JPH0656779U - プリント基板等の検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 プローブピンにおけるスリーブをなくすこと
で、接続端子のピッチ間隔が０．２mm以下という極小ピ
ッチ検査を可能とする。 【構成】 プローブピン１０は、上下対称形の一対のコ
ンタクトピン１１とこれを電気的接続しているコイルス
プリング１２とから構成され、該プローブピン１０は絶
縁板２０に穿設され、かつスルーホールメッキ２２の処
理がなされた極小貫通孔２１及び絶縁板２０の上下面に
重合取り付けのガイド板３０の貫通孔３１内にそのコン
タクトピン上部を突出せしめ、かつ貫通孔３１と絶縁板
極小貫通孔２１との段部３２でコンタクトピン１１が抜
け出ないようにして遊挿され、上部コンタクトピン１１
に基板１００が電気的接触し、下部コンタクトピン１１
が測定手段と導通の基板パターン４２と電気的接触して
基板１００等の回路動作が検査される。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、プリント基板等の回路動作の検査装置に関し、更に詳しくは、プリ ント基板およびＩＣ、ＬＣＤ等の極小ピッチ検査に最適な装置に関する。

【０００２】

【従来の技術とその問題点】

周知のように、半導体集積回路（ＩＣ）は出現当初その接続端子として２．５ ４ｍｍピッチを持つ所謂デュアルインラインパッケージとして提供され、これら を搭載してより上位の電子回路機能体を得るため、通常印刷回路配線板上にＩＣ を始めとする回路部品を搭載接続してプリント基板とし、高機能の電子機器等に おける制御回路を構成していた。したがって、これらの配線板等の接続端子部材 に電気的接触させて、各種の試験や検査を実行するためのプローブピンもまた２ ．５４ｍｍピッチ格子に対応するものが主体であった。

【０００３】 しかしながら、近年のように半導体とその利用分野における諸技術の発展に伴 い、ＩＣが次第に高速化、高集積化されると共に、その接続端子も細小化されて プリント基板における高密度化実装、高信頼化の要求が益々強まって、搭載部品 の高密度化の一例として表面実装部品による接続端子のピッチ間隔が２．５４ｍ ｍ→１．２７ｍｍ→０．６３５ｍｍと狭くなって小形化、チップ化が進行し、プ リント基板における導体パターン幅、パターン間隔も極小化するようになってき ておりこの接続端子のピッチ間隔の極小化に伴い、プローブピンも製作可能な限 り極小化が求められている。

【０００４】 ところで、従来この種プローブピンとしては、スリーブを使用したものがある が、スリーブの外径には限界があり、スリープの外径は２．５４ｍｍ→１．２７ ｍｍ→０．６３５ｍｍに対応して例えば０．８ｍｍ→０．４ｍｍ→０．２ｍｍが 必然的に期待され、極小ピッチに対応させようとすると、製作が極めて困難で、 コスト高になるという問題点があった。

【０００５】 また、プローブカード及び鋼線の弾性を利用した極小ピッチの検査フィクチャ ーも存するがこれはストロークが非常に小さく（０．２〜０．３ｍｍ）、そのた め製品によっては検査が極めて困難であるという問題点があった。

【０００６】 本考案は、このような従来の技術が有する問題点に鑑みなされたもので、その 目的とするところは、接続端子のピッチ間隔が０．２ｍｍ以下という極小ピッチ 検査に充分に対応できるプリント基板等の検査装置を提供することにある。

【０００７】

【問題点を解決するための手段】

この目的のため、本考案は、絶縁板に植設のプロープピンをプリント基板等に 電気的接触させて該プリント基板等の回路動作を検査する装置において、前記プ ローブピン１０は、先端接触部１３を有する断面円形の小径柱部１４と該小径柱 部１４と同軸状の断面円形の大径柱部１６及び小径嵌入柱部１８を有する一対の コンタクトピン１１が、上下対称形にして、かつその各小径嵌入柱部１８、１８ に対するコイルスプリング１２の両端部の圧入をもって電気的接続されて構成さ れると共に、該プローブピン１０は、前記絶縁板２０に穿設され、かつスルーホ ールメッキ２２の処理が施された極小貫通孔２１内にその上下の小径柱部１４を 突出せしめた状態で遊挿され、前記絶縁板２０の上下面には、その貫通孔３１を 介して前記小径柱部１４を突出せしめ、かつ該貫通孔３１と前記絶縁板２０の極 小貫通孔２１との段部３２で前記小径柱部１４と大径柱部１６との段部１５が係 止せられて抜け出ないようにされたガイド板３０が取り外し可能に重合取り付け られ、更に前記プローブピン１０のいずれか一方の先端接触部１３が、回路動作 の測定手段と電気的接続の基板４０と電気的接触状態にある構成を特徴とするも のである。

【０００８】

【実施例】

本考案の実施例を図面に基づきその作用と共に説明すると、図１は本案装置の 一例での一部を断面して示す拡大部分図、図２はプローブピンの一部を省略して 示す正面図で、これら図において、プローブピン１０は、上下対称形の一対のコ ンタクトピン１１がコイルスプリング１２を介して電気的接続され、従来のプロ ーブピンにおいては不可欠であったスリーブを不要とした構造になっている。更 に説明すると、一対のコンタクトピン１１は、図３及び図４に示されているよう に、先端接触部１３を有する断面円形の小径柱部１４と、段部１５を介して該小 径柱部１４と同軸状に一体に設けられた断面円形の大径柱部１６と、段部１７を 介して該大径柱部１６と一体に設けられた断面円形の小径嵌入柱部１８を有し該 一対のコンタクトピン１１はベリリュウム−銅合金にて製作され、その表面は金 メッキ処理が施されている。なお、先端接触部１３は本実施例においては先鋭状 となっているが、これに限定されず、その形状は平坦状である等任意である。そ して、一対のコンタクトピン１１は、上下対称形にして、かつピアノ線製のコイ ルスプリング１２の両端部に小径嵌入柱部１８が圧入されることによって電気的 接続されている。

【０００９】 図１に示されているように、プローブピン１０は絶縁板２０に穿設された極小 （０．１３〜０．１６ｍｍ）の貫通孔２１内にその上下コンタクトピン１１にお ける小径柱部１４を突出せしめ水状態で遊挿されている。極小貫通孔２１は電気 抵抗値を下げるためスルーホールメッキ２２が施され、該スルーホールメッキ２ ２により孔２１は従来のプローブピンにおけるスリーブの役目をする。なお、極 小貫通孔２１は特に図示しないが、格子状に多数穿設されて、スルーホールメッ キ２２が施され、その各々にプローブピン１０が遊挿されている。

【００１０】 絶縁板２０の上下面には、その各貫通孔３１を介してプローブピン１０の小径 柱部１４を突出せしめ、かつ該貫通孔３１と絶縁板２０の極小貫通孔２１との段 部３２でプローブピン１０における各コンタクトピン１１の小径柱部１４と大径 柱部１６との浚部１５が係止せられて抜け出ないようになされたガイド板３０が ネジ及びノックピン（図示せず）により取り外し可能として重合取り付けられ、 該ガイド板３０によって前記したように、プローブピン１０の抜け止めと、ガイ ド板３０の取り外しによりプローブピン１０の交換またはコンタクトピン１１の 交換等ができるようになっている。

【００１１】 プローブピンにおける一方（本実施例では下側）のコンタクトピン１１の下方 には、その先端接触部１３が僅かに入る極小貫通孔４１と該貫通孔４１からその 下面に亘るパターン４２を有し、更に該パターン４２とリード線（図示しない） を介して回路測定手段（図示しない）と電気的接続された基板４０が設けられ、 コンタクトピン１１の先端接触部１３が貫通孔パターン４２と電気的接触するこ とにより回路動作測定手段と電気的接続がなされるようになっている。

【００１２】 本案装置は以上の構成であって、これの使用は、図１に示されているように、 電子素子を実装した基板１００等を上方より水平に落し入れて、基板１００等の 電子素子のリード端子１０１等をプローブピン１０における上方のコンタクトピ ン１１の先端接触部１３に電気的接触させると共に、下方のコンタクトピン１１ の先端接触部１３を基板４０の孔パターン４２に電気的接触させて、電子素子と 測定手段とを導通させ、電子素子の回路動作の検査を行う。

【００１３】

【考案の効果】

しかして、本考案によれば、プローブピンは従来不可欠であったスリーブが不 要となるばかりか、ストロークは上下のコンタクトピンを連結しているコイルス プリングによって約１．０〜２．０ｍｍまで可能となり、従来のプローブピンで は検査不可能であった接続端子のピッチ間隔が０．２ｍｍ以下という極小ピッチ 検査に充分に対応できるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案に係る検査装置の一例での一部を断面し
て示す拡大部分図である。

【図２】プローブピンの一部を省略して示す正面図であ
る。

【図３】コンタクトピンの正面図である。

【図４】コンタクトピンの拡大平面図である。

【符号の説明】

１０ プローブピン １１ 一対のコンタクトピン １２ コイルスプリング １３ 先端接触部 １４ 小径柱部 １５ 段部 １６ 大径柱部 １８ 小径嵌入柱部 ２０ 絶縁板 ２１ 極小貫通孔 ２２ スルーホールメッキ ３０ ガイド板 ３１ 貫通孔 ３２ 段部 ４０ 基板

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 絶縁板に植設のプローブピンをプリント
   基板等に電気的接触させて該プリント基板等の回路動作
   を検査する装置において、 前記プローブピン（１０）は、先端接触部（１３）を有
   する断面円形の小径柱部（１４）と該小径柱部（１４）
   と同軸状の断面円形の大径柱部（１６）及び小径嵌入柱
   部（１８）を有する一対のコンタクトピン（１１）が、
   上下対称形にしてかつその各小径嵌入柱部（１８）、
   （１８）に対するコイルスプリング（１２）の両端部の
   圧入をもって電気的接続されて構成されると共に、該プ
   ローブピン（１０）は前記絶縁板（２０）に穿設され、
   かつスルーホールメッキ（２２）の処理が施された極小
   貫通孔（２１）内にその上下の小径柱部（１４）を突出
   せしめた状態で遊挿され、前記絶縁板（２０）の上下面
   には、その各貫通孔（３１）を介して前記小径柱部（１
   ４）を突出せしめ、かつ該貫通孔（３１）と前記絶縁板
   （２０）の極小貫通孔（２１）との段部（３２）で前記
   小径柱部（１４）と大径柱部（１６）との段部（１５）
   が係止せられて抜け出ないようにされたガイド板（３
   ０）が取り外し可能に重合取り付けられ、更に前記プロ
   ーブピン（１０）のいずれか一方の先端接触部（１３）
   が回路動作の測定手段と電気的接続の基板（４０）と電
   気的接触状態にある構成を特徴とするプリント基板等の
   検査装置。