JP2022134590A - 材料試験機 - Google Patents

Abstract

【課題】試験の途中で試験条件を複数の試験条件に分岐させる。【解決手段】引張試験機１は、少なくとも１つの検出器（１４、１５、１９）を有する試験機本体２と、制御部５１と、を備え、制御部５１は、試験条件ＣＴが２つ以上の試験条件ＣＴに分岐する第１分岐点ＢＲ１における第１分岐条件ＣＢ１を、前記検出器の検出結果に対応付けて設定する第１分岐設定部５０２と、第１分岐点ＢＲ１より前の試験条件ＣＴである第１試験条件ＣＴ１を設定する第１条件設定部５０１と、第１分岐点ＢＲ１より後の試験条件ＣＴである第２試験条件ＣＴ２を設定する第２条件設定部５０３と、を備える。【選択図】図２

Description

本発明は、材料試験機に関する。

材料試験機において、試験条件を設定する種々の技術が知られている。
例えば、特許文献１に記載の材料試験機の制御装置は、負荷機構により試験片に試験力を付与して材料試験を行う材料試験機の制御装置であって、試験片の変位量の単位時間当たりの変化量を示す速度を速度の目標値に一致させるように、試験力を試験片に付与する負荷機構を制御する速度制御と、変位量を変位量の目標値に一致させるように、負荷機構を制御する位置制御と、を実行する制御部を備え、制御部は、特定の条件を満たす場合に、速度制御から位置制御に切り換える。

特開２０２０－１６９８３６号公報

しかしながら、特許文献１等に記載の従来の材料試験機では、試験の途中で試験条件を複数の試験条件に分岐させることが困難であった。換言すれば、試験の途中で複数の試験条件に分岐するように試験条件を設定することが困難であった。

本発明は、このような事情に鑑みなされたものであり、試験の途中で複数の試験条件に分岐するように試験条件を設定することの可能な材料試験機を提供することを目的とする。

本発明の態様に係る材料試験機は、少なくとも１つの検出器を有する試験機本体と、制御部と、を備え、前記制御部は、試験条件が２つ以上の試験条件に分岐する分岐点における分岐条件を、前記検出器の検出結果に対応付けて設定する分岐設定部と、前記分岐点より前の試験条件である第１試験条件を設定する第１条件設定部と、前記分岐点より後の試験条件である第２試験条件を設定する第２条件設定部と、を備える。

本発明の態様に係る材料試験機によれば、試験の途中で複数の試験条件に分岐するように試験条件を設定できる。

本実施形態に係る引張試験機の構成の一例を示す図である。 本実施形態に係る制御装置の構成の一例を示す図である。 第１試験条件を表示する第１試験条件表示画面の一例を示す画面図である。 第１分岐条件を表示する第１分岐条件表示画面の一例を示す画面図である。 第２試験条件を表示する第２試験条件表示画面の一例を示す画面図である。 第２試験条件を表示する第２試験条件表示画面の他の一例を示す画面図である。 第２分岐条件を表示する第２分岐条件表示画面の一例を示す画面図である。 第３試験条件を表示する第３試験条件表示画面の一例を示す画面図である。 第３試験条件を表示する第３試験条件表示画面の他の一例を示す画面図である。 本実施形態に係る制御部の試験条件設定処理の一例を示すフローチャートである。 本実施形態に係る制御部の試験条件表示処理の一例を示すフローチャートである。 本実施形態に係る制御部の試験実行処理の一例を示すフローチャートである。

以下、図面を参照して本実施形態について説明する。

［１．引張試験機の構成］
図１は、本実施形態に係る引張試験機１の構成の一例を示す図である。
本実施形態の引張試験機１は、試験片ＴＰに試験力ＦＰを与えて、試料の引張強度、降伏点、伸び、絞りなどの機械的性質を測定する引張試験を行う。試験力ＦＰは、引張力である。
引張試験機１は、試験対象の材料である試験片ＴＰに試験力ＦＰを与えて引張試験を行う試験機本体２と、試験機本体２による引張試験動作を制御する制御ユニット３と、を備える。
なお、引張試験機１は、「材料試験機」の一例に対応する。

図１に示すように、試験機本体２は、基台２６上に、一対の支柱２８，２９と、ヨーク１３と、によって負荷枠を形成し、支柱２８，２９に、クロスヘッド１０を固定して構成される。

基台２６には、油圧アクチュエータ１８が配置され、油圧アクチュエータ１８のピストンロッド１８１には、試験片ＴＰの下端部を把持する下つかみ具２２が取り付けられる。また、クロスヘッド１０には、ロードセル１４を介して、試験片ＴＰの上端部を把持する上つかみ具２１が取り付けられる。

油圧アクチュエータ１８は、サーボ弁２０によって、圧油方向と圧油量とが制御されて、ピストンロッド１８１が伸縮する。その結果、上つかみ具２１と下つかみ具２２との間隔が伸縮し、上つかみ具２１と下つかみ具２２との間に固定された試験片ＴＰに試験力ＦＰが印加される。また、油圧アクチュエータ１８のストローク、すなわち試験片ＴＰの変位Ｘは、油圧アクチュエータ１８に取り付けられた差動トランス１９によって検出される。

ロードセル１４は、試験片ＴＰに与えられる引張荷重である試験力ＦＰを測定し、試験力測定信号ＳＧ１を制御ユニット３に出力するセンサである。
差動トランス１９は、試験片ＴＰの変位Ｘを測定し、変位Ｘに応じた変位測定信号ＳＧ２を制御ユニット３に出力するセンサである。
ロードセル１４は、「検出器」の一例に対応する。
差動トランス１９は、「検出器」の一例に対応する。

試験片ＴＰには、変位センサ１５が配置される。試験片ＴＰは、例えば、中央がくびれて形成されたダンベル型試験片が用いられる。変位センサ１５は、試験片ＴＰの１対の標点の間の距離を測定することによって、伸び計測値ＥＤを測定し、伸び測定信号ＳＧ３を制御ユニット３に出力するセンサである。１対の標点は、試験片ＴＰがくびれた領域の上部と下部とに配置される。
変位センサ１５は、「検出器」の一例に対応する。

制御ユニット３は、信号入出力装置４０と、制御装置５０と、を備える。
信号入出力装置４０は、試験機本体２との間で信号を送受信する入出力インターフェース回路を構成するものであり、本実施形態では、第１センサアンプ４２と、第２センサアンプ４５と、第３センサアンプ４３と、サーボアンプ４４と、を有する。
第１センサアンプ４２は、ロードセル１４が出力する試験力測定信号ＳＧ１を増幅して試験力計測値ＦＤを生成し、試験力計測値ＦＤを制御装置５０に出力する増幅器である。
第２センサアンプ４５は、変位センサ１５が出力する伸び測定信号ＳＧ３を増幅して伸び計測値ＥＤを生成し、伸び計測値ＥＤを制御装置５０に出力する増幅器である。
第３センサアンプ４３は、差動トランス１９が出力する変位測定信号ＳＧ２を増幅して変位計測値ＸＤを示す変位測定信号Ａ３を制御装置５０にデジタル信号で出力する。
サーボアンプ４４は、制御装置５０の制御に従って、サーボ弁２０を制御する装置である。制御装置５０は、変位計測値ＸＤの指令値ｄＸを演算し、指令値ｄＸを示す指令信号Ａ４をサーボ弁２０に対して送信する。

［２．制御装置の構成］
制御装置５０は、ユーザからの操作に基づき、試験機本体２の動作を制御する。また、制御装置５０は、試験機本体２に引張試験を実行させる。
本実施形態において、「ユーザ」は、試験機本体２を操作する作業者を含む。

図２は、本実施形態に係る制御装置５０の構成の一例を示す図である。
制御装置５０は、制御部５１と、操作部５２と、表示部５３と、を備える。

操作部５２は、例えば、キーボード、マウス等を備え、ユーザからの操作を受け付け、操作に対応する操作信号を制御部５１へ出力する。
表示部５３は、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）５３１等を備え、制御部５１からの指示に従って、ＬＣＤ５３１に種々の画像を表示する。
ＬＣＤ５３１は、「ディスプレイ」の一例に対応する。

制御部５１は、例えば、パーソナルコンピュータによって構成され、制御装置５０の動作を制御する。制御部５１は、プロセッサ５１Ａと、メモリ５１Ｂと、を備える。
プロセッサ５１Ａは、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）やＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ－Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）などで構成される。
メモリ５１Ｂは、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）やＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）などで構成される。また、メモリ５１Ｂは、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）やＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ）を備えてもよい。
メモリ５１Ｂは、制御プログラムを記憶する。

また、制御部５１は、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）やＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）等、プログラムされたハードウェアを備えてもよい。また、制御部５１は、ＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ－ｏｎ－ａ－Ｃｈｉｐ）－ＦＰＧＡを備えてもよい。

図２に示すように、制御部５１は、第１条件設定部５０１と、第１分岐設定部５０２と、第２条件設定部５０３と、第２分岐設定部５０４と、第３条件設定部５０５と、第１条件表示部５１１と、第１分岐条件表示部５１２と、第２条件表示部５１３と、第２分岐条件表示部５１４と、第３条件表示部５１５と、試験実行部５１６と、を備える。

具体的には、制御部５１のプロセッサ５１Ａが、メモリ５１Ｂに記憶された制御プログラムを実行することによって、第１条件設定部５０１、第１分岐設定部５０２、第２条件設定部５０３、第２分岐設定部５０４、第３条件設定部５０５、第１条件表示部５１１、第１分岐条件表示部５１２、第２条件表示部５１３、第２分岐条件表示部５１４、第３条件表示部５１５、及び、試験実行部５１６、として機能する。
第１分岐設定部５０２は、「分岐設定部」の一例に対応する。
第１分岐条件表示部５１２は、「分岐条件表示部」の一例に対応する。

第１条件設定部５０１は、操作部５２に対するユーザの操作に基づいて、第１分岐点ＢＲ１より前の試験条件である第１試験条件ＣＴ１を設定する。
第１試験条件ＣＴ１は、複数のステップＳＴで構成される。
複数のステップＳＴの各々は、試験機本体２に実行させる動作を規定する動作条件ＣＭと、動作条件ＣＭを次のステップＳＴの動作条件ＣＭに切り換える切換条件ＣＳと、を含む。
ステップＳＴについては、図３、図５、図６、図８、及び図９を参照して更に説明する。
また、第１試験条件ＣＴ１については、図３を参照して更に説明する。

また、動作条件ＣＭは、試験力目標値ＦＴ、試験力速度目標値ＦＶＴ、変位目標値ＸＴ、及び変位速度目標値ＸＶＴの少なくとも１つを含む。試験力目標値ＦＴは、試験力ＦＰの目標値である。試験力速度目標値ＦＶＴは、試験力ＦＰが変化する速度の目標値である。変位目標値ＸＴは、試験片ＴＰの変位Ｘの目標値である。変位速度目標値ＸＶＴは、試験片ＴＰの変位Ｘが変化する速度の目標値である。
切換条件ＣＳは、試験力目標値ＦＴ、変位目標値ＸＴ、及び動作時間ＴＭの少なくとも１つを含む。
動作条件ＣＭ、及び切換条件ＣＳについては、図３、図５、図６、図８、及び図９を参照して更に説明する。

第１分岐設定部５０２は、操作部５２に対するユーザの操作に基づいて、第１試験条件ＣＴ１が２つ以上の第２試験条件ＣＴ２に分岐する第１分岐点ＢＲ１における第１分岐条件ＣＢ１を設定する。
また、第１分岐設定部５０２は、第１分岐条件ＣＢ１を、ロードセル１４の検出結果、変位センサ１５の検出結果、及び差動トランス１９の検出結果の少なくとも１つに対応付けて設定する。
ロードセル１４の検出結果は、試験力計測値ＦＤに対応する。変位センサ１５の検出結果は、伸び計測値ＥＤに対応する。差動トランス１９の検出結果は、変位計測値ＸＤに対応する。
第１分岐点ＢＲ１は、「分岐点」の一例に対応し、第１分岐条件ＣＢ１は、「分岐条件」の一例に対応する。
また、第１分岐条件ＣＢ１については、図４を参照して更に説明する。

第２条件設定部５０３は、操作部５２に対するユーザの操作に基づいて、第１分岐点ＢＲ１より後の試験条件である第２試験条件ＣＴ２を設定する。
第２試験条件ＣＴ２は、少なくとも２つの試験条件ＣＴを含む。例えば、第２試験条件ＣＴ２は、第２Ａ試験条件ＣＴ２Ａと、第２Ｂ試験条件ＣＴ２Ｂとを含む。

第２Ａ試験条件ＣＴ２Ａ、及び第２Ｂ試験条件ＣＴ２Ｂの各々は、少なくとも１つのステップＳＴで構成される。
ステップＳＴの各々は、試験機本体２に実行させる動作を規定する動作条件ＣＭと、動作条件ＣＭを次のステップＳＴの動作条件ＣＭに切り換える切換条件ＣＳと、を含む。
第２Ａ試験条件ＣＴ２Ａについては、図５を参照して更に説明する。
第２Ｂ試験条件ＣＴ２Ｂについては、図６を参照して更に説明する。

第２分岐設定部５０４は、操作部５２に対するユーザの操作に基づいて、第２試験条件ＣＴ２が２つ以上の第３試験条件ＣＴ３に分岐する第２分岐点ＢＲ２における第２分岐条件ＣＢ２を設定する。
また、第２分岐設定部５０４は、第２分岐条件ＣＢ２を、ロードセル１４の検出結果、変位センサ１５の検出結果、及び差動トランス１９の検出結果の少なくとも１つに対応付けて設定する。
第２分岐条件ＣＢ２については、図７を参照して更に説明する。

第３条件設定部５０５は、操作部５２に対するユーザの操作に基づいて、第２分岐点ＢＲ２より後の試験条件である第３試験条件ＣＴ３を設定する。
第３試験条件ＣＴ３は、少なくとも２つの試験条件を含む。例えば、第３試験条件ＣＴ３は、第３Ａ試験条件ＣＴ３Ａと、第３Ｂ試験条件ＣＴ３Ｂとを含む。

第３Ａ試験条件ＣＴ３Ａ、及び第３Ｂ試験条件ＣＴ３Ｂの各々は、少なくとも１つのステップＳＴで構成される。
ステップＳＴの各々は、試験機本体２に実行させる動作を規定する動作条件ＣＭと、動作条件ＣＭを次のステップＳＴの動作条件ＣＭに切り換える切換条件ＣＳと、を含む。
第３Ａ試験条件ＣＴ３Ａについては、図８を参照して更に説明する。
第３Ｂ試験条件ＣＴ３Ｂについては、図９を参照して更に説明する。

第１条件表示部５１１は、操作部５２に対するユーザの操作に基づいて、第１試験条件ＣＴ１をＬＣＤ５３１に表示させる。第１条件表示部５１１は、例えば、図３に示す第１条件表示画面６００をＬＣＤ５３１に表示させる。
また、第１条件表示部５１１は、第１分岐条件ＣＢ１をＬＣＤ５３１に表示させる旨の指示を受け付ける第１オブジェクトＢＪ１を表示する。
また、第１条件表示部５１１は、第２試験条件ＣＴ２をＬＣＤ５３１に表示させる旨の指示を受け付ける第２オブジェクトＢＪ２を表示する。
また、第１条件表示部５１１は、第１試験条件ＣＴ１における複数のステップＳＴの各々を規定する動作条件ＣＭ及び切換条件ＣＳを、ＬＣＤ５３１の左右方向に並べて表示する。
第１試験条件ＣＴ１、及び第１オブジェクトＢＪ１については、図３を参照して更に説明する。
第２オブジェクトＢＪ２については、図３、図６、図７、図８、及び図９を参照して更に説明する。

第１分岐条件表示部５１２は、第１分岐条件ＣＢ１をＬＣＤ５３１に表示させる。第１分岐条件表示部５１２は、例えば、図４に示す第１分岐条件表示画面７００をＬＣＤ５３１に表示させる。
第１分岐条件表示部５１２は、第１オブジェクトＢＪ１に対して所定の操作が行われた場合に、第１分岐条件ＣＢ１をＬＣＤ５３１に表示させる。
第１分岐条件ＣＢ１については、図４を参照して更に説明する。

第２条件表示部５１３は、第２試験条件ＣＴ２をＬＣＤ５３１に表示させる。第２条件表示部５１３は、例えば、図５に示す第２試験条件表示画面６５０、及び、図６に示す第２試験条件表示画面６６０をＬＣＤ５３１に表示させる。
第２条件表示部５１３は、第２オブジェクトＢＪ２に対して所定の操作が行われた場合に、第２試験条件ＣＴ２をＬＣＤ５３１に表示させる。
第２試験条件ＣＴ２については、図５及び図６を参照して更に説明する。

また、第２条件表示部５１３は、第１試験条件ＣＴ１をＬＣＤ５３１に表示させる旨の指示を受け付ける第３オブジェクトＢＪ３を表示する。
また、第２条件表示部５１３は、第２分岐条件ＣＢ２をＬＣＤ５３１に表示させる旨の指示を受け付ける第４オブジェクトＢＪ４を表示する。
また、第２条件表示部５１３は、第３試験条件ＣＴ３をＬＣＤ５３１に表示させる旨の指示を受け付ける第５オブジェクトＢＪ５を表示する。
第３オブジェクトＢＪ３、及び第５オブジェクトＢＪ５については、図３、図６、図７、図８、及び図９を参照して更に説明する。
第４オブジェクトＢＪ４については、図６を参照して更に説明する。

第２分岐条件表示部５１４は、第２分岐条件ＣＢ２をＬＣＤ５３１に表示させる。
第２分岐条件表示部５１４は、第４オブジェクトＢＪ４に対して所定の操作が行われた場合に、第２分岐条件ＣＢ２をＬＣＤ５３１に表示させる。
第２分岐条件ＣＢ２については、図７を参照して更に説明する。

第３条件表示部５１５は、第３試験条件ＣＴ３をＬＣＤ５３１に表示させる。
第３条件表示部５１５は、第５オブジェクトＢＪ５に対して所定の操作が行われた場合に、第３試験条件ＣＴ３をＬＣＤ５３１に表示させる。
また、第３条件表示部５１５は、第１試験条件ＣＴ１をＬＣＤ５３１に表示させる旨の指示を受け付ける第３オブジェクトＢＪ３を表示する。
また、第３条件表示部５１５は、第２試験条件ＣＴ２をＬＣＤ５３１に表示させる旨の指示を受け付ける第２オブジェクトＢＪ２を表示する。
第３試験条件ＣＴ３については、図８及び図９を参照して更に説明する。

試験実行部５１６は、第１条件設定部５０１、第１分岐設定部５０２、第２条件設定部５０３、第２分岐設定部５０４、及び第３条件設定部５０５によって設定された試験条件に基づいて、引張試験を試験機本体２に実行させる。
試験条件は、第１試験条件ＣＴ１、第１分岐条件ＣＢ１、第２試験条件ＣＴ２、第２分岐条件ＣＢ２、及び、第３試験条件ＣＴ３を含む。

［３．ＬＣＤに表示される画面］
次に、図３～図９を参照して、第１条件表示部５１１、第１分岐条件表示部５１２、第２条件表示部５１３、第２分岐条件表示部５１４、及び第３条件表示部５１５の各々によってＬＣＤ５３１に表示される画面について説明する。

図３は、第１試験条件ＣＴ１を表示する第１条件表示画面６００の一例を示す画面図である。第１条件表示画面６００は、第１条件表示部５１１によって表示される。
第１条件表示画面６００には、第１試験条件ＣＴ１が表示される。図３に示すように、第１条件表示画面６００は、動作条件表示部６１０と、切換条件表示部６２０と、試験条件選択部６３０と、分岐表示部６４０と、を含む。
また、第１試験条件ＣＴ１は、第１ステップＳＴ１１と、第２ステップＳＴ１２と、第３ステップＳＴ１３と、第４ステップＳＴ１４と、第５ステップＳＴ１５と、で構成される。すなわち、第１試験条件ＣＴ１は、５つのステップＳＴで構成される。

動作条件表示部６１０は、第１ステップＳＴ１１～第５ステップＳＴ１５の各々の動作条件ＣＭを表示する。切換条件表示部６２０は、第１ステップＳＴ１１～第５ステップＳＴ１５の各々の切換条件ＣＳを、動作条件ＣＭに対応付けて表示する。
また、動作条件表示部６１０は、第１ステップＳＴ１１～第５ステップＳＴ１５の各々の動作条件ＣＭ及び切換条件ＣＳをＬＣＤ５３１の左右方向に並べて表示する。

図３に示すように、第１ステップＳＴ１１の動作条件ＣＭは、変位速度目標値ＸＶＴが１．０００ｍｍ／ｍｉｎである。なお、図３、及び図５～図９では、変位Ｘを「ストローク」と記載している。
すなわち、第１ステップＳＴ１１では、試験片ＴＰの変位Ｘが変化する速度が変位速度目標値ＸＶＴと一致するように、試験実行部５１６は、変位計測値ＸＤの指令値ｄＸを演算し、指令値ｄＸを示す指令信号Ａ４をサーボ弁２０に対して送信する。この場合には、試験実行部５１６は、変位速度一定制御を実行する。

また、図３に示すように、第１ステップＳＴ１１の切換条件ＣＳは、試験力ＦＰが１０Ｎに到達することである。すなわち、試験力ＦＰが１０Ｎに到達したときに、試験実行部５１６は、第１ステップＳＴ１１の動作を終了し、第２ステップＳＴ１２の動作を開始する。

図３に示すように、第２ステップＳＴ１２の動作条件ＣＭは、変位Ｘを一定に保持することである。すなわち、第２ステップＳＴ１２では、試験片ＴＰの変位Ｘが一定になるように、試験実行部５１６は、変位計測値ＸＤの指令値ｄＸを演算し、指令値ｄＸを示す指令信号Ａ４をサーボ弁２０に対して送信する。この場合には、試験実行部５１６は、変位一定制御を実行する。

また、図３に示すように、第２ステップＳＴ１２の切換条件ＣＳは、動作時間ＴＭが１０ｓｅｃに到達することである。すなわち、第２ステップＳＴ１２の動作を開始してからの経過時間が１０ｓｅｃに到達したときに、試験実行部５１６は、第２ステップＳＴ１２の動作を終了し、第３ステップＳＴ１３の動作を開始する。

図３に示すように、第３ステップＳＴ１３の動作条件ＣＭは、変位速度目標値ＸＶＴが１．０００ｍｍ／ｍｉｎである。すなわち、第３ステップＳＴ１３では、第１ステップＳＴ１１と同様に、変位速度一定制御を実行する。

また、図３に示すように、第３ステップＳＴ１３の切換条件ＣＳは、試験力ＦＰが２０Ｎに到達することである。すなわち、試験力ＦＰが２０Ｎに到達したときに、試験実行部５１６は、第３ステップＳＴ１３の動作を終了し、第４ステップＳＴ１４の動作を開始する。

図３に示すように、第４ステップＳＴ１４の動作条件ＣＭは、変位Ｘを一定に保持することである。すなわち、第４ステップＳＴ１４では、第２ステップＳＴ１２と同様に、変位一定制御を実行する。

また、図３に示すように、第４ステップＳＴ１４の切換条件ＣＳは、動作時間ＴＭが１０ｓｅｃに到達することである。すなわち、第４ステップＳＴ１４の動作を開始してからの経過時間が１０ｓｅｃに到達したときに、試験実行部５１６は、第４ステップＳＴ１４の動作を終了し、第５ステップＳＴ１５の動作を開始する。

図３に示すように、第５ステップＳＴ１５の動作条件ＣＭは、「条件分岐処理」を実行することである。「条件分岐処理」とは、切換条件ＣＳを満たすか否かを判定し、判定結果に応じて、次に実行する試験条件を決定する処理である。
図３に示すように、第５ステップＳＴ１５の切換条件ＣＳは、試験力ＦＰが１５Ｎと表示されている。具体的には、第５ステップＳＴ１５では、図４を参照して説明するように、試験実行部５１６は、試験力ＦＰが１５Ｎ以上であるか否かを判定する。

試験条件選択部６３０は、第２オブジェクトＢＪ２、第３オブジェクトＢＪ３、及び第５オブジェクトＢＪ５に対応する。試験条件選択部６３０は、いわゆるプルダウンメニューとして構成される。試験条件選択部６３０がユーザによってクリックされた場合には、表示可能な試験条件を選択する図略のメニューが表示される。
メニューには、例えば、「メインルーチン、サブルーチンＡ、サブルーチンＢ、サブルーチンＣ、サブルーチンＤ」と表示される。「メインルーチン」は、第１試験条件ＣＴ１を表示する場合に選択される。また、「サブルーチンＡ」は、第２Ａ試験条件ＣＴ２Ａを表示する場合に選択され、「サブルーチンＢ」は、第２Ｂ試験条件ＣＴ２Ｂを表示する場合に選択される。また、「サブルーチンＣ」は、第３Ａ試験条件ＣＴ３Ａを表示する場合に選択され、「サブルーチンＤ」は、第３Ｂ試験条件ＣＴ３Ｂを表示する場合に選択される。

すなわち、第２オブジェクトＢＪ２に対する「所定の操作」は、試験条件選択部６３０に対するクリック操作と、「サブルーチンＡ」又は「サブルーチンＢ」の選択操作である。選択操作は、例えば、クリックである。
また、第３オブジェクトＢＪ３に対する「所定の操作」は、試験条件選択部６３０に対するクリック操作と、「メインルーチン」の選択操作である。選択操作は、例えば、クリックである。
また、第５オブジェクトＢＪ５に対する「所定の操作」は、試験条件選択部６３０に対するクリック操作と、「サブルーチンＣ」又は「サブルーチンＤ」の選択操作である。選択操作は、例えば、クリックである。

分岐表示部６４０は、第１オブジェクトＢＪ１に対応する。分岐表示部６４０がユーザによってクリックされた場合には、第１分岐条件表示部５１２によって、図４に示す第１分岐条件表示画面７００が表示される。すなわち、分岐表示部６４０は、ボタンオブジェクトとして機能する。

図４は、第１分岐条件ＣＢ１を表示する第１分岐条件表示画面７００の一例を示す画面図である。
第１分岐条件表示画面７００は、図３に示す第１条件表示画面６００の分岐表示部６４０がユーザによってクリックされた場合に、第１分岐条件表示部５１２によって、例えば、ポップアップ表示される。

第１分岐条件表示画面７００は、第１表示部７１０と、第２表示部７２０と、第３表示部７３０と、を含む。
第１表示部７１０は、第１分岐条件ＣＢ１を表示する。図４では、第１分岐条件ＣＢ１は、例えば、「試験力が１５Ｎ以上である」ことに対応する。
第２表示部７２０は、例えば、第１表示部７１０に示す第１分岐条件ＣＢ１を満たす場合に、「サブルーチンＡ」に進むことを示す。「サブルーチンＡ」は、第２Ａ試験条件ＣＴ２Ａに対応する。
第３表示部７３０は、例えば、第１表示部７１０に示す第１分岐条件ＣＢ１を満たさない場合に、「サブルーチンＢ」に進むことを示す。「サブルーチンＢ」は、第２Ｂ試験条件ＣＴ２Ｂに対応する。

図５は、第２試験条件ＣＴ２を表示する第２試験条件表示画面６５０の一例を示す画面図である。第２試験条件表示画面６５０は、例えば、図３に示す第１条件表示画面６００の試験条件選択部６３０で「サブルーチンＡ」が選択された場合に、第２条件表示部５１３によって表示される。
第２試験条件表示画面６５０は、第２Ａ試験条件ＣＴ２Ａを表示する。
図５に示すように、第２試験条件表示画面６５０は、動作条件表示部６１０と、切換条件表示部６２０と、試験条件選択部６３０と、を含む。
また、第２Ａ試験条件ＣＴ２Ａは、第１ステップＳＴ２１と、第２ステップＳＴ２２と、で構成される。すなわち、第２Ａ試験条件ＣＴ２Ａは、２つのステップＳＴで構成される。

動作条件表示部６１０は、第１ステップＳＴ２１～第２ステップＳＴ２２の各々の動作条件ＣＭを表示する。切換条件表示部６２０は、第１ステップＳＴ２１の切換条件ＣＳを、動作条件ＣＭに対応付けて表示する。

図５に示すように、第１ステップＳＴ２１の動作条件ＣＭは、変位速度目標値ＸＶＴが１．０００ｍｍ／ｍｉｎである。
すなわち、第１ステップＳＴ２１では、試験実行部５１６は、図３に示す第１試験条件ＣＴ１の第１ステップＳＴ１１と同様に、変位速度一定制御を実行する。

また、図５に示すように、第１ステップＳＴ２１の切換条件ＣＳは、試験力ＦＰが１００Ｎに到達することである。すなわち、試験力ＦＰが１００Ｎに到達したときに、試験実行部５１６は、第１ステップＳＴ２１の動作を終了し、第２ステップＳＴ２２の動作を開始する。

図５に示すように、第２ステップＳＴ２２の動作条件ＣＭは、「ＯＦＦ」と表示され、試験実行部５１６は、第２ステップＳＴ２２で引張試験を終了する。

図５に示す試験条件選択部６３０は、図３に示す試験条件選択部６３０と同一であるため、その説明を省略する。

図６は、第２試験条件ＣＴ２を表示する第２試験条件表示画面６６０の他の一例を示す画面図である。第２試験条件表示画面６６０は、例えば、図３に示す第１条件表示画面６００の試験条件選択部６３０で「サブルーチンＢ」が選択された場合に、第２条件表示部５１３によって表示される。
第２試験条件表示画面６６０は、第２Ｂ試験条件ＣＴ２Ｂを表示する。
図６に示すように、第２試験条件表示画面６６０は、動作条件表示部６１０と、切換条件表示部６２０と、試験条件選択部６３０と、分岐表示部６４０と、を含む。
また、第２Ｂ試験条件ＣＴ２Ｂは、第１ステップＳＴ３１と、第２ステップＳＴ３２と、第３ステップＳＴ３３と、第４ステップＳＴ３４と、で構成される。すなわち、第２Ｂ試験条件ＣＴ２Ｂは、４つのステップＳＴで構成される。

動作条件表示部６１０は、第１ステップＳＴ１１～第４ステップＳＴ１４の各々の動作条件ＣＭを表示する。切換条件表示部６２０は、第１ステップＳＴ１１～第４ステップＳＴ１４の各々の切換条件ＣＳを、動作条件ＣＭに対応付けて表示する。

図６に示すように、第１ステップＳＴ３１の動作条件ＣＭは、変位速度目標値ＸＶＴが５．０００ｍｍ／ｍｉｎである。
すなわち、第１ステップＳＴ３１では、試験実行部５１６は、図３に示す第１試験条件ＣＴ１の第１ステップＳＴ１１と同様に、変位速度一定制御を実行する。

また、図６に示すように、第１ステップＳＴ３１の切換条件ＣＳは、試験力ＦＰが１００Ｎに到達することである。すなわち、試験力ＦＰが１００Ｎに到達したときに、試験実行部５１６は、第１ステップＳＴ３１の動作を終了し、第２ステップＳＴ３２の動作を開始する。

図６に示すように、第２ステップＳＴ３２の動作条件ＣＭは、変位速度目標値ＸＶＴが－５．０００ｍｍ／ｍｉｎである。
すなわち、第２ステップＳＴ３２では、試験実行部５１６は、図３に示す第１試験条件ＣＴ１の第１ステップＳＴ１１と同様に、変位速度一定制御を実行する。

また、図６に示すように、第２ステップＳＴ３２の切換条件ＣＳは、試験力ＦＰが１０Ｎに到達することである。すなわち、試験力ＦＰが１０Ｎに到達したときに、試験実行部５１６は、第２ステップＳＴ３２の動作を終了し、第３ステップＳＴ３３の動作を開始する。

図６に示すように、第３ステップＳＴ３３の動作条件ＣＭは、変位速度目標値ＸＶＴが５．０００ｍｍ／ｍｉｎである。
すなわち、第３ステップＳＴ３３では、試験実行部５１６は、第１ステップＳＴ３１と同様の処理を実行する。

また、図６に示すように、第３ステップＳＴ３３の切換条件ＣＳは、試験力ＦＰが１００Ｎに到達することである。すなわち、試験力ＦＰが１００Ｎに到達したときに、試験実行部５１６は、第３ステップＳＴ３３の動作を終了し、第４ステップＳＴ３４の動作を開始する。

図６に示すように、動作条件ＣＭは、「条件分岐処理」を実行することである。
図６に示すように、第４ステップＳＴ３４の切換条件ＣＳは、変位Ｘが１０ｍｍと表示されている。具体的には、第４ステップＳＴ３４では、図７を参照して説明するように、試験実行部５１６は、変位Ｘが１０ｍｍ以上であるか否かを判定する。

図６に示す試験条件選択部６３０は、図３に示す試験条件選択部６３０と同一であるため、その説明を省略する。

分岐表示部６４０は、第４オブジェクトＢＪ４に対応する。分岐表示部６４０がユーザによってクリックされた場合には、第２分岐条件表示部５１４によって、図７に示す第２分岐条件表示画面７５０が表示される。

図７は、第２分岐条件ＣＢ２を表示する第２分岐条件表示画面７５０の一例を示す画面図である。
第２分岐条件表示画面７５０は、図６に示す第２試験条件表示画面６６０の分岐表示部６４０がユーザによってクリックされた場合に、第２分岐条件表示部５１４によって、例えば、ポップアップ表示される。

第２分岐条件表示画面７５０は、第１表示部７１０と、第２表示部７２０と、第３表示部７３０と、を含む。
第１表示部７１０は、第２分岐条件ＣＢ２を表示する。第２分岐条件ＣＢ２は、例えば、「ストロークが１０ｍｍ以上である」ことに対応する。「ストローク」は、変位Ｘを示す。
第２表示部７２０は、例えば、第１表示部７１０に示す第２分岐条件ＣＢ２を満たす場合に、「サブルーチンＣ」に進むことを示す。「サブルーチンＣ」は、第３Ａ試験条件ＣＴ３Ａに対応する。
第３表示部７３０は、例えば、第１表示部７１０に示す第２分岐条件ＣＢ２を満たさない場合に、「サブルーチンＤ」に進むことを示す。「サブルーチンＤ」は、第３Ｂ試験条件ＣＴ３Ｂに対応する。

図８は、第３試験条件ＣＴ３を表示する第３試験条件表示画面６７０の一例を示す画面図である。第３試験条件表示画面６７０は、例えば、図６に示す第２試験条件表示画面６６０の試験条件選択部６３０で「サブルーチンＣ」が選択された場合に、第３条件表示部５１５によって表示される。
第３試験条件表示画面６７０は、第３Ａ試験条件ＣＴ３Ａを表示する。
図８に示すように、第３試験条件表示画面６７０は、動作条件表示部６１０と、切換条件表示部６２０と、試験条件選択部６３０と、を含む。
また、第３Ａ試験条件ＣＴ３Ａは、第１ステップＳＴ４１と、第２ステップＳＴ４２と、で構成される。すなわち、第３Ａ試験条件ＣＴ３Ａは、２つのステップＳＴで構成される。

動作条件表示部６１０は、第１ステップＳＴ４１～第２ステップＳＴ４２の各々の動作条件ＣＭを表示する。切換条件表示部６２０は、第１ステップＳＴ４１の切換条件ＣＳを、動作条件ＣＭに対応付けて表示する。

図８に示すように、第１ステップＳＴ４１の動作条件ＣＭは、変位速度目標値ＸＶＴが２００．００ｍｍ／ｍｉｎである。
すなわち、第１ステップＳＴ４１では、試験実行部５１６は、図３に示す第１試験条件ＣＴ１の第１ステップＳＴ１１と同様に、変位速度一定制御を実行する。

また、図８に示すように、第１ステップＳＴ４１の切換条件ＣＳは、「ＯＦＦ」と表示され、試験実行部５１６は、試験片ＴＰが破断するまで、第１ステップＳＴ４１での変位速度一定制御を実行することを示している。

第２ステップＳＴ４２の動作条件ＣＭは、「ＯＦＦ」と表示され、試験実行部５１６は、第２ステップＳＴ２２で引張試験を終了する。

図８に示す試験条件選択部６３０は、図３に示す試験条件選択部６３０と同一であるため、その説明を省略する。

図９は、第３試験条件ＣＴ３を表示する第３試験条件表示画面６８０の他の一例を示す画面図である。
第３試験条件表示画面６８０は、例えば、図６に示す第２試験条件表示画面６６０の試験条件選択部６３０で「サブルーチンＤ」が選択された場合に、第３条件表示部５１５によって表示される。
第３試験条件表示画面６８０は、第３Ｂ試験条件ＣＴ３Ｂを表示する。
図９に示すように、第３試験条件表示画面６８０は、動作条件表示部６１０と、切換条件表示部６２０と、試験条件選択部６３０と、を含む。
また、第３Ｂ試験条件ＣＴ３Ｂは、第１ステップＳＴ５１と、第２ステップＳＴ５２と、第３ステップＳＴ５３と、で構成される。すなわち、第３Ａ試験条件ＣＴ３Ａは、３つのステップＳＴで構成される。

動作条件表示部６１０は、第１ステップＳＴ５１～第３ステップＳＴ５３の各々の動作条件ＣＭを表示する。切換条件表示部６２０は、第１ステップＳＴ５１及び第２ステップＳＴ５２の各々の切換条件ＣＳを、動作条件ＣＭに対応付けて表示する。

図９に示すように、第１ステップＳＴ５１の動作条件ＣＭは、変位速度目標値ＸＶＴが５．００ｍｍ／ｍｉｎである。
すなわち、第１ステップＳＴ５１では、試験実行部５１６は、図３に示す第１試験条件ＣＴ１の第１ステップＳＴ１１と同様に、変位速度一定制御を実行する。

また、図９に示すように、第１ステップＳＴ５１の切換条件ＣＳは、試験力ＦＰが２００Ｎに到達することである。すなわち、試験力ＦＰが２００Ｎに到達したときに、試験実行部５１６は、第１ステップＳＴ５１の動作を終了し、第２ステップＳＴ５２の動作を開始する。

図９に示すように、第２ステップＳＴ５２の動作条件ＣＭは、変位Ｘを一定に保持することである。
すなわち、第２ステップＳＴ５２では、図３に示す第１試験条件ＣＴ１の第２ステップＳＴ１２と同様に、試験実行部５１６は、変位一定制御を実行する。

また、図９示すように、第２ステップＳＴ５２の切換条件ＣＳは、動作時間ＴＭが３６００ｓｅｃに到達することである。すなわち、第２ステップＳＴ５２の動作を開始してからの経過時間が３６００ｓｅｃに到達したときに、試験実行部５１６は、第２ステップＳＴ５２の動作を終了し、第３ステップＳＴ５３の動作を開始する。

図９示すように、第３ステップＳＴ５３の動作条件ＣＭは、「ＯＦＦ」と表示され、試験実行部５１６は、第３ステップＳＴ５３で引張試験を終了する。

図９に示す試験条件選択部６３０は、図３に示す試験条件選択部６３０と同一であるため、その説明を省略する。

図３、図５、図６、図８、及び図９を参照して説明したように、第１条件表示部５１１は、第１試験条件ＣＴ１をＬＣＤ５３１に表示させ、第２条件表示部５１３は、第２試験条件ＣＴ２をＬＣＤ５３１に表示させ、第３条件表示部５１５は、第３試験条件ＣＴ３をＬＣＤ５３１に表示させる。よって、ユーザは、第１試験条件ＣＴ１、第２試験条件ＣＴ２、及び第３試験条件ＣＴ３を視認できる。したがって、ユーザの利便性を向上できる。

また、図３、図５、図６、図８、及び図９を参照して説明したように、第１試験条件ＣＴ１、第２試験条件ＣＴ２、及び第３試験条件ＣＴ３の各々を構成するステップＳＴは、試験機本体２に実行させる動作を規定する動作条件ＣＭと、動作条件ＣＭを次のステップＳＴの動作条件ＣＭに切り換える切換条件ＣＳと、を含む。よって、ユーザは、第１試験条件ＣＴ１、第２試験条件ＣＴ２、及び第３試験条件ＣＴ３の各々を構成するステップＳＴの動作条件ＣＭと切換条件ＣＳとを視認できる。したがって、ユーザの利便性を向上できる。

また、図４及び図７を参照して説明したように、第１分岐条件表示部５１２は、第１分岐条件ＣＢ１をＬＣＤ５３１に表示させ、第２分岐条件表示部５１４は、第２分岐条件ＣＢ２をＬＣＤ５３１に表示させる。よって、ユーザは、第１分岐条件ＣＢ１及び第２分岐条件ＣＢ２を視認できる。したがって、ユーザの利便性を向上できる。

また、図４及び図７を参照して説明したように、第１分岐条件表示部５１２は、第１オブジェクトＢＪ１に対して所定の操作が行われた場合に、第１分岐条件ＣＢ１をＬＣＤ５３１に表示させ、第２分岐条件表示部５１４は、第４オブジェクトＢＪ４に対して所定の操作が行われた場合に、第２分岐条件ＣＢ２をＬＣＤ５３１に表示させる。また、第１オブジェクトＢＪ１は、第１試験条件ＣＴ１を表示する第１条件表示画面６００の分岐表示部６４０に対応し、第４オブジェクトＢＪ４は、第２試験条件ＣＴ２を表示する第２試験条件表示画面６６０の分岐表示部６４０に対応する。よって、ユーザは、容易に第１分岐条件ＣＢ１及び第２分岐条件ＣＢ２を表示できる。したがって、ユーザの利便性を向上できる。

［４．制御部の処理］
次に、図１０～図１２を参照して、制御部５１の処理について説明する。
図１０は、本実施形態に係る制御部５１の「試験条件設定処理」の一例を示すフローチャートである。「試験条件設定処理」は、試験条件ＣＴを設定する処理である。「試験条件設定処理」は、第１条件設定部５０１、第１分岐設定部５０２、第２条件設定部５０３、第２分岐設定部５０４、及び第３条件設定部５０５によって実行される。

まず、ステップＳ１０１において、第１条件設定部５０１は、操作部５２に対するユーザの操作に基づいて、第１分岐点ＢＲ１より前の試験条件ＣＴである第１試験条件ＣＴ１を設定する。
次に、ステップＳ１０３において、第１分岐設定部５０２は、操作部５２に対するユーザの操作に基づいて、第１試験条件ＣＴ１が２つ以上の第２試験条件ＣＴ２に分岐する第１分岐点ＢＲ１における第１分岐条件ＣＢ１を設定する。
次に、ステップＳ１０５において、第２条件設定部５０３は、操作部５２に対するユーザの操作に基づいて、第１分岐点ＢＲ１より後の試験条件ＣＴである第２試験条件ＣＴ２を設定する。

次に、ステップＳ１０７において、第２分岐設定部５０４は、操作部５２に対するユーザの操作に基づいて、第２試験条件ＣＴ２が２つ以上の第３試験条件ＣＴ３に分岐する第２分岐点ＢＲ２における第２分岐条件ＣＢ２を設定する。
次に、ステップＳ１０９において、第３条件設定部５０５は、操作部５２に対するユーザの操作に基づいて、第２分岐点ＢＲ２より後の試験条件ＣＴである第３試験条件ＣＴ３を設定する。その後、処理が終了する。

図１０を参照して説明したように、第１条件設定部５０１、第１分岐設定部５０２、第２条件設定部５０３、第２分岐設定部５０４、及び第３条件設定部５０５によって、第１試験条件ＣＴ１、第２試験条件ＣＴ２、第３試験条件ＣＴ３、第１分岐条件ＣＢ１、及び、第２分岐条件ＣＢ２を設定できる。

図１１は、本実施形態に係る制御部５１の「試験条件表示処理」の一例を示すフローチャートである。「試験条件表示処理」は、試験条件ＣＴをＬＣＤ５３１に表示させる処理である。「試験条件表示処理」は、第１条件表示部５１１、第１分岐条件表示部５１２、第２条件表示部５１３、第２分岐条件表示部５１４、及び第３条件表示部５１５によって実行される。

まず、ステップＳ２０１において、第１条件表示部５１１は、操作部５２に対するユーザの操作に基づいて、第１試験条件ＣＴ１をＬＣＤ５３１に表示させる。
次に、ステップＳ２０３において、第１分岐条件表示部５１２は、第１分岐条件ＣＢ１を表示する旨の指示を受け付けたか否かを判定する。第１分岐条件ＣＢ１を表示する旨の指示は、第１オブジェクトＢＪ１に対する所定の操作に対応する。
第１分岐条件ＣＢ１を表示する旨の指示を受け付けていないと第１分岐条件表示部５１２が判定した場合（ステップＳ２０３；ＮＯ）には、処理がステップＳ２０７へ進む。第１分岐条件ＣＢ１を表示する旨の指示を受け付けたと第１分岐条件表示部５１２が判定した場合（ステップＳ２０３；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ２０５へ進む。
そして、ステップＳ２０５において、第１分岐条件表示部５１２は、第１分岐条件ＣＢ１をＬＣＤ５３１に表示させる。

次に、ステップＳ２０７において、第２条件表示部５１３は、第２試験条件ＣＴ２を表示する旨の指示を受け付けたか否かを判定する。第２試験条件ＣＴ２を表示する旨の指示は、第２オブジェクトＢＪ２に対する所定の操作に対応する。
第２試験条件ＣＴ２を表示する旨の指示を受け付けていないと第２条件表示部５１３が判定した場合（ステップＳ２０７；ＮＯ）には、処理がステップＳ２０３に戻る。第２試験条件ＣＴ２を表示する旨の指示を受け付けたと第２条件表示部５１３が判定した場合（ステップＳ２０７；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ２０９へ進む。
そして、ステップＳ２０９において、第２条件表示部５１３は、第２試験条件ＣＴ２をＬＣＤ５３１に表示させる。

次に、ステップＳ２１１において、第２分岐条件表示部５１４は、第２分岐条件ＣＢ２を表示する旨の指示を受け付けたか否かを判定する。第２分岐条件ＣＢ２を表示する旨の指示は、第４オブジェクトＢＪ４に対する所定の操作に対応する。
第２分岐条件ＣＢ２を表示する旨の指示を受け付けていないと第２分岐条件表示部５１４が判定した場合（ステップＳ２１１；ＮＯ）には、処理がステップＳ２１５へ進む。第２分岐条件ＣＢ２を表示する旨の指示を受け付けたと第２分岐条件表示部５１４が判定した場合（ステップＳ２１１；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ２１３へ進む。
そして、ステップＳ２１３において、第２分岐条件表示部５１４は、第２分岐条件ＣＢ２をＬＣＤ５３１に表示させる。

次に、ステップＳ２１５において、第３条件表示部５１５は、第３試験条件ＣＴ３を表示する旨の指示を受け付けたか否かを判定する。第３試験条件ＣＴ３を表示する旨の指示は、第５オブジェクトＢＪ５に対する所定の操作に対応する。
第３試験条件ＣＴ３を表示する旨の指示を受け付けていないと第３条件表示部５１５が判定した場合（ステップＳ２１５；ＮＯ）には、処理がステップＳ２１１に戻る。第３試験条件ＣＴ３を表示する旨の指示を受け付けたと第３条件表示部５１５が判定した場合（ステップＳ２１５；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ２１７へ進む。
そして、ステップＳ２１７において、第３条件表示部５１５は、第３試験条件ＣＴ３をＬＣＤ５３１に表示させる。その後、処理が終了する。

図１１を参照して説明したように、第１条件表示部５１１、第１分岐条件表示部５１２、第２条件表示部５１３、第２分岐条件表示部５１４、及び第３条件表示部５１５によって、図３に示す第１条件表示画面６００、図４に示す第１分岐条件表示画面７００、図５に示す第２試験条件表示画面６５０、図６に示す第２試験条件表示画面６６０、図７に示す第２分岐条件表示画面７５０、図８に示す第３試験条件表示画面６７０、及び、図９に示す第３試験条件表示画面６８０を表示できる。

図１２は、本実施形態に係る制御部５１の「試験実行処理」の一例を示すフローチャートである。「試験実行処理」は、試験条件ＣＴに対応する試験を試験機本体２に実行させる処理である。「試験実行処理」は、試験実行部５１６によって実行される。

まず、ステップＳ３０１において、試験実行部５１６は、第１試験条件ＣＴ１に対応する試験を試験機本体２に実行させる。
次に、ステップＳ３０３において、試験実行部５１６は、第１分岐点ＢＲ１に到達したか否かを判定する。
第１分岐点ＢＲ１に到達していないと試験実行部５１６が判定した場合（ステップＳ３０３；ＮＯ）には、処理がステップＳ３０１に戻る。第１分岐点ＢＲ１に到達したと試験実行部５１６が判定した場合（ステップＳ３０３；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ３０５へ進む。

そして、ステップＳ３０５において、試験実行部５１６は、第１分岐条件ＣＢ１を満たすか否かを判定する。
第１分岐条件ＣＢ１を満たさないと試験実行部５１６が判定した場合（ステップＳ３０５；ＮＯ）には、処理がステップＳ３０９へ進む。第１分岐条件ＣＢ１を満たすと試験実行部５１６が判定した場合（ステップＳ３０５；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ３０７へ進む。
そして、ステップＳ３０７において、試験実行部５１６は、第２Ａ試験条件ＣＴ２Ａに対応する試験を試験機本体２に実行させる。その後、処理が終了する。

第１分岐条件ＣＢ１を満たさないと試験実行部５１６が判定した場合（ステップＳ３０５；ＮＯ）には、ステップＳ３０９において、試験実行部５１６は、第２Ｂ試験条件ＣＴ２Ｂに対応する試験を試験機本体２に実行させる。
次に、ステップＳ３１１において、試験実行部５１６は、第２分岐点ＢＲ２に到達したか否かを判定する。
第２分岐点ＢＲ２に到達していないと試験実行部５１６が判定した場合（ステップＳ３１１；ＮＯ）には、処理がステップＳ３０９に戻る。第２分岐点ＢＲ２に到達したと試験実行部５１６が判定した場合（ステップＳ３１１；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ３１３へ進む。

そして、ステップＳ３１３において、試験実行部５１６は、第２分岐条件ＣＢ２を満たすか否かを判定する。
第２分岐条件ＣＢ２を満たすと試験実行部５１６が判定した場合（ステップＳ３１３；ＹＥＳ）には、処理がステップＳ３１５へ進む。
そして、ステップＳ３１５において、試験実行部５１６は、第３Ａ試験条件ＣＴ３Ａに対応する試験を試験機本体２に実行させる。その後、処理が終了する。
第２分岐条件ＣＢ２を満たさないと試験実行部５１６が判定した場合（ステップＳ３１３；ＮＯ）には、処理がステップＳ３１７へ進む。
そして、ステップＳ３１７において、試験実行部５１６は、第３Ｂ試験条件ＣＴ３Ｂに対応する試験を試験機本体２に実行させる。その後、処理が終了する。

図１２を参照して説明したように、試験実行部５１６によって、第１試験条件ＣＴ１、第２Ａ試験条件ＣＴ２Ａ、第２Ｂ試験条件ＣＴ２Ｂ、第３Ａ試験条件ＣＴ３Ａ、及び第３Ｂ試験条件ＣＴ３Ｂの各々に対応する試験を実行できる。

［５．態様と効果］
上述した本実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。

（第１項）
本発明の態様に関わる材料試験機は、少なくとも１つの検出器を有する試験機本体と、制御部と、を備え、前記制御部は、試験条件が２つ以上の試験条件に分岐する分岐点における分岐条件を、前記検出器の検出結果に対応付けて設定する分岐設定部と、前記分岐点より前の試験条件である第１試験条件を設定する第１条件設定部と、前記分岐点より後の試験条件である第２試験条件を設定する第２条件設定部と、を備える。

第１項に記載の材料試験機によれば、前記制御部は、試験条件が２つ以上の試験条件に分岐する分岐点における分岐条件を、前記検出器の検出結果に対応付けて設定する分岐設定部と、前記分岐点より前の試験条件である第１試験条件を設定する第１条件設定部と、前記分岐点より後の試験条件である第２試験条件を設定する第２条件設定部と、を備える。
したがって、試験の途中で複数の試験条件に分岐する試験条件を設定できる。

（第２項）
第１項に記載の材料試験機において、ディスプレイを更に備え、前記制御部は、前記第１試験条件を前記ディスプレイに表示させる第１条件表示部と、前記分岐条件を前記ディスプレイに表示させる分岐条件表示部と、を更に備え、前記第１条件表示部は、前記分岐条件を前記ディスプレイに表示させる旨の指示を受け付ける第１オブジェクトを表示し、前記第１オブジェクトに対して所定の操作が行われた場合に、前記分岐条件表示部は、前記分岐条件を前記ディスプレイに表示させる。

第２項に記載の材料試験機によれば、前記第１条件表示部は、前記分岐条件を前記ディスプレイに表示させる旨の指示を受け付ける第１オブジェクトを表示し、前記第１オブジェクトに対して所定の操作が行われた場合に、前記分岐条件表示部は、前記分岐条件を前記ディスプレイに表示させる。
よって、ユーザは分岐条件をディスプレイに容易に表示できる。したがって、ユーザは分岐条件を容易に確認できる。

（第３項）
第２項に記載の材料試験機において、前記制御部は、前記第２試験条件を前記ディスプレイに表示させる第２条件表示部、を更に備え、前記第１条件表示部は、前記第２試験条件を前記ディスプレイに表示させる旨の指示を受け付ける第２オブジェクトを表示し、前記第２オブジェクトに対して所定の操作が行われた場合に、前記第２条件表示部は、前記第２試験条件を前記ディスプレイに表示させる。

第３項に記載の材料試験機によれば、前記第１条件表示部は、前記第２試験条件を前記ディスプレイに表示させる旨の指示を受け付ける第２オブジェクトを表示し、前記第２オブジェクトに対して所定の操作が行われた場合に、前記第２条件表示部は、前記第２試験条件を前記ディスプレイに表示させる。
よって、ユーザは第２試験条件をディスプレイに容易に表示できる。したがって、ユーザは第２試験条件を容易に確認できる。

（第４項）
第３項に記載の材料試験機において、前記第２条件表示部は、前記第１試験条件を前記ディスプレイに表示させる旨の指示を受け付ける第３オブジェクトを表示し、前記第３オブジェクトに対して所定の操作が行われた場合に、前記第１条件表示部は、前記第１試験条件を前記ディスプレイに表示させる。

第４項に記載の材料試験機によれば、前記第２条件表示部は、前記第１試験条件を前記ディスプレイに表示させる旨の指示を受け付ける第３オブジェクトを表示し、前記第３オブジェクトに対して所定の操作が行われた場合に、前記第１条件表示部は、前記第１試験条件を前記ディスプレイに表示させる。
よって、ユーザは第１試験条件をディスプレイに容易に表示できる。したがって、ユーザは第１試験条件を容易に確認できる。

（第５項）
第２項から第４項のいずれか１項に記載の材料試験機において、前記第１試験条件は、複数のステップで構成され、前記複数のステップの各々は、前記試験機本体に実行させる動作を規定する動作条件と、前記動作条件を次のステップの動作条件に切り換える切換条件と、を含む。

第５項に記載の材料試験機によれば、前記第１試験条件は、複数のステップで構成され、前記複数のステップの各々は、前記試験機本体に実行させる動作を規定する動作条件と、前記動作条件を次のステップの動作条件に切り換える切換条件と、を含む。
すなわち、動作条件で前記試験機本体に実行させる動作が規定され、切換条件に基づいて、動作条件が次のステップの動作条件に切り換えられる。よって、動作条件及び切換条件によって、複数のステップの各々の動作、及び切り換えを明確に規定できる。したがって、複数のステップで構成される第１試験条件を明確に規定できる。

（第６項）
第５項に記載の材料試験機において、前記第１条件表示部は、前記複数のステップの各々を規定する前記動作条件及び前記切換条件を、前記ディスプレイの左右方向又は上下方向に並べて表示する。

第６項に記載の材料試験機によれば、前記第１条件表示部は、前記複数のステップの各々を規定する前記動作条件及び前記切換条件を、前記ディスプレイの左右方向又は上下方向に並べて表示する。
したがって、複数のステップの各々を規定する前記動作条件及び前記切換条件を、ユーザが見易いように表示できる。

（第７項）
第５項又は第６項に記載の材料試験機において、前記材料試験機は、試験片に試験力を付与して前記試験片を変形させる引張試験装置であって、前記動作条件は、前記試験力の目標値、前記試験力が変化する速度の目標値、前記試験片の変位の目標値、及び前記試験片の変位が変化する速度の目標値の少なくとも１つを含み、前記切換条件は、前記試験力の目標値、前記試験片の変位の目標値、及び動作時間ＴＭの少なくとも１つを含む。

第７項に記載の材料試験機によれば、前記動作条件は、前記試験力の目標値、前記試験力が変化する速度の目標値、前記試験片の変位の目標値、及び前記試験片の変位が変化する速度の目標値の少なくとも１つを含み、前記切換条件は、前記試験力の目標値、前記試験片の変位の目標値、及び動作時間ＴＭの少なくとも１つを含む。
よって、動作条件を適正に規定でき、切換条件を適正に規定できる。したがって、第１試験条件を適正に規定でき、ユーザが見易く表示できる。

［６．その他の実施形態］
なお、本実施形態に係る引張試験機１は、あくまでも本発明に係る材料試験機の態様の例示であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲において任意に変形および応用が可能である。
例えば、本実施形態では、材料試験機が引張試験機１である場合について説明したが、本実施形態はこれに限定されない。材料試験機が試験片ＴＰに試験力を付与し、試験片ＴＰを変形させて材料試験を行えばよい。例えば、材料試験機が、圧縮試験機、曲げ試験機、又はねじり試験機でもよい。

また、図１及び図２に示した各機能部は機能的構成を示すものであって、具体的な実装形態は特に制限されない。つまり、必ずしも各機能部に個別に対応するハードウェアが実装される必要はなく、一つのプロセッサがプログラムを実行することで複数の機能部の機能を実現する構成とすることも勿論可能である。また、上記実施形態においてソフトウェアで実現される機能の一部をハードウェアで実現してもよく、或いは、ハードウェアで実現される機能の一部をソフトウェアで実現してもよい。

本実施形態では、第１試験条件ＣＴ１が、２つの試験条件ＣＴ（すなわち、第２Ａ試験条件ＣＴ２Ａ、及び、第２Ｂ試験条件ＣＴ２Ｂ）に分岐する場合について説明したが、これに限定されない。第１試験条件ＣＴ１が３つ以上の試験条件ＣＴに分岐してもよい。

本実施形態では、第１オブジェクトＢＪ１が、ボタンオブジェクトとして機能する分岐表示部６４０である場合について説明したが、これに限定されない。第１オブジェクトＢＪ１が、アイコンでもよいし、ブルダウンメニューでもよい。

本実施形態では、第２オブジェクトＢＪ２、及び第３オブジェクトＢＪ３の各々がプルダウンメニューとして機能する試験条件選択部６３０である場合について説明したが、これに限定されない。第２オブジェクトＢＪ２、及び第３オブジェクトＢＪ３の各々が、ボタンオブジェクトでもよいし、アイコンでもよい。

本実施形態では、第１条件表示部５１１が、第１試験条件ＣＴ１を構成する複数のステップＳＴの各々の動作条件ＣＭ及び切換条件ＣＳをＬＣＤ５３１の左右方向に並べて表示する場合について説明したが、これに限定されない。第１条件表示部５１１が、第１試験条件ＣＴ１を構成する複数のステップＳＴの各々の動作条件ＣＭ及び切換条件ＣＳをＬＣＤ５３１の上下方向に並べて表示してもよい。

本実施形態では、制御部５１が、パーソナルコンピュータで構成される場合について説明したが、これに限定されない。制御部５１が、ＩＣチップやＬＳＩなどの集積回路といった１つ又は複数の適宜の回路によって構成されてもよい。また、制御部５１は、例えば、タブレット端末、又はスマートフォン等で構成されてもよい。

本実施形態では、「ディスプレイ」がＬＣＤ５３１である場合について説明したが、これに限定されない。「ディスプレイ」が、例えば、ＰＤＰ（Ｐｌａｓｍａ Ｄｉｓｐｌａｙ Ｐａｎｅｌ）でもよいし、ＣＲＴ（Ｃａｔｈｏｄｅ－Ｒａｙ Ｔｕｂｅ）ディスプレイでもよい。

また、図１０～図１２の各々に示すフローチャートの処理単位は、制御部５１の処理を理解容易にするために、主な処理内容に応じて分割したものである。図１０～図１２の各々のフローチャートに示す処理単位の分割の仕方や名称によって制限されることはなく、処理内容に応じて、さらに多くの処理単位に分割することもできるし、１つの処理単位がさらに多くの処理を含むように分割することもできる。また、上記のフローチャートの処理順序も、図示した例に限られるものではない。

また、引張試験機１の制御装置５０は、制御部５１が備えるプロセッサ５１Ａに、制御プログラムを実行させる。また、この制御プログラムは、コンピュータで読み取り可能に記録した記録媒体に記録しておくことも可能である。記録媒体としては、磁気的、光学的記録媒体又は半導体メモリデバイスを用いることができる。具体的には、フレキシブルディスク、ＨＤＤ、ＳＳＤ、ＣＤ－ＲＯＭ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｋ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＤＶＤ、Ｂｌｕ－ｒａｙ（登録商標） Ｄｉｓｃ、光磁気ディスク、フラッシュメモリ、カード型記録媒体等の可搬型、或いは固定式の記録媒体が挙げられる。また、記録媒体は、制御部５１が備える内部記憶装置であるＲＡＭ、ＲＯＭ、ＨＤＤ等の不揮発性記憶装置であってもよい。また、制御プログラムをサーバー装置等に記憶させておき、サーバー装置から制御部５１に、制御プログラムをダウンロードしてもよい。

１ 引張試験機（材料試験機）
２ 試験機本体
３ 制御ユニット
１４ ロードセル（検出器）
１５ 変位センサ（検出器）
１９ 差動トランス（検出器）
５０ 制御装置
５１ 制御部
５１Ａ プロセッサ
５１Ｂ メモリ
５０１ 第１条件設定部
５０２ 第１分岐設定部（分岐設定部）
５０３ 第２条件設定部
５０４ 第２分岐設定部
５０５ 第３条件設定部
５１１ 第１条件表示部
５１２ 第１分岐条件表示部（分岐条件表示部）
５１３ 第２条件表示部
５１４ 第２分岐条件表示部
５１５ 第３条件表示部
５１６ 試験実行部
５２ 操作部
５３ 表示部
５３１ ＬＣＤ（ディスプレイ）
６００ 第１条件表示画面
６５０、６６０ 第２試験条件表示画面
６７０、６８０ 第３試験条件表示画面
７００ 第１分岐条件表示画面
７５０ 第２分岐条件表示画面
ＢＪ１ 第１オブジェクト
ＢＪ２ 第２オブジェクト
ＢＪ３ 第３オブジェクト
ＢＪ４ 第４オブジェクト
ＢＪ５ 第５オブジェクト
ＢＲ１ 第１分岐点（分岐点）
ＢＲ２ 第２分岐点
ＣＢ１ 第１分岐条件（分岐条件）
ＣＢ２ 第２分岐条件
ＣＭ 動作条件
ＣＳ 切換条件
ＣＴ 試験条件
ＣＴ１ 第１試験条件
ＣＴ２ 第２試験条件
ＣＴ２Ａ 第２Ａ試験条件
ＣＴ２Ｂ 第２Ｂ試験条件
ＣＴ３ 第３試験条件
ＣＴ３Ａ 第３Ａ試験条件
ＣＴ３Ｂ 第３Ｂ試験条件
ＥＤ 伸び計測値
ＦＰ 試験力
ＦＴ 試験力目標値
ＦＶＴ 試験力速度目標値
ＳＴ ステップ
ＳＴ１１、ＳＴ２１、ＳＴ３１、ＳＴ４１、ＳＴ５１ 第１ステップ
ＳＴ１２、ＳＴ２２、ＳＴ３２、ＳＴ４２、ＳＴ５２ 第２ステップ
ＳＴ１３、ＳＴ３３、ＳＴ５３ 第３ステップ
ＳＴ１４、ＳＴ３４ 第４ステップ
ＳＴ１５ 第５ステップ
ＴＭ 動作時間
ＴＰ 試験片
Ｘ 変位
ＸＴ 変位目標値
ＸＶＴ 変位速度目標値

Claims (7)

1. 少なくとも１つの検出器を有する試験機本体と、制御部と、を備え、
   前記制御部は、
   試験条件が２つ以上の試験条件に分岐する分岐点における分岐条件を、前記検出器の検出結果に対応付けて設定する分岐設定部と、
   前記分岐点より前の試験条件である第１試験条件を設定する第１条件設定部と、
   前記分岐点より後の試験条件である第２試験条件を設定する第２条件設定部と、
   を備える、材料試験機。
2. ディスプレイを更に備え、
   前記制御部は、
   前記第１試験条件を前記ディスプレイに表示させる第１条件表示部と、
   前記分岐条件を前記ディスプレイに表示させる分岐条件表示部と、
   を更に備え、
   前記第１条件表示部は、前記分岐条件を前記ディスプレイに表示させる旨の指示を受け付ける第１オブジェクトを表示し、
   前記第１オブジェクトに対して所定の操作が行われた場合に、前記分岐条件表示部は、前記分岐条件を前記ディスプレイに表示させる、
   請求項１に記載の材料試験機。
3. 前記制御部は、
   前記第２試験条件を前記ディスプレイに表示させる第２条件表示部、を更に備え、
   前記第１条件表示部は、前記第２試験条件を前記ディスプレイに表示させる旨の指示を受け付ける第２オブジェクトを表示し、
   前記第２オブジェクトに対して所定の操作が行われた場合に、前記第２条件表示部は、前記第２試験条件を前記ディスプレイに表示させる、
   請求項２に記載の材料試験機。
4. 前記第２条件表示部は、前記第１試験条件を前記ディスプレイに表示させる旨の指示を受け付ける第３オブジェクトを表示し、
   前記第３オブジェクトに対して所定の操作が行われた場合に、前記第１条件表示部は、前記第１試験条件を前記ディスプレイに表示させる、
   請求項３に記載の材料試験機。
5. 前記第１試験条件は、複数のステップで構成され、
   前記複数のステップの各々は、前記試験機本体に実行させる動作を規定する動作条件と、前記動作条件を次のステップの動作条件に切り換える切換条件と、を含む、
   請求項２から請求項４のいずれか１項に記載の材料試験機。
6. 前記第１条件表示部は、前記複数のステップの各々を規定する前記動作条件及び前記切換条件を、前記ディスプレイの左右方向又は上下方向に並べて表示する、
   請求項５に記載の材料試験機。
7. 前記材料試験機は、試験片に試験力を付与して前記試験片を変形させる引張試験装置であって、
   前記動作条件は、前記試験力の目標値、前記試験力が変化する速度の目標値、前記試験片の変位の目標値、及び前記試験片の変位が変化する速度の目標値の少なくとも１つを含み、
   前記切換条件は、前記試験力の目標値、前記試験片の変位の目標値、及び動作時間の少なくとも１つを含む、
   請求項５又は請求項６に記載の材料試験機。

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