JP7127786B2 - 変形試験器 - Google Patents

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Description

本発明は、変形試験器に関し、より詳細には、携帯電話等の基板や有機EL等のフレキシブルディスプレーに用いられる薄いガラス板や樹脂板等の試験体を変形させてその耐久度を試験する変形試験器に関する。
以前から、携帯電話等の基板や有機EL等のフレキシブルディスプレーに用いられる薄いガラス板や樹脂板等の面状の試験体を変形させてその耐久度を試験する変形試験器が知られている(例えば、特許文献1~特許文献6参照)。
特開2016-80694号公報 特開2016-42048号公報 特開2013-125002号公報 特開2013-64658号公報 特開2013-57538号公報 特開2019-39743号公報
検出器を備える試験機によれば、検出器によって、対象とする試験体の部分の状態を安定的かつ正確に検出することができる。しかしながら、試験体の部分を変形させる変形試験において、試験体が破壊したり大きな塑性変形を生じる過程を観察したいとの要望があり(以下、破壊及び大きな塑性変形を合わせて「破壊等」という。)、これを実現するためには、これら破壊等が生じる兆候を破壊等の前に検出し、その検出後に、変形試験に供される試験体を観察することが好ましい。
そこで、本開示において、変形試験に供される試験体に破壊等が生じる兆候を破壊等の前に検出することができる変形試験器を提供する。
本出願人の特願2018-203662号(The entire contents of Japanese patent application No. 2018-203662 are incorporated herein by reference.)において、第1取付面の第1縁部と第2取付面の第2縁部との間に架け渡された試験体が曲げたり延ばしたりされる間の該試験体の状態をうまく検出することができる変形試験器が提供される。例えば、試験体が取り付けられる第1取付面と、第1線分の上に存する第1取付面の縁部である第1縁部と、を有する第1取付板と、試験体が取り付けられる第2取付面と、第2線分の上に存する第2取付面の縁部である第2縁部と、を有する第2取付板と、試験体が架け渡される隙間が第1縁部と第2縁部との間に形成されるように、第1線分と第2線分とが互いに平行で相対的位置を保持しつつ、第1取付板を第2線分に対して相対的に第1線分を中心に回動可能であり、及び/又は、第2取付板を第1線分に対して相対的に第2線分を中心に回動可能であるように、第1取付板と第2取付板とを支持する支持手段と、第1取付板を第2線分に対して相対的に第1線分を中心に回動させ、及び/又は、第2取付板を第1線分に対して相対的に第2線分を中心に回動させる回動手段と、第1縁部と第2縁部との間に存する試験体の部分の状態を検出する検出器を支持する検出器支持手段と、を備えてなる変形試験器である。また、第1取付板を第2線分に対して相対的に第1線分を中心に回動させ、及び/又は、第2取付板を第1線分に対して相対的に第2線分を中心に回動させる。こうすると、第1縁部と第2縁部との間に存する試験体の部分を変形させる変形試験において、第1線分と第2線分とを2辺とする仮想上の四角形である対象領域の絶対位置が変化するものである。そして、対象領域の該絶対位置の変化に関わらず、検出器支持手段に支持される検出器に対する対象領域の相対的位置が、略同じである、変形試験器が開示されている。このように第1取付面と第2取付面とに試験体が取り付けられ、第1取付面の第1縁部と第2取付面の第2縁部との間に試験体が架け渡された状態において、第1縁部を規定する第1線分と、第2縁部を規定する第2線分と、が互いに平行で相対的位置を保持したまま、第1取付板を第2線分に対して相対的に第1線分を中心に回動させ、及び/又は、第2取付板を第1線分に対して相対的に第2線分を中心に回動させることにより、意図した曲げを試験体が生じる以外の力が試験体に加わることを防止又は減少させることができる。この力は、例えば、試験体が不意に不均一に曲がる力、試験体を引っぱる力や圧縮する力を含んでもよい。例えば、特許文献1中の板バネ12を用いることなく、意図した曲げを試験体が生じる以外の力が試験体に加わることを防止又は減少させることができる。更に、第1縁部と第2縁部との距離が極小になるまで両縁部を容易に近接させることができる。その距離は、理論的には0に限りなく近づけることができる。そして、試験体をどのような小さな曲げ半径であっても曲げたり延ばしたりを繰り返して試験することができる。また、検出器支持手段に支持される検出器から見て、対象領域の相対的位置が略同じに保たれてもよい。第1縁部と第2縁部との間に存する試験体の部分が対象領域の近くに存在する。また、相対的位置は、距離及び/又は方向により規定されてもよい。そのようにすると、変形試験における対象領域の絶対位置が変化しても、第1縁部と第2縁部との間に存する試験体の部分に対する検出器の相対的な位置(距離、方向)がほぼ同じに保たれてもよい。そして、検出器よって対象とする該部分の状態を安定的かつ正確に検出することができる。
本開示において、変形試験器(以下「本試験器」という。)は、各回で試験体に同じ変形を生じさせると想定される変形サイクルを複数回実施する変形試験を行うと共に、試験体に生じる変形が変形サイクルの実施回数の増加に伴い変化することを検出する変形試験器であって、試験体を撮像した撮像データを生成する撮像手段(又は撮像装置、カメラ等)と、試験体に生じる変形の基準とする変形サイクルの実施回数である基準回数において撮像手段が試験体を撮像した基準撮像データ又は基準撮像データに基づいて算出される基準回数における試験体の変形状態を示す基準回数変形データである基準データを記憶する基準データ記憶手段(又は基準データ記憶ユニット)と、基準撮像データに基づいて基準回数変形データを算出する基準回数変形データ算出手段(又は基準回数変形データ算出ユニット)と、基準回数よりも多い実施回数である検出回数において試験体を撮像した検出撮像データに基づいて検出回数における試験体の変形状態を示す検出回数変形データを算出する検出回数変形データ算出手段(又は検出回数変形データ算出ユニット)と、基準回数変形データ及び検出回数変形データに基づき、試験体に生じる変形が基準回数と検出回数との間で変化することを検出する変化検出手段(又は変化検出ユニット)と、を含んでなる、変形試験器であってもよい。
本試験器は、特許文献6の変形試験器において試験体が折り曲げられた後に延ばされる変形サイクルを複数回実施するのと同様に、変形サイクルを複数回実施する変形試験を行う。本試験器における変形サイクルは、各回で試験体に同じ変形を生じさせると想定されるものであり、通常、弾性変形領域における試験体を、この変形サイクル各々において同じように変形させると考えられるものであってもよい。例えば、試験体における2の部分の一方と他方との相対的位置関係を変化させるものであり、相対的位置関係1から相対的位置関係2(相対的位置関係1とは異なる)を経て相対的位置関係1に戻るサイクルの中で相対的位置関係の変化が各サイクルで同じものを例示できる。そして本試験器は、変形サイクルを複数回実施する変形試験において、試験体に生じる変形が変形サイクルの実施回数の増加に伴い変化することを検出する。上述の如く、変形サイクルは、試験体に各回で同じ変形を生じさせると想定されるものであってもよい。変形サイクルの実施回数の増加に伴い試験体に生じる変形の変化は、試験体の組織等に変化を生じる破壊等の兆候と考えられるかもしれない。そして、破壊等の兆候を破壊等の前に検出することができると考えられる。
本試験器は、撮像手段と、基準データ記憶手段と、基準回数変形データ算出手段と、検出回数変形データ算出手段と、変化検出手段と、を含んでもよい。そして、試験体に生じる変形の基準とする変形サイクルの実施回数である基準回数において試験体を撮像した基準撮像データと、基準回数よりも多い実施回数である検出回数において試験体を撮像した検出撮像データと、を用いて、本試験器は、試験体に生じる基準回数における変形に比して、試験体に生じる検出回数(変形サイクルの実施回数が基準回数よりも多い)における変形が変化することを検出することができる。
撮像手段は、試験体を撮像した撮像データを生成する。
基準回数変形データ算出手段は、基準撮像データに基づいて、基準回数における試験体の変形状態を示す基準回数変形データを算出する。
基準データ記憶手段は基準データを記憶する。基準データは、基準撮像データ又は基準回数変形データである。即ち、基準データ記憶手段は、基準撮像データそのものを記憶しても良い。また、基準回数変形データ算出手段により算出された基準回数変形データを記憶するようにしてもよい。なお、基準データとして基準撮像データを基準データ記憶手段が記憶する場合は、後に基準データ記憶手段から基準撮像データを読み出し、該読み出した基準撮像データに基づき基準回数変形データ算出手段は基準回数変形データを算出する。また、基準データとして基準回数変形データを基準データ記憶手段が記憶する場合は、基準回数変形データ算出手段は、予め基準撮像データに基づいて基準回数変形データを算出し、該算出された基準回数変形データを基準データとして基準データ記憶手段は記憶する。
検出回数変形データ算出手段は、検出撮像データに基づいて、検出回数における試験体の変形状態を示す検出回数変形データを算出する。
変化検出手段は、基準回数変形データ及び検出回数変形データに基づき、試験体に生じる変形が基準回数と検出回数との間で変化することを検出する。
以上のようにして、本試験器は、試験体に生じる基準回数における変形に比して、試験体に生じる検出回数における変形が変化することを検出してもよい。そして、変形試験に供される試験体に破壊等が生じる兆候を破壊等の前に検出することができる。
本試験器においては、基準回数変形データ算出手段が、基準撮像データに基づき試験体の形状を示す数式である基準数式を導出する基準数式導出手段(又は基準数式導出ユニット)と、基準数式導出手段により導出された基準数式に基づき試験体の少なくとも2以上の部分における変形度合を示す基準変形度合を算出する基準変形度合算出手段(又は基準変形度合算出ユニット)と、基準変形度合算出手段により算出される少なくとも2以上の基準変形度合から変形度合が最も大きいと判断されるものを基準回数変形データとして選択する基準変形度合選択手段(又は基準変形度合選択ユニット)と、を有してなるものであってもよい。
基準数式導出手段が、基準撮像データに基づき試験体の形状を示す数式である基準数式を導出する。基準数式は、種々のものが採用できるが、例えば、基準撮像データに直交座標をとり、両座標の一方の値を他方の値のn次式(nは1以上の整数)にて表すようなものを挙げることができる。基準変形度合算出手段は、基準数式に基づき試験体の少なくとも2以上の部分における変形度合を示す基準変形度合を算出する。そして、基準変形度合選択手段は、基準変形度合算出手段により算出される該少なくとも2以上の基準変形度合から変形度合が最も大きいと判断されるものを基準回数変形データとして選択する。こうすることで、基準撮像データに基づき作成された基準数式を用い、試験体の異なる部分の基準変形度合を算出することができる。そして、そのうち変形度合が最も大きいと判断されるものを基準回数変形データとすることができる。従って、基準回数における変形のうち大きな変形を生じている試験体の部分の変形状態を示す基準回数変形データとすることができる。そして、破壊等が生じやすい大きな変形を生じている試験体の部分の状態に基づき破壊等が生じる兆候をうまく検出することができる。
本試験器においては、検出回数変形データ算出手段が、検出撮像データに基づき試験体の形状を示す数式である検出数式を導出する検出数式導出手段(又は検出数式導出ユニット)と、検出数式導出手段により導出された検出数式に基づき試験体の少なくとも2以上の部分における変形度合を示す検出変形度合を算出する検出変形度合算出手段(又は検出変形度合算出ユニット)と、検出変形度合算出手段により算出される少なくとも2以上の検出変形度合から変形度合が最も大きいと判断されるものを検出回数変形データとして選択する検出変形度合選択手段(又は検出変形度合選択ユニット)と、を有してなるものであってもよい。
検出数式導出手段が、検出撮像データに基づき試験体の形状を示す数式である検出数式を導出する。検出数式は、基準数式と同様、種々のものが採用できるが、例えば、検出撮像データに直交座標をとり、両座標の一方の値を他方の値のn次式(nは1以上の整数)にて表すようなものを挙げることができる。検出変形度合算出手段は、検出数式に基づき試験体の少なくとも2以上の部分における変形度合を示す検出変形度合を算出する。そして、検出変形度合選択手段は、検出変形度合算出手段により算出される該少なくとも2以上の検出変形度合から変形度合が最も大きいと判断されるものを検出回数変形データとして選択する。こうすることで、検出撮像データに基づき作成された検出数式を用い、試験体の異なる部分の検出変形度合を算出し、そのうち変形度合が最も大きいと判断されるものを検出回数変形データとすることができる。従って、検出回数における変形のうち大きな変形を生じている試験体の部分の変形状態を示す検出回数変形データとすることができる。そして、破壊等が生じやすい大きな変形を生じている試験体の部分の状態に基づき破壊等が生じる兆候をうまく検出することができる。
本試験器においては、検出回数変形データ及び基準回数変形データが、試験体の形状を示す曲率又は曲率半径であってもよい。
曲率(曲率半径の逆数)又は曲率半径は、試験体の変形状態をうまく示すことができる。そして、これを検出回数変形データ及び基準回数変形データとすれば、試験体に生じる変形が基準回数と検出回数との間で変化することをうまく検出することができる。そして、変形試験に供される試験体に破壊等が生じる兆候を効率よく検出することができる。
本試験器においては、変化検出手段は、検出回数変形データと基準回数変形データとの一方に対する他方の割合である変化割合により、試験体に生じる変形が基準回数と検出回数との間で変化することを検出するもの(以下「変化割合本試験器」という。)であってもよい。
このように検出回数変形データAと基準回数変形データBとの一方に対する他方の割合((A/B)又は(B/A))である変化割合によって、変形の変化を検出することができる。そして、どの程度の大きさの変化が生じているかを的確に検出できる。変形試験に供される試験体に破壊等が生じる兆候をうまく検出することができる。
変化割合本試験器においては、前記一方に所定の値を乗じた値又は前記一方から所定の値を除した値と、前記他方と、の大小により、試験体に生じる変形が基準回数と検出回数との間で変化することを検出するものであってもよい。
検出回数変形データと基準回数変形データとの一方に所定の値Cを乗じた値又は一方から所定の値Cを除した値(例えば該一方がAであれば(C×A)又は(A/C))と、前記他方(例えば該一方がAであれば、B)と、の大小を判断することで、試験体に破壊等が生じる兆候を検出する際の変化割合の閾値(Cや(1/C))を用いて判断できる。
本試験器においては、変化検出手段が、試験体に生じる変形が基準回数と検出回数との間で変化することを検出する場合、変形試験を中止するものであってもよい。
こうすることで試験体に生じる変形が基準回数と検出回数との間で変化することを検出すると、変形試験が中止され得る。破壊等が生じる兆候を破壊等の前に検出し(変形試験中止)、その検出後に、変形試験に供される試験体を観察することができる。例えば、試験体が破壊したり大きな塑性変形を生じる過程を観察することができる。
本試験器においては、撮像手段は、1の変形サイクル内における経過度合であるサイクル進度が、同一又は異なるサイクルにおいて異なる撮像タイミングで撮像するものであってもよい。基準データ記憶手段は、基準データを該基準データに係る撮像時のサイクル進度である基準撮像サイクル進度と関連付けて記憶してもよい。検出撮像データに係る撮像のサイクル進度である検出撮像サイクル進度と同じか又は最も近い基準撮像サイクル進度と関連付けられた基準データを基準データ記憶手段から読み出す対象基準データ読み出し手段(又は対象基準データ読み出しユニット)を備えてもよい。変化検出手段は、対象基準データ読み出し手段により読み出される基準データに基づく基準回数変形データに基づき検出するもの(以下「サイクル進度本試験器」という。)であってもよい。
撮像手段はサイクル進度が同一又は異なるサイクルにおいて異なる撮像タイミングで撮像する場合、サイクル進度が大きく異なる撮像タイミングで撮像された基準撮像データ及び検出撮像データに基づき変形の変化を検出することは困難なこともある。例えば、1の変形サイクル中にサイクル進度によって試験体に生じる変形が大きく変化するような場合では、ほぼ同じサイクル進度における基準撮像データ及び検出撮像データに基づき変形の変化を検出してもよい。なお、サイクル進度とは、1の変形サイクル内において動作がどの程度進行しているかを示す経過度合をいってもよい。例えば、変形サイクル開始を0%とし、変形サイクル完了を100%とすれば、サイクル進度は例えば46%や73%等のように示すこともできる。また、この46%や73%等の算出は、変形サイクルにおける試験体の変形量を基準としてもよい。例えば、試験体の異なる2の位置を相対的に変位させる変形サイクルであれば、1の変形サイクル全体での該2の位置の相対的変位量の合計Q1に対する、変形サイクル開始からそれまでの該2の位置の相対的変位量の合計q1の割合((q1/Q1)×100)%とすることもできる。また、変形サイクルの経過時間を基準とすることもできる。1の変形サイクルの必要時間をQtとすれば、変形サイクル開始からそれまでに経過した時間qtがQtに対してなす割合((qt/Qt)×100)%とすることもできる。また、撮像手段の撮像タイミングが異なるサイクル進度であることは、同一の変形サイクル内においてサイクル進度が異なるタイミングで撮像する場合や、異なる変形サイクル内においてサイクル進度が異なるタイミングで撮像する場合のいずれも含む。例えば、503回目の変形サイクルにおいて40%と50%との2つのサイクル進度において撮像する。そして、例えば、503回目の変形サイクルにおいて40%のサイクル進度において撮像すると共に、506回目の変形サイクルにおいて50%のサイクル進度において撮像する。
このように撮像手段はサイクル進度が同一又は異なるサイクルにおいて異なる撮像タイミングで撮像する場合、サイクル進度が近い撮像タイミングで撮像された基準撮像データ及び検出撮像データに基づき変形の変化をうまく検出することができる。即ち、基準データ記憶手段は、基準データを該基準データに係る撮像時のサイクル進度である基準撮像サイクル進度と関連付けて記憶する。対象基準データ読み出し手段は、検出撮像データに係る撮像のサイクル進度である検出撮像サイクル進度と同じか又は最も近い基準撮像サイクル進度と関連付けられた基準データを基準データ記憶手段から読み出す。そして変化検出手段が、対象基準データ読み出し手段により読み出される基準データ(検出撮像サイクル進度に近い基準撮像サイクル進度に係る基準データ)に基づく基準回数変形データに基づき検出する。
サイクル進度本試験器においては、撮像手段が撮像する撮像データと、変形試験における変形サイクル回数及びサイクル進度を含む該撮像時に係る変形動作情報と、を関連付けた関連付けデータを生成する関連付けデータ生成手段(又は関連付けデータ生成ユニット)を有し、基準データ記憶手段は、関連付けデータ生成手段が生成した関連付けデータに含まれるサイクル進度を基準撮像サイクル進度として該関連付けデータを記憶するもの(以下「関連付け本試験器」という。)であってもよい。
こうすることで関連付けデータ生成手段が関連付けデータを生成する。関連付けデータは、撮像手段が撮像する撮像データと、該撮像データの撮像時に係る変形動作情報と、が関連付けられたデータであり、さらに変形動作情報は、変形試験における変形サイクル回数及びサイクル進度に関する情報を含む。そして基準データ記憶手段は、関連付けデータ生成手段が生成した関連付けデータに含まれるサイクル進度を基準撮像サイクル進度として該関連付けデータを記憶するので、基準データ記憶手段は、基準データを該基準データに係る撮像時の基準撮像サイクル進度と確実に関連付けて記憶することができる。
関連付け本試験器においては、基準データ記憶手段は、関連付けデータ生成手段が生成した関連付けデータのうち、該関連付けデータが含む変形サイクル回数が基準回数と同じ場合には関連付けデータを基準データとして記憶するもの(以下「基準本試験器」という。)であってもよい。
こうすることで、関連付けデータが含む変形サイクル回数が基準回数と同じ場合には関連付けデータを基準データとして基準データ記憶手段が確実に記憶することができる。
基準本試験器においては、基準データ記憶手段は、関連付けデータ生成手段が生成した関連付けデータのうち、該関連付けデータが含む変形サイクル回数が基準回数と異なる場合には関連付けデータを通常データとして記憶するもの(以下「通常データ記憶本試験器」という。)であってもよい。
こうすることで関連付けデータが含む変形サイクル回数が基準回数と異なる場合には該関連付けデータを、基準データと異なる通常データとして記憶するので、基準データ以外の関連付けデータも記憶され、変形試験における試験体の状況を記憶することができ、後に該状況を確認することもできる(通常データは、必要に応じて読み出されるようにしてもよい。)。
通常データ記憶本試験器においては、通常データ及び基準データとして記憶する関連付けデータの変形サイクル回数及びサイクル進度を示すデータ特定情報を受け付けるデータ特定情報受付手段(又はデータ特定情報受付ユニット)を備え、基準データ記憶手段は、データ特定情報受付手段により受け付けられたデータ特定情報に合致する関連付けデータを記憶するもの(以下「データ特定本試験器」という。)であってもよい。
こうすることで、データ特定情報受付手段がデータ特定情報を受け付ける。データ特定情報は、通常データ及び基準データとして記憶する関連付けデータの変形サイクル回数及びサイクル進度を示すものであり、このデータ特定情報に合致する変形サイクル回数及びサイクル進度に係る関連付けデータを基準データ記憶手段は通常データ又は基準データとして記憶する。これにより記憶する関連付けデータをその変形サイクル回数及びサイクル進度により指定できるので、必要な関連付けデータのみを基準データ記憶手段に効率的に記憶させることができる。
データ特定本試験器においては、変形試験における変形サイクル回数及びサイクル進度がデータ特定情報に合致するか否か判断する撮像判断手段(又は撮像判断ユニット)と、撮像判断手段により変形試験における変形サイクル回数及びサイクル進度がデータ特定情報に合致すると判断される場合には、撮像手段に撮像を命令する撮像命令手段(又は撮像命令ユニット)を備え、撮像命令手段による命令により撮像手段が撮像した撮像データを含む関連付けデータを基準データ記憶手段は記憶するものであってもよい。
撮像判断手段は、変形試験における変形サイクル回数及びサイクル進度がデータ特定情報に合致するか否か判断する。撮像命令手段は、撮像判断手段により変形試験における変形サイクル回数及びサイクル進度がデータ特定情報に合致すると判断される場合には、撮像手段に撮像を命令する(該命令を受けた撮像手段は撮像する)。そして基準データ記憶手段は、撮像命令手段による命令により撮像手段が撮像した撮像データを含む関連付けデータを記憶する。これによって基準データ記憶手段に記憶される撮像データのみを撮像手段が撮像するので、撮像手段の負荷を減少し、基準データ記憶手段が、データ特定情報受付手段により受け付けられたデータ特定情報に合致する関連付けデータを通常データ又は基準データとして記憶することができる。
データ特定本試験器においては、関連付けデータが含む変形動作情報がデータ特定情報に合致するか否か判断する記憶要否判断手段(又は記憶要否判断ユニット)と、記憶要否判断手段により変形動作情報がデータ特定情報に合致すると判断される場合、基準データ記憶手段は該関連付けデータを記憶するものであってもよい。
記憶要否判断手段が、関連付けデータが含む変形動作情報がデータ特定情報に合致するか否か判断する。そして、基準データ記憶手段は、記憶要否判断手段により変形動作情報がデータ特定情報に合致すると判断される場合、該関連付けデータを記憶する。これにより撮像手段への撮像命令等を要することなく(撮像手段との信号のやりとりを簡易化できる)、基準データ記憶手段が、データ特定情報受付手段により受け付けられたデータ特定情報に合致する関連付けデータを通常データ又は基準データとして記憶することができる。
関連付け本試験器においては、試験体に生じる変形が変化するかどうか判断する変形サイクル回数及び/又はサイクル進度を特定する判断対象条件を受け付ける判断対象条件受付手段(又は判断対象条件受付ユニット)を備えてなり、判断対象条件受付手段が受け付けた判断対象条件に合致する変形動作情報を含む関連付けデータが生成されるときは、試験体に生じる変形が変化するかどうか判断するが、判断対象条件に合致しない変形動作情報を含む関連付けデータが生成されるときは判断しないもの(以下「判断対象条件本試験器」という。)であってもよい。
判断対象条件受付手段は判断対象条件を受け付ける。判断対象条件は、試験体に生じる変形が変化するかどうか判断する変形サイクル回数及び/又はサイクル進度を特定するものであり、変形の変化を判断すべき検出撮像データを指定するものである。例えば、判断対象条件は、撮像手段が同一のサイクル進度にて撮像する場合は変形サイクル回数のみで足り、変形サイクル回数を問わず毎回変形の変化を判断するのであればサイクル進度のみで足りるが、変形サイクル回数及びサイクル進度の両方を特定するようにしてもよい。そして、判断対象条件受付手段が受け付けた判断対象条件に合致する変形動作情報を含む関連付けデータが生成されるときは、試験体に生じる変形が変化するかどうか判断するが、判断対象条件に合致しない変形動作情報を含む関連付けデータが生成されるときは判断しないため、不要な判断動作を省略することができる。
判断対象条件本試験器においては、関連付けデータに含まれる変形動作情報が、判断対象条件受付手段が受け付けた判断対象条件に合致するか判断し、合致するか否かを示す要否信号を発生する要否信号発生手段(又は要否信号発生ユニット)を備え、要否信号発生手段が発生する要否信号に従い、試験体に生じる変形が変化するかどうか判断するか否かが決されるもの(以下「要否信号本試験器」という。)であってもよい。
要否信号発生手段が要否信号を発する。要否信号は、関連付けデータに含まれる変形動作情報が、判断対象条件受付手段が受け付けた判断対象条件に合致するか否かを示す信号である。そして、要否信号発生手段が発生する要否信号に従い、試験体に生じる変形が変化するかどうか判断するか否かが決されるので、要否信号発生手段が変形動作情報が判断対象条件に合致するか否かを判断し発する要否信号に基づき判断の有無が確実に決められる。
要否信号本試験器においては、要否信号発生手段は、要否信号を変化検出手段に送信し、変化検出手段は、要否信号に従い、試験体に生じる変形が変化することを検出するか否かを決するものであってもよい。
こうすることで、要否信号発生手段が、要否信号を変化検出手段に送信することで、試験体に生じる変形が基準回数と検出回数との間で変化することを検出する変化検出手段が、該送信された要否信号を確実に受信し、試験体に生じる変形が変化することを検出するか否かを確実に決することができる。
判断対象条件本試験器においては、関連付けデータに含まれる変形動作情報が、判断対象条件受付手段が受け付けた判断対象条件に合致しない場合には、検出回数変形データ算出手段が検出回数変形データを算出しないものであってもよい。
このように関連付けデータに含まれる変形動作情報が判断対象条件に合致しない場合には、検出回数変形データ算出手段が検出回数変形データを算出しないので、検出回数変形データの不要な算出動作を省略することができる。
判断対象条件本試験器においては、関連付けデータに含まれる変形動作情報が、判断対象条件受付手段が受け付けた判断対象条件に合致しない場合には、対象基準データ読み出し手段が基準データ記憶手段から基準データを読み出さないものであってもよい。
このように関連付けデータに含まれる変形動作情報が判断対象条件に合致しない場合には、対象基準データ読み出し手段が基準データ記憶手段から基準データを読み出さないで、対象基準データ読み出し手段の不要の読み出し動作を省略することができる。
本試験器においては、変形サイクルは、試験体を通過する仮想の直線である折り曲げ線の周りに試験体を折り曲げることを繰り返すものであり、撮像手段の撮像方向が折り曲げ線と略平行であってもよい(以下「撮像方向平行本試験器」という。)。
試験体を通過する仮想の直線である折り曲げ線の周りに試験体を折り曲げる変形サイクルを繰り返す変形試験の場合、折り曲げ線と略平行から試験体を観察することで試験体に生じる変形の状況を的確に把握できやすくすることができる。このため撮像手段の撮像方向が折り曲げ線と略平行になるようにすることで、試験体に生じる変形が基準回数と検出回数との間で変化することを確実に検出することができる。なお、撮像手段の撮像方向が折り曲げ線と略平行とは、撮像手段の撮像の光軸が折り曲げ線と同一直線上に存する場合も含み、そのようにすることで変形の変化を的確に検出することができる。
撮像方向平行本試験器においては、試験体が、折り曲げ線を含む主表面を有するフィルム状又はシート状をなすものであってもよい。
フィルム状又はシート状をなす試験体において、フィルム状又はシート状の主表面に折り曲げ線が存するように変形試験を行う場合、撮像手段の撮像方向が折り曲げ線と略平行になるようにすることで、試験体に生じる変形が基準回数と検出回数との間で変化することをうまく検出することができる。また、かかる場合に撮像手段の撮像の光軸が折り曲げ線と同一直線上に存するようにすれば、フィルム状又はシート状をなす試験体の変形の変化を確実に検出することができる。
撮像方向平行本試験器においては、撮像手段とは試験体を挟んで反対方向から折り曲げ線に平行に試験体を照らす照明手段(光源、照明、照明装置等を含む)をさらに備えてなるものであってもよい。
このように照明手段が、撮像手段とは試験体を挟んで反対方向から折り曲げ線に平行に試験体を照らすことで、折り曲げ線と略平行な撮像方向による撮像において試験体に生じる変形が変化することをうまく検出することができる。なお、折り曲げ線に平行に試験体を照らすとは、照明手段の照明方向が折り曲げ線と同一直線上に存する場合も含み、そのようにすることで変形の変化を的確に検出することができる。また、試験体が、折り曲げ線を含む主表面を有するフィルム状又はシート状をなす場合にも、照明手段の照明方向が折り曲げ線と同一直線上に存するようにすることで、フィルム状又はシート状をなす試験体の変形の変化をうまく検出することができる。
本試験器においては、試験体が取り付けられる第1取付面と、第1線分の上に存する第1取付面の縁部である第1縁部と、を有する第1取付板と、試験体が取り付けられる第2取付面と、第2線分の上に存する第2取付面の縁部である第2縁部と、を有する第2取付板と、試験体が架け渡される隙間が第1縁部と第2縁部との間に形成されるように、第1線分と第2線分とが互いに平行で相対的位置を保持しつつ、第1取付板を第2線分に対して相対的に第1線分を中心に回動可能であり、及び/又は、第2取付板を第1線分に対して相対的に第2線分を中心に回動可能であるように、第1取付板と第2取付板とを支持する支持手段(又は支持ユニット)と、第1取付板を第2線分に対して相対的に第1線分を中心に回動させ、及び/又は、第2取付板を第1線分に対して相対的に第2線分を中心に回動させる回動手段(又は回動ユニット)と、を備えてなり、第1取付板を第2線分に対して相対的に第1線分を中心に回動させ、及び/又は、第2取付板を第1線分に対して相対的に第2線分を中心に回動させることで、第1縁部と第2縁部との間に存する試験体の部分を変形させる変形試験において、第1線分と第2線分とを2辺とする仮想上の四角形である対象領域の絶対位置が変化するものであり、対象領域の該絶対位置の変化に関わらず、撮像手段に対する対象領域の相対的位置が、略同じもの(以下「取付板本試験器」という。)であってもよい。
かかる取付板本試験器は、大まかには、第1取付板と、第2取付板と、支持手段と、回動手段と、を備えてなる。
第1取付板は、第1取付面と、第1取付面の縁部である第1縁部と、を有する。第1取付面は、試験体が取り付けられる面であり、例えば、シート状、フィルム状、膜状、板状等のように主表面を有する試験体が、該主表面の一部が第1取付面に接着等によって取り付けられる。第1縁部は、第1取付面の縁部であって第1線分上に存する真っ直ぐな縁である。
第2取付板は、第2取付面と、第2取付面の縁部である第2縁部と、を有する。第2取付面は、試験体が取り付けられる面であり、例えば、シート状、フィルム状、膜状、板状等のように主表面を有する試験体が、該主表面の一部が第2取付面に接着等によって取り付けられる。第2縁部は、第2取付面の縁部であって第2線分上に存する真っ直ぐな縁である。
このような第1取付板の第1取付面と、第2取付板の第2取付面と、に試験体が取り付けられ、第1縁部と第2縁部との間に試験体が架け渡される。
支持手段は、(a)第1取付板を第2線分に対して相対的に第1線分を中心に回動可能であること、(b)第2取付板を第1線分に対して相対的に第2線分を中心に回動可能であること、のうち一方又は両方が満たされるように第1取付板と第2取付板とを支持する。この(a)(b)の一方又は両方の回動を生じても、試験体が架け渡される隙間が第1縁部と第2縁部との間に形成されると共に、第1線分と第2線分とが互いに平行で両線分の相対的位置が保持される。なお、第1線分と第2線分との両線分の相対的位置は、両線分間の距離や、両線分の一方に対する他方の、両線分の平行方向に関する位置(該一方を含む直線に該他方が含まれるように平行移動させた際、該一方に対する該平行移動させた他方の位置)を含む。
回動手段は、(c)第1取付板を第2線分に対して相対的に第1線分を中心に回動させること、(d)第2取付板を第1線分に対して相対的に第2線分を中心に回動させること、のうち一方又は両方を行う。
そして、第1取付板を第2線分に対して相対的に第1線分を中心に回動させ、及び/又は、第2取付板を第1線分に対して相対的に第2線分を中心に回動させることで、第1縁部と第2縁部との間に存する試験体の部分を変形させることで変形試験が行われる。
かかる変形試験において、第1線分と第2線分とを2辺とする仮想上の四角形である対象領域の絶対位置が変化する。しかしながら、この変形試験における対象領域の絶対位置の変化に関わらず、撮像手段に対する対象領域の相対的位置が略同じにされる。
取付板本試験器では、第1取付面と第2取付面とに試験体が取り付けられ、第1取付面の第1縁部と第2取付面の第2縁部との間に試験体が架け渡された状態において、第1縁部を規定する第1線分と、第2縁部を規定する第2線分と、が互いに平行で相対的位置を保持したまま、第1取付板を第2線分に対して相対的に第1線分を中心に回動させ、及び/又は、第2取付板を第1線分に対して相対的に第2線分を中心に回動させることにより、意図した曲げを試験体が生じる以外の力(例えば、試験体が不意に不均一に曲がる力、試験体を引っぱる力や圧縮する力)が試験体に加わることを防止又は減少させることができると共に、第1縁部と第2縁部との距離が極小(理論的には0に限りなく近づけることができる。)になるまで両縁部を容易に近接させることができるので、試験体をどのような小さな曲げ半径であっても曲げたり延ばしたりを繰り返して試験することができる。
そして、撮像手段から見て、対象領域(第1縁部と第2縁部との間に存する試験体の部分(変形を生じる部分)が対象領域の近くに存在する。)の相対的位置(距離、方向)が略同じに保たれるので、変形試験における対象領域の絶対位置が変化しても、第1縁部と第2縁部との間に存する試験体の部分に対する撮像手段の相対的な位置(距離、方向)がほぼ同じに保たれることから、撮像手段よって試験体に生じる変形の状況をうまく撮影することができ、基準回数と検出回数との間で変形が変化することをうまく検出することができる。
取付板本試験器においては、撮像手段が、絶対位置が変化する第1縁部及び/又は第2縁部に取り付けられるもの(以下「縁部取付本試験器」という。)であってもよい。
このように撮像手段を、絶対位置が変化する第1縁部及び/又は第2縁部に取り付けるという簡単な構成によって、第1線分と第2線分とを2辺とする対象領域の絶対位置変化に合わせて撮像手段の絶対位置を変化させ、撮像手段に対する対象領域の相対的位置を略同じに保つことができる。なお、絶対位置が変化する第1縁部及び/又は第2縁部への撮像手段の取付は、直接的(他の物を介することなく取り付ける)及び間接的(他の物を介して取り付ける)のいずれであってもよい。
縁部取付本試験器においては、支持手段は、第1線分が含まれる第1直線の周りに回動可能に第1取付板が直接的又は間接的に取り付けられると共に、第2線分が含まれる第2直線の周りに回動可能に第2取付板が直接的又は間接的に取り付けられ、第1直線と第2直線との間の距離を一定に保持する両縁部位置関係保持部材を有し、撮像手段が、両縁部位置関係保持部材に取り付けられるものであってもよい。
支持手段は、試験体が架け渡される隙間が第1縁部と第2縁部との間に形成されるように、第1線分と第2線分とが互いに平行で相対的位置を保持しつつ、第1取付板を第2線分に対して相対的に第1線分を中心に回動可能であり、及び/又は、第2取付板を第1線分に対して相対的に第2線分を中心に回動可能であるように、第1取付板と第2取付板とを支持するものであるが、支持手段は両縁部位置関係保持部材を有するようにしてもよい。即ち、両縁部位置関係保持部材は、第1取付板及び第2取付板が直接的又は間接的に取り付けられるが、第1取付板に対し第1直線(第1線分を含む)の周りに回動可能に第1取付板が直接的又は間接的に取り付けられると共に、第2取付板に対し第2直線(第2線分を含む)の周りに回動可能に第2取付板が直接的又は間接的に取り付けられる。そして、両縁部位置関係保持部材は、第1取付板に対する回動可能な軸である第1直線と、第2取付板に対する回動可能な軸である第2直線と、の間の距離を一定に保持する。かかる両縁部位置関係保持部材を支持手段が有することで、支持手段を簡単に構成することができる。
そして、撮像手段が、第1線分及び第2線分と共に動く両縁部位置関係保持部材に取り付けられることで、第1線分と第2線分とを2辺とする対象領域の絶対位置変化に合わせて撮像手段の絶対位置をうまく変化させて、撮像手段に対する対象領域の相対的位置を略同じに保つことができる。なお、撮像手段の両縁部位置関係保持部材への取付は、直接的(他の物を介することなく取り付ける)及び間接的(他の物を介して取り付ける)のいずれであってもよい。
本発明に係る変形試験器(本試験器)を示す斜視図である。 本試験器を示す別の斜視図である。 本試験器の左側面図である。 本試験器の平面図である。 本試験器の背面図である。 本試験器から撮影部を取り外した第1部分の斜視図である。 本試験器から撮影部を取り外した第1部分の別の斜視図である。 本試験器から撮影部を取り外した第1部分の左側面図である。 本試験器から撮影部を取り外した第1部分の平面図である。 本試験器から撮影部を取り外した第1部分の背面図である。 駆動部、ガイドレール、一方支持軸部、一方試験片取付部、駆動軸、他方試験片取付部及びリンク部の拡大斜視図である。 図11の状態から駆動軸が時計回り方向に回動したところを示す図である。 図12の状態から駆動軸が時計回り方向に回動したところを示す図である。 図13に示した状態の試験器本体を示す斜視図である。 図11に示したものに撮影部を取り付けたところを示す図である。 図12に示したものに撮影部を取り付けたところを示す図である。 図13に示したものに撮影部を取り付けたところを示す図である。 図14に示したものに撮影部を取り付けたところを示す図である。 カメラが撮像した画像の一例を模式的に示す図である。 制御部のハードウエア構成を示す概略ブロック図である。 第1実施形態の制御部の機能ブロック図である。 第1実施形態の制御部の動作を示すフローチャートである。 第1実施形態の制御部の動作を示すフローチャートである。 第1実施形態の制御部の動作を示すフローチャートである。 第1実施形態及び第2実施形態の制御部の動作を示すフローチャートである。 図19(c)の試験片の詳細を示す図である。 図26Aの試験片の外縁を示す方程式を導出する方法を説明する図である。 第1実施形態の制御部の動作を示すフローチャートである。 第1実施形態及び第2実施形態の制御部の動作を示すフローチャートである。 第2実施形態の制御部の機能ブロック図である。 第2実施形態の制御部の動作を示すフローチャートである。 第2実施形態の制御部の動作を示すフローチャートである。 第2実施形態の制御部の動作を示すフローチャートである。 本試験器により試験を実施した場合の結果の例を示すグラフである。
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。しかしながら、これらによって本発明は何ら制限されるものではない。
図1は、本発明に係る変形試験器(本試験器)1を示す斜視図であり、図2は、本試験器1を示す別の斜視図(図1中の矢印A方向から見たところを示している。)であり、図3は、本試験器1の左側面図(図1中の矢印B方向から見たところを示している。)であり、図4は、本試験器1の平面図(図1中の矢印C方向から見たところを示している。)であり、図5は、本試験器1の背面図(図3中の矢印D方向から見たところを示している。)である。図1乃至図5を参照して、本試験器1について説明する。本試験器1は、試験器本体11と、試験器本体11を制御するための制御部201と、試験器本体11にて試験される試験片(不図示)を撮影する撮影部301と、含んでなり、大まかには、試験器本体11は、試験片(不図示)を繰り返し折り曲げることで耐久性を試験するための装置であり、撮影部301は、試験器本体11にて試験される試験片(不図示)の繰り返し折り曲げられる部分を撮影するためのものであり、そして制御部201は、所定の条件により試験片(不図示)を繰り返し折り曲げて耐久性を試験するように試験器本体11を制御すると共に、撮影部301により撮像された撮像データを解析するものである。
まず、試験器本体11について説明する。試験器本体11の理解を容易にするため、本試験器1から撮影部301を取り外したもの(以下「第1部分」という。)3の斜視図を図6(図1と同様の方向から見たところを示している。)に示し、図7は、第1部分3を示す別の斜視図(図2と同様の方向から見たところを示している。)であり、図8は、第1部分3の左側面図(図3と同様の方向から見たところを示している。)であり、図9は、第1部分3の平面図(図4と同様の方向から見たところを示している。)であり、図10は、第1部分3の背面図(図5と同様の方向から見たところを示している。)である。そして、図11は、後述する駆動部61、ガイドレール31b、一方支持軸部41、一方試験片取付部51、駆動軸73、他方試験片取付部81及びリンク部91を拡大して示す拡大斜視図である。図6乃至図11を参照して、試験器本体11について説明する。
説明及び理解を容易にするため、互いに直交する3軸であるX軸、Y軸及びZ軸を用い(これら3軸の方向を図中にX、Y及びZとして示す。)、Z軸に垂直な平面をXY面といい、X軸に垂直な平面をYZ面といい、Y軸に垂直な平面をXZ面という。
試験器本体11は、特開2019-39743号公報(特許文献6)において開示された「第1本試験器11」と同様の構成を有している。
試験器本体11は、大まかには、中空の直方体形状をなすフレーム部21と、フレーム部21の上面に取り付けられたガイドレール31a、31b(Y軸方向に延びる。)と、Y軸方向にスライド自在にガイドレール31a、31bに取り付けられた一方支持軸部41と、一方支持軸部41が有する一方支持軸43に取り付けられた一方試験片取付部51と、フレーム部21の右側面に固定された駆動部61と、フレーム部21に対して回動自在に支持される駆動軸73と、駆動軸73に回動不可能に取り付けられた他方試験片取付部81と、一方試験片取付部51を回動させるリンク部91と、を含んでなる。
フレーム部21は、直方体の一面に沿った天板部23(両主表面が長方形を略なす平板部材(一部に切り欠きが形成されている)により形成されている。)と、該直方体の辺に沿った棒状部材により形成された棒状部25と、を有し、天板部23がフレーム部21の上面を形成している。フレーム部21が形成する該直方体の辺それぞれは、X軸、Y軸及びZ軸のいずれかに平行に配置され、フレーム部21は十分な強度を有するようここでは金属によって形成されている。
ガイドレール31a、31bは、いずれもY軸に平行になるようにかつ同一のXY面に属するようにフレーム部21の天板部23の上面23aに固定されている。
一方支持軸部41は、Y軸方向にスライド自在にガイドレール31aに取り付けられたスライド部45aと、Y軸方向にスライド自在にガイドレール31bに取り付けられたスライド部45bと、スライド部45aとスライド部45bとに回転自在に支持された一方支持軸43(X軸に長手方向が平行な丸棒により形成されている。)と、を有してなる。これにより一方支持軸43は、長手方向がX軸に平行な状態を保ちつつ、XY面に沿ってY軸方向に自由に移動することができる。
一方試験片取付部51は、一方支持軸43に回動不可能に取り付けられた取付部53aと、取付部53aとは離れて一方支持軸43に回動不可能に取り付けられた取付部53bと、取付部53aと取付部53bとに両側が取り付けられた一方取付板55と、を有してなる。
一方取付板55は、両主表面が同じ長方形状をなしており、該両主表面の一方である上面55aの4の縁部のうちの1の縁部55ae(該4の縁部のX軸に平行な2の縁部のもののうち、後述の試験片の折り曲げ部分に近い方の縁部)は、一方試験片取付部51が一方支持軸43の回動に伴って回動しても、X軸に常に平行な状態が保たれる。
駆動部61は、フレーム部21の右側面に固定され、駆動軸73の基端が取り付けられている。駆動部61は、モーター及び変速機を内部に含んでおり、後述の如く、制御部201の指示に従い、所定の回動角度、回動速度及び回動回数により駆動軸73をその中心軸の周りに正逆に回動させる。これによって所望の折り曲げ角度、折り曲げ速度及び折り曲げ回数によって後述の試験片の折り曲げ試験を行うことができる。
駆動軸73は、丸棒により形成されており、その丸棒の中心軸がX軸に平行な状態でフレーム部21に対して回動自在に支持されている。駆動軸73を構成する該丸棒は直円柱形状をなし、該直円柱の中心軸の周りに該丸棒は回動される。
そして、前述の如く、駆動軸73の基端が駆動部61に取り付けられることで、駆動軸73は、所定の回動角度、回動速度及び回動回数によりその中心軸の周りに正逆に回動する。
他方試験片取付部81は、駆動軸73に回動不可能に取り付けられた取付部83aと、取付部83aとは離れて駆動軸73に回動不可能に取り付けられた取付部83bと、取付部83aと取付部83bとに両側が取り付けられた他方取付板85と、を有してなる。
他方取付板85は、両主表面が同じ長方形状をなしており、該両主表面の一方である上面85aの4の縁部のうちの1の縁部85ae(該4の縁部のX軸に平行な2の縁部のもののうち、試験片の折り曲げ部分に近い方の縁部)は、他方試験片取付部81が駆動軸73の回動に伴って回動しても、X軸に常に平行な状態が保たれる。
なお、他方試験片取付部81の駆動軸73の周りの所定の回動位置(図1~図11)における上面85aと、一方試験片取付部51の一方支持軸43の周りの所定の回動位置(図1~図11)における上面55aと、は、XY面に平行(z軸に垂直)な一平面に属するよう位置している。
また、上面85a及び上面55aには、シート状又はフィルム状の試験片が、試験片の主表面が接着されることにより取り付けられる。
リンク部91は、フレーム部21に対して回動自在に支持されたリンク軸92(真っ直ぐな丸棒により形成され、その中心軸がX軸に平行に支持されている)と、リンク軸92に一端が回動不可能に取り付けられたアングル部材93と、駆動軸73に回動不可能に取り付けられたブロック97aと、一方支持軸43に回動不可能に取り付けられたブロック98aと、アングル部材93の他端に一端が回動可能(x軸の周りに回動可能)に取り付けられると共に他端がブロック97a、98aに回動可能(ブロック97aの回動中心と縁部85aeとは、x軸に平行な同一の直線上に存する。ブロック98aの回動中心と縁部55aeとは、x軸に平行な同一の直線上に存する。)に取り付けられた連結部材94と、リンク軸92に一端が回動不可能に取り付けられたアングル部材95と、駆動軸73に回動不可能に取り付けられたブロック97bと、一方支持軸43に回動不可能に取り付けられたブロック98bと、アングル部材95の他端に一端が回動可能(x軸の周りに回動可能)に取り付けられると共に他端がブロック97b、98bに回動可能(ブロック97bの回動中心と縁部85aeとブロック97aの回動中心とは、x軸に平行な同一の直線上に存する。ブロック98bの回動中心と縁部55aeとブロック98aの回動中心とは、x軸に平行な同一の直線上に存する。)に取り付けられた連結部材96と、を有してなる。特許文献6(The entire contents of Japanese patent application unexamined publication No. 2019-39743 are incorporated herein by reference.)にもリンク機構に関する記述がある。
このように連結部材94及び連結部材96はいずれも、縁部85aeが含まれる直線に含まれる回動軸の周りに回動自在にブロック97a、97bに取り付けられると共に、縁部55aeが含まれる直線に含まれる回動軸の周りに回動自在にブロック98a、98bに取り付けられており、駆動軸73の回動に伴ってブロック97a、97bが回動すると、縁部85aeと縁部55aeとの間の距離は一定かつ縁部85aeと縁部55aeとの間は平行のまま、一方取付板55も回動する。駆動軸73の回動に伴って他方取付板85が回動しても、連結部材94、96の長手方向はZ軸に平行に保たれ、縁部55aeと縁部85aeとを含む平面は常にZ軸に対して垂直に保たれる(縁部55aeと縁部85aeとを含む平面は、他方取付板85の回動によって平行移動する。なお、縁部55aeと縁部85aeとは、同じXY面に常に存する。)。
なお、この一方取付板55の回動に従って、一方支持軸部41はガイドレール31a、31bに沿ってスライド移動する。
試験器本体11の動作について、主として図11、図12、図13及び図14を用いて説明する。図12及び図13は、既に説明した図11と同様の構成要素を図11と同様の方向から見たところを示しており、図11の状態から駆動軸73が図中で時計回り方向に回動したところを示している。また、図14は、図13に示した状態の試験器本体11を、図6と同様の方向から見たところを示している。
まず、図11の状態においては、他方取付板85の上面85aと一方取付板55の上面55aとは、Z軸に垂直な同一平面にほぼ属しており、上面85aと上面55aとに接着され取り付けられる試験片(フィルム状。図示を省略している。)は平面に沿った真っ直ぐな状態になっている。
図11の状態から、駆動部61によって駆動軸73をその中心軸の周りに正方向(図11、図12及び図13において時計回り方向をいう。)に回動させると、駆動軸73に回動不可能に取り付けられた取付部83a、83bと共に他方取付板85も駆動軸73の周りに正方向に回動する。これと共に、ブロック97a、97bも正方向に回動し、これにより連結部材94、96はその長手方向がZ軸に平行な状態を保ちつつ図12のように押し下げられる(リンク軸92も正方向に回動する。)。そして、この連結部材94、96の押し下げにより、ブロック98a、98bが逆方向に回動し、一方支持軸43が逆方向に回動することで、一方試験片取付部51が一方支持軸43の周りに逆方向に回動し、一方支持軸部41(スライド部45a、45b、一方支持軸43)はガイドレール31a、31bに沿ってY軸と平行に他方試験片取付部81に近づくように移動する(連結部材94、96により、縁部85aeと縁部55aeとの間の距離は一定かつ縁部85aeと縁部55aeとの間は平行に保たれる。)。
このような駆動部61による駆動軸73の正方向への回動により、他方試験片取付部81(取付部83a、83b、他方取付板85)の駆動軸73周りの正方向への回動と、一方試験片取付部51(取付部53a、53b、一方取付板55)の一方支持軸43周りの逆方向への回動と、を生じる。この3つの回動において、縁部85aeと縁部55aeとの間の距離は一定に保たれると共に縁部85aeと縁部55aeとは平行に保たれ、さらに一方試験片取付部51は駆動軸73に近づく方向にY軸と平行に移動する。
駆動軸73の正方向への回動は、図11の状態から図12の状態を経由して図13の状態(図13の状態では、他方取付板85の上面85aと一方取付板55の上面55aとが互いに面した状態で略平行になっている。)に至るまで回動する(図13の状態で該回動は停止する。)。図13の状態においては、他方取付板85の上面85aと一方取付板55の上面55aとに接着されて取り付けられた試験片(図示を省略している)が折り畳まれた状態になる。
試験片を折り畳んだ図13の状態から、駆動部61によって駆動軸73を逆方向(図13において反時計回り方向)に回動させる。これにより図12の状態を経由して図11の状態に戻る。このように、図11の状態(試験片は平らな状態)から駆動軸73を正方向へ回動させて図13の状態(試験片は折り畳まれた状態)とし、その後、図13の状態から駆動軸73を逆方向へ回動させて図11の状態に戻すことで(1の変形サイクル)、試験片は平らな状態から折り畳まれて再び平らな状態に戻るため、試験片を1回折り畳む試験を行うことができる。このような駆動軸73の正逆の回動を交互に行うことで、試験片を複数折り畳む折り畳み試験を行うことができる。
このような試験片の折り畳み試験においては、特開2019-39743号公報における図8のように、縁部85ae、55aeは、常に平行でありその間の距離Kが一定に保たれると共に、Z軸に垂直な一平面に属する。また、試験片の折り畳み試験において、縁部85ae、55aeからの距離が等しくY軸に垂直な平面Pに対して、上面85aと上面55aとは常に面対称になっている。そして、試験器本体11は、特開2019-39743号公報における段落番号0038~0039及び図8に記載のような特徴を有する。
以上のように、試験器本体11は、特開2019-39743号公報において開示された「第1本試験器11」と同様の構成を有しているが、特開2019-39743号公報において開示された「第2実施形態に係る変形試験器(第2本試験器)211」のような構成とすることもできる。
続いて、本試験器1のうち撮影部301について、前述の図1~5、15~18を参照して詳しく説明する。図15は、図11に示したものに撮影部301を取り付けたものを示し(図11と同様の方向から見たところを示している。)、図16は、図12に示したものに撮影部301を取り付けたものを示し(図12と同様の方向から見たところを示している。)、図17は、図13に示したものに撮影部301を取り付けたものを示し(図13と同様の方向から見たところを示している。)、そして図18は、図14に示したものに撮影部301を取り付けたものを示している(図14と同様の方向から見たところを示している。)。これら図1~5、15~18においては、既に用いた参照番号が指す要素と同じ要素には同じ参照番号を付すことで、重複する説明を省略する。
撮影部301は、大まかには、連結部材94、96に取り付けられた支持部311と、支持部311に取り付けられた照明支持部341と、照明支持部341に取り付けられた照明部351と、支持部311に取り付けられたカメラ支持部361と、カメラ支持部361に取り付けられたカメラ381と、を含んでなる。
支持部311は、Z軸方向に長手方向が平行に略なるように基端が連結部材94に取り付けられた第1支柱321(棒状部材からなる。)と、Z軸方向に長手方向が平行に略なるように基端が連結部材96に取り付けられた第2支柱322(棒状部材からなる。)と、長手方向がX軸方向に平行に略なるように第1支柱321と第2支柱322との間に取り付けられた棒状部材からなる取付部材323(板状部材をX軸に平行な直線に沿って折り曲げて形成されている。)と、を有してなる。
かかる支持部311は、連結部材94、96に取り付けられているので、上述の試験片の折り畳み試験において連結部材94、96がZ軸方向に往復動すると、連結部材94、96の往復動と一緒にZ軸方向に往復動する。
照明支持部341は、支持部311の取付部材323のうち一端側(ここでは第2支柱322に取り付けられている端に近い側)に取り付けられており(x軸方向に細長く形成された取付スリット323hに取り付けられている。)、詳細には、上端が取付部材323にX軸方向に移動可能に取り付けられた第1部分342と、第1部分342に対してZ軸方向に移動可能に取り付けられた第2部分343と、を含んでなり、第2部分343に後述の照明部351が取り付けられる。第1部分342上端は、X軸方向に沿って細長く取付部材323に形成された取付スリット323h(特に図2及び図4参照)に沿って移動可能であると共に、第1部分342に対する第2部分343のZ軸方向の位置を調節することによって、照明部351のX軸方向及びZ軸方向の位置を調節することができる(好適な位置に調節後、第1部分342上端のX軸方向位置及び第2部分343のZ軸方向位置を固定する。)。
照明部351は、ここではオプテックス・エフエー株式会社製の「OPF-S27X27B-PS」(青色(470nm)、狭指向角タイプ、3cm角)を用いており、後述のカメラ381の方向に向かって(主としてX軸方向に沿って)可視光を照射し、他方取付板85の上面85aと一方取付板55の上面55aとに取り付けられた試験片(不図示)を照らす。なお、照明部351としては、試験片(不図示)の変形試験において試験片(不図示)の状態を所望程度に把握することができるようカメラ381の撮像を可能とする照明であればよく、試験片(不図示)の寸法や形状等、変形試験の内容等に応じ、これ以外のものを種々用いることができることは言うまでもない。例えば、(暗室中等の暗い所で)ストロボのようなもので短時間に照射することにより、シャープな静止像を(断続的に)得ることもできる。
カメラ支持部361は、支持部311の取付部材323のうち他端側(ここでは第1支柱321に取り付けられている端に近い側)に取り付けられており(取付スリット323hに取り付けられている。)、詳細には、取付部材323の取付スリット323hに沿ってX軸方向に移動可能に取付部材323に取り付けられた第1部362と、第1部362に対してZ軸方向に移動可能に取り付けられた第2部363と、第2部363に対してY軸方向に移動可能に取り付けられた第3部364と、第3部364に対してZ軸と平行な軸の周りに回動可能に取り付けられた第4部365と、を含んでなり、第4部365にカメラ381が取り付けられている。
このようなカメラ支持部361に取り付けられたカメラ381は、X軸方向(取付スリット323hに沿った第1部362の位置調整)、Y軸方向(第2部363に対する第3部364の位置調整)、Z軸方向(第1部362に対する第2部363の位置調整)及びZ軸と平行な軸の周りの回動位置(第3部364に対する第4部365の回動位置調整)を自由に調整できる(これらを好適な位置に調節後、固定する。)。
カメラ381は、カメラ支持部361の第4部365に取り付けられており、折り畳み試験に供されている試験片(不図示)をX軸に平行な方向から撮影し、その撮影画像データを制御部201に送信する。なお、ここではカメラ381としては、IDS Imaging Development Systems GmbH社製の「UI-3480ML-M-GL」(4.92 メガピクセル CMOS センサー搭載USBカメラ)に、株式会社ミュートロン社製の「FV-2020」(低歪みを特徴とするレンズ)を装着したものを用いている。そして、カメラ381としては、試験片(不図示)の変形試験において試験片(不図示)の状態を所望程度に把握することができるように撮像が可能なものであればよく、試験片(不図示)の寸法や形状等、変形試験の内容等に応じ、これ以外のものを種々用いることができることは言うまでもない。例えば、カメラ381の選択基準としては、画角(カメラの撮像イメージの縦横の実際のサイズ)、撮像距離(ワーキングディスタンス)及び解像度等を含んでもよい。この画角は、試験片(不図示)のどの範囲を撮像するか等に応じて適宜決定されることができるが、試験片(不図示)の曲げの先端部分(縁部85ae、55aeの中間部分)のみを撮像する場合であれば、縦横10~20mm程度の画角としてもよい。この撮像距離は、カメラに装着したレンズの先端から、被写体(試験片)までの距離をいい、レンズの鏡筒(長さ)を十分に長くできると、歪みが少なく、画像処理に都合の良い撮像ができる反面、レンズが高額や大形(配置スペースが大きくなる)になる問題があるので、これらを両立するようにしてもよい。この解像度は、カメラで撮像される画像の解像度であり、撮像画像の画像処理に応じた解像度を選択することができ、通常、試験片(不図示)の輪郭を抽出するような画像処理を用いる場合であれば高い解像度としてもよく、試験片(不図示)の概形を用いる場合であればそれほど高い解像度を要さない。
図19(a)から(c)に、カメラ381が撮像した画像の例を模式的(撮像した画像のうち、一方取付板55と、他方取付板85と、上面85a及び上面55aに取り付けられた試験片101と、を示し、それ以外のものの図示を省略している。)に示す。詳細には、図19(a)は図15の状態においてカメラ381が撮影した画像を示し、図19(b)は図16の状態においてカメラ381が撮影した画像を示し、そして図19(c)は図17の状態においてカメラ381が撮影した画像を示している。フィルム状の試験片101が、その一主表面が平面に沿っている際に、該一主表面に存する互いに平行な両直線に平行に縁部55ae、85aeが存在するように、試験片101は上面85a及び上面55aに接着され取り付けられている。そして、上面85aと上面55aとに取り付けられた試験片101は、互いに平行でありかつ距離が一定の縁部85ae、55aeを中心に平面P(縁部85ae、55aeからの距離が等しくY軸に垂直な平面。図19(a)参照。)に面対称に回動する2の上面85a、55aの間で折り曲げられる。この図19の(a)→(b)→(c)→(b)→(a)の動作によって、試験片101の折り曲げ試験の1サイクル(1の変形サイクル)が実行される。尚、この図から分かるように、折り曲げられることにより縁部55aeと縁部85aeとの間に架け渡された試験片101の部分が変形し、側面視において後述する曲率(又は曲率半径)を構成する。この変形により、平面P近傍において、最大の曲率(又は曲率半径)が生じやすいと考えられる。
ここに試験片101の繰り返し折り曲げられる部分(縁部55aeと縁部85aeとの間に架け渡された部分)の位置は、縁部55ae、85aeの移動に合わせて移動する。そして、縁部55ae、85aeは、連結部材94、96の移動と同じように移動するものであるので、連結部材94、96に取り付けられた撮影部301は、試験片101の折り畳み試験のいずれの状態(例えば、図15、図16及び図17のいずれの状態)においても、縁部55ae、85aeに対する相対的位置が同じに保たれる。これによって、撮影部301に含まれるカメラ381から、縁部55aeと縁部85aeとの間に架け渡された試験片101の部分の相対的な位置はほぼ同じに保たれることから、縁部55aeと縁部85aeとの間に架け渡され繰り返し折り曲げられる試験片101の部分の状態を、折り畳み試験のいずれの状態においてもカメラ381により安定的に画質よく撮影できる。なお、カメラ381の撮影の方向(光軸)は、縁部85ae、55aeからの距離が等しくかつ該距離が最短となるX軸に平行な直線上に存する。なお、試験片101の折り曲げられる部分が、縁部55ae、85aeを超えたところで、試験片101が取り付けられる上面55a及び上面85aを超えてはみ出さないように取り付けることができる。はみ出す場合は、試験片101の一部が縁部55ae、85aeのそれぞれの角部に当接するおそれがある。
次いで、制御部201について説明するが、制御部201は第1実施形態(第1実施形態の制御部201)と第2実施形態(第2実施形態の制御部201a)とを別々に説明する。
(第1実施形態)
まず、第1実施形態の制御部201について説明する。制御部201は、試験片101の折り曲げ試験を行うべく上述の試験器本体11を制御すると共に、撮影部301のカメラ381により撮像された撮像データを解析する。
図20は、制御部201のハードウエア構成を示す概略ブロック図である。図20を参照して、制御部201のハードウエア構成について説明する。第1実施形態の制御部201は、プログラムを内蔵させたコンピュータと、それに接続された入出力ユーザIF213(例えば、タッチパッド)及び大容量の記憶装置であるSSD(Solid State Drive)219とを含んでなる。該コンピュータは、演算処理を行うCPU210a、CPU210aの作業領域等となるRAM210b、制御プログラム等を記録するROM210c及び情報のやり取りを行うためのインターフェイス210dを含んでなり、情報のやり取りを行うためのインターフェイス210dを介して、情報を入出力するためのタッチパッド等のユーザ入出力インターフェース213と、情報等を記憶するための大容量のSSD219と、が接続されている。そして、制御部201は、カメラ381及び駆動部61と自由にデータを送受信できる。
図21に、図20のハードウエアと主としてROM210cに記録されるプログラムにより実現される制御部201の機能ブロック図を示す。制御部201は、機能的には、指示入力部251、試験条件受付部253、記録条件受付部255、比較条件受付部257、試験器制御部259、画像受付部261、現画像形状認識部263、現画像曲率半径算出部265、現画像最小曲率半径特定部267、両形状比較部269、画像記憶部271(RAM210b及びSSD219を含んでなる。)、基準画像形状認識部275、基準画像曲率半径算出部277、基準画像最小曲率半径特定部279を含んでなる。また、入出力ユーザIF213を含んでもよい。
図22に示すように、本試験器1が起動されると(START)、指示入力部251は入出力ユーザIF213に試験条件を入力する画面を表示する(s501)。試験条件を入力する画面には、上限折り曲げ回数、最小折り曲げ角度、最大折り曲げ角度、折り曲げ速度、撮像実施有無、撮像用折り曲げ角度及び試験片の厚みの各項目が入力可能になっている。上限折り曲げ回数は、上面55aと上面85aの間に架け渡された試験片101が折り曲げ試験される最大回数である(上述した例では、図19の(a)→(b)→(c)→(b)→(a)の1の変形サイクルを実行する最大の回数に相当する。)。最小折り曲げ角度及び最大折り曲げ角度は、1回の折り曲げサイクルにおける上面55aが属する平面と、上面85aが属する平面と、がなす角度の最小値と最大値をいい、例えば、上述した図19の(a)→(b)→(c)→(b)→(a)の1の折り曲げサイクルでは、最小折り曲げ角度は0度であり、最大折り曲げ角度は180度である。折り曲げ速度は、1分間で行う折り曲げサイクル数である(なお、カメラ381の撮像と折り曲げ動作とが同期できるように、カメラ381の撮像間隔(周波数)と折り曲げ速度とは設定され得る。)。撮像実施有無は、折り曲げ試験を行う中で撮像を行うか否かを示し、撮像実施有無を「無」と選択した場合は、その他の試験条件の指定に従い、単に折り曲げ試験を行う。撮像用折り曲げ角度は、試験器の曲げ角度(上面55aが属する平面と、上面85aが属する平面と、がなす角度)を何度変更するごとに画像を撮影するかを示す。試験片厚みは、折り曲げ試験を行う試験片101の厚み(単位:マイクロメートル(μm))を示す。本試験器1の使用者(不図示)は、入出力ユーザIF213を操作することで、かかる試験条件を入力することができる。
s501の後、指示入力部251は試験条件(上述の全項目)が入力されたか否か判断し(s503)、s503にて入力されたと判断しない場合(NO)には再びs503に戻る。入力されたと判断した場合(YES)、指示入力部251は、該入力された試験条件を記憶すると共に、該入力された試験条件に含まれる「撮像実施有無」を判断し(s505)、撮像実施が「有」と判断した場合(YES)は、指示入力部251は入出力ユーザIF213に記録条件を入力する画面を表示する(s507)。s505にて撮像実施が「有」と判断しない場合(NO)は、s515へ行く(試験条件を試験条件受付部253に送信し、試験条件受付部253に記憶させる。)。
制御部201は、折り曲げ試験が行われつつある試験片101のカメラ381により撮影される画像データ(現画像)を、それ以前にカメラ381により撮影された所定の画像データ(基準画像)と比較し、それらの間に生じる差異を検出し、駆動部61を停止(試験器本体11を制御)させるものである。制御部201は、この現画像と比較するのに用いる画像の候補(以下「記録画像」という。)を画像記憶部271に記憶する。この記録画像を撮像する条件が、記録条件であり、具体的には、折り曲げサイクルにおいて撮像する試験器の曲げ角度(上面55aが属する平面と、上面85aが属する平面と、がなす角度)の範囲(具体的には、該範囲の最小角度と最大角度とを指定する。)、撮像を開始する折り曲げサイクル回数(折り曲げ試験開始から数えて、撮像開始時の折り曲げサイクル回数)、そして撮像を実施する折り曲げサイクルの間隔(撮像開始・終了から数えて、次の撮像開始時の折り曲げサイクル回数)を指定するものである。従って、s507にて表示される入出力ユーザIF213の画面には、折り曲げサイクルにおいて撮像する試験器の曲げ角度の範囲の最小角度及び最大角度と、撮像開始の折り曲げサイクル回数と、撮像を実施する折り曲げサイクル数の間隔(例えば、周期)と、が入力可能になっている。例えば、折り曲げサイクルにおいて撮像する試験器の曲げ角度の範囲の最小角度を30度とすると共に最大角度を120度とし、撮像開始の折り曲げサイクル回数を50回とし、撮像を実施する折り曲げサイクル数の間隔を10回とすると、折り曲げ試験を開始して折り曲げサイクルが第50回目の折り曲げサイクル中の試験器の曲げ角度30~120度の範囲において撮像され、その次は折り曲げ試験開始から数えて折り曲げサイクルが第60回目の折り曲げサイクル中の試験器の曲げ角度30~120度の範囲において撮像される。
s507の後、指示入力部251は記録条件が入力されたか否か判断し(s509)、入力されたと判断した場合(YES)、指示入力部251は入出力ユーザIF213に比較条件を入力する画面を表示する(s511)。s509にて入力されたと判断しない場合(NO)にはs509に戻る。比較条件は、折り曲げ試験が行われつつある試験片101のカメラ381により撮影される画像データ(現画像)と比較する、それ以前にカメラ381により撮影された画像データ(基準画像)を特定する条件と、この基準画像と現画像とを比較するタイミングを特定する条件と、を含む。従って、s511にて表示される入出力ユーザIF213の画面には、(a)何度目の折り曲げサイクル回数(折り曲げサイクルを開始して何度目の折り曲げサイクルであるかを示す。)の動作中に撮影された画像を基準画像とするかを示す折り曲げサイクル回数と、(b)基準画像と現画像との比較タイミングを示す試験器の最小折り曲げ角度と最大折り曲げ角度と、(c)比較周期と、が入力可能になっている。この(a)基準画像とする折り曲げサイクル回数は、撮像が行われる折り曲げサイクル回数から選択する必要があるので、記録条件として入力された「撮像を開始する折り曲げサイクル回数」及び「撮像を実施する折り曲げサイクルの間隔」に基づいて決定される撮像が行われる折り曲げサイクル回数のうちから選択される。例えば、「撮像開始時の折り曲げサイクル回数」が第50回目で、「撮像を再実施する迄の折り曲げサイクルの間隔」が10回であれば、撮像が行われる折り曲げサイクル回数は第50回目、第60回目、第70回目、第80回目・・・・であるので、これらのいずれか(例えば第60回目)を指定することができる。また、(b)基準画像と現画像との比較タイミングを示す試験器の最小折り曲げ角度と最大折り曲げ角度とは、記録条件として入力された試験器の曲げ角度の範囲内において範囲を指定するものであり、具体的には、該指定する範囲の最小角度及び最大角度を指定する(例えば、記録条件として入力された試験器の曲げ角度が最小角度10度及び最大角度170度であれば、比較条件の最小角度及び最大角度として20度、160度と指定することが可能であるが、5度や175度とすることはできない。)。(c)比較周期は、比較を行う折り曲げサイクルの間隔であり、記録条件として入力された撮像を実施する折り曲げサイクル数の間隔の定数倍のものを指定することができる(例えば、記録条件で折り曲げサイクル数の間隔が10回と指定されていれば、比較条件として折り曲げサイクル数の間隔を20回とすることは可能であるが、15回とすることはできない。)。このため、比較条件を入力する画面には、s509にて入力されたと判断された記録条件である撮像の開始時の折り曲げサイクル回数、撮像する試験器の曲げ角度の範囲の最小角度、最大角度及び撮像を実施する折り曲げサイクルの間隔が比較条件設定可能範囲の基準として表示される。
s511の後、指示入力部251は比較条件が入力されたか否か判断し(s513)、入力されたと判断した場合(YES)、指示入力部251は、これまでに入力された各条件を送信する(s515)。具体的には、指示入力部251は、試験条件を試験条件受付部253に送信し記憶させ、記録条件を記録条件受付部255に送信し記憶させ、そして比較条件を比較条件受付部257に送信し記憶させる。s513にて入力されたと判断しない場合(NO)にはs513に戻る。
図23に示すように、指示入力部251から試験条件を受信した試験条件受付部253は、該受信した試験条件を記憶する(s521)と共に、試験器制御部259に試験条件を送信する(s523)。
また、指示入力部251から記録条件を受信した記録条件受付部255は、該受信した記録条件を記憶する(s525)と共に、試験器制御部259に記録条件を送信する(s527)。
試験器制御部259は、試験器が記録条件(撮像する試験器の曲げ角度の範囲、撮像の開始時の折り曲げサイクル回数、撮像の再実施時の折り曲げサイクルの間隔)で指定された動作状態にあるか否かを判断し(s529)、指定の動作状態にあると判断した場合(YES)は、カメラ381に対して撮像を開始する信号を送信し(s531)、s531にて信号を送信してから所定の時間(通常、s531にて信号を送信してからカメラ381が撮像を完了するまでの時間とする。例えば、s531にて信号を送信してからカメラ381が撮像を完了するまでの時間が0.1秒であれば、0.1秒前後をここの所定の時間とすればよい。)が経過したか否かを判断し(s533)、s531の信号送信から所定の時間が経過したと判断した場合(YES)には後述のs535へ行く。s533にてs531の信号送信から所定の時間が経過したと判断しない場合(NO)にはs533へ戻る。s529にて指定の動作状態にあると判断しない場合(NO)にはs535へ行く。なお、s533は、上述の「s531の信号送信から所定の時間が経過したか否か」に換えて「カメラ381による撮像が完了したか」(例えば、試験器制御部259が、カメラ381の撮像を完了したことを電気的に検知できるように、カメラ381と試験器制御部259との間で信号を送受信できるようにしてもよい。)の判断としてもよい。
s535では、試験器制御部259は、両形状比較部269からの停止信号(後述する)を受信したか否か判断し(s535)、停止信号を受信したと判断しない場合(NO)は、試験器制御部259は、試験器の折り曲げサイクルの合計回数(折り曲げ試験が開始されてから実施された折り曲げサイクルの回数)が、試験条件で指定された上限折り曲げ回数に達しているか否かを判断する(s537)。s537にて、試験器制御部259が、折り曲げ回数が上限折り曲げ回数に達していないと判断した場合(NO)には、試験条件受付部253からs523にて送信された試験条件に従って駆動部61を動作させる(試験器制御部259は、試験条件の撮像用折り曲げ角度だけ変化するように駆動部61を動作させる。試験器制御部259はモータドライバを含む。)と共に、試験器制御部259は、駆動部61の動作情報を画像受付部261へ送信する(s545。上述の通り、ここでは試験器制御部259は、試験条件の撮像用折り曲げ角度だけ変化するように駆動部61を動作させるので、試験器の折り曲げ角度が試験条件の撮像用折り曲げ角度だけ変化するたびに動作情報が画像受付部261へ送信される。)。この動作情報には、試験器の折り曲げサイクル回数(試験片101の折り曲げ試験を開始してから何回目の折り曲げサイクル動作中であるか(例えば、第1624回目))と、試験器の曲げ角度と、が含まれる。
試験器制御部259が、s537にて試験器の折り曲げ回数が上限折り曲げ回数に達していると判断した場合(YES)は、試験機を停止させる(s547)。
試験器制御部259が、s535にて両形状比較部269からの停止信号を受信したと判断した場合(YES)、停止信号と関係付けられて両形状比較部269から送信される現画像における最小曲率半径rm1、基準画像における最小曲率半径rm2と、試験片の厚みhから、下記の式1及び式2により、現画像における表面の最大歪み量em1、基準画像における表面の最大歪み量em2を算出する(s539)(これらrm1及びrm2については後述する。)。
(式1)em1=h/(2×rm1)
(式2)em2=h/(2×rm2)
試験器制御部259は、ここで求めたem1及びem2と、「停止信号受信」との文言と、その時点までの折り曲げ回数と、を入出力ユーザIF213に表示させる指示を指示入力部251に行い(s541)、このs541の指示を受けて入出力ユーザIF213はこれらを表示する(s543)。その後、試験器制御部259は駆動部61の動作を停止させる(s547)。
一方、カメラ381は、試験器制御部259からのs531において発せられた撮像開始指示に応じて、折り曲げ試験中の試験片101を撮影し、その撮影画像データを画像受付部261へ送信する。画像受付部261は、図24に示すように、カメラ381からの画像データを受信したか否か判断し(s551)、画像データを受信したと判断した場合(YES)、s545にて試験器制御部259から送信された動作情報(試験器の折り曲げサイクル回数、試験器の曲げ角度)を受信したか否か判断する(s553)。画像受付部261は、s553にて動作情報を受信したと判断した場合(YES)、カメラ381からの画像データと、試験器制御部259から受信した動作情報(サイクル回数、折り曲げ角度)と、を関連付けた情報付記画像データを生成し(s555)、該生成した情報付記画像データを現画像形状認識部263及び画像記憶部271に並列的に送信する(s557)。s557の後、s551に戻る。s551にて画像データを受信したと判断しない場合(NO)、s551に戻る。s553にて動作情報を受信したと判断しない場合(NO)、s553に戻る。
現画像形状認識部263は、図25に示すように、画像受付部261から情報付記画像データを受信したか否か判断し(s561)、情報付記画像データを受信したと判断した場合(YES)は、後述する画像記憶部271から送信される比較有効性信号が「有効」であるか否かを判断し(s563)、「有効」であると判断した場合(YES)は、情報付記画像データに含まれる撮影画像における試験片101の外縁を示す方程式(又は近似式(例えば、n次多項式(nは正の整数を含む実数)))を導出する(s565)。
図26A及び図26Bは、この方程式を導出する方法を簡単に示す図であり、図26Aは、前述の図19の(c)を例として詳示している。撮影画像における所定方向にy軸及びz軸(両軸は互いに直交する)をとり、画像処理を用いて、図26Bにおける実線で示したように試験片101の外縁101c(試験片101の曲がっている外側の縁)を示す曲線101dに存するy座標及びz座標の対を抽出する。なお、撮影画像の鮮鋭度、背景との信号レベルの差異、S/Nなどに応じて、試験片101の内縁101f(試験片101の曲がっている内側の縁)を示す曲線101g(図26B中の点線)に存するy座標及びz座標の対を抽出するようにしてもよいし、試験片101の厚み方向での中心部(即ち、曲線101dと曲線101gとの中間)に存するy座標及びz座標の対を抽出するようにしてもよい。そして、試験片101の外縁101cを示す曲線101dに存するy座標及びz座標の対で示される点群から曲線101dを近似する曲線(yの多項式)を導き出すが、かかる処理は、いわゆるカーブフィッティングと呼ばれ、例えば最小2乗法が使用される。この処理は公知の技術であるのでここでは説明を省略する。s561にて情報付記画像データを受信したと判断しない場合(NO)は、s561に戻る。s563にて比較有効性信号が「有効」と判断しない場合(NO)は、s561に戻る。
s565にて方程式を導出した現画像形状認識部263は、該方程式を現画像曲率半径算出部265に送信する(s567)。
s567にて現画像形状認識部263から送信された前記方程式を受信した現画像曲率半径算出部265は、図25に示すように、該方程式上に存する位置における曲率半径を求める(s569)。具体的には、該方程式の一端(y座標が小さい方)と他端(y座標が大きい方)との間をy座標で所定の分解能で等分に分割する該方程式上に存する点における曲率半径を算出するが、かかる曲率半径の算出方法は、例えば微分法を用いて行う。該方程式をfとするとき、座標yでの曲率半径rは、次の式3により算出できる。
(式3)r=(1+f’(y)^2)^1.5/ABS(f’’(y))
ただし、式3中にて、f’は関数fの1次微分、f’’は関数fの2次微分、そしてABS(a)は、aの絶対値を示している。
現画像曲率半径算出部265は、このようにして算出した(y1、r1)、(y2、r2)、(y3、r3)・・・・・(yn、rn)(但しnは自然数)のようにy座標(y)とその位置の曲率半径(r)とを互いに関連付けた曲率半径情報を現画像最小曲率半径特定部267に送信する(s571)。ここで曲率半径を算出するy座標(y1からyn)は、画像に含まれる全範囲としてもよいし、折り曲げ時の曲げの中心部分に当たるy座標の周辺に限定してもよい。
s571にて現画像曲率半径算出部265から送信された曲率半径情報を受信した現画像最小曲率半径特定部267は、曲率半径情報(y1、r1)、(y2、r2)、(y3、r3)・・・・・(yn、rn)のうち曲率半径rが最も小さいものを特定する(s573)。そして、現画像最小曲率半径特定部267は、曲率半径が最も小さい(ym、rm)(但しmは自然数)を最大の歪みが生じている位置情報として両形状比較部269に送信する(s575)。s575の後、s561に戻る。
一方、画像記憶部271は、図27に示すように、s557にて画像受付部261から送信された情報付記画像データを受信したか否か判断し(s581)、情報付記画像データを受信したと判断した場合(YES)には、s515にて指示入力部251から比較条件受付部257に送信し記憶されている比較条件((a)何度目の折り曲げサイクル回数の動作中に撮影された画像を基準画像とするかを示す折り曲げサイクル回数、(b)基準画像と現画像との比較タイミングを示す試験器の最小折り曲げ角度と最大折り曲げ角度、(c)比較周期)を比較条件受付部257から読み出し取得し、該受信した情報付記画像データに含まれる動作情報(試験器の折り曲げサイクル回数、試験器の曲げ角度)の折り曲げサイクル回数が、該読み出し取得した比較条件のうちの(a)折り曲げサイクル回数に合致するか否か判断し(s583)、両方の折り曲げサイクル回数が一致すると判断した場合(YES)は、画像記憶部271は、s581にて受信したと判断した情報付記画像データを基準画像として記憶し(s585)、「無効」の比較有効性信号を生成し(s593)それを両形状比較部269及び現画像形状認識部263に並列的に送信し(s597)、s581に戻る。一方、s583にて両方の折り曲げサイクル回数が一致すると判断しない場合(NO)には、画像記憶部271は、s581にて受信したと判断した情報付記画像データを通常画像として記録する(s587)。s587の後、該受信した情報付記画像データに含まれる動作情報(試験器の折り曲げサイクル回数、試験器の曲げ角度)が、比較条件受付部257から読み出し取得した比較条件に基づき決定される比較すべき折り曲げサイクル回数(例えば、(a)何度目の折り曲げサイクル回数の動作中に撮影された画像を基準画像とするかを示す折り曲げサイクル回数が60回で、(c)比較周期が10回であれば、比較すべき折り曲げサイクル回数は、70回(=60+10)、80回、90回、100回、110回・・・・である。)及び(b)試験器の最小折り曲げ角度と最大折り曲げ角度に合致するかどうか判断し(s589)、含まれると判断する場合(YES)は「有効」の比較有効性信号を生成し(s591)、それを両形状比較部269及び現画像形状認識部263に並列的に送信する(s592)。s589にて含まれると判断しない場合(NO)は、s593へ行く。
s592の後、画像記憶部271は、自らが記録している基準画像データのうち、該受信した情報付記画像データの動作情報(試験器の折り曲げサイクル回数、試験器の曲げ角度)に含まれる曲げ角度と同じ折り曲げ角度を有する基準画像データを読み出し基準画像形状認識部275に送信する(s595)。
s581にて情報付記画像データを受信したと判断しない場合(NO)には、s581に戻る。
s595にて画像記憶部271から送信された基準画像データを受信した基準画像形状認識部275は、該基準画像データに含まれる試験片101の外縁を示す方程式を導出する(s599)。なお、このs599の動作は、前述のs565と同様であるので、ここでは説明を省略する。
s599にて方程式を導出した基準画像形状認識部275は、該方程式を基準画像曲率半径算出部277に送信する(s601)。該送信された方程式は基準画像曲率半径算出部277にて記憶される。
s601にて基準画像形状認識部275から送信された前記方程式を受信した基準画像曲率半径算出部277は前述のs569と同様に、所定の範囲の座標yに対する曲率半径を算出する(s603)。
基準画像曲率半径算出部277は、このようにして算出した(y1、r1)、(y2、r2)、(y3、r3)・・・・・(yn、rn)(但しnは自然数)のようにy座標(y)とその位置の曲率半径(r)とを互いに関連付けた曲率半径情報を基準画像最小曲率半径特定部279に送信する(s605)。
曲率半径情報を受信した基準画像最小曲率半径特定部279は、前述のs573における現画像最小曲率半径特定部267と同様、基準画像曲率半径算出部277が算出した曲率半径のうちの最小値を特定する(s607)。
基準画像最小曲率半径特定部279はs607にて特定した最小曲率半径とそのときの座標yとを両形状比較部269に送信する(s609)。そして、s609の後、s581に戻る。
両形状比較部269は、図28に示す通り、s592及びs597にて画像記憶部271から送信される比較有効性信号が「有効」を示すものか否か判断し(s611)、有効を示す信号を受信したと判断した場合(YES)、s575にて現画像最小曲率半径特定部267から送信される(ym、rm)を受信したか否か判断する(s613)。s613にて(ym、rm)を受信したと判断した場合(YES)には、s609にて基準画像最小曲率半径特定部279から送信される基準画像最小曲率半径情報(ym、rm)を受信したか否か判断し(s615)、基準画像最小曲率半径情報(ym、rm)を受信したと判断した場合(YES)には、s617へ行く。以下、説明を容易にするため、現画像最小曲率半径特定部267からs575にて送信される(ym、rm)を(ym1、rm1)とし、基準画像最小曲率半径特定部279からs609にて送信される(ym、rm)を(ym2、rm2)として説明する。s617では、rm1がrm2の所定倍率以下か否か判断する。具体的には、rm1が、予め定められている倍率zとrm2とを乗じた値(z×rm2)以下か否か判断する。なお、zは0以上1以下の値として定められるものであるが、あまり小さいと曲率半径の変化をうまく検出できず、あまり大きいと検出不要な場合を誤って検出することになるので、これらを両立する範囲とされてもよい。どの程度の表面の歪み量の変化を検出する必要があるかは、試験対象の特性や用途等により様々であるが、通常、zは好ましくは0.1以上、より好ましくは0.2以上、最も好ましくは0.3以上、そして好ましくは0.9以下、好ましくは0.8以下、最も好ましくは0.7以下である。
s617にてrm1が(z×rm2)以下と判断した場合(YES)には、両形状比較部269は、試験器制御部259に、(ym1、rm1)及び(ym2、rm2)と、停止信号と、を関連付けて送信する(s619)。s619にて両形状比較部269から発せられた停止信号を受信した試験器制御部259は、前述の通り、曲率半径rm1、rm2から表面の最大歪み量em1、em2を算出し(s539)、em1及びem2と、「停止信号受信」との文言と、その時点までの折り曲げ回数と、を入出力ユーザIF213に表示させる指示を指示入力部251に行い(s541)、駆動部61の動作を停止させる(s547)。
s611にて比較有効性信号が「有効」を示すものと判断しない場合(NO)は、s611に戻る。s613にて(ym、rm)を受信したと判断しない場合(NO)には、s613に戻る。s615にて(ym、rm)を受信したと判断しない場合(NO)にはs615に戻る。s617にてrm1が(z×rm2)以下と判断しない場合(NO)にはs611に戻る。
以上説明のように、第1実施形態の制御部201を有する本試験器1は、各回で試験体(ここでは試験片101)に同じ変形を生じさせると想定される変形サイクル(例えば、図19の(a)→(b)→(c)→(b)→(a))を複数回実施する変形試験を行うと共に、試験体(試験片101)に生じる変形が変形サイクルの実施回数の増加に伴い変化することを検出する変形試験器であって、試験体(試験片101)を撮像した撮像データを生成する撮像手段(ここではカメラ381)と、試験体(試験片101)に生じる変形の基準とする変形サイクルの実施回数である基準回数(比較条件として入力される(a)何度目の折り曲げサイクル回数の動作中に撮影された画像を基準画像とするかを示す折り曲げサイクル回数)において撮像手段(カメラ381)が試験体(試験片101)を撮像した基準撮像データ又は基準撮像データに基づいて算出される基準回数における試験体(試験片101)の変形状態を示す基準回数変形データである基準データ(ここでは基準撮像データ)を記憶する基準データ記憶手段(ここでは画像記憶部271)と、基準撮像データに基づいて基準回数変形データ(ここではs607にて特定する最小曲率半径)を算出する基準回数変形データ算出手段(ここでは基準画像形状認識部275、基準画像曲率半径算出部277、基準画像最小曲率半径特定部279)と、基準回数よりも多い実施回数である検出回数において試験体(試験片101)を撮像した検出撮像データ(現画像)に基づいて検出回数における試験体(試験片101)の変形状態を示す検出回数変形データ(s573にて特定する最小曲率半径)を算出する検出回数変形データ算出手段(ここでは現画像形状認識部263、現画像曲率半径算出部265、現画像最小曲率半径特定部267)と、基準回数変形データ及び検出回数変形データに基づき、試験体(試験片101)に生じる変形が基準回数と検出回数との間で変化することを検出する変化検出手段(ここでは両形状比較部269)と、を備えてなる、変形試験器である。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、基準回数変形データ算出手段(基準画像形状認識部275、基準画像曲率半径算出部277、基準画像最小曲率半径特定部279)が、基準撮像データに基づき試験体(試験片101)の形状を示す数式である基準数式(s599にて導出される方程式)を導出する基準数式導出手段(基準画像形状認識部275)と、基準数式導出手段(基準画像形状認識部275)により導出された基準数式に基づき試験体(試験片101)の少なくとも2以上の部分における変形度合を示す基準変形度合(前述の(y1、r1)、(y2、r2)、(y3、r3)・・・・・(yn、rn))を算出する基準変形度合算出手段(基準画像曲率半径算出部277)と、基準変形度合算出手段(基準画像曲率半径算出部277)により算出される少なくとも2以上の基準変形度合から変形度合が最も大きいと判断されるものを基準回数変形データとして選択する基準変形度合選択手段(基準画像最小曲率半径特定部279)と、を有してなる。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、検出回数変形データ算出手段(現画像形状認識部263、現画像曲率半径算出部265、現画像最小曲率半径特定部267)が、検出撮像データ(現画像)に基づき試験体(試験片101)の形状を示す数式である検出数式(s565にて導出される方程式)を導出する検出数式導出手段(現画像形状認識部263)と、検出数式導出手段(現画像形状認識部263)により導出された検出数式に基づき試験体(試験片101)の少なくとも2以上の部分における変形度合を示す検出変形度合(前述の(y1、r1)、(y2、r2)、(y3、r3)・・・・・(yn、rn))を算出する検出変形度合算出手段(現画像曲率半径算出部265)と、検出変形度合算出手段(現画像曲率半径算出部265)により算出される少なくとも2以上の検出変形度合から変形度合が最も大きいと判断されるものを検出回数変形データとして選択する検出変形度合選択手段(現画像最小曲率半径特定部267)と、を有してなる。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、検出回数変形データ(rm1)及び基準回数変形データ(rm2)が、試験体(試験片101)の形状を示す曲率半径である。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、変化検出手段(両形状比較部269)は、検出回数変形データ(rm1)と基準回数変形データ(rm2)との一方(rm2)に対する他方(rm1)の割合(rm1/rm2)である変化割合により、試験体(試験片101)に生じる変形が基準回数と検出回数との間で変化することを検出するものである。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、前記一方(rm2)に所定の値zを乗じた値(z×rm2)又は前記一方から所定の値を除した値と、前記他方(rm1)と、の大小により、試験体(試験片101)に生じる変形が基準回数と検出回数との間で変化することを検出するものである。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、変化検出手段(両形状比較部269)が、試験体(試験片101)に生じる変形が基準回数と検出回数との間で変化することを検出する場合(s617にてrm1が(z×rm2)以下と判断する場合(YES))、変形試験を中止するものである(s535にて両形状比較部269からの停止信号を受信すると、s539、s541、s543を経てs547に至る。)。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、撮像手段(カメラ381)は、1の変形サイクル内における経過度合であるサイクル進度(ここでは変形サイクルのうち現在の状況がどの程度進んでいるかを示す度合として、変形サイクルにおける試験体の変形を示す試験器の曲げ角度(上面55aが属する平面と、上面85aが属する平面と、がなす角度)を用いる。)が、同一又は異なるサイクルにおいて異なる撮像タイミングで撮像するものであり、基準データ記憶手段(画像記憶部271)は、基準データ(ここでは基準撮像データ)を該基準データに係る撮像時のサイクル進度(試験器の曲げ角度)である基準撮像サイクル進度と関連付けて記憶し、検出撮像データに係る撮像のサイクル進度である検出撮像サイクル進度と同じか又は最も近い基準撮像サイクル進度と関連付けられた基準データを基準データ記憶手段(画像記憶部271)から読み出す対象基準データ読み出し手段(ここではs595における画像記憶部271)を備え、変化検出手段(両形状比較部269)が、対象基準データ読み出し手段(s595における画像記憶部271)により読み出される基準データに基づく基準回数変形データ(基準撮像データ)に基づき検出するものである。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、撮像手段(カメラ381)が撮像する撮像データと、変形試験における変形サイクル回数及びサイクル進度(試験器の曲げ角度)を含む該撮像時に係る変形動作情報(試験器の折り曲げサイクル回数と、試験器の曲げ角度と、を含む動作情報)と、を関連付けた関連付けデータ(s555にて生成される情報付記画像データ)を生成する関連付けデータ生成手段(画像受付部261)を有し、基準データ記憶手段(画像記憶部271)は、関連付けデータ生成手段(画像受付部261)が生成した関連付けデータ(情報付記画像データ)に含まれるサイクル進度(試験器の曲げ角度)を基準撮像サイクル進度として該関連付けデータ(情報付記画像データ)を記憶するものである。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、基準データ記憶手段(画像記憶部271)は、関連付けデータ生成手段(画像受付部261)が生成した関連付けデータ(情報付記画像データ)のうち、該関連付けデータ(情報付記画像データ)が含む変形サイクル回数(試験器の折り曲げサイクル回数)が基準回数と同じ場合には関連付けデータ(情報付記画像データ)を基準データとして記憶するものである。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、基準データ記憶手段(画像記憶部271)は、関連付けデータ生成手段(画像受付部261)が生成した関連付けデータ(情報付記画像データ)のうち、該関連付けデータ(情報付記画像データ)が含む変形サイクル回数(試験器の折り曲げサイクル回数)が基準回数と異なる場合には関連付けデータ(情報付記画像データ)を通常データとして記憶するものである。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、通常データ及び基準データとして記憶する関連付けデータ(情報付記画像データ)の変形サイクル回数及びサイクル進度(試験器の曲げ角度)を示すデータ特定情報(ここでは記録条件)を受け付けるデータ特定情報受付手段(ここでは指示入力部251及び記録条件受付部255を含んでなる。)を備え、基準データ記憶手段(画像記憶部271)は、データ特定情報受付手段(指示入力部251、記録条件受付部255)により受け付けられたデータ特定情報(記録条件)に合致する関連付けデータ(情報付記画像データ)を記憶するものである。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、変形試験における変形サイクル回数及びサイクル進度(試験器の曲げ角度)がデータ特定情報(記録条件)に合致するか否か判断する撮像判断手段(s529における試験器制御部259)と、撮像判断手段(s529における試験器制御部259)により変形試験における変形サイクル回数及びサイクル進度(試験器の曲げ角度)がデータ特定情報(記録条件)に合致すると判断される場合には、撮像手段(カメラ381)に撮像を命令する撮像命令手段(s531における試験器制御部259)を備え、撮像命令手段(s531における試験器制御部259)による命令により撮像手段(カメラ381)が撮像した撮像データを含む関連付けデータ(情報付記画像データ)を基準データ記憶手段(画像記憶部271)は記憶するものである。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、試験体(試験片101)に生じる変形が変化するかどうか判断する変形サイクル回数及びサイクル進度(試験器の曲げ角度)を特定する判断対象条件(比較条件)を受け付ける判断対象条件受付手段(ここでは指示入力部251及び比較条件受付部257を含んでなる。)を備えてなり、判断対象条件受付手段(指示入力部251、比較条件受付部257)が受け付けた判断対象条件(比較条件)に合致する変形動作情報(動作情報)を含む関連付けデータ(情報付記画像データ)が生成されるときは、試験体(試験片101)に生じる変形が変化するかどうか判断するが、判断対象条件(比較条件)に合致しない変形動作情報(動作情報)を含む関連付けデータ(情報付記画像データ)が生成されるときは判断しないものである。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、関連付けデータ(情報付記画像データ)に含まれる変形動作情報(動作情報)が、判断対象条件受付手段(指示入力部251、比較条件受付部257)が受け付けた判断対象条件(比較条件)に合致するか判断し、合致するか否かを示す要否信号(比較有効性信号)を発生する要否信号発生手段(s591及びs593における画像記憶部271)を備え、要否信号発生手段(s591及びs593における画像記憶部271)が発生する要否信号(比較有効性信号)に従い、試験体(試験片101)に生じる変形が変化するかどうか判断するか否かが決されるものである。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、要否信号発生手段(s591及びs593における画像記憶部271)は、要否信号(比較有効性信号)を変化検出手段(両形状比較部269)に送信し、変化検出手段(両形状比較部269)は、要否信号(比較有効性信号)に従い、試験体(試験片101)に生じる変形が変化することを検出するか否かを決するものである。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、関連付けデータ(情報付記画像データ)に含まれる変形動作情報(動作情報)が、判断対象条件受付手段(指示入力部251、比較条件受付部257)が受け付けた判断対象条件(比較条件)に合致しない場合には、検出回数変形データ算出手段(現画像形状認識部263、現画像曲率半径算出部265、現画像最小曲率半径特定部267)が検出回数変形データ(s573にて特定する最小曲率半径)を算出しないものである。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、関連付けデータ(情報付記画像データ)に含まれる変形動作情報(動作情報)が、判断対象条件受付手段(指示入力部251、比較条件受付部257)が受け付けた判断対象条件(比較条件)に合致しない場合には、対象基準データ読み出し手段(s595における画像記憶部271)が基準データ記憶手段(画像記憶部271)から基準データを読み出さないものである。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、変形サイクルは、試験体(試験片101)を通過する仮想の直線である折り曲げ線(図19(a)において平面Pと試験体(試験片101)の主表面との交線)の周りに試験体(試験片101)を折り曲げることを繰り返すものであり、撮像手段(カメラ381)の撮像方向が折り曲げ線と略平行である。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、試験体(試験片101)が、折り曲げ線を含む主表面を有するフィルム状又はシート状をなすものである。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、撮像手段(カメラ381)とは試験体(試験片101)を挟んで反対方向から折り曲げ線に平行に試験体(試験片101)を照らす照明手段(照明部351)をさらに備えてなるものである。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、試験体(ここでは試験片101)が取り付けられる第1取付面(ここでは上面85a)と、第1線分(縁部85aeが存する線分)の上に存する第1取付面(上面85a)の縁部である第1縁部(縁部85ae)と、を有する第1取付板(ここでは他方取付板85)と、試験体(試験片101)が取り付けられる第2取付面(ここでは上面55a)と、第2線分(縁部55aeが存する線分)の上に存する第2取付面(上面55a)の縁部である第2縁部(縁部55ae)と、を有する第2取付板(一方取付板55)と、試験体(試験片101)が架け渡される隙間が第1縁部(縁部85ae)と第2縁部(縁部55ae)との間に形成されるように、第1線分と第2線分とが互いに平行で相対的位置を保持しつつ、第1取付板(他方取付板85)を第2線分に対して相対的に第1線分を中心に回動可能であり、及び第2取付板(一方取付板55)を第1線分に対して相対的に第2線分を中心に回動可能であるように、第1取付板(他方取付板85)と第2取付板(一方取付板55)とを支持する支持手段(ここではガイドレール31a、31b、スライド部45a、45b、一方支持軸43、取付部53a、53b、駆動軸73、取付部83a、83b、連結部材94、96を含んで構成されている。)と、第1取付板(他方取付板85)を第2線分に対して相対的に第1線分を中心に回動させ、及び第2取付板(一方取付板55)を第1線分に対して相対的に第2線分を中心に回動させる回動手段(ここでは駆動部61、駆動軸73、ブロック97a、97b、ブロック98a、98b、連結部材94、96、リンク軸92、アングル部材93、95を含んで構成されている。)と、を備えてなり、第1取付板(他方取付板85)を第2線分に対して相対的に第1線分を中心に回動させ、及び/又は、第2取付板(一方取付板55)を第1線分に対して相対的に第2線分を中心に回動させることで、第1縁部(縁部85ae)と第2縁部(縁部55ae)との間に存する試験体(試験片101)の部分を変形させる変形試験において、第1線分と第2線分とを2辺とする仮想上の四角形である対象領域の絶対位置が変化するものであり、対象領域の該絶対位置の変化に関わらず、撮像手段(カメラ381)に対する対象領域の相対的位置が、略同じである。ここで、第2線分/第1線分に対して相対的にとは、第2線分/第1線分の上から見た場合の意味であってもよい。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、撮像手段(カメラ381)が、絶対位置が変化する第1縁部(縁部85ae)及び/又は第2縁部(縁部55ae)に取り付けられるものである(ここでは間接的に取り付けられている。)。
第1実施形態の制御部201を有する本試験器1においては、支持手段(ガイドレール31a、31b、スライド部45a、45b、一方支持軸43、取付部53a、53b、駆動軸73、取付部83a、83b、連結部材94、96)は、第1線分が含まれる第1直線の周りに回動可能に第1取付板(他方取付板85)が直接的又は間接的に取り付けられると共に、第2線分が含まれる第2直線の周りに回動可能に第2取付板(一方取付板55)が直接的又は間接的に取り付けられ、第1直線と第2直線との間の距離を一定に保持する両縁部位置関係保持部材(連結部材94、96)を有し、撮像手段(カメラ381)が、両縁部位置関係保持部材(連結部材94、96)に取り付けられるものである(ここでは間接的に取り付けられている。)。
以上述べてきた第1実施形態と同様な実施形態として、次のように述べることもできる。即ち、板状又はフィルム状の試験体に対して変形サイクルを複数回実施する変形試験において、試験体の未固定の変形対象部を挟んだ両側を固定する一方及び他方取付板と、前記変形サイクルにより前記取付板を回動させて変形対象部を一方向に曲げ・戻すように前記取付板を駆動する駆動部と、前記変形対象部を常に視野に入れることができるように前記一方及び他方取付板と連動するように固定される撮像装置と、駆動部及び撮像装置を制御する制御部と、を備え、前記撮像装置は、前記一方向に対して実質的に垂直な方向から前記試験体の変形対象部の実質的な側面を撮像することができ、前記制御部は、プロセッサ(例えば、CPU)と、記憶装置(例えば、RAM、ROM、SSD、HD等)と、周辺装置とのインターフェイスと、入出力装置と、を含み、前記プロセッサは、変形サイクルを開始する命令を駆動装置に送信し、第1の所定条件下で撮像装置により撮像された像を基準像と比較し、両像が所定差異以上に異なるか否かを判断し、異なると判断した場合に駆動装置に変形サイクルを停止する命令を送信する。ここで、第1の所定条件は、予め決められたサイクル数であってもよく、より詳しくは、、予め決められたサイクル数であって図19の(a)→(b)→(c)→(b)→(a)の間の所定の状態(例えば、図19(b)の状態。所定の折り曲げ角度等。)であってもよい。また、駆動部への変形サイクル命令又は駆動部からの変形サイクル情報に基づいて、撮像を行う場合は、撮像タイミングにずれ(遅延又は先行)が生じるおそれがあるので適宜調整を行ってもよい。前記基準像は、試験前に予め撮像された又は第1の所定条件の前に撮像された前記試験体の変形対象部の実質的な側面であってもよく、基準として予め設定された像であってもよい。所定差異は、前記変形対象部の実質的な側面から得られる最小曲率半径であってもよい。曲率半径は、撮像データから近似式を得て求めてもよく、撮像データのスムージングを十分に行った後で測定結果(スムージング後のデータ)から求めてもよい。撮像分解能以上の範囲の1か所に対する最小曲率半径であってもよく、撮像分解能以上の範囲の複数個所の最小を含む複数の曲率半径から求めてもよい。
(第2実施形態)
第2実施形態の制御部201aについて説明する。制御部201a(図1の制御部201と同様)は、第1実施形態の制御部201と同様に、試験片101の折り曲げ試験を行うべく上述の試験器本体11を制御すると共に、撮影部301のカメラ381a(図1のカメラ381と同様)により撮像された撮像データを解析する。
第2実施形態の制御部201aのハードウエア構成は、前述の第1実施形態の制御部201と同様であるので、ここでは説明を省略する。
図29に制御部201aの機能ブロック図を示す。制御部201aは、機能的には、指示入力部251、試験条件受付部253、記録条件受付部255、比較条件受付部257、試験器制御部259a、画像受付部261a、現画像形状認識部263、現画像曲率半径算出部265、現画像最小曲率半径特定部267、両形状比較部269、画像記憶部271a(RAM210b及びSSD219を含んでなる。)、基準画像形状認識部275、基準画像曲率半径算出部277、基準画像最小曲率半径特定部279を含んでなる。
まず、第1実施形態の制御部201について図22に示されたのと同様の動作を制御部201aも行う。以下、図22を参照しつつ、制御部201aについても簡単に説明する(詳細は前述のものを参照されたい。)。
図22に示すように、本試験器1が起動されると(スタート)、指示入力部251は入出力ユーザIF213に試験条件を入力する画面を表示する(s501)。試験条件を入力する画面には、上限折り曲げ回数、最小折り曲げ角度、最大折り曲げ角度、折り曲げ速度、撮像実施有無、撮像用折り曲げ角度及び試験片の厚みの各項目が入力可能になっている。本試験器1の使用者(不図示)は、入出力ユーザIF213を操作することで、かかる試験条件を入力することができる。
s501の後、指示入力部251は試験条件(上述の全項目)が入力されたか否か判断し(s503)、s503にて入力されたと判断しない場合(NO)には再びs503に戻る。入力されたと判断した場合(YES)、指示入力部251は、該入力された試験条件を記憶すると共に、撮像実施の有無を判断し(s505)、撮像実施が「有」と判断した場合(YES)は、指示入力部251は入出力ユーザIF213に記録条件を入力する画面を表示する(s507)。s505にて撮像実施が「有」と判断しない場合(NO)は、s515へ行く(試験条件を試験条件受付部253に送信し、試験条件受付部253に記憶させる。)。
前述の第1実施形態においては、カメラ381の撮像は記録条件にしたがって試験器動作と同期する形で試験器制御部259によって制御されるため、撮像された画像はすべて記録されるが、後述のように第2実施形態においては、カメラ381aの撮像は、試験器動作とは非同期で、カメラ独自のタイミングで行われるため、撮影された画像の中から、記録条件で指定された条件に合致する画像のみが記録される。
s507にて表示される入出力ユーザIF213の画面には、カメラ381が記憶している所定のタイミングにより撮像された画像のうち制御部201aが記憶する画像の試験器の曲げ角度の範囲の最小角度及び最大角度、記憶を開始する折り曲げサイクル回数(折り曲げサイクルを開始して何度目の折り曲げサイクルから記憶するか)、そして記憶する折り曲げサイクルの間隔(記憶開始する折り曲げサイクルの後、何回の折り曲げサイクル毎に記憶するか(周期))が入力可能になっている。
s507の後、指示入力部251は記録条件が入力されたか否か判断し(s509)、入力されたと判断した場合(YES)、指示入力部251は入出力ユーザIF213に比較条件を入力する画面を表示する(s511)。s509にて入力されたと判断しない場合(NO)にはs509に戻る。s511にて表示される入出力ユーザIF213の画面には、(a)何度目の折り曲げサイクル回数(折り曲げサイクルを開始して何度目の折り曲げサイクルであるかを示す。)の動作中に撮影された画像を基準画像とするかを示す折り曲げサイクル回数と、(b)基準画像と現画像との比較タイミングを示す試験器の最小折り曲げ角度と最大折り曲げ角度と、(c)比較周期と、が入力可能になっている。この(a)基準画像とする折り曲げサイクル回数は、記録が行われる折り曲げサイクル回数から選択する必要があるので、記録条件として入力された「記憶を開始する折り曲げサイクル回数」及び「記憶する折り曲げサイクルの間隔(周期)」に基づいて決定される記録が行われる折り曲げサイクル回数のうちから選択される。例えば、「記憶を開始する折り曲げサイクル回数」が第50回目で、「記憶する折り曲げサイクルの間隔(周期)」が10回であれば、記録が行われる折り曲げサイクル回数は第50回目、第60回目、第70回目、第80回目・・・・であるので、これらのいずれか(例えば第60回目)を(a)基準画像とする折り曲げサイクル回数として指定することができる。この(b)基準画像と現画像との比較タイミングを示す試験器の最小折り曲げ角度と最大折り曲げ角度は、記録条件として入力された試験器の曲げ角度の範囲内において範囲を指定するものであり、(c)比較周期は、比較を行う折り曲げサイクルの間隔であり、記録条件として入力された記録する折り曲げサイクル数の間隔の定数倍のものを指定することができる。
s511の後、指示入力部251は比較条件が入力されたか否か判断し(s513)、入力されたと判断した場合(YES)、指示入力部251は、これまでに入力された各条件を送信する(s515)。具体的には、指示入力部251は、試験条件を試験条件受付部253に送信し記憶させ、記録条件を記録条件受付部255に送信し記憶させ、そして比較条件を比較条件受付部257に送信し記憶させる。s513にて入力されたと判断しない場合(NO)にはs513に戻る。
図30に示すように、指示入力部251から試験条件を受信した試験条件受付部253は、該受信した試験条件を記憶する(s521)と共に、試験器制御部259aに試験条件を送信する(s523)。
試験器制御部259aは、両形状比較部269からの停止信号(後述する)を受信したか否か判断し(s535)、停止信号を受信したと判断しない場合(NO)は、試験器制御部259aは、試験器の折り曲げサイクルの合計回数(折り曲げ試験が開始されてから実施された折り曲げサイクルの回数)が、試験条件で指定された上限折り曲げ回数に達しているか否かを判断する(s537)。s537にて、試験器制御部259aが、折り曲げ回数が上限折り曲げ回数に達していないと判断した場合(NO)には、試験条件受付部253からs523にて送信された試験条件に従って駆動部61を動作させる(試験器制御部259aは、試験条件の撮像用折り曲げ角度だけ変化するように駆動部61を動作させる。試験器制御部259はモータドライバを含む。)と共に、試験器制御部259aは、駆動部61の動作情報を画像受付部261aへ送信する(s545a。上述の通り、ここでは試験器制御部259aは、試験条件の撮像用折り曲げ角度だけ変化するように駆動部61を動作させるので、試験器の折り曲げ角度が試験条件の撮像用折り曲げ角度だけ変化するたびに動作情報が画像受付部261aへ送信される。)。この動作情報には、試験器の折り曲げサイクル回数(試験片101の折り曲げ試験を開始してから何回目の折り曲げサイクル動作中であるか(例えば、1624回))と、試験器の曲げ角度と、が含まれる。試験器制御部259aが、s537にて試験器の折り曲げ回数が上限折り曲げ回数に達していると判断した場合(YES)は、試験機を停止させる(s547)。
試験器制御部259aが、s535にて両形状比較部269からの停止信号を受信したと判断した場合(YES)は、停止信号と関係付けられて両形状比較部269から送信される現画像における最小曲率半径rm1、基準画像における最小曲率半径rm2と、試験片の厚みhから、上記の式1及び式2により、現画像における表面の最大歪み量em1、基準画像における表面の最大歪み量em2を算出する(s539)(これらrm1及びrm2については後述する。)。
試験器制御部259aは、ここで求めたem1及びem2と、「停止信号受信」との文言と、その時点までの折り曲げサイクル回数と、を入出力ユーザIF213に表示させる指示を指示入力部251に行い(s541)、このs541の指示を受けて入出力ユーザIF213はこれらを表示する(s543)。その後、試験器制御部259は駆動部61の動作を停止させる(s547)。
一方、カメラ381aは、所定の撮像周期で折り曲げ試験中の試験片101を撮影し、その撮影画像データを画像受付部261aへ送信する。画像受付部261aは、図31に示すように、カメラ381aからの画像データを受信したか否か判断し(s551)、画像データを受信したと判断した場合(YES)、s545aにて試験器制御部259aから送信された動作情報を受信したか否か判断する(s553)。画像受付部261aは、動作情報を受信したと判断した場合(YES)には、カメラ381aからの画像データと、試験器制御部259aから受信した動作情報(試験器の折り曲げサイクル回数、試験器の曲げ角度)と、を関連付けた情報付記画像データを生成し(s555a)、該生成した情報付記画像データを現画像形状認識部263及び画像記憶部271aに並列的に送信する(s557)。s557の後、s551に戻る。s551にて画像データを受信したと判断しない場合(NO)、s551に戻る。s553にて動作情報を受信したと判断しない場合(NO)、s553に戻る。
現画像形状認識部263は、図25に示すように、画像受付部261aから情報付記画像データを受信したか否か判断し(s561)、情報付記画像データを受信したと判断した場合(YES)は、後述する画像記憶部271aから送信される比較有効性信号が「有効」であるか否かを判断し(s563)、「有効」であると判断した場合(YES)は、情報付記画像データに含まれる撮影画像における試験片101の外縁を示す方程式等を導出する(s565)。このs565の動作は、上述の第1実施形態と同様であるので、ここでは詳しい説明を省略する。
s561にて情報付記画像データを受信したと判断しない場合(NO)は、s561に戻る。s563にて比較有効性信号が「有効」と判断しない場合(NO)は、s561に戻る。
s565にて方程式等を導出した現画像形状認識部263は、該方程式等を現画像曲率半径算出部265に送信する(s567)。
s567にて現画像形状認識部263から送信された前記方程式等を受信した現画像曲率半径算出部265は、図25に示すように、該方程式等上に存する位置における曲率半径を求める(s569)。このs569の動作は、上述の第1実施形態と同様であるので、ここでは詳しい説明を省略する。
現画像曲率半径算出部265は、このようにして算出した(y1、r1)、(y2、r2)、(y3、r3)・・・・・(yn、rn)(但しnは自然数)のようにy座標(y)とその位置の曲率半径(r)とを互いに関連付けた曲率半径情報を現画像最小曲率半径特定部267に送信する(s571)。
s571にて現画像曲率半径算出部265から送信された曲率半径情報を受信した現画像最小曲率半径特定部267は、曲率半径情報(y1、r1)、(y2、r2)、(y3、r3)・・・・・(yn、rn)のうち曲率半径rが最も小さいものを特定する(s573)。そして、現画像最小曲率半径特定部267は、曲率半径が最も小さい(ym、rm)(但しmは自然数)を最大の歪みが生じているものとして両形状比較部269に送信する(s575)。s575の後、s561に戻る。
一方、画像記憶部271aは、図32に示すように、s557にて画像受付部261aから送信された情報付記画像データを受信したか否か判断し(s581)、情報付記画像データを受信したと判断した場合(YES)には、s515にて指示入力部251から記録条件受付部255に送信し記憶されている記録条件(記憶する画像の試験器の曲げ角度の範囲の最小角度及び最大角度、記憶を開始する折り曲げサイクル回数、記憶する折り曲げサイクルの間隔(周期))を記録条件受付部255から読み出し取得し、該受信した情報付記画像データに含まれる動作情報(試験器の折り曲げサイクル回数、試験器の曲げ角度)が、記録条件受付部255から読み出し取得した記録条件に合致するかどうか判断する(s582)。s582では、該受信した情報付記画像データに含まれる動作情報のうちの「試験器の折り曲げサイクル回数」が、記録条件に基づき決定される記録すべき折り曲げサイクル回数(例えば、記憶を開始する折り曲げサイクル回数が第50回目で、記憶する折り曲げサイクルの間隔(周期)が10回であれば、記録すべき折り曲げサイクル回数は第50回目、第60回目、第70回目、第80回目・・・・である。)に該当すると共に動作情報のうちの「試験器の曲げ角度」が、記録条件の「記憶する画像の試験器の曲げ角度の範囲の最小角度及び最大角度」に含まれるかどうか判断する。s582にて情報付記画像データに含まれる動作情報が記録条件に合致すると判断した場合(YES)は、画像記憶部271aは、指示入力部251から比較条件受付部257に送信し記憶されている比較条件((a)何度目の折り曲げサイクル回数の動作中に撮影された画像を基準画像とするかを示す折り曲げサイクル回数、(b)基準画像と現画像との比較タイミングを示す試験器の最小折り曲げ角度と最大折り曲げ角度、(c)比較周期)を比較条件受付部257から読み出し取得し、該受信した情報付記画像データに含まれる動作情報(試験器の折り曲げサイクル回数、試験器の曲げ角度)のうち、何度目の折り曲げサイクルにおいて撮像された画像かを示す情報(試験器の折り曲げサイクル回数)が、該読み出し取得した比較条件のうちの(a)何度目の折り曲げサイクル回数の動作中に撮影された画像を基準画像とするかを示す折り曲げサイクル回数に合致するか否か判断し(s583)、両方の折り曲げサイクル回数が一致すると判断した場合(YES)は、画像記憶部271aは、s581にて受信したと判断した情報付記画像データを基準画像として記憶し(s585)、「無効」の比較有効性信号を生成し(s593)それを両形状比較部269及び現画像形状認識部263に並列的に送信し(s597)、s581に戻る。
s583にて両方の折り曲げサイクル回数が一致すると判断しない場合(NO)には、画像記憶部271aは、s581にて受信したと判断した情報付記画像データを通常画像として記録する(s587)。s587の後、該受信した情報付記画像データに含まれる動作情報(試験器の折り曲げサイクル回数、試験器の曲げ角度)が、比較条件受付部257から読み出し取得した比較条件に基づき決定される比較すべき折り曲げサイクル回数(例えば、(a)何度目の折り曲げサイクル回数の動作中に撮影された画像を基準画像とするかを示す折り曲げサイクル回数が60回で、(c)比較周期が10回であれば、比較すべき折り曲げサイクル回数は、70回(=60+10)、80回、90回、100回、110回・・・・である。)及び(b)試験器の最小折り曲げ角度と最大折り曲げ角度に合致するかどうか判断し(s589)、含まれると判断する場合(YES)は「有効」の比較有効性信号を生成し(s591)、それを両形状比較部269及び現画像形状認識部263に並列的に送信する(s592)。s589にて含まれると判断しない場合(NO)は、s593へ行く。
s592の後、画像記憶部271aは、自ら記録している基準画像データのうち、該受信した情報付記画像データに含まれる折り曲げ角度と同じ折り曲げ角度を有する基準画像データを基準画像形状認識部275に送信する(s595)。
s581にて情報付記画像データを受信したと判断しない場合(NO)には、s581に戻る。
s595にて画像記憶部271aから送信された基準画像を受信した基準画像形状認識部275は、該基準画像データに含まれる試験片101の外縁を示す方程式を導出する(s599)。なお、このs599の動作は、前述のs565と同様であるので、ここでは説明を省略する。
s599にて方程式を導出した基準画像形状認識部275は、該方程式を基準画像曲率半径算出部277に送信する(s601)。該送信された方程式は基準画像曲率半径算出部277にて記憶される。
s601にて基準画像形状認識部275から送信された方程式を受信した基準画像曲率半径算出部277は前述のs569と同様に、所定の範囲の座標yに対する曲率半径を算出する(s603)。
基準画像曲率半径算出部277は、このようにして算出した(y1、r1)、(y2、r2)、(y3、r3)・・・・・(yn、rn)(但しnは自然数)のようにy座標(y)とその位置の曲率半径(r)とを互いに関連付けた曲率半径情報を基準画像最小曲率半径特定部279に送信する(s605)。
曲率半径情報を受信した基準画像最小曲率半径特定部279は、前述のs573における現画像最小曲率半径特定部267と同様、基準画像曲率半径算出部277が算出した曲率半径のうちの最小値を特定する(s607)。
基準画像最小曲率半径特定部279はs607にて特定した最小曲率半径とそのときの座標yを両形状比較部269に送信する(s609)。そして、s609の後、s581に戻る。
両形状比較部269は、図28に示す通り、s592及びs597にて画像記憶部271aから送信される比較有効性信号が「有効」を示すものか否か判断し(s611)、有効を示す信号を受信したと判断した場合(YES)、s575にて現画像最小曲率半径特定部267から送信される(ym、rm)を受信したか否か判断する(s613)。s613にて(ym、rm)を受信したと判断した場合(YES)には、s609にて基準画像最小曲率半径特定部279から送信される基準画像最小曲率半径情報(ym、rm)を受信したか否か判断し(s615)、基準画像最小曲率半径情報(ym、rm)を受信したと判断した場合(YES)には、s617へ行く。以下、説明を容易にするため、現画像最小曲率半径特定部267からs575にて送信される(ym、rm)を(ym1、rm1)とし、基準画像最小曲率半径特定部279からs609にて送信される(ym、rm)を(ym2、rm2)として説明する。s617では、rm1がrm2の所定倍率以下か否か判断する。具体的には、rm1が、予め定められている倍率zとrm2とを乗じた値(z×rm2)以下か否か判断する。なお、zは、上述の第1実施形態におけるzと同様であるので、ここでは詳しい説明を省略する。
s617にてrm1が(z×rm2)以下と判断した場合(YES)には、両形状比較部269は、試験器制御部259aに、(ym1、rm1)及び(ym2、rm2)と、停止信号と、を関連付けて送信する(s619)。s619にて両形状比較部269から発せられた停止信号を受信した試験器制御部259aは、前述の通り、現画像における最小曲率半径rm1、基準画像における最小曲率半径rm2と、試験片の厚みhから、上記の式1及び式2により、現画像における表面の最大歪み量em1、基準画像における表面の最大歪み量em2を算出し(s539)、ここで求めたem1及びem2と、「停止信号受信」との文言と、その時点までの折り曲げ回数と、を入出力ユーザIF213に表示させる指示を指示入力部251に行い(s541)、このs541の指示を受けて入出力ユーザIF213はこれらを表示する(s543)。その後、試験器制御部259は駆動部61の動作を停止させる(s547)。
s611にて比較有効性信号が「有効」を示すものと判断しない場合(NO)は、s611に戻る。s613にて(ym、rm)を受信したと判断しない場合(NO)には、s613に戻る。s615にて(ym、rm)を受信したと判断しない場合(NO)にはs615に戻る。s617にてrm1が(z×rm2)以下と判断しない場合(NO)にはs611に戻る。
以上説明したように、第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1は、各回で試験体(ここでは試験片101)に同じ変形を生じさせると想定される変形サイクル(例えば、図19の(a)→(b)→(c)→(b)→(a))を複数回実施する変形試験を行うと共に、試験体(試験片101)に生じる変形が変形サイクルの実施回数の増加に伴い変化することを検出する変形試験器であって、試験体(試験片101)を撮像した撮像データを生成する撮像手段(ここではカメラ381a)と、試験体(試験片101)に生じる変形の基準とする変形サイクルの実施回数である基準回数(比較条件として入力される(a)何度目の折り曲げサイクル回数の動作中に撮影された画像を基準画像とするかを示す折り曲げサイクル回数)において撮像手段(カメラ381a)が試験体(試験片101)を撮像した基準撮像データ又は基準撮像データに基づいて算出される基準回数における試験体(試験片101)の変形状態を示す基準回数変形データである基準データ(ここでは基準撮像データ)を記憶する基準データ記憶手段(ここでは画像記憶部271a)と、基準撮像データに基づいて基準回数変形データ(ここではs607にて特定する最小曲率半径)を算出する基準回数変形データ算出手段(ここでは基準画像形状認識部275、基準画像曲率半径算出部277、基準画像最小曲率半径特定部279)と、基準回数よりも多い実施回数である検出回数において試験体(試験片101)を撮像した検出撮像データ(現画像)に基づいて検出回数における試験体(試験片101)の変形状態を示す検出回数変形データ(s573にて特定する最小曲率半径)を算出する検出回数変形データ算出手段(ここでは現画像形状認識部263、現画像曲率半径算出部265、現画像最小曲率半径特定部267)と、基準回数変形データ及び検出回数変形データに基づき、試験体(試験片101)に生じる変形が基準回数と検出回数との間で変化することを検出する変化検出手段(ここでは両形状比較部269)と、を備えてなる、変形試験器である。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、基準回数変形データ算出手段(基準画像形状認識部275、基準画像曲率半径算出部277、基準画像最小曲率半径特定部279)が、基準撮像データに基づき試験体(試験片101)の形状を示す数式である基準数式(s599にて導出される方程式)を導出する基準数式導出手段(基準画像形状認識部275)と、基準数式導出手段(基準画像形状認識部275)により導出された基準数式に基づき試験体(試験片101)の少なくとも2以上の部分における変形度合を示す基準変形度合(前述の(y1、r1)、(y2、r2)、(y3、r3)・・・・・(yn、rn))を算出する基準変形度合算出手段(基準画像曲率半径算出部277)と、基準変形度合算出手段(基準画像曲率半径算出部277)により算出される少なくとも2以上の基準変形度合から変形度合が最も大きいと判断されるものを基準回数変形データとして選択する基準変形度合選択手段(基準画像最小曲率半径特定部279)と、を有してなる。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、検出回数変形データ算出手段(現画像形状認識部263、現画像曲率半径算出部265、現画像最小曲率半径特定部267)が、検出撮像データ(現画像)に基づき試験体(試験片101)の形状を示す数式である検出数式(s565にて導出される方程式)を導出する検出数式導出手段(現画像形状認識部263)と、検出数式導出手段(現画像形状認識部263)により導出された検出数式に基づき試験体(試験片101)の少なくとも2以上の部分における変形度合を示す検出変形度合(前述の(y1、r1)、(y2、r2)、(y3、r3)・・・・・(yn、rn))を算出する検出変形度合算出手段(現画像曲率半径算出部265)と、検出変形度合算出手段(現画像曲率半径算出部265)により算出される少なくとも2以上の検出変形度合から変形度合が最も大きいと判断されるものを検出回数変形データとして選択する検出変形度合選択手段(現画像最小曲率半径特定部267)と、を有してなる。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、検出回数変形データ(rm1)及び基準回数変形データ(rm2)が、試験体(試験片101)の形状を示す曲率半径である。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、変化検出手段(両形状比較部269)は、検出回数変形データ(rm1)と基準回数変形データ(rm2)との一方(rm2)に対する他方(rm1)の割合(rm1/rm2)である変化割合により、試験体(試験片101)に生じる変形が基準回数と検出回数との間で変化することを検出するものである。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、前記一方(rm2)に所定の値zを乗じた値(z×rm2)又は前記一方から所定の値を除した値と、前記他方(rm1)と、の大小により、試験体(試験片101)に生じる変形が基準回数と検出回数との間で変化することを検出するものである。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、変化検出手段(両形状比較部269)が、試験体(試験片101)に生じる変形が基準回数と検出回数との間で変化することを検出する場合(s617にてrm1が(z×rm2)以下と判断する場合(YES))、変形試験を中止するものである(s535にて両形状比較部269からの停止信号を受信すると、s539、s541、s543を経てs547に至る。)。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、撮像手段(カメラ381a)は、1の変形サイクル内における経過度合であるサイクル進度(ここでは変形サイクルのうち現在の状況がどの程度進んでいるかを示す度合として、変形サイクルにおける試験体の変形を示す試験器の曲げ角度(上面55aが属する平面と、上面85aが属する平面と、がなす角度)を用いる。)が、同一又は異なるサイクルにおいて異なる撮像タイミングで撮像するものであり、基準データ記憶手段(画像記憶部271a)は、基準データ(ここでは基準撮像データ)を該基準データに係る撮像時のサイクル進度(試験器の曲げ角度)である基準撮像サイクル進度と関連付けて記憶し、検出撮像データに係る撮像のサイクル進度である検出撮像サイクル進度と同じか又は最も近い基準撮像サイクル進度と関連付けられた基準データを基準データ記憶手段(画像記憶部271a)から読み出す対象基準データ読み出し手段(ここではs595における画像記憶部271a)を備え、変化検出手段(両形状比較部269)が、対象基準データ読み出し手段(s595における画像記憶部271a)により読み出される基準データに基づく基準回数変形データ(基準撮像データ)に基づき検出するものである。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、撮像手段(カメラ381a)が撮像する撮像データと、変形試験における変形サイクル回数及びサイクル進度(試験器の曲げ角度)を含む該撮像時に係る変形動作情報(試験器の折り曲げサイクル回数と、試験器の曲げ角度と、を含む動作情報)と、を関連付けた関連付けデータ(s555aにて生成される情報付記画像データ)を生成する関連付けデータ生成手段(画像受付部261a)を有し、基準データ記憶手段(画像記憶部271a)は、関連付けデータ生成手段(画像受付部261a)が生成した関連付けデータ(情報付記画像データ)に含まれるサイクル進度(試験器の曲げ角度)を基準撮像サイクル進度として該関連付けデータ(情報付記画像データ)を記憶するものである。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、基準データ記憶手段(画像記憶部271a)は、関連付けデータ生成手段(画像受付部261a)が生成した関連付けデータ(情報付記画像データ)のうち、該関連付けデータ(情報付記画像データ)が含む変形サイクル回数(試験器の折り曲げサイクル回数)が基準回数と同じ場合には関連付けデータ(情報付記画像データ)を基準データとして記憶するものである。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、基準データ記憶手段(画像記憶部271a)は、関連付けデータ生成手段(画像受付部261a)が生成した関連付けデータ(情報付記画像データ)のうち、該関連付けデータ(情報付記画像データ)が含む変形サイクル回数(試験器の折り曲げサイクル回数)が基準回数と異なる場合には関連付けデータ(情報付記画像データ)を通常データとして記憶するものである。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、通常データ及び基準データとして記憶する関連付けデータ(情報付記画像データ)の変形サイクル回数及びサイクル進度(試験器の曲げ角度)を示すデータ特定情報(ここでは記録条件)を受け付けるデータ特定情報受付手段(ここでは指示入力部251及び記録条件受付部255を含んでなる。)を備え、基準データ記憶手段(画像記憶部271a)は、データ特定情報受付手段(指示入力部251、記録条件受付部255)により受け付けられたデータ特定情報(記録条件)に合致する関連付けデータ(情報付記画像データ)を記憶するものである。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、関連付けデータ(情報付記画像データ)が含む変形動作情報(動作情報)がデータ特定情報(記録条件)に合致するか否か判断する記憶要否判断手段(s582における画像記憶部271a)と、記憶要否判断手段(s582における画像記憶部271a)により変形動作情報(動作情報)がデータ特定情報(記録条件)に合致すると判断される場合、基準データ記憶手段(画像記憶部271a)は該関連付けデータを記憶するものである。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、試験体(試験片101)に生じる変形が変化するかどうか判断する変形サイクル回数及びサイクル進度(試験器の曲げ角度)を特定する判断対象条件(比較条件)を受け付ける判断対象条件受付手段(ここでは指示入力部251及び比較条件受付部257を含んでなる。)を備えてなり、判断対象条件受付手段(指示入力部251、比較条件受付部257)が受け付けた判断対象条件(比較条件)に合致する変形動作情報(動作情報)を含む関連付けデータ(情報付記画像データ)が生成されるときは、試験体(試験片101)に生じる変形が変化するかどうか判断するが、判断対象条件(比較条件)に合致しない変形動作情報(動作情報)を含む関連付けデータ(情報付記画像データ)が生成されるときは判断しないものである。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、関連付けデータ(情報付記画像データ)に含まれる変形動作情報(動作情報)が、判断対象条件受付手段(指示入力部251、比較条件受付部257)が受け付けた判断対象条件(比較条件)に合致するか判断し、合致するか否かを示す要否信号(比較有効性信号)を発生する要否信号発生手段(s591及びs593における画像記憶部271a)を備え、要否信号発生手段(s591及びs593における画像記憶部271a)が発生する要否信号(比較有効性信号)に従い、試験体(試験片101)に生じる変形が変化するかどうか判断するか否かが決されるものである。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、要否信号発生手段(s591及びs593における画像記憶部271a)は、要否信号(比較有効性信号)を変化検出手段(両形状比較部269)に送信し、変化検出手段(両形状比較部269)は、要否信号(比較有効性信号)に従い、試験体(試験片101)に生じる変形が変化することを検出するか否かを決するものである。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、関連付けデータ(情報付記画像データ)に含まれる変形動作情報(動作情報)が、判断対象条件受付手段(指示入力部251、比較条件受付部257)が受け付けた判断対象条件(比較条件)に合致しない場合には、検出回数変形データ算出手段(現画像形状認識部263、現画像曲率半径算出部265、現画像最小曲率半径特定部267)が検出回数変形データ(s573にて特定する最小曲率半径)を算出しないものである。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、関連付けデータ(情報付記画像データ)に含まれる変形動作情報(動作情報)が、判断対象条件受付手段(指示入力部251、比較条件受付部257)が受け付けた判断対象条件(比較条件)に合致しない場合には、対象基準データ読み出し手段(s595における画像記憶部271a)が基準データ記憶手段(画像記憶部271a)から基準データを読み出さないものである。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、変形サイクルは、試験体(試験片101)を通過する仮想の直線である折り曲げ線(図19(a)において平面Pと試験体(試験片101)の主表面との交線)の周りに試験体(試験片101)を折り曲げることを繰り返すものであり、撮像手段(カメラ381a)の撮像方向が折り曲げ線と略平行である。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、試験体(試験片101)が、折り曲げ線を含む主表面を有するフィルム状又はシート状をなすものである。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、撮像手段(カメラ381)とは試験体(試験片101)を挟んで反対方向から折り曲げ線に平行に試験体(試験片101)を照らす照明手段(照明部351)をさらに備えてなるものである。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、試験体(ここでは試験片101)が取り付けられる第1取付面(ここでは上面85a)と、第1線分(縁部85aeが存する線分)の上に存する第1取付面(上面85a)の縁部である第1縁部(縁部85ae)と、を有する第1取付板(ここでは他方取付板85)と、試験体(試験片101)が取り付けられる第2取付面(ここでは上面55a)と、第2線分(縁部55aeが存する線分)の上に存する第2取付面(上面55a)の縁部である第2縁部(縁部55ae)と、を有する第2取付板(一方取付板55)と、試験体(試験片101)が架け渡される隙間が第1縁部(縁部85ae)と第2縁部(縁部55ae)との間に形成されるように、第1線分と第2線分とが互いに平行で相対的位置を保持しつつ、第1取付板(他方取付板85)を第2線分に対して相対的に第1線分を中心に回動可能であり、及び第2取付板(一方取付板55)を第1線分に対して相対的に第2線分を中心に回動可能であるように、第1取付板(他方取付板85)と第2取付板(一方取付板55)とを支持する支持手段(ここではガイドレール31a、31b、スライド部45a、45b、一方支持軸43、取付部53a、53b、駆動軸73、取付部83a、83b、連結部材94、96を含んで構成されている。)と、第1取付板(他方取付板85)を第2線分に対して相対的に第1線分を中心に回動させ、及び第2取付板(一方取付板55)を第1線分に対して相対的に第2線分を中心に回動させる回動手段(ここでは駆動部61、駆動軸73、ブロック97a、97b、ブロック98a、98b、連結部材94、96、リンク軸92、アングル部材93、95を含んで構成されている。)と、を備えてなり、第1取付板(他方取付板85)を第2線分に対して相対的に第1線分を中心に回動させ、及び/又は、第2取付板(一方取付板55)を第1線分に対して相対的に第2線分を中心に回動させることで、第1縁部(縁部85ae)と第2縁部(縁部55ae)との間に存する試験体(試験片101)の部分を変形させる変形試験において、第1線分と第2線分とを2辺とする仮想上の四角形である対象領域の絶対位置が変化するものであり、対象領域の該絶対位置の変化に関わらず、撮像手段(カメラ381)に対する対象領域の相対的位置が、略同じである。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、撮像手段(カメラ381a)が、絶対位置が変化する第1縁部(縁部85ae)及び/又は第2縁部(縁部55ae)に取り付けられるものである(ここでは間接的に取り付けられている。)。
第2実施形態の制御部201aを有する本試験器1においては、支持手段(ガイドレール31a、31b、スライド部45a、45b、一方支持軸43、取付部53a、53b、駆動軸73、取付部83a、83b、連結部材94、96)は、第1線分が含まれる第1直線の周りに回動可能に第1取付板(他方取付板85)が直接的又は間接的に取り付けられると共に、第2線分が含まれる第2直線の周りに回動可能に第2取付板(一方取付板55)が直接的又は間接的に取り付けられ、第1直線と第2直線との間の距離を一定に保持する両縁部位置関係保持部材(連結部材94、96)を有し、撮像手段(カメラ381)が、両縁部位置関係保持部材(連結部材94、96)に取り付けられるものである(ここでは間接的に取り付けられている。)。
1つの実験例の結果のグラフを図33に示す。このグラフの横軸には折り曲げ回数を、縦軸には表面の最大歪み量を取っている。また、折り曲げ角度の15度、30度、45度、60度、75度、90度毎に、プロットしている。このグラフから分かるように、折り曲げ角度が大きいと、表面の最大歪み量が大きい傾向がある(その折り曲げ角度における曲率半径が小さい。グラフ挿入の3つの図を参照方。)。また、折り曲げ回数が増加すると、表面の最大歪み量が増大していく。更に、折り曲げ回数の増加とともに、表面の最大歪み量の変化の度合い(折り曲げ回数に対する表面の最大歪み量の傾き)が大きくなっているようにも見える。特に、90度の折り曲げ角度では、折り曲げ回数がある程度を超えると表面の最大歪み量の変化の度合いが顕著に大きくなっている。一般に、曲率半径の大きさは、その試料の物性に依存すると考えられるので、曲率半径の変化は物性の変化を表す可能性がある。そのため、何らかの損傷の予兆を意味する可能性があり、本試験器による試験は、何らかの損傷を事前に感知できるかもしれない。
1 本試験器 3 第1部分 11 試験器本体
21 フレーム部 23 天板部 23a 上面
25 棒状部 31a、31b ガイドレール
41 一方支持軸部 43 一方支持軸
45a、45b スライド部 51 一方試験片取付部
53a、53b 取付部 55 一方取付板 55a 上面
55ae 縁部 61 駆動部 73 駆動軸
81 他方試験片取付部 83a、83b 取付部
85 他方取付板 85a 上面 85ae 縁部
91 リンク部 92 リンク軸 93、95 アングル部材
94、96 連結部材 97a、97b、98a、98b ブロック
101 試験片 101c 外縁 101d 曲線
101f 内縁 101g 曲線 201、201a 制御部
210a CPU 210b RAM 210c ROM
210d インターフェイス
213 ユーザ入出力インターフェース 219 SSD
251 指示入力部 253 試験条件受付部
255 記録条件受付部 257 比較条件受付部
259、259a 試験器制御部 261、261a 画像受付部
263 現画像形状認識部 265 現画像曲率半径算出部
267 現画像最小曲率半径特定部 269 両形状比較部
271、271a 画像記憶部 275 基準画像形状認識部
277 基準画像曲率半径算出部
279 基準画像最小曲率半径特定部 301 撮影部
311 支持部 321 第1支柱 322 第2支柱
323 取付部材 323h 取付スリット
341 照明支持部 342 第1部分 343 第2部分
351 照明部 361 カメラ支持部 362 第1部
363 第2部 364 第3部 365 第4部
381 カメラ

Claims (21)

  1. 折り曲げを含む変形サイクルを複数回実施する変形試験器において、
    前記変形サイクルを被る主表面を有する試験体を側面視において撮像する撮像手段と、
    前記変形サイクルの実施回数と関連付けて前記撮像手段により撮像された撮像データを記憶する記憶手段と、
    前記記憶手段に記憶された前記撮像データに基づき試験体の形状を示す曲線を得て、前記試験体の折り曲げ部分の最大曲率又は最小曲率半径を算出し、前記変形サイクルの実施回数による前記最大曲率又は最小曲率半径の変化を検出する制御部と、を備える変形試験器。
  2. 前記制御部は、
    前記変形サイクルの実施回数が基準回数であるときの前記撮像データに基づいて基準回数での折り曲げ部分の最大曲率又は最小曲率半径を算出する基準回数変形データ算出手段と、
    前記変形サイクルの実施回数が、前記基準回数よりも多い検出回数であるときの前記撮像データに基づいて検出回数での折り曲げ部分の最大曲率又は最小曲率半径を算出する検出回数変形データ算出手段と、
    前記基準回数での折り曲げ部分の最大曲率又は最小曲率半径及び前記検出回数での折り曲げ部分の最大曲率又は最小曲率半径に基づき、前記試験体の折り曲げ部分の最大曲率又は最小曲率半径の変化を検出する変化検出手段と、を備え、
    前記記憶手段は、基準回数における試験体の撮像データを記憶する基準データ記憶手段を含み、
    前記基準回数変形データ算出手段は、前記基準回数であるときの前記撮像データに基づき、前記試験体の形状を示す曲線を近似する数式を導出する基準数式導出手段と、
    前記基準回数での数式に基づき前記試験体の折り曲げ部分の少なくとも2以上の部分における曲率又は曲率半径から前記基準回数での折り曲げ部分の最大曲率又は最小曲率半径を選択する基準変形度合選択手段、を有してなる、請求項1に記載の変形試験器。
  3. 前記検出回数変形データ算出手段は、前記検出回数であるときの前記撮像データに基づき、前記試験体の形状を示す曲線を近似する数式を導出する検出数式導出手段と、
    前記検出回数での数式に基づき前記試験体の折り曲げ部分の少なくとも2以上の部分における曲率又は曲率半径から前記検出回数での折り曲げ部分の最大曲率又は最小曲率半径を選択する検出変形度合選択手段と、を有してなる、請求項2に記載の変形試験器。
  4. 前記検出回数での折り曲げ部分の最大曲率又は最小曲率半径及び前記基準回数での折り曲げ部分の最大曲率又は最小曲率半径が、前記検出回数及び前記基準回数での前記試験体の形状を示す、請求項2又は3に記載の変形試験器。
  5. 前記変化検出手段は、前記検出回数での折り曲げ部分の最大曲率又は最小曲率半径と前記基準回数での折り曲げ部分の最大曲率又は最小曲率半径との一方に対する他方の割合である変化割合により、前記試験体に生じる変形状態が前記基準回数と前記検出回数との間で変化することを検出するものである、請求項2乃至4のいずれか1に記載の変形試験器。
  6. 前記一方に所定の値を乗じた値又は前記一方から所定の値を除した値と、前記他方と、の大小により、試験体に生じる変形状態が前記基準回数と前記検出回数との間で変化することを検出するものである、請求項5に記載の変形試験器。
  7. 前記変化検出手段が、前記試験体に生じる最大曲率又は最小曲率半径が前記基準回数と前記検出回数との間で変化することを検出する場合、変形試験を中止するものである、請求項2乃至5のいずれか1に記載の変形試験器。
  8. 前記撮像手段は、1の変形サイクル内における経過度合であるサイクル進度が、同一又は異なる変形サイクル及びその実施回数においてそれぞれ異なる撮像タイミングで撮像するものであり、
    前記基準データ記憶手段は、前記撮像データに基づいて算出された前記折り曲げ部分の最大曲率又は最小曲率半径を含む基準データとして撮像時のサイクル進度と関連付けて記憶し、
    前記検出回数での撮像時のサイクル進度と同じか又は最も近い撮像時のサイクル進度と関連付けられた前記基準データを前記基準データ記憶手段から読み出し、
    前記変化検出手段が、前記基準データに基づき検出するものである、請求項2乃至7のいずれか1に記載の変形試験器。
  9. 前記撮像手段が撮像する撮像データは、前記変形サイクルの実施回数及び前記サイクル進度と、関連付けられて、前記基準データ記憶手段に、記憶される、請求項8に記載の変形試験器。
  10. 前記基準データ記憶手段は、前記変形サイクルの実施回数が前記基準回数と同じ場合には、前記基準回数と関連付けて前記撮像データを含む基準データを記憶するものである、請求項9に記載の変形試験器。
  11. 前記基準データ記憶手段は、前記撮像手段が前記基準回数時に撮像する撮像タイミングと合致するサイクル進度である場合、前記サイクル進度を含む基準データを記憶するものである、請求項10に記載の変形試験器。
  12. 前記制御部は、前記変形サイクルの実施回数及び前記サイクル進度が前記基準回数又は前記検出回数に合致すると判断される場合には、撮像手段に撮像を命令する撮像命令手段を備え、
    前記基準データ記憶手段は、前記撮像命令手段による命令により撮像手段が撮像した撮像データを記憶するものである、請求項11に記載の変形試験器。
  13. 前記制御部は、記憶要否判断手段を、含み、
    前記記憶要否判断手段の命令により、前記基準データを記憶するものである、請求項11に記載の変形試験器。
  14. 前記制御部は、
    試験体に生じる変形状態が変化するかどうかを判断する前記変形サイクルの実施回数及び前記サイクル進度を特定する判断対象条件を受け付ける判断対象条件受付手段を備えてなり、
    前記判断対象条件受付手段で受け付けられた判断対象条件に合致するデータから、前記試験体に生じる前記折り曲げ部分の最大曲率又は最小曲率半径が変化するかどうか判断する、請求項9乃至13のいずれか1に記載の変形試験器。
  15. 前記制御部は、前記判断対象条件受付手段が受け付けた判断対象条件に合致するか判断し、合致するか否かを示す要否信号を発生する要否信号発生手段を備え、
    当該要否信号発生手段は、要否信号を変化検出手段に送信し、
    当該変化検出手段は、要否信号に従い、試験体に生じる変形状態が変化することを検出するか否かを決するものである、請求項14に記載の変形試験器。
  16. 前記試験体は、シート状、フィルム状、膜状、板状の何れかである、請求項2乃至15のいずれか1に記載の変形試験器。
  17. 折り曲げを含む変形サイクルを複数回実施する変形試験器において、
    前記変形サイクルを被る主表面を有する試験体を側面視において撮像する撮像手段と、
    前記変形サイクルの実施回数と関連付けて前記撮像手段により撮像された撮像データを記憶する記憶手段と、
    前記記憶手段に記憶された前記撮像データに基づいて実施回数における前記試験体の折り曲げ部分の最大曲率又は最小曲率半径を算出する制御部と、を含み、
    前記制御部は、前記試験体の算出された前記最大曲率又は最小曲率半径が前記変形サイクルの実施回数の増加により変化することを検出する変化検出手段を、含む変形試験器。
  18. 前記試験体が架け渡され取り付けられる第1取付面及び第2取付面と、
    前記変形サイクルを正逆の交互の回動により駆動する駆動軸と、
    前記駆動軸を回動可能に支持するフレーム部と、
    前記フレーム部に取り付けられ前記駆動軸に垂直な方向に延びるガイドレールと、
    前記ガイドレールにスライド自在に取り付けられるスライド部と、
    前記スライド部に回転自在に取り付けられ、前記駆動軸に平行に延びる一方支持軸と、
    前記第2取付面と共に、前記駆動軸について回動する第2取付面側ブロックに回動可能に取り付けられる連結部材と、
    前記連結部材に回動可能に取り付けられるアングル部材と、
    前記アングル部材の前記連結部材の取付の反対側に回動不可能に取り付けられ、前記フレーム部に回動自在に支持されるリンク軸と、を備え、
    前記変形サイクルは、繰り返し折り曲げを含み、
    前記連結部材に回動可能に取り付けられる第1取付面側ブロックと共に、前記第1取付面は、前記一方支持軸について回動し、
    前記第1取付面及び前記第2取付面は、一定の距離を保持し互いに平行な2つの軸の周りに回動可能であり、
    前記撮像手段は、前記試験体の折り曲げ部を側面視において撮像する、請求項1乃至17のいずれか1に記載の変形試験器。
  19. 前記撮像手段は、前記試験体の折り曲げ部分を撮影可能に、前記連結部材に直接的又は間接的に取り付けられる、請求項18に記載の変形試験器。
  20. 前記撮像手段の撮像方向は、前記試験体の折り曲げ線に略平行である、請求項17乃至19のいずれか1に記載の変形試験器。
  21. 前記制御部において、
    前記撮像手段による撮像データの生成は、前記変形サイクルの実施回数が基準回数のとき、及び、基準回数よりも多い検出回数のときに行われ、それぞれ基準撮像データ及び検出撮像データとし、
    前記基準撮像データ及び前記検出撮像データに基づき、導出される近似式をそれぞれ基準数式及び検出数式とし、
    前記基準数式及び前記検出数式に基づき、算出される試験体の最大曲率又は最小曲率半径をそれぞれ基準変形度合及び検出変形度合とし、
    前記基準変形度合及び前記検出変形度合により、前記基準回数のときから前記実施回数のときまでに試験体に生じる変形状態の変化を検出する、請求項1及び17乃至20のいずれか1に記載の変形試験器。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018089405A1 (en) 2016-11-09 2018-05-17 Ohio State Innovation Foundation Bending apparatus for material testing and micro-ct imaging

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001021470A (ja) 1999-07-07 2001-01-26 Bridgestone Corp 亀裂成長量の評価装置及び評価方法
JP5942881B2 (ja) 2013-02-14 2016-06-29 トヨタ自動車株式会社 被測定物の疲労き裂の自動計測装置およびプログラム
CN108593471A (zh) 2018-06-21 2018-09-28 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 柔性屏弯折测试装置
JP2019039743A (ja) 2017-08-24 2019-03-14 ユアサシステム機器株式会社 変形試験器
CN110398424A (zh) 2019-07-19 2019-11-01 四川旭虹光电科技有限公司 用于测试柔性待测物的抗折弯强度的装置和方法

Family Cites Families (63)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5942881B2 (ja) * 1978-04-07 1984-10-18 株式会社日立製作所 位置サ−ボ制御装置の起動制御装置
US5101655A (en) * 1990-06-29 1992-04-07 Harvard Industries-The Kingston Warren Corp. Apparatus and method for weatherstrip wear testing
JP3445630B2 (ja) * 1992-09-28 2003-09-08 藤倉ゴム工業株式会社 ゴルフクラブシャフトのたわみ特性の評価方法
DE4232982C2 (de) * 1992-10-01 1994-08-25 Weinhold Wolfgang P M Sc Dipl Verfahren zur Bestimmung der Verformbarkeit der Oberfläche eines Meßgegenstandes
JPH10202736A (ja) 1997-01-27 1998-08-04 Tsutsunaka Plast Ind Co Ltd プラスチックシートの冷間折曲げ装置
JP3725714B2 (ja) * 1998-11-05 2005-12-14 新日本製鐵株式会社 引張り試験方法及び引張り試験装置
JP2003166923A (ja) * 2001-11-30 2003-06-13 Akashi Corp 硬さ試験機及び硬さ試験方法
DE10214756B4 (de) * 2002-04-03 2011-06-16 Mettler-Toledo Ag Verfahren und Vorrichtung zum Durchführen von dynamisch-mechanischen Analysen
JP2004205248A (ja) * 2002-12-24 2004-07-22 Toyota Motor Corp 引張り試験方法及び装置
US7036364B2 (en) * 2003-09-25 2006-05-02 The Regents Of The University Of Michigan Optical system and method for measuring continuously distributed strain
JP3904082B2 (ja) * 2003-04-14 2007-04-11 株式会社島津製作所 材料試験機
JP4136774B2 (ja) * 2003-04-28 2008-08-20 株式会社島津製作所 材料試験機
JP4429088B2 (ja) * 2004-06-11 2010-03-10 キヤノン株式会社 物体識別情報出力装置及び物体識別情報出力方法
US7080561B2 (en) * 2004-09-27 2006-07-25 The Boeing Company Visual documentation of micro-cracks during tensile coupon testing
JP4864754B2 (ja) * 2007-02-08 2012-02-01 新日本製鐵株式会社 引張り試験方法及び装置
JP4858370B2 (ja) * 2007-09-11 2012-01-18 住友金属工業株式会社 材料パラメータ導出装置及び材料パラメータ導出方法
JP5024152B2 (ja) * 2007-10-16 2012-09-12 Jfeスチール株式会社 張り剛性測定用圧子、張り剛性測定方法および装置
CN101451984A (zh) * 2007-11-30 2009-06-10 耐博检测技术(上海)有限公司 一种钢材淬透性曲线的自动/半自动测量方法及其装置
JP4901717B2 (ja) * 2007-12-28 2012-03-21 新日本製鐵株式会社 伸びフランジ性の異方性評価方法
JP5029424B2 (ja) * 2008-02-28 2012-09-19 Jfeスチール株式会社 張り剛性測定方法および装置
JP5343219B2 (ja) * 2008-03-27 2013-11-13 福岡県 ひずみ計測方法、ひずみ計測システム
JP5495516B2 (ja) * 2008-06-20 2014-05-21 株式会社ブリヂストン ゴム材料の変形挙動予測装置及びゴム材料の変形挙動予測方法
JP5475400B2 (ja) * 2009-06-18 2014-04-16 ポリプラスチックス株式会社 局部応力測定方法及び樹脂材料の応力−歪み曲線を導出する方法ならびに樹脂成形品の寿命予測方法
JP5294082B2 (ja) * 2009-08-24 2013-09-18 新日鐵住金株式会社 曲げ限界ひずみ測定法、曲げ割れ判定方法、及び曲げ割れ判定プログラム
JP5645051B2 (ja) * 2010-02-12 2014-12-24 国立大学法人東京工業大学 画像処理装置
US9234826B2 (en) * 2010-03-16 2016-01-12 Ntn Corporation Assessment of shear fatigue property of rolling contact metal material and estimation of fatigue limit maximum contact pressure using same assessment
JP5879621B2 (ja) * 2010-06-02 2016-03-08 国立大学法人 熊本大学 微小材料ひずみ計測装置及びその方法
EP2585610A4 (en) * 2010-06-25 2013-10-23 Purdue Research Foundation DETECTION OF PATHOGENIC AGENTS
JP5545139B2 (ja) * 2010-09-07 2014-07-09 株式会社島津製作所 材料試験機および材料試験機における変位量測定方法
JP2012141283A (ja) * 2010-12-14 2012-07-26 Kobe Steel Ltd 変態塑性係数測定装置および変態塑性係数測定方法
JP5710997B2 (ja) * 2011-02-04 2015-04-30 パナソニック株式会社 疲労限度特定システムおよび疲労限度特定方法
TWI772897B (zh) * 2011-08-29 2022-08-01 美商安美基公司 用於非破壞性檢測-流體中未溶解粒子之方法及裝置
JP5419232B2 (ja) 2011-09-07 2014-02-19 ユアサシステム機器株式会社 面状体の曲回試験装置。
JP5455076B2 (ja) 2011-09-19 2014-03-26 ユアサシステム機器株式会社 面状体の捩回試験装置
JP6041417B2 (ja) 2011-12-16 2016-12-07 ユアサシステム機器株式会社 恒温試験装置
US9107963B2 (en) * 2012-04-13 2015-08-18 Case Western Reserve University Heteromultivalent nanoparticle compositions
US9833518B2 (en) * 2012-04-13 2017-12-05 Case Western Reserve University Heteromultivalent particle compositions
JP2014126358A (ja) * 2012-12-25 2014-07-07 Nagoya Institute Of Technology 2軸引張試験方法およびそれに用いられる装置
JP6236819B2 (ja) * 2013-03-19 2017-11-29 大日本印刷株式会社 検査装置、検査方法、および、検査装置用のプログラム
JP6163806B2 (ja) * 2013-03-19 2017-07-19 大日本印刷株式会社 検査装置、検査方法、および、検査装置用のプログラム
JP6160334B2 (ja) * 2013-07-29 2017-07-12 株式会社Ihi 高温割れ評価装置及び試験片
JP2015042708A (ja) * 2013-08-26 2015-03-05 日東電工株式会社 発泡シート
JP5968380B2 (ja) 2014-08-16 2016-08-10 ユアサシステム機器株式会社 折り曲げ試験機
TW201614210A (en) 2014-10-11 2016-04-16 Yuasa System Kiki Co Ltd Folding Test Machine
JP2016200550A (ja) * 2015-04-14 2016-12-01 株式会社ブリヂストン 試験装置及び試験方法
US20170052097A1 (en) * 2015-08-17 2017-02-23 Mediatek Inc. Shape-sensing system having sensor strip and deformable object
JP6883940B2 (ja) * 2015-10-09 2021-06-09 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 物品、物品の製造方法、物品の取り付け方法
KR101753615B1 (ko) 2015-10-26 2017-07-06 주식회사 이노테크 양방향 접이식 플렉시블 디스플레이의 벤딩 시험장치
EP3348426B1 (en) * 2015-10-27 2020-09-02 Sumitomo Rubber Industries, Ltd. Pneumatic tire and crosslinked rubber composition
US10190865B2 (en) * 2016-01-27 2019-01-29 Lam Research Corporation Verifying end effector flatness using electrical continuity
KR101777792B1 (ko) * 2016-06-30 2017-09-12 울산과학기술원 유연소자의 신뢰성 평가 시험장치
JP6797599B2 (ja) * 2016-08-12 2020-12-09 学校法人 芝浦工業大学 材料の変形特性値を測定する方法
JP6866791B2 (ja) * 2016-12-20 2021-04-28 日本製鉄株式会社 靱性予測装置、靱性予測方法、およびプログラム
KR101890861B1 (ko) * 2016-12-21 2018-08-22 주식회사 포스코 홀 확장 시험 시스템 및 그 방법
DE102017107270A1 (de) * 2017-04-05 2018-10-11 Asmec Advanced Surface Mechanics Gmbh Verfahren zur Analyse von Oberflächenmessungen
WO2018206227A1 (en) * 2017-05-08 2018-11-15 Asml Netherlands B.V. Method of measuring a structure, inspection apparatus, lithographic system and device manufacturing method
JP2019011995A (ja) * 2017-06-29 2019-01-24 公益財団法人鉄道総合技術研究所 剛性検出装置、剛性検出方法、及びプログラム
KR20190019487A (ko) * 2017-08-18 2019-02-27 주식회사 포스코 구멍 확장 실험용 펀치 및 이를 포함하는 구멍 확장 실험장치
WO2019075661A1 (zh) * 2017-10-18 2019-04-25 苏州汇才土水工程科技有限公司 基于亚像素角点识别的试样表面变形数字图像测量装置及方法
JPWO2019111736A1 (ja) * 2017-12-08 2021-01-14 東京エレクトロン株式会社 光学装置、測定装置、接合システムおよび測定方法
JP2020000093A (ja) * 2018-06-27 2020-01-09 株式会社クボタ 田植機
JP7180850B2 (ja) 2018-10-30 2022-11-30 ユアサシステム機器株式会社 変形試験器
US11725932B2 (en) * 2019-06-25 2023-08-15 Illinois Tool Works Inc. Video extensometer system with reflective back screen

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001021470A (ja) 1999-07-07 2001-01-26 Bridgestone Corp 亀裂成長量の評価装置及び評価方法
JP5942881B2 (ja) 2013-02-14 2016-06-29 トヨタ自動車株式会社 被測定物の疲労き裂の自動計測装置およびプログラム
JP2019039743A (ja) 2017-08-24 2019-03-14 ユアサシステム機器株式会社 変形試験器
CN108593471A (zh) 2018-06-21 2018-09-28 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 柔性屏弯折测试装置
CN110398424A (zh) 2019-07-19 2019-11-01 四川旭虹光电科技有限公司 用于测试柔性待测物的抗折弯强度的装置和方法

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Publication number Publication date
KR20210027245A (ko) 2021-03-10
CN112752963A (zh) 2021-05-04
US11326993B2 (en) 2022-05-10
WO2021038898A1 (ja) 2021-03-04
US20210215586A1 (en) 2021-07-15
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