JP2007120991A - テストパターンの検出率算出方法、コンピュータプログラム及びテストパターンの検出率算出装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】レイアウト作成プログラム12が回路データ21からレイアウトデータ25を作成すると共に、レイアウトデータ25から隣り合う配線の情報を隣接配線情報24として作成し、出力する。トランジスタレベルシミュレーションプログラム11は、テストパターン22を用いてシミュレーションを行い、回路の各配線の電位を電位情報23として作成し、出力する。故障検出率算出プログラム13は、隣接配線情報24及び電位情報23から、隣り合う配線間の電位差が所定の電位差以上であるかを調べ、この結果を基にショート故障の検出率を算出する。
【選択図】図2
Description
配線n1 − 配線n2
配線n1 − 配線n3
配線n2 − 配線n5
配線n3 − 配線n4
配線n4 − 配線n7
配線n5 − 配線n6
配線n5 − 配線n7
ただし、電源配線121及びGND配線122は考慮しないものとする。
配線n1 1/2
配線n2 0/2
配線n3 2/2
配線n4 2/2
配線n5 1/3
配線n6 0/1
配線n7 2/2
2 RAM
3 操作部
4 表示部
5 通信インタフェース
6 ハードディスク
7 バス
11 トランジスタレベルシミュレーションプログラム
12 レイアウト作成プログラム
13 故障検出率算出プログラム
21 回路データ
22 テストパターン
23 電位情報
24 隣接配線情報
25 レイアウトデータ
26 設定ファイル
27 故障検出率ファイル
28 表示用データ
100 半導体集積回路
n1、n2、n3、n4、n5、n6、n7 配線
P1、P2、P3、P4、P5 PMOSトランジスタ
N1、N2、N3、N4、N5 NMOSトランジスタ
Claims (14)
- 半導体集積回路を検査するテストパターンが検査の結果検出する故障の検出率を算出するテストパターンの検出率算出方法において、
前記半導体集積回路の配置情報から隣り合う配線を抽出し、
前記テストパターンを前記半導体集積回路に入力した場合の各配線の電位を算出し、
算出した結果を基に、隣り合う配線間の電位差が、所定の電位差より大きくなるか否かを判定し、
該判定の結果に応じて、前記検出率を算出すること
を特徴とするテストパターンの検出率算出方法。 - 隣り合う配線間の電位差を判定するタイミングに係る情報を取得し、
隣り合う配線間の電位差の判定は、テストパターン中の前記タイミングに行う請求項1に記載のテストパターンの検出率算出方法。 - 隣り合う配線の組の総数に対して、電位差が所定の電位差より大きくなると判定された隣り合う配線の組の数の割合を前記検出率として算出する請求項1又は請求項2に記載のテストパターンの検出率算出方法。
- 半導体集積回路を検査するテストパターンが検査の結果検出する故障の検出率をコンピュータに算出させるコンピュータプログラムにおいて、
前記半導体集積回路の配置情報から抽出された隣り合う配線に係る情報を取得するステップと、
前記テストパターンを前記半導体集積回路に入力した場合の各配線の電位に係る情報を取得するステップと、
隣り合う配線間の電位差が、所定の電位差より大きくなるか否かの判定を行うステップと、
該ステップによる判定結果に応じて、前記検出率の算出を行うステップと
を含むことを特徴とするコンピュータプログラム。 - 前記所定の電位差に係る情報を取得するステップを含み、
前記判定を行うステップでは、取得した前記情報に応じて判定を行う請求項4に記載のコンピュータプログラム。 - 隣り合う配線間の電位差の判定を行うタイミングに係る情報を取得するステップを含み、
前記判定を行うステップでは、テストパターン中の前記タイミングに判定を行う請求項4又は請求項5に記載のコンピュータプログラム。 - 前記算出を行うステップでは、隣り合う配線の組の総数に対して、電位差が所定の電位差より大きくなると判定された隣り合う配線の組の数の割合を前記検出率として算出する請求項4乃至請求項6のいずれか1つに記載のコンピュータプログラム。
- 前記半導体集積回路の配置情報を取得するステップと、
前記判定を行うステップでの判定結果を基に、各配線の前記配置情報に応じた配置位置に強調表示を行う表示用データを作成するステップとを含む請求項4乃至請求項7のいずれか1つに記載のコンピュータプログラム。 - 前記強調表示は、前記判定結果に応じて色の印を各配線の配置位置に表示するものである請求項8に記載のコンピュータプログラム。
- 半導体集積回路を検査するテストパターンが検査の結果検出する故障の検出率を算出するテストパターンの検出率算出装置において、
前記半導体集積回路の配置情報から抽出された隣り合う配線に係る情報を取得する配線情報取得手段と、
前記テストパターンを前記半導体集積回路に入力した場合の各配線の電位に係る情報を取得する電位情報取得手段と、
隣り合う配線間の電位差が、所定の電位差より大きくなるか否かの判定を行う判定手段と、
該判定手段の判定結果に応じて、前記検出率の算出を行う算出手段と
を備えることを特徴とするテストパターンの検出率算出装置。 - 隣り合う配線間の電位差の判定を行うタイミングに係る情報を取得するタイミング情報取得手段を備え、
前記判定手段は、テストパターン中の前記タイミングに判定を行うようにしてある請求項10に記載のテストパターンの検出率算出装置。 - 前記算出手段は、隣り合う配線の組の総数に対して、電位差が所定の電位差より大きくなると判定された隣り合う配線の組の数の割合を前記検出率として算出するようにしてある請求項10又は請求項11に記載のテストパターンの検出率算出装置。
- 前記半導体集積回路の配置情報を取得する配置情報取得手段と、
前記判定手段の判定結果を基に、各配線の前記配置情報に応じた配置位置に強調表示を行う表示用データを作成する作成手段と、
前記表示用データの表示に係る処理を行う表示処理手段と
を備える請求項10乃至請求項12のいずれか1つに記載のテストパターンの検出率算出装置。 - 前記電位情報取得手段は、前記半導体集積回路のトランジスタレベルシミュレーションを実行し、各配線の電位に係る情報を取得するようにしてある請求項10乃至請求項13のいずれか1つに記載のテストパターンの検出率算出装置。
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