JP5915222B2 - 内径測定装置 - Google Patents

内径測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5915222B2
JP5915222B2 JP2012026042A JP2012026042A JP5915222B2 JP 5915222 B2 JP5915222 B2 JP 5915222B2 JP 2012026042 A JP2012026042 A JP 2012026042A JP 2012026042 A JP2012026042 A JP 2012026042A JP 5915222 B2 JP5915222 B2 JP 5915222B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
axis
laser beam
unit
centering
slider
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2012026042A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013164271A (ja
Inventor
道子 馬場
道子 馬場
幸三 長谷川
幸三 長谷川
清文 藤村
清文 藤村
俊寛 林
俊寛 林
宣昌 多賀
宣昌 多賀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
IHI Corp
Original Assignee
IHI Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by IHI Corp filed Critical IHI Corp
Priority to JP2012026042A priority Critical patent/JP5915222B2/ja
Priority to US14/377,238 priority patent/US9410795B2/en
Priority to PCT/JP2013/053589 priority patent/WO2013118911A1/ja
Priority to EP13746779.1A priority patent/EP2813805B1/en
Publication of JP2013164271A publication Critical patent/JP2013164271A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5915222B2 publication Critical patent/JP5915222B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/08Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters
    • G01B11/12Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters internal diameters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • G01B11/27Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes
    • G01B11/272Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes using photoelectric detection means
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B23/00Telescopes, e.g. binoculars; Periscopes; Instruments for viewing the inside of hollow bodies; Viewfinders; Optical aiming or sighting devices
    • G02B23/24Instruments or systems for viewing the inside of hollow bodies, e.g. fibrescopes
    • G02B23/2476Non-optical details, e.g. housings, mountings, supports
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/954Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores
    • G01N2021/9542Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores using a probe
    • G01N2021/9544Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores using a probe with emitter and receiver on the probe

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Astronomy & Astrophysics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

本発明は、筒体の内径或は内面形状を測定する内径測定装置、特に非接触で内面形状を測定する内径測定装置に関するものである。
非接触で筒体の内径を測定するものとして、レーザ光線を全周方向に照射し、筒体の内面に光リングを形成し、該光リングを撮像し、画像上から光リングの形状、径を測定する非接触の内径測定装置がある。
特許文献1、特許文献2には、レーザ光線を全周方向に照射し、筒体の内面に形成される光リングを撮像し、画像上から光リングの形状、径を測定する非接触の内径測定装置が示されており、特許文献1、特許文献2の内径測定装置ではレーザ光線を全周方向に照射する手段として円錐反射面を有するコーンミラーが用いられており、レーザ光線をコーンミラーの頂点に入射することでレーザ光線を全周方向に反射している。
レーザ光線を全周方向に照射する手段としてコーンミラーを用いる場合、コーンミラーの軸心とレーザ光線の光軸とを合致させる必要があるが、特許文献1、特許文献2にはコーンミラーの軸心とレーザ光線の光軸とを合致させる方法、装置には特に言及されていない。
特開平10−197215号公報 特開2010−164334号公報
本発明は斯かる実情に鑑み、コーンミラーによりレーザ光線を全周方向に照射し、筒体の内面に光リングを形成し、該光リングに基づき筒体の内径を測定する内径測定装置に於いて、コーンミラーの軸心とレーザ光線の光軸の芯合せ機構を具備した内径測定装置を提供するものである。
本発明は、フレーム部の基端に設けられ、先端側を撮像する撮像部と、前記フレーム部の先端に設けられた芯合せ部と、該芯合せ部に透光窓部を介して前記芯合せ部の先端側に設けられたレーザ光線拡散部と、前記芯合せ部の基端側に設けられたレーザ光線発光部と、前記レーザ光線拡散部に設けられ、先端に円錐反射面を有するコーンミラーとを具備し、該コーンミラーの軸心と前記撮像部の光軸は合致し、前記芯合せ部は前記レーザ光線発光部から照射されるレーザ光線が前記コーンミラーの頂点に入射する様、前記撮像部の姿勢を調整可能とした内径測定装置に係るものである。
又本発明は、前記芯合せ部は、前記撮像部の光軸に対して直交する方向にスライド可能なX軸スライダと、該X軸スライダに設けられ、前記光軸に対して直交すると共に前記X軸スライダのスライド方向に直交する方向にスライド可能なY軸スライダと、該Y軸スライダに形成された発光部取付け面とを有し、前記レーザ光線発光部は前記発光部取付け面に取付けられた内径測定装置に係るものである。
又本発明は、前記レーザ光線発光部は、前記発光部取付け面に3箇所で3組の引きボルト、押しボルトにより取付けられ、引きボルト、押しボルトの調整で前記レーザ光線発光部の光軸の前記コーンミラーの軸心に対する傾斜を調整可能とした内径測定装置に係るものである。
又本発明は、前記芯合せ部は前記フレーム部に着脱可能であり、前記芯合せ部と前記フレーム部とは嵌合方式で取付けられ、前記芯合せ部は前記フレーム部に取付けることで、前記芯合せ部の軸心が前記撮像部の光軸に合致する様構成された内径測定装置に係るものである。
又本発明は、前記レーザ光線拡散部は前記芯合せ部に嵌合方式で取付けられ、前記レーザ光線拡散部が前記芯合せ部に取付けられることで、前記コーンミラーの軸心が前記芯合せ部の軸心と合致する様構成された内径測定装置に係るものである。
又本発明は、前記芯合せ部と前記レーザ光線拡散部と前記レーザ光線発光部とを一体化し、前記芯合せ部により前記レーザ光線発光部の光軸と前記コーンミラーの軸心とを合致させた状態で、前記芯合せ部を前記フレーム部に取付けた内径測定装置に係るものである。
本発明によれば、フレーム部の基端に設けられ、先端側を撮像する撮像部と、前記フレーム部の先端に設けられた芯合せ部と、該芯合せ部に透光窓部を介して前記芯合せ部の先端側に設けられたレーザ光線拡散部と、前記芯合せ部の基端側に設けられたレーザ光線発光部と、前記レーザ光線拡散部に設けられ、先端に円錐反射面を有するコーンミラーとを具備し、該コーンミラーの軸心と前記撮像部の光軸は合致し、前記芯合せ部は前記レーザ光線発光部から照射されるレーザ光線が前記コーンミラーの頂点に入射する様、前記撮像部の姿勢を調整可能としたので、前記レーザ光線発光部の光軸と前記コーンミラーの軸心とを確実に合致させることができ、レーザ光線を最適な状態で全周に照射させることができ、又、後調整で前記レーザ光線発光部の光軸と前記コーンミラーの軸心とを確実に合致させることができるので、部品に要求される精度を低くでき製作コストが低減する等の優れた効果を発揮する。
本発明の実施例の斜視図である。 該実施例を示す断面図である。 図2のA−A矢視図である。 前記実施例の芯合せ部、レーザ光線拡散部の断面図である。 該実施例に用いられている調整機構部の分解斜視図である。 該実施例のレーザ光線拡散部の断面図である。 本発明の他の実施例の側面図である。
以下、図面を参照しつつ本発明の実施例を説明する。
図1は本発明の実施例に係る内径測定装置1を示しており、該内径測定装置1は主に、撮像部2、レーザ光線発光部3、芯合せ部4、レーザ光線拡散部5、フレーム部6等から構成される。
前記フレーム部6は、基端リング7と先端リング8とを3本の支柱9により連結した構成であり、該支柱9は同一円周上に所定の間隔、例えば3等分の位置に配置され、前記フレーム部6の中心部には空間が形成され、該空間に前記撮像部2、前記レーザ光線発光部3が収納される様になっている。尚、前記支柱9は、2本であっても或は4本であってもよく、前記撮像部2、前記レーザ光線拡散部5を支持し得、又前記撮像部2の撮像に支障なければよい。
前記基端リング7と前記先端リング8とは同心であり、即ち前記フレーム部6の軸心上に配置されている。前記基端リング7に、該基端リング7を貫通する様に前記撮像部2が取付けられ、該撮像部2の光軸は前記フレーム部6の軸心と合致している。
前記先端リング8に前記芯合せ部4が取付けられ、該芯合せ部4に前記レーザ光線発光部3が支持されている。該レーザ光線発光部3の光軸は、調整された状態では前記フレーム部6の軸心、即ち前記撮像部2の光軸と合致する様になっている。
又、前記芯合せ部4は、後述する様に調整機構部21を有し、該調整機構部21に前記レーザ光線発光部3が支持され、該調整機構部21は該レーザ光線発光部3を該レーザ光線発光部3の光軸に対して直交する2方向に変位可能となっていると共に前記レーザ光線発光部3の光軸の傾きを調整する機能を有している。
前記レーザ光線拡散部5は前記芯合せ部4の先端側に設けられ、又前記フレーム部6に対して同心に取付けられる。即ち、前記レーザ光線拡散部5は、前記撮像部2、前記レーザ光線発光部3に対して同心となる様に設けられ、更に前記レーザ光線拡散部5は前記撮像部2、前記フレーム部6に対しては固定的な関係となる様に設けられる。
図2〜図4を参照して更に具体的に説明する。
前記撮像部2は、カメラ11及び該カメラ11を収納するカメラ収納体12を有し、該カメラ収納体12が前記基端リング7にボルト13によって固定される。
前記カメラ11は、最大画角θを有する。該カメラ11は、撮像素子として、画素の集合体であるCCD或はCMOSセンサ等を具備し、撮像素子は各画素からの信号の集合であるデジタル画像信号を出力すると共に各画素からの信号はそれぞれ撮像素子内での位置が特定できる様になっている。
前記レーザ光線発光部3は、可視光のレーザ光線17を射出するレーザ発光器14、中空管形状である発光器ホルダ15を有し、前記レーザ発光器14は前記発光器ホルダ15の基端部に嵌合され、固定される。又、前記発光器ホルダ15の先端には固定フランジ16が形成され、該固定フランジ16が前記芯合せ部4の調整機構部21に固定される様になっている。
該芯合せ部4は、前記先端リング8と同心である中空筒体であるハウジング18を有している。該ハウジング18の先端側に円形の基盤19が固着され、該基盤19に前記調整機構部21が設けられている。前記ハウジング18の基端は前記先端リング8に固着され、前記ハウジング18と前記先端リング8とを固着するボルト20は基端側(前記カメラ11側)から挿入、螺着される(図3参照)。
前記調整機構部21については更に後述するが、該調整機構部21は、図2の紙面に対して平行で且つ前記レーザ光線発光部3の光軸に対して直交する方向(X軸方向)に変位可能なX軸スライダ22及び該X軸スライダ22に設けられ、紙面に対して垂直且つ前記レーザ光線発光部3の光軸に対して直交する方向(Y軸方向)に変位可能なY軸スライダ23を有している。従って、該Y軸スライダ23は前記レーザ光線発光部3の光軸に対して直交する2方向に変位可能となっている。前記Y軸スライダ23の基側端面は、レーザ光線発光部取付け面となっており、該レーザ光線発光部取付け面に前記固定フランジ16が固定される様になっている。
又、該固定フランジ16は、引きボルト24、押しボルト25によって3箇所で前記Y軸スライダ23に取付けられ、前記引きボルト24、前記押しボルト25の調整で、前記レーザ光線発光部3の光軸の傾きが調整可能となっている(図3参照)。
前記調整機構部21には中心部を貫通する円筒状の空間が形成され、該空間は前記発光器ホルダ15の中空部と連続しており、該中空部及び前記空間によってレーザ光線17用の光路孔26が形成される。
図5を参照して、前記調整機構部21を説明する。
前記基盤19の基端側の面(図5では上面)に前記光路孔26の一部を構成する中心孔26aが穿設され、該中心孔26aの周囲には円環の突条である嵌合輪27が突設され、該嵌合輪27に嵌合し位置決めされる様にスライダベース28が前記基盤19に固着される。前記スライダベース28には前記光路孔26の一部を構成する中心孔26bが穿設されている。
前記スライダベース28の上面には前記X軸スライダ22が摺動可能に載設される。該X軸スライダ22には前記中心孔26bと同心で前記光路孔26の一部を構成する中心孔26cが穿設されると共に、X軸方向に延びるX軸ガイド溝29が前記X軸スライダ22を貫通して形成されている。
前記基盤19には、前記スライダベース28を挟み、相対向する様に配置された一対のX軸ガイド31,31が固着されている。前記X軸ガイド31は前記基盤19の上面と平行で、X軸方向に延びるガイド部31aを有し、該ガイド部31aは前記X軸ガイド溝29と摺動自在に嵌合する。又、該X軸ガイド31と前記X軸スライダ22との間には所定の間隙が形成される様になっている。
従って、前記X軸スライダ22は前記ガイド部31aにガイドされ、前記所定の間隙分だけX軸方向に変位可能となっている。
前記X軸スライダ22の上面に前記Y軸スライダ23が摺動可能に載置される。該Y軸スライダ23には、前記中心孔26b、前記中心孔26cと同心で前記光路孔26の一部を構成する中心孔26dが穿設されると共に、Y軸方向に延びるY軸ガイド溝32が前記Y軸スライダ23を貫通して形成されている。又、前記Y軸スライダ23の下面のY軸方向の寸法は、前記X軸スライダ22の上面の寸法より小さく設定されている。
前記X軸スライダ22のX軸と平行な1つの側面にはY軸ガイド33が固着され、前記X軸スライダ22のX軸と平行な他方の側面にはY軸ガイド34が固着され、前記Y軸ガイド33と前記Y軸ガイド34とは対向する配置となっている。
前記Y軸ガイド33はY軸方向に延出するガイド部33aを有し、又前記Y軸ガイド34はY軸方向に延出するガイド部34aを有し、前記ガイド部33a,34aはそれぞれ前記Y軸ガイド溝32に摺動自在に嵌合する。前記Y軸スライダ23と前記Y軸ガイド33、前記Y軸ガイド34との間には、前記Y軸スライダ23と前記X軸スライダ22との寸法差分の間隙が形成される。
従って、前記Y軸スライダ23は前記ガイド部33a,34aにガイドされ、前記間隙分だけY軸方向間に変位可能となっている。
前記X軸スライダ22のX軸と平行な1側面には、X軸調整螺子ホルダ35が取付けられ、該X軸調整螺子ホルダ35にはX軸方向に延びるX軸調整螺子36が取付けられている。
前記基盤19には前記X軸調整螺子ホルダ35に対向する様に、X軸ストッパホルダ37が固着され、該X軸ストッパホルダ37にはストッパ螺子38が取付けられている。該ストッパ螺子38と前記X軸調整螺子36とは同一軸心上に配置されており、前記X軸調整螺子36の先端は前記ストッパ螺子38の端面に当接する様になっている。
前記スライダベース28の上面にはX軸ロック片39が突設され、該X軸ロック片39はX軸と平行となっており、該X軸ロック片39にはX軸方向に長い長孔41が穿設されている。
該長孔41を通してX軸ロック螺子42が前記X軸スライダ22に螺着される。前記X軸ロック螺子42は、前記X軸スライダ22に対して前記長孔41の余裕分だけ、X軸方向に相対変位が可能であり、この相対変位量は前記X軸スライダ22の変位量と同等となっている。
従って、前記X軸ロック螺子42を緩めた状態では、前記X軸スライダ22がX軸方向に変位可能であり、前記X軸調整螺子36を回すことで、該X軸調整螺子36の突出量が変化し、突出量の変化量に応じて前記X軸スライダ22がX軸方向に変位し、該X軸スライダ22のX軸方向の位置が調整される。
又、前記X軸ロック螺子42を締込むことで前記X軸スライダ22を前記スライダベース28に固定できる様になっており、前記X軸スライダ22の位置を調整した後、前記X軸ロック螺子42を締込むことで、前記X軸スライダ22の調整後の位置が保持される。
前記Y軸スライダ23のY軸と平行な1側面にY軸調整螺子ホルダ43が設けられ、該Y軸調整螺子ホルダ43にはY軸方向に延びるY軸調整螺子44が取付けられている。
前記Y軸ガイド34にはストッパ螺子45が取付けられている。該ストッパ螺子45と前記Y軸調整螺子44とは同一軸心上に配置されており、前記Y軸調整螺子44の先端は前記ストッパ螺子45の端面に当接する様になっている。
前記X軸スライダ22の、X軸と直交する1側面には、Y軸ロックプレート46が固着される。該Y軸ロックプレート46は、前記ガイド部31aと干渉しない形状となっていると共にY軸方向に長い長孔47が穿設されている。
該長孔47を通してY軸ロック螺子48が前記Y軸スライダ23に螺着される。前記Y軸ロック螺子48は、前記Y軸スライダ23に対して前記長孔47の余裕分だけ、Y軸方向に相対変位が可能であり、この相対変位量は前記Y軸スライダ23の変位量と同等となっている。
従って、前記Y軸ロック螺子48を緩めた状態では、前記Y軸スライダ23がY軸方向に変位可能であり、前記Y軸調整螺子44を回すことで、該Y軸調整螺子44の突出量が変化し、突出量の変化量に応じて前記Y軸スライダ23がY軸方向に変位し、該Y軸スライダ23のY軸方向の位置が調整される。
前記X軸スライダ22はX軸方向に位置調整可能であり、該X軸スライダ22に設けられた前記Y軸スライダ23はY軸方向に位置調整可能であるので、前記X軸スライダ22と前記Y軸スライダ23の協働による位置調整で、前記Y軸スライダ23はX軸、Y軸の2方向の位置調整が可能となっている。
前記発光器ホルダ15は前記Y軸スライダ23の上面に取付けられる様になっており、前記レーザ光線発光部3は前記調整機構部21により、光軸に直交する2方向(X軸、Y軸)に調整が可能となっている。
次に、前記発光器ホルダ15は前記固定フランジ16を介して前記Y軸スライダ23に固定されており、固定手段として3箇所に設けられた前記引きボルト24、前記押しボルト25(図3参照)が用いられている。従って、前記押しボルト25の突出量を調整しつつ前記引きボルト24で締込むことで、前記レーザ光線発光部3の光軸の傾斜を調整できる。
次に、前記レーザ光線拡散部5について、図4、図6を参照して説明する。
該レーザ光線拡散部5は後述する様に、透光窓部55及びコーンミラー部59から構成され、該コーンミラー部59は前記レーザ発光器14から射出されるレーザ光線17を全周方向に反射するコーンミラー51を有し、前記透光窓部55は前記コーンミラー51によって全周に反射されたレーザ光線17′を透過する全周透光窓52を有している。
前記コーンミラー51は、前記レーザ発光器14に対向する側の先端部が円錐形状となっており、円錐の頂角は90゜となっている。又、先端部の円錐面が反射面となっている。
前記全周透光窓52は、ガラス、或は透明合成樹脂等透光性材質により円筒状に形成されたものであり、第1フランジ53、第2フランジ54によって挾持されると共に前記全周透光窓52は、前記芯合せ部4と同心となっている。前記第1フランジ53、前記第2フランジ54の中心部には、前記光路孔26と同心の開口部53a,53bが穿設され、該開口部53a,53bは、前記光路孔26より大きくなっている。前記全周透光窓52、前記第1フランジ53、前記第2フランジ54は透光窓部55を構成している。
前記コーンミラー51は、コーンミラーホルダ56によって軸心が前記レーザ光線17の光軸と合致する様に保持され、該コーンミラーホルダ56は固定フランジ57を介して前記第2フランジ54に固着される様になっている。
前記コーンミラーホルダ56は嵌合部56aを有する。前記固定フランジ57は、フランジ部57aを有し、該フランジ部57aは前記第2フランジ54にインロー方式で固定される。又前記固定フランジ57には嵌合孔58が軸心方向に貫通して設けられ、該嵌合孔58に前記嵌合部56aが嵌合する様になっている。
上記した様に、前記フランジ部57aと前記第2フランジ54とはインロー方式で固定されるので、前記固定フランジ57と前記第2フランジ54とを組合わせた精度は、前記第2フランジ54と前記固定フランジ57の機械加工精度で決定される。又、前記固定フランジ57と前記コーンミラーホルダ56とは嵌合による組立てであるので、組立て精度は、前記固定フランジ57と前記コーンミラーホルダ56との機械加工精度による。従って、前記コーンミラー51を前記コーンミラーホルダ56で組立てた状態で、前記コーンミラーホルダ56の軸心と前記コーンミラー51の軸心とを高精度に合致させておけば、前記コーンミラーホルダ56を前記固定フランジ57に組立てるだけで、調整をすることなく、前記コーンミラー51の軸心、頂点を前記レーザ光線17の光軸に合致させることができる。
又、前記コーンミラー51を保持したコーンミラーホルダ56を予め前記固定フランジ57に組立て、ユニット化しておけば、該固定フランジ57を前記第2フランジ54に組立てるだけで、前記コーンミラー51の軸心が前記レーザ光線17の光軸に合致することが保証される。前記コーンミラー51、前記コーンミラーホルダ56、前記固定フランジ57はコーンミラー部59を構成する。又、前記コーンミラー51の頂角の異なる前記コーンミラー部59を複数用意し、測定状況に合わせて適宜交換してもよい。
又、前記芯合せ部4に前記レーザ光線拡散部5を取付け、前記芯合せ部4に前記レーザ光線発光部3を組立てた状態で、即ち、前記芯合せ部4、前記レーザ光線拡散部5、前記レーザ光線発光部3をユニット化した状態で、前記芯合せ部4を前記先端リング8に組立てることができる。
従って、前記レーザ光線17に対する前記コーンミラー51の位置合せを、前記撮像部2、前記フレーム部6と切離した状態で行える。
以下、前記内径測定装置1の作用について説明する。
先ず、前記内径測定装置1の組立てについて説明する。
上記した様に、前記コーンミラー51が前記コーンミラーホルダ56に装着され、更に該コーンミラーホルダ56が前記固定フランジ57に組立てられた状態では、前記コーンミラー51の軸心は前記固定フランジ57の軸心、即ち前記レーザ光線拡散部5の軸心に合致している。
前記コーンミラー部59を前記透光窓部55に取付け、更に前記基盤19を前記第1フランジ53に取付けることで、前記調整機構部21が前記透光窓部55に取付けられる。
尚、前記フランジ部57aと前記第2フランジ54、前記基盤19と前記第1フランジ53とはそれぞれインロー方式となっているので、前記コーンミラー部59を前記透光窓部55に取付けることで前記コーンミラー部59の軸心と前記透光窓部55の軸心とが合致し、又前記透光窓部55の軸心と前記調整機構部21の軸心とが合致する様になっている。尚、前記調整機構部21は、前記ハウジング18が取外された状態となっている。
又、前記発光器ホルダ15を前記Y軸スライダ23に固着することで、前記レーザ光線発光部3が前記調整機構部21に取付けられている。
前記レーザ光線発光部3が組立てられた状態では、前記コーンミラー51の軸心と前記調整機構部21の軸心とは合致しており、前記コーンミラー51の軸心と前記レーザ光線発光部3の光軸とが未調整の状態となっている。
前記コーンミラー51の軸心と前記レーザ光線発光部3の光軸との芯合せ調整は、前記調整機構部21によって行われる。
図5を参照すると、X軸方向の調整は前記X軸調整螺子36を回すことで、該X軸調整螺子36の突出量が変化し、又該X軸調整螺子36は前記ストッパ螺子38に当接しているので前記X軸スライダ22がX軸方向に変位し、位置調整される。
又、前記Y軸調整螺子44を回すことで、該Y軸調整螺子44の突出量が変化し、該Y軸調整螺子44は前記ストッパ螺子45に当接しているので、前記Y軸調整螺子44の突出量に応じてY軸スライダ23がY軸方向に変位し、位置調整される。従って、前記X軸調整螺子36、前記Y軸調整螺子44の調整で、前記Y軸スライダ23は光軸に対して直交する2方向に位置調整される。従って、前記Y軸スライダ23に固定されているレーザ光線発光部3が光軸に対して直交する2方向に位置調整される。
又、3箇所の前記引きボルト24、前記押しボルト25を調整することで芯合せ部4の軸心に対する前記レーザ光線発光部3の光軸の傾きが調整される。前記引きボルト24、前記押しボルト25は光軸調整部として機能する。
前記レーザ光線発光部3の光軸の傾き調整と、前記光軸に対して直交する2方向の位置調整で、前記レーザ光線発光部3の光軸と前記芯合せ部4の軸心とが合致される。
前記レーザ光線発光部3の光軸と前記芯合せ部4の軸心とが合致すると、前記X軸ロック螺子42を締込み、前記X軸スライダ22を前記スライダベース28に固定し、又前記Y軸ロック螺子48を締込み、前記Y軸スライダ23を前記X軸スライダ22に固定する。
而して、前記レーザ光線発光部3は芯合せされた状態で、姿勢が固定される。
尚、前記レーザ光線発光部3と前記コーンミラー51が芯合せされたかどうかの確認、芯合せ作業での調整の状態を確認する1つの方法としては、前記レーザ光線発光部3よりレーザ光線17を照射させた状態で、調整を行い、前記コーンミラー51で反射されたレーザ光線17′を壁面等に照射させ、形成されるリングの一様性を観察して、芯合せの状態を確認してもよい。
前記基盤19に前記ハウジング18を取付ける。該ハウジング18の取付け方法は種々考えられるが一例として、前記基盤19と前記ハウジング18とを螺合させ、更に最終的にはインロー方式で嵌合させることで、固定と芯合せを行うことができる。又、前記ハウジング18を前記基盤19に固定した状態では、前記ハウジング18の軸心は前記コーンミラー51の軸心と合致する。
前記ハウジング18を前記先端リング8に固着し、前記撮像部2を前記レーザ光線発光部3に取付ける。前記フレーム部6を介して前記撮像部2が前記芯合せ部4と一体化され、前記撮像部2の光軸と前記レーザ光線発光部3の光軸とは合致している。尚、前記ハウジング18と前記先端リング8の接合部にはインロー部が形成されており、前記ハウジング18を前記先端リング8に固着するだけで前記撮像部2の光軸と前記レーザ光線発光部3の光軸とは合致する構成となっている。
次に、前記内径測定装置1を用いて、内径、内径形状を測定する場合を説明する。
特に図示していないが、前記内径測定装置1は配管、或は中空軸等の中空体の内部に挿入され、更に図示しない支持装置によって中空体の中心に支持される。
前記レーザ発光器14よりレーザ光線17を照射すると、該レーザ光線17は前記コーンミラー51の頂点に入射し、該コーンミラー51により全周方向に反射される。反射されたレーザ光線17′は前記全周透光窓52を透過し全周に射出される。
又前記レーザ光線17′は中空体の内壁を照射し、光リング61を形成する。該光リング61は内壁の形状を反映し、光リング61の形状を測定することで、内壁の径、形状(例えば楕円)を測定することができる。
前記カメラ11は、内壁に形成される前記光リング61を撮像し、電子画像データとして出力する。
尚、前記カメラ11が有する最大画角はθmaxであり、該カメラ11の撮像領域の中心部を前記レーザ光線発光部3、前記芯合せ部4等の構造物が占め、撮像不能となっているので、前記カメラ11の撮像範囲Fは、前記構造物と干渉しない画角θ1≦F≦θmaxとなる。
又、前記カメラ11の画角の中心と前記コーンミラー51の頂点迄の距離をLとすると、撮像可能な中空体の半径Rは、Ltanθ1≦R≦Ltanθmaxとなる。従って、測定可能な中空体の直径Dは、2Ltanθ1≦D≦2Ltanθmaxとなる。
PC等の演算処理装置に、画像データを入力し、該画像データに基づき前記光リング61の直径、形状を測定する。
図7は、他の実施例を示している。該他の実施例ではレーザ光線拡散部5にもう1つの撮像部2′を取付け、内壁に形成される光リング61を前記撮像部2の反対側から撮像する様にしたものである。前記撮像部2′は、カメラ11′及びフレーム部6′を有し、該フレーム部6′先端が固定フランジ57に取付けられる。
前記光リング61を反対側から撮像することで、内壁に凹凸があり、形成される光リング61が前記カメラ11の死角に入る場合等でも測定が可能である。
1 内径測定装置
2 撮像部
3 レーザ光線発光部
4 芯合せ部
5 レーザ光線拡散部
6 フレーム部
11 カメラ
14 レーザ発光器
17 レーザ光線
17′ レーザ光線
18 ハウジング
21 調整機構部
22 X軸スライダ
23 Y軸スライダ
26 光路孔
29 X軸ガイド溝
31 X軸ガイド
32 Y軸ガイド溝
33 Y軸ガイド
34 Y軸ガイド
36 X軸調整螺子
44 Y軸調整螺子
51 コーンミラー
52 全周透光窓
55 透光窓部
56 コーンミラーホルダ
57 固定フランジ
61 光リング

Claims (5)

  1. フレーム部の基端に設けられ、先端側を撮像する撮像部と、前記フレーム部の先端に設けられた芯合せ部と、該芯合せ部に透光窓部を介して前記芯合せ部の先端側に設けられたレーザ光線拡散部と、前記芯合せ部の発光部取付け面に取付けられたレーザ光線発光部と、前記レーザ光線拡散部に設けられ、先端に円錐反射面を有するコーンミラーとを具備し、該コーンミラーの軸心と前記撮像部の光軸は合致し、前記芯合せ部はスライダベースと、該スライダベースの上面に摺動可能に設けられ、前記撮像部の光軸に対して直交する方向にスライド可能なX軸スライダと、該X軸スライダの上面に摺動可能に設けられ、前記撮像部の光軸に対して直交すると共に前記X軸スライダのスライド方向に直交する方向にスライド可能なY軸スライダと、該Y軸スライダの上面に形成された前記発光部取付け面と、前記スライダベースと前記X軸スライダと前記Y軸スライダの中心部を貫通して形成された光路孔とを有し、前記レーザ光線発光部から照射されるレーザ光線が前記光路孔を通過して前記コーンミラーの頂点に入射する様、前記レーザ光線発光部の姿勢を調整可能としたことを特徴とする内径測定装置。
  2. 前記レーザ光線発光部は、前記発光部取付け面に3箇所で3組の引きボルト、押しボルトにより取付けられ、引きボルト、押しボルトの調整で前記レーザ光線発光部の光軸の前記コーンミラーの軸心に対する傾斜を調整可能とした請求項1の内径測定装置。
  3. 前記芯合せ部は前記フレーム部に着脱可能であり、前記芯合せ部と前記フレーム部とは嵌合方式で取付けられ、前記芯合せ部は前記フレーム部に取付けることで、前記芯合せ部の軸心が前記撮像部の光軸に合致する様構成された請求項1又は請求項2の内径測定装置。
  4. 前記レーザ光線拡散部は前記芯合せ部に嵌合方式で取付けられ、前記レーザ光線拡散部が前記芯合せ部に取付けられることで、前記コーンミラーの軸心が前記芯合せ部の軸心と合致する様構成された請求項1又は請求項3の内径測定装置。
  5. 前記芯合せ部と前記レーザ光線拡散部と前記レーザ光線発光部とを一体化し、前記芯合せ部により前記レーザ光線発光部の光軸と前記コーンミラーの軸心とを合致させた状態で、前記芯合せ部を前記フレーム部に取付けた請求項1又は請求項3又は請求項4の内径測定装置。
JP2012026042A 2012-02-09 2012-02-09 内径測定装置 Active JP5915222B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012026042A JP5915222B2 (ja) 2012-02-09 2012-02-09 内径測定装置
US14/377,238 US9410795B2 (en) 2012-02-09 2013-02-07 Inner diameter measuring device
PCT/JP2013/053589 WO2013118911A1 (ja) 2012-02-09 2013-02-07 内径測定装置
EP13746779.1A EP2813805B1 (en) 2012-02-09 2013-02-07 Inside-diameter measurement device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012026042A JP5915222B2 (ja) 2012-02-09 2012-02-09 内径測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013164271A JP2013164271A (ja) 2013-08-22
JP5915222B2 true JP5915222B2 (ja) 2016-05-11

Family

ID=48947660

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012026042A Active JP5915222B2 (ja) 2012-02-09 2012-02-09 内径測定装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9410795B2 (ja)
EP (1) EP2813805B1 (ja)
JP (1) JP5915222B2 (ja)
WO (1) WO2013118911A1 (ja)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5884838B2 (ja) 2012-02-09 2016-03-15 株式会社Ihi 内径測定装置
JP2013164274A (ja) 2012-02-09 2013-08-22 Ihi Corp 内径測定装置
JP5880096B2 (ja) 2012-02-09 2016-03-08 株式会社Ihi 内径測定装置
EP2813800B1 (en) 2012-02-09 2019-10-02 IHI Corporation Inside-diameter measurement device
JP5821675B2 (ja) 2012-02-09 2015-11-24 株式会社Ihi 回転機器の回転制限装置
JP5880097B2 (ja) * 2012-02-09 2016-03-08 株式会社Ihi 内径測定装置
JP5915223B2 (ja) 2012-02-09 2016-05-11 株式会社Ihi 内径測定装置及び内径測定方法
US9372076B2 (en) * 2014-04-10 2016-06-21 Tri Tool Inc. System and method for automated pipe measurement and alignment
EP2942654B1 (en) * 2014-05-08 2018-10-10 Airbus Defence and Space GmbH Detector plane alignment adjusting device
BR102015024034B1 (pt) * 2015-09-17 2022-01-11 Vallourec Soluções Tubulares Do Brasil S.A. Sistema e método automáticos de medição e usinagem de extremidade de elementos tubulares
CA2930037A1 (en) * 2016-05-16 2017-11-16 Inuktun Services Ltd. Apparatus for laser profiling inspection
CN107300366B (zh) * 2017-08-25 2023-06-27 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 一种孔用对中检测装置
US11376926B2 (en) 2018-08-27 2022-07-05 U.S. Farathane Corporation Finger tab interface for vehicle pressure relief valve incorporated into a ventilation module for providing slow closing/opening of valve under low pressures resulting from a door slam event
CN114877829B (zh) * 2022-07-08 2022-09-09 兰州城市学院 一种地质勘探钻杆的直线度检测装置

Family Cites Families (88)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1664851A (en) 1926-08-18 1928-04-03 Gisholt Machine Co Tool post
US1721524A (en) 1927-10-03 1929-07-23 Charles E Moore Feed-screw limit gauge for lathes
US2822620A (en) 1954-12-27 1958-02-11 John C Ulfeldt Gauge for measuring inside diameters
US3247732A (en) 1963-10-16 1966-04-26 A E Moore Company Inc Reversible drive mechanism
US3436967A (en) 1965-08-18 1969-04-08 Aircraft Radio Corp Mechanical suppressor for jittery shaft
US3771350A (en) * 1971-12-30 1973-11-13 Aviat Inc Pipeline leak detector
GB1388475A (en) 1972-02-08 1975-03-26 Dale Ltd John Flaw detector
JPS50159355A (ja) 1974-06-12 1975-12-23
US4045877A (en) 1976-03-11 1977-09-06 Sunnen Products Company Retractable dial bore gauge
IT1133314B (it) 1980-06-02 1986-07-09 Finike Italiana Marposs Comparatore manuale a tampone per il controllo del diametro di fori
JPS5866809A (ja) 1981-09-28 1983-04-21 サミユエル・ロスステイン 管の欠陥測定方法及び管の検査装置における複合走査装置
JPS59187155A (ja) 1983-04-06 1984-10-24 Hitachi Ltd 回転運動変換装置
US4536963A (en) 1983-08-29 1985-08-27 Mitutoyo Mfg. Co., Ltd. Digital indication type measuring machine
US4631834A (en) * 1984-04-20 1986-12-30 Mitutuoyo Mfg. Co., Ltd. Coordinate measuring instrument
JPS61144551A (ja) 1984-12-18 1986-07-02 Toshiba Corp 長孔周壁検査装置
JPS61282659A (ja) 1985-06-10 1986-12-12 Fuji Electric Co Ltd 回動軸の回動範囲制限機構
JPH0733996B2 (ja) 1986-08-26 1995-04-12 三菱電機株式会社 管内面形状検出装置
JPS63159708A (ja) 1986-12-24 1988-07-02 Seiko Instr & Electronics Ltd 円筒形状物の軸中心検出装置
IT1213696B (it) 1987-10-09 1989-12-29 Marposs Spa Apparecchio per il controllo di dimensioni lineari di pezzi
JPH01195309A (ja) 1988-01-29 1989-08-07 Sumitomo Rubber Ind Ltd 円筒体測定装置
US4872269A (en) * 1988-04-08 1989-10-10 Karl Sattmann Automatic cylinder profiling gage
FR2631697B1 (fr) * 1988-05-17 1991-07-26 Hispano Suiza Sa Appareil pour le controle optique du profil interne d'un tube ou d'un alesage
DE3841439A1 (de) 1988-12-09 1990-06-13 Pietzsch Automatisierungstech Vorrichtung zum gleichzeitigen vermessen hintereinanderliegender zylinderbohrungen
US4937524A (en) 1989-04-24 1990-06-26 The Babcock & Wilcox Company Rotating eddy current roller head for inspecting tubing
JPH0562573A (ja) 1991-06-18 1993-03-12 Fuji Electric Co Ltd 光電スイツチ
US5259119A (en) 1991-09-17 1993-11-09 Mitutoyo Corporation Automatic inner diameter measuring apparatus and zero adjustment thereof
US5224274A (en) 1992-03-12 1993-07-06 The Edmunds Manufacturing Company Contact gage
JP2531488B2 (ja) * 1993-08-10 1996-09-04 株式会社機動技研 管内測定方法
JPH0729405U (ja) * 1993-11-01 1995-06-02 三菱重工業株式会社 管内面検査装置
JPH07191269A (ja) 1993-12-27 1995-07-28 Y S Opt:Kk 内面観察装置
JPH0814874A (ja) 1994-06-27 1996-01-19 Tosok Corp 測定装置
JPH0893876A (ja) 1994-09-28 1996-04-12 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 回転軸の過回動防止構造
JP3338571B2 (ja) 1994-11-22 2002-10-28 アスモ株式会社 移動体の位置検出装置
FR2730304B3 (fr) 1995-02-07 1997-04-18 Arnould Denis Appareil mecanique de metrologie pour mesures d'alesages et de cones de grande dimension
WO1997002480A1 (en) * 1995-06-30 1997-01-23 The United States Of America, Represented By The Secretary Of The Air Force Electro-optic, noncontact, interior cross-sectional profiler
US6124037A (en) 1996-04-08 2000-09-26 Alcon Laboratories, Inc. Articles coated with in vivo polymerizable ophthalmic compositions
JPH09311034A (ja) 1996-05-23 1997-12-02 Sumitomo Metal Ind Ltd 鋼管の内径・内周長測定方法及び装置
US5933231A (en) * 1996-07-10 1999-08-03 Industrial Technology Institute Method and system for measuring cavities and probe for use therein
JPH10137962A (ja) 1996-11-07 1998-05-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd レーザ光学系
JPH10197215A (ja) 1996-12-19 1998-07-31 Westinghouse Electric Corp <We> 管状製品の内壁の光学検査装置
JP3700805B2 (ja) 1997-01-30 2005-09-28 石川島播磨重工業株式会社 ロングシャフトの内径振れ計測装置
GB9719514D0 (en) 1997-09-12 1997-11-19 Thames Water Utilities Non-contact measuring apparatus
US6427353B1 (en) 1998-05-28 2002-08-06 Rockwell Automation Technologies, Inc. High speed acquisition and calculation of dimensional variables with vibration and skew error reduction
JP2000136923A (ja) 1998-11-04 2000-05-16 Kubota Corp 接触式管内径測定装置
JP2000146564A (ja) 1998-11-04 2000-05-26 Kubota Corp 接触式管内径測定装置の精度確認装置
US6243962B1 (en) 1999-02-10 2001-06-12 Samsomatic, Ltd. Boring apparatus with shaft mounted diameter gage
JP2002022671A (ja) 2000-07-12 2002-01-23 Nissan Motor Co Ltd 円筒内壁面検査装置および検査方法
JP2002148036A (ja) 2000-11-10 2002-05-22 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 管内径モニタリング装置
US7046356B2 (en) * 2000-11-15 2006-05-16 Quest Trutec, Lp Method for processing in situ inspection reformer tube data
JP4085616B2 (ja) 2001-11-01 2008-05-14 株式会社日立プラントテクノロジー 内面形状計測方法及びその装置
US6931149B2 (en) 2002-04-19 2005-08-16 Norsk Elektro Optikk A/S Pipeline internal inspection device and method
JP2003329606A (ja) 2002-05-09 2003-11-19 Tohoku Techno Arch Co Ltd 内面検査装置
JP3869360B2 (ja) 2002-12-27 2007-01-17 三鷹光器株式会社 手術用顕微鏡の回転支持構造
JP2004176852A (ja) 2002-11-28 2004-06-24 Moriyama Giken:Kk 回転体ストッパーとそれを用いた風力発電装置
JP4230408B2 (ja) 2004-04-30 2009-02-25 独立行政法人科学技術振興機構 深穴計測装置および深穴計測方法
JP2005331333A (ja) 2004-05-19 2005-12-02 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 軸管内径計測装置および軸管内径自動計測装置
JP3105724U (ja) 2004-06-04 2004-11-25 株式会社環境システム 管の内径測定装置
US7189023B2 (en) 2004-09-01 2007-03-13 Micro-Star Int'l Co., Ltd. Rotational positioning apparatus
JP2006153546A (ja) 2004-11-26 2006-06-15 Sanyo Special Steel Co Ltd 接触式鋼管寸法測定装置
JP4508849B2 (ja) 2004-11-30 2010-07-21 株式会社ケンウッド 回転つまみのストッパー構造
US7111407B2 (en) 2004-11-30 2006-09-26 Tennessee Valley Authority Vertical shaft alignment tool
JP4192901B2 (ja) 2005-02-17 2008-12-10 三菱電機株式会社 アンテナ装置
JP4641824B2 (ja) 2005-02-24 2011-03-02 株式会社クボタ 管内調査装置
US7328520B2 (en) 2005-06-17 2008-02-12 The Technologies Alliance, Inc. Gage for measuring diameters
JP2007057305A (ja) * 2005-08-23 2007-03-08 Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd 筒内検査装置
JP2007071852A (ja) 2005-09-02 2007-03-22 Akio Katsuki 深穴測定装置および深穴測定方法
CH705706B1 (de) 2005-11-03 2013-05-15 Belimo Holding Ag Stellantrieb mit einem Reduktionsgetriebe für ein Stellglied zur Regelung eines Gas- oder Flüssigkeitsstroms.
FR2898671B1 (fr) 2006-03-14 2008-12-26 Snecma Sa Systeme de mesure de cotes a l'interieur d'un arbre creux notamment de turbomachine aeronautique
JP2007292699A (ja) 2006-04-27 2007-11-08 Asmo Co Ltd 部材の表面検査方法
DE202006017076U1 (de) * 2006-11-08 2007-01-04 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung zur Inspektion einer Rohrleitung
US20090144999A1 (en) 2006-11-30 2009-06-11 Lau Kam C Interior contour measurement probe
DK2300777T3 (da) 2008-06-18 2013-11-04 Chris Marine Ab Cylinderdiametermåling
US8164758B2 (en) 2008-07-10 2012-04-24 Quest Metrology, LLC Internal inspection system and method
JP2010019783A (ja) 2008-07-14 2010-01-28 Mitsutoyo Corp 内径測定器
US8035823B2 (en) * 2008-09-05 2011-10-11 3Dm Devices Inc. Hand-held surface profiler
NO333307B1 (no) * 2008-11-24 2013-04-29 Statoil Asa Anordning og fremgangsmate for optisk maling av tykkelsen av enhver avsetning av materiale pa innerveggen til en konstruksjon
JP2010164334A (ja) * 2009-01-13 2010-07-29 Ihi Corp 内面形状測定装置および内面形状測定方法
JP2011002439A (ja) 2009-06-22 2011-01-06 Kentaro Iguchi 検査装置
JP5378083B2 (ja) 2009-07-01 2013-12-25 東亜グラウト工業株式会社 内径測定装置及びその内径測定装置を用いた管路内径測定システム
US20110080588A1 (en) 2009-10-02 2011-04-07 Industrial Optical Measurement Systems Non-contact laser inspection system
JP5880097B2 (ja) 2012-02-09 2016-03-08 株式会社Ihi 内径測定装置
JP5880096B2 (ja) 2012-02-09 2016-03-08 株式会社Ihi 内径測定装置
JP2013164274A (ja) 2012-02-09 2013-08-22 Ihi Corp 内径測定装置
JP5821675B2 (ja) 2012-02-09 2015-11-24 株式会社Ihi 回転機器の回転制限装置
JP5884838B2 (ja) 2012-02-09 2016-03-15 株式会社Ihi 内径測定装置
EP2813800B1 (en) 2012-02-09 2019-10-02 IHI Corporation Inside-diameter measurement device
JP5915223B2 (ja) 2012-02-09 2016-05-11 株式会社Ihi 内径測定装置及び内径測定方法
US9188775B2 (en) * 2013-08-28 2015-11-17 United Sciences, Llc Optical scanning and measurement

Also Published As

Publication number Publication date
US9410795B2 (en) 2016-08-09
WO2013118911A1 (ja) 2013-08-15
EP2813805B1 (en) 2019-12-04
JP2013164271A (ja) 2013-08-22
US20150015873A1 (en) 2015-01-15
EP2813805A4 (en) 2015-10-07
EP2813805A1 (en) 2014-12-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5915222B2 (ja) 内径測定装置
EP2813804B1 (en) Inside-diameter measurement device
US20070153296A1 (en) Optical measuring device for measuring a cavity
JP5072337B2 (ja) 光学式変位センサ及びその調整方法
JP4652921B2 (ja) 試料ホルダ
US7889326B2 (en) Distance measuring apparatus
JP5252641B2 (ja) 孔形状測定方法
TWI421471B (zh) Laser head with laser head
JP3139050U (ja) レーザースキャン光学エンジン装置
JP2001264453A (ja) 光学装置
WO2013118910A1 (ja) 内径測定装置
JP2009222441A (ja) 再帰反射性強度測定装置
JP2007240168A (ja) 検査装置
KR101937187B1 (ko) 필름표면의 불량 검출 장치
JP3207976U (ja) レンズ調整配置(lens adjustment arrangement)を有する光受信器
KR100562961B1 (ko) 중성자 유도관용 고정밀 정렬장치
KR102644184B1 (ko) 3차원 스캐너
CN111198093B (zh) 曝光光角量测设备
JP6741501B2 (ja) 光電センサ用光軸調整治具と光電センサの光軸調整方法
WO2022097398A1 (ja) 光ラインセンサ
CN211504609U (zh) 探测装置及检测设备
US20170279999A1 (en) Image reading optical system and image reading apparatus
JP4443284B2 (ja) 光源保持装置セット
JP2006047395A (ja) 画像スキャン装置用レンズユニット
JPS62294552A (ja) パタ−ン描画装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20141218

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150818

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20151014

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160308

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160321

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5915222

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250