JP2609860B2 - プリント基板検査治具用ピン - Google Patents
プリント基板検査治具用ピンInfo
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- JP2609860B2 JP2609860B2 JP62100751A JP10075187A JP2609860B2 JP 2609860 B2 JP2609860 B2 JP 2609860B2 JP 62100751 A JP62100751 A JP 62100751A JP 10075187 A JP10075187 A JP 10075187A JP 2609860 B2 JP2609860 B2 JP 2609860B2
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- Japan
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- pin
- printed circuit
- board
- circuit board
- inspection jig
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、プリント基板検査治具に配置され、検査装
置のプローブピンと基板接点との電気的接続を行うプリ
ント基板検査治具用ピンに係わり、特に検査装置と、所
定ピッチ以外のピッチで配列された接点を有するプリン
ト基板との電気的接続に好適なプリント基板検査治具用
ピンに関する。
置のプローブピンと基板接点との電気的接続を行うプリ
ント基板検査治具用ピンに係わり、特に検査装置と、所
定ピッチ以外のピッチで配列された接点を有するプリン
ト基板との電気的接続に好適なプリント基板検査治具用
ピンに関する。
（従来の技術） 従来、例えばIC等の接点は、0.1インチ（2.54mm）の
所定のピッチで形成されるよう規格化されており、プリ
ント基板の試験測定を行うプリント基板検査装置には、
この所定ピッチで多数のプローブピンが配列されてい
る。
所定のピッチで形成されるよう規格化されており、プリ
ント基板の試験測定を行うプリント基板検査装置には、
この所定ピッチで多数のプローブピンが配列されてい
る。
そして、このような所定ピッチ以外のピッチで接点を
形成されたプリント基板の試験測定を行う場合は、例え
ば第３図に示すようなプリント基板検査治具を用いて試
験測定を行っている。
形成されたプリント基板の試験測定を行う場合は、例え
ば第３図に示すようなプリント基板検査治具を用いて試
験測定を行っている。
すなわち、0.1インチの所定ピッチで多数配列された
プローブピン21を備えた検査装置20上に設置されるボト
ムボード１は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート
等から構成されており、上記プローブピン21と同ピッチ
で多数の透孔1aが形成されている。
プローブピン21を備えた検査装置20上に設置されるボト
ムボード１は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート
等から構成されており、上記プローブピン21と同ピッチ
で多数の透孔1aが形成されている。
ボトムボード１の上部には、複数の支柱２によって支
持されたトップボード３が配置されている。このトップ
ボード３は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート等
から構成されており、プリント基板30に形成された接点
31の位置に対応して、複数の透孔3aが形成されている。
持されたトップボード３が配置されている。このトップ
ボード３は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート等
から構成されており、プリント基板30に形成された接点
31の位置に対応して、複数の透孔3aが形成されている。
そして、トップボード３の透孔3aと、ボトムボード１
の透孔1aとの間には、プリント基板検査治具用ピン４が
配置され、検査装置20のプローブピン21と、プリント基
板30の接点31との電気的接続を行い測定を行う。
の透孔1aとの間には、プリント基板検査治具用ピン４が
配置され、検査装置20のプローブピン21と、プリント基
板30の接点31との電気的接続を行い測定を行う。
上記プリント基板検査治具用ピン４は、材質例えばBe
Cu等からなり、表面に例えばNi、Rh等のメッキ処理を施
された直径例えば1.0mm〜2.0mmの丸棒から構成されてい
る。そして、このプリント基板検査治具用ピン４の下側
端部は、逆円錘形に形成された測定装置側接続部4aとさ
れ、上側端部は、円錘形に形成されたプリント基板側接
続部4bとされている。したがって、測定装置側接続部4a
とプリント基板側接続部4bとは、同一軸上に配置されて
いる。
Cu等からなり、表面に例えばNi、Rh等のメッキ処理を施
された直径例えば1.0mm〜2.0mmの丸棒から構成されてい
る。そして、このプリント基板検査治具用ピン４の下側
端部は、逆円錘形に形成された測定装置側接続部4aとさ
れ、上側端部は、円錘形に形成されたプリント基板側接
続部4bとされている。したがって、測定装置側接続部4a
とプリント基板側接続部4bとは、同一軸上に配置されて
いる。
上記説明のプリント基板検査治具では、プローブピン
21のピッチと、接点31のピッチとが異なる場合でも、プ
ローブピン21と接点31との間にプリント基板検査治具用
ピン４を斜めに配置することにより、プローブピン21と
接点31との電気的接続を行い、測定可能とするものであ
る。
21のピッチと、接点31のピッチとが異なる場合でも、プ
ローブピン21と接点31との間にプリント基板検査治具用
ピン４を斜めに配置することにより、プローブピン21と
接点31との電気的接続を行い、測定可能とするものであ
る。
（発明が解決しようとする問題点） しかしながら近年は、高集積化のため、基板に形成さ
れる接点のピッチは、所定の基準ピッチより小さなピッ
チで形成される場合が多い。上記説明の従来のプリント
基板検査治具用ピンでは、所定の基準ピッチて異なるピ
ッチ、例えば所定の基準ピッチより小さなピッチで多数
の接点を連続して形成された基板等の場合、一本の棒状
体から構成されたプリント基板検査治具用ピンを斜めに
配置することには限界が生じ、測定を行うことができな
いという問題がある。
れる接点のピッチは、所定の基準ピッチより小さなピッ
チで形成される場合が多い。上記説明の従来のプリント
基板検査治具用ピンでは、所定の基準ピッチて異なるピ
ッチ、例えば所定の基準ピッチより小さなピッチで多数
の接点を連続して形成された基板等の場合、一本の棒状
体から構成されたプリント基板検査治具用ピンを斜めに
配置することには限界が生じ、測定を行うことができな
いという問題がある。
本発明は、かかる従来の事情に対処してなされたもの
で、所定の基準ピッチと異なるピッチ、例えば所定の基
準ピッチより小さなピッチで多数の接点を連続して形成
された基板等でも、試験測定を行うことのできるプリン
ト基板検査治具用ピンを提供しようとするものである。
で、所定の基準ピッチと異なるピッチ、例えば所定の基
準ピッチより小さなピッチで多数の接点を連続して形成
された基板等でも、試験測定を行うことのできるプリン
ト基板検査治具用ピンを提供しようとするものである。
［発明の構成］ （問題点を解決するための手段） すなわち本発明は、所定ピッチで透孔が配設されたボ
トムボードとこのボトムボードの上方に設けられたトッ
プボードとを貫通する如く配設され、前記ボトムボード
の下方に設けられる検査装置のプローブピンと、前記ト
ップボード上方に設けられるプリント基板の接点とを電
気的に接続するプリント基板検査治具用ピンにおいて、 前記ボトムボードの透孔と、このボトムボードの透孔
に対応して前記トップボードに設けられた透孔を貫通す
る如く配設され、下端部が前記プローブピンと接触する
プローブピン側接触部とされたピン本体と、 前記トップボードの上方において前記ピン本体から側
方に延在するよう設けられた導電性部材と、 前記プローブピン側接触部とは異なる軸上に位置する
如く、前記導電性部材から上方に突出する如く設けられ
たプリント基板側接触部と、 前記プリント基板側接触部に対応して、前記導電性部
材から下方に突出する如く設けられ、前記トップボード
に設けられた透孔に挿入される固定用突起部と を具備したことを特徴とする。
トムボードとこのボトムボードの上方に設けられたトッ
プボードとを貫通する如く配設され、前記ボトムボード
の下方に設けられる検査装置のプローブピンと、前記ト
ップボード上方に設けられるプリント基板の接点とを電
気的に接続するプリント基板検査治具用ピンにおいて、 前記ボトムボードの透孔と、このボトムボードの透孔
に対応して前記トップボードに設けられた透孔を貫通す
る如く配設され、下端部が前記プローブピンと接触する
プローブピン側接触部とされたピン本体と、 前記トップボードの上方において前記ピン本体から側
方に延在するよう設けられた導電性部材と、 前記プローブピン側接触部とは異なる軸上に位置する
如く、前記導電性部材から上方に突出する如く設けられ
たプリント基板側接触部と、 前記プリント基板側接触部に対応して、前記導電性部
材から下方に突出する如く設けられ、前記トップボード
に設けられた透孔に挿入される固定用突起部と を具備したことを特徴とする。
また、上記プリント基板検査治具用ピンは、材質がBe
Cuからなることを特徴とし、さらに、表面にNiまたはRh
のメッキ処理がなされたことを特徴とする。
Cuからなることを特徴とし、さらに、表面にNiまたはRh
のメッキ処理がなされたことを特徴とする。
（作用） 本発明のプリント基板検査治具用ピンでは、プローブ
ピンとの接触部と、プリント基板の接点との接触部と
が、異なる軸上に位置するよう構成されている。
ピンとの接触部と、プリント基板の接点との接触部と
が、異なる軸上に位置するよう構成されている。
したがって、所定の基準ピッチと異なるピッチ、例え
ば所定の基準ピッチより小さなピッチで多数連続して形
成された接点を有するプリント基板等においても、これ
らの接点と、該接点と異なる軸上に位置する検査装置の
プローブピンとを電気的に接続し、試験測定を行うこと
ができる。
ば所定の基準ピッチより小さなピッチで多数連続して形
成された接点を有するプリント基板等においても、これ
らの接点と、該接点と異なる軸上に位置する検査装置の
プローブピンとを電気的に接続し、試験測定を行うこと
ができる。
また、ピンを斜めに配設したりする必要もないのでピ
ン等に無理がかからず、さらに、固定用突起部によって
プリント基板側接触部の位置が固定されるので、容易か
つ確実に電気的接続を行うことができ、良好な試験測定
を行うことができる。
ン等に無理がかからず、さらに、固定用突起部によって
プリント基板側接触部の位置が固定されるので、容易か
つ確実に電気的接続を行うことができ、良好な試験測定
を行うことができる。
（実施例） 以下本発明のプリント基板検査治具用ピンを、第１図
および第２図を参照して実施例について説明する。
および第２図を参照して実施例について説明する。
この実施例のプリント基板検査治具用ピン11は、棒状
のピン本体12と、このピン本体12上部に溶接等により固
着された板状部材13とから構成されている。
のピン本体12と、このピン本体12上部に溶接等により固
着された板状部材13とから構成されている。
上記ピン本体12は、材質例えばBeCu等からなり、表面
に例えばNi、Rh等のメッキ処理を施された直径例えば1.
0mm〜2.0mmの丸棒から構成されている。そして、このピ
ン本体12の下側端部は、逆円錘形に形成された測定装置
側接続部12aとされている。
に例えばNi、Rh等のメッキ処理を施された直径例えば1.
0mm〜2.0mmの丸棒から構成されている。そして、このピ
ン本体12の下側端部は、逆円錘形に形成された測定装置
側接続部12aとされている。
また、上記板状部材13は、材質例えばBeCu等からな
り、表面に例えばNi、Rh等のメッキ処理が施されたほぼ
長方形の板から構成されている。そして、固着部13aに
おいてピン本体12上部に、このピン本体12とほぼ直角に
固着されており、このピン本体12の軸心から水平方向に
所定間隔ｄを設けて三角形状に上方へ突出するプリント
基板側接続部13bが形成されている。また、このプリン
ト基板側接続部13bの下側には、下方へ向けて突出する
固定用突起部13cが形成されている。
り、表面に例えばNi、Rh等のメッキ処理が施されたほぼ
長方形の板から構成されている。そして、固着部13aに
おいてピン本体12上部に、このピン本体12とほぼ直角に
固着されており、このピン本体12の軸心から水平方向に
所定間隔ｄを設けて三角形状に上方へ突出するプリント
基板側接続部13bが形成されている。また、このプリン
ト基板側接続部13bの下側には、下方へ向けて突出する
固定用突起部13cが形成されている。
上記構成のプリント基板検査治具用ピン11は、第２図
に示すようなプリント基板検査治具に配置される。
に示すようなプリント基板検査治具に配置される。
すなわち、0.1インチの所定ピッチで多数配列された
プローブピン21を備えた検査装置20上に載置されるボト
ムボード14は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート
等から構成されており、上記プローブピン21と同ピッチ
で多数の透孔14aが形成されている。
プローブピン21を備えた検査装置20上に載置されるボト
ムボード14は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート
等から構成されており、上記プローブピン21と同ピッチ
で多数の透孔14aが形成されている。
ボトムボード14の上部には、複数の支柱15によって支
持されたトップボード16が配置されている。このトップ
ボード16は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート等
から構成されており、プリント基板30に形成された接点
31の位置に対応して、複数の透孔16aが形成されてい
る。
持されたトップボード16が配置されている。このトップ
ボード16は、材質例えばアクリル、ポリカーボネート等
から構成されており、プリント基板30に形成された接点
31の位置に対応して、複数の透孔16aが形成されてい
る。
また、プリント基板30の接点31の位置が、所定ピッチ
と異なるピッチで配列されている部位には、接点31の位
置に対応する透孔16aの他に、この透孔16aの近傍の所定
ピッチ位置、すなわちボトムボード14の透孔14aに対応
した位置に透孔16bが形成されている。
と異なるピッチで配列されている部位には、接点31の位
置に対応する透孔16aの他に、この透孔16aの近傍の所定
ピッチ位置、すなわちボトムボード14の透孔14aに対応
した位置に透孔16bが形成されている。
そして、プリント基板30の接点31が所定ピッチ以外の
ピッチ、例えば所定ピッチより小ピッチで配列された部
位には、プリント基板検査治具用ピン11を配置する。す
なわち、ピン本体12を、トップボード16の透孔16b上方
からボトムボード14の透孔14aを貫通して配置する。そ
して、固定用突起部13cを、接点31の位置に対応する透
孔16aに挿入して、プリント基板側接続部13bをプリント
基板30の接点31の位置に対応した位置に固定する。
ピッチ、例えば所定ピッチより小ピッチで配列された部
位には、プリント基板検査治具用ピン11を配置する。す
なわち、ピン本体12を、トップボード16の透孔16b上方
からボトムボード14の透孔14aを貫通して配置する。そ
して、固定用突起部13cを、接点31の位置に対応する透
孔16aに挿入して、プリント基板側接続部13bをプリント
基板30の接点31の位置に対応した位置に固定する。
なお、板状部材13のプリント基板側接続部13bと、ピ
ン本体12の軸心との間隔ｄは、あらかじめ、接点31の所
定ピッチからオフセット量に対応して設定しておく。
ン本体12の軸心との間隔ｄは、あらかじめ、接点31の所
定ピッチからオフセット量に対応して設定しておく。
また、プリント基板30の接点31が所定ピッチで配列さ
れている部位には、前述の従来のプリント基板検査治具
用ピンと同様なプリント基板検査治具用ピン17を配置す
る。
れている部位には、前述の従来のプリント基板検査治具
用ピンと同様なプリント基板検査治具用ピン17を配置す
る。
上記構成のこの実施例のプリント基板検査治具用ピン
11では、プリント基板30に0.1インチの所定ピッチと異
なるピッチ、例えば所定ピッチより小ピッチで配列され
た接点31と、検査装置20のプローブピン21との電気的接
続を行うことができる。
11では、プリント基板30に0.1インチの所定ピッチと異
なるピッチ、例えば所定ピッチより小ピッチで配列され
た接点31と、検査装置20のプローブピン21との電気的接
続を行うことができる。
なお、上記実施例では、板状部材13によりプリント基
板側接続部13bを形成し、ピン本体12の測定装置側接続
部12aと異なる軸上にプリント基板側接続部13bを配置し
たが、本発明はかかる実施例に限定されるものではな
く、例えばピン本体12を曲折された形状にする等、どの
ようにしてプリント基板側接続部13bと測定装置側接続
部12aとを異なる軸上に配置してもよいことは、もちろ
んである。
板側接続部13bを形成し、ピン本体12の測定装置側接続
部12aと異なる軸上にプリント基板側接続部13bを配置し
たが、本発明はかかる実施例に限定されるものではな
く、例えばピン本体12を曲折された形状にする等、どの
ようにしてプリント基板側接続部13bと測定装置側接続
部12aとを異なる軸上に配置してもよいことは、もちろ
んである。
［発明の効果］ 上述のように、本発明のプリント基板検査治具用ピン
では、所定の基準ピッチと異なるピッチ、例えば所定の
基準ピッチより小さなピッチで多数の接点を連続して形
成された基板等でも、試験測定を行うことができる。
では、所定の基準ピッチと異なるピッチ、例えば所定の
基準ピッチより小さなピッチで多数の接点を連続して形
成された基板等でも、試験測定を行うことができる。
また、ピンを斜めに配設したりする必要もないのでピ
ン等に無理がかからず、さらに、固定用突起部によって
プリント基板側接触部の位置が固定されるので、容易か
つ確実に電気的接続を行うことができ、良好な試験測定
を行うことができる。
ン等に無理がかからず、さらに、固定用突起部によって
プリント基板側接触部の位置が固定されるので、容易か
つ確実に電気的接続を行うことができ、良好な試験測定
を行うことができる。
第１図は本発明の一実施例のプリント基板検査治具用ピ
ンを示す側面図、第２図は第１図のプリント基板検査治
具用ピンを配置されたプリント基板検査治具を示す側面
図、第３図は従来のプリント基板検査治具用ピンを配置
されたプリント基板検査治具示す側面図である。 11……プリント基板検査治具用ピン、12……ピン本体、
12a……測定装置側接続部、13……板状部材、13b……プ
リント基板側接続部。
ンを示す側面図、第２図は第１図のプリント基板検査治
具用ピンを配置されたプリント基板検査治具を示す側面
図、第３図は従来のプリント基板検査治具用ピンを配置
されたプリント基板検査治具示す側面図である。 11……プリント基板検査治具用ピン、12……ピン本体、
12a……測定装置側接続部、13……板状部材、13b……プ
リント基板側接続部。
Claims (3)
- 【請求項１】所定ピッチで透孔が配設されたボトムボー
ドとこのボトムボードの上方に設けられたトップボード
とを貫通する如く配設され、前記ボトムボードの下方に
設けられる検査装置のプローブピンと、前記トップボー
ド上方に設けられるプリント基板の接点とを電気的に接
続するプリント基板検査治具用ピンにおいて、 前記ボトムボードの透孔と、このボトムボードの透孔に
対応して前記トップボードに設けられた透孔を貫通する
如く配設され、下端部が前記プローブピンと接触するプ
ローブピン側接触部とされたピン本体と、 前記トップボードの上方において前記ピン本体から側方
に延在するよう設けられた導電性部材と、 前記プローブピン側接触部とは異なる軸上に位置する如
く、前記導電性部材から上方に突出する如く設けられた
プリント基板側接触部と、 前記プリント基板側接触部に対応して、前記導電性部材
から下方に突出する如く設けられ、前記トップボードに
設けられた透孔に挿入される固定用突起部と を具備したことを特徴とするプリント基板検査治具用ピ
ン。 - 【請求項２】材質がBeCuからなることを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載のプリント基板検査治具用ピン。 - 【請求項３】表面にNiまたはRhのメッキ処理がなされた
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のプリント
基板検査治具用ピン。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62100751A JP2609860B2 (ja) | 1987-04-23 | 1987-04-23 | プリント基板検査治具用ピン |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62100751A JP2609860B2 (ja) | 1987-04-23 | 1987-04-23 | プリント基板検査治具用ピン |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63265179A JPS63265179A (ja) | 1988-11-01 |
| JP2609860B2 true JP2609860B2 (ja) | 1997-05-14 |
Family
ID=14282226
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62100751A Expired - Lifetime JP2609860B2 (ja) | 1987-04-23 | 1987-04-23 | プリント基板検査治具用ピン |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2609860B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101192209B1 (ko) | 2008-09-05 | 2012-10-17 | 니혼덴산리드가부시키가이샤 | 기판검사용 검사치구 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4774462A (en) * | 1984-06-11 | 1988-09-27 | Black Thomas J | Automatic test system |
| JPS61228364A (ja) * | 1985-04-03 | 1986-10-11 | Fujitsu Ltd | プリント板試験台 |
-
1987
- 1987-04-23 JP JP62100751A patent/JP2609860B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63265179A (ja) | 1988-11-01 |
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