JPH045023Y2 - - Google Patents

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JPH045023Y2
JPH045023Y2 JP1983059049U JP5904983U JPH045023Y2 JP H045023 Y2 JPH045023 Y2 JP H045023Y2 JP 1983059049 U JP1983059049 U JP 1983059049U JP 5904983 U JP5904983 U JP 5904983U JP H045023 Y2 JPH045023 Y2 JP H045023Y2
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JP
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printed circuit
semiconductor component
component mounting
circuit board
pitch
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JP1983059049U
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  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、プリント回路板の回路網の電気的導
通の有無を検査するプリント回路板検査装置に関
するものである。
一般にプリント回路板にはI.C.,L.S.I.等の半
導体部品を取り付けるための半導体部品取付用端
子が形成される場合がある。
第1図は、このようなプリント回路板1の一例
を示し、複数の半導体部品取付用端子(以下単に
取付用端子という)2……が半導体部品(例えば
16ピンI.C.)の足の配置に合わせて狭いピツチP
(例えば0.1インチ程度)で二列に整列させられて
いる。また各取付用端子2……からは、各々独立
に分離させられた回路導体3……が引き出され、
さらに回路導体3……のもう一方の端には取付用
端子2……よりも広いピツチで並べられ、かつ、
取付用端子2より大きい接続用端子4……が設け
られている。
従来、このようなプリント回路板1の回路導体
3……の導通検査を行なう場合は、前記複数の取
付用端子2……を導伝棒等で短絡し、この導伝棒
と前記接続用端子4……の一つ一つとの間で導通
をチエツクする方法がとられていた。
しかしながら、このような従来方法では、取付
用端子2……の凹凸、あるいはプリント回路板1
の反り等のために導伝棒による短絡が不安定とな
つて正確な検査が難かしくなり、また各回路導体
3……相互間に短絡があつた場合、これを検出す
ることができない等の難点があつた。
本考案は前述事情を考慮してなされたもので、
取付用端子等の微細な端子を有するプリント回路
板の導通検査を正確かつ能率よく行ない得るプリ
ント回路板検査装置の提供を目的とするものであ
る。
以下本考案を図面に示す実施例に基づいて説明
する。
第2図〜第5図は、本考案の一実施例を示すも
ので、第2図は前記取付用端子2……を有するプ
リント回路板1の検査に適用される検査装置であ
る。図中符号5は、ポリエステル等からなる絶縁
性フイルムであり、この絶縁性フイルム5は、第
3図に示す如く略台形状に形成される。そしてそ
の下面には、その短辺から長辺に向かつて複数本
の配線導体6……が並設され、この配線導体6…
…の一端部6a……は、前記取付用端子2……の
配置に合わせて二列に並べられるとともに一端部
6a……相互の間隔は取付用端子2……のピツチ
Pと同一とされる。また配線導体6……の他端部
6b……は前記絶縁性フイルム5の長辺に沿つて
一列に並べられるとともに、その相互間隔は前記
ピツチP以上に広げられてコネクタ用導体7……
とされて配設される。これら配線導体6……およ
びコネクタ導体7……は、例えば銅箔等によつて
形成され、絶縁性フイルム5と一体に接着される
ものである。
一方前記配線導体6……の一端部6a……には
絶縁性フイルム5と直交方向に突出する複数の接
触子8……が設けられる。これら接触子8は、第
4図および第5図に示す如くばね部8aの先端に
棒状の接触部8bが設けられたものであり、配線
導体6……の一端部6a……にはんだ付け等によ
つて固定される。また図中符号9は絶縁性フイル
ムの短辺近傍に剛性を付与するための補強板であ
り、符号10はスペーサ11を介して絶縁性フイ
ルム5に固定される支持板である。この支持板1
0には前記接触子8の接触部8bが緩挿される案
内孔10a……が設けられ、接触部8bは案内孔
10aを貫通して下方に突出した状態とされる。
このように構成されたプリント回路板検査装置
の使用方法について説明すれば、第2図のように
コネクタ用導体7……を検査器(図示略)に配線
されたコネクタ12に接続した状態で、接触子8
……をプリント回路板1の取付用端子2……に正
対させる。このとき接触子8……は取付用端子2
……のピツチPと同一ピツチで並べられているの
で、どれか2本の接触子8,8の位置を合わせる
ことによつて全ての接触子8……と取付用端子2
……とを正対させることができる。しかる後に、
前記補強板9をプリント回路板1の方向に押圧す
ると、接触子8……は案内孔10a……の案内に
よつて横振れを防止されつつばね部8aの作用に
よつて伸縮するため、取付用端子の凹凸や、プリ
ント回路板1の反りにかかわりなく取付用端子2
……に確実に接触する。従つてこの状態におい
て、前記プリント回路板1の接続用端子4……
に、前記検出器に配線された他のコネクタや他の
検査用接触子等を接触させれば、回路導体3……
の導通検査を正確かつ能率よく行なえるものであ
る。
なお第6図は、本考案の他の実施例であり、28
ピンI.C.用の取付用端子を有するプリント回路板
の検査に使用される絶縁性フイルム5′およびそ
の表面に形成される配線導体6等を示すものであ
る。
以上説明したように本考案によれば、プリント
回路板に設けられた半導体部品取付用端子と、こ
の半導体部品取付用端子から引き出された接続用
端子との間の電気的導通の有無を検査するプリン
ト回路板検査装置において、絶縁性フイルムの表
面に複数本の配線導体を並設し、この配線導体の
一端部の間隔を前記半導体部品取付用端子のピツ
チと同一とし、また他端部の間隔を前記ピツチよ
りも広げてコネクタ用導体として配設し、かつ、
前記配線導体の一端部に、この配線導体の前記絶
縁性フイルムと反対側に位置するばね部の先端に
棒状の接触部を設けてなる複数の接触子を、前記
絶縁性フイルムと直交する方向に突出して設け、
前記半導体部品取付用端子に前記複数の接触子を
接触させる構成としたので次のような効果を得る
ことができる。
半導体部品取付用端子を検出器等に配線され
たコネクタに接続できるようにしたのプリント
回路板の導通検査の作業能率を高めることがで
きる。
各取付用端子と各接続用端子との間の導通を
チエツクすることができるので回路導体相互間
に短絡があれば、これを検出し得る。
半導体部品取付用端子が、ある部材に形成さ
れた細長い穴の奥先にあり、この細長い穴を通
して接触子を半導体部品取付用端子に接触させ
なければならないようなプリント回路板に対し
ても、前記細長い穴の奥先まで棒状の接触部を
挿入させることができ、半導体部品取付用端子
にばね力を作用させて接触子を接触させること
ができる。
半導体部品の足のピツチおよび数と同じピツ
チおよび数の半導体部品取付用端子を有するプ
リント回路板であれば、どのようなプリント回
路板の検査にも適用ぶきるので汎用性があり、
例えば同じコネクタに嵌め込み可能な数種類の
本案装置を用意し、それらを交換しながら検査
を行なえば、種々の回路パターンのプリント回
路板を検査することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、半導体部品取付用端子を有するプリ
ント回路板の一例を示す平面図、第2図〜第5図
は本考案の一実施例を示し、第2図は斜視図、第
3図は絶縁性フイルムの平面図、第4図は第2図
の−線に沿う矢視図、第5図は第4図の−
線に沿う矢視図、第6図は本考案の他の実施例
を説明する絶縁性フイルムの平面図である。 1……プリント回路板、2……半導体部品取付
用端子、4……接続用端子、5,5′……絶縁性
フイルム、6……配線導体、6a……一端部、6
b……他端部、7……コネクタ用導体、8……接
触子、8a……ばね部、8b……接触部。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. プリント回路板1に設けられた半導体部品取付
    用端子2と、この半導体部品取付用端子から引き
    出された接続用端子4との間の電気的導通の有無
    を検査するプリント回路板検査装置において、絶
    縁性フイルム5,5′の表面に複数本の配線導体
    6を並設し、この配線導体の一端部6aの間隔を
    前記半導体部品取付用端子のピツチPと同一と
    し、また他端部6bの間隔を前記ピツチよりも広
    げてコネクタ用導体7として配設し、かつ、前記
    配線導体の一端部に、この配線導体の前記絶縁性
    フイルムと反対側に位置するばね部8aの先端に
    棒状の接触部8bを設けてなる複数の接触子8
    を、前記絶縁性フイルムと直交する方向に突出し
    て設け、前記半導体部品取付用端子に前記複数の
    接触子を接触させることを特徴とするプリント回
    路板検査装置。
JP5904983U 1983-04-20 1983-04-20 プリント回路板検査装置 Granted JPS59163968U (ja)

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JP5904983U JPS59163968U (ja) 1983-04-20 1983-04-20 プリント回路板検査装置

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JPS59163968U JPS59163968U (ja) 1984-11-02
JPH045023Y2 true JPH045023Y2 (ja) 1992-02-13

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ID=30189309

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0438299Y2 (ja) * 1984-11-27 1992-09-08
JPH06784Y2 (ja) * 1986-10-17 1994-01-05 理化電子株式会社 電子部品の検査用治具
JP2539264Y2 (ja) * 1990-07-24 1997-06-25 ヒューグルエレクトロニクス株式会社 プローブカード

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4917685A (ja) * 1972-06-05 1974-02-16

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