TW573314B - Patterning method - Google Patents

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TW573314B TW91104494A TW91104494A TW573314B TW 573314 B TW573314 B TW 573314B TW 91104494 A TW91104494 A TW 91104494A TW 91104494 A TW91104494 A TW 91104494A TW 573314 B TW573314 B TW 573314B
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Description

573314 A7 B7 五、發明説明(i ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本發明係有關於一種基底圖型化之方法。尤其是,本 發明之方法係有關於將基底圖型化而在基底上面設置諸如 薄膜電晶體(TFT)及/或電光裝置之電子裝置。 光蝕刻術目前被廣泛使用在電子裝置之大量生產並達 成非常高之解析度與圖像重合。在光蝕刻術中,在一基底 上設有一旋轉塗覆之光抗蝕層並以具有一直線校準器或步 進器之藍光或紫外線加以曝晒,該直線對準器或步進器使 主體上之圖型對準基底,對主體包含一光罩或網線。然後 將所曝晒之光抗鈾劑發展成在基底上設置光抗蝕劑之圖型 。通常這接著以一種蝕刻或沈積程序使一目標性材料形成 圖型。以曝晒光線之波長與直線對準器或步進器之光加以 決定由光蝕刻術所達成之解析度。 經濟部智慈財產局員工消費合作社印製 目前,不只小型積體電路,而且非常大型之主動矩陣 式顯示器皆使用這光蝕刻技術。例如,主動矩陣式之液晶 顯示(L C D )面板之薄膜電晶體(T F T )陣列需要比 5 0 c m2大之基底。因T F T之通道長度理想上應小於 2 Ο μ m,故尤其需要高解析度與圖像重合加以生產 T F T陣列之L C D面板。然而,已經發現這種大型基底 易於彎曲,難以提供充份正確之解析度與圖像重合。而且 ,必須實施光蝕刻程序數次,製成一完整裝置且這更難以 重複具有充份準確性之圖像重合。然而,製造商經常使用 一具有充份高解析度及精確圖像重合機構之單一直線對準 器,不只供通道之形成而且供其它之圖型化步驟用。這種 直線對準系統昂貴。而且,使用這種直線對準器之製程亦 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐1 -4 - 573314 A7 B7 五、發明説明(2 ) 昂貴,故提高了LCD面板之製造成本。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 爲了降低使用光蝕刻術所需之成本。已提議各種非光 蝕刻法之圖型化程序。例如,已發現微接觸印刷及微鑄塑 技術可使用圖型化特性尺寸小至1 # m。這些技術使用彈 性橡膠戳印加以印刷,俾能在戳印與基底之間提供良好接 觸。然而,由於其彈性,戳印變成扭曲,使主戳印難以對 準基底上之圖型。因此,這些技術尤其與那些供L C D面 板使用之大型基底,在正確圖像重合上具有困難之顯著缺 點。 個人列印現在廣泛使用噴墨列印技術。這達成接近照 相等級之非常高的印刷品質。噴墨印刷亦已證明爲製造電 子裝置之一'種有HU途技術,S亥電子裝置如供液晶顯不器及 全彩電致顯示器用之濾色器。爲完成這種電致顯示器,使 用一種噴墨印刷技術,沈積不同之共軛聚合體,在顯示器 中提供三種顏色(藍、綠,及紅)。 經濟部智葸財產局Μ工消費合作社印製 噴墨技術先前已被認爲相較之下是低解析度之圖型化 技術且因此先前已被認爲噴墨印刷不適於生產T F T。這 是因爲要達成夠高之汲電極,有機聚合體TFT需要通道 長度小於2 0 // m。要使用噴墨技術生產這種T F T必須 將源極、汲極與閘極電極印刷在基底上。源極與汲極電極 間之間隙必需非常小,因這間隙界定T F T中之通道。因 聚合體半導體之載子移動性低,爲達成實際之特性,如以 上所示,這間隙應小於2 0 // m。 然而,由於印刷程序中之波動,目前單是由噴墨印刷 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(21〇>< 297公釐) -5- 573314 A7 _ B7 五、發明説明(3 ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 在固態基底上所達成之解析度不夠高到足以將之間具有一 適當小間隙(通道長度)之源極與汲極電極圖型化。尤其 是,油墨液滴飛噴方向不永遠完全垂直於噴出噴墨之噴墨 印刷頭之噴嘴板平面,造成圖型化之錯誤。而且,噴出液 滴散佈在它所噴出基底之表面上。液滴散佈量分別爲固態 基底與液態液滴之表面能量與介面能量之函數。然而,在 固態表面之表面能量與介面能量中具有波動。這造成沈積 在基底上分別液滴之大小變動。因此,兩沈積液滴間之間 隙寬度,且因此所印刷T F T之通道長度係可變動的,在 最差狀況,於源極與汲極電極間形成短路。 儘管如此,先前已經以噴墨沈積法加以製造所有聚合 體T F T。在這種製造中,源極、汲極與閘極電極係由導 電聚合體,PEDOT (來自拜耳(Bayer )拜特隆( Baytron ) : POL Y-ETHYLENEDIOXYTHIOPHENE )所形成 經濟部智慈財產局員工消費合作社印製 ,並使用噴墨技術加以沈積。爲得到令人滿意之通道寬度 ,可結合噴墨印刷與預先圖型化之濕潤特性。這使用親水 性與疏水性基底區之圖型,允許控制基底上墨液之流動。 如第8 ( b )圖中所示,以光蝕刻術,微接觸印刷,微鑄 塑印刷或感光濕潤度之圖型化可在一玻璃基底1 〇 〇上首 先形成一非濕潤的或疏水性的聚醯亞胺(P I )擋水條 1 0 2。這擋水條1〇2,如第8 ( a )圖中所示,界定 TFT之通道106,擋水條102寬度爲通道106之 長度L。對於P E D〇T溶液,基底1 〇 〇之剩下區域爲 親水性的或濕潤的。然後使用一噴墨印刷頭,將 本纸張尺度適用中i國家標準(CNS)A4規格(2i〇x297公釐)" -6- 573314 A7 ____B7 五、發明説明(4 ) P E D〇T之水溶液沈積在玻璃基底上,可形成源極與汲 極電極。P E D〇丁溶液在p I擋水條上展現出約7 〇。 之相當高的角度,並在玻璃區上展現出小於2 〇。之小接 觸角。因此,當沿擋水條1 〇 2沈積P E D〇T溶液之液 滴1 0 4時,液滴散佈在全基底1 〇 〇卻爲擋水條1 〇 2 所擋退。因此限制基底1 〇 〇上之溶液1 〇 4散佈在整條 擋水條1 0 2,而代以沿擋水條1 〇 2之側邊加以對準。 使用這自我直線對準機構,能達成通道長度L小於2 0 // m並小如5 // m之源極1 〇 8與汲極1 1 0電極。 實際上,先前已經使用光蝕刻術加以形成P I擋水條 。然而,使用蝕刻術需要許多步驟,包含應用鉛字,塗覆 抗蝕劑,對準光罩,曝晒,烘烤,顯像,鈾刻及剝離。因 此使用蝕刻術顯著增加處理成本並超過噴墨印刷之益處。 也可使用微接觸印刷及具有例如由P D M S (聚二甲基矽 氧烷)製成之彈性戳印(鑄模)的微鑄塑印刷供預先之圖 型化,但以上討論之彈性戳印的扭曲與變形會變壞圖像重 合之正確性。作爲一替代方法,最近發展之感光濕潤度圖 型化方法因預期涉及比蝕刻術較少之步驟數,故顯得有前 途。然而,這方法尙未被適當建立。尤其是,這方法技術 之現時狀態中,在實際應用上光源波長太短且方法之敏感 度太低。 因此,無適當技術可以有效成本方式,一致提供夠小 之通道長度。 根據本發明第一觀點,提供一基底之圖型化方法,該 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -J— I tj . 經濟部智慈財產局8工消費合作社印製 573314
經濟部智慈財產局員工消費合作社印製 第 1 〇 U)至 1 〇 (e)| 電 晶 體 之 方 法; 第 1 1 圖表示一電光 第 1 2 圖表示包含- 它 裝 置 之 — 行動個人電腦 第 1 3 圖表示包含一 它 裝 置 之 — 行動電話的示 第 1 4 圖表示包含- 它 裝 置 之 — 數位相機的示 主 要 元 件 對 照表 1 0 0 玻璃基底 1 0 2 擋水條 1 0 6 通道 1 〇 4 液滴 1 0 4 溶液 1 〇 8 源極 1 1 0 汲極 1 基底 1 0 液滴 1 6 殘餘物 1 4 脊線 1 2 薄層 1 6 液滴 1 2 薄膜 蝕刻劑 ο (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) •裝· 訂 線 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X 297公釐) -9 - 573314 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明( 7 2 噴墨印刷頭 2〇 液滴 2 2 間隔層 4 0 液滴 4 2 沈積膜 2 2 沈積膜 5 0 流體流 52 蒸發效應 54 體積效應 6 6 對準層 16 擋水條 6 〇 源 極 6 2 汲 極 6 8 半 導 體 層 7 〇 絕 緣 層 6 4 閘 極 電 極 9 〇 相 互 連 結 2 〇 〇 顯 示 裝 置 2 0 1 像 素 2 〇 2 薄 膜 電 晶 體 2 〇 3 薄 膜 電 晶 體 2 〇 4 電 光 元 件 2 〇 5 驅 動 電 路 2 〇 6 驅 動 電 路 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) .1^衣· 訂 本紙張尺度適用中國國家標準(CMS ) A4規格(210X297公釐) -10- 573314 A7 B7 五、發明説明(8 3 3 〇 〇 個 人 電 腦 〇 4 本 體 0 2 鍵 盤 0 6 顯 示 單 元 0 0 可 攜 式 電 s舌 〇 2 操 作 鍵 0 4 耳 機 〇 6 受 話 器 0 顯示 面板 0 0 數 位 靜 態 相 0 〇E L 元件 0 2 機 殻 〇 顯示 面 板 0 4 驗 光 單 元 0 8 電 路 板 1 2 視 訊 輸 出 端 1 4 輸 入 / 輸 出 3 0 電 視 監 視 器 4 〇 個 人 電 腦 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局B(工消費合作社印製 本發明提供一種高解析度之圖型化技術,該技術不 光蝕刻術或類似之程序。簡言之,本發明一觀點中,預 圖型化係由一第一材料所形成,將例如爲溶解在一溶劑 之有機聚合體的第一材料以溶液液滴之形式沈積在一基 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) 規格(210X 297公釐) -11 - 573314 A7 B7 五、發明説明(9 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局g(工消費合作社印製 上。爲此目的已發現適合使用一噴墨印刷頭。沈積在基底 上之液滴會加以散佈,散佈程度係由以上討論之參數加以 決定。然而,制定出包含第一材料之溶液,使得當溶劑蒸 發且液滴乾化留下第一材料之殘餘物時,所沈積液滴之周 長針對基底保持固定。此後這將被稱爲針點接觸線沈積且 將更詳述如下。針點接觸線沈積造成第一材料之環形沈積 ,其中,液滴中之大半溶解物聚集在接觸線上並沈積在此 。因此,第一材料之乾化殘餘物包含佈置在邊緣四周之脊 線及中心區中之一薄膜。比較液滴之直徑,脊線寬度狹窄 並可控制這寬度。脊線寬度可以溶液粘度或溶液之乾化速 度加以控制。溶液粘度可以溶液中有機聚合體材料之濃度 加以改變。因此藉控制有機聚合體溶液之濃度可控制脊線 寬度。當然溶液之粘度另外依溶劑粘度而定。如以下說明 中,明顯地,一相當低之濃度及因此相當稀之溶液將提升 至一相當狹窄之脊線且針對本發明方法中之優點可使用這 種特性。使用低粘度溶劑亦可得到這種狹窄脊線。而且, 如使用一蒸發性溶劑,在溶液上提供一種可爲加熱氣流之 氣流,或對上面已沈積有液滴之基底加熱而使溶液乾化相 當快時,可達成一狹窄脊線。自然地,可使用以上技術之 任何組合加以控制溶液之乾化速度及/或粘度。 爲了移除中心區之薄膜並在基底上留下一狹窄脊線, 這沈積步驟後接著濕式或乾式蝕刻。因脊線切面形狀實質 上爲三角形,故脊線寬度可進而以蝕刻程序加以控制。然 後以液滴形式沿脊線任一邊將溶液中一第二材料加以沈積 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(21〇X297公釐) -12- 573314 A7 B7 五、發明説明(10 ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 。爲此目的,已再次發現適合使用一噴墨印刷頭。針對第 二材料溶液,基底或下層結構係濕潤的而針對第二材料之 溶液,第一材料之脊線係非濕潤的,那就是,它檔退了第 二材料溶液。結果,第二材料溶液之各液滴沿著脊線各邊 對準它本身並沿著該各邊加以乾化形成一層第二材料。 最後,第二材料之沈積程序後可接著一移除第一材料 脊線之程序。爲完成這個,可將一溶劑滴入基底,只加以 溶解第一材料。這在基底上留下一層第二材料,形成兩部 位,其間具一狹窄間隙。該間隙以第一材料之脊線寬度加 以界定。 可應用這種程序形成一TFT通道,該通道需要在源 極與汲極間有一狹窄間隙。適當地選擇第一材料溶液濃度 ,第一材料溶液之乾化條件及蝕刻程序之條件可控制通道 長度。使用以上所提之圖型化方法可達成大小爲5 # m之 通道長度。 現在將更詳述本發明之各種觀點。第1圖表示根據本 發明一圖型化方法之流程。如第1 ( a )圖中所示,將— 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 第一有機或無機材料之溶液以液滴1 〇之形式沈積在基底 1上。第一有機或無機材料之作用係在基底1上提供一種 預先圖型,該圖型對於稍後階段被沈積在一第二標的材料 之溶液具有特別之濕潤特性。對於第二標的材料溶液,第 一預先圖型化材料從基底1具有不同之濕潤特性。 當需要一第二材料圖型在那裡形成一小間隙時,第一 預先圖型化材料對於第二材料溶液,應比基底更具排拒性 本紙張尺度適用中國國家榡準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) -13- 573314 Α7 Β7 五、發明説明(Μ 。虽需要一弟一材料圖型形成一狹窄線時,第一預先圖型 化材料對於弟一材料溶液,應比基底更濕潤。爲便於說明 起見’後續說明將主要朝向需要一第二材料圖型在那裡形 成一小間之情況。然而,這不應被看成限制本發明之範 圍。 因此,第二 可使用疏水性 材料爲P E D〇T且其溶液爲一水溶液時 材料作爲第一預先圖型 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 苯乙燒爲一典型疏水材料。然而,含非 水特性而當在一極性溶 於作爲第一預先圖型化 在第~材料與基底之間 親水性的,因此,對於 供這親水性表面,在沈 1,例如曝晒至◦ 2電漿 型化材料溶液所沈積之 (b )圖中所示,分別 能量密度)與基底1以 (介面解放能量密度) 與聚合體表示疏 材料溶液時即適 材料溶液,爲了 比,基底1應爲 濕潤表面。爲提 材料前可將基底 第一預先圖 個基底1且第1 張力(表面解放 1間之介面張力 爲第一材料選擇一非極性材料且爲第 化材料。例如,聚 極性群族之化學物 劑中使用第二標的 材料用。對於第二 達成一大濕潤度對 極性溶劑,提供一 積第一預先圖型化 〇 液滴1 〇散佈在整 由液滴1 0之表面 及液滴1 0與基底 加以決定直徑。在 材料選擇溶劑之情 況中,溶液之表 )。這在液滴1 觸角,並在基底1上形成一大直徑之液滴10。這接觸角 小於3 0 ° 。 在液滴1 0中之溶劑已蒸發後,沈積在基底上第一材 面張力通常爲小(約2 之上表面與基底1之 〇 〜3 0 m J / m2 表面間形成一小接 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) -14- 573314 A7 B7 五、發明説明(12) 料之殘餘物1 6的切面外形則未在預期當中。可預期之外 形非爲半圓形,如第1 ( c )與2 ( a )圖中所示,爲一 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 環形,其中,大部份第一材料係沈積在邊緣而少量第一材 料則沈積在中心區。另言之,圍繞四周形成一脊線1 4並 在中心區形成一薄層1 2。將如更加詳細之討論,優先選 擇一小接觸角,取得圍繞在乾化液滴1 0四周所佈置之顯 著脊線1 4。 在只有沈積一液滴1 0於基底1處,脊線1 4實質上 爲圓形。然而,假如在基底1與諸如爲噴墨印刷頭2之液 滴1 0的分配器之間以相對位移沈積多個液滴1 0 ,則可 得到如第2 ( a )圖中所示之長圓形。 因乾化液滴1 6中心區包含一薄膜1 2,在第一預先 圖形化材料之乾化液滴1 6之整個區域中,對於第二材料 溶液之乾化液滴1 6的濕潤度,係固定的。然而,如第1 (d )圖中所示,使用一乾式或濕式蝕刻程序,然後加以 蝕刻第一預先圖型化材料之乾化液滴1 6,移除中心區之 薄膜1 2。 經濟部智慈財產局員工消費合作社印製 應注意的是,這蝕刻程序中所選用之蝕刻劑3 0之化 學特性可顯著影響基底1與第一預先圖型化材料之乾化液 滴1 6的濕潤特性。因此,蝕刻程序中之許多變動是可能 的。然而,舉一簡例,可以如氦,氖,氬,氪,氙惰性氣 體或氮之電漿加以實施乾式蝕刻。基底1與乾化液滴1 6 之各濕潤度不爲惰性氣體電漿之蝕刻所影響。因此,對於 第二材料溶液,如果基底1起初具一濕潤表面,且第一預 本紙張尺度適用中國國家標準「CNS ) A4規格(210X 297公釐) -15- 573314 A7 B7 五、發明説明(13) 圖型化材料之乾化液滴1 6起初具一排拒表面,則在這 刻程序後保持這些特性。 如第1 ( e )與2 ( b )圖中所示,決定包含蝕刻時 ,電力密度與主動分子密度之蝕刻程序的參數,俾能完 移除乾化液滴1 6中心區之薄膜1 2,但保持基底1上 線1 4之部份鈾刻部位。因此,除提供排拒表面之狹窄 線14外,曝晒基底1之整個表面。因此,界定在基底 濕潤表面上包含狹窄非濕潤脊線1 4之對比圖型之濕潤 如以下之說明,可以第一預先圖型化材料溶液之沈積 件加以控制脊線1 4之寬度。然而,包含選取鈾刻劑 0之蝕刻選取參數亦影響脊線1 4之寬度。例如,當倉虫 時間增加時,脊線1 4寬度變窄。因此,利用沈積條件 蝕刻參數之最佳化可能一致完成比5 // m更窄之線。 經濟部智慧財產局g(工消費合作社印製 先 蝕 間 全 脊 脊 1 度 條 3 刻 與 線 1 1 溶 線 對 時 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 在這蝕刻程序後,例如使用一噴墨印刷頭2,如第1 f )圖中所示,以一或更多第二液滴2 〇之形式,沿脊 1 4沈積第一標的材料溶液。第二液滴2 〇著陸在基底 並散佈在基底1上,遍及第一預先圖型化材料之脊線 4邊緣。因爲狹窄之脊線1 4排拒溶液,故將第二材料 液侷限在曝晒基底1上之濕潤區中。因此,基底丨與脊 1 4間之濕潤度對比使第二材料溶液沿著脊線丨4邊緣 準。當在脊線1 4兩邊上形成第二材料溶液之液滴2〇 ’如第1 ( g )與2 ( c )圖中所示,在他們之間形成 狹窄間隙。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(210X 297公釐) 573314 A7 ____ B7 五、發明説明(14) 如第2 (c)圖中所示,在這實例中,形成長圓形之 脊線1 4且只使用脊線丨4之一部份供預先圖型化。這適 於形成具有一短通道長度T F τ之源極與汲極電極。然而 ,對那些精於本技術者而言,明顯地,可得到不同形狀之 脊線並依本發明想要之申請而定,選擇脊線1 4之其它部 位或全部供預先圖型化。 一乾化後,第二液滴2 0形成第二標的材料之間隙層 2 2。如第1 ( h )圖中所示,乾化後各具一台面形切面 外形之第二標的材料之間隔層2 2,如以下之更詳細討論 ,可適當選擇,例如,第二材料溶液之濃度而得到。如圖 中所示,在兩層膜2 2之間有一狹窄間隙,由於以上所討 論之變動,使用習知噴墨技術無法一致達成這間隙。然而 ,以本發明之方法可得到一致,狹窄之間隙。而且,不需 蝕刻技術。因此可以低成本使用本發明之方法,且本方法 適用於蝕刻圖型化特別昂貴之大基底。 而且,例如在第一預先圖型化材料溶劑中浸漬基底1 可移除脊線1 4。因第二標的材料不溶於第一材料溶劑, 故它不受這一種剝離程序之反影響。移除脊線i 4後,第 1 ( i )與2 ( d)圖表示第二標的材料之一完整圖型。 第一預先圖型化材料之乾化液滴1 6形狀與第二標的 材料層2 2之形狀受許多因素影響,如現在之說明,包含 各材料溶液性質與乾化條件因素。當將一液滴積沈在一基 底上時,如第3圖中所示,至少有三種沈積模式,各種模 式在溶劑已蒸發後,在基底上形成溶解物剩下薄膜之不同 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) — β—, (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -JT— I : tjl · 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -17- 573314 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7__五、發明説明(15 ) 切面外形。第一沈積模式可稱爲退縮型沈積並表示在第3 (a )圖中。在這模式中,當首先沈積在基底上時,乾化 後溶解物之沈積膜4 2周長或直徑小於溶液液體液滴4 0 直徑,其輪廓以最外虛線表示。這意爲液滴4 0在乾化期 間已退縮。當液滴4 0之接觸角相當大(例如,大於 4 0 ° )且當溶液未使基底表面充份濕潤時則發生退縮型 沈積。由於液滴對表面之大接觸角及水在表面上之未濕潤 特性,水溶液液滴在一疏水表面上之沈積即爲一退縮型沈 積實例。因此,當將一以水爲基礎之P E D Ο T溶液沈積 在一聚苯乙烯膜上時,即觀察到這退縮型沈積。 第二模式爲供沈積本實例中第二標的材料所用之台面 型沈積並表示在第3 (b)圖中。在這模式中,亦可觀察 到乾化期間液滴2 0之小量退縮。然而,對照退縮型沈積 ,在退縮期間發生溶解物之沈積。結果,沈積膜2 2外形 爲台面型且直徑大小幾乎與溶液液滴2 0之內徑相同。當 溶液表面張力爲高(例如,大於3 0 m JT / rri )且當溶液 能使基底表面濕潤時則發生台面型沈積。因水對於親水性 表面具有高表面張力及良好濕潤特性,故當將一水溶液沈 積在一親水性表面上或一非有機基底上時可發生台面型沈 積。當將一以水爲基礎之P E D Ο T溶液沈積在一玻璃基 底上時,可觀察到例如台面型沈積。 最後模式爲供沈積本實例中第一預先圖型化材料所用 之環型沈積並表示在第3 ( c )圖中。由這種型式沈積所 造成之薄膜等於將咖啡潑在一固體表面上後所留下之殘餘 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公慶) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -18- 573314 A7 B7 ___ 五、發明説明(16 ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 物膜。如以上之討論,在環型沈積中,大半溶解物係沈積 在液滴1 0之邊緣,因此,提供圍繞在邊緣之溶解物脊線 1 4及中心區溶解物之一薄膜1 2。當接觸角相當小(例 如,小於3 0 °且最好小於2 0 ° )且當基底上溶液之濕潤 相當良好時則發生環型沈積。在這情況中,基底上液滴之 接觸線爲針點式並在乾化期間不會移動。這意爲當液滴 10乾化時,接觸角降低。這可發生在當溶液表面張力爲 低時(例如,小於3 0 m J / m2 ) ° 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 如第4圖中之圖解說明,分別以增強蒸發與體積效應 5 2及5 4,在針點液滴1 0中造成一內部流體流5 0。 分別以液滴1 0邊緣與中心區之溶劑蒸發的速度差造成增 強蒸發效應5 2。因爲溶劑分子更易從邊緣區逃脫,故在 邊緣區觀察到比中心區較高之蒸發率。在液滴1 〇內發生 內部流體流5 0,俾能補償這差異。然而,因接觸線爲針 點式且液滴體積降低,故改變液滴形狀。因此,如第3 ( c )或4圖中所示,邊緣區之體積改變小於中心區。各邊 緣與中心區體積變化差異亦造成內部流。因此,由於這兩 種效應,以環型沈積模式在基底上乾化之液滴中發生從中 心至邊緣之內部流。流體粘度對內部流有影響效果。因此 ,在低粘度流體液滴中發生一有效率(快速)之流動。當 流體(溶液)粘度小於約1 〇 C p S,得到一狹窄脊線。 低於約4 C p S之粘度特別適於形成一狹窄脊線。溶液粘 度依溶解物(固態內容)濃度,溶劑粘度,或溫度而定。 如降低溶液中溶解物(有機聚合體)之濃度,則造成較低 本紙張尺度適用中國國家標準(CMS ) A4規格(210X297公釐) -19- 573314 A7 B7 經濟部智慈財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(17) 濃度且因此增加~乾化液滴從中心至邊緣之內部流粘度。 使用低粘度溶劑亦導向內部流之這種增加,這造成一狹窄 之脊線(邊緣)。當使用聚合體爲溶解物時,聚合體之分 子量及溶液中聚合體之構造影響溶液之粘度。爲了得到低 粘度,最好是分子量小於約1 0 0,0 0〇。 而且,因爲內部流動速度由乾化速度所決定,故溶液 乾化速度爲一重要參數。如溶液乾化快些,則造成內部流 動速度增加且因此使脊線變窄。藉在整個溶液上提供氣流 (可加以加熱),或對溶液液滴加熱,使用一可揮發性溶 劑來增強乾化速度。當在室溫下實施程序時,要得到高乾 化速度,溶劑沸點最好低於1 6 0 °C且更好是低於約 1 2 0 °C。由於兩種有效方式:乾化速度之增強與粘度之 降低,故要得到一狹窄脊線,對溶液液滴加熱特別有效。 爲此目的,可將溶液液滴沈積在從約4 0 °C加熱至約1 5 t之基底上。 這內部液流5 0從中心攜載溶液中之溶解物至邊緣。 結果,在邊緣區有溶解物之增強沈積且在中心區形成一薄 層。液流5 0之速度影響薄膜切面外形並依固著性液滴之 接觸角,蒸發速度與粘度而定。液流5 0之速度隨接觸角 降低而增加,故預期要一小於3 0 °之接觸角加以達成寬 度狹窄之脊線1 4。增加之蒸發速度亦增加液流5 0之速 度,故高蒸發速度使脊線寬度變窄。藉控制所沈積溶液中 之有機聚合體濃度可因此控制脊線寬度。使用低沸點溶劑 ,在乾化期間提升溫度並降低圍繞液滴之溶劑蒸發壓力亦 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) -20- 573314 A7 B7 五、發明説明(18 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 可增加蒸發速度且因此增加內部液流。經過基底之氣流( 例如,乾空氣,氮或氬)有效降低這壓力,造成使脊線 1 4變窄。當基底上有一單向氣流時,這造成在邊緣區之 不對稱沈積。因氣體上游爲乾淨的,故上游之溶劑蒸氣壓 小於下游,液滴1 0之內部液流5 0爲非對稱並在上游邊 緣比下游邊緣發生較大之沈積量。這種現象亦有用於控制 脊線1 4之高度與寬度且特別是用於得到一高而窄之脊線 14。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 溶液粘度亦扮演一重要角色。如溶液粘度爲零,則在 乾化之最後階段,由於內部液流5 0之非常高速度,會將 所有溶解物攜載至邊緣。事實上,由於溶液濃度之增加, 當乾化進行時,粘度增加。這粘度之增加降低內部液流 5 0之速度且終究停下來。這種行爲決定在中心區薄膜 1 2之厚度及脊線1 4之高度與寬度。當使用低粘度之稀 溶液時,則在中心區得到一非常薄之膜1 2並在邊緣得到 狹窄脊線1 4。如以上說明,粘度不只依溶液濃度且亦依 溶解物與溶劑組合以及溶解物分子量而定。可將這些參數 達最佳化,俾能甚至在乾化已進行後得到低粘度。然而通 常,最好爲粘度小於約4 c p s之溶液且更最好仍是粘度 小於2 c p s之溶液。當使用聚合體爲丨谷解物時,以小於 約3 %或最好爲1 %之濃度,通常可達到這種粘度。 先前已說明過具惰性氣體電漿之乾式蝕刻法,但亦可 使用具有各種其它效應之其它蝕刻技術。 首先,可使用氧氣電獎加以實施乾式蝕刻法,該蝕刻 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(21〇><297公釐) -21 - 573314 A7 B7 五、發明説明(19) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 法特別對於極性溶液具有提供表面濕潤特性之效果。另言 之,藉使用氧氣電漿之乾式蝕刻可使基底1與脊線1 4表 面轉爲親水性。這是由於表面氧化或以氫氧根族終結表面 之分子,其中之氫氧根族係由表面上之氧根分子與空氣中 水分子反應而形成。因氧氣或氫氧根族極性可在基底1與 脊線1 4表面中產生親水特性,對基底材料與第一預先圖 型化材料之許多組合,以氧氣電漿蝕刻法即失去脊線與基 底間之濕潤度對比。 第5 ( a )圖表示脊線1 4與基底1表面爲氫氧根族 (-〇Η )所終結之情況且因此不管基底或第一未鈾刻之 預先圖型化材料原先是否爲疏水,兩者因此具親水之特性 。然而,已經發現由氧氣電漿所修飾之區域維持在表面上 且消除脊線或基底之表面區可恢復原先之濕潤度對比。在 這實例中,移除第一預先圖型化材料,即脊線1 4之表面 。這可以蝕刻法加以達成。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 如以上δ寸論,非極性聚合體適用爲第二標的材料係沈 積在以水爲基礎之溶液的P E D〇Τ處之第一預先圖型化 材料。這種非極性聚合體包含由芳香族與烷基族組成之聚 合體。例如聚苯乙烯與聚乙烯爲典型之非極性聚合體。 爲蝕刻第一預先圖型化材料之表面區,可使用用以溶 解第一材料,以其它不溶解第一材料之溶劑加以稀釋之溶 劑爲蝕刻劑。這種稀釋溶劑溶解第一材料慢,故可能只蝕 刻脊線1 4之表面區,因此如第5 ( b )圖中所示,移除 氫氧根族。當使用聚苯乙烯爲第一預先圖型化材料時,可 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -22- 5乃314 Α7 Β7 五、發明説明(20 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 使用由酒精或碳化氫脂肪族所稀釋之芳香族及/或氯碳化 氫爲蝕刻劑。由異丙醇所稀釋之甲苯爲這種蝕刻劑之一典 型實例。 對照之下,如第5 ( b V圖中所示基底1不溶解在一 包含這種稀釋溶劑之蝕刻劑中,且因此氫氧根族維持在基 底1之表面上。因此基底,表面保持親水性。結果,在以 這種稀釋溶劑稍微蝕刻後可恢復在氧氣電漿所蝕刻基底1 上形成對照濕潤度之圖型。因此,在這處理後可達成第二 標的材料與第一預先圖型化材料之自我對準。 經濟部智慈財產局員工消費合作社印製 然而,通常非極性材料不在親水性表面附著得非常好 。這結果爲在以稀釋溶劑之稍微蝕刻期間,包含一非極性 聚合體之第一預先圖型化材料可從親水性表面鼓起。爲增 進第一預先圖型化材料對基底1表面之粘著特性,可使用 鉛字將基底1之表面特性從親水性改變成疏水性。六甲基 二矽氯烷(Η M D S )爲適於本目的之一典型鉛字。例如 ,使用7 0至1 4 0 °C之氣態或液態Η M D S在沈積第一 材料前可預先處理基底1 。以提供疏水特性之六甲基族終 結預先處理之基底1表面。因此可得到非極性第一材料在 一預先處理基底1上之良好粘著性。 因降低第一材料溶液與基底1之接觸時,故這預先處 理之一額外有利效果爲能得到第一材料之較窄脊線1 4。 而且,利用以上討論之氧氣電漿蝕刻法可輕易移除預先處 埋基底1表面上之六甲基。因此,以氧氣電漿蝕刻法可恢 復或增進未處理過基底1之原先親水性表面特性,故以稀 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X 297公釐) -23- 573314 A7 B7 五、發明説明(21 經濟部智慈財產局員工消費合作社印製 釋之溶劑稍微蝕刻仍可得到基底1與脊線丄4 濕潤度之圖型。 在乾式蝕刻後用以恢復濕潤度對比之一替 使氧氣電漿所蝕刻之基底1曝晒至用以溶解第 化材料之溶劑蒸氣。溶劑蒸氣在預先圖型化材 吸收,並允許材料重定方位成更穩定,疏水之 這種重定方位,以更穩定之第一材料取代脊線 氫氧根族。結果,脊線1 4表面恢復其原始疏 底1表面維持其親水狀態。這種曝晒方法使用 因此爲一種乾式程序。因此不需在基底1內滴 耗時,骯髒且昂貴。例如當使用聚苯乙烯爲第 化材料時,可使用芳香族及/或碳氫化氯爲溶 苯或二甲苯爲一典型之芳香族碳化氫溶劑。 作爲進一步之替代方式,可使用氟化碳與 混合體的電漿蝕刻並已發現它爲達成高濕潤度 特別有效方法。當上面有一有機預先圖型化材 之無機基底1係使用氟化碳與氧之混合體的電 如第6 ( a )圖中所示,因以氟取代在裡面連 之氫原子,故將有機預先圖型化材料表面加以 化表面對於極性溶液與非極性溶液係非濕潤的 ,如第6 ( a )圖中所示,由於氧氣電漿效果 族終結無機基底之表面。因此,基底1表面特 溶液係濕潤的。 對照之下,當以氟化碳與惰性氣體(A r , 間形成對比 代性方法爲 一預先圖型 料中被加以 形態。由於 1 4表面之 水特性而基 一種氣相且 入液體,這 一預先圖型 劑蒸氣。甲 另一氣體之 對比之一種 料脊線1 4 漿蝕刻時, 結至碳原子 氟化。這氟 。另一方面 ,以氫氧根 別對於極性
N 之混 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -24- 經濟部智慈財產局Μ工消費合作社印製 573314 A7 ____ B7 五、發明説明(22 ) 合體加以蝕刻上面有一有機預先圖型化材料之脊線1 4的 無機基底1時,即將脊線1 4表面加以氟化,而保持基底 1表面。這特別對於非極性溶液提供濕潤度之良好對比。 爲使T F 丁中之源極與汲極電極圖型化,可將例如以 水爲基礎之P E D〇T溶液的第二標的材料溶液沈積兩次 ,源極與汲極各一次。然而,第6與7 (a)圖中所示脊 線1 4之氟表面充份爲非濕潤,使得如第7 ( b )圖中所 示,可將P E D〇T溶液之液滴2 〇只沈積一次,直接沈 積在脊線1 4上。溶液爲脊線1 4所排拒並以脊線分成躺 在基底1親水性表面上之兩部位,如第7 ( c )圖中所示 ,脊線1 4之兩邊。這第二標的材料之沈積只發生在基底 1上,未在脊線1 4上方形成一第二標的材料之橋接物, 該橋接物會在兩部位之間造成短路。因此,可非常輕易, 高度可靠地加以沈積第二標的材料。 使用上述之本發明方法可製造一種T F.T。第9圖中 表示可印刷式T F T之結構,當中可使用玻璃或塑膠基底 1。使用一種塑膠基底可得到軟性裝置。根據稍後處理期 間之抗熱與抗溶,聚醯亞胺,聚乙二醇萘醛,聚硫化乙二 醇脂,聚醚酮或聚醚硫酸皆適用作爲塑膠基底,使用習知 技術加以製成裝置。當這種習知處理溫度小於1 〇 〇它時 ,可使用較不昂貴之材料,如聚對苯二曱酸乙二醇脂,聚 甲基丙烯酸或聚碳酸鹽。在基底上,在半導體中需要對準 分子或聚合體鏈之情況中可選擇形成一對準層6 6。磨擦 過之聚醯亞胺爲普通使用爲這種對準層之一典型材料。在 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
-25- 573314 A7 B7 經濟部智慈財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(23 ) 平行於通道方向中以織紋品磨擦燻乾之聚醯亞胺層可得到 這種磨擦過之聚醯亞胺層。 在迫對準層6 6上,如第1 〇 ( a )圖中所示,利用 噴墨印刷頭,以擋水條1 6形式加以沈積第一預先圖型化 材料。這些預先圖型化擋水條1 6對於第二標的材料溶液 爲非濕潤的。在這實例中,使用一以水爲基礎之 P E D〇T溶液作爲第二材料溶液,故第一預先圖型化材 料爲疏水性的。 許多種類之碳化氫與氟化碳適於這種目的用。在這些 當中,對於均勻薄膜之形成,非極性聚合體爲適當材料。 聚苯乙烯爲一這種非極性聚合體且例如可使用甲苯或二甲 苯之0 · 1 - 4 %聚苯乙烯溶液爲第一預先圖型化材料溶 液。乾化之沈積擋水條1 6中心區厚度爲薄且圍繞邊緣具 一脊線。如以上之討論,切面外形依乾化條件而定。因以 快速乾化可得到狹窄及較高之脊線,如第1 〇 ( a )圖中 所示,N 2流即經過基底1上方且/或對基底1加熱。 爲了蝕刻中心區之薄膜,使用氧氣電漿加以蝕刻樣品 。因薄膜,範圍在5至2 0 // m之間,故蝕刻時間爲短。 例如,對一 2 0 n m厚之膜而言,蝕刻時間約5分,其中 ,氧氣壓爲2 . 5mba r而RF電力密度爲4000W / m2。蝕刻厚度(深度)大槪與蝕刻時間和R F電力密度 之乘積成正比。所需最小蝕刻厚度爲中心區之膜厚且進一 步之蝕刻可使脊線寬度變窄。由於薄膜在中心與脊線之大 厚度差使這進一步之蝕刻具合理之良好複製率:甚至當中 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) -26- 573314 A7 __B7__ 五、發明説明(24) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 心沈積厚度小於2 0 n m時,可控制脊線厚度通常大於 3 0 0 n m。這種厚度之大對比使其可能準確控制脊線寬 度。以最少之蝕刻加以移除中心區之薄膜,可得到窄如1 0至3 0 // m之脊線,而以進一步之蝕刻,可在整個基底 上輕易達到寬度3至1 5 # m之脊線。 在這階段,基底1與脊線表面爲親水性,故需以選擇 性的蝕刻或重定第一預先圖型化材料脊線之方位加以恢復 濕潤度之對比。選擇性蝕刻可使用,例如比率爲5 : 9 5 之二甲苯與異丙醇混合物。這混合物不溶解磨擦過之聚醯 亞胺對齊層6 6,但移除預先圖型化材料脊線之表面區。 在選擇性蝕刻程序後,如第1 0 ( b )圖中所示,得到預 先圖型化材料之長環型脊線1 4。 可使用各長環型脊線製造一個以上之T F T。如第 1 0 ( c )圖中之說明,沈積形成τ F T源極6 0與汲極 6 2 (見第9圖)之第二標的材料之液滴2 0,俾能沿~ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印繁 脊線形成眾多之電晶體。使用以水爲基礎之P E D〇T溶 液作爲第二標的材料。這使磨擦過之聚醯亞胺對準層6 6 表面濕潤,但爲聚苯乙烯之預先圖型化脊線1 4所排拒。 這些特性使一狹窄間隙沿著脊線1 4形成在第二標的材料 中〇 如第1 0 ( d )圖中所示,這步驟接著以一第一材料 之溶劑加以移除脊線1 4。爲了製成第9圖中所示之結構 ,然後將一半導體層6 8與一絕緣層7 0沈積在源極6 〇 與汲極6 2電極上。已知有沈積這些層膜之數種技術,包 本^張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ^〜 -27- 573314 A7 B7 經濟部智慧財產局8工消費合作社印製 五、發明説明(25 ) 含蒸發,旋轉塗覆,網幕列印及噴墨印刷。最好利用噴墨 印刷頭,噴出以水爲基礎之P E D〇T溶液,然後將閘極 電極6 4與相互連結9 0沈積在絕緣層7 0上。 閘極電極6 4與通道之對準是需要的,故應對一噴墨 頭及一基底座加以定位,俾能完成這對齊校準。因噴墨印 刷爲一非接觸性印刷技術,與其它接觸性印刷技術比較, 這種定位相當容易且準確。 因此,可得到如第1 0 ( e )圖中所示之T F 丁陣列 。甚至例如這些T F T之通道爲短(小於3 0 // m ),也 可使用一種噴墨印刷技術簡單加以達成。本發明之方法不 需光蝕刻術供預先圖型化並允許以一非常低之製造成本生 產T F T陣列。本發明之方法可生產非常大;有彈性之裝 置,他們只能相當困難地使用習知光蝕刻技術加以得到的 〇 一基底之圖型化方法及/或根據本發明一薄膜電晶體 之形成成方法最好可被應用至製造一電光裝置,一半導體 裝置及其它電子裝置。另言之,在某些種類之電光裝置中 最好能使用根據本發明之方法所製造之T F T陣列。電光 裝置最好包含一液晶裝置,一有機電致裝置,一無機電致 裝置,一場放射裝置(F D E ),一電漿裝置,一電泳裝 置,及其它顯示裝置。最好可將這些裝置應用至一顯示設 備。尤其是,最好更將這種T F T陣列應用至像素電路及 /或在以上顯示裝置中所使用之一主動矩陣式基底中所形 成之驅動電路。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) -28- 573314 A7 B7 經濟部智慧財產局a(工消費合作社印製 五、發明説明(26 ) 第1 1圖爲說明一主動矩陣式顯不裝置(或設備)之 方塊圖,該裝置包含如有機電致元件之電光元件作爲電光 裝置之一較佳實例。圖中之顯示裝置2 0 0表示眾多掃猫 線” g a t e ” ,眾多延伸在一方向之資料線” s i g ” ,該方向與當中掃瞄線” g a t e ”所延伸方向交叉,實 質上平行於資料線” s i g ”延伸之眾多共同電源供應線 ” c 〇 m ” ,以及位在形成於基底上方之資料線” s i g ”與掃瞄線” g a t e ”的交叉點之眾多像素2 Ο 1。 各像素20 1包含一第一 TFT 202,一第二 TFT 203,及一電光元件204,其中,經由掃瞄 線,保持經由第一 T F T 2 0 2,從資料線” s i g ” 所供應之影像訊號的保持電容” c a p ”將一掃瞄訊號供 應至TFT 202之閘極電極;在丁 FT 203中, 將由保持電容” c a p ”所保持之影像訊號供應至閘極電 極(一第二閘極電極);當元件2 0 4係經由第二T F 丁 2 0 3以電氣方式連接至共通電源供應源” c 〇 m ”時, 如電致元件(以阻抗表示)之電光元件2 0 4內有驅動電 流從共通之電源供應線” c 〇 m ”加以流動。掃瞄源” g a t e ”係連接至一第一驅動電路2 0 5且資料線” s i g ”係連接至一第二驅動電路2 0 6。最好在基底之 上可形成第一電路2 0 5與第二電路2 0 6中至少之一電 路,而第一TFT 202與第二TFT 203係形成 在基底之上。根據本發明之方法所製造之T F T陣列最好 可被應用至第一TFT 202與第二TFT 203陣 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ---03 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) -29- 573314 A7 B7 五、發明説明(27 ) 列中至少一陣列,第一驅動電路2 0 5及第二驅動電路 2〇6 ° (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 因此可使用本發明製造顯示器及其它裝置,該裝置包 含許多型式之設備,諸如爲例如行動電話,膝上型個人電 腦,D V D播放機,攝影機,現場設備;諸如桌上型電腦 ,C C T V或光碟專輯之可攜式顯示器;諸如車輛或飛機 儀表板之儀表;或諸如控制室設備顯示器之工業顯示器。 另言之,如以上所示,應用由根據本發明之方法所製造之 T F T陣列的電光裝置或顯示器,如以上之範圍,包含許 多型式之設備。 現在將說明使用根據本發明所製造之電光顯示裝置的 各種電子設備。 < 1 :行動電腦> 現在將說明當中應用根據以上實施例之一所製造之顯 示裝置至一行動個人電腦的一實例。 經濟部智慈財產局工消費合作社印製 第1 2圖爲一說明這個人電腦架構之等尺寸圖。在圖 中,個人電腦1 100設有一本體1 1〇4,該本體包含 一鍵盤1 102與一顯示單元1 1〇6。如上述,顯示單 元1 1 0 6係使用根據本發明所製成之一顯示面板所施行 的。 < 2 :可攜式電話> 接著,將說明當中應用顯示裝置至一可攜式電話之一 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) -30- 573314 經濟部智慈財產局員工消費合作社印紫 A7 B7五、發明説明(28) 顯示部的一實例。第1 3圖爲一說明可攜式電話架構之等 尺寸圖。圖中,可攜式電話1 2 0 〇設有眾多操作鍵 1 202,一耳機1 2 0 4,一受話機1206,及~顯 示面板1 0 0。如上述,這顯示面板1 〇 〇係使用一根據 本發明之顯示裝置所施行的。 < 3 :數位靜態相機> 接著,將說明使用一 ◦ E L顯不裝置作爲一搜景器之 數位靜態相機。第1 4圖爲一說明數位靜態相機架構並簡 要連接至外部裝置之等尺寸圖。 典型相機使用具感光塗料之感應底片並使感光塗料呈 化學變化而記錄物體之光學影像,但是,數位靜態相機 1 3 0 0以例如使用電荷耦合裝置(C C D )之光電轉換 從一物體之光學影像產生成像訊號。數位靜態相機 1 3〇0在機殼1 302背面設有一〇EL元件1 00, 根據從C C D之成像訊號加以顯像。因此,顯示面板 1 0 0作用爲顯示物體之搜景器。在機殼1 3 0 2前面( 圖中背後)設有一包含光學透鏡與C C D之驗光單元 1 3 〇 4。 當攝影者決定好〇E L元件面板1 〇 〇中所顯示之物 像並釋放快門時,即傳輸來自C C D之影像訊號並將它們 儲存在一電路板1 3 0 8中之記憶體。在數位靜態相機 1 3 0 0中,在機殻1 3 0 2之一邊上設有供資料通訊用 之視訊輸出端1 3 1 2及輸入/輸出端Γ 3 1 4。如圖中 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(21〇>< 297公釐) ~ -31 - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 573314 A7 B7 五、發明説明(29 ) 所示,如有需要,將一電視監視器1 4 3 0及一個人電腦 1 4 4 0。分別連接至視訊端1 3 1 2及輸入/輸出端 1 3 1 4。利用一假定操作將儲存在電路板1 3 0 8記憶 體中之成影訊號輸出至電視監視器1 4 3 0與個人電腦 1 4 4 0° 除第1 2圖中所示之個人電腦外之電子設備實例,第 13圖中所示之可攜式電話,及第14圖中所示之數位靜 態相機包含◦ E L元件電視機,搜景式及監視式錄影機, 汽車導航系統,呼叫器,筆記型電腦,可攜式計算器,文 書處理器,工作站,T V電話,銷售點系統(P 0 S )終 端機,及設有觸摸面板之裝置。當然,以上OEL裝置不 只可被應用在這些電子設備之顯示部而且可被應用在包含 一顯示部之其它形式設備。 而且,根據本發明所製成之顯示裝置亦適於非常薄, 軟性且量輕之大銀幕型電視。因此可能將這種大型電視貼 掛在牆上。當不用時如有需要可將這軟性電視方便地捲起 來。 只利用實例已完成前項說明並將認知到對於一精於本 技術之個人而言,只要不偏離本發明之範圍,皆可作修飾 。例如,一精於本技術之個人將認知到可個別及一起選擇 基底,預先圖型化材料,與標的材料之廣泛種類與各種組 合。此外,將認知的是可使用各種形狀,尺寸及預先圖型 化材料之圖型。例如將更認知到的是,不管使用對於第二 標的材料爲濕潤之第一預先圖型化材料之單一線,或使用 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慈財產局員工消費合作社印製 -32- 573314 A7 B7五、發明説明(30)對於第二標的材料爲非濕潤之第一預先圖型化材料之兩條 線,可設置連結在任一邊上之一第二標的材料之選取線。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
、1T .Μ. 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X 297公釐) -33-

Claims (1)

  1. 573314 其中,該蝕刻爲 其中,該蝕刻.更 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 rA8 B8 C8 D8 「、申請專利範圍1 Ρίί件2:第911〇4494號專利申請案 中文申請專利範圍無劃線替換本 民國92年9月22日修正 1.一種基底之圖型化方法,方法包含: 將一第一材料溶液沈.積在基底上,其中,選取第一材 料之溶液,使得在基底上乾化之第一材料外形包含一脊; 鈾刻加以移除第一材料的部份,使第一材料之脊保持 在基底上;以及 將一第二材料溶液沈積在或接鄰第一材料之脊。 2 ·如申請專利範圍第1項之方法,其中,對於第二 材料溶液,第一材料之蝕刻脊的濕潤特性異於基底。 3 ·如申請專利範圍第丨項之方法,其中,對於第二 材料溶液,第一材料之濕潤特性異於基底。 4 _如申請專利範圍第χ項之方法 使用一種惰性氣體之乾式蝕刻。 5 ·如申請專利範圍第1項之方法 包含調整第一材料與基底對於第二材料溶液之濕潤特性。. 6.如申請專利範圍第5項之方法,其中,該蝕刻包 含用以移除第一材料,因此,用以調整第〜材料與基底濕 潤特性之第一蝕刻步驟,以及一調整第一材料濕潤特性之 第二步驟。 7 ·如申請專利範圍第6項之方法,其中,第一蝕刻 步驟包含乾式蝕刻。 表紙張尺度適用中國國家樣準(CNS ) Α4· ( 21()><297公釐) (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁)
    573314 A8 B8 C8 D8 2 申請專利範圍 8 ·如申請專利範圍第7項之方法,其中,第一蝕刻 步驟用使用氧氣電漿。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 9 ·如申請專利範圍第6項之方法,其中,在該沈積 $ ~材料溶液前,更包含增進基底對於第一材料之濕潤特 性。 1 0 ·如申請專利範.圍第6項之方法,其中,第二步 驟使用一第一材料之稀釋溶劑。 1 1 ·如申g靑專利範圍第6項之方法,其中,第二步 驟使用氣相之第一材料溶劑。 1 2 ·如申請專利範圍第i 〇項之方法,其中,第一 材料包含一非極性聚合體且溶劑包含芳香族及/或碳氫化 氯。 1 3 ·如申請專利範圍第1 2項之方法,其中,溶劑 包含甲苯及/或二甲苯。 1 4 ·如申請專利範圍第1 2項之方法,其中,第二 步驟亦使用酒精及/或碳氫化脂。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1 5 ·如申請專利範圍第1 4項之方法,其中,該.酒 精及/或碳氫化脂包含異丙醇。 1 6 .如申請專利範圍第5項之方法,其中,該蝕刻 包含使用氟化碳原子與另一種氣體之混合體的電漿蝕刻法 〇 1 7 ·如申請專利範圍第1 6項之方法,其中,該另 一種氣體包含氧氣。 1 8 ·如申請專利範圍第1 6項之方法,其中,該另 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 2- 573314 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍3 一種氣體包含一種惰性氣體。 1 9 ·如申請專利範圍第1項之方法,其中,選取基 底與第一材料溶液,使得沿所沈積之第~材料四周形成該 脊。 2 0 ·如申請專利範圍第1 9項之方法,其中,四周 包含至少一大體上爲直線部位。 2 1 ·如申請專利範圍第2 0項之方法,其中,四周 包含有兩部位大體上爲直線之長橢圓或長圓形。 2 2 .如申請專利範圍第2 0項之方法,其中,將第 二材料沈積在或只接鄰該至少一直線部位。 2 3 ·如申請專利範圍第2 1項之方法,其中,將第 二材料沈積在或接鄰兩大體上爲直線之部位。 2 4 ·如申請專利範圍第1項之方法,其中,選取性 地控制第一材料溶液濃度,俾能選取性地控制在基底上所 乾化之第一材料的外形。 2 5 ·如申請專利範圍第1項之方法,包含選取第一 材*料溶劑之粘度,俾能選取性地控制在基底上所乾化之.第 一材料之外形。 2 6 ·如申請專利範圍第2 5項之方法,其中,選取 粘度爲小於約1 〇 c p S且最好爲小於4 C P S。 2 7 ·如申請專利範圍第2 5項之方法,包含選取溶 劑之揮發度,俾能選取性地控制在基底上所乾化之第一材 料的外形。 2 8 ·如申請專利範圍第2 7項之方法,其中,選取 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS ) a4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
    -3- 573314 A8 Βδ C8 •_ —___D8_____ 六、申請專利範圍 4 溶劑之沸點爲小於約6 0 °C且最好爲小於約1 2 0 t。 2 9 ·如申請專利範圍第1項之方法,在該沈積第〜 材料溶液後且該蝕刻前,更包含使一氣流通過基底之上, 使第一材料溶液乾化。 3 0 ·如申請專利範圍第2 9項之方法,其中,設有 氣流作爲一單向流。 3 1 ·如申請專利範圍第2 9項之方法,其中,對氣 流加以加熱。 3 2 ·如申請專利範圍第1項之方法,在該沈積第^ 材料溶液後且該蝕刻前,更包含對基底加熱,使第~材半斗 溶液乾化。 3 3 ·如申請專利範圍第3 2項之方法,其中,對基 底加熱至從約4 0 t至約1 5 0 °C之溫度範圍。 3 4 .如申請專利範圍第1項之方法,其中,蝕刻後 ,脊對於第二材料溶液比基底更加濕潤,使得第二材料在 脊上乾化。 3 5 ·如申請專利範圍第1項之方法,其中,飽刻後 ,基底對於第二材料溶液比脊更加濕潤,使得第二材料大 體上只在接鄰脊之基底上加以乾化。 3 6 .如申請專利範圍第3 5項之方法,其中,第— 材料溶液係沈積在脊之接鄰任一邊。 3 7 .如申請專利範圍第3 6項之方法,其中,第— 材料丨谷液係沈積在脊上,使得弟一'材料在脊之接鄰任〜、、息 加以乾化。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
    一 4· 573314 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍5 3 8 ·如申請專利範圍第3 5項之方法,其中,選取 第一材料溶液,使得在基底上所乾化之第二材料外形爲台 面型。 3 9 ·如申請專利範圍第3 5項之方法,其中,第一 材料爲一非極性聚合體且第二材料溶液爲一種以水爲基礎 之PEDOT溶液。 4 0 .如申請專利範圍第3 9項之方法,其中,選取 分子量小於約Γ 0 0,0 0 0之非極性聚合體。 4 1 ·如申請專利範圍第3 9項之方法,其中,第一 材料包含芳香族及/或烷基族且不包含氫氧根,二氮化合 物或任何酸性族。 4 2 .如申請專利範圍第4 1項之方法,其中,第一 材料爲聚苯乙烯或聚乙烯。 4 3 .如申請專利範圍第3 5項之方法,更包含從基 底移除脊之一項步驟。 4 4 · 一種形成一薄膜電晶體之方法,包含如申請專 利車S圍桌4 3項之方法,其中,第一材料形成之間有一間 隙之源極與汲極,該方法更包含: 在整個第二材料與基底之上沈積一半導體層; 在整個半導體層上沈積一絕緣層;以及 在整個間隙設有一閘極電極。 4 5 .如申請專利範圍第4 4項之方法,其中,基底 包含一上面有沈積第一材料之對準層。 4 6 ·如申請專利範圍第4 5項之方法,其中,對準 本紙張尺度適用中國國冢標準(CNS ) A4現格(210X297公釐) ^-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 、1T 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -5- 573314 A8 B8 C8 D8 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 6 層有刷印聚醯亞胺。 4 7 .如申請專利範圍第4 4項之方法,其中使用 一噴墨印刷頭加以沈積半導體層,絕緣層與閘極電極中至 少一項° 4 8 _如申請專利範圍第4 7項之方法,其中,相對 於基底移動噴墨印刷頭,用以沈積半導體層,絕緣層與聞 極電極中之該至少一項。 4 9 .如申請專利範圍第1項之方法,其中,使用一 噴墨印刷頭加以沈積第一材料溶液與第二材料溶液中至少 一項。 5 0 ·如申請專利範圍第4 9項之方法,其中,相對 於基底移動噴墨印刷頭,用以沈積第一材料溶液與第二材 料溶液中之該至少一項。 5 1 ·如申請專利範圍第1項之方法,其中,選取包 含玻璃或塑膠之基底。 5 2 ·如申請專利範圍第1項之方法,其中,選取包 含一種柔性材料之基底。 53.—種電子裝置,包括: 基底;及 薄膜電晶體,形成於該基底上, 其中,該基底係以下述步驟圖型化; 將第一材料溶液沈積在基底上,其中,選取一材 料之溶液,使得在基底上乾化之第一材料外形包含一脊; 飽刻移除第一材料的部份,使第一材料之脊保持 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝· 訂 線 本紙張尺度適用中國國家糅準(CMS ) A4規格(210X 297公釐) -6- 573314 A8 B8 C8 D8 、申請專利範圍7 在基底上;以及 將第二材料溶液沈積在或接鄰第一材料之脊 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4说格(210X 297公釐)
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