JP2007065540A - 電気光学装置及びその検査方法、並びに電子機器 - Google Patents

Abstract

【課題】 液晶装置等の電気光学装置において、検査条件を任意に模擬して、画素部の検査を可能とする。
【解決手段】 電気光学装置は、複数の画素部と、該複数の画素部が配列された画素領域に配線された複数の走査線及び複数のデータ線と、（i）転送信号を順次出力するシフトレジスタと、（ii）順次出力された転送信号が入力される少なくとも１つのバッファ回路を有する出力バッファとを含み、出力バッファから出力された転送信号を走査信号として複数の走査線を介して画素部に供給する走査線駆動回路とを備える。更に、バッファ回路のうち走査線への出力側の最終段に位置する最終段バッファ回路に供給される最終段バッファ回路用電源は、該最終段バッファ回路用電源を除く走査線駆動回路を駆動するための走査線駆動回路用電源から独立した電源である。
【選択図】 図６

Description

本発明は、例えば液晶装置等の電気光学装置及びその検査方法、並びに該電気光学装置を備えてなる例えば液晶プロジェクタ等の電子機器の技術分野に関する。

この種の電気光学装置は、例えば液晶装置として、基板上に、複数の走査線及びデータ線に接続された複数の画素部の他、データ線を駆動するためのデータ線駆動回路、走査線を駆動するための走査線駆動回路等が作り込まれる。

画素部の検査の一つとして、電気光学装置の組み立て途中或いは後に走査線駆動回路用の電源を利用して、画素部に電圧を印加することにより画素部を検査するといった検査方法がある。

ここで、走査線駆動回路は、順次走査のための走査信号の元信号となる転送信号を、各段から順次出力するシフトレジスタを有している。電気光学装置では、低消費電力化のため、内部回路として構築された走査線駆動回路の動作電圧を低電圧化させてあることもある。その場合、上述のシフトレジスタについても、その動作電圧が低電圧化されており、転送信号の電圧レベルは低い。このため、本願出願人により特許文献１に開示されているように、シフトレジスタの転送信号を高電圧レベルとし、マトリクス駆動電圧とするためのバッファ回路がシフトレジスタの出力側に設けられている。

特開２００４−１３９１１１号公報

しかしながら、上述した従来の検査方法によれば、走査線駆動回路用の電源の範囲内でしか検査をすることができない。このため、走査線駆動回路用電源の範囲外の電源が供給された場合を想定した検査を行うことができないという技術的問題点がある。また、例えば高温環境下での検査を行うためには、実際に電気光学装置を高温環境に設置して検査しなければならないという技術的問題点もある。

本発明は、例えば上述した問題点に鑑みなされたものであり、例えば高温環境下等の厳しい検査条件を任意に模擬して、画素部の検査を可能とする電気光学装置及びその検査方法、並びに該電気光学装置を備えてなる各種電子機器を提供することを課題とする。

本発明の電気光学装置は、上記課題を解決するために、複数の画素部と、該複数の画素部が配列された画素領域に配線された複数の走査線及び複数のデータ線と、（i）転送信号を順次出力するシフトレジスタと、（ii）前記順次出力された転送信号が入力される少なくとも１つのバッファ回路を有する出力バッファとを含み、前記出力バッファから出力された転送信号を走査信号として前記複数の走査線を介して前記画素部に供給する走査線駆動回路とを備え、前記バッファ回路のうち前記走査線への出力側の最終段に位置する最終段バッファ回路に供給される最終段バッファ回路用電源は、該最終段バッファ回路用電源を除く前記走査線駆動回路を駆動するための走査線駆動回路用電源から独立した電源である。

本発明の電気光学装置によれば、その動作時には、データ線及び走査線を介して、画像信号及び走査信号が画素部に供給される。これら画像信号等が、画素部において、例えば、画素スイッチング用トランジスタ等のスイッチング素子から選択的に画素電極等の表示用電極に供給されることでアクティブマトリクス駆動が行われる。即ち、複数の画素部がマトリクス状に平面配列された画素領域或いは画素アレイ領域（又は「画像表示領域」とも呼ぶ）における画像表示が行われる。

本発明の電気光学装置では、走査線駆動回路は、シフトレジスタと出力バッファを含んでいる。シフトレジスタは、例えば画素部に画像信号を供給すべきタイミングで、転送信号を順次出力し、出力バッファに転送する。出力バッファは、バッファ回路としての例えばインバータが複数段直列に電気的に接続されて構成されており、シフトレジスタから転送された転送信号の電圧に駆動能力を持たせる。尚、出力バッファは、転送信号の電圧レベルをレベルシフトするレベルシフタとして機能することもある。その際はインバータではなく、レベルシフタ回路が用いられる。駆動能力を持たせた、更には電圧を高められた転送信号は、最終的には走査線駆動回路から走査信号として走査線を介して画素部に供給される。尚、出力バッファは、このような駆動能力を得る機能の他、レベルシフタとしての機能、転送信号の波形整形やタイミング調整等の通常の出力バッファとしての機能を有してもよい。

本発明では特に、バッファ回路のうち出力バッファの最終段に位置する最終段バッファ回路に供給される最終段バッファ回路用電源は、該最終段バッファ回路用電源を除く走査線駆動回路を駆動するための走査線駆動回路用電源から独立した電源である。ここで、本発明に係る「独立した電源」とは、別個に電源電位の設定或いは調整が可能な電源をいい、最終段バッファ回路用電源は、該最終段バッファ回路用電源を除く走査線駆動回路用電源とは別電源或いは異なる電源である。よって、例えば電気光学装置を検査或いは評価する際に、画素部に対し、通常駆動時の電位の電源、即ち走査線駆動回路用電源に加えて或いは代えて、通常駆動時の電位の電源とは異なる電位の電源も供給することができる。即ち、通常駆動時の条件に加えて或いは代えて、通常駆動時の条件よりも厳しい条件或いはマージンを有した条件下で画素部を検査或いは評価することもできる。例えば高温環境下での画素部における電気的条件は、最終段バッファ回路用電源の電位を走査線駆動回路用電源の動作範囲を超えて変化させることによって模擬することができる。このような画素部の検査或いは評価は、特に、量産時における製品の選別或いはスクリーニングをする際に実践上大変便利である。或いは、最終段バッファ回路用電源の電位を変化させることにより、画素部における例えば画素スイッチング用トランジスタのゲート電位を任意に変化させることが可能となり、電気光学装置に実装された状態での画素スイッチング用トランジスタの静特性を測定或いは評価することが可能となる。このように画素部の静特性の測定或いは評価は、特に、試作時における測定或いは評価する際に実践上大変便利である。

以上説明したように本発明の電気光学装置によれば、最終段バッファ回路用電源を任意に変化させることが可能であるので、例えば高温環境下等の厳しい検査条件を任意に模擬して、画素部を検査或いは評価することができる。

本発明の電気光学装置の一態様では、前記画素部の検査工程において前記画素部に走査信号を供給する際に、前記最終段バッファ回路用電源の電圧が可変である。

この態様によれば、画素部の検査時に、最終段バッファ回路用電源の電圧を変化させることにより、例えば高温環境下等の厳しい検査条件を任意に模擬して、画素部を検査或いは評価することができる。

本発明の電気光学装置の他の態様では、前記バッファ回路は、複数のインバータが電気的に接続されてなる。

この態様によれば、複数のインバータのうち最終段バッファ回路を構成するインバータ以外のインバータには、走査線駆動回路用電源が供給される。よって、例えば最終段バッファ回路用電源を例えば外部回路から供給するための外部回路接続端子や電源配線を設けるだけで、例えば高温環境下等の厳しい検査条件を任意に模擬して、画素部を検査或いは評価することができる。

本発明の電子機器は、上記課題を解決するために、上述した本発明の電気光学装置（但し、その各種態様も含む）を具備する。

本発明の電子機器は、上述した本発明の電気光学装置を具備してなるので、高品質な画像表示を行うことが可能な、投射型表示装置、テレビ、携帯電話、電子手帳、ワードプロセッサ、ビューファインダ型又はモニタ直視型のビデオテープレコーダ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、タッチパネルなどの各種電子機器を実現できる。また、本発明の電子機器として、例えば電子ペーパなどの電気泳動装置、電子放出装置（Field Emission Display及びConduction Electron-Emitter Display）、これら電気泳動装置、電子放出装置を用いた表示装置を実現することも可能である。

本発明の電気光学装置の検査方法は、上記課題を解決するために、複数の画素部と、該複数の画素部が配列された画素領域に配線された複数の走査線及び複数のデータ線と、（i）転送信号を順次出力するシフトレジスタと、（ii）前記順次出力された転送信号が入力される少なくとも１つのバッファ回路を有する出力バッファとを含み、前記出力バッファから出力された転送信号を走査信号として前記複数の走査線を介して前記画素部に供給する走査線駆動回路とを備え、前記バッファ回路のうち前記走査線への出力側の最終段に位置する最終段バッファ回路に供給される最終段バッファ回路用電源は、該最終段バッファ回路用電源を除く前記走査線駆動回路を駆動するための走査線駆動回路用電源から独立した電源である電気光学装置に対して、前記最終段バッファ回路用電源の電圧を、順番に変化させると共に前記画素部に供給する検査条件変更ステップと、前記検査条件変更ステップにおいて検査場件が変更される毎に前記画素部の電気的な静特性を検査する検査ステップとを含む。

本発明の電気光学装置の検査方法によれば、先ず、検査条件変更ステップにおいて、上述した本発明の電気光学装置の画素部に例えば高温環境下等の厳しい検査条件を模擬する最終バッファ回路用電源を供給する。より具体的には、画素部における例えば画素スイッチング用トランジスタのゲート電位を通常駆動時の電源電位、即ち走査線駆動回路用電源の電位よりも低電位になるように設定する。この際、最終段バッファ回路用電源は、該最終段バッファ回路用電源を除く走査線駆動回路用電源とは独立した電源であるため、容易に走査線駆動回路用電源の電位よりも低電位になるように設定することができる。よって、検査ステップにおいて、画素部における例えば高温環境下等の厳しい検査条件下での例えば画素スイッチング用トランジスタの電気的な静特性を検査することができる。上述した検査条件変更ステップと検査ステップを例えば繰り返し交互に行うことにより、検査条件を任意に模擬して、画素部を検査或いは評価することができる。尚、このような検査方法は、試作時における画素部の評価や量産時における製品の選別或いはスクリーニングを行う際に、実践上大変便利である。

本発明の作用及び他の利得は次に説明する実施するための最良の形態から明らかにされよう。

以下では、本発明の実施形態について図を参照しつつ説明する。以下の実施形態では、本発明の電気光学装置の一例である駆動回路内蔵型のＴＦＴアクティブマトリクス駆動方式の液晶装置を例にとる。
＜第１実施形態＞
第１実施形態に係る液晶装置について、図１から図８を参照して説明する。

先ず、図１及び図２を参照して、本実施形態に係る液晶装置の全体構成について説明する。ここに図１は、本実施形態に係る液晶装置の構成を示す平面図である。図２は、図１のＨ−Ｈ´線での断面図である。

図１及び図２において、本実施形態に係る液晶装置では、ＴＦＴアレイ基板１０と対向基板２０とが対向配置されている。ＴＦＴアレイ基板１０と対向基板２０との間に液晶層５０が封入されており、ＴＦＴアレイ基板１０と対向基板２０とは、本発明に係る「画素領域」の一例としての画像表示領域１０ａの周囲に位置するシール領域に設けられた例えば光硬化性樹脂からなるシール材５２により相互に接着されている。

図１において、シール材５２が配置されたシール領域５２ａの内側に並行して、画像表示領域１０ａの周囲を規定する遮光性の額縁遮光膜５３が、対向基板２０側に設けられている。 周辺領域のうち、シール材５２が配置されたシール領域の外側に位置する領域には、データ線駆動回路１０１及び外部回路接続端子１０２がＴＦＴアレイ基板１０の一辺に沿って設けられている。この一辺に沿ったシール領域よりも内側の額縁領域に、サンプリング回路７が額縁遮光膜５３に覆われるようにして設けられている。更に、このように画像表示領域１０ａの両側に設けられた二つの走査線駆動回路１０４間をつなぐため、ＴＦＴアレイ基板１０の残る一辺に沿い、且つ、額縁遮光膜５３に覆われるようにして複数の配線１０５が設けられている。また、走査線駆動回路１０４は、この一辺に隣接する２辺に沿ったシール領域５２ａの内側の額縁領域に、額縁遮光膜５３に覆われるようにして設けられている。また、ＴＦＴアレイ基板１０上には、対向基板２０の４つのコーナー部に対向する領域に、両基板間を上下導通材１０７で接続するための上下導通端子１０６が配置されている。これらにより、ＴＦＴアレイ基板１０と対向基板２０との間で電気的な導通をとることができる。

ＴＦＴアレイ基板１０上には、外部回接続端子１０２と、データ線駆動回路１０１、走査線駆動回路１０４、上下導通端子１０６等とを電気的に接続するための引回配線９０が形成されている。

図２において、ＴＦＴアレイ基板１０上には、駆動素子である画素スイッチング用ＴＦＴ（Thin Film Transistor）や走査線、データ線等の配線が作り込まれた積層構造が形成される。画像表示領域１０ａには、画素スイッチング用ＴＦＴや走査線、データ線等の配線の上層に画素電極９ａが設けられている。他方、対向基板２０におけるＴＦＴアレイ基板１０との対向面上に、遮光膜２３が形成されている。そして、遮光膜２３上に、ＩＴＯ等の透明材料からなる対向電極２１が複数の画素電極９ａと対向して形成されている。また、液晶層５０は、例えば一種又は数種類のネマティック液晶を混合した液晶からなり、これら一対の配向膜間で、所定の配向状態をとる。

尚、ここでは図示しないが、ＴＦＴアレイ基板１０上には、データ線駆動回路１０１、走査線駆動回路１０４の他に、製造途中や出荷時の当該液晶装置の品質、欠陥等を検査するための検査回路、検査用パターン等が形成されていてもよい。

次に、図３及び図４を参照して、この液晶装置の主要な構成について説明する。ここに図３は、本実施形態に係る液晶装置の要部の構成を示すブロック図である。図４は、画素部の電気的構成を示すブロック図である。

図３において、本実施形態に係る液晶装置は、そのＴＦＴアレイ基板１０上の画像表示領域１０ａの周辺に位置する周辺領域には、走査線駆動回路１０４、データ線駆動回路１０１、サンプリング回路７等の駆動回路が形成されている。

図３に示すように、走査線駆動回路１０４には、外部回路から外部回路接続端子１０２を介してＹクロック信号ＣＬＹ（及び反転Ｙクロック信号ＣＬＹ´）、Ｙスタートパルス信号、等の各種制御信号が供給される。後述するように、走査線駆動回路１０４は、これらの信号に基づいて走査信号Ｇ１、・・・、Ｇｍをこの順に或いはこの順とは反転した順に順次生成して出力する。また、走査線駆動回路１０４には、外部回路接続端子１０２を介して走査線駆動回路１０４を駆動するための走査線駆動回路用高電位電源ＶＤＤＹ及び該走査線駆動用高電位電源よりも電位の低い走査線駆動回路用低電位電源ＶＳＳＹ、並びに後述する最終段バッファ回路用高電位電源ＶＤＤＴ及び該最終段バッファ回路用高電位電源ＶＤＤＴよりも電位の低い最終段バッファ回路用低電位電源ＶＳＳＹが供給される。

図３において、データ線駆動回路１０１には、外部回路から外部回路接続端子１０２を介してＸクロック信号（及び反転Ｘクロック信号）、及びＸスタートパルスが供給される。データ線駆動回路１０１は、Ｘスタートパルスが入力されると、Ｘクロック信号（及び反転Ｘクロック信号Ｘ）に基づくタイミングで、サンプリング信号Ｓ１、・・・、Ｓｎを順次生成して出力する。また、データ線駆動回路１０１には、外部回路接続端子１０２を介してデータ線駆動回路１０１を駆動するためのデータ線駆動回路用高電位電源ＶＤＤＸ及び該データ線駆動回路用高電位電源ＶＤＤＸよりも電位の低いデータ線駆動回路用低電位電源ＶＳＳＸが供給される。

サンプリング回路７は、Ｐチャネル型又はＮチャネル型の片チャネル型ＴＦＴ、若しくは相補型のＴＦＴから構成されたサンプリングスイッチ７ｓを複数備えている。

図３において、本実施形態に係る液晶装置には、更に、そのＴＦＴアレイ基板の中央を占める画像表示領域１０ａに、マトリクス状に配列された複数の画素部７０が設けられている。

図４に示すように、画素部７０は、画素スイッチング用ＴＦＴ７１、液晶素子７２及び蓄積容量７３を備えている。

画素スイッチング用ＴＦＴ７１は、ソースがデータ線６ａに電気的に接続されており、ゲートが走査線１１ａに電気的に接続されている。画素スイッチング用ＴＦＴ７１は、走査線駆動回路１０４から供給される走査信号によってオンオフが切り換えられる。

液晶素子７２は、画素電極９ａ、対向電極２１並びに画素電極９ａ及び対向電極２１間に狭持された液晶から構成されている。液晶素子７２において、データ線６ａ及び画素電極９ａを介して液晶に書き込まれた所定レベルの画像信号は、対向電極２１との間で一定期間保持される。液晶は、印加される電圧レベルにより分子集合の配向や秩序が変化することにより、光を変調し、階調表示を可能とする。ノーマリーホワイトモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が減少し、ノーマリーブラックモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が増加され、全体として電気光学装置からは画像信号に応じたコントラストをもつ光が出射する。

蓄積容量７３は、保持された画像信号がリークするのを防ぐために、画素電極９ａと対向電極との間に形成される液晶容量と並列に付加されている。

以上のような画素部７０が、画像表示領域１０ａにマトリクス状に配列されているので、アクティブマトリクス駆動が可能となっている。

再び図３に示すように、画像信号は、６相にシリアル−パラレル展開された画像信号ＶＩＤ１〜ＶＩＤ６の夫々に対応して、６本のデータ線６ａの組に対してグループ毎に供給されるよう構成されている。尚、画像信号の相展開数（即ち、シリアル−パラレル展開される画像信号の系列数）に関しては、６相に限られるものでなく、例えば、９相、１２相、２４相など、複数相に展開された画像信号が、その展開数に対応した数を一組としたデータ線６ａの組に対して供給されるよう構成してもよい。また、シリアル−パラレル展開しないで、データ線６ａに対して線順次に供給されるように構成してもよい。

次に、図５及び図６を参照して、本実施形態に係る液晶装置の走査線駆動回路について詳細に説明する。ここに図５は、走査線駆動回路の電気的な構成を示す回路図である。図６は、出力バッファの具体的な構成を示す回路図である。

図５において、走査線駆動回路１０４は、シフトレジスタ２４０と出力バッファ２３０をから構成されている。

シフトレジスタ２４０は、複数のインバータ２４１及びＮＡＮＤ回路２４２から構成されており、Ｙクロック信号ＣＬＹ及び反転Ｙクロック信号ＣＬＹ´に基づいて、画素部７０に画像信号を供給すべきタイミングで、転送信号を順次出力し、出力バッファ２３０に転送している。

出力バッファ２３０は、本発明に係る「バッファ回路」の一例としてのインバータ２３１、２３２及び２３３が直列に電気的に接続されている。ここで、インバータ２３３は、本発明に係る「最終段バッファ回路」の一例である。出力バッファ２３０の入力端子は、シフトレジスタ２４０の出力端子に電気的に接続されており、出力バッファ２３０の入力端子には、シフトレジスタ２４０からの転送信号が入力される。出力バッファ２３０は、シフトレジスタ２４０から転送された転送信号に駆動能力を持たせる。駆動能力（言い換えれば、電流供給能力）を得た転送信号は、最終的には走査線駆動回路１０４から走査信号として走査線１１ａを介して画素部７０に供給される。

このように、出力バッファ２３０は、複数段のインバータ２３１、２３２及び２３３から構成されることで、転送信号を、駆動能力増大、波形整形及びタイミング調整した後に、走査信号として出力する機能を有する。加えて、各走査信号のパルス幅に制限を加えることで、相前後して出力される走査信号間に隙間を空ける波形制限回路或いはイネーブル回路を、走査線駆動回路１０４内に設けることも可能である。更に、画像表示領域１０ａを複数に分割してなる個々の領域別に走査を行う、即ち領域走査方式による走査を行うように、走査信号の出力順番に変更を加える出力制御回路を、シフトレジスタ２４０と出力バッファ２３０との間又は出力バッファ２３０と走査線１１ａとの間に設けてもよい。

図６に詳細に示すように、インバータ２３１は、ＴＦＴ２３１ａ及びＴＦＴ２３１ｂから構成されている。同様に、インバータ２３２は、ＴＦＴ２３２ａ及び２３２ｂから構成されており、インバータ２３３はＴＦＴ２３３ａ及び２３３ｂから構成されている。出力バッファ２３０の入力端子は、ＴＦＴ２３１ａ及びＴＦＴ２３１ｂのゲートに電気的に接続されている。出力バッファ２３０の出力端子は、ＴＦＴ２３３ａ及びＴＦＴ２３３ｂのドレインに電気的に接続されている。

インバータ２３１及び２３２は、走査駆動回路用高電位電源ＶＤＤＸ及び低電位電源ＶＳＳＸによって駆動される。一方、インバータ２３３は、最終段バッファ回路用高電位電源ＶＤＤＴ及び低電位電源ＶＳＳＴによって駆動される。ここで、液晶装置の通常駆動時には、最終段バッファ回路用高電位電源ＶＤＤＴは、走査駆動回路用高電位電源ＶＤＤＸと同電位に設定される。同様に、最終段バッファ回路用低電位電源ＶＳＳＴは、走査駆動回路用高電位電源ＶＳＳＸと同電位に設定される。よって、転送信号の電圧は、走査駆動回路用高電位電源ＶＤＤＸの電位及び走査駆動回路用低電位電源ＶＳＳＸの電位間で遷移し、徐々に駆動能力を高められ、走査信号Ｇ１、・・・、Ｇｍとして出力される。

次に、図３、図７及び図８を参照して、最終段バッファ回路用電源及びこれを用いた検査方法について説明する。ここに図７は、本実施液体に係る液晶装置の検査方法を説明するための説明図である。図８は、本実施形態に係る液晶装置の画素スイッチング素子の電気的な静特性の一例を示すグラフである。

図３及び図７において、本実施形態では特に、出力バッファ２３０を構成するインバータ２３１、２３２及び２３３のうち出力バッファ２３０の最終段に位置するインバータ２３３に供給される最終段バッファ回路用高電位電源ＶＤＤＴ及び低電位電源ＶＳＳＴは、走査線駆動回路用高電位電源ＶＤＤＹ及び低電位電源ＶＳＳＹから独立した電源である。即ち、図３に示すように、最終段バッファ回路用高電位電源ＶＤＤＴ及び低電位電源ＶＳＳＴは、走査線駆動回路用高電位電源ＶＤＤＸ及び低電位電源ＶＳＳＸとは異なる外部回路接続端子１０２を介して供給される別電源或いは異なる電源である。よって、最終段バッファ回路用高電位電源ＶＤＤＴ及び低電位電源ＶＳＳＴは、走査線駆動回路用高電位電源ＶＤＤＹ及び低電位電源ＶＳＳＹとは別個に電源電位の設定或いは調整が可能である。従って、図７に示すように、液晶装置を検査或いは評価する際に、画素部７０に対し、通常駆動時の電位の電源、即ち走査線駆動回路用高電位電源ＶＤＤＸ及び低電位電源ＶＳＳＸに加えて或いは代えて、通常駆動時の電位の電源とは異なる電位の電源も供給することができる。即ち、通常駆動時の条件に加えて或いは代えて、通常駆動時の条件よりも厳しい条件或いはマージンを有した条件下で画素部７０を検査或いは評価することもできる。例えば高温環境下での画素部７０における電気的条件は、最終段バッファ回路用高電位電源ＶＤＤＴ及び低電位電源ＶＳＳＴの電位を走査線駆動回路用高電位電源ＶＤＤＸ及び低電位電源ＶＳＳＸの動作範囲を超えて変化させることによって模擬することができる。このような画素部７０の検査或いは評価は、特に、量産時における製品の選別或いはスクリーニングをする際に実践上大変便利である。或いは、最終段バッファ回路用高電位電源ＶＤＤＴ及び低電位電源ＶＳＳＴの電位を変化させることにより、画素部７０における例えば画素スイッチング用ＴＦＴ７１のゲート電位を任意に変化させることが可能となり、液晶装置に実装された状態での画素スイッチング用ＴＦＴ７１の静特性を測定或いは評価することが可能となる。このように画素部７０の静特性の測定或いは評価は、特に、試作時における測定或いは評価する際に実践上大変便利である。

ここで、上述した液晶装置の検査或いは評価について、より詳細に説明する。

図７において、上述した液晶装置の検査或いは評価では、先ず、本実施形態の液晶学装置の画素部７０に例えば高温環境下等の厳しい検査条件を模擬する最終バッファ回路用電位電源ＶＤＤＴ及び低電位電源ＶＳＳＴを供給する。例えば、画素部７０における画素スイッチング用ＴＦＴ７１のゲート電位が通常駆動時の電源電位、即ち走査線駆動回路用電位電源ＶＤＤＹの電位よりも低電位になるように、最終バッファ回路用高電位電源ＶＤＤＴを設定する。この際、最終段バッファ回路用高電位電源ＶＤＤＴは、走査線駆動回路用電位電源ＶＤＤＹとは独立した電源であるため、容易に走査線駆動回路用電位電源ＶＤＤＹの電位よりも低電位になるように設定することができる。仮に最終段バッファ回路用電位電源に走査線駆動回路用電位電源ＶＤＤＹを用い低電位になるようにしたとすると、走査線駆動回路内のシフトレジスタが正常に動作しなくなってしまい、画素スイッチング用ＴＦＴのゲートに電圧を印加できなくなってしまう。最終段バッファ回路用高電位電源ＶＤＤＴは、走査線駆動回路用電位電源ＶＤＤＹとは独立した電源にすることで、画素スイッチング用ＴＦＴ７１のゲート電圧Ｖｇを任意に設定することができる。この際、画素スイッチング用ＴＦＴ７１のソース電位Ｖｓは、データ線６ａを介してデータ線駆動回路１０１から電源を供給することによって一定電位、例えば２Ｖに設定することができる。一方、画素スイッチング用ＴＦＴ７１のドレイン電位は、液晶素子７２を構成する画素電極９ａに機械針或いはプローブを電気的に接続させて外部電源を供給することにより一定電位、例えば２０Ｖに設定することができる。

次に、画素部７０における画素スイッチング用ＴＦＴ７１の電気的な静特性、例えばドレイン電流Ｉｄを測定する。上述した検査条件、即ちゲート電圧Ｖｇが例えば２Ｖから２０Ｖの間となるように最終段バッファ回路用高電位電源ＶＤＤＴを変化させつつ、ドレイン電流Ｉｄを測定することにより、画素スイッチング用ＴＦＴ７１のドレイン電流Ｉｄの特性を測定することができる。即ち、図８に示すように、画素スイッチング用ＴＦＴ７１のゲート電圧Ｖｇとドレイン電流Ｉｄの関係を示す特性曲線Ｌ１を得ることができる。従って、画素部７０の電気的な静特性を評価することができる。

尚、画素部７０が高温状態になった場合には、液晶素子７２に保持された画像信号が画素スイッチング用ＴＦＴ７１を介してリークする恐れがある。このような状態を模擬するためには、仮に最終段バッファ回路用電源を任意に設定することができなければ、実際に画素部７０を高温状態にする必要がある。しかるに本実施形態によれば、例えば、ゲート電圧Ｖｇを低くして、液晶素子７２に書き込む画像信号を弱く或いは浅くすることで、画素部７０における画像信号のリークを模擬することができる。

以上説明したように本実施形態に係る液晶装置によれば、最終段バッファ回路用高電位電源ＶＤＤＴ及び低電位電源ＶＳＳＴを任意に変化させることが可能であるので、例えば高温環境下等の厳しい検査条件を任意に模擬して、画素部７０を検査或いは評価することができる。
＜電子機器＞
次に、上述した電気光学装置である液晶装置を各種の電子機器に適用する場合について説明する。

まず、この液晶装置をライトバルブとして用いたプロジェクタについて説明する。図９は、プロジェクタの構成例を示す平面図である。この図９に示されるように、プロジェクタ１１００内部には、ハロゲンランプ等の白色光源からなるランプユニット１１０２が設けられている。このランプユニット１１０２から射出された投射光は、ライトガイド１１０４内に配置された４枚のミラー１１０６および２枚のダイクロイックミラー１１０８によってＲＧＢの３原色に分離され、各原色に対応するライトバルブとしての液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂおよび１１１０Ｇに入射される。

液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂおよび１１１０Ｇの構成は、上述した液晶装置と同等であり、画像信号処理回路から供給されるＲ、Ｇ、Ｂの原色信号でそれぞれ駆動されるものである。そして、これらの液晶パネルによって変調された光は、ダイクロイックプリズム１１１２に３方向から入射される。このダイクロイックプリズム１１１２においては、ＲおよびＢの光が９０度に屈折する一方、Ｇの光が直進する。したがって、各色の画像が合成される結果、投射レンズ１１１４を介して、スクリーン等にカラー画像が投写されることとなる。

ここで、各液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂおよび１１１０Ｇによる表示像について着目すると、液晶パネル１１１０Ｇによる表示像は、液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂによる表示像に対して左右反転することが必要となる。

なお、液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂおよび１１１０Ｇには、ダイクロイックミラー１１０８によって、Ｒ、Ｇ、Ｂの各原色に対応する光が入射するので、カラーフィルタを設ける必要はない。

次に、液晶装置を、モバイル型のパーソナルコンピュータに適用した例について説明する。図１０は、このパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。図１０において、コンピュータ１２００は、キーボード１２０２を備えた本体部１２０４と、液晶表示ユニット１２０６とから構成されている。この液晶表示ユニット１２０６は、先に述べた液晶装置１００５の背面にバックライトを付加することにより構成されている。

さらに、液晶装置を、携帯電話に適用した例について説明する。図１１は、この携帯電話の構成を示す斜視図である。図１１において、携帯電話１３００は、複数の操作ボタン１３０２とともに、反射型の液晶装置１００５を備えるものである。この反射型の液晶装置１００５にあっては、必要に応じてその前面にフロントライトが設けられる。

尚、図９から図１１を参照して説明した電子機器の他にも、液晶テレビや、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、タッチパネルを備えた装置等などが挙げられる。そして、これらの各種電子機器に適用可能なのは言うまでもない。

本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う電気光学装置及びその検査方法、並びに該電気光学装置を備えてなる電子機器もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。

第１実施形態に係る液晶装置の全体構成を示す平面図である。 図１のＨ−Ｈ'の断面図である。 第１実施形態に係る液晶装置の要部の構成を示すブロック図である。 第１実施形態に係る液晶装置の画素部の電気的な構成を示す回路図である。 第１実施形態に係る液晶装置の走査線駆動回路の電気的な構成を示す回路図である。 第１実施形態に係る液晶装置の出力バッファの具体的な構成を示す回路図である。 第１実施形態に係る液晶装置の検査方法を説明するための説明図である。 第１実施形態に係る液晶装置の画素スイッチング素子の電気的な静特性の一例を示すグラフである。 電気光学装置を適用した電子機器の一例たるプロジェクタの構成を示す平面図である。 電気光学装置を適用した電子機器の一例たるパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。 電気光学装置を適用した電子機器の一例たる携帯電話の構成を示す斜視図である。

符号の説明

６ａ…データ線、１０…ＴＦＴアレイ基板、１０ａ…画像表示領域、１１ａ…走査線、２０…対向基板、２１…対向電極、５０…液晶層、５２…シール材、５３…額縁遮光膜、７０…画素部、１０１…データ線駆動回路、１０２…外部回路接続端子、１０４…走査線駆動回路、２３０…出力バッファ、２３１、２３２…バッファ回路、２３３…最終段バッファ回路、２４０…シフトレジスタ、Ｇ１・・・Ｇｍ…走査信号、ＶＤＤＴ、ＶＳＳＴ…最終段バッファ回路用電源、ＶＤＤＹ、ＶＳＳＹ…走査線駆動回路用電源

Claims (5)

1. 複数の画素部と、
   該複数の画素部が配列された画素領域に配線された複数の走査線及び複数のデータ線と、
   （i）転送信号を順次出力するシフトレジスタと、（ii）前記順次出力された転送信号が入力される少なくとも１つのバッファ回路を有する出力バッファとを含み、前記出力バッファから出力された転送信号を走査信号として前記複数の走査線を介して前記画素部に供給する走査線駆動回路と
   を備え、
   前記バッファ回路のうち前記走査線への出力側の最終段に位置する最終段バッファ回路に供給される最終段バッファ回路用電源は、該最終段バッファ回路用電源を除く前記走査線駆動回路を駆動するための走査線駆動回路用電源から独立した電源である
   ことを特徴とする電気光学装置。
2. 前記画素部の検査工程において前記画素部に走査信号を供給する際に、前記最終段バッファ回路用電源の電圧が可変であることを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置。
3. 前記バッファ回路は、複数のインバータが電気的に接続されてなることを特徴とする請求項１又は２に記載の電気光学装置。
4. 請求項１から３のいずれか一項に記載の電気光学装置を具備してなることを特徴とする電子機器。
5. 複数の画素部と、該複数の画素部が配列された画素領域に配線された複数の走査線及び複数のデータ線と、（i）転送信号を順次出力するシフトレジスタと、（ii）前記順次出力された転送信号が入力される少なくとも１つのバッファ回路を有する出力バッファとを含み、前記出力バッファから出力された転送信号を走査信号として前記複数の走査線を介して前記画素部に供給する走査線駆動回路とを備え、前記バッファ回路のうち前記走査線への出力側の最終段に位置する最終段バッファ回路に供給される最終段バッファ回路用電源は、該最終段バッファ回路用電源を除く前記走査線駆動回路を駆動するための走査線駆動回路用電源から独立した電源である電気光学装置に対して、
   前記最終段バッファ回路用電源の電圧を、順番に変化させると共に前記画素部に供給する検査条件変更ステップと、
   前記検査条件変更ステップにおいて検査条件が変更される毎に前記画素部の電気的な静特性を検査する検査ステップと
   を含むことを特徴とする電気光学装置の検査方法。

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