JP2018160664A - 故障検知装置、故障検知システム及び故障検知方法 - Google Patents

故障検知装置、故障検知システム及び故障検知方法 Download PDF

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Abstract

【課題】どの発光ダイオードが故障したかを速やかに検知できる故障検知装置、故障検知システム及び故障検知方法を提供する。【解決手段】各LEDユニットのカソードに接続され、選択信号に基づいて、入力された複数の出力電圧のうちのどれを判定の対象とするかを選択すると共に、座標信号に基づいて、座標信号に対応するLEDユニットのカソードからの出力電圧を検出すると共に、出力電圧の大きさに基づいて、制御ユニットが、LEDユニットに異常が生じたか否かを判断するための信号を生成する判定モジュールと、を備える。【選択図】図1

Description

本発明は、発光ダイオードの故障を検知する故障検知装置、故障検知システム及び故障検知方法に関し、特に、どの発光ダイオードが故障したかを速やかに検知できる故障検知装置、故障検知システム及び故障検知方法に関する。
複数の発光ダイオード(以下LED)を直列に接続したLEDモジュールを備えたLED照明装置が普及しつつある。LEDは、省電力、長寿命等の特性を有するが、製造過程での不良や、熱等の要因により、発光できなくなる場合がある。このような異常が発生したLEDを放置するとLED照明装置等の異常な過熱等を招く虞があるので、早期に異常の発生を検出する必要がある。従来から、例えば特許文献1のように、入力されるレベルが異なる2種類の電流による2つのLEDの列間の電圧差によってLEDの異常を検知する技術が知られている。
米国特許出願公開第2014/0097849号公報
しかし、上述の特許文献に記載された発明では、直列接続されたLEDを検査するために、大電流を流したときの電圧降下と小電流を流したときの電圧降下を測定し、これらの電圧降下の差異を減算によって算出すると共に、第1の基準値を得てから、再度検査をして第2の基準値を得て、これら第1の基準値と第2の基準値の差異を所定の値と比較して直列に接続されたLEDの故障の有無を検知する必要がある。
しかし、従来のLEDの故障検知システムでは、該直列接続されたLEDの列が故障した場合、直列接続されたLEDのいずれかが故障したことは検知できるものの、複数の直列接続されたLEDにおけるどのLEDが故障したかを特定することができない問題点がある。
また、該直列接続されたLEDが故障した場合、故障したLEDを特定するのに、手間が掛かるので、故障したLEDを素早く交換することができない問題点がある。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたもので、故障したLEDを素早く特定することができ、直ちに交換し保守することができる故障検知装置、故障検知システム及び故障検知方法を提供することを目的とする。
第1の方向及び前記第1の方向と直交する第2の方向に沿ってマトリックス状に配置された複数のLEDユニットの故障を検知するための故障検知装置において、各前記LEDユニットが前記マトリックス上の何処にあるかを特定するための位置座標を含む座標信号と、検知しようとする前記LEDユニットの前記第2の方向に関連する選択信号とを生成する制御ユニットと、前記制御ユニットが生成した前記座標信号に基づいて、前記座標信号に対応する前記LEDユニットを駆動するための駆動電圧を前記LEDユニットのアノードに入力すると共に、前記座標信号に対応する前記LEDユニットのカソードから出力電圧を取り出すための駆動モジュールと、各前記LEDユニットのカソードに接続され、前記選択信号に基づいて、入力された前記複数の出力電圧のうちのどれを判定の対象とするかを選択すると共に、前記座標信号に基づいて、前記座標信号に対応する前記LEDユニットの前記カソードからの前記出力電圧を検出すると共に、前記出力電圧の大きさに基づいて、前記制御ユニットが、前記LEDユニットに異常が生じたか否かを判断するための信号を生成する判定モジュールと、を備える。
各LEDユニットがマトリックス上の何処にあるかを特定するための位置座標を含む座標信号を生成する制御ユニットを備え、制御ユニットは、座標信号に基づいて、座標信号に対応するLEDユニットのカソードからの出力電圧の大きさに基づいてLEDユニットに異常が生じたか否かを判断するので、検知対象としてのLEDユニットが故障したかどうかを直ちに検知することができ、従来のようにレベルが異なる所定の電流を流す必要がない。
本発明の故障検知装置の第1の実施例を示す機能ブロック図である。 本発明の故障検知装置の判定モジュールの機能ブロック図である。 本発明の故障検知装置のコンパレータの機能ブロック図である。 第1の実施例の故障検知装置のフローチャートである。 故障検知装置の第1の実施例の変形例である。 本発明の故障検知装置の第2の実施例を示す機能ブロック図である。 第2の実施例の判定モジュールの機能ブロック図である。 本発明の故障検知装置の第3の実施例を示す機能ブロック図である。 本発明の故障検知装置の第4の実施例を示す機能ブロック図である。 本発明の故障検知装置の第5の実施例を示す機能ブロック図である。
図1を参照して本発明の実施例を説明する。図1は、本発明の故障検知装置2の第1の実施例を示す機能ブロック図であり、図2は本発明の故障検知装置2の判定モジュール24の機能ブロック図である。また、発光手段1と、故障検知装置2と、ディスプレイ29によって故障検知システムが構成される。
発光手段1は、通常アレイ状に配置される。また、発光手段1は、第1の方向(行方向)に並ぶように配置された複数のスキャン線と、この第1の方向と直交する第2の方向(列方向)に沿って配置された複数のデータ線と、それぞれがスキャン線とデータ線とによって画定されたマトリックスに対応するように配置された複数のLEDユニット11a〜11pとを含んでいる。
この結果、LEDユニット11a〜11pは所定の第1の方向(行方向)及びこの行方向と直交する第2の方向(列方向)に沿ってそれぞれ配置されることとなる。
LEDユニット11a〜11pは、それぞれ対応するスキャン線に電気的に接続された入力端子(アノード)と、対応するデータ線に電気的に接続された出力端子(カソード)とを有する。図1に示されているように、発光手段1は、制御端子を介してデータ信号Vx1〜Vx4が入力されることにより、出力電圧Vd1〜Vd4を出力する。なお、発光手段1は場合によっては1本のスキャン線、1本のデータ線、1個のLEDから構成されてもよい。また、図1の例では第1の方向及び第2の方向にそれぞれ4個ずつのLEDユニット11a〜11pが配置されているが、適宜増減しても良い。
故障検知装置2は、駆動モジュール21と、判定モジュール24と、制御ユニット30とを備えている。駆動モジュール21は、複数のスキャン線及び複数のデータ線の間に電気的に接続され、第1の方向の位置座標を指定するスキャンユニット22と、第2の方向の位置座標を指定するデータユニット23とを有し、複数のLEDユニット11a〜11pのいずれかを駆動する。
スキャンユニット22は、複数のスキャン線に電気的に接続され、この例では、3個のスキャンスイッチ221と、1個のスキャンスイッチ222を含んでいる。スキャンスイッチ221、222はそれぞれ、駆動電圧Vddが入力される入力端子と、複数のスキャン線に電気的に接続された出力端子と、スキャン信号Vy1〜Vy4が入力されることにより、スキャンスイッチ221、222の導通と非導通とを切り換える制御端子とを有する。
なお、スキャン信号とは、どのスキャン線かを特定するための信号である。また、スキャンスイッチ221、222は以下のように動作する。例えば、スキャンスイッチ222の制御端子に制御ユニット30(図1)からスキャン信号Vy2が入力されると、スキャンスイッチ222がオンとなり、入力端子と出力端子が導通するので、駆動電圧Vddが、並列に接続されたLEDユニット11e(図1では符号を省略)、LEDユニット11f、LEDユニット11g(図1では符号を省略)、LEDユニット11h(図1では符号を省略)のいずれにもにかかる。
データユニット23は、複数のデータ線に電気的に接続され、3個のデータスイッチ231と、1個のデータスイッチ232を有する。データスイッチ231、232は、それぞれ複数のデータ線に電気的に接続された入力端子と、グラウンドに接地された出力端子と、導通/非導通との間で切り換えられるように制御ユニット30からのデータ信号Vx1〜Vx4が入力される制御端子とを有する。ここで、データ信号Vx1〜Vx4とは、どのデータ線かを特定するための信号である。なお、図1に記載されたMosFETは電流源に置き換えても良い。
判定モジュール24は、LEDユニット11a〜11pのそれぞれの出力端子に電気的に接続されると共に、図2に示すように、マルチプレクサ25と、減算器26と、コンパレータ27とを備えている。
マルチプレクサ25は、複数のデータ線がパラレルに接続され、出力電圧Vd1〜Vd4のいずれかが入力される複数の入力端子と、選択信号S1が入力される選択端子と、出力端子とを有する。
減算器26は第1の入力端子と第2の入力端子と出力端子を有し、第1の入力端子にはデフォルト電圧Vp(例えば3.8V)が入力され、第2の入力端子にはマルチプレクサ25から出力電圧Vd1〜出力電圧Vd4のいずれかが入力される。また、出力端子からはデフォルト電圧Vpから出力電圧Vd1〜出力電圧Vd4のいずれかを減算した電圧差Vdifが出力される。
図2のコンパレータ27は第1の入力端子と第2の入力端子と出力端子を有する。また、コンパレータ27の第1の入力端子には基準電圧Vrが入力され、第2の入力端子には電圧差Vdifが入力され、出力端子からはステート信号S2が出力される。
制御ユニット30は、判定モジュール24、駆動モジュール21及びディスプレイ29のいずれにも電気的に接続されている。
ディスプレイ29は、従来から公知のものを用いるので詳細な説明を省略する。
この例では、図1、2に示されているように、発光手段1は、4本のスキャン線と、4本のデータ線と、16個のLEDユニット11a〜11pとを有し、故障検知装置2は、3つのスキャンスイッチ221と1つのスキャンスイッチ222を含んでいるスキャンユニット22と、3つのデータスイッチ231と1つのデータスイッチ232を含んでいるデータユニット23とを有する。
このように構成された故障検知装置2の構成を図2〜4を参照して説明する。ここで、図3は、本発明の故障検知装置2のコンパレータ27の機能ブロック図である。また、図4は第1の実施例の故障検知装置2の動作のフローチャートである。以下、説明の都合上、複数のLEDユニット11a〜11pのうちLEDユニット11fが検知したいLEDユニットであるものとする。
コンパレータ27の具体的な構成を図3を参照して説明する。コンパレータ27は、いずれもオペアンプからなる第1コンパレータ271と第2コンパレータ272に加え、OR素子273を備える。
また、第1コンパレータ271の非反転入力端子には第1基準電圧Vr1が入力され、第2コンパレータ272の反転入力端子には第2基準電圧Vr2が入力される。また、第1コンパレータ271の反転入力端子と第2コンパレータ272の非反転入力端子には減算器26から出力された電圧差Vdifが入力される。
また、第1コンパレータ271の出力端子からは第1判定信号Sj1が出力され、第2コンパレータ2の出力端子からは第2判定信号Sj2が出力され、第1判定信号Sj1と第2判定信号Sj2はOR素子273の第1の入力端子と第2の入力端子にそれぞれ入力される。OR素子273の出力端子からは図3に示す様にステート信号S2が出力される。
図4の第1の実施例のフローチャートを参照して第1の実施例の動作を説明する。ステップ(A)では、制御ユニット30を用いて、検知対象のLEDユニット11fに相関する位置座標に基づいて座標信号と選択信号S1とを生成する。ここで、「LEDユニット11fに相関する位置座標」とは具体的には以下の意味を有する。すなわち、位置座標はLEDユニット11fが、マトリックス上の何処にあるかを特定するための情報であり、制御ユニット30からはこの位置座標を含む座標信号が生成されて出力される。
発光手段1におけるLEDユニット11a〜11pの座標信号が、スキャン信号Vy1〜Vy4と、データ信号Vx1〜Vx4とにより構成されているとき、検知対象としてのLEDユニット11fの座標信号は、スキャン信号Vy2とデータ信号Vx2である。
すなわち、この例では、スキャン信号Vy1〜Vy4を0100の4ビットの信号とし、データ信号Vx1〜Vx4を0100の4ビットの信号とした場合、データ信号Vx2とスキャン信号Vy2とによって、検知対象のLEDユニット11fの座標信号が1、1であることが得られる。
なお、選択信号S1は、検知対象としてのLEDユニット11fのデータ線に相関するものであり、図2で説明したように、マルチプレクサ25が複数の出力電圧Vd1〜Vd4のうちどの出力電圧を取得するかを選択するものである。
ステップ(B)では、駆動モジュール21を用いて、検知対象としてのLEDユニット11fを示す座標信号に基づいて、駆動電圧VddがLEDユニット11fのアノードに入力されるように、スキャンユニット22のスキャンスイッチ221、222のいずれかをオンにする。
詳しく説明すると、スキャンスイッチ221、222の制御端子に制御ユニット30からスキャン信号Vy1〜Vy4が入力されると、スキャンユニット22の入力端子にかけられていた駆動電圧Vddは、スキャン信号Vy1〜Vy4によって選択された対応するスキャン線を介してLEDユニット11f等のアノードにかかる。
この例では、スキャンユニット22のスキャンスイッチ221、222にスキャン信号Vy1〜Vy4のそれぞれの内容が0100である旨が入力された場合、スキャン信号Vy2が1であるので、スキャン信号Vy2に対応するスキャンスイッチ222が導通し、対応するスキャン線1Aを介してLEDユニット11e、LEDユニット11f、LEDユニット11g、及びLEDユニット11hの4個に駆動電圧Vddがかけられる。
そして、データユニット23のデータスイッチ231、232の制御端子にデータ信号Vx1〜Vx4が入力された場合、データ信号Vx2が1であるので、データ信号Vx2に対応するデータスイッチ232が導通(オン)し、対応するデータ線1Bがグラウンド電位となる。
この時、対応するスキャン線1Aと対応するデータ線1Bとに電気的に接続された検知対象のLEDユニット11fのアノードに駆動電圧Vddがかかると共に、カソードが接地され、検知対象のLEDユニット11fには電流が流れて、駆動信号が発生する。なお、データユニット23を構成するMosFETは内部抵抗が小さいので、LEDユニット11a〜11pのカソードを図示しない抵抗器を介して接地することにより動作の安定性を図っても良い。
以上の動作を纏めると、制御ユニット30が生成した座標信号の一部を構成するスキャン信号Vy2が、スキャンスイッチ222の制御端子に入力されると、上述のように、駆動電圧Vddが並列に接続された4個のLEDユニット11e、11f、11g、及び11hのアノードのいずれにもにかかる。
この状態で、制御ユニット30が生成した座標信号の一部を構成するデータ信号Vx2が、データスイッチ232の制御端子に入力されると、データスイッチ232がオンとなるので、駆動電圧Vddがかけられた4個のLEDユニット11e、11f、11g、及び11hのうちの、LEDユニット11fのカソードのみがグラウンドに接地されることによって、LEDユニット11fのみに電流が流れ、駆動信号を発生する。
ステップ(C)では、判定モジュール24が、制御ユニット30から出力された選択信号S1に基づいてLEDユニット11fの出力端子(カソード)からの出力電圧Vd1〜Vd4のいずれかを検出する。ここで、選択信号S1は検知対象のLEDユニット11fのデータ線に相関するので、この例ではデータ信号Vx2のみがハイレベルとなり、その他のVx1、Vx3及びVx4はロウレベルであるので、判定モジュール24が検出する出力信号はVd2である。
詳しく説明すると、図2に示す様に、判定モジュール24のマルチプレクサ25に制御ユニット30から出力された選択信号S1が入力されると共に、複数のデータ線を介してパラレルに出力電圧Vd1〜Vd4がマルチプレクサ25へ入力される。
このとき、マルチプレクサ25は、データ線に関する選択信号S1(Vx1、Vx2、Vx3、Vx4の内容はそれぞれ0100)に基づいて、複数の出力電圧Vd1〜Vd4の中から出力電圧Vd2を選択して出力する。
なお、マルチプレクサ25を使用する理由は以下の通りである。すなわち、LEDユニット11fの故障を検知する際には、これら複数のデータ線の出力電圧Vd1〜Vd4のうち、出力電圧Vd2のデータ線のみを判定対象とすれば足り、Vd1、Vd3、及びVd4の電圧は判定対象とする必要がない。
そこで、制御ユニット30は、選択信号S1を判定モジュール24に出力し、判定モジュール24のマルチプレクサ25は、図2に示す様に、選択信号S1の内容(即ちVx2のみがハイ)に基づいて、データ線の出力電圧Vd2を選択し、この電圧Vd2を後段の減算器26に出力する。
このように、マルチプレクサ25が必要な出力電圧Vd2のみを選択するので、出力電圧Vd1〜Vd4の全てを後段に接続された減算器26に入力するよりも、誤動作を起こすことが少なくなる。すなわち、故障検出に必要とされない出力電圧Vd1、Vd3、及びVd4がノイズ等によって変動しても、マルチプレクサ25により選択されないので、減算器26に与える影響がなく、故障検知の確実性が高まる。
ステップ(D)では、減算器26がデフォルト電圧Vpから出力電圧Vd2を減算し、その結果である電圧差Vdifを出力する。コンパレータ27は、減算器26から入力された電圧差Vdifと基準電圧Vrとを比較し、制御ユニット30がLEDユニット11bに異常が生じたか否か判断するためのステート信号S2を生成する。
以下、ステップ(D)の内容を具体的に説明する。
ステップ(D)では、判定モジュール24が、出力電圧Vd2の大きさに基いて検知しようとするLEDユニット11fが異常であるか否かを示すステート信号S2を出力するが、ステート信号S2を出力するに至る過程においては各種回路素子は以下の通り動作する。
図2の判定モジュール24の減算器26には、駆動信号と関係するデフォルト電圧Vpとマルチプレクサ25からの出力電圧Vd2が入力される。減算器26は、デフォルト電圧Vpと出力電圧Vd2に基いて減算を行い、検知しようとするLEDユニット11fの電圧差Vdifを生成する。
判定モジュール24のコンパレータ27には基準電圧Vr(第1の端子に入力される)と減算器26からの電圧差Vdif(第2の端子に入力される)が入力される。また、コンパレータ27は電圧差Vdifと基準電圧Vrを比較してステート信号S2を生成する。
ここで、基準電圧Vrは、図3に示すように、第1のレベルに設定された第1基準電圧Vr1と、第2のレベルに設定された第2基準電圧Vr2を含む。また、第1基準電圧Vr1は第2基準電圧Vr2より小さい。
以下、コンパレータ27の詳細な動作を図3を参照して説明する。コンパレータ27の第1コンパレータ271は、非反転入力端子に第1基準電Vr1が入力されると共に反転入力端子に電圧差Vdifが入力されて、これら2種類の電圧を比較する。そして、第1コンパレータ271は出力端子からハイレベル又はロウレベルのいずれかの信号からなる第1判定信号Sj1を出力する。
コンパレータ27の第2コンパレータ272は、反転入力端子に第2基準電圧Vr2が入力されると共に非反転入力端子に電圧差Vdifが入力されて、これら2種類の電圧を比較する。そして、第2コンパレータ272は出力端子からハイレベル又はロウレベルのいずれかの信号からなる第2判定信号Sj2を出力する。
コンパレータ27のOR素子273は、第1の入力端子に第1判定信号Sj1が入力され、第2の入力端子に第2判定信号Sj2が入力される。OR素子は少なくともいずれかの入力端子(第1の入力端子又は第2の入力端子)にハイレベルが入力されれば、出力端子からステート信号S2としてハイレベルの信号を出力する。なお、いずれもロウレベルの信号が入力された場合にはステート信号S2としてロウレベルを出力する。
ここで、図3の回路の組み方では、電圧差Vdifが第1基準電圧と第2基準電圧Vr2の間である場合には、ステート信号S2は異常状態であることを示さない。一方、電圧差Vdifが第1基準電圧Vr1より小さい場合又は第2基準電圧Vr2より大きい場合には、ステート信号S2は異常状態を示す。
上述の動作を具体的な数値を挙げて説明する。まず、図2の減算器26に入力されるデフォルト電圧Vpが3.8Vであり、出力電圧Vd2が0.4Vであるとすると、減算器26が減算を行なうと、電圧差Vdifは3.4Vとなる。
コンパレータ27の第1コンパレータ271の非反転入力端子に入力される第1基準電圧Vr1が2.6Vであるとすると、反転入力端子に入力される電圧よりも非反転入力端子に入力される電圧の方が低いので、第1コンパレータ271の出力端子からはロウレベルの第1判定信号Sj1が出力される。
一方、コンパレータ27の第2コンパレータ272の反転入力端子に第2基準電圧Vr2(3.5V)が入力され、非反転入力端子に電圧差Vdif(3.4V)が入力されると、反転入力端子に入力される電圧よりも非反転入力端子に入力される電圧の方が0.1V低いので、第2コンパレータ272の出力端子からはロウレベルの第2判定信号Sj2が出力される。
OR素子273には、第1判定信号Sj1と第2判定信号Sj2が入力されるが、この例では第1の入力端子と第2の入力端子に入力される信号がいずれもロウレベルであるので、ステート信号S2としては異常状態が発生していない旨を示すロウレベルが出力される。
なお、仮に電圧差Vdifが2.5Vの場合には第1コンパレータ271からハイレベルが出力されるので、ステート信号S2はハイレベルとなる。また、電圧差Vdifが3.6Vの場合には、第2コンパレータ272からハイレベルが出力されるので、ステート信号S2はやはりハイレベルとなる。
なお、図2、図3の回路では、ステート信号S2がロウレベルの場合、検知したいLEDユニット11fが異常でないと判定されるが、ハイレベルの場合に検知したいLEDユニット11fが異常でないと判定し、ロウレベルの場合に検知したいLEDユニット11fが異常であると設計しても良い。
ステップ(E)として、制御ユニット30には、判定モジュール24からのステート信号S2が入力される。
ステップ(F)として、制御ユニット30は検知したいLEDユニット11fのステート信号S2と位置座標に基づいて、判定の結果を得る。
ステップ(G)として、ディスプレイ29に判定結果が入力されて、ディスプレイ29は検査したLEDユニット11fの位置座標に加え、この位置座標のLEDユニットが正常なのか異常なのかを表示する。
以下、ステップ(A)からステップ(G)の動作を必要な数だけ繰り返す。即ち、制御ユニット30は、スキャン信号Vy1〜Vy4とデータ信号Vx1〜Vx4の内容を例えば、それぞれ「0100」、「0010」に変更し、LEDユニット11gの異常の有無を検知し、座標信号の内容を変えながら、所望のLEDユニット11a〜11pの異常の有無を検知する。
以上のように、故障検知装置を用いることによって、ディスプレイ29に表示された判定結果から、LEDユニット11fが異常であるかどうかについて直ぐに把握でき、また、異常であるLEDユニット11fが何処にあるかについてもすぐ分かるので、ユーザーは異常であるLEDユニット11fを新品のLEDユニットにすぐに取り替えることができる。従って、比較的手間が掛からずに保守することができ、保守コストの節約に繋がる。
なお、このような故障検知装置、故障検知システム及び故障検知方法は、ディスプレイ29に表示された判定結果により、メンテナンス担当者が、検出対象のLEDユニット11fが異常であるか否かを直接確認することができる。
したがって、検出対象のLEDユニット11fが異常である場合には、メンテナンス担当者は、検出対象のLEDの異常を迅速に検知して、交換することができる。
本発明の故障検知装置の第1の実施例の変形例としては、図5に示す様に、それぞれ減算器26とコンパレータ27を含む複数のコンパレータユニット28と、マルチプレクサ25とにより構成しても良い。
第1のコンパレータユニット28(図5の一番上)の減算器26にはデフォルト電圧Vpと出力電圧Vd1が入力され、電圧差Vdifを出力する。第2のコンパレータユニット28(図5の上から2番目)の減算器26にはデフォルト電圧Vpと出力電圧Vd2が入力され、電圧差Vdifを出力する。第3のコンパレータユニット28は図示を省略してる。第4のコンパレータユニット28(図5の一番下)の減算器26にはデフォルト電圧Vpと出力電圧Vd4が入力され、電圧差Vdifを出力する。なお、コンパレータユニット28の数はLEDユニット11の数に併せて適宜増減できる。
第1のコンパレータ27(図5の一番上)には、基準電圧Vrと電圧差Vdifが入力され、比較信号S11が出力される。第2のコンパレータ27(図5の上から2番目)には、基準電圧Vrと電圧差Vdifが入力され、比較信号S12が出力される。第3のコンパレータ27は図示を省略している。第4のコンパレータ27(図5の一番下)には、基準電圧Vrと電圧差Vdifが入力され、比較信号S14が出力される。
なお、図5の実施例における電圧差Vdifの求め方と、コンパレータ27の動作はそれぞれ図2と図3と同じなので説明を省略する。
マルチプレクサ25には、コンパレータ27から出力された比較信号S11、S12、・・・、S14がパラレルに入力される。また、マルチプレクサ25には、選択信号S1が入力され、この選択信号S1に基づいて比較信号S11、S12、・・・、S14のうちどの信号を受信するか選択する。
図5の実施例でもLEDユニット11fを検知したい場合には、マルチプレクサ25は比較信号S12を選択することとなる。なお、ステート信号S2を利用して、制御ユニット30が故障の有無を判断する動作と、ディスプレイ29における表示動作は第1の実施例と同様なので説明を省略する。
図6と図7を参照して、本発明の故障検知装置2の第2の実施形態を説明する。ただし、第1の実施例と同一の構成については同様の符号を付して説明を省略する。図6の制御ユニット30から出力された選択信号S1は、図7に示す様に、どのスキャン線かを示す第1の選択信号S1aと、どのデータ線かを示す第2の選択信号S1bを含む。また、判定モジュール24は、図7に示す様に、第1のマルチプレクサ25aと第2のマルチプレクサ25bと、減算器26、コンパレータ27を備える。
第1のマルチプレクサ25aには複数のスキャン線がパラレルに接続されており、このスキャン線を介してLEDユニット11a〜11pのアノードにかかる複数の電圧Vled1〜Vled4が入力される。また、第1のマルチプレクサ25aは、第1の選択信号S1aに基いて、複数の電圧Vled1〜Vled4の中から、検知したいLEDユニット11fの電圧Vled2を選択する。
なお、複数の電圧Vled1〜Vled4は、それぞれ制御ユニット30からスキャンユニット22に対してスキャン信号Vy1〜Vy4が入力されることにより、スキャンユニット22から出力された電圧であり、例えば3.8Vの駆動電圧Vddをかけても良い。
また、具体的には、複数の電圧Vled1〜Vled4は以下のように生成される。すなわち、スキャン信号Vy1〜Vy4の内容が例えば1000であれば、LEDユニット11a〜11dのアノードに電圧Vled1が入力され、スキャン信号Vy1〜Vy4の内容が0100であれば、LEDユニット11e〜11hのアノードに電圧Vled2が入力される。
第2のマルチプレクサ25bには複数のデータ線がパラレルに接続されており、このデータ線を介して複数の電圧Vd1〜Vd4が入力される。また、第2のマルチプレクサ25bは、第2の選択信号S1bに基いて、複数の電圧Vd1〜Vd4の中から、検知したいLEDユニット11fの出力電圧Vd2を選択する。
即ち、スキャン信号Vy1〜Vy4の内容が0100のとき、LEDユニット11e〜11hのアノードのいずれにも電圧Vled2が入力されているが、この状態で、データ信号Vx1〜Vx4(0100)が入力されると、これらのLEDユニット11e〜11hのうちLEDユニット11fのカソードのみがデータユニット23のMosFETを介して接地され、LEDユニット11fに電流が流れて駆動信号が生成される。このように動作して、検知したいLEDユニット11fの出力電圧Vd2が第2のマルチプレクサ25bに入力される。
減算器26には第1のマルチプレクサ25aの出力が入力されると共に、第2のマルチプレクサ25bの出力が入力される。また、減算器26は、第1のマルチプレクサ25aの出力電圧、即ち検知したいLEDユニット11fのアノードにかかる電圧Vled2から、第2のマルチプレクサ25bの出力電圧Vd2、即ち検知したいLEDユニット11fのカソードの出力電圧Vd2を減算して、減算の結果である電圧降下Vcを出力する。
ここで、LEDユニット11fの電圧降下Vcは、図2のデフォルト電圧Vp=3.8Vから出力電圧Vd2=0.4Vを減算した値に相当するが、図2の例では一律にVp=3.8Vから減算するのに対し、図6と図7では検知したいLEDユニット11fのアノードとカソード間の電圧降下である点が異なる。
コンパレータ27には基準電圧Vrと、LEDユニット11fの電圧降下Vcが入力され、これらの電圧からステート信号S2を出力する。ここで、電圧降下Vcは図2の電圧差Vdifに相当することから、図7のコンパレータ27の動作についても図3と同様なので、説明を省略する。
図8を参照して本発明の第3の実施例を説明する。異なる点は、LED11は、1個のLEDユニット11fからなる点である。なお、図8の例ではスキャンユニット22とデータユニット23が設けられている。ただし、1個しかLEDユニット11fがないため、スキャンユニット22とデータユニット23は、どのLEDユニット11fを検知するか選ぶ必要がないため、これらスキャンユニット22とデータユニット23は無くても差し支えない。
駆動モジュール21は、LEDユニット11fのアノードとカソードにそれぞれ電気的に接続される。また、制御ユニット30から出力された制御信号S3に基いて、駆動電圧VddをLEDユニット11fのアノードにかける。
なお、制御信号S3はスキャン信号S31とデータ信号S32から構成されるが、上述したように、駆動モジュール21はそもそもスキャンユニット22とデータユニット23を必ずしも備えている必要がないため、LEDユニット11fを駆動して、後段の減算器26に出力電圧Vdを入力できさえすれば、どのように構成しても差し支えない。更に、図8のその他の構成についての動作は第1の実施例と同様なので説明を省略する。
図9を参照して本発明の故障検知装置の第4の実施例を説明する。この第4の実施例が第3の実施例と異なる点は、以下の通りである。すなわち、減算器26には入力端子が2個設けられており、LEDユニット11fのアノードにかかる電圧Vledから、LEDユニット11fのカソードから出力された出力電圧Vdを減算して、LEDユニット11fの電圧降下Vcを求める点が異なる。なお、判定モジュール24における減算の方法とコンパレータ27の動作は、図6、図7で説明した方法と同様なので、説明を省略する。
図10を参照して本発明の第5の実施例を説明する。本実施例ではLED13〜15が直列に接続されている。すなわち、LED13のカソードがLED14のアノードに接続され、LED14のカソードがLED15のアノードに接続され、LED15のカソードがデータユニット23を介して接地されている。
図10を参照して本発明の第5の実施例を説明する。第5の実施例が第4の実施例と異なる点は、LEDユニット11fが複数の直列に接続されたLED13〜15を備える点である。ここで、各LED13〜15のアノードとカソード間の電圧降下を求めるべく、アノードとカソードは、それぞれ減算器26の2個の入力端子に接続されている。減算器26では、アノードにかかる電圧からカソードから出力された電圧を減算し、電圧降下Vcを求める。
判定モジュール24はこの電圧降下Vcの大きさに基いて当該電圧降下Vcに対応するLED13〜15が正常かどうかを示すステート信号S21〜S23を生成する。
判定モジュール24は、各LED13〜15のアノードとカソードに接続された複数の減算器26を備える。また、各減算器26にはコンパレータ27が接続されている。
各コンパレータ27には、基準電圧Vrと各LED13〜15の電圧降下が入力され、これらに基いてステート信号S21〜S23を出力するが、求め方は上述した実施例と同様なので説明を省略する。また、ステート信号S21〜S23の内容がそれぞれ「100」からなればLED13が故障(ショート(短絡)の場合は故障を検知できる。オープン(抵抗無限大)の場合は本実施例は取り扱わない。)で、その他のLED14〜15が正常と判断する。本発明による効果は下記の通りである。
1. LEDユニット11a〜11pの出力電圧を検出することによって、検知対象としてのLEDユニット11a〜11pが故障したかどうかを検知することができるので、従来のようにレベルが異なる所定の電流を流す必要がない。
2. 該LEDユニット11a〜11pの出力電圧を検知することによって故障したか否かを確認し、また、該LEDユニット11a〜11pが故障した場合、該LEDユニット11a〜11pの位置座標が直ちにディスプレイ29に表示されるので、どのLEDユニット11a〜11pが故障したのか探す手間が掛からず交換作業を行うことができる。
3. 故障したLEDユニットの位置座標をディスプレイ29に表示させ、特定することができるので、従来のように該LEDユニット11a〜11pを一つずつ検査する必要がなくなる。従って検査時間を大幅に節減することができる。
以上のように、本発明に係る故障検知装置、故障検知システム及び故障検知方法によれば、従来のようにレベルが異なる所定の電流を流すことなく、故障したLEDユニット11a〜11pの出力電圧Vd1〜Vd4を検出するができる。
こうして、該LEDユニット11a〜11pが故障したか否かを確認し、また、該故障したLEDユニット11a〜11pの位置座標を直ちにディスプレイ29に表示すれば、手間をかけずにどのLEDユニット11a〜11pが故障したか特定できる。従って、故障したLEDユニット11a〜11pをディスプレイ29に表示させることにより、特定することができるので、手間が掛からずすぐ新品と交換することができる。
以上、本発明について幾つかの実施例をもとに説明した。上記の実施例は例示であり、それらの各構成要素や各工程の組合せにいろいろな変形例が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは当業者には理解されるところである。
1 発光手段
11 LED
11a〜11p LEDユニット
13〜15 LED
1A スキャン線
1B データ線
2 故障検知装置
21 駆動モジュール
22 スキャンユニット
221 スキャンスイッチ
222 スキャンスイッチ
23 データユニット
231 データスイッチ
232 データスイッチ
24 判定モジュール
25 マルチプレクサ
25a 第1のマルチプレクサ
25b 第2のマルチプレクサ
26 減算器
27 コンパレータ
271 第1コンパレータ
272 第2コンパレータ
273 OR素子
29 ディスプレイ
30 制御ユニット
31 アナログ/デジタルコンバータ
S1 選択信号
S1a 一次選択信号
S1b 二次選択信号
S2 ステート信号
S21〜S23 ステート信号
S3 制御信号
S31 スキャン信号
S32 データ信号
Vc 電圧
Vd 出力電圧
Vd1〜Vd4 出力電圧
Vdd 駆動電圧
Vdif 電圧差
Vled 電圧
Vled1〜Vled4 電圧
Vx1〜Vx4 データ信号
Vy1〜Vy4 スキャン信号
Vp デフォルト電圧
Vr 基準電圧
Vr1 第1基準電圧
Vr2 第2基準電圧

Claims (10)

  1. 第1の方向及び前記第1の方向と直交する第2の方向に沿ってマトリックス状に配置された複数のLEDユニットの故障を検知するための故障検知装置において、
    各前記LEDユニットが前記マトリックス上の何処にあるかを特定するための位置座標を含む座標信号を生成する制御ユニットと、
    前記制御ユニットが生成した前記座標信号に基づいて、前記座標信号に対応する前記LEDユニットを駆動するための駆動電圧を前記LEDユニットのアノードに入力すると共に、前記座標信号に対応する前記LEDユニットのカソードから出力電圧を取り出すための駆動モジュールと、
    各前記LEDユニットのカソードに接続され、前記座標信号に基づいて、前記座標信号に対応する前記LEDユニットの前記カソードからの前記出力電圧を検出すると共に、前記出力電圧の大きさに基づいて、前記制御ユニットが、前記LEDユニットに異常が生じたか否かを判断するためのステート信号を生成する判定モジュールと、
    を備えることを特徴とする故障検知装置。
  2. 前記判定モジュールは前記複数のLEDユニットの出力電圧が入力されるマルチプレクサを備え、
    前記制御ユニットは、前記マルチプレクサが、前記複数のLEDユニットの前記出力電圧のうちのどの前記出力電圧を取得するかを選択するための選択信号を生成して、前記選択信号を前記マルチプレクサに入力する
    ことを特徴とする請求項1に記載の故障検知装置。
  3. 前記制御ユニットは、前記位置座標のうち前記第1の方向における座標を選択するスキャン信号と、前記位置座標のうち前記第2の方向における座標を選択するデータ信号とを生成し、
    前記駆動モジュールは、
    前記スキャン信号に基づいて、前記LEDユニットの前記アノードに前記駆動電圧をかけるスキャンユニットと、
    前記データ信号に基づいて、前記LEDユニットの前記カソードから前記出力電圧を取り出すデータユニットとを備える
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の故障検知装置。
  4. 前記判定モジュールは、
    前記駆動電圧と関連するデフォルト電圧から前記マルチプレクサが選択した前記出力電圧を減算することにより前記LEDユニットの前記アノードと前記カソードの間の電圧差を出力する減算器と、
    所定の電圧に設定された第1基準電圧と前記電圧差を比較して、前記第1基準電圧の電圧の方が低ければロウレベルを出力すると共に、前記第1基準電圧の電圧の方が高ければハイレベルを出力する第1コンパレータと、
    前記第1基準電圧より高い電圧に設定された第2基準電圧と前記電圧差を比較して、前記第2基準電圧の電圧の方が高ければロウレベルを出力すると共に、前記第2基準電圧の電圧の方が低ければハイレベルを出力する第2コンパレータと、
    前記第1コンパレータの出力と前記第2コンパレータの出力のいずれもが入力されると共に、これら出力のいずれかがハイレベルであれば、前記制御ユニットが、前記LEDユニットに異常が生じたと判断するためのステート信号を出力するOR素子と、
    を備えたことを特徴とする請求項2に記載の故障検知装置。
  5. 前記制御ユニットに電気的に接続されて、前記制御ユニットから前記LEDユニットに異常が生じたか否かを示す判断結果が入力され、この判断結果と共に前記位置座標を表示するディスプレイを備える
    ことを特徴とする請求項1に記載の故障検知装置。
  6. 第1の方向及び前記第1の方向と直交する第2の方向に沿ってマトリックス状に配置された複数のLEDユニットの故障を検知するための故障検知装置において、
    各前記LEDユニットが前記第1の方向において何処にあるかを特定するためのスキャン信号と、前記第2の方向において何処にあるかを特定するためのデータ信号を含む座標信号を生成する制御ユニットと、
    前記制御ユニットが生成した前記スキャン信号に対応する前記LEDユニットを駆動するための電圧を前記LEDユニットのアノードに入力すると共に、前記データ信号に対応する前記LEDユニットのカソードから出力電圧を取り出すための駆動モジュールとを備え、
    前記制御ユニットは、どの前記スキャン信号が選択されているかを示す第1選択信号と、どの前記データ信号が選択されているかを示す第2選択信号を生成し、
    前記第1選択信号が入力されると共に、前記スキャン信号によって選択された前記LEDユニットの前記アノードにかかる電圧が入力される第1マルチプレクサと、
    前記第2選択信号が入力されると共に、前記データ信号によって選択された前記LEDユニットの前記出力電圧が入力される第2マルチプレクサと、
    前記第1選択信号によって選択された前記LEDユニットの前記アノードにかかる電圧から前記第2選択信号によって選択された前記LEDユニットの前記出力電圧を減算することにより、前記座標信号に対応する前記LEDユニットの前記アノードと前記カソードの間の電圧差を出力する減算器と、
    所定の電圧に設定された基準電圧と、前記電圧差を比較して、前記制御ユニットが、前記LEDユニットに異常が生じたか否か判断するためのステート信号を出力するコンパレータとを備える
    ことを特徴とする故障検知装置。
  7. 前記コンパレータは、
    所定の電圧に設定された第1基準電圧と前記電圧差を比較して、前記第1基準電圧の電圧の方が低ければロウレベルを出力すると共に、前記第1基準電圧の電圧の方が高ければハイレベルを出力する第1コンパレータと、
    前記第1基準電圧より高い電圧に設定された第2基準電圧と前記電圧差を比較して、前記第2基準電圧の電圧の方が高ければロウレベルを出力すると共に、前記第2基準電圧の電圧の方が低ければハイレベルを出力する第2コンパレータと、
    前記第1コンパレータの出力と前記第2コンパレータの出力のいずれもが入力されると共に、これらの出力のいずれかがハイレベルであれば、前記制御ユニットが、前記LEDユニットに異常が生じたか否か判断するためのステート信号を出力するOR素子と、
    を備えたことを特徴とする請求項6に記載の故障検知装置。
  8. 第1の方向及び前記第1の方向と直交する第2の方向に沿ってマトリックス状に配置された複数のLEDユニットを含む発光手段と、
    検知しようとする前記LEDユニットが前記発光手段の何処にあるかを特定するための位置座標を含む座標信号を生成する制御ユニットと、
    前記制御ユニットが生成した前記座標信号に基づいて、前記座標信号に対応する前記LEDユニットを駆動するための駆動電圧を前記LEDユニットのアノードに入力すると共に、前記座標信号に対応する前記LEDユニットのカソードから出力電圧を取り出すための駆動モジュールと、
    各前記LEDユニットのカソードに接続され、前記座標信号に基づいて、前記座標信号に対応する前記LEDユニットの前記カソードからの前記出力電圧を検出すると共に、前記出力電圧の大きさに基づいて、前記制御ユニットが、前記LEDユニットに異常が生じたか否かを判断するためのステート信号を生成する判定モジュールと、
    を備えることを特徴とする故障検知システム。
  9. 前記制御ユニットは、前記位置座標のうち前記第1の方向における座標を選択するスキャン信号と、前記位置座標のうち前記第2の方向における座標を選択するデータ信号とを生成し、
    前記駆動モジュールは、
    前記スキャン信号に基づいて、前記LEDユニットの前記アノードに前記駆動電圧をかけるスキャンユニットと、
    前記データ信号に基づいて、前記LEDユニットの前記カソードから前記出力電圧を取り出すデータユニットとを備える
    ことを特徴とする請求項8に記載の故障検知システム。
  10. 第1の方向及び前記第1の方向と直交する第2の方向に沿ってマトリックス状に配置された複数のLEDユニットの故障を検知するための故障検知方法において、
    制御ユニットが、各前記LEDユニットが前記マトリックス上の何処にあるかを特定するための位置座標を含む座標信号を生成するステップと、
    駆動モジュールが、前記制御ユニットが生成した前記座標信号に基づいて、前記座標信号に対応する前記LEDユニットを駆動するための駆動電圧を前記LEDユニットのアノードに入力すると共に、前記座標信号に対応する前記LEDユニットのカソードから出力電圧を取り出すステップと、
    各前記LEDユニットのカソードに接続された判定モジュールが、前記座標信号に基づいて、前記座標信号に対応する前記LEDユニットの前記カソードからの前記出力電圧を検出すると共に、前記出力電圧の大きさに基づいて、前記LEDユニットに異常が生じたか否かを判断するためのステート信号を生成するステップと、
    前記制御ユニットが、前記ステート信号に基づいて前記LEDユニットに異常が生じたか否かを判断するステップと、
    を含むことを特徴とする故障検知方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021056344A (ja) * 2019-09-30 2021-04-08 セイコーエプソン株式会社 駆動回路、表示モジュール、及び移動体
JP2021526232A (ja) * 2019-03-22 2021-09-30 北京集創北方科技股▲ふん▼有限公司Chipone Technology (Beijing) Co.,Ltd 開放検出方法及びled表示装置

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10699631B2 (en) * 2018-09-12 2020-06-30 Prilit Optronics, Inc. LED sensing system and display panel sensing system
CN111833781A (zh) * 2019-03-29 2020-10-27 光远科技股份有限公司 发光二极管电路与触碰侦测方法
CN111833799B (zh) * 2019-04-15 2022-04-05 杭州海康威视数字技术股份有限公司 一种led接收组件及接收卡切换方法
TWI748344B (zh) * 2020-02-14 2021-12-01 聚積科技股份有限公司 發光二極體調屏標準判定模型建立方法
CN113380163A (zh) * 2020-03-10 2021-09-10 鸿富锦精密电子(郑州)有限公司 显示状态侦测***
US11151932B2 (en) * 2020-03-13 2021-10-19 Macroblock, Inc. Driving system
TWI769721B (zh) * 2020-03-13 2022-07-01 聚積科技股份有限公司 驅動系統
CN113450721B (zh) * 2020-03-26 2024-05-28 聚积科技股份有限公司 扫描式显示器及其驱动装置与驱动方法
CN111883049A (zh) * 2020-08-12 2020-11-03 北京集创北方科技股份有限公司 消影电位调整方法、行驱动电路及led显示设备
US11910499B2 (en) 2021-04-19 2024-02-20 Samsung Electronics Co., Ltd. Electronic apparatus and control method thereof
KR102403567B1 (ko) * 2021-10-26 2022-05-30 주식회사 레젠 다수 개의 led 모듈의 고장 검출 시스템
CN114863879B (zh) 2022-05-23 2023-05-02 惠科股份有限公司 有机发光二极管控制电路及显示面板

Citations (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5060974U (ja) * 1973-10-02 1975-06-05
JPS559146A (en) * 1978-07-06 1980-01-23 Pentel Kk Tablet testing device
JPS55130243U (ja) * 1978-08-14 1980-09-13
JPS5917578A (ja) * 1982-07-22 1984-01-28 株式会社東芝 発光ダイオ−ドマトリクス用試験装置
JPS5974591A (ja) * 1982-10-22 1984-04-27 株式会社日立製作所 障害検知機能を備えた表示器点灯回路
JPS59126967A (ja) * 1983-01-10 1984-07-21 Toshiba Corp Ledマトリクスデイスプレイの試験装置
JPH02105589A (ja) * 1988-10-14 1990-04-18 Mitsubishi Electric Corp Led素子の駆動装置
JPH0569960U (ja) * 1991-03-19 1993-09-21 スタンレー電気株式会社 Led表示装置
JPH07266619A (ja) * 1994-03-14 1995-10-17 Xerox Corp 故障状態決定方法及びled プリントヘッド
JPH10214065A (ja) * 1997-01-29 1998-08-11 Seiko Epson Corp アクティブマトリクス基板の検査方法,アクティブマトリクス基板,液晶装置および電子機器
JPH1187774A (ja) * 1997-07-09 1999-03-30 Nichia Chem Ind Ltd Led表示装置及び半導体装置
JP2000033729A (ja) * 1998-07-16 2000-02-02 Hitachi Cable Ltd 発光ダイオードアレイ
JP2000347626A (ja) * 1999-06-07 2000-12-15 Nippon Signal Co Ltd:The 表示装置、誤表示防止方法
JP2001042786A (ja) * 1999-07-27 2001-02-16 Matsushita Electric Works Ltd 画素異常検出回路組込み型表示装置
JP2004126082A (ja) * 2002-09-30 2004-04-22 Toshiba Lighting & Technology Corp Led標識灯監視システム
JP2005141094A (ja) * 2003-11-07 2005-06-02 Nippon Signal Co Ltd:The 表示装置
JP2005258128A (ja) * 2004-03-12 2005-09-22 Tohoku Pioneer Corp 自発光表示モジュールおよび同モジュールを搭載した電子機器、ならびに同モジュールにおける欠陥状態の検証方法
GB2449949A (en) * 2007-06-08 2008-12-10 Macroblock Inc Driving apparatus for reporting states of light emitting diode channels in a binary mode
JP2010123273A (ja) * 2008-11-17 2010-06-03 Ccs Inc Led照明装置
US20120176039A1 (en) * 2011-01-11 2012-07-12 Panasonic Semiconductor Asia Pte., Ltd. Led matrix open/short detection apparatus and method
US20130313973A1 (en) * 2012-05-22 2013-11-28 Texas Instruments Incorporated Led bypass and control circuit for fault tolerant led systems
US20140097849A1 (en) * 2012-10-04 2014-04-10 Nxp B. V. Method of detecting a led failure, a controller therefor, a lighting unit and lighting system
JP2015501086A (ja) * 2011-12-20 2015-01-08 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH オプトエレクトロニクス半導体部品の製造方法、リードフレームユニットおよびオプトエレクトロニクス半導体部品
WO2016030083A1 (de) * 2014-08-26 2016-03-03 Osram Oled Gmbh Verfahren zum betreiben einer optoelektronischen baugruppe und optoelektronische baugruppe

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5809552A (en) * 1992-01-29 1998-09-15 Fujitsu Limited Data processing system, memory access device and method including selecting the number of pipeline stages based on pipeline conditions
IT1305051B1 (it) * 1998-12-04 2001-04-10 S E I Sistemi Energetici Integ Sistema di controllo di un impianto di illuminazione o segnalazioneluminosa avente una molteplicita' di punti luce a led o simili
JP3882773B2 (ja) * 2003-04-03 2007-02-21 ソニー株式会社 画像表示装置、駆動回路装置および発光ダイオードの不良検出方法
JP2005274821A (ja) * 2004-03-24 2005-10-06 Tohoku Pioneer Corp 自発光表示モジュールおよび同モジュールを搭載した電子機器、ならびに同モジュールにおける欠陥状態の検証方法
JP4241487B2 (ja) * 2004-04-20 2009-03-18 ソニー株式会社 Led駆動装置、バックライト光源装置及びカラー液晶表示装置
EP1777533A1 (en) * 2005-10-21 2007-04-25 ALCATEL Transport Solution Deutschland GmbH Monitoring device for an array of electrical units
JP4963471B2 (ja) * 2006-01-13 2012-06-27 シャープ株式会社 照明装置および液晶表示装置
US7948468B2 (en) * 2007-02-23 2011-05-24 The Regents Of The University Of Colorado Systems and methods for driving multiple solid-state light sources
EP2147574A1 (en) * 2007-05-11 2010-01-27 Philips Intellectual Property & Standards GmbH Driver device for leds
JP4780159B2 (ja) * 2008-08-27 2011-09-28 ソニー株式会社 表示装置とその駆動方法
JP2010287601A (ja) * 2009-06-09 2010-12-24 Panasonic Corp 発光素子駆動装置
JP5056921B2 (ja) * 2010-08-24 2012-10-24 カシオ計算機株式会社 半導体光源装置、半導体光源制御方法及び投影装置
EP2487998A1 (en) * 2011-02-09 2012-08-15 National Semiconductor Corporation Technique for identifying at least one faulty light emitting diode in a string of light emitting diodes
DE102011106670B4 (de) * 2011-07-05 2016-11-24 Austriamicrosystems Ag Schaltungsanordnung zum Betreiben einer Diodenmatrix und Verfahren zur Fehlererkennung und Fehlerlokalisierung in der Diodenmatrix
JP5829067B2 (ja) * 2011-07-11 2015-12-09 ローム株式会社 Led駆動装置、照明装置、液晶表示装置
DE102012107766B4 (de) * 2011-08-30 2019-01-31 Infineon Technologies Ag Fehlererkennung für eine Serienschaltung elektrischer Lasten
TWI459351B (zh) 2012-05-23 2014-11-01 Macroblock Inc 點矩陣發光二極體顯示裝置之驅動系統與驅動方法
JP5841906B2 (ja) * 2012-07-03 2016-01-13 Jx日鉱日石エネルギー株式会社 故障検知装置、故障検知システム、及び故障検知方法
TWI496501B (zh) * 2012-08-22 2015-08-11 Macroblock Inc 片段線性驅動的光源裝置
TWI543139B (zh) * 2015-02-13 2016-07-21 明陽半導體股份有限公司 顯示面板的驅動裝置

Patent Citations (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5060974U (ja) * 1973-10-02 1975-06-05
JPS559146A (en) * 1978-07-06 1980-01-23 Pentel Kk Tablet testing device
JPS55130243U (ja) * 1978-08-14 1980-09-13
JPS5917578A (ja) * 1982-07-22 1984-01-28 株式会社東芝 発光ダイオ−ドマトリクス用試験装置
JPS5974591A (ja) * 1982-10-22 1984-04-27 株式会社日立製作所 障害検知機能を備えた表示器点灯回路
JPS59126967A (ja) * 1983-01-10 1984-07-21 Toshiba Corp Ledマトリクスデイスプレイの試験装置
JPH02105589A (ja) * 1988-10-14 1990-04-18 Mitsubishi Electric Corp Led素子の駆動装置
JPH0569960U (ja) * 1991-03-19 1993-09-21 スタンレー電気株式会社 Led表示装置
JPH07266619A (ja) * 1994-03-14 1995-10-17 Xerox Corp 故障状態決定方法及びled プリントヘッド
JPH10214065A (ja) * 1997-01-29 1998-08-11 Seiko Epson Corp アクティブマトリクス基板の検査方法,アクティブマトリクス基板,液晶装置および電子機器
JPH1187774A (ja) * 1997-07-09 1999-03-30 Nichia Chem Ind Ltd Led表示装置及び半導体装置
JP2000033729A (ja) * 1998-07-16 2000-02-02 Hitachi Cable Ltd 発光ダイオードアレイ
JP2000347626A (ja) * 1999-06-07 2000-12-15 Nippon Signal Co Ltd:The 表示装置、誤表示防止方法
JP2001042786A (ja) * 1999-07-27 2001-02-16 Matsushita Electric Works Ltd 画素異常検出回路組込み型表示装置
JP2004126082A (ja) * 2002-09-30 2004-04-22 Toshiba Lighting & Technology Corp Led標識灯監視システム
JP2005141094A (ja) * 2003-11-07 2005-06-02 Nippon Signal Co Ltd:The 表示装置
JP2005258128A (ja) * 2004-03-12 2005-09-22 Tohoku Pioneer Corp 自発光表示モジュールおよび同モジュールを搭載した電子機器、ならびに同モジュールにおける欠陥状態の検証方法
GB2449949A (en) * 2007-06-08 2008-12-10 Macroblock Inc Driving apparatus for reporting states of light emitting diode channels in a binary mode
JP2010123273A (ja) * 2008-11-17 2010-06-03 Ccs Inc Led照明装置
US20120176039A1 (en) * 2011-01-11 2012-07-12 Panasonic Semiconductor Asia Pte., Ltd. Led matrix open/short detection apparatus and method
JP2015501086A (ja) * 2011-12-20 2015-01-08 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH オプトエレクトロニクス半導体部品の製造方法、リードフレームユニットおよびオプトエレクトロニクス半導体部品
US20130313973A1 (en) * 2012-05-22 2013-11-28 Texas Instruments Incorporated Led bypass and control circuit for fault tolerant led systems
US20140097849A1 (en) * 2012-10-04 2014-04-10 Nxp B. V. Method of detecting a led failure, a controller therefor, a lighting unit and lighting system
WO2016030083A1 (de) * 2014-08-26 2016-03-03 Osram Oled Gmbh Verfahren zum betreiben einer optoelektronischen baugruppe und optoelektronische baugruppe

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021526232A (ja) * 2019-03-22 2021-09-30 北京集創北方科技股▲ふん▼有限公司Chipone Technology (Beijing) Co.,Ltd 開放検出方法及びled表示装置
JP7026814B2 (ja) 2019-03-22 2022-02-28 北京集創北方科技股▲ふん▼有限公司 開放検出方法及びled表示装置
US11417252B2 (en) 2019-03-22 2022-08-16 Chipone Technology (Beijing) Co., Ltd. Open circuit detection method and LED display device
JP2021056344A (ja) * 2019-09-30 2021-04-08 セイコーエプソン株式会社 駆動回路、表示モジュール、及び移動体
JP7354735B2 (ja) 2019-09-30 2023-10-03 セイコーエプソン株式会社 駆動回路、表示モジュール、及び移動体

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