KR20070096020A - 카메라 디바이스, 카메라 디바이스 제조 방법, 웨이퍼스케일 패키지 및 광학 어셈블리 - Google Patents

카메라 디바이스, 카메라 디바이스 제조 방법, 웨이퍼스케일 패키지 및 광학 어셈블리 Download PDF

Info

Publication number
KR20070096020A
KR20070096020A KR1020077018578A KR20077018578A KR20070096020A KR 20070096020 A KR20070096020 A KR 20070096020A KR 1020077018578 A KR1020077018578 A KR 1020077018578A KR 20077018578 A KR20077018578 A KR 20077018578A KR 20070096020 A KR20070096020 A KR 20070096020A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
lens
substrate
spacer
image capture
camera device
Prior art date
Application number
KR1020077018578A
Other languages
English (en)
Inventor
에드윈 엠 볼테링크
제라르더스 엠 도흐멘
알로이시우스 에프 엠 산데르
데르 시즈데 아르젠 지 반
브루인 린데르트 드
에릭 에이치 그루트
아렌돈크 안톤 피 엠 반
Original Assignee
앤터온 비.브이.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 앤터온 비.브이. filed Critical 앤터온 비.브이.
Publication of KR20070096020A publication Critical patent/KR20070096020A/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B13/00Optical objectives specially designed for the purposes specified below
    • G02B13/001Miniaturised objectives for electronic devices, e.g. portable telephones, webcams, PDAs, small digital cameras
    • G02B13/0055Miniaturised objectives for electronic devices, e.g. portable telephones, webcams, PDAs, small digital cameras employing a special optical element
    • G02B13/006Miniaturised objectives for electronic devices, e.g. portable telephones, webcams, PDAs, small digital cameras employing a special optical element at least one element being a compound optical element, e.g. cemented elements
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/50Constructional details
    • H04N23/55Optical parts specially adapted for electronic image sensors; Mounting thereof
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B13/00Optical objectives specially designed for the purposes specified below
    • G02B13/001Miniaturised objectives for electronic devices, e.g. portable telephones, webcams, PDAs, small digital cameras
    • G02B13/0085Miniaturised objectives for electronic devices, e.g. portable telephones, webcams, PDAs, small digital cameras employing wafer level optics
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14618Containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14625Optical elements or arrangements associated with the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14625Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L27/14627Microlenses
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B13/00Optical objectives specially designed for the purposes specified below
    • G02B13/001Miniaturised objectives for electronic devices, e.g. portable telephones, webcams, PDAs, small digital cameras
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/57Mechanical or electrical details of cameras or camera modules specially adapted for being embedded in other devices

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Lens Barrels (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Blocking Light For Cameras (AREA)

Abstract

본 발명은 카메라 디바이스 및 이러한 디바이스를 제조하는 방법에 관련된다. 카메라 디바이스는 화상 캡처 소자(image capturing element)와, 화상 캡처 소자 상에 객체를 투사하는 렌즈 소자와, 렌즈와 화상 캡처 소자를 통과하는 주 광학 축을 따라서 사전 결정된 거리를 유지하는 스페이서 수단(spacer means)과, 렌즈를 지지하는 렌즈 기판을 포함하고, 스페이서 수단은 접착층(adhesive layer)을 포함한다. 이는 대량 생산 공정을 가능하게 하고, 여기에서 개별 카메라 소자의 부분들은 서로 다른 기판 상에 다양하게 제조될 수 있고, 그 이후에 접착층을 이용하여 서로 다른 기판을 적층하고, 정렬하며, 결합시킨다. 제조 공정 동안에, 플레이트와 웨이퍼 사이의 서로 다른 거리는 접착층을 포함하는 스페이서 수단에 의해 조정되고 유지된다. 이러한 스택으로부터, 개별 카메라 디바이스를 잘라낸다.

Description

카메라 디바이스, 카메라 디바이스 제조 방법, 웨이퍼 스케일 패키지 및 광학 어셈블리{CAMERA DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING A CAMERA DEVICE, WAFER SCALE PACKAGE}
본 발명은 화상 캡처 소자(image capturing element)와, 화상 캡처 소자 상에 객체를 투사하는 렌즈 소자와, 렌즈와 화상 캡처 소자 사이에 사전 결정된 거리를 유지하는 스페이서 수단(spacer means)과, 렌즈를 지지하는 렌즈 기판을 포함하는 카메라 디바이스에 관한 것이다.
또한, 본 발명은 카메라 디바이스의 제조 방법과, 복수의 화상 캡처 소자를 구비한 베이스 기판을 포함하는 웨이퍼 스케일 패키지와, 카메라 디바이스의 제조 공정에서 사용되는 광학 어셈블리(optical assembly)에도 관련된다.
이러한 타입의 카메라 디바이스는, 예를 들면 이동 전화, PDA(personal digital assistants) 및 랩탑 컴퓨터 등과 같은 소형 휴대용 디바이스에서 사용된다.
도입 단락에서 언급된 바와 같은 카메라 디바이스는 일본 특허 공개 번호제 JP-2002/139662 호에 개시되어 있다. 공지된 카메라 디바이스는 기판 상에 탑재된 화상 픽업 소자(image pick-up element)와, 하나 이상의 렌즈를 지지하는 렌즈 지지대(lens support)를 포함한다. 렌즈 지지대는 렌즈와 함께 결합되어 형성되고, 화상 픽업 소자에 대해 고정되어, 렌즈 지지대는 화상 픽업 소자 상의 렌즈를 통과하는 주 광학 축의 방향 내에서 정확한 위치에 맞춰질 수 있다. 제조 공정 동안에, 개별 화상 픽업 소자, 렌즈 지지대 및 렌즈는 적층되고 서로 접합된다. 화상 픽업 소자 상에서 객체에 대한 고품질의 화상을 획득하기 위해서, 주 광학 축의 방향에서 렌즈 지지대의 치수(dimesnsion)는 매우 정확해야 한다. 또한, 이러한 부품을 서로에 대해 위치시키는 것도 정확해야 한다.
공지된 카메라 디바이스의 단점은, 제조 공정 각각의 렌즈 지지대에 대한 제조 공정이 각각의 카메라 디바이스 내에서 화상 픽업 소자에 대해 별도로 조정되어야 하고, 따라서 높은 위치 정확도를 유지하면서 효율적인 대량 생산 공정으로 공지된 카메라 디바이스를 제조할 가능성이 희박하다는 것이다.
특히 본 발명의 목적은, 도입 단락에서 언급된 타입을 가지고, 높은 위치 정확도를 갖는 효율적인 대량 제조 공정의 증가된 가능성을 제공하는 카메라 디바이스를 제공하는 것이다.
이를 위하여, 본 발명은 도입 단락에서 정의된 바와 같이, 스페이서 수단이 접착층을 포함한다는 것을 특징으로 하는 카메라 디바이스를 제공한다.
이러한 구성에서, 렌즈 소자와, 접착층을 포함하는 스페이서 수단을 포함하는 렌즈 기판은 렌즈 소자 및 화상 캡처 소자를 통과하는 주 광학 축을 따라서 위치되고 정렬될 수 있고, 그 이후에 렌즈 소자와 화상 캡처 디바이스 사이에 사전 결정된 거리가 설정된다. 접착층을 경화시킨 후에, 이러한 사전 결정된 거리는 스페이서 수단에 의해 유지된다. 이러한 구성은 대량 제조를 위한 증가된 가능성을 제공하는데, 여기에서 복수의 화상 캡처 소자, 렌즈 소자 및 스페이서 수단은 촬상 소자(imaging elements) 및 렌즈 기판을 각각 포함하는 하나의 베이스 기판 상에 제조될 수 있고, 이것으로 인해 베이스 기판 및 렌즈 기판은 높은 정확도로 적층되고 접합되며, 개별 카메라 디바이스는 이러한 스택으로부터 분리된다. 접착층의 경화는 자외선 경화 가능형 접착(ultra-violet curable adhesive)의 경우에는 UV 조사에 의해서 수행되고, 열 경화성 접착(thermo-hardening adhesive)의 경우에는 접착층에 의해 수행될 수 있다.
미국 특허 제 6,285,064 호는 고체 상태 화상 센서 집적 회로(solid state image sensor integrated circuits)를 위한 웨이퍼 스케일 패키지에 관해 개시하는 데, 여기에서 마이크로 렌즈의 어레이는 그 위에 화상 센서가 형성되어 있는 웨이퍼 상에 배치된다. 접착 매트릭스(adhesive matrix)는 웨이퍼의 상부에 위치된다. 접착 매트릭스는 웨이퍼 상의 마이크로 렌즈 어레이와 정렬된 개구(opening)를 구비한다. 다음에 덮개 유리(cover glass)가 접착 매트릭스 위에 피복되고, 접착 매트릭스는 웨이퍼에 대한 덮개 유리를 고정시키도록 활성화된다. 접착 매트릭스는 마이크로 렌즈가 위치된 부분 위에 개구를 갖기 때문에, 렌즈의 왜곡 또는 수축 효과가 방지된다.
본 발명의 다른 목적은 카메라 디바이스에 대한 효율적인 대량 생산 공정 방법을 제공하는 것이다. 이러한 목적은 카메라 디바이스의 제조 방법에 의해 달성될 수 있는데, 이 방법은, 복수의 렌즈 소자와 접착층을 포함하는 렌즈 기판을 제공하는 단계와, 렌즈 기판과, 복수의 화상 캡처 소자를 포함하는 베이스 기판(base substrate)을 적층하는 단계와, 각각의 렌즈 소자 및 그와 연관된 화상 캡처 소자를 통과하는 주 광학 축을 따라서 렌즈 기판 및 베이스 기판을 정렬하는 단계와, 렌즈 소자 및 그와 연관된 화상 캡처 소자를 통과하는 주 광학 축을 따라서 렌즈 소자와 그와 연관된 화상 캡처 소자 사이의 거리를 설정하는 단계와, 접착층을 경화하는 단계와, 카메라 디바이스를 렌즈 기판 및 베이스 기판으로 이루어진 스택으로부터 분리하는 단계를 포함한다.
이러한 공정에서, 카메라 디바이스는 복수의 렌즈 소자를 포함하는 렌즈 기판과, 스페이서 기판의 형태를 갖는 스페이서 수단과, 복수의 화상 캡처 소자를 포함하는 베이스 기판을 적층시키는 것에 의해 제조된다. 각종 기판 사이에서 개별 렌즈 소자 및 그와 연관된 화상 캡처 소자를 통과하는 광학 축을 따라서 사전 결정된 거리는 기판들을 적층한 후에 정확하게 조정될 수 있고, 서로 다른 기판들 간에 접착층을 경화시키는 것에 의해 유지될 수 있다. 스택을 완성한 후, 개별 카메라 디바이스는 스택으로부터 분리된다. 이러한 공정은 이동 전화기 및 PDA(personal digital assistants) 등과 같은 소형 전자 장치에서 사용하기에 적합한 비교적 저렴한 카메라 디바이스를 획득할 수 있게 한다.
본 발명의 다른 목적은 카메라 디바이스를 효과적으로 대량 생산할 수 있게 하는 웨이퍼 스케일 패키지를 제공하는 것이다. 이러한 목적은 웨이퍼 스케일 패키지에 의해 달성될 수 있는데, 이러한 웨이퍼 스케일 패키지는 복수의 화상 캡처 소자를 구비하는 베이스 기판과, 각각의 화상 캡처 소자와 연관된 복수의 렌즈 소자를 구비하는 렌즈 기판과, 렌즈 기판과 베이스 기판 사이에 사전 결정된 거리를 유지하는 스페이서 수단을 포함하고, 베이스 기판에 대한 렌즈 기판의 위치는 접착층에 의해 고정된다.
이러한 웨이퍼 스케일 패키지에서, 렌즈는 미리 대응하는 화상 캡처 소자에 대해 정렬되어 있고, 렌즈와 대응하는 화상 캡처 소자 사이의 거리는 정확하게 조정되어 있다. 이러한 방식으로, 대응하는 개별 화상 캡처 소자에 대해 개별 렌즈 소자를 위치시킬 필요성이 없어지고, 그것으로 인해 카메라 디바이스의 제조가 단순해진다.
본 발명의 다른 목적은 카메라 디바이스를 효과적으로 대량 생산할 수 있게 하는 광학 어셈블리를 제공하는 것이다. 이러한 목적은 본 발명에 따른 카메라 디 바이스의 제조 공정에서 사용되는 광학 어셈블리에 의해 달성되는데, 이 광학 어셈블리는 복수의 렌즈 소자를 구비한 렌즈 기판을 포함하는 것을 특징으로 한다.
광학 어셈블리와, 복수의 렌즈 소자에 대응하는 화상 캡처 소자를 포함하는 베이스 기판을 적층하는 것에 의해서, 모든 렌즈 소자에서 동시적으로 렌즈 소자를 화상 캡처 소자에 대해 위치시킬 수 있다. 이러한 방식으로 이후의 생산 단계에서 위치 개별 렌즈 소자를 개별 화상 캡처 소자에 대해 위치시킬 필요가 없어진다.
바람직하게는, 광학 어셈블리는 화상 캡처 소자를 포함하는 베이스 기판의 면적 크기에 대응하는 면적 크기를 갖는다.
실시예에서, 접착층은 자외선 경화 수지 또는 열 경화성 수지를 포함한다.
다른 실시예에서, 접착층은 스페이서 수단 상에서 상기 렌즈 소자의 주 광학 축에 대해 동축(coaxially)으로 위치된 홀의 투사 부분 외부의 테두리 형상을 갖는다. 이러한 방식으로, 렌즈 소자와 화상 캡처 소자 사이의 광학 경로 내에는 접착 재료가 존재하지 않는다.
다른 실시예에서, 스페이서 수단은 덮개 기판(cover substrate) 및 스페이서 기판을 포함한다. 덮개 기판은 후속 제조 공정 단계 동안에 화상 캡처 소자의 손상을 방지한다.
다른 실시예에서, 스페이서 기판은 렌즈 소자의 주 광학 축에 대해 동축으로 위치된 홀을 포함하고, 홀의 측면은 반사 방지층(anti-reflection layer)을 구비한다. 이러한 구성은 카메라 디바이스 내의 반사를 감소시키고, 그에 따라서 그 성능을 강화시킨다.
다른 실시예에서, 접착층은 화상 캡처 소자와 스페이서 기판 사이 및 스페이서 기판과 덮개 기판 사이에 제공될 수 있다. 이러한 구성은 각각의 별도의 적층 단계 후에 정확한 조정을 가능하게 한다.
다른 실시예에서, 렌즈 소자는 레플리케이션 타입(replication type)을 갖는다. 이러한 레플리케이션 타입 렌즈는 저렴한 비용으로 고 품질의 렌즈를 제조할 수 있게 한다. 레플리케이션 타입 렌즈를 제조하기에 적합한 재료로는 원칙적으로 중합화(polymerized)될 수 있는 그룹을 갖는 모든 모노머(monomers)가 해당된다.
다른 실시예에서, 렌즈 소자는 렌즈 기판 내에서 볼록부(convexity)로서 형성된다. 이는 렌즈 소자의 제조를 단순화한다.
다른 실시예에서, 렌즈 소자는 렌즈 기판 내에서 오목부(concavity)로서 형성된다. 이러한 구성에서, 렌즈 기판은 스페이서 수단의 일부분일 수 있다. 이러한 방식으로, 별도의 스페이서 기판의 도입으로 제조 공정의 복잡도를 증가시키지 않으면서, 렌즈 기판의 두께를 증가시키는 것에 의해 렌즈와 화상 캡처 소자 사이에 더 큰 거리를 획득할 수 있다.
다른 실시예에서, 렌즈 기판은 스루 홀(through hole)을 구비하고, 렌즈 소자가 이러한 스루 홀 내에 위치된다. 이러한 방식으로 렌즈의 형상 및 렌즈와 화상 캡처 소자 사이의 거리에 있어서 보다 융통성을 제공할 수 있다.
다른 실시예에서, 렌즈 기판은 적외선 반사층을 구비한다. 고체 상태 화상 캡처 소자는 적외선 조사에 민감하다. 스펙트럼에서 이러한 적외선 범위를 제외함으로써, 적외선 조사에 대한 카메라 디바이스의 민감도가 감소된다.
다른 실시예에서, 렌즈 기판은 반사 방지층(anti-reflection layer)을 구비한다. 이러한 구성은 카메라 디바이스 내 반사를 방지한다.
본 발명의 이러한 측면 및 다른 측면은 이하에 설명된 실시예를 참조함으로써 명확해지고 분명해질 것이다.
도면은 개략적으로 도시되었고, 실제 축적대로 도시되지 않았으며, 일반적으로 동일한 참조 부호는 동일한 부분을 지칭하도록 도시되었다.
도 1은 카메라 디바이스의 제 1 실시예를 개략적으로 도시한다. 카메라 디바이스(101)는 화상 캡처 소자(103)와, 화상 캡처 소자에 접착된 마이크로 스페이서 플레이트(105)와, 마이크로 스페이서 플레이트(105)에 접착된 커버 플레이트(107)와, 렌즈(111)를 구비하는 렌즈 기판(109)을 포함한다. 화상 캡처 소자는 CCD(Charge Coupled imaging Device)이거나 CMOS 이미징 디바이스이다. 일반적으로, 이러한 화상 캡처 소자는 고체 상태 화상 센서(solid-state image sensor : SSIS)로 지칭된다. 마이크로 스페이서 플레이트(105)는 렌즈 소자(111)로부터 화상 캡처 소자(103)까지 화상을 형성하는 광선이 통과할 수 있게 하는 홀(hole)을 구비한다. 바람직하게는, 적외선 반사 코팅(119)이 렌즈 기판(109)과 커버 플레이트(107) 사이에 제공되고, 반사 방지 코팅(121)은 렌즈 기판(109)과 렌즈 소자(111) 위에 제공된다. 대략 10㎛ 두께의 제 1 접착층(113)은 마이크로 스페이서 플레이트(105)와 화상 캡처 소자(103) 사이에 존재한다. 대략 100㎛ 두께의 제 2 접착층(115)은 커버 플레이트(107)와 마이크로 스페이서 플레이트(105) 사이에 존재하고, 대략 10㎛ 두께의 제 3 접착층(117)은 렌즈 기판(109)과 커버 플레이트(107) 사이에 존재한다. 바람직하게는, 접착층(113, 115, 117)이 테두리 형상을 갖는데, 다시 말해서 접착 재료는 마이크로 스페이서 플레이트(105) 및 커버 플레이트(107)의 표면 상에 있는 렌즈 소자(111)의 볼록부의 원주와 일치하는 영역 외부에 존재하는 테두리 형상을 갖는다.
마이크로 스페이서 플레이트(105)의 두께는 예를 들면 0.4㎜ 등일 수 있다. 커버 플레이트의 두께는 0.4㎜이고, 렌즈 기판 플레이트의 두께는 예를 들면 0.4㎜일 수 있다. 각각의 접착층(113, 115, 117)은 각종 플레이트들 사이의 거리를 전형적으로 5㎛의 정확도를 가지고 사전 결정된 거리로 유지한다. 카메라 디바이스(101)에서, 스페이서 수단은 그에 따라 마이크로 스페이서 플레이트(105), 커버 플레이트(107) 및 접착층(113, 115, 117)에 의해 형성된다.
화상 캡처 소자(103) 상에서의 고스트 이미지(ghost imaging)를 방지하기 위해서, 마이크로 스페이서 플레이트(105)의 측벽에 반사 방지층을 제공하여, 카메라 디바이스(101) 내에서 광의 원치 않는 반사를 방지하는 것이 유리할 것이다. 이러한 반사 방지층은, 예를 들면 블랙 레지스트(black resist) 등과 같은 저 반사성 재료를 가지고 마이크로 스페이서 플레이트(105)의 측벽을 코팅함으로써 제공될 수 있다. 이러한 코팅은 스프레이를 이용하여 도포될 수 있다.
도 2는 카메라 디바이스의 제 2 실시예를 도시한다. 이러한 카메라 디바이스(110)는 2개의 렌즈 소자(111, 127)로 이루어진 광학 시스템을 포함한다. 2개의 렌즈로 이루어진 광학 시스템의 이점은 큰 수차(aberrations)의 발생 없이 비교적 강한 렌즈의 조작을 획득할 수 있다는 것이다.
도 1에 도시된 동일한 소자에 대응하는 도 2에 도시된 부분들에는 도 1에서와 동일한 참조 부호를 부여하였다. 또한, 도 2는 제 2 스페이서 플레이트(123) 및 제 1 렌즈 기판(109) 상에 각각 적층된 제 2 렌즈 기판(125)이 제 2 렌즈 소자(127), 제 1 렌즈 소자(111) 및 화상 캡처 소자(103)를 통과하는 주 광학 축을 따라서 정렬되고, 접착층(129, 131)에 의해 접합되는 것을 도시한다. 바람직하게는, 렌즈(111, 127)의 주 광학 축에 대해 동축적으로 위치된 홀을 구비하게 하여 알루미늄층으로 칸막이(diaphragm)(133)를 형성한다.
화상 캡처 소자(103)의 고스트 이미지를 방지하기 위해서는, 마이크로 스페이서 플레이트(105)의 측벽 및/또는 제 2 스페이서 플레이트(123)의 측벽 상에 반사 방지층을 제공하여, 카메라 디바이스(110) 내에서 광의 원치 않는 반사를 방지하는 것이 유리할 것이다.
이러한 카메라 디바이스의 제조 방법은 웨이퍼 스케일 제조 단계를 포함하는데, 이는 다수의 화상 캡처 소자가 기판(예를 들면, 대략 20.32㎝의 직경(8")을 갖는 실리콘 웨이퍼 등) 상에서 제조되고 획득되기 때문이다. 또한, 스페이서 수단 및 렌즈 소자는 기판 상에서 각종 방식으로 제조될 수 있다. 도 3은 개별 카메라 디바이스(110)가 다이싱되기 전에 기판의 스택에 대한 분해도를 도시한다. 이러한 스택(130)은 화상 캡처 소자(103)를 포함하는 실리콘 웨이퍼(135)와, 마이크로 스페이서 소자(105)를 포함하는 마이크로 스페이서 웨이퍼(137)와, 커버 웨이퍼(139) 를 포함하는 베이스 기판(134) 및, 렌즈(109)를 포함하는 제 1 렌즈 기판(141)을 포함한다. 이러한 모든 구성 요소는 웨이퍼 크기 범위 내에서 획득 가능하다. 또한, 도 3은 2개의 렌즈로 이루어진 광학 시스템을 구비하는 카메라 디바이스를 획득하기 위해 필수적인 제 2 스페이서 웨이퍼(143), 제 2 렌즈 기판(145) 및 다른 커버 웨이퍼(147)를 도시한다.
도 4는 카메라 디바이스의 제조 방법에 대한 공정 흐름도(140)를 도시한다. 공정 단계(P20)에서, 유리 기판 상에 적외선 코팅(119)을 제공하고, 그 이후에 통상적인 레플리케이션 공정을 이용하여 유리 기판 상에 렌즈 소자(111)를 형성하는 공정 단계(P21)에 의해서 제 1 렌즈 기판(141)을 제조한다. 다른 공정 단계(P22)에서, 제 1 렌즈 기판(141)은 반사 방지 코팅(121)이 제공된다.
베이스 기판(134)은 이하의 공정 단계로 제조된다. 공정 단계(P10)에서, 마이크로 스페이서 웨이퍼(137)는 예를 들면 20.32㎝의 웨이퍼 크기 치수를 갖는 유리 기판 내에 홀을 에칭함으로써 제조된다. 이러한 공정 단계(P10)에서의 에칭 대신에, 레이저 커팅(laser cutting), 파우더 블래스팅(powder blasting) 및 초음파 드릴링(ultrasonic drilling)을 이용할 수 있다. 이러한 기법은 모두 당업자들에게 잘 알려져 있다. 후속 단계인, 공정 단계(P12)에서, 마이크로 스페이서 웨이퍼(137)와, 화상 캡처 소자를 포함하는 실리콘 웨이퍼(135)에는 스크린 인쇄(screen printing) 또는 그 대신에 스프레이 코딩을 이용하여 접착층을 도포한다. 이러한 접착층은 예를 들면 자외선 경화 가능 수지로 이루어질 수 있다. 또한, 마이크로 스페이서 웨이퍼(137) 및 커버 웨이퍼(139)는 정렬되고, 커버 플레이 트 웨이퍼, 마이크로 스페이서 웨이퍼(137)의 홀 및 실리콘 웨이퍼(135)와 관된 화상 캡처 소자(103)의 화상 표면 사이에서 주 광학 축을 따른 거리는 사전 결정된 값, 예를 들면, 900±5㎛로 설정되고, 그 이후에 접착층은 자외선 조사에 의해 경화된다. 경화된 접착층(115)은 조정된 거리를 유지한다. 결합된 웨이퍼(135, 137, 139)는 화상 캡처 소자(103)를 포함하는 베이스 기판(134)을 형성한다.
후속 공정 단계(P14)에서, 베이스 기판(134) 및 렌즈 기판(141)은 정렬되고, 예를 들면 10㎛의 사전 결정된 거리로 설정되며, 자외선(UV) 경화 가능 접착층(117)에 의해 서로 접합된다. 추가적인 후속 단계(P15)에서, 개별 카메라 디바이스는 예를 들면, 절삭(sawing) 기법에 의해 분리된다.
2개의 렌즈 소자(111, 127)로 이루어진 광학 시스템을 포함하는 카메라 디바이스(110)를 획득하기 위해서, 몇몇 추가적인 공정 단계(P40, P41, P31)가 요구된다. 공정 단계(P30)에서, 제 2 스페이서 웨이퍼(143)는 화상 형성 광선이 통과되게 하는 홀을 구비한다. 공정 단계(P40)에서, 렌즈(127)는 레플리케이션 공정을 통해 제 2 렌즈 기판 상에 형성된다. 바람직하게는, 후속 공정 단계(P41)에서, 렌즈(127) 상에 칸막이가 제공된다. 칸막이는 렌즈 시스템의 주 광학 축에 대해 동축적으로 위치된 원형 홀을 갖는 알루미늄층으로 형성된다. 후속 접합 단계(P31)에서, 제 2 렌즈 기판 플레이트(145) 및 제 2 스페이서 웨이퍼(143)는 정렬되고, 예를 들면 1.67㎜의 사전 결정된 거리로 설정되며, 대략 100㎛의 자외선 경화 가능 접착층(131)에 의해 접합된다. 후속 공정 단계(P23)에서, 제 2 렌즈 기판 플레이트(145) 및 제 2 스페이서 플레이트(143)로 이루어진 서브-어셈블리를 정렬하고, 제 1 렌즈 기판 플레이트(141)에 대해 예를 들면 121㎜의 사전 결정된 거리를 설정하고, 10㎛의 자외선 경화 가능 접착층(129)에 의해 접합한다.
공정 단계(P14)에서, 이러한 렌즈 기판 어셈블리(144) 및 공정 단계(P13)의 베이스 기판 서브-어셈블리(142)가 정렬되고, 사전 결정된 거리로 설정되며, 자외선 경화 가능 접착층(129)에 의해 접합된다. 바람직하게는, 이러한 공정 단계에서, 제 3 스페이서 플레이트(146) 및 제 2 커버 플레이트(147)는 자외선 경화 가능층에 의해 제 2 렌즈 기판(145) 상에 적층된다. 분리 단계(P15)에서, 카메라 디바이스(110)는 도 5에 도식적으로 나타낸 조립된 스택(150)으로부터 절삭되거나, 다른 알려진 방식으로 분리된다. 조립된 스택(150)은 다이싱 레인(dicing lane)(152)을 따라서 절삭된다. 다이싱 레인의 폭은 예를 들면 대략 230㎛가 될 수 있다. 자외선 경화성 접착 대신에 열 경화성 접착을 적용하는 것이 유리할 수 있다.
첨부된 청구항의 범주를 벗어나지 않으면서 본 발명의 범주 내에 각종 변형 예가 형성될 수 있다는 것이 명백할 것이다.
도 6(a) 내지 도 6(d)는 본 발명의 원칙에 따라서 고체 상태 화상 센서(SSIS)를 포함하는 웨이퍼 스케일 패키지에 대한 서로 다른 구성의 단면을 도시한다. 도 6(a) 내지 도 6(d)에 걸친 모든 도면에는, SSIS 다이(dies) 어레이(도 6(a) 내지 도 6(d)에 도시하지 않음) 및 덮개 유리층(231)(바람직하게는 IR 유리로 이루어짐)를 포함하는 실리콘 웨이퍼(211)가 존재한다. 설명을 용이하게 하기 위해서, 전체 웨이퍼의 일부분만이 도시되어 있는데, 이는 도 6(a) 내지 도 6(d)에서 각각 좌측에 있는 점선으로 표시되어 있다. 실리콘 웨이퍼(211) 및 유리층(231)으로 이루어진 장치 내에서, 마이크로 렌즈는 SSIS 다이의 감광성 영역에 부착될 수 있다는 것을 유의해야 한다. 웨이퍼 스케일 패키지를 분리하는 것에 의해 획득되는 카메라 디바이스의 성능에 관해서는, 도 7(a) 내지 도 7(d)를 참조하기로 한다.
도 6(a)의 웨이퍼 스케일 패키지는 제 1 유리층(231)과, 실리콘 웨이퍼(211)의 표면으로부터 반대쪽을 향해 배향된 볼록 렌즈(250)를 제공하는 제 2 유리층만을 포함한다. 도 6(b)에서 도 6(a)와 비교할 때 유일한 차이점은 스페이서층(222)이 제 1 투과층(231)과, 렌즈(250)를 포함하는 제 2 투과층(240) 사이에 삽입된다는 것이다. 도 6(c)에 있어서, 도 6(b)에 대해 추가적인 작은 차이점이 존재하는데, 그것은 렌즈(250)를 포함하는 추가적인 유리층(242)이 스페이서층(222)과 제 1 유리층(231) 사이에 삽입된다는 것이다. 이러한 실시예에서, 웨이퍼 스케일 패키지의 2개의 렌즈(250, 252) 사이에는 공기 간극(air gap)이 존재한다. 마지막으로 도 6(d)는 소정의 장치를 도시하는데, 이를 도 6(b)와 비교하면, 여기에서는 렌즈(254)를 구비하는 추가적인 유리층(244)이 스페이서층(222)과 유리층(240) 사이에 배치되어 있다.
다음으로 도 7(a) 내지 7(d)를 참조하면, 여기에는 본 발명에 따른 카메라 디바이스, 웨이퍼 스케일 패키지 및 광학 모듈의 몇몇 예에 대한 성능이 시뮬레이션 도면을 이용하여 도시되어 있다. 이러한 시뮬레이션은 본 발명에 따른 카메라 디바이스의 성능 및 치수에 따른 결과를 제시한다. 모든 시뮬레이션 도면은 다음과 같이 해석될 수 있는데, 좌측으로부터, 즉 광학 시스템으로부터 투사될 실제 화 상으로부터 시작하면, 선으로 도시된 광선이 존재하는데, 이들은 광학 시스템을 통해 진행되고, 광학 시스템을 통과한 후에 각각 교차한다. 이러한 시뮬레이션된 광선의 교차점은 그림 선(drawing line)에 의해 접속될 수 있고, 이는 실제 화상이 에러 없이 투사될 수 있는 이상적인 화상면을 나타낸다. 그러나, SSIS의 감광성 영역은 평평하기 때문에, 광학 시스템은 평평한 감광 영역을 화상 면으로 적응시켜야 한다. 도 7(a)를 참조하면, 단지 하나의 렌즈를 갖는 광학 시스템은 매우 구부러진 화상면을 갖고, 그에 따라 화상면의 에지를 향해 갈수록 점점 낮은 성능을 생성한다. 도 7(b) 내지 도 7(d)는 2개의 렌즈가 서로 화상면에 초점을 맞추고 화상면을 평평하게 하고, 그에 따라 화상면이 감광성 영역에 보다 적응시키도록 작용한다는 점에서 광학 시스템 내에서 제 2 렌즈의 이점을 나타낸다. 도 7(b) 내의 구성은 그 높이가 매우 낮다는 이점을 갖는다. 이는 2개의 렌즈 사이의 공기 캐비티(air cavity) 내에서 진행하는 광의 큰 각도를 이용할 수 있다는 사실에 기인한 것이다.
다음으로 도 8(a) 내지 도 8(e)를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에서의 제조 공정 중 각종 단계가 도시되어 있다. 도 8(a)의 상부에서 확인되는 바와 같이, 마이크로 렌즈(도시하지 않음)용 마이크로 스페이서층(225)은, 고체 상태 화상 센서를 포함하는 실리콘 웨이퍼(215)의 상부면에 탑재되어 있다. 다음 단계에서, 덮개 유리층(235)은 마이크로 스페이서층(225)에 부착된다. 덮개 유리층(235) 위에는 IR 유리층(236)이 탑재된다. 이하에서 웨이퍼 스케일 상의 SSIS에 대한 광학 시스템을 설치하는 추가적인 단계가 진행된다. IR 유리층(236)의 상부에는 렌즈용 캐비티(cavities)(262)를 갖는 웨이퍼 레벨 렌즈 홀더(wafer level lens older) 또는 렌즈 기판(260)이 위치된다. 그 결과는 도 8(b)에 도시되어 있다. 다음으로 도 8(c)를 참조하면, 웨이퍼 레벨 렌즈 홀더(260)가 IR 유리층(236)에 접착된 후에, 렌즈(270)는 웨이퍼 레벨 렌즈 홀더(260)의 캐비티(262) 내에 탑재된다. 도 8(d)에서 확인되는 바와 같이, 카메라 디바이스는 렌즈(270)를 탑재한 후에 분리된다. 다음 단계에서, 이러한 카메라 디바이스(295)는 상호 접속용의 연성 포일(flex foil)(290) 상에 설치된다. 또한, 차양막(sunshade)(280)을 제공하는 것이 유리할 수 있다. 이러한 차양막(280)은 이러한 구성 내에 설치되기 전에 탑재되거나, 이러한 카메라 디바이스(295)가 설치될 수 있는 하우징의 일부분일 수 있다.
도 9(a) 내지 도 9(f)는 본 발명에 따른 광학 어셈블리의 각종 실시예의 단면을 도시한다. 도시된 광학 어셈블리는 복수의 렌즈 소자를 구비하는 기판을 포함한다. 광학 어셈블리는 카메라 디바이스의 제조 공정에서 사용된다. 이는 예를 들면 도 4에 도시된 공정과 유시한 공정일 수 있다. 이러한 공정 동안에, 광학 어셈블리는 렌즈 소자에 대응하는 복수의 화상 캡처 소자를 포함한 베이스 기판에 적층되는 것이 바람직하다. 바람직하게는, 접착제를 사용하여 광학 어셈블리와 베이스 기판을 접합한다. 각각의 렌즈 소자와 대응하는 화상 캡처 소자 사이의 거리를 설정하고, 렌즈 기판과 베이스 기판이 서로에 대해 정렬된 후에, 접착제는 경화된다. 이는 도 3, 도 5 및 도 6에 도시된 것과 동일한 웨이퍼 스케일 패키지가 되게 한다. 이와 다르게, 광학 어셈블리는 개별 화상 캡처 소자에 적층된 개별 렌즈 모 듈로 분리될 수 있다.
도 9(a) 내지 도 9(f)에 도시된 광학 어셈블리는 레플리케이션 공정에 의해 제조된다. 이러한 공정에서, 렌즈는 일반적으로 그 전체 또는 일부가 광투과성 재료 등과 같은 중합체 또는 경화 가능제로 이루어질 수 있다. 렌즈 기판은 일반적으로 예를 들면 유리, 플라스틱, 수지 또는 석영 등과 같은 광투과 재료로 이루어진다.
도 9(a)는 렌즈 기판(312) 상에 형성된 복수의 레플리케이션 타입 포지티브 또는 볼록 렌즈 소자(311)를 포함하는 광학 어셈블리(310)에 대한 단면도를 도시한다. 렌즈 소자는 구면, 비구면(aspherical) 또는 왜곡면(anamorphic)일 수 있다. 도 9(a)는 또한 기판(317) 상의 레플리케이션 타입 포지티브 렌즈 소자(316)를 포함하는 개별 렌즈 모듈(315)을 도시하는데, 이들은 광학 어셈블리(310)를 라인(313)을 따라 분리함으로써 획득된다. 분리에 있어서, 다이싱 등과 같은 공지된 방법을 사용할 수 있다.
도 9(b)는 렌즈 기판(322) 상에 형성된 복수의 레플리케이션 타입 네거티브 또는 오목 렌즈 소자(321)를 포함하는 광학 어셈블리(320)의 단면도를 도시한다. 렌즈 소자는 구면, 비구면 또는 왜곡면일 수 있다. 도 9(b)는 또한 기판(327) 상의 레플리케이션 타입 네거티브 렌즈 소자(326)를 포함하는 개별 렌즈 모듈(325)을 도시하는데, 이들은 광학 어셈블리(320)를 라인(323)을 따라 분리함으로써 획득된다.
도 9(c)는 렌즈 기판(333) 내의 스루 홀 내에 형성된 복수의 포지티브-네거 티브 레플리케이션 타입 렌즈를 포함하는 광학 어셈블리(330)의 단면도를 도시한다. 도 9(c)는 또한 기판(337) 내의 스루 홀 내에 형성된 레플리케이션 타입 포지티브-네거티브 렌즈 소자(336)를 포함하는 개별 렌즈 모듈(335)을 도시하는데, 이는 광학 어셈블리(330)를 라인(333)을 따라 분리함으로써 획득된 것이다. 이러한 경우에 기판(331, 337)은 투과성을 가질 필요는 없다. 이는 광학 모듈이 사용되는 카메라 디바이스 내에서 광의 원치 않는 반사를 방지하는 데 있어서 유리할 것이다. 광학 어셈블리(330) 및 광학 모듈(335)의 다른 이점은, 이러한 방식으로 포지티브 렌즈 및 네거티브 렌즈를 결합시키는 것에 의해 결과적인 스택의 높이가 도 9(d)에 도시된 광학 모듈 및 광학 어셈블리의 높이에 비해 감소될 수 있다는 것이다.
도 9(d)는 복수의 포지티브 레플리케이션 타입 렌즈(341) 및 대응하는 네거티브 레플리케이션 타입 렌즈(342)를 포함하는 광학 어셈블리(340)에 대한 단면도로서, 이러한 2개의 렌즈는 렌즈 기판(343)의 대향하는 면에 존재한다. 도 9(d)는 또한 렌즈 기판(347)의 대향하는 면 상에 형성된 레플리케이션 타입 포지티브 렌즈 소자(346)와 대응하는 네거티브 레플리케이션 타입 렌즈 소자(348)를 포함하는 개별 렌즈 모듈(345)을 도시하는데, 이는 광학 어셈블리(340)를 라인(343)을 따라 분리함으로써 획득된다.
도 9(e)는 각각 제 1 렌즈(351) 및 제 2 렌즈(354)를 통해 광학 축에 대해 동축으로 정렬된 스루 홀을 갖는 스페이서 기판(353)에 의해서, 제 2 렌즈 기판(355) 상에 형성된 복수의 대응하는 제 2 레플리케이션 타입 포지티브 렌즈(354) 로부터 분리되어, 제 1 렌즈 기판(352) 상에 형성된 복수의 제 1 레플리케이션 타입 포지티브 렌즈(351)를 포함하는 광학 어셈블리(350)의 단면도를 도시한다. 스페이서 기판(353)의 두께를 변경시키는 것에 의해 제 1 렌즈(351)와 대응하는 제 2 렌즈(354) 사이의 거리가 변경된다. 도 9(e)는 또한 광학 어셈블리(350)를 라인(356)을 따라 분리시키는 것에 의해 획득된 렌즈 모듈(360)을 도시한다. 이는 제 1 렌즈 기판(362) 상에 형성된 제 1 포지티브 레플리케이션 타입 렌즈 소자(361)를 포함하고, 이는 제 1 렌즈 소자(361) 및 제 2 렌즈 소자(364)를 통과하는 광학 축과 동축적으로 정렬된 스루 홀을 갖는 스페이서 기판(363)을 이용하여, 제 2 렌즈 기판(364) 상에 형성된 대응하는 제 2 렌즈 소자(364)로부터 분리되어 있다.
도 9(f)는 서로 제 1 렌즈 기판(372)의 대향하는 면 상에 형성되고, 접착 재료(도시하지 않음)로 이루어진 스페이서층을 이용하여, 제 2 렌즈 기판(375) 상에 형성된 복수의 대응하는 제 3 레플리케이션 타입 포지티브 렌즈(374)에 접합되어 있는 복수의 제 1 레플리케이션 타입 포지티브 렌즈(371) 및 복수의 대응하는 제 2 레플리케이션 타입 네거티브 렌즈(373)를 포함하는 광학 어셈블리(370)의 단면도를 도시한다. 각각의 제 1 렌즈(371)와, 대응하는 제 2 렌즈(373)와, 제 3 렌즈(375)는 동일한 광학 축을 따라 정렬된다. 도 9(f)는 또한 라인(376)을 따라서 광학 어셈블리(370)를 분리하는 것에 의해 획득되는 렌즈 모듈(380)을 도시한다. 이는 제 1 포지티브 레플리케이션 타입 렌즈 소자(381) 및 제 1 렌즈 기판(382)의 대향하는 면 상에 대응하는 제 2 네거티브 레플리케이션 타입 렌즈(383)를 포함하는데, 이들 은 제 2 렌즈 기판(384) 상에 형성된 대응하는 제 3 포지티브 레플리케이션 타입 렌즈 소자(384)와 접합되어 있다. 제 1 렌즈 소자(381), 제 2 렌즈 소자(383) 및 제 3 렌즈 소자(384)는 공통 광학 축을 갖는다. 제 2 렌즈 소자(383)와 제 3 렌즈 소자(384)를 결합시키는 이점은 별도의 스페이서 기판의 필요성이 회피될 수 있다는 것이다.
도 10(a) 내지 도 10(d)는 본 발명에 따른 광학 어셈블리에 대한 다른 실시예의 단면을 도시한다. 도 9(a) 내지 도 9(e)에 도시된 광학 어셈블리와 동일한 방식으로, 이러한 광학 어셈블리는 카메라 디바이스의 제조에 사용된다. 도 9(a) 내지 도 9(e)에 도시된 광학 어셈블리와의 주된 차이점은 도 10(a) 내지 도 10(d)에 도시된 광학 어셈블리가 광투과성을 갖는 사전 성형된 기판을 포함한다는 것이다. 이러한 사전 성형된 기판은 적절한 투과성 재료를 가열 성형(hot-forming)함으로써 형성될 수 있다. 이는 기판 재료를 가열하고, 몰드(mould)를 사용하여 성형하는 것을 포함한다. 적합한 기판 재료로는, 예를 들면 유리, 석영 및 적합한 투과성 플라스틱이 있다.
도 10(a)는 복수의 볼록부(convexities)(402)를 구비하는 사전 성형된 기판(401)을 포함하는 광학 어셈블리(400)를 도시한다. 볼록부는 포지티브 렌즈 소자로서 기능한다. 렌즈 소자로서의 그 기능을 강화하기 위해서, 볼록부는 레플리케이션 타입 재료(403)로 이루어진 보정층에 의해 피복된다. 도 10(a)는 또한, 라인(404)을 따라 광학 어셈블리(400)를 분리함으로써 획득된 개별 광학 모듈(405)을 도시한다.
도 10(b)는 사전 성형된 기판(411)의 한 쪽 면에 형성된 복수의 포지티브 레플리케이션 타입 렌즈 소자(412)와, 기판(411)의 다른 쪽 면에서 렌즈 소자(412)에 대응하는 복수의 오목부 또는 오목한 영역(recessed areas)(413)을 포함하는 사전 성형된 기판(411)을 구비한 광학 어셈블리(410)를 도시한다. 도시되어 있는 사전 성형된 기판의 이점은 도 9(a) 내지 도 9(e)에 도시되어 있는 렌즈 기판의 기능 및 스페이서층의 기능을 통합한다는 것이다. 이러한 방식으로, 카메라 디바이스를 형성하는 구성 요소의 개수가 감소되어, 보다 간단한 어셈블리 및/또는 화상 캡처 소자에 대해 더 정확하게 정렬된 렌즈 시스템을 구비하는 더 많은 카메라 디바이스를 획득할 수 있다. 도 10(b)는 또한 라인(414)을 따라서 광학 어셈블리(410)를 분리함으로써 획득될 수 있는 개별 광학 모듈(415)을 도시한다.
도 10(c)는 기판(421)의 한 쪽 면에 형성된 복수의 볼록부(422)와, 기판(421)의 다른 쪽 면에 형성된 복수의 오목부(424)를 구비한 사전 성형된 기판(421)을 포함하는 광학 어셈블리(420)를 도시한다. 볼록부(422)는 포지티브 렌즈 소자로서 기능한다. 렌즈 소자로서의 그 기능을 강화하기 위해서, 볼록부(422)는 레플리케이션 타입 재료로 이루어진 보정층(423)에 의해 피복된다. 또한, 오목부(424)는 네거티브 렌즈로서 성형된 레플리케이션 재료로 이루어진 소정 층(425)으로 충진된다. 이러한 방식으로 포지티브 및 네거티브 렌즈는 모두 단일 기판 내에 집적될 수 있다. 도 10(c)는 또한 라인(424)을 따라 광학 어셈블리(420)를 분리함으로써 획득되는 개별 광학 모듈(427)을 도시한다.
도 10(d)는 제 1 기판(431)의 한 쪽 면에 형성된 복수의 제 1 볼록부(432) 와, 제 1 기판(431)의 다른 쪽 면에 형성된 복수의 오목부(434)를 구비한 제 1 사전 성형된 기판(431)을 포함하는 광학 어셈블리(430)를 도시한다. 제 1 볼록부(432)는 포지티브 렌즈 소자로서 기능한다. 렌즈 소자로서의 그 기능을 강화하기 위해서, 제 1 볼록부(432)는 레플리케이션 타입 재료로 이루어진 제 1 보정층(433)에 의해 피복된다. 또한, 오목부(434)는 네거티브 렌즈로서 성형된 레플리케이션 재료로 이루어진 제 2 층(435)으로 충진된다. 광학 어셈블리(430)는 제 1 사전 성형된 기판(431)에 접합된 제 2 사전 성형된 기판(436)을 더 포함하는데, 이 기판(436)은 제 1 기판(431)의 오목부(434)에 대향하는 면에 형성되어 오목부(434)에 대응하는 복수의 제 2 볼록부(437)를 구비한다. 제 2 볼록부(437)는 포지티브 렌즈 소자로서 기능한다. 렌즈 소자로서의 그 기능을 강화하기 위해서, 제 2 볼록부(437)는 레플리케이션 재료로 이루어진 제 3 보정층(438)으로 피복된다. 도시된 제 1 사전 성형된 기판(431)의 이점은 렌즈 기판의 기능과 스페이서층의 기능을 통합시켰다는 것이다. 도 10(d)는 또한 라인(439)을 따라 광학 어셈블리(430)를 분리함으로써 획득된 개별 광학 모듈(440)을 도시한다.
본 명세서에 설명된 본 발명의 실시예는 예시적으로 고려되어야 하며, 한정적 방식으로 고려되어서는 안 된다. 당업자라면, 첨부된 청구항에서 정의된 바와 같이 본 발명의 범주로부터 벗어나지 않으면서 이러한 실시예에 대한 각종 변형예를 형성할 수 있을 것이다.
예를 들면, 실시예에 대한 설명에서 언급된 웨이퍼 지름 및 다른 치수는 변할 수 있다. 그와 동일하게 화상 캡처 소자의 타입도 변할 수 있다.
또한, 상술된 내용에서 본 발명에 따른 웨이퍼 스케일 패키지 또는 광학 어셈블리를 분리하기 위한 적절한 방법으로서 대체로 다이싱 또는 절삭 기법이 언급되어 있으나, 예를 들면, 스크라이빙(scribing), 레이저 커팅, 에칭 또는 분쇄(breaking) 등의 다른 알려진 기법을 적용할 수 있다.
도 1은 카메라 디바이스에 대한 제 1 실시예를 도시하는 단면도.
도 2는 카메라 디바이스에 대한 제 2 실시예를 도시하는 단면도.
도 3은 카메라 디바이스를 다이싱(dicing)하기 전에 카메라 디바이스에 대한 각종 연속적인 제조 단계 이후에 획득된 웨이퍼 플레이트의 스택을 도시하는 도면.
도 4는 카메라 디바이스의 제조 공정 흐름도를 도시하는 도면.
도 5는 웨이퍼 플레이트의 스택을 다이싱하는 단계를 도시하는 도면.
도 6(a) 내지 도 6(d)는 본 발명의 원리에 따라서 고체 상태 화상 센서를 포함하는 웨이퍼 스케일 패키지에 대한 각종 구성의 단면을 도시하는 도면.
도 7(a) 내지 도 7(d)는 본 발명에 따른 카메라 디바이스, 웨이퍼 스케일 패키지 또는 광학 모듈에서 사용되는 각종 광학 시스템에 대한 시뮬레이션을 나타내는 도면.
도 8(a) 내지 도 8(e)는 본 발명에 따른 카메라 디바이스의 다른 실시예에서 각종 제조 단계를 도시하는 도면.
도 9(a) 내지 도 9(f)는 본 발명에 따른 광학 어셈블리의 각종 실시예의 단면을 도시하는 도면.
도 10(a) 내지 도 10(d)는 본 발명에 따른 광학 어셈블리의 다른 실시예의 단면을 도시하는 도면.

Claims (17)

  1. 카메라 디바이스로서,
    화상 캡처 소자와,
    상기 화상 캡처 소자 상에 객체를 투사하는 렌즈 소자를 갖는 렌즈 기판과,
    상기 렌즈 기판과 상기 화상 캡처 소자 사이에 위치하고, 상기 렌즈 기판과 상기 화상 캡처 소자 사이에 사전 결정된 거리를 유지하는 스페이서 기판(spacer substrate) 및 하나 이상의 접착층을 구비하는 스페이서를 포함하고,
    상기 스페이서 기판은 접착층에 의해 상기 화상 캡처 소자에 접착되고,
    상기 렌즈 기판은 접착층에 의해 상기 스페이서 기판에 접착되는
    카메라 디바이스.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 접착층은 상기 렌즈 소자의 주 광학 축에 대해 동축으로(coaxially) 위치하는 상기 스페이서 기판 상의 홀의 투사 부분 외부의 테두리 형상을 갖는 카메라 디바이스.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 접착층은 자외선 경화 수지(ultra-violet curing resin)를 포함하는 카메라 디바이스.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 접착층은 열 경화성 수지(thermo-hardening resin)를 포함하는 카메라 디바이스.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 스페이서 기판은 상기 렌즈 소자의 주 광학 축에 대해 동축으로 위치된 홀을 포함하고, 상기 홀의 측면은 반사 방지층(anti-reflection layer)을 구비하는 카메라 디바이스.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 스페이서는 덮개 기판(cover substrate)을 더 포함하는 카메라 디바이스.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 덮개 기판은 상기 화상 캡처 소자 상에 객체를 투사하는 제 2 렌즈 소자를 갖는 제 2 렌즈 기판을 포함하고,
    상기 렌즈 소자의 주 광학 축은 상기 제 2 렌즈 소자의 상기 주 광학 축과 일치하는 카메라 디바이스.
  8. 제 6 항에 있어서,
    상기 접착층은 상기 스페이서 기판과 상기 덮개 기판 사이에 위치되는 카메라 디바이스.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 렌즈 소자는 레플리케이션 타입(replication type)인 카메라 디바이스.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 렌즈는 상기 렌즈 기판 내에 볼록부(convexity)로서 형성되는 카메라 디바이스.
  11. 제 9 항에 있어서,
    상기 렌즈는 상기 렌즈 기판 내에 오목부(concavity)로서 형성되는 카메라 디바이스.
  12. 제 9 항에 있어서,
    상기 렌즈 기판은 스루 홀(through hole)을 구비하여, 상기 렌즈 소자는 상기 스루 홀 내에 위치되는 카메라 디바이스.
  13. 제 1 항에 있어서,
    상기 렌즈 기판은 적외선 반사층을 구비하는 카메라 디바이스.
  14. 제 1 항에 있어서,
    상기 렌즈 기판은 반사 방지층을 구비하는 카메라 디바이스.
  15. 카메라 디바이스를 제조하는 방법으로서,
    복수의 렌즈 소자를 포함하는 렌즈 기판을 제공하는 단계로서, 상기 렌즈 기판은 접착층을 포함하는, 상기 렌즈 기판을 제공하는 단계와,
    상기 렌즈 기판과 복수의 화상 캡처 소자를 포함하는 베이스 기판을 스태킹(stacking)하는 단계와,
    각각의 렌즈 소자 및 연관된 화상 캡처 소자를 통해 주 광학 축을 따라서 상기 렌즈 기판과 상기 베이스 기판을 정렬하는 단계와,
    상기 렌즈 소자 및 상기 연관된 화상 캡처 소자를 통해 상기 주 광학 축을 따라서 상기 렌즈 소자와 상기 연관된 화상 캡처 소자 사이의 거리를 설정하는 단계와,
    상기 접착층을 경화하는 단계와,
    상기 렌즈 기판과 상기 베이스기판의 스택(stack)으로부터 카메라 디바이스를 분리하는 단계
    를 포함하는 카메라 디바이스 제조 방법.
  16. 복수의 화상 캡처 소자를 갖는 베이스 기판을 포함하는 웨이퍼 스케일 패키지(wafer scale package)로서,
    각각의 화상 캡처 소자와 연관된 복수의 렌즈 소자를 갖는 렌즈 기판과,
    상기 렌즈 기판과 베이스 기판 사이에 사전 결정된 거리를 유지하는 스페이서 기판을 포함하되,
    상기 베이스 기판에 대한 상기 렌즈 기판의 위치는 상기 렌즈 기판을 상기 스페이서 기판에 고정하는 접착층과 상기 스페이서 기판을 상기 베이스 기판에 고정하는 또다른 접착층에 의해 고정되는,
    웨이퍼 스케일 패키지.
  17. 제 1 항에 기재된 카메라 디바이스의 제조 공정에서 사용되는 광학 어셈블리(optical assembly)로서,
    복수의 렌즈 소자를 갖는 렌즈 기판을 포함하는 광학 어셈블리.
KR1020077018578A 2002-09-17 2003-09-16 카메라 디바이스, 카메라 디바이스 제조 방법, 웨이퍼스케일 패키지 및 광학 어셈블리 KR20070096020A (ko)

Applications Claiming Priority (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP02078852 2002-09-17
EP02078852.7 2002-09-17
EP02079106.7 2002-10-01
EP02079107.5 2002-10-01
EP02079107 2002-10-01
EP02079106 2002-10-01

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020057004466A Division KR100774775B1 (ko) 2002-09-17 2003-09-16 카메라 디바이스, 카메라 디바이스 제조 방법, 웨이퍼스케일 패키지 및 광학 어셈블리

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20070096020A true KR20070096020A (ko) 2007-10-01

Family

ID=32033880

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020077018579A KR20070089889A (ko) 2002-09-17 2003-09-16 카메라 디바이스, 카메라 디바이스 제조 방법, 웨이퍼스케일 패키지 및 광학 어셈블리
KR1020077018578A KR20070096020A (ko) 2002-09-17 2003-09-16 카메라 디바이스, 카메라 디바이스 제조 방법, 웨이퍼스케일 패키지 및 광학 어셈블리
KR1020057004466A KR100774775B1 (ko) 2002-09-17 2003-09-16 카메라 디바이스, 카메라 디바이스 제조 방법, 웨이퍼스케일 패키지 및 광학 어셈블리

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020077018579A KR20070089889A (ko) 2002-09-17 2003-09-16 카메라 디바이스, 카메라 디바이스 제조 방법, 웨이퍼스케일 패키지 및 광학 어셈블리

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020057004466A KR100774775B1 (ko) 2002-09-17 2003-09-16 카메라 디바이스, 카메라 디바이스 제조 방법, 웨이퍼스케일 패키지 및 광학 어셈블리

Country Status (7)

Country Link
US (2) US7564496B2 (ko)
EP (2) EP1543564A2 (ko)
JP (2) JP4397819B2 (ko)
KR (3) KR20070089889A (ko)
CN (1) CN100440544C (ko)
AU (1) AU2003263417A1 (ko)
WO (1) WO2004027880A2 (ko)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100945443B1 (ko) * 2008-07-22 2010-03-05 삼성전기주식회사 웨이퍼 레벨 카메라 모듈
KR100956381B1 (ko) * 2008-08-25 2010-05-07 삼성전기주식회사 웨이퍼 레벨 카메라 모듈의 제조 방법
KR100957384B1 (ko) * 2008-09-22 2010-05-11 엘지이노텍 주식회사 카메라 모듈
KR100972435B1 (ko) * 2008-09-22 2010-07-26 삼성전기주식회사 카메라 모듈
US8270098B2 (en) 2008-02-20 2012-09-18 Konica Minolto Opto, Inc. Image pickup lens, image pickup apparatus, mobile terminal, and method for manufacturing image pickup lens
US8477437B2 (en) 2008-02-12 2013-07-02 Konica Minolta Opto, Inc. Lens unit, image capturing lens, image capturing device and portable terminal
US8493672B2 (en) 2008-02-12 2013-07-23 Konica Minolta Opto, Inc. Imaging lens, image pickup device and portable terminal

Families Citing this family (259)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6856007B2 (en) * 2001-08-28 2005-02-15 Tessera, Inc. High-frequency chip packages
KR20040068438A (ko) * 2003-01-25 2004-07-31 삼성전자주식회사 보행식 로봇 및 그 위치이동방법
US7754537B2 (en) * 2003-02-25 2010-07-13 Tessera, Inc. Manufacture of mountable capped chips
WO2005004195A2 (en) * 2003-07-03 2005-01-13 Shellcase Ltd. Method and apparatus for packaging integrated circuit devices
US20050067681A1 (en) * 2003-09-26 2005-03-31 Tessera, Inc. Package having integral lens and wafer-scale fabrication method therefor
US7129576B2 (en) * 2003-09-26 2006-10-31 Tessera, Inc. Structure and method of making capped chips including vertical interconnects having stud bumps engaged to surfaces of said caps
US7405761B2 (en) 2003-10-01 2008-07-29 Tessera North America, Inc. Thin camera having sub-pixel resolution
US20050073605A1 (en) * 2003-10-06 2005-04-07 Burns Jeffrey H. Integrated optical filter
US7329861B2 (en) * 2003-10-14 2008-02-12 Micron Technology, Inc. Integrally packaged imaging module
KR20060113902A (ko) * 2003-10-27 2006-11-03 코닌클리즈케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. 카메라 모듈 및 그 제조 방법과, 이동 전화기 또는 pda
US7773143B2 (en) * 2004-04-08 2010-08-10 Tessera North America, Inc. Thin color camera having sub-pixel resolution
US8724006B2 (en) * 2004-01-26 2014-05-13 Flir Systems, Inc. Focal plane coding for digital imaging
US7796187B2 (en) 2004-02-20 2010-09-14 Flextronics Ap Llc Wafer based camera module and method of manufacture
US7872686B2 (en) 2004-02-20 2011-01-18 Flextronics International Usa, Inc. Integrated lens and chip assembly for a digital camera
WO2005086532A2 (en) * 2004-03-01 2005-09-15 Tessera, Inc. Packaged acoustic and electromagnetic transducer chips
US8049806B2 (en) * 2004-09-27 2011-11-01 Digitaloptics Corporation East Thin camera and associated methods
US8953087B2 (en) 2004-04-08 2015-02-10 Flir Systems Trading Belgium Bvba Camera system and associated methods
KR100539259B1 (ko) * 2004-04-26 2005-12-27 삼성전자주식회사 자동으로 정렬되는 렌즈를 포함하는 이미지 센서 모듈, 그제조방법 및 렌즈의 자동 초점 조절방법
JP5004410B2 (ja) 2004-04-26 2012-08-22 Towa株式会社 光素子の樹脂封止成形方法および樹脂封止成形装置
US20060109366A1 (en) * 2004-05-04 2006-05-25 Tessera, Inc. Compact lens turret assembly
US7768574B2 (en) 2004-05-04 2010-08-03 Tessera, Inc. Compact lens turret assembly
US20050275750A1 (en) 2004-06-09 2005-12-15 Salman Akram Wafer-level packaged microelectronic imagers and processes for wafer-level packaging
DE102004036469A1 (de) * 2004-07-28 2006-02-16 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Kameramodul, hierauf basierendes Array und Verfahren zu dessen Herstellung
EP1626571A1 (en) 2004-08-13 2006-02-15 STMicroelectronics Limited Imaging assembly
JP2006100763A (ja) * 2004-09-06 2006-04-13 Fuji Photo Film Co Ltd 固体撮像装置の製造方法及び接合装置
US7408724B2 (en) * 2004-09-27 2008-08-05 Tessera North America, Inc. Optical systems including a chromatic diffractive optical element corrector and associated methods
EP1789829A1 (en) 2004-09-14 2007-05-30 CDM Optics, Inc. Low height imaging system and associated methods
JP5128047B2 (ja) 2004-10-07 2013-01-23 Towa株式会社 光デバイス及び光デバイスの生産方法
KR100593896B1 (ko) 2004-12-27 2006-06-28 삼성전기주식회사 렌즈 분할형 카메라 모듈
JP2006208865A (ja) * 2005-01-28 2006-08-10 Mitsumi Electric Co Ltd カメラモジュール
US8143095B2 (en) 2005-03-22 2012-03-27 Tessera, Inc. Sequential fabrication of vertical conductive interconnects in capped chips
DE102005028906A1 (de) * 2005-06-22 2006-12-28 Giesecke & Devrient Gmbh Vorrichtung für die Prüfung von Banknoten
TWI289352B (en) * 2005-07-06 2007-11-01 Asia Optical Co Inc Micro lens and its manufacturing method
US7985357B2 (en) 2005-07-12 2011-07-26 Towa Corporation Method of resin-sealing and molding an optical device
CN100454070C (zh) * 2005-09-02 2009-01-21 亚洲光学股份有限公司 微型镜头及其制造方法
TWI289365B (en) * 2005-09-29 2007-11-01 Visera Technologies Co Ltd Wafer scale image module
TWI267208B (en) * 2006-01-18 2006-11-21 Visera Technologies Co Ltd Image sensor module
US20070190747A1 (en) * 2006-01-23 2007-08-16 Tessera Technologies Hungary Kft. Wafer level packaging to lidded chips
US7936062B2 (en) * 2006-01-23 2011-05-03 Tessera Technologies Ireland Limited Wafer level chip packaging
CN101009779B (zh) * 2006-01-24 2010-06-16 采钰科技股份有限公司 高精密度成像控制的影像感应模块
US20070236591A1 (en) * 2006-04-11 2007-10-11 Tam Samuel W Method for mounting protective covers over image capture devices and devices manufactured thereby
TWI397995B (zh) * 2006-04-17 2013-06-01 Omnivision Tech Inc 陣列成像系統及其相關方法
CN101473439B (zh) * 2006-04-17 2013-03-27 全视技术有限公司 阵列成像***及相关方法
US8092102B2 (en) 2006-05-31 2012-01-10 Flextronics Ap Llc Camera module with premolded lens housing and method of manufacture
KR101316287B1 (ko) * 2006-06-07 2013-10-08 엘지이노텍 주식회사 적층형 카메라 장치 및 제조방법
EP2044629A4 (en) * 2006-07-17 2012-08-01 Digitaloptics Corp East CAMERA SYSTEM AND RELATED METHODS
US9034729B2 (en) * 2006-08-25 2015-05-19 Semiconductor Components Industries, Llc Semiconductor device and method of manufacturing the same
WO2008023827A1 (fr) * 2006-08-25 2008-02-28 Sanyo Electric Co., Ltd. Dispositif semi-conducteur
US8148811B2 (en) * 2006-08-25 2012-04-03 Semiconductor Components Industries, Llc Semiconductor device and manufacturing method thereof
CN101141562A (zh) * 2006-09-08 2008-03-12 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 影像感测装置
KR100817060B1 (ko) * 2006-09-22 2008-03-27 삼성전자주식회사 카메라 모듈 및 그 제조 방법
KR100764434B1 (ko) 2006-10-16 2007-10-05 삼성전기주식회사 초소형 촬상 광학계
US20080118241A1 (en) * 2006-11-16 2008-05-22 Tekolste Robert Control of stray light in camera systems employing an optics stack and associated methods
US20080136956A1 (en) * 2006-11-17 2008-06-12 Tessera North America Internal noise reducing structures in camera systems employing an optics stack and associated methods
KR20080047002A (ko) * 2006-11-24 2008-05-28 엘지이노텍 주식회사 카메라모듈의 렌즈 어셈블리 및 그 제작 방법
KR101259189B1 (ko) * 2006-11-27 2013-04-29 엘지이노텍 주식회사 렌즈 일체형 센서 패키지 장치 및 제작방법
US8604605B2 (en) 2007-01-05 2013-12-10 Invensas Corp. Microelectronic assembly with multi-layer support structure
US8456560B2 (en) * 2007-01-26 2013-06-04 Digitaloptics Corporation Wafer level camera module and method of manufacture
EP2527898A3 (en) * 2007-02-19 2014-06-25 Konica Minolta Opto, Inc. Image pickup lens, image pickup apparatus and mobile terminal
JPWO2008102773A1 (ja) 2007-02-19 2010-05-27 コニカミノルタオプト株式会社 撮像レンズ、撮像装置、携帯端末、および撮像レンズの製造方法
EP2116882A4 (en) * 2007-02-19 2012-03-07 Konica Minolta Opto Inc ILLUMINATING LENS, PICTURE DEVICE, PORTABLE TERMINAL AND METHOD FOR PRODUCING AN ILLUMINATING LENS
US7692256B2 (en) 2007-03-23 2010-04-06 Heptagon Oy Method of producing a wafer scale package
US20080237811A1 (en) * 2007-03-30 2008-10-02 Rohit Pal Method for preserving processing history on a wafer
JPWO2008132980A1 (ja) * 2007-04-17 2010-07-22 コニカミノルタオプト株式会社 撮像装置の製造方法、撮像装置及び携帯端末
JP2010525413A (ja) * 2007-04-24 2010-07-22 フレックストロニクス エーピー エルエルシー ウエハーレベル光学部品を用いた自動焦点/ズームモジュール
JP2010525412A (ja) * 2007-04-24 2010-07-22 フレックストロニクス エーピー エルエルシー 底部にキャビティを備えるウエハーレベル光学部品とフリップチップ組立を用いた小型フォームファクタモジュール
US8716850B2 (en) 2007-05-18 2014-05-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same
JP4378394B2 (ja) * 2007-05-31 2009-12-02 シャープ株式会社 半導体装置およびそれを備えた光学装置用モジュール
KR100847849B1 (ko) 2007-06-12 2008-07-23 삼성전기주식회사 카메라 모듈
KR101087695B1 (ko) * 2007-07-03 2011-11-30 주식회사 옵토메카 이종재료 일체형 렌즈 유닛 및 이를 구비하는 카메라 모듈
EP2163932A4 (en) * 2007-07-04 2012-08-29 Konica Minolta Opto Inc IMAGE SHOOTING LENS, IMAGE SHOOTING DEVICE, AND MOBILE TERMINAL DEVICE
US8456564B2 (en) 2007-07-04 2013-06-04 Konica Minolta Opto, Inc. Imaging lens, imaging device, and mobile terminal
US7825985B2 (en) * 2007-07-19 2010-11-02 Flextronics Ap, Llc Camera module back-focal length adjustment method and ultra compact components packaging
US20090032925A1 (en) * 2007-07-31 2009-02-05 England Luke G Packaging with a connection structure
WO2009028391A1 (ja) 2007-08-31 2009-03-05 Konica Minolta Opto, Inc. 成形方法、光学素子製造方法、及びアレイ状光学素子
WO2009041794A2 (en) * 2007-09-27 2009-04-02 Lg Innotek Co., Ltd Camera module
KR20090033070A (ko) 2007-09-27 2009-04-01 엘지이노텍 주식회사 카메라 모듈
NL1034496C2 (nl) 2007-10-10 2009-04-16 Anteryon B V Werkwijze voor het vervaardigen van een samenstel van lenzen, alsmede een camera voorzien van een dergelijk samenstel.
CN101419323A (zh) * 2007-10-22 2009-04-29 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 微型相机模组及其制作方法
KR100959922B1 (ko) 2007-11-20 2010-05-26 삼성전자주식회사 카메라 모듈 및 그 제조방법
WO2009067832A1 (en) * 2007-11-27 2009-06-04 Heptagon Oy Encapsulated lens stack
WO2009076787A1 (en) * 2007-12-19 2009-06-25 Heptagon Oy Optical module for a camera device, baffle substrate, wafer scale package, and manufacturing methods therefor
TWI481496B (zh) * 2007-12-19 2015-04-21 Heptagon Micro Optics Pte Ltd 製造光學元件的方法
TWI478808B (zh) * 2007-12-19 2015-04-01 Heptagon Micro Optics Pte Ltd 製造光學元件的方法
TWI505703B (zh) * 2007-12-19 2015-10-21 Heptagon Micro Optics Pte Ltd 光學模組,晶圓等級的封裝及其製造方法
US20090159200A1 (en) * 2007-12-19 2009-06-25 Heptagon Oy Spacer element and method for manufacturing a spacer element
NL1034857C2 (nl) * 2007-12-21 2009-06-23 Anteryon B V Optisch systeem.
US8488046B2 (en) * 2007-12-27 2013-07-16 Digitaloptics Corporation Configurable tele wide module
US9118825B2 (en) * 2008-02-22 2015-08-25 Nan Chang O-Film Optoelectronics Technology Ltd. Attachment of wafer level optics
US7741652B2 (en) 2008-03-07 2010-06-22 Visera Technologies Company Limited Alignment device and application thereof
WO2009110311A1 (ja) * 2008-03-07 2009-09-11 コニカミノルタオプト株式会社 撮像レンズ、撮像装置及び撮像レンズの製造方法
US8368786B2 (en) 2008-03-21 2013-02-05 Konica Minolta Opto, Inc. Image pickup lens including at least one lens block wherein a lens portion or lens portions are formed on a lens substrate, image pickup device, digital apparatus and manufacturing method of image pickup lens
KR20100129751A (ko) * 2008-04-03 2010-12-09 코니카 미노루따 호르딩구스 가부시끼가이샤 촬상 장치, 및 촬상 장치의 제조 방법
WO2009125654A1 (ja) * 2008-04-08 2009-10-15 コニカミノルタオプト株式会社 レンズブロックの製造方法、レンズブロック、撮像レンズ、撮像装置及び携帯端末
WO2009125662A1 (ja) * 2008-04-08 2009-10-15 コニカミノルタオプト株式会社 撮像レンズの製造方法、撮像レンズ及び撮像装置
KR20090108233A (ko) * 2008-04-11 2009-10-15 삼성전자주식회사 카메라 모듈의 제조 방법, 이에 의해 제작된 카메라 모듈및 상기 카메라 모듈을 포함하는 전자 시스템
TWI412808B (zh) * 2008-04-25 2013-10-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 鏡頭模組之製造方法
CN103323893B (zh) * 2008-04-28 2015-07-29 柯尼卡美能达精密光学株式会社 晶圆透镜聚合体的制造方法及晶圆透镜聚合体
US8269300B2 (en) * 2008-04-29 2012-09-18 Omnivision Technologies, Inc. Apparatus and method for using spacer paste to package an image sensor
WO2009137022A1 (en) * 2008-05-06 2009-11-12 Tessera North America, Inc. Camera system including radiation shield and method of shielding radiation
FR2931587B1 (fr) * 2008-05-21 2011-05-13 Commissariat Energie Atomique Procede de realisation d'un dispositif optique a composants optoelectroniques integres
KR101003636B1 (ko) * 2008-05-23 2010-12-23 삼성전기주식회사 렌즈 웨이퍼와 그 제조방법 및 이를 이용한 카메라 모듈
JP5175620B2 (ja) * 2008-05-29 2013-04-03 シャープ株式会社 電子素子ウェハモジュールおよびその製造方法、電子素子モジュール、電子情報機器
JP4666005B2 (ja) 2008-05-30 2011-04-06 ソニー株式会社 カメラ装置
US7846772B2 (en) * 2008-06-23 2010-12-07 Headway Technologies, Inc. Layered chip package and method of manufacturing same
US7710667B2 (en) * 2008-06-25 2010-05-04 Aptina Imaging Corp. Imaging module with symmetrical lens system and method of manufacture
US20090321861A1 (en) * 2008-06-26 2009-12-31 Micron Technology, Inc. Microelectronic imagers with stacked lens assemblies and processes for wafer-level packaging of microelectronic imagers
US7868442B2 (en) * 2008-06-30 2011-01-11 Headway Technologies, Inc. Layered chip package and method of manufacturing same
US7767494B2 (en) * 2008-06-30 2010-08-03 Headway Technologies, Inc. Method of manufacturing layered chip package
US7773317B2 (en) * 2008-07-01 2010-08-10 Aptina Imaging Corp. Lens system with symmetrical optics
KR101445185B1 (ko) * 2008-07-10 2014-09-30 삼성전자주식회사 복수 개의 영상촬영유닛을 구비한 플렉시블 영상촬영장치및 그 제조방법
JP2010020126A (ja) 2008-07-11 2010-01-28 Fujinon Corp 撮像レンズおよびその撮像レンズを用いた撮像装置
WO2010020062A1 (en) * 2008-08-20 2010-02-25 Heptagon Oy Method of manufacturing a pluralty of optical devices
FR2935537B1 (fr) * 2008-08-28 2010-10-22 Soitec Silicon On Insulator Procede d'initiation d'adhesion moleculaire
JP2010048993A (ja) * 2008-08-21 2010-03-04 Fujinon Corp 積層型カメラモジュールの製造方法および積層型カメラモジュール並びに撮像装置。
JP5342838B2 (ja) * 2008-08-28 2013-11-13 ラピスセミコンダクタ株式会社 カメラモジュール及びその製造方法
KR101018117B1 (ko) * 2008-09-01 2011-02-25 삼성전기주식회사 렌즈 조립체 및 그 제조 방법
KR101572531B1 (ko) 2008-09-02 2015-11-27 삼성전자주식회사 조립시 중심 맞춤되는 부품, 웨이퍼 레벨 부품 조립체, 웨이퍼 레벨 부품 조립체의 제조장치 및 제조방법
JP2010073748A (ja) * 2008-09-16 2010-04-02 Sharp Corp ウエハトレイ、それを用いた検査装置および検査方法
CN102209622B (zh) 2008-09-18 2014-05-28 数字光学东方公司 光学块和形成光学块的方法
JP4764941B2 (ja) * 2008-09-25 2011-09-07 シャープ株式会社 光学素子、光学素子ウエハ、光学素子ウエハモジュール、光学素子モジュール、光学素子モジュールの製造方法、電子素子ウエハモジュール、電子素子モジュールの製造方法、電子素子モジュールおよび電子情報機器
JP4764942B2 (ja) * 2008-09-25 2011-09-07 シャープ株式会社 光学素子、光学素子ウエハ、光学素子ウエハモジュール、光学素子モジュール、光学素子モジュールの製造方法、電子素子ウエハモジュール、電子素子モジュールの製造方法、電子素子モジュールおよび電子情報機器
JP5340102B2 (ja) 2008-10-03 2013-11-13 富士フイルム株式会社 分散組成物、重合性組成物、遮光性カラーフィルタ、固体撮像素子、液晶表示装置、ウェハレベルレンズ、及び撮像ユニット
US8238028B2 (en) * 2008-10-06 2012-08-07 Kabushiki Kaisha Toshiba Erect equal-magnification lens array, scanning optical system, exposing optical system and image forming apparatus
US8823859B2 (en) 2008-10-08 2014-09-02 Olympus Corporation Image pickup unit, optical unit, and manufacturing method for the image pickup unit
JP5248971B2 (ja) * 2008-10-08 2013-07-31 オリンパス株式会社 撮像ユニットの製造方法、および撮像ユニット
US8482664B2 (en) * 2008-10-16 2013-07-09 Magna Electronics Inc. Compact camera and cable system for vehicular applications
WO2010050304A1 (ja) * 2008-10-31 2010-05-06 コニカミノルタオプト株式会社 ウエハレンズ及びその製造方法
JP5324890B2 (ja) 2008-11-11 2013-10-23 ラピスセミコンダクタ株式会社 カメラモジュールおよびその製造方法
GB2465607A (en) 2008-11-25 2010-05-26 St Microelectronics CMOS imager structures
KR101567067B1 (ko) 2008-12-02 2015-11-06 엘지이노텍 주식회사 카메라모듈
NL1036360C2 (nl) 2008-12-23 2010-06-24 Anteryon B V Optische eenheid.
KR101532093B1 (ko) * 2009-01-15 2015-06-26 엘지이노텍 주식회사 카메라 모듈의 제조 방법
CN107039469A (zh) * 2009-02-03 2017-08-11 Flir***贸易比利时有限公司 光学成像设备、制造光学成像设备的方法和对场景成像的方法
JP5171681B2 (ja) * 2009-02-13 2013-03-27 オリンパス株式会社 レンズモジュールの製造方法
US20100208125A1 (en) * 2009-02-13 2010-08-19 Sony Corporation Optical unit and imaging apparatus
JP5468790B2 (ja) * 2009-02-13 2014-04-09 オリンパス株式会社 レンズモジュールの製造方法
US8427571B2 (en) * 2009-02-13 2013-04-23 Sony Corporation Optical unit and imaging apparatus
JP5519198B2 (ja) 2009-02-13 2014-06-11 ソニー株式会社 光学ユニットおよび撮像装置
JP2010186092A (ja) * 2009-02-13 2010-08-26 Olympus Corp レンズモジュールの製造方法、レンズモジュール、カメラモジュール、及び電子機器
JP5340198B2 (ja) 2009-02-26 2013-11-13 富士フイルム株式会社 分散組成物
JP5436890B2 (ja) * 2009-03-04 2014-03-05 オリンパス株式会社 レンズユニット、レンズモジュール、カメラモジュール、及び電子機器
WO2010103943A1 (ja) * 2009-03-11 2010-09-16 コニカミノルタホールディングス株式会社 カメラモジュールアレイおよびその製造方法
FR2943177B1 (fr) 2009-03-12 2011-05-06 Soitec Silicon On Insulator Procede de fabrication d'une structure multicouche avec report de couche circuit
US8450821B2 (en) * 2009-03-26 2013-05-28 Micron Technology, Inc. Method and apparatus providing combined spacer and optical lens element
JP5532881B2 (ja) * 2009-04-10 2014-06-25 株式会社リコー 撮像装置、車載撮像装置、撮像装置の製造方法及び製造装置
CN101872033B (zh) * 2009-04-24 2014-04-30 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 遮光片阵列、遮光片阵列制造方法及镜头模组阵列
WO2010129039A1 (en) 2009-05-05 2010-11-11 Tessera Technologies Hungary Kft. Folded optic, camera system including the same, and associated methods
EP3081369B1 (en) * 2009-06-02 2021-05-19 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Method for manufacturing a lens
ES2680897T3 (es) 2009-06-02 2018-09-11 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Método de fabricación de una lente
KR20100130423A (ko) * 2009-06-03 2010-12-13 삼성전자주식회사 웨이퍼-레벨 렌즈 모듈 및 이를 구비하는 촬상 모듈
FR2947380B1 (fr) 2009-06-26 2012-12-14 Soitec Silicon Insulator Technologies Procede de collage par adhesion moleculaire.
JPWO2011010510A1 (ja) * 2009-07-24 2012-12-27 Jsr株式会社 撮像レンズ
CN102472837B (zh) 2009-08-13 2015-02-25 富士胶片株式会社 晶片级透镜、晶片级透镜的制备方法和成像单元
US9419032B2 (en) * 2009-08-14 2016-08-16 Nanchang O-Film Optoelectronics Technology Ltd Wafer level camera module with molded housing and method of manufacturing
JP5118674B2 (ja) * 2009-08-28 2013-01-16 シャープ株式会社 光学素子モジュールおよびその製造方法、電子素子モジュールおよびその製造方法、電子情報機器
JP5644765B2 (ja) * 2009-08-31 2014-12-24 コニカミノルタ株式会社 ウエハレンズの製造方法
US8351219B2 (en) * 2009-09-03 2013-01-08 Visera Technologies Company Limited Electronic assembly for an image sensing device
TW201109164A (en) * 2009-09-11 2011-03-16 E Pin Optical Industry Co Ltd Stacked disk-shaped optical lens array, stacked lens module and their method of manufacturing thereof
US8059341B2 (en) * 2009-09-23 2011-11-15 Visera Technologies Company Limited Lens assembly and method for forming the same
JP2011085625A (ja) * 2009-10-13 2011-04-28 Toppan Printing Co Ltd カメラモジュール及びその製造方法
CN102045494A (zh) * 2009-10-22 2011-05-04 国碁电子(中山)有限公司 相机模组及其制作方法
JP5445030B2 (ja) * 2009-10-27 2014-03-19 凸版印刷株式会社 カメラモジュール及びその製造方法
US8792044B2 (en) * 2009-11-05 2014-07-29 Konica Minolta Advanced Layers Inc. Image pickup device and method for manufacturing the image pickup device
KR20110064156A (ko) * 2009-12-07 2011-06-15 삼성전자주식회사 촬상 장치 및 그 제조방법
JP5589509B2 (ja) 2009-12-28 2014-09-17 ソニー株式会社 光学ユニットおよび撮像装置
US8203647B2 (en) 2010-02-11 2012-06-19 Himax Semiconductor, Inc. Image sensor module and method for manufacturing the same
JP2011170176A (ja) * 2010-02-19 2011-09-01 Toppan Printing Co Ltd ウエハレベルレンズモジュールの製造方法
JP2011176715A (ja) 2010-02-25 2011-09-08 Nikon Corp 裏面照射型撮像素子および撮像装置
JP5010699B2 (ja) * 2010-03-03 2012-08-29 株式会社東芝 光学素子およびカメラモジュール
JP2011186306A (ja) * 2010-03-10 2011-09-22 Fujifilm Corp ウェハレンズユニットおよびウェハレンズユニットの製造方法
EP2369371A3 (en) 2010-03-10 2013-05-01 Fujifilm Corporation Wafer lens array and method for manufacturing the same
JP2011209699A (ja) 2010-03-10 2011-10-20 Fujifilm Corp ウェハレンズアレイ及びその製造方法
US20110221950A1 (en) 2010-03-12 2011-09-15 Doeke Jolt Oostra Camera device, wafer scale package
JP5636713B2 (ja) 2010-03-24 2014-12-10 ソニー株式会社 光学ユニットおよび撮像装置
KR101497779B1 (ko) 2010-03-31 2015-03-04 에베 그룹 게엠베하 마이크로렌즈 제조 장치 및 제조 방법
US8361830B2 (en) 2010-04-09 2013-01-29 Himax Semiconductor, Inc. Image sensor module and method of manufacturing the same
CN102472839B (zh) * 2010-04-27 2015-05-13 柯尼卡美能达精密光学株式会社 摄像用透镜、晶片透镜、晶片透镜层叠体、摄像用透镜的制造方法、摄像用透镜的中间物、摄像用透镜的中间物的制造方法
CN102236234A (zh) * 2010-05-05 2011-11-09 黄珀慧 数字光学镜头的遮光片与载体结构及其制法
JP2012009816A (ja) * 2010-05-28 2012-01-12 Casio Comput Co Ltd 半導体装置およびその製造方法
US8477195B2 (en) 2010-06-21 2013-07-02 Omnivision Technologies, Inc. Optical alignment structures and associated methods
JP5533339B2 (ja) * 2010-06-28 2014-06-25 ソニー株式会社 光電変換装置とそのパッケージ構造、並びに光電変換装置の製造方法
KR101734963B1 (ko) 2010-07-05 2017-05-12 삼성전자주식회사 복수의 촬상 모듈을 갖는 촬상 장치
JP2012027085A (ja) 2010-07-20 2012-02-09 Sony Corp 光学ユニットおよび撮像装置
FR2963114B1 (fr) 2010-07-26 2013-05-10 Commissariat Energie Atomique Dispositif optique, boitier a l'echelle d'une tranche pour un tel dispositif optique et procede correspondant.
NL2005164C2 (nl) 2010-07-28 2012-01-31 Anteryon Internat B V Optische eenheid.
US9237264B2 (en) 2010-08-17 2016-01-12 Heptagon Micro Optics Pte. Ltd. Method of manufacturing a plurality of optical devices for cameras
US20140192238A1 (en) 2010-10-24 2014-07-10 Linx Computational Imaging Ltd. System and Method for Imaging and Image Processing
JP5664172B2 (ja) * 2010-11-25 2015-02-04 ソニー株式会社 光学ユニットおよび撮像装置
CN102540383B (zh) * 2010-12-16 2016-03-09 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 镜头模组制造方法
KR20120073887A (ko) * 2010-12-27 2012-07-05 삼성전자주식회사 이미지 처리 장치 및 그 이미지 처리 방법
WO2012098808A1 (ja) * 2011-01-21 2012-07-26 富士フイルム株式会社 スタック型レンズアレイ及びレンズモジュール
US10009528B2 (en) 2011-02-24 2018-06-26 Nan Chang O-Film Optoelectronics Technology Ltd Autofocus camera module packaging with circuitry-integrated actuator system
US8545114B2 (en) 2011-03-11 2013-10-01 Digitaloptics Corporation Auto focus-zoom actuator or camera module contamination reduction feature with integrated protective membrane
NL2006373C2 (nl) 2011-03-11 2012-09-17 Anteryon Internat B V Optische eenheid.
CN102738183B (zh) * 2011-04-12 2016-05-11 奇景光电股份有限公司 晶片级微电子成像器
CN102778736A (zh) * 2011-05-13 2012-11-14 昆山西钛微电子科技有限公司 免调焦光学摄像头模组
JP2012247569A (ja) * 2011-05-26 2012-12-13 Konica Minolta Advanced Layers Inc 光学ユニット、撮像装置、及び光学ユニットの製造方法
WO2012173252A1 (ja) * 2011-06-17 2012-12-20 コニカミノルタアドバンストレイヤー株式会社 ウェハーレンズの製造方法及びウェハーレンズ、並びにレンズユニットの製造方法及びレンズユニット
KR101980657B1 (ko) * 2011-06-30 2019-05-22 엘지이노텍 주식회사 렌즈 어셈블리의 제조방법
KR101980634B1 (ko) * 2011-06-30 2019-05-22 엘지이노텍 주식회사 렌즈 유닛, 및 이를 포함하는 카메라 모듈
JP6223975B2 (ja) 2011-08-25 2017-11-01 ヘプタゴン・マイクロ・オプティクス・プライベート・リミテッドHeptagon Micro Optics Pte. Ltd. 光学装置の、特にコンピュテーショナルカメラ用モジュールのウェハレベルの製作
US8388793B1 (en) * 2011-08-29 2013-03-05 Visera Technologies Company Limited Method for fabricating camera module
US8729653B2 (en) 2011-10-26 2014-05-20 Omnivision Technologies, Inc. Integrated die-level cameras and methods of manufacturing the same
JP2013097038A (ja) * 2011-10-28 2013-05-20 Konica Minolta Advanced Layers Inc レンズモジュールの製造方法
US20130122247A1 (en) 2011-11-10 2013-05-16 Omnivision Technologies, Inc. Spacer Wafer For Wafer-Level Camera And Method For Manufacturing Same
US8826511B2 (en) 2011-11-15 2014-09-09 Omnivision Technologies, Inc. Spacer wafer for wafer-level camera and method of manufacturing same
TW201339630A (zh) 2011-11-30 2013-10-01 Anteryon Internat B V 設備與方法
US20130162789A1 (en) * 2011-12-22 2013-06-27 Himax Imaging Limited Endoscope with a light source
US20130162767A1 (en) * 2011-12-22 2013-06-27 Himax Imaging Limited Endoscope and wireless transmission system thereof
US9444985B2 (en) * 2012-05-03 2016-09-13 Semiconductor Components Industries, Llc Reduced height camera modules
KR102107575B1 (ko) 2012-05-17 2020-05-08 헵타곤 마이크로 옵틱스 피티이. 리미티드 웨이퍼 스택 조립
WO2013191546A1 (en) 2012-06-19 2013-12-27 Anteryon International B.V. A method for forming a lens module and a camera module
US20130341747A1 (en) * 2012-06-20 2013-12-26 Xintec Inc. Chip package and method for forming the same
JP5469235B2 (ja) * 2012-12-20 2014-04-16 オリンパス株式会社 レンズモジュールの製造方法
KR101452078B1 (ko) * 2012-12-28 2014-10-16 삼성전기주식회사 쉴드캔 및 쉴드캔 제조용 지그
CN103050502A (zh) * 2012-12-28 2013-04-17 格科微电子(上海)有限公司 晶圆级镜头模组阵列、阵列组合及两者的制作方法
GB2509763B (en) * 2013-01-14 2018-09-05 Kaleido Tech Aps A method for aligning optical wafers
EP3007228B1 (en) 2013-05-21 2021-03-17 Photonic Sensors & Algorithms, S.L. Monolithic integration of plenoptic lenses on photosensor substrates
JP5880506B2 (ja) * 2013-09-19 2016-03-09 富士ゼロックス株式会社 処理装置
US10193026B2 (en) * 2013-10-08 2019-01-29 Heptagon Micro Optics Pte. Ltd. Partial spacers for wafer-level fabricated modules
US9411136B2 (en) * 2013-10-29 2016-08-09 Lite-On Electronics (Guangzhou) Limited Image capturing module and optical auxiliary unit thereof
CN105765722B (zh) * 2013-11-22 2019-10-22 赫普塔冈微光有限公司 紧凑光电模块
NL2011843C2 (en) 2013-11-26 2015-05-27 Anteryon Wafer Optics B V A method for manufacturing an optical assembly.
US9121994B2 (en) 2013-12-17 2015-09-01 Anteryon Wafer Optics B.V. Method of fabricating a wafer level optical lens assembly
NL2012262C2 (en) 2014-02-13 2015-08-17 Anteryon Wafer Optics B V Method of fabricating a wafer level optical lens assembly.
US9553126B2 (en) * 2014-05-05 2017-01-24 Omnivision Technologies, Inc. Wafer-level bonding method for camera fabrication
US9467606B2 (en) * 2014-06-10 2016-10-11 Omnivision Technologies, Inc. Wafer level stepped sensor holder
US10452934B1 (en) * 2014-06-13 2019-10-22 B/E Aerospace, Inc. Apparatus and method for providing attitude reference for vehicle passengers
US10366883B2 (en) 2014-07-30 2019-07-30 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Hybrid multilayer device
US9768216B2 (en) * 2014-11-07 2017-09-19 Stmicroelectronics Pte Ltd Image sensor device with different width cell layers and related methods
WO2016191142A2 (en) 2015-05-27 2016-12-01 Verily Life Sciences Llc Nanophotonic hyperspectral/lightfield superpixel imager
TWI741988B (zh) * 2015-07-31 2021-10-11 日商新力股份有限公司 堆疊式透鏡結構及其製造方法,以及電子裝置
JP6967830B2 (ja) * 2015-07-31 2021-11-17 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 半導体装置、レンズモジュール及びその製造方法、並びに、電子機器
US10889078B2 (en) * 2015-08-05 2021-01-12 Omnivision Technologies, Inc. Optical spacer including controlled located aperture and method of manufacturing the same
WO2017039674A1 (en) 2015-09-03 2017-03-09 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Defect free heterogeneous substrates
WO2017072847A1 (ja) * 2015-10-27 2017-05-04 オリンパス株式会社 内視鏡
US9733485B2 (en) 2015-10-30 2017-08-15 Himax Technologies Limited Collimating lens
EP3163347B1 (en) * 2015-11-02 2019-10-30 Himax Technologies Limited Collimating lens
US9653504B1 (en) * 2015-11-03 2017-05-16 Omnivision Technologies, Inc. Chip-scale packaged image sensor packages with black masking and associated packaging methods
US9804367B2 (en) * 2015-11-04 2017-10-31 Omnivision Technologies, Inc. Wafer-level hybrid compound lens and method for fabricating same
WO2017123245A1 (en) 2016-01-15 2017-07-20 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Multilayer device
CN105487147B (zh) * 2016-01-25 2017-09-05 瑞声声学科技(苏州)有限公司 镜头及其切割方法
WO2017171737A1 (en) 2016-03-30 2017-10-05 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Devices having substrates with selective airgap regions
US10217789B2 (en) * 2016-04-06 2019-02-26 Omnivision Technologies, Inc. Interposer and chip-scale packaging for wafer-level camera
JPWO2017195302A1 (ja) * 2016-05-11 2019-03-07 オリンパス株式会社 レンズユニットの製造方法、及び撮像装置の製造方法
JPWO2017203594A1 (ja) * 2016-05-24 2018-11-15 オリンパス株式会社 内視鏡用撮像ユニット、および内視鏡
US10551596B2 (en) * 2016-06-29 2020-02-04 Ams Sensors Singapore Pte. Ltd. Optical and optoelectronic assemblies including micro-spacers, and methods of manufacturing the same
JP6851838B2 (ja) * 2017-01-26 2021-03-31 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 積層レンズ構造体、カメラモジュール、および、電子機器
JP6878018B2 (ja) 2017-01-26 2021-05-26 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 Afモジュール、カメラモジュール、および、電子機器
JP6791584B2 (ja) * 2017-02-01 2020-11-25 株式会社ディスコ 加工方法
JP2018200980A (ja) 2017-05-29 2018-12-20 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 撮像装置および固体撮像素子、並びに電子機器
JP2018200423A (ja) * 2017-05-29 2018-12-20 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 撮像装置、および電子機器
US10677964B2 (en) 2017-10-23 2020-06-09 Omnivision Technologies, Inc. Lens wafer assembly and associated method for manufacturing a stepped spacer wafer
US10381801B1 (en) 2018-04-26 2019-08-13 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Device including structure over airgap
NL2020987B1 (en) * 2018-05-25 2020-01-07 Anteryon Int B V Lens system
US11048067B2 (en) 2018-05-25 2021-06-29 Anteryon International B.V. Lens system
WO2020246293A1 (ja) * 2019-06-06 2020-12-10 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 撮像装置
KR20210081767A (ko) * 2019-12-24 2021-07-02 삼성전자주식회사 이미지 장치 및 이미지 센싱 방법

Family Cites Families (60)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4695719A (en) * 1983-12-05 1987-09-22 Honeywell Inc. Apparatus and method for opto-electronic package
US5274456A (en) * 1987-12-28 1993-12-28 Hitachi, Ltd. Semiconductor device and video camera unit using it and their manufacturing method
DK300689A (da) * 1988-06-21 1989-12-22 Rohm Co Ltd Apparat til optisk skrivning af informationer
US5400072A (en) * 1988-12-23 1995-03-21 Hitachi, Ltd. Video camera unit having an airtight mounting arrangement for an image sensor chip
US5239412A (en) * 1990-02-05 1993-08-24 Sharp Kabushiki Kaisha Solid image pickup device having microlenses
JPH06288844A (ja) * 1993-03-31 1994-10-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 力学量センサ
US5444520A (en) * 1993-05-17 1995-08-22 Kyocera Corporation Image devices
JP2601148B2 (ja) * 1993-07-23 1997-04-16 日本電気株式会社 固体撮像装置
US6059188A (en) * 1993-10-25 2000-05-09 Symbol Technologies Packaged mirror including mirror travel stops
US5617131A (en) * 1993-10-28 1997-04-01 Kyocera Corporation Image device having a spacer with image arrays disposed in holes thereof
US5396350A (en) * 1993-11-05 1995-03-07 Alliedsignal Inc. Backlighting apparatus employing an array of microprisms
JPH07225303A (ja) * 1993-12-16 1995-08-22 Sharp Corp マイクロレンズ基板及びそれを用いた液晶表示素子ならびに液晶プロジェクタ装置
JPH0832752A (ja) * 1994-07-14 1996-02-02 Kyocera Corp 画像装置
US5655189A (en) * 1994-05-27 1997-08-05 Kyocera Corporation Image device having thermally stable light emitting/receiving arrays and opposing lenses
JPH0884278A (ja) * 1994-09-12 1996-03-26 Olympus Optical Co Ltd 固体撮像装置
DE19508222C1 (de) * 1995-03-08 1996-06-05 Siemens Ag Optoelektronischer Wandler und Herstellverfahren
EP0773673A4 (en) * 1995-05-31 2001-05-23 Sony Corp IMAGE RECORDING DEVICE, METHOD FOR THE PRODUCTION THEREOF, IMAGE RECORDING ADAPTER, DEVICE AND METHOD FOR THE SIGNAL AND INFORMATION PROCESSING
JPH09181287A (ja) * 1995-10-24 1997-07-11 Sony Corp 受光装置とその製造方法
JP3380949B2 (ja) * 1995-10-25 2003-02-24 ソニー株式会社 半導体光学装置
US6096155A (en) * 1996-09-27 2000-08-01 Digital Optics Corporation Method of dicing wafer level integrated multiple optical elements
JPH10253920A (ja) * 1997-03-12 1998-09-25 Fujitsu Ltd 光学装置
JPH11121653A (ja) * 1997-07-31 1999-04-30 Fuji Film Microdevices Co Ltd 半導体装置とその製造方法
JPH1168074A (ja) * 1997-08-13 1999-03-09 Sony Corp 固体撮像素子
US6072634A (en) * 1997-12-01 2000-06-06 Intel Corporation Compact digital camera objective with interdigitated element alignment, stray light suppression, and anti-aliasing features
US6204454B1 (en) * 1997-12-27 2001-03-20 Tdk Corporation Wiring board and process for the production thereof
US6604824B2 (en) * 1998-02-23 2003-08-12 Charles P. Larson Polarized lens with oxide additive
WO2000016157A1 (fr) * 1998-09-16 2000-03-23 Fujitsu Limited Dispositif optique et dispositif d'affichage utilisant ce dispositif
JP3407218B2 (ja) * 1998-12-09 2003-05-19 富士電機株式会社 半導体光センサデバイス
CN1232886C (zh) * 1999-03-03 2005-12-21 松下电器产业株式会社 调色剂用粘合树脂、调色剂和电子照相装置
US6324010B1 (en) * 1999-07-19 2001-11-27 Eastman Kodak Company Optical assembly and a method for manufacturing lens systems
JP2001119006A (ja) * 1999-10-19 2001-04-27 Sony Corp 撮像デバイス及びその製造方法
US6483101B1 (en) * 1999-12-08 2002-11-19 Amkor Technology, Inc. Molded image sensor package having lens holder
IL133453A0 (en) * 1999-12-10 2001-04-30 Shellcase Ltd Methods for producing packaged integrated circuit devices and packaged integrated circuit devices produced thereby
JP2001188107A (ja) * 1999-12-28 2001-07-10 Seiko Epson Corp マイクロレンズ基板の製造方法、マイクロレンズ基板、液晶パネル用対向基板、液晶パネルおよび投射型表示装置
JP3664028B2 (ja) * 2000-02-23 2005-06-22 三菱電機株式会社 撮像装置
US6285064B1 (en) * 2000-03-28 2001-09-04 Omnivision Technologies, Inc. Chip scale packaging technique for optical image sensing integrated circuits
JP4043686B2 (ja) * 2000-03-30 2008-02-06 オリンパス株式会社 反射防止膜付きレンズ及び内視鏡
JP2001290008A (ja) * 2000-04-04 2001-10-19 Sony Corp 光学素子の製造方法
DE10023353A1 (de) * 2000-05-12 2001-11-29 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung
JP2002139662A (ja) 2000-11-06 2002-05-17 Konica Corp 撮像装置
US6684034B2 (en) * 2000-12-15 2004-01-27 Chi Wang Tseng Optical signal receiving device
TW523924B (en) * 2001-01-12 2003-03-11 Konishiroku Photo Ind Image pickup device and image pickup lens
US20040012698A1 (en) * 2001-03-05 2004-01-22 Yasuo Suda Image pickup model and image pickup device
US6635941B2 (en) * 2001-03-21 2003-10-21 Canon Kabushiki Kaisha Structure of semiconductor device with improved reliability
JP2002283361A (ja) * 2001-03-23 2002-10-03 Seiko Epson Corp マイクロレンズアレイ及びその製造方法並びに光学装置
JP2002286934A (ja) * 2001-03-28 2002-10-03 Kyocera Corp 光学フィルタとこれを用いた撮像装置およびこれを用いた撮像機器
JP4174247B2 (ja) * 2002-06-24 2008-10-29 富士フイルム株式会社 固体撮像素子の製造方法
US7074638B2 (en) * 2002-04-22 2006-07-11 Fuji Photo Film Co., Ltd. Solid-state imaging device and method of manufacturing said solid-state imaging device
JP2003329895A (ja) * 2002-05-14 2003-11-19 Sony Corp 光リンク装置
JP3938099B2 (ja) * 2002-06-12 2007-06-27 セイコーエプソン株式会社 マイクロレンズの製造方法、マイクロレンズ、マイクロレンズアレイ板、電気光学装置及び電子機器
WO2004003618A1 (ja) * 2002-07-01 2004-01-08 Rohm Co., Ltd. イメージセンサモジュール
JP4040481B2 (ja) * 2003-01-22 2008-01-30 キヤノン株式会社 3次元構造形成方法
JP4366121B2 (ja) * 2003-06-11 2009-11-18 キヤノン株式会社 素子の製造方法
US7221524B2 (en) * 2004-01-30 2007-05-22 Fujifilm Corporation Lens unit and compact image pickup module
US7253397B2 (en) * 2004-02-23 2007-08-07 Micron Technology, Inc. Packaged microelectronic imagers and methods of packaging microelectronic imagers
US6940654B1 (en) * 2004-03-09 2005-09-06 Yin S. Tang Lens array and method of making same
US7632713B2 (en) * 2004-04-27 2009-12-15 Aptina Imaging Corporation Methods of packaging microelectronic imaging devices
US7280278B2 (en) * 2004-06-02 2007-10-09 Micron Technology, Inc. Apparatus and method for manufacturing positive or negative microlenses
US7223626B2 (en) * 2004-08-19 2007-05-29 Micron Technology, Inc. Spacers for packaged microelectronic imagers and methods of making and using spacers for wafer-level packaging of imagers
KR100873248B1 (ko) * 2004-12-14 2008-12-11 세이코 프레시죤 가부시키가이샤 고체 촬상 장치 및 전자 기기

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8477437B2 (en) 2008-02-12 2013-07-02 Konica Minolta Opto, Inc. Lens unit, image capturing lens, image capturing device and portable terminal
US8493672B2 (en) 2008-02-12 2013-07-23 Konica Minolta Opto, Inc. Imaging lens, image pickup device and portable terminal
US8270098B2 (en) 2008-02-20 2012-09-18 Konica Minolto Opto, Inc. Image pickup lens, image pickup apparatus, mobile terminal, and method for manufacturing image pickup lens
KR100945443B1 (ko) * 2008-07-22 2010-03-05 삼성전기주식회사 웨이퍼 레벨 카메라 모듈
KR100956381B1 (ko) * 2008-08-25 2010-05-07 삼성전기주식회사 웨이퍼 레벨 카메라 모듈의 제조 방법
KR100957384B1 (ko) * 2008-09-22 2010-05-11 엘지이노텍 주식회사 카메라 모듈
KR100972435B1 (ko) * 2008-09-22 2010-07-26 삼성전기주식회사 카메라 모듈

Also Published As

Publication number Publication date
EP2273555A3 (en) 2012-09-12
CN1682377A (zh) 2005-10-12
US20070275505A1 (en) 2007-11-29
JP2009153178A (ja) 2009-07-09
JP4874350B2 (ja) 2012-02-15
WO2004027880A3 (en) 2005-01-13
CN100440544C (zh) 2008-12-03
JP4397819B2 (ja) 2010-01-13
EP2273555A2 (en) 2011-01-12
KR20070089889A (ko) 2007-09-03
JP2005539276A (ja) 2005-12-22
KR20050048635A (ko) 2005-05-24
KR100774775B1 (ko) 2007-11-07
US7564496B2 (en) 2009-07-21
US20060044450A1 (en) 2006-03-02
AU2003263417A1 (en) 2004-04-08
EP1543564A2 (en) 2005-06-22
WO2004027880A2 (en) 2004-04-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100774775B1 (ko) 카메라 디바이스, 카메라 디바이스 제조 방법, 웨이퍼스케일 패키지 및 광학 어셈블리
US8670055B2 (en) Image pickup lens, camera module using the same, image pickup lens manufacturing method and camera module manufacturing method
KR100817060B1 (ko) 카메라 모듈 및 그 제조 방법
TWI781085B (zh) 複眼透鏡模組及複眼相機模組
KR100956250B1 (ko) 웨이퍼 스케일 렌즈조립체 제조방법 및 이에 의해 제조된웨이퍼 스케일 렌즈조립체
JP4226617B2 (ja) マイクロ撮影装置及びその製造方法
EP2682797B1 (en) Method for manufacturing lens module, and lens module
WO2009116600A1 (ja) ウエハ状光学装置およびその製造方法、電子素子ウエハモジュール、センサウエハモジュール、電子素子モジュール、センサモジュール、電子情報機器
JP2009279790A (ja) レンズ及びその製造方法、並びに、レンズアレイ、カメラモジュール及びその製造方法、電子機器
JP5464502B2 (ja) レンズユニット、撮像装置及びレンズユニットの製造方法
JP6670565B2 (ja) 積層レンズ構造体の製造方法及び型
US20110220278A1 (en) Method of manufacturing a plurality of optical devices
KR101316287B1 (ko) 적층형 카메라 장치 및 제조방법
JP2004096638A (ja) 撮像装置およびその製造方法
WO2024125658A1 (zh) 一种摄像模组
Leitel et al. Recent developments in wafer-level fabrication of micro-optical multi-aperture imaging systems
CN118250546A (zh) 一种摄像模组
KR101168362B1 (ko) 렌즈모듈 및 그 제조방법
CN118348723A (zh) 于两玻璃基板间具夹层透镜结构的相机模组
CN116088074A (zh) 镜头模组及其制造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A107 Divisional application of patent
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application
J201 Request for trial against refusal decision
N231 Notification of change of applicant
J301 Trial decision

Free format text: TRIAL DECISION FOR APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL REQUESTED 20091125

Effective date: 20110228

Free format text: TRIAL NUMBER: 2009101010706; TRIAL DECISION FOR APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL REQUESTED 20091125

Effective date: 20110228

J2X1 Appeal (before the patent court)

Free format text: APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL

Free format text: TRIAL NUMBER: 2011201003254; APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL

J302 Written judgement (patent court)

Free format text: JUDGMENT (PATENT COURT) FOR APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL REQUESTED 20110406

Effective date: 20111007

Free format text: TRIAL NUMBER: 2011201003254; JUDGMENT (PATENT COURT) FOR APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL REQUESTED 20110406

Effective date: 20111007