JPH058528Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH058528Y2
JPH058528Y2 JP1985202324U JP20232485U JPH058528Y2 JP H058528 Y2 JPH058528 Y2 JP H058528Y2 JP 1985202324 U JP1985202324 U JP 1985202324U JP 20232485 U JP20232485 U JP 20232485U JP H058528 Y2 JPH058528 Y2 JP H058528Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
printed circuit
circuit board
conductor
contact
contact probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP1985202324U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS62108877U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP1985202324U priority Critical patent/JPH058528Y2/ja
Publication of JPS62108877U publication Critical patent/JPS62108877U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH058528Y2 publication Critical patent/JPH058528Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 [考案の技術分野] 本考案は、プリント基板自動検査機用治具に関
する。
[考案の技術的背景] 従来から、プリント基板の製造現場では、プリ
ント基板の基本機能である導体パターンの接続状
態を電気的に検査するために自動検査機が広く用
いられている。
一般にプリント基板自動検査機は、プリント基
板の導体パターンの各ランド(以下、単にランド
と称する)にスプリング付きのコンタクトプロー
ブ(以下、ピンと称する)を接触させ、各ピン間
すなわちランド間の導通状況を検出して基準デー
タあるいは設計データと比較し、不同な点があれ
ばエラーと判断して、断線(OP)、シヨート
(SH)の区別とその関連するランドの位置あるい
はピン番号を表示あるいは印字する機能を有して
いる。
ところで従来のプリント基板自動検査機は、多
数のピンが格子状に植設された箱状の治具を装着
し、検査すべきプリント基板が多数のピンの上方
から被せるように固定し、ランド間の導通検査を
行なうようにされているため、1回の検査ではプ
リント基板の片面に存在するランド間の導通状態
しか検査することができず、たとえば一方の面に
存在するランドと他方の面に存在するランドとの
導通状態の検査は不可能かあるいは非常に困難で
あり、両面の検査を要す場合には裏返して他方の
面に存在するランド間などの導通状態を検査せざ
るを得なかつた。
またプリント基板には、たとえば第4図に示し
たように、その縁部に接栓部1aが設けられ、接
栓部の両面に導体部2が設けられ、専用のコネク
タを接続するようにされたタイプがあるが、この
ようなプリント基板1を前記プリント基板自動検
査機により検査する場合には、同一面上に存在す
る、各ランドと接栓部の導体部(以下、接栓導体
部と称する)間の導通状態は容易に検査できるも
のの、一方の面のランドとその裏面の接栓導体部
との間の接続状態は検査することができない。
この解決策としては、プリント基板の両面側か
らピンを接触させる方式ないし手段が考えられ
る。しかし、この場合は治具が極めてコストアツ
プとなり、また必然的にランドに対するピンの接
触個所が多くなるため、ランドの損傷確率が高く
なるという問題がある。
さらに接栓部にコネクタを挿入して両面の接栓
導体部から検査用のラインを得る方式の治具も存
在するが、これによると検査のたびにコネクタを
挿入しなければならないので、作業が非常に煩雑
になる。
[考案の目的] 本考案は、上述したような事情によりなされた
もので、接栓部を有しその両面に導体部が設けら
れたプリント基板を検査するにあたり、検査の作
業が容易で、プリント基板のランドを損傷させる
確率も低く、しかも製造コストの低いプリント基
板自動検査機用治具の提供を目的としている。
[考案の概要] すなわち本考案のプリント基板自動検査機用治
具は、プリント基板自動検査機に装着されるべき
基台と、接栓部分の両面に導体部が形成された検
査すべきプリント基板の一方の面の導体パターン
および両面の接栓部分の導体部に同時に当接する
よう前記基台に植設された第1のコンタクトプロ
ーブ群と、前記プリント基板の接栓部分から若干
外れた位置で露出するよう前記基台に植設された
第2のコンタクトプローブ群と、この第2のコン
タクトプローブ群と前記プリント基板の他方の面
の接栓部分の導体部とに同時に当接する導体部が
形成された導体シートとを有してなることを特徴
としている。
[考案の実施例] 以下、本考案の実施例の詳細を図面に基づいて
説明する。
第1図は本考案の一実施例装置の構成を示す側
面図、第2図は同平面図である。
本実施例装置は、プリント基板自動検査機に装
着されるべき基台3と、両面に接栓導体部4bが
形成された検査すべきプリント基板4の一方の面
の各ランドに当接するよう基台3に植設されたコ
ンタクトプローブ群5aと、プリント基板4の一
方の面の接栓導体部4bに当接するよう基台4に
植設されたコンタクトプローブ5bと、プリント
基板4の接栓部4aから若干外れた位置で露出
し、かつ基板4の厚み分だけコンタクトプローブ
5bよりも突出するよう基台4に植設されたコン
タクトプローブ5cと、このコンタクトプローブ
5cとプリント基板4の、コンタクトプローブ5
aに接触していない側の接栓導体部4bとに同時
に当接する導体部6aが形成された導体シート6
とから構成されている。なお導体シート6は基台
3に設けられた台座3aに擺動可能に固着されて
いる。
そして本実施例装置によりプリント基板4の検
査を行なう場合には、検査すべきプリント基板4
を、第一のコンタクトプローブ群を成すコンタク
トプローブ5aおよび5bの上方から圧着し、各
ランドにコンタクトプローブ5aを当着させ、下
側の接栓導体部4bにはコンタクトプローブ5b
を当着させて、第3図に示したように、導体シー
ト6を閉じた状態にする。すると導体シート6の
導体部6aが基板4上面の接栓導体部4bと第二
のコンタクトプローブ群を成すコンタクトプロー
ブ5cの先端とに同時に接触し、導体シート6の
導体部6aおよびコンタクトプローブ5cを通じ
てプリント基板4の上面の接栓導体部4bから検
査用のラインを導出させることができる。なお上
記において、基台3がプリント基板自動検査機に
装着されると、コンタクトプローブ5a,5b,
5cが自動検査機の入出力ラインに電気的に接続
されることは言うまでもない。
以上説明したように本実施例装置によれば、両
面に接栓導体部4bが形成されているプリント基
板4を一方の両側からのみコンタクトプローブ群
に接触させる場合でも上面の接栓導体部4bから
検査用のラインを極めて容易に導出させることが
でき、一方の面(下面)の各ランドと他方の面
(上面)の接栓導体部4bとの間の断線および短
絡の有無をプリント基板自動検査機により検出す
ることができる。また基板上面の接栓導体部4b
と導体シート6の導体部6aとは面接触になるた
め、接栓導体部の損傷は少ない。
なお本実施例装置では、導体シート6が基台3
の側に固着されているが、導体シート6はガイド
ピン等を使用して検査すべきプリント基板4側に
固定し、基台3の側に検査用のラインに接続され
た導体部を設け、両者を接触させるような構成に
してもよい。
また本実施例装置では、基板4の接栓部4aか
ら若干外れた位置で露出するコンタクトプローブ
5cが、接栓導体部4bに当接するコンタクトプ
ローブ5bよりも基板4の厚みの分だけ突出する
ようにしているが、コンタクトプローブはその先
端部分がスプリングにより変位するようにされて
いるため、コンタクトプローブ5cと5bの高さ
は等しくても導体シート6の接触には支障はな
い。
[考案の効果] 以上説明したように本考案のプリント基板自動
検査機用治具は、プリント基板自動検査機に装着
されるべき基台と、接栓部分の両面に導体部が形
成された検査すべきプリント基板の一方の面の導
体パターンおよび同面の接栓部分の導体部に同時
に当接するよう前記基台に植設された第1のコン
タクトプローブ群と、前記プリント基板の接栓部
分から若干外れた位置で露出するよう前記基台に
植設された第2のコンタクトプローブ群と、この
第2のコンタクトプローブ群と前記プリント基板
の他方の面の接栓部分の導体部とに同時に当接す
る導体部が形成された導体シートとを有してなる
ので、接栓部を有しその両面に導体部が設けられ
たプリント基板を検査するにあたり、検査の作業
が容易で、プリント基板のランドを損傷させる確
率も低く、しかも製造コストが低い。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例装置の構成を示す側
面図、第2図は同平面図、第3図は同実施例装置
によりプリント基板の検査を実施する際の状態を
示す側面図、第4図は接栓部が設けられたプリン
ト基板の形状を示す平面図である。 1,4……プリント基板、1a,4a……接栓
部、2,4b……導体部、3……基台、5a,5
b,5c……コンタクトプローブ、6……導体シ
ート。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) プリント基板自動検査機に装着されるべき基
    台と、接栓部分の両面に導体部が形成された検
    査すべきプリント基板の一方の面の導体パター
    ンおよび同面の接栓部分の導体部に同時に当接
    するよう前記基台に植設された第1のコンタク
    トブロープ群と、前記プリント基板の接栓部分
    から若干外れた位置で露出するよう前記基台に
    植設された第2のコンタクトブロープ群と、こ
    の第2のコンタクトブロープ群と前記プリント
    基板の他方の面の接栓部分の導体部とに同時に
    当接する導体部が形成された導体シートとを具
    備し、かつ前記第1のコンタクトブロープ群お
    よび第2のコンタクトブロープ群の各コンタク
    トブロープ先端位置がスプリングにより変位可
    能に構成されていることを特徴とするプリント
    基板自動検査機用治具。 (2) 導体シートが、前記基台に擺動可能に固着さ
    れている実用新案登録請求の範囲第1項記載の
    プリント基板自動検査機用治具。 (3) 導体シートが、検査すべきプリント基板に擺
    動可能に固着されている実用新案登録請求の範
    囲第1項記載のプリント基板自動検査機用治
    具。
JP1985202324U 1985-12-26 1985-12-26 Expired - Lifetime JPH058528Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1985202324U JPH058528Y2 (ja) 1985-12-26 1985-12-26

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1985202324U JPH058528Y2 (ja) 1985-12-26 1985-12-26

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62108877U JPS62108877U (ja) 1987-07-11
JPH058528Y2 true JPH058528Y2 (ja) 1993-03-03

Family

ID=31166595

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1985202324U Expired - Lifetime JPH058528Y2 (ja) 1985-12-26 1985-12-26

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH058528Y2 (ja)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS556466Y2 (ja) * 1974-02-14 1980-02-14

Also Published As

Publication number Publication date
JPS62108877U (ja) 1987-07-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH058528Y2 (ja)
JPH0725722Y2 (ja) 電子部品用ソケット
JP2000074991A (ja) 半導体チップ用パッケージの良否検査方法及びその装置とこれに用いるプローブピン構造
JP2814869B2 (ja) 回路基板検査方法および回路基板
JPH045023Y2 (ja)
JPS59208469A (ja) プロ−ブカ−ド
JPH0128466Y2 (ja)
JPH07311242A (ja) インサーキットテスタのテストヘッド部
JP2601680Y2 (ja) 接地基板つきオートハンドラ用コンタクトボード
JP2609860B2 (ja) プリント基板検査治具用ピン
JPS60242379A (ja) プロ−ブカ−ド
JP2606309Y2 (ja) Icソケット
JPS6329261Y2 (ja)
JPH05134001A (ja) 半導体装置の検査方法
JPH0815361A (ja) プリント配線板の検査方法
JPH088000A (ja) コネクタ
JPH06294815A (ja) 実装部品の検査方法
JPH0220846Y2 (ja)
JPH0653986U (ja) 開発機器の試験用アダプタ
JPS57122368A (en) Inspecting apparatus for printed circuit board
JPH0637771U (ja) プロービング装置
JPS5935814Y2 (ja) 半導体集積回路検査装置
JP2570033B2 (ja) プリント配線板用導通検査機
JPS58100439A (ja) プロ−バ
JPH0587875A (ja) 移動プローブ型インサーキツト・テスタ