JPS59126967A - Ledマトリクスデイスプレイの試験装置 - Google Patents
Ledマトリクスデイスプレイの試験装置Info
- Publication number
- JPS59126967A JPS59126967A JP58001922A JP192283A JPS59126967A JP S59126967 A JPS59126967 A JP S59126967A JP 58001922 A JP58001922 A JP 58001922A JP 192283 A JP192283 A JP 192283A JP S59126967 A JPS59126967 A JP S59126967A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- led
- optical
- optical sensor
- matrix display
- pellet
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明はLED (発光ダイオード)を用いたマトリク
スディスプレイの光学的特性および電気的特性の試験を
行なうLEDマトリクスディスプレイの試験装置に関す
る。
スディスプレイの光学的特性および電気的特性の試験を
行なうLEDマトリクスディスプレイの試験装置に関す
る。
従来、LEDをマトリクス状に配置し、これらのLED
を選択的に点灯して表示を行なうマトリクスディスプレ
イが知られている。二のようなもので数字表示装置等の
大型のものでは、評価試験を行なう場合、暗室などで外
形寸法を考慮した点光源として点灯させ、遠方から光度
特性を測定している。また量産用の試験では暗室で行な
うと測定に時間がかかり、設備も大規模になる。このた
めに光学的特性は目視に;る視座検査を行ない電気的特
性は直流特性バラメ−タ試験装置を用いて直流特性を測
定するようにしていた。
を選択的に点灯して表示を行なうマトリクスディスプレ
イが知られている。二のようなもので数字表示装置等の
大型のものでは、評価試験を行なう場合、暗室などで外
形寸法を考慮した点光源として点灯させ、遠方から光度
特性を測定している。また量産用の試験では暗室で行な
うと測定に時間がかかり、設備も大規模になる。このた
めに光学的特性は目視に;る視座検査を行ない電気的特
性は直流特性バラメ−タ試験装置を用いて直流特性を測
定するようにしていた。
しかしながらこのような試験では、光学的特性について
は測定者による個人差があり、また結果を数値化するこ
とも困難であった。一方、電気的特性の試験では測定値
なプリントしたりデータ処理を容易に行なうことかでさ
るOこのために光学的特性と、電気的特性の試駁結呆を
まとめて得られず、試験の自動化が困難で量産における
試験の問題どンχっていた0 〔発明の目的〕 本発明は上記の串打tに鑑みて7よされたものでLED
マトリクスディスプレイの光を0特性および電気的特性
のil;]定結果を数値化して得られ名測定データの出
カケ行なえ試験の自動化を図り得、量産品の試験を効率
よく行なえるLEDマトリクスデイヌブレイの試駆装置
を提供することを目的と1−るものである。
は測定者による個人差があり、また結果を数値化するこ
とも困難であった。一方、電気的特性の試験では測定値
なプリントしたりデータ処理を容易に行なうことかでさ
るOこのために光学的特性と、電気的特性の試駁結呆を
まとめて得られず、試験の自動化が困難で量産における
試験の問題どンχっていた0 〔発明の目的〕 本発明は上記の串打tに鑑みて7よされたものでLED
マトリクスディスプレイの光を0特性および電気的特性
のil;]定結果を数値化して得られ名測定データの出
カケ行なえ試験の自動化を図り得、量産品の試験を効率
よく行なえるLEDマトリクスデイヌブレイの試駆装置
を提供することを目的と1−るものである。
〔発明の概要〕
すなわち本発明は、LEDマトリクスディスプレイの表
示面に対向して光センサを設け、該光センサをX 、
Y方向へ移動して各LEDペレットに対向させ光学的特
性および電気的特性の測定を同時にかつ連続して行なう
ことを特徴とするものである。
示面に対向して光センサを設け、該光センサをX 、
Y方向へ移動して各LEDペレットに対向させ光学的特
性および電気的特性の測定を同時にかつ連続して行なう
ことを特徴とするものである。
以下本発明の一実施例を第1図乃至第4図を参照して詳
却1に説明する。第1図は(、EDマトリクスディスプ
レイの試験時の電気回路を示す図である。このマトリク
スはM行N列のもので一例としてM、Nはそれぞれ64
.32のものを示している。図中り、U、Tは試験を行
なうべきLEDマトリクスディスプレイで、64本の行
C,,C2・・・C64と、この行に直角に32本の列
1.,12・・・t3□を設け、その各交点にそれぞれ
LEDペレットを接続している。そして各行C,,C2
・・・C64の外部導出端子をリレーx1.x2・・・
−”fi4を介して測定部MSの入力端子へ接続してい
る。また各列1..12・・・t32の外部導出端子を
リレーff+yy2・・・y3□を介し゛C測定部MS
の入力端子へ接続している0また第2図はLEDマトリ
クスデイヌブレイの光学的特性の試験機構を示す図で1
.LEDマトリクヌディスプレイD、U、Tの表示面に
相対向して゛ノーラセル、ホトダイオード等からンχる
光センサOpを配置している。そしてXモータM、z、
YモータMyKLり光センサOpをL E Dマトリク
ヌディスプレイD、U、Tの対向面に沿って任意に移動
させ、LEDマトリクヌディスプレイD 、 tt 、
T q構成する全てのL E l)ベレットに対し゛
C対面することができるようにしている○なお光センサ
Opとし゛(%/−ラセル、ホトダイオード等を用いる
と出力端子を2本にでき移動時の線材の彼方による断線
を少ンよくでき、また断線しても断線部位を容易に発見
できる利点がある○ 第3図は覧坑気的特性、光学的特性の試1験を行なう制
御部を示すブロック図である。図中1は光学的特性測定
部で光セン−!)Opをイ1し、測定値に対応する電気
信号を出力する。2は電気的特性測定部でLEDのダイ
オード特性を測定し、順電流IF 、 順厄圧VF
、 逆電流IR、逆電圧VRを測定し、測定値に対応
する電気信号を出力する。そして光学的特性測定部I、
電気的特性測定部2から出力される測定結果は、比較部
3へ与えられ、予め設定した基準値と比較し、当該測定
値の良否を判定する。そして比較部3の判定結果fを記
憶部4へ与えて記憶させる。
却1に説明する。第1図は(、EDマトリクスディスプ
レイの試験時の電気回路を示す図である。このマトリク
スはM行N列のもので一例としてM、Nはそれぞれ64
.32のものを示している。図中り、U、Tは試験を行
なうべきLEDマトリクスディスプレイで、64本の行
C,,C2・・・C64と、この行に直角に32本の列
1.,12・・・t3□を設け、その各交点にそれぞれ
LEDペレットを接続している。そして各行C,,C2
・・・C64の外部導出端子をリレーx1.x2・・・
−”fi4を介して測定部MSの入力端子へ接続してい
る。また各列1..12・・・t32の外部導出端子を
リレーff+yy2・・・y3□を介し゛C測定部MS
の入力端子へ接続している0また第2図はLEDマトリ
クスデイヌブレイの光学的特性の試験機構を示す図で1
.LEDマトリクヌディスプレイD、U、Tの表示面に
相対向して゛ノーラセル、ホトダイオード等からンχる
光センサOpを配置している。そしてXモータM、z、
YモータMyKLり光センサOpをL E Dマトリク
ヌディスプレイD、U、Tの対向面に沿って任意に移動
させ、LEDマトリクヌディスプレイD 、 tt 、
T q構成する全てのL E l)ベレットに対し゛
C対面することができるようにしている○なお光センサ
Opとし゛(%/−ラセル、ホトダイオード等を用いる
と出力端子を2本にでき移動時の線材の彼方による断線
を少ンよくでき、また断線しても断線部位を容易に発見
できる利点がある○ 第3図は覧坑気的特性、光学的特性の試1験を行なう制
御部を示すブロック図である。図中1は光学的特性測定
部で光セン−!)Opをイ1し、測定値に対応する電気
信号を出力する。2は電気的特性測定部でLEDのダイ
オード特性を測定し、順電流IF 、 順厄圧VF
、 逆電流IR、逆電圧VRを測定し、測定値に対応
する電気信号を出力する。そして光学的特性測定部I、
電気的特性測定部2から出力される測定結果は、比較部
3へ与えられ、予め設定した基準値と比較し、当該測定
値の良否を判定する。そして比較部3の判定結果fを記
憶部4へ与えて記憶させる。
の位置に対応する位置制御信号Dx、Dyを出力する。
この位置制御信号Dx、Dyは光センサ駆動部1および
X、Y各シーケンスコントロール8.9へ与えられる。
X、Y各シーケンスコントロール8.9へ与えられる。
上記光センサ駆動部7は上記位置制御信号Dx、Dyに
対応する位置へ光センサOpを駆動する。すなわち、位
置制卸信号D3:によりXモータドライバ7aを介して
XモータPbを駆動し、光センfopをX方向へ移動さ
せる0同様に位置制御信号DfによりYモータドライバ
7cを介してYモータ7dを駆動し、光センサOpをy
方向へ移動させる。またXシーケンスコントロール8が
ら出力する位置信号Xiを記憶部4へ与えて記憶させ、
行リレードライバ10を介してXリレ一群11から対応
する行のリレーを閉成させる。同様にYシーケンスコン
トロール9から出力する位置信号Yjを記憶部4へ与え
て記憶させ、列リレードライバ12を介してYリレ一群
13がら対応する行のリレーを閉成させる。
対応する位置へ光センサOpを駆動する。すなわち、位
置制卸信号D3:によりXモータドライバ7aを介して
XモータPbを駆動し、光センfopをX方向へ移動さ
せる0同様に位置制御信号DfによりYモータドライバ
7cを介してYモータ7dを駆動し、光センサOpをy
方向へ移動させる。またXシーケンスコントロール8が
ら出力する位置信号Xiを記憶部4へ与えて記憶させ、
行リレードライバ10を介してXリレ一群11から対応
する行のリレーを閉成させる。同様にYシーケンスコン
トロール9から出力する位置信号Yjを記憶部4へ与え
て記憶させ、列リレードライバ12を介してYリレ一群
13がら対応する行のリレーを閉成させる。
なお上記光センサ駆動部7で選択したLE、Dペレット
と、行9列ドライバ10.12により選択されるLED
ベレットとが一致するように制御する。
と、行9列ドライバ10.12により選択されるLED
ベレットとが一致するように制御する。
そして、記憶部4に記憶された判定結果fを位置信号X
i、Yjに対応する位置で表示部14に表示する。
i、Yjに対応する位置で表示部14に表示する。
このような構成であれば、たとえばLEDマトリクスデ
ィスプレイの外部導出端子をンヶットに挿入することに
よって、各行CI+02・・CI、4および各列1..
1.・・・t82に対する電気的な接続をTテなうよう
にする。そして、たとえば第4図に示すフローチャート
のように5TEP1で「試験開始」すると、5TEP2
で「スタートペレット位置にセンナを合せる」を行ない
試験を開始する。このスタートペレット位置は、適宜に
設定すればよく、たとえば移動時間、移動回数を最小に
するように選ぶことが望言しい。そして光センサOpの
対面するLEDペレットに対してXリレ一群11.Yリ
レ一群13を選択的に駆動して電気的特性測定部に対す
る回路を形成する。モして5TEP3で「光学的特性試
験、電気的特性試験」を行なう。試験項目は、光学的特
性試験では明るさとして光度Iv 、 電気的特性試
験では、順電流工F、順電圧VF、逆電流IR、逆電圧
VR等である。なオJ@電流工y の測定時にLED
は発光するので同時に光度Iv の測定を行なえ試験
時間を短編することができる。そして、各試験によって
得られた測定値を比較部3で基準値と比較して良否を判
定し、5TEP4で記憶部4に「試験結果記憶」を行な
う。そして5TEP5で「光センサ移ルI+Jを行ない
次のLEDベレットに光セン、すOpを対面させるとと
もに当該LEDペレットに対応するXリレ一群11.Y
リレ一群13のリレーを閉成して電気回路を形成する。
ィスプレイの外部導出端子をンヶットに挿入することに
よって、各行CI+02・・CI、4および各列1..
1.・・・t82に対する電気的な接続をTテなうよう
にする。そして、たとえば第4図に示すフローチャート
のように5TEP1で「試験開始」すると、5TEP2
で「スタートペレット位置にセンナを合せる」を行ない
試験を開始する。このスタートペレット位置は、適宜に
設定すればよく、たとえば移動時間、移動回数を最小に
するように選ぶことが望言しい。そして光センサOpの
対面するLEDペレットに対してXリレ一群11.Yリ
レ一群13を選択的に駆動して電気的特性測定部に対す
る回路を形成する。モして5TEP3で「光学的特性試
験、電気的特性試験」を行なう。試験項目は、光学的特
性試験では明るさとして光度Iv 、 電気的特性試
験では、順電流工F、順電圧VF、逆電流IR、逆電圧
VR等である。なオJ@電流工y の測定時にLED
は発光するので同時に光度Iv の測定を行なえ試験
時間を短編することができる。そして、各試験によって
得られた測定値を比較部3で基準値と比較して良否を判
定し、5TEP4で記憶部4に「試験結果記憶」を行な
う。そして5TEP5で「光センサ移ルI+Jを行ない
次のLEDベレットに光セン、すOpを対面させるとと
もに当該LEDペレットに対応するXリレ一群11.Y
リレ一群13のリレーを閉成して電気回路を形成する。
そして5TEP6で「最終ペレット終了」の判定を行な
いY E−8であればSTEMを実行し、Noであれば
5TEP3−\戻り、再び試験を行なう。
いY E−8であればSTEMを実行し、Noであれば
5TEP3−\戻り、再び試験を行なう。
5TEP7では[光センサ原点リターンJを行ない5T
EPQで「試験終了」する。そして記憶部4の記憶内容
、所謂マツプデータを表示部14で、たとえばLEDマ
トリクスディスプレイD、U、Tと相似形に各LEDベ
レットの合否を表示することにより効率工く試jI!を
行なうことができる。
EPQで「試験終了」する。そして記憶部4の記憶内容
、所謂マツプデータを表示部14で、たとえばLEDマ
トリクスディスプレイD、U、Tと相似形に各LEDベ
レットの合否を表示することにより効率工く試jI!を
行なうことができる。
したがって、試験を自動的に行なうことが可能であり、
測定者の視座によるバラツキもなく、正確かつ客観的な
試gIを行なうことができる。
測定者の視座によるバラツキもなく、正確かつ客観的な
試gIを行なうことができる。
またLEDマトリクスディスプレイD、U、Tの特性に
関するマツプデータが得られるのでこのデータを外部の
記録ファイル、たとえばフロッピーディスク等に記憶で
きる。したがってLEDマトリクスディスプレイD、U
、Tから不良なLEDペレットを除去して良品に交換す
る工程を設ける場合、この工程で上記70ツピーデイス
クの記憶データを用いれば、製造工程を著しく合理化す
ることができる。特にLEDマトリクスディスプレイは
、LEDペレットのコストが一般的な集積回路等に比較
して高価なために、たとえば前面に樹脂カバー、樹脂モ
ールドを施す前工程で試験を行ない不良なLEDペレッ
トを良品に交換すれば最終的な不良品の発生を著しく少
なくでき、高価なLEDペレットを有効に使用すること
ができる〇 なお本発明は上記実施例に限定されるものではなく、た
とえば制御部を第5図に示すブロック図のように構成し
てもよい。すなわち、光学的特性測定部1の測定結果を
測定値記憶部15へ与えて記憶させる。そしてこの記憶
内容を演算部16で演算し、たとえば各LEDペレット
の光度比を得て比較部3で基準値と比較するようにして
もLい。iχお測定値の演算は電気的特性測定部2の測
定1結果について行なうようにしてもよいことは勿論で
ある。
関するマツプデータが得られるのでこのデータを外部の
記録ファイル、たとえばフロッピーディスク等に記憶で
きる。したがってLEDマトリクスディスプレイD、U
、Tから不良なLEDペレットを除去して良品に交換す
る工程を設ける場合、この工程で上記70ツピーデイス
クの記憶データを用いれば、製造工程を著しく合理化す
ることができる。特にLEDマトリクスディスプレイは
、LEDペレットのコストが一般的な集積回路等に比較
して高価なために、たとえば前面に樹脂カバー、樹脂モ
ールドを施す前工程で試験を行ない不良なLEDペレッ
トを良品に交換すれば最終的な不良品の発生を著しく少
なくでき、高価なLEDペレットを有効に使用すること
ができる〇 なお本発明は上記実施例に限定されるものではなく、た
とえば制御部を第5図に示すブロック図のように構成し
てもよい。すなわち、光学的特性測定部1の測定結果を
測定値記憶部15へ与えて記憶させる。そしてこの記憶
内容を演算部16で演算し、たとえば各LEDペレット
の光度比を得て比較部3で基準値と比較するようにして
もLい。iχお測定値の演算は電気的特性測定部2の測
定1結果について行なうようにしてもよいことは勿論で
ある。
また上記実施例ではリレ一群II、13を用いて試験を
行なうLEDベレットを選択するようにしたが同様の機
能を有する半4体スイッチ等を用いても↓いことは勿論
である。
行なうLEDベレットを選択するようにしたが同様の機
能を有する半4体スイッチ等を用いても↓いことは勿論
である。
以上の工うに本発明によればLEDマトリクスディスプ
レイの光学0特1生お工び電気的り註の測定結果を数値
化して得、表示することができ、試験工程を自動化して
正確な試験を行なえ不良品の発生を著しく/J?なくで
きるLEDマトリクスディスプレイの試験装置を提供す
ることができる。
レイの光学0特1生お工び電気的り註の測定結果を数値
化して得、表示することができ、試験工程を自動化して
正確な試験を行なえ不良品の発生を著しく/J?なくで
きるLEDマトリクスディスプレイの試験装置を提供す
ることができる。
第1図乃至第4図は本発明の一実施例を示す図で第1図
は電気回路を示す図、第2図はLEDマトリクスディス
プレイの光学的特性の試験機構を示す図、第3図は電気
的特性および光学的特性の試験を行なう制御部を示すブ
ロック図、第4図は試験時の動作を説明するフローチャ
ート、第5図は本発明の他の実施例の制御部を示すブロ
ック図である。 D、U、T・・・LEDマトリクスディスプレイ、Op
・・・光センチ、1・・光学的特性測定部、2・・・電
気的特性測定部、3・・・比較部、4・・・記憶部、5
・・・X軸ドライブコントロール、6・・・Y軸ドライ
ブコントロール、7°・光センサ駆動部、11゜13・
・リレ一群。
は電気回路を示す図、第2図はLEDマトリクスディス
プレイの光学的特性の試験機構を示す図、第3図は電気
的特性および光学的特性の試験を行なう制御部を示すブ
ロック図、第4図は試験時の動作を説明するフローチャ
ート、第5図は本発明の他の実施例の制御部を示すブロ
ック図である。 D、U、T・・・LEDマトリクスディスプレイ、Op
・・・光センチ、1・・光学的特性測定部、2・・・電
気的特性測定部、3・・・比較部、4・・・記憶部、5
・・・X軸ドライブコントロール、6・・・Y軸ドライ
ブコントロール、7°・光センサ駆動部、11゜13・
・リレ一群。
Claims (1)
- 行と列の交点にLEDベレットを配置したLEDマトリ
クスディスプレイの光学的特性および電気的特性の試験
を行なうものにおいて、試験を行なうLEDペレットの
位置に対応する位置制御信号を発生するX軸ドライブコ
ントロールおよびY軸ドライブコントロールと、上記L
EDマ「リクスディスプレイに対向する面に沿って移動
自在に設けた光センサと、上記位置制御信号を与えられ
上記光センサを駆動する光センサ駆動部と、上記光セン
サの田力がら対面するLEDペレットの光学的特性の測
定を行なう光学的特性測定部と、上記位置制御信号によ
り上記光センサの対向するLEDペレットを選択するリ
レ一群と、このリレ一群の選択したLEDペレットの電
気的特性の測定を行なう電気的特性測定部と、光学的特
性測定部および電気的特性測定部の測定結果を表示する
表示部とを具備するLEDマトリクスディスプレイの試
験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58001922A JPS59126967A (ja) | 1983-01-10 | 1983-01-10 | Ledマトリクスデイスプレイの試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58001922A JPS59126967A (ja) | 1983-01-10 | 1983-01-10 | Ledマトリクスデイスプレイの試験装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59126967A true JPS59126967A (ja) | 1984-07-21 |
Family
ID=11515081
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58001922A Pending JPS59126967A (ja) | 1983-01-10 | 1983-01-10 | Ledマトリクスデイスプレイの試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59126967A (ja) |
Cited By (13)
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---|---|---|---|---|
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-
1983
- 1983-01-10 JP JP58001922A patent/JPS59126967A/ja active Pending
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