JPS5917578A - 発光ダイオ−ドマトリクス用試験装置 - Google Patents
発光ダイオ−ドマトリクス用試験装置Info
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- JPS5917578A JPS5917578A JP57127862A JP12786282A JPS5917578A JP S5917578 A JPS5917578 A JP S5917578A JP 57127862 A JP57127862 A JP 57127862A JP 12786282 A JP12786282 A JP 12786282A JP S5917578 A JPS5917578 A JP S5917578A
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Landscapes
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Control Of El Displays (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、多数の発光ダイオード(以下LEDと略称す
る)がマトリクス状に同一ペース上に配設されると共に
、マトリクス状配線の各交叉部に接続されてなるLED
マトリクス表示器を半製品状態の段階で試験するだめの
LEDマトリクス用試験装置に関する。
る)がマトリクス状に同一ペース上に配設されると共に
、マトリクス状配線の各交叉部に接続されてなるLED
マトリクス表示器を半製品状態の段階で試験するだめの
LEDマトリクス用試験装置に関する。
一般にLED−eレットは、通常の集積回路やトランジ
スタの(レッドに比較して高価であるので、LED−2
レツドに樹脂カバーを取シ付けたり、樹脂ホールドを行
なった最終製品の段階で不良が判明してLED表示器全
部を不良とするのは不経済である。そこで、LED−1
!レツドを1〜2個しか使用しないランプ形LED表示
器以外の表示器、たとえば8セグメントのLED数字表
示器やそれらを集めた多桁数字表示器については、LE
Dに樹脂カバーを取り付けたり、樹脂モールドを行なう
前の半製品の状態(ペレットがペース上に露出して剥離
可能な状態である)で視感チェックおよび電気的性能の
チェックを行なっている。すなわち、不良波レットをチ
ェックしてマークを付けておき、この不良ペレットを回
収して新しいLEDペレットにマウントがンディングし
たのち再測定を行ない、良品となったことを確認して最
終製品に仕上げている。この場合、数字表示器はベレッ
ト数が少ないことや、各ペレットは数字のセグメントを
構成するので不良ペレットの位置指定が容易であること
から、゛前記不良ペレットのチェックは容易である。な
お、多桁数字表示器の場合には、その表示桁とセグメン
トの番号とでIJD ベレットの位置を示し、また外形
的にも表示数字が分るようになっている。したがって、
試験装置として、多桁数字表示器の桁とセグメント番号
をLED等で表示して不良にレットを指示する機能を有
するようになっている。
スタの(レッドに比較して高価であるので、LED−2
レツドに樹脂カバーを取シ付けたり、樹脂ホールドを行
なった最終製品の段階で不良が判明してLED表示器全
部を不良とするのは不経済である。そこで、LED−1
!レツドを1〜2個しか使用しないランプ形LED表示
器以外の表示器、たとえば8セグメントのLED数字表
示器やそれらを集めた多桁数字表示器については、LE
Dに樹脂カバーを取り付けたり、樹脂モールドを行なう
前の半製品の状態(ペレットがペース上に露出して剥離
可能な状態である)で視感チェックおよび電気的性能の
チェックを行なっている。すなわち、不良波レットをチ
ェックしてマークを付けておき、この不良ペレットを回
収して新しいLEDペレットにマウントがンディングし
たのち再測定を行ない、良品となったことを確認して最
終製品に仕上げている。この場合、数字表示器はベレッ
ト数が少ないことや、各ペレットは数字のセグメントを
構成するので不良ペレットの位置指定が容易であること
から、゛前記不良ペレットのチェックは容易である。な
お、多桁数字表示器の場合には、その表示桁とセグメン
トの番号とでIJD ベレットの位置を示し、また外形
的にも表示数字が分るようになっている。したがって、
試験装置として、多桁数字表示器の桁とセグメント番号
をLED等で表示して不良にレットを指示する機能を有
するようになっている。
一方、たとえば40 vyrt+ X 40 trtp
nのペース上に2.54+mnビ、チで32行×64列
のマトリクス状に2048個のLEDペレットが配設さ
れたようなLEDマトリクス表示器は、高密度で実装さ
れているので基板上に印字や印刷などを行かうことが難
しい。そこで、このようなLEDマトリクス表示器の半
製品状態での試験に際して、従来は上記表示器と相似状
の配列でピッチ寸法が拡大された測定結果指示用マトリ
クス表示器を使用し、電気的特性の測定によシ判明した
不良ペレットの位置を上記結果指示用表示器で指示する
ようになっていた。
nのペース上に2.54+mnビ、チで32行×64列
のマトリクス状に2048個のLEDペレットが配設さ
れたようなLEDマトリクス表示器は、高密度で実装さ
れているので基板上に印字や印刷などを行かうことが難
しい。そこで、このようなLEDマトリクス表示器の半
製品状態での試験に際して、従来は上記表示器と相似状
の配列でピッチ寸法が拡大された測定結果指示用マトリ
クス表示器を使用し、電気的特性の測定によシ判明した
不良ペレットの位置を上記結果指示用表示器で指示する
ようになっていた。
しかし、上記のようなIJDマトリクス表示器の試験装
置においては、オペレータは結果指示用表示器の指示を
見て不良ペレットの位置のアドレス番号を数え、この位
置に対応するLEDマトリクス表示器の不良ぜレットを
高密度のペレット群の中から探し出してチェックして交
換をしなければならない。したがって、不良ペレッ5− トの交換のために必要なチェックの作業性が悪く、試験
時間が長くなシ、オペレータの負担が重く疲労が大きく
なるなどの問題があった。たとえば、1個のLEDの電
気的性能測定時間が10m5と仮定すれば、4096個
のLEDに対して4、096 sに々る。これに対して
、LEDマトリクス表示器におけるLED−eレットの
歩留りが90係とした場合、約20個の不良(レットが
点在することになシ、これらについて表示部を見ながら
1個づつチェックするには上記測定時間の少なくとも1
0〜20倍の時間を必要とする。
置においては、オペレータは結果指示用表示器の指示を
見て不良ペレットの位置のアドレス番号を数え、この位
置に対応するLEDマトリクス表示器の不良ぜレットを
高密度のペレット群の中から探し出してチェックして交
換をしなければならない。したがって、不良ペレッ5− トの交換のために必要なチェックの作業性が悪く、試験
時間が長くなシ、オペレータの負担が重く疲労が大きく
なるなどの問題があった。たとえば、1個のLEDの電
気的性能測定時間が10m5と仮定すれば、4096個
のLEDに対して4、096 sに々る。これに対して
、LEDマトリクス表示器におけるLED−eレットの
歩留りが90係とした場合、約20個の不良(レットが
点在することになシ、これらについて表示部を見ながら
1個づつチェックするには上記測定時間の少なくとも1
0〜20倍の時間を必要とする。
本発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、不良4レ
ツトの位置を容易にチェックでき、試験時間の短縮化お
よびオにレータの負担の軽減化を図シ得る発光ダイオー
ドマトリクス用試験装置を提供するものである。
ツトの位置を容易にチェックでき、試験時間の短縮化お
よびオにレータの負担の軽減化を図シ得る発光ダイオー
ドマトリクス用試験装置を提供するものである。
〔発明の概要〕
すなわち、本発明の発光ダイオードマトリク=6−
ス用試験装置は、LEDマトリクス表示器の各LEDを
選択するためのリレー接点をリレー駆動回路により駆動
するとき、全てのLEDを同時に選択し、あるいは指定
される一部のLEDを同時に選択し、あるいは各LED
を1個づつ走査的に選択して測定電源に接続させるよう
な制御を可能としておき、各LEDを走査的に選択しな
がら各LEDの電気的性能を測定して良否判定データを
記憶部に記憶させておき、こののち記憶部からデータを
読み出して不良判定データあるいは良品判定データに対
応するLEDを指定する指定信号を生成し、この指定信
号によシ指定されるLEDの全てを同時に選択して点灯
駆動させ、さらに上記電気的性能測定に先立っであるい
は上記測定後に全てのLEDを同時に選択して点灯駆動
するようにしたものである。
選択するためのリレー接点をリレー駆動回路により駆動
するとき、全てのLEDを同時に選択し、あるいは指定
される一部のLEDを同時に選択し、あるいは各LED
を1個づつ走査的に選択して測定電源に接続させるよう
な制御を可能としておき、各LEDを走査的に選択しな
がら各LEDの電気的性能を測定して良否判定データを
記憶部に記憶させておき、こののち記憶部からデータを
読み出して不良判定データあるいは良品判定データに対
応するLEDを指定する指定信号を生成し、この指定信
号によシ指定されるLEDの全てを同時に選択して点灯
駆動させ、さらに上記電気的性能測定に先立っであるい
は上記測定後に全てのLEDを同時に選択して点灯駆動
するようにしたものである。
したがって、供試表示器そのもので点灯不良LEDおよ
び電気的性能不良LEDを容易にチェ。
び電気的性能不良LEDを容易にチェ。
りすることが可能となり、試験時間の短縮化およびオ(
レータの負担の軽減化を図ることができる。
レータの負担の軽減化を図ることができる。
以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明す
る。第1図において、1は供試LEDマトリクス表示器
であシ、これはたとえば前述したように40 tan
X 40 Hのペース上に2.54−ピッチで32行×
64列のマ) IJクス状に2048個のLEDベレッ
トが配設されると共に、32本の行配線と64本の列配
線との各交叉部にIJDが接続されたものであって、し
かも半製品状態のものである。一方、試験装置のLED
選択指定部においては、上記表示器ノ用のソケット(図
示せず)を通じて上記表示器1032本の行配線の各一
端に各対応してリレー接点y1〜y32の各一端が接続
され、このリレー接点y1〜ya2の各他端は測定電源
10に接続されている。また、前記表示器1の64本の
列配線の各一端に各対応してリレー接点x1−〜X64
aの各一端およびリレー接点Xxb−X64bの各一
端が接続されている。そして、上記リレー接点XIJk
〜x64.の各他端は対応して抵抗Rを介して、また前
記リレー接点x1b−X64bの各他端は直接に前記測
定電源10に接続されている。
る。第1図において、1は供試LEDマトリクス表示器
であシ、これはたとえば前述したように40 tan
X 40 Hのペース上に2.54−ピッチで32行×
64列のマ) IJクス状に2048個のLEDベレッ
トが配設されると共に、32本の行配線と64本の列配
線との各交叉部にIJDが接続されたものであって、し
かも半製品状態のものである。一方、試験装置のLED
選択指定部においては、上記表示器ノ用のソケット(図
示せず)を通じて上記表示器1032本の行配線の各一
端に各対応してリレー接点y1〜y32の各一端が接続
され、このリレー接点y1〜ya2の各他端は測定電源
10に接続されている。また、前記表示器1の64本の
列配線の各一端に各対応してリレー接点x1−〜X64
aの各一端およびリレー接点Xxb−X64bの各一
端が接続されている。そして、上記リレー接点XIJk
〜x64.の各他端は対応して抵抗Rを介して、また前
記リレー接点x1b−X64bの各他端は直接に前記測
定電源10に接続されている。
一方、第2図は試験装置の主要部を示すもので、20は
前記リレー接点)’1”)’+111 をそれぞれ駆動
するための行方向リレー駆動回路、21mは前記IJ
L/−接点11a−X641Lをそれぞれ駆動するため
の第1の行方向リレー駆動回路、2Jbは前記リレー接
点X1b−X64bをそれぞれ駆動するだめの第2の列
方向リレー駆動回路である。上記行方向リレー駆動回路
20および第1の列方向リレー駆動回路21hは、それ
ぞれ同時全点灯指令信号が入力したときにそれぞれ前記
リレー接点y1〜3’l12およびxl、〜!’j64
11を全てオン状態に駆動する。これKよって、表示器
1の全LEDに測定電源JOから抵抗Rを通じて点灯駆
動電圧が供給されるようになる。また、行方向リレー駆
動回路20は、行方向シーケンス制御回路22からシー
ケンス制御信号Y、が供給されたときに前記リレー接点
yl〜9− ysgを走査的に一定時間づつオン状態に駆動し、第2
の列方向リレー駆動回路21bは列方向シーケンス制御
回路からシーケンス制御信号Xiが供給されたときに前
記リレー接点X 1 b””’1641)を走査的に一
定時間づつオン状態に駆動する。
前記リレー接点)’1”)’+111 をそれぞれ駆動
するための行方向リレー駆動回路、21mは前記IJ
L/−接点11a−X641Lをそれぞれ駆動するため
の第1の行方向リレー駆動回路、2Jbは前記リレー接
点X1b−X64bをそれぞれ駆動するだめの第2の列
方向リレー駆動回路である。上記行方向リレー駆動回路
20および第1の列方向リレー駆動回路21hは、それ
ぞれ同時全点灯指令信号が入力したときにそれぞれ前記
リレー接点y1〜3’l12およびxl、〜!’j64
11を全てオン状態に駆動する。これKよって、表示器
1の全LEDに測定電源JOから抵抗Rを通じて点灯駆
動電圧が供給されるようになる。また、行方向リレー駆
動回路20は、行方向シーケンス制御回路22からシー
ケンス制御信号Y、が供給されたときに前記リレー接点
yl〜9− ysgを走査的に一定時間づつオン状態に駆動し、第2
の列方向リレー駆動回路21bは列方向シーケンス制御
回路からシーケンス制御信号Xiが供給されたときに前
記リレー接点X 1 b””’1641)を走査的に一
定時間づつオン状態に駆動する。
これによって、表示器1の各LEDに一定時間づつ走査
的に点灯駆動電流が供給されるようになる。
的に点灯駆動電流が供給されるようになる。
24は表示器1のLEDの電気的特性の測定を行なうた
めの測定部であυ、これは前述したように各LEDをシ
ーケンス制御により電流走査したときに各LEDの電気
的性能(逆電流IRr順電圧Vy )を測定する。25
は上記測定部24の測定値を良品LEDの基準値と比較
し、測定LEDの良否判定を行なうだめの比較判定部で
ある。
めの測定部であυ、これは前述したように各LEDをシ
ーケンス制御により電流走査したときに各LEDの電気
的性能(逆電流IRr順電圧Vy )を測定する。25
は上記測定部24の測定値を良品LEDの基準値と比較
し、測定LEDの良否判定を行なうだめの比較判定部で
ある。
26は上記比較判定部25の判定結果fをシーケンス制
御信号X、、Y、に関連づけて記憶するための記憶部で
あり、これはたとえば第3図に示すように前記行方向シ
ーケンス制御回路22から供給される行方向シーケンス
制御信号Y1、10− および列方向シーケンス制御回路23から供給される列
方向シーケンス制御信号Xlによりアドレスが指定され
る記憶セルに前記判定結果のデータf(たとえば1ビツ
ト)を記憶するように構成されている。27は上記記憶
部26から読み出された判定結果データを表示する従来
例におけると同様の結果指示用表示器、28は不良表示
命令入力および前記記憶部26から読み出された判定結
果データのうちの不良判定データに基いて不良IJDを
同時に選択するために行方向リレー駆動回路20および
第1の列方向リレー駆動回路21aを駆動制御するに必
要な行方向指定信号Y および列方向指定信号Xiを出
力」 するように変換する不良LED指定信号変換部である。
御信号X、、Y、に関連づけて記憶するための記憶部で
あり、これはたとえば第3図に示すように前記行方向シ
ーケンス制御回路22から供給される行方向シーケンス
制御信号Y1、10− および列方向シーケンス制御回路23から供給される列
方向シーケンス制御信号Xlによりアドレスが指定され
る記憶セルに前記判定結果のデータf(たとえば1ビツ
ト)を記憶するように構成されている。27は上記記憶
部26から読み出された判定結果データを表示する従来
例におけると同様の結果指示用表示器、28は不良表示
命令入力および前記記憶部26から読み出された判定結
果データのうちの不良判定データに基いて不良IJDを
同時に選択するために行方向リレー駆動回路20および
第1の列方向リレー駆動回路21aを駆動制御するに必
要な行方向指定信号Y および列方向指定信号Xiを出
力」 するように変換する不良LED指定信号変換部である。
この変換部28は、たとえば第4図に示すように、同一
列の各LEDの判定結果データ(“1″または“0”)
を各列に対応するオア回路401〜40Mに導き、との
オア回路401〜40Mの各出力を各列に対応するアン
ド回路411〜4ノエの一方の入力とし、同一行の各L
EDの判定結果データを各行に対応するオア回路421
〜42Nに導き、とのオア回路421〜42、・の各出
力を各行に対応するアンド回路431〜43!(・、の
一方の入力とし、上記各アンド回路471〜41Mおよ
び431〜43Nの他方の入力として不良表示命令信号
を導くように構成されている。ここで、上記各列に対応
するアンド回路4)、〜41Mの出力が前記列方向指定
信号X1となり、各行に対応するアンド回路431〜4
3、の出力が前記行方向指定信号Yjと々る。
列の各LEDの判定結果データ(“1″または“0”)
を各列に対応するオア回路401〜40Mに導き、との
オア回路401〜40Mの各出力を各列に対応するアン
ド回路411〜4ノエの一方の入力とし、同一行の各L
EDの判定結果データを各行に対応するオア回路421
〜42Nに導き、とのオア回路421〜42、・の各出
力を各行に対応するアンド回路431〜43!(・、の
一方の入力とし、上記各アンド回路471〜41Mおよ
び431〜43Nの他方の入力として不良表示命令信号
を導くように構成されている。ここで、上記各列に対応
するアンド回路4)、〜41Mの出力が前記列方向指定
信号X1となり、各行に対応するアンド回路431〜4
3、の出力が前記行方向指定信号Yjと々る。
次に、上記構成による試験装置の動作について、たとえ
ば第5図に示すような試験手順にしたがって説明する。
ば第5図に示すような試験手順にしたがって説明する。
先ず、第1ステツプS1では全点灯チェック(視覚測定
)を行なう。この場合には、同時全点灯指令信号を行方
向リレー駆動回路20および第1の列方向リレー駆動回
路21mに供給し、全LEDを測定電源10によシミ正
駆動させる。そして、点灯しないあるいは点灯しても明
るさのばらつきが大きいLEDを視覚でチェックしてそ
のペレットに不良マークをつける(第2ステツプSs
)。次に、ステップ83〜S、では、各LED毎に電気
的性能試験を行なうもので、シーケンス制御信号Yjお
よびXiを行方向リレー駆動回路20および第2の列方
向リレー駆動回路21bに供給し、各LEDを走査的に
電流駆動する。すなわち、X i=X 1 +Y j
” Y 1により選択されるLEDついてV夙+ IN
を測定し、測定結果データfを記憶部26に記憶させ、
以下シーケンス制御信号をYj+、IX1+、にして別
のLEDを指定させてそのVFI II測測定行なうよ
うな動作をXI Y j”’ XMYNになるまで繰シ
返して全てのLEDについて測定を打力う。そして、こ
の測定の終了後の第6ステツプS6では、前記第4ステ
ツプS4で記憶された判定結果データを読み出して結果
指示用表示器27に表示させると共に、供試表示器1を
そのまま使用して不良判定データに対応する全ての不良
LEDを同時点灯表示させる。この場合には、13− 不良表示命令入力を不良LED指定信号変換部28に与
え、記憶部26からの読み出しデータに基いて不良LE
D指定指定行方向指定信号Yjおよび列方向指定信号X
lに変換させ、行方向リレー駆動回路20および第1の
列方向リレー駆動回路21hにより不良LEDを同時に
選択させる。そして、点灯した不良LEDをチェックし
、その(レットにマークをつける(第7ステツプSy
)。
)を行なう。この場合には、同時全点灯指令信号を行方
向リレー駆動回路20および第1の列方向リレー駆動回
路21mに供給し、全LEDを測定電源10によシミ正
駆動させる。そして、点灯しないあるいは点灯しても明
るさのばらつきが大きいLEDを視覚でチェックしてそ
のペレットに不良マークをつける(第2ステツプSs
)。次に、ステップ83〜S、では、各LED毎に電気
的性能試験を行なうもので、シーケンス制御信号Yjお
よびXiを行方向リレー駆動回路20および第2の列方
向リレー駆動回路21bに供給し、各LEDを走査的に
電流駆動する。すなわち、X i=X 1 +Y j
” Y 1により選択されるLEDついてV夙+ IN
を測定し、測定結果データfを記憶部26に記憶させ、
以下シーケンス制御信号をYj+、IX1+、にして別
のLEDを指定させてそのVFI II測測定行なうよ
うな動作をXI Y j”’ XMYNになるまで繰シ
返して全てのLEDについて測定を打力う。そして、こ
の測定の終了後の第6ステツプS6では、前記第4ステ
ツプS4で記憶された判定結果データを読み出して結果
指示用表示器27に表示させると共に、供試表示器1を
そのまま使用して不良判定データに対応する全ての不良
LEDを同時点灯表示させる。この場合には、13− 不良表示命令入力を不良LED指定信号変換部28に与
え、記憶部26からの読み出しデータに基いて不良LE
D指定指定行方向指定信号Yjおよび列方向指定信号X
lに変換させ、行方向リレー駆動回路20および第1の
列方向リレー駆動回路21hにより不良LEDを同時に
選択させる。そして、点灯した不良LEDをチェックし
、その(レットにマークをつける(第7ステツプSy
)。
なお、前記LEDマトリクス表示器1のLED発光色が
、たとえば奇数列は赤、偶数列は緑であるとすれば、全
LEDを同時点灯させたとき、オペレータには赤色と緑
色との中間の黄色として目に映る。
、たとえば奇数列は赤、偶数列は緑であるとすれば、全
LEDを同時点灯させたとき、オペレータには赤色と緑
色との中間の黄色として目に映る。
上述したような試験装置によれば、LEDマトリクス表
示器の各LEDを選択するためのリレー接点をリレー駆
動回路により駆動するとき、全てのLEDを同時に選択
し、あるいは指定される一部のLEDを同時に選択し、
あるいは各LEDを1個づつ走査的に選択して測定電源
に接続させ14− るような制御を可能としておき、各LEDを走査的に選
択しながら各LEDの電気的性能を測定して良否判定デ
ータを記憶部に記憶させておき、こののち記憶部からデ
ータを読み出して不良判定データあるいは良品判定デー
タに対応するLEDを指定する指定信号を生成し、この
指定信号により指定されるLEDの全てを同時に選択し
て点灯駆動させ、さらに上記電気的性能測定に先立っで
あるいは上記測定後に全てのLEDを同時に選択して点
灯駆動するようにしたものである。
示器の各LEDを選択するためのリレー接点をリレー駆
動回路により駆動するとき、全てのLEDを同時に選択
し、あるいは指定される一部のLEDを同時に選択し、
あるいは各LEDを1個づつ走査的に選択して測定電源
に接続させ14− るような制御を可能としておき、各LEDを走査的に選
択しながら各LEDの電気的性能を測定して良否判定デ
ータを記憶部に記憶させておき、こののち記憶部からデ
ータを読み出して不良判定データあるいは良品判定デー
タに対応するLEDを指定する指定信号を生成し、この
指定信号により指定されるLEDの全てを同時に選択し
て点灯駆動させ、さらに上記電気的性能測定に先立っで
あるいは上記測定後に全てのLEDを同時に選択して点
灯駆動するようにしたものである。
したがって、供試表示器そのもので点灯不良LEDおよ
び電気的性能不良LEDを容易にチェックすることが可
能となシ、試験時間の短縮化およびオペレータの負担の
軽減化を図ることができる。
び電気的性能不良LEDを容易にチェックすることが可
能となシ、試験時間の短縮化およびオペレータの負担の
軽減化を図ることができる。
なお、上記実施例において、全LEDの同時点灯に際し
ては測定電源10と各列のLED群との間に抵抗Rを挿
入してLEDを電圧駆動しているが、これは各列のLE
D群内の各LEDの特性にばらつきがあった場合でも特
定のLEDに過大電流が流れることを防止するものであ
り、この防止策として上記抵抗Rの挿入はその構成が極
めて簡単に済む。また、各LEDの点灯走査に際しては
、測定電源10とLEDとの間に抵抗を挿入することな
(LEDを電流駆動しており、これは仮に各列に抵抗を
挿入して電圧駆動することも可能であるとしても、抵抗
の両端から測定電圧を取り出す必要が生じて測定端子が
増えることになることに比べて得策である。
ては測定電源10と各列のLED群との間に抵抗Rを挿
入してLEDを電圧駆動しているが、これは各列のLE
D群内の各LEDの特性にばらつきがあった場合でも特
定のLEDに過大電流が流れることを防止するものであ
り、この防止策として上記抵抗Rの挿入はその構成が極
めて簡単に済む。また、各LEDの点灯走査に際しては
、測定電源10とLEDとの間に抵抗を挿入することな
(LEDを電流駆動しており、これは仮に各列に抵抗を
挿入して電圧駆動することも可能であるとしても、抵抗
の両端から測定電圧を取り出す必要が生じて測定端子が
増えることになることに比べて得策である。
なお、上記実施例における行2列方向の呼称を逆にして
もよいことは勿論である。
もよいことは勿論である。
また、第5図に示した試験手順において、第1ステツプ
S1およ、び第2ステツプS2の全点灯チェックおよび
点灯不良LEDマークは、第7ステツプS7の後に移す
ようにしてもよい。
S1およ、び第2ステツプS2の全点灯チェックおよび
点灯不良LEDマークは、第7ステツプS7の後に移す
ようにしてもよい。
また、表示器1における歩留シによっては不良LEDを
表示させるよシも良品LEDを表示させることが好まし
い場合があシ、前記不良LED指定信号変換部28に代
えて良品表示命令入力によって前記記憶部26からの良
品判定データ入力に対応して行2列方向指定信号を出力
する良品LED指定信号変換部を設けてもよい。あるい
は、オペレータが不良LED 、良品LED表示を選択
指定するための制御入力に応じて不良LEDもしくは良
品LEDに対応する行2列方向指定信号を出力するLE
D指定信号変換部を設けてもよい。
表示させるよシも良品LEDを表示させることが好まし
い場合があシ、前記不良LED指定信号変換部28に代
えて良品表示命令入力によって前記記憶部26からの良
品判定データ入力に対応して行2列方向指定信号を出力
する良品LED指定信号変換部を設けてもよい。あるい
は、オペレータが不良LED 、良品LED表示を選択
指定するための制御入力に応じて不良LEDもしくは良
品LEDに対応する行2列方向指定信号を出力するLE
D指定信号変換部を設けてもよい。
上述したように本発明の発光ダイオードマトリクス用試
験装置によれば、不良ベレットの位置を容易にチェック
でき、試験時間の短縮化およびオペレータの負担の軽減
化を図ることができる。
験装置によれば、不良ベレットの位置を容易にチェック
でき、試験時間の短縮化およびオペレータの負担の軽減
化を図ることができる。
図面は本発明に係る発光ダイオードマトリクス用試験装
置の一実施例を示すもので、第1図は供試LED表示器
とLED選択指定部との接続関係を示す構成説明図、第
2図は試験装置の主要部の一例を示す構成説明図、第3
図は第2図の記憶部の一例を示す構成説明図、第4図は
第217− 図の不良IJD指定信号変換部の一例を示す構成説明図
、第5図は第】図の試験装置を用いた試験手順の一例を
示すフローチャートである。 1・・・LEDマトリクス表示器、10・・・測定電源
、20 、21 a 、 2 l b−・−リレー駆動
回路、22゜23・・・シーケンス制御回路、24・・
・測定部、25・・・比較判定部、26・・・記憶部、
28・・・不良LED指定信号変換部、R・・・抵抗、
71〜y3□+X:lQ〜x1148t X 1 b”
”’ X 64 b ”’リレー接点0出願人代理人
弁理士 鈴 江 武 彦18−
置の一実施例を示すもので、第1図は供試LED表示器
とLED選択指定部との接続関係を示す構成説明図、第
2図は試験装置の主要部の一例を示す構成説明図、第3
図は第2図の記憶部の一例を示す構成説明図、第4図は
第217− 図の不良IJD指定信号変換部の一例を示す構成説明図
、第5図は第】図の試験装置を用いた試験手順の一例を
示すフローチャートである。 1・・・LEDマトリクス表示器、10・・・測定電源
、20 、21 a 、 2 l b−・−リレー駆動
回路、22゜23・・・シーケンス制御回路、24・・
・測定部、25・・・比較判定部、26・・・記憶部、
28・・・不良LED指定信号変換部、R・・・抵抗、
71〜y3□+X:lQ〜x1148t X 1 b”
”’ X 64 b ”’リレー接点0出願人代理人
弁理士 鈴 江 武 彦18−
Claims (2)
- (1)発光ダイオード(以下LEDと略称する)がマ)
IJクス状配線の各交点部に接続されたLEDマトリ
クス表示器を試験する試験装置において、前記供試表示
器の配線を通じて各LEDを選択指定するためのリレー
接点と、このリレー接点を制御入力に応じて駆動し、上
記IJDの全であるいは指定された一部を同時に選択指
定し、または上記LEDを1個づつ順次選択指定するリ
レー駆動回路と、このリレー駆動回路により選択指定さ
れた前記LEDに接続される測定電源と、前記リレー駆
動回路によシ順次選択指定されたLEDの電気的性能を
測定する測定手段と、この測定手段による測定値を良品
IJDの測定値に相当する基準値と比較し被測定LED
の良否を判定する比較判定部と、この比較判定部の判定
出力データを前記被測定LEDの選択指定情報と関連づ
けて記憶する記憶部と、前記各LEDの電気的性能の測
定終了後における表示命令入力時に前記記憶部の記憶デ
ータに基いて不良判定データあるいは良品判定データに
対応するLEDを同時に選択指定するための指定信号を
発生して前記リレー駆動回路へ制御入力の1つとして供
給する指定信号変換部とを具備し、供試LEDマトリク
ス表示器上で全LEDに対する同時点灯駆動を行なうこ
とによって点灯不良IJDのチェックを可能とし、しか
も電気的性能の良品LEDあるいは不良LEDに対する
同時点灯駆動を行なうことによって電気的性能不良LE
Dのチェックを可能としたことを特徴とする発光ダイオ
ードマトリクス用試験装置。 - (2)前記リレー駆動回路によシ同時選択指定されたL
EDは抵抗を介して前記測定電源に接続されることによ
って電圧駆動され、前記リレー駆動回路によシ順次選択
指定されたLEDは前記測定電源に直接接続されること
によって電流駆動されることを特徴とする特許 第1項記載の発光ダイオードマトリクス用試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57127862A JPS5917578A (ja) | 1982-07-22 | 1982-07-22 | 発光ダイオ−ドマトリクス用試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57127862A JPS5917578A (ja) | 1982-07-22 | 1982-07-22 | 発光ダイオ−ドマトリクス用試験装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5917578A true JPS5917578A (ja) | 1984-01-28 |
Family
ID=14970491
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57127862A Pending JPS5917578A (ja) | 1982-07-22 | 1982-07-22 | 発光ダイオ−ドマトリクス用試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5917578A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7070444B2 (en) | 2000-08-28 | 2006-07-04 | Japan Aviation Electronics Industry, Limited | Cable connector |
JP2018160664A (ja) * | 2017-03-21 | 2018-10-11 | 聚積科技股▲ふん▼有限公司 | 故障検知装置、故障検知システム及び故障検知方法 |
-
1982
- 1982-07-22 JP JP57127862A patent/JPS5917578A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7070444B2 (en) | 2000-08-28 | 2006-07-04 | Japan Aviation Electronics Industry, Limited | Cable connector |
JP2018160664A (ja) * | 2017-03-21 | 2018-10-11 | 聚積科技股▲ふん▼有限公司 | 故障検知装置、故障検知システム及び故障検知方法 |
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