JPS60161646A - 半導体装置用リ−ドフレ−ム - Google Patents

半導体装置用リ−ドフレ−ム

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JPS60161646A
JPS60161646A JP59015210A JP1521084A JPS60161646A JP S60161646 A JPS60161646 A JP S60161646A JP 59015210 A JP59015210 A JP 59015210A JP 1521084 A JP1521084 A JP 1521084A JP S60161646 A JPS60161646 A JP S60161646A
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JP
Japan
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lead
leads
tie bar
resin
widths
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JP59015210A
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Akira Suzuki
明 鈴木
Hideki Tanaka
英樹 田中
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、封止型半導体装置用リードフレームに適用し
て特に有効な技術に関するものであり、例えば、樹脂封
止体とリード折り曲げ部の寸法余裕度の少ない半導体装
置製造技術に利用して有効な技術に関するものである。
〔背景技術〕
第1図及び第2図は、リードフレーム上に半導体素子を
組み立てた後、樹脂封止したものの形状を示す図であり
、1は樹脂封止、2はタイバー、8はタイバー内樹脂、
4は外部リードであり、リードの封止部外に露出した部
分である。5はリードの外部リード4に設けられた切り
欠き部である。
第3図及び第4図は、前記第1図及び第2図に示す樹脂
封止完了のもののタイバー2を切断除去した後、タイバ
ー2内の樹脂3を突き落した後の形状を示す図である。
第5図及び第6図は、第3図及び第4図に示すリードの
外部リード4を折り曲げ成形した後の形状を示す図であ
り、6は封止樹脂部lと外部リード折り曲げ部、6A、
6Bは外部リード折り曲げ部寸法余裕、7は外部リード
4の折り曲げ時の外部リード」二下押え金型、8は半導
体素子、9はタブ、10は内部リードであり、リニドの
封止体内部に入っている部分である。llは半導体素子
8の各電極と内部リードlOの先端部を接続するボンデ
ィングワイヤ、12は隙間である。
樹脂封止型半導体装置用リードフレームは、封止樹脂部
lとリード折り曲げ部の寸法余裕6A。
6Bが0.5〜0.7mn程度あったため、第5図に示
すように、外部リード4の折り曲げ時に、外部リード上
下挿え金型7を設けることができた。しかしながら、近
年、半導体装置の高集積化、高機能化が進み、半導体素
子8が大型化してきている。
一方、システムの小型化のため、パッケージは小型化し
なければならない。この結果少なくとも従来のパッケー
ジに大きな半導体素子を収納しなければならない。′ これらの目的を達成するため、実装基板に実装するた・
めのリード間隔は規定の従来寸法で樹脂封止体を大きく
する手法がとり入れられつつある。
この結果、第6図に示すように、封止樹脂部lと外部リ
ードヘリ曲げ時の応力(ストレス)がパッケージにダメ
ージを与え、リードの内部リードlOと封止樹脂部1と
の界面に隙間12が発生し、耐湿性の信頼度に重大な影
響を及ぼす。
これらの改善策として第2図に示すようなリードの折り
曲げ部6の強度を弱くするため、リードに切り欠き部5
を設ける手法が考えられる。
しかしながら、このような構成を有するリードは下記の
欠点を有していることが本発明者の実験により明らかに
なった。
(1)第4図に示すように、タイバー内の樹脂3を突き
落した後、リードに設けられた切り欠き部5に樹脂5A
が残存し、外部リード折り曲げ成形時に、これがその金
型内に落ち、リード表面に打痕傷が発生し、リード外観
を損傷するとともに、完成品の錫又は半田層表面を損傷
し、下地リード表面が露出してリード錆の原因となる。
(2)リードに切り欠き部5を設けたことにより、リー
ドの折り曲げ部6の剛性を低下できるが、切り欠き部5
に残存した樹脂5Aがリードを補強し、実質的にはリー
ド強度は低下せず、折り曲げ時のダメージがパッケージ
に発生し、第6図に示すように、内部リードとレジン等
の封止樹脂部lとの界面に隙間12が発生し耐湿性の信
頼度が低下する。また、さらに内部リードが抜けること
もある。
〔発明の目的〕
本発案の目的は、前記封止樹脂部と外部リード折り曲げ
部の寸法余裕のない封止型半導体装置において、外観及
び信頼性を確保できるリードフレームを提供することに
ある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。
〔発明の概要〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、リードフレームのタイバーを起点とし、タイ
バーより内側の外部リード及び内部リードの一部の幅を
、それより外側の他のリード幅より狭く構成することに
より、外部リードを折り曲げた時に生ずる応力を減少さ
せるものである。
〔実施例〕
第7図乃至第9図は、本発明の実施例を示す図であり、
第7′図は、エポキシレジン等の樹脂で半導体素子等を
封止した後の形状を示す図、第8図は、第7図に示す形
状のリードフレームのタイバー内の樹脂を突き落した後
の形状を示す図、第9図は、第8図に示す外部リードを
所定の位置で折り曲げた後の形状を示す図、第10図は
、リードフレームの形状を示す図である。第7図乃至第
10図において、第1図乃至第6図と同等の機能を有す
るものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は省略す
る。
本実施例は、第7図及び第10図に示すように、リード
フレーム14の基本構成は、外部リード4のタイバー2
の内側及び内部リードの一部、すなわち、外部リード折
り曲げ部6及び内部リード10の一部のリード幅を、第
4図に示す切り欠き部5を設けた部分と同様に狭くして
リード強度を小さくしたものである。これにより外部リ
ード折り曲げ時に、パッケージにかかる応力を低減させ
て、パLケージの封止樹脂へのダメージを防止し1、内
部リード部11の抜けを防止する。また、リード幅を狭
くした部分をタイバー2まで延長することにより、タイ
バー2内の樹脂を突き落しゃすくしである。すなわち、
第1図又は第2図の方法では、タイバー切断パンチ又は
タイバー樹脂突落しパンチでタイバー内樹脂を突き落す
が、これ、らのパンチはモールド金型の上下間ズレ、リ
ードフレームとモールド金型とのズレを見込み、樹脂部
から0゜2m以上離した寸法で作るため、リード切り欠
き部の樹脂は突き落しにくくなり、かつ、パンチの摩耗
が発生すると当初0゜2 nwnに設計しても0.2n
wn以上となる。したがって、樹脂残りが発生する。
しかしながら、前記実施例の方法ではタイバ一部を起点
としてリードを狭くするため、突き落し、パンチが摩耗
しても容易にその樹脂の突き落しができる。
なお、第1O図において、12.13は外枠、14はタ
ブ吊りリードである。
〔効果〕
タイバーの内側の外部リード折り曲げ部及び内部リード
の一部の幅を、他のリード幅よりも狭くしてリード強度
を小さくすることにより次のような効果を得る。
(1)外部リードの折り曲げ加工が容易である。
(2)外部リード折り曲げ時にパッケージに与えるダメ
ージを防止することができる。
(3)内部リードの抜けを防止することができる。
(4)タイバー内の樹脂の突き落しが容易にできる。
以上、本発明者によってなされた発明を実施例にもとづ
き説明したが、本発明は前記実施例に限定されるもので
なく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である
ことはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は、リードフレーム上に半導体素子を
組立後樹脂封止したものの形状を示す図、第3図及び第
4図は、前記第1図及び第2図に示すタイバーを切断し
、タイバー内の樹脂を突き落し7た後の形状を示す図、 第5図及び第6図は、第3図及び第4図に示す外部リー
ドを折り曲げ成形した後の形状を示す図、第7図乃至第
9図は本発明の実施例を示す図であり、第7図は、エポ
キシレンジ等の樹脂で半導体モールドした後の形状を示
す図、第8図は、第7図に示す形状のリードフレームの
タイバーを切断し、タイバー内の樹脂を突き落した後の
形状を示す図、 第9図は、第8図に示す外部リードを所定の位置で折り
曲げ成形した後の形状を示す図、第10図は、リードフ
レームの形状を示す図である6 図中、l・・・封止樹脂部、2・・・タイバー、3・・
・タイバー内樹脂、4・・・外部リード、5・・・切り
欠き部、5A・・・残存樹脂、6・・・外部リード折り
曲げ部、6A、6B・・・外部リード折り曲げ部寸法余
裕、7・・・外部リード上上押え金型、8・・・半導体
素子、9・・・タブ、lO・・・内部リード、11・・
・ボンデインクワイヤ、12・・・隙間である。 第 1 図 第 2 図 ユ 第 7 図 第 8 同 第 9 図 // 第10図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 ■、封止型半導体装置用リードフレームにおいて。 タイバーを起点とし、タイバーから内側の外部リード及
    び内部リードの一部の幅を、それより外側のリードの幅
    よりも狭くしたことを特徴とする半導体装置用リードフ
    レーム。
JP59015210A 1984-02-01 1984-02-01 半導体装置用リ−ドフレ−ム Pending JPS60161646A (ja)

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