JPH05130173A - 検査信号監視処理方式 - Google Patents

検査信号監視処理方式

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Publication number
JPH05130173A
JPH05130173A JP3291811A JP29181191A JPH05130173A JP H05130173 A JPH05130173 A JP H05130173A JP 3291811 A JP3291811 A JP 3291811A JP 29181191 A JP29181191 A JP 29181191A JP H05130173 A JPH05130173 A JP H05130173A
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JP
Japan
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signal
inspection
pattern signal
circuit
inspection pattern
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Withdrawn
Application number
JP3291811A
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English (en)
Inventor
Masahiro Shirai
正博 白井
Noriyuki Suzuki
紀之 鈴木
Hirotomo Miyawaki
浩智 宮脇
Noriyuki Yogoshi
紀之 余越
Shigeatsu Sagawa
重厚 寒川
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、他の処理装置から転送されてくる検
査信号を監視するための検査信号監視処理方式に関し、
検査信号を少ないハードウェア量でもって監視できるよ
うにすることを目的とする。 【構成】検査信号として、同一信号長を持つ第1のパタ
ーン信号と第2のパターン信号との組み合わせ、あるい
はこの繰り返しからなる検査パターン信号を用いるとと
もに、送信側装置が、検査パターン信号送信期間を示す
期間信号を送出する構成を採り、かつ、受信側装置が、
転送されてくる検査パターン信号を信号長分遅延させる
遅延手段20と、遅延手段20により遅延される検査パ
ターン信号と遅延されない検査パターン信号とを入力と
して、期間信号の転送中これらの入力値が規定の関係に
あるか否かを検出する検出手段21とを備えて、検出手
段21の検出結果に従って検査信号の転送状態を判断し
ていくように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、他の処理装置から転送
されてくる検査信号を監視するための検査信号監視処理
方式に関し、特に、転送されてくる検査信号を少ないハ
ードウェア量でもって監視できるようにする検査信号監
視処理方式に関するものである。
【0002】データ処理装置内に備えられる2つの処理
回路や、データ伝送を実行する2つの伝送装置等のよう
な2つの処理装置の間では、一方の処理装置が通信路を
介して検査信号を送出し、他方の処理装置がこの転送さ
れてくる検査信号を監視していく構成を採ることで、処
理装置や通信路の障害発生を監視していく構成を採って
いる。このような構成を採る場合、装置の小型化を実現
するためにも、少ないハードウェア量でもって検査信号
を監視できるようにしていく必要がある。
【0003】
【従来の技術】図7に、送信側の処理装置から転送され
てくる検査信号を監視するための回路構成の従来技術を
図示する。図中、31は受信すべき検査信号情報を格納
するROM、32は検査信号の挿入タイミングを表示す
るタイミングパルスに応答してROM31から受信すべ
き検査信号情報を読み出す同期回路、33は送信側の処
理装置から転送されてくる転送信号とROM31から読
み出される検査信号情報との排他的論理和値を算出出力
するEOR回路、34はタイミングパルスとEOR回路
33の出力値との論理積値を算出出力するAND回路、
35はAND回路34の出力値をラッチするフリップフ
ロップ回路である。
【0004】このように構成される従来の回路では、送
信側の処理装置からタイミングパルスが転送されてくる
と、同期回路32が、このタイミングパルスに応答して
ROM31から受信すべき検査信号情報を順次読み出
し、EOR回路33が、送信側の処理装置から転送され
てくる転送信号に含まれる検査信号と、ROM31から
読み出される検査信号情報とのビット対応の排他的論理
和値を算出して、双方のビットが一致するときにはロー
レベル値、一致しないときにはハイレベル値を出力して
いく。そして、このEOR回路33の出力を受けて、A
ND回路34は、タイミングパルスの転送中に、EOR
回路33がハイレベル値を出力するときにはハイレベル
値を出力し、このハイレベル値出力を受けて、フリップ
フロップ回路35は、タイミングパルスの転送中に、E
OR回路33がハイレベル値を出力することがあるとき
にはそのハイレベル値をラッチしていくことで、送信側
の処理装置から検査信号が正常に転送されてこないこと
を表示するよう処理していくことになる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このような従来技術で
は、確かに、検査信号が正常に転送されてきたか否かを
正確に監視できるものの、ハードウェア量の大きなRO
M31と同期回路32とを要求されることになることか
ら、回路全体のハードウェア量が大きくなるという問題
点があった。そして、ROM31を要求されることにな
ることから、回路の消費電力が大きくなるという問題点
もあったのである。
【0006】本発明はかかる事情に鑑みてなされたもの
であって、他の処理装置から転送されてくる検査信号を
少ないハードウェア量でもって監視できるようにする新
たな検査信号監視処理方式の提供を目的とするものであ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】図1に本発明の原理構成
を図示する。図中、1は転送データを送信する送信側処
理装置、2は送信側処理装置1から転送されてくる転送
データを受信する受信側処理装置である。
【0008】送信側処理装置1は、転送データを送信す
る転送データ送信手段10と、転送データ送信手段10
に展開されて、転送データに検査信号を挿入する検査信
号送信手段11と、転送データ送信手段10に展開され
て、検査信号送信手段11の送信する検査信号の送信期
間を示す期間信号を送信する期間信号送信手段12とを
備える。この検査信号送信手段11は、同一信号長を持
つ第1のパターン信号と第2のパターン信号との組み合
わせからなる検査パターン信号、あるいはこの検査パタ
ーン信号の繰り返しからなる検査パターン信号を送信す
るもので、この検査パターン信号は、シリアルデータ形
式の場合もあり、パラレルデータ形式(転送データその
ものがパラレル形式をとる場合と、シリアル転送されて
くる検査パターン信号をパラレル形式に変換していく場
合とがある)の場合もある。
【0009】受信側処理装置2は、転送されてくる検査
パターン信号を第1及び第2のパターン信号の信号長分
遅延させる1つ又は複数の遅延手段20と、遅延手段2
0により遅延される検査パターン信号と、遅延手段20
により遅延されない検査パターン信号とを入力として、
期間信号送信手段12の送信する期間信号が転送されて
いる間これらの入力値が規定の関係にあるか否かを検出
する検出手段21と、検出手段21の検出結果を表示す
ることで検査パターン信号の転送の正常/異常を表示す
る表示手段22とを備える。
【0010】受信側処理装置2は、更に、検出手段21
の検出対象となる検査パターン信号の信号レベル値を変
更する1つ又は複数の変更手段23を備えることがあ
る。この変更手段23の配設位置は特に規定されるもの
ではない。また、パラレルデータ形式の検査パターン信
号を対応の信号レベル値に変換することで検出手段21
の検出対象となる検査パターン信号を生成する1つ又は
複数の変換手段24を備えることがある。この変換手段
24の配設位置もまた特に規定されるものではない。
【0011】
【作用】本発明では、検査信号送信手段11は、同一信
号長を持つ第1のパターン信号と第2のパターン信号と
の組み合わせからなる検査パターン信号、あるいはこの
検査パターン信号の繰り返しからなる検査パターン信号
という一定の規則性を持つ検査パターン信号を生成して
転送していく。例えば、シリアルデータ形式の検査パタ
ーン信号で説明するならば、第1のパターン信号が信号
長“3”の“111”、第2のパターン信号が信号長
“3”の“000”で、繰り返し回数が1回である“1
11000”という検査パターン信号とか、第1のパタ
ーン信号が信号長“1”の“1”、第2のパターン信号
が信号長“1”の“0”で、繰り返し回数が3回である
“101010”という検査パターン信号を生成し、ま
た、パラレルデータ形式の検査パターン信号で説明する
ならば、図2(a)に示すような信号長が“3”で繰り
返し回数が1回の検査パターン信号とか、図2(b)に
示すような信号長が“1”で繰り返し回数が3回の検査
パターン信号を生成して転送していくのである。
【0012】この検査パターン信号の転送を受けて、受
信側処理装置2の遅延手段20は、転送されてくる検査
パターン信号を第1及び第2のパターン信号の信号長分
遅延させ、検出手段21は、遅延手段20により遅延さ
れる検査パターン信号と、遅延手段20により遅延され
ない検査パターン信号とを入力として、期間信号送信手
段12の送信する期間信号が転送されている間これらの
入力値の対応関係をチェックしていくことで、転送され
てくる検査パターン信号の第1のパターン信号と第2の
パターン信号との信号レベル値の対応関係が、規定され
たものとなっているか否かをチェックしていく。例え
ば、上述の検査パターン信号の例で説明するならば、
“111000”という検査パターン信号である場合に
は、転送されてくる検査パターン信号の第1のパターン
信号と第2のパターン信号との信号レベル値の対応関係
が“111”と“000”となっているか否かをチェッ
クし、“101010”という検査パターン信号である
場合には、転送されてくる検査パターン信号の第1のパ
ターン信号と第2のパターン信号との信号レベル値の対
応関係が“1”と“0”となっているか否かをチェック
していくのである。
【0013】そして、表示手段22は、この検出手段2
1のチェック処理に従って、転送されてくる検査パター
ン信号の第1のパターン信号と第2のパターン信号との
信号レベル値の対応関係が規定のものとなっている場合
には、検査パターン信号の正常転送を表示し、規定のも
のとなっていない場合には、検査パターン信号の異常転
送を表示する。
【0014】この検査パターン信号の監視処理にあっ
て、変更手段23を備える構成を採ると、第1のパター
ン信号と第2のパターン信号との信号レベル値の対応関
係が簡略なものに変更されるので、検出手段21の回路
構成を簡単なもので実現できるようになる。また、変換
手段24を備える構成を採ると、パラレルデータ形式の
検査パターン信号をシリアルデータ形式のものに変換で
きるので、遅延手段20、検出手段21及び変更手段2
3の回路構成を簡単なもので実現できるようになる。
【0015】このように、本発明によれば、従来技術の
必要とした図7のROM31や同期回路32を用いず
に、送信側処理装置1の転送してくる検査信号を監視で
きるようになることから、少ないハードウェア量でもっ
てこの検査信号を監視できるようになるのである。
【0016】
【実施例】以下、実施例に従って本発明を詳細に説明す
る。図3に、受信側処理装置2の備える検査パターン信
号監視のための回路構成の一実施例を図示する。この実
施例では、検査パターン信号としてシリアルデータ形式
の“101010…10”を用いることを想定してい
る。
【0017】図中、20aは図1で説明した遅延手段2
0に相当する第1のフリップフロップ回路であって、送
信側処理装置1から転送されてくる転送信号を1クロッ
ク信号分遅延するもの、23aは図1で説明した変更手
段23に相当するインバータ回路であって、送信側処理
装置1から転送されてくる転送信号のビット値を反転す
るもの、21aは図1で説明した検出手段21に相当す
る比較回路であって、第1のフリップフロップ20aの
出力値と、インバータ回路23aの出力値とを入力とし
て、その2つの入力値の排他的論理和値を算出して出力
するEOR回路211と、EOR回路211の出力値
と、送信側処理装置1から転送されてくる検査パターン
信号の挿入タイミングを表示するタイミングパルスとを
入力として、その2つの入力値の論理積値を算出して出
力するAND回路212とから構成されるもの、22a
は図1で説明した表示手段22に相当する第2のフリッ
プフロップ回路であって、クロック信号に同期してAN
D回路212の出力値をラッチするものである。
【0018】次に、図4に示すタイムチャートを参照し
つつ、このように構成される図2の実施例の動作処理に
ついて説明する。ここで、図中の「s」は、転送信号の
信号ラインを表し、「j1 」は、インバータ回路23a
の出力ラインを表し、「j2 」は、第1のフリップフロ
ップ回路20aの出力ラインを表し、「j3 」は、EO
R回路211の出力ラインを表し、「j4 」は、タイミ
ングパルスの信号ラインを表し、「j5 」は、AND回
路212の出力ラインを表し、「j6 」は、第2のフリ
ップフロップ回路22aの出力ラインを表しており、ま
た、この「j4 」に示すように、送信側処理装置1から
転送されてくるタイミングパルスは、検査パターン信号
が転送されてくる間“1”を表示することになる。
【0019】送信側処理装置1から転送信号が転送され
てくると、第1のフリップフロップ回路20aは、この
転送されてくる転送信号を1クロック信号分遅延させつ
つEOR回路211に入力し、インバータ回路23a
は、この転送されてくる転送信号をそのビット値を反転
させつつEOR回路211に入力していく。このように
して、送信側処理装置1から“101010…10”の
検査パターン信号が正常に転送されてくるときには、図
4のj1 とj2 に示すように、EOR回路211には共
に“0”か共に“1”の入力値が入力されていくことに
なるので、EOR回路211は、図4のj3 に示すよう
に“0”を出力し、この出力を受けて、AND回路21
2は、図4のj5に示すように“0”を出力し続けてい
くので、第2のフリップフロップ回路22aは、図4の
6 に示すように“0”を出力し続けることで検査パタ
ーン信号の正常転送を表示していく。
【0020】一方、図4中の「*」に示すように、何ら
かの障害発生により、送信側処理装置1から転送されて
くる検査パターン信号が“10”の繰り返しでなくなる
と、図4のj1 とj2 に示すように、EOR回路211
に入力される入力値の組み合わせが“1”と“0”とに
なるので、EOR回路211は、図4のj3 に示すよう
に“1”を出力し、この出力を受けて、AND回路21
2は、図4のj5 に示すように“1”を出力し、この出
力を受けて、第2のフリップフロップ回路22aは、図
4のj6 に示すように“1”を出力することで検査パタ
ーン信号の異常転送を表示していく。
【0021】このようにして、受信側処理装置2の側で
ROMにより検査パターン信号を記録する構成を採らな
くても、検査パターン信号を検出していくことを実現で
きるのである。
【0022】図5に、受信側処理装置2の備える検査パ
ターン信号監視のための回路構成の他の実施例を図示す
る。この実施例では、検査パターン信号としてパラレル
データ形式の“1010”と“0101”との対の繰り
返しからなるものを用いることを想定している。
【0023】図中、23bは図1で説明した変更手段2
3に相当する第1の変更回路であって、送信側処理装置
1から転送されてくる転送信号を入力として、第1及び
第3ビットのビット値をそのまま出力し、第2及び第4
ビットのビット値を反転出力するもの、23cは図1で
説明した変更手段23に相当する第2の変更回路であっ
て、送信側処理装置1から転送されてくる転送信号を入
力として、第1及び第3ビットのビット値を反転出力
し、第2及び第4ビットのビット値をそのまま出力する
もの、24bは図1で説明した変換手段24に相当する
第1のNAND回路であって、第1の変更回路23bの
4つの出力値の否定論理積値を算出して出力するもの、
24cは図1で説明した変換手段24に相当する第2の
NAND回路であって、第2の変更回路23cの4つの
出力値の否定論理積値を算出して出力するもの、20b
は図1で説明した遅延手段20に相当する第1のフリッ
プフロップ回路であって、第1のNAND回路24bの
出力値を1クロック信号分遅延するもの、20cは図1
で説明した遅延手段20に相当する第2のフリップフロ
ップ回路であって、第2のNAND回路24cの出力値
を1クロック信号分遅延するものである。
【0024】21bは図1で説明した検出手段21に相
当する比較回路であって、第1のフリップフロップ回路
20bの出力値と、第2のNAND回路24cの出力値
とを入力として、その2つの入力値の論理和値を算出し
て出力する第1のOR回路213と、第2のフリップフ
ロップ回路20cの出力値と、第1のNAND回路24
bの出力値とを入力として、その2つの入力値の論理和
値を算出して出力する第2のOR回路214と、第1の
OR回路213の出力値と、第2のOR回路214の出
力値と、送信側処理装置1から転送されてくる検査パタ
ーン信号の挿入タイミングを表示するタイミングパルス
とを入力として、その3つの入力値の論理積値を算出し
て出力するAND回路215とから構成されるもの、2
2bは図1で説明した表示手段22に相当する第3のフ
リップフロップ回路であって、クロック信号に同期して
AND回路215の出力値をラッチするものである。
【0025】次に、図6に示すタイムチャートを参照し
つつ、このように構成される図5の実施例の動作処理に
ついて説明する。ここで、図中の「s1 」は、転送信号
の第1ビットの信号ラインを表し、「s2 」は、転送信
号の第2ビットの信号ラインを表し、「s3 」は、転送
信号の第3ビットの信号ラインを表し、「s4 」は、転
送信号の第4ビットの信号ラインを表し、「k1 」は、
第1のNAND回路24bの出力ラインを表し、
「k2 」は、第1のフリップフロップ回路20bの出力
ラインを表し、「k3 」は、第2のNAND回路24c
の出力ラインを表し、「k4 」は、第2のフリップフロ
ップ回路20cの出力ラインを表し、「k5 」は、第1
のOR回路213の出力ラインを表し、「k6 」は、第
2のOR回路214の出力ラインを表し、「k7」は、
タイミングパルスの信号ラインを表し、「k8 」は、A
ND回路215の出力を表し、「k9 」は第3のフリッ
プフロップ回路22bの出力ラインを表しており、ま
た、この「k7 」に示すように、送信側処理装置1から
転送されてくるタイミングパルスは、検査パターン信号
が転送されてくる間“1”を表示することになる。
【0026】第1の変更回路23bは、送信側処理装置
1から検査パターン信号の“1010”というパラレル
データ(以下、パラレルデータAと称する)が転送され
てくると“1111”を出力し、検査パターン信号の
“0101”というパラレルデータ(以下、パラレルデ
ータBと称する)が転送されてくると“0000”を出
力し、この第1の変更回路23bの変更処理を受けて、
第1のNAND回路24bは、図6のk1 に示すよう
に、パラレルデータAが転送されてくるときに“0”を
出力し、パラレルデータBが転送されてくるときに
“1”を出力していく。一方、第2の変更回路23c
は、送信側処理装置1から検査パターン信号のパラレル
データAが転送されてくると“0000”を出力し、検
査パターン信号のパラレルデータBが転送されてくると
“1111”を出力し、この第2の変更回路23cの変
更処理を受けて、第2のNAND回路24cは、図6の
3 に示すように、パラレルデータAが転送されてくる
ときに“1”を出力し、パラレルデータBが転送されて
くるときに“0”を出力していく。
【0027】このようにして、送信側処理装置1からパ
ラレルデータAとパラレルデータBとの繰り返しからな
る検査パターン信号が転送されてくると、第1のNAN
D回路24bは、「0→1→0→1…」という出力モー
ドで出力値を出力し、第2のNAND回路24cは、こ
の反転値となる「1→0→1→0…」という出力モード
で出力値を出力していく。そして、この第1のNAND
回路24bの出力処理を受けて、第1のフリップフロッ
プ回路20bは、図6のk2 に示すように、1クロック
信号分の遅延処理を実行していくことで、第2のNAN
D回路24cの出力モードと同一の「1→0→1→0
…」という出力モードで出力値を出力し、一方、この第
2のNAND回路24cの出力処理を受けて、第2のフ
リップフロップ回路20cは、図6のk4 に示すよう
に、1クロック信号分の遅延処理を実行していくこと
で、第1のNAND回路24bの出力モードと同一の
「0→1→0→1…」という出力モードで出力値を出力
していく。
【0028】第1のOR回路213は、この第2のNA
ND回路24cと第1のフリップフロップ回路20bの
出力処理を受けて、図6のk5 に示すように、「1→0
→1→0…」という出力モードで出力値を出力し、一
方、第2のOR回路214は、この第1のNAND回路
24bと第2のフリップフロップ回路20cの出力処理
を受けて、図6k6 に示すように、この反転値となる
「0→1→0→1…」という出力モードで出力値を出力
していく。このようにして、送信側処理装置1からパラ
レルデータAとパラレルデータBとの繰り返しからなる
検査パターン信号が正常に転送されてくるときには、A
ND回路215には“0”の入力値が入力されていくこ
とになるので、AND回路215は、図6のk8 に示す
ように“0”を出力し続け、この出力を受けて、第3の
フリップフロップ回路22bは、図6のk9 に示すよう
に“0”を出力し続けることで検査パターン信号の正常
転送を表示していく。
【0029】一方、図6中の「*」に示すように、何ら
かの障害発生により、送信側処理装置1から転送されて
くる検査パターン信号がパラレルデータAとパラレルデ
ータBとの繰り返しでなくなると、図6に示すように、
AND回路215に入力される入力値がすべて“1”と
なるので、AND回路215は、図6のk8 に示すよう
に“1”を出力し、この出力を受けて、第3のフリップ
フロップ回路22bは、図6のk9 に示すように“1”
を出力することで検査パターン信号の異常転送を表示し
ていく。
【0030】このようにして、受信側処理装置2の側で
ROMにより検査パターン信号を記録する構成を採らな
くても、検査パターン信号を検出していくことを実現で
きるのである。そして、この図5の実施例では、パラレ
ルデータBの方が先となるパラレルデータBとパラレル
データAとの繰り返しからなる検査パターン信号につい
てもそのまま検査パターン信号の転送の正常/異常を検
出できるのである。
【0031】図示実施例について説明したが、本発明は
これに限定されるものではない。例えば、実施例では、
図1で説明した第1及び第2のパターン信号の信号長が
いずれも“1”である検査パターン信号で説明したが、
これに限られるものではないのである。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
従来技術の必要としたROMや同期回路を用いずに、送
信側処理装置の転送してくる障害監視用の検査信号を監
視できるようになることから、少ないハードウェア量で
もってこの検査信号を監視できるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理構成図である。
【図2】検査パターン信号の説明図である。
【図3】本発明の一実施例である。
【図4】図3の実施例のタイムチャートである。
【図5】本発明の他の実施例である。
【図6】図5の実施例のタイムチャートである。
【図7】従来技術の説明図である。
【符号の説明】
1 送信側処理装置 2 受信側処理装置 10 転送データ送信手段 11 検査信号送信手段 12 期間信号送信手段 20 遅延手段 21 検出手段 22 表示手段 23 変更手段 24 変換手段
フロントページの続き (72)発明者 余越 紀之 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 寒川 重厚 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 2つの処理装置と、これらの処理装置の
    間を接続する通信路とからなり、一方の処理装置が規定
    の検査信号を通信路に送出し、他方の処理装置が通信路
    を介してこの検査信号が転送されてくるか否かをチェッ
    クしていくことで障害検出を実行する構成を採るシステ
    ムにおいて、 上記検査信号として、同一信号長を持つ第1のパターン
    信号と第2のパターン信号との組み合わせからなる検査
    パターン信号、あるいは該検査パターン信号の繰り返し
    からなる検査パターン信号を用いるとともに、 送信側となる処理装置が、上記検査パターン信号の送信
    期間を示す期間信号を送出する構成を採り、 かつ、受信側となる処理装置が、転送されてくる上記検
    査パターン信号を上記信号長分遅延させる1つ又は複数
    の遅延手段(20)と、該遅延手段(20)により遅延される上
    記検査パターン信号と、該遅延手段(20)により遅延され
    ない上記検査パターン信号とを入力として、上記期間信
    号が転送されている間これらの入力値が規定の関係にあ
    るか否かを検出する検出手段(21)とを備えて、該検出手
    段(21)の検出結果に従って検査パターン信号の転送の正
    常/異常を判断していくよう処理することを、 特徴とする検査信号監視処理方式。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の検査信号監視処理方式に
    おいて、 受信側となる処理装置が、検出手段(21)の検出対象とな
    る検査パターン信号の信号レベル値を変更する1つ又は
    複数の変更手段(23)を備えることを、 特徴とする検査信号監視処理方式。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2記載の検査信号監視処理
    方式において、 受信側となる処理装置が、パラレルデータ形式の検査パ
    ターン信号を対応の信号レベル値に変換することで検出
    手段(21)の検出対象となる検査パターン信号を生成する
    1つ又は複数の変換手段(24)を備えることを、 特徴とする検査信号監視処理方式。
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