JPH088000A - コネクタ - Google Patents
コネクタInfo
- Publication number
- JPH088000A JPH088000A JP6140135A JP14013594A JPH088000A JP H088000 A JPH088000 A JP H088000A JP 6140135 A JP6140135 A JP 6140135A JP 14013594 A JP14013594 A JP 14013594A JP H088000 A JPH088000 A JP H088000A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- connector
- test
- mounting
- pin
- conductive pattern
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
- Multi-Conductor Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 コネクタの実装確認テストが容易にできるコ
ネクタを提供する。 【構成】 実装基板１４上の導電パターン１５に接続さ
れる足１１ａおよびこの足１１ａの反対側に設けられる
ソケット１１ｂとを備えたコネクタピン１１と、１つま
たは複数のコネクタピン１１を保持するコネクタ本体１
２とを有し、コネクタピン１１に達するテーパー形状の
導通検査用穴１３をコネクタ本体１２に設けた構成のコ
ネクタであり、導通検査用穴１３と導電パターン１５と
の間の導通検査を行うことで、コネクタの実装確認テス
トを行うことができ、しかも導通検査用穴１３をテーパ
ー形状としているので、高い位置決め精度を必要としな
い安価な検査用針１６で、コネクタ実装確認テストを行
うことができるものである。
ネクタを提供する。 【構成】 実装基板１４上の導電パターン１５に接続さ
れる足１１ａおよびこの足１１ａの反対側に設けられる
ソケット１１ｂとを備えたコネクタピン１１と、１つま
たは複数のコネクタピン１１を保持するコネクタ本体１
２とを有し、コネクタピン１１に達するテーパー形状の
導通検査用穴１３をコネクタ本体１２に設けた構成のコ
ネクタであり、導通検査用穴１３と導電パターン１５と
の間の導通検査を行うことで、コネクタの実装確認テス
トを行うことができ、しかも導通検査用穴１３をテーパ
ー形状としているので、高い位置決め精度を必要としな
い安価な検査用針１６で、コネクタ実装確認テストを行
うことができるものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はコネクタに関するもので
ある。
ある。
【０００２】
【従来の技術】近年、回路基板上の部品は実装装置の普
及に伴い、表面実装タイプのものが主流となってきてい
る。当然基板外の部品との電気的接続のためのコネクタ
も、表面実装タイプのものが用いられている。ここで従
来のコネクタについて、図４，図５，図６を用いて説明
する。
及に伴い、表面実装タイプのものが主流となってきてい
る。当然基板外の部品との電気的接続のためのコネクタ
も、表面実装タイプのものが用いられている。ここで従
来のコネクタについて、図４，図５，図６を用いて説明
する。
【０００３】図４は従来のコネクタの外観図であり、１
は実装基板上の導電パターンに接続するための足１ａお
よびこの足の反対側（図示されず）に設けられるソケッ
ト１ｂを備えたコネクタピン、２はコネクタピン１を保
持する樹脂性のコネクタ本体である。
は実装基板上の導電パターンに接続するための足１ａお
よびこの足の反対側（図示されず）に設けられるソケッ
ト１ｂを備えたコネクタピン、２はコネクタピン１を保
持する樹脂性のコネクタ本体である。
【０００４】通常コネクタ実装後には、コネクタが実装
基板と電気的に接続されているかを調べるために、導通
試験でもって実装確認テストを行っている。ここで従来
のコネクタの実装確認テストの方法を、図５，図６を参
照しながら説明する。
基板と電気的に接続されているかを調べるために、導通
試験でもって実装確認テストを行っている。ここで従来
のコネクタの実装確認テストの方法を、図５，図６を参
照しながら説明する。
【０００５】コネクタの実装確認テストの第１の方法
は、テスト基板を使ったものである。図５のように、コ
ネクタピン１と実装基板３との半田づけ確認のために、
コネクタピン１と実装基板３上の導電パターン４間でシ
ョートの確認をした後、人間が手作業でテスト基板５を
コネクタピン１のソケット１ｂに接続し、実装基板３上
の導電パターン４とテスト基板５上の接点６との間で、
検査用針７とファンクションテスター８を用いて導通の
有無を確認するという、２回の作業を行っていた。
は、テスト基板を使ったものである。図５のように、コ
ネクタピン１と実装基板３との半田づけ確認のために、
コネクタピン１と実装基板３上の導電パターン４間でシ
ョートの確認をした後、人間が手作業でテスト基板５を
コネクタピン１のソケット１ｂに接続し、実装基板３上
の導電パターン４とテスト基板５上の接点６との間で、
検査用針７とファンクションテスター８を用いて導通の
有無を確認するという、２回の作業を行っていた。
【０００６】コネクタの実装確認テストの第２の方法
は、図６のように、コネクタピン１の足と導電パターン
４との間に導通があるかどうかを検査用針７とファンク
ションテスター８を用いて調べるもので、第１の方法の
テスト基板５を接続する手間を省いたものである。
は、図６のように、コネクタピン１の足と導電パターン
４との間に導通があるかどうかを検査用針７とファンク
ションテスター８を用いて調べるもので、第１の方法の
テスト基板５を接続する手間を省いたものである。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら前記のよ
うな第１の方法では、テストする前に、人間が手作業で
テスト基板５をコネクタピン１のソケットに接続すると
いう作業工程が必要となる。
うな第１の方法では、テストする前に、人間が手作業で
テスト基板５をコネクタピン１のソケットに接続すると
いう作業工程が必要となる。
【０００８】また第２の方法では、コネクタ本体２から
外部に出たコネクタピン１の足１ａのピッチが非常に狭
いコネクタ、もしくは小型化のためにコネクタピン１の
足１ａがあまり外部に出ていないコネクタでは、検査用
針７に高い位置決め精度が要求されるため、高価な検査
用針７を使う必要があった。
外部に出たコネクタピン１の足１ａのピッチが非常に狭
いコネクタ、もしくは小型化のためにコネクタピン１の
足１ａがあまり外部に出ていないコネクタでは、検査用
針７に高い位置決め精度が要求されるため、高価な検査
用針７を使う必要があった。
【０００９】以上のように従来のコネクタでは、実装確
認テストを考慮して設計されていないため、実装確認テ
ストに余分な工程や費用がかかっていた。
認テストを考慮して設計されていないため、実装確認テ
ストに余分な工程や費用がかかっていた。
【００１０】本発明は上記課題を解決するもので、手作
業による工程を不要とし、他の電子部品の検査工程と同
時に実装状態を検査できるだけでなく、従来の安価な検
査用針を用いて容易にコネクタの実装確認テストができ
るコネクタを提供することを目的とする。
業による工程を不要とし、他の電子部品の検査工程と同
時に実装状態を検査できるだけでなく、従来の安価な検
査用針を用いて容易にコネクタの実装確認テストができ
るコネクタを提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、実装基板上の導電パターンに接続される足
およびこの足の反対側に設けられるソケットを備えたコ
ネクタピンと、１つまたは複数の前記コネクタピンを保
持するコネクタ本体とを有し、前記コネクタピンに達す
る導通検査用穴を前記コネクタ本体に設けた構成であ
る。
するために、実装基板上の導電パターンに接続される足
およびこの足の反対側に設けられるソケットを備えたコ
ネクタピンと、１つまたは複数の前記コネクタピンを保
持するコネクタ本体とを有し、前記コネクタピンに達す
る導通検査用穴を前記コネクタ本体に設けた構成であ
る。
【００１２】そして望ましくは、導通検査用穴は、テー
パー形状としたものである。
パー形状としたものである。
【００１３】
【作用】本発明は上記した構成により、導通検査用穴と
コネクタピンの足が接続された導電パターンとの間で導
通検査を行うことで、コネクタの実装確認テストを行う
ことができるものである。また、導通検査用針の先端が
テーパー形状の導通検査用穴により各コネクタピンに自
動的に誘導されるため、安価でかつ高い精度を必要とし
ない導通検査用針を使用することができる。
コネクタピンの足が接続された導電パターンとの間で導
通検査を行うことで、コネクタの実装確認テストを行う
ことができるものである。また、導通検査用針の先端が
テーパー形状の導通検査用穴により各コネクタピンに自
動的に誘導されるため、安価でかつ高い精度を必要とし
ない導通検査用針を使用することができる。
【００１４】
【実施例】以上本発明の実施例について、図１，図２を
参照しながら説明する。図１において、１１は実装基板
上の導電パターンに接続される足１１ａおよびこの足１
１ａの反対側（図示されず）に設けられるソケット１１
ｂを備えるコネクタピン、１２はコネクタピン１１を保
持する樹脂性のコネクタ本体であり、１３はコネクタ本
体１２に設けられたテーパー形状の導通検査用穴で、コ
ネクタピン１１に達するよう開口されている。
参照しながら説明する。図１において、１１は実装基板
上の導電パターンに接続される足１１ａおよびこの足１
１ａの反対側（図示されず）に設けられるソケット１１
ｂを備えるコネクタピン、１２はコネクタピン１１を保
持する樹脂性のコネクタ本体であり、１３はコネクタ本
体１２に設けられたテーパー形状の導通検査用穴で、コ
ネクタピン１１に達するよう開口されている。
【００１５】上記構成において、コネクタの実装確認テ
ストの方法を、図２を参照しながら説明する。
ストの方法を、図２を参照しながら説明する。
【００１６】コネクタピン１１の足１１ａを実装基板１
４上の導電パターン１５に半田付けにより接続後、コネ
クタ本体の導電検査用穴１３を通じて、検査用針１６の
一方をコネクタピン１１に、検査用針１６の他方を導電
パターン１５に接触させ、コネクタピン１１と導電パタ
ーン１５との間の抵抗値をファンクションテスター１７
で測定することにより、コネクタピン１１と導電パター
ン１５との間の接続が問題なく行われているかどうかを
確認する。
４上の導電パターン１５に半田付けにより接続後、コネ
クタ本体の導電検査用穴１３を通じて、検査用針１６の
一方をコネクタピン１１に、検査用針１６の他方を導電
パターン１５に接触させ、コネクタピン１１と導電パタ
ーン１５との間の抵抗値をファンクションテスター１７
で測定することにより、コネクタピン１１と導電パター
ン１５との間の接続が問題なく行われているかどうかを
確認する。
【００１７】以上のように本実施例によれば、コネクタ
本体１２に導通検査用穴１３を設けて検査用針１６とコ
ネクタピン１１を接触させるようにすることにより、従
来のように人間がコネクタの実装確認のために、コネク
タにテスト基板を挿入するという作業を削減でき、その
結果実装基板１４上の他の電子部品のファンクションチ
ェックと同時に実装確認ができるとともに、コネクタ本
体１２の導通検査用穴１３をテーパー形状とすることに
よって検査用針１６の位置決めの役割を持たせ、検査用
針１６の先端が各コネクタピンに自動的に誘導されるよ
うにする事により、高い位置決め精度を必要としない安
価な検査用針を使用することができる。
本体１２に導通検査用穴１３を設けて検査用針１６とコ
ネクタピン１１を接触させるようにすることにより、従
来のように人間がコネクタの実装確認のために、コネク
タにテスト基板を挿入するという作業を削減でき、その
結果実装基板１４上の他の電子部品のファンクションチ
ェックと同時に実装確認ができるとともに、コネクタ本
体１２の導通検査用穴１３をテーパー形状とすることに
よって検査用針１６の位置決めの役割を持たせ、検査用
針１６の先端が各コネクタピンに自動的に誘導されるよ
うにする事により、高い位置決め精度を必要としない安
価な検査用針を使用することができる。
【００１８】また図３に示すような他の実施例として、
導通検査用穴１３を千鳥状に設けた構成でも良い。この
場合、コネクタ本体１２から出ているコネクタピン１１
の足１１ａのピッチが狭いコネクタに対して有効であ
る。
導通検査用穴１３を千鳥状に設けた構成でも良い。この
場合、コネクタ本体１２から出ているコネクタピン１１
の足１１ａのピッチが狭いコネクタに対して有効であ
る。
【００１９】なおこれらの実施例では、導通検査用穴の
平面形状を円形として説明したが、他の形状でもかまわ
ない。
平面形状を円形として説明したが、他の形状でもかまわ
ない。
【００２０】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、コネクタピンのソケットにテスト基板を挿入
することなくコネクタの実装確認テストができるので、
人間がテスト基板を挿入する工程を省略する事ができる
だけでなく、コネクタピンのソケットをテスト基板の抜
き差しで傷めることもない。そして一般的に行なわれて
いる他の電子部品のファンクションテスターによる検査
工程と同時に、コネクタ実装状態をテストできるもので
ある。
によれば、コネクタピンのソケットにテスト基板を挿入
することなくコネクタの実装確認テストができるので、
人間がテスト基板を挿入する工程を省略する事ができる
だけでなく、コネクタピンのソケットをテスト基板の抜
き差しで傷めることもない。そして一般的に行なわれて
いる他の電子部品のファンクションテスターによる検査
工程と同時に、コネクタ実装状態をテストできるもので
ある。
【００２１】また、導通検査用穴を千鳥状に配置した
り、テーパー形状とすることにより、高い位置決め精度
を必要としない安価な検査用針で、コネクタ実装確認テ
ストを行うことができるものである。
り、テーパー形状とすることにより、高い位置決め精度
を必要としない安価な検査用針で、コネクタ実装確認テ
ストを行うことができるものである。
【図１】本発明の一実施例におけるコネクタの外観斜視
図
図
【図２】同コネクタの実装確認テストの方法を示す説明
図
図
【図３】本発明の他の実施例におけるコネクタの外観斜
視図
視図
【図４】従来のコネクタの外観斜視図
【図５】同コネクタの第１の実施確認テストの方法を示
す説明図
す説明図
【図６】同コネクタの第２の実施確認テストの方法を示
す説明図
す説明図
１１ コネクタピン １１ａ 足 １１ｂ ソケット １２ コネクタ本体 １３ 導通検査用穴 １４ 実装基板 １５ 導電パターン
Claims (2)
- 【請求項１】 実装基板上の導電パターンに接続される
足およびこの足の反対側に設けられるソケットを備えた
コネクタピンと、１つまたは複数の前記コネクタピンを
保持するコネクタ本体とを有し、前記コネクタピンに達
する導通検査用穴を前記コネクタ本体に設けたコネク
タ。 - 【請求項２】 導通検査用穴は、テーパー形状とした請
求項第１項記載のコネクタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6140135A JPH088000A (ja) | 1994-06-22 | 1994-06-22 | コネクタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6140135A JPH088000A (ja) | 1994-06-22 | 1994-06-22 | コネクタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH088000A true JPH088000A (ja) | 1996-01-12 |
Family
ID=15261703
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6140135A Pending JPH088000A (ja) | 1994-06-22 | 1994-06-22 | コネクタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH088000A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008047339A (ja) * | 2006-08-11 | 2008-02-28 | Toyota Motor Corp | 表面実装コネクタ |
| JP2012221884A (ja) * | 2011-04-13 | 2012-11-12 | Omron Corp | コネクタ用接続端子およびそれを用いたコネクタ |
| WO2014069285A1 (ja) * | 2012-10-30 | 2014-05-08 | 矢崎総業株式会社 | コネクタ |
-
1994
- 1994-06-22 JP JP6140135A patent/JPH088000A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008047339A (ja) * | 2006-08-11 | 2008-02-28 | Toyota Motor Corp | 表面実装コネクタ |
| JP2012221884A (ja) * | 2011-04-13 | 2012-11-12 | Omron Corp | コネクタ用接続端子およびそれを用いたコネクタ |
| WO2014069285A1 (ja) * | 2012-10-30 | 2014-05-08 | 矢崎総業株式会社 | コネクタ |
| US9368902B2 (en) | 2012-10-30 | 2016-06-14 | Yazaki Corporation | Connector |
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