JP3230393B2 - 液晶パネルの検査方法 - Google Patents
液晶パネルの検査方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば液晶セルをＸ−
Ｙマトリクス状に配置して画像の表示を行う液晶パネル
の検査方法に関するものである。
Ｙマトリクス状に配置して画像の表示を行う液晶パネル
の検査方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】例えば液晶を用いてテレビ画像を表示す
ることが提案（特開昭５９−２２０７０３号公報等参
照）されている。
ることが提案（特開昭５９−２２０７０３号公報等参
照）されている。
【０００３】すなわち図６は、液晶ディスプレイ装置を
構成する液晶表示パネルの構成を示す。この図６におい
て、１はテレビの映像信号が供給される入力端子であ
る。この入力端子１からの信号が、それぞれ例えばＮチ
ャンネルＦＥＴからなるスイッチング素子Ｍ1 、Ｍ2 ・
・・Ｍm を通じて垂直（Ｙ軸）方向の信号線Ｌ1 、Ｌ2
・・・Ｌm に供給される。なお、ｍは水平（Ｘ軸）方向
の画素数に相当する数である。
構成する液晶表示パネルの構成を示す。この図６におい
て、１はテレビの映像信号が供給される入力端子であ
る。この入力端子１からの信号が、それぞれ例えばＮチ
ャンネルＦＥＴからなるスイッチング素子Ｍ1 、Ｍ2 ・
・・Ｍm を通じて垂直（Ｙ軸）方向の信号線Ｌ1 、Ｌ2
・・・Ｌm に供給される。なお、ｍは水平（Ｘ軸）方向
の画素数に相当する数である。
【０００４】さらに、ｍ段のシフトレジスタからなる水
平走査回路２が設けられる。この水平走査回路２には水
平周波数のｍ倍のクロック信号Φ1H, Φ2Hが供給され、
このクロック信号Φ1H, Φ2Hによって順次走査される駆
動パルス信号φH1, φH2・・・φHmが水平走査回路２の
各出力端子から取り出される。この駆動パルス信号φ H1
〜φHmがスイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm の各制御端子に供
給される。なお水平走査回路２には低電位（ＶSS）と高
電位（ＶDD）が供給され、この２つの電位の間で駆動パ
ルスが形成される。
平走査回路２が設けられる。この水平走査回路２には水
平周波数のｍ倍のクロック信号Φ1H, Φ2Hが供給され、
このクロック信号Φ1H, Φ2Hによって順次走査される駆
動パルス信号φH1, φH2・・・φHmが水平走査回路２の
各出力端子から取り出される。この駆動パルス信号φ H1
〜φHmがスイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm の各制御端子に供
給される。なお水平走査回路２には低電位（ＶSS）と高
電位（ＶDD）が供給され、この２つの電位の間で駆動パ
ルスが形成される。
【０００５】また各信号線Ｌ1 〜Ｌm には、それぞれ例
えばＮチャンネルＦＥＴからなるスイッチング素子
Ｍ11、Ｍ21・・・Ｍn1、Ｍ12、Ｍ22・・・Ｍn2、・・・
Ｍ1m、Ｍ 2m・・・Ｍnmの一端が接続される。なおｎは水
平走査線数に相当する数である。このスイッチング素子
Ｍ11〜Ｍnmの他端が、それぞれ液晶セルＣ11、Ｃ21・・
・Ｃnmの画素電極に接続され、この液晶セルＣ11〜Ｃnm
の対抗電極が対抗電極端子３に接続される。またこれら
の液晶セルＣ11〜Ｃnmには、並列に電圧保持用の液晶セ
ルの一部を構成するコンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmが設けら
れる。
えばＮチャンネルＦＥＴからなるスイッチング素子
Ｍ11、Ｍ21・・・Ｍn1、Ｍ12、Ｍ22・・・Ｍn2、・・・
Ｍ1m、Ｍ 2m・・・Ｍnmの一端が接続される。なおｎは水
平走査線数に相当する数である。このスイッチング素子
Ｍ11〜Ｍnmの他端が、それぞれ液晶セルＣ11、Ｃ21・・
・Ｃnmの画素電極に接続され、この液晶セルＣ11〜Ｃnm
の対抗電極が対抗電極端子３に接続される。またこれら
の液晶セルＣ11〜Ｃnmには、並列に電圧保持用の液晶セ
ルの一部を構成するコンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmが設けら
れる。
【０００６】さらに、ｎ段のシフトレジスタからなる垂
直走査回路４が設けられる。この垂直走査回路４には水
平周波数のクロック信号Φ1V、Φ2Vが供給され、このク
ロック信号Φ1V、Φ2Vによって順次走査される駆動パル
ス信号φV1、φV2・・・φVnが垂直走査回路４の各出力
端子から取り出される。この駆動パルス信号φV1〜φ Vn
が水平（Ｘ軸）方向のゲート線Ｇ1 、Ｇ2 ・・・Ｇn を
通じてスイッチング素子Ｍ11〜ＭnmのＸ軸方向の各列
（Ｍ11〜Ｍ1m）、（Ｍ21〜Ｍ2m）・・・（Ｍn1〜Ｍnm）
ごとの制御端子にそれぞれ供給される。なお、垂直走査
回路４にも水平走査回路２と同様に低電位（ＶSS）と高
電位（ＶDD）が供給され、この２つの電位の間で駆動パ
ルスが形成される。
直走査回路４が設けられる。この垂直走査回路４には水
平周波数のクロック信号Φ1V、Φ2Vが供給され、このク
ロック信号Φ1V、Φ2Vによって順次走査される駆動パル
ス信号φV1、φV2・・・φVnが垂直走査回路４の各出力
端子から取り出される。この駆動パルス信号φV1〜φ Vn
が水平（Ｘ軸）方向のゲート線Ｇ1 、Ｇ2 ・・・Ｇn を
通じてスイッチング素子Ｍ11〜ＭnmのＸ軸方向の各列
（Ｍ11〜Ｍ1m）、（Ｍ21〜Ｍ2m）・・・（Ｍn1〜Ｍnm）
ごとの制御端子にそれぞれ供給される。なお、垂直走査
回路４にも水平走査回路２と同様に低電位（ＶSS）と高
電位（ＶDD）が供給され、この２つの電位の間で駆動パ
ルスが形成される。
【０００７】すなわちこの回路において、水平走査回路
２には図７のＡに示すようなクロック信号Φ1H、Φ2Hが
供給され、垂直走査回路４には図７のＢに示すようなク
ロック信号Φ1V、Φ2Vが供給される。そして水平走査回
路２からは図７のＣに示すように各画素期間ごとにφH1
〜φHmが出力され、垂直走査回路４からは図７のＤに示
すように１水平期間ごとにφV1〜φVnが出力される。さ
らに入力端子１には図７のＥに示すような映像信号が供
給される。
２には図７のＡに示すようなクロック信号Φ1H、Φ2Hが
供給され、垂直走査回路４には図７のＢに示すようなク
ロック信号Φ1V、Φ2Vが供給される。そして水平走査回
路２からは図７のＣに示すように各画素期間ごとにφH1
〜φHmが出力され、垂直走査回路４からは図７のＤに示
すように１水平期間ごとにφV1〜φVnが出力される。さ
らに入力端子１には図７のＥに示すような映像信号が供
給される。
【０００８】そしてφV1、φH1が出力されているとき
は、スイッチング素子Ｍ1 とＭ11〜Ｍ 1mがオンされ、入
力端子１→Ｍ1 →Ｌ1 →Ｍ11→Ｃ11//Ｃｓ11→対抗電極
端子３の電流路が形成される。これによって液晶セルＣ
11及びコンデンサＣｓ11に入力端子１に供給された映像
信号と対抗電極端子３に与えられる電位との電位差が供
給される。このためコンデンサＣｓ11に１番目の画素の
信号による電位差に相当する電荷がサンプルホールドさ
れ、この電荷量に対応して液晶セルＣ11の光透過率が変
化される。
は、スイッチング素子Ｍ1 とＭ11〜Ｍ 1mがオンされ、入
力端子１→Ｍ1 →Ｌ1 →Ｍ11→Ｃ11//Ｃｓ11→対抗電極
端子３の電流路が形成される。これによって液晶セルＣ
11及びコンデンサＣｓ11に入力端子１に供給された映像
信号と対抗電極端子３に与えられる電位との電位差が供
給される。このためコンデンサＣｓ11に１番目の画素の
信号による電位差に相当する電荷がサンプルホールドさ
れ、この電荷量に対応して液晶セルＣ11の光透過率が変
化される。
【０００９】これと同様のことが液晶セルＣ12〜Ｃnm及
びコンデンサＣｓ12〜Ｃｓnmについて、各画素ごとに順
次行われ、さらに次のフィールドの信号が供給された時
点で各コンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmにサンプルホールドさ
れた電荷量が書き換えられる。このようにして、映像信
号の各画素に対応して液晶セルＣ11〜Ｃnmの光透過率が
変化され、これが順次繰り返されてテレビ画像の表示が
行われる。
びコンデンサＣｓ12〜Ｃｓnmについて、各画素ごとに順
次行われ、さらに次のフィールドの信号が供給された時
点で各コンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmにサンプルホールドさ
れた電荷量が書き換えられる。このようにして、映像信
号の各画素に対応して液晶セルＣ11〜Ｃnmの光透過率が
変化され、これが順次繰り返されてテレビ画像の表示が
行われる。
【００１０】さらに液晶で表示を行う場合には、一般に
その信頼性、寿命を長くするために交流駆動が用いられ
る。そこで例えばテレビ画像の表示においては、上述の
図７のＥに示すように、映像信号を対抗電極の電位に対
して１フィールドまたは１フレームごとに反転させた信
号を入力端子１に供給する。また液晶ディスプレイ装置
においては表示の垂直方向のシューティング等を防止す
る目的で信号を１水平期間ごとに反転することも行われ
ている。
その信頼性、寿命を長くするために交流駆動が用いられ
る。そこで例えばテレビ画像の表示においては、上述の
図７のＥに示すように、映像信号を対抗電極の電位に対
して１フィールドまたは１フレームごとに反転させた信
号を入力端子１に供給する。また液晶ディスプレイ装置
においては表示の垂直方向のシューティング等を防止す
る目的で信号を１水平期間ごとに反転することも行われ
ている。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】ところで上述のような
液晶表示パネルにおいて、各画素を構成するスイッチン
グ素子Ｍ11〜Ｍnmと液晶セルＣ11〜Ｃnmは、数万〜数十
万の素子が微細に配列されたものであり、製造時に欠陥
が発生する恐れを解消することは困難である。このた
め、製造時にこれらの画素の欠陥を検出して製品の品質
を管理する必要があるが、上述のように微細に配列され
た各画素の欠陥を目視等で検査することは、極めて困難
であった。
液晶表示パネルにおいて、各画素を構成するスイッチン
グ素子Ｍ11〜Ｍnmと液晶セルＣ11〜Ｃnmは、数万〜数十
万の素子が微細に配列されたものであり、製造時に欠陥
が発生する恐れを解消することは困難である。このた
め、製造時にこれらの画素の欠陥を検出して製品の品質
を管理する必要があるが、上述のように微細に配列され
た各画素の欠陥を目視等で検査することは、極めて困難
であった。
【００１２】そこで液晶セルに液晶が注入される以前ま
たは注入された後の上述の液晶表示パネルに対して、入
力端子１に所定の検査信号を供給してスイッチング素子
Ｍ1〜Ｍm 及びＭ11〜Ｍnmを駆動し、コンデンサＣｓ11
〜Ｃｓnmに検査信号を書き込む。その後に再びスイッチ
ング素子Ｍ1 〜Ｍm 及びＭ11〜Ｍnmを駆動し、コンデン
サＣｓ11〜Ｃｓnmに書き込まれた検査信号を読み出す。
そしてこの読み出された信号の変動を検出して、各画素
の欠陥を検出する液晶パネルの検査方法が提案された。
たは注入された後の上述の液晶表示パネルに対して、入
力端子１に所定の検査信号を供給してスイッチング素子
Ｍ1〜Ｍm 及びＭ11〜Ｍnmを駆動し、コンデンサＣｓ11
〜Ｃｓnmに検査信号を書き込む。その後に再びスイッチ
ング素子Ｍ1 〜Ｍm 及びＭ11〜Ｍnmを駆動し、コンデン
サＣｓ11〜Ｃｓnmに書き込まれた検査信号を読み出す。
そしてこの読み出された信号の変動を検出して、各画素
の欠陥を検出する液晶パネルの検査方法が提案された。
【００１３】ところがこのような方法を採用した場合
に、上述の液晶表示パネルでは、入力端子１から液晶セ
ルＣ11〜Ｃnm及びコンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmに到るまで
には、スイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm 、Ｍ11〜Ｍnmの容量
成分や信号線Ｌ1 〜Ｌm の配線容量等の容量成分が寄生
している。従ってコンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmに書き込ま
れた検査信号を入力端子１の側に読み出す際には、これ
らのスイッチング素子や信号線の寄生容量が読み出され
る信号に影響を与えることになる。
に、上述の液晶表示パネルでは、入力端子１から液晶セ
ルＣ11〜Ｃnm及びコンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmに到るまで
には、スイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm 、Ｍ11〜Ｍnmの容量
成分や信号線Ｌ1 〜Ｌm の配線容量等の容量成分が寄生
している。従ってコンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmに書き込ま
れた検査信号を入力端子１の側に読み出す際には、これ
らのスイッチング素子や信号線の寄生容量が読み出され
る信号に影響を与えることになる。
【００１４】そしてこの場合に、これらの寄生容量はコ
ンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmに比べて値が大きく、さらに不
安定である。このため読み出される検査信号がこれらの
寄生容量の影響を受け易く、特にその値が不安定である
ことから、画素欠陥判定の誤差要因となるものであっ
た。
ンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmに比べて値が大きく、さらに不
安定である。このため読み出される検査信号がこれらの
寄生容量の影響を受け易く、特にその値が不安定である
ことから、画素欠陥判定の誤差要因となるものであっ
た。
【００１５】この出願はこのような点に鑑みてなされた
ものであって、解決しようとする問題点は、従来の方法
では、読み出される検査信号が液晶セルを構成する容量
成分以外の容量成分の影響を受け易く、画素欠陥判定の
誤差要因となるというものである。
ものであって、解決しようとする問題点は、従来の方法
では、読み出される検査信号が液晶セルを構成する容量
成分以外の容量成分の影響を受け易く、画素欠陥判定の
誤差要因となるというものである。
【００１６】
【課題を解決するための手段】本発明による第１の手段
は、垂直方向に平行に複数の垂直信号線Ｌ1 〜Ｌm と、
水平方向に平行に複数のゲート線Ｇ1 〜Ｇn とが配設さ
れ、これらの垂直信号線とゲート線との各交点にそれぞ
れ画素を構成する選択素子（スイッチング素子Ｍ11〜Ｍ
nm）と液晶セルＣ11〜Ｃnmが設けられて成り、映像信号
が水平走査手段（水平走査回路２及びスイッチング素子
Ｍ1 〜Ｍm ）を介して上記垂直信号線に供給され、駆動
信号（垂直走査回路４）が上記ゲート線を介して上記選
択素子に供給されるようにした液晶パネルに対して、上
記液晶セルに液晶が注入される以前または注入された後
に、所定の検査信号を供給して上記水平走査手段及び上
記選択素子を駆動し、上記液晶セルを構成する容量成分
（コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ nm）に上記検査信号を書き込
み、その後に上記水平走査手段及び上記選択素子を駆動
し、上記液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた上
記検査信号を読み出して、上記画素の欠陥を検出するよ
うにした液晶パネルの検査方法において、上記所定の検
査信号を供給して上記水平走査手段及び上記選択素子を
駆動し、上記液晶セルを構成する容量成分に上記検査信
号を書き込んだ後に、上記水平走査手段を駆動すると共
に、上記選択素子への上記駆動信号の供給を遮断して上
記選択素子の駆動を停止させて、上記液晶セルを構成す
る容量成分以外の配線及び回路素子の容量成分に書き込
まれた上記検査信号を読み出す期間を設け、その後に上
記水平走査手段及び上記選択素子を駆動し、上記液晶セ
ルを構成する容量成分に書き込まれた上記検査信号を読
み出して、上記画素の欠陥を検出するようにした液晶パ
ネルの検査方法である。
は、垂直方向に平行に複数の垂直信号線Ｌ1 〜Ｌm と、
水平方向に平行に複数のゲート線Ｇ1 〜Ｇn とが配設さ
れ、これらの垂直信号線とゲート線との各交点にそれぞ
れ画素を構成する選択素子（スイッチング素子Ｍ11〜Ｍ
nm）と液晶セルＣ11〜Ｃnmが設けられて成り、映像信号
が水平走査手段（水平走査回路２及びスイッチング素子
Ｍ1 〜Ｍm ）を介して上記垂直信号線に供給され、駆動
信号（垂直走査回路４）が上記ゲート線を介して上記選
択素子に供給されるようにした液晶パネルに対して、上
記液晶セルに液晶が注入される以前または注入された後
に、所定の検査信号を供給して上記水平走査手段及び上
記選択素子を駆動し、上記液晶セルを構成する容量成分
（コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ nm）に上記検査信号を書き込
み、その後に上記水平走査手段及び上記選択素子を駆動
し、上記液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた上
記検査信号を読み出して、上記画素の欠陥を検出するよ
うにした液晶パネルの検査方法において、上記所定の検
査信号を供給して上記水平走査手段及び上記選択素子を
駆動し、上記液晶セルを構成する容量成分に上記検査信
号を書き込んだ後に、上記水平走査手段を駆動すると共
に、上記選択素子への上記駆動信号の供給を遮断して上
記選択素子の駆動を停止させて、上記液晶セルを構成す
る容量成分以外の配線及び回路素子の容量成分に書き込
まれた上記検査信号を読み出す期間を設け、その後に上
記水平走査手段及び上記選択素子を駆動し、上記液晶セ
ルを構成する容量成分に書き込まれた上記検査信号を読
み出して、上記画素の欠陥を検出するようにした液晶パ
ネルの検査方法である。
【００１７】本発明による第２の手段は、第１の手段記
載の液晶パネルの検査方法において、上記画素の欠陥の
検出される液晶パネルには、上記液晶セルを構成する容
量成分に書き込まれた上記検査信号を読み出す手段（切
替えスイッチ１１、Ｉ／Ｖアンプ１２）と、上記選択素
子への上記駆動信号の供給を遮断する手段（アンド回路
Ａ1 〜Ａn 、イネーブル端子５）とを有するようにした
液晶パネルの検査方法である。
載の液晶パネルの検査方法において、上記画素の欠陥の
検出される液晶パネルには、上記液晶セルを構成する容
量成分に書き込まれた上記検査信号を読み出す手段（切
替えスイッチ１１、Ｉ／Ｖアンプ１２）と、上記選択素
子への上記駆動信号の供給を遮断する手段（アンド回路
Ａ1 〜Ａn 、イネーブル端子５）とを有するようにした
液晶パネルの検査方法である。
【００１８】本発明による第３の手段は、第１の手段記
載の液晶パネルの検査方法において、上記検査信号の上
記液晶セルを構成する容量成分への書き込み、上記液晶
セルを構成する容量成分以外の配線及び回路素子の容量
成分に書き込まれた上記検査信号の読み出し、その後の
上記液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた上記検
査信号の読み出しは、水平期間ごとに順次に行うか、垂
直期間ごとに行われるようにした液晶パネルの検査方法
である。
載の液晶パネルの検査方法において、上記検査信号の上
記液晶セルを構成する容量成分への書き込み、上記液晶
セルを構成する容量成分以外の配線及び回路素子の容量
成分に書き込まれた上記検査信号の読み出し、その後の
上記液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた上記検
査信号の読み出しは、水平期間ごとに順次に行うか、垂
直期間ごとに行われるようにした液晶パネルの検査方法
である。
【００１９】
【作用】これによれば、液晶セルを構成する容量成分に
検査信号を書き込んだ後に、選択素子を遮断して液晶セ
ルを構成する容量成分以外の配線及び回路素子の容量成
分に書き込まれた検査信号を読み出す期間を設け、その
後に液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた検査信
号を読み出して画素の欠陥を検出するようにしたので、
読み出される検査信号への液晶セルを構成する容量成分
以外の容量成分の影響を少なくして、良好な画素欠陥判
定を行うことができる。
検査信号を書き込んだ後に、選択素子を遮断して液晶セ
ルを構成する容量成分以外の配線及び回路素子の容量成
分に書き込まれた検査信号を読み出す期間を設け、その
後に液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた検査信
号を読み出して画素の欠陥を検出するようにしたので、
読み出される検査信号への液晶セルを構成する容量成分
以外の容量成分の影響を少なくして、良好な画素欠陥判
定を行うことができる。
【００２０】
【実施例】図１において、１０は本発明の適用された液
晶表示パネルを示す。なお図１において、上述の図６と
対応する部分には同一の符号を付して詳細な説明は省略
する。この液晶表示パネル１０に対して、検査装置２０
からの検査信号の出力が切替えスイッチ１１の一方の固
定接点ａを介して入力端子１に接続される。また、切替
えスイッチ１１の他方の固定接点ｂがＩ／Ｖアンプ１２
を介して検査装置２０の検査入力に接続される。さらに
検査装置２０の制御出力が切替えスイッチ１１の制御端
子に接続される。
晶表示パネルを示す。なお図１において、上述の図６と
対応する部分には同一の符号を付して詳細な説明は省略
する。この液晶表示パネル１０に対して、検査装置２０
からの検査信号の出力が切替えスイッチ１１の一方の固
定接点ａを介して入力端子１に接続される。また、切替
えスイッチ１１の他方の固定接点ｂがＩ／Ｖアンプ１２
を介して検査装置２０の検査入力に接続される。さらに
検査装置２０の制御出力が切替えスイッチ１１の制御端
子に接続される。
【００２１】また、この液晶表示パネル１０において、
垂直走査回路４からのゲート線Ｇ1〜Ｇn にそれぞれア
ンド回路Ａ1 〜Ａn が設けられる。さらにこれらのアン
ド回路Ａ1 〜Ａn がイネーブル端子５に接続され、この
イネーブル端子５が検査装置２０に接続される。さらに
検査装置２０からのクロック信号Φ1H、Φ2H、Φ1V、Φ
2V等の制御信号が液晶表示パネル１０に供給される。
垂直走査回路４からのゲート線Ｇ1〜Ｇn にそれぞれア
ンド回路Ａ1 〜Ａn が設けられる。さらにこれらのアン
ド回路Ａ1 〜Ａn がイネーブル端子５に接続され、この
イネーブル端子５が検査装置２０に接続される。さらに
検査装置２０からのクロック信号Φ1H、Φ2H、Φ1V、Φ
2V等の制御信号が液晶表示パネル１０に供給される。
【００２２】そしてこの液晶表示パネル１０に対して、
例えば水平走査回路２には通常と同じクロック信号
Φ1H、Φ2Hが供給されると共に、垂直走査回路４には、
通常の３倍の周期とされたクロック信号Φ1V、Φ2Vが供
給される。これによって垂直走査回路４からは、例えば
図２のＡに示すような駆動パルス信号φV1が取り出さ
れ、一方、水平走査回路２からは、例えば図２のＢに示
すような駆動パルス信号φ1H〜φHmが取り出される。す
なわち１つの駆動パルス信号φV1の期間に、駆動パルス
信号φ1H〜φHmが３回繰り返して取り出される。
例えば水平走査回路２には通常と同じクロック信号
Φ1H、Φ2Hが供給されると共に、垂直走査回路４には、
通常の３倍の周期とされたクロック信号Φ1V、Φ2Vが供
給される。これによって垂直走査回路４からは、例えば
図２のＡに示すような駆動パルス信号φV1が取り出さ
れ、一方、水平走査回路２からは、例えば図２のＢに示
すような駆動パルス信号φ1H〜φHmが取り出される。す
なわち１つの駆動パルス信号φV1の期間に、駆動パルス
信号φ1H〜φHmが３回繰り返して取り出される。
【００２３】さらに、上述の切替えスイッチ１１が図２
のＣに示すような検査装置２０からの制御信号によっ
て、駆動パルス信号φV1の最初の１回の駆動パルス信号
φ1H〜φHmの繰り返しの期間に検査装置２０からの検査
信号の出力側とされ、残りの２回の期間に検査入力側に
される。また、検査装置２０からの図２のＤに示すよう
なイネーブル信号がイネーブル端子５に供給される。す
なわちこのイネーブル端子５には、駆動パルス信号φV1
の中央の駆動パルス信号φ1H〜φHmの繰り返しの期間に
低電位となるイネーブル信号が供給される。
のＣに示すような検査装置２０からの制御信号によっ
て、駆動パルス信号φV1の最初の１回の駆動パルス信号
φ1H〜φHmの繰り返しの期間に検査装置２０からの検査
信号の出力側とされ、残りの２回の期間に検査入力側に
される。また、検査装置２０からの図２のＤに示すよう
なイネーブル信号がイネーブル端子５に供給される。す
なわちこのイネーブル端子５には、駆動パルス信号φV1
の中央の駆動パルス信号φ1H〜φHmの繰り返しの期間に
低電位となるイネーブル信号が供給される。
【００２４】これによって、上述の液晶表示パネル１０
に対して、駆動パルス信号φV1の中の最初の駆動パルス
信号φ1H〜φHmの期間に、検査装置２０からの検査信号
が切替えスイッチ１１の固定接点ａを介して入力端子１
に供給される。そしてこの入力端子１に供給された検査
信号がスイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm を通じて信号線Ｌ 1
〜Ｌm に供給され、対応するスイッチング素子Ｍ11〜Ｍ
1mを通じてコンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1mに書き込まれる。
それと共にこの検査信号は、スイッチング素子Ｍ1 〜Ｍ
m 、Ｍ11〜Ｍnmの容量成分や信号線Ｌ1 〜Ｌm の配線容
量等のコンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1m以外の配線及び回路素
子の寄生容量成分にも書き込まれる
に対して、駆動パルス信号φV1の中の最初の駆動パルス
信号φ1H〜φHmの期間に、検査装置２０からの検査信号
が切替えスイッチ１１の固定接点ａを介して入力端子１
に供給される。そしてこの入力端子１に供給された検査
信号がスイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm を通じて信号線Ｌ 1
〜Ｌm に供給され、対応するスイッチング素子Ｍ11〜Ｍ
1mを通じてコンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1mに書き込まれる。
それと共にこの検査信号は、スイッチング素子Ｍ1 〜Ｍ
m 、Ｍ11〜Ｍnmの容量成分や信号線Ｌ1 〜Ｌm の配線容
量等のコンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1m以外の配線及び回路素
子の寄生容量成分にも書き込まれる
【００２５】次に駆動パルス信号φV1の中の２番目の駆
動パルス信号φ1H〜φHmの期間に、スイッチング素子Ｍ
11〜Ｍnmがオフされた状態でスイッチング素子Ｍ1 〜Ｍ
m が順次オンされる。これによって上述のコンデンサＣ
ｓ11〜Ｃｓ1m以外の配線及び回路素子の寄生容量成分
が、切替えスイッチ１１の固定接点ｂを介してＩ／Ｖア
ンプ１２に接続される。そしてこのＩ／Ｖアンプ１２で
信号の読み出し動作が行われることによって、これらの
コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1m以外の配線及び回路素子の寄
生容量成分の電位レベルがＩ／Ｖアンプ１２の読み出し
レベルとなり、検査信号の成分が除去される。
動パルス信号φ1H〜φHmの期間に、スイッチング素子Ｍ
11〜Ｍnmがオフされた状態でスイッチング素子Ｍ1 〜Ｍ
m が順次オンされる。これによって上述のコンデンサＣ
ｓ11〜Ｃｓ1m以外の配線及び回路素子の寄生容量成分
が、切替えスイッチ１１の固定接点ｂを介してＩ／Ｖア
ンプ１２に接続される。そしてこのＩ／Ｖアンプ１２で
信号の読み出し動作が行われることによって、これらの
コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1m以外の配線及び回路素子の寄
生容量成分の電位レベルがＩ／Ｖアンプ１２の読み出し
レベルとなり、検査信号の成分が除去される。
【００２６】そして駆動パルス信号φV1の中の最後の駆
動パルス信号φ1H〜φHmの期間に、再びスイッチング素
子Ｍ11〜Ｍ1mがオンされると、コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ
1mに書き込まれた検査信号がスイッチング素子Ｍ11〜Ｍ
1mを通じて信号線Ｌ1 〜Ｌmに取り出され、スイッチン
グ素子Ｍ1 〜Ｍm を通じて入力端子１の側に取り出され
る。そしてこの取り出された信号が、切替えスイッチ１
１の固定接点ｂを介してＩ／Ｖアンプ１２に供給され、
このＩ／Ｖアンプ１２を通じて検査装置２０の検査入力
に供給される。
動パルス信号φ1H〜φHmの期間に、再びスイッチング素
子Ｍ11〜Ｍ1mがオンされると、コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ
1mに書き込まれた検査信号がスイッチング素子Ｍ11〜Ｍ
1mを通じて信号線Ｌ1 〜Ｌmに取り出され、スイッチン
グ素子Ｍ1 〜Ｍm を通じて入力端子１の側に取り出され
る。そしてこの取り出された信号が、切替えスイッチ１
１の固定接点ｂを介してＩ／Ｖアンプ１２に供給され、
このＩ／Ｖアンプ１２を通じて検査装置２０の検査入力
に供給される。
【００２７】従ってこの装置において、上述の２番目の
駆動パルス信号φ1H〜φHmの期間に、コンデンサＣｓ11
〜Ｃｓ1m以外の配線及び回路素子の寄生容量成分の電位
レベルがＩ／Ｖアンプ１２の読み出しレベルにされる。
これによって最後の駆動パルス信号φ1H〜φHmの期間に
は、コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1mに書き込まれた検査信号
がスイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm 、Ｍ11〜Ｍnmの容量成分
や信号線Ｌ1 〜Ｌm の配線容量等の寄生容量成分の影響
を受けること無く入力端子１の側に取り出され、この取
り出された信号が検査装置２０の検査入力に供給され
る。
駆動パルス信号φ1H〜φHmの期間に、コンデンサＣｓ11
〜Ｃｓ1m以外の配線及び回路素子の寄生容量成分の電位
レベルがＩ／Ｖアンプ１２の読み出しレベルにされる。
これによって最後の駆動パルス信号φ1H〜φHmの期間に
は、コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1mに書き込まれた検査信号
がスイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm 、Ｍ11〜Ｍnmの容量成分
や信号線Ｌ1 〜Ｌm の配線容量等の寄生容量成分の影響
を受けること無く入力端子１の側に取り出され、この取
り出された信号が検査装置２０の検査入力に供給され
る。
【００２８】すなわち従来の検査方法では、図３に示す
ように入力端子１に供給された検査信号がコンデンサＣ
ｓ11〜Ｃｓ1mに書き込まれた直後に、コンデンサＣｓ11
〜Ｃｓ1mに書き込まれた検査信号の読み出しが行われて
いた。この場合に、読み出される検査信号には、例えば
図４のＡに網点で示すような、コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ
1m以外の配線及び回路素子の寄生容量成分による影響が
発生していた。
ように入力端子１に供給された検査信号がコンデンサＣ
ｓ11〜Ｃｓ1mに書き込まれた直後に、コンデンサＣｓ11
〜Ｃｓ1mに書き込まれた検査信号の読み出しが行われて
いた。この場合に、読み出される検査信号には、例えば
図４のＡに網点で示すような、コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ
1m以外の配線及び回路素子の寄生容量成分による影響が
発生していた。
【００２９】これに対して本願の発明では、上述のよう
に検査信号がコンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1mに書き込まれた
後にスイッチング素子Ｍ11〜Ｍnmがオフされた状態で、
スイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm 、Ｍ11〜Ｍnmの容量成分や
信号線Ｌ1 〜Ｌm の配線容量等の寄生容量成分に書き込
まれた検査信号を読み出す期間を設ける。これによって
最後の期間に読み出される検査信号から、例えば図４の
Ｂに示すようにコンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1m以外の配線及
び回路素子の寄生容量成分による影響が除去される。
に検査信号がコンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1mに書き込まれた
後にスイッチング素子Ｍ11〜Ｍnmがオフされた状態で、
スイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm 、Ｍ11〜Ｍnmの容量成分や
信号線Ｌ1 〜Ｌm の配線容量等の寄生容量成分に書き込
まれた検査信号を読み出す期間を設ける。これによって
最後の期間に読み出される検査信号から、例えば図４の
Ｂに示すようにコンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1m以外の配線及
び回路素子の寄生容量成分による影響が除去される。
【００３０】従ってこのように液晶セルを構成する容量
成分以外の配線及び回路素子の寄生容量成分による影響
が除去されることによって、例えば図４のＢ中のａに示
すように、欠陥部分の信号の変動が明瞭になる。そして
このような検査信号を用いることによって、良好な画素
欠陥判定を行うことができるようになる。
成分以外の配線及び回路素子の寄生容量成分による影響
が除去されることによって、例えば図４のＢ中のａに示
すように、欠陥部分の信号の変動が明瞭になる。そして
このような検査信号を用いることによって、良好な画素
欠陥判定を行うことができるようになる。
【００３１】こうして上述の方法によれば、液晶セルを
構成する容量成分に検査信号を書き込んだ後に、選択素
子を遮断して液晶セルを構成する容量成分以外の配線及
び回路素子の寄生容量成分に書き込まれた検査信号を読
み出す期間を設け、その後に液晶セルを構成する容量成
分に書き込まれた検査信号を読み出して画素の欠陥を検
出するようにしたので、読み出される検査信号へを構成
する容量成分以外の寄生容量成分の影響を少なくして、
良好な画素欠陥判定を行うことができるものである。
構成する容量成分に検査信号を書き込んだ後に、選択素
子を遮断して液晶セルを構成する容量成分以外の配線及
び回路素子の寄生容量成分に書き込まれた検査信号を読
み出す期間を設け、その後に液晶セルを構成する容量成
分に書き込まれた検査信号を読み出して画素の欠陥を検
出するようにしたので、読み出される検査信号へを構成
する容量成分以外の寄生容量成分の影響を少なくして、
良好な画素欠陥判定を行うことができるものである。
【００３２】なお上述の例では、画素欠陥判定を行うた
めの検査信号の液晶セルを構成する容量成分への書き込
み、液晶セルを構成する容量成分以外の配線及び回路素
子の寄生容量成分に書き込まれた検査信号の読み出し、
その後の液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた検
査信号の読み出しは、水平期間ごとに順次に行うように
したが、これは垂直期間ごとに行うようにしてもよい。
その場合に液晶セルを構成する容量成分以外の配線及び
回路素子の寄生容量成分からの検査信号の読み出しは、
１水平期間の時間で足りるので、全体の検査に要する時
間を短縮できる。
めの検査信号の液晶セルを構成する容量成分への書き込
み、液晶セルを構成する容量成分以外の配線及び回路素
子の寄生容量成分に書き込まれた検査信号の読み出し、
その後の液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた検
査信号の読み出しは、水平期間ごとに順次に行うように
したが、これは垂直期間ごとに行うようにしてもよい。
その場合に液晶セルを構成する容量成分以外の配線及び
回路素子の寄生容量成分からの検査信号の読み出しは、
１水平期間の時間で足りるので、全体の検査に要する時
間を短縮できる。
【００３３】また上述の方法は、例えば図５に示すよう
に、コンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmの他端がそれぞれ前段の
ゲート線に接続されているような液晶表示パネルについ
ても、同様に実施することができる。すなわちこの場合
に、コンデンサＣｓ21〜Ｃｓ nmの他端がそれぞれ前段の
ゲート線に接続されると共に、最初の水平走査線のコン
デンサＣｓ11〜Ｃｓ1mが接続される前段のゲート線Ｇ0
にもアンド回路Ａ0 を設けて、他のゲート線と同様にイ
ネーブル信号によって信号の遮断を行うことによって、
上述と同様の画素欠陥判定を行うことができる。
に、コンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmの他端がそれぞれ前段の
ゲート線に接続されているような液晶表示パネルについ
ても、同様に実施することができる。すなわちこの場合
に、コンデンサＣｓ21〜Ｃｓ nmの他端がそれぞれ前段の
ゲート線に接続されると共に、最初の水平走査線のコン
デンサＣｓ11〜Ｃｓ1mが接続される前段のゲート線Ｇ0
にもアンド回路Ａ0 を設けて、他のゲート線と同様にイ
ネーブル信号によって信号の遮断を行うことによって、
上述と同様の画素欠陥判定を行うことができる。
【００３４】さらに上述の図１、図５の例において、検
査信号の信号源及び検査信号からの欠陥の判別を行う処
理回路は、それぞれ検査装置２０とは別体の回路で構成
してもよい。また、液晶表示パネル１０に設けられるア
ンド回路Ａ1 〜Ａn 及びイネーブル端子５は、インター
レース表示等の目的で設けられている回路を流用するこ
とができる。
査信号の信号源及び検査信号からの欠陥の判別を行う処
理回路は、それぞれ検査装置２０とは別体の回路で構成
してもよい。また、液晶表示パネル１０に設けられるア
ンド回路Ａ1 〜Ａn 及びイネーブル端子５は、インター
レース表示等の目的で設けられている回路を流用するこ
とができる。
【００３５】また上述の本発明による液晶パネルの検査
方法によれば、液晶セルＣ11〜Ｃnmに液晶が注入される
以前または注入された後のいずれであっても、同様に検
査を行うことができる。
方法によれば、液晶セルＣ11〜Ｃnmに液晶が注入される
以前または注入された後のいずれであっても、同様に検
査を行うことができる。
【００３６】
【発明の効果】この発明によれば、液晶セルを構成する
容量成分に検査信号を書き込んだ後に、選択素子を遮断
して液晶セルを構成する容量成分以外の配線及び回路素
子の容量成分に書き込まれた検査信号を読み出す期間を
設け、その後に液晶セルを構成する容量成分に書き込ま
れた検査信号を読み出して画素の欠陥を検出するように
したので、読み出される検査信号への液晶セルを構成す
る容量成分以外の容量成分の影響を少なくして、良好な
画素欠陥判定を行うことができるようになった。
容量成分に検査信号を書き込んだ後に、選択素子を遮断
して液晶セルを構成する容量成分以外の配線及び回路素
子の容量成分に書き込まれた検査信号を読み出す期間を
設け、その後に液晶セルを構成する容量成分に書き込ま
れた検査信号を読み出して画素の欠陥を検出するように
したので、読み出される検査信号への液晶セルを構成す
る容量成分以外の容量成分の影響を少なくして、良好な
画素欠陥判定を行うことができるようになった。
【図１】本発明による液晶パネルの検査方法を適用した
装置の一例の構成図である。
装置の一例の構成図である。
【図２】その説明のためのタイミングチャート図であ
る。
る。
【図３】その説明のためのタイミングチャート図であ
る。
る。
【図４】その説明のための波形図である。
【図５】本発明による液晶パネルの検査方法を適用した
装置の他の例の構成図である。
装置の他の例の構成図である。
【図６】液晶表示パネルの説明のための構成図である。
【図７】その説明のための波形図である。
１０ 液晶表示パネル ２０ 検査装置 １ 入力端子 ２ 水平走査回路 ３ 対向電極端子 ４ 垂直走査回路 ５ イネーブル端子 １１ 切替えスイッチ １２ Ｉ／Ｖアンプ Ｍ1 〜Ｍm スイッチング素子 Ｌ1 〜Ｌm 信号線 Ｍ11〜Ｍnm スイッチング素子 Ｃ11〜Ｃnm 液晶セル Ｃｓ11〜Ｃｓnm コンデンサ Ｇ1 〜Ｇn ゲート線 Ａ1 〜Ａn アンド回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G02F 1/13 101 G02F 1/133 550 G02F 1/1343 G02F 1/1368
Claims (3)
- 【請求項１】 垂直方向に平行に複数の垂直信号線と、
水平方向に平行に複数のゲート線とが配設され、これら
の垂直信号線とゲート線との各交点にそれぞれ画素を構
成する選択素子と液晶セルが設けられて成り、 映像信号が水平走査手段を介して上記垂直信号線に供給
され、駆動信号が上記ゲート線を介して上記選択素子に
供給されるようにした液晶パネルに対して、 上記液晶セルに液晶が注入される以前または注入された
後に、 所定の検査信号を供給して上記水平走査手段及び上記選
択素子を駆動し、上記液晶セルを構成する容量成分に上
記検査信号を書き込み、 その後に上記水平走査手段及び上記選択素子を駆動し、
上記液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた上記検
査信号を読み出して、上記画素の欠陥を検出するように
した液晶パネルの検査方法において、 上記所定の検査信号を供給して上記水平走査手段及び上
記選択素子を駆動し、上記液晶セルを構成する容量成分
に上記検査信号を書き込んだ後に、 上記水平走査手段を駆動すると共に、上記選択素子への
上記駆動信号の供給を遮断して上記選択素子の駆動を停
止させて、上記液晶セルを構成する容量成分以外の配線
及び回路素子の容量成分に書き込まれた上記検査信号を
読み出す期間を設け、 その後に上記水平走査手段及び上記選択素子を駆動し、
上記液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた上記検
査信号を読み出して、上記画素の欠陥を検出するように
した液晶パネルの検査方法。 - 【請求項２】 請求項１記載の液晶パネルの検査方法に
おいて、 上記画素の欠陥の検出される液晶パネルには、上記液晶
セルを構成する容量成分に書き込まれた上記検査信号を
読み出す手段と、上記選択素子への上記駆動信号の供給
を遮断する手段とを有するようにした液晶パネルの検査
方法。 - 【請求項３】 請求項１記載の液晶パネルの検査方法に
おいて、 上記検査信号の上記液晶セルを構成する容量成分への書
き込み、上記液晶セルを構成する容量成分以外の配線及
び回路素子の容量成分に書き込まれた上記検査信号の読
み出し、その後の上記液晶セルを構成する容量成分に書
き込まれた上記検査信号の読み出しは、水平期間ごとに
順次に行うか、垂直期間ごとに行われるようにした液晶
パネルの検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26273694A JP3230393B2 (ja) | 1994-10-26 | 1994-10-26 | 液晶パネルの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26273694A JP3230393B2 (ja) | 1994-10-26 | 1994-10-26 | 液晶パネルの検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08122728A JPH08122728A (ja) | 1996-05-17 |
| JP3230393B2 true JP3230393B2 (ja) | 2001-11-19 |
Family
ID=17379876
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26273694A Expired - Fee Related JP3230393B2 (ja) | 1994-10-26 | 1994-10-26 | 液晶パネルの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3230393B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4761773B2 (ja) * | 2005-01-06 | 2011-08-31 | シャープ株式会社 | 表示装置およびその検査方法、ならびにその表示装置の検査システム |
-
1994
- 1994-10-26 JP JP26273694A patent/JP3230393B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08122728A (ja) | 1996-05-17 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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