JPH02205349A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法Info
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- JPH02205349A JPH02205349A JP2621589A JP2621589A JPH02205349A JP H02205349 A JPH02205349 A JP H02205349A JP 2621589 A JP2621589 A JP 2621589A JP 2621589 A JP2621589 A JP 2621589A JP H02205349 A JPH02205349 A JP H02205349A
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- lead frame
- resin
- outer leads
- semiconductor device
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- Pending
Links
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 14
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 24
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Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野〕
本発明は、リードフレームを用いた樹脂封止半導体装置
の製造方法に係り、特に、リードフレームのリード形成
に関する。
の製造方法に係り、特に、リードフレームのリード形成
に関する。
上記半導体装置の製造では、その半導体装置の実装に不
都合が住しないように、樹脂パッケージから突出するア
ウタリードを異常に変形させないようにすることが重要
である。
都合が住しないように、樹脂パッケージから突出するア
ウタリードを異常に変形させないようにすることが重要
である。
3、発明の詳細な説明
〔概 要〕
リードフレームを用いた樹脂封止半導体装置の製造方法
に関し、 樹脂パッケージの形成を終わらすまでの間にアウタリー
ドが変形するのを防止することを目的とし、 リードフレームにおけるアウタリードのパターン形成を
インナリード部の樹脂封止の後に行うよ〔従来の技術〕 第2図は、リードフレームを用いて製造した樹脂封止半
導体装置例の斜視図である。
に関し、 樹脂パッケージの形成を終わらすまでの間にアウタリー
ドが変形するのを防止することを目的とし、 リードフレームにおけるアウタリードのパターン形成を
インナリード部の樹脂封止の後に行うよ〔従来の技術〕 第2図は、リードフレームを用いて製造した樹脂封止半
導体装置例の斜視図である。
同図において、1は半導体装置の回路が形成された半導
体チップを封止する樹脂パッケージ、2はパッケージl
から突出して実装により上記回路を外部に接続するアウ
タリードである。複数のアウタリード2は、実装に都合
の良いように曲げられており、然も、実装基板に合わせ
て所定の間隔で並んでいる。
体チップを封止する樹脂パッケージ、2はパッケージl
から突出して実装により上記回路を外部に接続するアウ
タリードである。複数のアウタリード2は、実装に都合
の良いように曲げられており、然も、実装基板に合わせ
て所定の間隔で並んでいる。
第3図(a)〜(C)は、上記半導体装置の製造におけ
る従来例の工程の要部を示す平面図である。
る従来例の工程の要部を示す平面図である。
第3図において、従来例では、(a)に示すようなリー
ドフレーム3を用意し、これに半導体チップの搭載及び
樹脂パッケージ形成を施し、後加工を行って半導体装置
を組み立てている。
ドフレーム3を用意し、これに半導体チップの搭載及び
樹脂パッケージ形成を施し、後加工を行って半導体装置
を組み立てている。
即ち、リードフレーム3は、厚さ0.1〜0.3mm程
度の金属条に抜き加工などを施し所定の長さに切断した
もので、半導体チップを保持させるグイステージ4、半
導体チップの回路を接続する複数のインナリード5及び
それの延長であるアウタリード2、インナリード5とア
ウターリード2の境部分の相互間を結ぶタイバー6など
、及びこれらを支持する外枠7で構成され、半導体装置
の適宜個数分が一列に並んでいる。そこでリードフレー
ム3の両端は、複数のアウタリード2が先端自由で並ん
だ状態になっている。
度の金属条に抜き加工などを施し所定の長さに切断した
もので、半導体チップを保持させるグイステージ4、半
導体チップの回路を接続する複数のインナリード5及び
それの延長であるアウタリード2、インナリード5とア
ウターリード2の境部分の相互間を結ぶタイバー6など
、及びこれらを支持する外枠7で構成され、半導体装置
の適宜個数分が一列に並んでいる。そこでリードフレー
ム3の両端は、複数のアウタリード2が先端自由で並ん
だ状態になっている。
そして、半導体チップをグイステージ4にボンディング
し半導体チップとインナリード5との間をワイヤボンデ
ィングで接続した後、樹脂成形により[有])に示すよ
うに樹脂パッケージ1を形成する。
し半導体チップとインナリード5との間をワイヤボンデ
ィングで接続した後、樹脂成形により[有])に示すよ
うに樹脂パッケージ1を形成する。
パッケージ1は、タイバー6と外枠7で囲まれた範囲を
占め、半導体チップ及びインナリード5などを埋没させ
て封止する。
占め、半導体チップ及びインナリード5などを埋没させ
て封止する。
次いで、タイバー6の切除及びアウタリード2先端部の
切断などを行って、(C)に示すようにパッケージ1か
らアウタリード2を真っ直ぐに突出させた個々の半導体
装置に分離する。
切断などを行って、(C)に示すようにパッケージ1か
らアウタリード2を真っ直ぐに突出させた個々の半導体
装置に分離する。
この後は、アウタリード2の曲げ成形及びその他の後加
工を行って半導体装置を完成させる。
工を行って半導体装置を完成させる。
ところで上述の組立では、高集積化された半導体装置の
場合、アウタリード2が多数になると共に細くて強度の
弱いものとなることから、パッケージ1の形成を終わら
すまでの取扱いにおいて、第4図の平面図に示すように
リードフレーム3の両端にあるアウタリード2を不用意
に変形させてしまうことが屡発生する。
場合、アウタリード2が多数になると共に細くて強度の
弱いものとなることから、パッケージ1の形成を終わら
すまでの取扱いにおいて、第4図の平面図に示すように
リードフレーム3の両端にあるアウタリード2を不用意
に変形させてしまうことが屡発生する。
この変形が発生すると、リードフレーム3から半導体装
置を切断分離した時は勿論のこと、アウタリード2の曲
げ成形を行った後までもその変形が継承されて、アウタ
リード2の配列が乱れた半導体装置が製造されることに
なり、製造歩留りを低下させる問題となる。
置を切断分離した時は勿論のこと、アウタリード2の曲
げ成形を行った後までもその変形が継承されて、アウタ
リード2の配列が乱れた半導体装置が製造されることに
なり、製造歩留りを低下させる問題となる。
そこで本発明は、リードフレームを用いた樹脂封止半導
体装置の製造において、樹脂パッケージの形成を終わら
すまでの間にアウタリードが変形するのを防止すること
を目的とする。
体装置の製造において、樹脂パッケージの形成を終わら
すまでの間にアウタリードが変形するのを防止すること
を目的とする。
上記目的は、リードフレームにおけるアウタリードのパ
ターン形成をインナリード部の樹脂封止の後に行う本発
明の製造方法によって解決される。
ターン形成をインナリード部の樹脂封止の後に行う本発
明の製造方法によって解決される。
この製造方法では、封止の樹脂パッケージを形成するま
でのリードフレームは、樹脂パフケージに埋没される部
分のみが形成されてアウタリードが未形成の状態のもの
にしておくことになり、樹脂パッケージの形成を終わら
すまでの間にアウタリードを変形させるという心配が全
く無くなる。
でのリードフレームは、樹脂パフケージに埋没される部
分のみが形成されてアウタリードが未形成の状態のもの
にしておくことになり、樹脂パッケージの形成を終わら
すまでの間にアウタリードを変形させるという心配が全
く無くなる。
そして、リードフレームのアウタリード形成領域が樹脂
パッケージの外側であることから、アウタリードは従来
例と同形にパターン形成することができて、完成させる
半導体装置も従来例と同じものにすることができる。
パッケージの外側であることから、アウタリードは従来
例と同形にパターン形成することができて、完成させる
半導体装置も従来例と同じものにすることができる。
以下本発明の実施例についてその工程の要部を示す第1
図(a)〜(d)の平面図を用いて説明する。全図を通
し同一符号は同一対象物を示す。
図(a)〜(d)の平面図を用いて説明する。全図を通
し同一符号は同一対象物を示す。
第1図において、実施例では、(a)に示すようなリー
ドフレーム8を用意し、これに従来例と同様に半導体チ
ップの搭載及び樹脂パッケージ形成を施し、それからリ
ードフレーム8にアウタリード2をパターン形成し、そ
の後従来例と同様な後加工を行って半導体装置を組み立
てている。
ドフレーム8を用意し、これに従来例と同様に半導体チ
ップの搭載及び樹脂パッケージ形成を施し、それからリ
ードフレーム8にアウタリード2をパターン形成し、そ
の後従来例と同様な後加工を行って半導体装置を組み立
てている。
即ち、リードフレーム8は、リードフレーム3の場合と
同じ金属条に抜き加工などを施し所定の長さに切断した
もので、リードフレーム3からアウタリード2のパター
ン形成を削除した構成をなし、リードフレーム3と同じ
く半導体装置の適宜個数分が一列に並んでいる。従って
、タイバー6もなくてリードフレーム3のタイバー6か
ら外側に該当する領域が平板状のままとなっており、リ
ードフレーム8の両端も平板状のままである。
同じ金属条に抜き加工などを施し所定の長さに切断した
もので、リードフレーム3からアウタリード2のパター
ン形成を削除した構成をなし、リードフレーム3と同じ
く半導体装置の適宜個数分が一列に並んでいる。従って
、タイバー6もなくてリードフレーム3のタイバー6か
ら外側に該当する領域が平板状のままとなっており、リ
ードフレーム8の両端も平板状のままである。
そして、従来例と同様にして、半導体チップをグイステ
ージ4にボンディングし半導体チップとインナリード5
との間をワイヤボンディングで接続した後、樹脂成形に
より(b)に示すように樹脂パッケージ1を形成する。
ージ4にボンディングし半導体チップとインナリード5
との間をワイヤボンディングで接続した後、樹脂成形に
より(b)に示すように樹脂パッケージ1を形成する。
パッケージ1は、従来例と同じく、タイバー6と外枠7
で囲まれたインナリード5部を占め、半導体チップ及び
インナリード5などを埋没さて封止する。
で囲まれたインナリード5部を占め、半導体チップ及び
インナリード5などを埋没さて封止する。
次いで、プレス抜き加工により、(C)に示すようにリ
ードフレーム8に従来例と同じになるアウタリード2を
パターン形成する。この工程により、リードフレーム8
は、従来例の第3図(C)の状態に相当するものとなる
。
ードフレーム8に従来例と同じになるアウタリード2を
パターン形成する。この工程により、リードフレーム8
は、従来例の第3図(C)の状態に相当するものとなる
。
次いで、リードフレーム8内におけるアウタリード2先
端部の切断などを行って、(ロ)に示すようにパッケー
ジ1からアウタリード2を真っ直ぐに突出させた個々の
半導体装置に分離する。
端部の切断などを行って、(ロ)に示すようにパッケー
ジ1からアウタリード2を真っ直ぐに突出させた個々の
半導体装置に分離する。
この後は、従来例と同様なアウタリード2の曲げ成形及
びその他の後加工を行って、従来例と同じになる半導体
装置を完成させる。
びその他の後加工を行って、従来例と同じになる半導体
装置を完成させる。
ところで、パッケージ1の形成の際に多くの場合、従来
例で見るとパッケージ1とタイバー6との間に間隙があ
り、従来例においても実施例においてもこの間隙部分に
リードフレーム3または8と同じ厚さの樹脂の張り出し
が生ずる。この張り出しは、従来例ではタイバー6切除
に先立ちまたは同時に切除されるが、上記実施例では、
第1図(C)に示すようにタイバー6の形成を行わない
ので、アウタリード2のパターン形成に先立ち切除して
おくのが望ましい、或いは、アウタリード2のパターン
形成の際にタイバー6を形成するようにアウタリード2
を形成して第3図(bJと同様になるようにし、その後
を従来例と同じ処理にしても良い。
例で見るとパッケージ1とタイバー6との間に間隙があ
り、従来例においても実施例においてもこの間隙部分に
リードフレーム3または8と同じ厚さの樹脂の張り出し
が生ずる。この張り出しは、従来例ではタイバー6切除
に先立ちまたは同時に切除されるが、上記実施例では、
第1図(C)に示すようにタイバー6の形成を行わない
ので、アウタリード2のパターン形成に先立ち切除して
おくのが望ましい、或いは、アウタリード2のパターン
形成の際にタイバー6を形成するようにアウタリード2
を形成して第3図(bJと同様になるようにし、その後
を従来例と同じ処理にしても良い。
以上の説明から明らかなように、本発明ではアウタリー
ド2のパターン形成がパッケージ1形成の後に行われる
ので、リードフレームの取扱いに特別の注意を払わなく
ともパッケージ1の形成を終わらすまでの間にアウタリ
ード2を変形させるという心配が全く無(なり、当該半
導体装置の製造歩留りが向上し、然も、リードフレーム
の取扱いが容易になる。
ド2のパターン形成がパッケージ1形成の後に行われる
ので、リードフレームの取扱いに特別の注意を払わなく
ともパッケージ1の形成を終わらすまでの間にアウタリ
ード2を変形させるという心配が全く無(なり、当該半
導体装置の製造歩留りが向上し、然も、リードフレーム
の取扱いが容易になる。
以上説明したように本発明の構成によれば、リードフレ
ームを用いた樹脂封止半導体装置の製造において、樹脂
パッケージの形成を終わらすまでの間におけるアウタリ
ード変形の心配を皆無にすることができて、当該半導体
装置の製造歩留りを向上させ、然も、リードフレームの
取扱いを容易にさせる効果がある。
ームを用いた樹脂封止半導体装置の製造において、樹脂
パッケージの形成を終わらすまでの間におけるアウタリ
ード変形の心配を皆無にすることができて、当該半導体
装置の製造歩留りを向上させ、然も、リードフレームの
取扱いを容易にさせる効果がある。
第1図(a)〜(ロ)は実施例の工程を示す平面図、第
2図は樹脂封止半導体装置例の斜視図、第3図(a)〜
(C)は従来例の工程を示す平面図、第4図は従来例の
問題点を示す平面図、である。
2図は樹脂封止半導体装置例の斜視図、第3図(a)〜
(C)は従来例の工程を示す平面図、第4図は従来例の
問題点を示す平面図、である。
図において、
1は樹脂パッケージ、
2はアウタリード、
3.8はリードフレーム、
5はインナリード、
である。
)εネキ乞づタリメフニ乙七朽[乞イi−<pvJBン
]薯 / 図 起 /#脂パ・ンブージ 指削匂J噂郁装置例nを杖図 2 m イカ(看辷イ?111)T、1是a臥々−テr、IXヒ
戊は瓜コ第 4 図
]薯 / 図 起 /#脂パ・ンブージ 指削匂J噂郁装置例nを杖図 2 m イカ(看辷イ?111)T、1是a臥々−テr、IXヒ
戊は瓜コ第 4 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 リードフレームを用いた樹脂封止半導体装置の製造にお
いて、 リードフレームにおけるアウタリードのパターン形成を
インナリード部の樹脂封止の後に行うことを特徴とする
半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2621589A JPH02205349A (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2621589A JPH02205349A (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 半導体装置の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02205349A true JPH02205349A (ja) | 1990-08-15 |
Family
ID=12187194
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2621589A Pending JPH02205349A (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02205349A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55163867A (en) * | 1979-06-07 | 1980-12-20 | Fujitsu Ltd | Lead frame for semiconductor device |
JPS6435921A (en) * | 1987-07-31 | 1989-02-07 | Nec Corp | Manufacture of semiconductor device |
-
1989
- 1989-02-03 JP JP2621589A patent/JPH02205349A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55163867A (en) * | 1979-06-07 | 1980-12-20 | Fujitsu Ltd | Lead frame for semiconductor device |
JPS6435921A (en) * | 1987-07-31 | 1989-02-07 | Nec Corp | Manufacture of semiconductor device |
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