y)＾2)＾1.5/ABS(f″(y))

다만, 식 3 중에서, f′는 함수 f의 1차 미분, f″는 함수 f의 2차 미분, 그리고 ABS(a)는, a의 절대치를 나타내고 있다.

현화상 곡률반경 산출부(265)는, 이와 같이 하여 산출한 (y1, r1), (y2, r2), (y3, r3), ...., (yn, rn)(단, n은 자연수)와 같이 y좌표 (y)와 그 위치의 곡률반경 (r)을 서로 관련지은 곡률반경 정보를 현화상 최소 곡률반경 특정부(267)에 송신한다(s571). 여기서 곡률반경을 산출하는 y좌표(y1로부터 yn)는, 화상에 포함되는 전체 범위로 해도 좋고, 절곡 때의 휨의 중심 부분에 해당되는 y좌표의 주변에 한정해도 좋다.

s571에서 현화상 곡률반경 산출부(265)로부터 송신된 곡률반경 정보를 수신한 현화상 최소 곡률반경 특정부(267)는, 곡률반경 정보 (y1, r1), (y2, r2), (y3, r3), ...., (yn, rn) 중에서 곡률반경 r이 가장 작은 것을 특정한다(s573). 그리고, 현화상 최소 곡률반경 특정부(267)는, 곡률반경이 가장 작은 (ym, rm)(단, m는 자연수)를 최대의 왜곡이 생기고 있는 위치 정보로서 양쪽 형상 비교부(269)에 송신한다(s575). s575의 후, s561로 되돌아온다.

한편, 화상 기억부(271)는, 도 27에 나타내듯이, s557에서 화상 접수부(261)로부터 송신된 정보 부기 화상 데이터를 수신하였는지 아닌지 판단하고(s581), 정보 부기 화상 데이터를 수신하였다고 판단한 경우(YES)에는, s515에서 지시 입력부(251)로부터 비교조건 접수부(257)에 송신하여 기억되어 있는 비교조건((a) 몇 번째의 절곡 사이클 횟수의 동작 중에 촬영된 화상을 기준화상으로 하는지를 나타내는 절곡 사이클 횟수, (b) 기준화상과 현화상의 비교 타이밍을 나타내는 시험기의 최소 절곡 각도와 최대 절곡 각도, (c) 비교 주기)을 비교조건 접수부(257)로부터 독출(讀出)하여 취득하고, 이 수신한 정보 부기 화상 데이터에 포함되는 동작 정보(시험기의 절곡 사이클 횟수, 시험기의 휨 각도)의 절곡 사이클 횟수가, 이 독출하여 취득한 비교조건 중의 (a) 절곡 사이클 횟수에 합치하는지 아닌지 판단하고(s583), 양방의 절곡 사이클 횟수가 일치한다고 판단한 경우(YES)는, 화상 기억부(271)는, s581에서 수신하였다고 판단한 정보 부기 화상 데이터를 기준화상으로서 기억하고(s585), 「무효」의 비교 유효성 신호를 생성하고(s593), 그것을 양쪽 형상 비교부(269) 및 현화상 형상 인식부(263)에 병렬적으로 송신하고(s597), s581로 되돌아온다. 한편, s583에서 양방의 절곡 사이클 횟수가 일치한다고 판단하지 않는 경우(NO)에는, 화상 기억부(271)는, s581에서 수신하였다고 판단한 정보 부기 화상 데이터를 통상화상으로서 기록한다(s587). s587의 후, 이 수신한 정보 부기 화상 데이터에 포함되는 동작 정보(시험기의 절곡 사이클 횟수, 시험기의 휨 각도)가, 비교조건 접수부(257)로부터 독출하여 취득한 비교조건에 기초하여 결정되는 비교해야 할 절곡 사이클 횟수(예를 들면, (a) 몇 번째의 절곡 사이클 횟수의 동작 중에 촬영된 화상을 기준화상으로 하는지를 나타내는 절곡 사이클 횟수가 60회로, (c) 비교 주기가 10회이면, 비교해야 할 절곡 사이클 횟수는, 70회(=60+10), 80회, 90회, 100회, 110회, ....임) 및 (b) 시험기의 최소 절곡 각도와 최대 절곡 각도에 합치하는지 어떤지 판단하고(s589), 포함된다고 판단하는 경우(YES)는, 「유효」의 비교 유효성 신호를 생성하고(s591), 그것을 양쪽 형상 비교부(269) 및 현화상 형상 인식부(263)에 병렬적으로 송신한다(s592). s589에서 포함된다고 판단하지 않는 경우(NO)는, s593으로 나아간다.

s592의 후, 화상 기억부(271)는, 스스로가 기록하고 있는 기준화상 데이터 중에서, 이 수신한 정보 부기 화상 데이터의 동작 정보(시험기의 절곡 사이클 횟수, 시험기의 휨 각도)에 포함되는 휨 각도와 같은 절곡 각도를 가지는 기준화상 데이터를 독출하고 기준화상 형상 인식부(275)에 송신한다(s595).

s581에서 정보 부기 화상 데이터를 수신하였다고 판단하지 않는 경우(NO)에는, s581로 되돌아온다.

s595에서 화상 기억부(271)로부터 송신된 기준화상 데이터를 수신한 기준화상 형상 인식부(275)는, 이 기준화상 데이터에 포함되는 시험편(101)의 바깥 가장자리를 나타내는 방정식을 도출한다(s599). 또한, 이 s599의 동작은, 전술의 s565와 마찬가지이므로 여기에서는 설명을 생략한다.

s599에서 방정식을 도출한 기준화상 형상 인식부(275)는, 이 방정식을 기준화상 곡률반경 산출부(277)에 송신한다(s601). 이 송신된 방정식은 기준화상 곡률반경 산출부(277)에 의해 기억된다.

s601에서 기준화상 형상 인식부(275)로부터 송신된 상기 방정식을 수신한 기준화상 곡률반경 산출부(277)는 전술의 s569와 마찬가지로, 소정의 범위의 좌표 y에 대한 곡률반경을 산출한다(s603).

기준화상 곡률반경 산출부(277)는, 이와 같이 하여 산출한 (y1, r1), (y2, r2), (y3, r3), ...., (yn, rn)(단, n은 자연수)와 같이 y좌표 (y)와 그 위치의 곡률반경 (r)을 서로 관련지은 곡률반경 정보를 기준화상 최소 곡률반경 특정부(279)에 송신한다(s605).

곡률반경 정보를 수신한 기준화상 최소 곡률반경 특정부(279)는, 전술의 s573에 있어서의 현화상 최소 곡률반경 특정부(267)와 마찬가지로, 기준화상 곡률반경 산출부(277)가 산출한 곡률반경 중의 최소치를 특정한다(s607).

기준화상 최소 곡률반경 특정부(279)는, s607에서 특정한 최소 곡률반경과 그 때의 좌표 y를 양쪽 형상 비교부(269)에 송신한다(s609). 그리고, s609의 후, s581로 되돌아온다.

양쪽 형상 비교부(269)는, 도 28에 나타내는 바와 같이, s592 및 s597에서 화상 기억부(271)로부터 송신되는 비교 유효성 신호가 「유효」를 나타낸 것인지 아닌지 판단하고(s611), 유효를 나타내는 신호를 수신하였다고 판단한 경우(YES), s575에서 현화상 최소 곡률반경 특정부(267)로부터 송신되는 (ym, rm)을 수신하였는지 아닌지 판단한다(s613). s613에서 (ym, rm)을 수신하였다고 판단한 경우(YES)에는, s609에서 기준화상 최소 곡률반경 특정부(279)로부터 송신되는 기준화상 최소 곡률반경 정보 (ym, rm)을 수신하였는지 아닌지 판단하고(s615), 기준화상 최소 곡률반경 정보 (ym, rm)을 수신하였다고 판단한 경우(YES)에는, s617로 나아간다. 이하, 설명을 용이하게 하기 위해, 현화상 최소 곡률반경 특정부(267)로부터 s575에서 송신되는 (ym, rm)을 (ym1, rm1)로 하고, 기준화상 최소 곡률반경 특정부(279)로부터 s609에서 송신되는 (ym, rm)을 (ym2, rm2)로 하여 설명한다. s617에서는, rm1이 rm2의 소정 배율 이하인지 아닌지 판단한다. 구체적으로는, rm1이, 미리 정해져 있는 배율 z와 rm2를 곱한 값(z x rm2) 이하인지 아닌지 판단한다. 또한, z는 0 이상 1 이하의 값으로 해서 정해지는 것이지만, 너무 작으면 곡률반경의 변화를 잘 검출하지 못하고, 너무 크면 검출 불필요한 경우를 잘못하여 검출하게 되므로, 이들을 양립하는 범위로 여겨도 좋다. 어느 정도의 표면의 왜곡량의 변화를 검출할 필요가 있을지는, 시험 대상의 특성이나 용도 등에 의해 여러 가지이지만, 통상, z는 바람직하게는 0.1 이상, 보다 바람직하게는 0.2 이상, 가장 바람직하게는 0.3 이상, 그리고 바람직하게는 0.9 이하, 보다 바람직하게는 0.8 이하, 가장 바람직하게는 0.7 이하이다.

s617에서 rm1이 (z x rm2) 이하라고 판단한 경우(YES)에는, 양쪽 형상 비교부(269)는, 시험기 제어부(259)에, (ym1, rm1) 및 (ym2, rm2)과 정지 신호를 관련지어 송신한다(s619). s619에서 양쪽 형상 비교부(269)로부터 발하여진 정지 신호를 수신한 시험기 제어부(259)는, 상술한 바와 같이, 곡률반경 rm1, rm2로부터 표면의 최대 왜곡량 em1, em2를 산출하고(s539), em1 및 em2와, 「정지 신호 수신」의 문언과, 그 시점까지가 절곡 횟수를 입출력 사용자 인터페이스(213)에 표시시키는 지시를 지시 입력부(251)에 행하고(s541), 구동부(61)의 동작을 정지시킨다(s547).

s611에서 비교 유효성 신호가 「유효」를 나타내는 것이라고 판단하지 않는 경우(NO)는, s611로 되돌아온다. s613에서 (ym, rm)을 수신하였다고 판단하지 않는 경우(NO)에는, s613으로 되돌아온다. s615에서 (ym, rm)을 수신하였다고 판단하지 않는 경우(NO)에는, s615로 되돌아온다. s617에서 rm1이 (z x rm2) 이하라고 판단하지 않는 경우(NO)에는, s611로 되돌아온다.

이상 설명과 같이, 제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)는, 각 회에서 시험체(여기에서는 시험편(101))에 같은 변형을 일으키게 하는 것으로 상정되는 변형 사이클(예를 들면, 도 19의 (a)→(b)→(c)→(b)→(a))을 복수회 실시하는 변형 시험을 행함과 아울러, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형이 변형 사이클의 실시 횟수의 증가에 수반하여 변화하는 것을 검출하는 변형 시험기로서, 시험체(시험편(101))를 촬상한 촬상 데이터를 생성하는 촬상 수단(여기에서는 카메라(381))과, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형의 기준으로 하는 변형 사이클의 실시 횟수인 기준 횟수(비교조건으로서 입력되는 (a) 몇 번째의 절곡 사이클 횟수의 동작 중에 촬영된 화상을 기준화상으로 하는지를 나타내는 절곡 사이클 횟수)에 있어서 촬상 수단(카메라(381))이 시험체(시험편(101))를 촬상한 기준 촬상 데이터 또는 기준 촬상 데이터에 기초하여 산출되는 기준 횟수에 있어서의 시험체(시험편(101))의 변형 상태를 나타내는 기준 횟수 변형 데이터인 기준 데이터(여기에서는 기준 촬상 데이터)를 기억하는 기준 데이터 기억 수단(여기에서는 화상 기억부(271))과, 기준 촬상 데이터에 기초한 기준 횟수 변형 데이터(여기에서는 s607에서 특정하는 최소 곡률반경)를 산출하는 기준 횟수 변형 데이터 산출 수단(여기에서는 기준화상 형상 인식부(275), 기준화상 곡률반경 산출부(277), 기준화상 최소 곡률반경 특정부(279))과, 기준 횟수보다 많은 실시 횟수인 검출 횟수에 있어서 시험체(시험편(101))를 촬상한 검출 촬상 데이터(현화상)에 기초하여 검출 횟수에 있어서의 시험체(시험편(101))의 변형 상태를 나타내는 검출 횟수 변형 데이터(s573에서 특정하는 최소 곡률반경)를 산출하는 검출 횟수 변형 데이터 산출 수단(여기에서는 현화상 형상 인식부(263), 현화상 곡률반경 산출부(265), 현화상 최소 곡률반경 특정부(267))과, 기준 횟수 변형 데이터 및 검출 횟수 변형 데이터에 기초하여, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출하는 변화 검출 수단(여기에서는 양쪽 형상 비교부(269))을 구비하여 이루어지는 변형 시험기이다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 기준 횟수 변형 데이터 산출 수단(기준화상 형상 인식부(275), 기준화상 곡률반경 산출부(277), 기준화상 최소 곡률반경 특정부(279))이, 기준 촬상 데이터에 기초하여 시험체(시험편(101))의 형상을 나타내는 수식인 기준 수식(s599에서 도출되는 방정식)을 도출하는 기준 수식 도출 수단(기준화상 형상 인식부(275))과, 기준 수식 도출 수단(기준화상 형상 인식부(275))에 의해 도출된 기준 수식에 기초하여 시험체(시험편(101))가 적어도 2 이상의 부분에 있어서의 변형정도를 나타내는 기준 변형정도(전술의 (y1, r1), (y2, r2), (y3, r3), ...., (yn, rn))를 산출하는 기준 변형정도 산출 수단(기준화상 곡률반경 산출부(277))과, 기준 변형정도 산출 수단(기준화상 곡률반경 산출부(277))에 의해 산출되는 적어도 2 이상의 기준 변형정도로부터 변형정도가 가장 크다고 판단되는 것을 기준 횟수 변형 데이터로서 선택하는 기준 변형정도 선택 수단(기준화상 최소 곡률반경 특정부(279))을 가지고 이루어진다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 검출 횟수 변형 데이터 산출 수단(현화상 형상 인식부(263), 현화상 곡률반경 산출부(265), 현화상 최소 곡률반경 특정부(267))이, 검출 촬상 데이터(현화상)에 기초하여 시험체(시험편(101))의 형상을 나타내는 수식인 검출 수식(s565에서 도출되는 방정식)을 도출하는 검출 수식 도출 수단(현화상 형상 인식부(263))과, 검출 수식 도출 수단(현화상 형상 인식부(263))에 의해 도출된 검출 수식에 기초하여 시험체(시험편(101))이 적어도 2 이상의 부분에 있어서의 변형정도를 나타내는 검출 변형정도(전술의 (y1, r1), (y2, r2), (y3, r3), ...., (yn, rn))를 산출하는 검출 변형정도 산출 수단(현화상 곡률반경 산출부(265))과, 검출 변형정도 산출 수단(현화상 곡률반경 산출부(265))에 의해 산출되는 적어도 2 이상의 검출 변형정도로부터 변형정도가 가장 크다고 판단되는 것을 검출 횟수 변형 데이터로서 선택하는 검출 변형정도 선택 수단(현화상 최소 곡률반경 특정부(267))을 가지고 이루어진다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 검출 횟수 변형 데이터 (rm1) 및 기준 횟수 변형 데이터 (rm2)가, 시험체(시험편(101))의 형상을 나타내는 곡률반경이다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 변화 검출 수단(양쪽 형상 비교부(269))은, 검출 횟수 변형 데이터 (rm1)와 기준 횟수 변형 데이터 (rm2)의 일방(rm2)에 대한 타방 (rm1)의 비율 (rm1/rm2)인 변화 비율에 의해, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출하는 것이다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 상기 일방 (rm2)에 소정의 값 z를 곱한 값(z x rm2) 또는 상기 일방으로부터 소정의 값을 나눈 값과, 상기 타방 (rm1)과의 대소에 의해, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출하는 것이다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 변화 검출 수단(양쪽 형상 비교부(269))이, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출하는 경우(s617에서 rm1이 (z x rm2) 이하라고 판단하는 경우(YES)), 변형 시험을 중지하는 것이다(s535에서 양쪽 형상 비교부(269)로부터의 정지 신호를 수신하면, s539, s541, s543을 거쳐 s547에 이른다.).

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 촬상 수단(카메라(381))은, 1개의 변형 사이클 내에 있어서의 경과 정도인 사이클 진도(여기에서는 변형 사이클 중에서 현재의 상황이 어느 정도 진행되고 있는지를 나타내는 정도로서, 변형 사이클에 있어서의 시험체의 변형을 나타내는 시험기의 휨 각도(상면(55a)이 속하는 평면과 상면(85a)이 속하는 평면이 이루는 각도)를 이용함)가, 동일 또는 다른 사이클에 있어서 다른 촬상 타이밍으로 촬상하는 것이고, 기준 데이터 기억 수단(화상 기억부(271))은, 기준 데이터(여기에서는 기준 촬상 데이터)를 이 기준 데이터와 관련되는 촬상 때의 사이클 진도(시험기의 휨 각도)인 기준 촬상 사이클 진도와 관련지어 기억하고, 검출 촬상 데이터와 관련되는 촬상의 사이클 진도인 검출 촬상 사이클 진도와 같든지 또는 가장 가까운 기준 촬상 사이클 진도와 관련지어진 기준 데이터를 기준 데이터 기억 수단(화상 기억부(271))으로부터 독출하는 대상 기준 데이터 독출 수단(여기에서는 s595에 있어서의 화상 기억부(271))을 구비하고, 변화 검출 수단(양쪽 형상 비교부(269))이, 대상 기준 데이터 독출 수단(s595에 있어서의 화상 기억부(271))에 의해 독출되는 기준 데이터에 기초하는 기준 횟수 변형 데이터(기준 촬상 데이터)에 기초하여 검출하는 것이다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 촬상 수단(카메라(381))이 촬상하는 촬상 데이터와 변형 시험에 있어서의 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도(시험기의 휨 각도)를 포함하는 이 촬상 때와 관련되는 변형 동작 정보(시험기의 절곡 사이클 횟수와 시험기의 휨 각도를 포함하는 동작 정보)를 관련지은 관련지음 데이터(s555에서 생성되는 정보 부기 화상 데이터)를 생성하는 관련지음 데이터 생성 수단(화상 접수부(261))을 가지고, 기준 데이터 기억 수단(화상 기억부(271))은, 관련지음 데이터 생성 수단(화상 접수부(261))이 생성한 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)에 포함되는 사이클 진도(시험기의 휨 각도)를 기준 촬상 사이클 진도로 하여 이 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)를 기억하는 것이다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 기준 데이터 기억 수단(화상 기억부(271))은, 관련지음 데이터 생성 수단(화상 접수부(261))이 생성한 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터) 중에서, 이 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)가 포함하는 변형 사이클 횟수(시험기의 절곡 사이클 횟수)가 기준 횟수와 같은 경우에는, 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)를 기준 데이터로 하여 기억하는 것이다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 기준 데이터 기억 수단(화상 기억부(271))은, 관련지음 데이터 생성 수단(화상 접수부(261))이 생성한 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터) 중에서, 이 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)가 포함하는 변형 사이클 횟수(시험기의 절곡 사이클 횟수)가 기준 횟수와 다른 경우에는, 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)를 통상 데이터로 하여 기억하는 것이다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 통상 데이터 및 기준 데이터로서 기억하는 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)의 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도(시험기의 휨 각도)를 나타내는 데이터 특정 정보(여기에서는 기록조건)를 접수하는 데이터 특정 정보접수 수단(여기에서는 지시 입력부(251) 및 기록조건 접수부(255)를 포함하여 이루어짐)을 구비하고, 기준 데이터 기억 수단(화상 기억부(271))은, 데이터 특정 정보접수 수단(지시 입력부(251), 기록조건 접수부(255))에 의해 접수된 데이터 특정 정보(기록조건)에 합치하는 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)를 기억하는 것이다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 변형 시험에 있어서의 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도(시험기의 휨 각도)가 데이터 특정 정보(기록조건)에 합치하는지 아닌지 판단하는 촬상 판단 수단(s529에 있어서의 시험기 제어부(259))과, 촬상 판단 수단(s529에 있어서의 시험기 제어부(259))에 의해 변형 시험에 있어서의 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도(시험기의 휨 각도)가 데이터 특정 정보(기록조건)에 합치한다고 판단되는 경우에는, 촬상 수단(카메라(381))에 촬상을 명령하는 촬상 명령 수단(s531에 있어서의 시험기 제어부(259))을 구비하고, 촬상 명령 수단(s531에 있어서의 시험기 제어부(259))에 의한 명령에 의해 촬상 수단(카메라(381))이 촬상한 촬상 데이터를 포함하는 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)를 기준 데이터 기억 수단(화상 기억부(271))은 기억하는 것이다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형이 변화하는지 어떤지 판단하는 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도(시험기의 휨 각도)를 특정하는 판단 대상 조건(비교조건)을 접수하는 판단 대상 조건 접수 수단(여기에서는 지시 입력부(251) 및 비교조건 접수부(257)를 포함하여 이루어짐)을 구비하여 이루어지고, 판단 대상 조건 접수 수단(지시 입력부(251), 비교조건 접수부(257))이 접수한 판단 대상 조건(비교조건)에 합치하는 변형 동작 정보(동작 정보)를 포함하는 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)가 생성될 때는, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형이 변화하는지 어떤지 판단하지만, 판단 대상 조건(비교조건)에 합치하지 않는 변형 동작 정보(동작 정보)를 포함하는 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)가 생성될 때는 판단하지 않는 것이다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)에 포함되는 변형 동작 정보(동작 정보)가, 판단 대상 조건 접수 수단(지시 입력부(251), 비교조건 접수부(257))이 접수한 판단 대상 조건(비교조건)에 합치하는지 판단하고, 합치하는지 아닌지를 나타내는 요부(要否 : 필요와 불필요) 신호(비교 유효성 신호)를 발생하는 요부 신호 발생 수단(s591 및 s593에 있어서의 화상 기억부(271))을 구비하고, 요부 신호 발생 수단(s591 및 s593에 있어서의 화상 기억부(271))이 발생하는 요부 신호(비교 유효성 신호)에 따라, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형이 변화할지 어떤지를 판단하는지 아닌지가 결정되는 것이다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 요부 신호 발생 수단(s591 및 s593에 있어서의 화상 기억부(271))은, 요부 신호(비교 유효성 신호)를 변화 검출 수단(양쪽 형상 비교부(269))에 송신하고, 변화 검출 수단(양쪽 형상 비교부(269))은, 요부 신호(비교 유효성 신호)에 따라, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형이 변화하는 것을 검출하는지 아닌지가 결정하는 것이다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)에 포함되는 변형 동작 정보(동작 정보)가, 판단 대상 조건 접수 수단(지시 입력부(251), 비교조건 접수부(257))이 접수한 판단 대상 조건(비교조건)에 합치하지 않는 경우에는, 검출 횟수 변형 데이터 산출 수단(현화상 형상 인식부(263), 현화상 곡률반경 산출부(265), 현화상 최소 곡률반경 특정부(267))이 검출 횟수 변형 데이터(s573에서 특정하는 최소 곡률반경)를 산출하지 않는 것이다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)에 포함되는 변형 동작 정보(동작 정보)가, 판단 대상 조건 접수 수단(지시 입력부(251), 비교조건 접수부(257))이 접수한 판단 대상 조건(비교조건)에 합치하지 않는 경우에는, 대상 기준 데이터 독출 수단(s595에 있어서의 화상 기억부(271))이 기준 데이터 기억 수단(화상 기억부(271))으로부터 기준 데이터를 독출하지 않는 것이다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 변형 사이클은, 시험체(시험편(101))를 통과하는 가상의 직선인 절곡선(도 19(a)에 있어서 평면 P와 시험체(시험편(101))의 주표면과의 교선)의 둘레에 시험체(시험편(101))를 절곡하는 것을 반복하는 것이고, 촬상 수단(카메라(381))의 촬상 방향이 절곡선과 대략 평행이다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 시험체(시험편(101))가, 절곡선을 포함하는 주표면을 가지는 필름 형상 또는 시트 형상을 이루는 것이다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 촬상 수단(카메라(381))과는 시험체(시험편(101))를 사이에 두고 반대 방향으로부터 절곡선에 평행하게 시험체(시험편(101))를 비추는 조명 수단(조명부(351))을 더 구비하여 이루어지는 것이다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 시험체(여기에서는 시험편(101))가 부착되는 제1 부착면(여기에서는 상면(85a))과, 제1 선분(가장자리부(85ae)가 존재하는 선분) 상에 존재하는 제1 부착면(상면(85a))의 가장자리부인 제1 가장자리부(가장자리부(85ae))을 가지는 제1 부착판(여기에서는 타방 부착판(85))과, 시험체(시험편(101))가 부착되는 제2 부착면(여기에서는 상면(55a))과, 제2 선분(가장자리부(55ae)가 존재하는 선분) 상에 존재하는 제2 부착면(상면(55a))의 가장자리부인 제2 가장자리부(가장자리부(55ae))을 가지는 제2 부착판(일방 부착판(55))과, 시험체(시험편(101))가 걸쳐 건네지는 간극이 제1 가장자리부(가장자리부(85ae))와 제2 가장자리부(가장자리부(55ae))의 사이에 형성되도록, 제1 선분과 제2 선분이 서로 평행하게 상대적 위치를 보유하면서, 제1 부착판(타방 부착판(85))을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동 가능하고, 및 제2 부착판(일방 부착판(55))을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동 가능하도록, 제1 부착판(타방 부착판(85))과 제2 부착판(일방 부착판(55))을 지지하는 지지 수단(여기에서는 가이드 레일(31a, 31b), 슬라이드부(45a, 45b), 일방 지지축(43), 부착부(53a, 53b), 구동축(73), 부착부(83a, 83b), 연결 부재(94, 96)를 포함하여 구성되어 있음)과, 제1 부착판(타방 부착판(85))을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동시키고, 및 제2 부착판(일방 부착판(55))을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동시키는 회동 수단(여기에서는 구동부(61), 구동축(73), 블록(97a, 97b), 블록(98a, 98b), 연결 부재(94, 96), 링크축(92), 앵글 부재(93, 95)를 포함하여 구성되어 있음)을 구비하여 이루어지고, 제1 부착판(타방 부착판(85))을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동시키고, 및/또는 제2 부착판(일방 부착판(55))을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동시킴으로써, 제1 가장자리부(가장자리부(85ae))와 제2 가장자리부(가장자리부(55ae))의 사이에 존재하는 시험체(시험편(101))의 부분을 변형시키는 변형 시험에 있어서, 제1 선분과 제2 선분을 2변으로 하는 가상 상의 사각형인 대상 영역의 절대 위치가 변화하는 것이고, 대상 영역의 이 절대 위치의 변화에 상관없이, 촬상 수단(카메라(381))에 대한 대상 영역의 상대적 위치가 대략 같다. 여기서, 제2 선분/제1 선분에 대해 상대적이란, 제2 선분/제1 선분의 상으로부터 본 경우의 의미라도 좋다.

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 촬상 수단(카메라(381))이, 절대 위치가 변화하는 제1 가장자리부(가장자리부(85ae)) 및/또는 제2 가장자리부(가장자리부(55ae))에 부착되는 것이다(여기에서는 간접적으로 부착되어 있다.).

제1 실시 형태의 제어부(201)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 지지 수단(가이드 레일(31a, 31b), 슬라이드부(45a, 45b), 일방 지지축(43), 부착부(53a, 53b), 구동축(73), 부착부(83a, 83b), 연결 부재(94, 96))은, 제1 선분이 포함되는 제1 직선의 둘레에 회동 가능하게 제1 부착판(타방 부착판(85))이 직접적 또는 간접적으로 부착됨과 아울러, 제2 선분이 포함되는 제2 직선의 둘레에 회동 가능하게 제2 부착판(일방 부착판(55))이 직접적 또는 간접적으로 부착되고, 제1 직선과 제2 직선과의 사이의 거리를 일정하게 유지하는 양쪽 가장자리부 위치 관계 보유 부재(연결 부재(94, 96))를 가지고, 촬상 수단(카메라(381))이, 양쪽 가장자리부 위치 관계 보유 부재(연결 부재(94, 96))에 부착되는 것이다(여기에서는 간접적으로 부착되어 있다.).

이상 서술한 제1 실시 형태와 같은 실시 형태로서 다음과 같이 서술할 수도 있다. 즉, 판상 또는 필름 형상의 시험체에 대해 변형 사이클을 복수회 실시하는 변형 시험에 있어서, 시험체의 미고정의 변형 대상부를 사이에 둔 양측을 고정하는 일방 및 타방 부착판과, 상기 변형 사이클에 의해 상기 부착판을 회동시켜 변형 대상부를 한 방향으로 휘게 하고 되돌리도록 상기 부착판을 구동하는 구동부와, 상기 변형 대상부를 항상 시야에 넣을 수가 있도록 상기 일방 및 타방 부착판과 연동하도록 고정되는 촬상 장치와 구동부 및 촬상 장치를 제어하는 제어부를 구비하고, 상기 촬상 장치는, 상기 한 방향에 대해 실질적으로 수직인 방향으로부터 상기 시험체의 변형 대상부의 실질적인 측면을 촬상할 수가 있고, 상기 제어부는, 프로세서(예를 들면, CPU)와, 기억장치(예를 들면, RAM, ROM, SSD(Solid State Drive), HD(Hard Disk) 등)와, 주변장치와의 인터페이스와, 입출력 장치를 포함하고, 상기 프로세서는, 변형 사이클을 개시하는 명령을 구동 장치에 송신하고, 제1의 소정 조건 하에서 촬상 장치에 의해 촬상된 화상을 기준 화상과 비교하고, 양쪽 화상이 소정 차이 이상으로 다른지 아닌지를 판단하고, 다르다고 판단한 경우에, 구동 장치에 변형 사이클을 정지하는 명령을 송신한다. 여기서, 제1의 소정 조건은, 미리 결정된 사이클 수라도 좋고, 보다 자세하게는, 미리 결정된 사이클 수로서, 도 19의 (a)→(b)→(c)→(b)→(a)의 동안의 소정 상태(예를 들면, 도 19(b)의 상태. 소정이 절곡 각도 등)이라도 좋다. 또, 구동부에의 변형 사이클 명령 또는 구동부로부터의 변형 사이클 정보에 기초하여, 촬상을 행하는 경우는, 촬상 타이밍에 어긋남(지연 또는 선행)가 생길 우려가 있으므로 적당하게 조정을 행하여도 좋다. 상기 기준 화상은, 시험 전에 미리 촬상된 또는 제1의 소정 조건의 전에 촬상된 상기 시험체의 변형 대상부의 실질적인 측면이라도 좋고, 기준으로서 미리 설정된 화상이라도 좋다. 소정 차이는, 상기 변형 대상부의 실질적인 측면으로부터 얻어지는 최소 곡률반경이라도 좋다. 곡률반경은, 촬상 데이터로부터 근사식을 얻어 구해도 좋고, 촬상 데이터의 평활화(smoothing)를 충분히 행한 후에 측정 결과(평활화 후의 데이터)로부터 구해도 좋다. 촬상 분해능 이상의 범위의 단일 개소에 대한 최소 곡률반경이라도 좋고, 촬상 분해능 이상의 범위의 복수 개소의 최소를 포함하는 복수의 곡률반경으로부터 구해도 좋다.

(제2 실시 형태)

제2 실시 형태의 제어부(201a)에 대해 설명한다. 제어부(201a)(도 1의 제어부(201)와 마찬가지임)는, 제1 실시 형태의 제어부(201)와 마찬가지로, 시험편(101)이 절곡 시험을 행할 수 있도록 상술의 시험기 본체(11)를 제어함과 아울러, 촬영부(301)의 카메라(381a)(도 1의 카메라(381)와 마찬가지임)에 의해 촬상된 촬상 데이터를 해석한다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)의 하드웨어 구성은 전술의 제1 실시 형태의 제어부(201)와 마찬가지이므로 여기에서는 설명을 생략한다.

도 29에 제어부(201a)의 기능 블록도를 나타낸다. 제어부(201a)는, 기능적으로는, 지시 입력부(251), 시험조건 접수부(253), 기록조건 접수부(255), 비교조건 접수부(257), 시험기 제어부(259a), 화상 접수부(261a), 현화상 형상 인식부(263), 현화상 곡률반경 산출부(265), 현화상 최소 곡률반경 특정부(267), 양쪽 형상 비교부(269), 화상 기억부(271a)(RAM(210b) 및 SSD(Solid State Drive)(219)를 포함하여 이루어짐), 기준화상 형상 인식부(275), 기준화상 곡률반경 산출부(277), 기준화상 최소 곡률반경 특정부(279)를 포함하여 이루어진다.

우선, 제1 실시 형태의 제어부(201)에 대해 도 22에 나타난 것과 같은 동작을 제어부(201a)도 행한다. 이하, 도 22를 참조하면서, 제어부(201a)에 대해서도 간단하게 설명한다(자세한 것은 전술의 것을 참조하기 바란다.).

도 22에 나타내듯이, 본 시험기(1)가 기동되면(스타트(start)), 지시 입력부(251)는 입출력 사용자 인터페이스(213)에 시험조건을 입력하는 화면을 표시한다(s501). 시험조건을 입력하는 화면에는, 상한 절곡 횟수, 최소 절곡 각도, 최대 절곡 각도, 절곡 속도, 촬상 실시 유무, 촬상용 절곡 각도, 및 시험편 두께의 각 항목이 입력 가능하게 되어 있다. 본 시험기(1)의 사용자(미도시)는, 입출력 사용자 인터페이스(213)를 조작함으로써, 이러한 시험조건을 입력할 수가 있다.

s501의 후, 지시 입력부(251)는 시험조건(상술의 전체 항목)이 입력되었는지 아닌지 판단하고(s503), s503에서 입력되었다고 판단하지 않는 경우(아니오(NO))에는 다시 s503으로 되돌아온다. 입력되었다고 판단한 경우(예(YES)), 지시 입력부(251)는, 이 입력된 시험조건을 기억함과 아울러, 촬상 실시의 유무를 판단하고(s505), 촬상 실시가 「유(有)」라고 판단한 경우(YES)는, 지시 입력부(251)는 입출력 사용자 인터페이스(213)에 기록조건을 입력하는 화면을 표시한다(s507). s505에서 촬상 실시가 「유」라고 판단하지 않는 경우(아니오(NO))는, s515로 나아간다(시험조건을 시험조건 접수부(253)에 송신하고, 시험조건 접수부(253)에 기억시킨다.).

전술의 제1 실시 형태에 있어서는, 카메라(381)의 촬상은 기록조건에 따라 시험기 동작과 동기하는 형태로 시험기 제어부(259)에 의해 제어되기 때문에, 촬상된 화상은 모두 기록되지만, 후술과 같이 제2 실시 형태에 있어서는, 카메라(381a)의 촬상은, 시험기 동작과는 비동기로 카메라 독자적인 타이밍(timing)으로 행해지기 때문에, 촬영된 화상 중에서 기록조건으로 지정된 조건에 합치하는 화상만이 기록된다.

s507에서 표시되는 입출력 사용자 인터페이스(213)의 화면에는, 카메라(381)가 기억하고 있는 소정의 타이밍에 의해 촬상된 화상 중에서 제어부(201a)가 기억하는 화상의 시험기의 휨 각도 범위의 최소 각도 및 최대 각도, 기억을 개시하는 절곡 사이클 횟수(절곡 사이클을 개시하여 몇 번째의 절곡 사이클로부터 기억할지), 그리고 기억하는 절곡 사이클의 간격(기억 개시하는 절곡 사이클의 후, 몇회가 절곡 사이클마다 기억할지(주기))가 입력 가능하게 되어 있다.

s507의 후, 지시 입력부(251)는 기록조건이 입력되었는지 아닌지 판단하고(s509), 입력되었다고 판단한 경우(YES), 지시 입력부(251)는 입출력 사용자 인터페이스(213)에 비교조건을 입력하는 화면을 표시한다(s511). s509에서 입력되었다고 판단하지 않는 경우(NO)에는, s509로 되돌아온다. s511에서 표시되는 입출력 사용자 인터페이스(213)의 화면에는, (a) 몇 번째의 절곡 사이클 횟수(절곡 사이클을 개시하여 몇 번째의 절곡 사이클인지를 나타냄)의 동작 중에 촬영된 화상을 기준화상으로 하는지를 나타내는 절곡 사이클 횟수와, (b) 기준화상과 현화상의 비교 타이밍을 나타내는 시험기의 최소 절곡 각도와 최대 절곡 각도와, (c) 비교 주기가 입력 가능하게 되어 있다. 이 (a) 기준화상으로 하는 절곡 사이클 횟수는, 기록을 하는 절곡 사이클 횟수로부터 선택할 필요가 있으므로, 기록조건으로서 입력된 「기억을 개시하는 절곡 사이클 횟수」 및 「기억하는 절곡 사이클의 간격(주기)」에 기초하여 결정되는 기록을 하는 절곡 사이클 횟수 중에서 선택된다. 예를 들면, 「기억을 개시하는 절곡 사이클 횟수」가 제50회째로, 「기억하는 절곡 사이클의 간격(주기)」가 10회이면, 기록을 하는 절곡 사이클 횟수는 제50회째, 제60회째, 제70회째, 제80회째, ....이므로, 이들의 어느 것(예를 들면, 제60회째)을 (a) 기준화상으로 하는 절곡 사이클 횟수로서 지정할 수가 있다. 이 (b) 기준화상과 현화상의 비교 타이밍을 나타내는 시험기의 최소 절곡 각도와 최대 절곡 각도는, 기록조건으로서 입력된 시험기의 휨 각도의 범위 내에 있어서 범위를 지정하는 것이고, (c) 비교 주기는, 비교를 행하는 절곡 사이클의 간격이며, 기록조건으로서 입력된 기록하는 절곡 사이클 수의 간격의 정수배인 것을 지정할 수가 있다.

s511의 후, 지시 입력부(251)는 비교조건이 입력되었는지 아닌지 판단하고(s513), 입력되었다고 판단한 경우(YES), 지시 입력부(251)는, 지금까지 입력된 각 조건을 송신한다(s515). 구체적으로는, 지시 입력부(251)는, 시험조건을 시험조건 접수부(253)에 송신하여 기억시키고, 기록조건을 기록조건 접수부(255)에 송신하여 기억시키고, 그리고 비교조건을 비교조건 접수부(257)에 송신하여 기억시킨다. s513에서 입력되었다고 판단하지 않는 경우(NO)에는, s513으로 되돌아온다.

도 30에 나타내듯이, 지시 입력부(251)로부터 시험조건을 수신한 시험조건 접수부(253)는, 이 수신한 시험조건을 기억함(s521)과 아울러, 시험기 제어부(259a)에 시험조건을 송신한다(s523).

시험기 제어부(259a)는, 양쪽 형상 비교부(269)로부터의 정지 신호(후술함)를 수신하였는지 아닌지 판단하고(s535), 정지 신호를 수신하였다고 판단하지 않는 경우(NO)는, 시험기 제어부(259a)는, 시험기가 절곡 사이클의 합계 횟수(절곡 시험이 개시되고 나서 실시된 절곡 사이클의 횟수)가, 시험조건으로 지정된 상한 절곡 횟수에 이르고 있는지 아닌지를 판단한다(s537). s537에서, 시험기 제어부(259a)가, 절곡 횟수가 상한 절곡 횟수에 이르지 않았다고 판단한 경우(NO)에는, 시험조건 접수부(253)로부터 s523에서 송신된 시험조건에 따라 구동부(61)를 동작시킴(시험기 제어부(259a)는, 시험조건의 촬상용 절곡 각도만 변화하도록 구동부(61)를 동작시킨다. 시험기 제어부(259)는 모터 드라이버를 포함한다.)과 아울러, 시험기 제어부(259a)는, 구동부(61)의 동작 정보를 화상 접수부(261a)에 송신한다(s545a. 상술한 바와 같이, 여기에서는 시험기 제어부(259a)는, 시험조건의 촬상용 절곡 각도만 변화하도록 구동부(61)를 동작시키므로, 시험기가 절곡 각도가 시험조건의 촬상용 절곡 각도만큼 변화할 때마다 동작 정보가 화상 접수부(261a)에 송신된다.). 이 동작 정보에는, 시험기의 절곡 사이클 횟수(시험편(101)이 절곡 시험을 개시하고 나서 몇 회째의 절곡 사이클 동작 중인지(예를 들면, 1624회))와, 시험기의 휨 각도가 포함된다. 시험기 제어부(259a)가, s537에서 시험기의 절곡 횟수가 상한 절곡 횟수에 이르고 있다고 판단한 경우(YES)는, 시험기를 정지시킨다(s547).

시험기 제어부(259a)가, s535에서 양쪽 형상 비교부(269)로부터의 정지 신호를 수신하였다고 판단한 경우(YES)는, 정지 신호와 관련지어져 양쪽 형상 비교부(269)로부터 송신되는 현화상에 있어서의 최소 곡률반경 rm1, 기준화상에 있어서의 최소 곡률반경 rm2와, 시험편의 두께 h로부터, 상기의 식 1 및 식 2에 의해, 현화상에 있어서의 표면의 최대 왜곡량 em1, 기준화상에 있어서의 표면의 최대 왜곡량 em2를 산출한다(s539)(이들 rm1 및 rm2에 대해서는 후술한다.).

시험기 제어부(259a)는, 여기서 구한 em1 및 em2와, 「정지 신호 수신」의 문언과, 그 시점까지의 절곡 사이클 횟수를 입출력 사용자 인터페이스(213)에 표시시키는 지시를 지시 입력부(251)에 행하고(s541), 이 s541의 지시를 받아 입출력 사용자 인터페이스(213)는 이들을 표시한다(s543). 그 후, 시험기 제어부(259)는 구동부(61)의 동작을 정지시킨다(s547).

한편, 카메라(381a)는, 소정의 촬상 주기로 절곡 시험 중의 시험편(101)을 촬영하고, 그 촬영 화상 데이터를 화상 접수부(261a)에 송신한다. 화상 접수부(261a)는, 도 31에 나타내듯이, 카메라(381a)로부터의 화상 데이터를 수신하였는지 아닌지 판단하고(s551), 화상 데이터를 수신하였다고 판단한 경우(예(YES)), s545a에서 시험기 제어부(259a)로부터 송신된 동작 정보를 수신하였는지 아닌지 판단한다(s553). 화상 접수부(261a)는, 동작 정보를 수신하였다고 판단한 경우(YES)에는, 카메라(381a)로부터의 화상 데이터와, 시험기 제어부(259a)로부터 수신한 동작 정보(시험기의 절곡 사이클 횟수, 시험기의 휨 각도)를 관련지은 정보 부기 화상 데이터를 생성하고(s555a), 이 생성한 정보 부기 화상 데이터를 현화상 형상 인식부(263) 및 화상 기억부(271a)에 병렬적으로 송신한다(s557). s557의 후, s551로 되돌아온다. s551에서 화상 데이터를 수신하였다고 판단하지 않는 경우(아니오(NO)), s551로 되돌아온다. s553에서 동작 정보를 수신하였다고 판단하지 않는 경우(NO), s553으로 되돌아온다.

현화상 형상 인식부(263)는, 도 25에 나타내듯이, 화상 접수부(261a)로부터 정보 부기 화상 데이터를 수신하였는지 아닌지 판단하고(s561), 정보 부기 화상 데이터를 수신하였다고 판단한 경우(YES)는, 후술하는 화상 기억부(271a)로부터 송신되는 비교 유효성 신호가 「유효」인지 아닌지를 판단하고(s563), 「유효」라고 판단한 경우(YES)는, 정보 부기 화상 데이터에 포함되는 촬영 화상에 있어서의 시험편(101)의 바깥 가장자리를 나타내는 방정식 등을 도출한다(s565). 이 s565의 동작은, 상술의 제1 실시 형태와 마찬가지이므로 여기에서는 자세한 설명을 생략한다.

s561에서 정보 부기 화상 데이터를 수신하였다고 판단하지 않는 경우(NO)는, s561로 되돌아온다. s563에서 비교 유효성 신호가 「유효」라고 판단하지 않는 경우(NO)는, s561로 되돌아온다.

s565에서 방정식 등을 도출한 현화상 형상 인식부(263)는, 이 방정식 등을 현화상 곡률반경 산출부(265)에 송신한다(s567).

s567에서 현화상 형상 인식부(263)로부터 송신된 상기 방정식 등을 수신한 현화상 곡률반경 산출부(265)는, 도 25에 나타내듯이, 이 방정식 등의 상에 존재하는 위치에 있어서의 곡률반경을 구한다(s569). 이 s569의 동작은, 상술의 제1 실시 형태와 마찬가지이므로 여기에서는 자세한 설명을 생략한다.

현화상 곡률반경 산출부(265)는, 이와 같이 하여 산출한 (y1, r1), (y2, r2), (y3, r3), ...., (yn, rn)(단, n은 자연수)와 같이 y좌표 (y)와 그 위치의 곡률반경 (r)을 서로 관련지은 곡률반경 정보를 현화상 최소 곡률반경 특정부(267)에 송신한다(s571).

s571에서 현화상 곡률반경 산출부(265)로부터 송신된 곡률반경 정보를 수신한 현화상 최소 곡률반경 특정부(267)는, 곡률반경 정보 (y1, r1), (y2, r2), (y3, r3), ...., (yn, rn) 중에서 곡률반경 r이 가장 작은 것을 특정한다(s573). 그리고, 현화상 최소 곡률반경 특정부(267)는, 곡률반경이 가장 작은 (ym, rm)(단, m는 자연수)를 최대의 왜곡이 생기고 있는 것으로 하여 양쪽 형상 비교부(269)에 송신한다(s575). s575의 후, s561로 되돌아온다.

한편, 화상 기억부(271a)는, 도 32에 나타내듯이, s557에서 화상 접수부(261a)로부터 송신된 정보 부기 화상 데이터를 수신하였는지 아닌지 판단하고(s581), 정보 부기 화상 데이터를 수신하였다고 판단한 경우(YES)에는, s515에서 지시 입력부(251)로부터 기록조건 접수부(255)에 송신하여 기억되어 있는 기록조건(기억하는 화상의 시험기의 휨 각도 범위의 최소 각도 및 최대 각도, 기억을 개시하는 절곡 사이클 횟수, 기억하는 절곡 사이클의 간격(주기))을 기록조건 접수부(255)로부터 독출하여 취득하고, 이 수신한 정보 부기 화상 데이터에 포함되는 동작 정보(시험기의 절곡 사이클 횟수, 시험기의 휨 각도)가, 기록조건 접수부(255)로부터 독출하여 취득한 기록조건에 합치하는지 어떤지 판단한다(s582). s582에서는, 이 수신한 정보 부기 화상 데이터에 포함되는 동작 정보 중의 「시험기의 절곡 사이클 횟수」가, 기록조건에 기초하여 결정되는 기록해야 할 절곡 사이클 횟수(예를 들면, 기억을 개시하는 절곡 사이클 횟수가 제50회째로, 기억하는 절곡 사이클의 간격(주기)이 10회이면, 기록해야 할 절곡 사이클 횟수는 제50회째, 제60회째, 제70회째, 제80회째, ....임)에 해당함과 아울러, 동작 정보 중의 「시험기의 휨 각도」가, 기록조건의 「기억하는 화상의 시험기의 휨 각도 범위의 최소 각도 및 최대 각도」에 포함되는지 어떤지 판단한다. s582에서 정보 부기 화상 데이터에 포함되는 동작 정보가 기록조건에 합치한다고 판단한 경우(YES)는, 화상 기억부(271a)는, 지시 입력부(251)로부터 비교조건 접수부(257)에 송신하여 기억되어 있는 비교조건((a) 몇 번째의 절곡 사이클 횟수의 동작 중에 촬영된 화상을 기준화상으로 하는지를 나타내는 절곡 사이클 횟수, (b) 기준화상과 현화상의 비교 타이밍을 나타내는 시험기의 최소 절곡 각도와 최대 절곡 각도, (c) 비교 주기)을 비교조건 접수부(257)로부터 독출하여 취득하고, 이 수신한 정보 부기 화상 데이터에 포함되는 동작 정보(시험기의 절곡 사이클 횟수, 시험기의 휨 각도) 중에서, 몇 번째가 절곡 사이클에 있어서 촬상된 화상인지를 나타내는 정보(시험기의 절곡 사이클 횟수)가, 이 독출하여 취득한 비교조건 중의 (a) 몇 번째의 절곡 사이클 횟수의 동작 중에 촬영된 화상을 기준화상으로 하는지를 나타내는 절곡 사이클 횟수에 합치하는지 아닌지 판단하고(s583), 양방의 절곡 사이클 횟수가 일치한다고 판단한 경우(YES)는, 화상 기억부(271a)는, s581에서 수신하였다고 판단한 정보 부기 화상 데이터를 기준화상으로서 기억하고(s585), 「무효」의 비교 유효성 신호를 생성하고(s593), 그것을 양쪽 형상 비교부(269) 및 현화상 형상 인식부(263)에 병렬적으로 송신하고(s597), s581로 되돌아온다.

s583에서 양방의 절곡 사이클 횟수가 일치한다고 판단하지 않는 경우(NO)에는, 화상 기억부(271a)는, s581에서 수신하였다고 판단한 정보 부기 화상 데이터를 통상화상으로서 기록한다(s587). s587의 후, 이 수신한 정보 부기 화상 데이터에 포함되는 동작 정보(시험기의 절곡 사이클 횟수, 시험기의 휨 각도)가, 비교조건 접수부(257)로부터 독출하여 취득한 비교조건에 기초하여 결정되는 비교해야 할 절곡 사이클 횟수(예를 들면, (a) 몇 번째의 절곡 사이클 횟수의 동작 중에 촬영된 화상을 기준화상으로 하는지를 나타내는 절곡 사이클 횟수가 60회로, (c) 비교 주기가 10회이면, 비교해야 할 절곡 사이클 횟수는, 70회(=60+10), 80회, 90회, 100회, 110회, ....임) 및 (b) 시험기의 최소 절곡 각도와 최대 절곡 각도에 합치하는지 어떤지 판단하고(s589), 포함된다고 판단하는 경우(YES)는, 「유효」의 비교 유효성 신호를 생성하고(s591), 그것을 양쪽 형상 비교부(269) 및 현화상 형상 인식부(263)에 병렬적으로 송신한다(s592). s589에서 포함된다고 판단하지 않는 경우(NO)는, s593으로 나아간다.

s592의 후, 화상 기억부(271a)는, 스스로 기록하고 있는 기준화상 데이터 중에서, 이 수신한 정보 부기 화상 데이터에 포함되는 절곡 각도와 같은 절곡 각도를 가지는 기준화상 데이터를 기준화상 형상 인식부(275)에 송신한다(s595).

s581에서 정보 부기 화상 데이터를 수신하였다고 판단하지 않는 경우(NO)에는, s581로 되돌아온다.

s595에서 화상 기억부(271a)로부터 송신된 기준화상을 수신한 기준화상 형상 인식부(275)는, 이 기준화상 데이터에 포함되는 시험편(101)의 바깥 가장자리를 나타내는 방정식을 도출한다(s599). 또한, 이 s599의 동작은, 전술의 s565와 마찬가지이므로 여기에서는 설명을 생략한다.

s599에서 방정식을 도출한 기준화상 형상 인식부(275)는, 이 방정식을 기준화상 곡률반경 산출부(277)에 송신한다(s601). 이 송신된 방정식은 기준화상 곡률반경 산출부(277)에 의해 기억된다.

s601에서 기준화상 형상 인식부(275)로부터 송신된 방정식을 수신한 기준화상 곡률반경 산출부(277)는 전술의 s569와 마찬가지로, 소정의 범위의 좌표 y에 대한 곡률반경을 산출한다(s603).

기준화상 곡률반경 산출부(277)는, 이와 같이 하여 산출한 (y1, r1), (y2, r2), (y3, r3), ...., (yn, rn)(단, n은 자연수)와 같이 y좌표 (y)와 그 위치의 곡률반경 (r)을 서로 관련지은 곡률반경 정보를 기준화상 최소 곡률반경 특정부(279)에 송신한다(s605).

곡률반경 정보를 수신한 기준화상 최소 곡률반경 특정부(279)는, 전술의 s573에 있어서의 현화상 최소 곡률반경 특정부(267)와 마찬가지로, 기준화상 곡률반경 산출부(277)가 산출한 곡률반경 중의 최소치를 특정한다(s607).

기준화상 최소 곡률반경 특정부(279)는, s607에서 특정한 최소 곡률반경과 그 때의 좌표 y를 양쪽 형상 비교부(269)에 송신한다(s609). 그리고, s609의 후, s581로 되돌아온다.

양쪽 형상 비교부(269)는, 도 28에 나타내는 바와 같이, s592 및 s597에서 화상 기억부(271a)로부터 송신되는 비교 유효성 신호가 「유효」를 나타낸 것인지 아닌지 판단하고(s611), 유효를 나타내는 신호를 수신하였다고 판단한 경우(YES), s575에서 현화상 최소 곡률반경 특정부(267)로부터 송신되는 (ym, rm)을 수신하였는지 아닌지 판단한다(s613). s613에서 (ym, rm)을 수신하였다고 판단한 경우(YES)에는, s609에서 기준화상 최소 곡률반경 특정부(279)로부터 송신되는 기준화상 최소 곡률반경 정보 (ym, rm)을 수신하였는지 아닌지 판단하고(s615), 기준화상 최소 곡률반경 정보 (ym, rm)을 수신하였다고 판단한 경우(YES)에는, s617로 나아간다. 이하, 설명을 용이하게 하기 위해, 현화상 최소 곡률반경 특정부(267)로부터 s575에서 송신되는 (ym, rm)을 (ym1, rm1)로 하고, 기준화상 최소 곡률반경 특정부(279)로부터 s609에서 송신되는 (ym, rm)을 (ym2, rm2)로 하여 설명한다. s617에서는, rm1이 rm2의 소정 배율 이하인지 아닌지 판단한다. 구체적으로는, rm1이, 미리 정해져 있는 배율 z와 rm2를 곱한 값(z x rm2) 이하인지 아닌지 판단한다. 또한, z는, 상술의 제1 실시 형태에 있어서의 z와 마찬가지이므로 여기에서는 자세한 설명을 생략한다.

s617에서 rm1이 (z x rm2) 이하라고 판단한 경우(YES)에는, 양쪽 형상 비교부(269)는, 시험기 제어부(259a)에, (ym1, rm1) 및 (ym2, rm2)과 정지 신호를 관련지어 송신한다(s619). s619에서 양쪽 형상 비교부(269)로부터 발하여진 정지 신호를 수신한 시험기 제어부(259a)는, 상술한 바와 같이, 현화상에 있어서의 최소 곡률반경 rm1, 기준화상에 있어서의 최소 곡률반경 rm2와, 시험편의 두께 h로부터, 상기의 식 1 및 식 2에 의해, 현화상에 있어서의 표면의 최대 왜곡량 em1, 기준화상에 있어서의 표면의 최대 왜곡량 em2를 산출하고(s539), 여기서 구한 em1 및 em2와, 「정지 신호 수신」의 문언과, 그 시점까지가 절곡 횟수를 입출력 사용자 인터페이스(213)에 표시시키는 지시를 지시 입력부(251)에 행하고(s541), 이 s541의 지시를 받아 입출력 사용자 인터페이스(213)는 이들을 표시한다(s543). 그 후, 시험기 제어부(259)는 구동부(61)의 동작을 정지시킨다(s547).

s611에서 비교 유효성 신호가 「유효」를 나타내는 것이라고 판단하지 않는 경우(NO)는, s611로 되돌아온다. s613에서 (ym, rm)을 수신하였다고 판단하지 않는 경우(NO)에는, s613으로 되돌아온다. s615에서 (ym, rm)을 수신하였다고 판단하지 않는 경우(NO)에는, s615로 되돌아온다. s617에서 rm1이 (z x rm2) 이하라고 판단하지 않는 경우(NO)에는, s611로 되돌아온다.

이상 설명한 것처럼, 제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)는, 각 회에서 시험체(여기에서는 시험편(101))에 같은 변형을 일으키게 하는 것으로 상정되는 변형 사이클(예를 들면, 도 19의 (a)→(b)→(c)→(b)→(a))을 복수회 실시하는 변형 시험을 행함과 아울러, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형이 변형 사이클의 실시 횟수의 증가에 수반하여 변화하는 것을 검출하는 변형 시험기로서, 시험체(시험편(101))를 촬상한 촬상 데이터를 생성하는 촬상 수단(여기에서는 카메라(381a))과, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형의 기준으로 하는 변형 사이클의 실시 횟수인 기준 횟수(비교조건으로서 입력되는 (a) 몇 번째의 절곡 사이클 횟수의 동작 중에 촬영된 화상을 기준화상으로 하는지를 나타내는 절곡 사이클 횟수)에 있어서 촬상 수단(카메라(381a))이 시험체(시험편(101))를 촬상한 기준 촬상 데이터 또는 기준 촬상 데이터에 기초하여 산출되는 기준 횟수에 있어서의 시험체(시험편(101))의 변형 상태를 나타내는 기준 횟수 변형 데이터인 기준 데이터(여기에서는 기준 촬상 데이터)를 기억하는 기준 데이터 기억 수단(여기에서는 화상 기억부(271a))과, 기준 촬상 데이터에 기초한 기준 횟수 변형 데이터(여기에서는 s607에서 특정하는 최소 곡률반경)를 산출하는 기준 횟수 변형 데이터 산출 수단(여기에서는 기준화상 형상 인식부(275), 기준화상 곡률반경 산출부(277), 기준화상 최소 곡률반경 특정부(279))과, 기준 횟수보다 많은 실시 횟수인 검출 횟수에 있어서 시험체(시험편(101))을 촬상한 검출 촬상 데이터(현화상)에 기초하여 검출 횟수에 있어서의 시험체(시험편(101))의 변형 상태를 나타내는 검출 횟수 변형 데이터(s573에서 특정하는 최소 곡률반경)를 산출하는 검출 횟수 변형 데이터 산출 수단(여기에서는 현화상 형상 인식부(263), 현화상 곡률반경 산출부(265), 현화상 최소 곡률반경 특정부(267))과, 기준 횟수 변형 데이터 및 검출 횟수 변형 데이터에 기초하여, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출하는 변화 검출 수단(여기에서는 양쪽 형상 비교부(269))을 구비하여 이루어지는 변형 시험기이다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 기준 횟수 변형 데이터 산출 수단(기준화상 형상 인식부(275), 기준화상 곡률반경 산출부(277), 기준화상 최소 곡률반경 특정부(279))이, 기준 촬상 데이터에 기초하여 시험체(시험편(101))의 형상을 나타내는 수식인 기준 수식(s599에서 도출되는 방정식)을 도출하는 기준 수식 도출 수단(기준화상 형상 인식부(275))과, 기준 수식 도출 수단(기준화상 형상 인식부(275))에 의해 도출된 기준 수식에 기초하여 시험체(시험편(101))가 적어도 2 이상의 부분에 있어서의 변형정도를 나타내는 기준 변형정도(전술의 (y1, r1), (y2, r2), (y3, r3), ...., (yn, rn))를 산출하는 기준 변형정도 산출 수단(기준화상 곡률반경 산출부(277))과, 기준 변형정도 산출 수단(기준화상 곡률반경 산출부(277))에 의해 산출되는 적어도 2 이상의 기준 변형정도로부터 변형정도가 가장 크다고 판단되는 것을 기준 횟수 변형 데이터로서 선택하는 기준 변형정도 선택 수단(기준화상 최소 곡률반경 특정부(279))을 가지고 이루어진다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 검출 횟수 변형 데이터 산출 수단(현화상 형상 인식부(263), 현화상 곡률반경 산출부(265), 현화상 최소 곡률반경 특정부(267))이, 검출 촬상 데이터(현화상)에 기초하여 시험체(시험편(101))의 형상을 나타내는 수식인 검출 수식(s565에서 도출되는 방정식)을 도출하는 검출 수식 도출 수단(현화상 형상 인식부(263))과, 검출 수식 도출 수단(현화상 형상 인식부(263))에 의해 도출된 검출 수식에 기초하여 시험체(시험편(101))가 적어도 2 이상의 부분에 있어서의 변형정도를 나타내는 검출 변형정도(전술의 (y1, r1), (y2, r2), (y3, r3), ...., (yn, rn))를 산출하는 검출 변형정도 산출 수단(현화상 곡률반경 산출부(265))과, 검출 변형정도 산출 수단(현화상 곡률반경 산출부(265))에 의해 산출되는 적어도 2 이상의 검출 변형정도로부터 변형정도가 가장 크다고 판단되는 것을 검출 횟수 변형 데이터로서 선택하는 검출 변형정도 선택 수단(현화상 최소 곡률반경 특정부(267))을 가지고 이루어진다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 검출 횟수 변형 데이터 (rm1) 및 기준 횟수 변형 데이터 (rm2)가, 시험체(시험편(101))의 형상을 나타내는 곡률반경이다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 변화 검출 수단(양쪽 형상 비교부(269))은, 검출 횟수 변형 데이터 (rm1)와 기준 횟수 변형 데이터 (rm2)의 일방(rm2)에 대한 타방 (rm1)의 비율 (rm1/rm2)인 변화 비율에 의해, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출하는 것이다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 상기 일방 (rm2)에 소정의 값 z를 곱한 값(z x rm2) 또는 상기 일방으로부터 소정의 값을 나눈 값과, 상기 타방 (rm1)과의 대소에 의해, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출하는 것이다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 변화 검출 수단(양쪽 형상 비교부(269))이, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출하는 경우(s617에서 rm1이 (z x rm2) 이하라고 판단하는 경우(YES)), 변형 시험을 중지하는 것이다(s535에서 양쪽 형상 비교부(269)로부터의 정지 신호를 수신하면, s539, s541, s543을 거쳐 s547에 이른다.).

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 촬상 수단(카메라(381a))은, 1개의 변형 사이클 내에 있어서의 경과 정도인 사이클 진도(여기에서는 변형 사이클 중에서 현재의 상황이 어느 정도 진행되고 있는지를 나타내는 정도로서, 변형 사이클에 있어서의 시험체의 변형을 나타내는 시험기의 휨 각도(상면(55a)이 속하는 평면과 상면(85a)이 속하는 평면이 이루는 각도)를 이용함)가, 동일 또는 다른 사이클에 있어서 다른 촬상 타이밍으로 촬상하는 것이고, 기준 데이터 기억 수단(화상 기억부(271a))은, 기준 데이터(여기에서는 기준 촬상 데이터)를 이 기준 데이터와 관련되는 촬상 때의 사이클 진도(시험기의 휨 각도)인 기준 촬상 사이클 진도와 관련지어 기억하고, 검출 촬상 데이터와 관련되는 촬상의 사이클 진도인 검출 촬상 사이클 진도와 같든지 또는 가장 가까운 기준 촬상 사이클 진도와 관련지어진 기준 데이터를 기준 데이터 기억 수단(화상 기억부(271a))으로부터 독출하는 대상 기준 데이터 독출 수단(여기에서는 s595에 있어서의 화상 기억부(271a))을 구비하고, 변화 검출 수단(양쪽 형상 비교부(269))이, 대상 기준 데이터 독출 수단(s595에 있어서의 화상 기억부(271a))에 의해 독출되는 기준 데이터에 기초하는 기준 횟수 변형 데이터(기준 촬상 데이터)에 기초하여 검출하는 것이다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 촬상 수단(카메라(381a))이 촬상하는 촬상 데이터와 변형 시험에 있어서의 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도(시험기의 휨 각도)를 포함하는 이 촬상 때와 관련되는 변형 동작 정보(시험기의 절곡 사이클 횟수와 시험기의 휨 각도를 포함하는 동작 정보)를 관련지은 관련지음 데이터(s555a에서 생성되는 정보 부기 화상 데이터)를 생성하는 관련지음 데이터 생성 수단(화상 접수부(261a))을 가지고, 기준 데이터 기억 수단(화상 기억부(271a))은, 관련지음 데이터 생성 수단(화상 접수부(261a))이 생성한 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)에 포함되는 사이클 진도(시험기의 휨 각도)를 기준 촬상 사이클 진도로 하여 이 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)를 기억하는 것이다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 기준 데이터 기억 수단(화상 기억부(271a))은, 관련지음 데이터 생성 수단(화상 접수부(261a))이 생성한 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터) 중에서, 이 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)가 포함하는 변형 사이클 횟수(시험기의 절곡 사이클 횟수)가 기준 횟수와 같은 경우에는, 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)를 기준 데이터로 하여 기억하는 것이다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 기준 데이터 기억 수단(화상 기억부(271a))은, 관련지음 데이터 생성 수단(화상 접수부(261a))이 생성한 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터) 중에서, 이 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)가 포함하는 변형 사이클 횟수(시험기의 절곡 사이클 횟수)가 기준 횟수와 다른 경우에는, 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)를 통상 데이터로 하여 기억하는 것이다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 통상 데이터 및 기준 데이터로서 기억하는 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)의 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도(시험기의 휨 각도)를 나타내는 데이터 특정 정보(여기에서는 기록조건)를 접수하는 데이터 특정 정보접수 수단(여기에서는 지시 입력부(251) 및 기록조건 접수부(255)를 포함하여 이루어짐)을 구비하고, 기준 데이터 기억 수단(화상 기억부(271a))은, 데이터 특정 정보접수 수단(지시 입력부(251), 기록조건 접수부(255))에 의해 접수된 데이터 특정 정보(기록조건)에 합치하는 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)를 기억하는 것이다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)가 포함하는 변형 동작 정보(동작 정보)가 데이터 특정 정보(기록조건)에 합치하는지 아닌지 판단하는 기억 요부(要否 : 필요와 불필요) 판단 수단(s582에 있어서의 화상 기억부(271a))과, 기억 요부 판단 수단(s582에 있어서의 화상 기억부(271a))에 의해 변형 동작 정보(동작 정보)가 데이터 특정 정보(기록조건)에 합치한다고 판단되는 경우, 기준 데이터 기억 수단(화상 기억부(271a))은 이 관련지음 데이터를 기억하는 것이다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형이 변화하는지 어떤지 판단하는 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도(시험기의 휨 각도)를 특정하는 판단 대상 조건(비교조건)을 접수하는 판단 대상 조건 접수 수단(여기에서는 지시 입력부(251) 및 비교조건 접수부(257)를 포함하여 이루어짐)을 구비하여 이루어지고, 판단 대상 조건 접수 수단(지시 입력부(251), 비교조건 접수부(257))이 접수한 판단 대상 조건(비교조건)에 합치하는 변형 동작 정보(동작 정보)를 포함하는 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)가 생성될 때는, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형이 변화하는지 어떤지 판단하지만, 판단 대상 조건(비교조건)에 합치하지 않는 변형 동작 정보(동작 정보)를 포함하는 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)가 생성될 때는 판단하지 않는 것이다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)에 포함되는 변형 동작 정보(동작 정보)가, 판단 대상 조건 접수 수단(지시 입력부(251), 비교조건 접수부(257))이 접수한 판단 대상 조건(비교조건)에 합치하는지 판단하고, 합치하는지 아닌지를 나타내는 요부(要否 : 필요와 불필요) 신호(비교 유효성 신호)를 발생하는 요부 신호 발생 수단(s591 및 s593에 있어서의 화상 기억부(271a))을 구비하고, 요부 신호 발생 수단(s591 및 s593에 있어서의 화상 기억부(271a))이 발생하는 요부 신호(비교 유효성 신호)에 따라, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형이 변화할지 어떤지를 판단하는지 아닌지가 결정되는 것이다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 요부 신호 발생 수단(s591 및 s593에 있어서의 화상 기억부(271a))은, 요부 신호(비교 유효성 신호)를 변화 검출 수단(양쪽 형상 비교부(269))에 송신하고, 변화 검출 수단(양쪽 형상 비교부(269))은, 요부 신호(비교 유효성 신호)에 따라, 시험체(시험편(101))에 생기는 변형이 변화하는 것을 검출하는지 아닌지가 결정하는 것이다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)에 포함되는 변형 동작 정보(동작 정보)가, 판단 대상 조건 접수 수단(지시 입력부(251), 비교조건 접수부(257))이 접수한 판단 대상 조건(비교조건)에 합치하지 않는 경우에는, 검출 횟수 변형 데이터 산출 수단(현화상 형상 인식부(263), 현화상 곡률반경 산출부(265), 현화상 최소 곡률반경 특정부(267))이 검출 횟수 변형 데이터(s573에서 특정하는 최소 곡률반경)를 산출하지 않는 것이다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 관련지음 데이터(정보 부기 화상 데이터)에 포함되는 변형 동작 정보(동작 정보)가, 판단 대상 조건 접수 수단(지시 입력부(251), 비교조건 접수부(257))이 접수한 판단 대상 조건(비교조건)에 합치하지 않는 경우에는, 대상 기준 데이터 독출 수단(s595에 있어서의 화상 기억부(271a))이 기준 데이터 기억 수단(화상 기억부(271a))으로부터 기준 데이터를 독출하지 않는 것이다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 변형 사이클은, 시험체(시험편(101))를 통과하는 가상의 직선인 절곡선(도 19(a)에 있어서 평면 P와 시험체(시험편(101))의 주표면과의 교선)의 둘레에 시험체(시험편(101))를 절곡하는 것을 반복하는 것이고, 촬상 수단(카메라(381a))의 촬상 방향이 절곡선과 대략 평행이다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 시험체(시험편(101))가, 절곡선을 포함하는 주표면을 가지는 필름 형상 또는 시트 형상을 이루는 것이다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 촬상 수단(카메라(381))과는 시험체(시험편(101))를 사이에 두고 반대 방향으로부터 절곡선에 평행하게 시험체(시험편(101))를 비추는 조명 수단(조명부(351))을 더 구비하여 이루어지는 것이다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 시험체(여기에서는 시험편(101))가 부착되는 제1 부착면(여기에서는 상면(85a))과, 제1 선분(가장자리부(85ae)가 존재하는 선분) 상에 존재하는 제1 부착면(상면(85a))의 가장자리부인 제1 가장자리부(가장자리부(85ae))를 가지는 제1 부착판(여기에서는 타방 부착판(85))과, 시험체(시험편(101))가 부착되는 제2 부착면(여기에서는 상면(55a))과, 제2 선분(가장자리부(55ae)가 존재하는 선분) 상에 존재하는 제2 부착면(상면(55a))의 가장자리부인 제2 가장자리부(가장자리부(55ae))를 가지는 제2 부착판(일방 부착판(55))과, 시험체(시험편(101))가 걸쳐 건네지는 간극이 제1 가장자리부(가장자리부(85ae))와 제2 가장자리부(가장자리부(55ae))의 사이에 형성되도록, 제1 선분과 제2 선분이 서로 평행하게 상대적 위치를 보유하면서, 제1 부착판(타방 부착판(85))을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동 가능하고, 및 제2 부착판(일방 부착판(55))을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동 가능하도록, 제1 부착판(타방 부착판(85))과 제2 부착판(일방 부착판(55))을 지지하는 지지 수단(여기에서는 가이드 레일(31a, 31b), 슬라이드부(45a, 45b), 일방 지지축(43), 부착부(53a, 53b), 구동축(73), 부착부(83a, 83b), 연결 부재(94, 96)를 포함하여 구성되어 있음)과, 제1 부착판(타방 부착판(85))을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동시키고, 및 제2 부착판(일방 부착판(55))을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동시키는 회동 수단(여기에서는 구동부(61), 구동축(73), 블록(97a, 97b), 블록(98a, 98b), 연결 부재(94, 96), 링크축(92), 앵글 부재(93, 95)를 포함하여 구성되어 있음)을 구비하여 이루어지고, 제1 부착판(타방 부착판(85))을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동시키고, 및/또는 제2 부착판(일방 부착판(55))을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동시킴으로써, 제1 가장자리부(가장자리부(85ae))와 제2 가장자리부(가장자리부(55ae))의 사이에 존재하는 시험체(시험편(101))의 부분을 변형시키는 변형 시험에 있어서, 제1 선분과 제2 선분을 2변으로 하는 가상 상의 사각형인 대상 영역의 절대 위치가 변화하는 것이고, 대상 영역의 이 절대 위치의 변화에 상관없이, 촬상 수단(카메라(381))에 대한 대상 영역의 상대적 위치가 대략 같다.

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 촬상 수단(카메라(381a))이, 절대 위치가 변화하는 제1 가장자리부(가장자리부(85ae)) 및/또는 제2 가장자리부(가장자리부(55ae))에 부착되는 것이다(여기에서는 간접적으로 부착되어 있다.).

제2 실시 형태의 제어부(201a)를 가지는 본 시험기(1)에 있어서는, 지지 수단(가이드 레일(31a, 31b), 슬라이드부(45a, 45b), 일방 지지축(43), 부착부(53a, 53b), 구동축(73), 부착부(83a, 83b), 연결 부재(94, 96))은, 제1 선분이 포함되는 제1 직선의 둘레에 회동 가능하게 제1 부착판(타방 부착판(85))이 직접적 또는 간접적으로 부착됨과 아울러, 제2 선분이 포함되는 제2 직선의 둘레에 회동 가능하게 제2 부착판(일방 부착판(55))이 직접적 또는 간접적으로 부착되고, 제1 직선과 제2 직선과의 사이의 거리를 일정하게 유지하는 양쪽 가장자리부 위치 관계 보유 부재(연결 부재(94, 96))를 가지고, 촬상 수단(카메라(381))이, 양쪽 가장자리부 위치 관계 보유 부재(연결 부재(94, 96))에 부착되는 것이다(여기에서는 간접적으로 부착되어 있다.).

1개의 실험 예의 결과의 그래프를 도 33에 나타낸다. 이 그래프의 가로축에는 절곡 횟수를 나타내고, 세로축에는 표면의 최대 왜곡량을 나타내고 있다. 또, 절곡 각도의 15°30°45°60°75°90°마다 플롯(plot)하고 있다. 이 그래프로부터 알 수 있듯이, 절곡 각도가 크면 표면의 최대 왜곡량이 큰 경향이 있다(그 절곡 각도에 있어서의 곡률반경이 작다. 그래프 삽입의 3개의 도를 참조하기 바란다.). 또, 절곡 횟수가 증가하면, 표면의 최대 왜곡량이 증대해 간다. 또한, 절곡 횟수의 증가와 아울러, 표면의 최대 왜곡량의 변화의 정도(절곡 횟수에 대한 표면의 최대 왜곡량의 기울기)가 크게 되어 있듯이 보인다. 특히, 90°이 절곡 각도에서는, 절곡 횟수가 어느 정도를 넘으면 표면의 최대 왜곡량의 변화의 정도가 현저하게 크게 되어 있다. 일반적으로, 곡률반경의 크기는, 그 시료의 물성에 의존한다고 생각되므로 곡률반경의 변화는 물성의 변화를 나타낼 가능성이 있다. 그 때문에, 어떠한 손상의 전조를 의미할 가능성이 있어, 본 시험기에 의한 시험은 어떠한 손상을 사전에 감지할 수 있을지 모른다.

1 본 시험기 3 제1 부분
11 시험기 본체 21 프레임부(frame part)
23 천판부(天板部) 23a 상면
25 봉상부(棒狀部) 31a, 31b 가이드 레일
41 일방 지지축부 43 일방 지지축
45a, 45b 슬라이드부(slide part)
51 일방 시험편 부착부 53a, 53b 부착부
55 일방 부착판 55a 상면
55ae 가장자리부
61 구동부 73 구동축
81 타방 시험편 부착부 83a, 83b 부착부
85 타방 부착판
85a 상면 85ae 가장자리부
91 링크(link)부 92 링크(link)축
93, 95 앵글(angle) 부재 94, 96 연결 부재
97a, 97b, 98a, 98b 블록(block)
101 시험편
101c 바깥 가장자리 101d 곡선
101f 안쪽 가장자리 101g 곡선
201, 201a 제어부
210a CPU(Central Processing Unit)
210b RAM(Random Access Memory) 210c ROM(Read Only Memory)
210d 인터페이스(Interface)
213 입출력 사용자 인터페이스(IF : Interface)
219 SSD(Solid State Drive)
251 지시 입력부 253 시험조건 접수부
255 기록조건 접수부 257 비교조건 접수부
259, 259a시험기 제어부 261, 261a 화상 접수부
263 현화상 형상 인식부 265 현화상 곡률반경 산출부
267 현화상 최소 곡률반경 특정부 269 양쪽 형상 비교부
271, 271a 화상 기억부 275 기준화상 형상 인식부
277 기준화상 곡률반경 산출부
279 기준화상 최소 곡률반경 특정부 301 촬영부
311 지지부(支持部)
321 제1 지주(支柱) 322 제2 지주(支柱)
323 부착 부재 323h 부착 슬릿(slit)
341 조명 지지부
342 제1 부분 343 제2 부분
351 조명부 361 카메라 지지부
362 제1부(部) 363 제2부(部)
364 제3부(部) 365 제4부(部)
381 카메라

Claims (25)

1. 각 회에서 시험체에 같은 변형을 일으키게 하는 것으로 상정되는 변형 사이클을 복수회 실시하는 변형 시험을 행함과 아울러, 시험체에 생기는 변형이 변형 사이클의 실시 횟수의 증가에 수반하여 변화하는 것을 검출하는 변형 시험기로서,
   시험체를 촬상한 촬상 데이터를 생성하는 촬상 수단과,
   시험체에 생기는 변형의 기준으로 하는 변형 사이클의 실시 횟수인 기준 횟수에 있어서 촬상 수단이 시험체를 촬상한 기준 촬상 데이터 또는 기준 촬상 데이터에 기초하여 산출되는 기준 횟수에 있어서의 시험체의 변형 상태를 나타내는 기준 횟수 변형 데이터인 기준 데이터를 기억하는 기준 데이터 기억 수단과,
   기준 촬상 데이터에 기초한 기준 횟수 변형 데이터를 산출하는 기준 횟수 변형 데이터 산출 수단과,
   기준 횟수보다 많은 실시 횟수인 검출 횟수에 있어서 시험체를 촬상한 검출 촬상 데이터에 기초하여 검출 횟수에 있어서의 시험체의 변형 상태를 나타내는 검출 횟수 변형 데이터를 산출하는 검출 횟수 변형 데이터 산출 수단과,
   기준 횟수 변형 데이터 및 검출 횟수 변형 데이터에 기초하여, 시험체에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출하는 변화 검출 수단을 구비하여 이루어지는 변형 시험기.
2. 제1항에 있어서,
   기준 횟수 변형 데이터 산출 수단이, 기준 촬상 데이터에 기초하여 시험체의 형상을 나타내는 수식인 기준 수식을 도출하는 기준 수식 도출 수단과, 기준 수식 도출 수단에 의해 도출된 기준 수식에 기초하여 시험체의 적어도 2 이상의 부분에 있어서의 변형정도를 나타내는 기준 변형정도를 산출하는 기준 변형정도 산출 수단과, 기준 변형정도 산출 수단에 의해 산출되는 적어도 2 이상의 기준 변형정도로부터 변형정도가 가장 크다고 판단되는 것을 기준 횟수 변형 데이터로서 선택하는 기준 변형정도 선택 수단을 가지고 이루어지는 변형 시험기.
3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
   검출 횟수 변형 데이터 산출 수단이, 검출 촬상 데이터에 기초하여 시험체의 형상을 나타내는 수식인 검출 수식을 도출하는 검출 수식 도출 수단과, 검출 수식 도출 수단에 의해 도출된 검출 수식에 기초하여 시험체의 적어도 2 이상의 부분에 있어서의 변형정도를 나타내는 검출 변형정도를 산출하는 검출 변형정도 산출 수단과, 검출 변형정도 산출 수단에 의해 산출되는 적어도 2 이상의 검출 변형정도로부터 변형정도가 가장 크다고 판단되는 것을 검출 횟수 변형 데이터로서 선택하는 검출 변형정도 선택 수단을 가지고 이루어지는 변형 시험기.
4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
   검출 횟수 변형 데이터 및 기준 횟수 변형 데이터가, 시험체의 형상을 나타내는 곡률 또는 곡률반경인 변형 시험기.
5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
   변화 검출 수단은, 검출 횟수 변형 데이터와 기준 횟수 변형 데이터의 일방에 대한 타방의 비율인 변화 비율에 의해, 시험체에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출하는 것인 변형 시험기.
6. 제5항에 있어서,
   상기 일방에 소정의 값을 곱한 값 또는 상기 일방으로부터 소정의 값을 나눈 값과, 상기 타방과의 대소에 의해, 시험체에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출하는 것인 변형 시험기.
7. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
   변화 검출 수단이, 시험체에 생기는 변형이 기준 횟수와 검출 횟수의 사이에서 변화하는 것을 검출하는 경우, 변형 시험을 중지하는 것인 변형 시험기.
8. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서,
   촬상 수단은, 1개의 변형 사이클 내에 있어서의 경과 정도인 사이클 진도가, 동일 또는 다른 사이클에 있어서 다른 촬상 타이밍으로 촬상하는 것이고,
   기준 데이터 기억 수단은, 기준 데이터를 이 기준 데이터와 관련되는 촬상 때의 사이클 진도인 기준 촬상 사이클 진도와 관련지어 기억하고,
   검출 촬상 데이터와 관련되는 촬상의 사이클 진도인 검출 촬상 사이클 진도와 같든지 또는 가장 가까운 기준 촬상 사이클 진도와 관련지어진 기준 데이터를 기준 데이터 기억 수단으로부터 독출하는 대상 기준 데이터 독출 수단을 구비하고,
   변화 검출 수단이, 대상 기준 데이터 독출 수단에 의해 독출되는 기준 데이터에 기초하는 기준 횟수 변형 데이터에 기초하여 검출하는 것인 변형 시험기.
9. 제8항에 있어서,
   촬상 수단이 촬상하는 촬상 데이터와 변형 시험에 있어서의 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도를 포함하는 이 촬상 때와 관련되는 변형 동작 정보를 관련지은 관련지음 데이터를 생성하는 관련지음 데이터 생성 수단을 가지고,
   기준 데이터 기억 수단은, 관련지음 데이터 생성 수단이 생성한 관련지음 데이터에 포함되는 사이클 진도를 기준 촬상 사이클 진도로 하여 이 관련지음 데이터를 기억하는 것인 변형 시험기.
10. 제9항에 있어서,
    기준 데이터 기억 수단은, 관련지음 데이터 생성 수단이 생성한 관련지음 데이터 중에서, 이 관련지음 데이터가 포함하는 변형 사이클 횟수가 기준 횟수와 같은 경우에는, 관련지음 데이터를 기준 데이터로 하여 기억하는 것인 변형 시험기.
11. 제10항에 있어서,
    기준 데이터 기억 수단은, 관련지음 데이터 생성 수단이 생성한 관련지음 데이터 중에서, 이 관련지음 데이터가 포함하는 변형 사이클 횟수가 기준 횟수와 다른 경우에는, 관련지음 데이터를 통상 데이터로 하여 기억하는 것인 변형 시험기.
12. 제11항에 있어서,
    통상 데이터 및 기준 데이터로서 기억하는 관련지음 데이터의 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도를 나타내는 데이터 특정 정보를 접수하는 데이터 특정 정보접수 수단을 구비하고,
    기준 데이터 기억 수단은, 데이터 특정 정보접수 수단에 의해 접수된 데이터 특정 정보에 합치하는 관련지음 데이터를 기억하는 것인 변형 시험기.
13. 제12항에 있어서,
    변형 시험에 있어서의 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도가 데이터 특정 정보에 합치하는지 아닌지 판단하는 촬상 판단 수단과,
    촬상 판단 수단에 의해 변형 시험에 있어서의 변형 사이클 횟수 및 사이클 진도가 데이터 특정 정보에 합치한다고 판단되는 경우에는, 촬상 수단에 촬상을 명령하는 촬상 명령 수단을 구비하고,
    촬상 명령 수단에 의한 명령에 의해 촬상 수단이 촬상한 촬상 데이터를 포함하는 관련지음 데이터를 기준 데이터 기억 수단은 기억하는 것인 변형 시험기.
14. 제12항에 있어서,
    관련지음 데이터가 포함하는 변형 동작 정보가 데이터 특정 정보에 합치하는지 아닌지 판단하는 억 요부 판단 수단과,
    기억 요부 판단 수단에 의해 변형 동작 정보가 데이터 특정 정보에 합치한다고 판단되는 경우, 기준 데이터 기억 수단은 이 관련지음 데이터를 기억하는 것인 변형 시험기.
15. 제9항 내지 제14항 중 어느 한 항에 있어서,
    시험체에 생기는 변형이 변화하는지 어떤지 판단하는 변형 사이클 횟수 및/또는 사이클 진도를 특정하는 판단 대상 조건을 접수하는 판단 대상 조건 접수 수단을 구비하여 이루어지고,
    판단 대상 조건 접수 수단이 접수한 판단 대상 조건에 합치하는 변형 동작 정보를 포함하는 관련지음 데이터가 생성될 때는, 시험체에 생기는 변형이 변화하는지 어떤지 판단하지만, 판단 대상 조건에 합치하지 않는 변형 동작 정보를 포함하는 관련지음 데이터가 생성될 때는 판단하지 않는 것인 변형 시험기.
16. 제15항에 있어서,
    관련지음 데이터에 포함되는 변형 동작 정보가, 판단 대상 조건 접수 수단이 접수한 판단 대상 조건에 합치하는지 판단하고, 합치하는지 아닌지를 나타내는 요부 신호를 발생하는 요부 신호 발생 수단을 구비하고,
    요부 신호 발생 수단이 발생하는 요부 신호에 따라, 시험체에 생기는 변형이 변화할지 어떤지를 판단하는지 아닌지가 결정되는 변형 시험기.
17. 제16항에 있어서,
    요부 신호 발생 수단은, 요부 신호를 변화 검출 수단에 송신하고,
    변화 검출 수단은, 요부 신호에 따라, 시험체에 생기는 변형이 변화하는 것을 검출하는지 아닌지가 결정되는 것인 변형 시험기.
18. 제15항 내지 제17항 중 어느 한 항에 있어서,
    관련지음 데이터에 포함되는 변형 동작 정보가, 판단 대상 조건 접수 수단이 접수한 판단 대상 조건에 합치하지 않는 경우에는, 검출 횟수 변형 데이터 산출 수단이 검출 횟수 변형 데이터를 산출하지 않는 것인 변형 시험기.
19. 제15항 내지 제18항 중 어느 한 항에 있어서,
    관련지음 데이터에 포함되는 변형 동작 정보가, 판단 대상 조건 접수 수단이 접수한 판단 대상 조건에 합치하지 않는 경우에는, 대상 기준 데이터 독출 수단이 기준 데이터 기억 수단으로부터 기준 데이터를 독출하지 않는 것인 변형 시험기.
20. 제1항 내지 제19항 중 어느 한 항에 있어서,
    변형 사이클은, 시험체를 통과하는 가상의 직선인 절곡선의 둘레에 시험체를 절곡하는 것을 반복하는 것이고, 촬상 수단의 촬상 방향이 절곡선과 대략 평행인 변형 시험기.
21. 제20항에 있어서,
    시험체가, 절곡선을 포함하는 주표면을 가지는 필름 형상 또는 시트 형상을 이루는 것인 변형 시험기.
22. 제20항 또는 제21항에 있어서,
    촬상 수단은 시험체를 사이에 두고 반대 방향으로부터 절곡선에 평행하게 시험체를 비추는 조명 수단을 더 구비하여 이루어지는 변형 시험기.
23. 제1항 내지 제22항 중 어느 한 항에 있어서,
    시험체가 부착되는 제1 부착면과, 제1 선분 상에 존재하는 제1 부착면의 가장자리부인 제1 가장자리부를 가지는 제1 부착판과,
    시험체가 부착되는 제2 부착면과, 제2 선분 상에 존재하는 제2 부착면의 가장자리부인 제2 가장자리부를 가지는 제2 부착판과,
    시험체가 걸쳐 건네지는 간극이 제1 가장자리부와 제2 가장자리부와의 사이에 형성되도록, 제1 선분과 제2 선분이 서로 평행하게 상대적 위치를 보유하면서, 제1 부착판을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동 가능하고, 및/또는, 제2 부착판을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동 가능하도록, 제1 부착판과 제2 부착판을 지지하는 지지 수단과,
    제1 부착판을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동시키고, 및/또는 제2 부착판을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동시키는 회동 수단을 구비하여 이루어지고,
    제1 부착판을 제2 선분에 대해 상대적으로 제1 선분을 중심으로 회동시키고, 및/또는 제2 부착판을 제1 선분에 대해 상대적으로 제2 선분을 중심으로 회동시킴으로써, 제1 가장자리부와 제2 가장자리부와의 사이에 존재하는 시험체의 부분을 변형시키는 변형 시험에 있어서, 제1 선분과 제2 선분을 2변으로 하는 가상 상의 사각형인 대상 영역의 절대 위치가 변화하는 것이고,
    대상 영역의 이 절대 위치의 변화에 상관없이, 촬상 수단에 대한 대상 영역의 상대적 위치가 대략 같은 변형 시험기.
24. 제23항에 있어서,
    촬상 수단이, 절대 위치가 변화하는 제1 가장자리부 및/또는 제2 가장자리부에 부착되는 것인 변형 시험기.
25. 제24항에 있어서,
    지지 수단은, 제1 선분이 포함되는 제1 직선의 둘레에 회동 가능하게 제1 부착판이 직접적 또는 간접적으로 부착됨과 아울러, 제2 선분이 포함되는 제2 직선의 둘레에 회동 가능하게 제2 부착판이 직접적 또는 간접적으로 부착되고, 제1 직선과 제2 직선과의 사이의 거리를 일정하게 유지하는 양쪽 가장자리부 위치 관계 보유 부재를 가지고,
    촬상 수단이, 양쪽 가장자리부 위치 관계 보유 부재에 부착되는 것인 변형 시험기.

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