JPS63310246A - エラ−挿入回路 - Google Patents

エラ−挿入回路

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JPS63310246A
JPS63310246A JP62147286A JP14728687A JPS63310246A JP S63310246 A JPS63310246 A JP S63310246A JP 62147286 A JP62147286 A JP 62147286A JP 14728687 A JP14728687 A JP 14728687A JP S63310246 A JPS63310246 A JP S63310246A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
error
data
pulse
circuit
check
Prior art date
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Pending
Application number
JP62147286A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Kumasaka
熊坂 武志
Kazuo Yano
一雄 矢野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP62147286A priority Critical patent/JPS63310246A/ja
Publication of JPS63310246A publication Critical patent/JPS63310246A/ja
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  • Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
  • Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要] 任意のエラーレートのエラーデータを伝送データ中に挿
入するエラー挿入回路であって、エラーレートを任意に
設定し、しかも伝送されるデータと同一速度でエラーデ
ータを挿入するエラーデータ挿入回路を、伝送データの
送信部及び受信部間を接続している伝送回線上の所定位
置に挿入し、受信部に対して任意のエラーレートのエラ
ーデータを挿入し、フィールド等においても簡易にエラ
ー検出機能のチェックが行えるように構成することによ
り、容易にしかも短時間にエラー検出機能のチェックを
行うことが可能となる。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ディジタルデータ回線を介して伝送されるデ
ータのエラー検出機能のチェック用工ラーデータを挿入
する回路に関する。
例えば、ディジタル無線装置等の受信回路には、受信デ
ータのパリティチェックを行う機能が設けられている。
そして、このパリティチェックの結果、エラーレートが
所定値まで劣化した場合はそれを検出して、例えばアラ
ーム表示を行っている。
従って、エラー検出機能はその機能が十分に機能を果た
しているか否かをチェックする必要があり、かかるチェ
ックを任意の時点で任意の箇所で行うためには、簡易で
筒便なエラーデータ挿入回路が必要となる。
〔従来の技術〕
第4図は従来例を説明するブロック図を示す。
第4図に示す例は、加入者線(a)を介在してディジタ
ル伝送路でデータを伝送する装置を示し、ディジタルデ
ータ送信部lとして、多重化装置。
クロック発生装置及び局内終端装置等からなる局内側の
局内終端装置に相当するものとする。
又、ディジタルデータ受信部2として、局内終端装置に
相当するディジタルデータ送信部1に対応して設置され
ている加入者線終端装置に相当するものとする。
ディジタルデータ受信部2は、図示してない端末と加入
者線(a)とのインタフェースを取り、ディジタルデー
タ受信部2は加入者線(a)と図示してない多重化装置
とのインタフェースを取り、データ信号のレベル変換、
加入者線信号を局内クロックに同期化する等の機能を持
つ加入者線系伝送装置をなしている。
又、ディジタルデータ受信部2にはディジタルデータ送
信部1から伝送して来るデータの受信処理をして図示し
てない端末へ転送する機能を有し、この受信処理機能の
中には伝送して来るデータのパリティチェックを行う機
能、即ちエラーチェック回路21を有する。
このエラーチェック回路21は、伝送して来るデータの
パリティチェックを行い、そのチェック結果が例えばエ
ラーレー)10”まで劣化したら、例えばLED等から
なるエラー表示回路22に通知してエラー表示を行って
いる。
上述のエラーチェック回路21のエラー検出機能のチェ
ックは、従来特定のチェンク器具はな(、例えばディジ
タルデータ受信部2である加入者線終端装置のデータ受
信処理機能、インクフェース機能等の測定を行う加入者
線終端装置テスタ(第4図に示す計測器3に相当する)
を介して、外部よりノイズパルスを挿入して行っていた
即ち、ディジタルデータ送信部1とディジタルデータ受
信部2との間の加入者線路(a)に加入者線終端装置テ
スタ等からなる計測器3を挿入し、その計測器3からエ
ラーチェックの臨界点に相当するエラーレー) 10”
まで徐々に可変したノイズパルスを挿入する。
これにより、ディジタルデータ受信部2の機能チェック
を含めたエラーチェック回路21の機能チェックを行っ
ていた。
[発明が解決しようとする問題点〕 しかし、このような計測器3は上述のような加入者線終
端装置全体の機能をチェックするテスタであるため各種
機能が組込まれており、その構成も持ち運びには不便で
ありしかも高価である。
一方、エラーチェック機能は高信頼度なデータを確保す
るためには重要な機能であり、エラーチェック機能上に
問題点が発生した場合は、装置運用中であってもその機
能をチェックする必要がある。
従って、かかる持ち運びが不便でしかも高価な計測器3
であっては、ディジタルデータ受信部2等を設置してい
るフィールドで簡易にしかも短時間に使用することが困
難である。
〔問題点を解決するための手段〕
第1図は本発明の詳細な説明するブロック図を示す。
第1図に示す本発明の原理ブロック図は、データの受信
部20と、受信部20に対してデータを送出する送信部
10との間に設け、所定エラーレートのエラーパルス■
を伝送口、線上を伝送されるデータに挿入するエラー挿
入回路30の機能ブロックを示し、その構成は、 データ伝送回線(a)、 (a)’上へ挿入するエラー
パルスのエラーレートを決めてデータ伝送回線(a)。
成するエラーデータ生成手段32と、 エラー挿入手段31にてエラーデータ■を挿入する時の
同期用クロックCLKを送信部10から引き込み、エラ
ーデータ挿入手段31からエラーパルス■を挿入時の同
期クロックCLKIとして生成するクロック生成手段3
3とを具備し、これらを集積回路で構成される論理回路
で構成することにより、問題点を解決するための手段と
する。
〔作用〕
エラーデータ生成手段32へ外部から所定周波数のパル
ス■を入力することにより任意の周期に設定されるパル
ス■を生成し、このパルス■を送信部10からのクロッ
クCLKに同期させてデータにエラーパルスとしてエラ
ーデータ挿入手段31を介して挿入する。
この時のパルス■の周波数を可変することにより、エラ
ーデータ挿入手段31を介して挿入するエラーパルスの
レートが可変出来、しかも受信部20内パリテイ工ラー
チエツク機能の動作チェ、りを行う専用のエラーデータ
挿入手段31を集積回路で構成することにより、フィー
ルド等においても容易にエラー検出機能のチェックを行
うことが可能となる。
〔実施例〕
以下本発明の要旨を第2図、第3図に示す実施例により
具体的に説明する。
第2図は本発明の詳細な説明するブロンク図、第3図は
本発明の実施例におけるタイムチャートを説明する図を
それぞれ示す。尚、仝図を通して同一符号は同一対象物
を示す。
第2図はエラー挿入回路30の実施例を示し、複数の論
理集積回路にて下記に説明するように構成されている。
即ち、 第1図に示すエラーデータ挿入手段31として、4つの
インバータ311〜314.2つの排他的論理和回路(
以下EX−OR回路と称する)315.316.4つの
フリップフロップ(以下F、Fと称する)からなるF、
F回路317とから構成させ、エラーデータ生成手段3
2として、1つのインバータ321.4段のシフトレジ
スタ回路322.2つの否定論理積回路(以下NAND
回路と称する)323゜324とから構成させ、 クロック生成手段33として3つのインバータ331〜
333とから構成させた例である。
又、爪1図で説明した送信部10としてディジタルデー
タ送信部1、受信部20としてディジタルデータ受信部
2として構成している。
例えば、第10で示すようにディジタルデータ送信部1
からエラーを含まないデータ■をエラーデータ挿入手段
31内インバータ311.312及び313゜314を
介しテEX−OR回路315.316(7)入力端子(
1)及び(4)に送出する。
尚、この時のデータ波形は第3図に示す通りである。又
、エラーを含まないデータ■としては例えば、第1図に
示すようなデータ伝送系のデータ伝送をテストするため
に作成したテストプログラム等により発生するものとす
る。
一方、図示してない例えばパルスジェ不レーク等で所定
周波数のパルス■をエラーデータ生成手段32内インバ
ータ321を介して4段のシフトレジスタ回路322の
入力端子(4)に入力させる。
このパルス■は、ディジタルデータ送信部1からデータ
■を伝送する時にその伝送速度を有して送られるクロッ
クCLKをクロック生成手段33内インバータ332を
介して引き込んだクロ、りCLK lのタイミングでシ
フトレジスタ回路322のシフト処理をする。
次に、シフトレジスタ回路322の3段目とt1段目の
出力、即ち出力端子(10)及び(13)と出力端子θ
1i)(但し、出力端子qつのイバート端子)、出力端
子(II) (但し、出力端子00)のイバート端子)
と出力端子05)とをそれぞれNAND回路323.3
24にて否定論理積条件を取り第3図に示すパルス■と
してF、F回路317のデータ端子02)、 Q3)に
送出する。
尚、このF、F回路317のクロック端子(9)に入力
するクロックは、シフトレジスタ回路322のシフトタ
イミングを取るクロックCLKIと同じものとなる。
このパルス■がデータ端子02)、 (13)に入力し
た時の出力端子(IIL (14) (いずれもインバ
ート端子)に出力される出力信号をEX−OR回路31
5.316の入力端子(2)及び(5)に送出し、デー
タ■との排他的論理和条件を取り、その出力をF、F回
路317のデータ端子(4)、 (5)に送り込む。
尚、EX−OR回路315.316にてデータ■との排
他的論理和条件を取った出力としては第3図に示すよう
になる。
4即ち、EX−OR回路315では出力信号とデータ■
の排他的論理和により、データ■が“ハイ”の期間中に
出力信号が“ハイ”の時が重なる時点が発生し、この時
のデータ■は出力信号が“ハイ“の期間°“ロウ”とな
る。
即ち、データ■が2つの周期に分割され、これによりエ
ラー成分を含むデータ■となり、F、F回路317を介
して第1図に示すディジタルデータ受信部2に送込まれ
ることになる。
一方、EX−OR回路316はEX−OR回路315の
条件が、第3図に示す範囲では発生しないのでエラー成
分がないデータ■がクロックCLKIで同期したデータ
■′としてF、F回路317を介して第1図に示すディ
ジタルデータ受信部2に送込まれることになる。
このデータ■に含まれるエラー成分の出現頻度は、シフ
トレジスタ回路322に入力するパルス■の周波数によ
り可変され、データ■中のエラーレートが変わることに
なる。
以上のように、エラーレートを任意に可変してデータ■
中に挿入することが出来るエラー挿入回路30、EX−
OR回路316や4段のシフトレジスタ回路322等が
大規模集積論理回路で小型化して構成されるため、その
持ち運びが容易となる。
しかも、エラーレートを任意に可変して挿入したデータ
■をディジタルデータ受信部2が受信することにより、
そのエラーチェック回路21 (第4図に示す)のエラ
ー検出機能のチェックが容易にしかも短時間に可能とな
る。
〔発明の効果〕
以上のような本発明によれば、フィールド等においても
容易にしかも短時間にエラー検出機能のチェックが出来
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の詳細な説明するブロック図、第2図は
本発明の詳細な説明するブロック図、第3図は本発明の
実施例におけるタイムチャートを説明する図、 第4図は従来例を説明するブロック図、をそれぞれ示す
。 図において、 1はディジタルデータ送信部、 2はディジタルデータ受信部、 3は計測器、     10は送信部、20は受信部、
     21はエラーチェック回路、22はエラー表
示回路、 31はエラーデータ挿入手段、 32はエラーデータ生成手段、 33はクロック生成手段、 311〜314,321.331〜333はインバータ
、315、316はEX−OR回路、317はF、F回
路、322はシフトレジスタ回路、 323.324はNAND回路、 をそれぞれ示す。 本発明の詳細な説明するブロック図 従」何列を説明するブロック図 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 伝送データを受信処理する受信部(20)におけるエラ
    ー検出機能をチェックする回路であって、該伝送データ
    に所定エラーレートを有するエラーデータを挿入するエ
    ラー挿入回路(30)を前記受信部(20)と、前記受
    信部(20)に対してデータを送出する送信部(10)
    との間の伝送回線中に挿入し、前記エラー挿入回路(3
    0)中に、前記エラー挿入回路(30)を挿入している
    該伝送回線上へ伝送するデータに対して任意のエラーレ
    ートで該エラーデータを挿入するエラーデータ挿入手段
    (31)と、外部からのパルス([3])をエラーパル
    ス([4])として生成するエラーデータ生成手段(3
    2)と、前記エラーデータ挿入手段(31)にて該エラ
    ーデータを挿入する時のタイミングを取る同期クロック
    を、前記送信部(10)から送出される所定周期のクロ
    ックから生成するクロック生成手段(33)とを設けた
    ことを特徴とするエラー挿入回路。
JP62147286A 1987-06-12 1987-06-12 エラ−挿入回路 Pending JPS63310246A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62147286A JPS63310246A (ja) 1987-06-12 1987-06-12 エラ−挿入回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62147286A JPS63310246A (ja) 1987-06-12 1987-06-12 エラ−挿入回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63310246A true JPS63310246A (ja) 1988-12-19

Family

ID=15426766

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62147286A Pending JPS63310246A (ja) 1987-06-12 1987-06-12 エラ−挿入回路

Country Status (1)

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JP (1) JPS63310246A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018535580A (ja) * 2015-09-23 2018-11-29 クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated テストカバレッジを増大するためのポイントツーポイント相互接続についての自己エラーインジェクション技法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018535580A (ja) * 2015-09-23 2018-11-29 クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated テストカバレッジを増大するためのポイントツーポイント相互接続についての自己エラーインジェクション技法

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