JPS5917578A - 発光ダイオ−ドマトリクス用試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、多数の発光ダイオード（以下ＬＥＤと略称す
る）がマトリクス状に同一ペース上に配設されると共に
、マトリクス状配線の各交叉部に接続されてなるＬＥＤ
マトリクス表示器を半製品状態の段階で試験するだめの
ＬＥＤマトリクス用試験装置に関する。

〔発明の技術的背景〕

一般にＬＥＤ−ｅレットは、通常の集積回路やトランジ
スタの（レッドに比較して高価であるので、ＬＥＤ−２
レツドに樹脂カバーを取シ付けたり、樹脂ホールドを行
なった最終製品の段階で不良が判明してＬＥＤ表示器全
部を不良とするのは不経済である。そこで、ＬＥＤ−１
！レツドを１〜２個しか使用しないランプ形ＬＥＤ表示
器以外の表示器、たとえば８セグメントのＬＥＤ数字表
示器やそれらを集めた多桁数字表示器については、ＬＥ
Ｄに樹脂カバーを取り付けたり、樹脂モールドを行なう
前の半製品の状態（ペレットがペース上に露出して剥離
可能な状態である）で視感チェックおよび電気的性能の
チェックを行なっている。すなわち、不良波レットをチ
ェックしてマークを付けておき、この不良ペレットを回
収して新しいＬＥＤペレットにマウントがンディングし
たのち再測定を行ない、良品となったことを確認して最
終製品に仕上げている。この場合、数字表示器はベレッ
ト数が少ないことや、各ペレットは数字のセグメントを
構成するので不良ペレットの位置指定が容易であること
から、゛前記不良ペレットのチェックは容易である。な
お、多桁数字表示器の場合には、その表示桁とセグメン
トの番号とでＩＪＤ　ベレットの位置を示し、また外形
的にも表示数字が分るようになっている。したがって、
試験装置として、多桁数字表示器の桁とセグメント番号
をＬＥＤ等で表示して不良にレットを指示する機能を有
するようになっている。

一方、たとえば４０　ｖｙｒｔ＋　Ｘ　４０　ｔｒｔｐ
ｎのペース上に２．５４＋ｍｎビ、チで３２行×６４列
のマトリクス状に２０４８個のＬＥＤペレットが配設さ
れたようなＬＥＤマトリクス表示器は、高密度で実装さ
れているので基板上に印字や印刷などを行かうことが難
しい。そこで、このようなＬＥＤマトリクス表示器の半
製品状態での試験に際して、従来は上記表示器と相似状
の配列でピッチ寸法が拡大された測定結果指示用マトリ
クス表示器を使用し、電気的特性の測定によシ判明した
不良ペレットの位置を上記結果指示用表示器で指示する
ようになっていた。

〔背景技術の問題点〕

しかし、上記のようなＩＪＤマトリクス表示器の試験装
置においては、オペレータは結果指示用表示器の指示を
見て不良ペレットの位置のアドレス番号を数え、この位
置に対応するＬＥＤマトリクス表示器の不良ぜレットを
高密度のペレット群の中から探し出してチェックして交
換をしなければならない。したがって、不良ペレッ５− トの交換のために必要なチェックの作業性が悪く、試験
時間が長くなシ、オペレータの負担が重く疲労が大きく
なるなどの問題があった。たとえば、１個のＬＥＤの電
気的性能測定時間が１０ｍ５と仮定すれば、４０９６個
のＬＥＤに対して４、０９６　ｓに々る。これに対して
、ＬＥＤマトリクス表示器におけるＬＥＤ−ｅレットの
歩留りが９０係とした場合、約２０個の不良（レットが
点在することになシ、これらについて表示部を見ながら
１個づつチェックするには上記測定時間の少なくとも１
０〜２０倍の時間を必要とする。

〔発明の目的〕

本発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、不良４レ
ツトの位置を容易にチェックでき、試験時間の短縮化お
よびオにレータの負担の軽減化を図シ得る発光ダイオー
ドマトリクス用試験装置を提供するものである。

〔発明の概要〕 すなわち、本発明の発光ダイオードマトリク＝６− ス用試験装置は、ＬＥＤマトリクス表示器の各ＬＥＤを
選択するためのリレー接点をリレー駆動回路により駆動
するとき、全てのＬＥＤを同時に選択し、あるいは指定
される一部のＬＥＤを同時に選択し、あるいは各ＬＥＤ
を１個づつ走査的に選択して測定電源に接続させるよう
な制御を可能としておき、各ＬＥＤを走査的に選択しな
がら各ＬＥＤの電気的性能を測定して良否判定データを
記憶部に記憶させておき、こののち記憶部からデータを
読み出して不良判定データあるいは良品判定データに対
応するＬＥＤを指定する指定信号を生成し、この指定信
号によシ指定されるＬＥＤの全てを同時に選択して点灯
駆動させ、さらに上記電気的性能測定に先立っであるい
は上記測定後に全てのＬＥＤを同時に選択して点灯駆動
するようにしたものである。

したがって、供試表示器そのもので点灯不良ＬＥＤおよ
び電気的性能不良ＬＥＤを容易にチェ。

りすることが可能となり、試験時間の短縮化およびオ（
レータの負担の軽減化を図ることができる。

〔発明の実施例〕

以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明す
る。第１図において、１は供試ＬＥＤマトリクス表示器
であシ、これはたとえば前述したように４０　ｔａｎ　
Ｘ　４０　Ｈのペース上に２．５４−ピッチで３２行×
６４列のマ）　ＩＪクス状に２０４８個のＬＥＤベレッ
トが配設されると共に、３２本の行配線と６４本の列配
線との各交叉部にＩＪＤが接続されたものであって、し
かも半製品状態のものである。一方、試験装置のＬＥＤ
選択指定部においては、上記表示器ノ用のソケット（図
示せず）を通じて上記表示器１０３２本の行配線の各一
端に各対応してリレー接点ｙ１〜ｙ３２の各一端が接続
され、このリレー接点ｙ１〜ｙａ２の各他端は測定電源
１０に接続されている。また、前記表示器１の６４本の
列配線の各一端に各対応してリレー接点ｘ１−〜Ｘ６４
　ａの各一端およびリレー接点Ｘｘｂ−Ｘ６４ｂの各一
端が接続されている。そして、上記リレー接点ＸＩＪｋ
〜ｘ６４．の各他端は対応して抵抗Ｒを介して、また前
記リレー接点ｘ１ｂ−Ｘ６４ｂの各他端は直接に前記測
定電源１０に接続されている。

一方、第２図は試験装置の主要部を示すもので、２０は
前記リレー接点）’１”）’＋１１１　をそれぞれ駆動
するための行方向リレー駆動回路、２１ｍは前記ＩＪ　
Ｌ／−接点１１ａ−Ｘ６４１Ｌをそれぞれ駆動するため
の第１の行方向リレー駆動回路、２Ｊｂは前記リレー接
点Ｘ１ｂ−Ｘ６４ｂをそれぞれ駆動するだめの第２の列
方向リレー駆動回路である。上記行方向リレー駆動回路
２０および第１の列方向リレー駆動回路２１ｈは、それ
ぞれ同時全点灯指令信号が入力したときにそれぞれ前記
リレー接点ｙ１〜３’ｌ１２およびｘｌ、〜！’ｊ６４
１１を全てオン状態に駆動する。これＫよって、表示器
１の全ＬＥＤに測定電源ＪＯから抵抗Ｒを通じて点灯駆
動電圧が供給されるようになる。また、行方向リレー駆
動回路２０は、行方向シーケンス制御回路２２からシー
ケンス制御信号Ｙ、が供給されたときに前記リレー接点
ｙｌ〜９− ｙｓｇを走査的に一定時間づつオン状態に駆動し、第２
の列方向リレー駆動回路２１ｂは列方向シーケンス制御
回路からシーケンス制御信号Ｘｉが供給されたときに前
記リレー接点Ｘ　１　ｂ””’１６４１）を走査的に一
定時間づつオン状態に駆動する。

これによって、表示器１の各ＬＥＤに一定時間づつ走査
的に点灯駆動電流が供給されるようになる。

２４は表示器１のＬＥＤの電気的特性の測定を行なうた
めの測定部であυ、これは前述したように各ＬＥＤをシ
ーケンス制御により電流走査したときに各ＬＥＤの電気
的性能（逆電流ＩＲｒ順電圧Ｖｙ　）を測定する。２５
は上記測定部２４の測定値を良品ＬＥＤの基準値と比較
し、測定ＬＥＤの良否判定を行なうだめの比較判定部で
ある。

２６は上記比較判定部２５の判定結果ｆをシーケンス制
御信号Ｘ、、Ｙ、に関連づけて記憶するための記憶部で
あり、これはたとえば第３図に示すように前記行方向シ
ーケンス制御回路２２から供給される行方向シーケンス
制御信号Ｙ１、１０− および列方向シーケンス制御回路２３から供給される列
方向シーケンス制御信号Ｘｌによりアドレスが指定され
る記憶セルに前記判定結果のデータｆ（たとえば１ビツ
ト）を記憶するように構成されている。２７は上記記憶
部２６から読み出された判定結果データを表示する従来
例におけると同様の結果指示用表示器、２８は不良表示
命令入力および前記記憶部２６から読み出された判定結
果データのうちの不良判定データに基いて不良ＩＪＤを
同時に選択するために行方向リレー駆動回路２０および
第１の列方向リレー駆動回路２１ａを駆動制御するに必
要な行方向指定信号Ｙ　および列方向指定信号Ｘｉを出
力」 するように変換する不良ＬＥＤ指定信号変換部である。

この変換部２８は、たとえば第４図に示すように、同一
列の各ＬＥＤの判定結果データ（“１″または“０”）
を各列に対応するオア回路４０１〜４０Ｍに導き、との
オア回路４０１〜４０Ｍの各出力を各列に対応するアン
ド回路４１１〜４ノエの一方の入力とし、同一行の各Ｌ
ＥＤの判定結果データを各行に対応するオア回路４２１
〜４２Ｎに導き、とのオア回路４２１〜４２、・の各出
力を各行に対応するアンド回路４３１〜４３！（・、の
一方の入力とし、上記各アンド回路４７１〜４１Ｍおよ
び４３１〜４３Ｎの他方の入力として不良表示命令信号
を導くように構成されている。ここで、上記各列に対応
するアンド回路４）、〜４１Ｍの出力が前記列方向指定
信号Ｘ１となり、各行に対応するアンド回路４３１〜４
３、の出力が前記行方向指定信号Ｙｊと々る。

次に、上記構成による試験装置の動作について、たとえ
ば第５図に示すような試験手順にしたがって説明する。

先ず、第１ステツプＳ１では全点灯チェック（視覚測定
）を行なう。この場合には、同時全点灯指令信号を行方
向リレー駆動回路２０および第１の列方向リレー駆動回
路２１ｍに供給し、全ＬＥＤを測定電源１０によシミ正
駆動させる。そして、点灯しないあるいは点灯しても明
るさのばらつきが大きいＬＥＤを視覚でチェックしてそ
のペレットに不良マークをつける（第２ステツプＳｓ　
）。次に、ステップ８３〜Ｓ、では、各ＬＥＤ毎に電気
的性能試験を行なうもので、シーケンス制御信号Ｙｊお
よびＸｉを行方向リレー駆動回路２０および第２の列方
向リレー駆動回路２１ｂに供給し、各ＬＥＤを走査的に
電流駆動する。すなわち、Ｘ　ｉ＝Ｘ　１　　＋Ｙ　ｊ
”　Ｙ　１により選択されるＬＥＤついてＶ夙＋　ＩＮ
を測定し、測定結果データｆを記憶部２６に記憶させ、
以下シーケンス制御信号をＹｊ＋、ＩＸ１＋、にして別
のＬＥＤを指定させてそのＶＦＩ　ＩＩ測測定行なうよ
うな動作をＸＩ　Ｙ　ｊ”’　ＸＭＹＮになるまで繰シ
返して全てのＬＥＤについて測定を打力う。そして、こ
の測定の終了後の第６ステツプＳ６では、前記第４ステ
ツプＳ４で記憶された判定結果データを読み出して結果
指示用表示器２７に表示させると共に、供試表示器１を
そのまま使用して不良判定データに対応する全ての不良
ＬＥＤを同時点灯表示させる。この場合には、１３− 不良表示命令入力を不良ＬＥＤ指定信号変換部２８に与
え、記憶部２６からの読み出しデータに基いて不良ＬＥ
Ｄ指定指定行方向指定信号Ｙｊおよび列方向指定信号Ｘ
ｌに変換させ、行方向リレー駆動回路２０および第１の
列方向リレー駆動回路２１ｈにより不良ＬＥＤを同時に
選択させる。そして、点灯した不良ＬＥＤをチェックし
、その（レットにマークをつける（第７ステツプＳｙ　
　）。

なお、前記ＬＥＤマトリクス表示器１のＬＥＤ発光色が
、たとえば奇数列は赤、偶数列は緑であるとすれば、全
ＬＥＤを同時点灯させたとき、オペレータには赤色と緑
色との中間の黄色として目に映る。

上述したような試験装置によれば、ＬＥＤマトリクス表
示器の各ＬＥＤを選択するためのリレー接点をリレー駆
動回路により駆動するとき、全てのＬＥＤを同時に選択
し、あるいは指定される一部のＬＥＤを同時に選択し、
あるいは各ＬＥＤを１個づつ走査的に選択して測定電源
に接続させ１４− るような制御を可能としておき、各ＬＥＤを走査的に選
択しながら各ＬＥＤの電気的性能を測定して良否判定デ
ータを記憶部に記憶させておき、こののち記憶部からデ
ータを読み出して不良判定データあるいは良品判定デー
タに対応するＬＥＤを指定する指定信号を生成し、この
指定信号により指定されるＬＥＤの全てを同時に選択し
て点灯駆動させ、さらに上記電気的性能測定に先立っで
あるいは上記測定後に全てのＬＥＤを同時に選択して点
灯駆動するようにしたものである。

したがって、供試表示器そのもので点灯不良ＬＥＤおよ
び電気的性能不良ＬＥＤを容易にチェックすることが可
能となシ、試験時間の短縮化およびオペレータの負担の
軽減化を図ることができる。

なお、上記実施例において、全ＬＥＤの同時点灯に際し
ては測定電源１０と各列のＬＥＤ群との間に抵抗Ｒを挿
入してＬＥＤを電圧駆動しているが、これは各列のＬＥ
Ｄ群内の各ＬＥＤの特性にばらつきがあった場合でも特
定のＬＥＤに過大電流が流れることを防止するものであ
り、この防止策として上記抵抗Ｒの挿入はその構成が極
めて簡単に済む。また、各ＬＥＤの点灯走査に際しては
、測定電源１０とＬＥＤとの間に抵抗を挿入することな
（ＬＥＤを電流駆動しており、これは仮に各列に抵抗を
挿入して電圧駆動することも可能であるとしても、抵抗
の両端から測定電圧を取り出す必要が生じて測定端子が
増えることになることに比べて得策である。

なお、上記実施例における行２列方向の呼称を逆にして
もよいことは勿論である。

また、第５図に示した試験手順において、第１ステツプ
Ｓ１およ、び第２ステツプＳ２の全点灯チェックおよび
点灯不良ＬＥＤマークは、第７ステツプＳ７の後に移す
ようにしてもよい。

また、表示器１における歩留シによっては不良ＬＥＤを
表示させるよシも良品ＬＥＤを表示させることが好まし
い場合があシ、前記不良ＬＥＤ指定信号変換部２８に代
えて良品表示命令入力によって前記記憶部２６からの良
品判定データ入力に対応して行２列方向指定信号を出力
する良品ＬＥＤ指定信号変換部を設けてもよい。あるい
は、オペレータが不良ＬＥＤ　、良品ＬＥＤ表示を選択
指定するための制御入力に応じて不良ＬＥＤもしくは良
品ＬＥＤに対応する行２列方向指定信号を出力するＬＥ
Ｄ指定信号変換部を設けてもよい。

〔発明の効果〕

上述したように本発明の発光ダイオードマトリクス用試
験装置によれば、不良ベレットの位置を容易にチェック
でき、試験時間の短縮化およびオペレータの負担の軽減
化を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明に係る発光ダイオードマトリクス用試験装
置の一実施例を示すもので、第１図は供試ＬＥＤ表示器
とＬＥＤ選択指定部との接続関係を示す構成説明図、第
２図は試験装置の主要部の一例を示す構成説明図、第３
図は第２図の記憶部の一例を示す構成説明図、第４図は
第２１７− 図の不良ＩＪＤ指定信号変換部の一例を示す構成説明図
、第５図は第】図の試験装置を用いた試験手順の一例を
示すフローチャートである。 １・・・ＬＥＤマトリクス表示器、１０・・・測定電源
、２０　、２１　ａ　、　２　ｌ　ｂ−・−リレー駆動
回路、２２゜２３・・・シーケンス制御回路、２４・・
・測定部、２５・・・比較判定部、２６・・・記憶部、
２８・・・不良ＬＥＤ指定信号変換部、Ｒ・・・抵抗、
７１〜ｙ３□＋Ｘ：ｌＱ〜ｘ１１４８ｔ　Ｘ　１　ｂ”
”’　Ｘ　６４　ｂ　”’リレー接点０出願人代理人　
　弁理士　鈴　江　武　彦１８−

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）発光ダイオード（以下ＬＥＤと略称する）がマ）
   　ＩＪクス状配線の各交点部に接続されたＬＥＤマトリ
   クス表示器を試験する試験装置において、前記供試表示
   器の配線を通じて各ＬＥＤを選択指定するためのリレー
   接点と、このリレー接点を制御入力に応じて駆動し、上
   記ＩＪＤの全であるいは指定された一部を同時に選択指
   定し、または上記ＬＥＤを１個づつ順次選択指定するリ
   レー駆動回路と、このリレー駆動回路により選択指定さ
   れた前記ＬＥＤに接続される測定電源と、前記リレー駆
   動回路によシ順次選択指定されたＬＥＤの電気的性能を
   測定する測定手段と、この測定手段による測定値を良品
   ＩＪＤの測定値に相当する基準値と比較し被測定ＬＥＤ
   の良否を判定する比較判定部と、この比較判定部の判定
   出力データを前記被測定ＬＥＤの選択指定情報と関連づ
   けて記憶する記憶部と、前記各ＬＥＤの電気的性能の測
   定終了後における表示命令入力時に前記記憶部の記憶デ
   ータに基いて不良判定データあるいは良品判定データに
   対応するＬＥＤを同時に選択指定するための指定信号を
   発生して前記リレー駆動回路へ制御入力の１つとして供
   給する指定信号変換部とを具備し、供試ＬＥＤマトリク
   ス表示器上で全ＬＥＤに対する同時点灯駆動を行なうこ
   とによって点灯不良ＩＪＤのチェックを可能とし、しか
   も電気的性能の良品ＬＥＤあるいは不良ＬＥＤに対する
   同時点灯駆動を行なうことによって電気的性能不良ＬＥ
   Ｄのチェックを可能としたことを特徴とする発光ダイオ
   ードマトリクス用試験装置。
2. （２）前記リレー駆動回路によシ同時選択指定されたＬ
   ＥＤは抵抗を介して前記測定電源に接続されることによ
   って電圧駆動され、前記リレー駆動回路によシ順次選択
   指定されたＬＥＤは前記測定電源に直接接続されること
   によって電流駆動されることを特徴とする特許 第１項記載の発光ダイオードマトリクス用試験装置。