JPH07283538A - 多層プリント配線板の製造方法 - Google Patents

多層プリント配線板の製造方法

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JPH07283538A
JPH07283538A JP7620394A JP7620394A JPH07283538A JP H07283538 A JPH07283538 A JP H07283538A JP 7620394 A JP7620394 A JP 7620394A JP 7620394 A JP7620394 A JP 7620394A JP H07283538 A JPH07283538 A JP H07283538A
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JP
Japan
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wiring board
plating
printed wiring
multilayer printed
hole
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JP7620394A
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English (en)
Inventor
Akira Enomoto
亮 榎本
Yoshinori Takasaki
義徳 高崎
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Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 配線自由度の向上、導体パターンの形成精度
の向上、及び耐粗化液性等の改善による接続信頼性の向
上を確実に図ること。 【構成】 めっきスルーホール5内に導電性物質である
銅ペースト7を充填する。銅ペースト7の露出面に金属
膜としてのめっき膜8を形成する。めっき膜8を露出し
うる位置に開口部19を有する絶縁層9を、基材2上に
形成する。その絶縁層9を化学的に粗化処理する。開口
部19に対する無電解めっきを行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、多層プリント配線板の
製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】大規模かつ高速度のコンピュータシステ
ム等を実現する場合、通常、小型で高速度・高集積のL
SIチップ等を使用し、それらを高速化に適した構造に
して配線板上に実装することが重要な課題となる。そし
て、特に近年においては、多層化や導体パターンの細線
化等を図ることによって、より高密度実装が可能な配線
板を作製することが盛んに試みられている。
【0003】複数層にわたって導体パターンを持つ配線
板としては、プラスティック製の基板等を主な素材とし
て用いた多層配線板(いわゆる多層プリント配線板)が
従来より良く知られている。現状においては、低コスト
であるという理由等からこの種の多層プリント配線板が
最も普及している。
【0004】また、多層プリント配線板に導体パターン
を形成する方法を大別すると、一般的にサブトラクテ
ィブプロセス(Subtractive Process )とアディティ
ブプロセス(Additive Process)の二つに分類すること
ができる。
【0005】のサブトラクティブプロセスとは、銅張
積層板を素材として使用しかつ表面の銅箔をエッチング
することによって、必要な導体パターンを形成する製造
方法である。一方、のアディティブプロセスとは、銅
箔が張りつけられていない基板を使用しかつ主として無
電解めっきによって、必要な部分に導体パターンを形成
する製造方法である。
【0006】ここで、両プロセスのいずれかによって作
製される従来の多層プリント配線板を、その製造工程と
共に各図面をもとに具体的に説明する。図12(d)に
は、サブトラクティブプロセスによる多層プリント配線
板(6層板)30が示されている。この多層プリント配
線板30は、次のような手順を経て作製される。
【0007】まず、2枚の外層用の銅張積層板31と1
枚の内層用の銅張積層板32とをそれぞれ用意する。次
に外層用の銅張積層板31にバイアホール形成用孔を形
成した後、無電解及び電解銅パネルめっき及び内層パタ
ーンエッチングを行う。内層用の銅張積層板32につい
てはバイアホール形成用孔を形成せずに、内層パターン
エッチングのみを行う。次に、図12(a)に示される
ように、外層用の銅張積層板31、プリプレグ33、内
層用の銅張積層板32、プリプレグ33、外層用の銅張
積層板31の順に重ね合わせて積層プレスする。次に、
図12(b)に示されるように、ドリル加工等によって
スルーホール形成用孔34を透設する。ここで無電解及
び電解銅パネルめっき及びスルーホールめっきを行った
後、図12(c)に示されるように最外層にエッチング
レジスト35を形成する。最後に外層パターンエッチン
グを行った後、エッチングレジスト35を剥離する。
【0008】以上の工程を経て、バイアホール36及び
めっきスルーホール37によって各層の導体パターン3
8が接続された多層プリント配線板30が作製される。
図13(d)には、アディティブプロセスによって作製
される多層プリント配線板(6層板)40が示されてい
る。この多層プリント配線板40は図12の多層プリン
ト配線板30とは異なり、銅張積層板41の両面に配線
層42を備えている。その作製手順は以下の通りであ
る。
【0009】まず、図13(a)に示されるように、例
えばマスラミネーション方式によって作製された銅張積
層板41を用意する。次に、内層パターンエッチングを
行った後、両面に感光性樹脂を用いて層間絶縁層43を
形成する。そして、露光・現像を行うことによって、図
13(b)に示されるように層間絶縁層43にバイアホ
ール形成用孔44を形成する。次に粗化、スルーホール
形成用孔45の透設及び触媒核付与を行った後、図13
(c)に示されるように最外層に永久レジスト46を形
成する。最後に無電解銅パターンめっきを行うことによ
って、スルーホール形成用孔45の内壁面等に銅めっき
を析出させる。以上の工程を経て、バイアホール47及
びめっきスルーホール48によって各層の導体パターン
49,49aが接続された多層プリント配線板40が作
製される。
【0010】なお、アディティブプロセスによって形成
される導体パターン49aは、高精度かつファインなも
のになるという特徴がある。よって、このプロセスを経
て形成される多層プリント配線板40は、サブトラクテ
ィブプロセスによるものに比較して高密度化に適してい
るということができる。
【0011】図14にも、同様にアディティブプロセス
による多層プリント配線板(6層板)50が示されてい
る。この多層プリント配線板50も、銅張積層板51の
両面に配線層52を備えるものである。しかし、各配線
層52が二層の層間絶縁層53,54によって構成され
ている点や、めっきスルーホール55が完全に埋設され
ている点などが相違している。なお、各層の導体パター
ン58,59はバイアホール56,57及びめっきスル
ーホール55によって接続されている。また、この多層
プリント配線板50では、肉厚になった銅張積層板に対
するスルーホール形成用孔等の形成が行われないという
特徴もある。
【0012】つまり、上記の構成からも明らかなよう
に、この多層プリント配線板50によれば、全体の肉薄
化及び導体パターン58,59のファイン化を更に推進
することが可能なものとなっている。従って、図14の
タイプの構成が最も高密度化や小型化等に適していると
考えられている。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】ところが、図14に示
される従来の多層プリント配線板50には以下に述べる
ような問題がある。
【0014】前述したように、多層プリント配線板50
の各層の導体パターン58,59は、導体によって電気
的に接続されている必要がある。ここで図14及び図1
5に基づき、バイアホール56,57及びめっきスルー
ホール55による接続の様子について説明する。
【0015】めっきスルーホール55のランド55bの
一部には、円形状をした接続用パッド55aが形成され
ている。その接続用パッド55a上には、内層側の層間
絶縁層53に属するバイアホール56が接続されてい
る。前記バイアホール56は、内層側の層間絶縁層53
上に形成された接続用パッド56aに接続されている。
そして、その接続用パッド56a上には、外層側の層間
絶縁層54に属するバイアホール57が接続されてい
る。つまり、従来においては、めっきスルーホール55
の上部やバイアホール56の上部(即ち、軸線上となる
位置)を避けて接続用パッド55a,56aを配置する
ことが要求されることになる。
【0016】しかし、上記のような配置にすると、導体
パターン58の配線に利用できるエリアが相対的に減少
することになるため、配線自由度の低下が避けられな
い。よって、多層プリント配線板50の小型化や高密度
化を充分に達成することができない。
【0017】また、図14の多層プリント配線板50の
場合、めっきスルーホール55に空洞部55cがあった
り、内層側の層間絶縁層53に属するバイアホール56
に凹部56bがあるため、最外層の導体パターン59に
凹凸ができ易いという問題がある。このように導体の形
成精度が悪い場合、仮にその導体パターン59がボンデ
ィングパッドであるとすると、凹凸の存在によってワイ
ヤボンディング精度が悪化する。その結果、多層プリン
ト配線板50に対するLSIチップやパッケージ等の実
装が困難になる。
【0018】更に、図14のプリント配線板50におい
て、仮に貫通孔や有底孔に充填材等を充填しようとする
と、以下のような問題が生じる。即ち、絶縁層形成後に
実施される粗化処理工程のとき、粗化液(クロム酸、ク
ロム硫酸、過マンガン酸等)に晒されることによって、
使用される充填材の選定によっては充填材中の樹脂が溶
解してしまう。このため、例えば充填材部分と他の金属
部分との間の接続信頼性が悪くなってしまうおそれがあ
る。また、粗化処理工程後に実施される無電解めっき工
程(強アルカリ)によっても、その工程が長時間に及ぶ
ときには前記充填材に悪影響がでやすくなる。そして、
この場合にも接続信頼性の悪化につながってしまう。
【0019】本発明は上記の事情に鑑みてなされたもの
であり、その目的は、配線自由度の向上、導体パターン
の形成精度の向上、及び耐粗化液性や耐めっき液性等の
改善による接続信頼性の向上を確実に図ることができる
多層プリント配線板の製造方法を提供することにある。
【0020】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、請求項1に記載の発明では、基材を貫通するよう
に形成されためっきスルーホール内に充填材を充填する
工程と、前記充填材上に金属膜を形成する工程と、少な
くとも前記金属膜上に開口部を有する絶縁層を前記基材
上に形成する工程とを行った後、前記絶縁層を化学的に
粗化処理する工程及び前記開口部を含む領域にめっきを
施す工程のうちの少なくともいずれかを行う多層プリン
ト配線板の製造方法をその要旨としている。
【0021】請求項2に記載の発明では、絶縁層に形成
された有底孔内に充填材を充填する工程と、前記充填材
上に金属膜を形成する工程と、少なくとも前記金属膜上
に開口部を有する別の絶縁層を前記絶縁層上に形成する
工程とを行った後、外層側となる絶縁層を化学的に粗化
する工程及び前記開口部を含む領域にめっきを施す工程
のうちの少なくともいずれかを行う多層プリント配線板
の製造方法をその要旨としている。
【0022】請求項3に記載の発明では、請求項1また
は2において、前記充填材は導電性物質であり、かつ前
記金属膜は厚さ1μm〜7μmのめっき膜であるとして
いる。請求項4に記載の発明では、請求項1または2に
おいて、前記充填材は非導電性物質であり、かつ前記金
属膜は厚さ5μm〜30μmのめっき膜であるとしてい
る。請求項5に記載の発明では、請求項1または2にお
いて、前記充填材は導電性物質であり、かつ前記金属膜
は厚さ0.05μm〜2μmのスパッタ膜であるとして
いる。
【0023】
【作用】請求項1に記載の発明によると、めっきスルー
ホール内から露出している充填材が金属膜によって保護
された状態で粗化処理工程やめっき工程が行われるた
め、充填材が粗化液やめっき液に直接晒されることがな
い。従って、粗化液やめっき液による充填材中の樹脂の
溶解が防止される。
【0024】また、この発明によると、充填材の充填に
よってめっきスルーホールの端面が平坦化されるため、
その部分を接続用パッドとして使用することができる。
つまり、めっきスルーホールのほぼ軸線上に有底孔(以
下、バイアホールという)の底面を接続することが可能
となる。そして、めっきスルーホール側とバイアホール
側とが金属膜を介して電気的に接続可能となり、めっき
スルーホールの上部を避けるようにして接続用パッドを
配置する必要がなくなる。
【0025】更に、この発明によると、めっきスルーホ
ールの空洞部の存在による絶縁層の落ち込みが防止され
るため、めっきスルーホールの上部にあたる部分に形成
された導体パターンに凹凸が生じることもない。
【0026】請求項2に記載の発明によると、バイアホ
ール内から露出している充填材が金属膜によって保護さ
れた状態で粗化処理工程やめっき工程が行われるため、
充填材が粗化液やめっき液に直接晒されることがない。
従って、粗化液やめっき液による充填材中の樹脂の溶解
が防止される。
【0027】また、この発明によると、充填材の充填に
よってバイアホールの端面が平坦化されるため、その部
分を接続用パッドとして使用することができる。つま
り、そのバイアホールのほぼ軸線上に別のバイアホール
の底面を接続することが可能となる。そして、内外層の
バイアホール同士が金属膜を介して電気的に接続可能と
なり、内層側のバイアホールの上部を避けるようにして
接続用パッドを配置する必要がなくなる。
【0028】更に、この発明によると、下層側のバイア
ホールの空洞部の存在による絶縁層の落ち込みが防止さ
れるため、同バイアホールの上部にあたる部分に形成さ
れた導体パターンに凹凸が生じることもない。
【0029】特に請求項3〜5に記載の発明によると、
充填材を導電性物質または非導電性物質とし、かつ金属
膜(めっき膜またはスパッタ膜)の厚さを所定範囲に設
定しているため、製造工程の長時間化を招くことなく、
確実な溶解防止を図ることができる。
【0030】
【実施例】
〔実施例1〕以下、本発明を多層プリント配線板の製造
方法に具体化した実施例1を図1〜図8に基づいて詳細
に説明する。
【0031】図1には、多層プリント配線板1が示され
ている。この多層プリント配線板1は、基材2の両面に
薄膜配線層3を備える6層板である。基材2の両面には
導体パターン4が形成されている。これらの導体パター
ン4は、基材2を貫通するように設けられためっきスル
ーホール5によって接続されている。なお、本実施例の
めっきスルーホール5は、その両端部に円形状のランド
5cを有している。
【0032】めっきスルーホール5を構成している銅め
っき層5bは、その中央部に空洞部5aを有している。
そして、その空洞部5aには、導電性を有する充填材と
しての銅ペースト7が充填されている。めっきスルーホ
ール5の両端面は、銅ペースト7が充填されることによ
って平坦化されている。平坦化されためっきスルーホー
ル5の両端面には、金属膜としてのめっき膜8が形成さ
れている。つまり、めっきスルーホール5から露呈して
いる銅ペースト7が、めっき膜8によって被覆された状
態となっている。
【0033】本実施例の多層プリント配線板1には、内
層側の層間絶縁層9及び外層側の層間絶縁層10の二層
構造からなる配線層3が形成されている。内層側の層間
絶縁層9の表面には永久レジスト11が形成されてい
る。内層側の層間絶縁層9の表面のうち永久レジスト1
1が形成されていない部分には、導体パターン12が形
成されている。同様に外層側の層間絶縁層10の表面に
は永久レジスト13が形成されている。外層側の層間絶
縁層10の表面のうち永久レジスト13が形成されてい
ない部分には、導体パターン14が形成されている。前
記導体パターン14の一部は、LSIチップ等を表面実
装するための接続用パッドとなっている。また、外層側
の層間絶縁層10の表面は、一部を除いてソルダーレジ
スト6によって被覆されている。なお、説明の便宜上、
前記導体パターン14のことをこれ以降「最外層の導体
パターン14」と呼ぶことにする。同様に導体パターン
12のことを「外層の導体パターン12」と、導体パタ
ーン4のことを「内層の導体パターン4」とそれぞれ呼
ぶことにする。
【0034】内層側の層間絶縁層9には、層間接続用の
バイアホール15が形成されている。外層側の層間絶縁
層10にも、同様に層間接続用のバイアホール16が形
成されている。バイアホール15,16を構成している
銅めっき層15b,16bは、その中央部に凹部15
a,16aを有している。そして、内層側の層間絶縁層
9に属するバイアホール15の凹部15aには、導電性
を有する充填材である銅ペースト7が充填されている。
【0035】この多層プリント配線板1の場合、めっき
スルーホール5の端面から露呈している銅ペースト7
に、内層側の層間絶縁層9に属するバイアホール15の
底面がめっき膜8を介して電気的に接続されている。ま
た、バイアホール15の凹部15aに充填された銅ペー
スト7上には、外層側の層間絶縁層10に属するバイア
ホール16の底面が同じくめっき膜8を介して電気的に
接続されている。従って、めっきスルーホール5とバイ
アホール15,16とが、ほぼ一直線上に配置された状
態となっている。即ち、この多層プリント配線板1にお
いて、銅ペースト7はいわばバイアホール15,16の
ための接続用パッドの役割を果たしている。
【0036】次に、この多層プリント配線板1を製造す
る手順を図2〜図8に基づいて説明する。まず、ガラス
布基材エポキシ樹脂を素材とした銅張積層板17を用意
し、その銅張積層板17に対してスルーホール形成用孔
18を透設する。次に、従来公知の手法に従ってパネル
めっき及びスルーホールめっきを行い、スルーホール形
成用孔18内に銅めっき層5bを析出させる。その結
果、図2に示されるように銅張積層板17にめっきスル
ーホール5が形成される。なお、本実施例においてスル
ーホール形成用孔18の内径が約300μmに、めっき
スルーホール5のランド5c径が約700μmに設定さ
れている。
【0037】次に、めっきスルーホール5が形成された
銅張積層板17に、各めっきスルーホール5の形成位置
と対応する位置に孔を有するメタルマスクを配置する。
そして、スキージを移動させることによって、図3に示
されるようにめっきスルーホール5の空洞部5aに銅ペ
ースト7を充填する。本実施例では、主成分である銅粉
末及び熱硬化性樹脂に少量の溶剤やチクソ剤等を添加し
た銅ペースト7が使用されている。
【0038】次に充填された銅ペースト7の乾燥を行
い、表面をバフ研磨により整面した後、薄付けパネルめ
っきによって銅張積層板17の両面にめっき膜8を形成
する。なお、銅ペースト7を充填する場合、乾燥後にお
ける銅ペースト7の露呈面の高さがめっきスルーホール
5のランド5c面の高さとほぼ同じになることが好まし
い。
【0039】金属膜であるめっき膜8を形成する手段と
しては、電解めっき法や無電解めっき法がある。この場
合、形成されるめっき膜8の厚さは1μm〜7μm、更
には3μm〜6μm、特には4μm〜5μmであること
がよい。めっき膜8が厚くなると、製造時間の短縮化が
図れなくなり、コスト高になるおそれがある。一方、め
っき膜8が薄すぎると、銅ペースト7を粗化液やソフト
エッチング工程から確実に保護することができなくなる
おそれがある。なお、本実施例では電解銅めっき法によ
って、厚さ5μmの銅からなるめっき膜8を形成するこ
ととしている。
【0040】次にめっき膜8の表面にエッチングレジス
トを形成した後、パターンエッチングを行う。すると、
図4に示されるように、所定形状をした内層の導体パタ
ーン4が形成される。なお、本実施例では前記内層の導
体パターン4が、主として電源層またはグランド層とし
て使用される。
【0041】次に、内層の導体パターン4が形成された
銅張積層板17の両面に、酸化剤に対して比較的難溶な
樹脂マトリックス中に、酸化剤に対して比較的易溶な樹
脂フィラーが分散された感光性エポキシ系のアディティ
ブ用接着剤を塗布する。ここで露光・現像を行うことに
よって、図5に示されるように、開口部としてのバイア
ホール形成用孔19を有する内層側の層間絶縁層9を形
成する。このとき、バイアホール形成用孔19は、銅ペ
ースト7が充填されているめっきスルーホール5の端面
に対応して設けられる。
【0042】次に、粗化剤(酸化剤)であるクロム酸を
用いて、内層側の層間絶縁層9に対する化学的な粗化処
理を行う。その後、触媒核付与、永久レジスト11の形
成、めっき前処理及び無電解銅パターンめっきを行う。
【0043】上記のめっき処理を経ると、バイアホール
形成用孔19の内壁面や、バイアホール形成用孔19か
ら露呈しているめっき膜8の表面等に銅めっき層15b
が析出する。よって、図6に示されるように、内層側の
層間絶縁層9に開口径が約100μmのバイアホール1
5が形成される。なお、本実施例では銅めっき層15b
の析出厚さが約25μmに設定されている。前記バイア
ホール15のうちめっきスルーホール5の軸線上に配置
されたものについては、その底面がめっきスルーホール
5の端面に接続された状態となる。また、内層側の層間
絶縁層9の表面には、外層の導体パターン12が形成さ
れる。
【0044】次に、バイアホール15が形成された内層
側の層間絶縁層9の表面に、各バイアホール15の形成
位置と対応する位置に孔を有するメタルマスクを配置す
る。そして、スキージを移動させることによって、バイ
アホール15の凹部15aに上記の銅ペースト7を充填
する。その結果、銅ペースト7の充填によって、バイア
ホール15の開口側の端面が平坦化された状態となる。
このとき、銅ペースト7の露呈面の高さがバイアホール
15のランド面の高さとほぼ同程度になることが良い。
【0045】次に、充填された銅ペースト7の乾燥を行
った後、上述した薄付けパネルめっきによって、前記バ
イアホール15内の銅ペースト7上にも、図7に示され
るような金属膜としてのめっき膜8を形成する。この場
合、めっき膜8を形成する手段としては、電解めっき法
や無電解めっき法がある。形成されるめっき膜8の厚さ
は1μm〜7μm、更には3μm〜6μm、特には4μ
m〜5μmであることがよい。その理由は上記の通りで
ある。本実施例では、めっきスルーホール5のときと同
じく、電解銅めっき法によって厚さ5μmの銅からなる
めっき膜8を形成することとしている。
【0046】次に、上述した内層側の層間絶縁層9の形
成手順に従って、外層側の層間絶縁層10を形成する。
このとき、露光・現像を行うことによって、銅ペースト
7が充填されているバイアホール15の端面に対応し
て、開口部としてのバイアホール形成用孔が設けられ
る。続いて外層側の層間絶縁層10に対する化学的な粗
化処理及び触媒核付与を行った後、永久レジスト13の
形成、めっき前処理及び無電解銅パターンめっきを行
う。上記のめっき処理を経ると、バイアホール形成用孔
の内壁面や、凹部16a内の銅ペースト7の表面等に銅
めっき層16bが析出する。よって、図8に示されるよ
うに、外層側の層間絶縁層10に開口径が約100μm
のバイアホール16が形成される。
【0047】前記バイアホール16のうち内層側の層間
絶縁層9に属するバイアホール15の軸線上に配置され
たものについては、その底面が同バイアホール15の端
面に接続された状態となる。また、外層側の層間絶縁層
10の表面には、最外層の導体パターン14が形成され
る。更に、最外層の導体パターン14はソルダーレジス
ト6によって被覆される。なお、本実施例ではリキッド
フォトソルダーレジストが使用されている。一方、外層
側の層間絶縁層10に属するバイアホール16は、前記
ソルダーレジスト6から露呈している。即ち、この多層
プリント配線板1において前記バイアホール16は、例
えばLSIチップ等のリードやバンプなどを接合するた
めの外部接続端子として使用されるようになっている。
【0048】さて、以上のような本実施例の多層プリン
ト配線板1の製造方法の作用効果について説明する。こ
の製造方法によると、めっきスルーホール5やバイアホ
ール15の端面から露出している銅ペースト7は、粗化
処理工程を行う前に、予めめっき膜8によって保護され
る。そして、この状態で粗化処理工程が行われるため、
銅ペースト7が粗化液に直接晒されることがない。従っ
て、粗化液による銅ペースト7中の樹脂の溶解を防止す
ることができる。このため、銅ペースト7の露出面に凹
凸等が少なくなり、銅ペースト7部分とその上部に形成
される銅めっき層15b,16bとの接続状態が確実に
向上する。この結果、接続信頼性に優れた多層プリント
配線板1が得られることとなる。
【0049】また、この製造方法では、上記のように予
めめっき膜8によって保護された状態で、バイアホール
15,16を形成するための無電解銅めっき工程が行わ
れる。このため、数時間という長い時間にわたって実施
される無電解銅めっき工程を経たときであっても、銅ペ
ースト7がめっき液に直接晒されることがなく、銅ペー
スト7に特に悪影響がでるということはない。
【0050】更に、この製造方法によると、銅ペースト
7の充填によってめっきスルーホール5の端面が平坦化
されるため、その部分を接続用パッドとして使用するこ
とができる。つまり、めっきスルーホール5のほぼ軸線
上にバイアホール15の底面を接続することが可能とな
る。同様に、銅ペースト7の充填によってバイアホール
15の端面が平坦化されるため、その部分についても接
続用パッドとして使用することができる。即ち、そのバ
イアホール15のほぼ軸線上に別のバイアホール16の
底面を接続することも可能となる。
【0051】そして、めっきスルーホール5側とバイア
ホール15側、及びバイアホール15,16側同士がめ
っき膜8を介して電気的に接続可能となる。ゆえに、め
っきスルーホール5の上部や内層側のバイアホール15
の上部を避けるようにして接続用パッドを配置する必要
がなくなる。
【0052】以上のことから明らかなように、本実施例
の多層プリント配線板1の場合、めっきスルーホール5
とバイアホール15,16とがほぼ一直線上に配列され
た状態となっている。それゆえ、この多層プリント配線
板1にあっては、従来の多層プリント配線板と比較し
て、導体パターン4,12,14の配線に利用できるエ
リアが相対的に大きくなっている。また、配線エリアの
増加に伴って配線自由度も格段に向上することになり、
もって多層プリント配線板1の小型化や高密度化を充分
に達成することが可能となる。加えて、設計自由度が向
上する結果、配線の完全自動化を行ううえで極めて好都
合になる。そして、このような配線の完全自動化が実現
されることによって、設計期間の短縮化やコストダウン
等が達成されることになる。
【0053】更に、この発明によると、めっきスルーホ
ール5の空洞部5aの存在による内層側の層間絶縁層9
の落ち込みが防止される。このため、めっきスルーホー
ル5の上部にあたる部分に形成された外層の導体パター
ン12に凹凸が生じることがない。同様に、内層側のバ
イアホール15の空洞部の存在による外層側の層間絶縁
層10の落ち込みが防止されるため、同バイアホール1
5の上部にあたる部分に形成された最外層の導体パター
ン14に凹凸が生じることもない。
【0054】以上のことから明らかなように、めっきス
ルーホール5やバイアホール15のほぼ軸線上に形成さ
れた外層の導体パターン12や最外層の導体パターン1
4に凹凸が生じることがない。従って、本実施例の多層
プリント配線板1は、極めて寸法精度に優れた導体パタ
ーン12,14を有するものとなる。このため、仮に最
外層の導体パターン14の一部をボンディングパッドと
したときでも、精度良くワイヤボンディングを行うこと
ができる。しかも、上記の構成であると、外層側の層間
絶縁層10の平坦性も改善されるため、多層プリント配
線板1へICチップやLSIチップ等を表面実装する際
に極めて好都合になる。
【0055】また、この製造方法の場合、厚さ5μmの
銅からなるめっき膜8を金属膜としているため、製造工
程の長時間化を招くことなく確実な溶解防止を図ること
ができる。なお、この程度の厚さのめっき膜8であれ
ば、自身のめっき工程の際に銅ペースト7中の樹脂の溶
解を伴うこともない。勿論、前記めっき膜8には形成が
容易でありかつ低コストであるという利点もある。
【0056】更に、本実施例では、銅粉末を主成分とし
て含む銅ペースト7を充填材として使用しているため、
充填作業に時間がかからない。ゆえに、無電解めっきに
よって充填材を充填する従来方法(例えば、従来公知の
フィルド・ビアの形成方法等)に比べて、製造工程的に
もコスト的にも有利になる。特に、本実施例のような銅
ペースト7を用いた充填方法によると、接着剤の二度塗
りや研磨加工による面出し等が必ずしも必要とはされな
くなる。このため、従来におけるフィルド・ビアの形成
方法よりも優れたものとなっている。
【0057】そして、本実施例の多層プリント配線板1
では、めっきスルーホール5が配線層3下に完全に埋設
された状態となっている。従って、貫通しためっきスル
ーホール5を有する従来の多層プリント配線板とは異な
り、パッケージを構成したときの封止性や気密性が良く
なるという利点がある。そして、この構成によると、基
材2となる銅張積層板17のみにスルーホール形成用孔
18を透設するだけで足りる。よって、スルーホール形
成用孔18ばかりでなくバイアホール形成用孔の加工が
必要な従来の多層プリント配線板とは異なり、加工コス
トが安くなる。
【0058】また、本実施例の多層プリント配線板1に
よると、めっきスルーホール5の空洞部5aに銅ペース
ト7が完全に充填される結果、めっきスルーホール5の
内部に気泡が全く残留しなくなる。従って、内部の気泡
に起因してクラックが発生するおそれがなくなり、多層
プリント配線板1の耐熱性が向上する。 〔実施例2〕図9には実施例2の多層プリント配線板2
0が示されている。この多層プリント配線板20は、実
施例1の多層プリント配線板1におけるバイアホール1
6の凹部16aを銅ペースト7で充填したことを特徴と
している。そして、更に実施例1において行ったと同様
に、めっき膜8(図示略)を形成することが好ましい。
ゆえに、実施例2の多層プリント配線板20では、バイ
アホール16の開口側の端面がほぼ平坦化された状態と
なっている。
【0059】この構成であると、例えばバイアホール1
6の開口部側の端面を表面実装の接続用パッドとして使
用する場合、同端面が平坦でないときよりもLSIチッ
プやパッケージ等のリードやバンプなどの接合が容易に
なる。つまり、前記開口側の端面に凹部16aがなくな
ることによって、ワイヤボンディングがより容易に実施
できるようになるからである。なお、はんだ付けによっ
てリード等の接続を行う場合には、はんだ供給量が少な
くて済むという利点もある。 〔実施例3〕図10には実施例3の多層プリント配線板
22が示されている。この多層プリント配線板22は、
実施例1の多層プリント配線板1と同じく、基材2の両
面に配線層3を備える6層板である。但し、この多層プ
リント配線板22では、配線層3を構成している内層側
の層間絶縁層9よりも外層となる部分の構成に相違点が
ある。よって、ここでは相違点に関する構成を中心とし
て説明することとし、共通点に関する構成については説
明を省略する。
【0060】図10に示されるように、外層側の層間絶
縁層10には、実施例1のバイアホール16とは異なる
バイアホール23が形成されている。つまり、このバイ
アホール23は、バイアホール形成用孔24内にいわゆ
るマッシュルーム状の銅めっき層(即ち、マッシュルー
ム型バンプ)25を有したものとなっている。従って、
このバイアホール23は、開口部側に凹部16aを持た
ずしかも外層側の層間絶縁層10の表面よりもいくぶん
突出したものとなっている。
【0061】また、この多層プリント配線板22では、
外層側の層間絶縁層10の表面に最外層の導体パターン
14が形成されていないことが特徴的である。よって、
この多層プリント配線板22は、実施例1,2とは異な
り、永久レジスト13もソルダーレジスト6も備えない
ものとなっている。
【0062】ここで実施例3の多層プリント配線板22
を製造する手順を説明する。まず銅張積層板17を出発
材料として用い、実施例1の方法に準じて、内層側の層
間絶縁層9に属するバイアホール15を形成する工程ま
で実施する。バイアホール15の端面には、厚さ5μm
の銅からなるめっき膜8が形成されている。次に内層側
の層間絶縁層9の表面に、感光性エポキシ系の接着剤を
塗布することによって、外層側の層間絶縁層10を形成
する。次に露光・現像を行うことによって、外層側の層
間絶縁層10に開口部としてのバイアホール形成用孔2
4を形成する。続いて、無電解銅めっき浴を用いて、所
定時間のあいだ無電解めっきを行う。すると、バイアホ
ール形成用孔24から露呈しためっき膜8のみを核とし
て、銅めっきが析出し始める。そして、銅めっきによっ
てバイアホール形成用孔24が充填され、最終的には図
10に示されるようなマッシュルーム型バンプ25が形
成される。
【0063】さて、実施例3の多層プリント配線板22
によると、外部接続端子であるバイアホール23の開口
部側の端面が外層側の層間絶縁層10から***した状態
となっている。従って、前記実施例2のときと同じく、
LSIチップやパッケージ等のリードやバンプなどの接
合が更に容易になる。
【0064】また、この多層プリント配線板22を用い
てパッケージを構成すると、マッシュルーム型バンプ2
5を外部接続端子として、同パッケージをマザーボード
へ容易に実装することが可能となる。
【0065】更に、最外層の導体パターン14を設けな
い実施例3の構成によると、ソルダーレジスト6や永久
レジスト13を省略することができる。このため、多層
プリント配線板22の構成を簡単にすることができると
共に、部品実装に適したフラットな外表面を得ることが
できる。そして、上記のような構成を採った場合、多層
プリント配線板22の外表面全体を部品の表面実装用の
エリアとして利用することができる。
【0066】そして、上記のような無電解銅めっきによ
る充填方法であると、外層側の層間絶縁層10に形成さ
れたバイアホール形成用孔24を均一に充填することが
できるという利点がある。結果として、所望のバイアホ
ール23が比較的簡単に得られることとなる。なお、こ
の方法によるとめっき膜8を核として銅めっき層25を
析出させることができる。ゆえに、無電解銅めっきの最
初の析出のための触媒核が不要になるという利点があ
る。勿論、この場合においても、めっき膜8が存在して
いることから、その下に位置する銅ペースト7中の樹脂
の溶解が防止される。 〔実施例4〕図11には実施例4の多層プリント配線板
27が示されている。
【0067】この多層プリント配線板27は、実施例2
の多層プリント配線板20と同じく、外層側の層間絶縁
層10に属するバイアホール16の凹部16aに銅ペー
スト7を充填したものである。但し、この多層プリント
配線板27では、最外層の導体パターン14及びソル
ダーレジスト6がない点、めっきスルーホール28に
ランドがない点が相違している。
【0068】従って、上記のような構成を採る実施例3
の場合、めっきスルーホール28にランドがない分だ
け、基材2上における配線エリアが増加するという利点
がある。よって、基材2上に別に配線層を形成すること
ができ、多層プリント配線板27の小型化及び高密度化
を一層推進するうえで極めて好都合である。また、この
構成によると、めっきスルーホール28の狭ピッチ化も
可能なため、全体的なコンパクト化を図ることができる
という利点がある。
【0069】更に、最外層の導体パターン14を設けな
い実施例4の構成によると、ソルダーレジスト6を省略
できるため、構成を簡単にすることができ、かつ部品実
装に適したフラットな外表面を得ることができる。そし
て、上記のような構成を採った場合、多層プリント配線
板22の外表面全体を部品の表面実装用のエリアとして
利用することができる。 〔実施例5〕実施例5では、実施例1とほぼ同じ構成の
多層プリント配線板1を多少異なる方法によって製造し
ている。ここではその異なる部分の手順を主に説明す
る。
【0070】まず実施例1の製造手順に準じて、図5に
示されるように、開口部であるバイアホール形成用孔1
9を有する内層側の層間絶縁層9を形成する工程まで実
施する。次に、粗化処理を行うことなしにスパッタリン
グを行う。このスパッタリングによって、内層側の層間
絶縁層9の全面に金属膜としてのスパッタ膜8を形成す
る。
【0071】この場合、形成されるスパッタ膜8の厚さ
は0.05μm〜2.0μm、特には0.1μm〜1.
0μmであることがよい。その理由は、めっき膜8のと
きとほぼ同じである。なお、本実施例では厚さ0.1μ
mの銅からなるスパッタ膜8を形成することとしてい
る。
【0072】次に、前記スパッタ膜8の所定部分にめっ
きレジストを形成し、電気銅めっきを行う。この後、前
記めっきレジストを剥離した後、フラッシュエッチによ
ってスパッタ膜8のうちの不必要な部分のみを除去す
る。すると、図6に近い構成(即ち、永久レジスト11
が存在していない構成)になる。この後、実施例1の手
順に従って、最終工程まで実施する。
【0073】以上のような実施例5の製造方法であって
も、前記実施例1と同等の作用効果を得ることができ
る。即ち、スパッタ膜8を設けたことによって、銅ペー
スト7がめっき液に直接晒されなくなるからである。特
に、この製造方法の場合、厚さ0.1μmの銅からなる
スパッタ膜8を金属膜としているため、製造工程の長時
間化を招くことなく確実な溶解防止を図ることができ
る。しかも、この方法の場合、通常の粗化処理工程が不
要になるというメリットもある。
【0074】なお、本発明は上記実施例のみに限定され
ることはなく、次のような構成に変更することが可能で
ある。例えば、 (a)空洞部5aや凹部15a,16aを充填するため
の充填材は、銅ペースト7に限定されることはない。例
えば、タングステン、モリブデン、ニオブ、タンタル、
金、銀などを含むペースト材、即ち銅以外の金属を含む
導電性物質であっても良い。この場合、はんだ付け等の
便宜等を考慮すると、少なくとも使用されるはんだの融
点以上の融点を有する金属を選択することが望ましい。
また、コスト性や導電性等を考慮すると、各実施例のよ
うな銅ペースト7が特に好ましいという結果になる。
【0075】また、銅ペースト7等の充填に代わる方法
として、例えば金属製のピンやプラグ等を挿入するとい
う方法を採用しても良い。更に、銅ペースト7等やピン
等によってめっきスルーホール5の空洞部5aを孔埋め
する場合、完全に空洞部5aを埋めてしまうことは必ず
しも要求されない。つまり、少なくともめっきスルーホ
ール5の両端部が封止されれば足りるということにな
る。
【0076】更に、充填材は必ずしも導電性物質に限ら
れるわけではない。例えば、ソルダーレジストや層間絶
縁層などを形成するための樹脂のように、従来公知の非
導電性物質であってもよい。この場合、形成されるべき
金属膜(めっき膜)8の厚さの好適範囲は5μm〜30
μmである。金属膜8が薄すぎると、導通を充分に確保
できなくなるおそれがあるからである。また、金属膜8
が厚すぎると、めっき工程が長時間化し、充填材である
樹脂に悪影響を及ぼすおそれがあるからである。 (b)基材2は両面板に限定されることはなく、例えば
マスラミネーション方式によって作製された多層板であ
っても良い。また、基材2は樹脂を主材とした基板に限
定されるわけではない。その代わりとして、例えば銅、
アルミニウム、鉄等の金属を主材としたものを使用して
も良い。この種の金属製基材を選択すると、放熱性に優
れた多層プリント配線板を実現することができる。この
ため、発熱量の大きなチップを多数個実装する場合など
に好都合である。
【0077】(c)内層側及び外層側の層間絶縁層9,
10を形成するための接着剤は、必ずしも感光性エポキ
シでなくても良く、例えば感光性ポリイミド等に代える
ことも可能である。また、塗布された層間絶縁層にバイ
アホール形成用孔19を形成する手段として、例えばレ
ーザー光の照射等のように露光・現像以外の方法を選択
しても良い。
【0078】(d)外層側の層間絶縁層10に最外層の
導体パターン14を形成しない場合には、例えば樹脂フ
ィラーなしの材料を使用することも可能である。 (e)勿論、配線層3は基材2の片面のみであっても良
い。また、必要に応じて配線層3を更に多層化した構成
とすることも可能である。
【0079】(f)バイアホール15,16は、必ずし
も実施例1,2等のように断面略円形状にする必要はな
く、例えば断面楕円形状や断面矩形状等にしても良い。
また、前記バイアホール15,16を全体的に溝状等に
することも可能である。なお、上記のような非円形状の
バイアホールを形成する方法としては、感光性樹脂の露
光・現像による方法が極めて適している。
【0080】(g)例えば、めっきスルーホール5とバ
イアホール15,16とをほぼ一直線上に配置してなる
導体部分を、実装面側の発熱部品等と非実装面側のヒー
トシンクとをつなぐ放熱経路として利用することも可能
である。このような構成であると、発熱部品とヒートシ
ンクとを低熱抵抗かつ最短距離で接続することができる
ため、放熱効率が高くなるという利点がある。
【0081】(h)バイアホール15,16の凹部15
a,16aに対して銅ペースト7を充填した後、表面研
磨を行うことが良い。このような表面研磨を行うと、バ
イアホール15,16の開口部側の端面をより一層平坦
にすることができる。なお、表面研磨を行うことは、メ
タルマスクを使用せずに銅ペースト7を充填するとき等
において好適である。
【0082】(i)実施例3のようにマッシュルーム型
バンプ25を備えるバイアホール23に代えて、例えば
ストレートウォール型バンプを備えるものとしても良
い。この場合、外層側の層間絶縁層10上に所定の厚さ
のめっきレジストを形成した状態で無電解銅めっきを行
った後、そのめっきレジストを剥離すれば良い。
【0083】(j) めっき膜8やスパッタ膜8を形成
する金属として、例えば金、ニッケル、アルミニウム、
クロム等の銅以外の金属を使用してもよい。但し、これ
らの金属のうちでも、銅は比較的安価でしかも導電性に
優れるというメリットがある。
【0084】ここで、特許請求の範囲に記載された技術
的思想のほかに、前述した実施例及び別例によって把握
される技術的思想をその効果とともに以下に列挙する。 (1) 請求項1〜5の製造方法によって得られた多層
プリント配線板。この構成であると、パターン寸法精度
や信頼性等に優れたものとなる。
【0085】次に本明細書中において使用した技術用語
を以下のように定義する。 「金属膜: 充填材が導電性物質のときには、電解め
っきまたは無電解めっきによって形成される薄い1μm
〜7μm程度の銅めっき膜、ニッケルめっき膜、金めっ
き膜、アルミニウムめっき膜、クロムめっき膜等の各種
金属めっき膜、または0.05μm〜2μm程度の極め
て薄い銅スパッタ膜、ニッケルスパッタ膜、金スパッタ
膜、アルミニウムスパッタ膜、クロムスパッタ膜等の各
種金属スパッタ膜等をいい、更に充填材が非導電性物質
のときには、電解めっきまたは無電解めっきによって形
成される5μm〜30μm程度の銅めっき膜、ニッケル
めっき膜、金めっき膜、アルミニウムめっき膜、クロム
めっき膜等の各種金属めっき膜をいう。」
【0086】
【発明の効果】以上詳述したように、請求項1〜5に記
載の多層プリント配線板の製造方法によれば、配線自由
度の向上、導体パターンの形成精度の向上、及び耐粗化
液性や耐めっき液性等の改善による接続信頼性の向上を
確実に図ることができる。特に請求項3〜5に記載の発
明によれば、製造工程の長時間化を招くことなく確実な
溶解防止を図ることができるため、より一層の接続信頼
性の向上を図りながらも高コスト化を防止することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1の多層プリント配線板を示す一部破断
概略断面図である。
【図2】同じくその製造工程において、銅張積層板にパ
ネルめっきを行った状態を示す一部破断概略断面図であ
る。
【図3】同じくその製造工程において、めっきスルーホ
ールの空洞部に銅ペーストが充填された状態を示す一部
破断概略断面図である。
【図4】同じくその製造工程において、銅ペースト上に
めっき膜が形成された状態を示す一部破断概略断面図で
ある。
【図5】同じくその製造工程において、バイアホール形
成用孔を有する内層側の層間絶縁層が形成された状態を
示す一部破断概略断面図である。
【図6】同じくその製造工程において、永久レジストを
配置して無電解銅めっきを行った状態を示す一部破断概
略断面図である。
【図7】同じくその製造工程において、バイアホールの
凹部に充填された銅ペースト上に更にめっき膜が形成さ
れた状態を示す一部破断概略断面図である。
【図8】同じくその製造工程において、バイアホールを
有する外層側の層間絶縁層が形成された状態を示す一部
破断概略断面図である。
【図9】実施例2の多層プリント配線板を示す一部破断
概略断面図である。
【図10】実施例3の多層プリント配線板を示す一部破
断概略断面図である。
【図11】実施例4の多層プリント配線板を示す一部破
断概略断面図である。
【図12】(a)〜(d)は、従来の多層プリント配線
板の製造工程を示す一部破断概略断面図である。
【図13】(a)〜(d)は、従来の多層プリント配線
板の製造工程を示す一部破断概略断面図である。
【図14】従来の多層プリント配線板を示す一部破断概
略断面図である。
【図15】従来の問題点を説明するための多層プリント
配線板の部分破断拡大概略平面図である。
【符号の説明】
1,20,22,27…多層プリント配線板、2…基
材、5,28…めっきスルーホール、7…充填材として
の銅ペースト、8…金属膜としてのめっき膜(またはス
パッタ膜)、9…絶縁層としての内層側の層間絶縁層、
10…絶縁層としての外層側の層間絶縁層、15,1
6,23…有底孔(=バイアホール)、19,24…開
口部としてのバイアホール形成用孔。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基材を貫通するように形成されためっきス
    ルーホール内に充填材を充填する工程と、前記充填材上
    に金属膜を形成する工程と、少なくとも前記金属膜上に
    開口部を有する絶縁層を前記基材上に形成する工程とを
    行った後、前記絶縁層を化学的に粗化処理する工程及び
    前記開口部を含む領域にめっきを施す工程のうちの少な
    くともいずれかを行う多層プリント配線板の製造方法。
  2. 【請求項2】絶縁層に形成された有底孔内に充填材を充
    填する工程と、前記充填材上に金属膜を形成する工程
    と、少なくとも前記金属膜上に開口部を有する別の絶縁
    層を前記絶縁層上に形成する工程とを行った後、外層側
    となる絶縁層を化学的に粗化する工程及び前記開口部を
    含む領域にめっきを施す工程のうちの少なくともいずれ
    かを行う多層プリント配線板の製造方法。
  3. 【請求項3】前記充填材は導電性物質であり、かつ前記
    金属膜は厚さ1μm〜7μmのめっき膜である請求項1
    または2に記載の多層プリント配線板の製造方法。
  4. 【請求項4】前記充填材は非導電性物質であり、かつ前
    記金属膜は厚さ5μm〜30μmのめっき膜である請求
    項1または2に記載の多層プリント配線板の製造方法。
  5. 【請求項5】前記充填材は導電性物質であり、かつ前記
    金属膜は厚さ0.05μm〜2μmのスパッタ膜である
    請求項1または2に記載の多層プリント配線板の製造方
    法。
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