JP2002319798A - 電子部品リード切断装置および切断刃摩耗検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子部品のリードを切断する時に、切断する
刃の摩耗による部品不良を検出する。 【解決手段】 上刃２ａ，２ｂと下刃４ａ，４ｂが対向
して設けられている。上刃２ａ，２ｂは図示しない駆動
源に接続されている。上刃２ａ，２ｂと下刃４ａ，４ｂ
の内側には、電極１ａ，１ｂに対向して支持台３が設け
られている。支持台３上にリード付き電子部品６をセッ
トし、上刃２ａ，２ｂは電子部品６のリードを押圧によ
り切断する。この時、上刃２ａ，２ｂの加工と同時期に
電極１ａ，１ｂが電子部品６のリードを支持台３と挟む
ように下降する。切断後に上刃２ａ，２ｂのみ上昇した
後、電極１ａ，１ｂが電子部品６の抵抗値を測定し、切
断刃が摩耗した場合には製品の不良として検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、電子部品のリー
ドを所定の長さに切断する電子部品リード切断装置およ
び電子部品リード切断装置における切断刃摩耗検出方法
に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、電子部品リード切断装置では、例
えば、特開平０７−１５１８４号公報に示されるよう
に、リード付き電子部品のリードを切断する際の切断刃
摩耗による不良電子部品の削減を目的としており、切断
刃摩耗の検出が重要な要素の１つとなっている。

【０００３】図３は、従来の電子部品リード切断装置の
正面図であり、上述した公報の図１を参照番号を変更し
て転載したものである。図３に示す電子部品リード切断
装置は、可動刃１３ａ，１３ｂと固定刃１４ａ，１４ｂ
とひずみゲージ１８ａ，１８ｂを備える。１１は電子部
品であり、１２ａ，１２ｂは電子部品１１に付属するリ
ードである。

【０００４】次に動作を説明する。電子部品１１のリー
ド１２ａ，１２ｂは、固定刃１４ａ，１４ｂに可動刃１
３ａ，１３ｂを押圧してリード１２ａ，１２ｂを切断加
工する。

【０００５】この時、固定刃１４ａ，１４ｂに貼り付け
られたひずみゲージ１８ａ，１８ｂの出力が、あらかじ
め設定されたリード１２ａ，１２ｂの線形、材質などに
よるしきい値を超えた場合に、切断刃の摩耗として検出
し、切断刃の交換時期を決定する手法が採用されてい
る。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上述した公報に記載の
電子部品リード切断装置では、切断時に可動刃と固定刃
の機械的なひずみを計測しているに過ぎず、切断による
部品不良を検出することができず、したがって、実際に
発生した部品不良を削減することが難しいという問題が
ある。

【０００７】また、上述した公報に記載の装置では、切
断時における応力を金属である切断刃の変形量により検
出するため、ダイヤモンドなどの変形しづらい材質を切
断刃に用いた場合、ひずみゲージによる検出は困難であ
り、切断刃の材質を自由に選べないという問題がある。

【０００８】さらに、上述した公報に記載の装置では、
切断刃の摩耗を検出するひずみゲージが切断刃に直接貼
り付けられているため、たとえ刃が摩耗して交換するに
しても容易に再取り付けすることができない。また、ひ
ずみゲージの取り付け場所は同位置でなければ最初の設
定と比較することはできず、メンテナンスが困難とな
る。

【０００９】この発明の目的のは、部品不良が検出可能
な電子部品リード切断装置および切断刃摩耗検出方法を
提供することにある。

【００１０】この発明の他の目的は、切断刃の材質に依
存しない電子部品リード切断装置および切断刃摩耗検出
方法を提供することにある。

【００１１】この発明の他の目的は、切断刃の摩耗・破
損時にも交換が可能で切断刃の材質に依存しない電子部
品リード切断装置および切断刃摩耗検出方法を提供する
ことにある。

【００１２】

【課題を解決するための手段】この発明による電子部品
リード切断装置は、切断する刃が摩耗した場合に、切断
による製品不良を検出する手段を提供するものである。
より具体的には、リード付き電子部品のリードを切断す
るための上刃および下刃と、前記電子部品を支持するた
めの支持台とを備え、前記支持台に前記電子部品を支持
して前記上刃および下刃により前記リードを所定の長さ
に切断する電子部品リード切断装置において、前記上刃
と接触することのない電極をさらに備え、前記上刃と下
刃による前記リードの切断後に、前記リードに前記電極
を押し当てて前記電子部品の電気抵抗値を測定し、あら
かじめ測定した良品の抵抗値と測定値との比較をするこ
とにより不良電子部品を検出するものである。

【００１３】この発明では、電子部品のリードへ直接電
極を押し当て抵抗値を計測しているため、切断刃の摩耗
等の問題を直接検出することができる。

【００１４】また、この発明では、切断する機構と部品
不良検出を分離してあるため、切断で何らかの問題が発
生した場合を検出することができ、製品不良を後工程に
流すことはない。

【００１５】

【発明の実施の形態】次に、この発明の実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。

【００１６】図１は、この発明の実施の形態である電子
部品リード切断装置の要部の正面図である。

【００１７】図１に示す電子部品リード切断装置には、
左右に１つずつ上刃２ａ，２ｂが設けられており、上刃
２ａ，２ｂは、図示しない上下動するガイドに固定され
ている。下刃４ａは、上刃２ａに対向して設けられてお
り、下刃４ｂは、上刃２ｂに対向して設けられている。
また、上刃２ａ，２ｂは、図示しない駆動源に接続さ
れ、左右とも同時に上下動を行うことができる。

【００１８】上刃２ａ，２ｂの内側には、上刃２ａ，２
ｂとは接触せずに電極１ａ，１ｂが取りつけられてい
る。電極１ａ，１ｂは、支持台３に対向して設けられて
おり、支持台３に適宜必要な力で押しつけ動作が可能で
ある。また、支持台３は絶縁体である。

【００１９】次に、この発明の実施の形態の動作につい
て説明する。

【００２０】まず、支持台３上にリード付き電子部品６
をセットする。上刃２ａ，２ｂは、図示しない駆動源に
より下降し、リード付き電子部品６のリード７ａ，７ｂ
を押圧する。この上刃２ａ，２ｂによる押圧と下刃４
ａ，４ｂとによって、リード付き電子部品６のリード７
ａ，７ｂは切断される。この時、上刃２ａ，２ｂと下刃
４ａ，４ｂによる加工と同時期に電極１ａ，１ｂが電子
部品６のリード７ａ，７ｂを支持台３と挟むように下降
する。

【００２１】切断によるリード７ａ，７ｂの余剰部分
は、切断屑５ａ，５ｂとなり、電子部品６に所定の寸法
のリードを残してリード切断が完了する。

【００２２】切断後は、まず、上刃２ａ，２ｂのみを上
昇させ、電極１ａ，１ｂは、支持台３との間に電子部品
６のリードを所定の圧力で挟んだ状態のままとしておい
て、電子部品６の抵抗値を測定する。測定後は電極１
ａ，１ｂが上昇待機する。

【００２３】良品と不良品の判断は、予め測定された良
品の測定値と検査対象である電子部品の測定値とを比較
して行う。測定値との比較は、予め測定された良品の測
定値に対し、ある一定範囲を良品とし、一定範囲を超え
るものを不良品として判断する。

【００２４】例えば、連続的な切断作業により切断刃が
磨耗した場合、リード切断時の切れが悪くなり、電子部
品のリードに引張応力が発生し、電子部品が破壊され、
抵抗値が上がるため、電子部品の不良が判断できる。

【００２５】また、この実施の形態では、上刃２ａ，２
ｂを上下動させるガイドの不良や切断するリード上にゴ
ミが存在したり、はんだ不良の場合にも抵抗値が変動す
るため、電子部品の不良を判断することが可能である。

【００２６】また、不良品である場合は、信号を発生さ
せ、作業者に警告したり、良品と区別して、後工程へは
流れないようにすることもできる。

【００２７】なお、上述した実施の形態では、上刃を２
つに分けて設けたが、１つのブロックとして設けること
もできる。また、リードが左右１本ずつの電子部品につ
いて述べたが、リードが多数設けられた電子部品にも適
用することが可能である。その際、１本のリードに対し
１刃としても良いし、数本のリードを纏めて切断するブ
ロックとすることもできる。また、同様にリードが複数
設けられた電子部品において、電極を複数設けて、順次
測定することもできるし、同時に数ヶ所の測定を行うこ
ともできる。

【００２８】上述したように、この実施の形態は、切断
刃の摩耗等による製品不良の検出が可能である。リード
を切断した後のリードへ直接電極を押し当てるため、切
断刃の摩耗のみならず、上下のガイドの不良、あるいは
異物混入等の問題があった場合を検出することができ、
不良を作り出すことはない。

【００２９】また、切断刃の材質に依らず製品不良を検
出できる。切断する上刃２ａ，２ｂと下刃４ａ、４ｂに
特別な加工や別部品の取り付けをすることなく、不良検
出電極を別に設けてあるため、切断する刃の影響を受け
ることはない。

【００３０】さらに、電極１ａ、１ｂが、切断する刃に
依存していないため刃の摩耗による交換が容易であり、
メンテナンスが容易である。

【００３１】次に、この発明の他の実施の形態について
説明する。

【００３２】図２は、この発明の他の実施の形態である
電子部品リード切断装置の要部の正面図である。図２に
示す電子部品リード切断装置は、電極を簡単に交換可能
なプローブ１ａ’、１ｂ’とし、また、下刃の構造を下
刃と支持台に区別することなく、絶縁体もしくはメッキ
等により絶縁体とした支持台３’を下刃となり得るよう
加工したものである。

【００３３】この発明の第２の実施形態は、第１の実施
の形態の効果に加えて、電極の摩耗に対して交換が容易
となり、下刃と支持台が一体となって部品点数が減り、
コスト低減を図ることができる。

【００３４】なお、この発明は、上述した各実施の形態
に限定されず、この発明の技術思想の範囲内において、
各実施の形態は適宜変更され得ることは明らかである。

【００３５】

【発明の効果】以上説明したように、この発明は、切断
刃の摩耗等による製品不良の検出が可能である。リード
を切断した後のリードへ直接電極を押し当てるため、切
断刃の摩耗、上下のガイドあるいは異物混入等の問題が
あった場合を検出することができ、不良が後工程に流出
することはない。

【００３６】また、この発明は、切断する刃に特別な加
工や別部品の取り付けをすることなく、不良検出電極を
別に設けており、切断する刃の影響を受けることはない
ため、切断刃の材質に依らず製品不良を検出できる。

【００３７】さらに、この発明は、電気抵抗を測定する
電極が、切断する刃に依存していないため、刃の摩耗に
よる交換が容易であり、メンテナンスが容易である。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の実施の形態である電子部品リード切
断装置の要部の正面図である。

【図２】この発明の他の実施の形態である電子部品リー
ド切断装置の要部の正面図である。

【図３】従来の電子部品リード切断装置の正面図であ
る。

【符号の説明】

１ａ，１ｂ，１ａ’，１ｂ’ 電極 ２ａ，２ｂ 上刃 ３，３’ 支持台 ４ａ，４ｂ 下刃 ５ａ，５ｂ 切断屑 ６ 電子部品 ７ａ，７ｂ リード

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】リード付き電子部品のリードを切断するた
   めの上刃および下刃と、前記電子部品を支持するための
   支持台とを備え、前記支持台に前記電子部品を支持して
   前記上刃および下刃により前記リードを所定の長さに切
   断する電子部品リード切断装置において、 前記上刃と接触することのない電極をさらに備え、前記
   上刃と下刃による前記リードの切断後に、前記リードに
   前記電極を押し当てて前記電子部品の電気抵抗値を測定
   し、あらかじめ測定した良品の抵抗値と測定値との比較
   をすることにより不良電子部品を検出することを特徴と
   する電子部品リード切断装置。
2. 【請求項２】前記下刃を絶縁体として下刃と前記支持台
   とを一体とすることを特徴とする請求項１に記載の電子
   部品リード切断装置。
3. 【請求項３】前記電極は、交換可能であることを特徴と
   する請求項１または２に記載の電子部品リード切断装
   置。
4. 【請求項４】前記測定値が所定範囲を超えた場合に信号
   を発生することを特徴とする請求項１〜３のいずれかに
   記載の電子部品リード切断装置。
5. 【請求項５】リード付き電子部品のリードを切断するた
   めの上刃および下刃と、前記電子部品を支持するための
   支持台とを備え、前記支持台に前記電子部品を支持して
   前記上刃および下刃により前記リードを所定の長さに切
   断する電子部品リード切断装置の切断刃摩耗検出方法で
   あって、前記上刃と下刃による前記リードの切断後に、
   前記上刃と接触することのない電極を前記リードに押し
   当てて前記電子部品の電気抵抗値を測定し、あらかじめ
   測定した良品の抵抗値と測定値との比較をすることによ
   り切断刃の摩耗を検出することを特徴とする電子部品リ
   ード切断装置の切断刃摩耗検出方法。
6. 【請求項６】前記測定値が所定範囲を超えた場合に信号
   を発生することを特徴とする請求項５に記載の電子部品
   リード切断装置の切断刃摩耗検出方法。