JPH08105940A - 診断装置及び被診断装置並びにこれらを含む電子装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 診断に必要な信号線数を少なくする。 【構成】 被診断装置２００及び３００は、診断装置１
００から送出されたシリアルパケット形式のデータを受
信し、この受信したデータを自装置内に設けられたスキ
ャンパスを構成する各ＦＦに対して書込む。診断装置１
００は、シリアルパケット形式のデータを送出する他、
被診断装置２００及び３００から送出されたスキャンパ
スを構成する各ＦＦの保持データについてのシリアルパ
ケット形式のデータを受信する。この受信データを基に
各被診断装置の診断を行う。 【効果】 シリアルパケット形式でデータを送受信し、
スキャンクロックを用いないので、診断に必要な信号線
数が少ない。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は電子装置に関し、特に診
断装置及び被診断装置を含む電子装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】ディジタル電子装置で構成されるシステ
ムについての診断方法の１つとしてスキャンパスを用い
る方法がある。例えば、特開昭６２―１８２９３８号公
報に開示されているように、ディジタル電子装置の故障
時等の診断や障害時等の障害の詳細情報の採取のために
スキャンパスが用いられる。

【０００３】また、集積回路の内部にスキャンパスを予
め設けておく技術が、特開平３―２４９５７４号公報、
特開平４―５０７８３号公報、特開平４―１８１１８５
公報等に開示されている。

【０００４】図９は従来の電子装置の一構成例を示すブ
ロック図である。本電子装置は、被診断装置８００及び
９００の診断処理や障害発生時に障害情報の詳細データ
を採取する診断装置７００と、複数のＬＳＩから構成さ
れ通常動作時はシステム内の機能回路として動作する被
診断装置８００及び９００とから構成されている。

【０００５】診断装置７００は、デコーダ７２０及びセ
レクタ７３０を制御して被診断装置８００又は９００の
診断を行うプロセッサ７１０と、プロセッサ７１０に指
定された被診断装置８００又は９００をシフトモードに
セットするためのデコーダ７２０と、被診断装置８００
又は９００からのスキャンアウトデータを選択するため
のセレクタ７３０と、各診断パスのフリップフロップ数
を記憶しておくメモリからなるＦＦ数テーブル７４０と
を含んで構成されている。

【０００６】被診断装置８００と９００とは内部構成が
同一である。以下の説明では被診断装置８００を中心に
説明する。

【０００７】被診断装置８００は、ＬＳＩ８１０及び８
２０を含んで構成されている。これらＬＳＩ８１０及び
８２０は、スキャンモード端子ＳＭに送られるスキャン
モード信号１０が“１”の状態で、スキャンクロック端
子ＳＣＬＯＣＫに送られるスキャンクロック１２を１つ
（１パルス）受信すると、スキャンイン端子ＳＩに送ら
れるスキャンインデータ１１を取込む。それと同時に両
ＬＳＩは、スキャンアウトデータ端子ＳＯからスキャン
アウトデータ１３を送出する。この状態をスキャンモー
ドと呼ぶ。なお、以上の構成は、被診断装置９００につ
いても同様である。

【０００８】かかる構成において、診断装置７００が被
診断装置８００のスキャンデータを採取する場合につい
て説明する。

【０００９】まず、プロセッサ７１０は被診断装置８０
０のスキャンビット数をＦＦ数テーブル７４０から読出
し、スキャン動作の準備を行う。次に、スキャンモード
信号１０を“１”にし、スキャンパスに接続されている
ＬＳＩ８１０、８２０をスキャンモードに設定する。

【００１０】そして、スキャンインデータ１１をセット
してスキャンクロック１２をＦＦ数分入力する。スキャ
ンパスに接続されているＬＳＩ８１０、８２０は、スキ
ャンクロック１２を１つ受信する毎に自ＬＳＩの内部の
フリップフロップ（図示せず）の保持情報をスキャンア
ウトデータ１３として送出する。プロセッサ７１０はセ
レクタ７３０を介してスキャンアウトデータ１３を受信
する。

【００１１】次に、図１０のタイムチャートを参照して
各制御信号線について説明する。

【００１２】まず、スキャンモード信号１０が立上がる
と、ＬＳＩ８１０、８２０では、スキャンモードに設定
されスキャンアウトデータ１３の内容が、ＯＵＴＤＴ
（００）〜ＯＵＴＤＴ（ｎ）のように確定する。それと
同時に、プロセッサ７１０ではスキャンインデータ１１
の内容がＩＮＤＴ（００）〜ＩＮＤＴ（ｎ）のように確
定する。この状態でスキャンクロック１２を出してデー
タを１ビットずつシフトさせるのである。

【００１３】ここで、スキャンクロック１２の各クロッ
ク幅Ｗは、スキャンパスに接続されているフリップフロ
ップ（以下、ＦＦと略す）の配線遅延を全て満足した値
に設定する必要がある。すなわち、クロック幅Ｗが短す
ぎると、装置間の距離が大きい場合にはクロックスキュ
ーが大きくなって誤動作する可能性があり、クロック幅
Ｗを十分に大きくしておく必要がある。

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の診断装
置等においては、スキャンパスを構成するＦＦ全てを１
つのスキャンクロックでシフト動作させるため、クロッ
ク幅Ｗを、スキャンパスに接続されるＦＦ間の配線遅延
時間を全て満足した値に設定する必要があるという欠点
がある。

【００１５】また、スキャンパスを構成する全ＦＦによ
る全ビット数分のスキャンクロックを診断装置から送る
必要があるので、１回のスキャン動作に時間がかかると
いう欠点がある。特に、診断装置と被診断装置との間の
離れた電子装置においては、配線が長くなるため、隣接
する装置間の遅延量に比べて数倍の遅延量があり、１回
のスキャン動作に非常に大きな時間がかかるという欠点
がある。

【００１６】さらにまた、スキャンパスを構成する全Ｆ
Ｆをスキャンモードに設定する必要があり、多くの信号
線を必要とするという欠点がある。

【００１７】これらの各欠点は、上述した各公報に開示
されているスキャンパスについても生じるものであり、
これら公報に開示の技術では解決することができない。

【００１８】本発明は上述した従来技術の欠点を解決す
るためになされたものであり、その目的はスキャン動作
に大きな時間がかからず、また信号線数も少ない診断装
置及び被診断装置並びにこれらを含む電子装置を提供す
ることである。

【００１９】

【課題を解決するための手段】本発明による診断装置
は、被診断装置内に設けられたスキャンパスを構成する
各フリップフロップに対してデータを書込む診断装置で
あって、前記データをシリアルパケット形式で送出する
データ送出手段と、被診断装置から送出された前記スキ
ャンパスを構成する各フリップフロップの保持データに
ついてのシリアルパケット形式のデータを受信する受信
手段とを含み、この受信データを基に前記被診断装置の
診断を行うことを特徴とする。

【００２０】本発明による被診断装置は、診断装置から
送出されたシリアルパケット形式のデータを受信する受
信手段と、この受信データを自装置内に設けられたスキ
ャンパスを構成する各フリップフロップに対して書込む
手段とを含むことを特徴とする。

【００２１】本発明による電子装置は、被診断装置と、
この被診断装置内に設けられたスキャンパスを構成する
各フリップフロップに対してデータを書込む診断装置と
を含む電子装置であって、前記被診断装置は、前記診断
装置から送出されたシリアルパケット形式のデータを受
信する第１の受信手段と、この受信した受信データを自
装置内に設けられたスキャンパスを構成する各フリップ
フロップに対して書込む書込手段とを含み、前記診断装
置は、前記シリアルパケット形式のデータを送出するデ
ータ送出手段と、前記被診断装置から送出された前記ス
キャンパスを構成する各フリップフロップの保持データ
についてのシリアルパケット形式のデータを受信する第
２の受信手段とを含み、前記第２の受信手段の受信デー
タを基に前記被診断装置の診断を行うことを特徴とす
る。

【００２２】

【作用】被診断装置は、診断装置から送出されたシリア
ルパケット形式のデータを受信し、この受信したデータ
を自装置内に設けられたスキャンパスを構成する各フリ
ップフロップに対して書込む。診断装置は、シリアルパ
ケット形式のデータを送出する他、被診断装置から送出
されたスキャンパスを構成する各フリップフロップの保
持データについてのシリアルパケット形式のデータを受
信する。この受信データを基に被診断装置の診断を行
う。

【００２３】

【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。

【００２４】図１は本発明による診断装置及び被診断装
置並びにこれらを含む電子装置の第１の実施例の構成を
示すブロック図である。

【００２５】図において、本実施例の電子装置は、被診
断装置２００及び３００と、これらの診断を行う診断装
置１００とを含んで構成されている。

【００２６】診断装置１００は被診断装置２００及び３
００の診断処理や障害発生時における障害情報の詳細デ
ータを採取する装置である。

【００２７】この診断装置１００は、診断制御プロセッ
サ１２０の指示に応答してスキャンデータを後述する図
２に示されているシリアルパケット形式で被診断装置２
００、３００に対して送信するシリアル通信送信部１１
０と、被診断装置固有のスキャンデータ数を記憶し、シ
ステムの初期設定時に各診断パス毎のＦＦ数を与えるＦ
Ｆ数テーブル１３０と、被診断装置２００からのシリア
ルパケット形式による通信を受信するシリアル通信受信
部１４０とを含んで構成されている。なお、シリアル通
信受信部１４０は、正常に通信が送られてきたかどうか
のチェックを行うエラー検出回路１４１と、エラーを検
出した時にセットされるエラー検出フラグ１４２とを含
んで構成されている。

【００２８】また、診断装置１００は、被診断装置から
返信されたシリアル通信パケットをプロセッサに取込む
パスを選択するためセレクタ１５０と、診断制御プロセ
ッサ１２０に指定された被診断装置にシリアル通信送信
部１１０からのシリアル通信を送出するためのデコーダ
１６０と、シリアル通信送信部１１０、デコーダ１６
０、セレクタ１５０、シリアル通信受信部１４０、ＦＦ
数テーブル１３０を制御して被診断装置２００、３００
の診断を制御する診断制御プロセッサ１２０とを含んで
構成されている。

【００２９】被診断装置２００及び３００は、ディジタ
ル電子装置であり、夫々複数のＬＳＩを含んで構成され
ている。そして、これら被診断装置は通常動作中はシス
テム内の機能回路として動作する。

【００３０】ＬＳＩ２１０及び２２０は、共に診断対象
のＬＳＩであり、スキャンイン端子ＳＩに診断装置１０
０からのシリアル通信パケットを受信すると受信したシ
リアル通信パケットを取込み、同時に自ＬＳＩ内部のス
キャンデータを図２に示されているシリアル通信パケッ
トのフォーマットで診断装置１００へ返信する機能を有
する。

【００３１】ここで、ＬＳＩ２１０に着目すると、ＬＳ
Ｉ２１０はシリアル通信受信部２１１と、シリアル通信
送信部２１２と、ＬＳＩ内部情報ＦＦ２１３とを含んで
構成されている。

【００３２】シリアル通信受信部２１１は、診断装置１
００からのシリアル通信パケットを受信して受信データ
をＬＳＩ内部情報ＦＦ２１３に書込む回路であり、シリ
アル通信パケットを正常に受信できたかどうかを検出す
るエラー検出回路２１４と、、正常に受信できなかった
場合にセットされるエラー検出フラグ２１５とを含んで
構成されている。

【００３３】シリアル通信送信部２１２は、ＬＳＩ内部
情報ＦＦ２１３内のデータをシリアル通信パケットの形
式で診断装置１００に返信する回路であり、診断装置１
００からのシリアル通信パケットを正常に受信できない
場合、すなわちエラー検出フラグ２１５が“１”のとき
に返信のシリアル通信パケットのエンドビットを“０”
として正常に受信できなかったことを通知する機能を有
する。

【００３４】ＬＳＩ内部情報ＦＦ２１３は、ＬＳＩ内部
のＦＦ群であり、夫々スキャンパスで接続されているも
のとする。

【００３５】次に、各部の動作について説明する。本例
では、診断装置１００が被診断装置２００のＬＳＩ２１
０のスキャンデータ６４ビットを採取する場合について
説明する。

【００３６】まず、診断プロセッサ１２０はＬＳＩ２１
０のスキャンデータ数をＦＦ数テーブル１３０から読出
し、６４ビットであることを認識する。すると、診断プ
ロセッサ１２０はスキャンインするデータとスキャンビ
ット数６４をシリアル通信送信部１１０に与え、動作開
始を指示する。シリアル通信送信部１１０は診断制御プ
ロセッサ１２０から与えられたスキャンインデータとス
キャンビット数からシリアル通信パケットを生成してデ
コーダ１６０に送る。デコーダ１６０は、シリアル通信
送信部１１０から送られたシリアル通信パケットを診断
制御プロセッサ１２０に指示されたＬＳＩ２１０へのパ
ス１にのせて送信する。

【００３７】ＬＳＩ２１０のシリアル通信受信部２１１
は、スキャンイン端子ＳＩにシリアル通信パケット１の
スタートビットを受信すると、スタートビットの後に続
くスキャンデータ６４ビットを抽出し、ＬＳＩ内部情報
ＦＦ２１３に書込む。それと同時に、シリアル通信受信
部２１１は、シリアル通信送信部２１２にシリアル通信
パケットの返信を指示する。また、シリアル通信受信部
２１１は診断装置１００からのシリアル通信パケットを
エラー検出回路２１４でチェックし、正常受信できなか
った場合にはエラー検出フラグ２１５をセットする。

【００３８】シリアル通信送信部２１２は、シリアル通
信パケットの返信の指示を受けると、ＬＳＩ内部情報Ｆ
Ｆ２１３から自ＬＳＩのスキャンアウトデータ６４ビッ
トを読出し、パス２によりシリアル通信パケットの形式
で診断装置１００に返信する。このとき、診断装置から
のシリアル通信パケットを正常に受信できたときエンド
ビットを“１”にセットして返信する。ただし、正常に
受信できなかったとき、すなわちエラー検出フラグ２１
５がセットされているときはエンドビットを“０”にセ
ットして返信する。

【００３９】診断装置１００はセレクタ１５０を介して
ＬＳＩ２１０からの返信シリアル通信パケット２をシリ
アル通信受信部１４０で受信するとスキャンデータ６４
ビットを抽出する。そして、エンドビットが“１”であ
ることを確認したときはエラー検出フラグ１４２を
“０”として診断制御プロセッサ１１０に受信データを
引渡す。ただし、エンドビットが“０”であることを確
認したときはエラー検出フラグ１４２を“１”として、
診断制御プロセッサ１１０に受信データを引渡す。ま
た、ＬＳＩ２１０から返信されたシリアル通信パケット
２を正常に受信できなかった場合もエラー検出フラグ１
４２を“１”とする。

【００４０】受信データを受取った診断制御プロセッサ
１２０は、シリアル通信受信部１４０から引渡されたエ
ラー検出フラグ１４２を判断し、受信失敗の場合、再実
行あるいは失敗処理を行う。

【００４１】以上説明した動作により、ＬＳＩ２１０の
６４ビットのスキャンデータを採取することができる。
他のパスに関しても同様であり、スキャンビット数は予
めＦＦ数テーブル１４０に記憶させておくことで任意の
ビット数を設定することができる。

【００４２】次に、図２を参照してシリアル通信パケッ
トのフォーマットについて説明する。本例におけるシリ
アル通信パケットは、スタートビット、スキャンデー
タ、エンドビットで構成されている。

【００４３】スタートビットは１Ｔ（周期）間“０”を
送出してデータのスタートを知らせるためのビットであ
る。

【００４４】スキャンデータは、１Ｔ毎に１ビットずつ
内容が切替えられたデータである。そのデータの長さは
変化自在であるが、予め診断装置１００と被診断装置と
の間での取決めが必要で、ＦＦ数テーブル１３０に記録
しておくことができる。本例ではビット０〜６３の６４
Ｔの長さであるものとする。なお、全ての診断パスを同
じビット数にして固定長とする場合には、図１のＦＦ数
テーブル１４０は必要なくなる。

【００４５】エンドビットは受信したスキャンデータを
正常に受信できた場合は、“１”、エラーがあった場合
は“０”に設定することでシリアル通信パケットを正常
に受信できたか否かを知らせるためのビットである。

【００４６】なお、シリアル通信を行わない期間、すな
わちノーオペレーション（ＮＯＰ）の期間は、全て
“１”レベルの信号とする。

【００４７】次に、シリアル通信送信部１１０及び２１
２のハードウェア構成例について説明する。

【００４８】シリアル通信送信部１１０及び２１２は、
ほとんど同じ回路構成で実現できるため、ここでは診断
装置１００側のシリアル通信送信部１１０の構成を主体
に説明する。

【００４９】図３はシリアル通信送信部１１０の構成例
を示すブロック図である。この図３の構成は、図２で説
明したシリアル通信パケットの１Ｔ間を３２０［ｎｓ］
とし、診断装置１００のシステムクロックを４０［ｎ
ｓ］として設計したものである。 図において、送信デ
ータ格納バッファ４０１は多段シフト接続されたＦＦ群
で構成され、シフトアドバンス（Ｓｈｉｆｔ Ａｄｖａ
ｎｃｅ）信号ＳＦＴＡＤＶの入力に応答して１ビットず
つ入力した送信データ４０１０を出力するバッファであ
る。

【００５０】動作中フラグ４０２は動作開始信号４０２
０によりセットされるフラグであり、このフラグがセッ
トされることにより送信動作が開始になる。

【００５１】時間カウンタ４０３は、１ビット３２０
［ｎｓ］を保障するための３ビットカウンタであり、動
作中フラグ４０２の“１”がストローブ端子ＳＴＢに入
力されると順次＋１され、“７”までカウントすると
“０”に戻ってカウントアップを続けるものである。

【００５２】データ数カウンタ４０４は、時間カウンタ
値“７”と動作中フラグ４０２との論理積による信号が
ストローブ端子ＳＴＢに入力されると順次＋１されるｎ
ビットカウンタであり、シリアル通信パケットのデータ
ビット数をカウントするためのものである。

【００５３】動作中フラグ４０２、時間カウンタ４０３
及びデータ数カウンタ４０４は、アンドゲート４２３の
出力信号によりリセットされる。

【００５４】データ数格納レジスタ４０５は、診断制御
プロセッサ１２０より与えられたスキャンビット数４０
５０を記憶するためのレジスタである。

【００５５】セレクタ４０７は、シリアル通信パケット
のスタートビット、データビット、エンドビットを選択
するためのセレクタである。

【００５６】シリアル通信送出ＦＦ４０６は、セレクタ
４０７で選択された信号をシリアル通信パスに送出する
ためのＦＦである。

【００５７】セレクタ４０８は、エンドビットを選択す
るためのセレクタであり、シリアル通信送信部１１０の
場合固定値“１”を選択し、シリアル通信送信部２１２
の場合、シリアル通信送信部２１１のエラー検出フラグ
からの出力４０８０を選択する。つまり、通信送信部１
１０かシリアル通信送信部２１２かに応じて制御信号４
０８１のレベルを決定し、決定したら固定することにな
る。

【００５８】プラス１回路４０９〜４１１は、入力デー
タに１を加算した値を出力する回路である。

【００５９】プラス２回路４１２は、入力データに２を
加算した値を出力する回路である。

【００６０】比較器４１３〜４１７は、２つの入力が一
致すると“１”を出力する回路である。比較器４１３の
入力の一方には常に“０００”が与えられ、比較器４１
４の入力の一方には常に“１１１”が与えられている。
比較器４１５の入力の一方は“０”に固定されている。

【００６１】アンドゲート４１８〜４２３は、各入力の
論理積を出力する回路である。

【００６２】インバータ４２４〜４２７は、各入力の反
転信号を出力する回路である。

【００６３】以上の構成からなるシリアル通信送信部１
１０の動作について図面を参照して説明する。図４は図
３の各部の動作を示すタイムチャートであり、動作中フ
ラグ４０２、時間カウンタ４０３、データ数カウンタ４
０４、シフトアドバンス信号ＳＦＴＡＤＶ、シリアル通
信送出ＦＦの出力信号が示されている。

【００６４】まず、診断制御プロセッサ１２０よりスキ
ャンインデータが送信データ格納バッファ４０１に与え
られ、更にスキャンビット数がデータ数格納レジスタ４
０５に与えられ、スタート指示として動作中フラグ４０
２がセットされる。すると、時間カウンタ４０３がカウ
ントアップを開始する。それと同時に、データ数カウン
タ４０４の値が“０”であるので、セレクタ４０７はス
タートビットの“０”を選択してシリアル通信送出ＦＦ
４０６にセットする。

【００６５】時間カウンタ４０３がカウントアップを続
けてその値が“７”になると、データ数カウンタ４０４
の値が＋１される。時間カウンタ４０３の値が“０”に
なると、セレクタ４０７は送信データ格納バッファ４０
１のスキャンインデータを選択して出力し、シリアル通
信送出ＦＦ４０６をセットする。

【００６６】スキャンインデータの出力はデータ数カウ
ンタ４０４の値がデータ数格納レジスタ４０５の値にな
るまで、すなわちスキャンデータの送出が完了するまで
行われる。そして、データ数カウンタ４０４の値がデー
タ数格納レジスタ４０５の＋１の値になると、セレクタ
４０７はエンドビットを選択してシリアル通信送出ＦＦ
４０６にセットする。さらに、データ数カウンタ４０４
の値がデータ数格納レジスタ４０５の＋２の値になる
と、動作中フラグ４０２及びデータ数カウンタ４０４が
リセットされて動作が終了となる。

【００６７】次に、シリアル通信受信部１４０及び２１
１のハードウェア構成例について説明する。

【００６８】シリアル通信受信部１４０及び２１１は、
ほとんど同じ回路構成で実現できるため、ここでは診断
装置１００側のシリアル通信受信部１４０の動作を主体
に説明する。

【００６９】図５はシリアル通信受信部１４０の構成例
を示すブロック図である。この図５の構成は、図２で説
明したシリアル通信の１Ｔ間を３２０［ｎｓ］とし、装
置のシステムクロックを４０［ｎｓ］として設計したも
のである。つまり、シリアル通信パケットのデータクロ
ックの周期よりも装置のシステムクロックのの周期の方
が短いのである。この点は被診断装置内のシリアル通信
受信部シリアル通信送信部２１１においても同様であ
る。

【００７０】図５において、スキャンインレジスタ（Ｓ
ＩＲ）５０１は、シリアル通信パケットの信号５０１０
を受信する部分であり、システムクロックの４０［ｎ
ｓ］の周期でシフト動作する８段のＦＦにより構成さ
れ、１ビットが３２０［ｎｓ］のデータを８Ｔで受信す
るものである。

【００７１】時間カウンタ５０２は、受信したシリアル
通信パケットからデータを抽出するタイミングをはかる
ための３ビットカウンタであり、動作中フラグ５０６が
“１”のとき＋１され、“７”までカウントすると
“０”に戻ってカウントアップを続けるものである。

【００７２】データ数カウンタ５０３は、ｎビットで構
成され、時間カウンタ値“７”と動作中フラグ５０６と
の論理積で＋１されるカウンタであり、シリアル通信パ
ケットのデータビット数をカウントするためのものであ
る。

【００７３】時間カウンタ５０２及びデータ数カウンタ
５０３は、アンドゲート５３６の出力信号によりリセッ
トされる。

【００７４】データ数格納レジスタ５０４は、診断制御
プロセッサ１２０より与えられたスキャンビット数５０
４０を記憶するためのレジスタである。

【００７５】スタート検出フラグ５０５はシリアル通信
パケットのスタートビットを受信した時点でセットさ
れ、データ抽出のサンプリングタイミングを検出するた
めのフラグである。

【００７６】動作中フラグ５０６は、スタート検出フラ
グ５０５で検出したサンプリングタイミングでセットさ
れるフラグである。

【００７７】エラー検出フラグ１４２は、１ビットのデ
ータ受信中にサンプリングタイミングの前後８０［ｎ
ｓ］以内にデータが変化しないことをチェックして、変
化があった場合にセットされるフラグである。また、こ
のエラー検出フラグ１４２は、エンドビットが“１”で
ない場合、すなわち送信側よりエラーの通知があった場
合にもセットされる。なお、エラー検出フラグ１４２の
値はエラー検出信号１４２０として送出される。

【００７８】受信データ格納バッファ５０８は、ＦＦ群
で構成され、シフトアドバンス信号ＳＦＴＡＤＶで受信
データを１ビットずつ格納するバッファである。この受
信データ格納バッファ５０８からは受信データ５０８０
が送出される。

【００７９】プラス１回路５０９、５１０、５１２は、
入力データに１を加算した値を出力する回路である。

【００８０】プラス２回路５５１は、入力データに２を
加算した値を出力する回路である。

【００８１】比較器５１３〜５１７は、２つの入力が一
致すると“１”を出力する回路である。比較器５１３の
入力の一方には常に“０００”が与えられ、比較器５１
４の入力の一方には常に“１１１”が与えられている。
比較器５１５の入力の一方は“０”に固定されている。

【００８２】アンドゲート５１８〜５２４、５２６、５
２８〜５３０、５３４〜５３６は、各入力の論理積を出
力する回路である。

【００８３】ナンドゲート５１９は、各入力の論理積の
反転信号を出力する回路である。

【００８４】反転入力ナンドゲート５２０は、各入力を
反転して論理積をとり、更にその反転信号を出力する回
路である。

【００８５】インバータ５２７、５３１〜５３３は、各
入力の反転信号を出力する回路である。

【００８６】オアゲート５２５は、入力の論理和を出力
する回路である。

【００８７】以上の構成からなるシリアル通信受信部１
４０の動作について図面を参照して説明する。図６及び
図７は図５の各部の動作を示すタイムチャートである。

【００８８】まず、図６を参照すると、シリアル通信受
信部１４０がシリアル通信パケットを受信するとスキャ
ンインレジスタ５０１に“１”→“０”のパターンが発
生し、スタートビットが検出される。スタートビットが
検出されるとスタート検出フラグ５０５がセットされる
（）。スタート検出フラグ５０５とスキャンインレジ
スタ５０１の第６及び第７ビットとでサンプリングタイ
ミング、すなわち通信パケットデータの中央が検出さ
れ、動作中フラグ５０６がセットされる（）。

【００８９】動作中フラグ５０６がセットされると、時
間カウンタ５０２がカウントアップを開始する（）。
時間カウンタ５０２の値が“７”になるとデータ数カウ
ンタ５０３が＋１されて“１”になる（）。

【００９０】データ数カウンタ５０３の値が“１”にな
ると時間カウンタの値“０”でシフトアドバンス信号Ｓ
ＦＴＡＤＶが“１”となり、受信データ格納バッファ５
０８にスキャンインレジスタ５０１の第３ビット、すな
わちシリアル通信パケットの受信データから抽出した１
ビットを格納する（）。

【００９１】以後、データ数カウンタ５０３とデータ数
格納レジスタ５０４の値が一致するまでスキャンインデ
ータビットの抽出を繰返す。

【００９２】そして、図７に移り、スキャンデータビッ
トの受信が終了するまで繰返し（）、データ数カウン
タ５０３の値がデータ数格納レジスタ５０２の値に
“１”を加えた値になったときに、エンドビットを受信
する（）。

【００９３】受信したエンドビットが“１”の場合は正
常終了とし、“０”の場合はエラー検出フラグ１４２を
セットする（）。そして、データ数カウンタ５０２の
値がデータ数格納レジスタ５０３の値に“２”を加えた
値になったときに、動作中フラグ５０６、時間カウンタ
５０２、データ数カウンタ５０３をリセットして動作を
終了する（）。

【００９４】診断制御プロセッサ１２０は動作中フラグ
５０６を監視し、その値が“０”になったら受信データ
格納バッファ５０８とエラー検出フラグ１４２とを参照
する。エラー検出フラグ１４２が“１”の場合、診断制
御プロセッサ１２０は再実行あるいは失敗処理を行う。

【００９５】図８は本発明による診断装置及び被診断装
置並びにこれらを含む電子装置の第２の実施例の構成を
示すブロック図であり、図１と同等部分は同一符号によ
り示されている。図において本実施例の電子装置は、被
診断装置６００及び６０１と、これらの診断を行う診断
装置１００とを含んで構成されている。

【００９６】本実施例では、被診断装置６００内のＬＳ
Ｉのスキャンビット数を統一し、同一装置内のＬＳＩ同
士を接続した構成になっている。かかる構成により、診
断装置１００と被診断装置６００及び６０１との間のパ
スの数を少なくすることができる。

【００９７】かかる構成において、診断装置１００から
１回目のシリアル通信でＬＳＩ２１０のスキャンデータ
が返信のシリアルデータとしてＬＳＩ２２０に移動す
る。それと同時に、ＬＳＩ２２０のスキャンデータが返
信のシリアルデータとして診断装置１００に読込まれ
る。さらに、２回のシリアル通信では、１回目のシリア
ル通信でＬＳＩ２２０に移動したＬＳＩ２１０のスキャ
ンデータが返信のシリアルデータとして診断装置１００
に読込まれる。

【００９８】この２回のシリアル通信の間にエラーが発
生すると、シリアル通信パケットのエンドビットに表示
しているエラー表示の伝搬で、診断装置１００はエラー
の有無を判定することができる。

【００９９】以上、第１及び第２の実施例において説明
したように、本発明の電子装置ではシリアルパケット形
式の通信によりスキャン動作を行うので、診断装置と被
診断装置とが離れて設置されていても、装置間の配線遅
延を無視してスキャン動作を行うことができる。このた
め、迅速に被診断装置の診断を行うことができる。ま
た、被診断装置内のＬＳＩのＩ／Ｏ（Ｉｎｐｕｔ／Ｏｕ
ｔｐｕｔ）ピンも従来のスキャンパス方式に比べて削減
することができる。さらに、スキャンクロックを持たず
に各装置内のクロックを用いて診断するので、システム
を停止させずに装置動作中にＬＳＩの内部情報を読出す
ことができるのである。

【０１００】ここで、本発明の電子装置による診断時間
を、従来装置との比較において検証する。装置間の配線
遅延時間Ｘ［ｎｓ］と転送ビット長Ｌ［ｂｉｔ］とをパ
ラメータとすると、従来技術による１回の転送時間ＴP
は、 ＴP ＝２ＸＬ［ｎｓ］ である。一方、本実施例による１回の転送時間ＴN は、
１ビット当たりの転送サイクルをＣ［ｎｓ］とすると、 ＴN ＝２Ｘ＋ＣＬ［ｎｓ］ となる。さらに、転送ビット長Ｌが大きい場合には、 ＴN ≒ＣＬ［ｎｓ］ となる。転送時間ＴP と転送時間ＴN とを比較すると次
のことがいえる。まず、従来技術では最大の装置間遅延
時間により転送時間が決定されてしまうため、物理的に
広がりを持った装置の診断には不利である。また、一般
的にＸ＞Ｃであり、ＴP ＞ＴN であることが明らかであ
る。

【０１０１】以上のことから、Ｌが極端に小さくなる場
合やＸとＣとが同程度である場合（これは余りありえな
い）でなければ、本例の装置は従来装置よりも高速に診
断を行うことができることがわかる。

【０１０２】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、シリアル
パケット形式でデータを送受信することにより、スキャ
ンクロックを用いず、診断に必要な信号線数が少ないと
いう効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例による診断装置及び被診
断装置並びにこれらを含む電子装置の構成を示すブロッ
ク図である。

【図２】図１中のシリアル通信パケットのフォーマット
を示す図である。

【図３】図１中のシリアル通信送信部の内部構成例を示
すブロック図である。

【図４】図３の各部の動作を示すタイムチャートであ
る。

【図５】図１中のシリアル通信受信部の内部構成例を示
すブロック図である。

【図６】図５の各部の動作を示すタイムチャートであ
る。

【図７】図５の各部の動作を示すタイムチャートであ
る。

【図８】本発明の第２の実施例による診断装置及び被診
断装置並びにこれらを含む電子装置の構成を示すブロッ
ク図である。

【図９】従来の診断装置及び被診断装置並びにこれらを
含む電子装置の構成を示すブロック図である。

【図１０】図９の各部の動作を示すタイムチャートであ
る。

【符号の説明】

１００ 診断装置 １１０、２１２ シリアル通信送信部 １３０ ＦＦ数テーブル １４０、２１１ シリアル通信受信部 １５０ セレクタ １６０ デコーダ ２００、３００、６００、６０１ 被診断装置 ２１０、２２０ ＬＳＩ ２１３ ＬＳＩ内部情報ＦＦ

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被診断装置内に設けられたスキャンパス
   を構成する各フリップフロップに対してデータを書込む
   診断装置であって、前記データをシリアルパケット形式
   で送出するデータ送出手段と、被診断装置から送出され
   た前記スキャンパスを構成する各フリップフロップの保
   持データについてのシリアルパケット形式のデータを受
   信する受信手段とを含み、この受信データを基に前記被
   診断装置の診断を行うことを特徴とする診断装置。
2. 【請求項２】 前記受信手段は、前記データのデータク
   ロックの周期より短い周期のクロックにより前記データ
   をサンプリングするサンプリング手段を有し、このサン
   プリング結果を前記受信データとすることを特徴とする
   請求項１記載の診断装置。
3. 【請求項３】 診断装置から送出されたシリアルパケッ
   ト形式のデータを受信する受信手段と、この受信データ
   を自装置内に設けられたスキャンパスを構成する各フリ
   ップフロップに対して書込む手段とを含むことを特徴と
   する被診断装置。
4. 【請求項４】 前記受信手段は、前記データのデータク
   ロックの周期より短い周期のクロックにより前記データ
   をサンプリングするサンプリング手段を有し、このサン
   プリング結果を前記受信データとすることを特徴とする
   請求項３記載の診断装置。
5. 【請求項５】 被診断装置と、この被診断装置内に設け
   られたスキャンパスを構成する各フリップフロップに対
   してデータを書込む診断装置とを含む電子装置であっ
   て、 前記被診断装置は、前記診断装置から送出されたシリア
   ルパケット形式のデータを受信する第１の受信手段と、
   この受信した受信データを自装置内に設けられたスキャ
   ンパスを構成する各フリップフロップに対して書込む書
   込手段とを含み、 前記診断装置は、前記シリアルパケット形式のデータを
   送出するデータ送出手段と、前記被診断装置から送出さ
   れた前記スキャンパスを構成する各フリップフロップの
   保持データについてのシリアルパケット形式のデータを
   受信する第２の受信手段とを含み、前記第２の受信手段
   の受信データを基に前記被診断装置の診断を行うことを
   特徴とする電子装置。
6. 【請求項６】 前記第１及び第２の受信手段は、前記デ
   ータのデータクロックの周期より短い周期のクロックに
   より前記データをサンプリングするサンプリング手段
   と、このサンプリング結果を前記受信データとすること
   を特徴とする請求項５記載の電子装置。