KR970062716A - Cmos 직접회로 고장 검출 시스템 - Google Patents

Cmos 직접회로 고장 검출 시스템 Download PDF

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Abstract

간략 시스템으로 CMOS집적회로의 급속 검출이 실현된다.테스터(1)는 테스터 중에 테스터 패턴을 CMOS집적회로(4)에 반복적으로 인가하고, 전원 유닛(5)은 전류 검출기(6)를 통해 CMOS집적회로(4)에 전류를 공급한다. 전류 검출기(6)는 파워 스팩트럼을 유출하기 위해서 증폭기(7)를 통해 파워 스팩트럼 분석기(8)에 연결된 검출 신호를 출력한다. CMOS집적회로(4)가 고장난 경우,트랜지스터 스위칭 전류로부터 분리 설정된 정적 전원 전류를 매(NT+T)초마다 테스트 패턴에 있는 일정한 서브 패턴에 발생한다. 판정부(9)는 1/(NT+T)의 아웃하는 검출신호의 파워를 검출하고 따라서 정적 전류를 판정한다. 즉, 테스트 중인 CMOS집적회로(4)에서 고장을 판정한다.

Description

CMOS 집적회로 고장 검출 시스템
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 실시예에 따른 시스템을 도시한 블럭도.

Claims (13)

  1. 테스트 패턴을 인가함으로서 동작하게 될 때, CMOS집적 회로에서 발생된 전원전류에서, 트랜지스터 전환 전류이외의 정적인 전류를 관찰함으로써 CMOS집적회로에서 고장을 검출하는 시스템으로서, 테스트하에 있는 상기 CMOS 직접회로에 테스트 페턴을 반복적으로 인가하는 수단과, COMS직접 회로에 공급된 상기 전원 전류룰 검출하는 전류 검출 수단과, 상기 전류 검출 수단으로서 검출된 상기 전원 전류의 파워 스펙트럼을 구하는 수단으로 이루어지며, 테스트하에 있는 상기 COMS직접회로는 소정 주파수 밴드에 대한 상기 전원 전류 파워 스펙트럼에서의 파워 크기에 의하여 고장이 검사되는 것을 특징으로 하는 COMS고장 검출 시스템.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 테스트 패턴은 T초의 주기를 가가 갖는 N 서브-패턴으로 이루어지며, 상기 테스트하에 있는 COMS집적회로는 1/(NT+T)〔Hz〕근처에서 상기 전원 전류 파워 스펙트럼에서의 파워 크기에 의하여 고장이 검사되고, 상기 전원 전류 파워 스펙트럼은 (TT+T)초의 반복 주기로 테스트하에 있는 상기 COMS직접회로에 상기 테스트 패턴을 반복적으로 인가함으로써 COMS직접 회로로부터 얻어지는 것을 특징으로 하는 COMS직접 회로 고장 검출 방법.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 테스트 패턴은 T초의 주기를 각각 갖는 N서브패턴으로 이루어지며, 상기 테스트하에 있는 COMS직접 회로는 1/(NT+N)〔Hz〕의 근처에서 상기 전원 전류 파워 스펙트럼에서의 파워 크기에 의하여 고장이 검사되고,상기 전원 전류 파워 스텍트럼은 TN초의 반복 주기로 테스트하에 있는 상기 COMS직접회로에 상기 테스트 패턴을 반복적으로 인가함으로써 COMS 직접회로로부터 얻어지는 것을 특징으로 하는 COMS직접 회로 고장 검출 방법.
  4. 테스트 패턴을 인가함으로서 동작하게 될 때, COMS집적회로에서 발생되는 전원전류에서, 프랜지스터 전환 전류이외의 정적인 전류를 관찰함으로써 COMS집적회로에서 고장을 검출하는 시스템으로, 테스트하에 있는 상기 COMS집적 회로에 상기 테스트 패턴을 인가하는 테스터와, 상기 테스트 패텬의 데이타가 저장되는 테스트 패턴 저장수단과, 페스터의 구동력을 조절하는 프로그램이 저장되어 프로그램 저장수단과, 테스트하에 있는 상기 COMS집적 회로에 전원을 공급하는 전원 유닛과,테스트하에 있는 상기 전원 공급 장치로부터 상기 COMS집적 회로에 공급된 전원 전류 검출을 하기는 전류 검출기와, 상기 전류 검출유닛으로부터의 검출 신호를 증폭하는 증폭기와 각각의 주파수 밴드에 대해 증폭된 검출 신호의 전원을 구하는 전원 스펙트럼 분석 수단과, 각각의 주파수 밴드에 대해 필터 후 증폭된 검출 신호 파원의 크기를 검출하고 소정 주파수 밴드에서 검출된 전원의 크기에 의거하여 고장에 대해 상기 COMS집적회로를 검사하는 검사수단을 갖는 것을 특징으로 하는 COMS집적회로에서의 고장 검출 시스템.
  5. 제4항에 있어서, 상기 테스트 패턴은 T초의 주기를 각각 갖는 N 서브-패턴으로 이루어지며, 상기 테스
    트 패턴은 (NT+T )초의 반복 주기로 테스트하에 있는 상기COMS집적회로에 반복적으로 인가되며, 상기 판정수단은 1/(NT+N)〔Hz〕의 근처에서 상기 검출 신호에 전원 크기에 의거하여 테스트하에 있는 상기 COMS집적회로의 고장을 검사하는 것을 특징으로 하는 COMS집적회로에서의 고장 검출 시스템.
  6. 제4항에 있어서, 상기 테스트 패턴은 T초의 주기를 각각 갖는 N 서브-패턴으로 이루어지고,상기 테스트 패턴은 NT초의 반복 사이클로 테스트하에 있는 상기 COMS집적회로에 반복적으로 인가되고, 상기 판정 수단은 1/(NT+N)〔Hz〕의 근처에서 상기 검출 신호의 전원 크기에 의거하여 테스트하에 있는 상기COMS집적회로의 고장을 검사하는 것을 특징으로 하는 COMS집적회로에서의 고장 검출 시스템.
  7. 제4항에 있어서, 상기 전류 검출기는 전류 검출 레지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 COMS집적 회로 고장 검출 시스템.
  8. 제4항에 있어서, 상기 전류 검출기는 전류 검출 레지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 COMS집적 회로 고장 검출 시스템.
  9. 제6항에 있어서, 상기 전류 검출기는 전류 검출 레지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 COMS집적 회로 고장 검출 시스템.
  10. 제4항에 있어서, 파워 스팩트럼 분석 수단 대신에 특정 주파수 밴드만 통과시키는밴드 패스필터가 사용되고, 상기 판정수단은 밴드 패스 필터를 통과한 검출신호의 파워에 의거하여 테스트 하에 있는 COMS집적 회로 고장을 검사하는 것을 특징으로 하는 COMS집적 회로 고장 검출 시스템.
  11. 제4항에 있어서, 하워 스팩트럼 분석 수단 대신에 소정 주파수 미만의 대역만 통과시키는 로우 패스 필터가 사용되고, 상기 판정수단은 로우 패스 필터를 통과한 검출신호의 파워에 의거하여 테스트 하에 있는 COMS집적 회로의 고장을 검사하는 것을 특징으로 하는 COMS집적 회로 고장 검출 시스템.
  12. 제10항에 있어서, 테스트 패턴은 T초의 주기를 갖는 N 서브-패턴 직각으로 이루어지고, (NT+T0)초의 반복 인가 주기로 테스트 하에 있는 COMS집적 회로에 반복적으로 인가되며, 밴드 패스 필터는 1/(NT+N0)〔Hz〕의 근방 주파수 대역만 통과시키는 것을 특징으로 하는 COMS집적 회로 고장 검출 시스템.
  13. 제11항에 있어서, 테스트 패턴은 T초의 주기를 갖는 N 서브-패턴 직각으로 이루어지고, (NT+T0)초의 반복 인가 주기로 테스트 하에 있는 COMS집적 회로에 반복적으로 인가되며, 밴드 패스 필터는 1/(NT+N0)〔Hz〕의 근방 주파수 대역만 통과시키는 것을 특징으로 하는 COMS집적 회로 고장 검출 시스템.
    ※참고사항:최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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