JPS6329261Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6329261Y2 JPS6329261Y2 JP13236087U JP13236087U JPS6329261Y2 JP S6329261 Y2 JPS6329261 Y2 JP S6329261Y2 JP 13236087 U JP13236087 U JP 13236087U JP 13236087 U JP13236087 U JP 13236087U JP S6329261 Y2 JPS6329261 Y2 JP S6329261Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- prober
- automatic
- circuit
- connector
- points
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 21
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は多種小ロツトのプリント板の回路のイ
ンピーダンステストに適したインサーキツトテス
ト装置に関するものである。
ンピーダンステストに適したインサーキツトテス
ト装置に関するものである。
従来、プリント板の製造試験工程等において、
インサーキツトテスト装置による測定は回路の被
測定点間のインピーダンスを自動走査で切換える
ことにより行なわれる。第１図はその１例を示す
ものである。すなわち、被試験プリント板１に回
路７に接続された複数個の接触点８を設けてお
く。一方、この接触点８に対応するピン６を下面
に設け、リード線によりコネクタ端子に取出すよ
うにしたフイクスチヤ２を用意し、これを被試験
プリント板１上に合せて、ピン６を接触点８に接
触させて試験を行なう。コネクタ３からのリード
線はスキヤナ４に接続され、中央処理装置
（CPU）１０のプログラムで自動走査され、順次
リード線間が選択されて試験機５でインピーダン
ス測定が行なわれ、その結果の良否がCPU１０
のデータと比較され、良ならば先に進められ不良
ならば不良結果を通知する。
インサーキツトテスト装置による測定は回路の被
測定点間のインピーダンスを自動走査で切換える
ことにより行なわれる。第１図はその１例を示す
ものである。すなわち、被試験プリント板１に回
路７に接続された複数個の接触点８を設けてお
く。一方、この接触点８に対応するピン６を下面
に設け、リード線によりコネクタ端子に取出すよ
うにしたフイクスチヤ２を用意し、これを被試験
プリント板１上に合せて、ピン６を接触点８に接
触させて試験を行なう。コネクタ３からのリード
線はスキヤナ４に接続され、中央処理装置
（CPU）１０のプログラムで自動走査され、順次
リード線間が選択されて試験機５でインピーダン
ス測定が行なわれ、その結果の良否がCPU１０
のデータと比較され、良ならば先に進められ不良
ならば不良結果を通知する。
この方法は少種大ロツトのプリント板には極め
て有効であり、測定時間が短いという長所がある
が、プリント板の種類毎にフイクスチヤを作成し
なければならないから、多種小ロツトの場合には
試験費用が著しく嵩むという欠点がある。
て有効であり、測定時間が短いという長所がある
が、プリント板の種類毎にフイクスチヤを作成し
なければならないから、多種小ロツトの場合には
試験費用が著しく嵩むという欠点がある。
本考案の目的は多種小ロツトのプリント板の回
路のインピーダンス測定に適したインサーキツト
テスト装置を提供することである。
路のインピーダンス測定に適したインサーキツト
テスト装置を提供することである。
前記目的を達成するため、本考案のインサーキ
ツトテスト装置は被試験プリント板回路の被測定
点間を自動走査してインピーダンスを測定するイ
ンサーキツトテスト装置において、 該プリント板上方に配線上の接触点に対し選択
的に位置が設定できる複数の自動プローバを有す
るプローバ駆動テーブルと、測定時プリント板の
テストの必要な箇所全てにプローバ駆動テーブル
の自動プローバを予め移動させて接触させるプロ
ーバ制御部と、プリント板のコネクタ端子を自動
走査するスキヤナと、該スキヤナによつて組合わ
された自動プローバとコネクタを用いて測定を行
なう試験機を具備することを特徴とするものであ
る。
ツトテスト装置は被試験プリント板回路の被測定
点間を自動走査してインピーダンスを測定するイ
ンサーキツトテスト装置において、 該プリント板上方に配線上の接触点に対し選択
的に位置が設定できる複数の自動プローバを有す
るプローバ駆動テーブルと、測定時プリント板の
テストの必要な箇所全てにプローバ駆動テーブル
の自動プローバを予め移動させて接触させるプロ
ーバ制御部と、プリント板のコネクタ端子を自動
走査するスキヤナと、該スキヤナによつて組合わ
された自動プローバとコネクタを用いて測定を行
なう試験機を具備することを特徴とするものであ
る。
以下本考案を実施例につき詳述する。
第２図は本考案の実施例の構成を示す説明図で
ある。。
ある。。
本考案は第１図のフイクスチヤの代りに所定範
囲の接触点を選択的にXY方向に可変設定しうる
自動プローバ１２1〜１２3を設けたプローバ駆動
テーブル１１をプリント板１の上方にセツト自在
に設ける。
囲の接触点を選択的にXY方向に可変設定しうる
自動プローバ１２1〜１２3を設けたプローバ駆動
テーブル１１をプリント板１の上方にセツト自在
に設ける。
この自動プローバ１２1〜１２3はプリント板１
にセツトする前に、プリント板１の種類による
CPU１０のプログラムに基づきプローバ制御部
１４により所定の位置設定が行なわれる。一方プ
リント板１のコネクタ端子をコネクタ１５に接続
し、このコネクタ１５からのリード線をスキヤナ
４に入れ、このリード線間でCPU１０のプログ
ラムに基づき自動走査が行なわれる。そして自動
プローバ１２1〜１２3から取出したリード線１３
１〜１３3を試験機５に入れ、これらのリード線１
３1〜１３3およびコネクタ１５のリード線の中か
らプログラムに従い選択された任意の数箇所間で
インピーダンスの測定が行なわれる。
にセツトする前に、プリント板１の種類による
CPU１０のプログラムに基づきプローバ制御部
１４により所定の位置設定が行なわれる。一方プ
リント板１のコネクタ端子をコネクタ１５に接続
し、このコネクタ１５からのリード線をスキヤナ
４に入れ、このリード線間でCPU１０のプログ
ラムに基づき自動走査が行なわれる。そして自動
プローバ１２1〜１２3から取出したリード線１３
１〜１３3を試験機５に入れ、これらのリード線１
３1〜１３3およびコネクタ１５のリード線の中か
らプログラムに従い選択された任意の数箇所間で
インピーダンスの測定が行なわれる。
このような構成で、各種のプリント板をテスト
する場合、まずプリント板の種類に応じ、プロー
バ制御部１４で自動プローバ１２1〜１２3の位置
設定を行なつた後、プリント板１にセツトして測
定に入る。スキヤナ４によりコネクタ１５の端子
を切換え、試験機５において切換えられたコネク
タのリード線と自動プローバのリード線１３1〜
１３3とをプログラムに従い組合せ、試験機５に
よりインピーダンステストが行なわれる。その結
果をCPU１０で判定することは第１図と同様で
ある。なお自動プローバの数は３個に限定されな
い。
する場合、まずプリント板の種類に応じ、プロー
バ制御部１４で自動プローバ１２1〜１２3の位置
設定を行なつた後、プリント板１にセツトして測
定に入る。スキヤナ４によりコネクタ１５の端子
を切換え、試験機５において切換えられたコネク
タのリード線と自動プローバのリード線１３1〜
１３3とをプログラムに従い組合せ、試験機５に
よりインピーダンステストが行なわれる。その結
果をCPU１０で判定することは第１図と同様で
ある。なお自動プローバの数は３個に限定されな
い。
この自動プローバの数を多くすれば、プリント
板試験単位における可変位置の設定回数を減少し
測定時間を短縮することができる。
板試験単位における可変位置の設定回数を減少し
測定時間を短縮することができる。
以上説明したように、本考案によれば、接触点
の１部をコネクタに分担させることにより、位置
可変の自動プローバ数個で第１図のフイクスチヤ
と等価の機能を十分もたせることができる。かつ
これらの自動プローバの位置を可変設定すること
により、各種のプリント板に適合させることがで
きる。測定時間はフイクスチヤ方式に比べ若干長
くなるがテストに要する費用は格段に少なくて済
むことが大きな利点である。
の１部をコネクタに分担させることにより、位置
可変の自動プローバ数個で第１図のフイクスチヤ
と等価の機能を十分もたせることができる。かつ
これらの自動プローバの位置を可変設定すること
により、各種のプリント板に適合させることがで
きる。測定時間はフイクスチヤ方式に比べ若干長
くなるがテストに要する費用は格段に少なくて済
むことが大きな利点である。
第１図は従来例の説明図、第２図は本考案の実
施例の構成を示す説明図であり、図中、１はプリ
ント板、４はスキヤナ、５は試験機、７は回路、
８は接触点、１０はCPU、１１はプローバ駆動
テーブル、１２1〜１２3は自動プローバ、１３1
〜１３3は同リード線、１４はプローバ制御部、
１５はコネクタを示す。
施例の構成を示す説明図であり、図中、１はプリ
ント板、４はスキヤナ、５は試験機、７は回路、
８は接触点、１０はCPU、１１はプローバ駆動
テーブル、１２1〜１２3は自動プローバ、１３1
〜１３3は同リード線、１４はプローバ制御部、
１５はコネクタを示す。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 被試験プリント板回路１の被測定点間を自動走
査してインピーダンスを測定するインサーキツト
テスト装置において、 該プリント板上方に配線上の接触点に対し選択
的に位置が設定できる複数の自動プローバ１２を
有するプローバ駆動テーブル１１と、 測定時プリント板のテストの必要な箇所全てに
プローバ駆動テーブルの自動プローバを予め移動
させて接触させるプローバ制御部１４と、 プリント板のコネクタ端子を自動走査するスキ
ヤナ４と、 該スキヤナによつて組合わされた自動プローバ
とコネクタを用いて測定を行なう試験機５を具備
することを特徴とするインサーキツトテスト装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13236087U JPS6329261Y2 (ja) | 1987-08-31 | 1987-08-31 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13236087U JPS6329261Y2 (ja) | 1987-08-31 | 1987-08-31 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6350077U JPS6350077U (ja) | 1988-04-05 |
| JPS6329261Y2 true JPS6329261Y2 (ja) | 1988-08-05 |
Family
ID=31031674
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13236087U Expired JPS6329261Y2 (ja) | 1987-08-31 | 1987-08-31 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6329261Y2 (ja) |
-
1987
- 1987-08-31 JP JP13236087U patent/JPS6329261Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6350077U (ja) | 1988-04-05 |
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