JP5786971B2 - 内径測定装置 - Google Patents
内径測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5786971B2 JP5786971B2 JP2013557620A JP2013557620A JP5786971B2 JP 5786971 B2 JP5786971 B2 JP 5786971B2 JP 2013557620 A JP2013557620 A JP 2013557620A JP 2013557620 A JP2013557620 A JP 2013557620A JP 5786971 B2 JP5786971 B2 JP 5786971B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measuring
- inner diameter
- advance
- measuring instrument
- contact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/08—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring diameters
- G01B5/12—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring diameters internal diameters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
この為、測定結果には治具を介在させたことによる誤差を含んでおり、更に、治具を介在させているので、被測定管の端部又は端部近傍の限定された部分の測定しか行えない。又、被測定管を回転させるので、構造が複雑となり、又被測定管が長尺物である場合は装置が大掛りとなるという問題があった。
本発明は斯かる実情に鑑み、被測定管を回転させることなく、簡単な構造で、被測定物の内径を測定可能な内径測定装置を提供するものである。
又本発明は、前記計測ヘッドは前記接触測定器を保持し、該接触測定器を半径方向に移動可能な測定器ホルダと該測定器ホルダと一体に移動するスケールセンサと、前記接触測定器の移動方向と平行に設けられたリニアスケールとを具備し、内径の測定は前記スケールセンサの検出結果と前記接触測定器の検出結果に基づき求められる内径測定装置に係るものである。
又本発明は、前記旋回ユニットは、棒状の支持部材の先端に取付けられる内径測定装置に係るものである。
又本発明は、前記計測ヘッドの重心は、前記軸心の位置又は略軸心の位置にある内径測定装置に係るものである。
又本発明は、前記計測ヘッドは、前記旋回ユニットによって旋回される測定器支持基板を有し、前記進退ユニットは2組のリニアガイドを介して前記測定器支持基板に設けられ、各リニアガイドは一対の進退ガイドレールと、該進退ガイドレールにそれぞれ摺動自在に嵌合する一対のブロックとから構成され、一方のリニアガイドは前記進退ガイドレールが前記測定器支持基板に設けられ、前記ブロックが前記進退ユニットに設けられ、他方のリニアガイドは前記進退ガイドレールが前記進退ユニットに設けられ、前記ブロックが前記測定器支持基板に設けられた内径測定装置に係るものである。
図2は該内径測定装置の断面図である。
図3は本発明の第2の実施例に係る計測ヘッドの断面図である。
図4(A)、図4(B)は第2の実施例中のリニアスケールの説明図である。
図5(A)は計測ヘッドの平面図、図5(B)は接触測定器が突出した状態の正面図である。
図1、図2は第1の実施例に係る内径測定装置50を示しており、図中、1は旋回ユニットを示し、2は計測ヘッド、51は前記内径測定装置50の軸心を示している。
先ず、前記旋回ユニット1について説明する。
該旋回ユニット1の軸心は前記軸心51と合致し、棒状の支持部材、例えば中空シャフト3に同心に取付けられる様になっている(図2参照)。
前記中空シャフト3には中空の連結アダプタ4がボルト等の固着部材によって取付けられ、前記中空シャフト3と前記連結アダプタ4とは着脱可能となっている。前記連結アダプタ4に中空のシャフトホルダ5が取付けられる。該シャフトホルダ5の軸心は前記軸心51と合致しており、該シャフトホルダ5には、軸受6,7を介して旋回軸8が前記軸心51を中心に回転自在に支持される。該旋回軸8は、重量軽減の為、中空とするのが好ましい。
前記旋回軸8の先端(図2に於いて右側)に旋回フランジ9が形成され、更に該旋回フランジ9の基側には旋回ギア11が前記旋回軸8に嵌着されている。
前記シャフトホルダ5の外面の所要位置に旋回モータ12が設けられ、該旋回モータ12の出力軸には旋回駆動ギア13が嵌着され、該旋回駆動ギア13は前記旋回ギア11と噛合される。又、前記旋回モータ12は、エンコーダ(図示せず)を具備し、前記旋回駆動ギア13即ち前記旋回ギア11の回転量を検出可能となっている。
前記シャフトホルダ5の所要位置、前記旋回モータ12と干渉しない位置に、前記旋回フランジ9の旋回制限手段14が設けられる。該旋回制限手段14の一例としては、前記シャフトホルダ5にリミットスイッチ15が設けられ、前記旋回フランジ9には前記リミットスイッチ15を作動させるスイッチ作動片16が取付けられる。本実施例では、前記リミットスイッチ15として近接スイッチが用いられ、前記スイッチ作動片16としては前記リミットスイッチ15に対して所要の間隔で対峙する様に設定された金属片が用いられる。
前記連結アダプタ4、前記シャフトホルダ5、前記旋回フランジ9、前記旋回モータ12、前記旋回制限手段14を覆う、円筒状の旋回ユニットカバー18が前記連結アダプタ4の基端から前記旋回フランジ9に掛渡って設けられている。尚、前記旋回ユニットカバー18は前記旋回フランジ9とは非接触であり、又被測定物の内径よりも小さくなっている。
次に、前記計測ヘッド2について説明する。
該計測ヘッド2は基端に旋回基盤21を有し、該旋回基盤21が前記旋回フランジ9に固着されることで前記旋回ユニット1と前記計測ヘッド2とが連結され、又一体となる様に構成されている。又、前記計測ヘッド2は、前記旋回ユニット1と同心であり、即ち前記中空シャフト3と同心となっている。即ち、前記旋回ユニット1、前記計測ヘッド2、前記中空シャフト3はそれぞれの軸心が前記軸心51と合致する様に設けられている。
前記旋回基盤21に測定器支持基板22が垂直に設けられ、該測定器支持基板22に進退ユニット23及びスケールユニット24が設けられている。
先ず、前記進退ユニット23について説明する。
前記測定器支持基板22に前記軸心51と直交する方向に延出する進退ガイドレール25が設けられ、該進退ガイドレール25に摺動自在に測定器ホルダ26が設けられ、該測定器ホルダ26に接触測定器27が設けられる。該接触測定器27の測定方向は、前記測定器ホルダ26の進退方向と平行であり、即ち、前記接触測定器27は半径方向に移動し、半径方向の変位を測定する様に設定されている。尚、前記接触測定器27としては、例えば電気マイクロメータが用いられる。
前記測定器ホルダ26には進退モータ28が一体に設けられ、該進退モータ28は前記軸心51と平行に延出する出力軸29を有し、該出力軸29にはピニオンギア31が嵌着されている。前記旋回基盤21にはラック32が前記軸心51と直交する方向に固着され、該ラック32に前記ピニオンギア31が噛合する。
尚、図中、33は前記出力軸29との干渉を避ける為の逃げ穴である。前記進退モータ28が駆動されることで、前記ピニオンギア31が回転し、前記進退モータ28と前記進退ユニット23とが一体に、半径方向に進退する様に構成されている。
尚、図中、35は接触子であり、該接触子35が測定点に接触し、該接触子35の変位を前記接触測定器27が検出する。
前記スケールユニット24は、前記進退ガイドレール25と平行に設けられたリニアスケール36と前記測定器ホルダ26と一体に設けられたスケールセンサ37を有し、前記測定器ホルダ26の変位と一体に前記スケールセンサ37が変位する。該スケールセンサ37は変位量を前記リニアスケール36から読取る様になっており、前記スケールセンサ37は前記測定器ホルダ26の半径方向の変位を検出する様になっている。
又、前記スケールセンサ37が読取る測定値と、前記接触子35の位置は既知Aとなっており、例えば前記スケールセンサ37の測定値に既知Aを加えると前記軸心51から前記接触子35迄の距離が求められる様になっている。
尚、図中、38はケーブル類(図示せず)を固定する為のケーブルホルダを示している。
前記測定器支持基板22、前記進退ユニット23、前記スケールユニット24、前記ケーブルホルダ38等は、円筒形状の計測ヘッドカバー39によって覆われ、該計測ヘッドカバー39には前記接触測定器27が突出できる様、測定窓41が穿設されている。又、前記計測ヘッドカバー39の外径は、前記旋回ユニットカバー18と同径であり、又被測定物の内径よりも小さくなっている。
更に、前記計測ヘッド2の重心が、前記軸心51上、或は略前記軸心51上となる様に、或は前記測定器ホルダ26が移動した場合、前記計測ヘッド2の重心が前記軸心51を中心に所定の範囲に収る様に、該計測ヘッド2の構成物(測定器ホルダ26、進退モータ28、スケールセンサ37等)の配置、重量を設定する。更に、構成物の配置だけでは、重心の位置が前記軸心51上とならない場合は、適宜バランス錘を設けて、前記計測ヘッド2の重心の位置を調整する。ここで、前記所定の範囲とは、前記計測ヘッド2を旋回させた場合に重心からの偏心により測定値に変動を生じない範囲とする。
以下、上記した内径測定装置50の作用について説明する。
前記接触子35を前記計測ヘッドカバー39の外面より完全に後退させた状態、即ち前記測定器ホルダ26の基準位置に設定する。この状態での前記接触子35の位置(半径方向の位置)、即ち前記軸心51からの距離は既知となっている。前記中空シャフト3を介して前記内径測定装置50を被測定物内に挿入し、該内径測定装置50の軸心方向の位置、即ち測定位置を決定する。
前記接触子35の位置が既知であり、又被測定物の内径は事前に粗測定することで略分っているので、前記進退ユニット23により前記測定器ホルダ26を所定量移動させる。その後、徐々に移動させ、前記接触子35を被測定物の内面に接触させる。その時の前記接触測定器27の検出値と前記スケールセンサ37が検出する前記測定器ホルダ26の移動量から、前記被測定物の内径が測定できる。
更に、前記旋回モータ12を駆動し、前記旋回駆動ギア13、前記旋回ギア11を介して前記旋回軸8を回転させ、更に前記旋回フランジ9を介して前記計測ヘッド2を回転させる。該計測ヘッド2を所定角度ピッチで回転させることで、前記被測定物の全内周について内径の測定を行うことができる。
更に、前記内径測定装置50を測定毎に、所定間隔で被測定物の内部に移動させることで、被測定物の内径を全長に亘って測定することができる。
前記旋回制限手段14は、前記旋回フランジ9の回転量が、一方向で360°を超えない様に、回転を制限するものであり、前記リミットスイッチ15が前記スイッチ作動片16を検出することで、一方向の回転量が360°に達したことを検出し、前記リミットスイッチ15の検出結果で前記旋回モータ12を停止し、或は反転させる。
前記内径測定装置50の外径を被測定物の内径以下としたので、該内径測定装置50を被測定物に挿入して内径の測定ができ、長尺の被測定物であっても内径の測定が可能となる。
又、前記内径測定装置50の軸心方向の位置は、該内径測定装置50の挿入深さを管理することで、更に測定位置は前記旋回モータ12の回転を管理することで容易に設定できるので、測定対象物の内面の任意の位置の測定が高精度に行える。
又、前記計測ヘッド2の重心位置を、前記軸心51上とすることで、前記計測ヘッド2の回転による測定点のずれ、測定結果の変動を防止できる。
次に、図3〜図5を参照して第2の実施例を説明する。
前記計測ヘッド2は、測定器支持基板56と、第1リニアガイド57(57a,57b)及び第2リニアガイド58(58a,58b)と、前記リニアガイド57,58を介して前記測定器支持基板56に移動可能に支持されるテーブル59と、該テーブル59の正面に設置される接触測定器61と、前記テーブル59の背面に設置されるスケール62aと該スケール62aと対向して前記測定器支持基板56上に設置される検出手段62bとからなるリニアスケール62とを備えている。
前記測定器支持基板56は、図3に示す様に、前記旋回ユニット1に垂直に固着され、該旋回ユニット1の回転と共に回転する。又、前記測定器支持基板56は、前記リニアガイド57,58を介して前記接触測定器61を保持する前記テーブル59を支持している。
前記第1リニアガイド57は2組の進退ガイドレール57aとブロック57bを有し、前記第2リニアガイド58は2組の進退ガイドレール58aとブロック58bを有している。各前記リニアガイド57,58は、それぞれ前記進退ガイドレール57a,58aと前記ブロック57b,58bとが嵌合し、前記進退ガイドレール57a,58aに沿って前記ブロック57b,58bが摺動可能に構成されている。
図4(A)は、前記測定器支持基板56の正面図であって、図4(B)は、前記テーブル59の背面図である。前記測定器支持基板56には、図3及び図4(A)に示す様に、前記旋回ユニット1の回転の前記軸心51と直交して前記第1リニアガイド57の2本の進退ガイドレール57aが設置されている。又、図3及び図4(B)に示す様に、前記テーブル59の背面には、各前記進退ガイドレール57aと対向する位置に、前記第1リニアガイド57の前記ブロック57bがそれぞれ設置されている。
更に、前記テーブル59の背面には、図3及び図4(B)に示す様に、前記軸心51と直交して前記第2リニアガイド58の2本の前記進退ガイドレール58aが設置されている。又、図3及び図4(A)に示す様に、前記測定器支持基板56には、各前記進退ガイドレール58aと対向する位置に、前記第2リニアガイド58の前記ブロック58bがそれぞれ設置されている。
前記テーブル59は、前記リニアガイド57,58に案内されて前記測定器支持基板56上を前記軸心51と直交する方向に摺動する。又、前記テーブル59の正面で保持される前記接触測定器61も前記テーブル59と一体に移動する。該テーブル59は前記進退モータ28によりスライド移動されるが、進退移動機構については第1の実施例と同様であるので説明を省略する。
前記接触測定器61は、接触子61aを有し、該接触子61aが被測定物100の内壁と接触し、前記接触子61aの変位を測定する。上述した様に、前記接触測定器61の測定方向は、前記テーブル59の進退方向と平行である。即ち、前記接触測定器61は前記被測定物100の空間の半径方向に移動し、半径方向の変位を測定する。前記接触測定器61で測定された値は、ケーブル61bを介して演算手段(図示せず)に出力される。前記測定器支持基板56は、前記接触測定器61の測定方向の軸心52が前記旋回ユニット1の回転軸と直交する様に該旋回ユニット1に固着されている。
前記テーブル59の背面には、図4(B)に示す様に、前記進退ガイドレール58aと並行して2本の該進退ガイドレール58aの間に前記リニアスケール62の前記スケール62aが設けられている。又、前記測定器支持基板56の前記スケール62aと対向する位置には、前記リニアスケール62の前記検出手段62bが設けられている。前記リニアスケール62は長さを検出する手段であり、前記スケール62aの目盛を前記検出手段62bで検出して長さを測定する。
前記演算手段は、前記接触測定器61から入力された値と、前記リニアスケール62から入力された値とに基づき、前記被測定物100の内径を求める。
上述した様に、前記第1リニアガイド57の各前記進退ガイドレール57aは、前記接触測定器61の前記軸心52を基準として左右対称な位置に設置されている。又、前記第2リニアガイド58の各前記進退ガイドレール58aは、前記接触測定器61の前記軸心52を基準として左右対称な位置に設置されている。更に、前記進退ガイドレール57aは前記測定器支持基板56に設置されているのに対し、前記進退ガイドレール58aは前記測定器支持基板56と対向する前記テーブル59に設置されている。従って、前記計測ヘッド2では、前記テーブル59を三次元方向で安定して支持することができる。前記接触測定器61と前記リニアスケール62とで値を正確に測定し、高精度な計測結果を得ることができる。又、該リニアスケール62は、前記リニアガイド57,58の間に設置されていることからも、安定した値を得ることができる。
上述した様に、本実施例によれば、正確な内径を高精度に測定することができる。
2 計測ヘッド
3 中空シャフト
5 シャフトホルダ
8 旋回軸
11 旋回ギア
12 旋回モータ
13 旋回駆動ギア
14 旋回制限手段
15 リミットスイッチ
16 スイッチ作動片
21 旋回基盤
23 進退ユニット
24 スケールユニット
26 測定器ホルダ
27 接触測定器
28 進退モータ
31 ピニオンギア
32 ラック
35 接触子
36 リニアスケール
37 スケールセンサ
50 内径測定装置
51 軸心
56 測定器支持基板
57 第1リニアガイド
58 第2リニアガイド
59 テーブル
Claims (4)
- 中空の被測定物の内径を測定する内径測定装置であって、該内径測定装置は旋回ユニットと計測ヘッドとを具備し、被測定物内部に挿入可能であり、前記計測ヘッドは前記被測定物の内面に接触して内径を測定する接触測定器と、該接触測定器を保持し、該接触測定器を半径方向に移動可能な測定器ホルダを有する進退ユニットと、前記測定器ホルダと一体に移動するスケールセンサと、前記接触測定器の移動方向と平行に設けられたリニアスケールとを有し、前記旋回ユニットは前記計測ヘッドを前記内径測定装置の軸心を中心として回転可能であり、内径の測定は前記スケールセンサの検出結果と前記接触測定器の検出結果に基づき求められることを特徴とする内径測定装置。
- 前記旋回ユニットは、棒状の支持部材の先端に取付けられる請求項1の内径測定装置。
- 前記計測ヘッドの重心は、前記軸心の位置又は略軸心の位置にある請求項1の内径測定装置。
- 前記計測ヘッドは、前記旋回ユニットによって旋回される測定器支持基板を有し、前記進退ユニットは2組のリニアガイドを介して前記測定器支持基板に設けられ、各リニアガイドは一対の進退ガイドレールと、該進退ガイドレールにそれぞれ摺動自在に嵌合する一対のブロックとから構成され、一方のリニアガイドは前記進退ガイドレールが前記測定器支持基板に設けられ、前記ブロックが前記進退ユニットに設けられ、他方のリニアガイドは前記進退ガイドレールが前記進退ユニットに設けられ、前記ブロックが前記測定器支持基板に設けられた請求項1の内径測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013557620A JP5786971B2 (ja) | 2012-02-09 | 2013-02-07 | 内径測定装置 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012026043 | 2012-02-09 | ||
JP2012026043 | 2012-02-09 | ||
PCT/JP2013/053597 WO2013118916A1 (ja) | 2012-02-09 | 2013-02-07 | 内径測定装置 |
JP2013557620A JP5786971B2 (ja) | 2012-02-09 | 2013-02-07 | 内径測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2013118916A1 JPWO2013118916A1 (ja) | 2015-05-11 |
JP5786971B2 true JP5786971B2 (ja) | 2015-09-30 |
Family
ID=48947664
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013557620A Active JP5786971B2 (ja) | 2012-02-09 | 2013-02-07 | 内径測定装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9372061B2 (ja) |
EP (1) | EP2813800B1 (ja) |
JP (1) | JP5786971B2 (ja) |
WO (1) | WO2013118916A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5915223B2 (ja) | 2012-02-09 | 2016-05-11 | 株式会社Ihi | 内径測定装置及び内径測定方法 |
JP5821675B2 (ja) | 2012-02-09 | 2015-11-24 | 株式会社Ihi | 回転機器の回転制限装置 |
JP2013164274A (ja) | 2012-02-09 | 2013-08-22 | Ihi Corp | 内径測定装置 |
JP5880096B2 (ja) | 2012-02-09 | 2016-03-08 | 株式会社Ihi | 内径測定装置 |
EP2813813B1 (en) | 2012-02-09 | 2019-11-27 | IHI Corporation | Inside-diameter measurement device |
JP5880097B2 (ja) * | 2012-02-09 | 2016-03-08 | 株式会社Ihi | 内径測定装置 |
JP5915222B2 (ja) | 2012-02-09 | 2016-05-11 | 株式会社Ihi | 内径測定装置 |
JP6040795B2 (ja) * | 2013-02-07 | 2016-12-07 | 株式会社Ihi | 内形計測装置 |
US11047179B2 (en) * | 2019-09-18 | 2021-06-29 | Saudi Arabian Oil Company | In-pipe passive centering mechanism with radial probe or tool deployment mechanism |
US10724669B1 (en) * | 2019-10-08 | 2020-07-28 | Saudi Arabian Oil Company | Single actuation probe or tool deployment mechanisms for in-pipe applications |
US10767972B1 (en) * | 2020-03-26 | 2020-09-08 | Mark Turnbaugh | Measuring assemblies |
Family Cites Families (87)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US1664851A (en) | 1926-08-18 | 1928-04-03 | Gisholt Machine Co | Tool post |
US1721524A (en) | 1927-10-03 | 1929-07-23 | Charles E Moore | Feed-screw limit gauge for lathes |
US2822620A (en) | 1954-12-27 | 1958-02-11 | John C Ulfeldt | Gauge for measuring inside diameters |
US3247732A (en) | 1963-10-16 | 1966-04-26 | A E Moore Company Inc | Reversible drive mechanism |
US3436967A (en) | 1965-08-18 | 1969-04-08 | Aircraft Radio Corp | Mechanical suppressor for jittery shaft |
US3771350A (en) | 1971-12-30 | 1973-11-13 | Aviat Inc | Pipeline leak detector |
GB1388475A (en) | 1972-02-08 | 1975-03-26 | Dale Ltd John | Flaw detector |
JPS50159355A (ja) | 1974-06-12 | 1975-12-23 | ||
US4045877A (en) * | 1976-03-11 | 1977-09-06 | Sunnen Products Company | Retractable dial bore gauge |
IT1133314B (it) * | 1980-06-02 | 1986-07-09 | Finike Italiana Marposs | Comparatore manuale a tampone per il controllo del diametro di fori |
JPS5866809A (ja) | 1981-09-28 | 1983-04-21 | サミユエル・ロスステイン | 管の欠陥測定方法及び管の検査装置における複合走査装置 |
JPS59187155A (ja) | 1983-04-06 | 1984-10-24 | Hitachi Ltd | 回転運動変換装置 |
US4536963A (en) * | 1983-08-29 | 1985-08-27 | Mitutoyo Mfg. Co., Ltd. | Digital indication type measuring machine |
DE3590167C2 (ja) | 1984-04-20 | 1993-02-11 | Mitutoyo Mfg. Co., Ltd., Tokio/Tokyo, Jp | |
JPS61144551A (ja) | 1984-12-18 | 1986-07-02 | Toshiba Corp | 長孔周壁検査装置 |
JPS61282659A (ja) | 1985-06-10 | 1986-12-12 | Fuji Electric Co Ltd | 回動軸の回動範囲制限機構 |
JPH0733996B2 (ja) | 1986-08-26 | 1995-04-12 | 三菱電機株式会社 | 管内面形状検出装置 |
JPS63159708A (ja) | 1986-12-24 | 1988-07-02 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 円筒形状物の軸中心検出装置 |
IT1213696B (it) * | 1987-10-09 | 1989-12-29 | Marposs Spa | Apparecchio per il controllo di dimensioni lineari di pezzi |
JPH01195309A (ja) | 1988-01-29 | 1989-08-07 | Sumitomo Rubber Ind Ltd | 円筒体測定装置 |
US4872269A (en) | 1988-04-08 | 1989-10-10 | Karl Sattmann | Automatic cylinder profiling gage |
FR2631697B1 (fr) | 1988-05-17 | 1991-07-26 | Hispano Suiza Sa | Appareil pour le controle optique du profil interne d'un tube ou d'un alesage |
DE3841439A1 (de) | 1988-12-09 | 1990-06-13 | Pietzsch Automatisierungstech | Vorrichtung zum gleichzeitigen vermessen hintereinanderliegender zylinderbohrungen |
US4937524A (en) * | 1989-04-24 | 1990-06-26 | The Babcock & Wilcox Company | Rotating eddy current roller head for inspecting tubing |
JPH0562573A (ja) | 1991-06-18 | 1993-03-12 | Fuji Electric Co Ltd | 光電スイツチ |
US5259119A (en) | 1991-09-17 | 1993-11-09 | Mitutoyo Corporation | Automatic inner diameter measuring apparatus and zero adjustment thereof |
US5224274A (en) | 1992-03-12 | 1993-07-06 | The Edmunds Manufacturing Company | Contact gage |
JP2531488B2 (ja) | 1993-08-10 | 1996-09-04 | 株式会社機動技研 | 管内測定方法 |
JPH0729405U (ja) | 1993-11-01 | 1995-06-02 | 三菱重工業株式会社 | 管内面検査装置 |
JPH07191269A (ja) | 1993-12-27 | 1995-07-28 | Y S Opt:Kk | 内面観察装置 |
JPH0814874A (ja) | 1994-06-27 | 1996-01-19 | Tosok Corp | 測定装置 |
JPH0893876A (ja) | 1994-09-28 | 1996-04-12 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 回転軸の過回動防止構造 |
JP3338571B2 (ja) | 1994-11-22 | 2002-10-28 | アスモ株式会社 | 移動体の位置検出装置 |
FR2730304B3 (fr) | 1995-02-07 | 1997-04-18 | Arnould Denis | Appareil mecanique de metrologie pour mesures d'alesages et de cones de grande dimension |
WO1997002480A1 (en) | 1995-06-30 | 1997-01-23 | The United States Of America, Represented By The Secretary Of The Air Force | Electro-optic, noncontact, interior cross-sectional profiler |
JPH09311034A (ja) | 1996-05-23 | 1997-12-02 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 鋼管の内径・内周長測定方法及び装置 |
US5933231A (en) | 1996-07-10 | 1999-08-03 | Industrial Technology Institute | Method and system for measuring cavities and probe for use therein |
JPH10137962A (ja) | 1996-11-07 | 1998-05-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レーザ光学系 |
JPH10197215A (ja) | 1996-12-19 | 1998-07-31 | Westinghouse Electric Corp <We> | 管状製品の内壁の光学検査装置 |
JP3700805B2 (ja) | 1997-01-30 | 2005-09-28 | 石川島播磨重工業株式会社 | ロングシャフトの内径振れ計測装置 |
GB9719514D0 (en) | 1997-09-12 | 1997-11-19 | Thames Water Utilities | Non-contact measuring apparatus |
US6427353B1 (en) | 1998-05-28 | 2002-08-06 | Rockwell Automation Technologies, Inc. | High speed acquisition and calculation of dimensional variables with vibration and skew error reduction |
JP2000136923A (ja) | 1998-11-04 | 2000-05-16 | Kubota Corp | 接触式管内径測定装置 |
JP2000146564A (ja) | 1998-11-04 | 2000-05-26 | Kubota Corp | 接触式管内径測定装置の精度確認装置 |
US6243962B1 (en) * | 1999-02-10 | 2001-06-12 | Samsomatic, Ltd. | Boring apparatus with shaft mounted diameter gage |
JP2002022671A (ja) | 2000-07-12 | 2002-01-23 | Nissan Motor Co Ltd | 円筒内壁面検査装置および検査方法 |
JP2002148036A (ja) | 2000-11-10 | 2002-05-22 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 管内径モニタリング装置 |
US7046356B2 (en) | 2000-11-15 | 2006-05-16 | Quest Trutec, Lp | Method for processing in situ inspection reformer tube data |
JP4085616B2 (ja) | 2001-11-01 | 2008-05-14 | 株式会社日立プラントテクノロジー | 内面形状計測方法及びその装置 |
US6931149B2 (en) | 2002-04-19 | 2005-08-16 | Norsk Elektro Optikk A/S | Pipeline internal inspection device and method |
JP2003329606A (ja) | 2002-05-09 | 2003-11-19 | Tohoku Techno Arch Co Ltd | 内面検査装置 |
JP3869360B2 (ja) | 2002-12-27 | 2007-01-17 | 三鷹光器株式会社 | 手術用顕微鏡の回転支持構造 |
JP2004176852A (ja) | 2002-11-28 | 2004-06-24 | Moriyama Giken:Kk | 回転体ストッパーとそれを用いた風力発電装置 |
JP4230408B2 (ja) | 2004-04-30 | 2009-02-25 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 深穴計測装置および深穴計測方法 |
JP2005331333A (ja) | 2004-05-19 | 2005-12-02 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 軸管内径計測装置および軸管内径自動計測装置 |
JP3105724U (ja) * | 2004-06-04 | 2004-11-25 | 株式会社環境システム | 管の内径測定装置 |
US7189023B2 (en) | 2004-09-01 | 2007-03-13 | Micro-Star Int'l Co., Ltd. | Rotational positioning apparatus |
JP2006153546A (ja) | 2004-11-26 | 2006-06-15 | Sanyo Special Steel Co Ltd | 接触式鋼管寸法測定装置 |
JP4508849B2 (ja) | 2004-11-30 | 2010-07-21 | 株式会社ケンウッド | 回転つまみのストッパー構造 |
US7111407B2 (en) | 2004-11-30 | 2006-09-26 | Tennessee Valley Authority | Vertical shaft alignment tool |
JP4192901B2 (ja) | 2005-02-17 | 2008-12-10 | 三菱電機株式会社 | アンテナ装置 |
JP4641824B2 (ja) | 2005-02-24 | 2011-03-02 | 株式会社クボタ | 管内調査装置 |
US7328520B2 (en) | 2005-06-17 | 2008-02-12 | The Technologies Alliance, Inc. | Gage for measuring diameters |
JP2007057305A (ja) | 2005-08-23 | 2007-03-08 | Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd | 筒内検査装置 |
JP2007071852A (ja) | 2005-09-02 | 2007-03-22 | Akio Katsuki | 深穴測定装置および深穴測定方法 |
CH705706B1 (de) | 2005-11-03 | 2013-05-15 | Belimo Holding Ag | Stellantrieb mit einem Reduktionsgetriebe für ein Stellglied zur Regelung eines Gas- oder Flüssigkeitsstroms. |
FR2898671B1 (fr) | 2006-03-14 | 2008-12-26 | Snecma Sa | Systeme de mesure de cotes a l'interieur d'un arbre creux notamment de turbomachine aeronautique |
JP2007292699A (ja) | 2006-04-27 | 2007-11-08 | Asmo Co Ltd | 部材の表面検査方法 |
DE202006017076U1 (de) | 2006-11-08 | 2007-01-04 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung zur Inspektion einer Rohrleitung |
US20090144999A1 (en) | 2006-11-30 | 2009-06-11 | Lau Kam C | Interior contour measurement probe |
EP2300777B1 (en) * | 2008-06-18 | 2013-07-24 | Chris-Marine AB | Cylinder diameter measurement |
US8164758B2 (en) | 2008-07-10 | 2012-04-24 | Quest Metrology, LLC | Internal inspection system and method |
JP2010019783A (ja) | 2008-07-14 | 2010-01-28 | Mitsutoyo Corp | 内径測定器 |
US8035823B2 (en) | 2008-09-05 | 2011-10-11 | 3Dm Devices Inc. | Hand-held surface profiler |
NO333307B1 (no) | 2008-11-24 | 2013-04-29 | Statoil Asa | Anordning og fremgangsmate for optisk maling av tykkelsen av enhver avsetning av materiale pa innerveggen til en konstruksjon |
JP2010164334A (ja) | 2009-01-13 | 2010-07-29 | Ihi Corp | 内面形状測定装置および内面形状測定方法 |
JP2011002439A (ja) | 2009-06-22 | 2011-01-06 | Kentaro Iguchi | 検査装置 |
JP5378083B2 (ja) | 2009-07-01 | 2013-12-25 | 東亜グラウト工業株式会社 | 内径測定装置及びその内径測定装置を用いた管路内径測定システム |
US20110080588A1 (en) | 2009-10-02 | 2011-04-07 | Industrial Optical Measurement Systems | Non-contact laser inspection system |
EP2813813B1 (en) | 2012-02-09 | 2019-11-27 | IHI Corporation | Inside-diameter measurement device |
JP2013164274A (ja) | 2012-02-09 | 2013-08-22 | Ihi Corp | 内径測定装置 |
JP5880097B2 (ja) | 2012-02-09 | 2016-03-08 | 株式会社Ihi | 内径測定装置 |
JP5915222B2 (ja) | 2012-02-09 | 2016-05-11 | 株式会社Ihi | 内径測定装置 |
JP5821675B2 (ja) | 2012-02-09 | 2015-11-24 | 株式会社Ihi | 回転機器の回転制限装置 |
JP5915223B2 (ja) | 2012-02-09 | 2016-05-11 | 株式会社Ihi | 内径測定装置及び内径測定方法 |
JP5880096B2 (ja) | 2012-02-09 | 2016-03-08 | 株式会社Ihi | 内径測定装置 |
US9188775B2 (en) | 2013-08-28 | 2015-11-17 | United Sciences, Llc | Optical scanning and measurement |
-
2013
- 2013-02-07 JP JP2013557620A patent/JP5786971B2/ja active Active
- 2013-02-07 EP EP13746596.9A patent/EP2813800B1/en active Active
- 2013-02-07 WO PCT/JP2013/053597 patent/WO2013118916A1/ja active Application Filing
- 2013-02-07 US US14/377,227 patent/US9372061B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2813800A1 (en) | 2014-12-17 |
EP2813800A4 (en) | 2015-10-14 |
EP2813800B1 (en) | 2019-10-02 |
WO2013118916A1 (ja) | 2013-08-15 |
US9372061B2 (en) | 2016-06-21 |
US20150007440A1 (en) | 2015-01-08 |
JPWO2013118916A1 (ja) | 2015-05-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5786971B2 (ja) | 内径測定装置 | |
JP5884838B2 (ja) | 内径測定装置 | |
CN101886921B (zh) | 一种齿轮测量中心零点标定的测量方法及测量用附件 | |
CN102937409B (zh) | 一种极坐标齿轮测量中心及其零点标定方法 | |
JP5294949B2 (ja) | 回転体の肉厚等測定装置 | |
EP3239654B1 (en) | Roundness measurement device | |
CN101403600A (zh) | 轴类零部件综合检查仪 | |
JP5705092B2 (ja) | 真円度測定装置 | |
US8132335B2 (en) | Apparatus for checking the accuracy of a circular path of a machine tool performed by a work spindle and/or a machine table | |
JP5317549B2 (ja) | カムプロファイル測定装置 | |
JP2010096560A (ja) | ボールねじ用雌ねじ測定装置 | |
JP5971445B1 (ja) | 真円度測定装置 | |
JP2014077765A (ja) | 真円度測定装置 | |
JP2015068740A (ja) | 真円度測定装置 | |
CN103954204A (zh) | 一种静态圆度测量装置及方法 | |
JP6326710B2 (ja) | 表面粗さ測定機 | |
JP6040795B2 (ja) | 内形計測装置 | |
JP5752313B2 (ja) | 真円度測定装置 | |
CN202614133U (zh) | 一种检测装置 | |
JP2021056135A (ja) | 高さ測定機 | |
JP5310217B2 (ja) | 管内面測定装置 | |
CN220818826U (zh) | 一种齿轮校验工具 | |
CN216523798U (zh) | 工件的内孔外圆精密测量装置 | |
JP2019152506A (ja) | 球面内径測定装置および測定方法 | |
CN202793240U (zh) | 换向器下刻槽测量检具 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150512 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150603 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150630 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150713 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5786971 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |