JP2601680Y2 - 接地基板つきオートハンドラ用コンタクトボード - Google Patents
接地基板つきオートハンドラ用コンタクトボードInfo
- Publication number
- JP2601680Y2 JP2601680Y2 JP1993039727U JP3972793U JP2601680Y2 JP 2601680 Y2 JP2601680 Y2 JP 2601680Y2 JP 1993039727 U JP1993039727 U JP 1993039727U JP 3972793 U JP3972793 U JP 3972793U JP 2601680 Y2 JP2601680 Y2 JP 2601680Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- board
- socket
- ground
- contact
- relay board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】オートハンドラの測子とＩＣテス
タのテストヘッド間を最小距離で電気的に接続するため
の中継器具としてコンタクトボードがある。この考案
は、このようなコンタクトボードにおいて、ＩＣの接地
用リードの接地効果を強化した接地基板つきコンタクト
ボードについてのものである。
タのテストヘッド間を最小距離で電気的に接続するため
の中継器具としてコンタクトボードがある。この考案
は、このようなコンタクトボードにおいて、ＩＣの接地
用リードの接地効果を強化した接地基板つきコンタクト
ボードについてのものである。
【０００２】
【従来の技術】次に、従来技術によるコンタクトボード
の構成を図４により説明する。図４の１はＩＣ、２はＩ
Ｃソケット、５はテストボード、７は中継ボードであ
る。図４では、ＩＣ１は図示されないオートハンドラの
搬送機構でＩＣソケット２上に移送され、接触機構によ
りＩＣ１は押下され、ＩＣ１のリードは接触子２Ａと接
触する。
の構成を図４により説明する。図４の１はＩＣ、２はＩ
Ｃソケット、５はテストボード、７は中継ボードであ
る。図４では、ＩＣ１は図示されないオートハンドラの
搬送機構でＩＣソケット２上に移送され、接触機構によ
りＩＣ１は押下され、ＩＣ１のリードは接触子２Ａと接
触する。
【０００３】中継ボード７にはピンソケット７Ａが配列
され、ＩＣソケット２の接触子２Ａがピンソケット７Ａ
に入ることにより、ＩＣソケット２と中継ボード７が連
結すると共に電気的に接続する。中継ボード７は同軸ケ
ーブル４でＩＣテスタのテストボード５と電気的に接続
する。
され、ＩＣソケット２の接触子２Ａがピンソケット７Ａ
に入ることにより、ＩＣソケット２と中継ボード７が連
結すると共に電気的に接続する。中継ボード７は同軸ケ
ーブル４でＩＣテスタのテストボード５と電気的に接続
する。
【０００４】ＩＣ１を電気試験する場合に、特に高速処
理用のＩＣ１を測定する場合には接地を確実にする必要
がある。図４では、ＩＣ１の接地用リードに対応するピ
ンソケット７Ａに導体の接地板７Ｂをはんだ付けするこ
とにより接地効果をもたせている。
理用のＩＣ１を測定する場合には接地を確実にする必要
がある。図４では、ＩＣ１の接地用リードに対応するピ
ンソケット７Ａに導体の接地板７Ｂをはんだ付けするこ
とにより接地効果をもたせている。
【０００５】
【考案が解決しようとする課題】図４のＩＣ１は例え
ば、ＱＦＰ型ＩＣであり、リードピッチが極めて狭いも
のがある。このような狭リードピッチのＩＣに対応する
中継ボード７に接地板７Ｂをはんだ付けする場合、接地
用リードに対応するピンソケット７Ａに隣接するピンソ
ケット７Ａに接地板７Ｂが接触し、信号用ピンソケット
と接地用ピンソケットが短絡するという問題がある。ま
た、こうした狭リードピッチのはんだ付けは作業性が良
くないという問題がある。
ば、ＱＦＰ型ＩＣであり、リードピッチが極めて狭いも
のがある。このような狭リードピッチのＩＣに対応する
中継ボード７に接地板７Ｂをはんだ付けする場合、接地
用リードに対応するピンソケット７Ａに隣接するピンソ
ケット７Ａに接地板７Ｂが接触し、信号用ピンソケット
と接地用ピンソケットが短絡するという問題がある。ま
た、こうした狭リードピッチのはんだ付けは作業性が良
くないという問題がある。
【０００６】この考案は、ＩＣソケットと中継ボードと
を接地基板で仲介して接続することにより、作業性の良
い接地基板つきオートハンドラ用コンタクトボードを提
供することを目的とする。
を接地基板で仲介して接続することにより、作業性の良
い接地基板つきオートハンドラ用コンタクトボードを提
供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この考案は、ＩＣ１はＩＣソケット２に接触し、Ｉ
Ｃソケット２は中継ボード３に接続し、中継ボード３は
同軸ケーブル４でＩＣテスタのテストボード５と接続す
るオートハンドラ用コンタクトボードにおいて、ＩＣソ
ケット２の接触子２Ａが入るピンソケット６Ａが配列さ
れ、ＩＣ１の接地用リードに対応するピンソケット６Ａ
は表裏ほぼ全面に形成された面パターン６Ｂと接続する
接地基板６を備え、ＩＣソケット２と中継ボード３とを
接地基板６を仲介して接続する。
め、この考案は、ＩＣ１はＩＣソケット２に接触し、Ｉ
Ｃソケット２は中継ボード３に接続し、中継ボード３は
同軸ケーブル４でＩＣテスタのテストボード５と接続す
るオートハンドラ用コンタクトボードにおいて、ＩＣソ
ケット２の接触子２Ａが入るピンソケット６Ａが配列さ
れ、ＩＣ１の接地用リードに対応するピンソケット６Ａ
は表裏ほぼ全面に形成された面パターン６Ｂと接続する
接地基板６を備え、ＩＣソケット２と中継ボード３とを
接地基板６を仲介して接続する。
【０００８】
【作用】接地基板６はプリント基板であり、表裏ほぼ全
面に面パターン６Ｂが形成され、パターン６ＢをＩＣ１
の接地用リードに対応するピンソケット６Ａに接続する
ことにより接地効果をもたせる。このような接地基板６
をＩＣ１の品種毎に用意すれば、従来のように中継ボー
ド７に接地板７Ｂをはんだ付けする作業は不要になり、
品質も安定する。
面に面パターン６Ｂが形成され、パターン６ＢをＩＣ１
の接地用リードに対応するピンソケット６Ａに接続する
ことにより接地効果をもたせる。このような接地基板６
をＩＣ１の品種毎に用意すれば、従来のように中継ボー
ド７に接地板７Ｂをはんだ付けする作業は不要になり、
品質も安定する。
【０００９】
【実施例】次に、この考案によるコンタクトボードの構
成を図１の実施例により説明する。図１の３は中継ボー
ド、６は接地基板であり、その他は図４と同じものであ
る。すなわち、図１は図４の中継ボード７に接地基板６
を追加したものである。
成を図１の実施例により説明する。図１の３は中継ボー
ド、６は接地基板であり、その他は図４と同じものであ
る。すなわち、図１は図４の中継ボード７に接地基板６
を追加したものである。
【００１０】図１の接地基板６には、ＩＣソケット２の
接触子２Ａと同じ配列でピンソケット６Ａが実装され、
ピンソケット６Ａの終端は中継ボード３にはんだ付けで
固定され、電気的に接続する。接触子２Ａはピンソケッ
ト６Ａに入ることにより、ＩＣソケット２と接地基板６
が連結すると共に電気的に接続する。
接触子２Ａと同じ配列でピンソケット６Ａが実装され、
ピンソケット６Ａの終端は中継ボード３にはんだ付けで
固定され、電気的に接続する。接触子２Ａはピンソケッ
ト６Ａに入ることにより、ＩＣソケット２と接地基板６
が連結すると共に電気的に接続する。
【００１１】図２は接地基板６の実施例による図であ
り、図２アは接地基板６の平面図、図２イは接地基板６
の側面図である。図２では接地基板６には、ピンソケッ
ト６Ａが挿入される穴があけられ、ＩＣ１の接地用リー
ドに対応する穴はスルーホールとなっている。図２アの
斜線は面パターン６Ｂであり、ＩＣ１の信号用リードに
対応する穴を逃げる形で、表裏面に面パターン６Ｂが形
成されるとともに、面パターン６Ｂはスルーホールに接
続し接地効果を強化している。
り、図２アは接地基板６の平面図、図２イは接地基板６
の側面図である。図２では接地基板６には、ピンソケッ
ト６Ａが挿入される穴があけられ、ＩＣ１の接地用リー
ドに対応する穴はスルーホールとなっている。図２アの
斜線は面パターン６Ｂであり、ＩＣ１の信号用リードに
対応する穴を逃げる形で、表裏面に面パターン６Ｂが形
成されるとともに、面パターン６Ｂはスルーホールに接
続し接地効果を強化している。
【００１２】接地基板６には、接地ピンはハンダ付けで
ピンソケット６Ａが取り付けられ、その他の信号ピンの
部分はピンソケット６Ａが圧入のみで取り付けられてお
り電気的には独立した状態で設置されている。
ピンソケット６Ａが取り付けられ、その他の信号ピンの
部分はピンソケット６Ａが圧入のみで取り付けられてお
り電気的には独立した状態で設置されている。
【００１３】
【実施例】次に、この考案の他の実施例を図３により説
明する。図３は特願平 5−124952号の明細書の図１に記
載のオートハンドラ用コンタクトユニットに、この考案
を適用したものである。
明する。図３は特願平 5−124952号の明細書の図１に記
載のオートハンドラ用コンタクトユニットに、この考案
を適用したものである。
【００１４】図３では１枚の中継ボード１３にＩＣソケ
ット２および接地基板６が配置されている。各接地基板
６は同軸ケーブル４でヘッダ８と電気的に接続し、ヘッ
ダ８は図示しないレセプタクルと接続しレセプタクルは
テストボードに接続する。
ット２および接地基板６が配置されている。各接地基板
６は同軸ケーブル４でヘッダ８と電気的に接続し、ヘッ
ダ８は図示しないレセプタクルと接続しレセプタクルは
テストボードに接続する。
【００１５】接地基板６を各ＩＣソケット２が取り付く
ように設け、ＩＣの接地を強化する中継ボード１３は４
ＤＵＴ一体構造になっている。接地基板６はピンソケッ
ト６Ａで接続され、さらに、ＩＣテスタからの電気的信
号を得るために同軸ケーブル４が配線されている。
ように設け、ＩＣの接地を強化する中継ボード１３は４
ＤＵＴ一体構造になっている。接地基板６はピンソケッ
ト６Ａで接続され、さらに、ＩＣテスタからの電気的信
号を得るために同軸ケーブル４が配線されている。
【００１６】図３は多数個並列測定可能なオートハンド
ラ用のコンタクトユニットの実施例れである。図３の構
造をとることにより、接地基板６はＩＣソケット２によ
り近い位置に設置でき、電気的測定に有利である。さら
に、中継ボード１３は、電気的信号をピンソケット６Ａ
の径の細い部分で受けることができるため、スルーホー
ルをより小さくでき、高密度のパターン設計が可能とな
り、狭ピッチ化に適した構造のコンタクトユニットを提
供している。
ラ用のコンタクトユニットの実施例れである。図３の構
造をとることにより、接地基板６はＩＣソケット２によ
り近い位置に設置でき、電気的測定に有利である。さら
に、中継ボード１３は、電気的信号をピンソケット６Ａ
の径の細い部分で受けることができるため、スルーホー
ルをより小さくでき、高密度のパターン設計が可能とな
り、狭ピッチ化に適した構造のコンタクトユニットを提
供している。
【００１７】
【考案の効果】この考案は、ＩＣソケットの接触子が入
るピンソケットが配列され、ＩＣの接地用リードに対応
するピンソケットは表裏ほぼ全面に形成された面パター
ンと接続する接地基板を備え、ＩＣソケットと中継ボー
ドとを接地基板を仲介して接続しているので、狭リード
ピッチのＩＣを電気試験する場合に、接地効果を維持
し、品質的にも、作業性にも良好な安定したコンタクト
ボードを提供できる。
るピンソケットが配列され、ＩＣの接地用リードに対応
するピンソケットは表裏ほぼ全面に形成された面パター
ンと接続する接地基板を備え、ＩＣソケットと中継ボー
ドとを接地基板を仲介して接続しているので、狭リード
ピッチのＩＣを電気試験する場合に、接地効果を維持
し、品質的にも、作業性にも良好な安定したコンタクト
ボードを提供できる。
【図１】この考案によるコンタクトボードの構成図であ
る。
る。
【図２】図１の接地基板６の実施例による図である。
【図３】この考案の他の実施例による図である。
【図４】従来技術によるコンタクトボードの構成図であ
る。
る。
【符号の説明】 １ ＩＣ ２ ＩＣソケット ２Ａ 接触子 ３ 中継ボード ４ 同軸ケーブル ５ テストボード ６ 接地基板 ６Ａ ピンソケット ６Ｂ 面パターン
Claims (1)
- 【請求項１】 ＩＣ(1) はＩＣソケット(2) に接触し、
ＩＣソケット(2) は中継ボード(3) に接続し、中継ボー
ド(3) は同軸ケーブル(4) でＩＣテスタのテストボード
(5) と接続するオートハンドラ用コンタクトボードにお
いて、 ＩＣソケット(2) の接触子(2A)が入るピンソケット(6A)
が配列され、ＩＣ(1)の接地用リードに対応するピンソ
ケット(6A)は表裏ほぼ全面に形成された面パターン(6B)
と接続する接地基板(6) を備え、 ＩＣソケット(2) と中継ボード(3) とを接地基板(6) を
仲介して接続することを特徴とする接地基板つきオート
ハンドラ用コンタクトボード。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993039727U JP2601680Y2 (ja) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | 接地基板つきオートハンドラ用コンタクトボード |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993039727U JP2601680Y2 (ja) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | 接地基板つきオートハンドラ用コンタクトボード |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH075068U JPH075068U (ja) | 1995-01-24 |
| JP2601680Y2 true JP2601680Y2 (ja) | 1999-11-29 |
Family
ID=12561017
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1993039727U Expired - Lifetime JP2601680Y2 (ja) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | 接地基板つきオートハンドラ用コンタクトボード |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2601680Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014199220A (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-23 | 富士通セミコンダクター株式会社 | テストボード及び試験装置 |
-
1993
- 1993-06-25 JP JP1993039727U patent/JP2601680Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH075068U (ja) | 1995-01-24 |
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