KR100421662B1 - 인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자의 구조 - Google Patents

인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자의 구조 Download PDF

Info

Publication number
KR100421662B1
KR100421662B1 KR10-2001-0045154A KR20010045154A KR100421662B1 KR 100421662 B1 KR100421662 B1 KR 100421662B1 KR 20010045154 A KR20010045154 A KR 20010045154A KR 100421662 B1 KR100421662 B1 KR 100421662B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
printed circuit
circuit board
test terminal
ict
terminal
Prior art date
Application number
KR10-2001-0045154A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20030010265A (ko
Inventor
변영준
Original Assignee
주식회사 만도
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 만도 filed Critical 주식회사 만도
Priority to KR10-2001-0045154A priority Critical patent/KR100421662B1/ko
Publication of KR20030010265A publication Critical patent/KR20030010265A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100421662B1 publication Critical patent/KR100421662B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416—Connectors, terminals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)

Abstract

본 발명은 인쇄 회로 기판의 측면에 형성되는 회로 시험용 단자의 구조에 관한 것이다. 종래의 기술에 있어서는 ICT 핀(22)을 인쇄 회로 기판(10) 상의 시험용 단자(16)에 수직으로 접촉시키다가 ICT 핀(22)이 접촉해야 할 시험용 단자(16)의 범위를 벗어나 주변의 부품을 누르게 되는 경우 이 부품은 손상될 가능성이 많다. 경우에 따라서는 잘못 누르는 부위가 인쇄 회로 기판(10) 상의 패턴(18) 부분일 경우 이 패턴(18)이 중간에 끊어지는 등의 심각한 문제도 생긴다. 본 발명은 인쇄 회로 기판(30)의 측면에 시험용 단자(36)를 일정 간격으로 단순하게 형성하기 때문에, 시험용 단자(36)의 설계가 용이하고 신속하다. ICT 핀(42)을 시험용 단자(36)에 수평으로 접촉시켜 ICT 장비를 통해 부품 조립이 완성된 인쇄 회로 기판(30)을 검사하기 때문에, 인쇄 회로 기판(30)의 검사가 빠르고 쉽다. ICT 핀 보드(40)에 탄력적으로 일정 간격으로 ICT 핀(42)을 고정하기 때문에, ICT 핀 보드(40)의 제작이 간단하다.

Description

인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자의 구조{STRUCTURE OF TERMINAL FOR CIRCUIT TESTING OF PRINTED CIRCUIT BOARD}
본 발명은 인쇄 회로 기판(Printed Circuit Board : PCB)의 회로 시험용 단자의 구조에 관한 것으로서, 특히, 인쇄 회로 기판의 측면에 형성되는 회로 시험용 단자의 구조에 관한 것이다.
일반적으로 부품 조립이 완성된 인쇄 회로 기판을 검사하기 위해서는 ICT(In Circuit Tester) 장비를 사용한다. 예로, 인쇄 회로 기판에 형성된 시험용 단자에 ICT 핀 보드(In Circuit Tester pin board)의 핀을 적절하게 접촉시켜 ICT 장비를 통해 인쇄 회로 기판의 패턴(pattern) 단선 여부나 부품의 불량 여부를 검사한다. 이와 같은 시험용 단자를 설계 시 시험용 단자의 크기, 시험용 단자간의 일정 간격 이격, 시험용 단자와 부품간을 일정 간격 이격시키는 등의 조건을 만족시켜야 한다.
도 1a는 종래의 기술에 따른 인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자를 나타낸 평면도로, 인쇄 회로 기판(10) 상의 부품 패드(12)에 부품(14)이 실장되고 부품 패드(12)와 시험용 단자(16)간은 패턴(18)에 의해 연결된다.
동 도면에 있어서, 인쇄 회로 기판(10) 상의 시험용 단자(16)는 도 1b 및 도1c와 같이 인쇄 회로 기판(10) 상에 형성되어 있기 때문에, 이 시험용 단자(16)와 접촉하기 위해서는 ICT 핀 등이 상측에서 수직으로 내려와야 할 것이다.
도 1d는 도 1a에 도시된 인쇄 회로 기판(10) 상의 시험용 단자(16)에 ICT 핀(22)을 접속시키는 것을 나타낸 개략도로, ICT 핀 보드(20)에 탄력적으로 고정된 ICT 핀(22)을 시험용 단자(16)에 수직으로 접촉시켜 ICT 장비를 통해 부품 조립이 완성된 인쇄 회로 기판(10)을 검사한다. 상기 시험용 단자(16)를 골고루 분포시켜 인쇄 회로 기판(10)의 특정한 부분에 무리한 압력이 가해지지 않도록 하고 인쇄 회로 기판(10)이 상하로 움직이지 않도록 한다.
그러나, 이와 같은 종래의 기술에 있어서는 ICT 핀(22)을 인쇄 회로 기판(10) 상의 시험용 단자(16)에 수직으로 접촉시키다가 ICT 핀(22)이 접촉해야 할 시험용 단자(16)의 범위를 벗어나 주변의 부품을 누르게 되는 경우 이 부품은 손상될 가능성이 많다. 경우에 따라서는 잘못 누르는 부위가 인쇄 회로 기판(10) 상의 패턴(18) 부분일 경우 이 패턴(18)이 중간에 끊어지는 등의 심각한 문제도 생긴다.
본 발명은 상기 결점을 개선하기 위하여 안출한 것으로서, 인쇄 회로 기판의 측면에 반원 모양으로 파인 시험용 단자를 구비하는 인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자의 구조를 제공하는 데 그 목적이 있다.
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 인쇄 회로 기판에 형성된 시험용 단자에 있어서: 상기 인쇄 회로 기판의 측면에 선택적으로 파여 ICT 핀이 접촉되도록 하는 것을 특징으로 한다.
도 1a는 종래의 기술에 따른 인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자를 나타낸 평면도,
도 1b는 도 1a에 도시된 시험용 단자를 가로질러 절단하여 나타낸 단면도,
도 1c는 도 1a에 도시된 인쇄 회로 기판 상의 시험용 단자를 나타낸 사시도,
도 1d는 도 1a에 도시된 인쇄 회로 기판 상의 시험용 단자에 ICT 핀을 접속시키는 것을 나타낸 개략도,
도 2a는 본 발명에 따른 인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자를 나타낸 평면도,
도 2b는 도 2a에 도시된 시험용 단자를 나타낸 단면도,
도 2c는 도 2a에 도시된 인쇄 회로 기판에 설치된 시험용 단자를 나타낸 사시도,
도 2d는 도 2a에 도시된 인쇄 회로 기판에 설치된 시험용 단자에 ICT 핀을 접속시키는 것을 나타낸 개략도.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
30 : 인쇄 회로 기판 32 : 부품 패드
34 : 부품 36 : 시험용 단자
38 : 패턴 40 : ICT 핀 보드
42 : ICT 핀
이하, 이와 같은 본 발명의 실시 예를 다음과 같은 도면에 의하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2a는 본 발명에 따른 인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자를 나타낸 평면도로, 인쇄 회로 기판(30) 상의 부품 패드(32)에 부품(34)이 실장되고 부품 패드(32)와 시험용 단자(36)간은 패턴(38)에 의해 연결된다.
동 도면에 있어서, 인쇄 회로 기판(30) 상의 시험용 단자(36)는 도 2b 및 도 2c와 같이 인쇄 회로 기판(30) 측면에 형성되어 있기 때문에, 이 시험용 단자(36)와 접촉하기 위해서는 ICT 핀 등이 수평으로 접근해야 할 것이다.
도 2d는 도 2a에 도시된 인쇄 회로 기판(30)에 설치된 시험용 단자(36)에 ICT 핀(42)을 접속시키는 것을 나타낸 개략도로, ICT 핀 보드(40)에 탄력적으로 일정 간격으로 고정된 ICT 핀(42)을 일정 간격으로 형성된 시험용 단자(36)에 수평으로 접촉시켜 ICT 장비를 통해 부품 조립이 완성된 인쇄 회로 기판(30)을 검사한다.
시험용 단자(36)는 납 도금된 반원 모양으로 인쇄 회로 기판(30)의 측면에 일정한 간격으로 형성된다.
인쇄 회로 기판(30)이 다층 구조일 경우 시험용 단자(36)는 다층 구조에 선택적으로 형성된다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은, 인쇄 회로 기판(30)의 측면에 시험용단자(36)를 일정 간격으로 단순하게 형성하기 때문에, 시험용 단자(36)의 설계가 용이하고 신속하다. ICT 핀(42)을 시험용 단자(36)에 수평으로 접촉시켜 ICT 장비를 통해 부품 조립이 완성된 인쇄 회로 기판(30)을 검사하기 때문에, 인쇄 회로 기판(30)의 검사가 빠르고 쉽다. ICT 핀 보드(40)에 탄력적으로 일정 간격으로 ICT 핀(42)을 고정하기 때문에, ICT 핀 보드(40)의 제작이 간단하다.

Claims (6)

  1. 인쇄 회로 기판에 형성된 시험용 단자에 있어서,
    상기 인쇄 회로 기판의 소정 부분에 형성되며, 시험하고자 하는 부품을 탑재하는 부품 패드와,
    상기 부품 패드와 전기적으로 연결되어 상기 인쇄 회로 기판의 측면으로 신장되는 패턴과,
    상기 인쇄 회로 기판의 측면에서 상기 패턴의 종단과 접속되며, ICT 핀이 착탈 자유롭게 삽입 가능한 시험용 단자
    를 포함하는 인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자의 구조.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 시험용 단자는 상기 인쇄 회로 기판의 측면에 일정한 간격으로 형성되는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자의 구조.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 시험용 단자는 반원 모양으로 파인 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자의 구조.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 시험용 단자는 납 도금된 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자의 구조.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 인쇄 회로 기판은 다층 구조인 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의회로 시험용 단자의 구조.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 시험용 단자는 상기 다층 구조에 선택적으로 형성되는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자의 구조.
KR10-2001-0045154A 2001-07-26 2001-07-26 인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자의 구조 KR100421662B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2001-0045154A KR100421662B1 (ko) 2001-07-26 2001-07-26 인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자의 구조

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2001-0045154A KR100421662B1 (ko) 2001-07-26 2001-07-26 인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자의 구조

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20030010265A KR20030010265A (ko) 2003-02-05
KR100421662B1 true KR100421662B1 (ko) 2004-03-12

Family

ID=27716776

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2001-0045154A KR100421662B1 (ko) 2001-07-26 2001-07-26 인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자의 구조

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100421662B1 (ko)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19980061378A (ko) * 1996-12-31 1998-10-07 배순훈 기판자동검사기(ict)의 픽스쳐(fixture)제작용 데이타(data)자동작성장치

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19980061378A (ko) * 1996-12-31 1998-10-07 배순훈 기판자동검사기(ict)의 픽스쳐(fixture)제작용 데이타(data)자동작성장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR20030010265A (ko) 2003-02-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101073400B1 (ko) 검사용 탐침 장치
KR200215511Y1 (ko) 집적회로소자용소켓과회로기판및보조회로기판
JP2007304051A (ja) 半導体集積回路用ソケット
DE69925456D1 (de) Prüfsockel
US5823818A (en) Test probe for computer circuit board test fixture
KR100421662B1 (ko) 인쇄 회로 기판의 회로 시험용 단자의 구조
KR200383947Y1 (ko) 칩 테스트용 커넥터
US20040077188A1 (en) Card connector assembly including contact lands having no damage
KR100765490B1 (ko) Ｐｃｂ 전극판
KR100807469B1 (ko) Ｚｉｆ 커넥터용 기판 및 이의 검사 방법
KR100246320B1 (ko) 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드
KR200312403Y1 (ko) 검사용 탐침장치
KR100950446B1 (ko) Ｐｃｂ를 구비하는 스페이스 트랜스포머 및 이를 포함하는프로브 카드
KR200226638Y1 (ko) 테스트 소켓
KR200163941Y1 (ko) 웨이퍼 검사용 프로브카드
KR100320022B1 (ko) 반도체 칩 테스트 장치
KR0130142Y1 (ko) 반도체 디바이스 테스트용 소켓
KR200148755Y1 (ko) 아이씨 소켓
JPH088000A (ja) コネクタ
KR200250861Y1 (ko) 가이드홀이 있는 테스트 소켓
JP2000100504A (ja) コネクタ及びプリント配線板
KR20070038486A (ko) 인쇄회로기판 검사장치
KR20030043327A (ko) 피시비테스터용 지그의 전원연결장치
KR19980035266A (ko) 인쇄회로기판의 검사장치
JP2003287562A (ja) 半導体テスタ装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20080118

Year of fee payment: 5

LAPS Lapse due to unpaid annual fee